旋转滴界面仪

A1200界面张力测定仪装 箱 单序号物品名称数量单位规格型号备注1自动界面张力测定仪1台A12002电源线1根3铂金环1套4挂件1个5砝码1个2克6打印纸1卷7张力杯2个8保险丝2个1A9说明书1本10合格证1份11装箱清单1份

用途：AMS油水界面计是一款经济型装置，可测量井口下30米深度，是浅井测量或高水位测量的理想设备。AMS油水界面计测量地下水中漂浮或下沉的油层厚度。这类设备被广泛应用于精炼厂、溢油污染修复公司、垃圾填埋场及现场清理项目。技术规格：传感器直径15.8毫米测量深度30米测量精度3毫米供电9V电池指示功能声光信号重量3.5公斤产地：美国

用途：AMS油水界面计是一款经济型装置，可测量井口下30米深度，是浅井测量或高水位测量的理想设备。AMS油水界面计测量地下水中漂浮或下沉的油层厚度。这类设备被广泛应用于精炼厂、溢油污染修复公司、垃圾填埋场及现场清理项目。技术规格：传感器直径15.8毫米测量深度30米测量精度3毫米供电9V电池指示功能声光信号重量3.5公斤产地：美国

旋转光纤特性设计波长：1310 nm或1550 nm针对电流感应应用优化输出偏振对热噪声和振动噪声不敏感应用：光纤电流传感器 (FOCS)光学电流互感器 (OCT)旋转光纤是专用的高度双折射光纤，它通过在拉制过程中先旋转蝴蝶结式的单模保偏光纤来制造，而不是在拉制之后使其扭转。它们经旋转使得蝴蝶结结构沿光纤的轴向方向转动（参见页面上方的图）。我们提供针对1310 nm（产品型号为SHB1250G80和SHB1250）和1550 nm（产品型号为SHB1500）的激光源的光纤。与传统PM光纤不同，它们设计用来保持线性偏振和圆偏振，且输出偏振对热噪声和振动噪声以及由应力双折射所致的漂移不敏感。这些高度双折射旋转光纤的特性使它们非常适用于高灵敏度的光纤电流传感器（FOCS）[也称为光学电流互感器（OCT）]。在这些应用中，它们可用于AC电流传感和DC电流传感。FOCS和OCT依靠测量由法拉第效应所致的光偏振轴的旋转圈数（见图1）。法拉第效应通过所施加的磁场导致偏振态的旋转。对于电流传感应用，磁场由载流导体产生。因为由导体产生的磁场与电流呈线性正比关系，所以偏振旋转也与电流呈正比。可通过将光纤缠绕导体来进一步增加灵敏度（见图2）。在这种情况下， 旋转圈数β与Vx N x I呈正比，其中V、N和I如右边所定义。将这些旋转光纤用作FOCS或OCT具有优于传统方法的几个优点。光纤内部产生偏振旋转，从任何电压线或电压源隔离。这消除了原本可能影响测量的任何电气噪声。光纤对外部场格外敏感，具有非常快的响应时间，并且重量轻，结构紧凑。关于电流传感应用的更多信息，请参见制造商的技术和应用说明。欲订购这些光纤作为连接器式的跳线，请联系技术支持。图1：法拉第效应的图示图2：缠绕导体的旋转光纤，用于电流感应应用β∝Vx N x IV：Verdet常数（参见曲线标签），它是光学材料的一种属性，以rad/A为单位N：光纤缠绕电流导体的圈数。I：流过导体的电流，以A为单位Item #aOperatingWavelengthCladdingDiameterCoatingDiameterMFDbNACut-Off WavelengthAttenuationCircular BeatLengthSHB1250G801310 nm80 ± 1.5 μm170 ± 10 μm6.2 - 8.4 μm@ 1310 nm0.13 - 0.17≤1250 nm≤5 dB/km@ 1310 nm63 - 125 mm@ 1310 nmSHB12501310 nm125 ± 1 μm245 ± 15 μm6.2 - 8.4 μm@ 1310 nm0.13 - 0.17≤1250 nm≤5 dB/km@ 1310 nm63 - 125 mm@ 1310 nmSHB15001550 nm125 ± 1 μm245 ± 15 μm7.9 - 9.9 μm@ 1550 nm0.13 - 0.16≤1500 nm≤3 dB/km@ 1550 nm72 - 144 mm@ 1550 nm完整规格列表参见规格标签。模场直径（MFD）指定为标称值。它是近场中以1/e2功率等级时的直径。更多信息请参见上方MFD定义标签。规格FiberSHB1250G80SHB1250SHB1500Operating Wavelength1310 nm1550 nmCut-Off Wavelength≤ 1250 nm≤ 1500 nmNumerical Aperture0.13 - 0.170.13 - 0.16Mode Field Diameter6.2 - 8.4 μm @ 1310 nm7.9 - 9.9 μm @ 1550 nmAttenuation≤ 5 dB/km @ 1310 nm≤ 3 dB/km @ 1550 nmCircular Beat Length63 - 125 mm @ 1310 nm72 - 144 mm @ 1550 nmNominal Spin Pitcha4.8 mmProof Test100 kpsi (1%)Cladding Diameter80 ± 1.5 μm125 ± 1 μmCore-Cladding Concentricity1.0 μmCoating Diameter170 ± 10 μm245 ± 15 μmCoating Diameter170 ± 10 μm旋转间距指的是光纤中固定的360度旋转的规律性。例如，5 mm旋转间距意思是对成品光纤将以每5 mm来固定光纤的360度旋转。曲线这个曲线图为计算的旋转光纤总灵敏度的值。较小的?80 μm包层光纤在较小的线圈直径时比较大的?125 μm包层光纤灵敏。因此，?80 μm包层光纤可以更紧密地缠绕，并提供更精确的电流测量。关于总灵敏度的定义，请参见制造商的技术说明的第三页。上方曲线图为这些旋转光纤的Verdet常数的理论值。模场直径定义模场直径（MFD）是在单模光纤中传播的光的光束宽度的一个度量。它与波长、纤芯半径以及纤芯和包层的折射率呈函数关系。虽然光纤中大部分光都被束缚在纤芯内，但有小部分光在包层中传播。对于高斯功率分布，MFD是光功率从其峰值等级下降到1/e2时的直径。MFD的测量MFD的测量由远场可变孔径法（VAMFF）完成。 将光阑置于光纤输出的远场中，并测量强度。将依次减小的光阑置于光束中，对每种孔径测量强度等级；所得数据可绘图为功率vs.孔径半角（或对于SM光纤是数值孔径）的正弦值的曲线。接着用彼得曼第二定义确定MFD，这个彼得曼第二定义不假设功率分布的特定形状。近场中MFD可从这个远场测量用汉克尔变换来确定。左图是通过光纤传播的光束的强度分布。右图是通过光纤传播的光束的标准强度分布，图中标注了MFD和纤芯直径。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件，紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同，与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小，耦合单模(SM)光纤时尤其如此，因此，对于给定的功率密度，入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值：一种理论损伤阈值，一种"实际安全水平"。