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测量光幕

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测量光幕相关的论坛

  • “微型光纤光谱仪在LED光谱测量中的应用以及常见问题分析”研讨会完美谢幕

    2011年11月29日 10:00-11:00,海洋光学在光电新闻网上成功举办了“微型光纤光谱仪在LED光谱测量中的应用以及常见问题分析”在线语音研讨会,近200名观众报名和关注,对此次参加的观众,海洋光学致以最诚挚的感谢。10日前我们将公布参加此次研讨会观众的中奖名单,敬请关注。本次研讨会主要是介绍微型光纤光谱仪在LED照明领域中的应用及测量方法,可以用于LED等光源及其灯具的在线快速光谱测量测试及其品质控制,可以进行光度测量诸如:光通量、照度、光强、亮度;及颜色特征测量诸如:主波长、色度坐标、色纯度、显色指数、色差、色温。希望可以为工业生产及其标准计量规范提供参考与借鉴。视频回放请点击:http://webinar.ofweek.com/activityDetail.action?activity.id=4391010&user.id=212月海洋光学还将以开展分别以太阳能模拟器、拉曼光谱仪、膜厚测量、球\平面光学器件测试系统为主题的在线研讨会,了解最新信息请关注:http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20111202/3683816/

  • 【求助】光谱分析钼元素时跳动

    紧急求助:我的SPECTRO M9的光谱仪最近在分析钼元素的时候有跳动的现象,不知道为什么?例如某元素钼的测量值第一个点为0.65, 第二个点为0.61,第三个点为0.58, 跳动的如此厉害不知道什么原因?请高手回答!对此现象我很头疼.希望能在高人的指点下得到解决.

  • 光谱响应特性的测量

    光谱响应特性的测量:一,光谱响应度 即光电探测器在波长不同的光照射时的响应度。如果探测器对波长为λ的光辐射通量фλ产生的光电流为I,则其光谱响应度为 R(λ)=Iфλ单位为A/W。它与积分响应度R的关系为R=ƒφλ•R(λ)dλ ƒφλdλ[/f

  • 光荧光效率测量

    在硅衬底上生长的薄膜,想测其光荧光效率测量,但用HORIBA积分球说发的光在积分球内反射,被硅衬底吸收,测不到效率,有没有牛人能有办法解决?另外如果能测,衬底的吸收问题如何排除?非常感谢!

  • 【资料】激光测距的测量原理

    1.利用红外线测距或激光测距的原理是什么? 测距原理基本可以归结为测量光往返目标所需要时间,然后通过光速c = 299792458m/s 和大气折射系数 n 计算出距离D。由于直接测量时间比较困难,通常是测定连续波的相位,称为测相式测距仪。当然,也有脉冲式测距仪,典型的是WILD的DI-3000需要注意,测相并不是测量红外或者激光的相位,而是测量调制在红外或者激光上面的信号相位。建筑行业有一种手持式的测距仪,用于房屋测量,其工作原理与此相同。2.被测物体平面必须与光线垂直么? 通常精密测距需要全反射棱镜配合,而房屋量测用的测距仪,直接以光滑的墙面反射测量,主要是因为距离比较近,光反射回来的信号强度够大。与此可以知道,一定要垂直,否则返回信号过于微弱将无法得到精确距离。3.若被测物体平面为漫反射是否可以? 通常也是可以的,实际工程中会采用薄塑料板作为反射面以解决漫反射严重的问题。4.超声波测距精度比较低,现在很少使用。

