高三维测试仪

仪器信息网高三维测试仪专题为您提供2024年最新高三维测试仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括高三维测试仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的高三维测试仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合高三维测试仪相关的耗材配件、试剂标物,还有高三维测试仪相关的最新资讯、资料,以及高三维测试仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

高三维测试仪相关的厂商

  • HOLON华朗科技从事三维数字化扫描系统的公司,是专业三维结构光扫描系统运营企业。我们致力于先进制造技术领域内的高技术装备的研发生产和销售、数字化制造解决方案、三维技术支持、三维技术服务的专业公司,尤其精研三维非接触扫描、快速成型、逆向工程。HOLON华朗科技提供三维光栅(结构光)式扫描仪、拍照式三维扫描仪、三维摄影测量系统、三维人体扫描仪、三维手持式扫描仪等产品。提供三维数字化制造技术解决方案、逆向工程、模具设计、质量检测、人体扫描测量等领域的技术支持与服务。我们将不断研发先进的数字化设备,为发展民族高科技制造业做出贡献!公司理念: “科技报国,自强不息”我们坚持以科技报国为已任,自强不息,积极进行技术创新。为三维数字化制造技术的应用、传统产业的改造与生产力的提高做出贡献,竭诚为用户提供完善的产品,周到的服务。服务内容:“精益求精,永无止境”华朗科技提供三维光栅(结构光)式扫描仪、拍照式三维扫描仪、三维摄影测量系统、三维人体扫描仪等产品。提供三维数字化制造技术解决方案、逆向工程、模具设计、质量检测、人体测量等领域的技术支持与服务。成功案例:“立足中华,服务四海” 产品以其先进的技术、可靠的质量、优秀的技术支持与完善的服务,受到广大用户的好评与欢迎。我们为众多著名企业、大专院校及科研机构提供产品与服务。华朗三维科技供应:三维扫描仪,三维激光扫描仪,抄数机, ,拍照式三维扫描仪,三维立体扫描仪,三维光学扫描仪,三维人体扫描仪,逆向工程,抄数服务 ,手持式三维扫描仪华朗三维扫描仪应用行业:汽车、游艇行业,制鞋行业,玩具、手机、陶瓷、雕塑行业,人体测量领域,女士内衣及服装行业,彩色扫描,文物扫描领域,检测领域,模具设计
    留言咨询
  • 北京三维天地科技有限公司(以下简称“三维天地”)创立于1995年,专注于专业化应用软件研发及服务,在企业、政府、研究院所等专业化软件领域处于领先地位。 自2003年初涉足LIMS领域以来,LIMS事业部表现不凡,先后签约大连西太平洋石化、燕山石化、上海赛科、上海亨斯迈等大型国企、中外合资、美国独资企业及中国海关总署、北京市药品监督管理局、广东省药品检验所、上海市环境监测中心等政府事业机构,其中大部分已经顺利上线为客户服务,赢得客户的美誉。通过四年的发展,LIMS事业部已经积累和具备了相当实力,被业界公认为国内LIMS领域的佼佼者。北京三维天地科技有限公司诚征石化行业、药品检验、环境监测、疾病预防与控制、司法鉴定、水文水资源以及其它各行业代理,我们期待您的加盟!联系电话:010-82856868-217联系人:闫毅
    留言咨询
  • 新拓三维技术(深圳)有限公司,致力于先进三维光学测量技术研究和系列测量设备的研发、技术方案提供。公司总部位于深圳,在西安设立研发中心,核心团队为原西安交大三维技术团队,长期潜心于三维光学测量的基础及应用研究。团队多项研究成果及关键技术达到国际先进水平,制定了三维光学测量领域的第一个国家标准,项目技术获得国家技术发明二等奖一项,陕西省科学技术奖一等奖一项。团队以深圳为市场开拓桥头堡,将从基础研究转向应用研发和市场开拓,以三维工业测量检测、科研设备和教育三大板块主要业务方向。 公司拥有三维光学测量检测数款成熟产品,多项产品填补国内空白并成为国内唯一供应商。公司四大系列产品和技术:三维外形轮廓检测测量、三维应变测量、变形测量、三维动态和运动轨迹测量、教育文创及民用领域的外形测量,十多个三维光学测量系统产品,广泛应用于国内外研究机构、高校及企业的科研、生产和在线检测中,涉及消费电子、航天航空,汽车,重型机械,医疗等行业和机械、材料、力学、土木工程等10多个学科领域。 公司产品现分为三大系列。三维全场变形测量系列,XTDIC非接触全场应变测量,又称为数字散班应变测量分析系统,其中包括板材应变测量系统XTDIC-FLC,显微应变测量系统XTDIC-MICRO等;三维外形轮廓测量系列,其中包括工业用板块三维摄影测量系统XTDP,三维扫描仪XTOM,民用板块手持式三维扫描仪G200,人体扫描系统等; 关键点追踪系列,包括三维动态测量系统XTDA ,静态变形测量系统XTDP-DEF。
    留言咨询

