四探针电阻仪

四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时，出现一个现象，随着探头压力的增加，电阻率发生相应的变化，应该是压力越大，电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定，不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

请问大家有没有给扫描探针做过地线，其对地线电阻要求高不高，需要达到多少欧姆以下？谢谢！

简介：　　本仪器符合SATRA—TM240、EN-344、GB/T 4386、ANSIZ41标准，用于测试成品鞋或者鞋材的电阻，以了解试样对静电的分散效果。　　档位：100V/50V/500V可选;　　量程：1×103～2×1010欧姆　　原理：　　在干燥的环境中调节后测量导电鞋的电阻　　在干燥的环境中调节后测量防静电鞋的电阻　　装置：　　测试仪器(XK-3062防静电测试仪)　　当施加(100±2)V直流电压时，能测量电阻到±2.5%的精度　　内电极：由总质量4kg、直径5mm的不锈钢珠组成。钢珠应符合GB/T308要求。应采取措施防止或除去钢珠和铜板的氧化，因为氧化可能影响它们的导电性。　　外电极：由一块铜接触板组成，使用前用已乙醇清洗　　测量导电涂层电阻的装置　　由三个导电金属探针组成，探针半径为(3±0.2)mm，安装在一块底板上。两个探针相距(45±2)mm并由一根金属带连接。第三个探针与另两个探针连线的中点相距(180±5)mm且与它们绝缘　　试样调节的制备　　制备　　如果鞋装有活动垫，测试时应保留。用乙醇清洗鞋底表面以除去所有脱模剂的痕迹，用蒸馏水冲洗并在(23±2)℃环境中干燥。鞋底表面不应摩擦或磨损，也不应使用对鞋底有伤害或使鞋底膨胀的有机材料清洗　　湿调节的特殊制备　　在鞋底上涂一层面积为200mm×50mm的导电涂层，涂层面包括后跟和鞋前掌。干燥后测量涂层的电阻值小于1×103欧　　将鞋内装满干净钢珠并放在XK-3062防静电测试仪的金属探针上，使外底前掌区域由两个相距45mm的探针支撑，后跟区域由第三个探针支撑，用测试仪器测量前段探针和第三个探针之间的电阻值　　调节　　根据被测试鞋的功能，按下列条件之一对制备好的试样进行调节　　干燥条件，(20±2)℃、相对湿度(30+5)%。(放置7d)　　潮湿条件，(20±2)℃、相对湿度(85+5)%。(放置7d)　　如要测试不能在调节的环境中进行，则应在试样移出环境后5min内完成测试　　步骤　　用总质量4kg的干净钢珠装满试样，如有必要，可用一块绝缘材料增加鞋帮高度。将装满钢珠的样品放在铜板上，在铜板和钢珠之间施加(100±2)V直流测试电压，时间1min并计算电阻值　　鞋底的能量不应超过3W。如果考虑3W的限制而降低电压，则应在测试报告上记录实际电压值

接地电阻测试仪广泛的使用于电力、邮电、铁路、石油、化工、通信、矿山等部门测量各种装置的接地电阻以及测量低电阻的导体阻值。在使用过程中偶尔会出现一些小问题。　　接地电阻测试仪注意事项如下几点：　　1、使用接地电阻测试仪的时候注意电流极插入土壤的位置，应使接地棒处于零电位的状态。　　2、测试宜选择土壤电阻率大的时候进行，如初冬或夏季干燥季节时进行。下雨之后和土壤吸收水分太多的时候，以及气候、温度、压力等急剧变化时不能测量。　　3.接地电阻测试仪的一些开关元件不能单独跨接在有源电路中作差模保护，为避免电源短路，必须串接限压元件。　　4.用作差模保护的直流高压发生器件，其限制电压必须小于被保护设备所能承受的最高安全电压。　　5、被测地极附近不能有杂散电流和已极化的土壤。　　6、接地线路要与被保护设备断开，以保证测量结果的准确性。　　7、探测针应该远离地下水管、电缆、铁路等较大金属体，其中电流极应远离10m以上，电压极应远离50m以上，如上述金属体与接地网没有连接时，可缩短距离1/2~1/3。　　8.流过直流高压发生器件的浪涌电流必须小于其脉冲峰值电流。压敏电阻应按其降额特性选择。　　9、当接地电阻测试仪的检流计灵敏度过高时，可将电位探针电压极插入土壤中浅一些，当检流计灵敏度不够时，可沿探针注水使其湿润。　　10、连接线应使用绝缘良好的导线，以免接地电阻测试仪有漏电现象。相关资料来源于：http://www.chem17.com/st176094/Article_140284.htmlhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

