盈利模式分析

IPTV直播点播系统作为一款产品，对于运营者来说盈利方式是需要考虑的，在长期的市场接触以及对行业的了解基础上，点量软件了解到的盈利模式主要有广告收入和会员收费。那么这些详细来说的话细节呢？作为个人用户来说，我们都知道购买奇艺、优酷等视频网站的会员，套餐有包月、包季度、半年和一年的套餐，而这个在IPTV直播点播系统的运营中也是比较常见的，分不同的套餐购买。不过有时候会因为是IPTV直播和OTT点播也有所不同，除了常规的套餐外。IPTV直播还可以按照频道分类，比如开通VIP之后，可以有一些频道是都可以看的，而有些密码频道是是需要单独付费的，这个对于一些有吸引力的频道来说效果也是很好的，比如一些小语种频道。而OTT点播系统，除了常规的套餐外也可以仿效国内主流视频网站，可以对一些新上映的或者自由片源的点播资源，实行单独计费。以上介绍的会员体系盈利模式，是点量软件在对行业了解的基础上做的一些简单介绍，而作为一家软件技术支持公司，我们的优势是可以针对客户提出的其他方式，做定制化开发，所以如果您有其他想法关于IPTV系统，也可详细沟通交流。点量软件专注IPTV直播系统开发多年，尤其是在海外华人市场的部署和开发方面有丰富经验，目前我公司开发的OTT点播系统已在东南亚、美国、港澳台、澳洲等多个国家和地区良好运营，适配市场主流盒子系统。

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多模式X射线层析成像CT，是用于物质构件内部结构特征分析的重要科学仪器，应用一套扫描工作台，可以实现锥束扫描、螺旋扫描以及对板状物体的多种扫描模式，用于物质内部结构分析、材料构件应力状态分析；广泛应用于电子信息、材料科学、机械制造、航空航天、军工、考古等行业及国际民生和安全信息等领域。性能特点? 在线检测2D/3D在线智能识别判定；? 多模式扫描、多模式采集、多模式重建；? 阵列X射线探测器与多模式X射线层析成像分析仪高度集成? 多能量（微焦点、小焦点、大焦点）射线检测。创新优势物质内部结构分析、材料构件状态分析多模式X射线层析成像CT有着得天独厚的优势，已经成为高校研究机构、生产研发单位等的必备检测分析设备。多模式X射线层析成像CT，对相关学科科学研究具有重要科学意义，对相关产业新产品研发与质量检测同样具有重要的实用价值。多模式X射线层析成像CT为奥龙集团自主研发，先后获得国家科技部项目支持，承担国家重大科学仪器设备开发专项，并已成功通过验收。在线检测、在线智能识别判定对断层缺陷进行在线电子判读，在线连续动态成像。将人工智能识别技术与3D成像技术结合，自动识别被检测物内部缺陷位置、形态和类别。多模式扫描；多模式采集；多模式重建全角度锥束CT扫描重建 、螺旋锥束CT的扫描重建、平面CT的扫描重建、局部有限角CT扫描控制、双能谱扫描控制重建多能量（微焦点、小焦点、大焦点）射线检测针对工业各类形状的检测工件，不同行业要求进行多能量射线、多模式感知扫描检测。异型构件双能量扫描模式层析成像针对高密度、厚薄不均单材质异形金属工件，双能谱投影信息融合高动态CT重建

KiC-Motion将数字传感器系统引入到基本的人体运动模式上，根据受测者动作的基本运动、控制、稳定等方面的表现，能够快速、高效的进行运动模式筛查，根据测试结果可以快速的制定出受试者的基本运动能力，是制定运动训练计划的基本出发点。 功能性筛查FMS(Functional movement screen)是世界公认的简易有效的个体功能限制筛查方式，是用以检测运动员整体的动作控制稳定性、身体平衡能力、柔软度、以及本体感觉等能力的检测方式。通过生物链运动功能筛查，可科学识别个体的功能限制和不对称发展，对于物理治疗师、私人教练、竞技体育教练员或体能教练来说，功能性运动测试系统是一种简单的、量化的基础运动能力评价方法。 KiC-Motion作为全面数字化的动作筛查系统，将FMS测试分析标准化、自动化和智能化，将训练测试过程中发现的问题归纳量化，一键式生成报告，涵盖功能性动作、肌肉控制、神经系统稳定等方面的数据指标，保证测试筛查快速无遗漏。 产品特点 ü 运动自如，简单灵活的测试体验ü 辅助方案生成，训练计划更有针对性，效果更明显ü 测试过程全程数字化、智能化，测评结果清晰量化可追溯ü 完全无线数据传输，无电缆困扰ü 操作简单，易携带ü 测试过程简单，安装部署轻而易举ü 快速实时输出测试结果ü 视频记录辅助测评，可任意回放ü 一键生成运动分析报表，分析结果更加客观ü 可在室内或室外任意环境使用，无需实验室环境ü 后期维护简单，维护成本低 基本参数 ü 灵活性ü 稳定性ü 协调性ü 平衡能力ü 本体感觉 适用领域及机构运动康复、生物力学研究、人体工程学、体育科研、运动员选材、体能测试、体育竞技训练、私人教练工作室、健身房 垂询电话公司电话：手机：微信公众号：SAB运动康复

焊件在焊接过程中，热应力、相变应力、加工应力等超过屈服极限，以致冷却后焊件中留有未能消除的应力。这样，焊接冷却后的残余在焊件中的宏观应力称为残余焊接应力。焊接过程的不均匀温度场以及由它引起的局部塑性变形和比容不同的组织是产生焊接应力和变形的根本原因。确保高质量的焊缝并不是一件容易的事，因为在整个焊接区域上的快速加热和冷却会产生残余应力并改变淬火性能。因而，焊缝被识别为易于发生机械故障的关键部分。机械故障涉及负载，时间，材料，制造过程和环境的极其复杂的相互作用。焊接效果的结果应在结构设计中予以补偿。随着需求的增长，需要研究新材料。现代高强度钢存在问题，因为很难找到合适的填充材料。由于焊接材料的熔化，焊缝附近会发生微观结构变化。这导致了热影响区（HAZ）的发展。对于较高屈服强度的材料，HAZ可能导致较低的硬度和松弛的有益残余应力。这些问题可以通过选择正确的焊缝尺寸和类型来控制。由于焊接接头缺乏融合和咬边。这些缺陷可能会成为裂纹萌生的潜在场所。在较坏的情况下，由于快速加热和冷却，残余应力会发生变化，从而导致较高的应力集中和拉伸应力会显着降低疲劳强度。使用X射线衍射法的便携式焊接应力分析仪来测量焊缝上的残余应力是比较先进检测手段。测量中机器人进行移动，从而可以测量几乎任何形状或大小的样品的残余应力。焊缝表面上的典型残余应力分布图如下：焊缝中的残余应力通常是平行拉伸的，尤其是在焊缝横向的焊趾区域 。通过优化焊接程序和后处理，可以将热影响区的影响降到较低。 有许多不同的后处理方法可用：焊后热处理，TIG修整，锤击喷丸，毛刺磨削，高频机械冲击处理（HFMI）等。使用X射线衍射时测量深度很浅，距离表面只有几微米。为了进行更深的测量，还需要去除材料。 在不影响残余应力的情况下去除材料的一种方法是电抛光。 利用电抛光方法可以测量深度分布。 当X射线衍射和电抛光与机器人结合使用时，深度轮廓可以制成3D。便携式焊接应力分析仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪、便携式焊接应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