高三维测试仪相关的仪器

高三维测试仪相关的资讯

  • 新品上市丨嘉仪通【便携式泽贝克系数测试仪PTM】,了解一下?
    近日,武汉嘉仪通科技有限公司正式对外推出最新研发的【便携式泽贝克系数测试仪PTM】。该测试仪小巧轻便,可快速测量薄膜、块体等不同形态热电材料的Seebeck系数,能够应用于热电材料初选、均匀性测试、高通量实验、热电教学体验等与热电材料相关的各个环节,为热电材料科研及产业化提供了更专业、便携的测试新选择!便携式泽贝克系数测试仪该款设备是在中国热电材料领域老前辈的建议下,为实现我国热电材料产业化,打造“精品工程”,嘉仪通科技专项研发的便携式热电参数测试产品!一、核心特点1.材料初选可快速筛选薄膜、块体等热电材料样品,提高初选环节的效率,避免无用实验,极大节约实验成本;2.均匀性测试助力高通量实验,快速检测薄膜、块体等热电材料的均匀性,准确找到材料最优配比;3.教学体验完美适用于本科阶段热电材料相关原理教学、实验讲解等教学体验环节;4.企业精品工程打造有助于优化热电材料工艺设计,进一步提升热电产品质量和稳定性,助力企业打造具有优良品质的精品工程。 二、基本特点1.快速测样测试时间低至10s/次,测试结果自动呈现,极大提高团队的实验效率。2.准确测试采用稳定可靠的方法测量,操作简单,性能稳定,数据准确(中国计量院拿NIST标样进行对比测试,测试结果误差在7%以内)3.样品要求低直接测试热电材料的Seebeck系数,对样品形状无特殊要求。4.长时间续航大容量电池,可供全天(大于10h)持续不间断使用。5.小巧安全设备小巧轻便,易于携带,安全性能高三、技术参数型号PTM-2(企业版)PTM-3温差范围≤40K加热功率6 W泽贝克系数量程20~700 μV/K2~1000 μV/K泽贝克系数分辨率0.1μV/K测量误差±7%±7%充电电压220V/5V2A电池容量8000mAh续航时间12 h样品电阻≤1K Ω≤10K Ω样品尺寸薄膜:长≥10,宽≥5,单位mm块体:长≥1.5,宽≥1.5,高≥1.5,单位mm纤维样品:长≥20,直径≥0.2,单位mm四、测试实例碲化铋棒材截面均匀性测量结果 鹏南电子科技提供样品SEEBECK系数测试结果单位名称样品名称测试一(μV/K)测试二(μV/K)测试三(μV/K)平均值(μV/K)标准样品镍带-19.4-19.6-19.5-19.5清华大学热电薄膜16.516.716.616.7四川大学改性导电聚合物11.111.211.311.2太原理工大学硅化镁-102.9-103.1-103.0-103.0合肥工业大学硅化镁168.0168.0168.1168.0【便携式泽贝克系数测试仪PTM】一经推出,就受到了广大顾客的青睐。目前,已经有中国科学院化学研究所、西安耐司科学仪器有限公司、广东雷子克热电工程技术有限公司等三家科研单位和企业已经或正在采购该设备。此外,还有十余家高校、科研院所和企事业单位也非常有意向购买这款便携式设备。嘉仪通的此款新品,在第十次中国热电材料及应用学术会议(2018年5月6-9号,中国杭州)上首次公开展出,吸引了众多热电研究相关老师的注目。部分老师直接将样品带到大会现场进行测试,测试结果准确有效,得到了相关老师的一致好评。大会现场测样与此同时,嘉仪通科技一直非常注重产品的技术研发与换代升级。虽然此款【便携式泽贝克系数测试仪PTM】刚刚推出,但其升级版产品也正在紧锣密鼓的研发当中,将进一步提升产品各方面测试性能,为从事热电材料领域研究的广大客户提供更方便、更精准测试的好产品。
  • 475.6万元!蔡司中标中科院物理所微米X射线三维断层成像仪采购项目
