全自动测厚仪

通过连续监控涂层工艺，不仅可以优化涂层品质，而且可以节省材料，从而大大降低生产成本。因此，在喷涂工艺中测量湿漆涂层厚度是许多用户的愿望。然而，传统方法只有在工艺结束和参数不可再修正时才能完成测量。传统磁感应或涡流涂层厚度测量方法仅在干燥或烘干后的涂层上进行。即使是砂光图案也只能通过干漆膜产生-以及必须是非常好的切割工艺。涂魔师在线全自动涂层测厚仪可以快速实现对珐琅涂层检测，即时测出珐琅涂层厚度，其采用的是光热法(ATO原理），测量原理如下：涂魔师在线全自动涂层测厚仪通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。 涂魔师在线全自动涂层测厚仪技术优势?适用于各种涂层类型，如液体油漆、粘胶剂、粉末涂料、润滑油、胶水等?实时在线全自动监测涂层厚度，100%数据存档，帮助工作人员及时调整工艺参数?适用于任何外形复杂的工件(如曲面、内壁、边角、立体等）?在生产前期非接触无损测量未固化涂层厚度，即时得出涂层干膜厚度客户案例---涂魔师在线非接触测量伊莱克斯烘箱珐琅（搪瓷）涂层膜厚知名厂商伊莱克斯使用涂魔师进行烘箱的在线膜厚测量，他们对涂魔师测厚方案十分满意，能帮助他们降低生产成本和减少返工率。该企业使用涂魔师在线全自动涂层测厚仪代替过往繁杂的人工膜厚测量，对烘箱及烤盘等工件的进行非接触精准定量搪瓷粉末涂层厚度测量。伊莱克斯（Electrolux）为何需要精准测量搪瓷粉末涂层膜厚搪瓷涂层对于烘箱和烤盘的外观和防粘效果是至关重要；若搪瓷涂层过薄，会造成返工工序或客户索赔；若搪瓷涂层过厚，会导致原材料消耗量过大，从而生产成本过高；环境条件的微小变化，会突然发生工艺偏差(如湿度，气压，温度，… )缺乏连续涂层厚度的记录存档，增加了质量的不安全性和不稳定性；由于之前的测厚方法存在滞后性、没有实现100%膜厚全检， 从而造成材料的浪费和零件的报废， 每年总共损失约 4 万欧元！ 涂魔师在线全自动涂层测厚仪可以实时在线非接触无损精准测量珐琅涂层厚度，实时监控膜厚真实情况，及时对涂装设备进行参数调整；在产线上实现实时、快速、操作简易、非接触、无损的涂层厚度检测。翁开尔是涂魔师中国总代理，欢迎致电咨询更多关于涂魔师在线全自动涂层测厚仪产品信息和客户案例。

LensThick ATW/ATS 系列全自动光学测厚仪 设备原理设备基于低相干干涉原理，采用非接触式光学测量，并配备高精度移动平台和视觉校正系统，自动测量产品的厚度及空气间隔。 主要功能非接触式测量透镜厚度非接触式测量微小镜头空气间隔自动上料—自动定位—自动测量—自动下料UPH，单穴测量时间不大于4秒测量精度高达±0.1 μm 设备特点LensThick ATW配备晶圆测试模组，LensThick ATS配备单镜片测试模组；配备非接触式光学测厚仪，测量精度高，速度快，且不会对样品造成损伤；采用大理石组合结构，稳定性高XY平台采用直线电机及高精度光栅尺，重复定位精度±0.001mm,位置精度±0.001mm；采用CCD图像识别定位，运用高精度算法，准确可靠；测量时通过CCD图像校正，保证测量位置准确； 主要配置/设备关键部件非接触式光学测厚仪测量光程： 12mm/ 40mm/80mm 测量精度： ±0.1 μm/±1μm 测量重复性： ±0.02 μm/±0.05 μm 工作波长： 1310 nm 测量速度： 20 Hz/ 7Hz/ 4HzXYR平台参数：平面度：±0.005mm直线度：±0.005mm重复定位精度：±0.001mm位置精度：±0.001mm视觉校正相机：2000万像素低噪声，高精度 工作环境及设备尺寸参数工作电压：220V±10**工作环境：室温-10℃—45℃，湿度≤95**；环境相对湿度：在+40℃时 ≤90** R.H. （无冷凝）外型尺寸：800×1200×1960设备总重量：约500kg尺寸330mm×430mm×685mm（长×宽×高）重量20㎏其他功率90-264 VAC，47-63 Hz，80 VA仪器接口USB2.0及以上接口可支持8通道测量电脑配置 Windows 7/8/10,1GB内存，USB2.0以上接口，显示器，键盘，鼠标质保期1年⑴ 定义为测量不确定度或很大厚度误差，置信度≥99.7**。⑵ 整个运行环境条件的不确定性。⑶ 60分钟测量周期的标准偏差。⑷ 取决于被测材料在1.3μm波长下的反射率。该规格书是在4**反射条件下给出的。 当反射条件较低时，重复性**坏会降低到约±0.15μm。⑸ 折射率为1时。⑹ 折射率为1.5的材料。⑺ 特性性能，但不是一定的。

