LJD低频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、LJD型介电常数测试主机、组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。 一 本设备适用标准1 GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法2 GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法3 ASTM-D150-介电常数测试方法4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法二 介电常数/介质损耗测试主机:1 LJD参数测量功能LCR测试参数| Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ测试频率50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz, 40kHz, 50kHz,100kHz, 共10点基本测量准确度 0.05% (LJD系列) 等效电路串联, 并联数学功能绝对值偏差, 百分比偏差量程方式自动, 保持, 手动选择触发方式内部, 手动, 外部, 总线测量速度(≥1kHz)快速: 蕞快40次/秒, 中速: 11次/秒, 慢速: 3次/秒平均次数1—255延时时间0—60s, 以1ms步进校准功能开路/ 短路/ 负载测试端配置五端显示方式直读,Δ,Δ%,V/I(被测电压/电流监视)显示器5位分辨率,4.3英寸LCD显示器测试信号测试信号频率50 Hz-100 kHz输出阻抗30 Ω, 100Ω可选择测试信号电平正常:0.1V、0.3V、1V准确度:10%偏置源内部±2V偏压源,准确度:1%外部可扩展±5VDC偏压源显示范围|Z|, R, X0.01mΩ — 99.999 MΩ|Y|, G, B0.0001µS — 99.999 SC0.0001 pF — 9.9999 FL0.0001 µH — 999.99 HD0.0001 — 9.9999Q0.0001 — 99999θ (DEG)-179.99º — 179.99 ºθ (RAD)-3.14159 — 3.14159其他比较器功能4档分选功能存储器100组内部仪器设定供存储/调用,外部500组接口标配RS232C、HANDLER、USB HOST 2 LJD参数 测量功能测试频率50 Hz-1MHz,10mHz分辨率测试参数|Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ,DCR基本测量准确度0.05%等效电路 串联, 并联数学功能绝对值偏差, 百分比偏差量程方式自动, 保持, 手动选择触发方式内部, 手动, 外部, 总线测量速度(≥1kHz)快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒 平均次数1—255延时时间0—60s, 以1ms步进校准功能开路/ 短路/ 负载测试端配置五端列表扫描10点列表扫描功能显示方式直读,Δ,Δ%,V/I(被测电压/电流监视)显示器 800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD显示器测试信号输出阻抗30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可选择测试信号电平正常: 5mV-2V, 1mV步进恒电平:10mV-1V, 1mV步进偏置源内部0V, 1.5V, 2V选配UC6802A:±10V(±100mA)直流偏置电流UC6802B:0-1A直流偏置电流显示范围|Z|, R, X0.01mΩ —99.9999 MΩDCR0.01 mΩ —99.9999 MΩ|Y|, G, B0.00001µS —99.9999 SC0.00001 pF —9.9999 FL0.00001 µH —9999.99 HD0.00001 —9.9999Q0.00001 —9999.9θ(DEG)-179.999º —179.999 ºθ(RAD)-3.14159 —3.14159其他比较器功能十档:(九档合格,一档不合格),另有一个附属档AUX存储器10组内部仪器设定供存储/调用接口标配RS232C、HANDLER、USB HOST,耳机接口 三 S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一) 液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配) 四 LJD低频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
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