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纳米析测试仪

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纳米析测试仪相关的论坛

  • malvern zetasizer纳米zs仪器结果分析

    用马儿文纳米测试仪测粒径得到这样的图,不知道要怎么看,求大神帮忙解答[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/04/201904131105046866_6983_3889099_3.png[/img]

  • 纳米软件之通信设备自动测试系统

    [size=16px][b]系统组成[/b][/size][size=16px]  通信设备自动测试系统由工控机、CMA180无线电综合测试仪、仪器与PC通讯线缆、显示器组成。[/size][align=center][size=16px][img=通信设备自动测试系统拓扑图.jpg,490,514]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042825978703629505898.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  通信设备自动测试系统拓扑图[/size][/align][size=16px]  [b]系统功能[/b][/size][size=16px]  1、系统可通过网口或USB口对特定型号的无线电综合测试仪进行控制;[/size][size=16px]  2、系统可进行发射机功率、频率准确度、频率稳定度、调制度、带外抑制比、接收机灵敏度等指标进行测试,可进行测试结果合格范围设定、测试信息录入与测试项目选择。[/size][size=16px]  3、系统可以通过对测试仪器的相关参数配置,完成自动化测试(发射机功率、频率准确度、频率稳定度、调制度、带外抑制比、接收机灵敏度)并同时显示实时测试数据及波形。[/size][size=16px]  4、系统具备数据存储、数据查询、报告生成等功能,可完成对测试数据的存储、查询、智能化分析。[/size][size=16px]  5、系统提供安装部署联调服务。[/size][align=center][size=16px][img=系统使用流程图.jpg,600,264]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042829766351827547678.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  系统使用流程图[/size][/align][size=16px]  [b]基于硬件[/b][/size][size=16px]  [color=#4f81bd]1、工控机[/color][/size][size=16px]  [/size][size=16px]主要用于安装测试系统控制软件。[/size][size=16px]  [color=#4f81bd]2、CMA180无线电综合测试仪[/color][/size][size=16px]  [/size][size=16px]CMA180适用于工作在100kHz至3GHz频率范围的无线电系统,可以解调和调制所有常见的模拟射频信号。[/size][size=16px]  [color=#4f81bd]3、仪器与PC通讯线缆[/color][/size][size=16px]  仪器与PC之间的连接线缆,可以实现测试仪器与测试工控机的物理交互、被测典型元器件与测试仪器的物理交互以及测试仪器装置之间的物理交互。[/size][size=16px]  [color=#4f81bd]4、显示器[/color][/size][size=16px]  显示器与工控机连接,用于将测试系统的界面以及数据波形图、数据表显示,用户可以直观的观察测试数据。[/size][size=16px][/size][size=16px]  [b]软件功能[/b][/size][size=16px]  系统通过程控CMA180无线综合测试仪,完成对发射机功率、频率准确度、频率稳定度、调制度、外带抑制比和接收机灵敏度的测试,可以对测试结果合格范围设定、相关测试信息录入,测试数据实时显示并绘制波形。[/size][align=center][size=16px][img=软件流程图.jpg,592,1415]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042838406423821412398.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  软件流程图[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]软件主界面:[/color]软件主界面包括运行测试、数据查询和关于我们,点击相应的功能后进入到软件相应的功能界面。[/size][align=center][size=16px][img=软件主界面.jpg,600,376]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042841196381971732455.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  软件主界面[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]仪器连接界面:[/color]点击主界面的仪器连接按钮进入仪器连接和测试项目选择界面。[/size][align=center][size=16px][img=仪器连接界面.jpg,600,377]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042845297584328264102.jpg[/img][/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]参数设置界面:[/color]点击选择测试项目下拉菜单进行波道的选择、频率的设置、业务设置、模式选择、工作类型和抗干扰方式的设置。[/size][align=center][size=16px][img=参数设置界面.jpg,354,504]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042851516522224467735.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  参数设置界面[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]运行测试界面:[/color]在此界面中可以对已经选择和设置好的项目进行测试,点击开始测试按钮进行测试。[/size][align=center][size=16px][img=开始测试界面.jpg,600,448]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042853544322125995734.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  开始测试界面[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]测试结果显示:[/color]测量结果会实时显示测试数据和绘制测试波形。[/size][align=center][size=16px][img=测试界面-数据显示图.jpg,600,421]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042856322269321516853.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  测试界面-数据显示图[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]数据导出:[/color]测试完成后点击生成报告按钮,选择测试数据模板,进行数据的保存。[/size][align=center][size=16px][img=测试数据保存文件选择.jpg,600,338]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042858280151821131642.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  测试数据保存文件选择[/size][/align][align=left][size=16px][color=#ff0000][b]*如果您想要了解更多,请搜索 【纳米软件】至官网咨询。[/b][/color][/size][/align]

