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原子能发射仪

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原子能发射仪相关的仪器

  • 2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为: 1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受; 2) 四级聚光镜设计:为了最大程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制; 3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS; 4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动; 5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性; 6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析; 7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度; 8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。
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  • ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体,如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高,可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统;宽波长范围(UV~IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统
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  • 绿色、环保、低成本、空气运行的元素分析技术 安捷伦4100 MP-AES拥有更安全、更经济、更高效的运行速度。更高的灵敏度、更低的检测限(亚ppb级)、全面超越火焰原子吸收光谱仪的分析效率。最具创新的是:安捷伦4100 MP-AES 采用了空气运行,无需再使用易燃及昂贵的气体,极大地降低了运行成本,提升了实验室的安全保障。产品特点最低的运行成本:安捷伦 4100 MP-AES 无需使用易燃、昂贵的气体,可实现无人值守操作,大大降低了运行成本高性能:电磁耦合微波等离子体光源相比原子吸收的火焰原子化器, 提供了更加优异的集体耐受力和适应力,以及更加出色的检测限简洁实用:专业的应用软件程序设计,即插即用的硬件设置,确保任何用户都能够快速安装操作,无需复杂的方法开发、校准或培训更高的实验室安全:除了无需使用易燃的氧化性气体外,4100 MP-AES使实验室无需引入多种复杂气体,无需人工搬运气体钢瓶可靠、耐用: 4100 MP-AES 运行稳定,适应性强。适用于危险气体采购价格昂贵、运输不便的边远地区,是采矿、食品及农业、化工、石化和制造等行业的理想选择
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  • 场发射透射电子显微镜TH-F120 TH-F120取名源自中华名山“太行”(TH),寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。产品特点肖特基场发射电子枪平行束/会聚束自适应切换照明系统对称式极靴、恒功率物镜 (高衬度/高分辨模式可选)高像素CMOS相机四轴高精度样品台全中文软件交互界面产品优势人机分离电镜空间与工作空间分离,减少人为干扰,提升安全性,带来舒适的使用体验高效操作各模块控制高度集成至PC端,全中文软件交互界面一目了然,提升操作效率越级体验将场发射电子枪、高自动化系统等配置120 kV平台,入门即高配丰富拓展预设充足的附件加装接口以及整机升级空间,满足用户使用新需求,有效应对多样的应用场景产品参数 高衬度版高分辨版加速电压10~120 kV10~120 kV信息分辨率0.20 nm0.14 nm点分辨率0.36 nm0.30 nm放大倍率10~1,200,000 x10~1,500,000x主相机像素4096×40964096×4096样品台倾转角-90 °~+90 °-70 °~+70 °支持拓展EDS、STEM、侧插式相机、EELS、插入式冷冻盒
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  • 简介Online 5100 MP多参数重金属在线分析仪使用发射光谱来分析溶液中的元素含量。高温状态下,处于基态的原子或离子跃迁到激发态,处于激发态的原子回到基态时又发射出不同波长的光,发射谱线的波长与特定元素有关,而谱线的强度与浓度有关,Online 5100 MP就是基于这一原理进行分析的。功能特点 ▲ 原子发射光谱原理,方法成熟▲ 分析元素包括金属和非金属▲ 多元素同时分析,可扩展应用,多达70多种元素▲ 宽线性范围:ppb~ppm▲ 宽波长范围:176nm~780nm▲ 检测限低:与实验室ICP-AES相当▲ 耐盐高:可耐受高达3%TDS▲ 工业电脑控制,人性化操作界面▲ CCD固态检测器:可同时进行背景及干扰校正▲ 低运行成本:从空气中提取氮气,不使用昂贵气体▲ 安全:无需易燃或氧化气体,消除安全隐患▲ 快速:只需数分钟即可分析多个元素▲ 整体式矩管:省略了矩管调整和气体管路的繁琐连接▲ 氮气等离子体:温度控制在5000K技术参数 分析元素:用户选择 (多达70多种元素可选)测量原理:原子发射光谱准 确 度:优于±2% (标准样品)重 复 性:优于2%线 性:优于0.9999分析时间:约1min/单元素(不含预处理)仪器校准:自动电 源:220V±10% VAC,50±1Hz预 处 理:根据用户情况配置
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  • JAS原子发射光谱检测器AEDIII是市场上唯一商品化的气相色谱原子发射光谱检测器,它是在1989年由惠普公司引入市场的,之后以它的独一无二的特性而为市场所熟知。在过去25年中,AED经历了两次重大的升级换代。 JAS设计制造了全新一代的AED III产品。新设计的AEDIII主要将AED从气相色谱仪的右边移到左边,不再需要长的转移线。新AEDIII配有半米长、高分辨率、多功能的平板光栅和多个2048像素背照式CCD,具有极高分辨率和高灵敏度。 固定式的光栅设计避免使用运动部件,使其用途更广,以应用为基础的需求从通用光栅设计改为专用光栅设计。由于70%以上的AED应用是在UV 和VUV范围内,新的专用光栅就是为此设计的。 可以根据客户需求定制应用,使仪器成为量身定制的AED-我的AED(MyAED)。? 专用分析仪,如多元素全二维GCXGC AED 分析仪或多元素模拟蒸馏分析仪,可以为用户提供交钥匙解决方案(包括硬件、软件、方法)。JAS AED优势光栅从25 厘米增加到50 厘米;? 改善了光学分辨率;? 从切尔尼-特纳(Czerny-Turner)光学系统升级到平板光学系统;? 光学部件少,改善了紫外光透过;? 64 mm 2600 线平板凹光栅对50 mm 1200 线平面光栅;? 平面投影使影像更锐利;? 