一般而言，理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下，可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的，但用户必须遵守恰当的适用性说明，并在使用前在低功率下验证性能。计算单模光纤和多模光纤的有效面积单模光纤的有效面积是通过模场直径(MFD)定义的，它是光通过光纤的横截面积，包括纤芯以及部分包层。耦合到单模光纤时，入射光束的直径必须匹配光纤的MFD，才能达到良好的耦合效率。例如，SM400单模光纤在400 nm下工作的模场直径(MFD)大约是?3 μm，而SMF-28 Ultra单模光纤在1550 nm下工作的MFD为?10.5 μm。则两种光纤的有效面积可以根据下面来计算：SM400 Fiber:Area= Pi x (MFD/2)2= Pi x (1.5μm)2= 7.07 μm2= 7.07 x 10-8cm2SMF-28 Ultra Fiber:Area = Pi x (MFD/2)2= Pi x (5.25 μm)2= 86.6 μm2= 8.66 x 10-7cm2为了估算光纤端面适用的功率水平，将功率密度乘以有效面积。请注意，该计算假设的是光束具有均匀的强度分布，但其实，单模光纤中的大多数激光束都是高斯形状，使得光束中心的密度比边缘处更高，因此，这些计算值将略高于损伤阈值或实际安全水平对应的功率。假设使用连续光源，通过估算的功率密度，就可以确定对应的功率水平：SM400 Fiber:7.07 x 10-8cm2x 1MW/cm2= 7.1 x10-8MW =71mW(理论损伤阈值)7.07 x 10-8cm2x 250 kW/cm2= 1.8 x10-5kW = 18mW(实际安全水平)SMF-28 Ultra Fiber:8.66 x 10-7cm2x 1MW/cm2= 8.7 x10-7MW =870mW(理论损伤阈值)8.66 x 10-7cm2x 250 kW/cm2= 2.1 x10-4kW =210mW(实际安全水平)多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果，Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大，降低了光纤端面的功率密度，因此，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如，光纤跳线)，而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如，右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给插芯/接头终端的损伤限制保持不变，这样，多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意，曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是，光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过，这样的应用一般需要专业用户，并在使用之前以较低的功率进行测试，尽量降低损伤风险。但即使如此，如果在较高的功率水平下使用，则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外，光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件，因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射，光在某个区域就会射出光纤，这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高，会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤，允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导，从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角，射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出，从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤，它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象，一般发生在紫外或短波长可见光，尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加，衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知，但可以采取一些列措施来缓解。例如，研究发现，羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化，其它掺杂物比如氟，也能减少光暗化。即使采取了上述措施，所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生，因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。产品型号公英制通用SHB1250G80旋转保偏光纤，1310 nm，?80 μm的包层SHB1250旋转保偏光纤，1310 nm，?125 μm的包层SHB1500旋转保偏光纤，1550 nm，?125 μm的包层

唐海红 13120400643便携式浊度、悬浮物和污泥界面检测仪在市政和工业废水、 饮用水以及河流检测中是一种非常理想的远程监测工具。该仪器可以做监测过程中的一种优化工具，也可以作为校准或验证在线传感器的一种简便方法。 特点和优点： ● 一台仪器可以监测三个参数 ● 多条校准曲线，便于使用 ● 简便的污泥界面测量 ● 气泡补偿测量保证更高的精度 ● 测量材质，使用寿命长 ● 使用可充电电池供电 技术指标： 操作模式： 单点测量，间歇测量或连续测量 显示： 24mmLCD显示屏，防紫外处理，字母显示4行，每行16字节 操作温度： 0-60℃ 操作压力： 0-10bar 相对湿度： 0-95%相对湿度 电源要求： 测定仪：6节镍氢可充电电池或6节AA标准电池 一体化充电器： 115/230Vac，50/60Hz 传感器电缆线长度： 10米 便携仪防护等级： IP55 传感器防护等级： IP68 输入电流： 约60mA 液接材料： 传感器外壳：不锈钢；传感器视窗：蓝宝石 数据存储： 最多可以存储290个测量值 重量： 测定仪：0.6Kg；传感器：1.6Kg 尺寸： 便携仪：110× 230× 40mm；传感器：290× 40mm；便携箱：320× 450× 110mm

