油品折射量仪

在PA系类设备的基础上，加装晶圆专用的装置，可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

完美融和创新设计及先进技术，Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪，用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)+- 0.00005*重复性+- 0.00002波长范围350nm- 14um温度范围（可选）77-373K波长精度+- 0.05%波长分辨率1nm仪器测试孔径25 mm 直径旋转平台分辨率.008 角秒双RTD(电阻热装置)+-0.3 摄氏度探测器MCTDSP锁相放大器SRS 830源类型：150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um)单色仪：自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝尺寸： 6ft x 4ft x 3ft重量： 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包&bull 准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证&bull dn/dT：折射率系数随温度变化&bull 色散：折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Cauchy等样品制备色散曲线dn/dT曲线

PA-300-L主要简介 PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板A4纸尺寸的样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

主要简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述： 日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

KAMAKIRI-WM Photonic Lattice online双折射测量仪产品简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域 Photonic Lattice online双折射测量仪主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 Photonic Lattice online双折射测量仪应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 Photonic Lattice online双折射测量仪技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

产品详细说明 PR-32&alpha PALETTE系列数显折射计新型 Palette&alpha (alpha) 系列实现精度改良为 Brix ± 0.1%! Palette&alpha (alpha) 系列既可测量果汁&bull 食品&bull 饮料等Brix，又可测量化工液体浓度如切削油&bull 清洗液&bull 不冻液等。Palette&alpha (alpha) 系列可设置客户专用刻度，客户自己预设系数 [浓度=Brix x 系数 ]就可直读此样品的浓度。另外，Palette&alpha (alpha) 系列采用新功能 "External-Light-Interference" (ELI) *，可防止强烈外光下的误测量，可在外边· 窗边时的测量也得到稳定测量结果。 型号PR-32&alpha 货号3405测量范围糖度(Brix) 0.0 至 32.0%最小显示单位糖度(Brix) 0.1%测量准确度糖度(Brix) ± 0.1%测量温度5 至 40° C(自动温度补偿)环境温度5 至 40° C电源006P 蓄电池 ( 9V )国际保护等级IP64 无尘且对泼溅的水具防护作用尺寸重量17× 9× 4公分, 300公克(不含零件的重量)选件&bull EXTRACTOR : RE-29401&bull 10% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110010&bull 20% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110020&bull 30% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110030ATAGO爱拓 中文官网：ATAGO 日本总部官网： 关于爱拓(日本ATAGO)成立于1940年的日本ATAGO（爱拓），半个多世纪以来不断地致力于研究和开发多样化的，应用广泛的光电测试仪器，其主要产品为折射仪，旋光仪及基于折射仪测定各种物质浓度的衍生产品浓度计。ATAGO（爱拓）产品的应用涵盖食品饮料，果蔬加工，糖业，日用化工，生物制药，临床检验，石油化学到金属制造等许多领域，在世界处于领先地位并占据最大市场份额，ATAGO（爱拓）产品的设计与制造过程遵循ISO9000质量体系认证，所有ATAGO（爱拓）产品在离开厂房时均经过严格彻底的检验，产品品质卓越，耐用性超群，长久以来，凭借优秀的品牌知名度，ATAGO（爱拓）产品不断获得来自全世界一百多个国家客户的完全信赖.关于爱拓中国(ATAGO CHINA Ltd.)2011年ATAGO（爱拓）中国分公司的成立和正式运行（全称广州市爱宕科学仪器有限公司），将使广大国内用户能够快速地购买产品，获得使用指导和维修服务。 #ATAGO （爱拓）在线折光仪# ----PRM-100a"荣获&ldquo 2012年度食品工业技术创新奖仪器厂商&rdquo 称号。采用超高精度可同时显示Brix值及折射率（nD),420mA信号输出及RS-232C接口可方便的进行自动化控制，多规格安装接口能匹配各种安装管道，实时监控当前产品品质,确保工业产品品质安全、降低风险和质量控制成本

