硬化层深量仪

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硬化层深量仪相关的厂商

  • 400-860-5168转5047
    北京层浪生物科技有限公司成立于2020年3月,注册地址位于北京市大兴区生物医药产业基地,在大兴和昌平均有研发办公场地,另外在湖南成立了全资子公司。公司主要从事IVD诊断仪器试剂以及生物医疗科研仪器的研发生产销售,公司目前主打产品是流式细胞仪及配套诊断试剂。发起团队具有十余年的行业经验,目前推出的主打产品 MateCyte 双激光8色流式细胞仪,已经获得临床注册证,并申请了多项国家发明专利。近期推出的LongCyteTM 3 激光14 色开启了国产流式的新纪元。层浪生物一直致力于研发生产更先进的诊断仪器与试剂,未来将陆续推出更多产品,公司的目标是5-10年内,成为世界水平的诊断技术公司。创建多彩世界,守护美丽生命。
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  • 苏州南光电子科技有限公司,江苏省民营科技企业,民营高新技术企业,是一家专业从事光学仪器的研发、制造、销售的高科技股份制公司,生产销售注册商标“南光”牌相关产品,下辖技术部,生产部,销售部,财务部,质量管理部。有中高级专业技术人员8人,有一支具有多年实践经验的销售队伍,更有专业的售后服务人员。  公司多年来致力于材料实验室特别是金相实验室、硬度及硬化层分析仪的开发和研究,同时依托市场开拓新型的切片分析仪,纤维分析仪,孔隙率分析仪,拉丝模检测分析仪等等,广泛使用于汽车零部件行业、精密机械行业,精密铸造及热处理行业。  公司主要的产品有:成套材料实验室、金相分析仪及金相显微镜、在线检测及体视显微镜系统、金相制样设备、硬度计及硬化层分析仪、投影仪、影像测量仪,纤维分析仪、孔隙率分析仪、切片分析仪、拉丝模专用检测仪、无损检测仪器、等电子仪器仪表、及相关配套的产品。  产品主要服务于国内外微电子行业、通讯电子领域、IC制造、封装测试及五金、模具制造加工、精密机械行业等领域。  公司秉承:向客户提供最好的产品、向客户奉献最佳的服务!
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  • 佛山市布洛维测量仪器有限公司是专业从事硬度计等测量仪器研发、生产、销售及技术服务于一身的企业。公司自主研发和生产的洛氏、维氏、里氏、布氏硬度计系列产品已广泛应用于全国各地区的金属热处理、金属加工等行业,用于测试不锈钢、马口铁、铝型材、锻件,铸件,焊管,无缝钢管,塑料模具等产品硬度。 公司秉承“专业、专注、诚信、创新“的经营理念,用创新的思维专注于新型硬度计的研发,用诚信的态度服务于客户,通过合作实现自身与客户的共同发展。详情请登陆本公司网站:http://www.techbrv.com。
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硬化层深量仪相关的仪器

