元素杂质分析

multi EA 5100元素分析仪是德国耶拿公司2020年推出的用于分析各种气体、液体和固体中的硫、氮、氯和碳的灵活解决方案。 经得起考验的多面手 multi EA 5100元素分析仪不需要对设备进行改造，即可可快速测试气体、液体和固体中的硫、氮、氯和碳；还可以升级相应模块用于测试TOC/AOX/TOX/EOX等环境指标。此外，仪器还可提供多种高通量的气体和带压液体分析方案。 垂直炉和水平炉一体化设计 multi EA 5100元素分析仪采用双炉技术，双炉技术可以解决各种基质样品的测试，适应各种样品特性和分析方法的要求。垂直炉可快速精确的测试极低含量的气体样品和液体样品，水平炉提供固体、粘稠样品和其它复杂样品的最优化测试。 极大的操作安全保障 multi EA 5100配备安全自检系统，保证各部件长期稳定工作：自动调节和优化所有系统参数、确保无故障安全操作；有效消除来自颗粒物、气溶胶和其它气体杂质带来的不良影响；维护周期提醒功能......如上均有效地节约了维护时间和保证系统长期稳定进行。 高效智能化的功能 multi EA 5100的方法库内置多种标准测试方法，用户可以快速的调用方法，可以实现一次进样测得样品中的硫、氮和碳的结果。如需测氯，仪器会自动切换为氯检测模式，无需任何手动切换操作。 综上所述，德国耶拿multi EA 5100元素分析仪可快速完成样品测试，极大节约成本；其优化的燃烧系统，确保测试结果的准确性。multi EA 5100的多功能性和智能化等特点使其成为一种通用型仪器，可应用于各个领域，特别是石化、基础化工、煤化工、有机材料、高炉气、环保等领域。

1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统将动态范围和 UV 灵敏度均提高 30 倍，同时具有 UHPLC 级分离度和速度。一次运行即可检测和定量样品中的各种组分，并获得优异的峰面积精度，适用于分析低浓度杂质。特性 缩短分析周期，大幅提高分析效率。1290 Infinity II 宽动态范围 DAD 系统将紫外线性范围扩展至原来的 30 倍，确保样品的检测器响应处于校准范围内。无需重新分析、重新校准或额外的样品前处理步骤 对主要化合物和杂质同时进行分析和定量时，灵敏度可最多提高 30 倍。提高自动谱峰积分的可靠性，同时实现更高的痕量组分峰面积精度 更高的分离度和速度。高达 1300 bar 的高压耐压能力 (1290 Infinity II LC) 和高达 5 mL/min 的流速使系统具有强大的分析能力，提供超强的色谱性能 同时监测整个波长范围，确保不遗漏任何一个 UV 活性化合物 通过与其他检测器（例如 6100 系列单四极杆液质联用系统或具有拓宽 90 倍的动态范围的 1290 Infinity II 蒸发光散射检测器）相结合，避免遗漏任何化合物 与时俱进，享受最快的分析速度。1290 Infinity II DAD 的数据采集速率高达 240 Hz，1290 Infinity II DAD FS 的数据采集速率高达 120 Hz

MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统是一款用于半导体厂务及FAB产线中电子级湿化学品金属杂质含量的在线监测系统，提供电子级湿化学品“采样-传输-稀释-标曲-内标-进样-分析-报告”全流程解决方案。“多”—集中或分布式采样点20个以上“快”—单个样品分析和异常复测15分钟“好”—无阀流路设计，ppt级流路本底“省”—省人，全自动在线分析；省心，自动在线配制标曲，效率提升100%；省成本，高纯试剂用多少配多少，无需清洗配标容器，高纯试剂消耗量几乎降为0应用于半导体湿电子化学品金属杂质在线检测

锂离子电池的性能与正极材料的质量息息相关，当在正极材料中存在铁（Fe）、铜（Cu）、铬（Cr）、镍（Ni）、锌（Zn）、银（Ag）等金属杂质时，这些金属会先在正极氧化再到负极还原，当负极处的金属单质累积到一定程度，其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜，造成电池自放电。负极材料中的杂质元素同样严重影响电池的电化学性能，有可能刺穿隔膜，造成安全隐患。如何精准高效确认磁性杂质的来源，以此优化生产工艺呢？ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类，以此判定是哪个生产环节出了问题。可根据不同的检测需求，灵活定制自动分析流程常见自动化分析方案仅是能谱软件中的一项功能，可更改的参数很少，无法根据客户的需求灵活调整，也无法满足客户特殊户需求。ParticleX 是一套独立运行的系统，自动分析流程、杂质分类规则、报告生成样式等都可以根据实际需求灵活定制，会给每个客户定制一套针对性解决方案。长寿命 CeB6 晶体灯丝，确保自动化分析的流畅运行常见电镜灯丝材料为钨，寿命较短（仅为100小时左右），并且灯丝后期会熔断，导致分析过程立刻终止。CeB6 灯丝寿命超过1500小时（厂家质保），灯丝后期不会发生熔断，确保了自动化分析的流畅运行。另外，CeB6 灯丝亮度更稳定，因此其结果准确性也更高。多项设计，保证高通量快速运行 100 × 100 mm 大尺寸样品台，可一次放置多个样品，一键自动全分析 三仓分离的真空设计，抽真空时间小于 1 分钟，换样速度极快 全自动电动马达台，保证位置移动的快速、精确软硬件一体化设计，保证了软硬件的协调工作 软件可以充分调用硬件权限，并针对性优化； 电镜和能谱一体化设计，工作距离一致，避免频繁调节电镜或能谱工作距离，大大提升操作便捷性； 售后问题可以在一家解决，避免互相推诿。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有专业的服务团队，提供优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

牛奶杂质度测定仪，牛奶杂质度分析仪、鲜乳杂质分析仪、乳品杂质测定仪牛奶杂质度测定仪，牛奶杂质度分析仪、鲜乳杂质分析仪、乳品杂质测定仪技术参数：主要用途：用于乳品，牛奶杂质度的测试检测速度：800样品/小时每一滤膜可测500ml牛奶溶液牛奶杂质度测定仪，牛奶杂质度分析仪、鲜乳杂质分析仪、乳品杂质测定仪标准配置：主机、 标准滤纸、结果比对卡

碎屑、杂质分析仪MK2（棉型），可检测100克以内棉纤维样品中碎屑、杂质及微尘含量。也可用于检测合成纤维中非纤维组分的含量，或对纤维进行开松、除杂处理以备进一步测试。该分析仪采用气流分析原理将纤维与非纤维组分进行分离。 碎屑、杂质分析仪MK2（毛型），可检验原毛、毛条及废毛中纤维组分及其它外来物质的含量，也可用于细度测试前的试样准备。还可用于检测贵重纤维如开司米（羊绒）、安哥拉毛等纤维的制绒率（制成率），或用于测定合纤长纤维中非纤维组分的含量。