本系统根据最小保护角度法(散荷法)，在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光，通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点：可以在波长范围1~14um中测量折射率，可以达到(0.0001)的高精度；配备温度调控功能，可以测量不同温度下的折射率的差异。

本系统根据最小保护角度法(散荷法)，在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光，通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点：可以在波长范围1~14um中测量折射率，可以达到(0.0001)的高精度；配备温度调控功能，可以测量不同温度下的折射率的差异。

主要简介：Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点：可用来评估高相位差产品，PET薄膜和树脂成品三波长测定双折射范围可达3000nm可选配高相位差配件，满足10000nm的超过相位差测定需求应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃主要参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长523nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3000nm4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm6测量尺寸97×77mm ～ 2900×2310mm7定制选项光学配件，可测量超过10000nm的高相位差

红外折射率测量仪 完美融和创新设计及尖端技术，Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪，用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)*重复性波长范围温度范围（可选）波长精度波长分辨率仪器测试孔径 旋转平台分辨率 双RTD(电阻热装置) 探测器DSP锁相放大器 +- 0.00005 +- 0.00002350nm- 14um77-373K+- 0.05%1nm25 mm 直径.008 角秒+-0.3 摄氏度MCT SRS 830 源类型：150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um) 单色仪：自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝 尺寸： 6ft x 4ft x 3ft重量： 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证dn/dT：折射率系数随温度变化色散：折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Herzberger、Cauchy等 色散曲线 dndT温度变化曲线

NAR-1T LIQUID液体柴油折射率浓度阿贝折射仪【详细说明】NAR-1T LIQUID阿贝折光仪这是液体专用的阿贝式折射仪。型号 NAR-1T LIQUID 货号 1211测量范围:折射指数 (nD)1.3000 至 1.7000糖度(Brix):0.0 至 95.0% 最小显示单位 折射指数 (nD) 0.001糖度(Brix) 0.5%测量准确度 折射指数(nD) ± 0.0002糖度(Brix) ± 0.1% 测量温度范围 5 至 50° C数字式温度计 显示范围 0.0 至 50.0° C( 精度± 0.2° C最小显示0.1° C )电源 115V, 220V, 240V ( 请您选择电源 ) 50/60Hz光源 LED 电力损耗 5VA尺寸重量:13× 18× 23公分, 2.5千克 (折射仪) 10× 11× 7公分, 0.5千克 (温度计) 我公司主要专业生产固形物测量仪、折光率分析仪、糖度分析仪、盐度分析仪、蜂蜜水分计、阿贝折光仪、海水盐度测量仪、BRIX分析仪、麦芽浓度分析仪、乙醇浓度计、丙二醇测量仪、旋光仪、尿比重计、葡萄酒酸度检测仪、切削油测量仪、防冻液冰点测量、电池液测量、碱液浓度传感器、DMF浓度传感器、双氧水浓度传感器、牛奶浓度计、豆浆测量仪等产品。日本atago(爱拓)简称：爱拓

双折射应力测量仪PA-110-T大面积应力双折射应力测量仪概述：日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的最大面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

阿贝折射仪检定装置1、阿贝折射仪检定装置的折射率测量范围为1.47 ～1.68，分别由QK1 、K9 、F2 、ZF2 阿贝折射仪标准块标称名义值约为 1.47 、1.51 、 1.61 、1.68 。 2、经计量部门采用 V 棱镜折射法校准，阿折射仪标准块的折射率（nD）测量扩展不确定度优于 5x10 - 5 ( k=3) ，平均色散（nF -nC）测量扩展不确定度优于7x10 -5 ( k=3) 。 3、三种溶液。 4、钠光源灯（选配） 符合JJG625 -2001 阿贝折射仪国家计量检定规程的要求，可以作为计量技术机构对阿贝折射仪校准用的计量标准器。上海标卓科学仪器有限公司是仪器仪表行业的新锐企业，检测仪器设备的生产、销售、维修、计量管理于一体的综合型公司。公司生产整套完整的精密测量仪器及相关解决方案，并代理、经销国内外几百家的检测仪器和机械设备。主要涉及：机械设备检测仪器、长度类、力学类、电学类、试验类、光学类、精密量仪类、无损测试、理化分析、教学仪器、专用量仪及环境试验设备仪器等等系列，销售产品达成千上万多种，为企业质量管理及企业认证提供完善硬件设备的服务。