依阳系列人机界面集成测控系统EyoungHMI系列人机界面集成测控系统是一套以低功耗嵌入式CPU为核心、基于Windows CE操作系统的高性能人机界面，拥有多尺寸高亮度TFT真彩色液晶屏，四线电阻式触摸屏。EyoungHMI系列人机界面集成测控系统主要具有以下突出特点：（1）放弃了以往以PLC为核心添加模块的操作控制理念，EyoungHMI系列人机界面集成测控系统则是以嵌入了操作系统的人机界面为核心，在与传统的操作面板/人机界面进行比较，EyoungHMI系列人机界面集成测控系统表现出优异性价比和完美性能，是多元化产品市场中理想的应用选择；（2） 可与几乎所有厂商的PLCs、控制器、变频器、网络摄像机和传感器等多种工业设备无缝相连，完美协作；（3） 借助自带的多种通讯接口可与所有厂家的大型高精度数字繁用表、数据采集器及其它测量设备和仪器轻松相连，充分发挥测量设备和仪器的精度和功能，并可通过串口、以太网、USB下载运行和存储数据。（4） 可以根据实际需要轻松进行画面编辑和工艺过程中的数据和曲线显示，从而创建多种应用解决方案。

【产品详情】此钉形样品台为45°/90°截面，双面各带一个夹片，样品台直径为25mm，45°及90°截面的夹片分别适用于固定不同样品或样品的不同截面，可同时放置两个样品，样品台直径为25mm。适用于Zeiss，FEI和Tescan等扫描电镜，材质为铝材质。【规格详情】样品台直径截面角度夹片数量25mm45°/90°2个产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

