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氧化铝柱
仪器信息网氧化铝柱专题为您提供2024年最新氧化铝柱价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括氧化铝柱参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的氧化铝柱您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合氧化铝柱相关的耗材配件、试剂标物,还有氧化铝柱相关的最新资讯、资料,以及氧化铝柱相关的解决方案。
氧化铝柱相关的方案
微波消解氧化铝
氧化铝是一种高硬度的化合物,属于难以溶解的无机材料之一,常用于航空航天业、汽车业、半导体加工等领域。氧化铝作为高温耐火材料,常用来制瓷器,坩埚,人造宝石等。氧化铝的溶样方法主要有高温熔融法、磷酸或硫磷混酸加热溶解法以及盐酸密闭加热溶解法,检测方法主要有分光光度法、火焰光度法和光焰原子吸收光谱法。对于氧化铝的前处理方法,我们采用密闭加热的微波消解法,该方法试剂消耗少,空白低,元素损失小、回收完全,能够实现对氧化铝的快速、完全消解,有利于后续的元素分析。
微波消解氧化铝
氧化铝是一种高硬度的化合物,属于难以溶解的无机材料之一,常用于航空航天业、汽车业、半导体加工等领域。氧化铝作为高温耐火材料,常用来制瓷器,坩埚,人造宝石等。氧化铝的溶样方法主要有高温熔融法、磷酸或硫磷混酸加热溶解法以及盐酸密闭加热溶解法,检测方法主要有分光光度法、火焰光度法和光焰原子吸收光谱法。对于氧化铝的前处理方法,我们采用密闭加热的微波消解法,该方法试剂消耗少,空白低,元素损失小、回收完全,能够实现对氧化铝的快速、完全消解,有利于后续的元素分析。
活性氧化铝比表面积的研究与控制
活性氧化铝比表面积的研究与控制 摘 要:本文论述了快速脱水法生产活性氧化铝过程中影响产品比表面积的主要因素及其控制方法,为活性氧化铝生产控制提供了可靠依据。关键词:快速脱水法 活性氧化铝 比表面积
高纯超细氧化铝在锂离子电池行业中的应用
氧化铝(Al2O3)是一种白色晶状粉末,是一种无臭、无味、无毒的高硬度、耐高温化合物,熔点为2054℃,沸点为2980℃。粒度均匀的超细氧化铝粉体材料,具有多孔性、高分散性、绝缘性、耐热性等特点。高纯氧化铝按纯度分类,主要分为4N(纯度99.99%)、4N5(纯度99.995%)和5N(纯度99.999%)三个级别。5N级别的高纯氧化铝称为高纯超细氧化铝,通常用于锂离子电池、催化剂载体、透明陶瓷等领域。下面,我们就来探讨高纯超细氧化铝在锂离子电池行业中的应用。
高均匀度氧化铝微球的制备
氧化铝微球用于催化剂载体。催化剂是一种能够加速化学反应速率的物质,而氧化铝微球具有高比表面积和良好的孔隙结构,可以提高催化剂的活性和选择性,从而提高反应效率和产物纯度。
氢氧化铝佐剂pH滴定性能测试
一、氢氧化铝佐剂,有帮助之意。免疫佐剂能增强机体针对抗原的免疫应答能力,铝佐剂是目前应用最广的一类,作为疫苗佐剂使用已有近九十年,通常包括氢氧化铝佐剂和磷酸铝佐剂两类。本试验通过pH滴定法来测定某氢氧化铝佐剂的性能。