焊件在焊接过程中，热应力、相变应力、加工应力等超过屈服极限，以致冷却后焊件中留有未能消除的应力。这样，焊接冷却后的残余在焊件中的宏观应力称为残余焊接应力。焊接过程的不均匀温度场以及由它引起的局部塑性变形和比容不同的组织是产生焊接应力和变形的根本原因。确保高质量的焊缝并不是一件容易的事，因为在整个焊接区域上的快速加热和冷却会产生残余应力并改变淬火性能。因而，焊缝被识别为易于发生机械故障的关键部分。机械故障涉及负载，时间，材料，制造过程和环境的极其复杂的相互作用。焊接效果的结果应在结构设计中予以补偿。随着需求的增长，需要研究新材料。现代高强度钢存在问题，因为很难找到合适的填充材料。由于焊接材料的熔化，焊缝附近会发生微观结构变化。这导致了热影响区（HAZ）的发展。对于较高屈服强度的材料，HAZ可能导致较低的硬度和松弛的有益残余应力。这些问题可以通过选择正确的焊缝尺寸和类型来控制。由于焊接接头缺乏融合和咬边。这些缺陷可能会成为裂纹萌生的潜在场所。在较坏的情况下，由于快速加热和冷却，残余应力会发生变化，从而导致较高的应力集中和拉伸应力会显着降低疲劳强度。使用X射线衍射法的便携式焊接应力分析仪来测量焊缝上的残余应力是比较先进检测手段。测量中机器人进行移动，从而可以测量几乎任何形状或大小的样品的残余应力。焊缝表面上的典型残余应力分布图如下：焊缝中的残余应力通常是平行拉伸的，尤其是在焊缝横向的焊趾区域 。通过优化焊接程序和后处理，可以将热影响区的影响降到较低。 有许多不同的后处理方法可用：焊后热处理，TIG修整，锤击喷丸，毛刺磨削，高频机械冲击处理（HFMI）等。使用X射线衍射时测量深度很浅，距离表面只有几微米。为了进行更深的测量，还需要去除材料。 在不影响残余应力的情况下去除材料的一种方法是电抛光。 利用电抛光方法可以测量深度分布。 当X射线衍射和电抛光与机器人结合使用时，深度轮廓可以制成3D。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

高通量成像 、高度可重复性 样品辅助摆位--用于斑马鱼固定方向的成像 X,Y,Z 三维快速成像 可选配6通道LED 激发光源 精确控制样品位置、光源和环境模式生物高内涵成像筛选系统是专门为斑马鱼、果蝇等非完全静止的小型模式生物而设计的高效成像设备，该系统包括一个固定的样品室和移动的光学单元，能够避免样品的扰动、剪切应力等外界环境因素的影响。能够添加多达6个通道的LED激光和白光光源，对样本进行快速的明场和荧光成。 该筛选系统特别增加了温度和气体控制系统（选配），能够使模式生物在生存环境下进行拍摄，并保证充足的氧气，保证样本活性。温度控制范围从低于环境温度到40°C，循环制冷和加热系统，保证样品室内各点温度一致，最大化的降低温差。 标准化的硬件配置使您可以轻松地在多获得高度重复性的图像数据，而无需频繁的校准。我们的模式生物高内涵成像系统允许对多种大粒径模式生物及细胞样本进行成像，包括：• 斑马鱼• 果蝇• 酵母• 干细胞• 单层细胞• 类球体• 多细胞类器官 设备的主要技术参数硬件设计• 无摩擦电机技术提供最大的移动精度和可靠性• XY轴光学元件移动分辨率≈1 nm 编码器绝对分辨率：±1 μm• 精准的Z轴聚焦，移动范围 30 mm，成像分辨率 80 nm 整合台式系统• 非手动式操作，避免操作误差• 通过ACQUIFER成像应用程序完全控制所有操作，操作界面友好，操作简便 高级硬件控制系统• 嵌入实时控制器系统，确保设备无滞后运行，以很好性能优化开展实验 物 镜• 最多可从以下物镜中选择4个 激光器• 可选择多达6种通道的LED激光光源• 使用寿命:16000 h，在温度稳定的环境下具有光谱稳定性 专利的自动对焦技术• 软件自动对焦• 红外硬件自动对焦• 酵母实验的用户自定义对焦 成像个性化策略• 针对敏感样本配备了最佳的光学成像条件• 为不具有粘附性的生物个体提供了一个稳定的成像平台，不会因设备的移动而造成样本的损伤可选配孵育控制系统，可对成像平台的环境温度(20 - 40°C) ±0.2°C 进行长时程的精准控制 ACQUIFER 远程桌面远程桌面 (LoQin)• 可远程访问用户界面来设置和控制实验• 可远程通过开源软件和第三方软件进行设备控制更多资料，敬请来电咨询。请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造，是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能最全面，技术最先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部（Local）SPM扫描，又具备大尺度和高测量速度；既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌，又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸，诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理，在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。由于采用独特的缝合技术，无论怎样的表面形态、粗糙程度以及样品尺寸，一组m× n图像可以被缝合放大任何倍率，在高分辨率下创造一个大的视场，并获得所有的被测参数。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学，工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。随着微细加工技术的不断进步,微电路、微光学元件、微机械以及其它各种微结构不断出现，对微结构表面形貌测量系统的需求越发迫切, NanoMap-D所具备的双模式组合，结合了白光干涉非接触测量及SPM扫描探针高精度扫描成像于一体，克服了光学测量及扫描探针接触式的局限性，并具有操作方便等优点成功地保证了其在半导体器件，光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域的领先地位。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪经过广泛严格的检测，确保其作为测量仪器的标准性和权威性，并保证设备的各种功能完好，各个部件发挥出色。用NIST标准可以方便快捷地校验系统的精度，所校准用的标样为获得美国国家标准局( NIST) 的计量单位的认可。NanoMap-D配备的软件提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪主要功能及应用:多种测量功能精确定量的面积（空隙率，缺陷密度，磨损轮廓截面积等）、体积（孔深，点蚀，图案化表面，材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等）、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。薄/厚膜材料薄/厚膜沉积后测量其表面粗糙度和台阶高度,表面结构形貌, 例如太阳能电池产品的银导电胶线蚀刻沟槽深度, 光刻胶/软膜亚微米针尖半径选件和埃级别高度灵敏度结合，可测量沟槽深度形貌。材料表面粗糙度、波纹度和台阶高度特性分析软件可轻易计算40多种的表面参数，包括表面粗糙度和波纹度。计算涵盖二维或三维扫描模式。表面光滑度和曲率可从测量结果中计算曲率或区域曲率薄膜二维应力测量薄膜应力，能帮助优化工艺，防止破裂和黏附问题表面结构和尺寸分析无论是二维面积中的坡度和光滑度，波纹度和粗糙度，还是三维体积中的峰值数分布和承载比，本仪器都提供相应的多功能的计算分析方法。缺陷分析和评价先进的功能性检测表面特征，表面特征可由用户自定义。一旦检测到甚至细微特征，能在扫描的中心被定位和居中，从而优化缺陷评价和分析。其他仪器选择请点击亿诚恒达官方网站：

仪器简介：齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中，都会产生残余应力。有害的残余应力会降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等，从而缩短工件的寿命，甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。 芬兰品质应力分析仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，它以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，系统灵敏度高，适合测量的材料范围广，配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。芬兰品质应力分析仪软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何（侧倾法） ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围：117-170度 主机◆ 结构紧凑，小巧轻便 ◆ 全电脑控制 ◆ 各种安全锁 ◆ 密闭循环冷却系统，带强冷装置 ◆ 各种接口 探测器◆ 固态位敏正比计数器（MOS线性成像探测器） ◆ 灵敏度高，信噪比好 ◆ 角精度0.029°/像素, 512像素 ◆ 简洁紧凑，无需高压，功耗1mW 电 源100-240 VAC，50/60Hz 芬兰品质应力分析仪X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。

X射线残余应力分析仪，应力测定仪，应力测试仪X射线应力测定仪 主要技术参数:采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°；２θ扫描***小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6°X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。衍射几何：聚焦法准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量：10 kg***简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

仪器简介：仪器成套性： 专用导轨 前腔片架 示波器（用户自备）准直光源，He-Ne激光器 扫描干涉仪 光功率指示仪 半外腔氦氖激光管 锯齿波发生器 可调激光电源技术参数：仪器成套性： 专用导轨 前腔片架 示波器（用户自备）准直光源，He-Ne激光器 扫描干涉仪 光功率指示仪 半外腔氦氖激光管 锯齿波发生器 可调激光电源主要特点：特点：通过氦氖激光器的装调、腔长的变换、激光的模式变化，培养学生实验的动手能力；用最简洁的方法测氦氖激光器的发散角，使用共焦球面扫描干涉仪，让学生较直观的观察纵模和横模的频谱分布，加深对物理概念的理解。

