射线光电谱仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术，可对大型样品进行原位，非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中，元素检测范围从Na到Am，即使在低于2keV或高于25keV时（例如Sn，Sb和Ba k激发）。测量头安装在电动机上，探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上，CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作，距离样品1厘米，同时由于监测系统的设置，该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器，同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面，并实时显示光谱和元素分布图，同时每一个像素点的光谱都被自动存储，报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图（左1图）。测量时间：30分钟，线扫描速度：20mm/s，准直器孔径2 mm，X射线管设置50 kV和100μA。从左2图：BaLα，PbLα，CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色，黄色，绿色，蓝色。

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲采样，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。图：鉴别萤石与方解石 左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels 右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。

仪器简介：软X射线光栅光谱仪 该系列的软X射线光栅光谱仪是McPherson公司最富盛名的产品，此类产品在全世界同步加速器以及核聚变研究方面的应用，已经成就了光谱测试领域的传奇，获得了一流科研院所用户的一致认可。 在这些光谱仪中，主要采用了掠入射光路设计，部分型号为经典的平场光谱仪。除主机外，还提供实验所需的周边附件，从而可以根据不同的实验需求，构成完整的测量系统。技术参数：波长范围光谱分辨率焦距长度 产品型号扫描功能多道检测功能光路设计1nm to 310nm0.018nm 1000mm248/310G有 有Grazing Incidence1nm to 90nm0.015nm1500mm 252/315有 有Grazing Incidence 1nm to 254nm 0.008nm2200mm247有 有Grazing Incidence1nm to 240nm 0.006nm3000mm249 有 有 Grazing Incidence1nm to 70nm0.002nm 10600mm 262无 有 Grazing Incidence1nm to 15nm0.007nm 70000mm 264有 无Grazing Incidence10nm to 170nm 0.05nm292mm251无有Flat Field Toroidal 1nm to 20nm0.02nm5649mm251MX无有Flat Field50nm to 320nm 0.1nm320mm343有 无 Toroidal

产品简介单次测量能谱可覆盖2到4kev用于在线光束表征的背散射模式研究材料样品的X射线发射谱能量分辨率为0.3eV设备结构紧凑且可移动TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断规格参数Topology/类型von Hamos能量范围2-4keV光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 真空兼容度10-6mbar (UHV version available)晶体定位闭环电控台滤光片插入单元可选数据接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制能力可根据需求定制应用 高次谐波光源的光子诊断，x射线自由电子激光，桌面x射线激光原位X射线发射谱测量

小型机载伽马射线光谱仪简介：D230A是一种轻型伽马射线光谱仪，专为小载荷无人机设计。研发的目的就是使其重量最小化而灵敏度最大化。D230A的主要应用是机载伽马射线。两种探测器的光谱分别积累和保存，扫描速率从1秒到1分钟可调。此外，在监测过程中，两种探测器最终形成的是一个互补的综合光谱。D230A是由位于前面板卡槽里的一个小型锂电池供电。充满电的电池可维持至少4小时的操作，并可快速更换。技术参数:探测器： 两个BGO晶体，体积104cm3，直径51 x 51 mm (2”x2”)，双碱阴PMT， 灵敏度2x160cps/MBq/m (Cs- 137)。 最大分辨率11.5%FWHM (661 keV)。 或两个NaI/T晶体，体积104cm3，直径51 x 51 mm (2”x2”)， 双碱阴PMT，最大分辨率 8% FWHM (661 keV).光谱仪：全数字2x1024通道，40Mhz 数字信号处理器，线性能量校正，反堆积，200 ns分辨率，每个检测器的最大吞吐 量为250 000 cps采样率：用户可选择最小每秒1次。每个光谱同时储存在单独的数据文件和总累积光谱中。能量范围：25 keV - 3000 keV显示：LCD 2 x 20个字符控制器：单按键操作数据存储：最小2x 20000个样本，包括GPS坐标的全光谱。 稳定光谱和系统消息日志。内存大小可扩展GPS：导航至-162 dBm和-148 dBm冷启动，精度2米通信：数据传输，远程控制和诊断:USB 2.0电源：可充电锂离子电池7.2V/2200 mAh （在20摄氏度下最少可工作4小时），外部充电器和电池组尺寸：145 mm x 78 mm x 260 mm重量：3.5 kg（2个BGO）环境：操作温度范围-10oC 到 +50oC IP-40级，无防尘、防水。

真空紫外 ～ 软X射线光谱仪总览 McPherson可提供掠入射极紫外光谱仪,C-T，S-N，正入射，平场掠入射，掠入射C-T等多种结构的光谱仪，满足不同的应用，覆盖红外 - 可见 - 紫外 - 真空紫外 - 极紫外 - 软X射线全波段。大多数光谱仪可以和Andor 真空紫外CCD相机配合使用，成为该波段的摄谱仪。同时，McPherson提供范围极为宽广的VUV - XUV 光源、真空内光学器件、真空快门、真空狭缝等等，并可组建完整的真空紫外光谱系统。 波长范围(nm)分辨率(nm)焦距(mm)型号结构扫描功能CCD/MCP适配成像超高真空（选项）30 - 2,2000.1200234/302像差矫正S-N●●●30 - 1,2000.05500235S-N●●●105 - 20,0000.04670207VC-T●●●●30 - 1,2000.0151,000205自动聚焦正入射●●●●30 - 1,2000.0251,000231S-N●●●105 - 20,0000.011,330209VC-T●●●●30 - 2500.0053,0002253自动聚焦正入射●●●●30 - 2500.0026,650265离面正入射●●●●1 - 3100.0181,000248/310罗兰圆掠入射●●●1 - 800.025,650251MX平场变栅距光栅掠入射●●8 - 1200.08800OP-XCT离面掠入射C-T●●●●8 - 1200.12,000XCT掠入射 C-T●●●●10 - 1700.05292251平场轮胎面光栅掠入射●●●离面掠入射C-T结构光谱仪234/302 S-N 结构光谱仪 XUV空心阴极光源真空紫外光谱测试系统

伟铭光电X-Ray检测设备X6000▋ 设备工作原理图 ▋ 设备优势1：X射线源采用全球顶尖的日本滨松Hamamatsu封闭式X光管，寿命长，免维护。2：X射线接收采用新一代韩国Rayence高清数字平板探测器，淘汰了影像增强器。3：自动导航窗口，想看哪里点哪里。4：载重15KG的420*420mm大载物台。5：可调速度的3个运动轴联动系统。6：可编辑检测程序实现大批量自动化检测，自动判断NG或OK。7：可选配360°旋转夹具，可以不同角度全方位观察产品。▋ 硬件参数 X射线源品牌日本滨松Hamamatsu类型封闭式、微焦斑管电压90kV管电流200μA焦斑尺寸5μm功能自动预热平板探测器品牌韩国Rayence有效面积58mm*54mm像素尺寸49.5μm分辨率1176*1104帧速30帧/秒碳纤维载物台平台尺寸420mm*420mm可检测区域400mm*400mm最大负荷15kg整机放大倍率几何倍率200X系统倍率1500X最快检测速度3秒/点尺寸长1100mm，宽1000mm，高1600mm净重1000kg电源AC110-220V 50/60HZ最大功率1300W工控电脑I3-7100 CPU, 4G RAM,240GB SSD显示器24寸HDMI显示器安全保障辐射泄露量无，国际标准：低于1微西弗。铅玻璃观察窗透明铅玻璃，隔离辐射以观察被测物体。前后门安全互锁一旦开门X光管立即断电，门开时无法开启X光。电磁安全门开关X光开启时自锁，无法开门。急停按钮位于操作位旁，按下立刻断电。X光管保护关闭X光后，才可以离开软件进行其他操作。 ▋ 软件功能 功能模块操作方式键盘+鼠标完成所有操作。X光管控制鼠标点击按钮可开启或关闭X光，旁边显示实时管电压和管电流值，用户可点击上下按钮，或拖动滑动条，或手动输入调节。状态栏通过是否红绿色交替闪烁，提示互锁状态、预热状态和X光开关状态。图像效果调节可自由调节图像的亮度、对比度和增益，达到满意的效果。产品列表用户可储存当前的，或者调用以前储存的Z轴位置、亮度、对比度和增益等参数，下次检测同样产品可以直接调用，提高检测效率。导航窗相机拍摄平台照片后，点击照片任一位置，平台会移动直至画面显示该位置。运动轴状态显示实时坐标。检测结果按次序显示每次的测量结果（气泡比率、距离、面积等客户设置的测量项）。速度控制各轴移动速度可调整为慢速、常速和快速。气泡率测量自动计算点击两个点确定一个矩形，软件自动找到和测量矩形内的锡球边缘、焊盘和内部气泡，可得出锡球气泡率、锡球面积、周长、最大气泡比率、长、宽等数据，并以红绿两个颜色表示NG或者OK。调整参数用户可调整灰阶阀值，像素、对比度、大小过滤等参数，以得到自动计算的准确结果。手动添加气泡用户可画多边形或自由图形，作为气泡计算到气泡率内。储存参数用户可储存当前测量气泡的灰阶阀值，像素、对比度、大小过滤等参数，下次检测同样产品可以直接调用，提高检测效率。其他测量功能距离按需点击A、B两点设置为基准线，再点击C点，测量C点到基准线的垂直距离。距离比多用于测量电路板通孔过锡率，比测量距离多设置一个D点，以D点到基准线的垂直距离，除以C点的垂直距离，得出D占C的垂直距离的百分比率。角度按需点击A、B两点设置为基准线，再点击C点，测量BA和BC射线之间的夹角角度。圆形多用于测量锡球等圆形元器件，点击三个点确定一个圆形，测量出周长、面积和半径。方形多用于测量方形元器件，点击两个点确定一个方形，测量出长、宽和面积。自动检测手动设置位置用户可以设置平台上的任意位置作为检测点，软件将自动拍摄并保存图片。阵列对于有排列规律的检测点，用户只需要设置其中两个检测点和行列数量，软件将自动拍摄每个检测点并保存图片。自动识别对于有明显特征的检测点，软件可自动识别具体位置，进行测量，并保存图片。▋ 应用举例BGA连锡BGA气泡PCB通孔过锡IC气泡和金线LED焊接气泡LED金线断裂电容电感器感应器半导体放电管TSS玻璃纤维塑料线缆二极管钢管焊接缝隙汽车元器件