多模光纤旋转接头跳线特性铰接式旋转接头可以防止扭转时对光纤的损坏?200微米或400微米纤芯的多模光纤可选SMA905或FC/PC(2.0 mm窄键)接头可定制跳线转动极其平滑SM05螺纹(0.535"-40)旋转接头用于固定安装Thorlabs的多模(MM)光纤旋转接头跳线是任何需要旋转一个光纤接头的实验的整体式解决方案。内置的旋转接头允许连接在旋转节上的光缆自由转动，而保持其它光缆不动，从而降低实验中发生损伤的危险。相比将旋转接头和跳线分离的方案，无透镜设计使插入损耗更低，旋转透射变化更小。这种旋转接头经过精密加工，并带有密封轴承，可以进行极其平滑的转动，具有很长的使用寿命以及在转动时的低信号强度振动特性。该旋转接头具有SM05(0.535英寸-40)安装螺纹，可以兼容我们的?1/2英寸光学元件安装座。使用我们的C059TC夹具，通过卡入式安装这些跳线，可以快速安装连接器?0.59英寸的主体。这些跳线采用FT200EMT型?200 μm纤芯或FT400EMT型?400 μm纤芯、数值孔径0.39的光纤。有一种1米长光纤，它的旋转接头两侧有标准的FT020橙色套管，光纤端是一个FC/PC或SMA接头。每一根旋转接头跳线包括两个保护盖，用于防止灰尘和其它有害物质落入插芯端。额外的用于SMA接头的CAPM橡胶或CAPMM金属盖，以及用在FC/PC接头的CAPF塑料或CAPFM金属盖也可单独购买。相比未端接的光纤，这些跳线的zui大功率因连接而受到限制。光遗传学我们也供应用于光遗传学的旋转接头跳线。它们用在该领域是因为它们对运动样品提供便利。这些跳线不同之处是它们带低剖面金属头的更轻的黑色插芯，在旋转接头的样品一侧插入针头连接。它们为连接光源和移植的光针头提供完整方案，并且兼容Thorlabs所有光源和光遗传学设备。Thorlabs供应用于活体刺激的齐全的光遗传学设备，包括：用于光遗传学的可移植光纤针头、光纤跳线和旋转接头跳线以及LED和激光光源。旋转接头上的SM05外螺纹兼容我们的SM05螺纹元件安装座，比如这里的LMR05透镜安装座。旋转接头在两个光纤的金属套管紧邻处采用尾部耦合设计减少插入损耗定制旋转接头跳线旋转接头跳线的光纤引线为yong久性连接到旋转接头上，以保证更高的性能，并且提供整体式的光纤光学元件解决方案。为了和更广范围的实验装置，我们还提供定制具有不同纤芯和NA的光纤的旋转接头跳线。我们还可以制造不同接头或者不同长度光纤的跳线。为了能够达到zui佳性能，我们建议纤芯直径为200微米或更大的光纤。In-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMAFC/PCFC/PC to SMASquare-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMAHR-Coated FC/PCBeamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PCLightweight SMARotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMAUHV, High-Temp. SMAArmored SMASolarization-Resistant SMAFC/PCFC/PC to LC/PC规格SpecificationsItem #RJPS2RJPF2RJPS4RJPF4Connector TypeSMA(10230Aa)FC/PC(30230C1b)SMA(10440Aa)FC/PC(30440C1b)Fiber TypeFT200EMTFT400EMTFiber Core Size?200 μm?400 μmFiber NA0.39 ± 0.02Wavelength Range400 - 2200 nmLength1 m on Both Sides of Rotary JointFiber Jacket?2 mm, Orange (FT020)Rotary Joint SpecificationsInsertion Loss Through Rotary Joint63%)Variation in Insertion LossDuring Rotation±0.4 dB (Transmission ±8%)Start-Up TorqueRPM (Max)c10,000Lifetime Cycle200 - 400 Million RevolutionsOperating Temperaturea. 与用于?2 mm套管的190088CP消应力套管连接。b. 与用于?2 mm套管的190066CP消应力套管连接。c. 仅针对旋转接头部分中的轴承所测的数据。光纤规格Item #Fiber TypeNACore /CladdingCoreDiameterCladdingDiameterCoatingDiameterMax CoreOffsetBend Radius(Short Term / Long Term)RJPF2 and RJPS2FT200EMT0.39 ± 0.02Pure Silica /TECS Hard Cladding200 ± 5 μm225 ± 5 μm500 ± 30 μm5 μm9 mm / 18 mmRJPF4 and RJPS4FT400EMT400 ± 8 μm425 ± 10 μm730 ± 30 μm7 μm20 mm / 40 mm多模光纤教程在光纤中引导光光纤属于光波导，光波导是一种更为广泛的光学元件，可以利用全内反射(TIR)在固体或液体结构中限制并引导光。光纤通常可以在众多应用中使用；常见的例子包括通信、光谱学、照明和传感器。比较常见的玻璃(石英)纤维使用一种称之为阶跃折射率光纤的结构，如右图所示。这种光纤的纤芯由一种折射率比外面包层高的材料构成。在光纤中以临界角入射时，光会在纤芯/包层界面产生全反射，而不会折射到周围的介质中。为了达到TIR的条件，发射到光纤中入射光的角度必须小于某个角度，即接收角，θacc。根据斯涅耳定律可以计算出这个角：其中，ncore为纤芯的折射率，nclad为光纤包层的折射率，n为外部介质的折射率，θcrit为临界角，θacc为光纤的接收半角。数值孔径(NA)是一个无量纲量，由光纤制造商用来确定光纤的接收角，表示为：对于芯径(多模)较大的阶跃折射率光纤，使用这个等式可以直接计算出NA。NA也可以由实验确定，通过追踪远场光束分布并测量光束中心与光强为zui大光强5%的点之间的角度即可；但是，直接计算NA得出的值更为准确。光纤的全内反射光纤中的模式数量光在光纤中传播的每种可能路径即为光纤的导模。根据纤芯/包层区域的尺寸、折射率和波长，单光纤内可支持从一种到数千种模式。而其中zui常使用两种为单模(支持单导模)和多模(支持多种导模)。在多模光纤中，低阶模倾向于在空间上将光限制在纤芯内；而高阶模倾向于在空间上将光限制在纤芯/包层界面的附近。使用一些简单的计算就可以估算出光纤支持的模(单模或多模)的数量。归一化频率，也就是常说的V值，是一个无量纲的数，与自由空间频率成比例，但被归为光纤的引导属性。V值表示为：其中V为归一化频率(V值)，a为纤芯半径，λ为自由空间波长。多模光纤的V值非常大；例如，芯径为?50 μm、数值孔径为0.39的多模光纤，在波长为1.5 μm时，V值为40.8。对于具有较大V值的多模光纤，可以使用下式近似计算其支持的模式数量：上面例子中，芯径为?50 μm、NA为0.39的多模光纤支持大约832种不同的导模，这些模可以同时穿过光纤。单模光纤V值必须小于截止频率2.405，这表示在这个时候，光只耦合到光纤的基模中。为了满足这个条件，单模光纤的纤芯尺寸和NA要远小于同波长下的多模光纤。例如SMF-28超单模光纤的标称NA为0.14，芯径为?8.2 μm，在波长为1550nm时，V值为2.404。衰减来源光纤损耗，也称之为衰减，是光纤的特性，可以通过量化来预测光纤装置内的总透射功率损耗。这些损耗来源一般与波长相关，因光纤的使用材料或光纤的弯曲等而有所差异。常见衰减来源的详情如下：吸收标准光纤中的光通过固体材料引导，因此，光在光纤中传播会因吸收而产生损耗。标准光纤使用熔融石英制造，经优化可在波长1300 nm-1550 nm的范围内传播。波长更长(2000nm)时，熔融石英内的多声子相互作用造成大量吸收。使用氟化锆、氟化铟等氟氧物玻璃制造中红外光纤，主要是因为它们处于这些波长范围时损耗较低。氟化锆、氟化铟的多声子边分别为~3.6 μm和~4.6 μm。光纤内的污染物也会造成吸收损耗。其中一种污染物就是困在玻璃纤维中的水分子，可以吸收波长在1300 nm和2.94 μm的光。由于通信信号和某些激光器也是在这个区域里工作，光纤中的任意水分子都会明显地衰减信号。玻璃纤维中离子的浓度通常由制造商控制，以便调节光纤的传播/衰减属性。例如，石英中本来就存在羟基(OH-)，可以吸收近红外到红外光谱的光。因此，羟基浓度较低的光纤更适合在通信波长下传播。而羟基浓度较高的光纤在紫外波长范围时有助于传播，因此，更适合对荧光或UV-VIS光谱学等应用感兴趣的用户。