CSI-034A全自动避孕套测厚仪一，用途用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量的设备，采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量二，执行标准GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB7544，GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。三，技术特点本测厚仪采用进口优质传感器，测厚分辨率高达0.1微米，选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有USB接口，通过选购软件实现数据的永久性存储、查询、打印；软件功能强大，技术参数PLC控制系统彩色7寸触摸屏，中英文界面切换测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；〔50±1kPa(纸张)可定制其他压力接触面积：50mm2(薄膜)；〔200mm2（纸张）〕可定制其他压脚和接触面积；百分表或者千分表数据传输信息----标配百分表高度不限；嵌入式打印机

此产品显示价格不是最终成交价，请与客服咨询有效价格！ 博曼BA-100系列全自动镀层膜厚仪 美国博曼BA-100系列镀层厚仪：主机美国原装进口，由美国K alpha公司研制，无损镀层测厚仪，测量时间短、报告输出多样化、维护成本低廉，拥有变焦系统和多准直器系统，可实现大型扁平状产品、带有凹槽的产品的测量的镀层测厚仪。 应用领域：PCB、FPC、SMT、LED、连接器、端子、紧固件、汽车零部件、五金、卫浴、装饰性电镀、功能性电镀产品的镀层厚度测量。是众多电镀厂家、采购商检测产品镀层厚度的一款镀层测厚仪。 产品规格：X射线激发由上往下，采用W靶，铜管体的光管，XY轴程控控制，程控移动距离127×153mmZ轴程控控制，程控移动距离140mm焦距可变，焦距规格为6.5~65mm30倍放大的高清CCD固态的Si-Pin探测器多准直器系统，4个准直器/组，标准规格为：Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ1.5mm开槽式样品台，载物台尺寸：宽350×深395mm样品仓内部尺寸：314×380×140mm 产品特点：1、测量元素范围为Ti22--U922、可同时测5层镀层（4层镀层+1层基材层）3、成份分析可达25种元素4、仪器配备的变焦系统，可测凹槽类的产品；5、开槽式样品台，可测量大型的扁平类产品（如PCB）6、多准直器系统可满足不同斑点的样品测量7、测量精度高，测量结果准确至μin8、测量单位可选择um、uin、mils、nm 准确货期请与客服咨询为准！谢谢！

产品参数：显示屏：TFT彩色显示 操作温度：10°C to 40°C测量范围：0～2mm 0～4mm 可设置 供电电源：115V 至 230V, 50–60Hz分辨率：0.1μm 气源压力：0.2-1.0MP之间极限误差：0.3% 防护等级：IP54测量速度：全自动模式 0-20 次/min 可调 外形尺寸：显示器 170 × 130 × 150 mm 手动模式无限制 工作台 250 × 300 × 250 mm提升方式：气动真空提升 净 重：显示器 2.1kg 工作台4.5kg 测帽类型：平面测帽，大圆弧测帽 可更换标准配置：主机* 1SET 显示器*1PC 电源线*1PC 数据传输线*15ET 操作说明书*3PCS 产品合格证*1PC执行标准：该设备满足多项国际和国家标准ASTM D374、ISO 4593、JIS K6250、BS 3983、 GB/T 6672产品特性： &bull 薄膜行业厚度测量标准配置，适用于高精度测量，内置测帽调平机构、避免反复设置系数&bull 全自动测量，避免人为因素干扰，提高精度，数值自动上传电脑保存，可实现测量过程无人值守，减负增效&bull 测量精度高，分辨率可达0.1μm&bull 测量速度快，结果响应时间为0.015s&bull 大理石台面00级，精度高，质地硬，永不生锈&bull 德国Mahr的品质保证，可实现长期高稳定性的测量&bull 薄膜行业专用软件Filder 1.0，具有数据管理，用户管理等强大功能软件特性：Filder 1.0特别为薄膜行业开发设计可实时显示记录测量值，并计算最大值，最小值，平均值，偏差值等一系列参数软件自动绘制厚度曲线和偏差图测量结果可导出至Excel表格软件具有用户管理功能，可设置不同的人员权限，有效防止误操作和数据的误删除具有数据管理功能，测量数据及相关产品、人员信息永久保存，便于测量数据的追踪和溯源

产品参数：显示屏：指针/数字 操作温度：10°C to 40°C测量范围：0～200μm 0～2mm 可设置 供电电源：115V 至 230V, 50–60Hz分辨率：0.01μm 气源压力：0.2-1.0MP之间极限误差：0.3% 防护等级：IP54测量速度：全自动模式 0-20 次/min 可调 外形尺寸：显示器 170 × 130×150 mm 手动模式无限制 工作台 ：250 × 300 × 250 mm 提升方式：气动真空提升 净重：显示器 2.1kg 工作台4.5kg 测帽类型：平面测帽，大圆弧测帽 可更换标准配置：主机* 1SET 显示器*1PC 电源线*1PC 数据传输线*15ET 操作说明书*3PCS 产品合格证*1PC执行标准：该设备满足多项国际和国家标准ASTM D374、ISO 4593、JIS K6250、BS 3983、 GB/T 6672产品特性： &bull 薄膜行业厚度测量标准配置，适用于高精度测量，内置测帽调平机构、避免反复设置系数&bull 全自动测量，避免人为因素干扰，提高精度，数值自动上传电脑保存，可实现测量过程无人值守，减负增效&bull 测量精度高，分辨率可达0.01μm&bull 测量速度快，结果响应时间为0.015s&bull 大理石台面00级，精度高，质地硬，永不生锈&bull 德国Mahr的品质保证，可实现长期高稳定性的测量&bull 薄膜行业专用软件Filder 1.0，具有数据管理，用户管理等强大功能

XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。产品优势：先进的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可准确测量上照式设计：实现可对大型工件进行快、准、稳高效率测量自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦变焦装置算法：可对0-90mm深度的凹槽高低落差件直接检测小面积测量：测量面积小至0.002mm2可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量● 自动、智能、在线检测自动：可编程自动位移平台，无人值守、自动检测样品；一次编程便可实现成百上千个样品点的高效检测智能：实现自动AI影像智能寻点，编程档案自动匹配测试位置，在面对大批同类型样品检测时，具备明显的优势在线：根据客户要求可个性化定制产线在线式检测，为工业4.0提供在线检测整体解决方案，提高检测效率，实现全自动智能化工厂1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）3. 厚度检出限：0.005μm4. 成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.05mm（最小测量面积0.002mm2）6. 对焦距离：0-90mm7. 样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8. 仪器尺寸：760mm*550mm*635mm9. 仪器重量：120KG广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、卫浴装饰、精密电子、电镀行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

全自动涂层测厚仪（PaintChecker automation）是利用光热法测量涂层厚度的一种非破环性、非接触型的测量仪器。符合欧洲标准 DIN EN 15042-2。它适用于测量干、湿膜及粉末的涂层，例如多种基质（如：金属，橡胶或陶瓷）上的有机溶剂涂料、水性涂料、粉末涂料和釉料等。轻巧便捷的手持式探头使从生产源头直接测量成为可能。光学结构设计，允许涂镀生产的现场环境中。附带的工作站软件使用简洁方便，并具有数据储存和报表输出功能。配置清单• 手持激光测量头(包括连接电缆)• 数据处理终端• 电源线和网线• 探头架• 软件(光盘)• 用户手册• 激光参考标准可选附件• 距离限制帽-方便固定• 可调节高度的测量支架• 订制校准曲线• 编程接口进一步产品对于在自动化生产中的应用, 我们建议使用工业型-涂层测厚仪。它装备了功能强大的数据处理终端和工业标准的接口。此外，它拥有一个极至的光学传感器，通过标准化夹具可以将它很容易的集成到生产线上。 测量探头手持式的铝制测量激光探头内含对人眼安全的激光和数据采集装置；它同数据处理终端间由 2 米长的数据传输电缆连接。 测量厚度范围0- 300μm(金属基体)*测量光斑大小?= 0.5mm0- 60μm(非金属基体)*重复率最大 1 Hz *测量时间8 - 512 ms *激光等级1M激光功率最大 0,5 W激光模式脉冲分辨率约 3%的实际测量**准确度约 5%的实际测量**测量距离16 毫米距离公差±1 毫米角度公差±15°尺寸L = 110 毫米,?= 25 毫米重量约 100 克(*)取决于涂层厚度/参数集(* *)取决于涂层/基体 数据处理终端数据处理终端包含铝制的外壳、测量探头控制及数据评估处理软件单元和数据存储单元。数据处理终端与电脑进行通讯连接，通过电脑的预置软件可以全程控制测量并查阅和存储测量数据。 电压/功率230V AC, 50Hz, max.40W接口以太网 10 兆位/秒 (RJ45)维长x宽x高 = 227 x 267 x 100 mm重量2.2kg

GB/T 6672自动进样薄膜测厚仪应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。产品优势：先进的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可准确测量上照式设计：实现可对大型工件进行快、准、稳高效率测量自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦变焦装置算法：可对0-90mm深度的凹槽高低落差件直接检测小面积测量：测量面积小至0.002mm2可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量● 自动、智能、在线检测自动：可编程自动位移平台，无人值守、自动检测样品；一次编程便可实现成百上千个样品点的高效检测智能：实现自动AI影像智能寻点，编程档案自动匹配测试位置，在面对大批同类型样品检测时，具备明显的优势在线：根据客户要求可个性化定制产线在线式检测，为工业4.0提供在线检测整体解决方案，提高检测效率，实现全自动智能化工厂1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.05mm（最小测量面积0.002mm2）6.对焦距离：0-90mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：760mm*550mm*635mm9.仪器重量：120KG广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、卫浴装饰、精密电子、电镀行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