仪器简介：在同一台仪器上，既可以采用湿法氧化，也可以采用高温燃烧技术对样品进行分析。这一独特的设计，使1030D能够在同一分析平台上实现两台仪器的功能，当客户对两种方法难以取舍时，1030D是最佳的选择。主要特点：● 极宽的操作范围，2ppb C到30，000ppm C● TC/TIC/TOC/NPOC/标准测量● 安全性和审核特性更为提高,满足CFR Title 21 Part 11的要求 ● 满足甚至超过美国和欧洲药典,USEPA,ASTM和Standard Methods的要求● 全自动分析液体和含有颗粒物样品的系统● 集成的基于Microsoft WindowsCE的接口和触摸屏控制● 可以配置用于实验室或过程分析● 直接连接到网络用于控制和监测● 扩展的操作范围以及功能更强的诊断工具,可选配电子流量控制● 可选的88位旋转式自动进样器, 带磁力搅拌功能，或者多达96位的XYZ自动进样器(均配置随机和优先权采样功能)

应力检测仪_残余应力分析仪_x射线应力测定仪 一、仪器用途: 本仪器依据中华人民共和国标准 GB7704--2008《X射线应力测定方法》，能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力（用“ + ”、“ － ”号分别表示拉、压应力）, 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。适用于各种金属材料经过各种工艺过程（如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理）制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作，又因轻便灵活而适于现场测量。 各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中,适当的残余应力可能成为零件强化的因素,不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷 在加工以后,残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。 一个构件残余应力状态如何，是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计，提高工艺效果，检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。 为了说明残余应力测试技术的应用场合，于此列举如下事例： 在现代机械工程中，由于焊接技术的进展，使许多巨大金属机构的制造成为可能，但随之而来的问题就包括如何测定并进而控制其残余应力的大小和分布。这是一个绝对不可掉以轻心的问题，它关系到工程的质量、寿命和安全。实际上，对于诸如球罐、塔器、轧辊、铁路、桥梁船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构件，以及航空、航天、核工业的有关设备，各有关部门都已把测定和控制残余应力的问题提到重要议事日程上来。 为了消除对构件带来不良影响的残余应力，传统的热时效方法还在普遍采用，而后来兴起的振动时效技术也正逐步形成推广应用的热潮。显然，检测构件时效前后，特别是振动时效前后各部位残余应力的变化，对于确定和正确掌握时效工艺是十分必要的。 为了提高某些零件的疲痨强度，材料强度专家们提出采用喷丸、滚压、表面热处理以及表面化学热处理等办法。就其强化机理而言，这里就包括 一个至关重要的因素──残余压应力的作用。因此，无损地测定零件表面残余应力对于确定和正确掌握强化工艺也是十分必要的。 近年来在轴承、轧辊、齿轮、弹簧等等行业已经把残余应力和残余奥氏体含量测定当作必检项目，用以控制产品质量。 机械设备的失效分析表明，应力腐蚀是导致零部件损伤和断裂事故的主要原因之一。其中，因焊接或其它工艺产生的残余拉应力所引起的事故占大多数。因此对于在腐蚀介质中工作的构件，残余应力是正或是负，以及绝对值的大小肯定是不容忽视的参数。 许多零件经过淬火、回火、磨削之后发现了裂纹。为了判定裂纹产生的主要原因，就必须分别研究热处理应力和磨削应力。 为了保证零部件形状尺寸的准确性和稳定性，也必须重视它的残余应力现状和变化趋势。凡要求精密之处，测定关键零部件的残余应力显然是非常重要的。 在各种无损测定残余应力的方法之中，X射线衍射法被公认为最可靠和最实用的。它原理成熟，方法完善，经历了七十余年的进程，在国内外广泛应用于机械工程和材料科学，取得了卓著成果。 X-射线应力测定仪是一种简化和实用化的X射线衍射装置，因而它还有一项重要的功能──测定钢中残余奥氏体含量。由于它适用于各种实体工件，而且能够针对同一点以不同的φ角、Ψ角进行测试,以探测织构的影响，这项功能便具备了重要而独特的用途。 采用TK-360-A型测角仪可以测定各种实体工件的织构。二、测量原理:测量原理基于X射线衍射理论。 当一束具有一定波长λ的X射线照射到多晶体上时，会在一定的角度2θ上接收到反射的X射线强度极大值（即所谓衍射峰），这便是X射线衍射现象（如左图所示）。X射线的波长λ、衍射晶面间距d和衍射角2θ之间遵从著名的布拉格定律： 2d Sinθ＝n λ （n＝1，2，3……） 在已知X射线波长λ的条件下，布拉格定律把宏观上可以测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定的关系。当材料中有应力σ存在时，其晶面间距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化，按照布拉格定律，衍射角2θ也 会相应改变。因此我们有可能通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 关于X射线应力测量原理还可以作如下进一步的解释： 众所周知，对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说，在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒， 其中必有许多晶粒，其指定的（h k l）晶面平行于试样表面，晶面法线与表面法线夹角ψ为0；也必有许多晶粒，其（h k l）晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先，如图A所示，以试样表面某点(o点)法线为轴，将一束适当波长的X光和探测器（计数管）对称地指向该点O，并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律，可以找到平行于试样表面的（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ 。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面，衍射晶面的法线必在扫描平面内，并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住，此时扫描平面与试样表面垂直，衍射晶面与试样表面平行，ψ＝0（如图B）。然后，扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个ψ角（如图C），同样也可以得到（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ ，这时，衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ 在无应力状态下，对于同一族晶面（h k l）来说，无论它居何方位，即无论ψ角等于何值，晶面间距d均相等；根据布拉格定律，相应的衍射角2θ也应相等。当有应力存在时，譬如沿图中OX方向存在拉应力，则平行于表面（即ψ＝0）的（h k l）晶面，其间距d会因泊松比的关系而缩小（见图B）；随着ψ角的增大，晶面间距d会因拉应力的作用而增大（见图D）。于是相应的衍射角2θ也将随之改变──按照布拉格定律，d 变小，则2θ变大；d 变大，则2θ变小。显然2θ随ψ角变化的急缓程度与应力σ大小密切相关。对于各向同性的多晶材料，在平面应力状况下，依据布拉格定律和弹性理论可以导出，应力值σ正比于2θ随Sin ψ变化的斜率M，即 σ＝KM ????2θ M＝ —————— ??Sin2 ψ式中K为应力常数， E π K = — ————— Ctgθ0 ———— ? 2（1+μ） 180式中E为杨氏模量，μ为泊松比，θ0为无应力状态的布拉格角。对于指定材料，K值可以从资料中查出或通过实验求出。这样，测定应力的实质问题就变成了选定若干ψ角测定对应的衍射角2θ。 X-350A X射线应力测定仪可以自动完成测量并给出最终结果和某些有价值的物理参数。 三、仪器结构： 本仪器主机由以下五部分组成：PC微机、主控箱、高压电源箱、测角仪及台式支架、PC 微机的最低配置应能支持Windows7/xp。 主控箱内有高压电源控制系统、接口线路和单片机系统、步进电机驱动器、计数放大器，以及1500V、24V、5V电源。 高压电源箱输出15kV～30kV电压，通过高压电揽供给测角仪上的 X 射线管。 测角仪是测量执行机构。仪器的核心部件 X 射线管和 X 射线探测器就装在测角仪上。本仪器的测角仪为θ-θ扫描Ψ测角仪。这是本研究所的专利技术。 X 射线管和 X 射线探测器同步等量相背扫描，二者各前进一个 θ，则衍射角改变 2θ，故名θ-θ扫描。在整个扫描过程中，衍射晶面法线保持不动，准确体现固定Ψ法的几何要求。 将上述θ-θ扫描平面设置在与Ψ平面相垂直的位置上，衍射晶面法线含于θ-θ扫描平面之中，且处在与试样表面垂直的平面里。这样，可以直观地看出，当θ-θ扫描平面沿着Ψ导轨转动时，该平面与试样表面之夹角就是Ψ角——衍射晶面与试样表面法线之夹角。这正是侧倾法的几何布置。所谓Ψ 测角仪，其实质即在于此。 测角仪上采用了圆弧滚动导轨、谐波齿轮等先进机械元件，运动精密而流畅。 台式支架用于支承测角仪。它包含 X、Y、Z 三个平移机构，均采用直线滚动导轨。底座和加长脚上装有螺栓支脚。调整螺栓支脚可以保证测角仪的主轴线与测试点法线重合。调整 Z 向平移机构可以校准测角仪至测试点的距离。调整 X、Y 平移机构则是为了对准选定的测试点，便于连续测定应力在工件表面各点的分布。螺栓支脚下端的球头用于连接电控永磁吸盘。立柱可以旋转360°，在采用了吸盘之后，旋转立柱可以扩大测试范围。四、功能特点： X射线应力测定方法分为同倾法和侧倾法, 侧倾法比同倾法具有无可比拟的优越性；从另一角度分类又分为固定ψ0法和固定ψ法，后者又因原理准确实用效果好而优于前者。更具魅力的是将此二优结合起来，即在侧倾的条件下实施固定ψ法便会产生喜人的新特点──吸收因子恒等于1。这就是说，不论衍射峰是否漫散，它的背底都不会倾斜，峰形基本对称，而且在无织构的情况下峰形及强度不随ψ角的改变而变化（如图所示）。显然这个特点对提高测量精度是十分有利的。所以行家们的共识：侧倾固定ψ法是最理想的测量方法 。然而，除了国产X-350A型以外，迄今国内外尚无以侧倾固定ψ法为主的应力测定仪。在X射线应力测定领域里普遍采用的都是同倾固定ψ 0法。对于使用多功能仪器者来说，虽然在必要时可以实现固定ψ法和侧倾法，但是由于仪器机构和功能的限制，总会伴随诸多困难和麻烦，更难应用于现场测量。新型 X-350A X射线应力测定仪当年便是在这种情况下应运而生的。本仪器以其独创性和先进性获得国家专利(ZL 专利号：98244375.7)。我公司具有θ-θ扫描Ψ测角仪的完全独立的知识产权。其功能特点如下： １、本仪器的测角仪以其独特的构思和巧妙的设计，使得在2θ平面上的X光管和探测器同时等速相对而行,严格满足固定ψ法的几何要素；另外，又使2θ平面与ψ平面相互独立。这样便保证了本系统以侧倾固定ψ法为主，实现理想的测量方法；同时保持结构简洁灵活轻便的特点。2θ扫描范围：120°～170°，在侧倾法的条件下，测定应力既可利用高衍射角又可利用较低衍射角.这样,除适用于铁素体型钢和铸铁材料之外，还为奥氏体不锈钢、铝合金、钛合金、铜合金以及高温合金、硬质合金等材料的应力测定带来方便并可提高测量精度。侧倾固定Ψ法另一特点是对于各种形状的零部件有更好的适应性，特别是对于齿轮的齿根部位。 ２、本仪器θ-θ扫描Ψ测角仪的衍射几何 为聚焦法。如图所示。在 X 射线管和 X 射线探测器以θ-θ方式沿测角仪圆扫描过程中，X 光源点、试样上被照射点和探测器接受点，三者随时同处在一个聚焦圆上，当然，随着扫描过程，聚焦圆的大小是逐步变化的。 ３、测定残余奥氏体含量更为便当。本仪器2θ扫描范围120°～170°， 一次扫描可以得到αFe(211) 、γFe(220)两个完整的衍射峰，无需另外安装延长扫描范围的附件，测试更加方便、快捷、准确。而且可以针对同一测试点取不同的Φ角、角进行测定，以便探测织构的影响。必要时，可以做到残奥含量和残余应力同时测定，亦即一次测量得到残奥含量和残余应力两项数据。这些都是本仪器独有的功能，对于各种实体工件具有极其可贵的实用价值。 ４、支架与测角仪之间可以装备针对同一测试点转Φ角的连接机构，这样即可测定主应力的大小及其方向，测定剪切应力。 ５、应用PC微电脑，Windows 环境操作，界面友好，使用方便。提供侧倾、同倾固定ψ法、摆动法应力测定以主应力计算、残奥测定等专用软件，丰富而实用。自动生成专业而翔实的实验报告；根据用户要求，还可以生成英文版实验报告。 ６、引入交相关法进行数据处理,显著提高定峰和应力测量精度。 ７、为X光管配置高压开关电源，最大功率30KV×10mA，稳定度优于0.1% 。 ８、采用微型激光器校准测试点的位置与方向。 五、主要技术参数:★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描最小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg最简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