XUV光谱仪是新型的像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 单光栅（标准配置）可覆盖5-80nm测量范围技术参数波长范围5-2010-6025-80光源距离（m）0.4-0.60.5-1.5平场尺寸（mm）25.45050色散(nm/mm)0.5-0.70.7-1.10.9-1.3光谱分辨率（nm）0.060.090.110.02（CCD探测器）升级波长范围可拓展至1-5nm(搭配该范围光栅)探测器选择X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统光栅台电控工作环境10-6mbar操作性极易安装使用，用户自己即可安装使用?技术优势介绍：- Direct imaging of the source / Superior signal strengthIn contrast to conventional devices our XUV spectrometer does not require a narrow entrance aperture but rather images the harmonic source directly onto the detector. Thus 80% or more of the incoming beam can be used for measurement. Please see #!services/cihc for a sketch drawing.This configuration typically collects 15 to 25 times more light than standard versions, resulting in a signal-to-noise figure improved by the same ratio.In some experiments, this improved signal strength is the crucial step for realizing a measurement at all. - Flat-field imaging technologyOur instruments are based on high quality aberration-corrected flat-field gratings. In contrast to conventional gratings these focus all wavelengths onto a plane rather than a circle. This allows for positioning the entire detector in the focal plane of the grating for superior spectral resolution. - Compactness / ModularityThe spectrometer is very compact and can be bolted directly to a vacuum chamber. It is capable of carrying its own weight, no table required. There are no externally moving parts.Through its modular design, our spectrometer can be adapted to a number of configurations (source distance, spectral range, detectors, vacuum pumping, etc). This makes it highly flexible for varying requirements and experiments. - Robust against misalignmentThe compact design of the spectrometer makes it inherently insensitive against mechanical and environmental disturbances (vibrations, acoustics, etc). No externally moving parts and closed-loop grating actuators with absolute position monitoring add to the robustness and allow for monitoring of the grating alignment at all times.In addition, the concept of a spectrometer without entrance slit also makes the instrument less sensitive to misalignment. Under typical operating conditions a misalignment of the beam in the dispersion direction on the entrance of the spectrometer by 500um would lead to a signal reduction by more than 20% in an instrument with entrance slit while it is less than 10% for our design. - CustomizationThe adaptability of our XUV spectrometer makes it possible to highly custom-fit the device to requirements. Thus we offer to customize every spectrometer to exactly match the desired research application. This includes e.g. interfacing to experimental chambers, adaption of the source distance, integration of customer-supplied detectors, user-defined filter mounts, non-magnetic instruments, special mounting situations, etc. 典型客户：1） 苏黎世联邦理工学院2） The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH)3） MPQ4） Los Alamos5） Max Planck Institute

产品简介　　法国Damavan imaging提出时间成像是伽马射线成像的新概念，它利用每个闪烁事件的光和时间分布来精确定位空间（X，Y，Z），时间（T）中的每个闪烁事件以及它的能量（E）。　　这种新的成像概念可以使每个体素大小（1x1x2mm）的闪烁事件提高一个数量级。　　Temporalδ伽马射线成像谱仪是率先使用这个新概念的设备。这款便携式版本的伽马射线成像谱仪带有一个CeBr3头，伽玛射线和可见光成像和主动温度控制。这个版本是专门用于能源300KeV- 2mev探测。Temporalδ伽马射线成像谱仪拥有市面上出色的角度分辨率(6°)和时间分辨率(300ps)。它也非常敏感，可以对自然的无线电元素成像并可以对扩展源进行良好的成像。　 性能特点　　Temporal δ伽马射线成像谱仪由便携式单元包括一个处理单元和一个探测器单元，可选配CZT配件。 　　-检测效率高, 1个校准过的探测器模块，由两个32x32毫米的CeBr3晶体组成 　　-成像能量动态范围宽，探测能量范围可达50KeV - 3MeV，能量分辨率1.5% 　　-高时间分辨率，时间巧合小于300ps 　　-高准确度，角分辨率可达1度 　　-低噪音水平 　　-高灵敏度　应用领域 　　-核废料管理 　　-核设施退役 　　-放射性化学 　　-医院的放射性安全 　　-环境监测、核查和预警 　　-剂量监测和预警 　　-安防、安保、海关、警察　技术参数光学成像视场78×104°degres flat field角分辨率10 degrees(full spectrum)6 degrees (energy gated)灵敏度0.03μR/h in 1hour1kBq @1m in 2 hours3μR/h 1mn闪烁晶体CeBr3时间分辨率300 ps @ 511keV能量分辨率7% @ 662keV能量范围100 keV—3 MeV(能谱分析)400keV-3MeV(辐射成像)电池续航4小时外置电池（重1.2kg）计数率限制1 mSv/h重量3.9kg尺寸21x29x16 cm电源110-220V (mains)工作温度-20°C ~ +50°C通讯方式Ethernet to laptopWifi in 2019　　图3 Temporal δ参数 *不含CZT配件下的参数　应用案例　　Temporalδ提供了一个电子准直的选项，它允许“关闭”一个强光源，只保留图像上的其他光源，因此，即使在强光源附近，也能拍出弱光源的清晰图像。　　下面的图片上,你可以看到一个桶的X射线图像和由Temporal δ对相同的桶进行伽马射线成像效果。　　1332 KeV (60Co)在X光图像上，你可以看到有两个桶，一个小桶在大桶里面。　　在伽玛图像上，所有能量都有3 +1个区域：　　-A中正在扩散的强烈放射源；　　-B处的轮廓揭示了中小桶结构的扩散；　　-C微弱的扩散区域，可能对应于小桶上的玻璃棉（在X射线图像上也可见）；　　-D高能光子散布在环境中的密集部分上　　基于能量1332 KeV的伽马图像显示，右下角（区域A）的强光源对应于60Co。同时也可以在此伽马图像中看到小桶的轮廓，这是在小桶实体上散射了光子。

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS）X射线衍射仪行业领军品牌仪器功能：X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。核心优势：最高光通量产品：光子通量高于1000000光子/秒/ev，采谱效率数倍于其他产品，获得和同步辐射一样的数据质量；优异的稳定性：光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移50meV 1%探测极限： 高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量1%时依旧获得高质量EXAFS数据产品应用：新能源：燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。催化： 纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等， 以及含量极低的元素的近邻结构。材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究， 放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学：广泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析；动植物组织等样品分析；重金属污染检测等。