Funke-Gerber 提供二款乳品杂质分析仪，分别是手动杂质分析仪SEDILAB和全自动杂质分析仪SEDILAB-E。手动款简便易于操作，可固定于桌沿，就通过手动方式将500ml牛奶泵过滤纸，再讲滤纸对比标准读数卡，读出最终结果。该款产品经济实惠，但检测效率较低。自动款带有压力泵，可用于连续检测样品，每小时可处理800个样品。每次样品需用500ml牛奶，通过滤纸和标准读书卡的对比，得出最终结果。价格稍贵，单工作效率高且检测省事省力。

颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1 产品概述 粒子扫描系统 MP-C1（彩色摄影机）是专为塑料聚合物工业开发的，也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模生产时，产品质量是决定性因数。材料无缺陷不仅是一个美学问题，在多数情况下还是一个绝对的品质要求。对于聚合物工业公司来看，生产出最高质量的产品意味着超越他人的高竞争力与高效率。运用当今最新的科技发展成果，我们设计出简单易用的，建立在光学记录和处理基础上的自动质量控制系统。他更加快捷准确并节约劳动力。为了发现并消除生产某种缺陷的原因。必须要掌握最精确的第一手资料。这就是需要准确和持续地获得关于特定缺陷的颜色，尺寸，出现频率等方面的详细资料。MP-C1 可以检测透明和不透明粒子，由 3-CCD 彩色摄影机获得的影像由图形处理器通过特定的软件加以处理和评估。此软件提供了多种层面的调节选项，使得用户可以完全可以按单独的要求进行系统配置。对于污点和异物颗粒（同纯净无污染材料颜色不同）的检测。可以通过教学工具对色度差异进行分级。检查过程可以经由显示器观察，可见的缺陷被标记出并标注索引，特别重要的图形可储存。测验结果可以通过多种图表和表格表示，并有彩色打印机打印。数据，软件的调整，检测时间和持续时间均易获得，可方便日后评估和长期评估。此系统可通过现成的软件界面被集成到任何内部数据处理系统中，例如经由以太网。该系统也易于维护，其中含一个全自动的自清洁单元，它可以在不同的可调节的间隔清洁粒子进料器和光学检测舱。1，产品的引文完全自动化快捷的粒子扫描系统 MP-C1（彩色摄影机），可以对实验室产品颗粒进行质量检测以及生产线产品质量的流程控制。 2，设备说明20 微米到 200 微米之间是摄影机像素的标准配置。它每小时可以处理出 2 公斤甚至到 60 公斤重的透明和不透明的粒子，当然是取决于被检产品颗粒的规格和材料。以下是摄像机的规格与处理量比较（20um: 1-3kg/h；40um：2-6kg/h；60um：6-12kg/h等）。你们可以针对配置规格来选者贵公司所需要得摄影机。针对 MP-C1这一款的粒子扫描系统，我们把电脑与摄影机系统的连接线长度预留在3米。然后设定以分辨率在 40 微米的标准开始，在测试 80 微米，然后120 微米到最后 200 微米等10个规格(客户也可以自定义）。根据测量结果我们得到以下一组数据，并作为技术参数。 3，仪器的组成部分-机械的共鸣感应装置-摄像机等的配置：USB 3 CMOS resolution：1600x1200，60f/s；-像素尺寸：pixel size 4.5um；-光学配置：Color calibration module；-PC控制电脑的模拟器，硬件设备:SDD SanDisk UltraII SDSSDHII-120G-G25；HDD Western Digital Blue WD10EZEX 1TB Motherboard Gigabyte GA-Z97X-UD3H GB DDR3-RAM处理器Processor：Intel Core i7 i7-4790K Quad Core 4x4.0 GHZ 电源：Coolermaster G750M 750W - 软件操作系统：Windows& (or higher). Powered by Mishell@- 整套电路的连接 - 17 寸大的显示屏（辐射小），监控器设备- 键盘，鼠标- 各种硬件软件的解读文件 主要的技术资料 芯片彩色摄影机设定摄影机的像素： 1600x1200像素,60f/s, Pixel size 4.5um检测精度： 20um起光学尺寸： USB 3 CMOS 影像传送率： 60f/s功率的消耗量： 18W适宜的工作环境温度： 15到 40 oC设备尺寸： 50 x 60 x 50cm重量： 32kg灯光的配件 ： LED 强光源 常规下的理论 当选定分辨率在 20 微米的标准摄影机，可以准确快捷的获取生产流程中微粒的影像，从而计算出产品的总质量（杂物分类统计）。对于这种规格的摄影机而言每小时检测出的总处理量可达到 2 公斤到 60 公斤不等 。同时也取决于产品本身的材料和规格性能。带有图像处理器的高效率的瞬时捕捉实时图像处理电脑的尺寸： 19 寸长 4HE主体部分的尺寸： 500*600*500* mm3 (长*宽*高)电压/功率： 约在 230V/110V 380VA重量： 约在 32公斤 颗粒杂质和形状扫描仪二合一：现场安装调试图：

CONTEST的工作原理非常独特,它真实模拟纺纱生产中的梳理工序.使用简单,操作人员只需准备3.5g 样品并将其制作成10m的纤维薄网.首先,纤维薄网会进到"碎片测试单元",通过HD图像分析棉籽壳,棉结,杂质.然后,纤维薄网被输送到"粘性测试单元", 在那里,纤维薄网被挤压经过2个加热辊筒,沾附在辊筒上粘性物质,通过光学原理被检测,辊筒可以自动清洁.接下来,纤维薄网被重新收计算出马克隆值,通过重复压缩法测试出成熟度.系统组成：● 碎片测试单元● 粘性测试单元系统组成● 细度和成熟度测单元● 测试软件参考标准● 马克隆值: ISO 2403● 粘性: DIN EN 14278-3 旋转辊筒装置的自动热检测法● 棉结:ASTM D5866特点● 一台仪器便可完成棉包中杂质的全面分析● 操作简单,适用于原棉和棉条测试● 全自动,快速,大容量测试● 同时检测,测量和分级棉花杂质,粘性,成熟度和细度● 高度灵活的操作设计,每个实验都可以独立运行.● 作为一台高效能检测仪器,它可以清楚地反映出棉花质量的真实情况, 协助工厂确定合理的生产工艺，从而保证纱线质量

产品简介：适用领域空气分离制氧过程控制分析、炼钢用氧气中烃类杂质分析。产品详情：☆ 适用领域空气分离制氧过程控制分析、炼钢用氧气中烃类杂质分析。☆ 分析成份及检测限☆ 仪器特点◆ 以国产一代高性能、高稳定性GC6210或GC6210T气相色谱仪为基础，运行可靠稳定。◆ 采用氢火焰离子化检测器(FID)检测，气体六通阀或注射器进样，二根填充柱分离，排除了主峰氧的干扰。◆ 配有4或8升铝瓶装多组份标准混合气，方便分析定量。◆ 双通道色谱工作站，支持Windows 98/2000/XP操作系统，色谱分析谱图储存、数据处理、报告打印随心所欲。

