飞纳电镜

布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。

布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其最大特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

[ 产品简介 ]蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。该系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)镜筒出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用效率。模块化的平台概念可以进行后续系统升级，从而满足您不断增加的应用需求。通过加装飞秒激光（Femtosecond Laser）模块，Crossbeam的加工效率和尺度可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。[ 产品特点 ]&bull 低电压下获得高分辨率电子图像&bull 可实现大尺寸到纳米精度的切割&bull 批量自动制备TEM薄片样品&bull Atlas 5可创建多尺度、多模式综合图像&bull ToF-SIMS 实现高通量3D成分分析&bull 独特的无漏磁电子镜筒实现真正边切边看&bull 不导电样品不受荷电效应影响&bull 加装飞秒激光模块，实现亚毫米级快速加工，同时有效避免腔室污染[ 应用领域 ]&bull 生命科学，如断层扫描，三维重构&bull 电池领域，如组分表征&bull 半导体领域，如失效分析，电路修复&bull 金属领域，如界面分析，亚表面分析&bull 材料科学，如晶体微观结构分析，微纳图形加工&bull 透射电镜、原子探针（ATP）、EBSD、微纳力学等多种样品的原位制备GaN HEMT器件TEM样品制备Laser大截面快速加工及IC中微柱截面背散射电子成像在硅基底上加工纳米微流通道原子探针样品制备3D NAND连续层析成像线虫三维成像

拉曼电镜光谱联用技术产品简介扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，实现对物质微观形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高，成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。拉曼技术在分子级别上提供样品的化学结构、组分信息；而 SEM 可在纳米尺度上提供高空间分辨率的形貌图像；SEM 与拉曼光谱技术相结合，使用 SEM 观察样品形貌，并可获取指定样品点的拉曼光谱信息，同步获取样品材料表面形貌、分子结构与化学组分等信息。典型应用RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的 RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统集成场发射扫描电镜与拉曼光谱系统于一体，是一款真正意义上实现国产拉曼光谱与扫描电镜联用的设备。拉曼电镜通过快速、精确、高性能的拉曼分析，弥补了能谱仪、波谱仪等传统电镜附件无法实现的分子结构与成分观察。尤其是针对有机结构、碳结构、同分异构体、晶体与无机相等多领域材料的信息表征，扩展了传统扫描电子显微镜的分析应用领域，例如矿物鉴别、高分子与制药行业、锂电行业、医工交叉行业等，应用前景广阔。北京卓立汉光仪器有限公司推出的扫描电镜-拉曼光谱联用装置采用“离轴”模式设计理念。“离轴”模式扫描电镜的电子束与拉曼光谱的激光束不同轴,通过移动样品台分别进行扫描电镜-能谱分析和显微拉曼光谱分析，原位获取样品指定位置的形貌信息和化学成分信息。系统架构RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统，电镜拥有大视野及纳米级分辨率，是一个优秀的样品微观形貌分析平台，系统耦合拉曼共聚焦光路进入真空样品仓，实现了样品在电子束和激光束之间的快速切换，在满足样品表征观察的同时，也能够实现纳米级分辨率的化学成分和空间结构分析，充分发挥扫描电镜与拉曼两者的应用优势。拉曼集成扫描电子显微镜采用平行双束方案，搭载高精度复合位移台可实现样品在拉曼光轴和电子束光轴之间快速、精确、稳定的切换，拉曼扫描范围高达 2.5 mm。独特的系统及产品设计保证了操作性、易用性、普适性，用户可在电镜中寻找感兴趣的材料特征，得到高分辨的扫描结果后，一键切换至拉曼光路下进行该区域的快速/高精度的光谱扫描，随后得到高匹配程度的拉曼渲染联用效果。拉曼渲染结果的像素与光谱数据对应关系可通过软件程序直接提取，提供进行便捷的结果解析。拉曼光谱集成方案提供了多种配置供用户选择，例如激光波长、光谱仪焦长、光栅密度、物镜等光学核心配置，充分满足应用及市场的需求。扫描式电子显微镜系统配置多种类型探测器，可实现二次电子和背散射电子同时成像，兼容多种应用模式，可覆盖生命科学、材料科学、地质科学等多学科科研应用场景。标配五轴高精度运动平台及自主设计样品载台，可实现多个钉台同时放样或单一大尺寸样品观测。性能优势典型参数卓立汉光提供专业的免费测样服务，需求即达，欢迎洽谈！