电子测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 测试原理：测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。适用范围：测厚仪CHY-50U适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。技术特征：●彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值；●测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差 ●配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值；●支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能 ●严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 ●配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；●测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；●配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；●系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务。 设备指标:规 格参 数测量范围0-5mm(可根据需要定做合适夹具)测量压力17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）分辨率0.1um接触面积50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：纸张需定制测量速度10c/min (可调)外形尺寸454mmx352mmX500mm电源AC220V 50Hz净重30kg执行标准：GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定GB/T 6547-1998 瓦楞纸板厚度的测定法ISO 4593-1993 塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度ISO 534-2011 纸和纸板--厚度、密度和比容积的测定ISO 3034-2011 瓦楞纸板--单张厚度的测定ASTM D374-1999 固体电工绝缘材料厚度的试验方法ASTM D1777-1996(2007) 纺织材料厚度试验方法JIS K6250-1997 硫化橡胶及热可塑性橡胶的物理试验方法通则JIS K6783-1994 农业用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜JIS Z1702-1994 包装用聚乙烯薄膜BS 3983-1989 纸、纸板的厚度和层积紧度或单页紧度的测定方法BS 4817 瓦楞纤维纸板厚度的测定方法TAPPI T411 纸、纸板、复合纸板厚度测定

XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。产品优势：先进的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可准确测量上照式设计：实现可对大型工件进行快、准、稳高效率测量自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦变焦装置算法：可对0-90mm深度的凹槽高低落差件直接检测小面积测量：测量面积小至0.002mm2可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量● 自动、智能、在线检测自动：可编程自动位移平台，无人值守、自动检测样品；一次编程便可实现成百上千个样品点的高效检测智能：实现自动AI影像智能寻点，编程档案自动匹配测试位置，在面对大批同类型样品检测时，具备明显的优势在线：根据客户要求可个性化定制产线在线式检测，为工业4.0提供在线检测整体解决方案，提高检测效率，实现全自动智能化工厂1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.05mm（最小测量面积0.002mm2）6.对焦距离：0-90mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：760mm*550mm*635mm9.仪器重量：120KG广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、卫浴装饰、精密电子、电镀行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

高精度薄膜测厚仪TY-CH50高精度纸张测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。测试原理：测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。适用范围：测厚仪适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。薄膜：用于薄膜、薄片、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。铝箔：对金属箔片、硬片等硬质材料厚度测量。纸张：用于各种纸张、纸板材料厚度测试。硅片：接触式测试原理有效的检测出硅片上每个点的厚度值。技术特征：●彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值；●测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差 ●配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值；●支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能 ●严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 ●配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；●测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；●配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；●系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务。设备指标:规 格参 数测量范围0-5mm(可根据需要定做合适夹具)测量压力17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）测量精度±0.5um分辨率0.1um精度0.5级接触面积50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：纸张需定制测量速度10c/min (可调)外形尺寸450mm×340mm×390mm电源AC220V 50Hz净重30kg执行标准：GB/T 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法GB/T 451.3-2002纸和纸板厚度的测定GB/T 6547-1998瓦楞纸板厚度的测定法ISO 4593-1993塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度ISO 534-2011纸和纸板--厚度、密度和比容积的测定ISO 3034-2011瓦楞纸板--单张厚度的测定ASTM D374-1999固体电工绝缘材料厚度的试验方法ASTM D1777-1996（2007） 纺织材料厚度试验方法JIS K6250-1997硫化橡胶及热可塑性橡胶的物理试验方法通则JIS K6783-1994农业用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜JIS Z1702-1994包装用聚乙烯薄膜BS 3983-1989纸、纸板的厚度和层积紧度或单页紧度的测定方法BS 4817瓦楞纤维纸板厚度的测定方法TAPPI T411 纸、纸板、复合纸板厚度测定配置：标准配置：测厚仪主机、标准量块、微型打印机选用配置：测试软件、通信电缆、配重砝码、自动进样器

Bristol非接触式光学测厚仪　　Bristol Instruments提供了一系列测厚仪产品，可方便地测量厚度，并具有很高的测量精度以及重复性，以适用于大部分的应用需求。更重要的是，这些产品采用了一种非常有效的技术，即使用非接触式光学探针进行无损检测，同时这种技术还可以同时测量多层膜的厚度。　　产品特点：　　可测量硬材料和软材料，并且不会造成损坏或变形　　用于准确定位测量位置的可见光束　　同时测量多达31层　　测量光程： 12mm/ 40mm/80mm　　测量精度： ±0.1 μm/±1μm　　使用内置的固有长度标准进行连续校准　　测量置信水平≥99.7%　　可追溯至NIST标准　　测量频率高达20赫兹　　使用USB或以太网进行PC通讯　　提供基于Windows的光学测量软件，用于设置测量参数和输出测量数据　　使用LabVIEW、.NET或自定义编程进行自动数据报告，无需专用PC　　软件测量界面：　　应用领域：　　光学元件和透镜组件　　可测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔　　隐形眼镜和人工晶状体　　测量中心厚度、矢高和群折射率　　医用导管窥镜　　可同时测量壁厚、内径和外径，管壁厚度、管颈和管锥的壁厚　　LCD, LED, OLED 和AMOLED显示屏　　可测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层　　半导体　　硅/砷化镓晶片　　玻璃抛光　　测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。　　Optional:　　Lensthick 非接触式光学测厚仪　　产品特点：　　LensThick集成了Bristol非接触式光学测厚仪，系统集成化程度较高，增加了电动升降台和倾斜平移一体调节台，将测厚仪主机和高性能工控机集成在定制机柜里，并配备了高清显示器，此外还开发了全中文人机交互软件，软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时调整。软件支持自动峰值模式，使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。软件还可根据用户材料色散方程系数，自动计算出材料的群折射率并保存。针对同其它设备和产线集成，软件还可通过TCP/IP形式将实时测量结果发送给其它设备。　　LensThick ATW/ATS 系列全自动光学测厚仪　　设备特点：　　LensThick ATW配备晶圆测试模组，LensThick ATS配备单镜片测试模组；　　配备非接触式光学测厚仪，测量精度高，速度快，且不会对样品造成损伤；　　采用大理石组合结构，稳定性高　　XY平台采用直线电机及高精度光栅尺，重复定位精度±0.001mm,位置精度±0.001mm；　　采用CCD图像识别定位，运用高精度算法，准确可靠；　　测量时通过CCD图像校正，保证测量中心位置准确；　　主要配置/设备关键部件：　　非接触式光学测厚仪　　XYR平台参数：　　平面度：±0.005mm　　直线度：±0.005mm　　重复定位精度：±0.001mm　　绝对位置精度：±0.001mm　　视觉校正相机：　　2000万像素　　低噪声，高精度

CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪采用机械接触式测量原理，严格执行机械接触式测厚相关标准要求，适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。本品采用高精度位移传感器，通过科学的结构设计及高精测控技术，实现了接触式厚度测试的稳定性、重复性。一、基本信息品名测厚仪型号CHY-03品牌泉科瑞达产地山东.济南二、CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪功能应用1、基础应用：薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料（如尿不湿、卫生巾片材）等2、扩展应用：量程扩展至6-12mm以及曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试（需订制）三、CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪试验原理本品采用机械接触式厚度测量方式进行厚度的高精度测量；将厚度测量头复位后置零（测厚头与测厚仪测试台接触归零），启动试验，测厚头达到最高位，将平整试样置于测厚仪测试平台上测量头下落后接触试样，对试样施压标准规定的压力后通过位移传感器记录材料厚度；自动进样器按用户设定的测试间距牵引试样进给，至设定间距停止，测量头下行测试厚度，按设定的间距数量仪器完成全自动厚度测试，并记录测试过程数据，在试验结果后给出统计结果。四、CHY-03薄膜薄片测厚仪 自动进样 机械接触式厚度测量仪产品特征一款机械式厚度测量的高精密仪器，采用高精度位移传感器，采用稳固性结构设计及高精测控控制技术，实现了接触式厚度测量的稳定性、重复性。7寸大触控屏，操作简便，人机交互友好采用国际品牌高精度位移传感器，精密机床二次加工，高成本以保证高精度一体式悬臂设计，减少传感器的固定部件， 0.1um分辨率，进一步获得超高测试精度配置自动进样装置，可按设定间距与测试点数进给试样，配合主机测量基准零点反复多次同点测试，零点飘动小，基准零点稳定标准量块单点重复测试，数据稳定，可靠度高可进行测试面积，测量压力，测试速度以及自动进行的软硬件订制具有手动、自动测试功能开机密码登陆，防止无关人员任意操作仪器造成损失或参数变更支持四级用户权限管理，测试数据历史记录可查询最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断专业计GMP计算机软件可选五、技术参数测试范围 ：0～2 mm（标准量程）（0-6mm，0-12mm可选，其它行程可订制） 分辨率 ：0.1 μm （标准量程）测试压力： 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） （选其一，非标可订制）接触面积 ：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）（选其一，非标可订制）进样步距：0-1000mm进样速度：0.1-99.9mm/s电源： AC 220V 50Hz 主机外形尺寸： 350 mm(L)× 340 mm(W)× 470 mm(H) 自动进样装置尺寸：350 mm(L)× 340 mm(W)× 200 mm(H)主机净重： 35kg 进样装置净重：13 kg六、参考标准该仪器参考多项国家、国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817、GB/T 24218.2注：不同标准需要订制不同夹具或试验程序开展相关试验。七、配置标准配置：主机（含微型打印机、触摸屏）、自动进样装置、标准量块（一组）选购件：计算机、非标订制、专业软件、通信电缆

药用玻璃瓶测厚仪在医药行业中，玻璃瓶作为常用的包装容器，其质量与安全性倍受关注。而药用玻璃瓶测厚仪，则是确保瓶壁厚度均匀性、一致性的关键检测工具。壁厚测厚仪的基本原理是利用物理或光学原理进行非破坏性检测，以获取待测物体准确的厚度数据。采用高精度测量传感器和先进的软件技术，能够在短时间内获取大量准确的厚度数据。药用玻璃瓶测厚仪具有以下优点：1.精度高：采用高精度测量传感器和先进的软件算法，能够准确测量瓶壁厚度。2.操作简便：测厚仪操作简单，工作人员容易掌握，大大提高了检测效率。3.使用安全：非破坏性检测不会对玻璃瓶造成损伤，降低了检测成本和风险。4.高效自动化：测厚仪能够自动、快速地获取瓶壁厚度数据，降低了人工检测的误差和劳动强度。总之，药用玻璃瓶测厚仪在医药行业中具有广泛的应用前景和发挥重要作用。它的高精度、操作简便、安全自动化等特点使其成为医药行业的得力助手。从生产质量控制、药品审核到稳定性研究等多个方面，测厚仪都展示了其在医药行业中的专业性和必要性。因此，药用玻璃瓶测厚仪的发展和完善对于提高医药行业的整体水平具有重要意义。 技术参数 测量范围 0-12.5mm 分 度 值 0.001mm 样品直径 10-120mm （其他尺寸可定制） 样品高度 10-290mm（其他尺寸可定制） 外形尺寸 420×280×655（mm ） 重 量 25Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准药用玻璃瓶测厚仪此为广告