光栅从运动部件改成固定光栅,用途更广。检测? 检测元件从PDA 升级为很薄的背照式CCD;? 像素为14 μm 而不是 25 μm,增强了每个像素的色散能力;? 新的高速读出电路板;? 可以允许同时使用多个CCD 传感器;? 数据扫描采集频率高达100 Hz,比旧型号的10Hz 高出10 倍;? 高灵敏度,更好的信噪比;? 动态范围更宽;? 可以适用于高速扫描应用,如多元素全二维色谱GCXGC AED。概述? AED 从GC 右边移到左边;? 新的短的高温传输管线(可达 450 °C);? 水箱组件放置在保温材料中;? 改善了水箱温控和流量控制;? 水箱内置空气流路;? 维护简便,无需工具;? 全新主板;? 将所有的电路板集成到一个主板,使其尺寸大为减少;? 软件能够更好的控制仪器。软件AED III 使用新软件包控制? 多元素模拟蒸馏;? 增加了如碳、硫、氮、氧等多元素在一台仪器上运行模拟蒸馏应用方案的功能;? 多元素全二维色谱 GCxGC AED,增加了如碳、硫、氮、氧、磷…等多元素在一台全二维色谱GCXGC 上运行应用方案功能,不同元素用不同颜色标示。软件改进? 升级为.NET 格式;? 64 位操作系统;? 增强软件功能 ;? 点燃等离子体检测 ;? 谱图可以3D 图形显示;? 改善了波长校正 ;? 新软件的性能 ;? NetCDF 格式输出;? CSV 格式输出;? 选择背景校正算法 ;? 直接背景校正光谱图;? 试剂气体校正工具;? 多元素自动序列工具 。
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  • ICP电感耦合等离子体原子发射光谱仪过程主要分三步,即激发、分光和检测。第一步:激发光源使试样蒸发汽化,离解或分解为原子状态,原子也可能进一步电离成离子状态。原子及离子在光源中激发发光;第二步:利用分光器把光源发射的光色散为按波长排列的光谱;第三步:利用光电器件检测光谱,按所测得的光谱波长对试样进行定性分析,或按发射光强度进行定量分析。1、软件操作系统的特点1.1全中文操作界面,具有绘图功能,简便易用 1.2计算机控制自动寻峰,自动扫描,自动衰减1.3单一及复杂的元素间干扰校正1.4自动背景校正和背景扣除1.5谱线库储存有24000多条分析谱线,可自行添加1.6开机自动诊断调试1.7二次回归和高斯曲线计算含量的测量方式 应用:1、可检测物体分类包括:金属(钢铁,有色金属)、化学、药品、石油、树脂、陶瓷等;生物、医药、食品等环境(自来水,环境水,土壤,大气粉尘)等2、检测范围ICP原子发射光谱仪是一种可以测定试样中的金属元素和部非金属元素的大型分析仪器,可以对试样进行定性、半定量和定量分析。它的测量范围可从微量到常量3、光谱仪可检测元素检出限公司经营产品覆盖电感耦合等离子体发光光谱分析(ICP)、X射线荧光光谱仪(XRF)、离子色谱仪(IC)、高效液相色谱仪(HPLC)、气相色谱仪(GC)、原子吸收光谱仪(AAS)、微波消解仪、纯水机等仪器及其配件。公司秉承“立诚信之本,方品质之规,体科学之道"的企业精神,以“诚信为本,品质至上,客户第一"的经营理念,以专业、全面的技术支持和快捷的售后服务为后盾。公司服务客户群体遍布制药、环保、食品、政府、高校、化工、第三方检测等领域。公司提供优质的产品和服务,得到广大客户的高度认可。公司将与客户一起携手并进,互惠互利、共同发展。
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  • ■JASAED-plus■HP/Agilent6890GC■LeapTechnologiesCombiPAL自动进样器JASAED使用原子发射光谱法检测从气相色谱仪中洗脱的化合物中的元素。氦等离子体将所有化合物分解,激发的原子产生特征性的光发射线。镜头将光线聚焦到光谱仪的入口狭缝上。旋转光栅改变由固定位置光电二极管阵列(PDA)覆盖的元素光谱。PDA可以同时测量一个到几个元素。JASAED可以通过自动改变聚焦在PDA上的光谱波长范围并随后进行第二次(或第三次或更多次)样品注射来检测每个样品的任意数量的元素。这款JASAED-plus配备HP/Agilent6890GC和LeapTechnologiesCombiPAL自动进样器,状况良好。它已经在SpectraLabScientific进行了测试。包括90天保修。SpectralabScientificInc.RanksNo.388onthe2016PROFIT500PROFITandCanadianBusinessunveils28thannuallistofCanada’sFastest‐GrowingCompanies
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  • 仪器简介:意大利GNR仪器公司1984年成立于意大利米兰,是一家专业的光谱仪制造商。其创始人Mr. Mario Gungui和Mr. Antonio Nigro,于同年接管了欧洲分析仪器领域非常著名的OPTICA公司。OPTICA公司成立于20世纪四十年代,是光谱仪制造领域先驱。不管是后来成立的OBLF还是斯派克,这些大的光谱仪制造商都或多或少地承接了OPTICA公司的先进技术。GNR公司自成立以来,不断加强研发力量,与很多知名大学建立了良好的合作关系,使GNR拥有一群高水平的专家和先进的技术,为其在国际市场的迅速发展奠定了良好的基础。在随后的二十几年里,GNR公司逐步成长和发展为全球主要的光谱仪制造商之一。GNR现拥有众多型号系列的光谱仪,无论您是生产现场还是实验室应用,都可以找到合适您的一款仪器。 油料光谱分析仪GNR ROTROIL光谱仪符合ASTM D6595-00标准:用旋转盘电极原子发射光谱法测定已用润滑油或已用液压流体中杂质的标准试验方法。 ROTROIL光谱仪符合ASTM标准和DoD JOAP,可用于状况监测以及失效预防过程。典型应用领域包括军队,航空,铁路,远洋船队,公共和私人运输公司,矿山,炼油厂,电厂,油厂,油料回收,制造厂,高校,研究所,教学,实验室,赛车队以及任何需要对润滑油,变速箱油,燃料,液压油和润滑脂就磨损金属,污染物,添加剂和腐蚀性杂质进行元素分析以开展预防性维护并降低成本的领域。 油料光谱分析仪GNR ROTROIL确定用油中的杂质是设备状况监测程序中的关键诊断方法。如果有基准浓度数据供比较,某种磨损金属浓度的增加可看作是早期磨损的预示。污染元素明显增加则预示着润滑液中出现异物,例如会造成磨损或润滑液降解的防冻剂或沙子。该测试方法能识别出元素并确定其浓度,这样就能建立起与时间或距离相关的趋势,同时在出现更严重或灾难性的失效之前能够采取纠正行为。对于舰船的推进系统、传动系统、起重运输设备、可变螺旋桨液压系统的润滑油的元素含量进行检测,从而判断该润滑系统的运行状态,为船舶设备安全运行提供保障。 ROTROIL是用于润滑油及制冷液中磨损金属和污染物同步分析的光电直读光谱仪。可分析测试润滑油、燃料油、液压油及其它液态油类中的各种相关元素。ROTROIL设计紧凑、可移动且便于使用,适用于实验室及现场,可用于诊断及维护。无需载气或样品稀释。 技术参数:主机电源:220V AC / 50Hz能耗:500W体积:86 x 73 x 1125px重量:~85kg光学系统帕邢-龙格法光学装校(全谱)原理:采用ASTM D6595标准,盘棒电极火花直读光谱,带转盘式送样装置,带内置自动削笔器激发源:高重复率交流脉冲电弧光源直接光输出,无需光纤焦距:500 mm自动背景校正预装超过160条分析线,便于未来升级光谱范围:210 ~ 600 nm(190 ~ 800nm);数据采集系统基于32位AD DSA微处理器的单积分器专利GNR数据采集系统,完全由内置的计算机控制。