伽马射线成像谱仪产品介绍： 伽马射线成像谱仪是一款快速，便捷，易用的成像谱仪，可用于核电站常规检测及维护，退役反应堆的检测 紧急情况、突发事故和停机期的检测，还可用于环保领域的核源检测等。光谱性能可与低温冷却检测仪相媲美，实现同位素成像。产品特点：快速，便捷，易用的成像谱仪：快速识别和定位主要同位素 实时能谱、识别和成像 在662keV半高宽能量分辨率优于1%能量量程高达3MeV ,涵盖主要同位素使用像素化CZT探测器，成像效率业界领头准确叠加伽马线成像和光学成像点源和分布源成像从开机到使用2分钟20秒内从天然本底中探测并识別同位素轻巧便捷集成测距仪功能气密防水，易于清洁实时剂量计自动生成检测、成像报告附送年检和软件升级技术参数：尺寸24cmx9cmxl8cm(加支架尺寸：37.5cmxl2cmx21cm)重量3.5kg(加支架重量：5kg)电池使用时间 6小时（23°C的环境下） 3小时（在低于一20°C或高于S0°C的环境下）工作电源100—240V , 47-63HZ工作温度一20°C-S0°C储存温度一20oC-60oC异物防护等级IP6S (更换风扇IP67 )三脚架W _20(加强螺纹）3/8" -16 (仅用支架）冷却系统专用外置散热片和风扇能量分辨率Sl.l% FWHM ( 662 keV的半高宽时）光学成像视扬162°横向，122°纵向辐射成像视扬4ti ( 360。）角度精度全4ti角±1°源定位精度（实时处理）角度分辨率~30°FWHM全4n角（实时处理）-2CTFWHM全4n角（后期处理）成像灵敏度探测，R/hrl37Cs用时少于16秒（能谱）定位~3MR/hrl37Cs用时少于90秒能量量程50keV - 3MeV (能谱）250keV-3MeV (成像）探测器晶体体积19.4cm3 CZT ( CdZnTe )最大计数率自然环境下为〇.5rem/hr ( 5mSv/h「）同位素库3573ENDF同位素库启动时间2分钟显示7” 1280x800HD平板电脑通讯连接通过WiFi ,蓝牙或有线连接其他连接以太网RJ45端口TCP/IP 视图能谱、伽马成像、光学成像、复合成像

小型X射线光管 我们的M25, M47, M54和M237微型x射线光管是精密x射线发生器，专为需要小尺寸和低功耗的应用而设计。该源包括一个微型密封x射线管与传输型端窗和高压电源封装在一个单一的辐射屏蔽单元。光源是专门设计用于手持式，便携式或台式x射线仪器的组件。小型X射线光管特点：紧凑的设计-理想的手持，便携式和台式仪器低功耗-兼容电池操作易于操作-模拟控制接口集成设计-无高压电缆加工金属外壳-精密安装和校准x射线Omnishield&trade - 360度轻重量辐射屏蔽宽锥角- 110度全宽x射线锥角螺纹适配器准直应用-可选小型X射线光管应用：◆ X射线荧光分析（XRF）◆ 金属分选◆ OEM◆ 过程控制◆ 科研◆ 教学◆ X射线成像医学 小型X射线光管指标参数：M25M54M237M47Metal-ceramicMetal-ceramicMetal-ceramicMetal-ceramic5kV-50kV5kV-50kV35kV-70kV5kV-50kV0-200uA0-200uA5-200uA0-200uA4W4W10W10WTungsten filamentTungsten filamentTungsten filamentTungsten filamentBe，125umBe，125umBerylliumBe，125umTransmissionTransmissionTransmissionTransmissionAu，Ag，Rh，WAu，Ag，Rh，WAu，Ag，Rh，WAu，Ag，Rh，W2.4mm（see drawing）2.4mm（see drawing）2.4mm（see drawing）2.4mm（see drawing）110°（see drawing）110°（see drawing）110°（see drawing）110°（see drawing）5-12VDC5-12VDC11VDC11VDCGrounded anodeGrounded anodeGrounded anodeGrounded anode＜0.1%＜0.1%＜0.1%＜0.1%Silicone pottingSilicone pottingSilicone pottingSilicone pottingSelf-shieldedSelf-shieldedSelf-shieldedSelf-shielded -10 - 60℃ -10 - 60℃ -10 - 60℃ -10 - 60℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃Air cooLEDAir cooledAir cooledAir cooled90% max（non-condensing）90% max（non-condensing）30%-90%90% max（non-condensing）Approx，385gApprox，385g＜700gApprox，400g 另外，可提供X射线滤光片等器件，详情可咨询上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪（XRF）以来，已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司（前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部）一直坚持专业化的道路，领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解，围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面，把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年，第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技术，保证从铍（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测，第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路，阳极—样品—探测器之间距离短，信号损失少，保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.00005%，可靠性好。S8 TIGER 1kW，激发电流50mA，激发电压50kV，同级别中强度高。配有内部水冷机，不需要外部水冷机，插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW，激发电流150mA，激发电压60kV，强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW，激发电流170mA，激发电压60kV，市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管，设计功率4200W，设计电压75kV，设计电流200mA。独特的双路水冷系统，除阳极冷却外，光管头部增加特殊冷却回路，避免光管头部热量对样品的影响，提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板，避免蒸镀现象，光管强度不衰减。标配75 μm铍窗，HighSense光管50μm铍窗，强度提高15%，HighSense光管28μm铍窗，超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层，耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，其中：XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百；XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百；XS-C显著地降低了背景，提高信噪比30%；XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上；XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同，但是灵敏度提高了35%；XS-CEM人工多层膜晶体，测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性，没有PET晶体的潮解现象，没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象，没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体；XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%，提高S灵敏度20%以上；XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器，极快的死时间校正，即刻显示PHA扫描图，数字信号传输，线性范围高达4Mcps（线性偏差≤1%）。动态匹配TM功能，软件自动降低电流，使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制，测量更准确，低含量元素自动在满功率条件下测量，使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术，第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟，转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能，四重保护，保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护，使仪器的故障率低，维护成本少两个污染防护屏，分别保护光管和光谱室粉尘接收盘，收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗，保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样，转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题，光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度，这时就需要维修，或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积，增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中，光管的高压关闭，是完全没有X射线的。在执行这些操作时，光管的灯丝加热电流一直是通的，维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样，机械结构简单，零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动，避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单，不需要打开仪器，易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等，仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜，仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”，是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏，操作简单，无需 培训，仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件，在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器，可识别样品类型2.60位大样品杯进样器，适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器，机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于：高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下，根据元素的含量不同，每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3)，从放入样品到显示结果不超过2分钟，分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美，而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能，运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的，支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能，用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能，如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统，确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出，引导用户一步步完成，从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正（变动“理论α系数法”，计算每一个样品的校正系数），也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式，非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器，满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化，所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级，可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析，也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求，QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式，也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能，自动执行基体校正及不同类型样品（薄膜、无限厚或非无限厚样品）的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起，进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中，采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分，作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，您可以将整个状态存盘，发送给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件：采用先进的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。可分析多达15层（每层16个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件，可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析，以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件，是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案，采用熔片法制样，可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件，基于数百个国际参考样品建立的校准曲线，测量地质样品中微量、痕量元素，是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件，采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件，金属材料的解决方案，可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件，用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件，可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。

真空X射线荧光光谱仪A-550能够分析的元素范围从Na到U之间。通过配置了真空测试系统，增加了元素测试范围。同时配备了SDD探测器，对于各元素进行检测，减少元素间干扰。XRF光谱仪在对应不同的领域，又被称为：合金分析仪，矿石分析仪，水泥分析仪，土壤分析仪，贵金属分析仪，镀层分析仪，rohs分析仪等名字。应用领域：1.ROHS\无卤检测指令2.合金分析领域 （特别是轻元素） 锌铝合金成分分析、铝合金成分分析、铜合金牌号判定、成分分析、不锈钢成分分析。3 .镀层成分分析4.包装指令检测标准（94/62/EC) CD+PB+Hg+ Cr6 ＜1005.玩具指令检测标准6.矿石元素含量分析7.土壤及固废元素分析8.煤灰、石灰石、水泥、有色金属分析工作条件：● 工作温度：15-30℃ ● 相对湿度：40%～70% ● 电 源：AC :220V ±5V、技术性能及指标:1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；3. 测量时间：100-300秒(可调)；4. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 5. 能量分辨率为129±5电子伏特；6. 温度适应范围为15℃至30℃；7.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；产品特点1.A-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰2.整体结构化设计，仪器美观大方。3.采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。4.采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。5.一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。6.七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。7.多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。8.优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。9.独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。10.多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。11.专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。12.本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。13.独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。14.一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。15.抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 仪器硬件部分主要配置SDD电制冷探测器分辨率：145±5e电子伏特放大电路模块:对样品特征X射线进行探测，把探测采集的信息,进一步放大X射线激发装置: 灯丝电流输出MAX：1mA；属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时高压发射装置:电压输出MAX： 50KV；电压输出MIN: 5KV，可控调节自带电压过载保护一体化真空系统：具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统；几何抽速：60 L/min（50Hz）压力：6.7×10-2 Pa数字多道分析器: 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件；道数MAX： 4096；包含信号增强处理功能；光路过滤模块降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；将准直器与滤光处整合；准直器自动切换模块多达7种选择，口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。滤光片自动切换模块五种滤光片的自由选择和切换。准直器和滤光片的自由组合模块多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。工作曲线自动选择模块自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化。演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 专用软件针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。功能介绍※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调）※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作软件界面如下图所示：※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印※可同时显示多个光谱图※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然※独有的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 样品配置 标准样品用于制作工作曲线样品腔 开放式大样品腔：610mm×320mm×100×半封闭样品腔（抽真空时）：Φ100mm×h75mm 产品保修及售后服务 1 对客户方操作人员免费进行培训。2 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。（国外客户可协商解决）3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。4产品终身维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。5免费提供软件升级。6提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量≤15KG（不含电池）核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

