远距离抛投器

胜利仪器产品推荐——手机式长焦超远夜视红外热成像仪，镜头焦距10mm，256×192分辨率。产品特点• 970米，超远距离夜视；• 镜头焦距10mm，高精度快速响应；• 256*192分辨率，画质清晰，效果出色；• 1×-4×无极放大，双指轻滑，随心变倍；• 温度追踪，可选择开启或关闭实时画面中最高温、最低温，红色为最高温，蓝色为最低温；• GPS定位与电子罗盘，GPS可提供当前的经纬度、速度和海拔信息；• 多范围应用，广泛应用于地暖查漏、电气维修及更适合户外远距离平原使用（如露营探险、野外求生/救援、夜跑徒步、动物观察）等领域。技术指标分辨率256×192工作波长8~14μm帧率25HzNETD50mK@25°CFOV17.5°×13.2°镜头焦距10 mm调焦方式定焦电子放大1x-4x无极放大(通过屏幕手势)色板铁红、彩虹、白热、黑热、冷蓝、红热热点追踪支持GPS可在App中显示手机GPS信息电子罗盘可在App中显示手机电子罗盘信息屏幕旋转支持拍照支持录像支持语言中文、英文工作温度-20°C~60°C存储温度-40°C~85°C防水防尘IP54电源配合手机使用、即插即用显示屏尺寸无显示屏、配合手机APP使用机身尺寸36×29.5×27.5mm标准配件便携收纳包、支架、数据延长线、说明书

一直以来Teledyne FLIR以用户需求为创新的原动力持续重投入于研发创新专注原创科技和设计为红外热像仪带来更多革新今天小菲给大家带来一款全新的型号远距离科研检测专用的中波红外热像仪——FLIR RS6780FLIR RS6780拥有先进的探测器、触发和同步功能，适应外场环境的保护封装，使得该型号能满足绝大多数科研测试环境下对仪器配置及数据采集的要求。性能卓越，远距离仍保证测量精度FLIR RS6780热像仪具备连续光学变焦功能，由一个集成三位电动滤片轮和用以支持3000°C红外成像应用的可选工厂校准装置组成。通过其可选3倍视场无焦镜头附件，工程师和科学家能够在从50mm -250mm（标准）到150mm-750mm的范围内灵活变焦，增加被测目标的像素数，从而满足其独特应用和测试需求。使用RS6780可获得640×512像素全分辨率数据，采集帧速可达125Hz，子窗口模式下甚至超过4,000Hz，保障了用户从远距离也能采集到清晰的红外图像。高适配性，支持多个软件平台FLIR RS6780热像仪能提供瞬时、逐帧的焦距位置信息，适用于工厂、自定义校准红外成像和辐射测量应用，还支持时空位置信息 (TSPI) 数据收集，控制一帧图像的生成或通过先进的触发功能实现外部设备同步，捕捉必要图像。它既可部署为独立热像仪，也可以通过FLIR Science Camera SDK集成到规模更大的测试系统中。用户可将FLIR RS6780捕捉的红外数据传输至运行Windows、MacOS或Linux的电脑，RS6780还兼容FLIR Research Studio软件应用，可进行后期处理和分析。RS6780还支持对检测器底层设置和原始数据的访问。因此，用户能够进行高质量的定制辐射测量，每帧大约327,000个数据点，为研发项目生成可靠的数据。用户还可借助免费的FLIR Research Studio Player软件在本地分析共享数据，与同事协同工作。小巧耐用，专为严苛应用设计FLIR RS6780热像仪使用防风雨外壳和可选电动镜头盖，保护热像仪不受恶劣环境影响，其已通过IP65测试，防护等级与越野拖车等同，菲粉们可以放心应用。它的光学器件、探测器和热像仪均为自主设计，方便无缝系统集成和未来支持。热像仪重量不到16.7千克，易于部署和移动。FLIR RS6780中波热像仪能够实现远距离细微温度差检测同时具有多种连接和软件选项可轻松集成其光学变焦镜头可在优化目标像素密度的同时实现高性能的辐射测量非常适用于户外远距离科研检测

一直以来Teledyne FLIR以用户需求为创新的原动力持续重投入于研发创新专注原创科技和设计为红外热像仪带来更多革新今天小菲给大家带来一款全新的型号远距离科研检测专用的中波红外热像仪——FLIR RS6780FLIR RS6780拥有先进的探测器、触发和同步功能，适应外场环境的保护封装，使得该型号能满足绝大多数科研测试环境下对仪器配置及数据采集的要求。性能卓越，远距离仍保证测量精度FLIR RS6780热像仪具备连续光学变焦功能，由一个集成三位电动滤片轮和用以支持3000°C红外成像应用的可选工厂校准装置组成。通过其可选3倍视场无焦镜头附件，工程师和科学家能够在从50mm -250mm（标准）到150mm-750mm的范围内灵活变焦，增加被测目标的像素数，从而满足其独特应用和测试需求。使用RS6780可获得640×512像素全分辨率数据，采集帧速可达125Hz，子窗口模式下甚至超过4,000Hz，保障了用户从远距离也能采集到清晰的红外图像。高适配性，支持多个软件平台FLIR RS6780热像仪能提供瞬时、逐帧的焦距位置信息，适用于工厂、自定义校准红外成像和辐射测量应用，还支持时空位置信息 (TSPI) 数据收集，控制一帧图像的生成或通过先进的触发功能实现外部设备同步，捕捉必要图像。它既可部署为独立热像仪，也可以通过FLIR Science Camera SDK集成到规模更大的测试系统中。用户可将FLIR RS6780捕捉的红外数据传输至运行Windows、MacOS或Linux的电脑，RS6780还兼容FLIR Research Studio软件应用，可进行后期处理和分析。RS6780还支持对检测器底层设置和原始数据的访问。因此，用户能够进行高质量的定制辐射测量，每帧大约327,000个数据点，为研发项目生成可靠的数据。用户还可借助免费的FLIR Research Studio Player软件在本地分析共享数据，与同事协同工作。小巧耐用，专为严苛应用设计FLIR RS6780热像仪使用防风雨外壳和可选电动镜头盖，保护热像仪不受恶劣环境影响，其已通过IP65测试，防护等级与越野拖车等同，菲粉们可以放心应用。它的光学器件、探测器和热像仪均为自主设计，方便无缝系统集成和未来支持。热像仪重量不到16.7千克，易于部署和移动。FLIR RS6780中波热像仪能够实现远距离细微温度差检测同时具有多种连接和软件选项可轻松集成其光学变焦镜头可在优化目标像素密度的同时实现高性能的辐射测量非常适用于户外远距离科研检测

目前，由于各种人为因素，企业偷排现象仍非常严重，导致环境监测数据失实。日前，山东省科学院计算中心研发的多旋翼远距离烟气实时监测系统，成功破解了环保执法部门遇到的难题。实际监测时，操作人员可预先设定坐标和高度，无人机自主按照设定数据，飞行到指定地点悬停，然后通过机载各种气体传感器对指定位置空气中的PM2.5、PM10、二氧化硫等空气含量进行定量分析，还可以检测空气浓度，及早作出雾霾天气分析。　　据了解，多旋翼远距离烟气实时监测系统是国内首创性地将自主研发的传感器及设计平台应用于无人机，并通过系统控制实现了高精度定位(定位差小于50厘米)，在国内居于领先水平，也是国内唯一专注于在无人机上搭载自主研发的传感器进行环境监测的系统。该系统由移动飞行平台、机载气体检测设备、机载3G/4G通讯模式、机载高清视频图像采集系统、地面通讯控制基站和无线传输系统五大控制系统组成。　　该系统还创新了基于多传感器融合的移动平台高精度自定位控制算法，多移动平台协调控制算法、基于移动平台的多Sink型无线传感网络的路由维护方法、时变复杂网络的自适应同步控制方法、一种无线传感器网络通信资源分配方法等多项科研成果。

中国科大郭光灿院士团队在量子通信和量子网络的研究中取得重要进展。该团队李传锋、柳必恒研究组与南京邮电大学盛宇波等人合作，利用高品质的超纠缠源，首次实现了11公里的远距离量子纠缠纯化，纯化效率比此前国际最好水平提升了6000多倍。该成果2021年1月8日发表在国际知名期刊《物理评论快报》上。量子中继是在噪声信道中实现长距离量子通信的重要途径，而量子纠缠纯化是量子中继中的关键操作，利用量子纠缠纯化操作可以从两份纠缠度较低的纠缠态中提炼出一份纠缠度较高的纠缠态。此前的纠缠纯化协议都是利用两对低纠缠度的光子对实现，而研究组与合作者提出仅需一对超纠缠光子对的纠缠纯化方案。他们实验上制备出偏振和路径分别处于纠缠态的超纠缠光子对，并在11公里长的多芯光纤里进行纠缠分发，然后进行量子纠缠纯化操作。实验结果表明，分发后的偏振纠缠和路径纠缠初始保真度均为约0.665时，纯化得到的纠缠态的保真度可以提升到0.774，而初始保真度均为约0.771时，纯化后的保真度则可提升到0.887。他们还首次将纠缠纯化用于量子密钥分发，纯化前纠缠态的纠缠度太低，产生的有效密钥率为0，而经过纯化后，有效密钥率则提升到0.371。此外，由于只需要使用一对超纠缠光子对，该方案的纯化效率（每秒大约输出400对）比此前国际上的最好水平提升了6000多倍。该成果迈出了纠缠纯化从实验室平台到远距离的关键一步，同时大幅提升了纠缠纯化效率，为将来实现高效率的量子中继提供了有力的技术保障。论文第一作者为中科院量子信息重点实验室特任副研究员胡晓敏。该研究得到科技部、国家基金委、中科院、安徽省的支持。（a）实验概念图，（b）实验原理图。文章链接：https://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.126.010503

在许多工业生产中，废气的产生是必然的。它们往往成分复杂，既可能成为生产的安全隐患，又是大气环保的大敌之一。无论是想污染溯源，还是期望最后的针对性治理，监测都是第一环。在线气体监测系统，就是让污染环境的“小恶魔”无处遁形的利器，是否能拿下治理废气的“Frist Blood”，就看它的本事了。对于成分复杂的气体，光学的FT-IR法在在线监测中是比较常见的。其具备极高的精度，且可以保证监测气体种类的广泛性。同样是光学法，使用量子级联激光器（QCL）的红外气体分析法（QCLAS），也活跃在污染气体监测的前线。因为基于的是激光技术，因此相对FT-IR，在距离和定向性方面有更好的表现，可进行在更远距离下更精准范围的测量。 可惜的是受工艺限制，一直以来，每款QCL都有其特定的波长范围且较为狭窄，各自只能针对某几类气体。如果成分复杂且广泛，比如像VOC一类的气体，这种方法是不能实现同时的在线检测的。不同分子的气体都有其固定的、独有的特征吸收峰，我们根据这些吸收峰的位置进行识别，从而分辨出是哪种气体以及浓度大小，这些吸收峰我们也称之为“分子的指纹峰”，利用中红外光指纹峰来判断气体的种类和浓度，已经广泛地应用于气体测定中。 然而，下面这一个的巴掌大的“小小盒子”——波长外腔调谐量子级联激光器（QCL）模块，将改变这一现状。 滨松波长外腔调谐量子级联激光器（QCL）模块 L14890-09 波长调谐范围：7.84um~11.14umQCLAS能实现多种气体的同时监测了！ 波长外腔调谐量子级联激光器（QCL）模块L14890-09是滨松刚推出不久的一款新QCL产品。波长调谐范围在7.84um~11.14um，峰值功率为600mW（typ.），往返频扫（全范围调谐）频率达1.8KHz。 在中红外光谱应用上，相比较于传统的FT-IR方法，这个新型的QCL模块充分利用激光的定向能和宽频扫特性，可实现中红外光谱的远程、非接触式、高通量、高精度测量。在污染气体监测中，也就可以实现我们上面提到的，同时满足在更远距离下的测量，以及多种气体的同时高精度在线监测。 QCL模块L14890-09的甲烷气体吸收的测定此外，在其他中红外应用中，这个QCL小盒子也被给予了期望。例如应用在无创小型血糖仪中。日本东北大学松浦祐司教授进行的一项研究中发现，使用QCL模块 L14890-09 测定和通过血液采样测量的血糖值结果接近。而在其他的塑料检测实验中，也得到了可观的数据结果（见下图）：Polystyrene film Measurement resultData provided by Mr.Hiromitsu Furukawa, Electronics and Photonics Research Institute, NationalInstitute of Advanced Industrial Science and Technology打开这个QCL模块，看看它的小秘密这些神仙性能是怎么炼成的？要实现QCL这样的性能，并不是一件简单的事情，主要通过内部器件独特的优化，以及结构精密设计的加持。正因如此，QCL模块L14890-09也获得了2018日本文部科学省纳米技术平台事业部授予的“最佳成果奖”。那我们就来看看，在它的内部都有什么神仙操作。把这个QCL模块打开，里面装着自主研发的三项实现外腔调谐的核心技术： 新开发的宽谱增益的QCL芯片 MEMS衍射光栅 高效率的增透膜 简要图示如下：利用了滨松独特的量子结构设计技术，这个QCL小模块内的QCL芯片采用了一种反交叉双重高能态结构（AnticrossDAUTM）。而在QCL芯片的发射截面上，则制成了多层增透膜，它可以保证从截面发出的激光，在到达光栅前零损耗。芯片产生的宽带光再通过MEMS衍射光栅的倾斜来选频，实现了特定波长的完全反射和谐振。 模块在工作的时候，电控MEMS衍射光栅可高速摆动以改变其倾角，进而周期性地改变衍射角度、即改变谐振光的波长，最终使模块实现中红外激光的波长扫描。相对于已有的利用电机使镜面机械式运动来改变波长的QCL模块，电控MEMS衍射光栅可以达到更快的波长调谐，且衍射器件的微型化也使得模块更加的紧凑（8.2×8.8×11.2 cm），易于装配。说到这里，还有一款新的低功耗QCL也来了解下吧！ 滨松在QCL的开发上一直都朝前推进着。继波长外腔调谐QCL模块后，一款新的低功耗QCL也踏着小碎步紧接着在今年初面世啦！和以前的QCL不一样的是，这个新成员采用的是蝶形（Tall-Butterfly）封装。继承了原来HHL封装QCL的优点，CW功率保证不低于15mW的情况下，在阈值电流、最大电流、芯片功耗及总功耗方面均有大幅度优化。芯片工作温度在10～65℃，甚至某些高温芯片无需外部风冷，完全可以满足日常环境下的使用要求。且紧凑小巧，重量仅16g，适合于集成到气体分析设备之内。针对于红外气体分析的应用，滨松可提供包括QCL以及红外探测器在内的全套解决方案。在空气污染问题日益严峻的现在，我们也希望通过推进基础核心技术的发展，为环境监测应用带来更多的支持和可能。滨松用于气体检测的产品一览

