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条维码扫描器

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条维码扫描器相关的仪器

  • AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能,还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析,实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率,自动探针安装,自动光轴调整,自动参数优化;&bull 排除人为操作失误导致的测量误差,一键自动测量/处理/分析(提高整体测试效率)2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 :硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N(开环控制)时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性SIS(Sampling Intelligent Scan)样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点,自动控制探针位置,完全消除对测量不利的水平力,可测量吸附力较大或粗糙的样品,同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤,有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌,还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM(可用于定量和灵敏度等不同场景)除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外,AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比,信号主要来自于探针的尖端,电位检测灵敏度更高,在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等,FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料,两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置,实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试,可以对目标视野进行多维度解析,实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察,实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动,或通过全新的AFM标记功能,可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野,进一步扩大了联动分析的应用范围。
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  • Dimension Edge 原子力显微镜 Dimension家族新成员,闭环扫描,极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广,适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量,适用于各技术水平Dimension Edge性价比高,大样品台AFM的最佳解决方案Dimension Edge&trade 原子力显微镜采用最新技术, 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于顶级的Dimension Icon平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性,使用这台全新的仪器,几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高,并没有影响仪器的价格,绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外,视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计,适用于各个研究阶段和科研水平的用户。 性价比最高的闭环Dimension系列AFM 专利的传感器设计既获得了闭环的精度,又具有 开环的噪音水平。 显著地降低噪音和漂移,在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。 显微镜和电路的设计既保证了高成像性能,又使 得价格适中。快速,精确,高分辨的测量结果 全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计,确保快速简便的设定各步骤参数 5百万像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台,提供快速样品导航和高效多点测量 从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。 新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术,满足最前沿的应用需求。 内置的信号路由模块,帮助研究者根据新的研究方向和实验需求,自定义检测模式。 先进的纳米级测量能力,适用于各研究水平 创新型模块化设计,不提高仪器成本的前提下,实现更高的测量性能。 最新的8型软件,凝聚10几年AFM专业研发精华,常规扫描模式外,根据实验需求,配备各种备选模式。 完整的控制平台,既可直观导航,又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了最优质的AFM性能 Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能,保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新,中等价位的价格 与仪器功能达到了最好的平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描,结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路,这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了最大限度的发挥这一优点,扫描器被固定在一个坚固的,具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此,Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率,高精度,大样品台的样品通用性,闭环操作 和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点,能够获得任何样品的真实图像,实现突破性的实验成果。完备的AFM功能 Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术,还提供了针对各种具体应用领域的解决方案,例如纳米级的电学测量,可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量,例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像,到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。 电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上,而是开发了Dark Lift模式,Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的唯一方法。它是基于布鲁克已申请专利的,应用磁力显微镜和静电力显微镜中著名 的抬起模式(Lift Mode)。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的最优化测试。迄今为止,结合了Dark Lift模式的闭环(常损耗量)的扫描电容显微镜(SCM)依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而,如果研究者想要以最高灵敏度来探测小电压的变化,也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法,能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看最新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼
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  • 本厂生产的板型活套扫描器主要用于板材厂的板材套位控制,采用led面阵做光源,大功率稳压电源作供电电源,ccd感光元件接收,具有线性度好,安全,可靠,无零漂,免维护等特点。板材活套由光源,检测器,供电电源三部分组成,在板材没有进入视场角(套位)时,光源通过物镜所成的像把ccd各个光敏元全部覆盖,ccd输出一定幅度的视频信号,当板材进入套位时,挡住部分光源,所挡住的部分不同,套量也不同,通过后部电子线路处理,变成用户所需的模拟量信号。技术指示1、 接收器接收光谱:600nm~700nm2、 响应时间:10ms3、 套量标准60cm(按用户要求可定制)4、 安装距离:1-11m有效5、 工作温度:-20℃~+70℃6、 检测器及电源箱电源:220vac7、 检测精度:8bit8、 输出模拟量电流:4~20ma,无钢时20ma,高位20ma,低位4ma9、 输出模拟量电压:0~10v,无钢时10v,+10v~-10v等(可根据用户要求设定)10、防护等级:ip6711、绝缘电阻:≥20mω,1500vac/1分钟注意事项:KDD板型活套扫描器 应避免剧烈震动,现场温度高时,应加水冷。KDD视场范围内不应有足够引起干扰的辐射,如电焊光,强太阳等。产品保修一年,免运费!!
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  • TE 69 载荷扫描器 400-860-5168转2004