碳纤维作为一种高比轻度，高比模量的增强纤维在先进的复合材料中得到了广泛的应用。碳纤维复合材料作为一种超高温耐烧蚀的先进复合材料之一，被广泛运用在航空航天，军工等领域上，为了防止碳纤维复合材料在高温工作环境中被氧化，通常需要对碳纤维材料表面进行涂覆，可以在不损失其机械性能的前提下，改变其物理性能。碳纤维表面的涂层可以是金属涂覆层，无机非金属陶瓷涂层以及有机高分子涂层。碳纤维复合材料表面涂层厚度不达标，将会影响其性能，导致构件失效甚至会酿成安全事故，因此精确测量表面涂层厚度非常重要。为了更好测厚碳纤维表面涂层厚度，瑞士涂魔师研发了一种高精度的无损非接触式复合材料涂层测厚仪。涂魔师复合材料涂层测厚仪 VS传统碳纤维涂层测厚仪与电磁感应测厚设备相比，涂魔师复合材料涂层测厚仪能精准测量碳纤维复合材料上的涂层厚度。与其他基于光热法、激光和超声波原理的设备相比，它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等测量优势。涂魔师复合材料涂层测厚仪目前，涂魔师复合材料涂层测厚仪主要有4种型号：Flex手持式，Inline在线式，Atline实验型、3D整体膜厚成像。常用的是Flex 手持式和Lnline在线式。Flex手持式复合材料涂层测厚仪技术参数如下：烘干前湿漆测量范围：1-400 微米固化前的粉末涂料测量范围：1-400 微米固化后粉末涂料/烘干后干漆 测量范围：1-1000 微米测量时间：0.3 秒允许测量距离：2 – 15 厘米允许倾斜角度：±45°能否测量运动工件：允许相对标准偏差： 1%（取决于涂层/基材类型）访问测试数据方式：通过ERP和浏览器实时访问数据IP防护等级：IP20Inline在线式复合材料涂层测厚仪技术参数如下：固化前的粉末涂料测量范围：1-2000 微米测量时间：0.5秒允许测量距离：10 – 120 厘米（取决于涂层/基材材料 ）允许倾斜角度：±45°(取决于涂层/基材材料）相对标准偏差： 2% （测量距离为5厘米，测量铝底材上60微米的未固化粉末涂料（包括白色的所有颜色） ）被测物体移动速度：120米/分钟适合涂层颜色：所有颜色（包括白色等浅色）测量数据导出方式：自动导出涂魔师复合材料涂层测厚仪优势?测湿膜直接显示干膜厚度在生产前期非接触式测量未固化的涂层直接得出涂层的干膜厚度，如粉末涂料、油漆等，及时调整工艺偏差，有效降低次品率和返工率?非接触无损测厚技术涂魔师采用先进的热光学专利技术，不同型号最长能达到100厘米距离内轻松进行非接触式涂层厚度测量?无需严格控制测量条件允许测量各种颜色的涂料（不受浅色限制）；适用于外形复杂的工件（如曲面、内壁、边角、立体等隐蔽区域）?适合生产车间现场使用便携灵活的手持式设计，能够连续实时测量生产线上的移动工件，对于摇摆晃动的工件都能精确测量膜厚?数据自动记录及生产全过程100%测量数据安全自动储存于云端，实现生产工艺的统计及不间断追溯，高效监控膜厚真实情况?测量时间短，一键即可完成膜厚测试涂魔师Flex测量精度高且操作简单，测试时间仅需0.5秒翁开尔是涂魔师中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询

CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的无妨布、塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。技术特征l 搭载5寸IPS触控屏，采用进口MEAS差动电感式位移传感器分辨率0.1um.l 测试过程按用户设定程序，测量头自动升降测量，测量数据自动打印l 支持同组数据100个测量点数据采集，支持500组数据存储/查询l 支持多级用户权限管理，测试数据历史记录可查询，可审计追踪。l 实时显示测量结果的最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断l 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性l 可选配自动进样装置，实现无人工操作，系统全自动测量l 配备USB接口，专业测控软件、可通过软件操控仪器完成各项测量 测试标准 该设备满足多项国家和国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817GB_T、24218.2 基础应用薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等 技术指标 测试范围 ：0～6 mm； 分辨率 ：0.1 μm 压脚面积 ：2500 mm2 （可选50mm2、200 mm2） 注：非标可定制 电源： AC 220V 50Hz 外形尺寸： 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H) 净重： 32 kg 产品配置：主机、微型打印机、标准量块、专业软件、通信电缆、电源线、测量头、合格证、说明书、装箱单