  • 【分享】微孔分布测试仪的主要特性

    微孔分布测试仪主要应用领域:催化剂,广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域;吸附剂,如活性炭、分子筛、活性氧化铝等,广泛用于环保领域;颜填料,无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等;陶瓷材料原料,氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等;炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等;新型电池材料,如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料;发光稀土粉末材料;磁性粉末材料,如四氧化三铁、铁氧体等;纳米粉体材料,包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料,纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等;其他,如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等  微孔分布测试仪的主要特性:  测试时间:多点BET法比表面积平均每个样品15分钟,孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟  主要功能:可实行BET比表面积(多点及单点)测试,Langmuir比表面积测试,炭黑外比表面积测定,吸附、脱附等温曲线测定,BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定;  真空系统:极限真空度6×10-2Pa  微孔分布测试仪测量范围:比表面积≥0.01M2/g至无规定上限,孔尺寸0.7~400nm;  样品数量:可同时测定1-4个样品;  测量精度:≤±2%;  微孔分布测试仪的压力控制:高精度压力传感器,数字显示,精度0.2%,独特的充气与抽气速度自动控制系统  运行方式:高度自动化,智能化,长时间运行可以无人看管自行测试  测试气体:高纯氮气(不用氦气),氮气消耗量极小  微孔分布测试仪的吸附过程:样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出,液氮消耗极少  软件系统:在Windows平台上,提供过程控制和数据采集、处理、报告系统,多种测试方法可自由方便选择,在计算机屏幕上,同步显示吸、脱附,比表面积及微孔分布测量仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据;本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便;

  • 马尔文粒度测试仪器

    能提供马尔文纳米粒度测试仪器的分析和ZETA电位分析,粒度仪器型号为NANO-ZS,测试范围为纳米级别不知道这样发帖是否算违规,如果违规,抱歉,谢谢

  • 求助!!!!纳米粒度测不了电位和粒径

    马尔的ZEN3700纳米粒度及zeta电位测试仪,突然测不出粒径和电位,时好时坏,测粒径就提示这个错误,有没有大神知道是啥问题[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303132043101126_9770_3570445_3.jpeg[/img]

  • 【求助】想做纳米颗粒的成分分析

    用EDS做过宏观整体的成分测试,但听测试老师说也只能做一个定性的有无的判断,不能定量分析现在想进一步获得元素在纳米颗粒中的分布情况,比如是在集中聚集在核还是富集在表面,纳米球的尺寸从几纳米到30纳米不等,不知道有没有办法进行这样的分析,比如自己查到得基于EELS的能量过滤系统可以进行类似的线扫面对元素分布进行成像?纳米球的主要元素有F还有Pb等大于40号的重金属元素,不知道能不能实现。特此请教,希望大家帮忙解答

  • 纳米碳粉的红外测试,选用KBr压片和ATR模式都测试了一下,有没有大佬懂得怎么分析?求助求助

    纳米碳粉的红外测试,选用KBr压片和ATR模式都测试了一下,有没有大佬懂得怎么分析?求助求助

    [img=nano-C,690,755]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211011459046359_8287_5865693_3.png!w690x755.jpg[/img]就是选取的商业纳米碳粉进行的红外测试,分别用KBr压片和ATR方法,不过KBr压片测试的时候忘记先干燥一下粉末了,两方法测试出来的结果如下,有没有大佬愿意帮忙分析一下,本人红外小白,不太懂为什么纳米碳粉也会有这么多的红外振动?[img=,690,312]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211011503252381_6208_5865693_3.png!w690x312.jpg[/img][img=,690,603]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211011503277022_1967_5865693_3.png!w690x603.jpg[/img]