X射线残余应力分析仪采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。主要技术参数: ★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 ★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪 ★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描***小步距：0.01° ２θ扫描每步计数时间：0.1S～20S ψ角范围：0°～ 65° ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调 X射线管电流：3～10mA,连续可调 X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg 简装置总重量：45 kg 供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等，从而缩短工件的寿命，甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。X射线残余应力分析仪采用了X射线衍射法，是比较流行，准确，可靠的测量方法。其轻便精巧的设计扩展了设备的使用领域，使得设备能够走出实验室，在现场甚至户外的使用变得有效可行。 软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 多点曝光模式，互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库 X射线残余应力分析仪测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何（侧倾法） ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围：117-170度 电 源100-240 VAC，50/60Hz X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。 Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪，残余应力检测分析仪，残余应力测定仪，残余奥氏体检测仪，激光小孔法应力分析仪，磨削烧伤检测仪，热处理硬度分拣仪，曲轴表面质量检查仪，凸轮轴表面质量检查仪，轴承表面质量检查仪，齿轮表面质量检查仪，变速箱烧伤检测仪，飞机起落架烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。

北京华欧世纪光电技术有限公司是主要代理便携式X射线残余应力分析仪，残余应力分析仪，应力测定仪，X射线应力分析仪，X射线应力检测仪，便携式X射线应力分析仪，曲轴磨削烧伤检测仪，轴承磨削烧伤检测仪，凸轮轴磨削烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。用户主要面向航天、航空，石化、电力，锅炉压力容器，机械加工与制造，汽车制造，科研机构等领域。 便携式X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低，延长工件使用寿命，避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。便携式X射线残余应力分析仪中央系统，包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。— 笔记本或台式电脑。配置了各种安全锁，满足工业安全标准。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

表面残余应力分析仪器可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低，延长工件使用寿命，避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。 表面残余应力分析仪器其轻便精巧的设计，大大扩展了设备的使用领域，使得设备能够走出实验室，在现场甚至户外的使用变得有效可行。 表面残余应力分析仪器软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 多点d-sin2Ψ曝光模式，互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库◆ 对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内测角仪 主机◆ 结构紧凑，小巧轻便 ◆ 全电脑控制 ◆ 各种安全锁 ◆ 密闭循环冷却系统，带强冷装置 ◆ 各种接口 电 源100-240 VAC，50/60Hz X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。 Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