Kurabo RX-350 全自动油膜测厚仪 RX-350是一款利用漫反射光学结构的在线红外测厚仪，测量结果不受静电涂油表面不平整的影响，因为，RX-350所接收的是材料表面的漫反射光，信号强度相对于正反射有显著提升。当被测物接收到红外线照射，会产生特定波长下的红外吸收现象，形成特征吸收峰,这种吸收现象称为吸光度，吸光度的大小和油膜的厚度或克重相对应。 由于RX-350采用非接触的红外光测量油膜厚度，所以不需要对产品进行测量前的预处理。 最小测量时间为50ms，所以不会放过任何的厚度或克重变化。另外，由于采用3波长测量方式，消除周围环境的影响，可确保长期的检测精度。仪器规格：品牌型号： Kurabo RX-350 滤光方式： 回转过滤式（最多6个滤光片）测量原理： 独特的P偏光，三波长，漫反射光学结构测量范围： 0~10 g/m2 测量面积： φ15mm仪器分辨率： 0.01g/ m2 测量距离： 80mm 左右移动速度：1~10m/min 尺寸： 测试头： 126(W)×213(D)×120(H) 5.2Kg 中继器： 250(W)×140(D)×113(H) 3Kg 数据处理器：275(W)×300(D)×165(H) 6Kg其它部分需根据现场情况设计电源： AC100~240V±10%, 50/60Hz 200VA外部输出： 可选模拟 0-10V or 4-20mA环境温度： 5~40℃ （无冷凝）

台式薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机 选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器台式薄膜测厚仪此为广告

高精度薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机 选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器高精度薄膜测厚仪此为广告

德国EPK铁上电镀镍测厚仪NIFE50是一款机械型涂层测厚仪，用来测量铁上电镀镍层厚度。测量快速、精确、无损，三十多年来 已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的专用仪器。德国的“诀窍”说明它在工艺技术及精度方面，具有磁性覆层测厚仪的较高水准。德国EPK铁上电镀镍测厚仪NIFE50是麦考特涂镀层测厚仪MikroTest系列之一，其他型号测厚仪具有以下功能：精确无误地测量钢铁上的涂层镀层厚度：如，电镀层，电镀镍层，磷化膜油漆，粉末涂层塑料，橡胶测量非磁性非磁性金属基体上电镀镍层（如铜，铝等基体上电镀镍）。德国EPK铁上电镀镍测厚仪NIFE50测量快速、精确、无损，三十多年来MICROTEST 已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的专用仪器。德国的“诀窍”说明它在工艺技术及精度方面，具有磁性覆层测厚仪的较高水准。麦考特涂镀层测厚仪MikroTest系列所有仪器均符合DIN、ISO及ASTM标准。完全自动操作。在使用时具有无可比拟的如下特性：1.自动测量不会发生误操作2.易于掌握并具有极高精度3.不用校准、设定、检测简便4.不需要电池或其他电源5.自动报出厚度读值6.用无损测头，一点测定7.金属铠装适于室外频繁操作使用8.抗机械冲击、耐酸及溶剂腐蚀9.平衡装置消除地心引力影响，可在任意方向和管内准确测量。型 号测量范围精度测量区直径下限不能小于测量半径凸 凹mm mm基体厚度下线mm适合用于MikroTest G 60－100μm1μm或5％读值20mm5 250.5钢、铁上电镀层、漆、搪瓷、塑料、橡胶层MikroTest F 60－1000μm5μm或5％读值30mm 8 250.5MikroTest S30.2－3mm5％读值30mm15 251.0MikroTest S50.5－5mm5％读值50mm15 251.0MikroTest S102.5－10mm5％读值50mm15 252.0MikroTest S207.5－20mm5％读值100mm100 1507.0MikroTest NIFE500－50μm2μm + 8％读值20mm10 250.5铁上电镀镍MikroTest NI500-50um1μm或5％读值15mm5 25-非铁磁金属基体上电镀镍MikroTest NI1000-100um1μm或5％读值15mm5 25-麦考特涂镀层测厚仪MikroTest表盘示意图：麦考特涂镀层测厚仪MikroTest校准板：。

济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪 济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪适用包装塑料薄膜、纸张、电容BOPP薄膜、金属铝箔、太阳能电池硅片等硬质和软质材料厚度测量。采用全自动测试模式，可连续测量也可单点测量模式，测试分辨率高达0.0001mm。测试原理采用接触式测试，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差★微电脑控制、大液晶显示★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果★测厚仪自动保存 多100组测试结果，查看并打印★标准量块标定,方便用户快速标定设备GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817测量范围：0～2mm（常规）分 辨 率：0.1μm测量速度：10次/min（可调）测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)净 重：30kg标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器

GB6672接触式薄膜测厚仪应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

GB6672接触式测厚仪 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。产品优势：先进的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可准确测量上照式设计：实现可对大型工件进行快、准、稳高效率测量自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦变焦装置算法：可对0-90mm深度的凹槽高低落差件直接检测小面积测量：测量面积小至0.002mm2可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量● 自动、智能、在线检测自动：可编程自动位移平台，无人值守、自动检测样品；一次编程便可实现成百上千个样品点的高效检测智能：实现自动AI影像智能寻点，编程档案自动匹配测试位置，在面对大批同类型样品检测时，具备明显的优势在线：根据客户要求可个性化定制产线在线式检测，为工业4.0提供在线检测整体解决方案，提高检测效率，实现全自动智能化工厂1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.05mm（最小测量面积0.002mm2）6.对焦距离：0-90mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：760mm*550mm*635mm9.仪器重量：120KG广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、卫浴装饰、精密电子、电镀行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