● 一台仪器便可完成棉包中杂质的全面分析● 操作简单,适用于原棉和棉条测试● 全自动,快速,大容量测试● 同时检测,测量和分级棉花杂质,粘性,成熟度和细度● 高度灵活的操作设计,每个实验都可以独立运行.● 作为一台高效能检测仪器,它可以清楚地反映出棉花质量的真实情况, 协助工厂确定合理的生产工艺，从而保证纱线质量.CONTEST的工作原理非常独特,它真实模拟纺纱生产中的梳理工序.使用简单,操作人员只需准备3.5g 样品并将其制作成10m的纤维薄网.首先,纤维薄网会进到"碎片测试单元",通过HD图像分析棉籽壳,棉结,杂质.然后,纤维薄网被输送到"粘性测试单元", 在那里,纤维薄网被挤压经过2个加热辊筒,沾附在辊筒上粘性物质,通过光学原理被检测,辊筒可以自动清洁.接下来,纤维薄网被重新收计算出马克隆值,通过重复压缩法测试出成熟度.● Fragment Tester碎片测试单元● Stickiness Tester粘性测试单元系统组成● Fineness and Maturity Tester细度和成熟度测试单元● Software测试软件参考标准● 马克隆值: ISO 2403● 粘性: DIN EN 14278-3 旋转辊筒装置的自动热检测法● 棉结:ASTM D5866

LEA-500 激光全元素分析仪可在几分钟内分析元素周期表中的所有元素LEA-500 是一款功能强大的现代化仪器，结合了光谱学，激光和软件方面的创新技术，可对样品中的所有化学元素进行测量，以及进行二维、三维元素分布成像和深层分析 通用性(分析不同材料时无需重启仪器) 简便快速的分析(几乎不需要样品制备) 最高的分析灵活性(样品形状和大小的变化可能是无限的) 分析速度快 测量范围广(从 0.1ppm~100%) 高精度测量和稳定性 每个样品分析的成本低，消耗品最少LEA-500 是研究，创建新材料和加工技术的理想工具最广泛应用的最便捷，最有效的分析技术 玻璃，陶瓷，水泥 黑色和有色金属冶金，合金和炉渣 地质行业，矿物，矿石 钾盐和肥料 纯金属中的痕量杂质 塑料和橡胶 建筑材料，粘土、沙子 土壤，环保行业 原材料的提取和加工 化学试剂 药用原料 生物材料 考古文物 半导体行业 农业(食品、饲料、茶叶、植物)快速多元素定性和定量分析 一次同时测量轻元素和重元素 宽浓度范围内的高灵敏度和高精度测量 使用 XYZ 电动位移台和视频成像系统分析样品上的设定点 XY 位移台步进精度为:1um 分析点的尺寸为:50um~1.2mm 可分析杂质和缺陷 可逐层分析 分析深度：1um~100um 涂层和薄膜分析能力 可以 10um 扫描步长绘制样品表面的元素含量分布图 可分析固态和粉末状样品 可分析的最少样品量：50ng 可分析的最大尺寸：75×75×40mm 不需要更改样品的聚合状态 通过初始激光脉冲可清洁样品表面二维元素分布成像LEA-500 是科学研究，创建新材料和加工技术的理想工具仪器的光学设计可以分析小范围不均匀样品中的化学成分，提供元素分布成像和逐层分析。 LEA-500 的独特功能可为每个客户的独特应用提供最佳分析结果：比如：检测地质材料中的化学元素，分析金属合金中杂质含量分布的不均匀性，检测杂质和缺陷的化学成分，分析元素浓度。焊接接缝、建筑建材中有害化学物质的深层浓度分析，石材建筑和玻璃的质量控制等。LEA-500 的独特设计使其成为具有高分析性能和最低检测限的极具吸引力的仪器 双光束光学设计 热稳定结构 光谱范围:175-800 nm 高通量无像差系统，焦距为 500 mm 色散0.5nm/mm(对于3600l/mm光栅)至 1.0 nm / mm(对于 1800 l / mm光栅) 在保护气体的气氛中运行通过以下方式可提供高达 0.01 ppm 的检出限和高重现性: 双脉冲纳秒激光器作为双脉冲的光谱激发源 高能量和空间稳定性 在非常宽的范围内自动控制能量和空间参数新设计的仪器允许在一个激光脉冲中记录大部分可检测元素可靠的设计，创新技术可实现最大的准确性和稳定性，符合最高质量标准。独特的样品室设计，可选装自动进样器 用 100 倍视频摄像机选择分析区域 真空系统可至1mm汞柱 分析系统有气氛保护 电动多位(12 位)样品架 同时加载各种样本并自动切换样本 二维元素分布成像完整的分析软件包，用于校准，评估和报告 全自动测量  只需单击一下即可启动整个分析循环  在分析过程中自动聚焦在样品表面上  样品表面观察，选择任何点或区域进行分析 化学元素分布的三维成像分析 逐层元素分析 光谱数据库

一体化的解决方案，拓宽您的分析潜力EMA 502元素分析仪CHNS-O是准确可靠的碳、氢、氮、硫和氧的测定解决方案，适用于制药和生命科学、有机化学、石油化学和能源、环境、农学、食品和饲料等工业领域。EMA 502元素分析仪CHNS-O分析有助于确定未知化合物的结构，以及评估合成化合物的结构和纯度。按照官方参考方法工作，EMA 502执行CHNS测定和O测定只需几分钟，不需要任何附加组件或额外的外部模块。EMA 502是一种安全的分析仪，不需要刺激性化学品或耗时的分析步骤。只需设置您的下一次分析，就可以从样品中获取丰富的信息!通用性和生产力，独特的舒适操作EMA 502的设计为24/7,一年365天无人值守的情况下工作，并具有快速和简单的日常维护。一次处理多达117个样品，EMA 502杰出的电子自动进样器和微天平连接到PC直接称重数据传输。可直接传输称量数据，因此效率极高，确保了最高的样品通量。EMA 502分析固体、半固体和液体样品的碳含量可达20毫克，由于VELP正品的消耗品，精心制造的最长寿命，使运营成本降至最低。只需一台功能强大的仪器和快速更换配置，就能成功面对元素分析中的多种分析挑战。轻松设置并执行您的CHNS分析，然后通过独有的连接面板切换到O模式!稳定的性能、经过验证的准确性和经过测试的可靠性EMA 502是一个灵活和强大的分析仪，设计用于实现卓越的可靠性和优质的准确性。TCD检测技术确保了极其准确和可重复性的结果，RSD值为0.2%(磺胺酸)。结果由EMASoftTM软件自动计算，接收EMA 502元素分析仪的实时数据。通过气相色谱柱和TCD，甚至在检查结果之前，就能全面了解分析输出，使分析过程和路径的实时视图，在整个仪器寿命周期内具有优质的性能。EMA 502元素分析仪工作原理EMA 502 - CHNS流程图CHNS分析首先将样品置于VELP燃烧炉中，在高于1000℃的温度下燃烧，以获得元素化合物。VELP Vcopper&trade 是一种高活性铜粉的配方，放置在反应管的下部，帮助将NOX还原为N2。气流然后到达气相色谱柱烘箱，确保均匀和模块化的温度导致所有元素的完全分离，最终检测由TCD。在分析O元素时，样品在炉内进行热解，然后通过一个化学吸附装置，在那里所有杂质都被吸收，然后到达气相色谱柱和TCD进行检测。利用EMASoft&trade 软件实现无与伦比的易用性和数据安全性EMASoft&trade 软件是功能强大的VELP解决方案，用于控制和操作EMA 502元素分析仪。EMASoft&trade 具有友好的界面，可一目了然地显示所有相关信息:结果、数据库和仪器工作条件。可从预安装的方法库中选择并创建定制的方法。一个简单的校准曲线创建的所有元素，允许测试任何样品矩阵没有记忆的影响。点击几下就可以开始分析几个步骤即可改变配置，用gif动画教程受益于显示TCD检测到的气体的实时图表当反应管耗材耗尽时，一个专门的维护菜单会发出警报结果表显示了在图表上直接选择分析的平均值、SD和RSDEMA 502软件可以通过可选的21 CFR Part 11软件包进行升级，适用于需要符合FDA法规的制药、化妆品和食品行业实验室。通过VELP Ermes云平台提供终极支持，实现效率最大化，改善工作流程EMA 502具有VELP Ermes物联网云平台的独特连接选项，该智能实验室解决方案允许减少常规操作，因为无论在哪里，在任何时候都能实时监测您的分析。只需使用个人电脑、智能手机或平板电脑，就可以管理多个仪器、耗材、工作流程、分析数据和仪器工作条件。即时的事件和警报通知可以告知分析的情况，远程分析的中断保证了对实验室过程的完全控制。只允许组织中的特定人员访问仪器和数据，并决定你是否愿意直接与VELP或授权服务中心共享信息，以受益于减少的诊断时间和增强的服务支持， 从而实现最高的系统正常运行时间。通过VELP的Ermes云平台，CHNS-O的实验体验确定达到了一个新的水平。TEMS&trade 技术节省时间、能源、金钱和空间EMA 502元素分析仪CHNS-O与创新的TEMS&trade 优势合作，实现了无可比拟的节约。节省时间：快速加热，减少浪费的时间节约能源：限制能源消耗，从而减少二氧化碳2排放节约金钱：减少每次分析的成本节省空间：紧凑的占地面积节省了宝贵的实验室工作台空间