X射线残余应力测定仪 一、仪器用途: 本仪器依据中华人民共和国标准 GB7704--2008《X射线应力测定方法》，能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力（用“ + ”、“ － ”号分别表示拉、压应力）, 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。适用于各种金属材料经过各种工艺过程（如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理）制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作，又因轻便灵活而适于现场测量。 各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中,适当的残余应力可能成为零件强化的因素,不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷 在加工以后,残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。 一个构件残余应力状态如何，是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计，提高工艺效果，检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。 为了说明残余应力测试技术的应用场合，于此列举如下事例： 在现代机械工程中，由于焊接技术的进展，使许多巨大金属机构的制造成为可能，但随之而来的问题就包括如何测定并进而控制其残余应力的大小和分布。这是一个绝对不可掉以轻心的问题，它关系到工程的质量、寿命和安全。实际上，对于诸如球罐、塔器、轧辊、铁路、桥梁船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构件，以及航空、航天、核工业的有关设备，各有关部门都已把测定和控制残余应力的问题提到重要议事日程上来。 为了消除对构件带来不良影响的残余应力，传统的热时效方法还在普遍采用，而后来兴起的振动时效技术也正逐步形成推广应用的热潮。显然，检测构件时效前后，特别是振动时效前后各部位残余应力的变化，对于确定和正确掌握时效工艺是十分必要的。 为了提高某些零件的疲痨强度，材料强度专家们提出采用喷丸、滚压、表面热处理以及表面化学热处理等办法。就其强化机理而言，这里就包括 一个至关重要的因素──残余压应力的作用。因此，无损地测定零件表面残余应力对于确定和正确掌握强化工艺也是十分必要的。 近年来在轴承、轧辊、齿轮、弹簧等等行业已经把残余应力和残余奥氏体含量测定当作必检项目，用以控制产品质量。 机械设备的失效分析表明，应力腐蚀是导致零部件损伤和断裂事故的主要原因之一。其中，因焊接或其它工艺产生的残余拉应力所引起的事故占大多数。因此对于在腐蚀介质中工作的构件，残余应力是正或是负，以及绝对值的大小肯定是不容忽视的参数。 许多零件经过淬火、回火、磨削之后发现了裂纹。为了判定裂纹产生的主要原因，就必须分别研究热处理应力和磨削应力。 为了保证零部件形状尺寸的准确性和稳定性，也必须重视它的残余应力现状和变化趋势。凡要求精密之处，测定关键零部件的残余应力显然是非常重要的。 在各种无损测定残余应力的方法之中，X射线衍射法被公认为最可靠和最实用的。它原理成熟，方法完善，经历了七十余年的进程，在国内外广泛应用于机械工程和材料科学，取得了卓著成果。 X-射线应力测定仪是一种简化和实用化的X射线衍射装置，因而它还有一项重要的功能──测定钢中残余奥氏体含量。由于它适用于各种实体工件，而且能够针对同一点以不同的φ角、Ψ角进行测试,以探测织构的影响，这项功能便具备了重要而独特的用途。 采用TK-360-A型测角仪可以测定各种实体工件的织构。二、测量原理: X射线应力测定仪测量原理基于X射线衍射理论。 当一束具有一定波长λ的X射线照射到多晶体上时，会在一定的角度2θ上接收到反射的X射线强度极大值（即所谓衍射峰），这便是X射线衍射现象（如左图所示）。X射线的波长λ、衍射晶面间距d和衍射角2θ之间遵从著名的布拉格定律： 2d Sinθ＝n λ （n＝1，2，3……） 在已知X射线波长λ的条件下，布拉格定律把宏观上可以测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定的关系。当材料中有应力σ存在时，其晶面间距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化，按照布拉格定律，衍射角2θ也 会相应改变。因此我们有可能通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 关于X射线应力测量原理还可以作如下进一步的解释： 众所周知，对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说，在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒， 其中必有许多晶粒，其指定的（h k l）晶面平行于试样表面，晶面法线与表面法线夹角ψ为0；也必有许多晶粒，其（h k l）晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先，如图A所示，以试样表面某点(o点)法线为轴，将一束适当波长的X光和探测器（计数管）对称地指向该点O，并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律，可以找到平行于试样表面的（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ 。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面，衍射晶面的法线必在扫描平面内，并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住，此时扫描平面与试样表面垂直，衍射晶面与试样表面平行，ψ＝0（如图B）。然后，扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个ψ角（如图C），同样也可以得到（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ ，这时，衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ（如图D)。 图A 图 B 图 C 图 D 在无应力状态下，对于同一族晶面（h k l）来说，无论它居何方位，即无论ψ角等于何值，晶面间距d均相等；根据布拉格定律，相应的衍射角2θ也应相等。当有应力存在时，譬如沿图中OX方向存在拉应力，则平行于表面（即ψ＝0）的（h k l）晶面，其间距d会因泊松比的关系而缩小（见图B）；随着ψ角的增大，晶面间距d会因拉应力的作用而增大（见图D）。于是相应的衍射角2θ也将随之改变──按照布拉格定律，d 变小，则2θ变大；d 变大，则2θ变小。显然2θ随ψ角变化的急缓程度与应力σ大小密切相关。对于各向同性的多晶材料，在平面应力状况下，依据布拉格定律和弹性理论可以导出，应力值σ正比于2θ随Sin ψ变化的斜率M，即 σ＝KM ????2θ M＝ —————— ??Sin2 ψ式中K为应力常数， E π K = — ————— Ctgθ0 ———— ? 2（1+μ） 180式中E为杨氏模量，μ为泊松比，θ0为无应力状态的布拉格角。对于指定材料，K值可以从资料中查出或通过实验求出。这样，测定应力的实质问题就变成了选定若干ψ角测定对应的衍射角2θ。 X-350A X射线应力测定仪可以自动完成测量并给出最终结果和某些有价值的物理参数。 X射线应力测定仪三、仪器结构： 本仪器主机由以下五部分组成：PC微机、主控箱、高压电源箱、测角仪及台式支架、PC 微机的最低配置应能支持Windows7/xp。 主控箱内有高压电源控制系统、接口线路和单片机系统、步进电机驱动器、计数放大器，以及1500V、24V、5V电源。 高压电源箱输出15kV～30kV电压，通过高压电揽供给测角仪上的 X 射线管。 测角仪是测量执行机构。仪器的核心部件 X 射线管和 X 射线探测器就装在测角仪上。本仪器的测角仪为θ-θ扫描Ψ测角仪。这是本研究所的专利技术。 X 射线管和 X 射线探测器同步等量相背扫描，二者各前进一个 θ，则衍射角改变 2θ，故名θ-θ扫描。在整个扫描过程中，衍射晶面法线保持不动，准确体现固定Ψ法的几何要求。 将上述θ-θ扫描平面设置在与Ψ平面相垂直的位置上，衍射晶面法线含于θ-θ扫描平面之中，且处在与试样表面垂直的平面里。这样，可以直观地看出，当θ-θ扫描平面沿着Ψ导轨转动时，该平面与试样表面之夹角就是Ψ角——衍射晶面与试样表面法线之夹角。这正是侧倾法的几何布置。所谓Ψ 测角仪，其实质即在于此。 测角仪上采用了圆弧滚动导轨、谐波齿轮等先进机械元件，运动精密而流畅。 台式支架用于支承测角仪。它包含 X、Y、Z 三个平移机构，均采用直线滚动导轨。底座和加长脚上装有螺栓支脚。调整螺栓支脚可以保证测角仪的主轴线与测试点法线重合。调整 Z 向平移机构可以校准测角仪至测试点的距离。调整 X、Y 平移机构则是为了对准选定的测试点，便于连续测定应力在工件表面各点的分布。螺栓支脚下端的球头用于连接电控永磁吸盘。立柱可以旋转360°，在采用了吸盘之后，旋转立柱可以扩大测试范围。残余应力测定仪四、功能特点： X射线应力测定方法分为同倾法和侧倾法, 侧倾法比同倾法具有无可比拟的优越性；从另一角度分类又分为固定ψ0法和固定ψ法，后者又因原理准确实用效果好而优于前者。更具魅力的是将此二优结合起来，即在侧倾的条件下实施固定ψ法便会产生喜人的新特点──吸收因子恒等于1。这就是说，不论衍射峰是否漫散，它的背底都不会倾斜，峰形基本对称，而且在无织构的情况下峰形及强度不随ψ角的改变而变化（如图所示）。显然这个特点对提高测量精度是十分有利的。所以行家们的共识：侧倾固定ψ法是最理想的测量方法 。然而，除了国产X-350A型以外，迄今国内外尚无以侧倾固定ψ法为主的应力测定仪。在X射线应力测定领域里普遍采用的都是同倾固定ψ 0法。对于使用多功能仪器者来说，虽然在必要时可以实现固定ψ法和侧倾法，但是由于仪器机构和功能的限制，总会伴随诸多困难和麻烦，更难应用于现场测量。新型 X-350A X射线应力测定仪当年便是在这种情况下应运而生的。本仪器以其独创性和先进性获得国家专利(ZL 专利号：98244375.7)。我公司具有θ-θ扫描Ψ测角仪的完全独立的知识产权。其功能特点如下： １、本仪器的测角仪以其独特的构思和巧妙的设计，使得在2θ平面上的X光管和探测器同时等速相对而行,严格满足固定ψ法的几何要素；另外，又使2θ平面与ψ平面相互独立。这样便保证了本系统以侧倾固定ψ法为主，实现理想的测量方法；同时保持结构简洁灵活轻便的特点。2θ扫描范围：120°～170°，在侧倾法的条件下，测定应力既可利用高衍射角又可利用较低衍射角.这样,除适用于铁素体型钢和铸铁材料之外，还为奥氏体不锈钢、铝合金、钛合金、铜合金以及高温合金、硬质合金等材料的应力测定带来方便并可提高测量精度。侧倾固定Ψ法另一特点是对于各种形状的零部件有更好的适应性，特别是对于齿轮的齿根部位。 ２、本仪器θ-θ扫描Ψ测角仪的衍射几何 为聚焦法。如图所示。在 X 射线管和 X 射线探测器以θ-θ方式沿测角仪圆扫描过程中，X 光源点、试样上被照射点和探测器接受点，三者随时同处在一个聚焦圆上，当然，随着扫描过程，聚焦圆的大小是逐步变化的。 ３、测定残余奥氏体含量更为便当。本仪器2θ扫描范围120°～170°， 一次扫描可以得到αFe(211) 、γFe(220)两个完整的衍射峰，无需另外安装延长扫描范围的附件，测试更加方便、快捷、准确。而且可以针对同一测试点取不同的Φ角、角进行测定，以便探测织构的影响。必要时，可以做到残奥含量和残余应力同时测定，亦即一次测量得到残奥含量和残余应力两项数据。这些都是本仪器独有的功能，对于各种实体工件具有极其可贵的实用价值。 ４、支架与测角仪之间可以装备针对同一测试点转Φ角的连接机构，这样即可测定主应力的大小及其方向，测定剪切应力。 ５、应用PC微电脑，Windows 环境操作，界面友好，使用方便。提供侧倾、同倾固定ψ法、摆动法应力测定以主应力计算、残奥测定等专用软件，丰富而实用。自动生成专业而翔实的实验报告；根据用户要求，还可以生成英文版实验报告。 ６、引入交相关法进行数据处理,显著提高定峰和应力测量精度。 ７、为X光管配置高压开关电源，最大功率30KV×10mA，稳定度优于0.1% 。 ８、采用微型激光器校准测试点的位置与方向。 应力测定仪五、主要技术参数:★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描最小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg最简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz应力测定仪