产品简介hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。主要参数核心元件X射线光管光源von Hamos HAPG 光谱仪光子计数，像素化X射线探测器能量范围5-12keV样品浓度低至 数个质量百分比样品安装多样品转轮占地尺寸2.0m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能EXAFS 模式XANES 模式光谱分辨能力1800*4000*（*整个能量范围内不变）能量带宽1000eV300eV采集时间3分**8分钟**（**归一化分析物浓度）主要应用化学形态分析和浓度比复合物研究催化剂分析短程有序和键长确定测量结果Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

手持式X射线荧光光谱仪采用人机工程学设计，轻便小巧，可提供现场对样品的快速无损分析，采用高清高亮大尺寸电容触控显示屏，操作方便，野外和复杂作业环境适应性强。手持式X射线荧光光谱仪功能高度集成，仅1台仪器便可满足材料分析、ROHS检测、选矿分析、环保等领域应用，X射线荧光光谱仪内置GPS、WIFI、蓝牙等功能，可记录检测区位地理信息，可联机进行数据传输，具有远程协助技术支持功能。分析元素范围：从钠(Na)到铀(U)1.1 合金分析模式:合金中各元素的含量分析，各元素的精度能够达到0.01%,同时软件还有报牌号功能，可以准确显示出测量合金的牌号，可实现5秒定性、8秒准确定量分析。1.2 ROHS检测模式:针对ROSH检测开发的软件,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并显示测量结果，可自动保存测量报告。1.3土壤模式可同时测试Pb、As、Cr、Cu、Ni、Zn、Mn、Hg、Cd等重金属元素，检出限可达mg/Kg级别(以SiO2基体：Pb〈5mg/Kg、As〈3mg/Kg、Cr〈15mg/Kg、Cu〈10mg/Kg、Zn〈2mg/Kg、Ni〈5mg/Kg、Mn〈10mg/Kg，Hg〈1mg/Kg，Cd〈3mg/Kg)；1.4 水质分析模式可测试Na到U之间的元素，检出限可达mg/L级别(以水基体：Pb〈1mg/L、As〈0.5mg/L、Cr〈2mg/L、Cu〈1mg/L、Zn〈2mg/L、Ni〈1mg/L、Mn〈2mg/L，Hg〈1mg/L，Cd〈1mg/L)；2 检测分析时间：3－60秒（可调）；3 重复性：RSD4%；4激发源：50KV/200uA，Ag靶，端窗一体化微型X光管及高压电源，匹配功率≤4W；5探测器：采用美国进口的新款25mm2，0.3mil，fast-SDD硅漂移探测器，能量分辨率可达125eV，探测器使用电制冷技术，无需长时间及频繁等待制冷，4096高通道MCA多道脉冲分析器；6 高性能处理器和存储器：CPU:Intel四核处理器/1.33GHz,内存2G，数据硬盘32G；7屏幕显示：高性能5.5寸高清高亮液晶显示电容触摸屏，操作灵敏，可更好应对现场测试强光照射下的数据观测；8准直和滤光系统： 6种滤光片同准直器达可达18种组合自动切换；9 软件分析模式：合金分析模式、ROHS分析模式、土壤分析模式、水质分析模式（根据客户需要配置）；10 可自动存储测试结果，包含元素的种类、含量结果、及超标与否。储存数据及图谱超过10000组，可通过存储卡扩充容量，测试报告有EXCEL、BMP、PDF等格式，并可导出；11数据传输与处理：仪器可通过USB、WIFI、蓝牙联机传输数据或打印，同时可实现仪器与电脑屏幕同步使用等；12 开机密码保护，设置操作员和管理员两级操作权限，且仪器前部设置有样品感应装置，具空测时自动切断X射线源功能，确保使用人员安全；13 防辐射安全性：微型X光管整体化封装，仪器工作时X射线辐射剂量1μSV/h（提供CNAS认证第三方检测报告），可配置铅橡胶保护罩确保松散样品和小样品测试时的安全；14 分析数据自动统计功能：对多次测试可自动统计大值、小值，及标准偏差等；15 测试时间控制方式：具备扳机控制和软件控制模式操作仪器，也可实现USB与电脑连接操作等多种方式；16电池：可充电锂电池，容量6700mAh，充满电正常测试可使用6小时以上，仪器有电量显示功能；17内置GPS功能，可实时采集和记录测试区位的地理信息；18校准：随机配有标准校准片，进行能量校准后测试；19专业的软件功能，可实现谱图的比对放大缩小及导出功能，对各元素的特征能量总和进行独立计算，同时可依据客户要求设定固定测试报告模板，直接输出标准格式的测试报告，传输到打印机可实现现场数据的及时打印；20 仪器质量1.5Kg（含电池）；21 工作环境适应性：湿度-20℃～+50℃， 相对湿度＜90%；标样配置根据客户测量样品配备一款标样。（合金标样、RoHS标样、土壤标样等）标准附件AC220V充电器一个、EDX-P3600能量色散X荧光光谱仪一台

ARL PERFORM’X 顺序式 X射线荧光（XRF）光谱仪为实验室提供了一个先进的平台，用于快速、准确分析多达90种几乎在所有固体和液体样品中存在的元素,该技术具有如下优点：● 制样简单、快速● 样品整个表面、表面某一部分或特定点处的分析● 分析速度快● 稳定性高、精度高● 动态范围宽（从ppm 至100%）应用领域：地质、环境、石化、金属、矿物、水泥、玻璃等众多工业及科研领域ARL Perform’X 4200是Thermo Fisher Scientic公司2011年推出的顺序扫描型波长色散X射线荧光光谱仪，该仪器采用模块化结构，设计精巧、结构紧凑、稳定性高，是质量与过程控制和材料科学研究的最佳选择，其卓越的分析性能主要取决于下述技术特点：分析元素范围: Be-U(配备相应的晶体), O-U(标准配置).浓度范围: ppm-100%样品类型: 粉末压片, 熔融玻璃片，固体粉末及液体样品. 真空恒温光谱室保证分析的稳定性。温度是由差动加热/冷却系统控制，光谱室和晶体双温控系统，确保每块晶体的温度都控制在±0.1°C，保证分析数据的可靠性和稳定性。超薄Be窗(50um) 铑靶X射线管；最大功率4.2kW，最大电压60kV，最大电流120mA， 全元素有极好的灵敏度和分析精度。同一样品中不同元素可使用不同激发条件，自动转换管压、管流，转换时间短。降低电源消耗、增加X光管寿命的绿色模式。即当仪器要停止工作1小时或数小时时，X光管的电源在规定时间内自动减小到一种待机状态，当用户开始工作，所要求的工作条件会自动到达。第二代高稳定性固态高压发生器，功率4.2KW，最大电压60kV，最大电流120mA。最大线电压变化在–15% ~ +10%之间时，外电压每波动1%时，稳定性为±0.0001%。电压可在0-60KV之间选择，每步1KV；电流可在0-120mA选择，每步1mA。专利技术的超短距光学耦合设计（UCCO），使样品与阳极靶的距离更近，仪器的分析灵敏度提高20%。第六代莫尔条纹测角仪(ARL专利技术)，无齿轮磨损，由可编程微处理器控制，无需任何机械调整。探测器和晶体系统独立转动，由电子-光学读出器计算两个光栅系统干涉所产生的莫尔条纹来准确定位。在多任务模式中的微处理器保证晶体、准直器和两个探测器的快速和准确定位。这种测角仪是目前最先进的测角仪，并且Thermo Fisher Scientific已有了28年的使用和生产经验。测角仪最大定位速度4800° 2θ/分，定位时间短，比普通光学定位测角仪快2倍，比传统齿轮定位测角仪快4倍；最大连续扫描速度327°2θ/分角重现性 0.0002°：莫尔条纹测角仪由于没有机械磨损，定位精度高，并且彻底避免了普通测角仪因长期使用所产生的机械磨损使分析精度变差现象；9位置晶体交换器：双向旋转，最多装9块晶体；4位置的初级准直器交换器：标配4位准直器，细0.15°、中0.4°、粗1°和超粗2.5°，各元素均可在最佳的分辨率和强度下进行检测。6位初级滤光片：Al20, Al200, Al500, Al750, Cu250，使各元素的分析都具有最佳的峰背比！探测器：免维护的流气正比计数器（终身无需更换芯线）和闪烁计数器两个检测器，检测器的并联设计使光路更短以提高强度。高性能超薄窗(0.6um)流气正比计数器（节约P10气体，P10气流量2升/小时），轻元素检测效率高，全角可控制的角度扫描范围：0~153°/2θ。采用当代最先进的电子技术，仪器全部由微处理器控制。所有控制板上均装有微处理器，分别控制进样器、光谱室真空、温度、探测器、X光管及发生器、水冷、测角仪等，每隔几秒监测仪器的两百多个状态点，发现问题及时报警。可编程的内部双位自动进样系统：即第一个样品在分析状态时，第二个样品进入样品室进行预抽真空；待第一个样品分析完成退出时，第二个样品随即进入分析位置。这样不仅缩短了样品预处理时间，提高了测量速度。同时也避免了粉尘污染光谱室和晶体的可能性。可设置优先分析位置。样品位数：最多可放置112个样品的XY台，具有紧急样品优先分析位置。液体样品分析系统(选配项)，高效的氦气快门装置，确保在分析液体样品时光谱室处于真空环境，而样品室在氦气环境下，分析时流量小于1升每分钟，实现固体样品和液体样品分析环境快速切换（1.5分钟）。此外，在液样盒进入样品室之前，仪器自动识别。防溢出与除尘系统（选配）：分析粉末样品或液态样品是，可选配防溢出和除尘系统，对光谱仪进行实时安全防护！电动的安全闭锁装置，自动控制，结构简单，安全可靠。无需其他辅助设备。