    TE 69 载荷扫描器设备介绍早先瑞典Uppsala大学材料科学系的教授Sture Hogmark 和 Staffan Jacobson 开发了一台摩擦试验机,凤凰摩擦学科技公司(Phoenix Tribology Ltd)根据这台仪器经过授权后开发了TE 69 载荷扫描器。TE 69与其原型机的最大区别在于,原型机只能同时测试一个试样,而TE 69可同时测两个样品,并且负载可随位移线性变化。另外,在TE 69上还新增了新的测试类型,用于获得材料和润滑剂的摩擦磨损特性。TE 69可同时对两个加长的杆或棒试样测试。两试样的取向和相对运动方向决定着接触斑形态和接触班的运动路径。载荷通过滑轮和弹簧机构施加,其中弹簧两端分别连接加载臂和下试样的支架。若想加载或减载,使试样做一定的相对运动即可。也就是说,载荷与接触点存在一一对应的关系。下试件由滚珠螺旋致动器驱动,相应的动作通过简易的连接传至上试样,从而保证运动的一致性。标准应用: 单向测试组件用于进行涂层的划痕试验。划痕试验中,针尖多为金刚石。TE 69载荷扫描器用于评价涂层的性能,一般情况下,一试样有涂层另一试样为无涂层的基材,与实际应用中的涂层和它的对偶件接触方式一样, 从而可很好的模拟实际工况。TE 69载荷扫描器还可用于重复的往复测试,以期验证单次划痕试验结果 ,也可用于试样从轻微磨损到划伤的特征评价。备选配置: 该备选配置可在锁死上试件支架的情况下,用销或压头换掉上试件, 用盘试件替代下试件,断开加载系统后,在力传感器的帮助下,改用气动波纹管和精密调整器施加稳恒载荷。若上试件支架锁死,横向加载,则在试验机上可进行高压划痕试验。若上试件支架锁死,加载稳恒载荷,则试验机就成了Bowden-Leben试验机,可进行往复式的球板试验。控制与数据采集:专门为TE 67试验机配置了一台电脑,并安装了SLIM2000串行接口模块以及COMPEND 2000软件,现编程控制与数据采集。测得数据以标准电子数据表格形式存储在硬盘里,文件的格式为.csv 或 .tsv。 最大的数据采集频率为2 kHz。测试过程程序化通过编程实现,每一步包括试验参数设置值、数据记录频率和报警信息。试验参数设置值,设置点可有程序的步改变或跳过。除非被操作人员或警报打断,测试序列将顺次执行。另外,在屏幕上手动调整切换设置点。技术参数: 接触类型交叉柱面 交叉平板 销对平板 压头对平板最大载荷2000 N无加热夹具直径3.2 mm 和直径 12 mm可加热夹具直径3.2 mm 和直径 12 mm柱长175 mm载物台最大行程75 mm (each)杠杆臂长比5:1最大滑动速度 0.1 m/s最大磨斑长度&ndash 载荷扫描器100 mm最大磨斑长度&ndash 销对平板75 mm最大往复频率0.3 Hz上杆试样温度室温到600° C (干测试)下杆试样温度室温到600° C (干测试)润滑剂容器温度室温到250° C
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  • 硬件芯片解码,解码速度300/s。可识别EAN-8 EAN-13 UPC-A UPC-E CODE39 CODE93 CODE 128 EAN128 等一维条形码及其预设前置码。USB通讯及供电
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  • 硬件解码,解码速度200次/秒。可识别PDF417/MICRO PDF417/DATAMXTRIX/QR/MAXICODE/AZTEC等二维码
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  • 硬件芯片解码,解码速度300/s。可识别PDF417/MICRO PDF417/DATAMXTRIX/QR/MAXICODE/AZTEC等二维码USB/TTL/RS232/RS485通讯及串口供电。
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  • 便携式试纸条扫描读数仪HF6000仪器简介便携式试纸条扫描读数仪HF6000是一种对胶体金试纸条进行定性、定量检测的专用仪器,具有使用简单,便于携带,系统运行稳定,快速检测等特点。不需要专业安装,非专业人员也可以依据说明书轻松上手操作。仪器支持样本管理,配套附件齐全,模块选择多样,可自由组合模块。也可以根据用户需求接入多个平台,利用现代化快速检测和互联网技术手段,直接实现检测数据与平台的对接上传。便携式试纸条扫描读数仪HF6000的核心控制部分采用了高速嵌入式处理器和实时操作系统,为仪器供完备的软件平台,可以一键分析横流层析试纸条,快速定量分析。显示部分采用液晶显示触摸屏,方便用户使用操作。仪器内置大容量存储数据库,可快速查询已测项目数据 内置两个 USB 接口,支持可扩展外设 内置二维码识别模块,可以通过扫描二维码实现检测样本采样、收样、检测溯源跟踪,也可以通过二维码进行曲线传输,无需手工录入 检测完成,可选择内置打印中文数据报告 同时整机还支持按照客户的要求定制。便携式试纸条扫描读数仪HF6000采用反射光度法原理,依据光电池测量反射衰减信号强度来检测。试纸条在步进电机的驱动下匀经过扫描探头,扫描探头上设有投射光源,光源发出的光在胶体金检测试纸条纤维素膜上产生反射,反射光随之被光电池采集并转换为电信号,由于试纸条纤维素膜表面特定位置的胶体金颗粒残留量与光电池采集到的电信号存在着对应关系,因而可通过反射光度法检测,并定量分析纤维素膜上特定位置的胶体金颗粒残留量。便携式试纸条扫描读数仪HF6000 检测项目:综合便携式试纸条扫描读数仪HF6000 适用样本:粮油,饲料等产品描述便携式试纸条扫描读数仪HF6000配套我司胶体金快速定量检测试纸条使用,轻巧便携,一键即可获取定量结果,通过 CE 认证。产品应用便携式试纸条扫描读数仪HF6000 适用于真菌毒素、重金属、农药残留、转基因检测,覆盖粮油、饲料等样本, 使用广泛,适合现场检测。
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  • 产品说明TVS-GSS系列扫描振镜是用于光束扫描的器件,利用检流计原理实现,是一种小惯量扫描器。一般由反射镜、扫描电机和伺服系统组成,通电线圈在磁场中产生力矩,转子上通过机械扭簧或电子的方法增加复位力矩,其大小与转子偏离平衡位置的角度成正比,整个过程采用闭环反馈控制,由位置传感器、误差放大器、功率放大器、位置区分器、电流积分器等五大部分共同完成,从而完成反射镜的偏转控制。要实现二维扫描,则需要两个扫描振镜正交安装,实现入射光束在X轴和Y轴两个方向的位置控制,再搭配上超维景提供的TVS-MMC系列双光子成像控制器或其他信号源,即可形成面阵扫描,该扫描振镜在多光子显微镜和共聚焦显微镜等扫描成像系统中都有应用。对于高速扫描,可选共振扫描振镜,详情可联系本公司。产品应用多光子显微镜、共聚焦显微镜激光加工、激光打标产品优势大扫描范围:最大光学扫描角度可达±20°位置精准反馈:提供位置反馈信号,可用于用户闭环控制控制简便:用户可使用模拟电压,实现振镜的任意轨迹扫描参数优化:针对用户扫描波形进行参数优化,以提高可靠性和扫描一致性二维扫描振镜技术参数参数TSH8TVS-GSS系列型号TVS-GSS-203HTVS-GSS-310A/DTVS-GSS-618A/DTVS-GSS-720A/D输入光斑直径(mm)35791010121620最大扫描角度±20° ±12.5°±20°±20°±20°Nd:YAG@1064 nm--10080120120150200300CO2--50707070100150200阶跃响应时间(ms)0.250.30.40.7标刻速度(m/s)--4331.71.522定位速度(m/s)--1211117777好质量--700690650500400350300高质量--550500480340260220200点漂移(pRad./°C)比例漂移(ppm/°C)续工作漂移,8小时以上(mrad.)线性度≥99.70%≥99.90%≥99.90%≥99.90%重复精度(uRad.)最大平均工作电流(A/单轴)22.534峰值电流(A)10202025输入信号接口XY2-100或模拟电压士5 V,土10 V输入电源土24 VDC士10%,Max.RMS 3.5 A/轴工作环境温度25°C士10°C重量(不含透镜)(kg)-2.42.94.5主要应用领域激光标刻、飞行打标激光演示、激光医疗科研激光标刻、激光调阻内雕、科研激光标刻、激光调阻内雕、激光打码科研激光标刻、激光调阻切割、钻孔
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  • 设备组成:瑞士Nanosurf公司生产的NaioSTM 型一体化扫描隧道显微镜一套,具体结构组成如下:1、一体化控制器;2、扫描隧道显微镜扫描探头;3. 自带大理石防震基座与防震阻尼底座;4、样品台;5. 标准样品(HOPG与金样品)6. 针尖7、测量分析软件光盘;8、电子版产品说明、使用手册;技术指标:* 集成控制器、扫描器、样品台与防震隔声装置与一体的扫描隧道显微镜系统;* 扫描器XY向测量范围:500nmX500nm* 扫描器XY分辨率:7.6pm分辨率;* 扫描器Z向测量范围:200nm * 扫描器Z向分辨率:3pm;* 最大电流:100nA;* 马达控制自动逼近;* 样品台尺寸: 10mm直径;* 最大样品厚度3mm;* 测量模式:恒电流模式与等高模式;* 谱线测量模式:电流-电压曲线, 电流-距离曲线;* 采样成像点数最大2048X2048;最大谱线测量点数32768;* XY斜率补偿功能:硬件补偿,保证样品倾斜的准确测量;* 软件测量及分析软件;* 自带防震大理石机构与阻尼防震基座;* 软件接口:USB接口,与台式机或笔记本即可联用工作,多系统支持;* 机台尺寸204mmX204mmX104mm,重量仅3.45kg,方便移动到任意位置测试;北京亿诚恒达科技有限公司:
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  • **********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验,必须将点光源靠到样品表面纳米距离,然后点光源扫描样品表面,再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针,从亚光波长孔径的探针尖端发出,NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制,因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验,通常有四种NSOM操作模式: * 透射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明,光通过样品并与样品相互作用后被收集探测;* 反射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明,光从样品表面反射并被收集探测;* 收集模式成像&mdash &mdash 样品经远场光源照明(从上或下面均可),探针将光信号从样品表面收集;* 照明收集模式成像&mdash &mdash 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光; 