软件电脑自动校准曲线拟合(基于拉格朗日二次多项插值进行自动曲线拟合,可人工进行设置)校准和分析单位:ppm或%图形显示或打印曲线无上限校准曲线存储量(存储量由硬盘大小决定)用户选择打印输出元素格式及先后顺序自动监测范围:0 ~ 10,000ppm,分辨率:0.01 ~ 1.00ppm可编制不同的测试报告储存及重现样品分析结果(统计数据例如标准偏差、相对标准偏差、平均值、最小/最大值) 主要特点: ü 元素分析范围:Fe、Al、Cr、Ag、Cu、Ni、Pb、Sn、Ca、Mg、Si、Ti、Na、Sb、V、B、Ba、Mo、Zn、P、Cd、Mn、K、Li等24种元素含量,最多可扩充至32中元素。ü 元素测量范围:锌、磷、钡、硅元素0-6000ppm,其他元素0-1000ppm。ü 重复性和准确度: 仪器检测结果的重复性和准确性符合ASTMD6595标准。ü 分析时间:在30秒时间内完成所有元素定量分析,生成数据报告并可打印出分析结果。ü 样品制备: 无需对样品进行预处理,取样后直接上机分析。ü 在Windows操作界面下工作的控制软件,全自动完成实验过程ü 根据同一参考标准,分析软件自动进行重新标定 ü 30秒内自动同步读出结果 ü 该仪器是基于MIL-S-83129A标准设计建造的;结果符合ASTM6595标准及DoD美军联合用油分析计划(Joint Oil Analysis Program, JOAP) ü 软件功能强大,可在简明人机方式下进行完整的系统设置和标定。存储和提取样品分析数据,统计分析数据并打印分析结果。
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  • 2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为: 1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受; 2) 四级聚光镜设计:为了最大程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制; 3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS; 4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动; 5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性; 6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析; 7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度; 8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。
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  • 包括以下组件,并可根据需求进行不同搭配的选择:■安捷伦6890气相色谱仪(GC)■AgilentG2350原子发射检测器(AED)色谱性能:□保留时间重复性□区域重复性□Agilent6890N是一种先进的气相色谱仪,可为所有应用提供卓越的性能。其性能的关键是使用先进的电子气动控制(EPC)模块和高性能温度控制。□每个EPC装置都针对其预期用途进行了优化
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  • 系统配置:■安捷伦4100MP-AES微波等离子体原子发射光谱仪■必须的组件(管道、线路)这台仪器状况良好,已经在SpectraLabScientific进行了测试。所有套件和组件均包含90天保修。仪器实物图:仪器简介:◇最低的运行成本——安捷伦4100MP-AES无需使用易燃、昂贵的气体,可实现无人值守操作,大大降低了运行成本◇高性能——电磁耦合微波等离子体光源相比原子吸收的火焰原子化器,提供了更加优异的集体耐受力和适应力,以及更加出色的检测限
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  • 产品详情 Optosol Absorber Control K1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪一、测量原理说明Alphameter 吸收 测量了相当精确的太阳能吸收的测试结果。Alphameter是基于一个具有光谱性窄带光源的积分球。这些参考标准或样本进行测量 是在一个球面上孔的位置。对面是两个平行样品检测器。当其中一个光源照亮球体, 探测器测量样本光的反射。从这个反射信号,检测反射或吸收率值。为了获得必要的光谱信息,4 个发光二极管,蓝色,绿色,红色和红外波长照亮球体。 反射发光二极管信号使用硅探测器测量。钨卤素超亮电灯结合一个最大灵敏度在1.3μm 的过滤锗探测器使用。 5个不同的光源,alphameter是一种非常稳定但分辨率底的光谱仪类型。它非常适合测 出缓坡谱线,比如典型的太阳能选择性吸收层谱线。Emissiometer K1 发射 emissiometer包括一个积分球,作为热源的发热条和 敏感度在波长范围8μm到14μm的 探测器。从发热条发射出来的辐射是单一分布的积分球,作为一个散辐射源。探测器安 装在一个度角为10°的样品表面。辐射是样本反射测量。2个样本被测信号进行测量校准 在已知的发射率值波长范围内::一个如玻璃的高发射率样本与一个低发射率样本或接 近样品的发射率进行测量。此仪器为目前全球具有权威测量仪
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  • 电感耦合等离子发射光谱仪(ICP) 应用范围 广泛应用于工业实验室油品分析技术优势n 全波长覆盖润滑油中需要分析的添加剂元素、磨耗元素、以及微量元素n 全谱直读检测技术,所有元素同时分析,完整分析一个样品大约90秒,和样品中元素数目多少无关。n 配备出厂前已经校正好的全套的软件包,包含了ASTM 和EN 标准。真正实现“开机即分析”,用户无需再创建分析方法n 提供一套完整的油液监测测试系统,包含分析方法,自动进样器(选配),油液油样系统,专用的试验操作流程n 极低的氩气吹扫光室流量,很大程度的节约使用成本,在整个仪器使用寿命过程中,大约能节省数万元费用n 原子吸收和其他ICP不一样,每次测试都覆盖全部光谱波长范围,可以满足今后的升级n 不管是油液监控实验室,还是油品调和工厂,都可以满足用户对工作效率、稳定性、可靠性的要求
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  • X射线发射谱(XAFS) 400-860-5168转6028