  • 近红外光谱的测量方式

    [font=宋体][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]是一种吸收光谱,测量方式表现为光与物体的接触方式,其总是为了获得更强、更均匀的吸收光谱。对于不同物理状态的样品,不同的光接触方式会产生较大的影响。建立[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的多元定量和定性校正模型,对光谱数据的灵敏度、稳定性要求很高,因此[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的测量方式非常重要。从光路原理来讲,光谱信息的获得可以采用漫反射、透射、散射、掠射等,不同的光路测量原理,会得到载量不同的物质光谱信息,反映在光谱曲线方面,就是动态范围的不同。下面主要介绍几种不同光路原理的光谱测量方式。[/font][b][b][font=宋体]一、漫反射测量[/font][/b][/b][font=宋体][font=宋体]漫反射是一种典型的光和物质的作用方式,对于固体来说,密度大,分子之间结合紧密,漫反射往往体现为多种颗粒的表面反射;对于液体来说,密度小,分子之间结合松散,漫反射体现为整个液面的表面反射,以及液体内部微小颗粒的散射;而气体的分子之间距离最远,由于近红外光的波长远大于分子直径,因此一般无法使用漫反射,对于气溶胶式的颗粒才有微弱的漫反射现象。漫反射测量往往采用[/font][font=Times New Roman]4[/font][/font][font='Times New Roman']5[/font][font=宋体][font=宋体]°角的方式来设计光源和探测器的相对位置,如图[/font][font=Times New Roman]3-[/font][/font][font='Times New Roman']1[/font][font=宋体]所示,可采用双探测器,单光源的设计,也可采用双光源,单探测器的设计。[/font][align=center][img=,253,184]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251741287689_6544_6418678_3.png!w571x348.jpg[/img][font=宋体] [/font][img=,253,179]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251741353899_6624_6418678_3.png!w673x328.jpg[/img][/align][font=宋体]图[/font][font='Times New Roman']3-1 (a)[/font][font=宋体][font=宋体]双探测器、单光源漫反射示意图[/font] [font=宋体]图[/font][/font][font='Times New Roman']3-1 (b)[/font][font=宋体]双光源,单探测器漫反射示意图[/font][b][b][font=宋体]二、透射测量[/font][/b][/b][img=,290,222,left]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251742040487_1473_6418678_3.png!w290x222.jpg[/img][font=宋体]透射是常见的一种光波穿透方式,主要用于气体和液体测量,也可以用于具备一定透射特性的固体。对气体和液体,仅靠漫反射方式获得的光谱信息量少,通常需要将样品全部穿透来实现光谱信息的获取。而对于一些固体样本,如小麦、大豆等农产品,也可采用短波透射方式获得光谱信息。常见的透射测量方式,如图[/font][font='Times New Roman']3-2[/font][font=宋体]所示。依据不同的光谱谱段,可以选用不同光程的样品池,针对性地采集液体样品光谱。[/font][b][img=,289,218,left]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251744183315_5661_6418678_3.png!w289x218.jpg[/img][b][font=宋体]三、透反射测量[/font][/b][/b][font=宋体][font=宋体]为了实现光源和探测器的整体化设计,实现直接对液体或者固体测量,同时也可以增加液体样品光谱吸收的光程,往往采用透反射测量,相对于一般的透射测量方式,样品的光谱吸收光程增加了一倍,实现透反射测量还需要增加一个镜面反射元件,具体方式,如图[/font][font=Times New Roman]3-[/font][/font][font='Times New Roman']3[/font][font=宋体]所示。[/font]

  • 激光粒度仪的测量下限

    [font=&]激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为[/font][font=&]n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒,在波长为 λ 的激光照射下,散射光强度随散射[/font][font=&]角 θ 变化的空间分布函数,此函数也称为散射谱。[/font][font=&]根据米氏散射理论,大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱;小颗粒的前向散射光弱而后[/font][font=&]向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正[/font][font=&]是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特[/font][font=&]定颗粒,这种散射谱在空间具有稳定分布的特征,因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态[/font][font=&]激光粒度仪。[/font][font=&]根据米氏散射理论,当颗粒粒径小到一定程度(如小于波长 的 1/10 左右)时,光强分布[/font][font=&]变成了两个相近似对称的圆(图 1(1) dλ),此时称为瑞利散射。产生瑞利散射的最大粒[/font][font=&]径就是激光粒度仪的测试下限。激光粒度仪的测试下限还与激光波长有关,激光波长越长测[/font][font=&]试下限越大,波长越短测试下限小。研究表明,具有同时测量前向和后向散射光技术,同时[/font][font=&]具有差分散射谱识别技术的激光粒度仪,在用红光(波长为 635nm)做为光源时的测量极[/font][font=&]限为 20nm,用绿光(波长为 532nm)时的测量极限为 10 nm。[/font]