【公司介绍】 科迈斯（深圳）科学仪器有限公司是一家集研发、生产、销售、服务为一体，专门研究便携式元素分析仪器的企业。我们的任务是提供耐久的、实地测试的手持式X射线荧光光谱仪。科迈斯仪器总部位于深圳，苏州设有分公司-科迈斯(苏州)科学仪器有限公司。分公司负责手持式XRF光谱仅软硬件研发、应用方法研究以及华东大区仪器的售前售后。 KMX-RAY科迈斯仪器一直以为客户打造款性能卓越的元素成分光谱检测仪为己任，坚持不懈地致力于提升手持式XRF光谱仪的各项性能，以此问馈客户的厚爱和支持。 KMX-RAY科迈斯仪器在全球便携式光谱应用领域创造了巨大的价值，自推出市场以来，以其操作简单，快速识别,新技术等优点，迅速得到客户的认可。在合金牌号识别、矿物探矿和冶炼、考古、有害元素分析、刑事侦查、禁毒、制药、土壤重金属检测、环境修复、食品安全、材料分析科研院所、大学机构等多行业大量应用。【为什么选择科迈斯光谱仪】卓越性能科迈斯光谱仪提供极好的轻元素 （镁、铝、硅、磷、硫）分析，检测限度低，且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料；或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。操作简单大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学科迈斯手持光谱仪轻便、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而疲劳度非常低。坚固耐用而拥有成本低符合IP54要求、防水、防尘的KMX-RAY可供室内外使用。其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理用户可以通过USB将数据方便、快速地导出到Excel表中，或通过打印机直接将数据打印出来。科迈斯K-8000手持式合金分析仪 产品参数重量净重1.50kg,上电池后1.65kg尺寸250mm*75mm*270mm(长*宽*高)激发源微型X射线光管与高压电源一体化装置标配:35KV固定高压、钨靶X射线光管、铝滤光片、无电机标配:50KV可变高压、铑靶X射线光管、6组滤光片、瑞士电机检测器标配:SI-PIN检测器(6mm2)，分辨率s190ev选配:SDD检测器(25mm² ) 分辨率≤129ev仪器电源可充电锂电池(7.2V\6600mAh) 标配2个电池1个充电器标准片KMX 316不锈钢校准片数据存储32GB大容量数据存储卡，可存储8万组数据及光谱图数据传输Type-C数据传输测试报告客户自定义格式EXCEL测试报表分析软件K-MAX Ally plus6.0,免费升级迭代软件仪器操作与安全仪器操作与安全操作:无需选择测试曲线开机即可测，一触式“扳机”或点击触摸屏“开始/停止” 安全:“一键式”检测,软件自动定时锁、自动停止测试功能 仪器外壳采用大面积铝合金框架设计，更好地屏蔽X射线辐射.分析元素范围标配Si-PIN探测器:(29种元素)钛 (Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf)、钽(Ta)、钨 (W)、铅(Pb)、铋(Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼 (Mo)、镉(cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼（Re)、铟 (In)、金 (Au)、银（Ag ）、铂(Pt)、钯(Pd)、钌(Ru)、铑 (Rh)、铱 (lr) 元素 选配SDD探测器:(34种元素)分析元素范围镁(Mg)、铝 (Al)、硅(Si)、硫(S)、磷 (P)、钛(Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁 (Fe) 、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf) 、钽(Ta)、钨(W)、铅(Pb)、铋 (Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼(Mo)、镉(Cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼 (Re)、铟 (ln)、金(Au)、银(Ag)、铂(Pt) 、钯(Pd)、钌(Ru)、铑(Rh) 、铱 (lr)元素 应用金属回收及未知材料 现场检测和快速分类，1-3 秒即可测出合金牌号和成分含量；常规钢材金牌号识别  快速 200、300、400、500、600 系列不锈钢及模具钢牌号；  铝合金牌号鉴定及成份分析，常见的 1-7 系列铝合金的分析。 高温合金牌号识别 GH2132、GH4169、GH3128、GH4145、GH3030、GH3039、GH4140、GH3600、 GH3625等系列合金。三元锂电池正极材料检测 NCM523、NCM622、NCM811 等材料。贵金属检测 快速检测：金、银、铂、铑、钯、钌、铱、锇等贵金属。科迈斯K-600手持式矿石分析仪规格表主要配置1、矿石分析仪主机1套 2、标准样品1个 3、原装可充电锂电池2块 4、充电座及电源线 5、U盘(32G)1个 6、加强型聚丙烯膜5片 7、标准手提防潮防震箱一只。标配模式矿石模式 选配模式：合金分析模式、土壤分析模式自诊断功能仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断，并会生成日志，便于快速排查出故障操作系统WindowCE 6.0操作系统，安全、放心测试方法基本参数法，支持经验系数法修正点触或扣动扳机控制测试开始，测试过程无需长扣扳机。根据客户需求，也可以一直按着扳机测试样品。滤光片配置8个滤光片，可根据测试元素自动切换 激发源大功率微型直板X射线管，W靶材，4W大功率X射线管，管电压50KV，电流最大可达100μA 采用KMX技术，更高X射线计数率，超低电子噪声设计。每次测试前，不需要外部标样，自动能量校准核查 探测器美国Moxtek Si-pin(6mm2)美国Amptek Si-pin(25mm2)德国KETEK SDD探测器检测元素可用于矿石、土壤环境中金属元素，Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。(红色为SDD探测器配置)应用检测元素:标准配置可检测30多种元素，同时可按客户需求增加检测元素专业性:矿石专用版分析软件，采用智能一键测试1.个性化定制工作模式多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加，根据客户需求定制工作模式。2.充分挖掘矿山价值高清摄像头，可对被检测的矿脉或矿点部位进行更直观的观察，并对开采过程进行精确管理和控制，随时检测矿石品位。3.对选矿过程中原矿、精矿和尾矿等进行精确快速分析为矿石品位的测定、矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据。4.环境监控对开采矿山周围土壤中的重金属进行监测和检测，评估矿山环境的修复情况，最大限度的监测好矿山周边的环境。科迈斯K-500手持式土壤重金属分析仪规格表重量主机:1.50kg，配电池后:1.65kg尺寸250mm x 75mmx270mm(长*宽*高)激发源大功率高性能X射线微型管靶材射线管靶材5种可选择金(Au)、银(Ag)、钨(W)、钽(Ta)，钯(Pd)电压35KV-50kv电压(电压可变)滤波器多种可选择的滤波器，根据不同的被测物自动调节探测器高分辨率SI-PIN探测器(可选配SDD探测器)探测器制冷温度Peltier效应半导体制冷系统标准片外置316标准片/窗口保护盖(可选配内置标准片plus版本)电源标配2块锂电池(7.2v\6600mAh)处理器高性能ARM脉冲处理器操作系统Windows CE6.0系统数据传输双向接口U盘(32G)软件标准模式K-MAX Alloy Plus 6.0数据处理32G大容量数据存储卡:≥8万组数据及光谱图显示屏高分辨率TFT工业级彩色高清触摸屏，具备人体工学，坚固、防尘、防水，任何光线条件下清晰可见外形设计一体化机身设计，坚固，防水、防尘、防冻、防振，在恶劣的环境中均可正常使用。安全操作“一键式”检测，软件自动定时锁、自动停止测试功能 判断测试窗前无样品时2秒内自动关闭X射线。仪器外壳3/2采用6061铝合金框架设计，更好的屏蔽X射线。结果报告输出客户自定义格式的测试报表分析元素同时检测汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等元素，可根据客户需求定制增加检测元素.应用*专业性重金属分析软件，采用智能一键测试和智能判断功能可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测，还可根据客户需求定制增加检测元素。*土壤重金属普查内置GPS功能，在野外可随时搜索卫星信号，确定取样点的地理位置信息，快速普查超大范围的土壤地质污染区，建立污染地图，实时监控各区域的污染情况。对各类农业用地、居住用地、商业用地、工业用地等级进行重金属污染环境评价。*土壤重金属污染后的应急处理常用于污染事件发生后的应急处理。能快速、现场追踪污染异常，有效寻找“污点”地带，圈定污染区域边界，进行实时勘察。*助力污染区土壤修复对污染地带进行等级划分，圈定重点土壤污染区，按照划分好的区域进行重点优选治理，提高筛查效率，并实时监控污染区的土壤修复情况。