我司现有一台二手飞纳电镜Phenom ProX出售，价格可谈，欢迎垂询第五代飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 是新一代的集成化成像分析系统，分辨率提升 20%，进一步增加应用范围，更加适用于对电子束敏感的样品。借助该系统，既可观察样品的表面形貌，又可分析其元素组分。研究样品时，得到样品的形貌信息只是解决了一半问题。获得样品的元素组分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊设计的能谱探测器，飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 可以完善解决上述所有问题。能谱仪是一种基于样品被电子束激发而产生 X 射线的分析仪器。Phenom 的能谱仪无论软件、硬件都是完全集成设计在飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 系统中。Element Identification (EID) 软件可以使用户实现多点分析，检测样品的元素组分。此外，该软件还可以扩展到元素分析线面扫（mapping）功能。分步操作界面可以帮助用户更方便地收集、导出分析数据。光学放大20 - 135 X电子光学放大80 - 150,000 X分辨率优于 8 nm数字放大Max. 12 X光学导航相机彩色加速电压5 kV - 15 kV 连续可调真空模式高分辨率模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器二次电子探测器 (选配)

公司于2016年6月100多万进口购置的飞纳电镜 Phenom Pro X高分辨率专业版电镜，分辨率10nm，可放大到14万倍，设备灯丝是 CeB6，正常寿命是1500小时，累计使用仅550小时，光学成像，电子成像都正常，配置的能谱有点、线、面扫三种方式，功能正常。设备保管良好，外壳没有刮痕，成色九成新，原包装箱体也保管良好，目前由于项目取得阶段性成果，设备不能满足材料测试要求，现年底价低转让，价格约38万，具体可面谈，可以包安装调试。有需要的老板可联系吴经理，联系方式：（微信号）。设备详细信息可从下面的网址查看：或

在枪zhi犯罪事件中，枪击残留物 GSR 的分析将发挥重要的作用。GSR 分析技术首先基于扫描电子显微镜 （SEM） 的背散射成像，用来扫描样品和发现可疑的 “GSR” 颗粒。一旦发现可疑的颗粒，使用能谱（EDS）识别在该粒子中的元素。最常见的搜索元素为 Pb，Sb 和 Ba。无铅底火的检测，例如 Ti 和 Zn 也可最为搜索条件进行搜索。Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析是全球首创在台式扫描电镜运行自动枪击残留物分析软件。其设计基于飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 Phenom XL。软件和硬件完全一体化，以提高用户操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三个项目：自动枪击残留物分析和分类软件包，BSED 和 EDS 探头内部集成，校准试样。Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析配备 CeB6 灯丝，使其稳定运行，灯丝寿命不低于 1500 个小时，从可用性，适用性和运行时间的角度来看都非常理想。小于 1 分钟的加载时间，和快速的全自动马达样品台，使得飞纳 GSR 成为高度自动化应用的理想工具，可以用来进行自动枪击残留物分析。飞纳电镜枪击残留物分析 Phenom GSR基于 CeB6 灯丝的高分辨图像直观易用的 GSR 软件高吞吐量，一次性放置多达 36 个试样操作简单，永不丢失导航系统，完全集成能谱仪测量结果准确可靠，广泛兼容法医领域的各类应用规格参数光学放大3 - 19 X电子光学放大200,000 X分辨率优于 8 nm灯丝材料优于 1500 小时 CeB6 灯丝光学导航相机彩色加速电压4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调真空模式高分辨率模式降低核电效应模式高真空模式探测器背散射电子探测器二次电子探测器 (选配)样品尺寸最大 100 mm X 100 mm可同时装载 36 个 0.5 英寸样品台样品高度最高 65 mm，样品高度全自动调节

秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点，荷兰飞纳公司推出采用肖特 基场发射电子源，集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体机 Phenom Nano G2。 高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像。最高放大倍数 100 万倍，分辨率优于 2.5nm肖特基场发射电子源彩色光学显微镜全景导航集成全自动马达样品台内置全自动真空锁，15 秒抽真空无需喷金，直接观察不导电样品无漏磁设计，直接观测磁性样品操作简单，培训 30 分钟即可上手耦合式电子光路设计内置 27 组独立减震单元，完全防震维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2的参数、价格、型号、原理等信息，飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2产地为荷兰、品牌为Phenom，型号为Phenom Pharos G2，价格为面议RMB，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的标准样品杯，设计紧凑，可以分析的最大样品尺寸为 100 mm x 100 mm。尽管是大得多的样品尺寸，专利的样品加载技术可以使抽真空的时间降到最短，实际上使得飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的吞吐量比同类型的扫描电镜高出几个级别。镶嵌，切割和抛光是制备表面平整，用于扫描电镜观察样品的常用技术。通常，这些样品会被嵌入到树脂中，并且有几种标准直径的尺寸。飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 可以拓展使用 3 种树脂镶嵌金相样品插件，这意味着 Phenom XL G2 的标准样品杯可以装载常见尺寸的金相样品。100 mm x 100 mm（一次可容纳多达 36 个 1/2 英寸样品台）样品高度 Max. 65mm超大样品台

Phenom Pharos G2 —— 性能优越的飞纳台式场发射扫描电镜荷兰飞纳公司推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。Phenom Pharos G2 低电压成像优势明显，可减轻电子束对样品的损伤和穿透，更好地观测绝缘和电子束敏感的样品，可以最大程度还原样品真实形貌。Phenom Pharos G2 —— 电镜能谱一体化设计Phenom Pharos 飞纳台式场发射电镜采用热场发射电子源，信噪比高，使用寿命长，保证长期稳定的性能。飞纳台式场发射扫描电镜能谱一体机标配背散射电子成像、二次电子电子成像和能谱分析功能，可对各种样品进行高分辨成像及元素分析。飞纳台式场发射电镜的技术优势 分辨率优于 1.5 nm 低电压下可得到高分辨样品的图像，表面细节丰富 彩色光学显微镜全景导航 集成全自动马达样品台 操作简单，培训 30 分钟即可上手 内置真空锁，15 秒抽真空 无需喷金，直接观察不导电样品 电子束流大，稳定，能谱分析效率高 内置 27 组独立减震单元，完全防震 电子光路免维护维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。

高分辨率样品杯，每台飞纳电镜的标准配置。可以获得最好的成像结果，适用于固定在钉型样品台上的常规样品。最大样品尺寸：直径 25 mm；高 30 mm 标准样品杯样品台 放样

产品性能Phenom XL 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的大样品室台式扫描电镜。最大样品直径为 100mm，放大倍数 200,000 倍以下， Phenom XL 是您正确的选择。在继承飞纳电镜 15 秒抽真空成像、全自动化操作、直接观测绝缘体、防震设计等优点的基础上，分辨率可以和普通大型钨灯丝电镜媲美，后期被拓展性很强。产品参数光学显微镜：放大 3-19 倍电子显微镜：200,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 8 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间：小于 30 秒能谱仪：可选配能谱仪Phenom XL 大样品室卓越版可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建，纤维统计分析测量系统，颗粒统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统。全自动显微平台Phenom XL + 拉伸台 拉伸台是飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料（研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形），高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版----Phenom XL G2Phenom XL （电镜腔室 100mm x 100mm）具有飞纳电镜系列以下优点：超高分辨 —— 8 nm，独家采用长寿命 1500 小时、高亮度的 CeB6 灯丝快速成像 —— 抽真空时间小于 20 秒简易操作 —— 光学 + 低倍电子导航定位，结合全自动马达样品台移动观测位置直接观测绝缘体 —— 低真空设计，实现不喷金看绝缘体，且不影响灯丝寿命高度自动化 —— 自动聚焦，自动调节对比度亮度，拍照简单快速放置环境无特殊要求—— 无需独立实验室，无需超净间防震设计 —— 紧凑的一体化设计，可不用防震台摆放在高层远程联网检测 —— 第一时间通过远程联网诊断，售后无忧同时，Phenom XL G2 做出了如下改进，使其在拥有台式扫描电镜操作简单等特点的前提下，具备大型落地式电镜的高分辨率、多功能和拓展性强等优势：1、Phenom XL G2 成为台式扫描电镜中腔室最大的，电镜腔室由原来的 32mm 扩容为 100mm x 100mm，一次可容纳至多 36 个 1/2 英寸样品台，测样效率进一步提高。自动马达样品台的移动范围为 X = 50mm，Y = 50mm（可选配X=100 mm,Y=100 mm）Phenom XL 的样品台2、Phenom XL 提供高、中、低三级真空，可以选配二次电子探测器3、背散射电子探头性能依然优异，背散射电子信号强度跟样品成分衬度有关，可以和能谱良好结合起来背散射 1000X（背散射电子数量与元素的原子序数成正比，元素的原子序数越高，背散射电子数量越多，该元素在图像中的表现越亮）样品未喷金，采用背散射电子成像，更高倍数下清晰看到多种成分衬度，沿着箭头方向从内到外可以看到 4 种不同的成分衬度，且分界线非常明显。代表这 4 个位置元素含量各不相同，并且沿着箭头方向，重元素占比越来越低。4、低电压下成像优势明显，低电压模式下，可以减少对样品的损伤，穿透，能观察到样品表面更真实的形貌二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 10000X二次电子 5kV, 15000X5、可拓展拉伸台，压力台，大角度倾斜台，高低温样品台等功能性选件● 全自动显微平台Phenom XL G2 + 拉伸台 　　拉伸台是飞纳台式扫描电镜Phenom XL G2一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台6、Phenom XL 可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建系统，纤维统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统等