  • 【分享】激光测距仪测量原理

    【分享】激光测距仪测量原理

    激光测距是光波测距中的一种测距方式,如果光以速度c在空气中传播在A、B两点间往返一次所需时间为t,则A、B两点间距离D可用下列表示。 D=ct/2 式中:D——测站点A、B两点间距离; c——光在大气中传播的速度; t——光往返A、B一次所需的时间。 由上式可知,要测量A、B距离实际上是要测量光传播的时间t,根据测量时间方法的不同,激光测距仪通常可分为脉冲式和相位式两种测量形式。 相位式激光测距仪相位式激光测距仪是用无线电波段的频率,对激光束进行幅度调制并测定调制光往返测线一次所产生的相位延迟,再根据调制光的波长,换算此相位延迟所代表的距离。即用间接方法测定出光经往返测线所需的时间,如图所示。相位式激光测距仪一般应用在精密测距中。由于其精度高,一般为毫米级,为了有效的反射信号,并使测定的目标限制在与仪器精度相称的某一特定点上,对这种测距仪都配置了被称为合作目标的反射镜。若调制光角频率为ω,在待测量距离D上往返一次产生的相位延迟为φ,则对应时间t 可表示为:t=φ/ω将此关系代入(3-6)式距离D可表示为 D=1/2 ct=1/2 c·φ/ω=c/(4πf) (Nπ+Δφ) =c/4f (N+ΔN)=U(N+) 式中:φ——信号往返测线一次产生的总的相位延迟。 ω——调制信号的角频率,ω=2πf。 U——单位长度,数值等于1/4调制波长 N——测线所包含调制半波长个数。 Δφ——信号往返测线一次产生相位延迟不足π部分。 ΔN——测线所包含调制波不足半波长的小数部分。 ΔN=φ/ω 在给定调制和标准大气条件下,频率c/(4πf)是一个常数,此时距离的测量变成了测线所包含半波长个数的测量和不足半波长的小数部分的测量即测N或φ,由于近代精密机械加工技术和无线电测相技术的发展,已使φ的测量达到很高的精度。 为了测得不足π的相角φ,可以通过不同的方法来进行测量,通常应用最多的是延迟测相和数字测相,目前短程激光测距仪均采用数字测相原理来求得φ。 由上所述一般情况下相位式激光测距仪使用连续发射带调制信号的激光束,为了获得测距高精度还需配置合作目标,而目前推出的手持式激光测距仪是脉冲式激光测距仪中又一新型测距仪,它不仅体积小、重量轻,还采用数字测相脉冲展宽细分技术,无需合作目标即可达到毫米级精度,测程已经超过100m,且能快速准确地直接显示距离。是短程精度精密工程测量、房屋建筑面积测量中最新型的长度计量标准器具,宏诚科技的CEM手持式激光测距仪LDM-100就是测量的最佳助手。 手持式激光测距仪使用注意事项 [font=Times New Rom

  • 新型测量颗粒粒度的方式-光阻原理

    新型测量颗粒粒度的方式-光阻原理

    分享一下一种新型测量颗粒粒径的方法,光阻测量原理-LOT这种测量原理同样也是用激光,不同的是他的激光束是在样品池里面做一个圆形扫描的,当激光扫过样品的时候,激光束被样品所阻挡了,所阻挡的时间会被记录下来,鉴于激光的速度是已知的,所以我们可以通过简单的速度乘以时间来计算出激光所跑过的路程。跑过的这段路程就是颗粒的粒径了,大家可以看看下图的原理图。因为是测量颗粒被激光阻挡的时间,利用这种方法的好处就是可以不用输入样品的折射率,可以测量未知样品以及混合样品(如混合物的荧光粉),或者是未知折射率的样品。如果大家有遇到上述这种无法测量的情况,不妨去了解下这种原理的粒度仪http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/04/201504291358_544048_2784824_3.png。

  • 测量黄铜荧光光谱仪比直读光谱仪好在哪里?

    测量黄铜荧光光谱仪比直读光谱仪好在哪里?有销售告诉我,荧光光谱仪在黄铜方面比CCD直读光谱仪要好,说是黄铜有铜和锌两种常量,直读光谱仪测量锌会测量不准,然后铜的值算出来也就不准了,测量黄铜里面的锌真的不准吗?

  • 【分享】微型光纤光谱仪---荧光测量系统

    当前,微型光纤光谱仪非常流行,受到了众多应用领域的青睐。与大型光谱仪相比较,微型光纤光谱仪价格便宜(仅是大型光谱仪的零头);携带方便(只有手掌大小);测量速度快(毫秒级的数据采集,实现在线实时分析);操作方便,性能稳定可靠(无需专人维护)等长处。因此,在满足使用要求的前提下,微型光纤光谱仪是一种最佳的选择。 我司微型光纤光谱仪的主要功能有:吸光度测量;反射率测量;透射率测量;颜色测量;相对辐射和绝对辐射测量。具体应用包括吸光度测量系统(包括气体、液体、固体的吸光度测量);颜色测量系统(纸张、油漆、颜料、布料、动物皮肤、植物、光源等等);膜厚测量系统(感光保护膜、半导体薄膜、金属膜、等离子体镀膜、光学镀膜等);SLM系列光源测量系统(白炽灯、荧光灯、ARC、HRC、以及发光二级管等光源的各种参数测量);SMS光照度/辐照度测量系统(光通量、光强、光照度或光亮度测量);LCS系列LED测量系统(测量LED光源、大型光源的光学、光谱、颜色、纯度等特征信息);氧含量测量系统(连续测量氧饱和度、总含量、含氧和去氧血色素的浓度);[color=#00008B][color=#00FFFF][color=#DC143C][size=4]荧光测量系统(测量皮克级的含有荧光团的物质);[/size][/color][/color][/color]近红外测量系统(糖、酒精、湿度、脂肪等成分的分析);拉曼测量系统(药物、爆炸物、水质、现场材料的分析,制药监控,石化工业过程控制等);LIBS2500光纤光谱仪系统(无损地对气体、液体、固体进行定性和半定量的实时元素分析);PlasCalc等离子监控器系统(监测等离子蚀刻,检查表面清洁处理,分析等离子反应腔控制情况,检测异常污染和排放现象,等离子开发过程的检测和控制,等等);防晒指数测量系统(化妆品、防晒用品、防紫外服、感光乳剂等的SPF值测量);量子效应测量系统(量子效率的测量等)。另外,我司还有闪光光解光谱仪(演示化学动力学原理);各种光源(钨光源、氘光源、氘-钨光源、氙光源、LED系列光源、校准光源等)及各种光纤(普通光纤、中红外光纤、红外光纤、高功率传输光纤、图像传输光纤、医疗光纤等)。 谢谢您的关注!详情请见我司的网站(http://www.psci.cn)或与我联系(电话:0571-88225151-8020,13738178070,Email:zqchen@psci.cn 陈振泉)。

