波长型射线仪

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

求[font=none][size=20px]布鲁克X射线荧光光谱仪 波长色散型S8 TIGER操作规程，或者操作方法[/size][/font]

帕纳科的波长色散型X射线荧光光谱仪列入国家质检中心时需要检定或者校准吗？如需要的话哪一部分需要呢，具体在哪里可以检定或者校准呢？

一、分类： 按分光方法分类：平行法（平面晶体分光） 　　　　　　　　聚焦法（弯曲晶体分光） 按通道数量分类：单道扫描型 　　　　　　　　多道同时型（可以带扫描道，但选择性差）二、构成： 　 1、X射线发生器：①X射线管 ②高压发生器 ③冷却系统 ④保护系统2、分光系统： ①分光晶体（单道仪器有测角仪） ②狭缝（入射、出射） ③试样室 ④真空系统 ⑤温控系统 3、电学测量系统： ①探测器（计数管） ②放大器 ③波高分析器 ④计数管高压4、控制及数据处理单元： ①微处理器 ②计算机 ③打印机 三、主要部件说明：　　1.X射线管：　 　①　X光管是美国Ｖａｒｉａｎ公司和岛津公司联合研制的，岛津使用的是3KW的OEG-75H、OEG-76H及4KW的OEG-83J，X光管价值很高，是仪器的核心部件，对其冷却水的温度、压力、电导率都有严格的要求，其最佳冷却水温为22～24℃一般不能超过30℃。超过35℃使用寿命会大大降低。　 　②　X射线管的窗口只有75μm的铍（为了提高透射率），易碎、有剧毒，所以要特别小心。正常应该是Be窗有些内凹，若是平面则可能是内真空已经坏。③　电压、电流的选择：为了获得较高的强度，同时尽量避免其他谱线的干扰，一般工作电压取值为激发电压的3～5倍。一般在管功率要求下，首先选择最佳电压，然后尽可能选择最大电流。升电压及电流一定按要求一档一档的升　。④　管电压～管电流使用 1X射线管：4KW40KV～95ma一般情况下使用250 KV～75ma测定重元素26Fe～92U时效果好330 KV～130ma测定超轻元素4B～8O时效果好4X射线管：3KW40 KV～75ma一般情况下使用550 KV～55ma测定重元素26Fe～92U时效果好630 KV～95ma测定超轻元素4B～8O时效果好⑤　灯丝电流轰击靶面，只有少部分转化为辐射能，而绝大部分转化为热能，所以必须冷却。灯丝供电为12V、10A。灯丝电阻为0.2 Ω左右。 ⑥ 由于阴极与阳极之间的电压高达数万伏，所以要求冷却水必须很纯、导率很小。 ⑦　Ｘ射线管老化后出现问题：功率达不到要求，ｍＡ加不到预定值，且毫安表的指针摆动；会出现轻元素（ｃ、ｐ、ｓ、Ｓｉ、Ｍｇ）计数下降，重元素（Cu，BG）上升。可以用纯铜在电压固定的情况下改变电流，测量其强度，二者相关性应该是线性。射线管灯丝对地的电阻应该是无穷大，不过有的时候可能在50的时候也可以用，但是要长时间老化。靶对地（外壳）、灯丝对地（外壳）、灯丝对靶应该是1000MΩ或者∞（使用）MΩ级高阻表或者500V摇表。⑧　X光管在20KV、10mA的时候是最不稳定的，因可控硅调整在低点的时候比较困难，所以有时指针会摆动。属正常情况。2.分光晶体： ①定义：具有把Ｘ射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的晶体。 ②晶体应该具备的条件： 衍射强度大 应该适用于所测量的分析线 分辨率高 峰背比高 不产生附加发射和异常反射 热膨胀系数小、温度效应低。 经受Ｘ射线长期照射，稳定性好。 机械强度良好 容易加工③常用晶体：LiF PET （Si Al） Ge (P) NaCl TAP(Mg Na F)　　　　　　其中TAP　PET　NaCl 晶体容易损坏；特别是NaCl容易潮解。TAP　PET　的使用寿命一般为5—6年，因为太硬，容易出现裂纹，一般不影响使用，但翘起来的时候就不能用了。 ④晶体分光原理：晶体按布喇格公式使平行光束发生色散：ｎλ＝2ｄSinθ 应该尽可能的选择较小的2ｄ值，使得待测的最短波长的衍射角2θ较小。 ⑤分辨率：晶体分开或辨别波长几乎相同的两条谱线的能力。　 ⑥晶体实用2θ角度为10～100 因为晶体和探测器使用机械方法耦合的，因此探测到的位置始终是2θ角。由于机械配置原因,使用分析角度为10～100 ▲晶体的清洗：LiF、Ge、Lsa使用二甲苯清洗；PET、TAP使用丙酮清洗（但是二者表面镀有C，为了防止潮解，有些凹凸，使用的时候不要擦掉，洗后就会失去，容易损坏。另外，清洗时应该在容器中来回移动，一般不要擦）