日本东芝公司（Toshiba Corp.）于4月16日宣布，他们在电子载体通道以及半导体中的杂质成像方面取得了重大突破，这使得在1纳米尺度上的分析技术首次变得可能。这一基于扫描电阻显微镜（SSRM）的技术是实现下一代45纳米级别大规模集成芯片（LSI）等的关键性一步。　　东芝公司将在国际可靠性物理年会（IRPS）上宣布他们的这一发现，这是目前正在美国Arizona凤凰城举行的国际半导体可靠性的大型会议。东芝计划在会议最后一天，当地时间4月19日发表这一突破性成果。　　扫描电子显微镜是一种用来分析半导体表面的局域性二维电阻的理想方法，它能用于分析电子载体以及杂质。目前对于45纳米级别LSI的需求使得了解载体通道内的电子载体密度非常重要，而且需要能达到1纳米级别的精度，这是由于电特性方面的微小改变都会导致泄露和短路。　　SSRM用一个扫描探针对半导体器件的载体进行二维成像。这些图像反映了导致电阻变化的杂质，并使得对电流路径分析变得可能。但是通过传统探针的高分辨SSRM精度只能维持在5纳米左右。　　问题来源于两个方面：样品的水蒸气将影响成像精度，而且维持样品和探针间的稳定也很困难。为了克服以上问题，东芝将SSRM置于真空中，并精确定位了探针位置。这使得东芝公司达到了目前最高的分析精度：1纳米，这将用于45纳米LSI制造。教育部科技发展中心

请问那个学校有四探针测试仪？最好是京津塘这边的，离的比较近，急需试验用！

想对薄膜的电阻率进行检测，四探针测试仪也可。如果能检测其他的性能包括Hall mobility当然更好。国外哪几个厂家比较好？谢谢！

提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作常见的探针类型：（1）、导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定（2）、压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）（3）、氮化硅探针：接触式 （分为普通的和锐化的）（4）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

AFM探针分类及各探针优缺点 　　AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。 　　利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。 　　原子力显微镜的探针主要有以下几种： 　　（1）、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。 　　（2）、 导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。 　　（3）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。 　　（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度 9μm；长径比5:1；针尖半径 10 nm。 　　（5）、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 　　还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针

自己去做实验的时候，发现大部分实验室的电子探针都是配的四道波谱，有些则配了五道，请教一下，电子探针四道波谱和五道波谱的工作效率差别有多大？四道是不是应付一般的实验就够了？谢谢！

本单位欲购买双电测四探针测试仪器和霍尔效应仪器，做科研用。谁能提供一些厂家和型号?谢谢。

最近做完一组生物力学数据，因为用了好几根针测的，还有不同牌子的，现在各个数据间要对比，因此需要探针的具体力常数，而不是上面标好的，我用的本原spm5500，这个机器貌似不带这功能，谁家可以测，求帮助

[size=4]本人是学地化的，因为要送样分析，所以提前询问电子探针的一些信息，希望各位大虾给予帮助：国内有哪些大学和研究所有电子探针阿，哪种型号较好呢？每种探针其样品的尺寸具体应该多大呢，最大尺寸是多少呢？尺寸符号Φ什么意思呢？希望大家提供信息谢谢！[/size][em0810]