芬兰Xstress便携式应力分析仪主要性能：本仪器广泛应用于齿轮、轴承。压力容器及其他零部件热处理中，进行处理过程中在线分析以及中心实验室的产品检验，是控制产品质量的有效手段之一。 芬兰Xstress便携式应力分析仪主要用途：可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产芬兰Xstress便携式应力分析仪和巴克豪森法（磁弹法）磨削烧伤检查仪的生产厂。主要产品有：残余应力分析仪，磨削烧伤检测仪，残余奥氏体分析仪，齿轮硬度分拣仪，激光小孔法应力检测仪，巴克豪森噪声分析仪，传感器，常规检测支架，X射线衍射仪和检测支架，和小孔法残余应力检测仪等。主要客户：航天、航空、船舶、汽车制造、3D打印、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪，残余应力检测分析仪，残余应力测定仪，残余奥氏体检测仪，激光小孔法应力分析仪，磨削烧伤检测仪，热处理硬度分拣仪，曲轴表面质量检查仪，凸轮轴表面质量检查仪，轴承表面质量检查仪，齿轮表面质量检查仪，变速箱烧伤检测仪，飞机起落架烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。

微型模式动物、模式植物、大体积细胞等在生命科学研究中有着非常广泛的应用，但是由于这些对象体积太大，普通的流式细胞仪的粒径尺寸一般在几十微米，难以对秀丽线虫、斑马鱼这样的大粒径模式生物进行分析和分选；手工镜下分选非常耗时耗力、效率低下、准确性难以保证。COPAS高通量分选系统是一款特殊设计的分选型流式细胞仪，流通室径向尺寸可达2000微米，可以对秀丽线虫、蚕卵、斑马鱼卵及幼鱼、果蝇等模式生物进行高通量、自动化的分析和分选。COPAS高通量分选系统能够很大程度上提高了分选效率，完成大规模的样品分选工作，实现高通量分选。还可对多种数据进行分析，可以开展用传统实验手段难以开展的课题实验。COPAS高通量分选系统在国际上有数百家实验室的成功应用案例，在很多知名期刊也有很多引用文献。该设备的应用，能够帮助实验室在很大程度上提高实验效率、拓展科研方法、缩短科研产出时间。 产品型号：COPAS FP主要特点：可分选粒径20-1500um大颗粒物、细胞群、模式生物全自动、快速、精确分选和分析提供分选颗粒数字化定量数据，可用于用户对目标群体的统计分析无菌环境及温和气流分选方式，能够有效保持分选样品的洁净和存活率主要功能：? 高通量分选能够很大程度上提高分选效率，同时可以开展用传统试验方法难以开展的实验? 设备通过检测样品的多种光学信号，依据检测到的信号进行自动化分选，排除了人为主观因素：分选更客观，更准确? 设备可以把生物样本自动分选到24，48，96或384孔板中，也可以自定义，实现分选的自动化? COPAS高通量分选系统是在常规分选型流式细胞仪基础上研发和改进而成，流动室内压力小，采用温和的气流分选方式，可以确保生物体的活性和完整性，对后续培养、分析甚至是再次分选不会产生负面影响? 系统自动存储每个模式生物、微粒的光学数据，可用于进一步的统计和分析? 可根据需要，选配专业化分析软件：能够在样本径向长度方向上进行多达8000个断层的光学监测，给出细胞-器官水平的光学参数信息，包括尺寸、光密度和荧光强度（例如斑马鱼心脏的神经元上的荧光信号），并以峰值曲线图的形式导出，可提供峰的个数、峰宽、峰高和相对位置等各种参数? 仪器操作简单，一个人便可完成大规模的样品分选工作，实现高通量分选主要应用：种群差异分析（Population differences analysis） 成长阶段分选 药物筛选、化学诱导荧光表达筛选（Fluorescence expression sorting） 单荧光筛选 多荧光筛选基因表达定位分析（Gene expression localization analysis） 荧光峰值筛选 样品亚群分析荧光定量分析（Fluorescent quantitative analysis）工作原理及主要配置：工作原理通过获取多种光学参数径向尺寸、光密度、三色荧光强度对微粒进行分选分选方式采用温和的气流分选方式，能够很大程度上保障分选后生物微粒的生物活性和完整性（可对同一个样品多次分选）光学部件布局COPAS高通量分选系统的光学原件布局俯视图流动室每个胚胎、微粒或斑马鱼被鞘液包裹，依次通过流动室，在流经过程中测量出各种分选参数；激光器配备488nm激光器，用于测量物体的轴向长度和光学密度，还可以用来激发荧光根据研究需要，可调整激光器的配置，有多种型号激光器可选：375nm，405nm，488nm，561nm或640nm分选参数通过检测和分析生物微粒的多种参数，进行分选飞行时间（TOF）、透光度（EXT）、荧光强度（FLU） ，同时检测多达三种颜色的荧光基础分析软件分选参数设置、分选控制与数据分析Profile高阶分析软件具备多参数峰值特性分选功能生物微粒通过流动室的过程中，系统对生物微粒轴向方向的光密度和荧光强度进行量化；下图是使用Profile软件，Profiling GFP-expressing seam cells in nematodes（牛津大学伍拉德实验室）LP Sampler自动进样器能够实现对多孔板样品的自动化加样；完整的高通量分选平台COPAS斑马鱼高通量分选系统能可配合LP Sampler组成一套更加完整的高通量分选平台；能够实现从多孔板进样到多孔板分选的全自动化操作；What’s new with COPAS?In the most recent update of the COPAS platform we have upgraded the system electronics and this moved COPAS to the newer, friendlier, more powerful FlowPilot software suite. This change is denoted by the name COPAS FlowPilot, abbreviated as COPAS FP. In this new version the model names COPAS BIOSORT, SELECT, PLUS and XL have been replaced by the more meaningful COPAS FP-250, FP-500, FP-1000 and FP-2000.The COPAS FP platform is designed for the measurement of objects ranging in size from 20–1500 microns (diameter). Each of the four COPAS FP models features a fixed, specially engineered fluidic path, flow cell and optics optimized for a specific subset of that size range to provide maximum speed, accuracy, resolution and throughput, depending on the application. Instruments can dispense objects either into bulk receptacles or multiwell plates.A 488 nm solid state laser is used to measure both the size and optical density of the objects, as well as for fluorescence excitation. Each COPAS FP system can be equipped with up to three lasers.The real-time analysis of these measured parameters is used to make sort decisions and only those objects meeting the user-selected sort criteria are gently dispensed into multiwell plates or stationary receptacles. Those objects not meeting the sort criteria are diverted by a puff of air to a sample recovery container, where they may be recaptured, unharmed and still viable.Instruments are equipped with an X-Y stage to permit the dispensing of objects into micro-wells, including 24-, 48-, 96-, and 384-well plate formats. Using the FlowPilot™ software, users may custom design templates or use default templates.Factory trained personnel will install your new COPAS FP system and train you at your site in the operation and routine maintenance of the system and accessories.All systems are supplied with a Windows workstation running FlowPilot™ software for operation and analysis.Choosing a COPAS FP ModelEach COPAS FP system features a specially engineered fluidic path and flow cell optimized for a specific object size range to achieve the highest accuracy and sensitivity possible. The table shown at Choosing the Right Platform and Model summarizes the largest object size recommended for each COPAS FP model and also provides general system recommendations based on some sample applications. The applications listed are not exhaustive, but simply meant to provide a general overview of system capabilities. For a more detailed discussion of your particular application, including those applications that are not listed here, please contact our applications scientists directly at yuyan0317@126.com.更多产品信息，敬请来电咨询。请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