    近日,中国科学院物理研究所微米X射线三维断层成像仪采购项目发布中标公告,卡尔蔡司以475.6万元中标。一、项目编号:TC220805G(招标文件编号:TC220805G)二、项目名称:中国科学院物理研究所微米X射线三维断层成像仪采购项目三、中标(成交)信息供应商名称 货物名称 货物品牌 货物型号 货物数量 货物单价(元) 卡尔蔡司(上海)管理有限公司 微米X射线三维断层成像仪(X射线显微镜) Zeiss Xradia 515 Versa X射线显微镜 1 4756000 四、招标技术规格1.1 设备用途:设备可对对各类锂电池材料(软包电池,电池极片)、金属材料、油气地质及半导体样品(失效分析)进行高分辨无损三维成像及组织表征。设备采用闭管透射式X射线源、独特的二级放大架构、独有的衬度技术、配合机器的三维数据采集、控制、重构及可视化软件以三维立体图像及二维虚拟切片的形式,清晰、准确、直观地展示各类样品内部的亚微米级及以上的组织形貌(包括样品内部组织结构、内部孔隙、微裂纹等均可清晰展示)。1.2 工作条件:(1)电源:单相 220V(±5%)、50Hz、15A(2)温度:10~25℃, 温度波动<2℃(3)环境湿度:≤70%,无凝结*2.1 分辨率2.1.1 最高空间分辨率:最高三维空间分辨率≤700nm,需提供标样的测试结果,否则视为不响应;2.1.2 最小可实现的体素(Voxel Size)≤300 nm,需提实际样品的测试切片照片,否则视为不响应;2.1.3 能够满足大样品高分辨得测试需求,须具备对锂电池材料中的软包电池实际样品局部进行高分辨率扫描成像,针对≥5cm 宽的软包电池样品的中心位置,可实现≤ 1μm 的体素分辨率的扫描成像能力,以满足采购人单位的科研需求。2.2 三维组织表征及重构2.2.1 无损伤地对样品进行三维组织表征,可获得样品的三维组织形貌及不同角度、不同位置的虚拟二维切片组织形貌信息。不需制样或只需简单制备,不需真空观察环境,不会引入人为缺陷;#2.2.2 能够自动对样品多个(20)不同区域进行 3 维成像扫描和重构;#2.2.3 具有吸收衬度和可调节相位传播衬度两种衬度模式,可以对包括高原子序数和低原子序数在内的各种材料都能获得高衬度图像。能够清楚区分样品内的不同组织;2.2.4 支持纵向拼接技术,通过纵向拼接扫描结果获得更高视野的数据;具有支持宽视场模式的物镜探测器,具备更宽的视野;*2.2.5 2000 张投影,重构 1k × 1k × 1k 图像的时间少于 5 分钟;2.2.6 支持 180°+Fan 扫描模式,从而实现快速扫描成像。2.3 光源与滤色片及支架*2.3.1 高功率微焦点 X 射线源:采用密封式透射 X 射线源,功率≥10W,机器可以不间断连续扫描样品时间达 1 周以上(即 7 x 24 小时)。在用户日常使用过程中无需更换光源灯丝。最大电压≥155kV,最低电压≤30kV,连续可调;2.3.2 配备滤色片转换支架,包含不低于 10 个适用于不同能量段扫描的滤片。2.4 探测器*2.4.1 探测器规格为高对比度平板探测器或更高级的探测器系统,可实现二维有效探测面积≥200mm×200mm,需提供测试方案和样品测试结果,否则视为不响应。像素数量≥2000(长)×2000(宽);2.4.2 具备大视场≤0.4X 光学放大模式,能够实现大视野宽场模式;2.4.3 探测器可移动范围不小于 290mm。2.5 样品台及样品室#2.5.1 全电脑软件控制高精度 4 轴数控可编程马达样品台,具备超高的样品移动精度;#2.5.2 样品台 X 轴运动范围 50mm;Y 轴运动范围 100mm;Z 轴运动范围 50mm;2.5.3 样品台旋转运动范围:360 度旋转;*2.5.4 样品台最大承重≥10kg(X 射线能穿透的情况下);*2.5.5 样品台可承受样品尺寸≥100 cm2;*2.5.6 为了防止 X 射线辐射泄漏、保护仪器操作人员,设备须采用全封闭式铅房设计,样品室内配备可见光相机,确保操作人员无需通过观察玻璃窗即可监控和操作样品;*2.5.7 系统具备样品自动防撞装置,系统通过快速获取样品轮廓信息,设定硬件工作极限位置,防止因为操作不当样品和探测器、源相撞,避免损坏硬件和样品。