散射对于大多数光纤应用来说，光散射也是损耗的来源，通常在光遇到介质的折射率发生变化时产生。这些变化可以是由杂质、微粒或气泡引起的外在变化；也可以是由玻璃密度的波动、成分或相位态引起的内在变化。散射与光的波长呈负相关关系，因此，在光谱中的紫外或蓝光区域等波长较短时，散射损耗会比较大。使用恰当的光纤清洁、操作和存储存步骤可以尽可能地减少光纤jian端的杂质，避免产生较大的散射损耗。弯曲损耗因光纤的外部和内部几何发生变化而产生的损耗称之为弯曲损耗。通常包含两大类：宏弯损耗和微弯损耗。宏弯损耗造成的衰减微弯损耗造成的衰减宏弯损耗一般与光纤的物理弯曲相关；例如，将其卷成圈。如右图所示，引导的光在空间上分布在光纤的纤芯和包层区域。以某半径弯曲光纤时，在弯曲外半径的光不能在不超过光速时维持相同的空间模分布。相反，由于辐射能量会损耗到周边环境中。弯曲半径较大时，与弯曲相关的损耗会比较小；但弯曲半径小于光纤的推荐弯曲半径时，弯曲损耗会非常大。光纤可以在弯曲半径较小时进行短时间工作；但如果要长期储存，弯曲半径应该大于推荐值。使用恰当的储存条件(温度和弯曲半径)可以降低对光纤造成yong久性损伤的几率；FSR1光纤缠绕盘设计用来zui大程度地减少高弯曲损耗。微弯损耗由光纤的内部几何，尤其是纤芯和包层发生变化而产生。光纤结构中的这些随机变化(即凸起)会破坏全内反射所需的条件，使得传播的光耦合到非传播模中，造成泄露(详情请看右图)。与由弯曲半径控制的宏弯损耗不同，微弯损耗是由制造光纤时在光纤内造成的yong久性缺陷而产生。包层模虽然多模光纤中的大多数光通过纤芯内的TIR引导，但是由于TIR发生在包层与涂覆层/保护层的界面，在纤芯和包层内引导光的高阶模也可能存在。这样就产生了我们所熟知的包层模。这样的例子可在右边的光束分布测量中看到，其中体现了包层模包层中的光强比纤芯中要高。这些模可以不传播(即它们不满足TIR的条件)，也可以在一段很长的光纤中传播。由于包层模一般为高阶模，在光纤弯曲和出现微弯缺陷时，它们就是损耗的来源。通过接头连接两个光纤时包层模会消失，因为它们不能在光纤之间轻松耦合。由于包层模对光束空间轮廓的影响，有些应用(比如发射到自由空间中)中可能不需要包层模。光纤较长时，这些模会自然衰减。对于长度小于10 m的光纤，消除包层模的一种办法就是将光纤缠绕在半径合适的芯轴上，这样能保留需要的传播模式。在FT200EMT多模光纤与M565F1 LED的光束轮廓中，展现了包层而不是纤芯引导的光。入纤方式多模光纤未充满条件对于在NA较大时接收光的多模光纤来说，光耦合到光纤的的条件(光源类型、光束直径、NA)对性能有着极大影响。在耦合界面，光的光束直径和NA小于光纤的芯径和NA时，就出现了未充满的入纤条件。这种情况的常见例子就是将激光光源发射到较大的多模光纤。从下面的图和光束轮廓测量可以看出，未充满时会使光在空间上集中到光纤的中心，优先充满低阶模，而非高阶模。因此，它们对宏弯损耗不太敏感，也没有包层模。这种条件下，所测的插入损耗也会小于典型值，光纤纤芯处有着较高的功率密度。展示未充满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤过满条件在耦合界面，光束直径和NA大于光纤的芯径和NA时就出现了过满的情况。实现这种条件的一个方法就是将LED光源的光发射到较小的多模光纤中。过满时会将整个纤芯和部分包层裸露在光中，均匀充满低阶模和高阶模(请看下图)，增加耦合到光纤包层模的可能性。高阶模比例的增加意味着过满光纤对弯曲损耗会更为敏感。在这种条件下，所测的插入损耗会大于典型值，与未充满光纤条件相比，会产生较高的总输出功率。展示过满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤未充满或过满条件各有优劣，这取决于特定应用的要求。如需测量多模光纤的基准性能，Thorlabs建议使用光束直径为光纤芯径70-80%的入纤条件。过满条件在短距离时输出功率更大；而长距离(10 - 20 m)时，对衰减较为敏感的高阶模会消失。损伤阀值激光诱导的光纤损伤Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件，紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同，与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小，耦合单模(SM)光纤时尤其如此，因此，对于给定的功率密度，入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值：一种理论损伤阈值，一种"实际安全水平"。一般而言，理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下，可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的，但用户必须遵守恰当的适用性说明，并在使用前在低功率下验证性能。多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果，Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大，降低了光纤端面的功率密度，因此，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如，光纤跳线)，而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如，右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下，两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线)，而在1550nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤，有效模场由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的有效模场。因此，其光纤端面上的功率密度更低，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变，这样，多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意，曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是，光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过，这样的应用一般需要专业用户，并在使用之前以较低的功率进行测试，尽量降低损伤风险。但即使如此，如果在较高的功率水平下使用，则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外，光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件，因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。旋转接头跳线，?200微米光纤Item #FiberCoreDiameterCladdingDiameterNABend Radius(Short Term/Long Term)WavelengthRangeAttenuationPlotConnectorsJacketRJPS2FT200EMT200 ± 5 μm225 ± 5 μm0.399 mm / 18 mm400 - 2200 nm(Low OH)SMA905 (10230Aa)FT020(?2 mm)RJPF2FC/PC (30230C1b)a. 与用于?2 mm套管的190088CP消应力套管连接。b. 与用于?2 mm套管的190066CP消应力套管连接。产品型号公英制通用RJPS2SMA到SMA，?200微米，0.39数值孔径旋转跳线，长2米RJPF2FC/PC到FC/PC，?200微米，0.39数值孔径旋转跳线，长2米旋转接头跳线，?400微米光纤Item #FiberCoreDiameterCladdingDiameterNABend Radius(Short Term/Long Term)WavelengthRangeAttenuationPlotConnectorsJacketRJPS4FT400EMT400 ± 8 μm425 ± 10 μm0.3920 mm / 40 mm400 - 2200 nm(Low OH)SMA905 (10440Aa)FT020(?2 mm)RJPF4FC/PC (30440C1b)与用于?2 mm套管的190088CP消应力套管连接。与用于?2 mm套管的190066CP消应力套管连接。产品型号公英制通用RJPS4SMA到SMA，?400微米，0.39数值孔径旋转跳线，长2米RJPF4FC/PC到FC/PC，?400微米，0.39数值孔径旋转跳线，长2米