    硬X射线发射谱(X-ray Emission Spectroscopy, XES)是一种重要的分析技术,主要用于研究材料的电子结构和化学性质。硬X射线具有较高的能量,能够深入样品内部,使XES成为探测材料深层信息的强有力工具。XES的主要应用领域包括: 化学状态分析:XES能够提供关于样品中元素化学状态的直接信息,如氧化态和配位环境,这对于理解材料的化学性质和反应机制至关重要。材料科学:在新材料的开发和研究中,XES被用来分析材料的电子结构、能带结构和价带信息,这些信息对于优化材料的电学和光学性能非常重要。催化剂研究:XES技术能够在原子级别上探测催化剂的活性位点及其电子环境,为设计更高效的催化剂提供了可能。环境科学:通过分析环境样品(如土壤、水体和大气颗粒)中污染物的化学状态,XES有助于理解污染物的来源、迁移和转化过程。能源材料研究:在研究电池、燃料电池和太阳能材料的电子结构和工作机制时,XES提供了关键的电子层面信息,对优化这些能源转换和存储设备的性能具有重要意义。生物医学领域:XES用于研究生物分子(如蛋白质和酶)中金属离子的配位环境,这对于理解生物分子的功能和设计药物具有重要作用。地球科学:在地球和行星科学研究中,XES可以分析矿物和岩石样本,揭示其成分和形成过程中的环境条件。 硬X射线发射谱(XES)技术因其提供的独特的元素和化学状态信息,在科学研究和工业应用中发挥着越来越重要的作用,特别是在无法直接使用其他技术探测样品深层或微量元素的情况下。随着测量技术的进步,XES预计将在未来在更多领域中找到应用。仪器原理仪器参数探测能量范围:5~15 keV可测3d元素K边、5d过渡金属L边、以及锕系元素L边荧光峰;电子空穴效率:≥1×1011;能量分辨率:≤1.5 eV@Cu Ka;检测限:≤0.1%wt;重复性:重复扫描能量偏移50meV;氦气腔体,减少X射线空气吸收;高纯度Si或者Ge晶体单色器,保证全能区能量分辨率;配置原位池系统,可以设计各种模块化的原位测试系统,高温低温、多相催化、电催化等各种原位测试系统集成,可实现模块化切换;包含数据处理系统,采集过程中发射谱数据自动输出,无需额外切换。参考数据
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  • 简单介绍:Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪新一代ICP可称得上是小身材,高性能。凭借在ICP市场多年累计得经验,赛默飞世尔科技(原热电公司)研发出这款集小型化、集成化、人性化和智能化于一身得新一代ICP, 从而实现了 优异得仪器性能 高的工作效率 简便的操作 低的运行成本。详细介绍:Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪新一代ICP可称得上是小身材,高性能。凭借在ICP市场多年累计得经验,赛默飞世尔科技(原热电公司)研发出这款集小型化、集成化、人性化和智能化于一身得新一代ICP, 从而实现了更优异得仪器性能 高的工作效率 简便的操作 低的运行成本。Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪技术参数当今世界体积zui小的新型iCAP 6000系列等离子体发射光谱仪 优异的仪器性能 高的工作效率 方便的操作 低的运行成本 广泛应用于环境、石化、冶金、食品饮料、地球化学和水泥行业的普通和元素分析实验室Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪主要特点降低了气体消耗 改善了对于诸如砷(As)、锑(Sb)、硒(Se)和碲(Te)的元素分析性能全自动波长校正和补偿校正保证了长时间的优异稳定性第四代电荷注入式(CID)检测器RACID86 快速、可靠和便捷性能的常规分析,既可采用单一的等离子体炬垂直观测,也可采用双向观测 【谱质分析检测技术(上海)有限公司】谱质分析检测技术(上海)有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮,二手分析仪器租赁,公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器,包括:液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器,以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent(安捷伦)、Waters(沃特世)、Thermo(赛默飞)、AB sciex、Perkin Elmer(珀金埃尔默)、Dionex(戴安)、SHIMADZU(岛津)等品牌仪器,力求达到您的不同需求。关于谱质的服务: 1.仪器经过工程师维修测试,具备可以与新机相的性能状态,使您的科学实验流畅运行! 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼,节省出的经费则可以投入重要的实验项目! 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧,团队为您的仪器提供长期维修支持! 4. 仪器库存,无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件,均能现货供应!【谱质分析检测技术(上海)有限公司】联系人:李先生联系地址:上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F
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  • 场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 XM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台,完美的几何设计更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD) 优化几何设计的许多接口,更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD)和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下,几分钟就可以达到仪器工作需要的真空,电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品,观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 XMH大样品室高真空式电镜,配备有可选的马达驱动样品台,适合观测导电的样品。MIRA3 XMU可变真空式SEM,体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品,不需要喷金。软件:标配: 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM 选配:根据实际配置和需求 配件 二次电子探头(SE),ET型二次电子探头(YAG 闪烁体) 可移动式背散射电子探头(RBSE)*,可移动环行闪烁体类(YAG)具有高灵敏度和原子序数分辨率(0.1Z) 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等,各种配件可供选择
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  • SOC410 VIS-IR便携式发射率和太阳能反射率仪   SOC410VIS-IR可见-红外发射率/反射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的,可测量包括13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335 nm至2500 nm,红外测量头测量范围为1.5&mu m至远红外。利用太阳辐照度函数或黑体函数,通过20° 和60° 两个角度计算太阳能吸收率或热辐射,通过计算定向发射率推测半球总发射率。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接,该仪器可作为一个手持单元操作,一次完整的测量用时仅约10秒。该光谱仪还配备了NIST可溯源校准标样。 产品特点:  &diams  在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率  &diams  半球热辐射的预测  &diams  测量太阳能吸收/反射  &diams  在335至2500 nm光谱范围内,测量总辐射、镜面反射和漫反射能量  &diams  可测量光谱范围:从紫外到远红外  &diams  NIST可溯源标准  &diams  快速和便携式使用产地:美国SOC