仪器介绍：广州标际所生产的高端测厚仪，测厚仪，薄膜测厚仪适用于包装薄膜，片材等的氧气透过率的检测。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪，操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜，纸张等直接测量或比较测量。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪产品特点测量精确，运行可靠，测量分辨率高达0.1微米；支持手动、自动双重测量模式；可单点测试也可多点测试自动进样间距、测量点数可调；液晶显示，可微机打印测试结果；测量过程即时显示最大值、最小值、平均值及当前值 可连接计算机,专业软件支持（可选）。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪技术参数测量范围：0~5mm分 辨 率：0.1&mu m进样间距：0~1000mm测量点数：0~10点

CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、无纺布、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。技术特征l 搭载5寸IPS触控屏，采用进口MEAS差动电感式位移传感器分辨率0.1um.l 测试过程按用户设定程序，测量头自动升降测量，测量数据自动打印l 支持同组数据100个测量点数据采集，支持500组数据存储/查询l 支持多级用户权限管理，测试数据历史记录可查询，可审计追踪。l 实时显示测量结果的最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断l 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性l 可选配自动进样装置，实现无人工操作，系统全自动测量l 配备USB接口，专业测控软件、可通过软件操控仪器完成各项测量 测试标准 该设备满足多项国家和国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817、GB/T 24218.2 基础应用薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等技术指标 测试范围 ：0～2 mm（常规） 0～6 mm；12 mm（可选） 分辨率 ：0.1 μm 测试压力： 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） 接触面积 ：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）；2500mm2(无纺布)注：薄膜、纸张、无纺布任选一种；非标可定制 电源： AC 220V 50Hz 外形尺寸： 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H) 净重： 32 kg 产品配置：主机、标准量块一件、专业软件、通信电缆、测量头

德国EPK有色金属上电镀镍测厚仪MikroTest NI100是专门为有色金属基体上电镀镍测厚设计， 测量快速、精确、无损，三十多年来已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的专用仪器。德国的“诀窍”说明它在工艺技术及精度方面，具有磁性覆层测厚仪的较高水准麦考特涂镀层测厚仪系列MikroTest精确无误地测量钢铁上的涂层镀层厚度：如，电镀层，电镀镍层，磷化膜油漆，粉末涂层塑料，橡胶测量非磁性非磁性金属基体上电镀镍层（如铜，铝等基体上电镀镍）。德国EPK有色金属上电镀镍测厚仪MikroTest NI100测量快速、精确、无损，三十多年来MICROTEST 已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的专用仪器。德国的“诀窍”说明它在工艺技术及精度方面，具有磁性覆层测厚仪的较高水准。德国EPK有色金属上电镀镍测厚仪MikroTest NI100符合DIN、ISO及ASTM标准。完全自动操作。在使用时具有无可比拟的如下特性：1.自动测量不会发生误操作2.易于掌握并具有极高精度3.不用校准、设定、检测简便4.不需要电池或其他电源5.自动报出厚度读值6.用无损测头，一点测定7.金属铠装适于室外频繁操作使用8.抗机械冲击、耐酸及溶剂腐蚀9.平衡装置消除地心引力影响，可在任意方向和管内准确测量。型 号测量范围精度zui小测量区直径zui小半径凸 凹mm mm基体zui小厚度mm适合用于MikroTest G 60－100μm1μm或5％读值20mm5 250.5钢、铁上电镀层、漆、搪瓷、塑料、橡胶层MikroTest F 60－1000μm5μm或5％读值30mm 8 250.5MikroTest S30.2－3mm5％读值30mm15 251.0MikroTest S50.5－5mm5％读值50mm15 251.0MikroTest S102.5－10mm5％读值50mm15 252.0MikroTest S207.5－20mm5％读值100mm100 1507.0MikroTest NIFE500－50μm2μm + 8％读值20mm10 250.5铁上电镀镍MikroTest NI500-50um1μm或5％读值15mm5 25-非铁磁金属基体上电镀镍MikroTest NI1000-100um1μm或5％读值15mm5 25-麦考特涂镀层测厚仪MikroTest表盘示意图：麦考特涂镀层测厚仪MikroTest校准板：。

全自动试验系统‘roboTest P’'roboTest PC'(门架式)全自动试验系统适用于全自动金属拉伸试验(如:EN10002-1)。可与材料试验机匹配，试验力5 - 2000 kN试样架最大容量400件(依据试样尺寸)最大可测试试样重量10 kg；在一个系统中可配合多台试验机，组成全自动试验系统 可将试样夹持架移至一侧，适用于手动测试，允许操作人员无障碍地进入材料试验机。自动测试系统软件autoEdition2及工业控制器控制自动试验系统可选用外围设备，包括如条形码扫描仪、试样横截面测量台、硬度和粗糙度测量装置、废料夹持装置、涂层测厚仪、千分尺等。