  • 纳米软件之绝缘电阻测试系统

    [b][font=微软雅黑][size=14px]系统组成[/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px] 绝缘电阻测试系统由防爆一体机、HP3530绝缘电阻测试仪、待测绝缘电阻及脚踏开关组成。[/size][/font][align=center][img=image.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600619021435949090060.png[/img][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]绝缘电阻测试系统组成[/size][/font][/align][b][b][font=微软雅黑][size=14px]产品特点[/size][/font][/b][/b][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以实现控制HP3530绝缘电阻测试仪对待测电阻的测量;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以实现在单电阻模式下,每测20条数据后提示用户进行线电阻清零;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以实现在双电阻模式下,每测10条数据后提示用户进行线电阻清零;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以通过脚踏开关来触发测试的开始,极大的方便了用户的使用;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件具有管理员和测试员两种权限的设置,增强了系统的管理功能;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以将测试电阻值及其相关信息保存至数据库,可供用户随时导出测试数据及信息;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件将测试数据以word的形式进行导出。[/size][/font][b][b][font=微软雅黑][size=14px]基本硬件[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]1、[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]防爆一体机[/size][/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]防爆一体机主要用于安装测试软件和测试数据导出。[/size][/font][b][b][font=微软雅黑][size=14px]2、[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px] HP3530绝缘电阻测试仪[/size][/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]测试仪可选RS232通讯模块,与计算机进行通讯,组成一个自动化测试系统。测试端口、充电端口都具有多种保护电路,在任何工作模式、任何工作状态下都可以确保安全。[/size][/font][b][b][font=微软雅黑][size=14px]3、[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]脚踏开关[/size][/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]脚踏开关是一种通过脚踩或踏来控制电路通断的开关。在本系统中,脚踏开关与键盘按键相关联,软件监控相应的按键,当脚踏开关被触发时,进行一次电阻测试。[/size][/font][align=center][img=基于硬件,600,226]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600621092432043621125.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][b][b][font=微软雅黑][size=14px]软件功能[/size][/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]绝缘电阻测试系统由[/size][/font][b][font=微软雅黑][size=14px]用户管理、系统登录、仪器连接、功能选择及测试、历史数据查询、数据导出和包络分析[/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]组成。[/size][/font][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]用户管理:[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=14px][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px] 用户管理只对具有管理员权限的用户开放,提高了系统的安全性和可控性,便于管理员对使用本系统的人员管理。[/size][/font][align=center][img=绝缘电阻用户管理界面,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600624289892978887302.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]用户管理界面[/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]用户登录:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]用户在测试前必须要通过身份验证否则不能进入系统进行测试。用户通过账号和密码登录系统,系统会自动识别当前用户是管理员权限还是测试员权限。[/size][/font][align=center][img=用户登录界面,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600631668213298328346.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]用户登录界面[/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]仪器连接:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]用于检测软件是否与DZC-8M电阻测试仪建立连接,只有在建立连接的情况下才能进行后续的电阻测试;点击相应的按钮则将会进入相应的功能模块。[/size][/font][font=微软雅黑] [/font][align=center][img=功能模式选择,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600636518115632678702.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]功能模式选择[/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]功能选择及测试:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]本软件主要有单电阻测试和双电阻测试两种功能供用户选择,功能选择完毕后,用户填写相应的测试信息并开始测试电阻。[/size][/font][b][b][font=微软雅黑]单电阻测试模块[/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]进入单电阻测试界面后,首先应该认真填写测试信息,测试信息填写无误后点击开始测试按钮或者踩踏脚踏开关来触发一次的电阻测试任务,直至测试任务完成退出测试界面。[/size][/font][align=center][img=单电阻测试界面,650,458]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600642327100004692880.png[/img][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]单电阻测试界面[/size][/font][/align][b][b][font=微软雅黑][size=14px]双电阻测试模块[/size][/font][/b][/b][align=center][img=双电阻测试界面,650,458]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600647496924223616122.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]双电阻测试界面[/color][/size][/font][/b][/align][b][color=#1f497d][font=微软雅黑][size=14px]历史数据查[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]询:[/size][/font][/color][/b][font=微软雅黑][size=14px]软件会将测试数据保存至数据库,用户可根据产品代号或产品批号在数据查询界面进行历史测试数据查询。[/size][/font][align=center][img=绝缘电阻测试历史数据查询界面,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600649820752359119127.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]数据导出:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]用户在数据查询界面查询到数据后,可导出相应的数据,导出数据将以word形式展示。[/size][/font][align=center][img=image.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600662926025792389618.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]包络分析:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]包络分析的主要功能是对测试数据进行包络分析,能让用户更加直观的看到本次数据的相关信息。[/size][/font][align=center][img=绝缘电阻包络分析,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600664888721106018500.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]数据包络分析[/size][/font][/align][align=left][font=微软雅黑][size=14px][b][color=#ff0000]*如果您想要了解更多,请搜索 【纳米软件】至官网咨询。[/color][/b][/size][/font][/align]

  • 使用马尔文纳米激光粒度仪ZEN3600分析纳米钛白粒径时有误差

    使用马尔文纳米激光粒度仪ZEN3600分析纳米钛白粒径时有误差

    [font=Verdana]我在进行粒径分析时,使用无水乙醇作分散剂,浓度0.025mg/ml,温度25℃,超声震荡20min。测量了几次结果粒径都偏差很大,如100nm的锐钛纳米二氧化钛,虽然PDI为0.289,但平均粒径达到了1285nm,且出现双峰;同样100nm金虹纳米二氧化钛虽然是单峰,但平均粒径高达826nm,PDI:0.146;0.2-0.4微米钛白分析结果平均粒径650nm,PDI[/font][font=Verdana]:0.184[/font][font=Verdana]。这是什么原因导致的外购商品参数与测试结果不符,是不是分散剂不对,或者使用有误?望各位大佬解惑。[img=三种纳米二氧化钛的强度分布,690,573]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/07/202207111807266875_4002_5322665_3.png!w690x573.jpg[/img][/font]

  • 离心场场流仪在纳米材料领域的应用简介

    离心场场流仪,简称CF3,是在空心的分离通道内施加一个垂直于样品流动方向的离心力,使样品分离并分析测试其尺寸及分布。这款仪器与超速离心有相似之处,但是分离能力、分辨率等要高出很多。像热场具有两个分离原理一样,离心场也具有两个分离原理:1 尺寸分离,包括聚合物/生物大分子材料的流体力学体积、纳米材料的体积与尺寸;2 按照密度分离。离心场是最早商品化的场流分离仪,在人工合成/制造的纳米材料领域有着广泛的应用,在国际纳米材料科研领域享有极高声誉。许多归国留学科学家都曾经在国外学习期间使用过、了解过离心场CF3。目前,国内不少科研单位都对离心场产生了浓厚兴趣。由于具有按照密度分离的能力,离心场可以把尺寸相同或相近的、但是化学性质不同的纳米材料分离开来。附件的文件中,就介绍了尺寸基本相同的纳米金与纳米银颗粒的混合材料,被离心场分离开来并分别测试其含量和尺寸分布。注意,场流仪的分离,是先馏出小尺寸/小分子量样品,再馏出大尺寸/大分子量样品的,其顺序与GPC的分离顺序相反。具体到离心场,小尺寸/小密度的样品先馏出,因此,纳米银颗粒在前、纳米金颗粒在后。离心场可以分离分析各种纳米材料:金属、非金属、有机与无机材料等等,既可以使用水做流动相,也可以使用各种有机溶剂做流动相。