距离目标多远，红外热像仪仍能精确测温？答案取决于诸多因素，但需要谨记：想要借助热像仪看到目标，并不一定意味着您的距离越近，获得目标的测量值越精确。类如医院的视力检查，当您坐在检查室里看视力表时，您或许能看清字母最小的那一行，但如果距离再远一点，您还能看得清吗（即精确“测量”它们）？为了确定能够测量的MAX距离，您需要了解红外热像仪的光斑尺寸比（SSR），也称作距离系数比（D:S比），能够决定您距离特定尺寸（光斑尺寸）的目标有多远（测量距离），仍能精确测量目标温度。光斑尺寸比保持恒定公式：SSR = 距离/光斑尺寸SSR为36:1的热像仪能在距离被测物36英尺（约11米）处测量直径1英尺（约0.3米）的目标，或距离被测物36米处测量直径1米的目标，或距离144米处测量直径4米的目标。需要注意的是，距离系数比保持恒定。计算光斑尺寸比假设需要在距离120英寸（约36.5米）处用FLIR E8红外热像仪对直径1英寸（约0.3米）的待测目标进行精确的温度测量。如何确定您的热像仪能否做到这一点，换句话说，如何确定您的热像仪的SSR是否大于120:1？ 首先，您需要知道热像仪的瞬时视场角（IFOV）参数。视场角视场角（FOV）基本上就是您在热像仪屏幕上能看到的范围，而IFOV是单一像素的角度投影。每个像素能够覆盖的区域大小取决于待测目标的距离：离目标越近，每个像素覆盖的区域越小。IFOV即“距离系数比”中的“尺寸”。光斑尺寸比举例计算您可以利用热像仪的视场角和分辨率计算IFOV，也可以在线浏览，FLIR为每台热像仪创建了一个视场角计算器，让您省去大部分计算。若要访问计算器，点击FLIR热像仪系列名称，查看有关系列中全部热像仪的清单。点击您所使用的红外热像仪旁的“FOV calc.”，快速查找任意给定距离（单位为英尺或米）的IFOV（单位为英寸或毫米）。如果使用FLIR E8红外热像仪的视场角计算器，输入10英尺（120英寸/3米），得到的IFOV为0.31英寸（约7.8毫米），该数值为单一像素（1×1）的可测量尺寸。通过将这些数值代入S公式：SSR = 距离/光斑尺寸。我们得到的距离系数比为120:0.31。简而言之，0.31英寸大约为1英寸的1/3，因此该计算结果得出的结论就是：该热像仪能够在120英寸（3米）远的距离测量1/3英寸（约7.8毫米）的物体。但这并不是完全正确的，该单一像素测量值被称为“光斑尺寸比理论值”。尽管该数值真实准确，但会令人误解，因为它必定达不到高精确度。光斑尺寸比：理论≠实际光斑尺寸比理论值仅能反映单一像素内非常小范围的温度，但是单一像素测量值可能不准确的原因有很多：● 红外热像仪会产生坏像元；● 物体反射：镜头划伤或太阳光反射会造成错误的正读值或错误的高读数；● 物体温度较高：例如螺栓头，可能与单一像素宽度相近，但像素是正方形的，而螺栓头是六角形的；● 没有完美的光学组件：光学系统中通常会存在一些失真影响测量值。在实际情况下，为了获得最精确的温度测量值，您的确需要尽可能多地获取待测目标的像素。一两个像素可能足以定性地确定温差的存在，但它可能无法精确反映整个区域范围内的平均温度。我们建议确保用至少3×3像素的面积，覆盖待测物体数值所在的热区。为了计算3×3像素的SSR，只需将您的IFOV乘以3，得出3×3像素而不是1×1。此数值会更加精确。如果将之前的IFOV（0.31英寸）乘以3，会得到：0.31×3=0.93英寸，最终得出的SSR为120:0.93，这意味着您能从120英寸（3米）处精确测量尺寸将近1英寸的目标。光斑尺寸比确实很重要，因为它能够帮助您了解红外热像仪是否能够在需要的距离处精确地测量温度。如果需要对较小的目标进行远距离测量，那么了解红外热像仪的光斑尺寸比以及您是否位于精确测量范围内至关重要。红外热像仪的分辨率越高，您能在更远的距离处精确获取待测目标足够多像素的可能性也就越高。数字变焦并不能提高测量精确度，更高的分辨率或较窄的视场角才是关键所在。如果您正计划进行红外热成像调查，请考虑您是否能在保证安全的前提下足够接近待测目标以获取精确读数。总之，没有数据胜过基于不准确的数据作出错误的结论！

在背景与目标红外辐射量差距不大或背景较为复杂等情况下，传统红外成像技术对目标进行探测与识别的难度较大。而红外偏振探测在采集目标与背景辐射强度的基础上，还获取了多一维度的偏振信息，因此在探测隐藏、伪装和暗弱目标和复杂自然环境中人造目标的探测和识别等领域，有着传统红外探测不可比拟的优势。但同时，偏振装置的加入也增加了成像系统的复杂度与制作成本，且对于远距离成像，在红外成像系统前加入偏振装置对成像系统的探测距离有多大的影响，也有待进一步的研究论证。据麦姆斯咨询报道，近期，中国科学院上海技术物理研究所、中国科学院红外探测与成像技术重点实验室和中国科学院大学的科研团队在《红外与毫米波学报》期刊上发表了以“考虑探测器非理想性的红外偏振成像系统作用距离分析”为主题的文章。该文章第一作者为谭畅，主要从事红外偏振成像仿真方面的研究工作；通讯作者为王世勇研究员，主要从事红外光电系统技术、红外图像信号处理方面的研究工作。本文将从分析成像系统最远探测距离的角度出发，对成像系统的探测能力进行评估。综合考虑影响成像系统探测能力的各个因素，参考传统红外成像系统作用距离模型，基于系统的偏振探测能力，建立了红外偏振成像系统的作用距离模型，讨论了偏振装置非理想性对系统探测能力的影响，并设计实验验证了建立模型的可靠性。红外成像系统作用距离建模目前较为公认的对扩展源目标探测距离进行估算的方法是MRTD法。该方法规定，对于空间频率为f的目标，人眼通过红外成像系统能够观察到该目标需要满足两个条件：①目标经过大气衰减到达红外成像系统时，其与背景的实际表观温差应大于或等于该频率下的成像系统最小可分辨温差MRTD（f）。②目标对系统的张角θT应大于或等于相应观察要求所需要的最小视角。只需明确红外成像系统的各项基本参数与观测需求，我们就可以计算出系统的噪声等效温差与最小可分辨温差，进而求解出它的最远探测距离。红外偏振成像系统作用距离建模偏振成像根据成像设备的结构特性可分为分振幅探测、分时探测、分焦平面探测和分孔径探测。其中分时探测具有设计简单容易计算等优点，但只适用于静态场景；分振幅探测可同时探测不同偏振方向的辐射，但存在体积庞大、结构复杂，计算偏振信息对配准要求高等问题；分孔径探测也是同时探测的一种方式，且光学系统相对稳定，但会带来空间分辨率降低的问题；分焦平面偏振探测器具有体积小、结构紧凑、系统集成度高等优势，可同时获取到不同偏振方向的偏振图像，是目前偏振成像领域的研究热点，也是本文的主要研究对象。图1为分焦平面探测系统示意图。图1 分焦平面探测器系统示意图本文仿真的分焦平面偏振探测器，是在红外焦平面上集成了一组按一定规律排列的微偏振片，一个像元对应着一个微偏振片，其角度分别为 0°、45°、90°和135°，相邻的2×2个微像元组成一个超像元，可同时获取到四种不同的偏振态。图1为分焦平面探测系统结构示意图。传统方法认为在红外成像系统前加入偏振装置后，会对系统的噪声等效温差与调制传递函数MTF（f）产生影响，改变系统的最小可分辨温差，进而改变系统的最远探测距离。本文将从偏振装置的偏振探测能力出发，分析成像系统的最小可分辨偏振度差，建立红外偏振成像系统的探测距离模型。我们首先建立一个探测器偏振响应模型，该模型将探测器视为一个光子计数器，光子被转换为电子并在电容电路中累积，综合考虑探测器井的大小、偏振片消光比、信号电子与背景电子的比率以及入射辐射的偏振特性，通过应用误差传播方法对结果进行处理。从噪声等效偏振度（NeDoLP）的定义出发，NeDoLP是衡量偏振探测器探测能力的指标，即探测器对均匀极化场景成像时产生的标准差。对其进行数学建模，进而分析得到红外偏振成像系统的最远探测距离。图2 DoLP随光学厚度变化曲线对于探测器来说，积分时间越长，累积的电荷越多，探测器的信噪比（SNR）就越高，但这种增加是有限度的。随着积分时间的增加，光生载流子有更多的时间被收集，增加信号。然而，同时，暗电流及其相关噪声也会增加。对于给定的探测器，最佳积分时间是在最大化信噪比和最小化暗电流及噪声的不利影响之间取得平衡，为方便分析，我们假设探测器工作在“半井”状态下。通过以下步骤计算红外偏振成像系统最远作用距离：a. 根据已知的目标和背景偏振特性以及环境条件，计算在给定距离下，目标与背景之间的偏振度差在传输路径上的衰减。b. 结合系统的探测器性能参数，确定目标在给定距离下是否可被观察到。如果不能则减小设定的距离。目标被观察到需同时满足衰减后的偏振度差大于或等于系统对应于该频率的最小可分辨偏振度差MRPD，目标对系统的张角θT大于或等于相应观察要求所需要的最小视场角。c. 逐步增加距离，直到目标与背景之间的偏振度差不再满足观察要求。这个距离即为成像系统最远作用距离。τp (R)为大气对目标偏振度随探测距离的衰减函数，可根据不同的天气条件，根据已有的测量数据进行插值，计算出不同探测距离下大气对目标偏振度的衰减，图4. 5给出了根据文献中测量数据得到的偏振度随光学厚度增加衰减关系图。这里给出的横坐标是光学厚度，不同天气条件下，光学厚度对应的实际传播距离与介质的散射和吸收系数有关。综上，我们建立了传统红外成像系统和考虑了偏振片非理想性的红外偏振成像系统的作用距离模型，下面我们将对模型的可靠性进行验证，分析讨论探测器各参数对成像系统探测能力的影响。验证与讨论由噪声等效偏振度的定义可知，其数值越小，代表偏振探测器的性能越优秀。下面我们对影响红外偏振成像系统探测性能的各因素进行讨论，并设计实验验证本文建立模型的正确性。偏振片消光比消光比是衡量偏振片性能的重要参数，市售的大面积偏振片的消光比可以超过200甚至更多。对其他参数按经验进行赋值，从图3可以看到，对于给定设计参数的探测器，偏振片消光比超过20后，随着偏振片消光比的增加，探测器性能上的提升微乎其微。对于分焦平面探测器，为实现更高的消光比，不可避免地要牺牲探测器整体辐射通量。由于辐射通量降低而导致的信噪比损失可能远远超过消光比增加所获得的收益。这一结果同样可以对科研人员研制偏振片提供启发，对需要追求高消光比的偏振片来说，增大透光轴方向的最大透射率要比降低最小透射率更有益于成像系统的性能。图3 偏振片消光比与探测器噪声等效偏振度关系图探测器井容量红外探测器的井容量是指探测器像素在饱和之前能够累积的电荷数量的最大值。井容量是衡量红外探测器性能的一个关键参数，井容量通常以电子数（e-）表示。较大的井容量意味着探测器可以在饱和之前存储更多的电荷，从而能够在更大的亮度范围内准确检测信号。这对于在具有广泛亮度变化的场景中捕获清晰图像至关重要。从图4可以看出，增大探测器井的容量，同样能很好的提高成像系统的偏振探测能力。图4 探测器井容量与探测器噪声等效偏振度关系图然而，井容量的增加可能会导致像素尺寸增大或探测器面积减小，这可能对系统的整体性能产生负面影响。因此，在设计红外探测器时，需要权衡井容量、像素尺寸和其他性能参数，以实现最佳性能。目标偏振度虽然推导出的噪声等效偏振度公式包含目标偏振度这一参量，但目标的偏振度本身对探测器的噪声等效偏振度没有直接影响。NeDolp 是一个衡量探测器性能的参数，它主要受探测器内部噪声、电子学和其他系统组件的影响。然而，目标的偏振度会影响探测器接收到的信号强度，从而影响信噪比（SNR）。从图5也可以看出，探测器的NeDolp受目标的偏振度影响不大。图5 目标偏振度与探测器噪声等效偏振度关系图读取噪声与产生复合噪声比值读取噪声主要来自于探测器的读出电路、放大器和其他电子元件。它通常在整个光强范围内保持相对恒定。产生复合噪声是由光子的随机到达和电荷生成引起的，与光子数成正比。在低光强下，产生复合噪声通常较小；而在高光强下，它会逐渐变大。通过计算读取噪声和产生复合噪声的比值，可以确定系统的性能瓶颈。如果读取噪声远大于产生复合噪声，这意味着系统在低光强下受到读取噪声的限制。在这种情况下，优化读出电路和放大器等元件可能会带来性能提升。如果产生复合噪声远大于读取噪声，这意味着系统在高光强下受到产生复合噪声的限制。在这种情况下，提高信号处理和光子探测效率可能有助于改善性能。从图6可以看出，降低读取噪声与产生复合噪声比值可以有效提升系统偏振探测能力。图6 δ与探测器噪声等效偏振度关系图信号电子比例综合图4~6可以看出，提升β的数值可有效提高探测器的偏振探测能力，由β的定义可知，对于确定井容量的探测器，β的取值主要取决于探测器的各种噪声与积分时间，降低探测器的工作温度、优化探测器结构、减少表面和界面缺陷等途径都可以降低探测器的噪声，调节合适的积分时间也有助于探测系统的性能提升。实验验证根据噪声等效偏振度的定义，利用面源黑体与红外可控部分偏振透射式辐射源创建一组均匀极化场景。如下图7所示，黑体发出的红外辐射，经过两块硅片，发生四次折射，产生了偏振效应，通过调节硅片的角度，即可产生不同线偏振度的红外辐射。以5°为间隔，将面源黑体平面与硅片间的夹角调为10°~40°共七组。每组将面源黑体设置为40℃和70℃两个温度，用国产自主研制的红外分焦平面偏振探测器采取不少于128帧图像并取平均，然后将每组两个温度下相同角度获得的图像作差，以减少实验装置自发辐射和反射辐射对测量结果的干扰，差值图像就是透射部分的红外偏振辐射。对差值图像进行校正和去噪后，即可按公式计算出探测器对均匀极化场景产生的偏振度图像。计算出红外辐射的线偏振度，为减小测量误差，仅取图像中心区域的像元进行分析。该区域像元的标准差就是该成像系统的噪声等效偏振度（NeDoLP）。探测器具体参数如表1所示。图7 实验示意图表1 偏振探测器参数利用本文建立的探测器仿真模型计算出硅片的线偏振度仿真值，公式19计算出硅片线偏振度的理论值，与实验的测量值进行对比，图8展示了三组数据的变化曲线，从图中可以看出，三组数据存在一定偏差，这可能与硅片调节角度误差、面源黑体稳定性、干涉效应、硅片摆放是否平行等因素有关，但在误差允许的范围内，实验验证了偏振探测系统的性能，也证明了本文建立仿真模型的可靠性。NeDoLP测量结果如表2所示。图8 线偏振度理论值、测量值与本文模型仿真值曲线图表2 实验结果从上表可以看到NeDoLP的测量值与仿真值的差值基本能控制在5%以内，实验结果再次印证了本文设计的模型的可靠性。实例计算应用建立的模型对高2.3m，宽2.7m，温度47℃，发射率为1的目标的最远探测距离进行预测，目标差分温度6℃；背景温度27℃；发射率1；目标偏振度30%，背景偏振度1%，使用3.2节中样机的探测器参数，最后，采用文献中介绍的“等效衰减系数-距离”关系的快速逼近法对红外探测系统最远作用距离R进行求解，得到表3的结果。表3 红外成像系统的最远作用距离根据红外探测系统最远探测距离，利用本文第二节提出的方法，得到不同探测概率下红外偏振成像系统最远作用距离结果如表4所示。表4 红外偏振成像系统的最远作用距离所选例子为目标与背景偏振度差异大于其温差，所以在这种探测场景下红外偏振成像系统的探测能力要优于红外成像系统。探测器的参数不同，探测场景与目标的变化都会对模型的结果产生影响，但本文提供的成像系统作用距离模型可为实际探测中不同应用场景下的成像系统选择提供参考。结论针对不同的探测场景，红外成像系统与红外偏振成像系统在最远探测距离方面哪个更有优势并没有定论，探测目标的大小，背景与目标的温差与偏振度差，大气透过率，具体探测器的参数等因素都会对成像系统的最远探测距离产生影响。经实验验证，本文所建立的非理想红外偏振成像系统的响应模型是可靠的，可以用于估算成像系统的最远作用距离，针对不同的探测场景，读者可通过实验确定探测器的具体性能参数，利用仿真软件或实验测量的方式获取探测目标的温度与偏振信息，明确探测环境的具体大气参数，利用模型对红外成像系统与偏振成像系统的最远作用距离进行预估，选择更具优势的成像系统。这项研究获得上海市现场物证重点实验室基金（No. 2017xcwzk08）和上海技术物理研究所创新基金（No. CX-267）的资助和支持。论文链接：http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/article/abstract/2023041