  • 【原创】滤光片测量的定量问题

    本人曾用FT-IR测量滤光片的带宽和透过率发现带宽是可以测定的,但透过率只能侧相对的各位专家,有方法可以定量分析各种滤光片吗?采用FT-IR

  • 如何测量液体拉曼光谱

    问题一:测量液体的拉曼光谱时,如果被测液体的拉曼信号弱,经常碰到下面问题,哪位高手知道如何解决:1.如果用载玻片,玻璃信号会掩盖样品信号。(甚至有时镜头的玻璃信号也会出来)2.液体量多时,当然可以选择大一点的容器,微量时,什么容器会好点?3.如果放在瓶中,如何避免玻璃信号,换成石英容器吗?石英容器会不会有拉曼信号呢?如果选择别的容器,有什么可推荐的呢?问题二:大家在测量DLC薄膜时,拉曼光谱能够表征的信息有哪些?有没有sp3定量问题,还只是能定性?问题三:测量graphene时,到底如果区分层数?

  • Lambda950 如何测量消光谱

    我们使用的是Lambda950,一直都是测定样品的吸光度(A)和透射率(T%),现在想要测量样品的消光谱,请问可以直接测量吗?应该如何测量?选择测量模式上有个Ex1和Ex2的选项是什么意思呀?是用来测量消光谱的吗

  • 【转帖】UV杂散光问题及对测量的影响

    杂散光是光学系统中所有非正常传输光的总称,杂散光对光学系统性能的影响因系统不同而变化。因此,在光学设计中,杂散光成为光学设计工作中的一个重要指标.在UV仪器中,杂散光产生的原因比较复杂,有暗室密封程度引起的漏光和透射镜面残余反射引起的杂散光,反射镜老化发生漫反射后产生的杂散光和光栅老化产生的部分反射光等引起的杂散光还有光栅分光倍频产生的杂散光等等。 对于UV仪器,杂散光对于测量高浓度样品时会产生很大的误差。因为比尔定律是严格按照单色光实现的,杂散光只贡献不需要的光能量,造成吸光度与样品浓度不成比尔定律,因为测量高浓度样品时透过率很低,透过样品的单色光能量很低,而此时杂散光可能相对能量较高,造成此时的吸光度与样品浓度不成比尔定律,引起较大误差。 所以仪器档次不同,杂散光指标不同,可用于测量的吸光度范围就不同。 比如:UVmini-1240 杂散光指标 小于0.05% 可用吸光度范围 -0.3-3.0Abs UV-2450 杂散光指标 小于0.0015% 可用吸光度范围 -4-5Abs UV-3600 杂散光指标 小于0.00008% 可用吸光度范围 -6-6Abs 仪器老化后,引起杂散光升高,造成测量吸光度不准。 杂散光指标对UV是一个很重要的指标。

  • 为了保证光谱的重现性,测量光谱要注意哪些细节?