一、产品介绍：阿贝折射仪是利用全反射临界角原理，测量透明、半透明液体或固体的折射率（nD）和平均色散（nF-nC）的仪器。 GG－AB型阿贝折射仪检定装置，用于检定阿贝折射仪或其它利用阿贝折射原理的计量仪器。 二、组成 阿贝折射仪检定装置由四种阿贝折射仪标准块，三种折射液及一个钠光灯和灯源组成(选配)。 四种阿贝折射仪标准块均为长方形块，分别由轻冕玻璃QK1，冕玻璃K9，火石玻璃F2，重火石玻璃ZF2四种优质光学玻璃材料加工制成。 三种折射液分别为：水杨酸甲酯、溴代萘混合液、二碘甲烷混合液。 三、折射率测量范围 阿贝折射仪检定装置的折射率测量范围为1.47～1.68。 四、测量不确定度 阿贝折射仪标准块的折射率测量不确定度：5×10-5（k=3） 阿贝折射仪标准块的平均色散测量不确定度：7×10-5（k=3）

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片、手机镜头智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

阿贝折射仪是利用全反射临界角原理，测量透明、半透明液体或固体的折射率（nD）和平均色散（nF-nC）的仪器； 阿贝折射仪检定装置：用于检定阿贝折射仪或其它利用阿贝折射原理的计量仪器。 WYA-3S数字阿贝折射仪：能测定透明、半透明液体和固体的折射率nD和蔗糖、葡萄糖、F42、F55果葡糖浆的质量百分数(Brix)； 果汁、蔬菜、软饮料、罐头制品的干固物含量；蜂蜜含水量。 WYA-2W双目阿贝折射仪：测定液体或固体的折射率和糖水溶液中干固物的质量分数即锤度Brix,可以用于制糖、制药、饮料、石油、食品、化工工业生产、科研、教育部门的检测分析。采用目视瞄准，光学度盘读数，简单可靠。

手持折射仪 N-8&alpha (alpha)数10倍～100倍稀释的水溶性切削油等低浓度液体用折射仪。折射度数的观察与目前上市的其它折射仪相较，更加清楚明亮。ModelN-8&alpha (alpha)型号2360标度范围Brix 0.0 至 8.0 %最小标度Brix 0.1 %尺寸重量4× 4× 21公分, 260公克消耗品/零件N-8&alpha 专用日光板(附绞练钉): RE-2360-51L

ATAGO（爱拓）数显阿贝折光仪 DR-A1-PLUS 操作简单，只需在交叉线中设定好折射边界线，ATAGO（爱拓）数显阿贝折光仪 DR-A1-PLUS能直接显示测量值 (可选择折射指数或糖度%) 和温度，无须读取模拟式刻度，任何人都能轻易地完成测量。* 本折光仪无法测量分散性的数值。 型号DR-A1-PLUS货号1310测量范围折射指数 (nD) 1.3000 至 1.7100糖度 (Brix) 0.0 至 95.0% ( 在5 至 50 ℃会进行自动温度补偿 )分辨率折射指数(nD) 0.0001 糖度 (Brix) 0.1%测量精度折射指数(nD) 0.0002糖度(Brix) 0.1%温度范围5 至 50℃(最小标度为0.1℃功率16VA电源AC适配器（100至240V）尺寸重量13*29*31cm/6.0kg(仅限主机)10.5*17.5*4cm/0.7kg (AC适配器)