请问帕纳科[font=helvetica, arial, sans-serif][size=12px]X’ Pert3 Powder的X射线波长是多少，做精修要用，如何像布鲁克测试数据中可以看到波长，谢谢了[/size][/font]

JJG (教委) 016-1996 波长色散型X射线荧光光谱仪检定规程[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=50925]JJG (教委) 016-1996 波长色散型X射线荧光光谱仪检定规程[/url]

大家好： 我们公司今年准备采购一大批仪器，包括红外、核磁、质谱、热分析、X射线衍射、X射线荧光、扫描电镜、原子吸收、ICP等，我负责调研X射线荧光光谱仪，目前，我们领导的意思是要购买波长色散型的XRF，请大家说说自己的仪器型号及使用心得。如果是仪器公司，请详细写明你的仪器型号及各部件的参数及报价。要说明的内容有： X射线管、高压发生器、通道面罩及准直器、分光晶体、探测器、测角仪、附件。我的邮箱：wangxd0725@163.com QQ:247906244

[em01] 请教各位如何测量荧光仪光管所发射的射线的波长？需要什么样品？该如何进行测量？

新的X 射线荧光光谱仪安装调试结束后, 需要对仪器的技术性能进行测试验收, 仪器经过一段时间运行, 由于维修或其他原因使仪器状态发生变化时, 也需要对其性能进行测试。本实验室于1998 年购置了一台SRS3400 型X 射线荧光光谱仪, 合同中规定按澳大利亚关于波长色散型X 射线荧光光谱仪精密度测试的标准方法[ 1 ]验收, 仪器调试完毕即按该标准进行技术性能测试, 获得了令人满意的结果, 验收合格后, 按中国国家计量检定规程[ 2 ]进行计量检定, 通过了CC IBLAC 认可委员会的现场评审。澳大利亚标准包括4 个方面: 1、测试的频率 2、计数器测试, 包括分辨率和流气计数器窗膜的导电率 3、光谱仪精密度测试, 包括各个部件的到位精密度和仪器的稳定性 4、确定计数器的死时间。国家计量检定规程包括外观和技术性能两部分, 技术性能指仪器的精密度和稳定性, 计数器的计数率、分辨率和计数线性, 与澳大利亚标准在很多方面是相似的, 考虑到计数器的死时间已在仪器出厂前由仪器公司设定, 故本文主要介绍计数器性能和仪器的精密度与稳定性测试方法。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77584]波长色散X射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍[/url]

各位大侠，小弟最近投稿灌水一篇，审稿人建议：如果使用的X-射线波长是 0.15406 nm，那么采用的是Cu Kα1，而不是Cu Kα，因为Cu Kα是Cu Kα1和Cu Kα2的混合。请教各位大侠，Cu Kα和Cu Kα2的波长是多少？有什么讲究么？多谢各位啦……PS：审稿人的建议：If the wavelength of X-ray is 0.15406 nm, you have used CuK1, not CuK, which is a mixture of CuK1 and CuK2.

波长色散X射线荧光光谱仪能测量水泥中的fCaO吗？请教各位专家解答！

哪位老师有了解波长色散x射线荧光光谱仪校准/检定结果的不确定度评定的，帮忙梳理下，不确定度评哪个项目？

有想买波长色散X射线荧光仪，请大提供最新的产品及相关技术参数，各个厂商均可，请发出各自仪器的优点

[size=4]我09年毕业，现在做分析，公司要我做冰晶石的检测，需要一台波长色散X射线荧光光谱仪 我不知道怎么选购，求助大家给我点意见，做好能提供合适的仪器的品牌和型号，检测方法和标准我上传在附件，也工各位有用的学习下吧。先行谢谢各位！！！[/size][~196233~][~196234~]

