数显度测量仪

仪器信息网数显度测量仪专题为您提供2024年最新数显度测量仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括数显度测量仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的数显度测量仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合数显度测量仪相关的耗材配件、试剂标物,还有数显度测量仪相关的最新资讯、资料,以及数显度测量仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

数显度测量仪相关的厂商

  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
    留言咨询
  • 深圳市达宏美拓密度测量仪器有限公司是一家为全行业提供密度测量解决方案的专业公司;其主营品牌Daho Meter『达宏美拓』,专业生产制造电子密度仪。Daho Meter『达宏美拓』是行业中成立时间较早,专业的密度测试仪品牌,自成立以来,始终专注于密度测试领域的研究与创新;其范围涵盖:固体、多孔性固体、粉末、液体、液体浓度等与密度相关的测试领域。达宏美拓从成立至今,一直强调以专业、技术、品质、服务的核心竞争力;要赢得市场,就要服务好客户,要服务好客户就要有专业的技术,过硬的产品品质,与及时专业周到的服务。至目前,达宏美拓在国内设立了东莞、北京、深圳、杭州等4处客户服务中心与售后服务中心;于2013年8月在东莞成立了密度检测实验室,皆在进一步提升服务客户的质量与检测水准;于2016年通过ISO9001:2015质量管理体系认证。
    留言咨询
  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
    留言咨询