  • 关于召开全国纳米技术标准化技术委员会 低维纳米结构与性能工作组(SAC/TC279/WG9)成立会议 暨国家标准编制启动会的通知

    各相关单位和专家:近年来,越来越多的低维纳米材料,如石墨烯、二硫化钼、氮化硼、二维黑磷单晶等被相继发现,以这些材料为基础的各种复杂结构,如异质结、堆垛结构等也不断产生。这些低维纳米材料与结构的新奇性质以及在光电、催化、传感等领域的前景引起了学术界和产业界的高度关注,也逐步进入了从实验室研发到产业化应用的阶段。统一的命名方式、测试方法、技术规范、性能评价等标准的建立,对该领域相关产业和技术的发展具有有力的支撑作用,开展标准化工作已成为迫切需求。经国家标准化管理委员会和中国科学院批准,全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组正式成立,编号为SAC/TC279/WG9,负责组织协调全国低维纳米技术领域标准化工作。经研究,定于2017年8月20日~21日在江苏省泰州市召开全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组(SAC/TC279/WG9)成立会议,暨国家标准编制启动会。同时,为了加速国家标准、团体标准立项进度,推动我国主导相关国际标准,同期举办中国国际石墨烯资源产业联盟国际标准工作委员会第一次全体大会。现将有关事项通知如下:一、会议主体及参会对象主办单位:国家纳米科学中心、江苏省质量技术监督局承办单位:泰州市质量技术监督局、泰州石墨烯研究检测平台(全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组秘书处)协办单位:中国国际石墨烯资源产业联盟、南京大学、东南大学、上海交通大学、复旦大学、南京邮电大学、西北工业大学、中国科学院上海技术物理研究所、内蒙古石墨烯材料研究院赞助单位:岛津企业管理(中国)有限公司、低维材料在线参会对象:全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组全体委员、中国国际石墨烯资源产业联盟国际标准工作委员会全体委员、低维纳米技术领域相关单位及专家、有意参加标准编制工作的相关单位及专家。二、会议内容(一)全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组成立仪式1. 领导致辞2. 工作组成员证书颁发(二)国家标准工作会议1. 20170324-T-491 国家标准《石墨烯薄膜的性能测试方法》编制启动会。报告人:智林杰研究员国家纳米科学中心2. 国家标准《储能用石墨烯基复合电极材料的振实密度测试方法》技术交流。报告人:智林杰研究员国家纳米科学中心3. 国家标准项目需求研讨(如有需求请用附件2反馈)(三)联盟标准工作会议1. 中国国际石墨烯资源产业联盟国际标准工作委员会第一次全体大会及委员证书颁发2. 纳米技术国际标准化进展。报告人:葛广路研究员国家纳米科学中心3.二维高分子材料:从微观到宏观的结构与形貌调控。报告人:张帆教授 上海交通大学4.多极轴分子铁电/压电材料。报告人:游雨蒙教授 东南大学5.新型二维材料的电子输运和器件应用。报告人:缪峰南京大学6. 原子力显微镜在纳米材料观测中的应用。报告人:陈强岛津企业管理(中国)有限公司7. 专家专题报告8. 联盟标准项目需求研讨(如有需求请用附件2反馈)三、标准化需求征集本次会议面向全国各单位征集低维纳米技术领域的标准化需求,供本次国家或联盟标准工作会议研讨和后续立项。如有需求请于7月28日前反馈《附件2:标准化需求征集表》至邮箱:[email]standard@graphene-center.org[/email]。联系人:邵悦13914543362,梁铮18936799578。四、会务安排(一)会议报到时间:8月20日全天,欢迎晚宴18:30开始。会议于8月21日召开,会期一天。(二)会议地址:泰州天德湖宾馆酒店地址:泰州市海陵区海陵南路268号(天德湖公园内)(三)交通1. 高铁到镇江南站后,会务组安排专车接站,接站发车时间:17:00(需接站者请在附件1会议回执中注明)。2. 高铁南京站到泰州火车站动车约1小时20分钟。3. 扬州泰州机场到泰州汽车南站约35分钟车程,大巴班次如下:10:00、12:00、13:40,、18:00、20:10。4. 南京禄口机场到泰州汽车南站约2.5小时车程,大巴班次如下:10:30、12:30、14:30、16:30、19:00、21:30。五、会务费用及相关事宜1.会议费用全免(含会务费、资料费、餐费)。往返差旅、zhusu费自理。2.会议酒店客房紧张,会务组可提前帮助预订房间。住宿标准:大床房和标准间均为380元/间• 天(含双早)。标准间如需拼房,请在附件1会议回执中注明。六、参会报名希各单位接此通知后于8月4日前将《附件1:会议回执》反馈至邮箱:[email]standard@graphene-center.org[/email]。参会联系人:邵悦13914543362,梁铮18936799578。会议网址:[url]http://www.grapheneiso.com/[/url]七、会议赞助更多合作,会议支持,会议展示,欢迎来电洽谈。赞助/参展联系人:袁文军13761090949,[email]sponsor@graphene-center.org[/email][align=right] [/align][align=right]全国纳米技术标准化技术委员会[/align][align=right]低维纳米结构与性能工作组 [/align][align=right] 2017年7月15日[/align][align=right] [/align]附件1:会议回执附件2:标准化需求征集表附件3:国家标准项目介绍附件1:会议回执 [table=623][tr][td]姓 名[/td][td]性别[/td][td]单位[/td][td]职务[/td][td]联系电话[/td][td]8月20日是否订房(注明大床/双床)[/td][td]8月21日是否订房(注明大床/双床)[/td][/tr][tr][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][/tr][tr][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][/tr][tr][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][/tr][tr][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][/tr][tr][td=7,1] [b]备注:会务组将到高铁镇江南站接站,接站发车时间:17:00[/b]是否需要接站: [color=red](必填项,请填“是/否”)[/color]到站班次: [color=red](若无需接站则不必填写)[/color]到站时间: [color=red](若无需接站则不必填写)[/color][/td][/tr][/table]希各单位接此通知后于8月4日前将《附件1:会议回执》反馈至邮箱:[email]standard@graphene-center.org[/email]。