    [font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]1[/font][font=宋体])[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]为了保证仪器性能稳定,禁止仪器和一些大功率用电设备、变频设备共用电源,应按仪器使用手册的有关规定接入质量合格的电源[/font][/font][font=宋体][font=宋体]:无杂波,电压波动小,零地电压不超过[/font][font=Times New Roman]1.5V[/font][font=宋体]。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]2[/font][font=宋体])按仪器操作手册规定,诊断仪器性能,履行日常的[/font][font=Times New Roman]O[/font][/font][font='Times New Roman']P/PQ[/font][font=宋体]验证确认,保证仪器运行正常,测量样品光谱,建议在恒温恒湿的实验环境下操作,[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]对[/font][/font][font=宋体]每小时[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]温度变化[/font][/font][font=宋体]>[/font][font='Times New Roman']2℃[/font][font=宋体]、相对[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]湿度变化[/font][/font][font=宋体]>[/font][font='Times New Roman']5[font=宋体]%[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]的环境,应配置带抽湿功能的空调[/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]3[/font][font=宋体])遵循同一套测量方案(包括仪器设备、仪器参数设置、[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]背景测量[/font][/font][font=宋体]方法、设施条件及环境温湿度条件),[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]不管是[/font][/font][font=宋体]测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]校正样品、验证样品,还是[/font][/font][font=宋体]将来的[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]待测样品,[/font][/font][font=宋体]测量方案必须[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]保持一致[/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]4[/font][font=宋体])[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]烟草样品的内在化学成分一般会随时间而改变[/font][/font][font=宋体],[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]不宜长时间保存样品[/font][/font][font=宋体],应[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]尽快[/font][/font][font=宋体]测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]样品的光谱[/font][/font][font=宋体]和其参考数据,如果不能即时完成,可在低温[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]([/font]0[/font][font=宋体]℃[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]~[/font]4[/font][font=宋体]℃[/font][font='Times New Roman'][font=宋体])[/font][/font][font=宋体]条件下密封避光保存,但保存时间不应超过两个月。[/font][font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]5[/font][font=宋体])对测量[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]校正样品光谱,[/font][/font][font=宋体]建议每测量一个样品,测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]一次背景光谱[/font][/font][font=宋体],[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]以消除背景或仪器性能漂移对光谱测量精密度带来的不利影响[/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]6[/font][font=宋体])测量低温保存过的样品光谱,应预先进行适当的温度平衡。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]7[/font][font=宋体])[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]建议用低羟基石英底的样品池和旋转器(可使样品池[/font][/font][font='Times New Roman']“[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]纵横移动[/font][/font][font=宋体][font=Times New Roman]+[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]旋转[/font][/font][font='Times New Roman']”[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]的旋转器比仅使样品池旋转的旋转器,可获得最大的采样面积)配合,以保证[/font][/font][font=宋体]测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]到的样品光谱更具代表性和重现性。如果使用两个以上的样品[/font][/font][font=宋体]池测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]样品光谱,[/font][/font][font=宋体]应预先测试,[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]保证各个样品池石英底具有良好的光学一致性[/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]8[/font][font=宋体])[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]在与[/font][/font][font=宋体]测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]效率不发生矛盾的条件下,建议适当增加光谱扫描次数,以保证获得良好信噪比的光谱,一般来说,设[/font][/font][font=宋体]定[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]光谱扫描次数为[/font]128[font=宋体]次已足够[/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体][font=宋体]([/font][font=Times New Roman]9[/font][font=宋体])[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]在[/font][/font][font=宋体]测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]光谱的过程中,装载到样品池中的样品密实程度要保持一致,样品厚度[/font][/font][font=宋体][font=宋体]不低于[/font][font=Times New Roman]10mm[/font][font=宋体]。[/font][/font][font='Times New Roman'][font=宋体]从装载样[/font][/font][font=宋体]品[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]到上机扫描,整个过程应在最短的时间内完成。对吸湿性比较强的[/font][/font][font=宋体]烟草[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]样品[/font][/font][font=宋体]、烟气分析中捕集总粒相物(化学性质稳定性差,易变)的剑桥滤片[/font][font='Times New Roman'][font=宋体],若装载样品时间过长,[/font][/font][font=宋体]会[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]引起样品含水率改变[/font][/font][font=宋体]和化学性质的变化[/font][font='Times New Roman'][font=宋体],[/font][/font][font=宋体]导致[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]光谱的重现性变差。[/font][/font]

  • 【求助】测量细胞散射用什么光谱仪好

    我将做一个用光谱仪来测量细胞的散射光谱实验。现在有一台海洋公司的型号是hr4000cg-uv-nir的光谱仪。不知可不可以用来测量细胞的散射光谱。 对你们的提议,我太感谢了

  • 何为激光粒度仪的测量下限

    激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒,在波长为 λ 的激光照射下,散射光强度随散射角 θ 变化的空间分布函数,此函数也称为散射谱。根据米氏散射理论,大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱;小颗粒的前向散射光弱而后向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特定颗粒,这种散射谱在空间具有稳定分布的特征,因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态激光粒度仪。根据米氏散射理论,当颗粒粒径小到一定程度(如小于波长 的 1/10 左右)时,光强分布变成了两个相近似对称的圆(图 1(1) dλ),此时称为瑞利散射。产生瑞利散射的最大粒径就是激光粒度仪的测试下限。激光粒度仪的测试下限还与激光波长有关,激光波长越长测试下限越大,波长越短测试下限小。研究表明,具有同时测量前向和后向散射光技术,同时具有差分散射谱识别技术的激光粒度仪,在用红光(波长为 635nm)做为光源时的测量极限为 20nm,用绿光(波长为 532nm)时的测量极限为 10 nm。