数显度测量仪相关的仪器

  • 超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪是一款利用超声波测量原理,采用高速处理器、高集成芯片设计,实现便携式、无损、快速、精准地测量多种材料厚度及声速的高精度便携式测厚仪。能以恒定速度穿透物体且产生反射波的材料都可以使用。  适用于各种材料的高精度厚度测量需求,可应用于各种金属(钢铁、不锈钢、铝、铜、等)石英、玻璃、塑料等材质的被测物体厚度测量。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上,既可以迅速准确测量出被测物体厚度。   超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪功能特征:  几乎适合于所有材质的厚度测量,如:金属,玻璃,塑料等材料   仪器精美,小巧,直观,采用2.3寸大彩屏显示,手持式携带方便,适合现场检测  两种测量模式:标准模式/穿透模式(穿透型专用)  测量精度高,测量范围大,一个标准探头完成全量程  中英文双语言版本  蓝牙互联数据传输功能(适用于蓝牙版测厚仪)  校准:探头标准块校准,声速校准,可通过已知厚度求声速, 通过方向键自由调整数值  手动关机和自动关机两种,用户可随意选择   内置7种常用材料的声速,并可编辑,方便用户使用   人性化数据保存模式:大容量存储,并且可分组保存数据,可存储10组数据,每组可保存200个数据,可存储2000个数据,手动保存更有自主性,利于结果分析   大容量存储,查看,删除操作,方便简单  多探头配合使用,高温环境测量可选配高温探头耐高温(300℃)
    留言咨询
  • 产品名称: 钢轨磨耗测量仪-数显标尺钢轨磨耗测量仪-数显标尺产品介绍 可对不同轨型钢轨垂磨、侧磨进行测量。 北京鼎顺科仪科技 有限公司是集研发、生产、销售为一体的专业化商品质精密制造企业,是国内生产专用非标量具的专业厂家。产品主要应用于机床、石油、铁路等待种行业中专用设备上的测量!公司拥有先进的进口加工设备和检测手段,精细周密的操作流程,规范的管理,*大限度的满足客户的需求。可对不同轨型钢轨垂磨、侧磨进行测量。 型号 测量范围(mm) 分度值(mm) 示值误差(mm) P43 P50 P60 P73 垂磨0~25 机械游标0.1mm ≤±0.15 (符合铁道部规程要求) 侧磨0~30 产品技术标准 钢轨磨耗测量仪设计、制造、使用符合以下修规要求。 1)、《高速铁路有砟轨道线路维修规则》(铁运[2013]29号) 2)、《高速铁路无砟轨道线路维修规则》(铁运[2012]83号)功能特点 1)、可通过更换轨型定位块,实现测量不同轨型的功能; 2)、可根据用户的需求,选择机械标尺、数显标尺作为测量标尺;技术参数 1)、垂直磨耗测量范围:-5mm—15mm 2)、侧面磨耗测量范围:-5mm—25mm 3)、分辨率: 数显标尺:0.01mm 机械标尺:0.05mm适用轨型 43轨、50轨、60轨、75轨
    留言咨询
  • HYXJ-3全自动站台限界测量仪 数显站台限界测量尺 手推式站台限界智能检查仪 手推式双轨自行限界测量仪HYXJ-3全自动站台限界测量仪是一种采用区别于激光点及激光雷达的电子传感器系统、激光成像系统、计算机处理系统等进行全断面限界检测的仪器。采用手推式非接触动态检测小车的测量方式,由人工推着在轨道上行走,仪器自动测量所有限界数据(水平限界、高度限界、站台轮廓、风雨棚高度、水平超高等),曲线段自动计算和测量。软件系统实时完成限界检测、数据采集、数据分析处理和显示及超限判断,生成检测报表。其操作简单快捷、测量精度高、测量数据全面并实时显示、检测小车动态测量,提高了检测效率及节省人力成本。功能特点1.满足《铁路建筑实际限界测量和数据格式》(TB/T 3308-2013)标准、《铁路桥隧建筑物修理规则》、Q/CR904-2022 数字式站台限界测量仪、JJG(铁道)197-2022 铁路建筑限界测量装置、JJF(CR)042-2021 站台限界测量仪及站段的数据处理格式要求。2.设备采用以“图像+线性”主动扫描成像测量、脉冲触发测量、全时感知测量及低阻力控制为特征的全自动两级触发测量系统。不同于激光雷达,无旋转光电元件,可靠性高,数据稳定;不同于激光点,只能简简单单的测量站台帽的某个点,而不是一个面。3.设备在0.5秒内自动连续扫描当前站台整个轮廓面(一个面的数据点数可达上千点)并自动识别和测量站台水平最突出点及竖直最高点:人员推着检测小车前行,不需停下来,实时同步测量并显示站台、风雨棚、轨道等数据,曲线段自动测量,自动校正。4.设备从识别、测量到生成数据的时间不超过1秒,速度更快。5.兼容电动、AI形态处理、手持式双控模式6.具备一键录入、自动识别及完成的功能。实时现场数据和图像显示,操作简便,全中文界面。可输出标准限界报告,也可根据用户自定义格式输出。7.结构特点:设备整体采用完全一体化结构,无需拼装,减少误差,盖板展开可立即使用,设备使用前后都无需组装、拆卸任何部件;检测小车采用航空铝材,强度高,重量轻,携带方便;设备可在不调转机体的情况下转换推行方向;走行轮材质具有良好的绝缘性能,防止短接轨道电路。技术参数站台面与钢轨顶面垂直高度测量范围:0-1350mm,精度:0-2mm站台侧面到轨道中心水平距离测量范围:900-2000mm,精度:-3.0-0mm风雨棚测量范围:0.2-10m,精度:±2mm轨道超高:精度±1mm,自动校正轨距:精度±0.5mm识别及测量时间:<1s对向精度:<5‰断点熔接:两种方式可选,自动导入、计算基准模式:双基准,一键调整测量稳定性:全时感知,反向功能≤1‰,≤2%RMS,IRS微调系统,双置3XLimW及自调节适配装置,AIO、L-sen、DiPro-Eh测量系统:内置标准站台限界数据并可编辑、修改、录入,界面实时同步显示数据、波形图、图像及二坐标图、超限分级、报警等且测量数据自动和标准数据实时对比,自动保存全部完整原始记录,生成EXCEL报表,并可根据每个段原有的数据模板进行打印工作方式:连续/TTL,≤1kHz控制系统:笔记本电脑(三防平板电脑可选)主机工作时间:≥4小时工作温度:-20℃~60℃尺寸:1620x400x230mm重量:≤13kg
    留言咨询