仪器简介：BH1324B型微机多道X谱仪，是以BH1224型多道分析器卡为基础而改进 的新产品。它集高压、放大器和多道分析器卡为一体，通过RS-232串口电缆 与计算机连接，多道分析器本身受计算机制约的因素减少，为用户选择各种档 次、不同机型的计算机提供方便。配套的PHA18采集软件，在Win98操作系统 下运行。 　　该谱仪可测量X射线，供从事有关放射元素工作单位进行安全监督检查分 析。被测得的X射线以谱的形式在计算机上显示出来，通过软件进行分析。 　　该产品严格按照ISO9001质量体系进行质量控制。技术参数：1、系统的能量分辨率：＜65%（对239Pu） 2、系统的能量线性：≤±1%（60Kev～2.0Mev） 3、系统稳定性：≤±1%（8h）主要特点：工作环境 1、环境温度：+5℃～+35℃ 2、环境湿度：≤80%（30℃） 3、电源：交流220V±22V，50Hz±1Hz 成套设备 1、一体化多道分析器（含高压、放大器） 2、φ40×1mmX射线探头 3、通用γ谱仿真软件（PHA18） 4、计算机：当前市场的流行配置，标准配置为联想开天4600系列（可按户要求更换） 5、打印机：喷墨打印机Canon S100SP（可按用户要求更换）

PHIGENESISModel 900 for HAXPES无需溅射刻蚀的深度探索下一代透明发光材料使用直径约为10nm~50nm 的纳米量子点(QDs)，结合使用 XPS(Al Ka X射线)和 HAXPES(Cr Ka x射线)对同一微观特征区域进行分析，可以对 QDs 进行详细的深度结构分析。XPS 和HAXPES 的结合使用，可以对纳米颗粒进行深度分辨、定量和化学态分析，从而避免离子束溅射引起的损伤。 深层界面的分析在两种x射线源中，只有 Cr Ka XPs 能探测到 Y0,下方距离表面 14nm 处的 Cr层。拟合后的谱图确定了 Cr 的化学态。另外，通过比较，光电子起飞角90°和30°的 Cr Ka 谱图结果发现在较浅(表面灵敏度更高)的起飞角时，氧化物的强度较高，表明 Cr 氧化物处于 Y,0,和 Cr 层之间的界面。 内核电子的探测Cr Ka 提供了额外的 Al Ka 不能获取的内核电子基于 Cr Ka 的高能光电子，通常有多个额外的跃迁可用于分析。应用领域主要应用于电池、半导体、光伏、新能源、有机器件、纳米颗粒、催化剂、金属材料、聚合物、陶瓷等固体材料及器件领域。用于全固态电池、半导体、光伏、催化剂等领域的先进功能材料都是复杂的多组分材料，其研发依赖于化学结构到性能的不断优化。ULVAC-PHI，Inc.提供的全新表面分析仪器“PHI GENESIS” 全自动多功能扫描聚焦X射线光电子能谱仪，具有卓越性能、高自动化和灵活的扩展能力，可以满足客户的所有分析需求。PHI GENESIS 多功能 分析平台在各种研究领域的应用电池 AES/Transfer Vessel“LiPON/LiCoO 2 横截面的 pA-AES Li 化学成像”Li 基材料例如 LiPON，对电子束辐照敏感。 PHI GENESIS 提供的高灵敏度能量分析器可以在低束流（300pA）下快速获取 AES 化学成像。有机器件 UPS/LEIPS/GCIB使用 UPS/LEIPS 和 Ar-GCIB 测量能带结构(1)C60薄膜表面(2)C60薄膜表面清洁后(3)C60薄膜 /Au 界面(4)Au 表面通过 UPS/LEIPS 分析和 Ar-GCIB 深度剖析可以确定有机层的能级结构。半导体 XPS/HAXPES半导体器件通常由包含许多元素的复杂薄膜组成，它们的研发通常需要对界面处的化学态进行无损分析。为了从深层界面获取信息，例如栅极氧化膜下的 GaN，使用 HAXPES 是非常有必要的。微电子 HAXPES 微小焊锡点分析HAXPES 分析数据显示金属态Sn 的含量高于 XPS 分析数据，这是由于Sn 球表面被氧化，随着深度的加深，金属态Sn的含量越高，正好符合HAXPES 分析深度比 XPS 深的特点。

PHIGENESIS Model 900 for HAXPES无需溅射刻蚀的深度探索下一代透明发光材料使用直径约为10nm~50nm 的纳米量子点(QDs)，结合使用 XPS(Al Ka X射线)和 HAXPES(Cr Ka x射线)对同一微观特征区域进行分析，可以对 QDs 进行详细的深度结构分析。XPS 和HAXPES 的结合使用，可以对纳米颗粒进行深度分辨、定量和化学态分析，从而避免离子束溅射引起的损伤。 深层界面的分析 在两种x射线源中，只有 Cr Ka XPs 能探测到 Y0,下方距离表面 14nm 处的 Cr层。拟合后的谱图确定了 Cr 的化学态。另外，通过比较，光电子起飞角90°和30°的 Cr Ka 谱图结果发现在较浅(表面灵敏度更高)的起飞角时，氧化物的强度较高，表明 Cr 氧化物处于 Y,0,和 Cr 层之间的界面。 内核电子的探测Cr Ka 提供了额外的 Al Ka 不能获取的内核电子基于 Cr Ka 的高能光电子，通常有多个额外的跃迁可用于分析。应用领域 主要应用于电池、半导体、光伏、新能源、有机器件、纳米颗粒、催化剂、金属材料、聚合物、陶瓷等固体材料及器件领域。用于全固态电池、半导体、光伏、催化剂等领域的先进功能材料都是复杂的多组分材料，其研发依赖于化学结构到性能的不断优化。ULVAC-PHI，Inc.提供的全新表面分析仪器“PHI GENESIS” 全自动多功能扫描聚焦X射线光电子能谱仪，具有优越性能、高自动化和灵活的扩展能力，可以满足客户的所有分析需求。PHI GENESIS 多功能 分析平台在各种研究领域的应用电池 AES/Transfer Vessel“LiPON/LiCoO 2 横截面的 pA-AES Li 化学成像”Li 基材料例如 LiPON，对电子束辐照敏感。 PHI GENESIS 提供的高灵敏度能量分析器可以在低束流（300pA）下快速获取 AES 化学成像。有机器件 UPS/LEIPS/GCIB使用 UPS/LEIPS 和 Ar-GCIB 测量能带结构(1)C60薄膜表面(2)C60薄膜表面清洁后(3)C60薄膜 /Au 界面(4)Au 表面通过 UPS/LEIPS 分析和 Ar-GCIB 深度剖析可以确定有机层的能级结构。半导体 XPS/HAXPES半导体器件通常由包含许多元素的复杂薄膜组成，它们的研发通常需要对界面处的化学态进行无损分析。为了从深层界面获取信息，例如栅极氧化膜下的 GaN，使用 HAXPES 是非常有必要的。微电子 HAXPES 微小焊锡点分析HAXPES 分析数据显示金属态Sn 的含量高于 XPS 分析数据，这是由于Sn 球表面被氧化，随着深度的加深，金属态Sn的含量越高，正好符合HAXPES 分析深度比 XPS 深的特点。