在近场光学领域,部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成,因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测,如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测,通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数:原子力扫描表征-接触模式(可选)-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射,反射,收集,激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体,使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射,例如应变硅纳米刻蚀-纳米&ldquo 笔&rdquo 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等,并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强,通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 (3D 扫描台&trade )-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台(3D 扫描台&trade )模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位: XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位:-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈(标准)-激光反射反馈(可选)常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品:例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针,针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率;50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米(RMS)-XY 横向分辨率:根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高,要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 º C-测量阻值改变速率为0.38 &Omega /º C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学,共聚焦光学,近场,微区拉曼,扫描电子显微镜(SEM)或者聚焦离子束(FIB)整合优势 -样品扫描台上下光路开阔,可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将多形式的光学显微镜整合在一起,包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了多种标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有多种常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置,下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描,无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT, APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点: 独特的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试,光纤探针各自独立控制,可以同时分别、独立进行如滴液、加压,电学,热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔,可以将上,下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上,在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描,光学测量,力学测量,热学电学测量等测试手段,节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换,不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是优势技术,并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作,即可以探针不动,样品移动;或者样品不动,探针移动。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高,Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台,XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式,在所有AFM 电镜中是独特的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈,具有噪音大,调试困难,受干涉情况;尤其在液体中或者做光学测试的时候,例如近场光学,AFM-Raman测试中,容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病,安装简单,结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道,光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型,用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针,也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针,提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um,非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌,而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道,可同时和正置与倒置显微镜配合使用,实现透射式、反射、照明模式、收集模式(Nanonics独有的)等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能,这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性,可与拉曼光谱仪整合,例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描,拉曼Mapping,自动共聚焦,提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman,并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台,AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品,这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术,与其他涂层探针相比,不会因在长时间使用后,受到激光影响而脱落,更为稳定,效率更高。配合独特的扫描台设计,可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其独特功能。
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  • 技术参数:测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀) 扫描方式:样品扫描测量头部:AFM和SPM(全内置自动切换),可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸:直径20mm,厚度10mmXY样品定位装置:移动范围5×5um,软件控制电动定位XY样品定位装置最小步进:0.3um扫描范围:100×100×10um(三维全量程闭环控制扫描器),3×3×2um(低电流模式扫描器)XY方向非线性度:≤0.1%(闭环控制扫描器)Z方向噪音水平(带宽10~1000Hz时的RMS值):闭环控制扫描器(典型值0.03nm,最大0.04nm),低电流模式扫描器(0.02nm)激光光路系统:电动调节,全自动准直视频显微系统:软件控制电动变焦和连续变倍,软件控制变换视野,分辨率2um样品温度控制:室温~150℃主要特点:全自动化桌面型SPM直观易用的软件界面全自动切换AFM和STM扫描头自动调整激光光路(悬臂—激光—四象限光电探测器)软件控制的电动样品定位平台视频显微镜系统软件控制电动聚焦和变倍视频显微镜系统软件控制定位样品观察视野电动开关样品室门切换不同的测量模式,软件自动调节最优参数人体工程学设计
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  • Solutionix C500 全自动蓝光三维扫描仪C500专为中小型物体而设计的全自动3D扫描器凭借强大的扫描引擎和低成本、高效益的高CP值,新扫描器是针对功能爱好者和入门级用户的理想选择。200/500万点高阶双镜头模块提供高质量的扫描细节运用新的光学技术已非一般雷射系统所能比拟,实现无噪声3D扫描资料。自动化扫描平台全新C500 拥有全自动化扫描平台,体积轻巧,只需一个按键即可完成物件扫描,简单又快速。大范围扫描提供100mm,200mm,400mm扫瞄范围,适用于中小型物件。色彩以全新技术捕捉扫描数据鲜艳的色彩质感,可以根据物件的颜色选择数据处理的方法来扫描。智能主动侦测扫描路径的错误,并自动执行正确的扫描路径。高效能的CCD摄相机装备高质量CCD相机能够精密及精确测量并撷取更细致扫描细节。创新设计舒适简洁的外观设计适用于任何办公室环境操作更简易的安装步骤与设定。全新软件操作界面全新软件操作界面,更直觉、快速、简易的操作环境,让您有更好的操作体验。蓝光扫描科技全新蓝光扫描技术,减少了表面喷涂时间无论是黑色物体或是多颜色物体皆可直接扫描。机械手臂于自动化生产的过程中,机器人系统集成是一个有吸引力的方案,为企业自动化的生产流程,我们也提供了API界面,提供自动化控制系统使用。Solutionix C500不需要更多复杂、费时的校正。一旦放置校正面板,只需点击校正向导,即可自动引导校正程序准确对合,不需要标记点。适用于高精度的中、小型物体,是全自动化扫描器中不二选择。自动路径检测和校准使用者透过简单鼠标点击动作就可得到物件的3D数据。第一次扫描后,缺少的部分自动检测功能开起时,会自动补充额外扫描,使用者还可以选择手动添加增加新的扫描路径到设定值。 质量检验利用3D扫描数据,可以自动化测量检验产品。比较CAD模型和实际物品的差异,差异性会以色偏差图呈现。可以发现在设计阶段的系统或造型中可能发生结构、功能性缺陷并且产生解决方案。 逆向工程逆向工程使您能开发新产品、修正加工数据,缩短开发、设计到批量生产的时间,并有效降低成本,也可应用于更新旧有产品尺寸。过去无法提供3D CAD档案或是尺寸的旧有产品,现在都能透过扫描设备收集各种材料的详细尺寸。 定制集成新的API用户可使用Solutionix提供的 API来控制 C500 和处理扫描数据。此外,能于使用各种软件和插件的过程中,导入使用者自己的扫描应用程序。 技术规格Solutionix C500 具有不同的细节。对应各种工件大小,可以选择不同扫描范围的扫描设备。镜头像素5 M光源来源蓝光LED扫描科技多向扫描扫描范围90 / 175 / 350 / 500设备尺寸315 x 270 x 80设备重量2kg色彩纹理√旋转平台3轴自动旋转校正系统全自动校正传输界面USB3.0输出格式STL作业系统Window 10电源供应AC 85V~265V(自动切换)