自动变光焊接面罩采用高强度材料，有效避免焊接火花、焊接飞溅物对面部的伤害。同时采用特殊光学技术与太阳能技术，自动变光镜片在弧光出现时迅速变暗，可靠地过滤各种焊接弧光，焊接停止时自动恢复光亮。自动变光焊接面罩 G-MASK700S视窗尺寸：97mm x 47.5mm (3.82" x 1.87")镜片盒尺寸：110mm x 90mm x 9mm (4.33&rdquo x 3.54&rdquo x 0.35&rdquo )弧光感应器：2个遮光度：DIN9～13（可调）电源：太阳能电池，不需充电变光时间：0.0004秒，从亮到暗延迟时间：0.1 ～1.0秒工作温度：-10℃～55℃ (14℃～131℃)存放温度：-20℃～70℃ (-4℃～158℃)外壳材料：高强度尼龙重量：440g (15.52oz)

主要用于金相制样的截面样品对缝粘接，当样品粘接后，需要给样品一定的压力进行固定，使粘合剂固化。同时需要在加热板上均匀加热。该产品是一款很专业的样品夹持工具，操作方便，夹持灵活。

AFM/STM横截面样品台AFM/STM样品台全部采用优质磁性不锈钢（430合金）制成，因此可以方便地连接到AFM系统的磁性样品架上。横截面座12mm直径，4.5mm高和3.5mm特征深度将与市场上大多数AFM系统兼容。产品信息：货号产品名称74000-0190° Mount - Adhesive required，需使用导电胶来安装样品。74000-0290° Mount with Spring Clip，有弹簧夹子方便地安装薄横截面样品74000-03Vise w/Set Screw and Allen Key，厚度为4mm，包括六角扳手74000-04Dual Vise w/Set Screw and Allen Key，厚度为1mm。包括六角扳手价格仅供参考，详情电询

【产品详情】此钉形样品台为90°截面，两面各带一个夹片，总共两个夹片，样品台直径为25mm，夹片便于固定样品到样品台侧面，来观察样品截面，两个夹片可同时放置两个样品。适用于Zeiss，FEI和Tescan等扫描电镜，材质为铝材质。【规格详情】样品台直径截面角度夹片数量25mm90°2个产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

产品编号产品名称尺寸（直径×高）DZ1610330°截面内螺纹样品台Φ25 x 10mmDZ1610445°截面内螺纹样品台Φ25 x 10mmDZ1620445°截面内螺纹样品台Φ32×10mmDZ1610990°截面内螺纹样品台Φ25 x 10mmDZ1620990°截面内螺纹样品台 Φ32 x 10mmDZ1621090°截面内螺纹样品台Φ50×10mmDZ1613930°/90°截面内螺纹样品台Φ25 x 10mmDZ1623930°/90°截面内螺纹样品台 Φ32 x 10mmDZ1614945°/90°截面内螺纹样品台Φ25 x 10mmDZ1614645°/90°截面内螺纹样品台Φ50×10mm DZ1618980°/90°截面内螺纹样品台Φ27 x 7mmDZ1619990°/90°截面内螺纹样品台Φ25 x 10mmDZ1619690°/90°截面样品台Φ32×11mmDZ1619790°/90°截面内螺纹样品台Φ50×10mmDZ16103：DZ16104：DZ16109：DZ16209：DZ16139:DZ16149:DZ16199:温馨提示：国产的样品台都是经过轻微抛光处理，表面会有少许加工划痕，但保证不影响正常使用~

TSS Portable 便携式悬浮物、污泥界面、浊度测量仪配件信息货号描述LXV320.99.00002仅TSSPortable便携式浊度、悬浮物和污泥界面监测仪便携仪LXV321.99.00002仅TSS浊度、悬浮物和污泥界面传感器；带有10米长的电缆和插头LZY607充电器：供充电电池使用；含4个转接器（可在西班牙、美国、英国、香港、马来西亚、新加坡、澳大利亚、新西兰和中国使用）LZY606电池座LZY604可充电的镍氢电池，6节LZY605硬质便携仪器箱；带手柄，空箱