1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统将动态范围和 UV 灵敏度均提高 30 倍，同时具有 UHPLC 级分离度和速度。一次运行即可检测和定量样品中的各种组分，并获得优异的峰面积精度，适用于分析低浓度杂质。特性 缩短分析周期，大幅提高分析效率。1290 Infinity II 宽动态范围 DAD 系统将紫外线性范围扩展至原来的 30 倍，确保样品的检测器响应处于校准范围内。无需重新分析、重新校准或额外的样品前处理步骤 对主要化合物和杂质同时进行分析和定量时，灵敏度可最多提高 30 倍。提高自动谱峰积分的可靠性，同时实现更高的痕量组分峰面积精度 更高的分离度和速度。高达 1300 bar 的高压耐压能力 (1290 Infinity II LC) 和高达 5 mL/min 的流速使系统具有强大的分析能力，提供超强的色谱性能 同时监测整个波长范围，确保不遗漏任何一个 UV 活性化合物 通过与其他检测器（例如 6100 系列单四极杆液质联用系统或具有拓宽 90 倍的动态范围的 1290 Infinity II 蒸发光散射检测器）相结合，避免遗漏任何化合物 与时俱进，享受最快的分析速度。1290 Infinity II DAD 的数据采集速率高达 240 Hz，1290 Infinity II DAD FS 的数据采集速率高达 120 Hz

SP-BS-1908 型杂质黑点检测仪 用途Application按相关国家标准分析树脂片或颗粒的杂质黑点的大小、数量，以及黑点颗粒占比数。This equipment evaluates the number and size of blackspot,as well as the ratio of blackspot in beads,for resin sheet or pelletin accordance with relevant industry standard or code.适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒，如PP、PE、PVC、PPS 等等。Applicable for inspection and analysis for transparent or semitransparent or even opaque materials,such as PP,PE,PVC,PPS，etc.也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。Also can be used to detect and analyze black spots or defects of inner quality in transparent film. 技术指标Specifications1. 测量规格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按选用的标准，可在软件界面选定。2. 最小检测目标： 0.1mm3. 检测精度： 小于0.035mm4. 检测面积：不小于200×200mm5. 器皿大小：200mm×200mm 净面积，用于颗粒黑点检测。6. 放大倍数：20 倍7. 光密度:不小于6000 流明8. 光源要求: 24V/60W9. 供电电源：220V,50HZ10.外形尺寸：约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm) 仪器功能特点1. 测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。 SP-BS-1908 型 黑点检测仪Detects the size and quantity of blackspot,as well as the ratio of BS in beads.2. 可提供黑点、损坏颗粒，以及膜片质地纹路的分布图谱。Provides mapping of blackspots or inner quality,as well as the defected bead.3. 黑点或膜片质地分布可放大和缩小。Ability to zoom in and out to view blackspot or striation in sample. Showing in detail the texture shape of it.4. 被测目标可分类计数和统计。Counting and classification of the targets being measured.5. 按适用的标准自动生成检测报告。Automatically generates Inspection Report based on different standard or code.6. 报告和图谱可打印可储存。Report and Mapping is printable or can be saved.7. 进样方向与屏幕显示的走向一致，友好的界面视觉感。Sample feeding direction is same as the moving direction of display on the computer screen with friendly interface design.8. 颗粒以透明器皿为载体，批次检测。Bead is inspected by using transparent tray in batch.9. 透明薄膜直接平铺在检测平台上进行检测，无需对薄膜作黑化或贴纸处理。Transparent film is directly spread on the inspection platform for detecting,without any pretreatment by blackening or paperback stick process. 仪器的配置☆ SP-BS-1908M 杂质黑点检测仪Type of SP-BS-1908 Blackspot Detector. ☆ 标准板Standard Plate for Calibration.☆ 透明器皿 (测颗粒用) Transparent tray （ be used for bead inspection）☆电脑工作站Working Station of Computer.☆ 应用软件 Application Software.