日本研究人员近日利用X射线自由电子激光装置成功发射出波长仅0.12纳米的X射线激光，刷新了这种激光最短波长的世界纪录。　　根据日本理化研究所和高辉度光科学研究中心联合发布的新闻公报，来自这两家机构的研究人员利用建在兵库县的X射线自由电子激光装置发出了波长仅0.12纳米的X射线激光，打破了美国的直线加速器相干光源于2009年4月创下的0.15纳米的最短波长世界纪录。　　公报说，研究人员将X射线自由电子激光装置的监视器、电磁石等硬件，以及精密控制各种仪器的软件都按最佳设计进行了彻底调整，从2月底装置运转开始，仅用了3个多月时间就发射出了世界最短波长的X射线激光。而当年美国的调整过程花费了几年时间。　　X射线激光的波长小于1纳米，它被看作能给原子世界照相的“梦幻之光”。在从基础研究到应用开发的广阔领域，比如膜蛋白的结构分析、纳米技术等领域，X射线激光的应用前景都被看好。（科技日报）

假设 有一除了SiO2就是ZrO2的样品和一除了Al2O3就是ZrO2样品，他们用波长色散X射线荧光光谱仪测定，在同一个方法下测定，哪个样品中ZrO2的值会测的高一些（假设在两个样品中ZrO2的真实含量一样），紧紧从理论上分析原因。欢迎各位大虾不吝赐教！！！！

一、分类：按分光方法分类：平行法（平面晶体分光）　　　　　　　　聚焦法（弯曲晶体分光）按通道数量分类：单道扫描型　　　　　　　　多道同时型（可以带扫描道，但选择性差）二、构成：1、X射线发生器：①X射线管②高压发生器③冷却系统④保护系统2、分光系统：①分光晶体（单道仪器有测角仪）②狭缝（入射、出射）③试样室④真空系统⑤温控系统3、电学测量系统：①探测器（计数管）②放大器③波高分析器④计数管高压4、控制及数据处理单元：①微处理器②计算机③打印机 三、主要部件说明：1.X射线管：①　X光管是美国Ｖａｒｉａｎ公司和岛津公司联合研制的，岛津使用的是3KW的OEG-75H、OEG-76H及4KW的OEG-83J，X光管价值很高，是仪器的核心部件，对其冷却水的温度、压力、电导率都有严格的要求，其最佳冷却水温为22～24℃，一般不能超过30℃。超过35℃X光管的使用寿命会大大降低。②　X射线管的铍窗厚度只有75μm（为了提高透射率），易碎、有剧毒，所以要特别小心。正常应该是Be窗有些内凹，若是平面则可能是内部真空已经损坏。③　电压、电流的选择：为了获得较高的强度，同时尽量避免其他谱线的干扰，一般工作电压取值为激发电压的3～5倍。一般在管功率要求下，首先选择最佳电压，然后尽可能选择最大电流。升电压及电流一定按要求一档一档的升。④　管电压～管电流使用：X[/size

X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类？

波长X射线荧光光谱仪怎么做复合肥检测啊？哪位大侠有相关文献啊 ？？/

哪位有旧的波长色散荧光分析仪的X射线管吗？功率3kW或4kW的，收。 Varex，帕纳科、布鲁克、热电、理学等都可

1 引言选择熔融制样作为XRF分析前处理手段往往需要加入脱模剂，脱模剂通常为含溴、碘等卤族元素的锂盐或铵盐，以溶液或固体的形式在配料阶段或熔融过程中加入，利用卤素不溶于硼酸锂盐的特性，降低熔融过程中熔体对坩埚壁的黏附，有利于样品在熔体中的均匀分布，并确保冷却后样片与模具可顺利剥离。溴、碘虽同为卤素，但脱模效果却有差异，前者挥发慢，效果持久，可用于含铜、镍等元素的样品，但样片中残留的溴对后续分析存在干扰；后者挥发快，残留低，干扰亦较小，但碘在高温下可能与样品中铜、镍等过渡元素反应，应用受限。溴对XRF分析干扰包括以下两部分：对Al、Rb等元素谱线的谱线重叠干扰；对Y、Sr、Mo、Nb等元素的吸收效应。谱线重叠干扰的处理相对简单，但对于后者则未见系统性的研究。 本研究通过对国家标准物质、元素氧化物的熔融制样条件实验，考察Br对待测元素响应的影响，总结规律，希望能为建立熔融制样方法提供帮助。2 实验部分2.1仪器与试剂 Axios max 波长色散X-射线荧光光谱仪(荷兰PANalytical公司)，最大功率4.0 KW，最大电压60 kV，最大电流160 mA，SST超尖锐陶瓷端窗(75 μm)铑靶X射线光管。SuperQ 5.1A软件。TNRY-01C型X荧光光谱分析专用全自动熔样机(洛阳特耐实验设备有限公司)。四硼酸锂/偏硼酸锂(m:m=12:22，67:33)混合熔剂(成都开飞高能)。溴化锂(分析纯，天津瑞金特)，以蒸馏水配制为50 g/L的溶液备用。2.2 实验方法 称取0.6000±0.0005 g样品，10.0000±0.0005 g混合熔剂于铂黄坩埚(Pt:Au=95:5)内，以玻棒搅匀，加入若干滴饱和溴化锂溶液。熔融条件如下：熔融温度1000 ℃，预熔时间300 s，熔样时间 300 s，静置30 s。样片自然冷却后，以Omnian程序分析，统计待测元素及Br谱线强度。 对部分难溶元素如Cr、Zr、Hf等，熔融温度升高至1100 ℃，预熔与熔样时间分别延长至[font='Times Ne