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xstress残余应力分析仪可快速检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等，从而缩短工件的寿命，甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。 其轻便精巧的设计，扩展了设备的使用领域，使得设备能够走出实验室，在现场甚至户外的使用变得有效可行。 残余应力xstress残余应力分析仪软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 残余应力分析仪测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何（侧倾法） ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围：117-170度 主机◆ 结构紧凑，小巧轻便 ◆ 全电脑控制 ◆ 各种安全锁 ◆ 密闭循环冷却系统，带强冷装置 探测器◆ 固态位敏正比计数器（MOS线性成像探测器） ◆ 灵敏度高，信噪比好 ◆ 角精度0.029°/像素, 512像素 ◆ 简洁紧凑，无需高压，功耗1mW 电 源100-240 VAC，50/60Hz xstress残余应力分析仪X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪，残余应力检测分析仪，残余应力测定仪，残余奥氏体检测仪，激光小孔法应力分析仪，磨削烧伤检测仪，热处理硬度分拣仪，曲轴表面质量检查仪，凸轮轴表面质量检查仪，轴承表面质量检查仪，齿轮表面质量检查仪，变速箱烧伤检测仪，飞机起落架烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。

仪器简介：芬兰品质X射线应力分析仪是检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中残余应力的可靠工具。有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等，从而缩短工件的寿命，甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。 芬兰品质X射线应力分析仪轻便精巧的设计，扩展了设备的使用领域，使得设备能够走出实验室，在现场甚至户外的使用变得有效可行。 软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库 测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何（侧倾法） ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围：117-170度 ◆ 多种准直器可更换◆ 全自动校准，自动调整测距，行程误差小于0.003mm 主机◆ 结构紧凑，小巧轻便 ◆ 全电脑控制 ◆ 各种安全锁 ◆ 密闭循环冷却系统，带强冷装置 ◆ 各种接口 探测器◆ 固态位敏正比计数器（MOS线性成像探测器） ◆ 灵敏度高，信噪比好 ◆ 角精度0.029°/像素, 512像素 ◆ 简洁紧凑，无需高压，功耗1mW 电 源100-240 VAC，50/60Hz X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。 安全性能 ◆ 若窗口堵塞、打开或移动，管壳松动或被移动，冷却液温度过高或其它流动不畅通时，能自动关闭X射线。

仪器简介：详细说明 加速應力測試系統(AST) 用於高加速應力測試（HALT）和高加速應力篩選（HASS）的加速應力測試（AST）系統 Thermotron的加速應力測試(AST)系統，用於高加速應力測試(HALT)和高加速應力篩選(HASS)的加速應力測試，能在幾小時內向您展示：如何將一指定產品經多年使用後的狀況呈現出來。通過使用Thermotron的AST系統，可使您的產品經受極大的溫度，振動和電應力，單獨的或綜合的。技术参数： AST系統可執行各種加速應力測試方法如HALT(高加速應力測試)，HASS(高加速應力篩選)，階梯式應力測試和其他類型。每種應力類型導致特定的故障而如果使用傳統測試方法和設備可能就不能發現這些故障。在產品開發期快速的鑒別這些故障有助於減少開發時間和快速的向市場投放高質量的產品。 Thermotron的AST系統包括以下： 一、純液態氮系列之高加速壽命測試櫃 ‧ 液氮製冷的溫變率超過70℃/min的超快速溫變試驗箱。 ‧ 加速度能達到50g的多軸氣動衝擊振動系統。 ‧ 基於PC為基礎的AST程式化控制器操縱所有測試變數包括溫度，試件溫度和振動。所有類型的加速應力測試要求在施加應力期間試件要被持續監視。每台AST被設計成與熱測Thermotron的產品測試系統(PTS)配套使用。PTS可觸發和監測多個產品參數，診斷故障和採集那些對正確的進行故障分析非常關鍵的有關資訊。 Thermotron加速應力測試(AST)系統的特性及優點： ‧ 超快產品溫變率的液氮製冷試驗箱。 ‧ 特殊設計的，密封和經過測試的浮動臺面。這種堅實的設計可承受多年的反復膨脹和收縮。 ‧ 大流量迴圈風系統可對正經受高級別應力的試件提高風速。氣流方向和強度都可調整以集中於試件所需部位。 ‧ 自動門互鎖系統保證運行過程中操作員的絕對安全。門絞鏈、鎖和把手都是高質耐用且運轉靈活。 ‧ 基於快速傅立葉轉換的振動控制與試驗箱控制完全集成。基於PC的儀器為往復衝擊振動系統提供了精妙的控制，強大的振動分析功能，精確的箱內溫度和產品溫度曲線控制。 ‧ **多16個振動和8個熱偶監測通道能夠使使用者看到試件不同部位上的應力。這些資訊可被用來判斷故障模式。 ‧ 外鍍特氟隆的振動活塞耐用且減少維修時間。可以配置不同數量的振動活塞以完成不同振動特點的需要。 ‧ 獨特的隔熱系統使箱內額外熱載**小化並為振動活塞提供了相對穩定的運行條件。 ‧ 裝在往復衝擊振動臺上的試件安裝座能使振動傳輸**化。 二、壓縮機冷凍系列之高加速壽命測試櫃 AST-20R加速老化試驗系統採用機械製冷而不是液氮來達到HALT和HASS試驗的快速溫變要求機械製冷是還沒有安裝液氮裝置用戶的合理選擇這如同所有的選擇一樣也有贊成和反對的爭論。 通過超過50℃/分的高溫變率的風，使產品承受極大熱應力。高風量、高風速的氣流通過風口和可調節風管直接吹向被測件，使被測件承受熱應力**化，從而加快老化速度。 AST-20R擁有24&rdquo x 24&rdquo (61cm x 61cm)多軸，可重複振動平臺。能達到50grms的量級。已獲專利的該振動系統能在很廣的範圍保證推力一致。被測產品直接連接到臺面，使振動效果**。如果機械製冷對你的HALT和HASS試驗更有利，但需要液氮作為輔助製冷的話，液氮系統也可以加到機械製冷系統，滿足更高的溫變要求。液氮能達到-100℃的極低溫度，能短時間內及多負載的條件下，提供高的輔助製冷能力。在特殊情況下，噴射液氮是對機械製冷的AST試驗箱性能的有益補充。 型號 工作空間尺寸 溫度範圍 溫變率範圍＊ AST-8 24"W x 22"D x 24"H (61cmx56cmx61cm) -100℃ to +200℃ Greater than 50℃/min. AST-20R 30"W x 30"D x 40"H (76cmx76cmx101cm) -73℃ to +200℃ Greater than 50℃/min. AST-35 42"W x 42"D x 40"H (106cmx106cmx101cm) -100℃ to +200℃ Greater than 70℃/min. AST-70 54"W x 56"D x 40"H (137cmx142cmx101cm) -100℃ to +200℃ Greater than 70℃/min.