自动变光焊接面罩采用高强度材料，有效避免焊接火花、焊接飞溅物对面部的伤害。同时采用特殊光学技术与太阳能技术，自动变光镜片在弧光出现时迅速变暗，可靠地过滤各种焊接弧光，焊接停止时自动恢复光亮。自动变光焊接面罩 G-MASK100F视窗尺寸：92mm x 35mm (3.62 x 1.38&rdquo )镜片盒尺寸：108mm x 50.8mm x 6mm (4.25&rdquo x 2&rdquo x 0.24&rdquo )弧光感应器：1个遮光度：DIN11（固定）电源：太阳能电池，不需充电变光时间：0.0001秒，从亮到暗延迟时间：0.25～0.45秒工作温度：-10℃～55℃ (14℃～131℃)存放温度：-20℃～70℃ (-4℃～158℃)外壳材料：高强度尼龙重量：410g (14.46oz)

比如口红、比如香烟的过滤嘴、烟丝等等管状的样品，横截面颜色可以作为抽检的一个很好的实验方法，一插，一测，颜色就出来了，准确方便。

【产品详情】 此为双90°截面SEM扫描电镜凹槽钉形样品台，样品台直径为25mm，腿长9.5mm，截面部分高度10mm。适用于Zeiss，FEI和TESCAN扫描电镜，同时也适用于飞纳Phenom台式电镜，材质为铝。 截面样品台比较便于观察样品的截面，尤其是半导体芯片、薄膜样品等，可直接将样品粘贴于截面样品台上观察，可免于频繁倾转样品台，防止样品在倾转过程中掉落。【规格详情】样品台直径截面规格25mm90/90°单个装产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

【产品详情】此为45/90°截面SEM扫描电镜凹槽钉形样品台，样品台直径为12.5mm，腿长9.5mm。适用于Zeiss，FEI和TESCAN扫描电镜，同时也适用于飞纳Phenom台式电镜，材质为铝。 截面样品台比较便于观察样品的截面，尤其是半导体芯片、薄膜样品等，可直接将样品粘贴于截面样品台上观察，可免于频繁倾转样品台，防止样品在倾转过程中掉落。【规格详情】样品台直径截面规格12.5mm45/90°单个装

【产品详情】 此为双90°截面SEM扫描电镜圆柱型样品台，样品台直径为25mm，总高度为16mm。适用于JEOL扫描电镜，材质为铝。 截面样品台比较便于观察样品的截面，尤其是半导体芯片、薄膜样品等，可直接将样品粘贴于截面样品台上观察，可免于频繁倾转样品台，防止样品在倾转过程中掉落。【规格详情】样品台直径截面规格25mm90/90°单个装产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

上海楚柏为您提供各种规格的校同心度圆底旋转瓶，产品列表如下：（详细的价格请联系我们的玻璃器皿销售经理）。编号 名称 规格型号 单位V02010301 校同心度圆底旋转瓶 50ml/19 支V02010302 校同心度圆底旋转瓶 50ml/24 支V02010303 校同心度圆底旋转瓶50ml/29　支V02010304 　校同心度圆底旋转瓶 100ml/19 　 支V02010305　　校同心度圆底旋转瓶 100ml/24 　 支V02010306 校同心度圆底旋转瓶 100ml/29　 　支 V02010307 校同心度圆底旋转瓶 　 2000ml/24　 　支 V02010308 校同心度圆底旋转瓶 2000ml/29 　支V02010309　　 　　校同心度圆底旋转瓶 　 3000ml/29　　 　　　支V020103010　　　　　校同心度圆底旋转瓶 　3000ml/34　 　　　　支V020103011　　　　　校同心度圆底旋转瓶　 3000ml/40　 　　　 支　V020103012　　　　　校同心度圆底旋转瓶 5000ml/40 支V020103013 校同心度圆底旋转瓶 5000ml/50　 　　　　支V020103014 校同心度圆底旋转瓶 10L/95　　　　　　　支V020103015 校同心度圆底旋转瓶 20L/120　 　　　　　支V020103016 校同心度圆底旋转瓶 50L/120　　　　　　支Truelab提供的化学玻璃仪器采用优质玻璃原料，由专业技师加工而成。烧器类采用硬质95料或GG-17高硅硼玻璃，抗化学腐蚀防离子污染，耐骤冷骤热性好。量器类刻刻度精密、透明度高。Truelab提供的玻璃仪器种类多，规格全，欢迎新老客户选购。上海地区自车送货上门。上海楚柏实验室设备有限公司为您提供实验室整体解决方案（实验室设计、实验室家具、仪器、耗材、试剂等&hellip &hellip ）

【产品详情】此SEM扫描电镜样品台直径为12.7mm，钉形腿长8mm，总长度18mm，斜截面70°，EBSD专用样品台，适用于ZEISS，FEI，TESCAN扫描电镜，材质为铝材质。【规格详情】样品台直径截面角度12.7mm70°产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

【产品详情】此带夹持样品台可用于夹持固定样品侧面，方便SEM中观察样品截面，也可用来夹持处于脱水处理中的生物组织样品，进行SEM等观察。适用于任何标准的样品台，材质为铝材质。样品台尺寸：长26mm×宽12.6mm×高11mm；腿长8mm；中间夹持凹槽部分约4mm。产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

【产品详情】此钉形样品台为90°截面，单面带一个夹片，样品台直径为12.5mm，单夹片便于固定样品到样品台侧面，来观察样品截面。适用于Zeiss，FEI和Tescan等扫描电镜，材质为铝材质。【规格详情】样品台直径截面角度夹片数量12.5mm90°1个产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