X射线衍射仪简称XRD（ X-ray diffractometer ），特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线荧光光谱仪简称XRF( X Ray Fluorescence )，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。　　波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行定性和定量分析。该仪器产生于50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到观注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。　　随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探测器以后，对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪(ED-XRF)，用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线(荧光)直接进入半导体探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析。　　由于普通能量色散X荧光采用低功率X射线管，又采用滤光片扣除背景和干扰，其背景偏高，分辨率偏小，使得应用范围受到限制，特别是在轻元素的分析受到限制。随之X射线偏振器的诞生，产生了一款新型的能量色散X荧光光谱仪，既偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF，再加上SDD探测器的使用，不仅提高了(相对使用正比计数管和Si(PIN)探测器的仪器)的分辨率，免去Si(Li)探测器使用液氮冷却的繁琐和危险，原来普通能量色散X荧光的轻元素检出限高，分辨率差的缺陷，又使得(相对波长色散X荧光用户)购买和使用X荧光仪器的成本大大减低，这使得偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF在分析领域的迅猛发展，越来越受到广泛关注。

新手问一个问题:请问波长散射型荧光光谱仪和能量散射型荧光光谱仪的区别？

请问波长散射型荧光光谱和能量散射型荧光光谱仪的区别是多少？

谁有《日本Mac Science公司M03XHF22型X射线衍射仪（Cu靶，波长 = 0.154056 nm，管压40kV，管流40mA)》使用说明书？最好是中文的。能共享一下啊？操作过程中遇到了Reset无反应的问题，期待你的援手！

Ｘ射线是由高能量粒子轰击原子所产生的电磁辐射，具有波粒二象性．电磁辐射的辐射能是由光子传输的，而光子所取的路径是由波动场引导．Ｘ射线的这种波粒二象性，可随不同的实验条件表现出来．显示其波动性有：以光速直线传播＼反射＼折射＼衍射＼偏振和相干散射；显示其微粒性有：光电吸收＼非相干散射＼气体电离和产生闪光等．此外，能量大于１．０２ＭeV时，可生成正负电子对．Ｘ射线波长范围在０．０１－１０nm之间，能量为１２４－０．１２４ＫeV．其短波段与r射线长波段相重叠，其长波则与真空紫外的短波段相重叠．应当指出光的波动理论和光的量子理论是彼此互补的．用电磁波解释光的传播方式，而用光量子解释光与物质作用时的能量交换方式，这两种形式是完全独立的，只有用这两种不同的理论方能全面认识Ｘ射线的本质．　　用Ｘ射线管辐照样品，是产生荧光Ｘ射线光谱的常用方法．Ｘ射线管产生的Ｘ射线很低时，只产生连续谱；当所加电压大于或等于Ｘ射线管的阳极材料激发电势时，特性Ｘ射线光谱即以叠加在连续谱上的形式出现．这种特征光谱的波长决定于Ｘ射线管的阳极材料．连续光谱与白色光相似，具有连续的一系列波长的Ｘ射线；特征Ｘ射线光谱与单色光相似，是若干具有一定波长而不连续的线状光谱，可称之为单色Ｘ射线．原级Ｘ射线谱强度分布随Ｘ射线管类型＼阳极材料＼Ｘ射线管所用的窗口材料（铍窗）的厚度＼焦斑形状＼施加电压和Ｘ射线管的出射角等条件而变．