830KM！科大实现量子密钥分发距离新纪录，Scontel提供背后助力！近日，据中国科学技术大学发布消息：中科大郭光灿院士领导的中国科学院量子信息重点实验室在量子密钥分发研究方面取得了重要进展。该成果以“Twin-field quantum key distribution over 830-km fibre”为题发表于国际知名学术期刊《Nature Photonics》上。该实验室的韩正甫教授及其合作者王双、银振强、何德勇、陈巍等实现了830公里光纤信道量子密钥分发，将安全传输距离的世界纪录提升了200余公里，而且将安全码率提升了50～1000倍，向实现千公里量级陆基广域量子保密通信网络迈出了重要的一步！ 值得一提的是，在该成果的合作单位中，由上海昊量光电设备有限公司独jia代理的俄罗斯Scontel公司，提供了具有卓越性能的超导纳米线单光子探测器用于测量超远距离光纤传输下的微弱光子信号。该超导纳米线单光子探测器具有57.6%效率，暗记数低至0.1274Hz，时间抖动小于50ps的超导探测器。这个超低的暗记数可以减少误码率，在实验中能发挥不可替代的作用！在这个项目中，俄罗斯Scontel公司工程师 Alexander V.Divochiy博士和Pavel V.Morozov博士为设备稳定运行提供了积极维护和技术支持，并有幸成为此项成果的署名作者，在此特别感谢中科大团队对Scontel工作的认可。 现在Scontel推出了不同种类的探测器，可以达到@1550nm 93%±3%的效率，小于100cps的暗记数，死时间小于15ns，时间抖动小于50ps，或者提供@1550nm 80%效率，0.1cps暗记数，死时间小于15ns，时间抖动小于50ps。可以在高效率和低暗计数之间根据自己的需要进行抉择，但是死时间和时间抖动可以一直做到zui好维持不变，且计数率可以做到30MHz甚至更高。 关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司作为俄罗斯Scontel公司的独jia代理，公司认真学习习总书记在中俄建交70周上的讲话，牢记新时代的中俄关系，着力深化利益交融，拉紧共同利益纽带，携手并肩实现同步振兴。公司和俄罗斯Scontel公司同呼吸共命运，牢牢的将销售与售后捆绑在一起。作为一家具有十几年专业光学产品代理经验的技术服务公司，昊量光电专注于引进国外顶ji光电产品制造商的技术与产品，为国内客户提供优质的产品与服务。公司代理着上千款产品，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，具有独jia代理的品牌四十多家，一级代理达到上百家，代理品牌均处于相关领域的发展前沿，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造!

p style="text-align: justify text-indent: 2em "strong【作者按】/strong工作距离和探头的选择，主要影响着扫描电镜的信息接收。选择的是否合适，对形成怎样的样品表面形貌像起着举足轻重的作用。实际测试工作中，我们往往只关注信息的产生，也就是加速电压与束流的选择，而对工作距离和探头的选择往往存在轻忽甚至误解的现象。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "关于形貌像分辨率的主流观点：工作距离越小，形貌像分辨率越好。其依据是：1.束斑说：工作距离越小，束斑越小，束斑越小分辨率越好。2.球差说：工作距离越小，物镜球差对结果的影响越小，故分辨率也越佳。球差及束斑说都有一定道理，但都不是影响表面形貌像分辨力的最根本因素。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "形成上述观点，与电镜厂家力推小工作距离的理念有关。特别是有些厂家几乎放弃对使用样品仓探头获取样品信息的研究，仅将其作为一个低倍寻找样品测试位置的工具。这将限制我们的视野，获取的表面形貌信息也极其贫乏。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "本人所用品牌的时候冷场电镜由于对早期样品仓探头结构设计的继承，使得本人充分体会到：各种不同的工作距离和探头组合，将带来怎样不同的样品表面形貌信息，而这些不同的信息又恰恰是我们能够正确且充分观察和分析样品的基石。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面将从形貌衬度，这一形成表面形貌像的主导因素为切入点，以实例来展示并详细探讨：不同工作距离和探头的组合与形貌衬度的形成有何关联？对表面形貌像的获取及图像的分辨能力有何影响？各种组合都具有怎样的优缺点？/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "strongspan style="color: rgb(0, 176, 80) font-size: 18px font-family: 宋体, SimSun "一 、工作距离和探头的选择与形貌衬度的形成 /span/strong/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描电镜形貌像的形成如同用眼睛去观察一个物体。物体图像的形态并不取决于眼睛从物体上获取了怎样的光线，而是基于从那个角度去观察这个物体。对图像细节的影响来自四个方面，光线的能量和强度、眼睛的视力及观察角度，其中观察角度是根基。物体细节越粗，观察角度的影响越大。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/7446c1ff-2094-4dea-9c24-fd02dc025494.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子是形成样品表面形貌像的信息源，如同形成图像的光。探头如同人的眼睛，它获取样品表面形貌像的形貌衬度信息，如同从不同角度去观察这个样品。信息到达探头的角度是形成表面形貌像的基础。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "正如本人在经验谈（4、5、6）中给大家所描述，形貌衬度是由样品表面形貌高低差异所形成的信息衬度。形成该衬度的主导因素随以下两个不同层级的信息需求而不同：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "A. 低倍率，观察的样品表面形貌起伏较大（二十纳米以上）。探头、样品及电子束三者之间的夹角所形成的形貌衬度才能满足形貌像的形成需求，此时这个夹角就是主导因素。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "B. 高倍下，观察的空间差异小于十几纳米，形貌衬度小，电子信息溢出角度所形成的形貌衬度就完全满足需求。由于信息扩散对这类细节影响极大，靠近镜筒，从样品顶部获取更多二次电子是最佳方案，此时低角度信息就变为主导因素。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "选择不同的工作距离和探头，就是为了调控探头所接收的样品信息类型及信息的接收角度，以形成充分的图像衬度。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "工作距离与探头的选择是如何调控探头获取样品表面形貌像的形貌衬度信息，进而影响表面形貌像的细节形成及分辨？下面将结合实例来给大家做详细的展示及描述。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "strongspan style="color: rgb(0, 176, 80) font-size: 18px font-family: 宋体, SimSun "二、表面形貌像与工作距离和探头的选择/span/strong/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "选择不同的工作距离和探头，能对图像形貌衬度的获取形成调控。那是如何调控？又是如何影响样品表面形貌像？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.1不同工作距离下各探头对表面信息的接收示意图/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以某公司冷场电镜为例（样品：介孔硅，孔径 10nm）：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/b8cc6b0c-010b-4077-97bc-4e1558635e77.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em " a.样品台不加减速场：到达顶探头的主要是间接的、能量较高的高角度背散射电子（HA BSE）。图像特性表现为：信息量不足、细节分辨差、但受荷电影响小。（SBA-15颗粒）/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/f6e11aa0-c8f0-462d-99c9-6787b93e2ac6.jpg" title="3.png" alt="3.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "工作距离越大顶探头接收的信息越少，基本不存在测试意义。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/db70895c-9571-49ac-af9a-286cbaa168d2.jpg" title="4.png" alt="4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em " br//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "b.采用减速模式：二次电子能量得到加强，使顶探头接收的样品信息改以高角度二次电子为主。图像特性：二次电子衬度及边缘效应增加、形貌立体感较差、荷电及电位衬度较大。/pp style="text-align: justify text-indent: 0em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align: center "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/4333ec84-2237-4e5f-9c47-c7424021ada4.jpg" title="5.png" alt="5.png"/span style="text-indent: 2em text-align: justify " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "顶探头图像的Z衬度会更强烈一些，但要求样品有较强的信息量，故应用领域不广，实例较少。具体可参看经验谈（6）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "总之，该公司扫描电镜设置的探头中：顶探头要求样品本身有较高的信息产额，仅利于在小工作距离条件下获取某些特殊的图像衬度信息，如：Z衬度及电位衬度，故使用频率少。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "对于大部分样品信息的获取，起主力军作用的是上、下探头，因此下面讨论的重点将针对这两个探头展开。实例的展示及探讨将以介孔硅KIT-6为样本，按高、低倍分组来进行。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "WD 3mm、低倍：10万倍以下，观察的细节大于20纳米。 /pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/ee3af742-eeab-4911-acf1-ccd39b700db4.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高倍（20万倍）：观察10纳米以下细节。这类细节的起伏小，形貌衬度要求低，不同角度的二次电子就足以形成表面形貌像所需的形貌衬度。此时信息扩散对细节影响将变成主导因素，更多的接收二次电子就成为获取高分辨细节的关键。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如上示意图，EXB系统对进入上探头的信号进行分离，使其接收的基本是二次电子，对细节影响小；通过信息转换板，探头又接收到更多的低角度信息，因此利于形成细节为10纳米以下的形貌像。各探头形成图像的具体结果如下：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/cbe76ddb-a22b-4bd5-ad70-c9057c2641ae.jpg" title="7.png" alt="7.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "该工作距离，下探头无信号，信息混合后结果倒向上探头。采用减速模式将帮助上探头获取更充分的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/b3ba0c5c-c2a3-49cb-a4fa-8653853454d2.jpg" title="8.png" alt="8.png"/span style="text-indent: 2em text-align: justify " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "B）工作距离适中（WD=8.1mm）：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/7a1ebaf2-fb73-4803-a009-cd97a2aa8a65.jpg" title="9.png" alt="9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "低倍：10万倍以下，观察的样品细节主要在20纳米以上。在这个工作距离下：上探头形貌衬度较差，下探头信号量不佳，故单独观察都有较大问题。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/c8c01847-39c9-4150-a862-5ed7dc40b2bf.jpg" title="10.png" alt="10.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高倍：20万倍，观察的样品表面细节在10纳米以下 /pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/367f675f-d917-4132-b5b5-dc72868ef096.jpg" title="11.png" alt="11.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上、下探头的混合结果：上探头获取的信息较多，是主要信息源。故整体偏向上探头获取的图像特性。/pp style="text-align:center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/aa45b67b-1415-461d-9ee6-5594b663afdf.jpg" title="12.png"//pp style="text-align:center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/10a2946a-c21a-4b3b-9c3a-46579b607c42.jpg" title="13.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "C）大工作距离（WD=15.1 mm）/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/841a1b4a-39c8-4cea-9114-5c93b196ba13.jpg" title="14.png" alt="14.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "低倍：10万倍以下，观察20纳米以上的细节。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/5adb4e8e-4576-4e0e-aa67-2b72bfdf8f99.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高倍：20万倍，观察细节10纳米以下。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/e2dd614b-b1c3-439f-8eca-4a481eae9dcb.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上、下探头混合后，结果倒向下探头。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/aa741213-5299-4f63-9dc8-2f210ade6e28.jpg" title="16.png" alt="16.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "细节较粗样品（磁粉），7万倍、大WD，三种探头组合对比：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/84e4cc1f-b36b-4df0-a035-30045f6a1fc2.jpg" title="18.png" alt="18.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.2不同探头组合在不同工作距离（WD）上的图像比对/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上节实例展示了在不同工作距离上，各种探头组合所获取的图像特性。本节以介孔硅SBA-15的测试结果为例，采用高、低倍分组，直球对决的形式，对比三种探头组合分别在三个不同工作距离上所获取的测试结果。评判出各种工作距离与探头组合的优缺点，以充分认识它们的适用范围。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/83a00b53-10d8-4142-bd5e-b16c67491618.jpg" title="19.png" alt="19.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "低倍的综合结果：选择15mm工作距离、下探头组合测试效果最佳。空间伸展最好、信号量足、细节丰富、无荷电影响。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/73bb557c-f665-4f26-bfaa-d80bb19cb871.jpg" title="20.png" alt="20.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高倍（20万倍）的结果： 2mm工作距离，混合探头组合二次电子含量足，低角度二次电子信息含量的占比较多，故图像荷电现象较弱，空间信息好，细节充分，结果最佳。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "15mm工作距离、下探头组合，细节几乎看不见，结果最差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "综合以上所有实例可以得出这样的结论：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "10万倍以下观察20纳米以上细节，大工作距离拥有优势，且倍率越低用下探头观察的优势越明显。10万倍以上观察10纳米以下的细节，小工作距离、上探头获得效果更好。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "strongspan style="color: rgb(0, 176, 80) font-size: 16px "三、工作距离和探头的选择与图像的分辨力/span/strong/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "前面实例充分表明：小工作距离、镜筒探头（上探头）最适用于将图像放大到10万倍以上，去观察小于10纳米的样品细节，而对于观察20纳米以上的细节却未必有利。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面将以充分的事例展示：采用大工作距离、样品仓探头（下探头）组合，即便在10万倍以上的高倍率，图像清晰度受大量背散射电子的影响而略显不足，但对20纳米以上样品细节的分辨力却占据优势。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "泡沫镍上生长的氢氧化钴，储电材料。该材料的片状氢氧化钴表面有许多大于10纳米的沟纹状细节，故比表面积较大。存在这种结构也正是其拥有极佳储电能力的基础。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "接下来通过对这些沟纹信息的观察，来对比大工作距离、下探头组合与较小工作距离、上探头组合在的辨析度上优劣。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "为了说明结果的普适性，对比将从一组zeiss SEM的照片开始。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/63ec7b13-bd9e-4d65-9328-1ef32e4aa0b1.jpg" title="21.png" alt="21.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "结果：采用WD=8mm、混合探头（M）组合 PK WD=15mm、下探头组合的结果。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/829f8ebf-1b67-40ff-ae48-b248d4a661d7.jpg" title="22.png" alt="22.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上实例充分展示：工作距离与探头的选择对分辨能力的影响也遵循着辨证的关系。样品的特性以及观察信息的不同是我们选择合适工作距离与探头的依据。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "将小工作距离、镜筒探头做为获取高分辨像的唯一正确选择，进而扩展为扫描电镜主要测试条件的观念存在极大偏颇，不利于充分获取样品信息。大部分样品信息适合在大工作距离，采用多种探头组合来获取，这将在下篇有更充分的展示。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电镜的性能是否优异，考察其在大工作距离下是否也能获取优异的高倍率形貌像应当是重点。以下是几个实例：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "S-4800大工作距离高倍率图片/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/395c6a02-3f78-47bb-9a45-4aa553a3ebb7.jpg" title="23.png" alt="23.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "Regulus 8230的大工作距离高倍率图片/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/3eb0b9d9-d016-4e1b-aa6a-16c5555ca0a2.jpg" title="24.png" alt="24.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/69da8d82-e400-4dc0-9331-cf795b27a49a.jpg" title="25.png" alt="25.png"//ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "strongspan style="font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) "四、不同工作距离和探头组合的优缺点/span/strong/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "前面分析了，改变工作距离主要影响的是镜筒内探头和样品仓探头对样品表面形貌信息的接收效果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "工作距离越小，带来的结果是：镜筒内探头（U）接收到的样品信息越多，样品仓探头（L）接收的样品信息越少。当样品紧靠物镜时，样品仓探头基本获取不到样品的信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "随着工作距离加大，样品仓探头接收到的样品信息会加强。要形成样品仓探头对样品表面信息接收的最佳固体角，必然存在一个最佳工作距离。这个值各电镜厂家并不一样，我所用的场发射扫描电镜的这个值与附件能谱仪的最佳工作距离相重合（WD=15mm）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "不同位置的探头形成样品表面形貌像的主导因素不同。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品仓探头：探头、样品及电子束三者之间的夹角是主导。获取的形貌衬度信息有利于呈现起伏较大的表面形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "镜筒内探头：从顶部接收样品信息，电子信息的溢出角是形成表面形貌像的主导因素。获取的形貌衬度小，只适合表现起伏较小（几十纳米）的表面形貌像。工作距离越大，镜筒内探头接收到的高角度二次电子占比越多，图像空间感越差，荷电现象也越明显。具体实例可参看前文经验谈（5）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品表面形貌像的细节会受到样品电子信息扩散的影响，这个影响受到样品特性及信息需求的限制。当样品比较松散，而所要展示的样品信息又极小（10纳米以下细节）时，信号扩散会成为影响测试结果的主体，选用小工作距离、镜筒探头最为有利。除此以外，在大工作距离下选择不同探头组合将更有利于获取充分的样品表面信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "大、小工作距离对样品进行测试的优缺点对比列表如下/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/ae51a279-a821-44a9-8ff7-f3f675295dcb.jpg" title="26.png" alt="26.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从以上列表可以看到，选择大工作距离给测试结果带来的优点比选择小工作距离要多得多，小工作距离仅在极少数情况下具有较好的测试结果。因此个人认为将常规的测试条件放在大工作距离上，是一个明智的选择。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以个人使用扫描电镜十来年的测试经历来看，绝大部分样品信息都可在大工作距离下获取更好的效果，必需采用小工作距离的情况相对来说比较少。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下一篇将用更多实例来给大家充分的展示并分析，选用合适的工作距离和探头组合将会带来怎样有利的测试结果？span style="text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "参考书籍：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日 span style="text-indent: 2em "华南理工出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月 span style="text-indent: 2em "中科大出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月 span style="text-indent: 2em "人民出版社 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月 span style="text-indent: 2em "清华大学出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍 span style="text-indent: 2em "北京天美高新科学仪器有限公司 高敞 2013年6月/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em "作者简介：/span/strongspan style="text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 75px height: 116px float: left " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/c94c8e90-8a70-4116-8cfa-768d11d59f9e.jpg" title="123.jpg" alt="123.jpg" width="75" height="116" border="0" vspace="0"/林中清，1987年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) " 延伸阅读：/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200515/538555.shtml" target="_self" style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) "如何正确选择扫描电镜加速电压和束流 ——安徽大学林中清32载经验谈（8）/span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200414/536016.shtml" target="_self" style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜操作实战技能宝典——安徽大学林中清32载经验谈（7） /span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200318/534104.shtml" target="_self" style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜的探头新解——安徽大学林中清32载经验谈（6）/span/aspan style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200218/522167.shtml" target="_self" style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问（下）——安徽大学林中清32载经验谈（5）/span/aspan style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target="_self" style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈（4）/span/aspan style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191224/519513.shtml" target="_self" style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) "电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈（3） /span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target="_self" style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈（2） /span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target="_self" style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈/span/a/p