原子荧光炉头附近没有温度探头，这样当使用者在软件中设置炉头原子化温度为200度的时候，仪器可以调节的只有电流。我查看了电路板，认为可能的情况是仪器电路由可控硅调节电流流量，通过控制电流来控制电阻丝的发热，这样的话电阻丝的电阻应该是恒定的，一批电阻丝的电阻应该在一个范围之内。我希望网友可以提供一下电阻丝的电阻值。我购买了一批电阻丝，但是由于实验室装修搬家，我得万能表不知道搬到什么地方去了，希望各位能够帮忙，我写文章用。

[size=4][b]摘要：[/b]本文综述了各种荧光探针的结构特征荧光性质和与的作用方式, 主要涉及了6类化合物吖啶和菲啶类、菁类染料、荧光素和罗丹明类、噻嗪和恶嗪类染料、BOLIPY类染料以及其它类别的探针, 概述了DNA探针在生物分子分析方面的应用, 并展望了DNA荧光探针的发展趋势和应用前。[/size]

在紫外-可见-近红外区有特征荧光，并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质，如极性、折射率、黏度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子，包括有机试剂或金属螯合物。 　 最常用于荧光免疫法中标记抗原或抗体，亦可用于微环境，如表面活性剂胶束、双分子膜、蛋白质活性点位等处微观特性的探测。通常要求探针的摩尔吸光系数大，荧光量子产率高；荧光发射波长处于长波且有较大的斯托克斯位移；用于免疫分析时，与抗原或抗体的结合不应影响它们的活性。 　也可用于标记待定的核苷酸片断，用与特异性地、定量地检测核酸的量。如Ca2+荧光探针：钙黄绿素（Calcein）,Fluo-3,Fura-2/AM Mg2+荧光探针：Mag-Fura-2,[Dy-Mn]聚合物

探针压过细胞等生物样品以后，针尖总是会沾上一些脏东西，导致用于别处时会影响成像。在测定力曲线的时候也明显发现被污染的针尖带有粘性。在网上看到一篇讨论How can we wash functionalized AFM tip after coated it with chemical substance?，里面也给出了一些方法。比如Piranha solution。有几个问题想请教：请问关于Piranha solution，有使用过这种方法的朋友吗？效果如何？如何判断探针已经被洗干净了呢？如果是表面被修饰了某些化学物质的探针，该如何清洗使得能把污染物洗干净并且不破坏那些化学物质呢？各位通常都是用什么方法清洗探针的呢？非常感谢！

请问各位行家，能谱仪探针在真空室里，而液氮罐在外面，那么液氮是怎么保护能谱仪探针的呢？

TMA的探针平台是石英的吗？刚在论坛里看到这个帖子 http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20111008/3573189/index.shtml，想到这个问题。TMA平台探针污染后会用酒精灯灼烧清洁，被加热部分很容易就被烧发红了

本公司需做黄金检测的无损检测 需要 电子探针分析仪 请问那个牌子的比较好 ？？ 大概是什么价位？？

erythrosin B （赤藓红或四碘荧光素） 是一种荧光素，请问他能否可以做乙酰胆碱酯酶的催化部位结合从而做他的的荧光探针？望专家们帮我指点！谢谢

[color=black][size=3][font=宋体]原子力显微镜的探针主要有以下几种：[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]1[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]非接触[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]/[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用于表面形貌观察。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]2[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]导电探针：通过对普通探针镀[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]10-50[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]纳米厚的[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Pt[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（以及别的提高镀层结合力的金属，如[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Cr[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Ti[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Pt[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Ir[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等）得到。导电探针应用于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]EFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]KFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]SCM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等。导电探针分辨率比[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]tapping[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]contact[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]3[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、磁性探针：应用于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]MFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，通过在普通[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]tapping[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]contact[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]模式的探针上镀[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Co[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Fe[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]4[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]9μm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]；长径比[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]5:1[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]；针尖半径[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]10nm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]5[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、类金刚石[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]AFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]探针[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]/[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color]

lcq ad的esi探针无法形成喷雾？但是仪器自检，都是pass，流动相沿探针滴下，是什么原因？仪器上氮气的实际值和设定值基本一致，但是好像有点漏气的声音氮气通道是指哪个管路呢？刚接手这台仪器还是菜鸟级的