2.6 仪器控制与数据采集、重构、可视化及分析系统*2.6.1 具备三维数据采集及控制软件,可编程软件系统,支持三维重构,具备快速抓拍功能;2.6.2 全数字化仪器控制,计算机控制工作站;2.6.3 支持原始数据查看,图像标准特征显示(如亮度、对比度、放大等)、注释、测量等;2.6.4 可以进行基本图像测量,如图像计算、滤镜等;#2.6.5 具备快速三维数据重构软件,软件界面友好,采用先进的解析算法以保证重构时间快;2.6.6 具备三维数据可视化软件,展示三维重构结果,包括虚拟断层,着色、渲染、透视等,并实现基本分析功能和注释;#2.7 数据处理工作站不低于以下配置Microsoft Windows10 Pro 操作系统Dual Eight Core CPUCUDA-enabled 3D GPU12 TB(4×3 TB)硬盘容量,RAID-532GB 内存可刻录式光驱24寸液晶显示器。2.8 样品座及标样2.8.1 对中和分辨率测试标样;2.8.2 针钳式样品座;2.8.3 夹钳式样品座;2.8.4 夹持式样品座;2.8.5 高铝基座样品座;2.8.6 高精度针钳式样品座。2.9 其他硬件2.9.1 人体工学操作台;2.9.2 四门式防辐射安全屏蔽罩,配备辐射安全连锁装置和“X-ray on”指示器;2.9.3 大移动范围、高精度花岗岩工作台。2.10 可扩展功能与双束系统、场发射电镜的数据相互关联,可将 CT 所获得的数据文件格式如 CZI, RAW,TIFF,VTK,DICOM 等格式的二维图像和 TXM 3D X-ray volumes 体量数据,导入到电镜或者双束系统的软件中,实现亚微米级到纳米级的数据关联以及数据处理。
  • 新突破!中国科学家领衔,率先实现“三维透射电镜技术”成熟应用
    2023年12月1日,重庆大学作为第一完成单位和第一通讯作者单位在顶级期刊《Science》发表最新研究成果。论文题目为《3D microscopy at the nanoscale reveals unexpected lattice rotations in deformed nickel》(纳米分辨三维电镜揭示变形镍的异常晶格转动),是材料科学与工程学院黄晓旭团队及其合作者利用自主研发的三维透射电镜技术在纳米金属研究领域取得的新突破。此前,重庆大学材料科学与工程学院在材料科学领域已有5篇论文发表在《Science》和《Nature》上。黄晓旭教授传统的电子显微镜技术,只能观察样品的表层,或者观察材料内部三维结构的二维投影,这大大限制了人们对材料微观组织的认识。因此,过去二十多年,在全球范围内,广大科学家致力于开发三维表征技术,空间分辨率在微米尺度的三维表征技术研发已取得了重要进展,其应用促进了材料科学领域的重要科学发现。但是,更多更深层次的材料科学问题需要纳米级甚至原子级的三维表征技术,将空间分辨率从微米级提高到纳米级,需要提高三个数量级,这是一个巨大的挑战。黄晓旭团队经过十多年的不懈努力,在国家重点研发计划等项目的支持下,成功开发了一系列基于电子衍射的三维透射电镜技术,空间分辨率1nm。这些技术的研发填补了纳米级三维电镜取向成像技术的空白,将大大促进三维材料科学的发展。金属中位错界面的三维透射电镜成像纳米金颗粒的三维透射电镜成像本研究利用三维取向成像技术,首次实现了纳米金属塑性变形的三维电镜研究。发现了纳米金属塑性应变可恢复的反常现象,并揭示了这一现象的物理本质。本工作的新发现发展了纳米金属塑性变形理论,将为先进纳米结构材料研发、纳米材料使役行为的预测和控制以及微纳器件功能优化提供理论指导。纳米金属镍变形前(A)和变形后(B)三维形貌与晶体取向变化黄晓旭团队长期致力于先进表征技术和纳米金属研究,在三维表征技术的研发、纳米金属的变形机理和强化机制研究等方面已取得了多项创新工作,相关成果多次在《Science》和《Nature》杂志发表。重庆大学/西南技术工程研究所贺琼瑶博士和欧洲散裂中子源Søren Schmidt博士为共同第一作者,重庆大学/北京科技大学吴桂林教授、清华大学Andrew Godfrey教授和重庆大学黄晓旭教授为共同通讯作者。重庆大学朱万全博士、黄天林教授、张玲教授和冯宗强副教授,以及丹麦技术大学Dorte Juul Jensen教授为共同作者。原文链接:https://www.science.org/doi/10.1126/science.adj2522黄晓旭团队部分成员