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  • 仪器简介:Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的,无需制备样品。此外,机械运动平台允许批量的,预编程测量,使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域,用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单,是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司,全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商,在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验,一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持,同时还提供纳米技术的OEM 客户定制,外包等业务。技术参数:原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜,真正非接触式原子力显微镜,横向力/摩擦力显微镜(LFM),导电原子力显微镜,磁力显微镜(MFM),开尔文探针(Kelvin Probe),扫描热原子力显微镜(SThM),电容和静电力显微镜(EFM),高级的纳米光刻和纳米操作能力,音叉原子力显微镜,三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围:110um X & Y range,22um Z range ● 大尺寸样品台,全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台,马达驱动 ● 专利批处理软件,自动图像拼接缝合技术,可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器,专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统, XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点:● 原子力显微镜扫描器最大测量范围:110um X & Y range,22um Z range● 大尺寸样品台,全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台,马达驱动● 专利批处理软件,自动图像拼接缝合技术,可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器,专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统, XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发
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  • 型号SC-2SC-3SC-5SC-10SC-20SC-21SC-25SC-30镜面尺寸6mm,7x6mm ,10x6mm5mm dia.,7mm dia.8x7mm12x7mm6mm dia,6x6mm,7x7mm10x10mm6mm dia,6x6mm,7x7mm10x10mm7x7mm,8x8mm,10x10mm,20x20mm25x25mm8x8mm,10x10mm,12x12mm,15x15mm,20x20mm30x30mm6x6mm,8x8mm,10x10mm,12x12mm,20x20mm30x30mm3x4mm,4x5mm,5x6mm,7x8mm,8x9mm,10x10mm25x25mm扫描角度20°-50°可选20°-50°可选25-60°可选10-60°可选10-60°可选24-70°可选24-60°可选5-30°可选频率125Hz-800Hz 可选110Hz -1860Hz 可选100Hz to 2200Hz 可选100Hz to 3000Hz 可选10Hz to 1500Hz 可选15Hz to 2000Hz 可选15Hz to 2000Hz 可选200Hz to 16KHz 可选EOPC扫描振镜产品应用:微型激光扫描仪3D激光成像激光雷达生物医学成像共聚焦显微镜机器视觉及机器人智能交通系统共振扫描振器特别适用于专用的大批量OEM工业应用,这些应用可以轻松集成到小型手持式和便携式仪器,子系统和系统中。扫描仪用于连续检测系统,以执行 100% 检测,以使用一台扫描仪或多线扫描检测缺陷。对于大批量 OEM 制造,我们会考虑提供免费信息来构建驱动程序,将其整合到现有或新的驱动电子设备中,或将其构建为所需的尺寸。我们提供标准和定制的扫描系统:– 光学扫描仪相位锁定到稳定的外部时钟信号– 扫描系统,将两个相同频率的扫描仪锁定在主/从模式下以生成重复图案(例如:圆形或椭圆)– X,Y 扫描系统将两个扫描仪锁定为主/从模式以生成重复图案(例如: 光栅扫描或李萨如图案)– 由共振扫描仪和振镜扫描仪生成的X,Y光栅(面积)扫描系统光学扫描和偏转系统EOPC扫描振镜SC-SYS-1S 型号PLD-1S驱动器相位将任何共振扫描器(SC型,超小型扫描器除外)锁定到外部时钟信号,以提供稳定的扫描频率[子]系统。该系统可以在实验室中用作“独立”单元,也可以集成到更大的仪器/系统中。扫描仪是一个固定频率,从 5 Hz 到 16 kHz 范围内选择。您需要指定确切的时钟频率(精确到小数点后 4 位)。不建议在温度敏感应用中使用此系统。请参阅:http://eopc.com/sys_pld1s_extern.html http://eopc.com/driver_pld1s_cad.htmlhttp://www.eopc.com/driver_pld1s.htmlhttp://www.eopc.com/sys_pld1s_extern.html http://eopc.com/PLD-1S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜型号SC-SYS-2SSC-SYS-2S扫描系统由两个相同的共振光学扫描仪(SC型)组成,扫描仪“A”和扫描仪“B”,在MASTER/SLAVE模式下锁定,以生成圆形或椭圆或锁定两个扫描仪相位或0度或180度。该系统可以用作实验室中的“独立”单元或便携式仪器,或集成到更大的仪器/系统中。两个相同的扫描仪各有一个固定频率,从10 Hz到16 kHz的范围内选择。它们是体积小、重量轻、成本低、寿命长的设备。它们需要低功耗驱动电子设备,并且不会辐射任何电磁干扰(EMI)。扫描仪具有高振幅稳定性和非常低的振幅抖动 摆动小于 1 弧秒。扫描仪具有红外、可见光、紫外和高真空功能。提供参考信号和位置输出。请参阅:http://www.eopc.com/sys_pld2s_master.htmlhttp://eopc.com/driver_pld2s_cad.htmlhttp://eopc.com/driver_pld2s.htmlhttp://eopc.com/PLD-2S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜型号SC-SYS-2SXYSC-SYS-2SXY扫描系统由两个不同频率的共振光学扫描仪(SC型,超小型扫描仪除外)组成,锁定在MASTER/SLAVE模式下以产生重复图案,例如:光栅扫描或李萨如图案。扫描仪“X”是高频,扫描仪“Y”是低频。两个扫描仪各有一个固定频率,从 5 Hz 到 16 kHz 范围内选择。它们是体积小、重量轻、成本低、寿命长的设备。它们需要低功耗驱动电子设备,并且不会辐射任何电磁干扰(EMI)。扫描仪具有高振幅稳定性和非常低的振幅抖动 摆动小于1弧秒,该系统可用作实验室中的“独立”单元或便携式仪器,或集成到更大的仪器/系统中。扫描仪具有红外、可见光、紫外和高真空功能。提供参考信号和位置输出。X,Y扫描系统为涉及光束偏转的应用提供廉价的高性能:电视,HDTV,用于2D和3D扫描对象,用于分色,生成存储在计算机内存中的图像并将其投影到屏幕上,生成数据和/或将数据直接传输到生产单元(CAD / CAM)以及检测系统等等。扫描系统用于机器人、医疗非侵入性研究和测试、运输、非冲击打印和激光扫描、检查系统以及高速、高分辨率显示系统和机器视觉。参见:http://www.eopc.com//sys_pld2sxy_raster.htmlhttp://www.eopc.com/driver_pld2sxy.htmlhttp://eopc.com/PLD-2S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜模型SC-SYS-XYGSC-SYS-XYG 扫描系统锁定共振光学扫描仪(SC 型),用振镜锁定共振扫描仪以生成 X,Y 光栅扫描。 PLD-XYG 驱动器将谐振扫描振(固定高频,“X”)与振镜(线性扫描仪,“Y”)锁定,以生成光栅扫描(X 和 Y,如电视屏幕)。您可以使用我们制造的任何“X”方向共振扫描振器,但最常选择8 KHz和16 KHz的SC-30型高频共振扫描振器。SC-30型高速共振扫描器具有连续的正弦波运动。扫描仪的谐振频率由每帧所需的线数乘以所需的帧速率决定。振镜扫描仪的频率(Y 轴的帧速率)由共振扫描仪生成。它是一种具有快速飞返的波浪形式(恒定速度)的斜坡类型。我们提供的基本光栅扫描系统包括以下内容:-共振扫描器-振镜-两个扫描器的支架-带电源的PLD-XYG驱动器盒-附加功能是可选的。PLD-XYG驱动器与前面板扫描角度控制完全集成(遥控器是可选的)。驱动器以自振荡模式操作谐振扫描器(X轴,高频),以扫描器的谐振频率,并且还产生Y信号以驱动振镜扫描器(Y轴,低频)。PLD-XYG 驱动器具有用于 X 和 Y 扫描仪的模拟位置输出,并且可选配远程扫描角度(振幅)控制。