PHL应力双折射仪器PHL PA-micro显微型应力双折射仪PHL应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：型号PA-Micro测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸250x487x690mm观测到的最大面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口千兆以太网（摄像机信号）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View（for Micro）

Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR 主要特点： 红外波长的双折射/相位差/内应力面分布测量硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估小型、簡単操作、高速測量 WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场 WPA-200-NIR的功能1. 高速测量面的双折射/相位差分布 NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息2. 测量数据的保存/读取 全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等3. 丰富的图形创建功能 从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出主要技术参数型号WPA-200-NIR测量范围0~3500nm重复精度1.0nm测量尺寸范围3×4mm~100×133mm像素数384*288 pixels测量波长810nm，850nm 870nm尺寸270x337x631mm自身重量13kg

150AT应力双折射测量系统所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 应力双折射测量仪所属品牌：美国Hinds Instruments公司 产品简介150AT全自动应力双折射测量系统 全自动应力双折射测量系统 150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可用作诸如玻璃面板，透镜，晶体，单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况，便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置，使得测量更有针对性（高精度/大范围相位延迟量），系统有着很高的测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力（1 mm grid spacing ），150AT应力双折射系统也提供倾斜位移平台等设计来帮助客户完成一些非常规扫描/测量需求。 产品特点自动X/Y位移平台扫描二维/三维图形/参数表格显示样品应力分布测量结果台式整机设计组装灵活位移平台设计，满足个性化定制需求强大数据拟合分析功能和友好用户界面 参数高精度测量系统选项大范围相位延迟量测量选项相位延迟量范围:0.005 to 120+ nm0.005 to 300+ nm相位延迟量测量分辨率/ 重复精度1, 2, 3:0.001 nm / ± 0.008 nm0.01 nm / ± 0.015 nm角度测量分辨率 / 重复精度1:0.01o / ± 0.05°0.01o / ± 0.07°测量速率 / 时间4:up to 100 pps / sample size dependent尺寸:910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D)光源波长5:Various (632.8 nm standard)测量光斑6:Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 μm)内置测量调制频率:PEMLabsTM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz解调分析技术:Hinds Instruments SignalocTM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card测量单位:nm (retardation), ° (angle)1 Typical performance at 5 nm retardation2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters.5 Custom wavelengths available6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module 选项: * Additional Polarization Parameters * 超高速扫描选项 * 光谱扫描测量和RGB测量 * 客户定制内置波长选项（紫外/红外） * 手动/自动倾斜位移平台装置 * 定制样品平台加持谁记 * 定制化显示界面 (UI or DLL) * 应力计算评估软件 相关产品 光弹调制器