  • 特别适合:齿轮、紧固件等大批量产品的检验性能特点- 直接数显- 自动加载- 同时显示硬度及表面硬化层深度- 无需切割破坏试样,测试速度快,操作简单- 具有存储、统计、修正、打印和输出等功能技术参数工作原理:硬度测试原理读数:数显,8.4”触摸显示屏(显示深度及维氏硬度值)硬度标尺:HV,根据需求可选配其他标尺载荷:200-4000kg加载:根据测试深度的需求,通过键盘设定,马达驱动测试范围:层深0.4-2.5/2.7mm(小深度可选)硬度示值误差:符合ISO 6507-2及GB/T4340.2硬度示值重复性误差:符合ISO 6507-2及GB/T4340.2硬化层测试误差:≤5%压头行程:2.5mm测试空间:高度550mm,深度320mm可测试的空洞:≥¢90,深度≤100mm测试时间:30-120秒(由选定的载荷决定)电子单元:16位处理器,便于和外部设备连接文件存储:由仪器所选配的PC机决定软件功能:标尺选择、公差设定、自校准、统计、图表、生成打印报告(带有时间和日期)、语言选择、文件类型等输出:USB,RS232C接口,用于连接电脑和打印机电源:单相,115-230VAC,50/60Hz环境条件:温度10-50℃,带有自动温度补偿,湿度10%-90%尺寸:900mm×1200mm×850mm重量:450kg标准配置- 主机- 硬质合金压头(1个)- 硬化层深度标准块(1块)- 直径200mm平砧板(1个)- 工具箱- 备用保险丝- 操作手册
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  • 特别适合:齿轮、紧固件等大批量产品性能特点- 直接数显- 自动加载- 同时显示硬度及表面硬化层深度- 无需切割破坏试样,测试速度快,操作简单- 具有存储、统计、修正、打印和输出等功能技术参数试验原理:硬度测试原理读数:数显,8.4”触摸显示屏(显示深度及维氏硬度值)硬度标尺:HV,根据需求可选配其他标尺载荷:100-1500kg(981-14715N)加载:根据测试深度的需求,通过键盘设定,马达驱动测试范围:层深0.05-1.3mm(小深度可选)硬度示值误差:符合ISO 6507-2及GB/T4340.2硬度示值重复性误差:符合ISO 6507-2及GB/T4340.2硬化层测试误差:≤5%压头行程:2.5mm测试空间:高度550mm,深度320mm可测试的空洞:≥¢90,深度≤100mm测试时间:30-120秒(由选定的载荷决定)电子单元:16位处理器,便于和外部设备连接文件存储:由仪器所选配的PC机决定软件功能:标尺选择、公差设定、自校准、统计、图表、生成打印报告(带有时间和日期)、语言选择、文件类型等输出:USB,RS232C接口,用于连接电脑和打印机电源:单相,115-230VAC,50/60Hz环境条件:温度10-50℃,带有自动温度补偿,湿度10%-90%设备尺寸:900mm×1200mm×850mm重量:450kg
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硬化层深量仪相关的资讯