一体化的解决方案，拓宽您的分析潜力EMA 502元素分析仪CHNS-O是准确可靠的碳、氢、氮、硫和氧的测定解决方案，适用于制药和生命科学、有机化学、石油化学和能源、环境、农学、食品和饲料等工业领域。。EMA 502元素分析仪CHNS-O分析有助于确定未知化合物的结构，以及评估合成化合物的结构和纯度。按照官方参考方法工作，EMA 502执行CHNS测定和O测定只需几分钟，不需要任何附加组件或额外的外部模块。EMA 502是一种安全的分析仪，不需要刺激性化学品或耗时的分析步骤。只需设置您的下一次分析，就可以从样品中获取丰富的信息!EMA 502的设计为24/7,一年365天无人值守的情况下工作，并具有快速和简单的日常维护。一次处理多达117个样品，EMA 502杰出的电子自动进样器和微天平连接到PC直接称重数据传输。可直接传输称量数据，因此效率极高，确保了最高的样品通量。EMA 502分析固体、半固体和液体样品的碳含量可达20毫克，由于VELP正品的消耗品，精心制造的最长寿命，使运营成本降至最低。只需一台功能强大的仪器和快速更换配置，就能成功面对元素分析中的多种分析挑战。轻松设置并执行您的CHNS分析，然后通过独有的连接面板切换到O模式!EMA 502是一个灵活和强大的分析仪，设计用于实现卓越的可靠性和优质的准确性。TCD检测技术确保了极其准确和可重复性的结果，RSD值为0.2%(磺胺酸)。结果由EMASoftTM软件自动计算，接收EMA 502元素分析仪的实时数据。通过气相色谱柱和TCD，甚至在检查结果之前，就能全面了解分析输出，使分析过程和路径的实时视图，在整个仪器寿命周期内具有优质的性能。CHNS分析首先将样品置于VELP燃烧炉中，在高于1000℃的温度下燃烧，以获得元素化合物。VELP Vcopper&trade 是一种高活性铜粉的配方，放置在反应管的下部，帮助将NOX还原为N2。气流然后到达气相色谱柱烘箱，确保均匀和模块化的温度导致所有元素的完全分离，最终检测由TCD。在分析O元素时，样品在炉内进行热解，然后通过一个化学吸附装置，在那里所有杂质都被吸收，然后到达气相色谱柱和TCD进行检测。EMASoft&trade 软件是功能强大的VELP解决方案，用于控制和操作EMA 502元素分析仪。EMASoft&trade 具有友好的界面，可一目了然地显示所有相关信息:结果、数据库和仪器工作条件。可从预安装的方法库中选择并创建定制的方法。一个简单的校准曲线创建的所有元素，允许测试任何样品矩阵没有记忆的影响。点击几下就可以开始分析几个步骤即可改变配置，用gif动画教程受益于显示TCD检测到的气体的实时图表当反应管耗材耗尽时，一个专门的维护菜单会发出警报结果表显示了在图表上直接选择分析的平均值、SD和RSDEMA 502软件可以通过可选的21 CFR Part 11软件包进行升级，适用于需要符合FDA法规的制药、化妆品和食品行业实验室。EMA 502具有VELP Ermes物联网云平台的独特连接选项，该智能实验室解决方案允许减少常规操作，因为无论在哪里，在任何时候都能实时监测您的分析。只需使用个人电脑、智能手机或平板电脑，就可以管理多个仪器、耗材、工作流程、分析数据和仪器工作条件。即时的事件和警报通知可以告知分析的情况，远程分析的中断保证了对实验室过程的完全控制。只允许组织中的特定人员访问仪器和数据，并决定你是否愿意直接与VELP或授权服务中心共享信息，以受益于减少的诊断时间和增强的服务支持， 从而实现最高的系统正常运行时间。通过VELP的Ermes云平台，CHNS-O的实验体验确定达到了一个新的水平。

真空型矿产元素分析仪EDX 9000B矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

高精度X射线荧光元素分析仪三元前驱体多元素分析PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ JPS300仪器可以针对各种类型的矿物粉末及矿物浸提液体中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，样品直接检测即可得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。◆ 快速准确分析矿物中钠、镁、铝、硅、钙、硫、磷、氯、铁、钴、铜、锰等元素含量。◆ 内置多条曲线，FP（基本参数）计算方法、可针对不同基体分析。◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体粉末等。JPS300仪器主要是用于元素、化学溶液和产品纯度的准确定量分析，在新能源材料领域可应用于多个生产工艺环节和最终产品质量的监测控制，特别对Mg、Al、Si、 P、S 、Cl 、K 、Ca等元素含量具有理想分析，可提供重要参考数据。产品特点◆ 五分钟内可得到样品中目标元素准确结果。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 电池新材料生产工艺过程中溶液元素成分的快速和实时监测，及时掌握溶液关键元素和杂质元素的含量变化情况，保证生产质量受控。◆ 电池新材料行业精矿原料中元素成分的快速准确监测，及时获取原料的品质参数信息。◆ 新材料三元前驱体的快速准确定量检测，确保产品质量。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能、支持4G、5G远程数据传输。◆ 仪器有自动保护功能，当进样舱开启时，可自动断开。分析曲线图120g/L硫酸镍溶液基质中0-10mg/L的Ca元素拟合形成的标准曲线多元素应用JPS300满足高浓度硫酸钴溶液中Si S Cl K Ca Cr Mn Fe Cu Zn Ni As Pb等元素的高精度定量检测，适用于镍、钴、锰原料矿样和三元前驱体粉末快速准确检测。检出限技术参数电源 110-240 VAC，50-60 Hz检材 液体、固体粉末等测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 钠、镁、铝、硅、钙、硫、磷、氯、铁、钴、铜、锰等多种元素晶体 DCC（双曲面弯晶）晶体实现激发X射线单色化聚焦，优化提高元素检出限和定量精度电子元件 处理器不低于1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM；4096道高性能MCA；自主开发数据分析系统；探测器 高效快速硅漂移Fast SDD 探测器光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统工作温度 -5 °C~50 °C环境湿度 相对湿度≤70%语言 中/英文语言切换重量 ≤9Kg尺寸 32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH

Elementar Analysensysteme（德国元素分析系统有限公司）是全球ling先的德国非金属元素分析仪器制造商，专注碳，氢，氮，氧，硫或氯等在所有有机物和大部分无机物质中的分析。公司起源于Heraeus（贺利氏）集团的分析仪器部门，在法兰克福附近的莱茵地区，我们研发并制造了用于CHNOS的元素分析，TOC分析和N /蛋白质分析的仪器110多年。inductar EL cube - 1台分析仪分析C、S、O、N和H的5个高温元素分析无机元素分析史上di一次可以用1台分析仪分析5个元素。新开发且全球du一无二的inductar EL cube采用创新的解决方案和zui先进的技术，在灵活性和精度方面树立新的标准。其配备长寿命的固态高频感应电炉，样品温度可达到3000℃。得益于选配相机，操作者可实时观察气体释放。而且对于元素检测，也会使用全新技术。通过宽范围红外检测器分析碳、硫和氧，可检测整个浓度范围。对于精确的氢测定，首次使用创新检测技术。通过TCD检测第5个元素氢的浓度。创新的设计和技术解决方案，实现zui高精度和多功能性顶部进样系统和智能气体流动方向的创新设计可减少灰尘和碎屑。这确保整个设备内部整洁，不必要进行任何繁琐的清洁操作。inductar EL cube实现免工具维护和直观操作，真正简单易用。此外，选配89位自动进样器允许全自动操作。zui大的用户便利性和全天候运行的zui大耐用性，使inductor EL cube成为实验室或质量控制的高效主力。除了这些优点，同时还具备高度多功能性和精确度。inductar CS cube - 用于无机材料的先进碳硫分析仪全新设计的，这种用于金属或陶瓷材料的高精度CS分析仪仅使用zui先进的技术。其配备长寿命的固态高频感应电炉，样品温度可达到2000℃。得益于选配相机，操作者可实时观察气体释放。而且对于元素检测，也会使用先进的技术。通过宽范围红外检测器分析碳和硫，可检测整个浓度范围。因此，可检测某些重量百分比中ppm范围和较高浓度的少量杂质。创新的设计和技术解决方案，实现zui高精度顶部进样系统和智能气体流动方向的创新设计将灰尘和碎屑减少到zui少。这确保整个设备内部整洁，不必要进行任何繁琐的清洁操作。inductar CS cube搭配免工具维护和直观的多语言软件，真正简单易用。此外，选配89位自动进样器允许全自动高通量操作。由于其高精度、zui大的用户便利性和全天候运行的zui大耐用性，inductar CS cube可满足复杂研发项目和日常操作的所有要求。对于希望通过同一设备分析多达5个元素的用户，可以随时升级inductar CS cube到 inductar EL cube.测量方法在高达2000℃的氧气环境中高温燃烧，随后进行分析气体流的纯化和随后的气体分析。CS分析根据ISO 15350、ASTM E1019和其他国际标准进行。样品制备和处理简便无需任何特殊样品制备，可将各种固体样品放在陶瓷样品容器中称重（样品质量高达1克）。清洁安全的分析创新的坩埚设计，以及自上而下的氧气流，zui大限度地减少系统内的灰尘。此外，可防止样品熔体飞溅，确保燃烧管几乎无限的寿命。浓度范围广从几ppm到百分之百，或60毫克碳和5毫克硫（jue对值）。线性单点/多点校正操作者通过直观的校准助手进行校准。透明计算的校准可编辑且可存储。此外，可存储模板以供将来校准。校准具有线性特征，且可保持稳定数月。运行要求低1米实验工作空间、1个电源接头和1种运行气体即可满足长时间运行全自动：通过集成89自动进样器和Windows控制的PC，可实现自动无人值守操作。此外，提供符合21 CFR 11法规要求的选配软件。

型号ST-1540ST-1540机械杂质测定仪适用于测定石油产品中的各类轻、重质油、润滑油及添加剂的机械杂质的含量。根据GB/T511《石油产品和添加剂机械杂质测定法（重量法）》设计制造的专用仪器。可广泛应用于电力、石油、化工、高校、商检及科研等部门。 生产厂家北京旭鑫仪器设备有限公司 功能特点l 液晶屏汉字显示l 采用新的单片微机技术l 实现按标准要求的升温速率，温度升温快l 精密铂电阻作为测量元件，控温精度高l 具有恒温功能，自动化程度高，操作简单技术参数适用标准GB/T511控温范围室温～100℃控温精度±1℃显示方式液晶汉字显示加热功率300W相对湿度10%～80%Rh环境温度5℃～45℃电源电压220V±10％ 50Hz

SciAps X系列 XRF 是专为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，采用的X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。具有以下特点：分析速度快且精度高X系列XRF 分析仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器；采用了新进的硬件及软件.体积小，轻便便于携带便携X射线分析仪器的使用者希望新一代的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合，轻，，分析速度更快，分析效率更高的手持式X射线分析仪器X系列问世了。重约1.34斤。高清显示技术采用术显示屏，结果在所有光照条件下都清晰可见质量好，耐用 独特不锈钢防护罩，SciAps X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术，极大的降低了X分析仪损坏的风险，降低了后期拥有成本。操作简单，兼容性好的操作平台SciAps X 系列分析仪与手机一样运行安卓系统，操作简单，兼容性好，可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接，分享与打印测试结果。SciAps XRF X-555 软件特点及应用软件特点：与X 系列的其它仪器相比，SciAps X-550 采用一种新的X射线管及全新的分析方法，该方法将现场材料分析的速度又提高了一个档次，且一步降低了贵金属元素的检测限值。卓越的性能始于的手持式XRF技术，由55千伏X射线管引领，可对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检测限。从Mg到U，多达三个自动光束设置在整个周期表中提供性能。所有这些都在一个坚固的仪器中，配备的软件和出色的散热性能。主要应用：采矿一流的轻元素性能，可实现镁、铝、硅、磷和硫等元素的超低检测限，同时还具有足够的功率，可在探路者Ag、Sn、Sb和稀土元素等重元素上实现令人印象深刻的精度，再加上稀土元素检测功能，构成采矿的工具。 可以立即对露天矿场的爆破孔样本进行即时筛查，从而减少了对矿场实验室的依赖。 实验室测试分析前对样本进行预筛选，以最大程度地提高实验室检测效率。 辨别矿化趋向及异常现象，定义钻孔位置，扩展土壤样本的勘察边界。 采用适当抽样方法，提高对地下矿石品位的控制能力。 矿石品位和过程控制 及时分析矿样元素及含量，对矿石交易价格提供理论依据 对储矿堆材料的分析有助于制造厂的配料和给料操作。 对进料、沉淀物、精矿及尾料进行实时分析。 分析精矿和金条中的杂质元素。 在铜厂和贵金属厂中，作为液体比重测定过程的一部分，对废液进行检测环境土壤XRF质量保证与质量控制（QA/QC）在金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。SciAps 便携式XRF 合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的机械制造商的各种制造业，已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的首选仪器。稀土地质调查，矿产普查与勘探SciAps X系列分析仪的机身设计坚固耐用，性能稳定，精度高，可以在各种艰苦条件下正常操作，是野外探矿及矿区现场品位分析不可或缺的设备。 支持野外目标区域现场，大范围，大量采样测样，获取该区域岩石、碎片、土壤、沉积物等定性化学成份及定量性数据结果，结合GPS 功能和专业软件，绘制目标区域元素含量分布图，为目标区域矿产资源预测、勘查、评价及开发利用提供第一手的地化信息。 为矿权交易，分配勘探的预算经费提供第一手的地化信息。油气勘探现场检测钻机取出的各类样品，即时给出样品种元素的种类及含量，帮助地质专家及工程师及时判断需钻孔的位置，深度，在泥浆录井，高级勘探与钻井等等领域应用广泛环境治理和治理可以使用X系列分析仪，分析仍在使用和已经关闭的矿场（山）或附近场地的土壤、沉积物、灰尘、尾矿中的元素及含量，为环境监控治理提供数据依据。各环监部门可使用X系列分析仪快速检测目前区域法规规定需控制的金属元素重量及含量，收集并归档环境监控的量化记录。地矿相关专业学术科研与教育X系列分析有助于完成大学校园内实验室中进行的实验，支持本科生和研究生完成科研项目，并在日常的教学活动中，帮助地矿相关专业教师完成教学任务。由于X系列分析XRF分析仪可以迅速提供结果，因此不仅可以帮助学生们了解现代分析方式，辨别各种样本，而且还可以加深学生们对矿物沉积以及与矿床研究相关的矿石成因等知识的了解。 X555系列分析的优势2018年X系列分析经过多品牌性能评估，多层级筛选比较, 成功入围美国各大石油公司及其检测单位采购名录，产品具有以下优势：1. X系列发布时间2018年3月，是目前市面上新款手持XRF分析仪，拥有的运算方法和技术的元器件，体积更小，重量更轻2. 2秒就可以出测试结果，目前市面上畅销的仪器均为10年左右研发的产品，速度相对比较慢，需10-15秒才能完成一个样品测试；因此一台X系列分析仪的效率约等于5-7台畅销仪器效率3. 在检测量一定的情况下，因X射线管理论寿命已固定，X系列分析仪单个样品分析时间缩短，所以X射线管使用时间延长，X分析仪后期拥有成本变低。关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而55千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。SciAps X-555分析仪技术规格尺寸与重量外形尺寸：184x114x267mm；重量=1.35KG（带电池2.98磅）环境要求-12℃到55℃★激发源★探测器25mm2SDD探测器（有效面积）应用矿石成分分析X射线过滤多位置滤波器， 优化光束分析范围38个标准元素: La, Ce, Pr, Nd, Sm Eu, Gd, Y, Ti, V, Cr, Mn,Fe, Co, Ni,Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Te, Ag, Cd, Sn,Sb, Ba, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, U。可根据用户需求添加其它元素。可根据用户要求添加。★显示器2.7英寸彩色电容触摸屏- 400MHz高通Adreno 3062D/3D图形加速器★通讯/数据传输同过Wifi，蓝牙，USB连接到打印机，手机，PC电脑等 设备。处理器CPU1.2GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, 随机存储：2GB LPDDR3,存储16GB eMMC脉冲处理器数字化率在80 MSPS 8K通道MCA USB 2.0，用于高速传输数据到主机处理器。数字滤波在FPGA中实现的高通量脉冲处理20ns - 24us的峰值时间。电源可内置充电锂离子电池，换电池时不需要关机；客户可根据需要直接连外接交流电源供电。校准和牌号基本参数法。支持经验系数法修正校准检验外置316不锈钢用于校准验证和能量验证安全双重密码保护，使用时输入密码（用户级）和仪器内部设置密码（管理员）法规CE, RoHS, USFDA 注册, 加拿大 RED 法规