属材料应用于各个领域，金属组织的观测和失效分析是进行金属材料研究的基础。金属及其合金性能是由化学成分、晶体结构及微观组织来决定的，扫描电镜在这些方面的研究上大有可为。飞纳电镜在对金属端口研究、合金及相成分研究、粉末冶金以及夹杂物分析等方面，不仅能观察金属材料表面和内部的微观形貌，并结合元素定性定量分析，使表面形貌与元素分析一一对应起来。复纳科技在金属材料的研究中，可以提供以下全面的解决方案：离子研磨仪对金属材料进行表面抛光或者截面切削处理飞纳电镜进行微观形貌及成分的分析飞纳 ParticleX 对金属夹杂物进行一键分析和归类原子层沉积包覆技术对金属粉末进行包覆改性铁镀层腐蚀后的高温合金

飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 是终极的集成化成像分析系统。借助该系统，既可观察样品的表面形貌，又可分析其元素组分。研究样品时，得到样品的形貌信息只是解决了一半问题。获得样品的元素组分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊设计的能谱探测器，飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 可以完善解决上述所有问题。能谱仪是一种基于样品被电子束激发而产生 X 射线的分析仪器。Phenom 的能谱仪无论软件、硬件都是完全集成设计在飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 系统中。Element Identification (EID) 软件可以使用户实现多点分析，检测样品的元素组分。此外，该软件还可以扩展到元素分析线面扫（mapping）功能。分步操作界面可以帮助用户更方便地收集、导出分析数据。Phenom ProX 主要技术参数电子放大最高 350,000 X分辨率优于 6 nm光学导航相机彩色加速电压4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调真空模式标准模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器样品尺寸最大直径 32 mm样品高度最高 100 mm

飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 是飞纳电镜系列中最先进的产品，第六代 Phenom Pro 放大倍数提升为 350,000 倍，分辨率优于 6 nm，30 秒快速得到表面细节丰富的高质量图像，是目前世界上分辨率最高的台式扫描电镜，可用于测量亚微米或纳米尺度的样品；飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 继承了飞纳电镜系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、全自动操作、2-3 年更换灯丝及防震设计等优点。飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 可选配丰富的拓展功能选件，如 3D 粗糙度重建（3D Roughness Reconstruction）、纤维统计分析测量系统（FiberMetric）、孔径统计分析测量系统（PoreMetric）、颗粒统计分析测量系统（ParticleMetric）、超大视野拼图（Auto Image Mapping）、远程操作等。软件可以自动采集数据、处理图片。比如，纤维统计测量系统可以自动识别、测量纤维样品，而大视野拼图 则自动采集生成高分辨、大视野的样品全景照片，等等…除此之外，还有各种各样的样品杯可供选择，这些样品杯使得样品的装载更加便利。无论是对于长轴状样品，还是生物材料，或者其它种类的材料，总有一款合适的样品杯可以提供完美的解决方案。Phenom Pro 主要技术参数电子放大最高 350,000 X分辨率优于 6 nm光学导航相机彩色加速电压4.8 kV - 20.5 kV 连续可调真空模式标准模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器样品尺寸最大直径 32 mm 样品高度最高 100 mm

飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 是飞纳电镜系列中最先进的产品，第四代 Phenom Pro 放大倍数提升为 130,000 倍，分辨率优于 14 nm，30 秒快速得到表面细节丰富的高质量图像，是目前世界上分辨率最高的台式扫描电镜，可用于测量亚微米或纳米尺度的样品；飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 继承了飞纳电镜系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、全自动操作、2-3 年更换灯丝及防震设计等优点。飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 可选配丰富的拓展功能选件，如 3D 粗糙度重建（3D Roughness Reconstruction）、纤维统计分析测量系统（FiberMetric）、孔径统计分析测量系统（PoreMetric）、颗粒统计分析测量系统（ParticleMetric）、超大视野拼图（Auto Image Mapping）、远程操作等。软件可以自动采集数据、处理图片。比如，纤维统计测量系统可以自动识别、测量纤维样品，而大视野拼图 则自动采集生成高分辨、大视野的样品全景照片，等等…除此之外，还有各种各样的样品杯可供选择，这些样品杯使得样品的装载更加便利。无论是对于长轴状样品，还是生物材料，或者其它种类的材料，总有一款合适的样品杯可以提供完美的解决方案。Phenom Pro 主要技术参数光学放大20 - 135 X电子放大80 - 130,000 X分辨率优于 14 nm数字放大Max. 12 X光学导航相机彩色加速电压5 Kv - 10 Kv 连续可调真空模式标准模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器样品尺寸最大直径 32 mm 样品高度最高 100 mm

高分子材料比较常见的有塑料、树脂和橡胶等，可广泛应用到生物医用、航天航空、电子电器等领域。我国高分子材料行业发展迅速，随着材料科学研究的不断深入，材料表征方法的不断进步，高分子材料正朝着高性能化，多功能化、绿色化以及智能化方向发展。制样设备离子研磨仪，结合飞纳电镜在研究高分子材料表面和内部形貌结构，成分等成为不可缺少的环节，从而在研究其强度，耐磨性，化学稳定性，耐腐蚀性，可降解、生物相容性等方面都有重要的指导作用。Phenom Pro 台式扫描电镜快速高效操作简单，可减轻落地式扫描电镜设备对普通样品进行常规分析的负担。无论是操作过电镜的人员还是未操作过电镜的人员，无需过多培训即可快速上手，得到高质量的成像结果。Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有拓展功能软件选件。并且，第六代 Phenom Pro 可以提供实时的背散射和二次电子混合图像，与之前的产品相比，第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜将分辨率提高 20%，同时带来了更好的用户体验。在检测时可以进行更广泛的应用，包括对电子束敏感的样品。放大倍数：350,000 X分辨率：优于 6 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器（可选）水凝胶（可动态观察）

产品特点：金纳米螺旋标尺（L，R）是手性的纳米标记物，尤其适合于3D断层扫描，电子显微镜（EM）或冷冻电镜。我们的手性标记物显示纯手性（L或R），由于高对比度和金纳米颗粒的精准排列，可以很容易地被电镜检测到。金纳米螺旋标尺（L，R）是用DNA折纸技术制备，金纳米颗粒（10nm）被排列成纳米螺旋（螺距57nm 长110nm 直径34nm）。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：在透射电镜载网中：样品放在干燥的透射电镜载网上使用，以提高由银增强放大了的螺旋效果。样本存储在石蜡膜覆盖的塑料孔中进行运输。保质期是6个月。在缓冲液中:该纳米螺旋储存在缓冲液（1X TE，11mM MgCl2）中运输。样本量约为30μL，这个量足以用于10个以上的TEM。样品保存于低温的保温盒中进行运输。适当的储存条件下（避光，4℃），保质期为3个月。

纤维统计分析测量系统（FiberMetric）可以自动测量从纳米到亚微米量级的纤维，数秒之内采集数百纤维的直径信息，每个数据点均经过 50 次测量取平均值。根据统计信息自动生成纤维直径分布柱状图，并导出数据文件。相对于手动测量，纤维系统软件测量精度高，速度快，效率高，操作简单，它让统计和分析大量不同直径的纤维样品成为可能。自动测量，节省时间快速和自动生成统计数据输出的数据包括统计和原始数据高精度观察和测量微米和纳米纤维与飞纳电镜同步，实时测量