  • 荷兰轶诺|智能化测试硬化层深度CHD/SHD/NHD
    在机械众多行业中,需要对重要零部件进行表面硬化处理,尤其是那些高速负荷等受力复杂而繁重条件下的工作零件,如钢件.通过适当的表面热处理方法(以渗碳为例),使零件表层成为高碳层,以便得到高强度、高硬度、高耐磨性和高接触疲劳强度,并与低碳心部的塑性,韧性良好配合,以便改善零件的耐磨性和耐疲劳性,由此提高零部件的质量及寿命。常见的表面处理有:渗碳、氮化、碳氮共渗、火焰淬火、高频淬火、硬质阳极氧化、镀铬等。表面硬化层深度是评判工件表面质量好坏的重要指标,所以测量工件表面硬化层深度尤为重要。钢件硬化层深度测定包括总硬化层深和有效硬化层深度的测定总硬化层深: 从零件表面垂直方向测量到与基体金属间的显微硬度或显微组织没有明显变化的那一硬化层的距离。有效硬化层深: 当钢进行渗碳或碳氮共渗处理后,回火温度不超过200℃,从硬化层表面垂直向心部位置检测至HMV值550的距离。硬化层深度 常用标准如下:ISO2639-2002GB/T9450-2005GB/T5617-2005ISO3754:1976GB/T9451-2005等硬化层深度 -CHD计算方法确定硬度限值的方法有很多。因此,计算 CHD 值的方法也有很多。您选择的程序取决于所采用的硬化工艺。常见的计算方法如下:渗碳或碳部件 (EN ISO 2639)硬度限值 = 550 HVCHD (Eht) = 从表面到硬度为 550 HV 位置点的距离感应淬硬或火焰淬硬部件(EN 10328 和 ISO 3754)硬度限值 = 80% × 表面硬度(min)CHD (Rht) = 从表面到硬度为表面硬度(min) 80% 位置点的距离氮化部件 (DIN 50190-3)硬度限值 = 核心硬度 + 50 HVCHD (Nht, NCD) = 从表面到硬度为核心硬度 + 50 HV 位置点的距离(max)硬化层深度测量选 择 的 测量方法及精确度取决于硬化层的性质和估计的厚度。本篇以轶诺FALCON5000G2为例,介绍显微硬度测量法轶诺FALCON5000G2的IMPRESSIONS 智能软件有内置的CHD/SHD/NHD模板,根据标准规定进行规范化的硬度测试。该测试既可在显微图像下,也可在全景图像下直接开始测试。可单独为 NHD测试设置额外的硬度核心点。按照标准,为了确保测试正确进行,测试点的间距会按照最小距离自动设置。省时测试模式在完成所有压痕后,会自动开始测量,当硬度值达到设置下限后,测试序列会自动停止。智能软件 轶诺IMPRESSIONS软件的目的是让复杂性可控优化操作舒适度轶诺的IMPRESSIONS软件具有一系列标准功能,例如自动测量、自动对焦、报告、测试程序存储等。IMPRESSIONS软件智能图表型用户界面包含了先进的应用程序和易学易用的工作流控制系统,只需3秒即可完成一次简单的设置。IMPRESSIONS 的布局和功能不仅能与您特定的应用要求相匹配,还能满足操作人员的偏好和需求。用户分级管理系统也使工作更加舒适和高效。15英寸纵向电容触摸屏为所有可能的应用程序创造了空间。针对有特殊需求的客户,可再选配一个15英寸纵向或24英寸横向的第二屏幕。针对有教学目的的用户(如高校等),也可通过机器标配的HDMI接口外接高清投影仪。“A P P"型的IMPRESSIONS 4对于应用要求更高的用户, 也许标准应用程序还不够用, 那么, 可以选择“A P P"型的应用式软件IMPRESSIONS 4 .
  • 万深发布万深PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪新品
    万深PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪Instrument for Measuring plant phenotype — Model PhenoGA-F一、概述:基因型、表型和环境是遗传学研究的铁三角。表型(性状)是基因型和环境共同作用结果,而基因型与表型之间有着多重关系。研究者用测序和基因组重测序来评估等位基因差异定位数量性状等已变得很普遍,但其需大量性状数据来佐证。然而这类分析测量的结果受人员、工具和环境等的干扰很大,还会损伤到植物。故迫切需要高效、准确的万深PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪来做可视化的精确数据分析和表型测试,如测试对压力和环境因素的表型反应、生态毒理学测试或萌发测定、遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等。二、主要性能指标:1、万深PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪是顶视版本,在明亮的田间环境下,由顶视的超大变焦镜头自动对焦2410万像素的佳能EOS单反相机直联电脑获取植物顶视的RGB彩色图,并做自动分析。2、可获得植物在不同生长阶段的表型数据有:投影叶面积及其差异值、投影叶片长和卷曲度、叶片数、叶冠层的构型数据、精准的茎叶夹角,叶冠层随时间改变的相对生长速率、叶色平均值及其对表征的贡献评估等。可用其所配的自动测高仪来自动测量和记录作物的植株高。具有分析特性如下:1)常规分析:拍摄分析范围120cm*80cm,可变焦调小视野至30cm*20cm,适合对各类作物在60cm高度内时的表型分析。