玻璃器皿偏光应力仪 药瓶内应力测试仪 安瓿内应力测定仪玻璃器皿偏光应力仪 药瓶内应力测试仪 安瓿内应力测定仪通过利用偏振光干涉原理，结合高精度的光学系统和数据处理系统，能够准确、快速地测量安瓿瓶的内应力值。该仪器广泛应用于医药、食品等领域，用于评估安瓿瓶的密封性能、稳定性以及安全性。玻璃器皿偏光应力仪 药瓶内应力测试仪 安瓿内应力测定仪技术特点高精度测量：安瓿内应力测定仪采用高精度的光学系统和力传感器，能够确保测量结果的准确性和可靠性。自动化操作：仪器具备自动化设计，能够自动完成测试过程，包括固定安瓿瓶、测量内应力、记录数据等环节，有效降低了人工成本。人性化设计：仪器配有易于操作的大屏幕液晶显示屏和操作界面，方便用户查看和编辑数据。同时，还具备故障提示和安全保护功能，保障操作人员的安全。多种测试模式：支持多种测试模式，可根据不同的测试需求进行选择，满足不同产品的检测需求。强大的数据处理能力：能够实时传输测试数据，并对数据进行统计、分析和存储，方便用户进行品质控制和数据分析。工作原理安瓿内应力测定仪利用偏振光原理，通过检测安瓿瓶在破碎过程中的光学性质变化，评估其内应力水平。当光线通过具有应力的透明介质（如安瓿瓶）时，会发生双折射现象，使得光线分为寻常光和非寻常光。通过比较这两束光的相位差，可以确定介质的应力状态，进而推断出安瓿瓶的内应力水平。玻璃器皿偏光应力仪 药瓶内应力测试仪 安瓿内应力测定仪技术参数仪器示值：0.1nm测量误差：2nm偏振场直径：150mm检偏振片旋转角度：360°光场边沿亮度：120cd/m² 外形尺寸：220mm×370mm×480mm（长宽高）重量：5Kg工作温度：15℃-50℃相对湿度：最高80%，无凝露工作电源：220V 50Hz

该系统通过小型红外摄像机和复杂的实时图像和数据处理来获取物体的高分辨率特写图像并识别关键应力热点。可识别和测量固体物体的微小温度变化，这是施加在物体上的结构载荷（压缩和拉伸）的直接结果。系统使用简单，能够监测低于1毫开尔文的温度变化，其灵敏度比市场上任何商用非致冷红外相机都高出30多倍。耐高温可以检测焊接应力，金属应力 应用域：结构有限元分析识别结构薄弱区域结构健康监测疲劳裂纹监测 产品特点：1、重量仅为650克，方便携带；2、高分辨率、高灵敏度，应力灵敏度小于1MPa,允许苛刻环境监测；3、分析速度快、稳定性优良；4、无盲点、多点位确定应力。 LTS-640V具有高端研发仪器的保真度，并且具有耐用，多功能和易于使用的工业工具。应用包括：+ 验证结构有限元分析（有限元分析）+ 确定结构性薄弱环节+ 结构健康监测+ 检测，监测和表征疲劳裂纹+ 无损检查（NDI）+ 结构力学研究与教学简化的高应力成像1MILLIKELVIN LTS-640V的限应力敏感度小于1 MPa1， 对于苛刻的应用程序具有足够的精度，但您可能没有预期的复杂性。 入门是“即插即用”的问题。内置的视觉传感器以及视觉应力融合功能可轻松识别和定位关键应力区域。MiTE Suite与所有系统打包在起的是功能强大的MiTE Suite软件包，该软件包提供：+ 完整的复数值热弹性响应+ 实时显示视觉和红外线+ 半实时显示（用户可选的帧频），用于应力和应力-视觉融合+ 实时应力监测，用于损伤检测和趋势分析+ 绘图功能+ Point和ROI metrics+ 应力和应变校准

仪器简介：kSA MOS ThermalScan 薄膜热应力测量系统（薄膜应力仪，薄膜应力计，薄膜应力测试仪），测量光学设计MOS传感器，同时kSA公司荣获2008 Innovation of the Year Awardee！系统采用非接触MOS激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力Mapping成像统计分析；同时可准确测量应力、曲率随温度变化的关系；部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。同类设备：*薄膜应力测试仪（薄膜应力测量系统，薄膜应力计）；*薄膜残余应力测试仪；*实时原位薄膜应力测量系统；技术参数： Film Stress Tester, Film Stress Measurement System，Film Stress Mapping System 1.变温设计：采用真空和低压气体保护，温度范围RT~1000°C； 2.曲率分辨率：100km； 3.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：up to 300mm（可选）； 4.XY双向扫描速度：可达20mm/s； 5.XY双向扫描平台扫描步进分辨率：2 μm ； 6.样品holder兼容：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm, and 300mm直径样品； 7.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 8.成像功能：样品表面2D曲率、应力成像，及3D成像分析； 9.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力、Bow和翘曲等； 10.温度均匀度：优于±2摄氏度； 主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.变温设计：采用真空和低压气体保护，温度范围RT~1000°C； 3.样品快速热处理功能； 4.样品快速冷却处理功能； 5.温度闭环控制功能，保证优异的温度均匀性和精度 6.实时应力VS.温度曲线； 7.实时曲率VS.温度曲线； 8.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 9.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 10.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 11.气体（氮气、氩气和氧气等）Delivery系统；实际应用：

SM 足底应力仪利用压力感应平板采集足底应 力数据，既可测量静态受力，又可持续记录动态走 路或跑步的压力变化，提供详细的步态周期数据和 足底压力分布特征，是欧洲大学、临床、体育和康 复中心多年调查和研究总结的成果。作为步态实验 室一个不可或缺的设备，SM 为医生、康复师、生 物力学专家提供完整的步态表现细节。功能&特点 提供静态、动态足底压力测试功能，软件集测量、保 存、分析和报告等多种功能于一体 软件内置中文语言包，界面友好 提供压力 2D/3D/冲量图像和动态影像回放 自动计算足印的用力时间、面积、CoP 轨迹长度、受 力大小等信息 提供足底多个区域的受力负荷、面积值 自动计算左右足各自的内/外、前后侧受力分配 提供负荷-时间曲线、力线-时间曲线、面积-时间曲 线 自动划分步态周期并提供每阶段信息 可将数据输出至 Microsoft 支持的数据文件 支持扩展同步接口，实现与三维动作捕捉、肌电、测 力台等设备的同步采集 可与定制鞋垫设计模块实现无缝连接，根据足底压力 数据自动生成鞋垫设计方案 有多种感应尺寸供选择，满足不同需要

X射线便携式残余应力分析仪器可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。 X射线便携式残余应力分析仪器主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。X射线便携式残余应力分析仪器主要应用领域：船舶、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产便携式X射线应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪，残余应力检测分析仪，残余应力测定仪，残余奥氏体检测仪，激光小孔法应力分析仪，磨削烧伤检测仪，热处理硬度分拣仪，曲轴表面质量检查仪，凸轮轴表面质量检查仪，轴承表面质量检查仪，齿轮表面质量检查仪，变速箱烧伤检测仪，飞机起落架烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。

kSA MOS UltraScan采用非接触MOS（多光束光学传感）激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力 Mapping成像统计分析；同时准确测量应力、曲率随温度变化的关系。基于kSA MOS，kSA MOS Ultra Scan使用二维激光阵列扫描绘制半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等各种抛光表面的二维曲率、翘曲度和薄膜应力分布图。kSA MOS Ultra Scan适用于室温条件下测量需求，实现晶元全自动2D扫描测量，同时获得3D图。部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。相关产品： *实时原位薄膜应力仪（kSA MOS Film Stress Tester）：同样采用先进的MOS技术，可装在各种真空沉积设备上（如：MBE, MOCVD, sputtering, PLD, PECVD, and annealing chambers ects），对于薄膜生长过程中的应力变化进行实时原位测量和二维成像分析； *薄膜热应力测量系统（kSA MOS Thermal-Scan Film Stress Tester） 技术参数：1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：300mm；2m（可选）；二维应力分析2.扫描速度：可达20mm/s（x,y）；3.XY双向扫描平台扫描步进/分辨率：1 μm；4.平均曲率分辨率：20km，5×10-5 1/m (1-sigma)；5.薄膜应力测量范围：3.2×106到7.8×1010dynes/cm2（或者3.2×105Pa to7.8×109Pa）(1-sigma)；6.应力测量分辨率：优于0.32MPa或1% (1-sigma) 7.应力测量重复性：0.02MPa(1-sigma)；8.平均曲率重复性：5×10-5 1/m (1 sigma) (1-sigma)；9.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全样品扫描；10.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析；11.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等；12.二维激光阵列测量技术：不但可以对样品表面进行二维曲率成像分析；而且这种设计能保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效避免外界振动对测试结果的影响；同时提高测试分辨率；主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.自动光学追踪技术； 3.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、面积扫描； 4.成像扫描功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 5.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 6.适用于各种薄膜应力测量，及半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等表面曲率、面型测量。测试实例：