火焰原子发射法测定 富锂 氧化铝 中的氧化锂含量
采用硫酸 一磷酸混合酸溶解 富锂氧化铝 ,使用 火焰原子发射法测定富锂氧化铝 中的氧化锂 含量。讨论并确立了该方法的优加实验条件。结果表明,该方法氧化锂的定量限为 0.0004% ,相 对标 准偏 差 小于 3%,加标回收率在 99%一100%之间。为企业生产管理和现场操作提供依据。该方法正确度高,精密度好,且简单快捷,适于企业快速测定富锂氧化铝中的氧化锂含量。
低场核磁共振技术在氧化铝浆料亲和性研究中的应用
氧化铝浆料是一种用于制备氧化铝材料的液体混合物。它通常由氧化铝粉末、溶剂和粘结剂组成。氧化铝是一种具有高熔点和高硬度的陶瓷材料,具有优异的耐磨、耐腐蚀和绝缘性能,因此在许多领域得到广泛应用。
马弗炉炉膛材料碳化硅与氧化铝高铝的区别
马弗炉炉膛材料碳化硅与氧化铝、高铝在性能和使用效果方面主要由哪些区别
谱育科技EXPEC 6000碱熔法分析α-氧化铝中6种元素含量
本文采用EXPEC 6000测定氧化铝样品中包括Na、Si、Fe、Cu、Ca、Ga 6种杂质元素含量,通过对杂质含量不同的2种氧化铝样品的测量,并计算方法精密度,考察EXPEC 6000在氧化铝样品中的实际分析性能。结果表明:每种样品平行3次消解并测量的相对标准偏差(RSD)均小于8%,EXPEC 6000可用于氧化铝样品中元素的分析检测。
氧化铝浆料的加速稳定性测试
本文应用LUMiSizer® 分散体系分析仪,测试不同倍数重力加速度下氧化铝浆料的稳定性和界面分离速度。
EM科特扫描电镜应用-片状氧化铝
人工合成的片状氧化铝,纯度高、厚径比可调,表明光滑平整,分散性良好,在珠光、化妆品、汽车免漆、填料和磨料等领域有巨大的应用潜力。扫描电镜可快速表征颗粒表明形貌,测量长度厚度,估算长径比。
天津兰力科:无阻挡层多孔阳极氧化铝膜板的制备
提出一种在中性的KCl 溶液中用多孔阳极氧化铝作阴极,通过电解在阴极产生OH- 腐蚀阻挡层,制备无阻挡层氧化铝模板的新方法。用扫描电镜对模板进行了表征。结果表明,在草酸溶液中,制得的氧化铝模板孔径为70~80nm ,孔间距为130nm ,孔密度约8 ×109 / cm2 ,这种方法去阻挡层不扩大模板孔径,不影响纳米孔的纵横比。无阻挡层的氧化铝模板适合于直流电沉积和无电沉积金属纳米材料。
对含有氢氧化铝佐剂的注射剂的稳定性和再分散性研究
一 任务&挑战1.3款不同工艺制备的含有氢氧化铝佐剂的注射剂的快速稳定性比较,样品界面沉降速度以及颗粒沉降速度的比较。2.能量输入(不同强度的摇晃以再分散样品)对含有氢氧化铝佐剂的注射剂的解聚和再分散的影响二 仪器1.仪器型号:LUMiReader PSA® 稳定性分析仪(静置型)2.测试条件:: NIR近红外光源,1g,25° C,30min
应用案例 | 鼎竑离子减薄仪GU-AI9000减薄氧化铝陶瓷
在利用透射电镜观察氧化铝陶瓷的晶粒形貌时,陶瓷的脆性和硬度给制样带来了一定的困难,而离子减薄对比机械减薄、超薄切片等方法可以有效避免样品破碎,因此本文采用离子减薄仪对氧化铝陶瓷进行透射电镜制样。
工业生产中的氧化铝粉含水量如何检测?