分析投影外接圆直径及面积,外周长,拟合椭圆主副轴及偏角,凸包内径、面积及周长,植株高(由便携式植株自动测高仪实现,测量误差≤±0.25cm)、宽,最小外接矩形长、宽,植株紧实度。2)顶视的表型分析:叶冠直径、叶冠层面积、叶冠层占空比、叶片分布紧密度等(冠层尺寸的测量误差≤±0.2cm),叶片数(自动计数+鼠标个别修正),叶片投影面积及其动态变化,叶片颜色,果实外观品质、花形和花色等,并可编辑。3)颜色分析:RGB、LAB颜色值,具有叶片颜色自动矫正分析特性(可按英国皇家园林协会RHS比色卡2015版来自动比色)。可按指定颜色数进行聚类分割,并统计颜色分布及面积占比。4)生长分析:作物叶冠绝对生长、相对生长曲线,相对生长趋势。5)批量化精准测量茎叶夹角或分支角(真实夹角重复测量误差≤±1.0°)。6)其它:不同生长时期自动批量化处理分析,多植株网格分析,直线、角度等几何测量,各测量结果可编辑修正。3、可接入条码枪来自动刷入样品编号,具有按条码标识跟踪分析的特性,各项分析数据和标记图片可导出。自动分析(约1个样品 /分钟)+鼠标指示测量或修正。三、标配供货清单:1、折叠式可拖带的田间表型拍摄架(重12.8kg) 1套2、夹持式电脑放置平台(重2.2kg) 1套3、自动对焦2410万像素的佳能EOS单反相机 1套4、PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪软件U盘 1个5、PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪软件锁 1个6、叶色色彩矫正板+尺寸自动标定板 各1块7、标定板升降支撑架 1付8、手持式条形码阅读器 1付9、分枝角测量用掌式便携背光板 1付10、激光测距仪1台/测距仪夹1付/手机固定夹1付/碳纤维2米伸缩杆1付/横向标示杆及螺钉各1个/反射垫1张(送内六角扳手1个/便携黑筒1个/卷尺1把,需手机扫测高仪的二维码下载APP登入使用)11、强光遮挡用塑料布 1张12、品牌笔记本电脑(酷睿i5 九代以上CPU/8G内存/256G硬盘/14”彩显/无线网卡,Windows 完整专业版) 1台 选配:1、可选配真正3D成像的手持式扫描仪,以获得植物真3D模型。2、可选配侧视拍摄组件,以做骨架和株形分析:骨架长度,分叉数(分枝数、分节数),茎秆分节数,分节长、粗等。3、可选配红外热成像相机(分辨率 384*288像素,测温范围-20-150℃,测温精度为最大测温范围绝对值的±2%),以测定叶温和叶温分布。4、可选配近红外成像相机(NIR),以定性分析植物叶片水分分布情况。5、可选配RootGA根系动态生长监测分析仪,以分析植株根系的胁迫响应等。创新点:PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪是在田间做顶视分析的版本,由顶视的超大变焦镜头自动对焦2410万像素的佳能EOS单反相机直联电脑来获取作物顶视的彩色图,进行自动分析。可获得植物在不同生长阶段的表型数据有:投影叶面积及其差异值、投影叶片长和卷曲度、叶片数、叶冠层的构型数据、精准的茎叶夹角,叶冠层随时间改变的相对生长速率、叶色平均值及其对表征的贡献评估等。可用其所配的自动测高仪来自动测量和记录作物的植株高。万深PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪
  • 中国科大樱花季 | 国仪量子邀您云赏樱
    四月芳菲,嫣然绽放虽然疫情放缓了人们踏春的脚步但关不住对春天的向往科大的樱花又开了,就让国仪量子带您云赏芳华中国科学技术大学东校区老北门附近的“樱花大道”迎来了一年中的高光时刻,百余株樱花尽数绽放!科大樱花属于晚樱品种,与早樱相比花开得迟一些,但开放地更为绚烂多姿,光芒毕现。与武大樱花五瓣单片不同,科大的樱花是重瓣,花朵大而瓣密,正如古人诗云:“层层围珠玑,团团锦绣簇”。樱花红陌上,杨柳绿池边。你可能不知道的是,粉艳的樱花连花粉都万分美丽!来自中国科大理化科学实验中心的周宏敏老师通过钨灯丝扫描电子显微镜SEM3100对樱花花粉进行了观察研究,让我们一起来看看吧!中国科大理化科学实验中心的钨灯丝扫描电镜SEM3100SEM3100拍摄,经伪彩上色国仪量子的研究人员又采用场发射扫描电子显微镜SEM5000对花粉进行了观察,得到了不一样的画面。场发射扫描电镜SEM5000借助国仪量子扫描电镜高分辨率、大视场、大景深的特点,和光学导航、完善的自动功能,我们可以快速清晰地观察出花粉的外观形貌。樱花花粉粒为圆球形-长球形,具三孔沟(没有经过处理的花粉,孔不明显),沟长达两极,外壁具条纹状纹饰。SEM5000拍摄,经伪彩上色国仪量子(合肥)技术有限公司以量子精密测量为核心技术,为全球范围内企业、政府、研究机构提供以增强型量子传感器为代表的核心关键器件、用于分析测试的科学仪器装备、赋能行业应用的核心技术解决方案等产品和服务。公司面向先进材料、半导体、量子科学、生命技术、医药和临床研究等领域,致力于帮助客户更高效地推动技术的发展、探索人类的未来。公司源于中国科学技术大学中国科学院微观磁共振重点实验室,实验室在高端科学仪器、关键核心器件的研制领域深耕十余年,多项技术、研究成果突破国际封锁和禁运,并获得“中国科学十大进展”、“国家自然科学二等奖”、“中国分析测试协会科学技术奖特等奖”等诸多奖项。特别鸣谢中国科大理化科学实验中心周宏敏老师协助拍摄的花粉图片;中国科大近代力学系硕士研究生刘浩东提供的樱花图片,摄影交流和原图分享请联系刘浩东同学的个人公众号-映像科大。