无需外部函数发生器即可操作XYG系统。对于 OEM 制造,我们可能会考虑提供免费信息来构建驱动程序,以便您可以将其整合到您的驱动电子设备中或将其构建为所需的尺寸。要构建XYG扫描系统,我们需要知道:-每帧的行数-对于(X)共振扫描器:扫描角度[度,PTP光学]光束尺寸,所需的镜子尺寸[mm]波长和激光功率(源)频率[Hz]固定频率共振扫描镜:增强型铝保护涂层镜是我们的标准镜子镀金(保护)和镀银(保护)镜子,铍/金属镜,是可选的或客户提供的。-对于(Y)振镜扫描仪:帧速率(扫描仪X的频率与扫描仪Y的频率之比)。振镜:银镜是标准配置。-对于激光(源):光束尺寸[毫米] 光束功率 波长[nm]参见:http://eopc.com/sys_pldxyg_raster.htmlhttp://eopc.com/driver_pldxyg_cad.htmlhttp://eopc.com/SC-SYS-XYG%20SCANNING%20SYSTEM%20data%20sheet.pdf http://eopc.com/PLD-XYG%20DRIVER%20data%20sheet.pdfPLD-XYG 驱动器具有用于 X 和 Y 扫描仪的模拟位置输出,并具有可选的远程扫描角度(振幅)控制。它与前面板扫描角度控制完全集成,遥控器是可选的。驱动器以自振荡模式操作谐振扫描器(X轴,高频),以扫描器的谐振频率,并在锁相模式下生成Y信号形式以驱动振镜扫描仪(Y轴,低频)。无需外部函数发生器即可操作系统。应用:扫描系统为无限应用提供廉价的高性能:HDTV,2D和3D成像,光刻,颜色分离,高分辨率显示系统,激光扫描,生成存储在计算机内存中的图像并将其投影到屏幕上,生成数据和/或将数据直接传输到生产单元(CAD / CAM)和检测系统。高速、高分辨率显示系统和机器视觉。许多应用是在红外和紫外波长,高真空或低温条件下。系统可以安装在移动的车辆、检测系统的移动臂或机器人上。 扫描系统用于机器人、医疗非侵入性研究和测试、运输、非冲击打印和激光扫描、检查系统和机器视觉。许多航空航天和军事应用都是在红外和紫外线波长,高真空或低温条件下。
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  • 仪器简介:我们的创新NANONICS IMAGING LTD.一直是扫描探针显微镜(SPM)领域中将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)技术完美结合的领头羊之一。公司成立于1997年,在过去的十年里我们将新的概念应用到SPM系统中从而开拓了SPM市场领域一个新的视角。 Nanonics使用悬臂近场光学探针为业内提供了近场光学成像;同时也引入了双探针技术、样品扫描AFM系统;提供近场光学(NSOM)/原子力显微镜(AFM)低温系统,Raman-AFM系统,多探针AFM系统和扫描电镜(SEM)/AFM系统。NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一,其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统推动下,今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借实力和品质,其产品涉足的领域从科研到工业,从生物学到半导体,从化学制品到无线电通讯,应用范围极其广泛。 我们的理念 提供SPM,近场光学和显微镜整合方案 Nanonics 致力于制造世界级领先的SPM仪器,我们将SPM技术和其它显微镜表征技术整合在一起。在纳米科技表征技术领域中,为用户提供一个开放并极具潜力的SPM表征技术平台。 我们的技术作为一家商业公司,我们有着自己独特的技术优势。我们能提供大量种类齐全的纳米探针。包括专利的悬臂近场光学(NSOM)探针到热学,电学探针。这些外露光学探针的运用结合具有专利保护的3D平面扫描技术为我们的系统提供了一个广阔开放的光学平台 这是我们能够将AFM技术和其它显微镜表征技术完美结合的重要原因。 我们的团队 我们拥有一支世界级的专家团队为我们提供创新技术和高性能的产品。在过去的十年里我们拥有40多名员工并且组建了SPM专家和科学家团队。 团队直接由近场光学奠基人之一的Aaron Lewis 教授带领十五名科学家为全球客户提供以SPM为平台的产品和技术支持。 我的技术服务我们致力于提供客户高性能的业内领先级产品和高附加值的技术支持。从系统安装开始,我们就区别于其它竞争对手,为你提供高素质的技术专家安装设备,提供SPM技术领域的专家指导。通过一对一的与客户沟通帮助客户使用仪器。Nanonics在业内已经有一大批客户并且客户通过使用我们的仪器发表了不少好的文章。这些客户和客户的成绩也同样见证了我们为客户提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和技术支持。**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验,必须将点光源靠到样品表面纳米距离,然后点光源扫描样品表面,再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针,从亚光波长孔径的探针尖端发出,NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制,因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验,通常有四种NSOM操作模式: * 透射模式成像 样品经过探针照明,光通过样品并与样品相互作用后被收集探测;* 反射模式成像 样品经过探针照明,光从样品表面反射并被收集探测;* 收集模式成像 样品经远场光源照明(从上或下面均可),探针将光信号从样品表面收集;* 照明收集模式成像 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光; 在近场光学领域,部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成,因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测,如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测,通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数:原子力扫描表征-接触模式(可选)-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射,反射,收集,激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体,使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射,例如应变硅纳米刻蚀-纳米笔 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等,并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强,通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 (3D 扫描台&trade )-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台(3D 扫描台&trade )模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位: XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位:-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈(标准)-激光反射反馈(可选)常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品:例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针,针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率;50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米(RMS)-XY 横向分辨率:根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高,要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 C-测量阻值改变速率为0.38 C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学,共聚焦光学,近场,微区拉曼,扫描电子显微镜(SEM)或者聚焦离子束(FIB)整合优势 -样品扫描台上下光路开阔,可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将所有形式的光学显微镜整合在一起,包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了所有标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有所有常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置,下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描,无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT, APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点: 独有的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试,光纤探针各自独立控制,可以同时分别、独立进行如滴液、加压,电学,热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔,可以将上,下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上,在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描,光学测量,力学测量,热学电学测量等测试手段,节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换,不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是目前市场上的优势技术,并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作,即可以探针不动,样品移动;或者样品不动,探针移动,其它厂家无法提供这种独特的扫描方式。