众所周知，大气中的vocs不仅是生成光化学烟雾污染物的主要前体物，同时也是大气细粒子中有毒有害有机组分的重要来源，对形成灰霾有重要贡献，且一些vocs本身具有毒性和致癌性。随着我国大气污染控制的不断深化，vocs成为继颗粒物、二氧化硫、氮氧化物之后，我国大气污染控制中又一新重点。为此，vocs检测设备已经被推上了环保行业大潮的浪尖，你选对设备了吗？vocs检测红外热像仪根据传统检测方法，当需要检测vocs的微小泄漏及远距离泄漏时，浓度判定主要凭借经验判断、依靠鼻子来闻vocs污染物，既危险又不准确，因此监管难度很大。幸好，科学技术的进步，vocs检测红外热像仪应运而生。vocs检测红外热像仪将vocs可视化为黑色的烟雾，远距离就可快速发现挥发性气体有机物的泄漏以及违规排放，找到排放源，尤其适合高架源。有了vocs检测红外热像仪，检查人员就可以亲眼“看到”难以捕捉的vocs污染物。也就是说，检查人员通过现场摄像排查，可以轻松发现泄漏排放的vocs物质，识别排放源。vocs检测红外热像仪的出现进一步强化了科技化装备在vocs监管方面的运用，以“走航监测普查+红外探测详查”的结合方式，高效锁定vocs排放问题，为打赢蓝天保卫战提供有力支撑。远距离观测储罐气体泄漏使用红外热像对泄漏点源进行探测分析，执法效能将大幅度提升。例如在储油库，专业人员用红外vocs检漏仪对十几米高的储油罐顶部呼吸阀、泡沫发生器等vocs易泄漏位置进行扫描探测，肉眼看不见的气体泄漏在仪器显示屏里“浓烟滚滚”，仅用十几分钟就锁定了全部泄漏点位。flir gf系列热像仪夜查vocs污染物vocs检测“专家”——flir gf系列flir gf系列能够检测天然气生产和使用过程中排放的挥发性有机化合物（vocs）。借助这款光学气体热像仪，检查员能够检查数千个部件并且实时检测潜在气体泄漏。flir gf系列热像仪质量轻盈，配有取景器和液晶显示器，可直接访问控制装置，嵌入的gps数据有助于为环保检查提供定位依据。flir gf系列热像仪作为vocs检测红外热像仪中的首创者，具有出色的分辨率、热灵敏度和高灵敏度模式，使您能够可视化泄漏，以便查明排放物的准确来源并立即开始维修。此外，flir gf系列热像仪还能精确测量温度，使您能够注意到温差并提高视觉对比度，以进行更好的气体泄漏检测。flir gf系列记录洗手液酒精挥发的情况flir gf系列热像仪到底能检测到多细微的泄漏，通过上则视频可以看出：手上涂抹免洗洗手液，酒精挥发的情况都能够被flir gf系列热像仪记录下来！

随着科学技术的不断进步，造纸行业的生产规模不断扩大，长期运转的过程中，机械难免会出现故障，因此要定期对设备进行检修，以保障造纸机械能够正常、安全的运转。红外热像仪是一种让用户能肉眼直接看清物体表面温度分布的设备，它的优点在于非接触、远距离、快速大面积扫描物体的温度，还能获得准确的温度数值。因此，造纸行业的设备检修及产品生产过程，非常适合选择红外热像仪。热像仪提高造纸产品合格率在纸张的生产过程中，温度与某些工艺过程有着直接或者间接的联系，因此也会影响纸张的生产质量和成品率。比如：1、在木材制浆过程中，成品木材需要打碎送入蒸煮器从而得到纸浆，蒸煮器一般是一种细长罐体，需要用热像仪拍摄蒸煮器外壁温度，从而判断蒸煮器内部温度是否均匀。2、水分挤压过程中，要求水分排出均匀一致。纸浆通过上下两层网毯进行挤压，将纸浆内的水分挤出，如果水分挤出不均匀，会导致纸张不合格。用热像仪观察挤压后的纸浆，如果纸浆上的水分不均匀，由于吸放热速率不同，会导致其表面温度分布不均，热图像可以直观显现出来。3、熨压成型过程中，用热像仪拍摄熨压后的纸张，可以测量纸张成品具体的温度和均匀性。由于红外热像仪的非接触、远距离、大面积扫描等特性，在造纸行业复杂的生产过程中，其能在多个工艺中快速准确的测量温度信息，大大提高了纸张产品的合格率。热像仪保障造纸设备的稳定运行将FLIR红外热像仪加入预防性维修计划中，在造纸机械设备的日常运作过程中加强对设备的检查，及时发现设备可能出现故障的各种预兆，提前做好维修准备，适时进行维修，可以避免造纸机械在运作过程中突然出现较大的损害，提高了机械设备故障诊断的效率，减少设备停机造成的损失，使设备的生产能力发挥到最大。 FLIR T540专业红外热像仪就非常适合造纸行业检测的需求，其具备高分辨率（464 × 348）、高灵敏度（＜40 mK）、按需可配备广角镜头（AutoCal智能自标定镜头）、符合人体工程力学设计（聚光装置可180°旋转）等多重优点，在复杂的测温环境中用起来也能得心应手。用户可直接测量纸张的温度分布、测量范围内的最高温、最低温和平均温度，还可计算标准偏差。文件以图片形式储存，快速直观，留存的数据可供后续批量分析处理，大大的简化了巡检工作量。FLIR T540专业红外热像仪具有单触式电平/跨度和连续激光辅助自动对焦等先进功能，是状态监测和研究应用的非接触式诊断工具。

企业想要可持续发展，必定要开源节流，然而现下维持市场都很难，开拓市场更不必说。开源走不通那么，我们可以在节流上想法子！！！石油、化工、冶金、电力、机械、轻工等各行业都有企业用压缩空气作为动力能源，而动力能源作为企业生产的重要成本，节约动力能源就能为企业“节流”。压缩空气系统的泄漏问题较为普遍，不合理维护可能导致20%的压缩空气泄漏，而故障导致的气体泄漏，更可能造成40%的能源损失。跑气即跑钱！你厂的压缩空气系统该治理了！压缩空气系统的任何部位都可能发生泄漏，因此要尽可能对系统的各个部分进行检测，今天小菲就为大家推荐一款能够帮助检修人员高效便捷发现泄漏问题的工具——FLIR Si124工业声波成像仪。声波可视化，故障“显形”快10倍FLIR Si124内置124个麦克风，接收频率范围（2kHz至31kHz）涵盖可听声和超声波，它能够将声波呈现出可视化效果，当压缩空气系统中有气体泄漏时，Si124可以让冒气声 “显形”。Si124还能够轻松过滤掉背景噪音，在嘈杂的环境中也能准确定位。除了压缩空气系统外，Si124也适用于天然气或蒸汽系统的检测。980克＆100m ：轻便高效，远距无忧压缩空气系统检测人员工作量较大，FLIR Si124轻便的机身（重量仅微超980克）携带方便，可单手操作，减轻了检测人员负重，提升工作效率。FLIR Si124测量距离为0.3-100米，先进的超声波检测系统，减少检测人员跑动。声像实时叠加可见光数码图像功能，麦克风配合可见光相机，将故障发声区域直接覆盖到可见光图像中，使用户可以能够清晰分辨气体泄漏源头、区分问题点。FLIR智能云服务，即时估算泄漏能耗FLIR Si124可即时查看泄漏率（升/分钟或CFM）和年度能耗损失预估数据，快速掌握设备状况。搭载FLIR Acoustic Camera Viewer云服务，实时上传、存储和备份数据，及时上报压缩空气系统泄漏情况。云端人工智能引擎进行处理，创建报告，决策人员可以根据报告快速做出是否需要维护或更换设备的判断。受全球疫情环境影响，各企业状况艰难，这种情况下节省开支对企业发展尤为重要。FLIR Si124愿与各行业企业携手前行！