型号ST-1540ST-1540机械杂质测定仪适用于测定石油产品中的各类轻、重质油、润滑油及添加剂的机械杂质的含量。根据GB/T511《石油产品和添加剂机械杂质测定法（重量法）》设计制造的专用仪器。可广泛应用于电力、石油、化工、高校、商检及科研等部门。 生产厂家北京旭鑫仪器设备有限公司 功能特点l 液晶屏汉字显示l 采用新的单片微机技术l 实现按标准要求的升温速率，温度升温快l 精密铂电阻作为测量元件，控温精度高l 具有恒温功能，自动化程度高，操作简单技术参数适用标准GB/T511控温范围室温～100℃控温精度±1℃显示方式液晶汉字显示加热功率300W相对湿度10%～80%Rh环境温度5℃～45℃电源电压220V±10％ 50Hz

EMA 502 多元素分析仪提供一套准确可靠的碳、氢、氮、硫、氧测定的解决方案，适用于制药和生命科学、有机化学、石油化学和能源、环境、农学、食品和饲料等工业领域。EMA 502提供了高性能，多功能，易操作和高质量的燃烧分析方案，符合国际标准：AOAC, AACC, ASBC, ISO, DIN, IFFO, OIV, ASTM, EPA。测量原理 1. CHNS分析将样品置于燃烧炉（CF）中，在1030℃的温度下燃烧，以获得元素化合物。在VELP Vcopper™ 高活性铜粉的作用下，将NOX还原为N2。气流随后到达气相色谱柱（GC COLUMN），在精que控制的温度环境下通过，使混合气体完全分离，按顺序进入TCD检测器进行检测。创新的TCD检测器无需参比气体，免维护。2. O分析样品在炉内1060℃下进行热解，随后通过一个化学吸附装置去除杂质，然后到达气相色谱柱和TCD进行检测。CHNS分析O分析 主要特点? CHNS测定和O测定只需几分钟，不需要任何附加组件或额外的外部模块。? 安全高效，无需添加刺激性化学品，没有耗时较长的分析步骤。? 一次设置，批量分析，获取丰富数据。? 日常维护快速和简单，可无人值守自动运行。? 一次处理多达117个样品。? 电子自动进样器及微量天平连接电脑，称重数据自动进入计算。无需手动录入。? 可分析固体、半固体、液体样品，仅需相当于20 mg碳的样品。节省耗材用量，延长VELP配套耗材使用时长。? 启动CHNS分析只需简单设置，切换到测O模式连接专用面板即可。? EMASoft™ 软件控制操作仪器，数据实时接入软件进行计算。? TCD检测技术确保了极其准确和可重复的结果，RSD值为0.2%（磺胺酸）。? 可接入Ermes云平台，通过手机、平板、电脑等远程操控管理仪器。应用领域制药和生命科学、有机化学、石油化学和能源、环境、农学、食品和饲料等工业领域确定未知化合物的结构，评估合成化合物的结构和纯度EMASoftTM软件 EMASoftTM软件是控制操作EMA 502仪器的有力工具。用户界面友好，可一目了然地显示所有相关信息，包括：结果、数据库和仪器工作条件等。 1. 分析开始之前创建或选择C、H、N、S、O的标准曲线填入必要数据（样品名、分析类型、样品质量等）选择一个方法及标准曲线2. 分析期间分析过程中监测参数实时图示所有元素分析峰，以便了解复杂的分析过程即刻获取分析结果，以mg或 % 为单位3．分析结束后多重数据图形比较。数据输出为PC 可打开的 xls, .txt 或 .csv，以及输出至 LIMS封装、打印以及下载单个或多个分析报告。不工作时，可将仪器设置为Standby模式或Sleeping模式，节省载气，降低成本。一键式简短统计分析：在结果列表中选择多个结果，即可直接显示被选中结果的平均值、SD、RSD。技术指标 用氦气时用氩气时分析范围C0.001-20mg0.01-20mgH0.001-5mg0.01-5mgN0.001-20mg0.01-20mgS0.01- 6mg——O0.005- 6 mg——分析方法CHNS: 燃烧；O: 热解分析时间CHNS：12分钟起；O：6分钟起检测器TCD（热导检测器）样品重量可达100mg（取决于C的含量）自动进样器通量多至4个盘，每个盘30个位置（多至117个样本）。精度≤ 0.2 %载体气体氦气或氩气（氩气仅用于测定CHN）。燃烧/热解温度CHNS: 1030°CO: 1060°C连接性USB；RS232ERMES连接支持，通过Wi-Fi或LAN与PC连接符合21 CFR PART 11具备，可选附件功率570 W尺寸（宽X高X深）500 x 510 x 410mm（连同自动进样器高680mm）重量45公斤产地与厂家：意大利VELP

MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统是一款用于半导体厂务及FAB产线中电子级湿化学品金属杂质含量的在线监测系统，提供电子级湿化学品“采样-传输-稀释-标曲-内标-进样-分析-报告”全流程解决方案。“多”—集中或分布式采样点20个以上“快”—单个样品分析和异常复测15分钟“好”—无阀流路设计，ppt级流路本底“省”—省人，全自动在线分析；省心，自动在线配制标曲，效率提升100%；省成本，高纯试剂用多少配多少，无需清洗配标容器，高纯试剂消耗量几乎降为0应用于半导体湿电子化学品金属杂质在线检测