高三维测试仪相关的方案

高三维测试仪相关的资料

高三维测试仪相关的试剂

高三维测试仪相关的论坛

  • 【资料】工业应用中的三维几何测量仪器

    机床是制造业的母机,数控机床是机床产品的先进技术体现,特别是高档数控技术是装备制造业现代化的核心技术,是国家工业发展水平、综合国力的直接体现,此次展会汇集了当今世界机床发展和先进制造技术的最新成果,全面展示了我国数控机床产业近几年来高速发展的最新产品和技术。作为数控技术的重要环节——测量设备,在这次展会上展出了一批新技术、新产品,体现了当今测试计量技术发展动向和特点。 测量精度高  随着现代科技向高精度方向发展,机床作为装备工业的基础发展更应超前,而测量设备更由传统的微米、亚微米精度向着纳米量级精度方向发展。随着超精密加工技术的需要,数控精度愈来愈高,对测量设备的精度要求更高,这次展会展示了一批纳米量级的测量设备,除各种激光干涉仪外,光栅测量技术也达到纳米量级。如海德汉的LIP382超高精度直线光栅尺,其测量步距可以达到1nm。基于测量技术的发展,纳米量级的机床成为现实,如上海机床厂展出的纳米级精密微型数控磨床成为展会的一个亮点。测量速度高  现代制造业进行的是大规模、大批量、专业化生产,需要多参数、实时在线测量,故要求测试仪器的测量速度高、设备轻便、操作界面直观。如激光干涉测量技术作为精密测量的一种重要方法,各种激光干涉测量系统向着轻巧、便携、高测速的方向发展。雷尼绍XL-80干涉仪款型小巧,可提供4m/s最大的测量速度和50kHz记录速率,可实现1nm的分辨率;激光跟踪仪可实现快速数据采集与处理,有利于测量精度的提高。各种影像测量设备利用触摸屏可以方便直观地实现特征尺寸的测量。三维测量多样化  三维测量技术向着高精度、轻型化、现场化的方向发展。传统基于直角坐标的三坐标测量机经过50年的发展,其技术愈加成熟,测量更加快捷,功能更加强大。这次参展的国内外数十家坐标测量机生产厂商,各具特色,特别是国内很多厂家推出实用廉价的各种三坐标测量机,说明三坐标测量技术在我国已经走向全面实用化、特色化发展的道路。除直角坐标测量系统外,极坐标测量仪器体现出自身独特的优势,如FARO、ROMER等厂家生产的激光跟踪仪对大尺寸结构的装备现场具有方便灵活的特点。对于小尺寸测量,FARO、ROMER等生产的关节臂测量机因其低廉的成本、较高的精度、现场方便的操作等优势,在汽车等行业展现出广阔的应用前景。测量智能化  测量设备借助于计算机技术向着智能化、虚拟化的方向进一步发展。测量仪器的虚拟化、接口的标准化以及测量软件的模块化,加速了测量技术的发展,使测量仪器的应用更加方便、直观、智能。根据测量需求以及测量对象的不同,可基于同一软件平台使用不同的仪器协同工作,采用不同的测量软件模块,实现了广普测量仪器的网络化、协同化,提高了测量的自动化水平。在这次展会上,国内一些独立的测量软件公司进行了参展,对于测量设备的智能化、网络化具有推动作用。  这次展会展示了当今工业测量设备的新技术、新产品。但也同时看到,我国在测量仪器制造特别是高精度仪器制造方面缺乏自主创新的成果,一些高精度测量仪器在国内还没有相关单位能够生产。通过这次展会,对推动我国几何量测量设备的发展具有实际意义。