p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "strong【作者按】/strong前文【a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200616/551389.shtml" target="_self"strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜工作距离与探头的选择（上）/span/strong/a】我们通过实例展示并探讨了：工作距离与探头的不同组合与样品表面形貌像的分辨力之间存在怎样的关系，列表对比了不同工作距离和探头组合的优缺点。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "本文将进一步以实例来展现并探讨，正确的工作距离和探头的选择，将会对扫描电镜的测试结果和状态的维持产生怎样的影响。给大家在进行扫描电镜测试工作时，对于工作距离及探头的选择，提供一定参考。/span/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-family: 宋体, SimSun color: rgb(0, 176, 80) font-size: 18px "一、工作距离和探头的选择与表面形貌像的形成/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "如前面一再强调，形成扫描电镜表面形貌像的基础在于反映表面形貌高低差异的形貌衬度。形成形貌衬度的因素，取决于探头对样品信号的接收角度，而形成这个接收角度的主要因素，依据样品特性及信息需求的不同分为两个层面。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "第一个层面：低倍，观察的样品表面形貌起伏较大（大于20纳米）。要表达这类信息，需要相应的形貌衬度也较大。只有在探头、样品和电子束之间存在一定角度，所形成的形貌衬度才能充分展现这种位置上的差异。strong此时样品仓探头（L）将作为接收样品信息的主体/strong。不同的形貌衬度，要求这三者之间形成的最佳接收角不同，需要进行不停的调整。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "实际操作时，由于探头和电子束中轴位置是固定的，因此这个角度的改变就落实在样品位置的调整上。工作距离和样品台倾斜角的改变是进行这个角度大范围调整的唯二之法。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "第二个层面：高倍，观察区域缩小，样品表面起伏减弱，形貌高低位置的差异也将削弱，样品电子信息的溢出角度所形成的形貌衬度足以呈现样品表面高分辨形貌特征。因观察的细节小，小于10纳米，信息扩散对这些细节的干扰将左右最终结果。用小工作距离、镜筒内探头来获取充分的二次电子信息是最佳方案，此时形成高分辨表面形貌像的关键点在于strong镜筒内探头（U）能否充分获取样品的低角度电子信息/strong。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "在扫描电镜的实际测试过程中，所要获取的样品表面形貌信息，绝大部分都落实在第一个层面中。因此充分利用样品仓探头来形成样品的表面形貌像，就应当成为日常测试工作的主要选择。以此为基础，依据样品所表现出的特性及所需获取的样品信息，来改变测试条件，将会使得测试工作真真做到有的放矢，获取的样品信息也更充分。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "十分可惜，由于认识上的偏差，对工作距离和探头的选择思路往往与此背道而驰。将小工作距离做为获取高分辨像的唯一途径，进而推广为常规测试条件，这容易形成样品信息不充分、假象多、压缩样品操作空间、增加镜筒污染和样品损伤几率的结果。这些事例都将在本文中给予充分的体现。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "要使表面形貌像含有充足的样品信息，关键是如何调控样品仓探头（L）和镜筒内探头（U）对样品信息的获取。而这个调控工作的关键点又在于工作距离的选择/span/strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下面将以工作距离的改变为主轴，从表面形貌像的信息量、样品荷电的应对、磁性材料的观察这几个方面来探讨不同的工作距离和探头选择究竟能带来怎样的测试结果。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1 工作距离的改变与表面形貌像的获取/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "利用扫描电镜对样品的表面形貌进行观察，其过程和我们对日常事物的观察并无不同。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "要充分观察一个物体，在这个物体与眼睛离开一定距离时，获取的信息最多。太远，无法分辨；太近，虽然看的细致，但往往只能观察到局部，获取的信息精细但贫乏。即所谓鼠目寸光，可明察秋毫，也容易以偏概全、以点代面。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "获取一个物体信息的过程都始于全貌观察。由整体到局部、远观到近考。近考是以远观为基础，而物体的大部分信息都是在一定距离下从各种不同角度去观察来获得。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "对于扫描电镜来说也是如此：探头如同人的眼睛，工作距离就如同物体所处的观察位置。大量的样品信息都应当在一个特定的工作距离上，从侧面（样品仓探头）和顶部（镜筒内探头）来获取。少量的细节信息（strong 10nm/strong）需要靠近样品，用镜筒内探头，小工作距离来观察。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "这个特定的工作距离各电镜厂家都不相同，个人认为日立冷场扫描电镜是15mm。下面将从各种不同工作距离获取的信息对比开始，用实例来展示各种工作距离和探头组合的优劣，同时分享我在测试时对其选择的流程，供大家参考。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.1图像的清晰度和辨析度/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "清晰度：是指影像上各细部纹理及其边界的清晰程度。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "辨析度：是指影像上各细部纹理及其边界的分辨程度。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "瑞利判据：一个爱里斑中心与另一个爱里斑的第一级暗环重合时, 刚好能分辨出是两个像。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "依据瑞利判据，图像辨析度要求的是图像足够清晰而并不追求绝对清晰。在获取扫描电镜图像时常常发现，图像的高清晰并不一定带来高分辨。许多高清晰的图像其细节分辨并不好，而某些图像虽然清晰度较差，但并不影响对微小的细节信息进行分辨。辨析度高才能带来高分辨能力，这种情况在对不同放大倍率和采用不同测试条件获取的表面形貌像进行对比时会经常出现，前面有充分的实例给予展示。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 193px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/74932b14-2635-4e9f-9673-707661babbbf.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１.png" width="395" height="193" border="0" vspace="0"//pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 186px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/3d61fa9f-335d-4a6c-bbbf-6fdb80bff7c4.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２.png" width="395" height="186" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "关于扫描电镜图像的清晰度与辨析度，以后还有专文探讨。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.2样品仓探头的最佳工作距离/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "各电镜厂家的样品仓探头位置设计不同，因此它们的最佳工作距离也不相同，日立冷场电镜在15mm。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "如上篇的实例所示：样品仓探头在工作距离小于8mm时接收到的样品信息较少，小于4mm基本接收不到样品信息。大于8mm接收到的样品信息逐渐增多，15mm达到最佳的成像效果，大于15mm接收效果及图像立体感缓慢减弱。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 236px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/b4abd10c-402d-4db3-825b-afe30e288b80.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择３.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择３.png" width="395" height="236" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "依据样品仓探头对样品信息的接收效果，可将工作距离大于8mm称“大工作距离”，小于4mm称为“小工作距离”。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "小工作距离下，对样品信息的接收局限在镜筒内探头，接收到的样品信息较为单调。虽有利于在高倍时呈现小于10nm的样品细节信息，但不利于全面获取样品的表面信息。故将样品至于样品仓探头的最佳工作距离就十分必要。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头位置设计的越合理，利用探头组合来改变表面形貌像中SE2:BSE的比值和信息接收角度的范围就越大，同时样品的可操控范围也越大。这将使得图像中的各种衬度信息更能得到充分的展现，形貌像的信息内容也越多。 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下面将从图像的分辨能力、信息量、倍率变化范围以及样品操控等几个方面来对比大、小工作距离测试的优劣。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "A）大工作距离与图像细节的分辨能力/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "对于图像细节分辨力，目前在认识上存在一种简单的单调思维方式。所谓简单的单调思维方式就是用部分代替整体。如某测试条件在高倍时对极细小的细节拥有非常好的测试效果，就想当然的认为在低倍时也会拥有非常好的测试结果。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "实际情况往往并非如此，高倍有好的细节分辨力，不代表这个测试条件就一定能在低倍获得良好的结果。这在上篇有充分的展示，本文将再以一个实例来介入该问题的探讨。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "二氧化硅介孔样品。选择小工作距离、镜筒探头这组测试条件有利于对孔道信息的展现。但是否在低倍观察二氧化硅颗粒的整体信息时，也有同样的表现？请看以下这一组图片：/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 546px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6242e319-3fc5-4cfa-9265-f8cab4995494.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择４.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择４.png" width="395" height="546" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "上述实例可以看到，图像分辨力的主要影响因素是动态变化的。随着样品特性以及信息需求的变化，形成形貌像的主导因素也会发生改变。因此测试条件也应随之变更，否则将无法获得充分的样品信息和图像的高分辨力。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "不少样品表面形貌细节的高分辨观察并不需要用小工作距离来进行。在大工作距离下就可以获取非常优异的高分辨像，且高分辨像的空间伸展更加充分。如下图： /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "/span/pp style="text-align: center "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 264px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6a4a204e-120c-43f4-83ce-37a47487776c.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择５.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择５.png" width="395" height="264" border="0" vspace="0"/span style="font-family: 宋体, SimSun text-align: justify text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "仪器性能优异，即便是介孔样品的介孔信息，在大工作距离下采用镜筒内探头或混合探头，该信息也并非无法观察。但因上探头的接收效果变差，图像整体清晰度及信号量有所减弱，但介孔却可被明确分辨，且能保证一定的图像质量。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 539px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/17ae15f9-81ab-4e92-8e5c-5b4df1f6d027.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择６_看图王.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择６_看图王.png" width="395" height="539" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "B）大工作距离获取的图像，空间信息更充分/span/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 301px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/bc5317f4-233a-496d-95ba-0fb5e2424ad9.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择７.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择７.png" width="395" height="301" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "高分子膜和二氧化硅小球，左图采用大工作距离，下探头从侧向接收样品信息，图像的形貌衬度充分，空间立体感强烈，信息更丰富。右图小工作距离，只能是镜筒内探头从顶部接收样品信息，形貌衬度薄弱。图像如同被压扁，空间信息贫乏，整体分辨力不足。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "C）大工作距离有较大的倍率变化空间/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "采用大工作距离测试，获得图像的倍率变化空间大。有利于在原位从低倍到高倍进行倍率的大范围改变，获取样品的信息更全面，形成的样品信息系统性更为优异。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 336px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/2a84df37-7a41-498a-af58-38005c84c34c.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择８.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择８.png" width="395" height="336" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "小工作距离的起始倍率较高，对低倍获取样品的全貌有所限制，特别是应对那些体积较大的样品。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "D）大工作距离有利于样品做大范围移动/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "工作距离越大样品的可移动范围也越大，越有利于我们从多个侧面来对样品进行观察。特别是对空间差异较小的样品，大角度的倾斜，可改变探头获取样品信息的角度，将有利于充分展现样品的空间形态，减少误判。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 212px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6b060682-9fe3-4a92-bcd3-caad054258a4.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择９.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择９.png" width="395" height="212" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "以上多个实例，充分展示大工作距离测试所带来的强大优势，下面将对大工作距离、样品仓探头组合做重点探究。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.3大工作距离、样品仓探头组合的测试优势/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头在大工作距离测试时，如同从侧上方观察样品，获取的样品表面形貌衬度要远大于从样品顶部采用镜筒内探头所获取的结果。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "形成表面形貌像的优点：空间信息丰富，立体感强，样品信息更充分，可减少假象的形成，低倍时图像的分辨能力强，Z衬度更优异，受荷电影响极小。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/0adc0222-c481-4f28-b16b-2c48174c697e.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１０.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１０.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/f57a85d1-c7fd-4ee6-9c89-080d03abda74.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１１.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１１.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头（下探头）获取的图像形态对工作距离、样品倾斜角度、加速电压的改变都比较敏感，这为充分获取样品信息提供足够的保障，可以多维度展现样品的形貌特征。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "A）工作距离的改变对下、上探头接收样品信息的影响/span/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/90c24635-fbff-4738-8b75-e7266d0ce577.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１２.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１２.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/a76b631c-75f0-4fe5-8b91-d4cb2b251d97.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１３.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１３.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "B）样品倾斜对下、上探头接收样品信息的影响/span/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/7a00753c-32a0-4541-9a54-31ebcb1df725.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１４.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１４.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/041513de-536d-41ce-9892-254c4612bbe9.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１５.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１５.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/85154b75-b112-4a41-b918-0adf46978691.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１６.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１６.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "C）加速电压的变化对上、下探头接收样品信息的影响/span/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/2c486494-f5cf-49e0-8105-9654120bd323.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１７.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１７.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.4 大工作距离、样品仓探头组合的测试劣势/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下探头位于样品侧上方，直接面对的是低角度电子信息。低角度位置上分布的主要是背散射电子，故以下探头为主形成的表面形貌像，容易受背散射电子在样品中扩散的影响。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "结果是：高倍图像的清晰度不足，十纳米以下的细节容易被掩盖，随着镜筒内探头被添加进来，此现象所改善。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头对以二次电子为主导的电位衬度及二次电子衬度信息的展现较差。具体实例如下：/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/23d449e2-83bf-48f6-83fe-1848a196b968.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１８.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１８.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/45799b39-6caa-4e64-afc4-ad88cad42370.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择１９.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择１９.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.1.5大工作距离测试有利于材料的缺陷分析/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "通过对以上大工作距离下各种探头组合的优、缺点展示可见：无论哪种组合都有局限，很难用一种条件包打天下。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "大工作距离条件下，可轻松切换上、下探头，对比不同探头获取的不同样品讯息，可得到单一探头组合所无法展现的异常现像，这将有利于对材料进行缺陷分析。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "如：在大工作距离条件下，切换上、下探头，获取样品表面的电位衬度不同。通过对比因不同的电位衬度所展现的图像形态差异，可以得到样品表面局部被污染或氧化的信息。下面是两个我遇到的非常成功案列。/span/pp style="text-align:center"span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/d203ac91-933a-4634-bc34-aba2b70f6678.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２０.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２０.png"//span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.2工作距离和探头的选择与样品荷电的应对/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品荷电现象指的是：样品中由于电荷累积形成荷电场，该荷电场对样品表面信息的正常溢出产生影响，在形貌像上叠加形成异常亮、异常暗或细节磨平的现象。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 不同能量的电子信息受到荷电场的影响程度也会不一样。能量弱小的二次电子极容易被荷电场所影响，使得由其为主形成的表面形貌像上，荷电现象显得较为严重。如果减少二次电子的含量，表面形貌像上的荷电现象将会减轻。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "采用混合探头进行测试时，加大工作距离可减少形貌像中二次电子信息的含量，有效改善荷电的影响。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " /span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/98dc7be3-89b7-4746-b791-20c77add4ded.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２１.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２１.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " /spanbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下探头接收的主要是背散射电子。应对样品荷电，大工作距离下单选下探头常常是一个极其有效的方法。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/ee2e6d7a-1c62-4111-8aa3-a7b13975e33b.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２２.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２２.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品的荷电现象及应对方式，后面将有专文加以探讨。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1.3磁性样品的观察/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "物质的磁性来自核外轨道电子自旋。因此严格来说，所有物质都带有一定磁性，都可被称为：磁性材料。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "原子核外都是成对电子，电子之间的磁矩相互抵消，所以无论物质进不进入磁场都对外不显露磁性，称“反磁性”。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "原子核外有不成对电子，不成对电子在热扰动影响下杂乱排列，形成原子或分子间磁矩相互抵消。进入磁场后，不成对电子受磁场作用克服热扰动的影响，按磁场方向有序排列，对外表现出磁性。取消外加磁场，不成对电子在热扰动影响下又进入杂乱排列状态，显现的磁性消失，这就是“顺磁性”。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "将不成对电子换成“磁畴”，所谓“磁畴”指的是多个同方向电子的集合，这类物质进入磁场后表现出的磁性非常强。外加磁场达到一定值，撤除磁场，热扰动无法使磁畴恢复无序状态，形成极强的磁滞现象。这就是“铁磁性”。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "高分辨扫描电镜为了使镜筒内探头获取更多的样品表面电子信息，物镜磁场对样品仓做一定量的泄露，称“半内透镜物镜”设计。这种类型的物镜，当具有“顺磁”或“铁磁”等性质的样品靠近时，会被物镜的漏磁磁化并吸入物镜，污染镜筒并干扰磁透镜的磁场。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "采用大工作距离观察，在样品远离物镜达到一定值以后，这种影响将会减弱直至消失，镜筒也很难被其污染。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "顺磁及铁磁性物质的表面细节都比较粗大，用样品仓探头在大工作距离条件下获取的表面信息往往更优异也更充分。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "如果扫描电镜在大工作距离上有强大的成像能力，可轻松获取高质量的几十万倍高分辨形貌像，则对这些材料的表面形貌测试将不会受到任何限制。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "关于物质的磁性及磁性物质的区分，以及在扫描电镜测试时该如何应对，这些都将在下一篇经验谈中有详细探讨。/span/pp style="text-align:center"strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/de374333-8a9e-44df-a56b-15ef53770d09.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２３.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２３.png"//span/strong/pp style="text-align:center"strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/257f0ab6-4546-4706-a3b8-b2ce7ba015a4.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２４.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２４.png"//span/strong/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) "二、大、小工作距离对样品热损伤的影响/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "大工作距离，电子束的离散度较大，会使得电子束能量也发生较大程度的离散，对样品的热损伤也会减少。应对容易被热损伤的样品，采用大工作距离测试也是重要方式之一。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6d474a4f-8cd6-424b-bc86-8378e70bd334.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２５.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２５.png"//ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) "三、大工作距离与仪器状态的维持/span/h1pbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "没有好的仪器状态，仪器调整的再优异都无济于事。要保持良好的仪器状态，维持样品仓、镜筒环境的真空是基础。由于清洁镜筒极为困难，故对其环境的维持也最为关键。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "镜筒污染除了物质的磁性质，还来自以下两个方面：/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "1. 样品中含有的各种挥发物。因此扫描电镜测试对样品的要求是：样品尺寸尽可能的小，固定样品所用的胶体尽可能少，样品表面尽可能地处理干净、干燥。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "2. 电子束从样品表面轰击出来的各种极性或非极性物质，这类物质在镜筒表面的吸附性超强。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "减少镜筒污染，控制样品是一方面，更关键的是将样品远离物镜。样品靠镜筒越近，进入镜筒的污染物会成倍增加，更不用说那些所谓的磁性物质。无论那种类型物镜，长期在小工作距离下测试，仪器状态都无法得到保证。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "本人的S-4800使用十几年了，测试量很饱满，长期坚持大工作距离测试，同时对样品严格控制，因此从09年仪器安装至今，灯丝未更换、仪器也从未做过专门的大保养，但却一直都能保持极佳的工作状态。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "下面以一组拍摄于2019年，用各种低电压、大工作距等较差的测试条件，拍摄的碳球高分辨图像来结束本章节。 /span/pp style="text-align:center"strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/36ce59dc-a082-44a5-88fa-d060a32c294f.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２６.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２６.png"//strong/pp style="text-align:center"strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/844c4116-35ce-491a-8fab-009e54f4e3d4.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２７.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２７.png"//strong/pp style="text-align:center"strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/b8494443-4a3c-451c-bbbf-da813c4e2337.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２８.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２８.png"//strong/pp style="text-align:center"strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/e4c326c7-d26c-464f-b986-51f56c1082f7.jpg" title="扫描电镜工作距离与探头的选择２９.png" alt="扫描电镜工作距离与探头的选择２９.png"//strong/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) "四、结束语/span/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头和镜筒内探头是从不同角度来获取样品信息。它们获取样品信息的侧重点不同，所适合应对的样品及展现的样品信息特征也不一样。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "镜筒内探头获取的样品信息以二次电子为主，对尺寸小于20nm的样品细节影响小，故图像清晰度高，二次电子衬度及边缘效应充分，电位衬度明显。但由于是从顶部通过物镜来获取样品信息，形貌衬度不足，使得其对于较粗大的样品细节（20nm以上）信息获取效果不佳，荷电应对能力差。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "样品仓探头获取的样品信息是背散射电子和二次电子的混合信息，背散射电子为主导。由于背散射电子的影响，高倍图像清晰度不足，对20nm以下的样品细节分辨影响较大，几纳米的样品细节几乎无法分辨。但该探头从样品的侧上方获取样品信息，形貌衬度及Z衬度充足。对低倍下观察表面起伏较大的细节信息（大于20nm）有极其明显的优势。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "改变工作距离的主要目地就是为了调控样品仓探头和镜筒内探头对样品表面信息的接收，形成最佳的效果。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "工作距离越小，越有利于镜筒内探头对样品信息的获取。过小的工作距离，样品仓探头接收不到样品信息，整个表面形貌像的特征都由镜筒内探头来决定。有利于展现10纳米以下的细节，但低倍时图像效果差，信息类型较为单一。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "大工作距离有利于样品仓探头对样品表面信息的接收，同时也能兼顾镜筒内探头接收样品信息。两个探头信息的合理组合，将使获取的形貌像内容更加充实。各种衬度信息的组合越合理，获取的样品信息越丰富，形貌分析的手段更多样，形成的表面形貌假象也越少。大工作距离测试的缺点是镜筒探头接收效果不佳，10纳米以下细节质量退化较严重。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "加大工作距离会使得电子束的离散度增加，从而降低样品热损伤的程度。但对图像清晰度有影响，超过一定值（过度）也会影响到图像细节分辨。该影响也会遵循适度性的原则，不同样品、不同的形貌细节，影响程度不同。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "在工作距离与探头的选择中，工作距离的选择是基础。只有工作距离合适了，探头的作用才能发挥出来。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "扫描电镜的每次测试都会有一个初始工作距离的选择，个人认为这个值应满足以下条件：1. 样品信息尽可能丰富，能为后续调整指明方向；2. 样品的操作空间尽可能大，使得样品能够充分移动；3. 图像的信息尽可能多，使得后续调整更容易；4. 尽可能兼顾样品分析；5. 离物镜尽可能远，保护镜筒，远离样品磁性及污染物的影响。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "对日立的冷场扫描电镜来说这个工作距离应该是15mm。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "加速电压、束流、工作距离、探头这四个测试条件的正确选择是获取高质量扫描电镜测试结果的基础。在工作距离和探头的选择上，目前存在的曲解极其严重，不利于充分获取样品信息。希望本文能给大家提供一个全新的视野。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "参考书籍：/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "《扫描电镜与能谱仪分析技术》 张大同 2009年2月1日 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "华南理工出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "中科大出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "人民出版社 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "《显微传》 章效峰 2015年10月 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "清华大学出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "北京天美高新科学仪器有限公司 /spanspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "高敞 2013年6月/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 85px height: 131px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/4d9b5e9c-3ce3-4651-9e2d-ceb0eb6b94de.jpg" title="林中清.jpg" alt="林中清.jpg" width="85" height="131" border="0" vspace="0"/作者简介：/span/strongspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "林中清，1987年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /spanstrongspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " /span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "延伸阅读：/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strongspan style="color: rgb(0, 176, 240) font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200616/551389.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "易轻忽之肯綮：扫描电镜工作距离与探头的选择（上）——安徽大学林中清32载经验谈（9）/a/span/strong/span/p