数显度测量仪相关的资讯

  • 日本精工电子X射线荧光镀层厚度测量仪全新上市
    日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]   通过自动定位功能,可简单迅速地测量镀层厚度。      日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。   对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。   为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。   近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。   精工今后还会通过X射线技术产品的开发,更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。 [SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。 [主要产品规格] 检测器: 比例计数管 X射线源: 空冷式小型X射线管 准直器: 0.1、0.2mmφ2种 样品观察: CCD摄像头 样品台移动量:250(X)×200(Y)mm 样品最大高度:150mm
  • 操作薄膜厚度测量仪时,有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中,薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具,其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而,在实际操作过程中,一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视,这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发,探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备:环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前,对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此,应确保测量环境符合仪器说明书的要求,如温度控制在一定范围内,避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候,操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上,即使是最精密的仪器,在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此,定期按照厂家提供的校准程序进行校准,是保障测量精度的必要环节。二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态(如清洁度、平整度)对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平,会导致测量探头与样品接触不良,从而影响测量精度。因此,在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性,应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而,实际操作中,操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量,这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点,并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项,如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当,不仅会影响测量精度,还可能损坏仪器或样品。因此,在测量前,应仔细阅读仪器说明书,合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中,详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中,操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息,导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此,应建立规范的数据记录制度,确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而,在实际操作中,操作者可能仅关注测量结果是否达标,而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此,在数据分析阶段,应采用多种方法(如统计分析、图形表示等)对数据进行全面剖析,以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时,每一个步骤都至关重要,任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此,操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力,严格按照操作规程进行操作,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,随着科技的进步和测量技术的不断发展,我们也应不断学习新知识、掌握新技能,以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
  • 精密测量仪器产业现状与未来技术趋势剖析——访西安交通大学杨树明教授
    近日,第3届高端测量仪器国际论坛暨第13届精密工程测量与仪器国际会议(IFMI & ISPEMI 2024)在山东青岛成功举办。会议邀请各国精密工程测量与仪器领域的科学家、专家与业界领袖,就国际精密工程测量与仪器领域面临的重大机遇、重大科学问题和关键技术问题展开深入研讨,展望其未来发展方向和技术路线等。会议期间,仪器信息网特别策划了专访环节,荣幸地邀请到了西安交通大学杨树明教授,就其研究方向、精密测量技术发展趋势以及我国精密测量仪器产业发展现状等话题展开分享。西安交通大学 杨树明教授仪器信息网:请简单介绍下您的研究方向。杨树明教授:我一直聚焦于微纳测量领域,包括在该领域开展基础和应用研究,以及关键技术和装备开发等。近些年来,我们把微纳测量技术应用于芯片检测领域,特别是晶圆缺陷检测设备的研发。在长期技术储备的基础上,我们与企业紧密合作,争取在该领域实现重大突破,推动我国半导体芯片检测技术的自主化进程,解决晶圆缺陷检测的国产化难题。仪器信息网:您如何看待国内外精密测量仪器产业的发展现状?杨树明教授:精密和超精密测量的重要性越来越受到重视,也迎来前所未有的发展机遇,将在制造业转型升级中发挥重要作用,为制造业的提质增效提供有力支撑。然而,我们也应清醒地看到,对于精密测量仪器,国内与国际先进水平之间仍存在显著差距。而缩小这一差距,需要长期的坚持与不懈努力。仪器信息网:国内精密测量仪器产业应如何补齐这一差距?杨树明教授:我觉得人才是核心要素。一方面,该领域专业人才短缺,当前亟需通过提升高校培养规模、鼓励更多高校开设相关专业来加强人才供给;另一方面,构建有效的激励机制与制度保障,从而吸引并留住优秀人才在该领域长期耕耘。这两方面对于补齐我国与国际精密测量技术先进水平之间的差距具有关键作用。另外,要推动我国精密测量技术的蓬勃发展,逐步缩小与国际前沿的差距,并实现超越,我们还需要从多个维度上坚持不懈地努力。仪器信息网:我国在精密测量技术及仪器领域面临哪些挑战?特别是关键核心零部件及供应链方面是否存在瓶颈?杨树明教授:当前,从关键零部件至整机,我们仍面临诸多挑战。例如光源,尽管国内光源性能正逐步提升,但是短波长光源尚且没有完全达到应用要求,市场上尚缺乏适用于晶圆缺陷检测的成熟光源产品。同时,探测器、光学元件等关键零部件与国际先进水平相比,仍存在一定的差距。不过,我们在人工智能领域表现亮眼,相关技术在精密测量技术领域的应用,展现了一定的优势。仪器信息网:您如何看待人工智能对精密测量技术的影响?杨树明教授:"智能"已成为众多领域关注焦点之一。在测量领域,人工智能影响着测量的标定方法、管理方式和应用领域等,同时人工智能发展又需要测量作为支撑,包括数据如何精确获取、数据处理算法和模型的准确性等。可见,人工智能与精密测量必然相互融合发展。仪器信息网:您认为未来精密测量技术及仪器将沿着哪些方向发展?有哪些新兴技术或应用值得关注?杨树明教授:过去的测量工作主要聚焦于单一物理量,采用单一方法和设备完成。然而,随着测量需求日益多样化与复杂化,测量向着多物理量同步测量的方向迈进,要求测量仪器和设备集成多测头,具有多功能。随着加工精度和尺度从微米级到纳米级再到原子级,精度与尺度的极致追求对测量技术提出了更高要求,而且极端化的工作环境使得传统方法与技术难以胜任。此外,极致精度和极端尺度方面,缺乏标准和测量规范,需要探索新的计量与溯源方法。仪器信息网:您认为大规模设备更新将对国产仪器带来哪些机遇?杨树明教授:这是国产仪器发展的好机会和机遇。国产设备因性能与进口设备存在一定差距,导致市场在选择时往往倾向于进口产品。在当前国际形势下,加上政策支持与国产仪器前期的基础和积累,国产仪器有望加速融入市场,在实际应用中不断迭代升级,逐步提升其性能。这必将促进国产仪器行业的加速发展,并逐步实现国产替代。仪器信息网:在国产替代的大背景下,您认为国产精密测量仪器企业应加强哪些方面的能力建设以提升竞争力?杨树明教授:首先,应加强企业与高校的紧密合作。企业应主动寻求与高校的深度合作,而高校也应积极与企业对接。双方应基于各自的需求与优势,构建协同发展的合作模式。企业应充分利用高校的科研平台与资源优势,在制定未来发展规划时,特别是涉及新技术、新方法时,与高校紧密合作,让高校进行前瞻性研究。实际上,高校也要积极与企业开展紧密合作,与企业携手并进,才能使其成果落地。借此机会,我们诚挚希望与更多企业及高校研究院所携手,共同研发高端测量仪器,为国家解决“卡脖子”技术和产业升级提供技术支撑。