  • 三维荧光光谱仪的应用

    [align=center][font='宋体'][size=16px]三维荧光光谱仪的应用[/size][/font][/align][font='宋体'][size=16px]三维荧光光谱是激发波长—发射波长—荧光强度三维坐标所表征的矩阵光谱,英文全称:Excitation-Emission-Matrix Spectra(EEMs)。三维荧光光谱(EEMs) 能同时获得激发和发射波长信息,且因污染物种类和含量不同而各异,具有与水样(溶液)一一对应的特点,就像人的指纹具有唯一性一样,所以被称为水的“荧光指纹”。中广测配备HORIBA公司的Aqualog三维荧光光谱仪,可实现液体样品的荧光光谱、吸收光谱及三维荧光光谱的测试,同时还可进行单点动力学测试、样品空白和背景自动扣除、荧光内吸收矫正等功能。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148051748_9255_2862401_3.jpeg[/img][/align][align=left][/align][font='宋体'][size=16px]一、仪器信息[/size][/font][font='宋体'][size=16px]仪器名称:同步吸收-三维荧光光谱仪[/size][/font][font='宋体'][size=16px]英文名称:HORIBA Aqualog Fluorescence Spectrometer[/size][/font][font='宋体'][size=16px]生产制造商:HORIBA公司[/size][/font][font='宋体'][size=16px]型号:HORIBA Aqualog[/size][/font][font='宋体'][size=16px]HORIBA Aqualog 同步吸收—三维荧光光谱仪,全球首台可同时测定紫外-可见吸收光谱与三维扫描荧光的光谱仪器。耦合于origin的专用软件自动修正内吸收效应,扣除瑞利和拉曼散射。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]二、主要技术指标[/size][/font][font='宋体'][size=16px]1.光源:150W氙灯光源,激发范围230-620 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]2.激发带宽:5 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]3.激发波长精度:±1 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]4.波长重复性:±0.5 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]5.发射范围:240-630 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]6.检测器:TE制冷背照式CCD检测器(荧光) 硅光二极管(吸收)[/size][/font][font='宋体'][size=16px]7.发射积分时间:1 ms (minimum)[/size][/font][font='宋体'][size=16px]8.灵敏度:水拉曼信噪比SNR20000(350ex, 30s 积分时间)[/size][/font][font='宋体'][size=16px]三、应用范围[/size][/font][font='宋体'][size=16px]广泛应用于生物、化学、材料等方向的科研开发,地表水、地下水、自来水、工业园区废水中的有机污染物监测与分析。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]四、服务范围[/size][/font][font='宋体'][size=16px]1.生物领域:酶动力学、蛋白质分析、生物发光。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]2.材料领域:发光材料、电化学发光、量子点、荧光传感材料。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]3.化学领域:反应动力学、化学发光、荧光探针。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]4.环境领域:水体DOM分析、污染物迁移转化分析、水体污染物监测评估。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]5.工业领域:油品鉴定分析、工业废水处理评价。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]五、应用案例[/size][/font][font='宋体'][size=16px]1.荧光光谱在用于荧光探针方面的研究应用[/size][/font][font='宋体'][size=16px]荧光光谱是荧光探针研究的有效手段,通过荧光光谱测试可考察探针分子对目标离子的选择性,灵敏度及抗干扰能力。如在小分子荧光探针氟硼二吡咯(BODIPY)应用于溶液及生物体系钯离子的检测研究中,借助荧光光谱方法,实现了在溶液体系及检测试纸上,开发的荧光探针均能对钯离子的荧光信号增强响应(“OFF-ON”),且手持紫外灯下肉眼可查,探针抗干扰性强。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148054076_1318_2862401_3.jpeg[/img][/align][font='宋体'][size=16px]2.荧光光谱用于敏感物质荧光传感检测方面的应用 [/size][/font][font='宋体'][size=16px]基于小分子荧光传感材料的研究中,通过荧光光谱方法及荧光动力学研究能有效评估荧光传感材料对目标物响应性能及光稳定性。如针对小分子硝酸酯类爆炸物季戊四醇四硝酸酯(PETN)的检测研究中,通过荧光光谱方法可得到具有较高选择性的荧光淬灭或增强效果传感检测材料。三维荧光光谱是痕量爆炸物荧光传感检测研究的有力工具。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148054581_9565_2862401_3.jpeg[/img][/align][font='宋体'][size=16px]3.三维荧光光谱法在有机污染物处理过程中的监测应用[/size][/font][font='宋体'][size=16px]三维荧光光谱法可直观实现对有机污染物降解过程中污染物变化的监测。如在对苯胺和二甲苯的降解过程中,三维荧光光谱可以直观地监测反应过程,能够很好地反映废水降解过程中,有机污染物强度,种类变化过程。其测定迅速、简便、灵敏度高,可用于对各类水处理效果的定性分析、评价。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148058933_5515_2862401_3.jpeg[/img][/align][align=left][/align][font='宋体'][size=16px]4.三维荧光光谱在水体DOM分析中的应用[/size][/font][font='宋体'][size=16px]激发-发射矩阵(EEM)荧光光谱结合数据处理算法已被广泛应用于表征水生和陆地系统中的溶解有机物(DOM)。如采用并行因子框架聚类分析(PFFCA)方法,对不同信噪比和非线性结构强度的模拟数据进行分析,PFFCA为复杂合成和天然样品的独特分解提供了一种稳健的方法,这对于理解水系统中DOM的特性具有重要意义。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148059192_8596_2862401_3.jpeg[/img][/align]