采用AKF-2010V卡尔费休容量法水分测定仪测定氧化铝粉的水分,操作迅速简便,能够准确测定其含水量。
化工(氢氧化铝阻燃剂)库仑法水分测定解决方案
氢氧化铝是一种无机环保型阻燃添加剂,应用时不仅能阻燃,而且可以防止发烟、不产生滴下物、不产生有毒气体,在橡塑领域应用广泛。本试验采用AKF-CH6一体机测定一款氢氧化铝阻燃剂中的水分含量。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质
本文使用岛津MXF-2400多道X射线荧光光谱仪分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O等主要杂质成分,采用粉末压片法制样,以氧化铝行业标准样品建立校准曲线,曲线线性良好,正确度在可接受范围之内,相关系数r均在0.999以上。通过研磨方式及研磨时间实验,确认了合适的研磨方法。对精度进行了考察,同一样品重复测定多次,极差在允许范围之内,方法精度良好,满足GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》对分析结果的要求。
波长色散型X射线荧光光谱仪可快速分析氧化铝中主次成分
氧化铝是一种用途非常广泛的工业原材料, 由于硬度较大可用作磨料,抛光粉。高温烧结的氧化铝,称人造刚玉或人造宝石,可制机械轴承或钟表中的钻石。氧化铝也用作高温耐火材料,制耐火砖、坩埚、瓷器、人造宝石等,氧化铝也是炼铝的原料。而在实际的生产过程中,需要测定其中的主次元素含量,但在高纯的氧化铝粉中,杂质组分一般都在几十个ppm的浓度水平。近些年中国的氧化铝工业快速发展,产量远远高于世界平均水平,X射线荧光光谱法作为标准分析方法《GB/T6609.30-2009》,可以准确、快速进行化学组分的测定,为生产控制提供参考也就显得尤为重要。
谱育科技EXPEC 6000微波消解法分析β-氧化铝中8种元素含量
本文采用EXPEC 6000测定氧化铝样品中包括B、Ca、Fe、Mg等8种杂质元素含量,通过对杂质含量不同的3种氧化铝样品的测量,并计算方法精密度和样品中各元素氧化物含量,考察EXPEC 6000在氧化铝样品中的实际分析性能。结果表明:每种样品平行3次消解并测量的相对标准偏差(RSD)均小于7%,EXPEC 6000可用于氧化铝样品中元素的分析检测。
ICP测氧化铝中微量杂质的应用方案
美析ICP-6800电感耦合等离子体发射光谱仪作为种新型的分析仪器,较其它分析仪器而言,具有灵敏度高、精密度好、线性范围宽、基体效应小、动态范围宽、快速简便并可同时进行多元素分析的优点,已成为痕量分析常用的分析仪器之一。基于以上的背景调研,我们拟采用ICP 6800型电感耦合等离子体发射光谱仪对含有杂质的氧化铝进行微量元素的检测,主要研究并测定了氧化铝可能存在的金属元素,如钛、铜、镁、锰、钙、锌、铬、硅和铁的含量。
【国仪量子】揭秘氧化铝行业:气体吸附技术如何大展身手
本文介绍了采用气体吸附技术对氧化铝的比表面积、孔容、孔径分布以及真密度等物理性能参数的表征。氧化铝在矿业、制陶业和材料科学上又被称为矾土,是一种高硬度化合物,因其高比表面积及多孔隙结构被广泛应用于航天、电子、化学化工、医药、吸附、催化剂及其载体,以及陶瓷、机械及冶金等各个领域中。
解决方案|ICP法测定氧化铝煅烧粉/造粒粉中铁,钙,镁等元素含量
通过测定铁、钙、镁等元素的含量,可以对生产过程中的原料、煅烧过程和造粒过程进行质量控制,确保最终产品的质量符合要求。本文根据国家标准GB/T 6609.1-2018中原子吸收分光光度计测定氧化铝煅烧粉/造粒粉中铁,钙,镁等元素的方法,并经过检测条件的优化,建立了东西分析ICP-7760HP型全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪测定氧化铝煅烧粉/造粒粉中铁,钙,镁等元素含量的方法,该方法具有应用范围广、操作方便等优点,可供相关人员参考。
电子探针分析氧化铝陶瓷的烧结缺陷
为了降低氧化铝陶瓷的烧结温度,使用添加剂是一种常用的有效方法,这种方法对原材料质量和烧结工艺的控制也有不同的要求。本文借助电子探针显微分析仪对一类低温烧结氧化铝陶瓷表面缺陷的问题进行了分析。结果表明:相较于正常烧结件,有缺陷的色彩异常的烧结件,原材料颗粒较粗大,残存有未熔的添加剂颗粒物,但不同颜色区域的微观形貌差异并不明显,主要是由于微观区域的元素面分布差异导致了肉眼可见的色彩异常。针对正常烧结件,也给出了进一步优化工艺的建议。
