仪器简介:ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪,分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%,如进行前处理,可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括:粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括:电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管:端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器:高频变频方式 额定电压,电流:4kW,60kV-150mA 稳定度:± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水:水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器:可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸:&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面:最大&phi 35mm 样品旋转:30rpm 1次X射线滤波片:4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑:6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝:3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝:SC用,F-PC用 测角仪:&theta -2&theta 独立驱动 测角范围:SC、5° -118° , F-PC、13° -148° 最大扫描速度:1400° /min(2&theta ) 连续扫描:0.1-240° /min 晶体交换机构:10分光晶体自动交换机构 分光晶体:(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统:双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件):带隔板 恒温化机构:36.5度 记数.控制部分: 重元素用:SC闪烁计数管,记数线性1000kcps 轻元素用:F-PC流气比例计数管,记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器:IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机:windows PC 软件: 定性分析:自动鉴定分析功能,包括平滑,扣背景 定量分析:检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点:1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75,保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构,保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管,最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统,实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式,可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室),防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件,采用电磁阀真空密封,防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构,位置分辨率可达100um,可以进行0.5mm的微区分析,可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利),彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题,保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出);节约PR-10气体;节约He气(选用He室时);节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析,NEW SQX软件 12、 全中文界面
留言咨询