硬化层深量仪相关的方案

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硬化层深量仪相关的论坛

  • 【求助】渗层与有效硬化层深关系

    【求助】渗层与有效硬化层深关系

    渗氮层深度与有效硬化层深度有什么关系?两者之间是否有如下关系:渗氮层深度=有效硬化层深度+0.15-0.25mm?在实际的生产应用中两者各有什么作用?彼此有无关联?在渗氮的零件出现硬度不够时,是什么原因?两者该用哪一个去判断?http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/11/201011111422_258714_1992575_3.jpg另外这个图形怎么解释?难道是硬化层(还是渗氮层)越浅,硬度越大吗?希望专家、同行、师傅进行指导谢谢

硬化层深量仪相关的耗材

  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米; 波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 光源:使用显微镜光源 光斑大小:由显微镜物镜决定 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口; 尺寸:120x120x120mm 重量:1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量
  • 3200P 标准PH 测量仪 G4383A
    产品特点:电化学测量仪、电极和溶液便于分析员使用的特性可以优化您的测量并确保数据的准确快速变化的工作环境要求测量仪在不损失结果质量的前提下保证快速高效地工作。这就是为什么所有安捷伦测量仪和电极都是易于操作的设计,即使是非专业人员操作,依然可以获得最可靠的数据。* 独特的电极参比系统,加上高品质的材料和生产工艺的支持,使您可以在测量操作中快速获得可靠数据* 耐用的设计使其可以适应室内外最艰苦的条件* 耐用性强的保护玻璃和多层复合电极设计可以避免它在频繁使用中破碎,即使是在严苛的环境中也是如此3200P 标准PH 测量仪G4383A使用方便的控制界面简化了测定操作,确保获得准确的结果,并且对实验人员的专业知识和操作熟练程度没有特殊要求。3200P 标准PH 测量仪G4383A订购信息:3200P pH 测量仪性能指标*性能指标3200P测量范围 pH-2.000-20.000 pHmV-1999.9-1999.9 mV温度-5.0-110.0 °C分辨率 pH0.1/0.01/0.001 pHmV0.1 mV温度0.1 °C准确度 pH±0.002 pHmV±0.03% FS温度±0.1 °C温度补偿手动/自动 -5.0-110.0 °C电源通用交流电源适配器 100 V-240 V,50/60 Hz**外型尺寸(长 × 宽 × 高)[mm]190 × 190 × 105重量(kg)1*EC Print 软件用于进行简单和直接打印,而 EC 固件可以通过网站 www.agilent.com/chem/phmeters 免费下载**随测量仪提供
  • 薄膜溶解测量仪配件
    薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。另外,根据需要,我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer,提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具,以固定小尺寸的硅样品或3' ' ,4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同,如溶解速度的不同,它能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程,而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量,薄膜溶解测厚仪需要光滑,具有反射性的衬底,对于光学常数测量,平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的,衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量,已经成功应用于测量反射衬底(Si晶圆)上各种光滑,透明或轻度吸收薄膜的溶解过程,可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜,聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:15kg 电力要求:110/230VAC薄膜溶解测量仪应用:聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。
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