电镜能谱一体化设计，简洁小巧Phenom ProX 的能谱仪 EDS 是针对台式电镜设计的，本着台式电镜简单易用，售后无忧的宗旨，Phenom ProX 的能谱仪 EDS 系统完全嵌入在电镜主机中，利用半导体制冷，无需额外冷却系统。 Phenom ProX 用户可根据样品类型和测试目的，灵活切换专利样品杯，30 秒快速成像Phenom（飞纳）专利样品杯、低真空设计、专利的真空封锁技术，装入样品后 30 秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的 1/10 左右。 直接观看绝缘体，无需喷金Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品（如下图所示）。利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高 8 倍左右，而且不会影响灯丝寿命，长寿命/高亮度/低色差 CeB6 灯丝Phenom（飞纳）采用逸出功为 2.5eV 的 CeB6 灯丝，其亮度为钨灯丝的 10 倍，出射电子色差小，为您提供更高质量的图像，其使用寿命长达 1500 小时，为钨灯丝的 10 倍，可正常使用 1-3 年无需更换灯丝，免去了您频繁更换灯丝的麻烦，保证工作进度。环境适应性高，完全防震Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使 Phenom 成像不受震动影响，可放置在较高楼层。互联网远程检测Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的 Phenom 随时处于最佳工作状态。

产品性能：第六代 Phenom Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 15kV抽真空时间：小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。

产品性能：第六代 Phenom Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 10kV抽真空时间：小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1500 名用户。

产品性能：第六代 Phenom Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统，Phenom pure 的分辨率轻松达到 10 nm，同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。Phenom Pure产品参数光学显微镜：放大 27 倍电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 10kV抽真空时间：小于 15 秒Phenom Pure 可升级为高分辨率专业版 Phenom Pro，Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pure 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

产品性能第六代 Phenom Pro 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 350,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统，Phenom Pro 的分辨率轻松达到 6 nm，同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。飞纳台式扫描电镜 Phenom Pro产品参数电子显微镜：350,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 6 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间：小于 15 秒Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。

标准版 Phenom Pure 装配的基本组件可以满足高分辨率成像的要求，这些基本组件不仅可以保证电镜高质量的成像，而且能够实现最快速得装载样品，最短时间内成像。精确的自动聚焦和电子束自动对中使飞纳电镜系列成为市场上最受用户欢迎、操作最简单的智能型扫描电镜。对于有高分辨率成像需求的用户来说，Phenom Pure 可以提供最经济、最高效的解决方案。放大倍数：175,000 X分辨率：优于 10 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器（可选）

布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其最大特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

扫描电镜/FIB原位纳米压痕仪：布鲁克Hysitron PI 88 PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其最大特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。真正实现直接观察条件下的定量纳米力学表征；高级的XYZ方向样品定位，配合可选倾斜和旋转样品台；模块化设计，可搭载全套测试技术，包括800℃热台，划痕，扩展量程的传感器，电学偏压等。轻松搭载定量纳米力学测试深入了解纳米尺度下的力学性能在您实验室已有的熟知仪器上获得力学数据，在您电镜上扩展如下功能，包括:1.纳米压痕微悬臂弯曲2.微柱或微颗粒压缩3.拉伸测试4.纳米划痕整个实验过程中始终如一的稳定性布鲁克的原位解决方案专为电镜环境下的出众性能而设计。真空相容性/检测器定位和机架柔度等相关因素均被严格考虑。我们专属的传感器技术确保实验过程中精细纳米力学测量所需的灵敏度和稳定性，而数位控制器提供了超快的反馈和数据采集率。因而应力诱发变形过程之前、之中、之后都得以高速捕获加以分析。稳定性和精准度Hysitron PI88 配套一套真空适用的布鲁克纳米尺度传感器和导电金刚石压头。通过传感器中的静电力施以载荷，电容记录位移。低电流设计带来的超低温漂保证了前所未有的灵敏度。与传感器配合的是一套在XYZ三轴方向均8mm的高级样品定位载台，可实现在较大样品上超好的横向精度以及线性和灵活定位。在这一简洁平台机械继承的载台和传感器为使用者提供了纳米力学测试所需的稳定、刚性的基础。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。800°C HeatingElectrical CharacterizationPush-to-Pull DevicenanoDynamic ModenanoScratch Mode