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  • THA2700氦等离子体发射光谱分析模块仪器功能 THA2700氦等离子体发射光谱分析模块可以安装于气相色谱分析仪,作为色谱分析的检测器,用于定量分析各种气体成分浓度。由于分析模块具有很高的灵敏度,因此适合不同浓度范围的分析,尤其适合微量或痕量气体分析,并使得色谱分析更加简便,分析结果更加准确。工作原理氦等离子体发射光谱分析模块采用高频高压电源电离气体,产生正电荷离子和自由电子,形成等离子体环境。正电荷离子、自由电子在电场的作用下分别加速移向负极、正极。由于碰撞,离子和电子将自身能量传递给原子,使得气态原子被激发。原子被激发后,其外层电子发生能级跃迁,在返回基态时发射特征光谱。通过对特征光谱的检测,分析出各种气体成分的浓度。技术参数 工作环境温度: (5~40)℃;输出信号:-2.5V~+2.5V;24V直流电源:≥10W,纹波电流≤120mVp-p;气路接口:1/16英寸;流量范围:10mL/min~100mL/min;常规流量:20mL/min。技术指标分析成分:H2,O2,N2,CH4,CO,CO2,H2S,N2O,CNHM等;载气:高纯氦气;检出限:≤10×10-9;含尘量:≤0.1um;重量:约1.5kg;主体尺寸:约170*111*90mm。技术优势u 原子发射光谱,灵敏度高,准确度高。u 高频高压电离源,稳定性好,无辐射、放射性问题。u 无消耗性部件,仪器使用寿命长。典型工程应用领域u 空分氦气分析u 高纯气体分析u 科学实验室气相色谱u 工业在线气相色谱
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  • LTP捕获发射光谱仪 400-860-5168转4661
    低温等离子体捕获原子发射光谱仪主要用于溶液中重金属的痕量检测:以氢化物发生方式导入样品;之后通过放电在氧气中在线捕获氢化物;最终在1%的氢气中放电释放,同时被激发产生特征发射谱线而被检测。可同时检测As、Se、Sn、Pb、Hg、Cd等多种元素,检出限可达到0.1ppb以下。指标:可测元素:As、Hg、Cd、Se、Pb、Sn等,大多可以同测,且无通道限制进样量:5mL检出限:0.1ppbRSD:3%
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  • 场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。配件: 二次电子探头(SE),ET型二次电子探头(YAG 闪烁体) 可移动式背散射电子探头(RBSE)*,可移动环行闪烁体类(YAG)具有高灵敏度和原子序数分辨率(0.1Z) 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等,各种配件可供选择 概述:分析潜力 GM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台,完美的几何设计更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD) 优化几何设计的许多接口,更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD)和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下,几分钟就可以达到仪器工作需要的真空,电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品,观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 GMH大样品室高真空式电镜,配备有可选的马达驱动样品台,适合观测导电的样品。MIRA3 GMU可变真空式SEM,体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品,不需要喷金。 软件:标配: 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM选配:根据实际配置和需求
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  • 场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集,可以保存标准文件格式的图片,可以对图像进行管理、处理和测量,实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 LM样品室配备有5轴马达驱动全计算机化优中心样品台,完美的几何设计更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD) 优化几何设计的许多接口,更适合安装能谱仪(EDS)、波谱仪(WDX)、电子背散射衍射(EBSD)和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下,几分钟就可以达到仪器工作需要的真空,电子枪的真空度由离子泵抽真空保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品,观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 LMH大样品室高真空式电镜,配备有可延长的马达驱动样品台,适合观测导电的样品。MIRA3 LMU可变真空式SEM,体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品,不需要喷金。 软件标配: 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM选配:根据实际配置和需求 技术规格 配件 二次电子探头(SE),ET型二次电子探头(YAG 闪烁体) 可移动式背散射电子探头(RBSE)*,可移动环行闪烁体类(YAG)具有高灵敏度和原子序数分辨率(0.1Z) 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头 等,各种配件可供选择
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  • ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体,如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高,可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统;宽波长范围(UV~IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统