  • 【转帖】“滤镜”光谱辐射测量仪器在国际比对取得优秀成绩

    “本市明天中午前后紫外线指数为6级,紫外线辐射强度中等,在直射阳光下暴露30分钟以上有可能对皮肤等产生轻微影响,请注意进行适当防护,外出活动时请注意戴上遮阳帽和太阳镜,也可以涂擦一些SPF指数大于15的防晒霜……”2008年北京奥运会期间,来自世界各地的运动员、教练员和观众每天都能接收到这样详细实用的太阳紫外线指数预报。确保我国的太阳紫外线指数真正与国际接轨,提供预报紫外线防护系数的检测方法和手段,这正是国家科技攻关计划课题——“奥运场馆光学照明系统计量关键技术研究”任务之一。紫外线预报与国际接轨“奥运场馆光学照明系统计量关键技术研究”由中国计量科学研究院光学所承担,共分为3个子课题。代彩红是其中“体育场馆太阳紫外线辐射检测技术检测”子课题的负责人。“北京奥运会将在明年8月举行,恰逢北京的炎热季节,太阳的紫外线辐射强度很强。我们的研究任务就是严格依据国际标准对奥运各场馆尤其是露天场馆的太阳紫外线光谱辐射照度进行监测,进行太阳紫外线指数预报。”代彩红告诉记者,我国在2002年由中国气象局颁布了《紫外线指数预报业务服务暂行规定》,将紫外线指数预报分为五级,最弱、弱、中等、强、很强。但是,由于观测仪器和标准尚未统一,实际上目前国内的太阳紫外指数预报工作仍没有与国际接轨,而且各地所用仪器种类繁多,测量方法和量值的一致性很难保证。2004年5月27日,世界卫生组织发表公报,建议更多的成员国采用全球统一的太阳紫外线指数。紫外线指数是衡量紫外线辐射强度的国际标准尺度,从1级至11级,其中1级强度最低,11级为危险级。现在,紫外线指数已在许多国家得到了普及,旅行者不管走到世界哪个国家都能准确掌握当地紫外线辐射强度,关注紫外线辐射强度预报也如同关注天气预报一样成了每天必不可少的事情。奥运会是国际赛事,从场馆建设到后勤服务,都应做到与国际标准接轨,紫外线强度预报也不应例外。由中国计量院为我国气象行业专门研制的太阳紫外标准光谱辐射测量仪器,统一了国内各气象台(站)太阳紫外光谱辐射测量量值和方法,使我国的太阳紫外辐射测量趋于标准化和规范化。代彩红介绍,他们的研究成果在国际计量局组织的国际比对中取得了优秀成绩。“我们研制的光谱辐射测量仪器是我们自主创新的成果,测量水平达到了国际先进水平,而成本只有进口仪器的十分之一。”这套性能稳定可靠的太阳紫外线光谱辐射测量装置及量值溯源体系不仅可以直接服务于运动员、裁判员和来自世界各地的观众,为他们合理选择防晒用品提供科学的技术依据,而且改善了当前我国的太阳紫外线指数发布的地域局限性,填补了我国紫外线辐射测量的空白。给场馆的灯光“打分”“色温”、“显色性”这些光学中的专业术语与奥运会的顺利召开却有着极其重要的关系。马煜负责的“体育场馆照明光源的色温和显色性的测量和评价方法”子课题就是通过测量场馆内灯光的色温和显色性,为奥运场馆灯具的感官舒适性及电视转播图像的颜色质量提供计量数据。不同的光有不同的色温,发白的光色温高,发黄的光色温低。为了让裁判、运动员看清场馆里的情况,几乎所有的体育场馆都模拟白昼照明,采用白光。“场馆内环境不同,照明情况千变万化,采用的灯的种类也非常复杂,如何判断场馆里的照明是否符合真正白昼的要求,从而不影响运动员和裁判的视线判断,这就是我们需要研究的内容。”马煜用几句话概括了准确测量现场色温对奥运比赛的重要性。“显色性则是指灯光还原物品在自然光下颜色的性能。场馆内的灯光显色性不好,会造成视觉辨别混乱,影响电视转播。如果运动员身穿红色运动服,而灯光对红色的显色性不好,通过电视转播,屏幕上的运动服很可能出现发黑的情况。”马煜介绍,虽然以前我国的体育场馆在验收时都要求测试色温和显色性,但由于测试方法不统一、不准确,导致测量结果混乱。研究人员在实验室内测量了实际应用于奥运场馆的1000W观众灯、2000W观众灯、400W泛光灯和1000W应急灯的色温和显色指数,量值溯源到光谱辐射亮度基准,并出具了测试报告,为生产厂家竞标和奥运场馆照明灯具的选择提供了准确的数据保证。同时,他们还根据国家标准,现场测量了北京理工大学和北京中医药大学的体育场馆的色温与显色性,出具了测试报告,给出了是否适合彩色电视转播的建议,为体育场馆的验收提供了有效的技术支持。“通过这个课题,我们找到了一种科学准确的测量方法,相信会对奥运场馆和今后我国体育场馆的建设和验收提供帮助。”马煜满怀信心地说。百变的LED显示屏根据LED显示屏的使用环境,提出亮度、亮度均匀性、色坐标、色度均匀性、对比度、平整度、视角的相应检测方法是“体育场馆用LED显示屏光色参数的测量方法”子课题的研究内容。研究人员通过考察LED显示屏对比度与视觉舒适度的关系,结合实验数据,依据相关标准得到了LED显示屏的推荐指标,从而指导使用者根据不同的环境条件将显示屏调在不同的亮度水平和不同的色温,以提供给观众最好的视觉感受。课题研究成果将为奥运场馆的LED显示屏和照明验收提供准确公正的测量结果,作为场馆验收的依据和国际奥委会验收的依据,为比赛的顺利进行提供技术支撑。

