玻璃钢测厚仪

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彩涂湿膜测厚仪234型 -德国仪力信简单介绍大量应用与彩涂及胶水行业油漆湿膜的测量234型湿膜测厚仪是德国Erichsen(仪力信)漆膜测厚仪,包含型号:234R/I,234R/II,234R/III,234R/IV,234R/V,234R/VI,234R/VII,234R/VIII。仪器由两个经硬化和研磨的钢轮及其中间的一个偏心轮盘组成.把仪器在湿膜上滚动,然后从偏心轮沾有油漆的部份读得漆膜的厚度.可测量0-1500微米的厚度,共有8个测量范围.234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信)的详细介绍234型湿膜测厚仪符合DIN,EN ISO,ISO,ASTM,BS,NF.标准。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 特点膜厚测量在油漆和涂料的使用和检测中起一个重要的作用。在决定外观、保护性能和持久性能时，膜厚是一个决定性的因素。涂膜太薄不能提供足够的保护并减少遮盖力。因此，必须执行技术规格所规定的最小厚度并确保这些值的一致性。另一方面，过厚的涂层是使用了太多涂料的结果，相应地增加了成本。而且，较厚的涂层并不总是意味着性能提高，如它们在干燥时间方面会有一个负面的影响。涂层的物理和机械性能取决于漆膜的厚度。如果要执行的是有意义的测试，膜厚必须均匀。湿膜测厚仪用于检查刚刚涂上的涂料，也可用于计算干膜厚度结果。如果测量与指定值有误差，必须立即采取措施改正。机械式测厚仪有一系列优点:便携、操作简单、非技术人员也可使用。结构坚固，读数一目了然。测量可在任何表面上进行。因为全部机械式，故可适用于玻璃、木材、金属或塑料基材。与其它类型的测厚仪比较，机械式测厚仪具有更好的价格。应用用于所有的平面或均匀曲面 ( 凹面和凸面 )测试原理碟形测量仪器（图 1 ）在湿膜表面滚动。在此过程中两个滚花，对中轮缘（ 1 ）在基材上滚过，当轮缘到凸轮的距离等于被测湿膜厚度时偏心凸轮（ 2 ）则会粘上涂料。设计和功能加硬、精确磨制的不锈钢测量盘直径为 50 mm ，厚 11 mm 。它包含一个铝制自由旋转滚轮使仪器能在表面滚动。 共有 8 种不同型号和测量范围 ( 见订货信息 ) 。读数刻度刻在盘的一侧，每一个仪器配一个盒子。测量程序测量 1用姆指与食指捏住仪器的导向滚轴 , 将仪器放在测试表面上，使接触点与零线相反。轻压滚动，使仪器向零线滚动，再提起。测量 2 （验证）仪器放置位置如 1 ，但以相反的方向旋转，直到它达到零线。湿膜厚度以湿膜记号出现处读出，并与相对的一侧比较，求出平均值。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 订货信息订货号型号测量范围读数精度0071.01.31234 R/I0~25 μm1 μm0071.02.31234 R/II0~50 μm2 μm0071.03.31234 R/III0~125 μm5 μm0071.04.31234 R/IV0~250 μm10 μm0071.05.31234 R/V0~500 μm20 μm0071.06.31234 R/VI500~1000 μm20 μm0071.07.31234 R/VII0~1000 μm50 μm0071.08.31234 R/VIII0~1500 μm50 μm

TT30超声波测厚仪TT30超声波测厚仪超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

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erichsen433湿膜测厚仪erichsen433湿膜测厚仪可在任何表面上进行。因为全部机械式，故可适用于玻璃、木材、金属或塑料基材。 433湿膜测厚仪每片有4种测量范围：5-100微米，100-300微米，300-700微米以及700-1500微米，不锈钢制造，精度高。 符合 ISO 2808，BS 3900:C5 标准。技术指标： 5~100 μm ( 分刻度 5 μm) 100~300 μm ( 分刻度 10 μm) 300~700 μm ( 分刻度 20 μm) 700~1500 μm ( 分刻度 40 μm)

FERVID沣汭反渗透设备玻璃钢膜壳F80-300SFERVID沣汭反渗透设备玻璃钢膜壳F80-300S

顺德区全钢木实验台玻璃钢通风柜试验室家具工厂定做实验台台面 1、上箱部分：（1）柜体：采用1.2mm的冷轧镀锌钢板，表面环氧树脂粉末喷涂，耐酸碱腐蚀。可拆卸设计，方便照明、水电、通风管道等的维修；（2）前面板、下导流板：采用不锈钢板加工制作；（3）内衬板、导流板：采用厚度为6mm的抗贝特板材制作，导流板设计使柜内无排风死角，各种比重气体均能顺利排出柜外。（4）视窗：为5mm厚钢化玻璃推拉门，可上下开启，可停留在位置，操作方便灵活；上下开启开幅为 650mm；（5）照明：在顶板上配置22w隐藏式T5灯，照度不小于450LUX。 (6)电源：配置高斯10A多功能插座。（7）触摸屏控制2、 台 面：采用耐强酸强碱的12.7mm厚实芯理化板台面，配置实验室专通风柜用PP杯槽及铜质单联水嘴。3、下箱部分：箱体：材质为1.2mm冷轧镀锌钢板，可拆卸组合设计，表面静电粉末喷涂。 4、排风系统： 风机：轴流风机，直径200mmPVC管线。不易脱落，。