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  • THA2700氦等离子体发射光谱分析模块仪器功能 THA2700氦等离子体发射光谱分析模块可以安装于气相色谱分析仪,作为色谱分析的检测器,用于定量分析各种气体成分浓度。由于分析模块具有很高的灵敏度,因此适合不同浓度范围的分析,尤其适合微量或痕量气体分析,并使得色谱分析更加简便,分析结果更加准确。工作原理氦等离子体发射光谱分析模块采用高频高压电源电离气体,产生正电荷离子和自由电子,形成等离子体环境。正电荷离子、自由电子在电场的作用下分别加速移向负极、正极。由于碰撞,离子和电子将自身能量传递给原子,使得气态原子被激发。原子被激发后,其外层电子发生能级跃迁,在返回基态时发射特征光谱。通过对特征光谱的检测,分析出各种气体成分的浓度。技术参数 工作环境温度: (5~40)℃;输出信号:-2.5V~+2.5V;24V直流电源:≥10W,纹波电流≤120mVp-p;气路接口:1/16英寸;流量范围:10mL/min~100mL/min;常规流量:20mL/min。技术指标分析成分:H2,O2,N2,CH4,CO,CO2,H2S,N2O,CNHM等;载气:高纯氦气;检出限:≤10×10-9;含尘量:≤0.1um;重量:约1.5kg;尺寸:170*111*90mm。技术优势u 原子发射光谱,灵敏度高,准确度高。u 高频高压电离源,稳定性好,无辐射、放射性问题。u 无消耗性部件,仪器使用寿命长。典型工程应用领域u 空分氦气分析u 高纯气体分析u 科学实验室气相色谱u 工业在线气相色谱
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  • 1 模块功能氩等离子发射检测器 THA2600-Y可以安装于气相色谱分析仪,作为色谱分析的检测器,用于定量分析各种气体成分浓度。由于分析模块具有很高的灵敏度,因此适合不同浓度范围的分析,尤其适合微量或痕量气体分析,并使得色谱分析更加简便,分析结果更加准确。2 技术参数 壳体接地、24V-接地适用载气:高纯氩气分析成分:H2,O2,N2,CH4,CO,CO2,H2S,N2O,CNHM等;工作环境温度: (5~40)℃;输出信号:-2.5V~+2.5V;输出接口: DB9公头;管脚定义说明1悬空2悬空324V+424V-*5悬空6高压使能与7脚短接时,内置高压电源工作;悬空或接24V时,内置高压电源停止工作。(如果内部已设置跳线,此引脚无作用)7GND*8信号-*9信号+*内部短接24V直流电源:≥10W,纹波电流≤120mVp-p;气路接口:1/16英寸;流量范围:10mL/min~100mL/min;常规流量:20mL/min;含尘量:≤0.1um;主体尺寸:约170*111*90mm;重量:约1.5kg。3 工作原理氩等离子发射检测器 THA2600-Y采用高频高压电源电离气体,产生正电荷离子和自由电子,形成等离子体环境。正电荷离子、自由电子在电场的作用下分别加速移向负极、正极。由于碰撞,离子和电子将自身能量传递给原子,使得气态原子被激发。原子被激发后,其外层电子发生能级跃迁,在返回基态时发射特征光谱。通过对特征光谱的检测,分析出各种气体成分的浓度。4 技术特点u 原子发射光谱,灵敏度高,准确度高。u 高频高压电离源,稳定性好,无辐射、放射性问题。u 无消耗性部件,使用寿命长。5 典型工程应用领域u 空分氩气分析u 高纯气体分析u 环境空气监测u 工业流程中乙炔及碳氢分析u 科学实验室气相色谱u 工业在线气相色谱氩等离子发射检测器 THA2600-Y
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  • 半球发射率测定仪 400-860-5168转4338
    半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体(黑体)的辐射出射度的比值,体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率,适合太阳能电池组件,建筑隔热涂料,热控涂层等材料开发,工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元,光源,数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05~0.95检测器波长范围 0.6~42μm(300K理论黑体总放射能量的95%)测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1~3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K(Sheldahl制)电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分:W145×D82×H32 (mm)测定部分:W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分:约200g测定部分:约700g储存环境 温度:10~45℃湿度:50%RH附件 使用手册CD(驱动程序)USB数据线 (Type A-Type B)电源线
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  • 产品简介红外发射光谱(Infrared Emission Spectroscopy)是一种直接、无损地获取物质材料光谱信息的红外检测手段,是对红外透射、红外反射、衰减全反射(ATR)、漫反射等测量方式的有效补充。由于材料自身就是红外的发射源,因此发射光谱应用领域比较广,如不适合做透射测量的物质表面、强腐蚀性且不透光的样品、发射光源的光谱特征、体积较大的物体、距离较远的目标、超高温样品的光谱特性、等离子体的发射测量等。 红外发射光谱的原理是,根据基尔霍夫定律(Kirchhoff’s Law),任何物质在温度高于绝对零度时,其内部的原子和分子都会受热激发到更高的能级,在返回基态能级时通过发射释放能量;并且在热平衡条件下,物质的发射能量和其吸收率的比值,仅和物质的温度和发射的波长有关,即在热平衡时,物质发射的能量一定等于吸收的能量。黑体是最理想的吸收体,其发射率也是最大的。按照应用领域的不同,黑体可以分为平板式黑体和空腔式黑体。通常情况下,平板式黑体适用的温度范围在200°C以内,空腔式黑体适用的温度更高,有的甚至到达2000°C以上。在计算某些材料的发射率时,往往需要测量相同温度下黑体的发射谱图强度,接着立即测量样品的发射谱图强度,然后将两者相除,即可归一化得到该温度下,该材料不同波长的发射率。下图为三种不同温度下黑体的发射谱图,我们可以从谱图中了解到,随着温度的不断升高,发射的强度是逐渐增大的,这是由普朗克定律(Planck’s Law)所决定的。该定律给出了光谱辐射通量密度和光谱波长及黑体温度之间的定量光系。另外,我们也发现,不同温度下发射谱图的峰位极大值是不断位移的,温度越高,峰位极大值越向高波数位移,也就是移向短波的方向,该现象符合维恩位移定律,nmax=1.93T。 黑体IR-563/301的技术参数n 温度范围:50 – 1050 °Cn 温度调节精度:0.1 °Cn 发射口最大尺寸:1英寸n 发射率:0.99n 发射源类型:空腔黑体n 8个可调光阑 FOLI 10-RE是荧飒光学自主设计的独立式傅里叶变换红外发射光谱仪,该光谱仪集成专门的发射平台,可以安装各种不同的发射附件和参考黑体,满足不同温度下不同材料的表征需求。光谱仪主机配置双检测器位置,方便用户随时进行多个检测器的切换测量。灵活的光路设计,用户可以选择聚焦光路或者平行光路来适合不同的样品。此外,FOLI 10-RE也可以更换内部的光学元器件,使测量谱区扩展到近红外波段,满足近红外光源的发射测量。