  • 【分享】闪光法测量比热原理及有关讨论

    闪光法测量比热原理及有关讨论 当已知比热的参考样品接受了脉冲能量Q会有下面的关系式Q=CR.MR.△TR     (1)式中  CR为参考样品的比热MR为参考样品的质量△TR参考样品接受脉冲能量以后,产生的温度升高如果未知比热 的样品到相同的脉冲能量Q同样会有下面的关系式Q=C.M. △T    (2)C:为未知比热样品的比热M:为未知比热样品的质量      ΔT:未知样品接受到脉冲能量以后,产生的温度升高根据(1)和(2),可以得到C=CR.MR.△TR /M.△T (3)当参考样品与待测样品都是相同直径的圆形样品,厚度分别为lR和L时,(3)式,可以转化为:C=CR.ρRLR.△TR (4)P.L.△T式中ρR 、ρ  分别是参考样品与待测样品时的密度。从上面的关系式(4)中可清楚看到闪光法测量比热是相同比较方法,影响到测量结果准确性的因素主要是:1、参考样品与待测样品的所接受的脉冲能量是否相近,不一致性是否在可接受的范围。2、参考样品与待测样品的温升测量的准确性。关于第1点,就是脉冲能量的重复性。照射在参考样品与待测样品的脉冲能量的任何不同都会直接对比热的测量结果带来误差,其大小是成正比的脉冲激光输出能量在相隔一段时间后,有显著的差别。这对于热扩散率的测量,没有意义的影响,但对比热的测量有很大的影响。脉冲激光能量由大量的独立的及互相依存的因素决定。①激光器电容存储能量存储在电容器组上,释放在闪光灯的能量大小主要取决于电容器充电时的电势。一旦充电完毕在触发之前会有一定的能量泄露。这个泄露的速率随一些非控制的条件,如空气的相对湿度等变化而变化因此在某一天内,释放到闪光灯的能量会与第二天的不同,尽管保持充电的水平不变。②闪光灯的效率 一旦触发,氙灯管把一部分的能量转化为光,其它的部分变为热、声、振动等的能量:在这些不同能量之间的比例随不同的触发而不同,特别是当快速重复的氙灯的温度、湿度、剩余电离等都是影响这个过程中的因素。除了占全部能量的百分之比发生变化,触发时的速度也会随这些环境因素而变化,这些变化使得在同一实验中的不同脉冲发射逐渐变化,从某一天到另一天有更大的变化。③激光能量闪光灯管的释放能量导致轴向放置的激光棒首先吸收光能,然后以同时的单色脉冲形式再次发射。确实会有一个部分的转化为热这个过程很大程度上与温度相关。当重复发射脉冲能量时,激光棒温度升高,脉宽及总能量都会发生变化。④介质的反射当需要非室温条件的测量时,通常需要把样品与其他环境隔离开来。置于样品与激光器之间的窗口会吸收一定的激光能量,也会有一定能量的反射。即使对于涂层玻璃(用来减少反射)在高温下有严重的问题。对于某一个表面,除了自身对能量的衰减外,损失10%_15%能量是寻常的。如果使用反射镜及光学部件,会进一步使能量损失的问题复杂化。这些性质也是对温度与时间敏感的。从上所述,只有当在很短的时间内,即几分钟内,而几分钟内激光器的使用环境因素完全相同的条件下,对在同一温度下的参考样品和待测样品施加激光脉冲作用,其能量才能保持高的重复性。如果参考样品与待测样品中所接受的激光脉冲间隔经过几个小时,或者几天甚至1个月,也即为单样品激光测量系统的情况,其参考样品与待测样品所接受的脉冲能量的差别直接对比热的测量产生极大的误差的。二、关于样品的温升测量    对于量热测量,必须要确切了解温升的绝对量,任何在这点上的误差将直接按比例带入到比热的计算中,对于热扩散率测量的温升探测器,由于响应速度快而被选用,通常是以准差分的方式工作。对于热扩散率的测量,知道样品后表面的温升的绝对量值并不重要,只需要知道随时间的变化关系即可。有研究人员曾努力对温升传感器进行定标,但在一段时间里保持定标的有效性是非常困难的。激光导热后所用的温升红外探测器、比较典型的是ZnSb、锑化铟。它的测出信号是电压,与样品的辐射能量成正比,即 V∝L(λ,t)式中 V为探测器的电压信号L(λ,t)为在给定温度T及波长λ的辐射能量,可由普朗克公式给出L(λ,t)=C1 1 λ5   exp (C2/λT)-1 式中C1 =2πhc2=3.74412×108W.