参会联系人:邵悦13914543362,梁铮18936799578。会议网址:[url]http://www.grapheneiso.com/[/url]附件2:标准化需求征集表[table][tr][td]项目名称(中文)[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]项目名称(英文)[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]标准类别[/td][td=3,1] 选填:产品/基础/方法/管理/安全/卫生/环保/其他[/td][/tr][tr][td]提出单位[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]主要提出人[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]主要提出人联系电话[/td][td] [/td][td]主要提出人电子邮件[/td][td] [/td][/tr][tr][td]项目提出时间[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]项目计划开始时间[/td][td] [/td][td]项目计划结束时间[/td][td] [/td][/tr][tr][td]目的、意义[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]范围和主要技术内容[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]国内外情况简要说明[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]项目成本预算[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]备注[/td][td=3,1] [/td][/tr][/table]希各单位接此通知后于8月4日前将《附件2:标准化需求征集表》反馈至邮箱:[email]standard@graphene-center.org[/email]。联系人:邵悦13914543362,梁铮18936799578。附件3:国家标准项目介绍 [table][tr][td][b]标准名称[/b][/td][td]石墨烯薄膜的性能测试方法[/td][/tr][tr][td][b]ICS分类号[/b][/td][td]07.030[/td][/tr][tr][td][b]目的意义[/b][/td][td]石墨烯是一种典型的二维纳米材料,由于石墨烯具有高电子传输速率以及光透过率,石墨烯薄膜材料被广泛应用于透明导电膜的制备,在许多光电器件,如太阳能电池、触摸屏、智能窗、液晶显示等领域中备受关注。由于不同应用对于透明导电膜的性能要求不同,在使用前需要对石墨烯薄膜的导电性、透光性等性能进行测试,以评价石墨烯薄膜的光电性能,并有助于选出符合应用所需的材料。 本标准使用四探针法对石墨烯薄膜的导电性和面电阻均匀性进行测试,使用原子力显微镜扫描法对石墨烯薄膜的厚度进行测试,使用紫外-可见-近红外分光光度法对石墨烯薄膜的透光性进行测试。国内尚无测试石墨烯薄膜上述性能的标准方法。因此,为满足国内该领域的使用需求,制定石墨烯薄膜性能测试标准具有重要意义。[/td][/tr][tr][td][b]范围和主要 技术内容[/b][/td][td]本标准规定了在常温常压空气环境下使用四探针法对石墨烯薄膜样品的导电性和面电阻均匀性进行测试的方法。通过定量测试石墨烯薄膜的方块电阻值,并结合厚度信息得到电导率值,从而进行石墨烯薄膜样品的导电性的综合评价。本标准规定了九点电阻测量法测定石墨烯薄膜的面电阻均匀性的方法,通过测定特定的九个点的方块电阻值,计算方块电阻偏差的相对大小,从而得到薄膜样品均匀性的评价。本标还准规定了原子力显微镜扫描法测定石墨烯薄膜的厚度的方法,通过扫描样品边缘处的高度差,得到薄膜的厚度信息。本标准同时规定了在空气环境下使用紫外-可见-近红外分光光度法(UV-Vis-NIR)对石墨烯薄膜样品的透光性进行测试的方法。通过定量测试石墨烯薄膜在紫外-可见-近红外波长范围内的透过率曲线,进行石墨烯薄膜样品在所选取的波长范围内透光性的综合评价。同时,本标准提供一种对可见光区域内石墨烯薄膜的透光性的评价方法。 技术内容: 使用四探针测试仪对石墨烯薄膜的方块电阻和电导率进行测试,明确石墨烯薄膜的导电性。具体为样品准备、方块电阻的测试、样品厚度测试、电导率的计算,重复进行三次样品测试。使用四探针测试仪对石墨烯薄膜的面电阻均匀性进行测试,具体为选取测试区域和测试点、方块电阻的测试、均匀性的计算。使用原子力显微镜对样品的厚度进行测试,具体为样品准备、原子力显微镜扫描得到厚度信息、多次扫描取平均值。使用紫外-可见-近红外分光光度计对石墨烯薄膜在某一波长范围的透光率进行测试,明确石墨烯薄膜的透光性。具体为样品准备、波长区间及扫描速率确定,重复进行三次样品测试,由透光率曲线得到石墨烯薄膜的透光性评价。[/td][/tr][tr][td][b]国内外情况[/b][/td][td]国内尚无对石墨烯薄膜的导电性、面电阻均匀性、厚度、透光性等性能测试制定标准方法。[/td][/tr][/table] [table][tr][td][b]标准名称[/b][/td][td]储能用石墨烯基复合电极材料的振实密度测试方法[/td][/tr][tr][td][b]ICS分类号[/b][/td][td]07.030[/td][/tr][tr][td][b]目的意义[/b][/td][td]石墨烯作为一种新型纳米材料,其独特的二维单原子层结构赋予了它许多新颖特性,如优异的机械性能、良好的导热和导电性能等,其在诸多领域均表现出良好的应用前景。基于石墨烯与锂离子电池活性电极材料的复合,一类新型纳米复合电极材料正成为科学界和工业界重点关注的能源材料体系。尽管能源电极材料的振实密度对于其实际应用至关重要,目前国际国内尚无石墨烯基复合电极材料的振实密度测试的相关标准,其主要原因是各种维度、结构和形态的石墨烯基复合电极材料在不同的堆积方式下及不同形态的测试器皿中具有不同的振实体积,致使现存的颗粒及粉末振实密度测试方法完全无法应用于该类新型的纳米材料体系;制定该类材料的振实密度测试标准对推进材料的实际应用无疑具有极其重要的意义。[/td][/tr][tr][td][b]范围和主要 技术内容[/b][/td][td]本标准提供石墨烯基复合电极材料振实密度的测定方法,即要求在考虑石墨烯基复合电极材料的结构及形态特征的基础上,将未排列及预排列的样品置于器皿形状与材料维度相匹配的器皿中振实;本标准提供一种对石墨烯基复合电极材料的振实密度进行表征的指导。 技术内容:使用振实密度测试仪将精确称量的具有不同堆积方式的石墨烯基复合电极材料根据材料的维度等结构形态信息在不同形状的体积测试器皿中进行振实,以石墨烯基复合电极材料的质量除以材料经振实后的体积,得到其振实密度值。具体为样品堆积方式的确定、器皿形状的选择、样品量的确定、振实过程的控制等,重复进行三次样品振实密度测试,确保数据可靠性。[/td][/tr][tr][td][b]国内外情况[/b][/td][td]国内尚无针对纳米材料-石墨烯基复合电极材料进行其振实密度测试的标准方法。[/td][/tr][/table]