1、标准编号：GB/T 15074-2008 标准名称：电子探针定量分析方法通则简介： 本标准规定了电子探针定量分析过程中仪器的安装要求、工作条件、标样选择、基本操作过程、各种校正处理方法及结果报告内容。 本标准适用于具有波谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。2、标准编号：GB/T 15244-2002 标准名称：玻璃的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。本标准适用于玻璃试样（包括含碱金属玻璃）的定量分析。3、标准编号：GB/T 15245-2002标准名称：稀土氧化物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。4、标准编号：GB/T 15246-2002标准名称：硫化物矿物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用电子探针进行硫化物定量分析的标准方法。本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物的电子探针定量分析。本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析；其主要内容和基本原则也适用于以X射线能谱仪进行的定量分析。5、标准编号：GB/T 15616-2008标准名称：金属及合金的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了用电子探针对金属及合金的化学成分进行定量分析的方法。本标准适用于金属和合金试样立方微米尺度的微区成分分析，分析素的范围是11Na~92U。本标准也适用于用配置了波谱仪的扫描电子显微镜对金属及合金做定量分析。6、标准编号：GB/T 15617-2002 标准名称：硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。本标准也适用于其他含氧盐、如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。7、标准编号：GB/T 17360-2008 标准名称：钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法简介： 本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Ｓｉ、Ｍｎ的电子探针定量分析方法，即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。8、标准编号：GB/T 17362-2008标准名称：黄金制品的电子探针定量测定方法简介： 本标准规定了用电子探针波谱仪进行黄金制品定量分析的技术方法和规范。本标准适用于各种Ｋ金制品含金量的测定，也适用于表面含金层厚度大于３μm的镀金制品的包金制品的表层含金量的测定。9、标准编号：GB/T 17365-1998标准名称：金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法10、标准编号：JJF 1029-1991标准名称：电子探针定量分析用标准物质研制规范11、标准编号：SY/T 6027-1994 标准名称：含氧矿物电子探针定量分析方法12、标准编号：GB/T 16594-2008标准名称：微米级长度的扫描电镜测量方法简介： 本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法，适用于测量0.5～10μm的长度，也适用于电子探针分析仪测量微米级长度。13、标准编号：GB/T 17359-1998标准名称：电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则简介： 本标准规定了与电子探针和扫描电镜联用的Ｘ射线能谱仪的定量分析方法的技术要求和规范。 本标准适用于电子探针和扫描电镜Ｘ射线能谱仪对块状试样的定量分析。14、标准编号：GB/T 17722-1999标准名称：金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法简介： 本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。15、标准编号：JB/T 7503-1994标准名称：金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法简介： 本标准参照采用ISO 9220-1988(E)。 本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。 本标准适用于测量横截面中微米级到毫米级的金属覆盖层厚度。

我现在用AFM测量一种薄膜的力学性质，由于目前所用的探针都比较尖，所以薄膜特别容易破，请教各位高手，有没有知道那里有卖不太尖的探针，比如说曲率半径是200~400nm的探针。多谢了！

我是新手，做过钨灯丝shu-150，jsm6700，但是一直不知道能谱的点扫是不是就是电子探针？问了很多做sem-eds的老师，他们也说不清楚什么是电子探针？电子探针就是能谱的点扫？还是电子探针是波谱的点分析（做标样的精确点分析）？还是都不是？求助大神解释。谢谢

各位，ICP-AES的自动进样器，S10的型号，自动进样器的探针怎么选呢？一般在哪买？我们的坏了http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09509.gif

有没有哪位大神，总结过关于探针磨损的注意事项以及损坏掉的探针的特征之类的问题，求分享一下。最近试验总是出现测出的图像很奇怪的现象，拉长，斜向拉长，或者图形轮廓不明显，以及波形不匹配等等问题，求教哪些是参数引起的，那些可能是探针已经损坏了。