发射光谱的测量方式及注意事项,视样品形态的不同而有所差别。对于薄膜样品,可以将薄膜担载在金属基底上进行测量,以减少基底的辐射;制备样品的厚度不能太大或者气体浓度不能太高,防止样品自吸收造成的谱图变形;如果背景的辐射较强,在计算样品发射率时,需要考虑将背景的发射强度扣除后,才能得到准确的结果;如果样品在测量过程中释放出气体,用户需要考虑在发射装置上增加吹扫,以减少气体对谱图的影响。 产品应用领域n 研究材料的发射谱图特性n 计算材料的发射率n 艾柱燃烧的发射光谱n 陶瓷片在不同温度下的发射光谱n 医疗器械中各种理疗仪的测试n (近)红外光源的测试n 超高温样品的光谱测试n 等离子体的发射测量n 人体穴位的发射研究n 玻璃及建筑材料的发射测量n 太阳能集热管的发射测量n 各类织物的发射测量 产品特点n 干涉仪:高级迈克尔逊干涉仪,光路永久准直,稳定性极佳,10年质量保证n 固态激光器:性能稳定,使用寿命达10年以上n 发射源:聚焦光路,用户的样品或者热源或者黑体n 分束器:ZnSe材质分束器和ZnSe窗片,防止光学器件潮解(可选KBr、石英分束器)n 检测器:内置双检测器位置,可选择常温检测器或者低温MCT、铟镓砷,可以实现软件自动切换n 光路设计:专用的发射光路设计,简洁紧凑,降低辐射损失,提高辐射通量n 发射附件:可定制各种附件满足客户的实际测试需求 产品技术参数n 光谱范围:标准范围500~5000 cm-1(可选400-7500cm-1、400-10000cm-1、或扩展到近红外12500 cm-1)n 光谱分辨率:优于2 cm-1,通常使用8 cm-1n 测量方式:将样品放置在聚焦点,可以选择不同的温控仪或者黑体n 工作条件:工作温度:-5~40℃;工作湿度:0~100%R.H. n 电源:100~240VAC,50~60Hz, 20W;n 重量:12kgn 尺寸:44 cm×33 cm×18cm(W×D×H;含发射挡板) 产品配置选型型号名称说明FOLI 10-RE傅里叶变换红外发射光谱仪单检测器(DLATGS、液氮冷却MCT,电制冷MCT可选)FOLI 10-RE Pro傅里叶变换红外发射光谱仪双检测器,软件自动切换,DLATGS、液氮冷却MCT,电制冷MCT可选FOLI 10-RE NIR傅里叶变换红外发射光谱仪近红外检测系统,软件自动切换(铟镓砷检测器和石英分束器)IR-563/301黑体适合高温发射平板式加热装置适合中低温样品的实验空腔式加热装置适合高温样品的实验聚焦附件等方便用户聚焦 对于室温下的物质的红外发射测量,荧飒光学提供了另外一种解决方案。通过FOLI系列傅里叶变换红外光谱仪主机和反射附件或者积分球附件,测量得到材料的反射光谱。根据基尔霍夫定律和能量守恒定理,我们可以非常方便地获得室温下不透明材料的发射率。详细解决方案可以咨询荧飒的应用工程师。
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  • 仪器简介:与日本冶金行业共同进步的岛津为您提供---光电发射光谱仪 PDA系列岛津多年来向世界提供在金属质量管理中必不可少的光电发射光谱仪,如今又推出了集各项精华于一体的PDA-7000。标准配置岛津独创的时间分解PDA测光法,强有力地支持质量管理分析。· 稳定性提高采用新设计的机身/发光台,使稳定性大幅提高。 · 分析精度提高采用新设计的发光台和适合分析范围的最适合的发光条件,从高含量到微量的元素均可进行高精度分析。 · 钢铁中氮的高灵敏度分析氮的检测下限达5ppm。在炉中分析中,达到了可以代替气体分析仪的水平。 · 标准配备高功能配备一直获得好评的PDA时间分解测光、形态分析处理功能。 · 丰富的产品系列,应对多种用途。&rarr 产品系列的详细内容钢铁、铝、镁、铜、锌、锡、钛、镍、钴等各种固体金属的基体金属、合金中的组成元素、杂质微量元素的定量 :PDA-7000· 出色的成绩长期以来,与冶金行业共同发展,积累了丰富的技术信息。&rarr 应用实例 ※外观及规格如有变动,恕不另行通知。发射光谱分析:(OES:Optical Emission Spectroscopy) 所谓发射光谱分析是指使用放电等离子体蒸发气化来激发样品中的目标元素,根据得到的元素固有的亮线光谱(原子光谱)的波长进行定性,并根据发光强度进行定量的分析方法。 广义上讲,激发放电(光源)还包括使用ICP(Inductively coupled plasma 电感耦合等离子体)作为激发放电(光源)的ICP发射光谱分析。但发射光谱分析(发光分析)或光电测光式发射光谱分析,是指使用火花放电/直流电弧放电 /辉光放电作为激发放电的发射光谱分析。发射光谱分析中,在固体金属样品和与电极之间发生放电。 岛津的发射光谱分析装置是在氩气氛围中进行火花放电,对火花脉冲的发光进行统计处理,采用可提高测定重现性(精度)的方式(PDA测光方式:Pulse Distribution Analysis)。 发射光谱分析装置可快速测定固体金属样品的元素组成,是在炼铁、铝冶炼工艺管理用中必不可少的手段。其他咨询
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  • 1 模块功能THA2600型氩等离子体发射光谱分析模块可以安装于气相色谱分析仪,作为色谱分析的检测器,用于定量分析各种气体成分浓度。由于分析模块具有很高的灵敏度,因此适合不同浓度范围的分析,尤其适合微量或痕量气体分析,并使得色谱分析更加简便,分析结果更加准确。2 技术参数 壳体接地、24V-接地适用载气:高纯氩气分析成分:H2,O2,N2,CH4,CO,CO2,H2S,N2O,CNHM等;工作环境温度: (5~40)℃;输出信号:-2.5V~+2.5V;输出接口: DB9公头;管脚定义说明1悬空2悬空324V+424V-*5悬空6高压使能与7脚短接时,内置高压电源工作;悬空或接24V时,内置高压电源停止工作。(如果内部已设置跳线,此引脚无作用)7GND*8信号-*9信号+*内部短接24V直流电源:≥10W,纹波电流≤120mVp-p;气路接口:1/16英寸;流量范围:10mL/min~100mL/min;常规流量:20mL/min~30mL/min;含尘量:≤0.1um;尺寸:170*111*90mm;重量:约1.5kg。3 工作原理分析模块采用高频高压电源电离气体,产生正电荷离子和自由电子,形成等离子体环境。正电荷离子、自由电子在电场的作用下分别加速移向负极、正极。由于碰撞,离子和电子将自身能量传递给原子,使得气态原子被激发。原子被激发后,其外层电子发生能级跃迁,在返回基态时发射特征光谱。通过对特征光谱的检测,分析出各种气体成分的浓度。4 技术特点u 原子发射光谱,灵敏度高,准确度高。u 高频高压电离源,稳定性好,无辐射、放射性问题。u 无消耗性部件,使用寿命长。5 典型工程应用领域u 空分氩气分析u 高纯气体分析u 环境空气监测u 工业流程中乙炔及碳氢分析u 科学实验室气相色谱u 工业在线气相色谱