Prodigy DC Arc直流电弧光谱仪测定氧化铝中的痕量元素
氧化铝是两性氧化物,分子式Al2O3。一般被称为氧化铝(α-氧化铝),或者结晶状金刚砂,或其他一些名称,反映出它在自然界和工业领域的广泛出现。它的最重要应用是生产铝合金;因为硬度强,它也被用作磨料;它也被用作耐火材料,因其具有高熔点。 这篇文章的数据是为了证明Teledyne Leeman Labs Prodigy直流电弧光谱仪测定高纯Al2O3中的痕量元素的能力。
瑞士万通:离子色谱法测定氧化铝中无机阴离子
本文建立了离子色谱测定氧化铝中杂质的方法。采用少量硝酸溶解、氢氧化钠调节pH值,对样品进行前处理。以5.0mmol/L碳酸钠+0.3mmol/L氢氧化钠为洗脱液,化学抑制电导检测测定无机阴离子。本法样品预处理简便,易于操作。用于实际样品分析,结果良好。
贝士德仪器:利用粉煤灰制备高纯氧化铝纳米粉体的研究
摘!要!地球资源的充分利用已成为当今人们普遍关注的问题之一!采用苏打"A’"3K%#焙烧沥滤工艺从粉煤灰烧结料浸出液中制取了高纯超细氢氧化铝$进而通过控制煅烧制得氧化铝纳米粉体!对制备氧化铝的活化过程%浸出过程和煅烧过程的化学原理与工艺控制进行了研究与分析$确定了制备高纯氧化铝纳米粉体的较佳实验条件和工艺参数!应用^G_%H&B%9&H和J3等微观分析手段对所得C?"K%的形态%结构和纯度进行了表征!结果表明&焙烧%水煮粉煤灰和A’"3K%$并精确调节溶出液的OI值$可使超细的氢氧化铝沉淀析出!在\$b充分干燥后$分别于\##b%!!##b煅烧"*$得到晶型结构分别为(RC?"K%和’RC?"K%的氧化铝纳米粉体$其形态为纤维状和球状$比表面积分别为"%\@UN"’ 和!X@\"N"’ $平均粒径为"#!V#/N$纯度大于UU@U[!关键词!粉煤灰(氧化铝(纳米粉体(制备3H-2000BET-M型全自动氮吸附比表面积测试仪是目前国内多项测试功能唯一并且完全自动化的比表面积测试仪仪器,由贝士德仪器科技(北京)有限公司研制生产.国产比表面积测试仪使用较广的为3H-2000系列比表面积测试仪,国内拥有大量客户,08年推出的几款新品比表面积测试仪,国内拥有多项唯一的领先技术,如原位处理.风热助脱.程控六通阀.检测器零漂抑制.浓度色谱法检测等.使得国产动态色谱法比表面积测试仪器在多项指标方面超越了进口比表面积测试仪.广泛应用于石墨、电池、稀土、陶瓷、氧化铝、化工等行业及高校粉体材料的研发、生产、分析、监测环节。比表面,比表面仪,比表面积,比表面积仪,比表面积测试仪,比表面积测定仪,比表面积分析仪,比表面积测试,比表面积测定,比表面积分析,比表面测试仪,比表面测定仪,比表面分析仪
以滑石粉、硅藻土和氧化铝为原料合成堇青石粉体
以一批滑石粉、硅藻土和氧化铝为原料,合成了堇青石粉体。使用Linseis的热膨胀仪测视了样品的线性膨胀系数,使用Linseis的同步热分析仪L81分析了样品的热力学性能。用X射线衍射、差热分析和里特维德分析对合成的堇青石烧结样品进行了表征。
利用改性粉煤灰氢氧化铝去除脱硫废水中的氯离子改性粉煤灰氢氧化铝
通过碱/酸混合焙烧和微波制备,并将其作为氯离子的吸附剂。用作脱硫废水中氯离子的吸附剂。通过X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)分析了不同吸附剂的比表面积和孔隙率。显微镜(SEM)。研究了pH值、温度、吸附剂用量和吸附摇动时间对吸附性能的影响进行了研究。结果显示,碱合焙烧改性的粉煤灰氢氧化铝对Cl-具有最佳的去除效果。
氧化铝中可溶性阴阳离子的测定 普仁双系统离子色谱法
本文是选用双系统离子色谱法对氧化铝中可溶性阴阳离子同时测定,方法简便节时。样品前处理:称取10.0g固体样品于150mL的烧杯中,加入约60mL的热水,搅拌均匀,置于水浴锅中,于80℃恒温25min后过滤,滤液转移至100mL容量瓶中,冷却至室温,用水稀释至刻度,混匀,过0.22um滤膜进离子色谱仪测试。
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