数显度测量仪相关的方案

数显度测量仪相关的资料

数显度测量仪相关的论坛

  • 厚度测量仪哪个品牌比较好?

    厚度的测量方法有多种,总体上分为非接触式与接触式,非接触式包括射线,涡流,超声波,红外等多种类型,接触式行业中也称为机械式测厚,分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途:适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。  在选择厚度测厚仪这样的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,进一步确保了高精度,高效率,高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]  厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。  厚度测量仪哪个品牌比较好?不同类型的测厚仪,对应不一样的行业,适用范围也有所不同,那么大家在选购测厚仪时,就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们,欢迎来电大成精密公司来咨询。

  • 【分享】测量仪器的准确度

    定义 指“测量仪器给出接近于真值的响应的能力”(见JJF1001-1998《通用计量术语及定义》7.18条,以下简称条款)。也就是指测量仪器给出的示值接近于真值的能力,即测量仪器由于仪器本身所造成的其输出的被测量值接近被测量真值的能力。由于各种测量误差的存在,通常任何测量是不可能完善的,所以实际上真值是不可知的,当然接近于真值的能力也是不确定的,因此测量仪器准确度是反映了测量仪器示值接近真值的一种程度,所以在该定义的注中说明准确度是一个定性的概念。 测量仪器准确度是表征测量仪器品质和特性的最主要的性能,因为任何测量仪器的目的就是为了得到准确可靠的测量结果,实质就是要求示值更接近于真值。为此虽然测量仪器准确度是一种定性的概念,但从实际应用上人们需要以定量的概念来进行表述,以确定其测量仪器的示值接近于其真值能力的大小。在实际应用中这一表述是用其他的术语来定义的,如准确度等级、测量仪器的示值误差、测量仪器的最大允许误差或测量仪器的引用误差等。准确度等级是指“符合一定的计量要求,使误差保持在规定极限以内的测量仪器的等别、级别”(7.19条)。即就是按测量仪器准确度高低而划分的等别或级别,如电工测量指示仪表按仪表准确度等级分类可分为0.1、0.2、0.5、1.0、1.5、2.5、5.0等七级,具体说就是该测量仪器满量程的引用误差,如1.0级指示仪表,则其满量程误差为±1.0%FS。如百分表准确度等级分为0、1、2级,则主要是以示值最大允许误差来确定。如准确度代号为B级的称重传感器,当载荷m处于0≤m≤5000v时(v为传感器的检定分度值),则其最大允许误差为0.35v。又如一等、二等标准水银温度计,就是以其示值的最大允许误差来划分的。所以准确度等级实质上是以测量仪器的误差来定量表述测量仪器准确度的大小。有的测量仪器没有准确度等级指标,则测量仪器示值接近于真值的响应能力就是用测量仪器允许的示值误差来表述,因为测量仪器的示值误差就是指在规定条件下测量仪器示值与对应输入量的真值之差,这和测量仪器准确度定义概念是完全相对应的,如长度用半径样板,它就是以名义半径尺寸来规定其允许的工作尺寸偏差值来确定其准确度。因为真值是不可知的,实际上测量仪器可以用约定真值或实际值来计算其误差的大小,通过示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级来定量进行表述。实际上准确度等级也只是一种表述形式,这些等级的划分仍是以最大允许误差、引用误差等一系列的特性来定量表达的。 这里要注意,从名词术语的名称和定义来看,测量仪器准确度和准确度等级、测量仪器的示值误差、最大允许误差、引用误差等其概念是不同的,测量仪器准确度术语是定性的概念,严格讲要定量地给出测量仪器接近于真值的响应能力,则应该指明给出量值是什么量,是示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级,不能笼统地称为准确度。我们可以认为测量仪器准确度是它们这些特性概念的总称,测量仪器准确度可以用其它相应的术语来定量表述,这二者是有区别的。准确度1级应称为准确度等级为1级,准确度为0.1%称为其引用误差为0.1%FS。但有时为了制定表格或方便表述,表头则也可写“准确度”,表内填写准确度等级或规定的允许误差。要说明一点,测量仪器准确度是测量仪器最最主要的计量性能,人们关心的就是是否准确可靠,如何来确定这一计量性能大小?通常它是用其它的术语来定量表述而已。