  • 【原创】请问磁性纳米颗粒的TEM测试方法

    对于colloid 中纳米磁性颗粒,如铁、钴、镍等,怎么才能对他们的分散状态进行TEM测试?其难点在于这些磁性颗粒受电镜中的强磁场作用,吸附到目镜上造成污染。在文献中也能看到有很多TEM图,就是不知道是怎么做出来的。 哪位有经验的能否指点迷津?

  • 用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器

    用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器

    用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器动态光散射原理(光子相关普法PCS和光子交叉相关普法pccs)的纳米激光粒度仪的关键技术是提取悬浮液在溶液中的纳米颗粒的散射光的自相关函数或互相关函数,计算纳米颗粒的扩散系数,从而分析颗粒粒度。数字相关器是基于动态光的散射原理(光子相关光谱法PCS和光子交叉相关普法pccs)的粒度测试技术中提取散射光信号的自相关函数和互相关函数的装置。目前,国内应用较多此类装置主要是进口美国Brookhaven公司BI-9000AT、BI-9010AT和Turbocorr数字相关器,这些装置只能完成自相关运算而无法进行互相关运算,因此只适合用于pcs法测试纳米颗粒粒度,而无法适用于PCCS法测试纳米颗粒粒度,从而对测试环境、所测样品浓度以及测试稳定性等方面具有较大的局限性,只有制作专用大规模集成电路(ASIC),或基于DSP技术,或多片芯片及联组成,不但有很大的局限性,而且价格昂贵。另外,国内有人尝试采用软件的方式实现数字相关器,即先用光子计数器将散射光光子计数并储存在存储器中,然后根据计算计算机软件将其数据从存储器中读出进而进行相关运算,虽然这样能计算出散射光强的相关函数,但由于软件所需的处理时间内的光子丢失造成计算的相关函数偏差较大。因此,采用软件的数字相关器实时性很差,不能满足颗粒粒度分析的要求。微纳专利的用于光子相关纳米激光粒度仪的数字相关器,是一种基于动态光散射原理测试纳米及亚微米颗粒粒度测试技术中用于获得散射光信号自相关函数和互相关函数的数字相关器。本专利发明实现了光子脉冲技术、自相关运算、互相关运算以及与计算机通讯功能,具有采样速度快、延迟时间范围广、相关通道多的特点,完全满足纳米颗粒粒度测试中获取高速变化的动态散射光信号的自相关函数和互相关函数的高难度需求。 winner802 纳米激光粒度仪http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512030937_576113_3050076_3.jpg产品简介:Winner802是我公司最新推出的基于动态光散射原理的纳米激光粒度仪,同时也是国内首款采用数字相关器的纳米激光粒度仪。本款仪器采用我公司自主研制的高速数字相关器和高性能光电倍增管为核心部件,具有操作简便、测试快捷、分辨率高等特点。适用范围:Winner802适用于各种纳米级、亚微米级固体颗粒与乳液。技术参数:规格型号Winner802执行标准 GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/ml--100mg/ml(与样品有关)准确度误差1%(国家标准样品D50值)重复性误差1%(国家标准样品D50值)激光光源光纤半导体激光器,λ= 532nm, 探测器光电倍增管(PMT)散射角90o样品池体积4mL温控范围5-40 ℃(精确到0.1℃)测试速度5 Min体积480mm×270mm×170mm重量12Kg数字相关器主要参数自相关通道:256 基线通道:4最小分辨时间:6ns 延迟时间:100ns-10ms(可调) 运算速度:162M/S产品特点和优势:先进的测试原理采用动态光散射原理和光子相关光谱技术,根据颗粒在液体中的布朗运动速度测定颗粒大小。大小颗粒运动速度不同,激光照射这些颗粒,不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。 极高的分辨能力使用PCS技术测定纳米级颗粒大小,必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用我公司研制的CR256数字相关器,具有识别8ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度。 高灵敏度和信噪比采用专业级高性能光电倍增管(PMT),对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比。 超强的运算能力采用自行研制的高速数字相关器CR256进行数据采集与实时相关运算,其数据处理速度高达162M,从而实时有效地反映颗粒的动态光散射信息。Winner802光子相关纳米激光粒度仪是国家科技型中小企业创新基金的项目成果,也是过内首款采用动态光散射原理的纳米粒度仪。其测量原理建立在液体颗粒布朗运动基础之上,颗粒越小,运动速度越大,运动速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光电倍增管和由微纳自主研发的高速数字相关器作为核心部件,通过测试某一角度的散射光的变化并求出自相关函数(即扩散系数),根据Stokes-Einstein方程计算出颗粒粒径及分布,它具有快速、高分辨率、重复及准确等特点,同时还是纳米颗粒粒度测试的首先产品。