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  • 产品详情德Optosol-K3 太阳能吸收率发射率检测仪: K3型发射率检测仪由一个被加热到70℃的发光体(作为热辐射源)和三个对波长在8-14μm范围的光线敏感的探测器组成。 来自发光体的辐射均匀分布在用作漫射辐射源的积分球内。检测器以与样品表面法线成12°的角度安装。被测量的是由样品反射回来的辐射。在上述波长范围内,用两个已知发射值的样品来进行检测信号的校准,这两个样品其中一个发射率高,如玻璃;另一个样品的发射率低或者其发射率与待测样品相接近。Manual absorber centrol K3-V9两种类型的测量误差只能通过小心使用仪器来避免。首先,球体通量取决于样品的反射率。这种效应在一定程度上纠正了数值。 但是推荐使其次,样品可以在测量期间可以被次级辐射加热。次级辐射限制了测量精度。当测量高发射率样品或参考物时,效果更为显着。另外,建议将样品与积分球体接触的时间,只在进行必要测量的时间段。使用吸收率检测仪器进行高精度检测的注意事项:- 在运行吸收率检测仪期间应尽量避开交流调制的环境光线。- 特别注意要关掉荧光灯光源。日光或其它直流人工光线不会对吸收率检测仪的工作造成影响。- 在使用Alphameter检测仪和发射率检测仪进行检测时,应避开空气对流或暴露于热源下(包括直射的太阳光线!)。- 在开始检测前1小时运行发射率检测仪。- 在不使用吸收率检测仪时,应保持探头和校准用标准件的清洁 测量首先,检测平面或圆柱体面样品时请确保使用正确的附件。请确保发射率检测仪有足够的加热时间(半小时以上)。alphameter检测头可与检测孔可以向上和向下使用。 对于小件和参考测量的测量,建议使用向上的位置。 测量结束后,蓝色状态栏中的会显示“Ready”指示。如果您正在测量各种非均质样品,请确保样品始终处于正确的位置,此时对于测量的建议,应该让样品的不同取向与积分球校准后进行。在每个样品完成检测后,其检测结果会在窗口上进行显示并储存到IRAM.txt文件中。建议首先输入样品名称和检测起始号。如果用户未设置检测起始号,检测编号将自动递增。检测结果文件记录以下数据:。日期。时间。样品名称(如用户所输入的名称)。检测的类别(吸收率、发射率或者两者都有)。太阳能吸收率或发射率检测值。每一波长范围内的检测值所有的检测结果将储存到 iram.txt 文件中。不会有检测结果丢失的现象发生。为快速的找到检测数据,建议将检测数据储存在AlphaM.txt文件中或间隔一定周期(比如每周或每月)对iram.txt文件进行重新命名。或者直接复制这些数据到一个电子制表软件(例如 Excel),以获得更快的数据访问。如果您想打印出检测曲线,请按“Print”按钮。 建议间隔一定时期(如1小时)重新进行一次参考检测。目的是检测白色参考插头的稳定性。测得的值如在95%到97%之间,则视为稳定. 使用alphamter检测仪进行检测在使用Alphameter检测仪进行检测前,必须先完成三个参考检测:一个是理想的黑色表面物的检测、一个是“灰色”表面物的检测以及一个白色表面物的检测.为了获得上述三个参考检测值,第一步(取下管状样品参考后,按下Dark ref 按钮(功能键F1)。之后出现一个信息对话窗口,提示您将参考品翻入暗室中(将黑色参考插头(随机附带)放置到Alphameter检测仪探测器的探头孔上}。通过按下电脑上的Space键可进行连续检测,然后按下回车键或用鼠标点击OK。Manual absorber control K3 – V9 Optosol GmbH10此处所指的暗室可以是一个空间足够大的纸板箱,以避免环境光线进入Alphameter检测仪探头的积分球内。请确保Alphameter检测仪探头开孔外的10cm范围内无任何物体。否则所测得的吸收率可能只是待测件的部分吸收率,原因或许是检测环境没有达到理想的黑色环境。按下 White ref (功能键 F2)即可开始第二项校准。同样会出现一个信息对话窗口,提示您将白色参考插头(随机附带)放置到Alphameter检测仪探测器的探头孔上。随后的操作步骤同上。请注意,白色标准件(White Standard)指示的96%反射比为原始系数,其中未考虑球体透光修正。存储在文件iram.ini中的更正值为97.5%。白色参考检测是最为重要的检测项目,要尽可能地进行多次检测。考虑到球体的透光率,还需进行第三种参考样品的检测。球壁的反射比决定了探测器接收到的辐射量或决定了所谓的球体透光率。当样品作为球壁的一个组成部分的情况下,球体的透光率将取决于样品的透光率。其数字上的修正通过检测第三个参考样品得以完成。按下Grey ref(功能键F3) 按钮即可进行灰色参考值检测。此项检测不经常进行,只有在检查球体透光率是否因球面不干净而发生变化时进行。 参考测量的校准系数存储在IRAN.ini文件(目录IRAM)中。当参考测量完成时,参考按钮(功能键F1-F3)从粗体变为正常。 否则将使用旧设置进行样品测量。 我们建议在设备关闭时,时常重复参考测量。 当进行参考测量时,参考测量的标签从粗体字符变为正常。如果您认为白色参考样品不是理想的白色,可以在去离子水用240号砂纸对参考插头进行清洁。Manual absorber control K3 – V9 Optosol GmbH11通过把平面样品直接放置在alphameter检测器头的检测孔上之后,通过按下 样品(F4功能键)来进行吸收测量。对于测量波长范围(0.38-1.55μm)的时候,完整的太阳能吸收值可以立即被计算出,存储并显示在屏幕上。 使用发射率检测仪进行检测发射率检测仪检测的是黑色发光体发射出的和待测样品反射出的辐射。 发射率检测仪的开口式设计可以进行平板表面或圆柱形表面物体的检测,而且平面样品可以直接放在发射率检测仪探测头的探测孔上,但是这种设计使发射器对温度的变化很敏感,因此,应慢慢的操作发射率检测仪,以避免空气流动而导致发射器温度变凉。同时,还要考虑高发射率样品可能被快速加热这一因素。被加热样品的辐射会对检测产生干扰。因此,对高发射样品的检测应尽快完成。 样品必须具有小于70%的发射率,以确保测量的足够的精度。在启动检测仪器半小时后,等到能源和积分球处于平衡状态之前,请先等待。 使用发射率检测仪进行检测要求先进行两种参考标准的检测,一个为低发射率参考标准检测,另一个为高发射率参考标准检测。平面样品:首先通过按下按钮 Low e ref(F6功能键)对低发射率(金属片)参考标准进行检测,然后通过按下按钮 High e ref (F7功能键)对高发射率(镀金属片)参考标准进行检测。 管状样品:首先通过按下按钮 Low e ref(F6功能键)对低发射率(金属部分)参考标准进行检测,然后通过按下按钮 High e ref (F7功能键)对高发射率(弯曲的金属板)参考标准进行检测。 按下 Sample (F9功能键)可以开始对样品进行测量。在波长范围3.9-50 (线性外推法)μm用一个加权积分和在iram.ini 文件中指定的普朗克黑体辐射定律热发射率被计算出。同样,全部的检测结果将储存到IRAM.txt文件里。不会有检测结果丢失现象发生。综合测量建议一起进行吸收和发射测量,因为发射率也由NIR值决定。这可以通过用按钮(F11功能键)测量吸收率,随后进行发射测量(F12功能键)(将样品转移到发射装置)之后进行。光谱的两个部分将被合并和显示。 单次测量(左)和组合测量(右)之间的差异如果选择了组合测量,则光谱反射率的插入曲线会被显示(右侧图)。现在 这个太阳能吸收率和热发射率在波长范围0.38-50(线性外推法)μm被计算出来,并存储在IRAM.txt 文件里的一行中。 故障排除指南Alphameter检测仪的二级管不亮请检查串行端口的定义或检查电子盒主开关上的保险丝。使用Alphameter检测仪进行检测时,检测值异常请使用诊断窗口选项检查原始数据值。进行重复检测后某个光源仍有较大误差时,说明该光源存在故障。使用发射率检测仪进行检测时,检测值异常请确保红外光源处于正常的工作状态。交付的物品交付的物品包括在内的是:-电子控制主机-alphameter 检测器头:-alphameter 配件:白色参考物灰色参考物黑色参考物-发射率检测仪探头-发射率检测仪配件:低发射率参考标准物(金属)高发射率参考标准物-电脑连接线-电源线-软件-电脑(可选)
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