PFA旋转蒸发仪，又叫PFA旋转蒸发器，是实验室广泛应用的一种蒸发仪器。特氟龙旋转蒸发仪弥补了玻璃的不足，它具有耐高温、耐强酸强碱、金属元素空白值低、无析出溶出等特点，弥补了玻璃器皿的不足，且更优秀。满足的实验范围更广..PFA系列顾名思义是由特氟龙材质制成，整个部件均采用耐强酸强碱的PTFE和PFA材质，主要部分有： 1. PFA蒸馏瓶 2. 四氟腔体主要用于腐蚀性物料反应，可做到在减压条件下连续蒸馏易挥发性溶剂。PFA旋蒸蒸发仪利用一台电机带动蒸馏瓶旋转。由于蒸馏器在不断旋转，可免加沸石而不会暴沸。同时，由于不断旋转，液体附于蒸馏器的壁上，形成一层液膜，加大了蒸发的面积，使蒸发速度加快。是有经常用来回收、蒸发有机溶剂。 旋转蒸发仪用途和特点旋转燕发器主要用于医药、化工和生物制药等行业的浓缩、结晶、千燥、分离及溶媒回收。其原理为在真空条件下，恒温加热，使旋转瓶恒速旋转，物料在瓶壁形成大面积薄膜,高效蒸发。溶媒蒸气经高效玻璃冷凝器冷却,回收于收集瓶中，大大提高蒸发效率。特别适用对高温容易分解变性的生物制品的浓缩提纯。瑞尼克的旋转蒸发仪有什么不一样呢？瑞尼克的旋转蒸发仪用的是特氟龙材质，接触样品的部分都是PFA材质，相信了解过PFA材质的客户都知道，耐强酸强碱及有机溶剂和耐高温，本底值低，溶出和析出少，金属离子杂质少，是实验较好选择的一种塑料容器，这个材料透明度高，可以看见溶液的反应情况。

【产品详情】 此38°截面钉形样品台直径为12.7mm，适用于FIB中样品进行短工作距离的分析，适配于FEI DualBeam™ 系统。 通过钉台转换台，也可适用于Hitachi及JEOL系统。 材质为铝材质，包装为10个/包；产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

【产品详情】 此36°截面钉形样品台直径为12.7mm，适用于FIB中样品进行短工作距离的分析，适配于Zeiss CrossBeam 及NVision FIB系统。 通过钉台转换台，也可适用于Hitachi及JEOL系统。 材质为铝材质，包装为10个/包；产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

【产品详情】SEM扫描电镜M4样品台适用于Hitachi 日立扫描电镜，样品台直径为15mm，高度为10mm，45°截面，材质为铝材质。【规格详情】样品台直径截面角度15mm45°产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

PFA旋转蒸发仪，又叫PFA旋转蒸发器，是实验室广泛应用的一种蒸发仪器。特氟龙旋转蒸发仪弥补了玻璃的不足，它具有耐高温、耐强酸强碱、金属元素空白值低、无析出溶出等特点，弥补了玻璃器皿的不足，且更优秀。满足的实验范围更广..PFA系列顾名思义是由特氟龙材质制成，整个部件均采用耐强酸强碱的PTFE和PFA材质，主要部分有： 1. PFA蒸馏瓶 2. 四氟腔体主要用于腐蚀性物料反应，可做到在减压条件下连续蒸馏易挥发性溶剂。PFA旋蒸蒸发仪利用一台电机带动蒸馏瓶旋转。由于蒸馏器在不断旋转，可免加沸石而不会暴沸。同时，由于不断旋转，液体附于蒸馏器的壁上，形成一层液膜，加大了蒸发的面积，使蒸发速度加快。是有经常用来回收、蒸发有机溶剂。 旋转蒸发仪用途和特点旋转燕发器主要用于医药、化工和生物制药等行业的浓缩、结晶、千燥、分离及溶媒回收。其原理为在真空条件下，恒温加热，使旋转瓶恒速旋转，物料在瓶壁形成大面积薄膜,高效蒸发。溶媒蒸气经高效玻璃冷凝器冷却,回收于收集瓶中，大大提高蒸发效率。特别适用对高温容易分解变性的生物制品的浓缩提纯。瑞尼克的旋转蒸发仪有什么不一样呢？瑞尼克的旋转蒸发仪用的是特氟龙材质，接触样品的部分都是PFA材质，相信了解过PFA材质的客户都知道，耐强酸强碱及有机溶剂和耐高温，本底值低，溶出和析出少，金属离子杂质少，是实验较好选择的一种塑料容器，这个材料透明度高，可以看见溶液的反应情况。

铂金板法测量的是液体的表面（或界面)张力的平衡值，铂金环法测试的是液体的表面（或界面)的*大力值。相比较，铂金板法具有如下的优点：　　1.铂金板法可测量液体表面（或界面）张力随时间的变化：铂金板法测量时是一直接触被测液体的，只要液体的表面张力发生变化，测试值就会有变化，如果选用数据处理软件还可观测的表面张力随时间的变化曲线。　　2.可方便地测量中高粘度液体的表面张力：铂金环法测试时需要铂金环向上提升，在此过程中除了表面张力的作用外还有粘力作用。　　3.测试精度高：铂金板不易变形，铂金环太容易变形。环的不规则圆、不平整会影响表面张力的测试精度4.使用方便：铂金板测试值就是表面张力值，不需换算；铂金环测试的是*大力值，需要换算。铂金板清洗方便，不易变形。

产品编号 样品台尺寸 含夹片 DP16143 &phi 12.5mm，90° 截面 1个 DP16355-20 &phi 25mm，45° /90° 截面 2个