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高,Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台,XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式,在所有AFM 电镜中是独一无二的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈,具有噪音大,调试困难,受干涉情况;尤其在液体中或者做光学测试的时候,例如近场光学,AFM-Raman测试中,容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病,安装简单,结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道,光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型,用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针,也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针,提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um,非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌,而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道,可同时和正置与倒置显微镜配合使用,实现透射式、反射、照明模式、收集模式(Nanonics独有的)等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能,这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性,可与任何拉曼光谱仪整合,例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描,拉曼Mapping,自动共聚焦,提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman,并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台,AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品,这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术,与其他涂层探针相比,不会因在长时间使用后,受到激光影响而脱落,更为稳定,效率更高。配合独特的扫描台设计,可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其它厂家不具备的特点。
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  • 产品说明TVS-SMM系列MEMS二维扫描振镜是一种基于静电力式的矢量扫描器件,具有四个静电双向旋转器,通过特殊的硅支架连接。当给定稳态模拟高压驱动信号MEMS镜像会产生的稳态模拟转角,并且高度可重复。同时,它也可以工作在谐振模式下,器件在较低的工作电压下即可得到更大的扫描角度。因此,通过改变驱动信号的形式,可以很容易的得到3种扫描模式,即点对点扫描模式(双轴准静态)、栅格扫描模式(快轴近谐振,慢轴准静态)和李萨如扫描模式(双轴近谐振)。该MEMS扫描镜具备体积小、扫描角较大、双轴可同时兼容准静态及谐振控制、功耗极低等特点,在生物成像、激光雷达、抬头显示等领域具有很大应用空间。产品应用激光雷达、激光测量、抬头显示、投影双光子成像、共聚焦成像、光学成像产品优势体积小、重量轻:集成款基于LCC20封装,集成度高控制形式丰富:双轴都可以转静态或谐振控制,支持3种扫描模式速度与扫描角的平衡:多款型号可选,可以同时满足扫描频率与扫描角的要求低功耗:基于静电力式驱动,功耗基本可忽略不计定制化:输出接口可定制化
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  • 产品优势◆ 小型化及可拆卸化设计,非常便于携带及课堂教学◆ 检测头和样品扫描台集成一体,结构非常稳定,抗干扰性强◆ 单轴驱动样品自动垂直接近探针,使针尖垂直于样品扫描◆ 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式,保护探针及样品◆ 侧面CCD观察系统,实时观察探针进针状态与定位探针样品扫描区域◆ 弹簧悬挂式防震方式,简单实用,防震效果好◆ 集成扫描器非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度优于98%技术参数应用案例
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  • 同类AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova扫描探针显微镜(SPM)具有很高的分辨率,实用性强,从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套简易的装置,仪器成本合理,适用于科学研究。Innova具有的闭环扫描线性化系统,测量准确性,而且维持噪音水平接近开环的低噪音水平。 使用Innova检测样品时,从亚微米级的小尺寸样品到90微米的大尺寸样品,都可进行实验操作,且获得原子级分辨率,测量不同尺寸样品无需更换扫描器等硬件;替换探针或样品等操作简便易行;集成化高分辨率彩色光学系统和可编程自动化Z轴调节系统,可快速简易地定位到待测区域聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,数据存储,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,食品、化学品、护肤品的加工/包装,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,陶瓷工艺,薄膜性能表征,地质、能源、环境等领域高分辨率 Innova的机电设计,包括带有短机械路径和低热漂移的坚固显微镜平台,超低噪音电子器件,都做了优化,具有高分辨率和闭环扫描的组合。利用的超低噪音数字闭环线性化扫描,不管扫描尺寸,偏移量,扫描速度或扫描角度的旋转如何设置,对样品均可准确测量,高分辨成像。性能 Innova 机电设计的方面,包括从带有短机械路径和低温度漂移的坚固显微镜平台到超低噪音电子器件,都做了优化,得到高分辨率性能和闭环扫描的组合。 Innova利用的超低噪音数字闭环线性化扫描,达到对尺寸均可准确测量,而不管扫描尺寸,偏移量,扫描速度或扫描角度的旋转如何设置。在90微米到亚微米级成像范围内均可获得高质量图像,并且闭环噪音水平接近开环噪音水平。另外,闭环线性化扫描可以在线启动或关闭。这个惊人的灵活性允许其对全尺寸扫描的任意一部分进行放大至原子分辨率扫描,而不用更换扫描器,且无需从测量表面抬起探针。图像的旋转,图像在成像窗口的位置以及扫描速度都不会影响成像结果。行业应用:您的应用是什么—Innova都已准备好:• 材料科学• 纳米刻蚀• 生命科学• 聚合物• 器件表征
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  • 产品说明扫描镜是扫描成像显微镜必须使用的成像镜头。随着精密仪器对体积和重量的要求,很多小型仪器中需要使用微型扫描镜与微型物镜搭配使用,实现所需视场范围的成像。TVS-MSLE系列微型扫描镜作为微型化双光子系统的核心光学元件,在宽光谱(740-1050 nm)范围内具有高性能、大扫描角度、高远心度等特点,以确保通过扫描器件(MEMS或Galvo)后的激光能准确进入到成像物镜中,实现高质量的成像。TVS-MSLE系列微型扫描镜与TVS-MOBJ系列微型物镜可组成高分辨、大视场成像系统,分别使用两款不同焦距的扫描镜与TVS-MOBJ-3 X物镜配合,实现物方0.7和0.45 NA分辨率的成像,原理图如下:产品应用微型化双光子显微镜、双光子显微镜共聚焦显微镜、宽场荧光显微镜拉曼显微镜产品优势体积小、重量轻扫描角大:≥10°像方远心定制化:可根据用户需求定制其他参数的微型扫描镜
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  • AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能,还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析,实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率,自动探针安装,自动光轴调整,自动参数优化;&bull 排除人为操作失误导致的测量误差,一键自动测量/处理/分析(提高整体测试效率)2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 :硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N(开环控制)时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性SIS(Sampling Intelligent Scan)样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点,自动控制探针位置,完全消除对测量不利的水平力,可测量吸附力较大或粗糙的样品,同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤,有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌,还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM(可用于定量和灵敏度等不同场景)除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外,AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比,信号主要来自于探针的尖端,电位检测灵敏度更高,在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等,FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料,两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置,实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试,可以对目标视野进行多维度解析,实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察,实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动,或通过全新的AFM标记功能,可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野,进一步扩大了联动分析的应用范围。