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

数显度测量仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪
    唐海红 13120400643 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 准确、坚固、耐用、防水 人体工学设计: 手提式操作,亦可肩挂或腰悬;内置探头存储室,方便携带 系统完整:已预接电导和温度探头,备有多种电缆长度可供选择 四纯镍电极探头:准确度高、维护量小,无需镀铂黑 无需校准:仪器出厂前已经预校妥当,开机即可读数 自动量程选择:确保任何高低读数均一致准确,省却了往返调拨之苦 自动温度补偿:可选择显示电导系数,参考温度和温度补偿系数可按需调整 特大液晶显示屏:另有背景加光功能,即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 应力舒缓电缆接头:减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命 坚固防水外壳:适用于野外的严峻环境,仪器即使掉入水中亦可自动浮起;探头外置不锈钢套,坚固耐用更易于沉入水中 全电池操作:工作寿命长达100小时(碱性电池);另有低电量显示 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 不带内存 备有3米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型 盐度、电导、温度测量仪 带内存,可储存50组数据 使用非散失性存储器,读数不会因断电而丢失 备有3米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择 YSI 30/30M 系统规格 测量参数技术指标 参 数 测量范围 分辨率 准确度* 电导率 0至499.9微西门子/厘米 0至4999微西门子/厘米 0至49.99毫西门子/厘米 0至200.0毫西门子/厘米 0.1微西门子/厘米 1.0微西门子/厘米 0.0毫西门子/厘米 0.1毫西门子/厘米 量程之± 0.5%*+ 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 盐 度 0至80ppt 0至80 ± 2%或± 0.1ppt* 温 度 -5℃至+95℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* 注:* 仪器规格包括仪表和探头的总误差 + 若电缆长度超过15米,样本的比电导度需大于0.1毫西门子/厘米 其它技术指标 导管常数 5.0/厘米± 4% 参考温度 +15℃至+25℃(可调节) 温度补偿系数 0至4%(可调节) 适用水体 淡水、海水、污水或绝大部分其它溶液 工作温度 -5℃至+95℃ 防水性能 超过IP65标准 电 源 9伏 直流 (6节5号碱性电池) 尺 寸 24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽)× 5.6厘米(厚) 重 量 0.77公斤 选购指南 仪 器 30-10 30-25 30-50 30M-10 30M-25 30M-50 30M-100 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆 YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,30米电缆(带内存) 配 件 5050 5520 携带箱,硬体 塑料便携箱(能容纳7.5米电缆) 电导标准液 3167-1 3168-1 3169-1 电导标准液,1毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,10毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,50毫西门子/厘米(475毫升)
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制