μm4.m-2 C2=hc/k=1.439×104×μm.k h=普朗克常数             k=玻耳兹曼常数             c=真空中的光速从上式中可看到探测器信号输出与样品的温度不是完全的线性关系,只有当温升信号为2―3℃以内,探测器信号与温升的量值近似成线性关系,这是热扩散率、比热测量所要求的。因为当光学温度计最好的分辩率为0.1℃,所有在2―3℃的范围内确定绝对的温升量值是只有很大误差的。以上的内容是说明闪光法比热测量在使用红外探测器的条件可行途径是进行参考样品与待测样品温升的比较,而不是各自的绝对温升的测量。当参考样品与待测样品在同样的热环境下,也即具有同样的稳态温度的辐射背景下,受到脉冲能量照射引起的样品后表面辐射强度变化,经过处于相同的条件下的光学窗口、光学镜头、滤光系统(如需要)为探测器接受,再经过相同条件下的电子信号处理系统(相同的放大信数条件、相同的电源条件等)得到最后的用于计算比热的数值。而对于单样品的测量系统,以上各种环境因素因参考样品的定标与待测样品的测量间隔几天甚至更长的时间,都会发生变化,而对比热的测量带来较大的误差。三、脉冲能量作用后的样品热损的影响量热测量应该满足绝热的过程。虚假的热量增加或损失必须减少或消除。在闪光法的测量过程中,样品的温度高于环境的温度,因此在平衡过程 中通过辐射/传导丢失所存储的热量。尽管热扩散率测量是一个很快的过程,有人会认为在这样短的过程中很少,因而可以忽略,事实并非如此。如果真的如此,在热扩散的测量过程中,横向热流和样品的热损就没必要进行修正了,而对于测量的数据的修正,已广为接受并被要求的。另外当后表面的温升达到最大值时,前表面的温度会因辐射热损而也有可能低于后表面的温度。当设想两个不同的样品在两个不同的炉子(单样品的情况下)只有相同的热损情况时,必须要认真对热损与温度的依赖关系进行考察。显然,这种情形在多样品的系统中即参考样品与待测样品中并靠在一起处于同样的热环境得到巨大的改进。本文讨论的仅是在闪光法比热测量中必须克服几个显而易见的几个困难。结论:从前的讨论中,可以看出使用单样品激光导热仪测量比热充满着问题,会得到严重错误的比热结果。多样品系统即参考样品与待测样品并靠在一起即时切换显著地减少了这些问题的严重性,其所得到的比热测量精度与其它量热广泛(如DSC,下落量热计等)处于同样的范围,适用于高温下的操作。这是在热物性测量领域的巨大的进展,FL5000系统是在国际上为第一个予以实现。鉴于以上进行的讨论,美国安特公司仅为FLASHLINE系列产品激光导热仪多样品测量系统提供比热测量功能,因为单样品系统同其他厂商的样品系统一样存在不可接受的比热测量误差。

  • 测量包裹在玻璃中晶体的拉曼光谱

    测量包裹在玻璃中的晶体是一定要用有暗场的显微共焦拉曼光谱仪吗?我查到的资料是暗场用来观察样品,当测量拉曼光谱是还是要用普通的objectives。因为经费有限,有没有可能只用明场显微镜找到样品?谢谢大家的建议

  • 近红外光谱能测量气体吗?

    [font=宋体][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]可以测量气体,其优势是可以测量混合气体成分,通常为了提高气体测试的准确度,会设计较长距离的气体通路,增加气体的光谱吸收,进而提高检测精度。尤其是在挥发性混合气体测试方面极有优势,因为普通的气体传感器存在交叉响应问题,而[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]分析的优点就在于可以通过一次测量,利用数学建模来将多种不同光谱吸收形态的气体同时检测出来。[/font]

  • 【讨论】分光光度计与直读光谱仪测量元素的区别

    一般的产品样本或有关书上都是说,分光光度计几乎可以测量周期表上的所以元素,真是这样的嘛?不能测什么元素?在什么情况下不能用直读光谱仪,而只能用分光光度计?我知道,测量的物质分光光度计为液体,直读光谱仪为固体。一般情况下,大中型的实验室,两种仪器都配备的。

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