众所周知，大气中的vocs不仅是生成光化学烟雾污染物的主要前体物，同时也是大气细粒子中有毒有害有机组分的重要来源，对形成灰霾有重要贡献，且一些vocs本身具有毒性和致癌性。随着我国大气污染控制的不断深化，vocs成为继颗粒物、二氧化硫、氮氧化物之后，我国大气污染控制中又一新重点。为此，vocs检测设备已经被推上了环保行业大潮的浪尖，你选对设备了吗？vocs检测红外热像仪根据传统检测方法，当需要检测vocs的微小泄漏及远距离泄漏时，浓度判定主要凭借经验判断、依靠鼻子来闻vocs污染物，既危险又不准确，因此监管难度很大。幸好，科学技术的进步，vocs检测红外热像仪应运而生。vocs检测红外热像仪将vocs可视化为黑色的烟雾，远距离就可快速发现挥发性气体有机物的泄漏以及违规排放，找到排放源，尤其适合高架源。有了vocs检测红外热像仪，检查人员就可以亲眼“看到”难以捕捉的vocs污染物。也就是说，检查人员通过现场摄像排查，可以轻松发现泄漏排放的vocs物质，准确识别排放源。vocs检测红外热像仪的出现进一步强化了科技化装备在vocs监管方面的运用，以“走航监测普查+红外探测详查”的结合方式，准确高效锁定vocs排放问题，为打赢蓝天保卫战提供有力支撑。远距离观测储罐气体泄漏使用红外热像对泄漏点源进行探测分析，执法效能将大幅度提升。例如在储油库，专业人员用红外vocs检漏仪对十几米高的储油罐顶部呼吸阀、泡沫发生器等vocs易泄漏位置进行扫描探测，肉眼看不见的气体泄漏在仪器显示屏里“浓烟滚滚”，仅用十几分钟就锁定了全部泄漏点位。flir GF系列专职人员曹经理flir gf系列热像仪夜查vocs污染物vocs检测“专家”——flir gf系列flir gf系列能够检测天然气生产和使用过程中排放的挥发性有机化合物（vocs）。借助这款光学气体热像仪，检查员能够检查数千个部件并且实时检测潜在气体泄漏。flir gf系列热像仪质量轻盈，配有取景器和液晶显示器，可直接访问控制装置，嵌入的gps数据有助于为环保检查提供定位依据。flir gf系列热像仪操作简便flir gf系列热像仪作为vocs检测红外热像仪中的首创者，具有出色的分辨率、热灵敏度和高灵敏度模式，使您能够可视化泄漏，以便查明排放物的准确来源并立即开始维修。此外，flir gf系列热像仪还能精确测量温度，使您能够注意到温差并提高视觉对比度，以进行更好的气体泄漏检测。flir gf系列记录洗手液酒精挥发的情况flir gf系列热像仪到底能检测到多细微的泄漏，通过上则视频可以看出：手上涂抹免洗洗手液，酒精挥发的情况都能够被flir gf系列热像仪记录下来！flir gf系列气体红外热像仪还可以用于企业ldar（气体泄漏修复与检测业务），对不可达点进行检测，并保存视频。也可用于企业的日常巡检，发现气体泄漏，保障企业生产安全。既响应国家的vocs环保法规政策，又增强企业的生产安全。

2022年正式开启新年伊始，万象更新元旦小长假已结束2022年已正式开启啦~今天小菲给大家公布一个重磅消息Teledyne FLIR主推产品：FLIR E76/E96＆FLIR T560/T865为什么它们能有如此牌面？且听小菲为你一一道来可测1000℃：FLIR E76FLIR E76具有较宽的测温量程，为–20°C到1000°C，还配备激光辅助自动对焦、自动GPS图像标记和3个区域测量框等进阶功能。其通过一系列可互换的AutoCal™ 镜头，提供对不同距离目标的全面覆盖，视野范围包括以广角方式检查屋顶，以及在安全距离外进行电气检查。超高分辨率：FLIR E96FLIR E96是一款具有640×480高红外分辨率的热像仪，配有智能自标定镜头（FLIR AutoCal™ ），镜头可在不同热成像仪主机间自动适配、自标定互换使用，无需送修标定，有助于热像仪始终获取高质量的热图像和精确测温，让检查人员可以在安全位置测量高压、危险目标，并快速诊断电气和机械故障。（PS：这款产品正在参与免费试用活动哦~）更多产品详情戳这里：电气、机械和建筑领域检测又添一员“猛将”——FLIR E96上市啦~检测结果准确：FLIR T560FLIR T560将红外分辨率升级到640×480，可提供多达307,200个非接触温度测量数据，非常适合远距离大范围扫描。结合FLIR独特的图像处理方法UltraMax（超级放大）技术，提升至1280×960，搭配FLIR专利技术MSX(专利号：201380073584.9）和专有自适应滤波算法，图像清晰度，让您能看清更多细节，获得更准确的测量数据。这款热像仪还内置先进的测量工具（如单触式电平/跨度），采用激光辅助自动对焦以及激光测距等技术，使您每次都能记录精确的温度测量结果。更多产品详情戳这里：新品FLIR T560——配备专业图像处理技术，让你看清更多细节！户外高质量远距离检测：FLIR T865FLIR T865红外热像仪搭载全新目镜取景器，让您在任何情况下都不受太阳眩光干扰！结合6°视场角的红外镜头6°选件，可从远距离对较小的目标进行检查，保障使用者的人身安全。它还具有640X480像素的红外图像分辨率，–40°C到2000°C的测温量程，测温精度高达±1°C/±1%，加上一键电平/跨度对比度增强，以及激光辅助自动对焦等高级功能，为您保证每次温度测量都能获得准确的结果。强大性能的FLIR T865还可用于严苛的科研工作，它为科研领域提供了极大的灵活性和便携性，收集有意义的红外数据，无论是手持式或固定式配置，可选的微距模式允许您快速从广角切换到微距分析，无需更换镜头。更多产品详情戳这里：远离烈日，FLIR T800让你躲在阴凉处也能高效完成工作！以上四款产品均可搭载FLIR智能化巡检软件（FLIR Inspection Route），该软件是专为需要定期检测大量目标物体的热像师设计，当电力工程师们需要对户外电气设备、室内设备检测、电缆线架、配电母线等进行大型巡检时，可以通过FLIR Route Creator编写巡检规划方案，然后下载到FLIR产品中，这样就可以按需规划好每天的巡检计划，优化巡检路线，还可以成批分类管理检查结果，极大简化了热像工程师们后续的工作流程！这四款“高精尖”FLIR红外热像仪作为Teledyne FLIR目前的主推款我们已经做好了各项准备想要带走它们的小伙伴可直接联系我们订购我们将按顺序立即安排供货数量有限，先到先得哦~新品免费试用目前，Teledyne FLIR正在进行一场2021年终新品免费试用的活动，无论是FLIR A50/A70研发套件，还是FLIR A50/A70图像流/智能传感器热像仪，亦或是FLIR Si124-PD:局部放电检测声像仪，还有FLIR Si124-LD:压缩空气泄漏检测声像仪，以及FLIR E96 高级热像仪都在此次活动当中哦~当然如果您想试用其他产品，小菲也会尽量满足您的需求！所以，小伙伴们赶紧联系我们，我们将安排专人上门为您演示！填好资料，坐等上门演示

FLIR T865高性能手持式红外热像仪能让用户安全、舒适地评估公用事业和制造应用场景中关键电气和机械设备的状况。选择这款热像仪，您能获得哪些优势呢？一起来瞧瞧~1匹配多镜头，保障安全FLIR T865可以配备FlexView双视场镜头，“1个镜头可拥有2种场景”，瞬间从广域视场切换到长焦视场，无需更换镜头。用户在远距离和近距离检测中都能获得优质的热图像，同时还能保障用户和热像仪的安全。T865还能搭配6°超长焦镜头，从远距离对较小的目标进行检查，最大程度地保护使用者的人身安全，降低风险。24度广域视场14度长焦视场2自动调节，快速检测FLIR T865可以实现一键式电平/跨度区域调节，使您只需单触屏幕一次，就可以在热图像中选择出特定的聚焦区域，热像仪会根据图像中该位置的热对比度，自动调节电平和跨度，再加上精准激光辅助自动对焦等智能功能，不仅能快速检测，还能确保热像仪每次都能准确测温！一键式电平/跨度区域调节，问题区域更明显3外观设计合理，使用舒适FLIR T865搭载全新目镜取景器，您无论处在室内还是室外，在任何亮度、光照环境下，都能做到不受太阳眩光干扰，让您可以安全舒适地开展工作！T865还配备符合人体工学的180°旋转LCD屏幕，可以让您安全舒适地评估设备的状况。4参数优秀，满足各种需求FLIR T865最低可测得-40℃，最高可测2,000°C，其测温精度高达±1°C/±1%（限定范围)，红外分辨率高达640*480，让你能够看清故障细节，精准定位，轻松快速地做出最正确的决策！这样无论是大型电厂的复杂巡检，还是钢铁、化工行业的高温检测，它都能满足检测需求！5搭配专业软件，一键报告FLIR T865配套FLIR Thermal Studio专业红外分析和报告软件，用户可选用合适的模板，一键生成专业报告，节省后续整理检测结果的时间。您还可以选择使用FLIR巡检选项功能，提前编写巡检规划方案，能避免漏检或工作失误的出现，大大提高了工作效率。FLIR T865高级红外热像仪集合了菲力尔最前沿的技术能为菲粉们的检测工作提供强大助力

10月27日，每日科学网报道称，英国南安普敦大学教授研制的一种仪器，可以监测海底天然气管道的泄漏。　　这种仪器通过监测声波信号的变化，来监测海底天然气管道泄漏和甲烷气体泄漏情况。　　该仪器依赖水听器系统，能仔细探测到海洋中的气泡。仪器研发者——南安普敦大学教授雷顿称之为海底听水器。雷顿说：“如果你仔细听气泡产生的声音，特别是气泡声的具体幅度和频率，你可以预测所产生的气泡数量和大小。我们一直在关注气体从管道中泄漏再进入海水中的过程。”这种仪器通过使用一个水下麦克风来监测变化，并形成一个具有成本优势、独特的监测系统。该仪器的灵敏性是现有监测器的100倍以上。现有监测器主要是远程长距离监测海底管道的电流监测器。　　雷顿说，新仪器可为天然气开发商和运输商减少数百万元的损失。天然气泄漏对于附近的石油钻井平台、船运都将带来严重威胁。新仪器可以使人们远距离监控海底管道情况，并尽可能减少天然气的泄漏。这既适用于石化行业，又适用于海底释放的甲烷气体。　　雷顿认为，新仪器售价能达到1万英镑。它有望安装在海底管道沿线。这种仪器能监测到水下数平方公里的动静。一旦有气体泄漏，它就马上发出警报。新仪器将实现远程监控，同时能控制气体的泄漏量。

FLIR（菲力尔）公司成立历史悠久，拥有73年的红外热像仪生产历史，并率先在2005年推出VOCs红外热像仪。VOCs红外热像仪可以快速发现挥发性有机物的泄漏以及违规排放，可用于现场挥发性有机物的监管，大大增强检测人员精准发现VOCs问题的能力，提高挥发性有机物监测执法装备水平。为了提升用户体验近日，菲力尔宣布推出G系列VOCs红外热像仪其可帮助环境执法人员、企业检测人员快速发现VOCs排放和泄漏非常适合生态环境部门、石油化工等相关行业VOCs红外热像仪的作用根据传统检测方法，当需要检测VOCs的微小泄漏及远距离泄漏时，浓度判定主要凭借经验判断、依靠鼻子来闻VOCs污染物，既危险又不准确，因此监管难度很大。幸好，随着科学技术的进步，VOCs红外热像仪应运而生。VOCs红外热像仪将VOCs可视化为黑色的烟雾，远距离就可快速发现挥发性气体有机物的泄漏以及违规排放，找到排放源，尤其适合高架源。有了VOCs红外热像仪，检查人员就可以亲眼“看到”难以捕捉的VOCs污染物。也就是说，检查人员通过现场摄像排查，可以轻松发现泄漏排放的VOCs物质，精准识别排放源。VOCs红外热像仪的出现进一步强化了科技化装备在VOCs监管方面的运用，以“走航监测普查+红外探测详查”的结合方式，精准高效锁定VOCs排放问题，为打赢蓝天保卫战提供有力支撑。使用VOCs红外热像仪对泄漏点源进行探测分析，执法效能将大幅度提升。例如在储油库，专业人员用VOCs红外热像仪对十几米高的储油罐顶部呼吸阀、泡沫发生器等VOCs易泄漏位置进行扫描探测，肉眼看不见的气体泄漏在仪器显示屏里“浓烟滚滚”，仅用十几分钟就锁定了全部泄漏点位。全新FLIR G系列VOCs红外热像仪中，FLIR G620、GFx320和Gx620三个型号可用于检测和准确量化油气行业中的碳氢化合物、易挥发气体和其他挥发性有机化合物 (VOCs) 排放情况。热像仪集成了量化功能，用户可将排放测量功能无缝融合到日常泄漏检测和维修工作流程当中，因此开展检测工作时无需另外携带一台辅助设备。此外，全新FLIR G系列VOCs红外热像仪通过了ATEX认证，其灵敏度符合OOOOa标准，同时还配备了旋转式人体工学触摸屏，确保专业人员能更安全、更高效地完成工作。为提高用户体验，全新FLIR G系列VOCs红外热像仪还有很多符合人体工学的设计，比如可旋转手柄、可旋转目镜、可旋转式4英寸液晶触摸屏（方便现场为保存视频注释）等，不仅极大提升了用户使用感受，还大幅提升了现场作业效率，妥妥滴从用户角度出发设计！全新FLIR G系列VOCs红外热像仪具有出色的分辨率、热灵敏度和高灵敏度模式，使您能够可视化气体泄漏，以便查明排放物的准确来源并量化泄漏数据，旨在帮助用户腾出时间、集中开展泄漏维修工作，减少泄漏点记录时间，加深对排放严重性的认识。全新FLIR G系列VOCs红外热像仪还可以用于企业LDAR（气体泄漏修复与检测业务），对不可达点进行检测，并保存分享视频。也可用于企业的日常巡检，发现气体泄漏，保障企业生产安全。既响应了国家的VOCs环保法规政策，又增强了企业的生产安全，是泄漏检测和维修 (LDAR) 专业人员的不错选择！减少有害气体的排放不仅是企业的职责也是实现碳中和发展的必经之路在工作中有哪些VOCs污染物泄漏检测的难点？

今年的天气特别反常，尤其是南方大部分地区甚至出现了40度以上的极端高温，很多地方出现了大规模停电，这给供电安全带来了很大的压力。在这种桑拿天里，经常出去抢修是家常便饭，串户线烧了、用户表记烧了、变压器开关烧了等等，在这种出去分分钟就会被晒成二维码的天气里，基层电力工人必须得出去抢修。长衣长袖、密不透风的安全帽，还要戴上厚厚的手套，因为电杆上、变压器上、各种器具上的温度远远不止40℃。他们上面的温度可能达到了70℃、80℃，上面非常烫，稍不注意就会烫伤皮肤。如果借助一款电力检测工具电力工人们可以免于接触设备只需一扫就能发现故障电力工人们会不会少受点罪？随着科技的进步，电力行业成为应用红外热像仪最早、最成熟和最稳定的工业领域之一，发展至今红外热像仪已成为电力设备监测、普查、及时发现隐患、及时抢修、杜绝恶性突发性设备事故的一种重要辅助手段！非接触预防性检测，避免停机风险在电力系统中，从发电厂到电力使用的各个阶段，需要检测的设备非常多，任何一个环节出现问题，都可能造成整个供电系统的瘫痪。为全面确保用电的正常运行，电力工人们在常规检测工作中引入了红外热成像技术，这样能够轻松检测和监控电力设备外表面的温度分布。FLIR T800系列热像仪采用倾斜式光学设计，支持非接触检测方法，它是单触式电平/跨度，电力工人们只需单触屏幕一次，就可以在热图像中选择出小片的聚焦区域，再加上精准激光辅助自动对焦等高级功能，用户可以快速精准获得设备的热图像细节，从而提前发现异常过热设备，及时采取抢修措施。不惧炫光，检测安全还准确烈日下检修大型电力设备，电力工人们除了要忍受高温暴晒，还有遭受太阳眩光对检修工具准确度的干扰，同时，供电系统的大型设备也存在一定的危险性，为了保障电力检测人员的安全，应该选择一款在安全距离范围内也能准确检测危险电力设备的工具。FLIR T800系列热像仪搭载全新目镜取景器，使您无论处在室内还是室外，在任何亮度、光照环境下，都能做到不受太阳眩光干扰！其兼容可互换AutoCal智能自标定镜头，可完全覆盖近距离和远距离的目标，满足精确测温的要求。FLIR T800还可搭载最新推出的FlexView双视场镜头，“1个镜头可拥有2种场景”，瞬间从广域视场切换到长焦视场，无需更换镜头。操作人员无需增加负重，就可获得流畅的操作体验，并大大减少现场更换镜头调试的时间，提高检测效率和准确性，在远距离和近距离检测中都能获得优质的热图像，同时还能保障用户和热像仪的安全。有序巡检，避免重复工作电力巡检工作庞杂又繁重，如果不做好规划，非常容易出现重复检修、漏检、错检等失误。幸好FLIR T800系列热像仪搭配FLIR巡检选项功能，可对户外电气设备、室内设备、电缆线架、配电母线等大型设备，提前编写巡检规划方案，这样电工们就可以按规划做好每天的巡检工作，避免加班或工作失误的出现。功能强悍的FLIR T800系列热像仪在电力行业的应用十分广泛目前其正有“线上云体验，线下享试用”的活动