仪器简介：PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

仪器特点（Characteristics） ? 轻元素的检测 ( Mg，Al，Si，P，S ) 不需要氦气装置或真空泵的辅助，方便的完成对铝合金，钛合金，铜合金等合金的分析；? 速度快，鉴别合金牌号只需1-2秒钟；? 精度高，接近实验室水平的分析精度；? 体积小，重量轻，仅1.3kg；? 可实现对现场材料进行完全无损的快速检测；? 提供可翻转、一体化、全天候的密封式彩色触摸屏，高强度、高密封性设计，防水及抗冲击性好，阳光直射等不利环境下的应用，直观，主菜单界面大图标显示，操作便捷；? 仪器直观显示合金牌号和元素成分百分比含量，其中某些元素的百分比含量可显示到小数点后三位；? 用户可自行编辑合金牌号库和添加合金牌号；? 可通过Internet实现软件升级；? 仪器无需外接PDA，抗电脑病毒能力强；随机配置 NDT 软件，可进行数据上传或下载，可编辑、输出PMI分析报告，可实现PC机远程控制；? 通过内置 USB 接口或蓝牙通讯设备，可直接向电脑或网络存储设备传输数据；? 采用80 MHz ASICS 数字信号处理器和双嵌入式数据芯片，分析数据和谱图的存储容量高达10000条（包括光谱图 ）；? 具有自动校准、诊断和故障报告功能；? 操作简便，即使是非技术人员也可轻松掌握当代技术；? 使用目前世界上处于先进水平的第三代锂离子充电电池；? 可选装小点瞄准分析模式，用户可在直径8mm和3mm间选择试样的检测面积，此项功能解决了焊点焊缝等小区域检测的问题，为国际首创。 可测元素（Analytical elements） Mg（镁），Si（硅），Al（铝），P（磷），S（硫）， Ti（钛），V（钒），Cr（铬），Mn（锰），Fe（铁），Co（钴），Ni（镍），Cu（铜），Zn（锌），Se（硒），Zr（锆），Nb（铌），Mo（钼），Hf（铪），Ta（钽），W（钨），Re（铼），Pb（铅），Bi（铋），Pd（钯），Ag（银），Sn（锡），Sb（锑）。Thermo Scientific Niton XL3t 980分析仪提供的合金化学成分可达30种常用的元素，几万个合金牌号，并且还可按需提供额外的元素。一个标准的系统所能精确分析的合金家族包括： ×不锈钢 ×锻铝合金，精铝合金，含硅/镁的铝合金 ×12Cr 钢 ×Zecor不锈钢合金，含有5-6%的硅 ×铬－钼（Cr-Mo）钢，含钒（V） ×钴合金 ×低合金钢，如4140，4340等 ×镍/钴合金 ×镍合金，如Hastelloy和Inconel ×锆合金 ×铜-镍合金，在Monel 500 中直接测定铝 ×锌合金，包括基于铝含量的锌合金 ×工具钢 ×大多数特种合金，如钽、铪、钨合金 ×铜合金，包括铝和硅青铜 ×镁合金 ×钛合金，包括铝含量的直接测定 可靠的校准和牌号鉴定 　　Thermo Scientific Niton分析仪的校准是一种基于精确基本参数（FP）的校准，快速而准确。 XL3t 980的基本参数（FP）分析运算法则包括几乎所有型号的金属合金在内的任何一个需要测定的元素，并且不需要特殊校准和其他输入。利用我们在金属工业领域内的广泛经验，已经将一个合金牌号库整合其中，它能在仪器的显示屏上同时显示出合金的通常牌号。通过采取一种与合金牌号规格的标明值结合起来的方法，XL3t 980分析仪提供了无与伦比的牌号鉴定的准确性。 应用范围 （Application Range ） 1．废料回收领域内的金属及合金的分拣、鉴别和分析（Scrap Sorting and Recycling） 　　人们通过使用手持式Thermo Scientific NitonXL3t 980分析仪，只需进行“点－射”的操作，仅通过一个简短的测试，合金等级和化学成分就出现在彩色显示屏上。用于常规分拣的测试时间通常少于一秒，几秒钟后就可获得实验室精度的化学成分数据。通常不需要制备样品，无需考虑形状或大小。 　　现在，有了先进的Thermo Scientific Niton XL3t 980 合金分析仪可以对大量旧技术不能严格区分的金属废料进行现场准确的的检测和快速分类。如在不需要氦气辅助的情况下，可轻松区分俄罗斯钛（含有大于1.5%Al铝）和纯钛的区别，以及黄铜（含少量有Al硒铝和Si硅）和电解铜区别，这对钛合金和铜合金贸易至关重要，如产生混淆，损失将不可估量。尼通公司是国际废料再生行业（ISRI ）和国际再生局（BIR ）的会员 2．石化工业领域的现场的材料鉴定（PMI，Positive Material Identification ） 　　对于在精炼厂和石化工厂的检验、安全和维护部门工作的工人来说，防止安装错误和不符规范的金属合金部件的产生是至关重要的。由于X射线荧光探测不具破坏性，并能提供直接的、准确的现场测试结果，所以现场手持式X射线荧光合金分析仪就成为了用于“合金鉴定（AV）”和“现场的材料鉴定（PMI）”的标准工业方法。现在有了Thermo Scientific Niton XL3t 980 这款在手持式XRF 技术上取得巨大进步的分析仪，结合了GOLDD 技术，使检验者可以从容应付。如在石化烃化厂中的管件由于流体加速腐蚀，Cr+Ni+Cu的总量必须小于2000PPM，XL3t 980能在10秒之内检测极限达到600PPM。尼通公司积极与美国无损检测协会（ASNT）和无损检测管理协会（NDTMA）等组织的合作 3．在制造业和金属制造业中的合金的质量控制（QA/QC, Quality Assurance and Control） 　　金属合金材料的鉴别，对于质量控制和质量保证是极其重要的。在制造或运输金属合金产品之前对材料进行验证，以确保将正确的材料送到用户那里并应用于正确的用途。使用了不正确或不符规格的金属合金，会导致不合格的部件产生，引起潜在的灾难性后果，付出昂贵的代价，使商业名誉受损，严重的更有可能引起人员伤亡。 　　现在有了Thermo Scientific Niton XL3t 980这个在手持式XRF技术上取得巨大进步的分析仪，质检人员可以在完全无损的条件下，精准的检测金属合金成品。操作简单而且快捷，即使是初级的检验员也能很有把握的对大量的样品进行检测。如轻松区分CDA642铝硅铜与电解铜之间7%铝与2%硅之间的差别。 4. RoHS检测应用于RoHS / WEEE、无卤检测、玩具及消费品的有害物质检测（Pb、Cd、Hg、Cr 、Br、Cl、As、Sb、Se、Ba 等）。优化了Cl，Cr 等元素的检测，大大缩短了检测时间，为企业的无卤分析等众多内控规范提供了便捷的检测方法。检测模式TestAll 模式：自动分辨材料是塑胶，合金, 油漆涂层等塑料模式（Plastic mode) 适用于 PE、PVC、陶瓷、橡胶等非金属材料合金模式（Alloy mode) 适用于合金、焊料以及金属制品等。玩具模式（Toy mode）专门用于玩具检测美国 CPSC HR 4040 法规 油漆涂层含铅量 μg / cm 单位检测4．其他l 流体加速腐蚀l 贵金属分析l 催化式排气净化器l 砂轮灰、烟囱灰分析 技术支持(Technical Support) 　　我们的销售和客服人员都定期接受美国 Thermo Scientific Niton 公司的技术培训，为客户提供售前、售中和售后的全方位技术支持。 　　由本公司美国Thermo Scientific Niton 技术服务中心执行对所售仪器的原厂保修。该技术服务中心是美国Thermo Scientific Niton 公司为顺应中国市场的迅速发展，于 2005 年初在上海成立的。旨在为广大中国客户以及各级代理商提供全方位的技术培训、咨询和技术服务以及对产品的售后保修 、维修 、保养和配件供应。

X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪，可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别，实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器(SDD) 结合在一起，能够为客户提供各种质量检验应用。借助 X-MET8000，您可在数秒内得到实验室质检结果，并降低检测成本，缩短检测时间。结构旨在经久耐用X-MET8000 具备 IP54 防护等级（相当于 NEMA3），有着卓越的防尘和防水性能。X-MET8000 具有耐冲击外壳，且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶，可有效防止受到撞击。采用大面积散热器，即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口（Expert 及 Optimum 型号的选购件）和高强度厚 Kapton 窗口（Smart 型号）可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。强大的数据管理功能可存储多达十万个检测结果，包括光谱谱图和样品图像（若配备相机）结果和报告可直接下载到 U 盘，或通过 USB 数据线传到PC 上，也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享；可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式，以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告（无需安装任何软件）。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用，您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。全面的、可自定义的牌号库X-MET8000 内含有最全面的牌号库：预安装的、用户可选的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改，添加新牌号（例如某个厂商或者产地特定牌号），或者创建自己的牌号库（例如特定的焊接材料牌号库）。预装牌号库包括：| 镍合金。| 不锈钢。| 铜合金。| 铝合金。| 钴合金。| 低合金钢。| 工具钢。| 钛合金。| 锆合金。