EDX-9000B XRF Spectrometer能量色散X荧光光谱仪矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

SP-BS-1908 型杂质黑点检测仪 用途Application按相关国家标准分析树脂片或颗粒的杂质黑点的大小、数量，以及黑点颗粒占比数。This equipment evaluates the number and size of blackspot,as well as the ratio of blackspot in beads,for resin sheet or pelletin accordance with relevant industry standard or code.适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒，如PP、PE、PVC、PPS 等等。Applicable for inspection and analysis for transparent or semitransparent or even opaque materials,such as PP,PE,PVC,PPS，etc.也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。Also can be used to detect and analyze black spots or defects of inner quality in transparent film. 技术指标Specifications1. 测量规格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按选用的标准，可在软件界面选定。2. 最小检测目标： 0.1mm3. 检测精度： 小于0.035mm4. 检测面积：不小于200×200mm5. 器皿大小：200mm×200mm 净面积，用于颗粒黑点检测。6. 放大倍数：20 倍7. 光密度:不小于6000 流明8. 光源要求: 24V/60W9. 供电电源：220V,50HZ10.外形尺寸：约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm) 仪器功能特点1. 测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。 SP-BS-1908 型 黑点检测仪Detects the size and quantity of blackspot,as well as the ratio of BS in beads.2. 可提供黑点、损坏颗粒，以及膜片质地纹路的分布图谱。Provides mapping of blackspots or inner quality,as well as the defected bead.3. 黑点或膜片质地分布可放大和缩小。Ability to zoom in and out to view blackspot or striation in sample. Showing in detail the texture shape of it.4. 被测目标可分类计数和统计。Counting and classification of the targets being measured.5. 按适用的标准自动生成检测报告。Automatically generates Inspection Report based on different standard or code.6. 报告和图谱可打印可储存。Report and Mapping is printable or can be saved.7. 进样方向与屏幕显示的走向一致，友好的界面视觉感。Sample feeding direction is same as the moving direction of display on the computer screen with friendly interface design.8. 颗粒以透明器皿为载体，批次检测。Bead is inspected by using transparent tray in batch.9. 透明薄膜直接平铺在检测平台上进行检测，无需对薄膜作黑化或贴纸处理。Transparent film is directly spread on the inspection platform for detecting,without any pretreatment by blackening or paperback stick process. 仪器的配置☆ SP-BS-1908M 杂质黑点检测仪Type of SP-BS-1908 Blackspot Detector. ☆ 标准板Standard Plate for Calibration.☆ 透明器皿 (测颗粒用) Transparent tray （ be used for bead inspection）☆电脑工作站Working Station of Computer.☆ 应用软件 Application Software.

型号ST-1540ST-1540机械杂质测定仪适用于测定石油产品中的各类轻、重质油、润滑油及添加剂的机械杂质的含量。根据GB/T511《石油产品和添加剂机械杂质测定法（重量法）》设计制造的专用仪器。可广泛应用于电力、石油、化工、高校、商检及科研等部门。 生产厂家北京旭鑫仪器设备有限公司 功能特点l 液晶屏汉字显示l 采用新的单片微机技术l 实现按标准要求的升温速率，温度升温快l 精密铂电阻作为测量元件，控温精度高l 自动化程度高，操作简单技术参数适用标准GB/T511水浴控温范围室温～100℃水浴控温精度±1℃漏抖控温范围室温～100℃漏斗控温精度±1℃控温显示液晶汉字显示加热功率300W相对湿度10%～80%Rh环境温度5℃～45℃电源电压220V±10％ 50Hz

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光光谱元素分析系统是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光光谱元素分析系统创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光光谱元素分析系统基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光光谱元素分析系统还可升级为激光质谱联用元素分析系统，将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量，还可在分析同位素的同时进行主量元素的分析。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等（其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光光谱元素分析系统的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。 硬件特点 ? J200激光光谱元素分析系统可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS系 统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的样 品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光光谱元素分析系统可与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光光谱元素分析系统配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设置 可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光光谱元素分析系统的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的种 类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑 分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光光谱元素分析系统采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样品 表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动操 作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光质谱联用元素分析仪是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光质谱联用元素分析仪创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光质谱联用元素分析仪基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光质谱联用元素分析仪还可将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等 （其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光质谱联用元素分析仪的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。硬件特点 ? J200激光质谱联用元素分析仪可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS 系统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的 样品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配置高适连接口，轻松实现与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设 置可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光质谱联用元素分析仪的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的 种类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀（分辨率最小可达 7nm）、夹杂物和微光斑分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光质谱联用元素分析仪采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样 品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动 操作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200 激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200 激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

来因科技杂质度过滤机 乳品杂质度过滤仪特点：IN-ZZ杂质度过滤机是专用产品，使用方便、可靠。过滤后奶液供生产继续使用，降低成本；机器噪音低，过滤效果好。IN-ZZ杂质度过滤机是公司按照国家标准GB/T5313.1—5413.32《乳、乳制品的检验方法》中关于杂质度的测定而专门制造。此仪器是在di一代杂质过滤机ZA-GB1（ZA-GB1依据GB5413.30-1985）,di二代杂质过滤机ZA-GB2（ZA-GB2依据GB5413.30-1997）的基础上依据GB5413.30-2016研发生产的zui近第三代杂质度过滤机。HL-GB2杂质度过滤机避免了机械式ZA-GB1过滤机皮带维护麻烦，耗材贵的麻烦。也在ZA-GB2基础上改进电机，并按新标准GB5413.30-2016进行改动，更好的满足了GB5413.30-2016要求，更耐用，免维护，并配。杜绝了1代产品恼人的噪音使用更加持久耐用，并配配了全部使用配件，更全，更方便使用。一 接好电源插头，打开电源开关。电源开关上的指示灯亮。二 将杂质度过滤棉板置于漏斗底座的过滤网上。将出水管置于下水道。三 将预过滤之样品倒入漏斗内，按动启动按钮。四 取下过滤棉板与标准板对照，即可得出该样品的杂质度含量。来因科技杂质度过滤机 乳品杂质度过滤仪基本参数:电源------------------------------------------------------------220V/50Hz输出功率-------------------------------------------------------------50W流量---------------------------------------------------------------2.5L/nt容量---------------------------------------------------------------500ml重量---------------------------------------------------------------约5Kg外型尺寸------------------------------------------300 x 200 x 100mm过滤板直径------------------------------------------32mm烘干皿内径------------------------------------------32mm标准对照版采用国家乳制品监督检验中心研制的杂质度对照版，国家版本编号 GB5413.30-2016。杂质度过滤机配置：主机一台，乳品铝皿盒二个，杂质度过滤板一盒，杂质度标准板一张，杂质度标准板使用说明一份，杂质度过滤机使用说明书一份，实验规范一份，合格证一张）选配：乳品专用电子温度计，乳稠计