春天美好又短暂随着各地气温的急剧上升很多地方开始“一秒入夏”因此阳光开始热烈又刺眼给室外的巡检工作带来很大的不便光线太刺眼？机器拍不清？检测环境太恶劣？今天小菲就给大家介绍一款热像仪帮你解决上述所有问题FLIR T800系列热像仪FLIR T800系列热像仪采用倾斜式光学设计，支持非接触检测方法，简单易用，配备180°旋转聚光装置，可以让您安全舒适地评估关键电气和机械设备的状况。目前T800系列热像仪包含T865\T860\T840三款型号。div class="poster_cover" style="margin: 0px padding: 0px outline: 0px text-align: center position: absolute overflow: hidden left: 0px top: 0px z-index: 7 width: 600px height: 338px background-image: url(" wx_fmt="jpeg") " background-size:="" background-position:="" background-repeat:="" max-width:="" unset="" box-sizing:="" overflow-wrap:=""，时长01:35FLIR T800视频详细解析01不惧烈日炫光，想在哪拍在哪拍全新目镜取景器FLIR T800系列热像仪搭载全新目镜取景器，使您无论处在室内还是室外，在任何亮度、光照环境下，都能做到不受太阳眩光干扰！因此，即使在阳光最充足的中午，您也可以使用FLIR T800系列热像仪安全、舒适地对目标设备进行评估监测，以防止器件在作业中突然发生故障，早发现早补救，避免企业出现代价过于高昂的故障，从而为企业节省更多资源和成本！02延伸你的眼，想拍多远拍多远6°长焦镜头FLIR T800系列热像仪搭配了6°长焦镜头选件，让用户可以在安全距离范围内拍摄较远且危险的设备，保护使用者的人身安全，降低风险。由于增长了焦距，FLIR T800可一键观测远处更小的目标被测物，安全又便捷！不同镜头下的检测结果红外分辨率高达640*480的FLIR T800让检测结果的细节更加清晰明了，直观点说就是让同一区域的检测目标增加了像素点☟同一区域，更多细节03无需人工对焦，想拍多少拍多少激光辅助自动对焦+FLIR巡检选项功能FLIR T800系列热像仪是单触式电平/跨度，使您只需单触屏幕一次，就可以在热图像中选择出小片的聚焦区域，而且热像仪还会根据图像中该位置的热对比度，自动调节电平和跨度，再加上激光辅助自动对焦等高级功能，不仅节约了手动调节的时间，还能确保热像仪每次都能准确测温。FLIR巡检选项（FLIR Inspection Route）功能是专为需要定期检测大量目标物体的热像师设计，当电力工程师们需要对户外电气设备、室内设备检测、电缆线架、配电母线等进行大型巡检时，可以通过FLIR Route Creator编写巡检规划方案，然后下载到FLIR T800系列热像仪中，这样就可以按需规划好每天的巡检计划，优化巡检路线，即使拍摄了大量热图像，也可以成批分类管理检查结果，极大简化了热像工程师们后续的工作流程！除了可以检测户外电气设备、屋顶系统、工业生产制造等，FLIR T800系列热像仪中的FLIR T865还可用于严苛的科研工作，其拥有非常宽的测温范围，可测-40°C，可测2,000°C，测温精度高达±1°C/±1%，这样即使检测温度跨度很大，也不怕看不清故障的细节，FLIR T865还兼容可互换AutoCal™ 智能自标定镜头，既可用42°广角镜头轻松扫描宽广区域，也可用6°远摄镜头检查远距离目标，当然对于一般距离的检测目标，它还有14°镜头可选，为科研领域提供了极大的灵活性和便携性。想要详细了解这款产品的小伙伴进入“菲力尔”微信公众号搜索：FLIR T865智能高端手持式热像仪，热像师的“好帮手”FLIR T800非常适合电力和制造行业将其纳入状态监测/预防性维护方案有助于企业降低维护成本提高系统效率和可靠性防止停电造成生产损失和意外停机其中高性能的FLIR T865还可用于科研领域

近日，中国科学技术大学潘建伟院士团队实现超过200公里的远距离单光子三维成像，首次将成像距离从十公里突破到百公里量级，为远距离目标识别、对地观测等领域的应用开辟了新道路。该成果日期在国际学术期刊《光学》发表。如何“看得更远、看得更清”是人类对视觉感知的不懈追求。近年来发展的激光雷达成像技术能够对目标场景进行高精度三维成像。单光子成像雷达作为一种具有单光子级探测灵敏度和皮秒级时间分辨率的新兴激光雷达成像技术，是实现远距离光学成像的理想方案。然而，如何实现远距离单光子成像雷达，是该领域的研究热点。科研团队经过长期攻关，发展了单像素单光子成像算法等核心技术，2019年在城市环境中实现了距离达45公里的单光子三维成像，突破了由英国哈利瓦特大学保持的最远距离纪录（10公里）。在此基础上，研究团队通过进一步技术突破，将成像距离拓展到201.5公里，成像灵敏度达到平均每个像素0.4个信号光子。为了实现百公里单光子成像，研究团队搭建了全新的单光子雷达系统，并发展了针对远距离成像的多项新技术。基于此单光子雷达系统，研究人员在新疆的高山上对百公里外的多个目标进行三维成像，并测试了单光子计算成像算法；结果显示该系统可以在200公里范围内进行精确的三维成像，成像灵敏度达到单像素单光子。据介绍，该研究工作对于面向低功耗、高分辨率等实用化需求的远距离激光雷达研究具有重要应用价值。

六类新品在上月已隆重上市菲粉们是不是已经关注许久了呢你最想了解哪一款？今天小菲就先来详细解说下新款高清红外热像仪——FLIR T1010FLIR T1010高清红外热像仪拥有出色的测温范围（-40℃至+650℃），高达310万像素的分辨率（采用UltraMax技术）以及现代、直观的图形用户界面，全面优化工作流程，可协助用户大幅提高工作效率。高清图片，捕获更多细节FLIR T1010利用FLIR Vision Processing™ 的强大功能，可提供具有极少噪点、细节丰富、细腻的图像。★ FLIR T1010搭载的1024×768探测器是FLIR手持式热像仪中的Max分辨率；★ 借助FLIR Vision Processing™ 将高清分辨率、MSX和UltraMax图像增强技术与FLIR的专利型自适应滤波算法相结合，可生成达310万像素的明亮清晰的热图像；★ 灵敏度较高，能够检测到小至25mK的温差，从而生成清晰的低噪点图像，让您能在检测期间捕捉更多细节，避免遗漏任何潜在问题。卓越性能，让检查更轻松FLIR T1010与FLIR OSX™ Precision HDIR光学器件相配合，将以精度测量温度，拍摄出色的图像质量，让您无论从哪个角度、多远距离，都能获得准确的温度读数，助您轻松排查设备故障。★ FLIR T1010支持1～8倍连续数字变焦，还可通过USB辐射视频录制，通过实时图像增强（单触式电平/跨度区域调节）等功能在热像仪里调整图像，改善测量值；★ 搭配UltraMax™ （超级放大）增强测量精度，提升了距离系数比，借助FLIR高保真OSX精密型HDIR镜头，可远距离精确定位微小的温度异常问题，还可以适配多种镜头，满足更多的应用场景。专业设计，尺寸紧凑易使用FLIR T1010配有坚固紧凑的框架和120°旋转式聚光装置，可将目标置于舒适的可视范围内。加上响应迅速的新型用户界面，先进的报告软件，均可全面助您提高工作效率。★ FLIR T1010配备了4个可编程按钮、敏捷的图形用户界面可轻松浏览屏幕，设置工作文件夹等；★ 使用随附的FLIR Thermal Studio Pro软件可轻松分析红外图像，及时报告发现结果，T1010配备机载路线检测模式，因此您可以从FLIR Thermal Studio Pro（带Route Creator插件）下载调查计划并在您的热像仪上运行。FLIR T1010高清红外热像仪凭借FLIR目前能达到的最清晰的图像最真实的温度灵活性成为了热成像专家的工具

上周给大家介绍了选择研发热像仪前需要考虑的前两点因素今天我们接着来学习后边的内容3测量目标的大小和距离？为了在目标物体上获得高质量的热成像画面效果和大多数被测量物测量点的准确温度读数，您应该尽可能选择一个将目标物体占满热像图视野的镜头。同时，您还需要优化空间分辨率，以确保需要查看的最小目标物体的细节与瞬时视场角。空间分辨率空间分辨率与瞬时视场角（IFOV：一个像素所能覆盖的视场角范围）相同，两者都是可以在目标上检测到的最小物理细节，并且基于单个热像仪（检测器）像素覆盖的最小区域。离物体越近，像素检测到的区域越小。当您移动得更远时，单个像素会覆盖更大的目标区域。通常来说，一个像素能够显示热像图中的最小分辨率，但是要准确测温，则需要至少3*3个像素。被测物体将热像仪中点测温的小圆圈或者小方框完全覆盖，方能准确测温。视场角和瞬时视场角视场角（FOV）你会注意到，当你从更远的地方观察物体时，视野也会发生变化。类似于空间分辨率，这意味着从远处成像时，目标上被分配的像素比从近处成像时所分配到的像素少。理想情况下，您希望目标物体占满视野，但有时这是不可能的，因为过度靠近被测物体，可能对热像仪操作员造成潜在的危险确定了所需的视场角和空间分辨率后，您可以根据需求选择最佳镜头或镜头组。手工确定这些值所需的数学运算可能令人望而生畏，因此FLIR开发了一个免费的在线视场角计算器来帮助您完成这一过程（具体使用说明请点击“阅读原文”）。使用在线工具时，只需输入目标物体大小、热像仪镜头到目标的距离和选择不同度数的镜头。计算器就将计算目标物体的视场角、空间分辨率和像素数，让镜头选择过程更简单。4哪种检测器最适合应用？在上周文中我们解释了温度测量灵敏度是如何根据红外热像仪的探测器类型而变化的。另外需要考虑的一点是，不同的探测器技术可以感知不同波长或波段的红外能量。根据您的应用，红外热像仪感知能量的波段会对测量结果产生重大影响。这是典型的大气在不同波段红外能量的透射率曲线，根据该图，在7.5微米至13.0微米和3.0微米至5.0微米的波段大气中有良好的红外透射。因此，如果您的应用程序要求您在大气中进行远距离观察，那么选择在这些高透射率波段的窗口中运行的探测器是最佳选择。类似的想法也适用于其他需要查看或浏览材料的应用。例如，如果你想测量灯泡灯丝的温度怎么办？要做到这一点，你需要透过灯泡的外层玻璃进行观察。通过观察灯泡玻璃的传输曲线，你会看到一个允许红外有高透射率的光谱窗口。要透过玻璃观察并测量灯丝，需要一台能感应3.0μm至4.1μm波段的热像仪。灯泡玻璃的透射曲线示例下图显示了当您通过热像仪观察灯泡时发生的情况，热像仪可以感知玻璃高透射率窗口内的情况。由于热像仪是3.0- 5.0μm InSb探测器，因此，借助InSb探测器您可以精确地测量灯泡灯丝的温度。带有InSb探测器（3.0µm至5.0微米）和4.1µm滤光片的灯泡的热成像图像另一方面，下图演示了在玻璃璃高透射率窗口外操作的带有热像仪的灯泡所发生的情况。试图使用7.5-13.0μm微测辐射热计热像仪测量灯丝，反而会导致只能测量灯泡表面的玻璃温度。带有微测辐射热计检测器的灯泡的热成像图像（7.5µm至13.0µm）总之，对于某些应用，通过查阅材料可能会根据其独特的光谱波段响应引导您找到特定的探测器。叮叮叮，学习时间结束下周小菲撰写终结篇（记得来看哦~）您也可以点击微信公众号底部菜单栏关于FLIR：报名参加ITC红外培训系统学习热成像技术和热像仪相关知识在这里不仅可以找到志同道合的伙伴还能获得经验丰富的导师手把手教学哦

“TESCAN电镜学堂”又跟大家见面了，利用扫描电镜观察样品时会关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性以及其他分析的需要等等，不同的关注点之间需要不同的拍摄条件，有时甚至相互矛盾。今天主要谈一谈电镜拍摄时工作距离的选择。 这里是TESCAN电镜学堂第11期，将继续为大家连载《扫描电子显微镜及微区分析技术》(本书简介请至文末查看)，帮助广大电镜工作者深入了解电镜相关技术的原理、结构以及最新发展状况，将电镜在材料研究中发挥出更加优秀的性能！ 第三节 常规拍摄需要注意的问题 平时电镜使用者都进行常规样品的观察，常规样品不像分辨率标准样品那么理想，样品比较复杂，而且有时候关注点并不相同。因此我们要根据样品类型以及所关注的问题选择合适的电镜条件。 关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其它分析的需要等等，不同的关注点之间需要不同的电镜条件，有时甚至相互矛盾。因此我们必须明确拍摄目的，寻找最适合的电镜条件，而不是贸然的追求大倍数。 电镜的工作条件包括很多，加速电压、束流束斑、工作距离、光阑大小、明暗对比度、探测器的选择等。本期将为大家介绍工作距离的影响。 §3. 工作距离的影响① 分辨率由前面的束斑尺寸公式我们就已经得知，不管任何电镜、任何电压束流条件，都是工作距离越近，分辨率越好。不过工作距离越近，操作越危险，需要操作者较为小心，避免试样碰撞极靴。而且工作距离越近，试样允许的倾转角度也受到更大的限制。② 景深除了分辨率外，有时候景深也是电镜图片非常重要的因素，特别是当倍数较大时，景深会大幅度缩小，试样稍有起伏则不能全部聚焦清楚。 景深有如下公式可以表示： 其中M为放大倍数、D为工作距离、d为电子束直径、α为光阑孔径。TESCAN所有的电镜都可以从软件中读取当前工作条件下的景深，如图5-27。 图5-27 TESCAN软件直接读取景深 从景深公式中我们可以知道，影响景深的几个工作参数： 工作距离越大，景深越大；加速电压越大，电子束直径越小，景深越大；束流越小，电子束直径越小，景深越大；光阑孔径越小，景深越大；放大倍数越小，景深越大。 另外，TESCAN电镜具有独特的景深模式，通过中间镜和物镜的聚焦配合，能够增加高倍数下的景深。此外，无磁场模式的景深要好于磁浸没式。 图5-28是不同距离下的景深效果，可以明显的看出长工作距离下的景深优于短工作距离，但是工作距离过长会导致分辨率的下降。 图5-28 工作距离对景深的影响③ 衬度与工作距离的影响 对背散射电子来说，工作距离还会引起衬度的不同。工作距离较远时，极靴下背散射电子探测器的接收立体角较小，相对接收更高角的背散射电子信号；距离较近时，立体角变大，可以接收更多的低角背散射电子信号。图5-29，试样是抛光的金属镍，测试了不同区域的灰度值，可以发现工作距离较近时，不同的晶粒的灰度值相差更大，通道衬度更好。 图5-29 工作距离与背散射电子衬度④ 物镜模式和附件的要求 采用半磁浸没式物镜时（MAIA的Depth或Resolution模式），需要较近的工作距离。半浸没式物镜的磁场仅在物镜附近，工作距离远了磁场不能将试样表面包住，使得电子束不能很好的聚焦到试样表面。因此在这种工作模式下，工作距离最好小于7mm。如果插入了极靴下背散射电子探测器，由于探测器本身具有一定的厚度，所以工作距离也不能太近，否则会撞上探测器。插入极靴下背散射探测器的情况下，工作距离要大于6mm。如果工作距离更近了，可以拔出极靴下背散射探测器，改用镜筒内背散射电子探测器进行观察。在使用减速模式或者镜筒内二次电子探测器时，也需要相对较小的工作距离。 电镜的其它附件，比如EDS/WDS，由于这些附件自带准直器，需要有特定的工作距离，不在此工作距离下，附件会因为没有信号而不能正常工作。 福利时间每期文章末尾小编都会设置1个问题，大家可以在留言区自由作答，每期在答对的朋友中我们会选出点赞数最高的两位送出本书的印刷版。【本期问题】工作距离对背散射电子成像会有怎样的影响？（快去留言区回答问题领取奖品吧↓）奖品公布上期获奖的两位用户@Yuki@Organometallics，请在3个工作日内后台私信小编邮寄地址，我们会在收到您的信息并核实后即刻寄出奖品。电镜学堂“有奖问答”奖品 (印刷版书籍1本)简介《扫描电子显微镜及微区分析技术》是由业内资深的技术专家李威老师（原上海交通大学扫描电镜专家，现任TESCAN技术专家）、焦汇胜博士（英国伯明翰大学材料科学博士，现任TESCAN技术专家）、李香庭教授（电子探针领域专家，兼任全国微束分析标委会委员、上海电镜学会理事）编著，并于2015年由东北师范大学出版社出版发行。本书编者都是非常资深的电镜工作者，在科研领域工作多年，李香庭教授在电子探针领域有几十年的工作经验，对扫描电子显微镜、能谱和波谱分析都有很深的造诣，本教材从实战的角度出发编写，希望能够帮助到广大电镜工作者，特别是广泛的TESCAN客户。↓ 往期课程，请戳以下文字或点击阅读原文：电镜学堂丨扫描电子显微镜的基本原理(一) - 电子与试样的相互作用电镜学堂丨扫描电子显微镜的基本原理(二) - 像衬度形成原理电镜学堂丨扫描电子显微镜的基本原理(三) - 荷电效应电镜学堂丨扫描电子显微镜的结构(一) - 电子光学系统电镜学堂丨扫描电子显微镜的结构(二) - 探测器系统电镜学堂丨扫描电子显微镜样品要求及制备 (一) - 常规样品制备统电镜学堂丨扫描电子显微镜样品要求及制备 (二) - 特殊试样处理&试样放置 电镜学堂丨扫描电镜的基本操作 & 分辨率指标详解电镜学堂丨电镜操作之如何巧妙选择加速电压？电镜学堂丨电镜使用中，如何选择合适的束斑束流？ 更多详情内容请关注“TESCAN公司”微信公众号查看