PR-RI PALETTE系列数显折射计我们ATAGO产品袖珍型产品中长期畅销商品的PAL系列增加了新产品, 就是测量折射率的PAL-RI.适合在药品及化工制品等以折射率来管理产品质量的过程中使用. 型号PR-RI货号3480测量范围折射指数(nD)1.3306 至 1.4436溶解值折射指数(nD) 0.0001测量准确度折射指数(nD)± 0.0002(在20度摄氏使用水时)环境温度10 至 40° C测量温度5 至 45° C(溶解值 1° C )样本量0.3 毫升测量时间3 秒电源006P 蓄电池 ( 9V )国际保护等级 IP64 无尘且对泼溅的水具防护作用。尺寸重量17× 9× 4公分, 300公克(不含零件的重量)ATAGO（爱拓）全新的PAL-39S双氧水浓度快速测定仪双氧水折光仪使用折光原理快速方便的检测双氧水浓度，只需要0.5ml左右的样品，滴加之后3秒钟显示测量结果，手持便携，易于操作。PR- 50HO双氧水浓度测定仪双氧水折射计具有更高的精度和使用寿命，可快速方便的检测双氧水浓度，只需要0.5ml左右的样品，滴加之后3秒钟显示测量结果，通过电池设计，手持便携，易于操作，测量精准。更多使用与应用信息请联系日本ATAGO（爱拓）种豆浆的Brix值大约 10%4.测量豆浆的浓度1.在做豆腐前测量豆浆的浓度2.在做豆腐前需测量豆浆的浓度，折射计可以快速提供测量结果*由于制造流程或使用的豆子原料的不同，豆浆在制作过程中的糖度( Brix )值会发生变化ATAGO爱拓 中文官网：ATAGO 日本总部官网： 关于爱拓(日本ATAGO)成立于1940年的日本ATAGO（爱拓），半个多世纪以来不断地致力于研究和开发多样化的，应用广泛的光电测试仪器，其主要产品为折射仪，旋光仪及基于折射仪测定各种物质浓度的衍生产品浓度计。ATAGO（爱拓）产品的应用涵盖食品饮料，果蔬加工，糖业，日用化工，生物制药，临床检验，石油化学到金属制造等许多领域，在世界处于领先地位并占据最大市场份额，ATAGO（爱拓）产品的设计与制造过程遵循ISO9000质量体系认证，所有ATAGO（爱拓）产品在离开厂房时均经过严格彻底的检验，产品品质卓越，耐用性超群，长久以来，凭借优秀的品牌知名度，ATAGO（爱拓）产品不断获得来自全世界一百多个国家客户的完全信赖.关于爱拓中国(ATAGO CHINA Ltd.)2011年ATAGO（爱拓）中国分公司的成立和正式运行（全称广州市爱宕科学仪器有限公司），将使广大国内用户能够快速地购买产品，获得使用指导和维修服务。 #ATAGO （爱拓）在线折光仪# ----PRM-100a"荣获&ldquo 2012年度食品工业技术创新奖仪器厂商&rdquo 称号。

PHL应力仪PHL应力双折射仪PHL WPA-100应力双折射测试仪器PHL应力双折射测试仪简介：PHL应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。Photonic Lattice主要产品分四部分：Photonic Lattice光子晶体光学元件；Photonic Lattice双折射和相位差评价系统；Photonic Lattice膜厚测试仪；Photonic Lattice偏振成像相机。Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100，WPA-100-LPhotonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围PHL WPA-100应力双折射测试仪主要参数表：型号 WPA-100 WPA-100-L测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm观测到的最大区域 100x136mm 250x340mm重量 20kg 26kg数据接口 GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S专为小镜头（10mm）双折射测量而设计配备自动选择圆形区域，相位差值传递失败判断功能，特别适合树脂镜片成型的质量控制。主要参数表型号 WPA-100-S测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 200x275x309.5mm观测到的最大面积 11.6x15.8mm自身重量和电源重量 4kg 和9kg电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View

ATAGO（爱拓）手持折射仪 MASTER-53α ATAGO（爱拓）刻度式手持折射计 MASTER-53α/53Pα测量范围 Brix 0.0 至 53.0%，具备防水及自动温度补偿功能。日本ATAGO爱拓公司主要生产：可溶性固形物测量仪、折光率分析仪、糖度分析仪、盐度分析仪、蜂蜜水分计、阿贝折光仪、海水盐度测量仪、白利度Brix分析仪、麦芽汁浓度分析仪、乙醇浓度计、丙二醇浓度计、旋光仪、尿比重折光仪、葡萄酒酸度检测仪、切削液浓度计、防冻液冰点仪、电池液测量仪、碱液浓度传感器、DMF浓度传感器、双氧水浓度计、牛奶测量仪、豆浆浓度计等产品。