Memshell宇星80S300玻璃钢膜壳端板侧开口密封圈组件　反渗透膜壳端盖生产厂家-专业的综合玻璃膜壳配件网站，为您提供正品低价的膜壳配件选择、优质便捷的服务体验。反渗透膜壳配件配件分为：膜壳端盖总成、膜壳进水端盖、膜壳出水端盖、承压板、支撑板、密封板、承压头、大密封圈、小密封圈、适配器、推力环、止推环、挡块、挡圈、紧固螺母、安全螺栓、螺丝、丝堵、管堵、堵头、膜壳侧开口、侧开口密封圈、侧开口坐垫、DN40考贝林密封圈、304不锈钢拆卸工具、拉反渗透RO膜工具、反渗透探针等，满足用户各种需求　　Memshell宇星玻璃膜壳端盖80S300密封板　　品牌：Memshell宇星　　产品类别：玻璃膜壳端盖配件　　产品型号：80S300　　产品名称：密封板　　产品别名：密封端板　　配件编号：810　　产品材质：ABS+15%GF　　材质特点：ABS+GF玻璃纤维可以作为增强剂，可以提高ABS的拉伸强度，弯曲强度以及压缩强度，从而使产品的品质大大提高。　　Memshell宇星玻璃膜壳端盖80S300密封板　　Memshell系列玻璃钢压力容器经过技术人员多年的潜心研发,性能已达到国际同类产品的先进水平.Memshell产品开口方式拥有端开、侧开、多开口 工作压力75PSI-1000PSI 直径2.5"、4"、8" 内装膜元件1-7节 适用于Filmtec、Hydranautics、Desal、Koch、CSM、TORAY等多种标准膜元件。目前产品已经广泛应用于电子、电力、冶金、化工、医药、仪器、工业污水及废水处理,海水淡化和苦咸水淡化等领域。Memshell宇星80S300玻璃钢膜壳端板侧开口密封圈组件

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聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

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具体的尺寸规格和技术要求由客户提供,保证石英玻璃产品质量! 石英管或石英板、棒等材料进过车床综合加工中心数道工艺定制加工各类形状石英仪器和石英制品等（来图来样定制加工制作）！ 石英玻璃缸，石英缸，石英方缸，石英方盒，半导体(石英晶舟，炉管，清洗槽)、微电子（石英氧化炉管、磨口扩散炉管、烧结炉管、反应管、石英棒槽舟、石英舟车、船形石英舟、半圆舟、平板舟等。石英刻槽、清洗花蓝、圆形筛底清洗花蓝、清洗用石英方缸、方形石英杯等。石英料瓶、各种石英源瓶、石英鼓泡瓶等。石英纯水加热器、石英勾）、光电、太阳能（吸笔、废液瓶、源瓶、隔热包块、扩散管、石英舟、PECVD管以及炉体保温管）、化工（石英烧杯、烧瓶、三角瓶、球形烧瓶、容量瓶、球形冷仪器、蛇形冷仪器、蒸馏器。高纯水卧式蒸馏器、高纯水二次蒸馏器、园底蒸发皿、平底蒸发皿、试管、表面皿、三角漏斗、分液漏斗）等行业用石英玻璃制品，专业生产各类半导体石英制具，根据客户要求定制加工。 透明石英玻璃比不透明石英玻璃具有更好的化学稳定性，这是因为后者由于气泡的存在暴露在腐蚀液中的表面积增加所致。 石英玻璃由于具有上述优良的理化性能，因此被广泛的应用于点光源，半导体，光通信，军工，建材，化学，机械，电力，环保等各个领域。

超声波测厚仪DM4Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

PosiTest DFT 测厚仪以下行业使用效果理想粉末涂料涂装员涂层检测员涂装承包商汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材)Combo(复合型针对所有金属基材)就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号PosiTest DFT Ferrous:测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层PosiTest DFT Combo:测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜，铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点测量快速，重复性好大部分材料上无需校准调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上无法调零时可使用方便的重启功能坚固耐磨损的红宝石探头测量时听觉和视觉的双重指示探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面密尔 / 微米单位转换每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格测量范围0 - 40 mils0 - 1000 um精 度± ( 0.1mils + 3%)± ( 2um + 3%)尺 寸4 × 1.5 × 0.9 in100 × 38 × 23mm重 量2.5 oz70 g 仪器包括内置探头，标准塑料片，坚固的存放盒，1 x AAA 电池，说明书 和 一年质保符合以下标准： ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍： 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品，质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数： 　 测量范围 0.6～300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 声速 1000～9999m/s 声速 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池，无背光时可使用200小时 操作温度 -10～50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535