仪器信息网讯 近日，优利德发布新品UTx318M便携型红外热成像望远镜，该产品是一款集红外热成像及远距离探测功能于一体的热成像望远镜，具有成像高清、细节清晰、轻巧便携、耐用性强、操作简单等特点。同时，它还具有概率测距、激光指示、热点追踪及电子罗盘等多项实用功能，能帮助用户快速确认目标所在位置，是户外探险、野外观瞄和搜索救援等户外体验活动时不可或缺的利器。【产品主要特点】成像清晰，400×300红外分辨率及手动调焦功能，细节提升成像清晰图像。热敏感度（NETD）＜25mK，目标更清晰，可识别多种细节。50Hz高帧频灵敏流畅，舒适高质量的移动目标检测体验、动态画面捕捉不延迟。8倍电子变倍调节，可实现1×、2×、4×、8×变倍模式选择，利于远距离观测，放大目标细节查看。IP67三防设计，利于在有粉尘环境及雨天导致机身潮湿使用时保护产品不受侵害，及两米高度跌落无影响。三种场景模式选择，观测更“专业”，包括观鸟模式（针对较小热源发现目标，能更清晰的识别被观察目标的特征）、森林模式（针对山野丛林场景凸显目标，在有树叶、灌木和草的田野环境中进行搜索和观察的最佳模式）及岩石模式（针对目标丰富场景细节更多，在晴天或城市环境中观察目标的最佳模式）。【产品优势】户外探险，突破视界的极限UTx318M不受光线条件限制，能在黑暗或昏暗的环境中准确地探测、显示并分析周围环境中的热量分布。无论是在蔓延的丛林、险峻的山脉，还是在野外露营时，它都能帮助用户发现隐藏在黑暗中的动植物、隐蔽的道路或是其他潜在危险，为户外探险开启探索未知世界的新大门。野外观瞄，捕捉瞬间的精彩UTx318M拥有400×300红外分辨率、低于25mK热灵敏度，配合50Hz高帧频，能够实现敏捷的成像反应，产生清晰、细节出色的图像，且画面无延迟、无重影。无论是观察野生动物、观赏鸟类、观看比赛还是观测自然景观，UTx318M都能准确捕捉每一个精彩细节，让用户在观瞄过程中不错过任何一个精彩瞬间。搜索救援，保障安全的得力助手当遇到人员走失的情况时，UTx318M可第一时间用于人员搜救。其2米防摔、IP65防护性能，使其能够在各种严苛、恶劣的环境中使用。即使在全黑或视线不佳的情况下，UTx318M也能够快速进行搜索并定位目标，为救援行动提供重要支援。此外，UTx318M还具有8倍电子变倍调节功能，利于远距离观测时放大目标、细节查看。它还支持超高清拍照、录像和存储，可通过外接屏幕进行视频输出，以及通过手机APP连接WiFi进行观测。无论是追求卓越成像质量的户外发烧友，还是需要应对严苛恶劣环境的搜救专业人员，或是注重坚固耐用品质的安全巡视员，UTx318M都可以全方位满足用户的需求。【产品技术指标】型号UTx318M探测器模式非制冷氧化钒语言简体中文、英文红外分辨率400×300拍照√红外响应波段8-14μm视频录像√像元尺寸12μm屏幕亮度调节√帧频50Hz电子罗盘√热灵敏度/NETD＜25mK概率测距√镜头18mm热点追踪√光圈F1.0画中画√FOV14.6°(H)×11°(V)WIFI照片下载√调焦模式手动调焦WIFI视频直播√最小对焦距离0.3M手机APPIos、Android目镜出瞳距离≥18mm视频输出Type-C接口。可将模拟信号外接到显示器屈光度调节-4D~+5D自动关机关闭、5min、15min、50min显示屏0.39“0LED电池类型8650可充电电池显示分辨率1024×768电池工作时间＞4HR色板铁红、彩虹、红热、黑热、白热工作温度-10℃~50℃数字变倍1×、2×、4×、8×存储温度-20℃~60℃图像模式PNG防护等级IP67视频格式MP4跌落2m激光指示√(Class 2激光，红色)认证RoHS，CE，UKCA，FCC存储内部储存，16GB尺寸160×71.5×38.5mm数据接口Type-C USB重量357g【产品应用】户外露营：红外夜视设备可以帮助露营者在夜间更好地观察周围环境。航海：观察地形变化，提前规划路线，判断附近岛屿是否存在潜在风险。紧急搜救：不受恶劣环境限制，远距离搜索。夜间巡逻：可辅助夜间治安巡逻判断治安环境的安全性。侦察和突袭：可记录和跟踪逃犯的热迹和动向，协助执法人员准确、快速地抓捕逃犯。

VOCs治理可以放松了吗？近日，生态环境部印发实施的《关于加快解决当前挥发性有机物治理突出问题的通知》表明，对于VOCs治理，现在还不能放松，要继续“加快解决”。2015年大气污染防治法首次将VOCs纳入监管范围，目前国家“十四五”规划和2035年远景目标纲要提出：到2025年，VOCs排放总量下降10%以上。VOCs成为继颗粒物、二氧化硫、氮氧化物之后，我国大气污染控制中又一新重点，VOCs检测要迈入深度治理和精细化管理的2.0时代，因此，VOCs检测设备被推上了环保行业大潮的浪尖，你选对设备了吗？VOCs检测红外热像仪的作用根据传统检测方法，当需要检测VOCs的微小泄漏及远距离泄漏时，浓度判定主要凭借经验判断、依靠鼻子来闻VOCs污染物，既危险又不准确，因此监管难度很大。幸好，随着科学技术的进步，VOCs检测红外热像仪应运而生。VOCs检测红外热像仪将VOCs可视化为黑色的烟雾，远距离就可快速发现挥发性气体有机物的泄漏以及违规排放，找到排放源，尤其适合高架源。有了VOCs检测红外热像仪，检查人员就可以亲眼“看到”难以捕捉的VOCs污染物。也就是说，检查人员通过现场摄像排查，可以轻松发现泄漏排放的VOCs物质，识别排放源。VOCs检测红外热像仪的出现进一步强化了科技化装备在VOCs监管方面的运用，以“走航监测普查+红外探测详查”的结合方式，高效锁定VOCs排放问题，为打赢蓝天保卫战提供有力支撑。使用红外热像对泄漏点源进行探测分析，执法效能将大幅度提升。例如在储油库，专业人员用红外VOCs检漏仪对十几米高的储油罐顶部呼吸阀、泡沫发生器等VOCs易泄漏位置进行扫描探测，肉眼看不见的气体泄漏在仪器显示屏里“浓烟滚滚”，仅用十几分钟就锁定了全部泄漏点位。VOCs检测热像仪的“优选”——FLIR GF系列FLIR GF系列能够检测天然气生产和使用过程中排放的挥发性有机化合物（VOCs）。借助这款光学气体热像仪，检查员能够检查数千个部件并且实时检测潜在气体泄漏。FLIR GF系列热像仪质量轻盈，配有取景器和液晶显示器，可直接访问控制装置，嵌入的GPS数据有助于为环保检查提供定位依据。Teledyne FLIR公司成立历史悠久，拥有73年的红外热像仪生产史，是光学气体成像热像仪的发明者，并在2005年推出世界上一台光学气体成像热像仪。FLIR GF系列热像仪作为VOCs检测红外热像仪中的首创者，具有出色的分辨率、热灵敏度和高灵敏度模式，使您能够可视化泄漏，以便查明排放物的准确来源并立即开始维修。此外，FLIR GF系列热像仪还能精确测量温度，使您能够注意到温差并提高视觉对比度，以进行更好的气体泄漏检测。FLIR GF系列热像仪到底能检测到多细微的泄漏，通过下面的视频可以看出：手上涂抹免洗洗手液，酒精挥发的情况都能够被FLIR GF系列热像仪记录下来！FLIR GF系列气体红外热像仪还可以用于企业LDAR（气体泄漏修复与检测业务），对不可达点进行检测，并保存视频。也可用于企业的日常巡检，发现气体泄漏，保障企业生产安全。既响应国家的VOCs环保法规政策，又增强企业的生产安全。

作为一名红外热像师，挑选一款最合适的红外热像仪作为随身工具，首先要考虑的是热像仪的预期用途和计划使用频率。毕竟，用于住宅、商业和工业用途的FLIR红外热像仪的价格从数百到数万美元不等，不同价位产品的性能也有着显著的差异。性价比不错的的FLIR手持式红外热像仪，既可以提供用户所需的功能，价格也在用户的承受范围之内。由于热像仪的规格参数多达数十项，所以在比较FLIR旗下各个系列的热像仪时，了解哪些规格更有参考价值非常重要。今天，小菲为大家总结了四个重要因素：＋分辨率一般来说，红外热像仪的价格越低，分辨率就越低。但即使分辨率较低的热像仪，也能在近距离内有效地检查容易接近的目标，但对于非常小或距离较远的目标，则无法提供足够的视觉细节，不足以为用户提供有意义的参考。＋对焦低端热像仪通常采用固定的焦距，需要用户移动热像仪来拍摄清晰的图像。如果工作需要精确测量，这可能会成为一个问题。无论热像仪的真红外成像分辨率有多高，失焦的图像都意味着无法获取准确的温度测量值。＋视场角（FOV）对于操作中的特写，广角（视场角45°或更高）的镜头将比主要用于远距离工作的长焦镜头（通常视场角为12°或6°）更有用。对于那些同时需要近距离和远距离检测能力的人来说，一台可换镜头的设备可能会更加实用。＋电池电池待机时间、连续工作的使用时间，以及是否可以快速更换电池都是必要的考虑因素。对于那些数周内只需要快速使用一次热像仪的人群，电池方面的考虑因素是待机时间。相反，对于那些需要全天不停地使用热像仪的人群，可能会更看重较长的连续使用时间，以及快速更换电池的能力，这两项让他们能够不受干扰地执行工作。综合考虑到这些因素，小菲为您推荐三款手持式红外热像仪：FLIR E95、FLIR E8-XT和FLIR C5，它们各自具有独特的价格和功能优势，可以作为您确定最贴合自己需求的热像仪时的出发点。全面卓越的FLIR E95由于分辨率通常在给定的热像仪价位中起着作用，因此考虑所需的分辨率类型非常重要，除此之外，还需要考虑热像仪的对焦能力，是否需要在近距离和远距离下检测目标关注点。FLIR E95是分辨率高的手持测温枪式热像仪，其分辨率为640×480像素，更高的像素意味着更多的细节，从而能够在检测各种不同目标时都能获得更加精确的温度测量值。为了充分利用其出色的分辨率，E95提供了一系列可更换镜头，并且具有自动校准和手动对焦的功能。凭借三款可选的FLIR AutoCalTM 镜头，从长焦（14°）到广角（42°），这款热像仪可提供从近到远的全面检测能力。此外，FLIR E95采用高容量的电池，但仍然采用可更换电池设计，在全天使用的情况下确保灵活性。近距离检测的FLIR E8-XT采用与E95相近的手持测温枪式设计，FLIR E8-XT价格相对来说低一点，但更低的价格也对应着更低的分辨率，它是320×240的真红外成像分辨率，并且无法调节焦距。固定的45°镜头提供适合近距离检查的视场角，但无法更换不同的镜头。然而，FLIR E8-XT同样采用可更换电池设计，可以进行座充，这是全天使用的必要条件，同时还提供了从-20℃到550℃的温度范围，适应各种高温检查场合。FLIR E8-XT的局限性使它适用于需要高质量、坚固耐用的手持式热像仪，但不需要进行远距离检查的人群，因为远距离检查需要更窄的长焦镜头以及调整焦距的能力。超高性价比的FLIR C5FLIR C5售价仅为6999元，远低于FLIR E8-XT和FLIR E95。它的真红外成像分辨率为160×120，采用小巧的即用即拍的设计，配备可戴手套操作的触摸屏，同时可轻松放入口袋。尽管体积小巧，但该设备仍然足够坚固，可抵御两米的高度跌落，并可以保护内部元件不受工作场所的灰尘和污垢的侵扰。对于目前使用FLIR ONE Pro的用户而言，FLIR C5是一个非常出色的升级，因为其电池续航时间明显更长（每次充电可连续使用4小时），并且待机最长可达约30天，可在近距离快速、不规则地使用，而且外壳非常坚固，还可连接Wi-Fi网络。挑选适合的FLIR手持式红外热像仪之前你需要先考虑购买的用途和使用频率综合考虑分辨率、对焦、视场角、电池之后选择对自己而言性价比高的FLIR热像仪那么，想好自己的“心中所爱”了吗？

众所周知，电力公司为了能够降低电力供应中断风险（停电和限电等），需要定期巡查变电站的各项设施。由于需要大面积、远距离的监测，传统监测方法已不能满足需要，今天，小菲就用案例来给大家介绍下菲力尔红外热像仪在电力公司的“妙用”！Viper最近与一家大型公共事业公司合作，与变电站共同制定一款针对变电站监测的解决方案，其将为150万的客户服务。传统方法费时费力又危险在合作之前，变电站的工程团队依靠传统人工检查，使用手持式红外热像仪监测设备，但由于时间和人力的限制以及人为错误的可能性，这些传统方法在防止停机方面被证明是无效的。实时监控、及时发现并解决变电站设备的问题，亟需一个好的解决方案。经过初步讨论，Viper和变电站工程师设计出一种创新的便携式系统，能够对突然的变化做出实时响应，在安全有效地工作的同时促进持续的正常运行时间。强强联合，问题全搞定Viper的便携式系统包括两个菲力尔红外热像仪与vipervision软件集成，用于连续监测。除了摄像机功能和集成软件外，变电站工程师和设备测试主管还对设置的方便性和系统的可移植性感到满意。其中，FLIR A300F对变电站可实现在无需人工干预的情况下，在远处7X24小时监测即将发生的设备故障。无论何时红外热像仪检测到超过预定义温度阈值，系统会立即产生报警并向远程操作员发送信号。这些参数可根据具体的应用需要进行调整，并可保存所有数据，用于过程分析和质量控制。监测到温度异常后，再使用高性能红外热像仪——FLIR T840来诊断问题。红外热像仪FLIR T840可配备6°超长焦镜头，使得远距离检测轻微异常成为可能。FLIR T840还具有自动旋转功能的640×480像素液晶触摸屏，提供MSX丰富细节和FLIR UltraMax增强分辨率，Max1500℃的温度校准，全新配备的目镜取景器，让你能够不惧骄阳，随时检测，利用这款灵活可靠的红外热像仪保障设备安全运行，防止发生损失严重的停机事故。组合热像仪成就新方案由于采用了Viper的快速部署变电站监控系统，变电站工程师和设备测试团队依靠其提供的数据。这使得他们能够延长关键组件的正常运行时间，直到更好地关闭和更换组件。Viper的快速部署变电站监控系统及时发现问题，再通过菲力尔红外热像仪确定问题，从而更好地解决问题，这为变电站元件可靠性评估提供了一种有效的温度测量解决方案。