详细说明】 ATAGO爱拓 中文官网：ATAGO 日本总部官网： MASTER-SUR/NM临床折射仪MASTER-SUR/NM是临床用折射仪，它是测量血清蛋白，尿比重以及折射率的产品。它在材料上采用的树脂具有耐盐性及耐酸性，可以防止腐蚀。与MASTER-SUR/NM不同，这款没有带防水功能及自动温度补偿功能。您可以手动校正。 型号MASTER-SUR/NM货号2773標度範圍尿比重标度 : 1.000 至 1.060血清蛋白质标度 : 0.0 至 12.0g/10 0毫升屈折指数标度 : nD 1.3330 至 1.3660最小標度尿比重标度: 0.001血清蛋白质标度 : 0.2公克/100毫升折射指数标度 : (nD) 0.0005選件&bull MASTER 系列 微量样品用棱镜盖 : RE-2391-50M (粘度高的产品除外)消耗品/零件MASTER 系列 专用日光板 : RE-2391-59M尺寸重量3.2× 3.4× 20.3公分,105公克 关于爱拓(日本ATAGO)成立于1940年的日本ATAGO(爱拓)，半个多世纪以来不断地致力于研究和开发多样化的，应用广泛的光电测试仪器，其主要产品为折射仪，旋光仪及基于折射仪测定各种物质浓度的衍生产品浓度计。ATAGO(爱拓)产品的应用涵盖食品饮料，果蔬加工，糖业，日用化工，生物制药，临床检验，石油化学到金属制造等许多领域，在世界处于领先地位并占据最大市场份额，ATAGO(爱拓)产品的设计与制造过程遵循ISO9000质量体系认证，所有ATAGO(爱拓)产品在离开厂房时均经过严格彻底的检验，产品品质卓越，耐用性超群，长久以来，凭借优秀的品牌知名度，ATAGO(爱拓)产品不断获得来自全世界一百多个国家客户的完全信赖.关于爱拓中国(ATAGO CHINA Ltd.)2011年ATAGO(爱拓)中国分公司的成立和正式运行(全称广州市爱宕科学仪器有限公司)，将使广大国内用户能够快速地购买产品，获得使用指导和维修服务。 #ATAGO (爱拓)在线折光仪# ----PRM-100a"荣获&ldquo 2012年度食品工业技术创新奖仪器厂商&rdquo 称号。采用超高精度可同时显示Brix值及折射率(nD),420mA信号输出及RS-232C接口可方便的进行自动化控制，多规格安装接口能匹配各种安装管道，实时监控当前产品品质,确保工业产品品质安全、降低风险和质量控制成本""""--

NAR-1T-LO 阿贝折光仪(低折射指数测量使用)测量低折射指数的阿贝折光仪,除了ATAGO爱拓标准型阿贝折射仪NAR-1T, NAR-2T, NAR-3T, NAR-4T 与 DR-A1-plus，我们亦提供以下阿贝折光仪。*ATAGO爱拓折射率测量范围：1.7000 至 2.0800，温度：0至50℃ 或 0至120℃的阿贝折光仪。*以上阿贝折光仪具有与ATAGO爱拓标准型阿贝折光仪NAR-1T/NAR-2T 的相同标度，可参考附有转换表。 型号NAR-1T LO货号1217测量范围折射率(nD)1.1500 至 1.4800分辨率折射率 (nD) 0.001测量精度折射指数(nD) ± 0.0002测量温度范围5 至 50℃测量温度显示范围 0.0 至 50.0℃电源AC 100 至240 V ,50/60Hz光源LED电力损耗5VA尺寸重量13*18*23cm（主机） 10*11*7cm（温度显示器）ATAGO爱拓源自日本 ，专注折光仪超过80年，专业生产固形物测量仪、折光率分析仪、糖度分析仪、盐度分析仪、蜂蜜水分计、阿贝折光仪、海水盐度测量仪、BRIX分析仪、麦芽浓度分析仪、乙醇浓度计、丙二醇测量仪、旋光仪、尿比重计、葡萄酒酸度检测仪、切削油测量仪、防冻液冰点测量、电池液测量、碱液浓度传感器、DMF浓度传感器、双氧水浓度传感器、牛奶浓度计、豆浆测量仪等产品。