  • 【原创】比表面 比表面测试仪

    比表面是比表面积的简称。根据实际需要,比表面积分为内比表面积、外比表面积、和总比表面积;通常未注明情况下粉体的比表面积是指单位质量粉体颗粒外部表面积和内部孔结构的表面积之和,单位m2/g。粉体材料越细,表面不光滑程度越高,其比表面积越大。由于纳米材料细度很高,一般具有比较大的比表面积;吸附剂催化剂炭黑等材料的效能与比表面积关系密切,一定效能需要一定范围的比表面要求;但并不是比表面积越大,就粉体质量越好。例如在要求粉体球形度的情况下,粒度相当的粉体材料,比表面越大,球形程度就越差。比表面积和粒径(粒径一般用中位径或目数来表示)是两个概念,没有必然联系,同样目数的两个产品不等于他们拥有相同的比表面积,也依赖与其表面光滑程度和孔结构。比表面积研究和相关数据报告中,只有采用BET方法检测出来的结果才是真实可靠的,因为国内外制定出来的比表面积标准都是以BET测试方法为基础的。(GB.T 19587-2004)-气体吸附BET原理测定固态物质比表面积的方法,而通过粒度仪估算出的比表面积通常差距都很大,无法反映实际情况。比表面积测试有专用的比表面积测试仪。 比表面分析仪是用来检测颗粒物质比表面积的专用设备,目前在高校、科研单位及生产企业中被广泛实用,比表面积是衡量物质特性的重要参量,其大小与颗粒的粒径、形状、表面缺陷及孔结构密切相关;同时,比表面积大小对物质其它的许多物理及化学性能会产生很大影响,特别是随着颗粒粒径的变小,比表面积成为了衡量物质性能的一项非常重要参量,如目前广泛应用的纳米材料。比表面积大小性能检测在许多的行业应用中是必须的,如电池材料,催化剂,橡胶中碳黑补强剂,纳米材料等。 目前国内外比表面积测试统一采用多点BET法,国内外制定出来的比表面积测定标准都是以BET测试方法为基础的,请参看我国国家标准(GB/T 19587-2004)-气体吸附BET原理测定固态物质比表面积的方法。比表面积检测其实是比较耗费时间的工作,由于样品吸附能力的不同,有些样品的测试可能需要耗费一整天的时间,如果测试过程没有实现完全自动化,那测试人员就时刻都不能离开,并且要高度集中,观察仪表盘,操控旋钮,稍不留神就会导致测试过程的失败,这会浪费测试人员很多的宝贵时间。真正完全自动化智能化比表面积测试仪产品,才符合测试仪器行业的国际标准,同类国际产品全部是完全自动化的,人工操作的仪器国外早已经淘汰。真正完全自动化智能化比表面积分析仪产品,将测试人员从重复的机械式操作中解放出来,大大降低了他们的工作强度,培训简单,提高了工作效率。真正完全自动化智能化比表面积测定仪产品,大大降低了人为操作导致的误差,提高测试精度。 精微高博(JWGB)是当代中国著名的粉体表面特性测试技术的开创者。十年来,精微高博(JWGB)的科学家革新了测试技术并设计发明了相应的物性测试仪器,使粉体及多孔材料的测试更精确、更精密、更可靠。这包括: • 比表面测试• 吸附/脱附等温线• 孔隙度、介孔与微孔孔径分布•粉体真密度•精微高博(JWGB)具有代表性的仪器: -连续流动色谱法智能型比表面分析仪 ---- JW-DA -多站静态容量法比表面及孔隙度分析仪 ---- JW-BK -静态容量法超微孔孔径分布测试仪—— JW-BK-F