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  • RJS D4000 激光条码扫描仪/条码仪 产 品 说 明 RJS D4000 具有两种不同的扫描头可以供连接,Auto-Optic 扫描头和 Laser(激光)扫描头,共有九种不同的光学配制,安装方便,基本上可以使用于各种场合的要求。Auto-Optic:Auto-Optic 是美国 RJS 公司专为 ANSI 条形码等级分析开发研制的它是一款工业级的 ANSI 检测仪,具有四种孔径尺寸,两种波长可进行八中光学排列。适合所有的 ANSI X3.182 条形码需求。 Laser:配备激光扫描头的 D4000 是一款极其容易使用的点射扫描器,不需要进 行任何的培训,可分析许多基本的条形码参数,进行解码率和解码百分比的计算. 基本参数检测方式:传统 / 美标 扫描方式:ANSI Mode(Auto-OPtic) 、Laser Mode (激光) 检测码制:Code 39 USS, w/mod43, AIAG B-1, B3/4/5/10, LOGMARS, HIBC UPC/EAN including 2 and 5 digit supplemental codes Code 128 USS, UCC/EAN 128 (see Unique ANSI and Laser Mode Features) USS Codabar Interleaved 2 of 5 USS, Case Code, w/ Mod 10 Check Digit 用户界面: 1 、四个按钮: On, Print, Select, Enter 2 、 4 行液晶显示 每行 20 字符 3 、 5 个提示灯 – 显示条码级别 4 、声音识别检测结果(功过、失败、电池电量过低) 可选附件: 1 、打印机: TP140A 2 、电池充电器 ( 没有电池的情况下可做为交流电源使用 ) 3 、镍镉电池 物理参数: 长 198 mm x 宽 117 mm x 高 48 mm 方式对比扫描方式ANSI Mode (Auto-OPtic)Laser Mode (激光)基本功能两种模式:3、5、10、20 mil 3、6、10、20 mil 两种波长:660 and 925 nm UCC/EAN128 数据格式检测: AI 00 AI01两行液晶显示解码率, UCC/EAN 128 ( AI )数据格式检 测 存储打印或数据库功能, 20K 存储器,参数分析all ANSI method parameters application compliance plus traditional analyses traditional parameters (除 reflectance) data comparison percent decode 具体应用1.扫描使用热敏或激光打印出条码的便携扫描器 2.褶皱表面上用来运输的条码 3.X 方向尺寸较大的条码(25mil) 4.使用 IR 光线检验 5.X 方向多元尺寸打印条码 6.测量材料反射率 7.平面上的 UPC 码1.弯曲表面上的条形码; 2.易褶皱或褶皱表面上的条形码; 3.湿的,未干的条形码; 4.高度教小的条形码; 5.AI 或数据格式需要分心的 UCC/EAN 码; 6.数据匹配; 7.激光打印机打出,对 ANSI 解码率有特殊7.平面上的UPC 码要求,用在分析用的条形码;
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  • 二维码扫描仪 400-860-5168转5942
    DataPaq二维码扫描仪由英国Ziath公司生产,采用独特的冷冻防护系统,可以连续扫描样品管,快速获得扫描信息。DataPaq二维码扫描仪可兼容相关设备,根据需要选择不同型号的产品。产品特点: 安装简单,一键扫描。以深聚焦单管架扫描仪为例,连接上电源,并用usb接口连接电脑,点击扫描即可得到整个管架的数据,之后就可以在管理软件中进行编辑和管理。 有高智能样本管理软件,便于跟踪管理样本。 有防冻保护系统,可以直接扫描从冷冻设备中取出的冻存管,减少结霜及错误。 可以扫描各种品牌的二维码冻存管。 可以导出Excel、text、XML的数据,也可导出图像。产品介绍:提供4种扫描仪,分别为:深聚焦单管架扫描仪、快速单管架扫描仪、多管架扫描仪和单管扫描仪。另有高智能样本管理软件用于管理和跟踪样本,并提供2ml和5ml冻存管以及冻存盒。DataPaq深聚焦单管架扫描仪深聚焦:储存管略高于管架依然可以精确扫描方便:可连接条形码扫描仪,读取管架裙边条形码信息小巧:165×288×65mm(W×D×H)适应种类多:兼容384, 96, 48和24管管架DataPaq快速单管架扫描仪快速:取像时间只需一秒小巧:85.5×184×94mm(W×D×H)DataPaq多管架扫描仪高通量:最多可同时扫描四个管架多样:可根据用户的管架配置来更换模具快速:扫描每个管架仅需5秒小巧:271×475×73mm(W×D×H)DataPaq单管扫描仪快速:取像时间 <1s简便:与电脑的USB连接即可运行,不需单独提供电源优质:采用防刮无机玻璃小巧:60×90×60mm(W×D×H)Samples样本管理软件Samples是一种软件管理工具,和Ziath的DataPaqTM二维码扫描仪配合使用。可以直接控制扫描仪,得到扫描结果,并可以建立管理列表,保存、跟踪、编辑、搜索样本信息,使样本管理简便高效。耗材冻存管:2ml、5ml两种规格,内旋外旋两种类型。管底有二维码,管侧有条形码及可读代码。二维码:激光蚀刻并嵌入管底。耐低温耐化学腐蚀耐机械损伤。冻存盒:81孔和100孔两种规格。盒底有定位二维码,盒边有可扫描代码。
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  • 仪器简介:NTEGRA平台是一个革命性的技术概念,在拥有所有SPM技术:原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时,还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能!。Prima则是这个平台中的基础SPM,可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能,其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数:在大气环境下:扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下:原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部:AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式:样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸:样品扫描:直径40mm,厚度15mm。针尖扫描:样品无限制 XY样品定位装置:移动范围5× 5um,精度5um 扫描范围:90× 90× 9um(带传感器/闭环控制),可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度:&le 0.5%(带传感器/闭环控制) Z方向噪音水平(带宽1000Hz时的RMS值):闭环控制扫描器(典型值0.04nm,最大0.06nm)光学显微系统:配备高数值孔径物镜后,分辨率可由3um提升至1um样品温度控制:室温~300℃ 主要特点:Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统,在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM,专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作,并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品,在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜,能够提供所有近场探测模式,从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用,专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用,且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面(也适用于电镜)。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强(TERS)
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  • 适应各种冻存管二维码扫描 基本参数外形尺寸:210mm*170mm*105mm(不含支架高度)工作电压:220V工作电流:1.25A工作环境:-20℃到40℃系统要求:Windows10\8\7\Vista USB2.0接口各一个整板拍照时间:≤1S整板解码时间:≤1S读码兼容范围:各大主流SBS冻存盒品牌适用板架:24,48,96,100通道。
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  • 适应各种冻存管二维码扫描 基本参数外形尺寸:210mm*170mm*105mm(不含支架高度)工作电压:220V工作电流:1.25A工作环境:-20℃到40℃系统要求:Windows10\8\7\Vista USB2.0接口各一个整板拍照时间:≤1S整板解码时间:≤1S读码兼容范围:各大主流SBS冻存盒品牌适用板架:24,48,96,100通道。