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

针对设备制造商的微型X射线光管产品特性：- 高电压供电；- 低功耗（仅需4W）；- 小尺寸（仅重340g）。可应用于：- 手持式XRF设备；- 台式XRF设备；- 实验室科研。 Mini-X-OEM系列产品是特制的精细型X射线发生器，专为需要小尺寸和低功耗的应用设计。该射线源由一个带有透射窗口端的微型密封X射线管与封装在辐射屏蔽体内的高压电源组成。该源专门针对利用X射线荧光光谱法（XRF）测量微量元素的台式或手持式光谱仪设计，可成为这些仪器设备的关键部件。 Mini-X-OEM不同于Amptek公司之前的Mini-X系列产品。后者的电压和电流可经由USB接口直接利用已有的PC软件控制，这样X射线荧光分析相关实验可以很容易开展；而前者，Mini-X-OEM产品则赋予用户更多的自主权，光管的电压和电流由用户设定的模拟电压信号来控制，这在台式和手持式OEM应用中是首选的方案，此时所有功能均由单台内置计算机控制。cha产品性能参数X射线光管光管类型金属陶瓷光管电压5 kV – 50 kV光管电流0 - 200 μA, 见下图2光管功率最大功率4 W阴极材料钨丝窗 口铍(Be)窗, 125 μm靶 材标准: Au, Ag or Rh(铑) 选配: W光斑大小大约 2 mm输出锥角120°, 见下图 3 和 4电源输入电压6到12V，直流输入电流6V直流输入时，电流典型值1.35 A，最大值1.5 A；12V直流输入时，电流典型值0.70 A，最大值0.75A。高压稳定度 0.1%物理特性安全辐射自屏蔽（输出窗口除外），输出窗口屏蔽需要客户配备。制 冷通过热传导，需要客户配备散热装置工作温度外壳温度（-10 °C ~60 °C ）湿 度30 to 90% (无冷凝)尺 寸请查看下面机械图（图1）重 量340 g安装方向任意方向引脚配置PIN 1V+, (6-12 VDC)PIN 2V+, (6-12 VDC Nom.)PIN 3接地PIN 4接地PIN 5光管电流控制(输入电压0-4V对应 0-200μA电流)PIN 6光管高压控制(输入电压0-4V对应0-50 KV高压)PIN 7灯丝准备指示(输出电压0-5V)，低电压表示未准备好，高电压表示已准备好。PIN 8光管启用开关(输出电压0-5V)，低电压表示关，高电压对应启用。PIN 9光管电压指示(输出电压0-4V对应0-50 KV高压)PIN 10光管电流指示(输出电压0-4 V对应0-200μA电流)图1. 针对设备制造商应用微型X射线光管机械尺寸图图2. Mini-X-OEM产品恒功率曲线（4W）图3. Mini-X-OEM产品不同角度响应，120度锥角图4.Mini-X-OEM产品锥角示意（120度）注意：当使用了2mm的准直器后，X射线的锥角为5度。注意： Mini-X-OEM仅是X射线仪器的一个关键部件。配备一个防止X射线辐射的安全金属外壳是使用该产品客户的责任。所有整机OEM生产厂商（开机即用产品）必须要符合当地政府规定的保护X射线使用人员的规范。Amptek公司不承担用户不正确使用本产品的责任。 这款Mini-X-OEM产品由牛顿科学公司（Newton Scientific Inc.）生产并提供一年或2000小时（以先到者为准）的质量保证。

对于普通的光学显微镜无法看到的物体，除了光学小伙伴们熟知的透射电子显微镜等仪器之外，还有其他方法，让体积更小的待测物更清晰可辨吗？ 日本西格玛光机株式会社的新品——透镜成像型X射线成像单元，或许能帮到很多人。 一、工作原理 透镜成像型X射线成像单元应用了类似于早期CRT电视机的成像原理，它能将不可见的X光照射到特殊的基板上，转换为可见光，从而连接物镜、透镜、CCD等，将X成像变为可能。 ?? 阴极射线管CRT电视机 ?? 阴极射线管CRT原理图 二、产品结构 ?? 产品图 ?? 结构示意图 三、产品特性 1. 透镜成像型X射线成像单元可以将入射的X射线图像通过闪烁器的荧光发射转换成可见图像，并放大成像的系统。 2.通过将闪烁体（LuAG:Ce）和基板（无添加LuAG）进行固相扩散接合，制备了光学特性高的薄膜闪烁器（最薄可达5μm），同时实现了抑制接合界面产生的光的散射、反射。 3.具有200nm Line&Space的高空间分辨率。 4.因为没有使用对X射线耐受性弱的粘结层，所以对X射线有很高的耐久性。 5.因为基板部分会遮蔽X射线，所以可以减小后段镜头的X射线损伤。 四、相关参数 五、闪耀体Q&A 闪耀体是什么材质的？有什么特点？ 闪烁陶瓷是一种广泛应用在医疗诊断用辐射探测器、工业无损探伤、核医学、高能物理等领域的新型功能陶瓷材料。 作为闪烁材料，必须具备：高的有效原子序数、高的光输出、快的衰减速度和优异的透光性。 稀上离子激活的Lu3Al5O12 (LuAG) 结构为立方石榴石结构，具有密度高(p=6.73g/cm3)和有效原子序数大(Zeff=62.9)等优点，并且具备优异的光学性能，良好的机械和热力学性能，能够容许高平均功率下工作。 能做闪耀体的LuAG 晶体有啥特性？ 1.LuAG 晶体为石榴石结构，属立方晶系，Ia3d 空间群，晶胞参数为1.1914nm , 由一些共顶点的四面体和八面体相连而成。 2.每个八面体和6 个四面体相连，每个四面体和4个八面体相连， Lu归占据着这些由四面体和八面体构成的十二面体网格的中心。 闪耀体应用在哪些领域？ 1. 在光电子器件、环境研究、阴极射线荧光粉、军事等方面具有重要的应用价值。 2. 对X射线吸收能力强，是理想的X射线探测材料。 3. 该晶体同时也是高能伽玛射线和带电粒子探测，紫外射线高空间分辨成像屏的一种理想选择。 六、是否可以定制？ ?? 闪耀体可单独销售； ?? 可安装配置C口相机； ?? 物镜放大倍率2.5X-100X； ?? 提示：使用大型照相机时，请另外准备支撑系统。 ?? 定制服务 可以配合量子效率，制作所列型号参数以外的外径和厚度的闪耀体。 作为日本西格玛光机株式会社的一级代理商，光谱时代也将为您提供更多相关产品及服务

WELL型高纯锗（HPGe）探测器伽马射线光谱仪产地：欧洲BSI简介：基于用液氮冷却的p型高纯度锗（HPGe）检测器的γ射线光谱仪被设计用于将伽马量子通量变换成电信号，并且 携带关于它们的能量的信息。特点：- 提供15% - 70%与更高效率HPGe孔型检测器- 提供90cm3 - 360cm3的灵敏度体积- 能量范围：20KeV - 10MeV- 孔材料：铝或碳纤维- 薄层提供Z佳效率- 根据应用提供内置或远程前置放大器- 4п几何测量- 低背景- 高能率，至200000MeV/s- Z佳峰值对称性&高分辨率- 如果检测器升温，HV提供保护- 高数率指示器- 低温改性应用：核能和环境控制、工业和科学研究、核医疗和其他应用中的伽马与X射线检测。液氮传感器和液位监测器：杜瓦瓶与液氮液位监测器完全分离,其通过16位LED指示器提供液氮水平的测量和指示，以校准在杜瓦瓶中的液氮体积的百分比。液氮液位监视器有内部蜂鸣器，当杜瓦瓶还有15%充满时，发出声音信号。 技术参数：型号相对效率%孔径正常体积（cc）能量分辨率FWHM122keVFWHM1332keVGWD-15 201510901.12.0GWD-15 2215161001.32.2GWD-20 2020101101.12.0GWD-20 2220161201.32.2GWD-25 2225101301.12.2GWD-25 2325161401.32.3GWD-30 2230101501.22.2GWD-30 2330161601.42.3GWD-35 2235101701.22.2GWD-35 2335161801.42.3GWD-40 2240101901.22.2GWD-40 2340162001.42.3GWD-60 2360102801.452.3GWD-70 2470103601.452.4GWD-70 2470163601.452.4下一页：MONOLIGH型高纯锗HPGe检测器