  • 【求助】求纳米标准的下载链接

    GJB 1713-1993 纳米激光偏振干涉仪规范 JJF 1321-1990 250~2500纳米光谱辐射亮度和照度基准操作技术规范 JJF 1322A-1990 250~2500纳米光谱辐射亮度副基准操作技术规范JJF 1322B-1990 250~2500纳米光谱辐射照度副基准操作技术规范 JJF 1335-1990 800~2000纳米光谱反射比副基准操作技术规范 GB/T 18735-2002 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范 GB/T 19345-2003 非晶纳米晶软磁合金带材 GB/T 19346-2003 非晶纳米晶软磁合金交流磁性性能测试方法 HG/T 3791-2005 氯乙烯-纳米碳酸钙原位聚合悬浮法聚氯乙烯树脂 GB/T 19588-2004 纳米镍粉 GB/T 19589-2004 纳米氧化锌 GB/T 19591-2004 纳米二氧化钛 GB/T 19619-2004 纳米材料术语 GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 HG/T 3819-2006 纳米合成水滑石 HG/T 3820-2006 纳米合成水滑石 分析方法 HG/T 3821-2006 纳米氢氧化镁 SC/T 7205.1-2007 牡蛎包纳米虫病诊断规程第1部分:组织印片的细胞学诊断法 SC/T 7205.3-2007 牡蛎包纳米虫病诊断规程第3部分:透射电镜诊断法

  • 【求助】关于纳米颗粒的UV-Vis测试方法

    想做纳米颗粒的uv-vis,实验室以前的人都是压片做反射。但我的粉末量不够,请问可以大家有什么好的方法测吗?在网上搜索好像有把粉末分散在溶液中的测试的方法,但写得很不详细。还请大虾多多指教,谢谢了

  • 北京正通远恒科技有限公司刚刚发布了 纳米力学测试系统销售工程师 职位,坐标北京,敢不敢来试试?

    [b]职位名称:[/b] 纳米力学测试系统销售工程师 [b]职位描述/要求:[/b]职位要求:1、 本科及硕士以上学历;2、 物理/应用物理、材料/材料物理/材料化学、表面、薄膜等专业背景;具有很强的学习动力与能力,通过学习应能掌握仪器所涉及理论与应用知识。3、 热爱销售工作、积极主动、善于自我激励;4、 为人踏实肯干、诚实守信、有责任感和进取心,善于沟通与交流;5、 英语听、说、读、写能力良好;6、 能适应经常出差;7、具有相关仪器销售经验者优先,欢迎优秀应届毕业生加入。工作职责:1、主要负责所属部门的进口类仪器在所辖区域的销售与技术交流工作,包含材料表征(三维形貌、纳米力学、Zeta电位、混凝土流变、薄膜厚度折射率吸收系数)、分子相互作用等类型仪器,完成公司布置的销售任务;2、熟练掌握进口仪器的相关专业知识,包括:技术原理、应用、产品特点等;3、联系并拜访客户,独立向客户进行Presentation展示,开展技术交流,推进项目进展,完成销售;4、开拓新市场,发展新客户,推广公司的产品和服务;5、维护及增进已有用户关系,及时了解用户的问题及需求,挖掘新的销售机会;6、配合市场部门做好学术会议、展会等的布展工作,提供销售及技术支持;7、制作标书、投标现场谈判、签订技术文件等;8、根据公司计划安排的其他相关工作。[b]公司介绍:[/b] 北京正通远恒科技有限公司成立于2001年,是一家经营欧美和日本等国先进科学测试仪器和设备,并将国外先进技术引入国内的科技服务型企业.经过十年的发展,公司在北京、上海、广州、武汉均设有办事处。 公司用受人尊敬的、专业的方式来经营公司的业务(HONOPROF comes from our philosophy---- doing business in an HONOurable an...[url=https://www.instrument.com.cn/job/user/job/position/58023]查看全部[/url]

  • Winner801光相关纳米粒度仪

    Winner801光相关纳米粒度仪Winner801是我公司最新推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪,也是国内首款采用光子相关光谱(PCS)技术的纳米粒度仪。它采用我公司自主研制的高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件,具有快速、高分辨率、重复及准确等特点,是纳米颗粒粒度测定的首选产品。主要性能特点:先进的测试原理:本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术,根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快,大颗粒布朗运动速度慢,激光照射这些颗粒,不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点,从而保证了测试结果的真实性和有效性;是纳米激颗粒粒度测定的首选仪器。高灵敏度与信噪比:本仪器的探测器采用专业级高性能光电倍增管(PMT),对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比,从而保证了测试结果的准确度;极高的分辨能力:使用PCS技术测定纳米级颗粒大小,必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用微纳公司研制的CR140数字相关器,具有识别8ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度,因此可以得到准确的测定结果。超强的运算功能:本仪器采用自行研制的高速数字相关器CR140进行数据采集与实时相关运算,其数据处理速度高达125M,从而实时有效地反映颗粒的动态光散射信息。稳定的光路系统:采用短波长LD泵浦激光光源和光纤技术搭建而成的光路系统,使光子相关谱探测系统不仅体积小,而且具有很强的抗干扰能力,从而保证了测试的稳定性。高精度恒温控制系统:样品测试区域设计有半导体恒温装置,温控精度高达0.1℃,保证测试样品温度恒定,消除因温度的变化导致介质的折射率、粘度的变化以及布朗运动突变等因素,从而保证测试结果的准确度和稳定性。 适用测试对象:各种纳米级、亚微米级固体颗粒与乳液。

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