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  • 锥形光纤探针扫描系统锥形光纤探针扫描系统GalvoStation是一种单通道光电激光设备,锥形光纤探针扫描系统设计用于使用Lambda Fibers进行空间选择性光传输和收集。GalvoStation允许将Lambda光纤发出的光限制在其有效长度的子位置。锥形光纤探针扫描系统在有效长度范围内,可以沿光纤轴任意扫描活性子位点。锥形光纤探针扫描系统利用这一特性,可以对不同深度分辨率的大脑区域进行光刺激,以便使用多电极阵列记录不同深度的光致电生理信号,或在深度分辨率的纤维光度测定实验中收集来自不同大脑区域的荧光信号。用锥形光纤探针Lambda Fibers的位置选择性光传输/收集的轴向分辨率由子站点长度表示。锥形光纤探针扫描系统GalvoStation可以配备一个或两个激光源,并可选地包括一个光路,用于组合光传输和收集与单个探头。下表列出了带有相关应用程序的选项集示例。Laser wavelengths[nm]Collectionband [nm]Application example405 + 473500 – 550基于等吸收控制的GCaMP空间选择性光纤光度法473N/A基于ChR2的空间选择光遗传学405 + 561600 – 650基于等吸收控制的RCaMP空间选择性光纤光度法锥形光纤探针扫描系统组成:完整的GalvoStation系统由GalvoStation(1),其电源(2),一个或两个激光驱动器(3),一个DAQ板(可选,4)和一个光电探测器(可选,5)组成。根据所选的配置,系统提供了一组补片光纤和所需的所有电缆。2根2m长的D-Sub15电缆。一根探针跳线(SMA905到护套)。一根传感器跳线(SMA905到FC/PC)。三根0.5米长的BNC电缆。4根2000米长的BNC电缆。三个BNC-Tee适配器。一根2米长的3针DIN电缆。3根C13交流电缆。一个DAQ电源。还包括一个入门工具包。由:一根5pack Lambda-plus fibers(光纤类型和短管规格由客户定义,包括一张校准幻灯片) 一根探针跳线(与Lambda-plus fibers类型相同) 一根传感器跳线。如果要使用旋转接头,则在订单中指定的连接器将提供额外的跳接线。设备提供的探针跳线建议与Lambda-plus fibers和TaperScan软件进行配套使用蕞佳。GalvoStation提供的传感器跳线基于高数值孔径光纤,适合与光电探测器(可选包括)一起使用。如果与您自己的光电探测器一起使用,请参考制造商的光电探测器跳线的选择和购买指南。锥形光纤探针Lambda-plus fibersLambda-plus fibers是在不同批次的光纤中选择具有严格的锥度长度和锥度轮廓公差的光纤,用于恒定的子位点长度,强烈推荐给GalvoStation和ThetaStation用户。TaperScan—GalvoStation控制软件TaperScan软件可用于GalvoStation的完全控制。它允许选择Lambda fibers的有源子站点,操作激光源及其光功率水平。实现了两种操作模式:手动模式用于直接手动控制Lambda fibers的空间选择性光发射,以及协议模式,可以对单源(例如光遗传刺激)和双源(例如具有等吸光控制的光纤测光)刺激程序进行编程。手动版锥形光纤探针扫描器Thetastation是一种光机械工具,设计用于使用Lambda fibers进行空间选择性光传输。该设备允许限制和手动扫描Lambda fibers在其有效长度的子站点发出的光。通过这样做,可以独立探测植入Lambda fibers的组织区域的子部分:这种能力在光遗传学实验中提供了额外的自由度,当沿着一个轴延伸的读出技术与定点选择性光传输(例如线性微电极阵列)同时使用时,这一点特别相关。一般性建议:建议使用激光光源。使用单模(SM)输入跳线以获得蕞佳传输效率。Lambda fiber的发光子区域的位置和尺寸以及传输效率需要作为千分尺螺杆位置的函数进行校准。关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • vivaCT 80是提供最大的视野的活体内microCT扫描器(80 mm)和最佳的决议(5 μm)因此在它的类别并且是老鼠、鼠和兔子活体内X-射线微计算X线体层照相术想象的最多才多艺的扫描器。vivaCT 80受益于狭窄的锥体光束孔径角几何和最佳的图象质量的机械上可调整的视野在低辐射剂量。 新的扫描器技工支持在中间和低分辨率的快速的扫瞄速度。新的联合监视和给装门的系统允许至善至美动物处理和高生产量。 互换性的单位给同时监测多个动物的可能性: 当扫描主题,下一个可以沉着,并且时它的温度和心率可以被监测和被记录。 动物然后被装载入扫描器用它热忱的监护系统,因而使整体准备过程更加高效率。 观察照相机、热化,周围温度监视和呼吸装门也在系统集成并且从接触显示是受控的。
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  • 精确性、多功能性、便携性相结合全新 MAX 系列集 HandySCAN 3D 产品线的便携性、精确性、高速度和简易操作于一身,经过优化,可对航空航天、运输、能源、采矿和重工业等行业中常见的大型复杂零部件进行高精度的 3D 测量。HandySCAN 3D|MAX 系列可采集精致细节,也可扫描大型物体,赋能专业人士能够更轻松地扫描大型零部件和组件,在短短几分钟内即可获取高质量的三维扫描结果。大型零部件和高速三维扫描仪 HandySCAN 3D|MAX 系列配备 38 条激光线、扫描区域广,可快速、轻松测量大型工件尺寸(最长 15 米),只需几分钟即可获取计量级结果。其灵活测量范围 (Flex Volume) 功能允许工作距离在 0.3m 到 2.5m 之间变化。也就是说用户可以在近距离较小的区域进行高质量扫描,也可以在较远距离对较大的部件进行高速测量。快速设置和扫描过程测量范围广且可扩展体积即时网格和即用文件高精度和高分辨率这款 3D 测量解决方案具有动态参照和体积精度优化功能,可在恶劣环境中工作,无论用户的经验水平如何,他们都能对大型部件进行高精度的测量。MAX 系列凭借其实时校准功能,将校准步骤直接集成到扫描工作流程中,可自动为用户无缝地执行校准。其灵活测量范围 (Flex Volume) 功能还允许以较高的精度近距离采集区域的细节。测量精度几乎不受环境不稳定性的影响通过 ISO 17025 认证,并符合 VDI/VDE 2634 第 3 部分标准集成摄影测量采集精致细节用途广泛和简单易用HandySCAN 3D|MAX 系列可以检测各种类型的表面,包括高亮的、油光的甚至反光的表面,而且无需进行表面处理或任何零部件准备工作。智能表面算法功能凭借其先进的算法和图像处理技术,可优化表面测量,从而提供更好的跟踪效果、更佳的性能,以及更好地采集难以测量的明暗对比强烈的表面。智能表面算法功能将先进的图像处理与人工智能相结合,可优化表面测量,从而提供出色的跟踪效果、更好的性能,并更好地采集难以测量的明暗对比强烈的表面。这意味着扫描过程对用户来说更简单。蓝色激光技术实时网格可视化即插即用应用领域质量控制HandySCAN 3D|MAX 系列符合经常与大型部件和组件打交道的航空航天、运输、能源、采矿行业和重工业等行业的质量标准。逆向工程MAX 系列既能满足产品开发对速度和高分辨率的要求,又具有非凡的便携性,非常适合测量难以移动的大型部件。无损检测HandySCAN 3D|MAX 系列可以很好地与 VXintegrity 协同工作,与 BLACK 系列相比需要的目标点更少,是测量压力容器等大型结构的理想三维扫描仪。 技术参数专为计量级应用提供具备高精度、易操作、便携性以及真正快速测量特性的创新技术。HandySCAN MAX&trade HandySCAN MAX&trade |Elite精度0.150 mm0.075 mm体积精度(基于部件尺寸)0.200 mm + 0.030 mm/m0.100 mm + 0.015 mm/m测量能力 (与物体的距离 = 0.5 m 时)针脚2.50 mm孔3.50 mm台阶0.04 mm墙2.00 mm测量分辨率0.04 mm网格分辨率0.4 mm测量速率 2 250 000 次测量/秒光源38 条蓝色激光线激光类别(人眼安全) 2M扫描区域能力(工作距离 1000 毫米)1 x 1 m工作距离 0.45 - 1.60 m 0.30 - 2.50 m景深1.15 m2.20 m部件尺寸范围(推荐)1–10 m1–15 m软件VXelements输出格式.dae, .fbx, .ma, .obj, .ply, .stl, .txt, .wrl, .x3d, .x3dz, .zpr, .3mf兼容软件3D Systems (Geomagic Solutions), InnovMetric Software (PolyWorks), Metrologic Group (Metrolog X4), New River Kinematics (Spatial Analyzer), Verisurf, Dassault Systèmes (CATIA V5, SOLIDWORKS), PTC (Creo), Siemens (NX, Solid Edge), Autodesk (Inventor, PowerINSPECT)重量1.22 kg尺寸(长 x 宽 x 高 133 x 79 x 435 mm(5.2 x 3.10 x 17.10 in)连接标准1 X USB 3.0操作温度范围5-40 °C操作湿度范围(非冷凝) 10-90%
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  • 自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式,扫描范围1um× 1um ,256×256点阵。操作时长依赖于操作者。 传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作。 性能优异性能优异从光学显微镜到SPM/AFM,各模式下均可清晰地捕捉图像利用光学显微镜搜索目标区域,利用SPM可以方便地进行高分辨率观察。利用与表面形状图像相同的视场可以获得其他物理特性信息。样品:硅基底上的二氧化硅图案 丰富多样的扫描模式从形貌观察到基于力曲线测量的物性分析,支持广泛的扫描模式。这意味着可以兼顾高分辨率与物性测试。 形貌接触模式、动态模式机械性能相位模式、侧向力模式、力调制模式、Nano 3D Mapping Fast *电磁学电流模式* 、磁力模式* 、表面电势模式* 、压电力模式* 、STM *纳米加工矢量扫描模式*环境支持液体环境**为选配部件 搜寻目标区域更容易利用清晰地光学显微镜图像,可以轻松找到目标区域,不用担心振动的影响。SPM-Nanoa集成了一体式高性能光学显微镜。 样品视野 使用集成光学显微镜,样品表面的3um间隔图案清晰可见。 高分辨观察表面物性极软样品的变形或样品局部的机械及电气性能的差异,都可以获得高分辨率的观测图像。用表面电势模式观察云母基底上的金纳米颗粒 该图显示了0.2um范围内的表面电势(右)和形貌图像(左) 8K成像助力大范围高分辨扫描可支持8K(81929192)扫描点阵,大范围区域的小细节也纤毫毕现。观察金属蒸镀膜 省时高效支持功能功能模式高速观察通过高速观察和物性高速成谱功能,显著减少了观测时间。探针更换工具和样品更换机构有效缩短了扫描准备时间。三个独特设计极大缩短了观测时间。 高通量观测高速物性成谱简便顺滑地样品更换便捷更换探针 高通量观测高速物性成谱采用了可实现高速响应的HT扫描器并优化了控制算法,从而大幅缩短了观察和物性成像的数据获取时间 *观测时间受参数设定影响 简便顺滑地样品更换高速物性成谱一键式操作实现自动开启、关闭平台,放置和取出样品。由于固定了激光的照射位置,所以在样品更换后可立即进行观察。 探针更换简单且可靠 Cantilever Master(选购)仅需将探针放置在指定的位置,并使其沿着导轨滑动即可安装,即使操作人员不习惯使用镊子,也能够简单准确地进行操作。
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