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为什么使用可见光谱仪测量大角度倾斜入射光的反射率时,得到的测量结果会不准确呢?我知道S,P分量的反射率随着角度不同会有变化,但光谱仪应该是两个分量都检测,偏振对测量的影响具体是在哪里呢?加上偏振片,为什么能使得测量结果得到准确的修正呢?
我们有一台日立的超级SEM (Model S-5200)配了两个背散射电子探头, 一个是普通的背散探头, 另一个是YAG背散探头.从说明书上看YAG探头接收的背散电子出射角很小, 而普通的背散探头接收的背散电子出射方向与样品水平面的夹角要小. 我要问的问题是为什么不同角度的背散电子成像咋这么大. 另一个问题是, JSM6700F SEM 它配了两个二次电子探头, 一个是Inlens探头, 另一个是叫LOW Detector低角度二次电子探头(LEI), 它不在光路内,即outlens类型的, 但它和其他场发射电镜的out-lens 二次电子探头成的象也有很大差别, 这是什么原因呢?请各位大侠百忙之中抽点空释释疑. 谢谢.
光泽作为物体的表面特性,取决于表面对光的镜面反射能力,所谓镜面反射是指反射角与入射角相等的反射现象。若物体表面为光学平滑面,即表面凹陷间隙小于1/16入射波长,当入射光为平行光束时,则镜面反射光也为平行光束,且完全不受物体本身颜色的影响,入射光为白光,镜面反射光仍为白光。在理论上,光泽被定义为物体表面镜面反射能力与完全镜面反射能力的接近程度。对于镜面,入射光几乎全部沿镜面方向反射,对于“无光泽”表面,入射光在任何角度反射都一样,出现所谓漫反射现象。大多数印刷品既非完全镜面,也非完全无光泽表面,而是介于两者之间。 测量材料表面光泽需要使用到光泽度计,光泽度计是测量物体表面对光的反射率,即镜面光泽。测量时所选入射角角度不同,结果也不同。入射角越大,镜面反射率越大,光泽度越高;反之亦然。由此可见,光泽高低不仅取决于物体的表面特性,而且取决于测量角度。 至于采取何种角度测量为宜,日前还没有通用标准。一般对高光泽表面采取小角度,如20度角,对于低光泽表面则采取较大角度如75度角等进行测量。而通用型的光泽度计为60度角。目前大角度光泽度计不适合测量高光泽材料,主要受制于仪器量程不够,但林上LS192光泽度计虽是一款便携式的通用型60度角的光泽度计,但其量程可达0-1000GU,所以LS192光泽度计即可测试低光泽材料又可以测量高光泽的材料。