  • DIC数字散斑全场应变测量系统,可以测得三维应变和三维位移的数据。

    DIC数字散斑全场应变测量系统,可以测得三维应变和三维位移的数据。

    XTDIC三维全场应变测量分析系统,结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高,易操作等特点。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021457_595779_3024107_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021457_595780_3024107_3.png图:系统测量原理及散斑图像追踪过程系统组成:统主要由测量头、控制箱、标定板、标志点、计算机及检测分析软件等组成系统应该包含系统测量头(含两台高速工业相机、进口相机镜头,带万向手柄可调节LED光源)、相机同步控制触发控制箱、系统标定板、系统可移动支撑架、动态采集分析软件、载荷加压控制通讯接口、计算机系统等组成。1.1 主要应用XTDIC 三维数字散斑动态变形测量分析系统是实验力学领域中一种重要的测试方法,其主要应用有:在材料力学性能测量方面:DIC已成功应用于各种复杂材料的力学性能测试中。如火箭发动剂固体燃料、橡胶、光纤、压电薄膜、复合材料以及木材、岩石、土方等天然材料的力学性能的检测中。值得注意的是,DIC被广泛应用于破坏力学研究中,包括裂纹尖端应变场测量、裂纹尖端张开位移测量以及高温下裂纹尖端应变场测量等。在细观力学测量方面:借助于扫描电子显微镜(SEM)、扫描隧道电子显微镜(STEM)以及原子力显微镜(AFM),DIC被越来越多地应用于细观力学测量。最近,数字散斑相关方法还被应用于物体表面粗糙度的测量中。在损伤与破坏检测方面:DIC被应用于多种复杂材料,如岩石、炸药材料的破坏检测中。DIC还被应用于一些特殊器件,如陶瓷电容器、电子器件,电子封装的无损检测研究中。在生物力学测量方面:DIC被应用于测量手术复位后肱骨头在内旋转及前屈运动下大小结节的相对位移量,以及颈椎内固定器对人体颈椎运动生物力学性能的影响等。对于大中专院校的研究教学应用,本系统开展各种软组织、金属及复合材料性能测试、力学性能测试分析、有限元分析验证等研究和教学实验,具有大至1000%应变测量范围,并可以实时计算、实现动态全场的应变变形测量。在土木工程的相关研究中,如四点弯试件、半圆弧试件、悬臂梁实验,对应完整实验设计方案,以非接触式的方式提升研究手段,提高研究能力。亦可为学生提供可视化的教学工具,让学生的基础学习课程变得直观和可视,使复杂问题简单化、抽象问题直观化、隐蔽问题可视化。1.2 系统功能(1)基本测量功能:l ※测量幅面:支持几毫米到几米的测量幅面,可以根据需求定制测量幅面。l 测量相机:支持百万至千万像素、低速到高速、千兆网和Camera Link等多种相机接口,控制软件最大支持采集帧率10万 fps。l ※相机标定:支持多个相机(可多于8个)多种测量幅面的标定,支持外部拍摄图像标定。l ※测量模式:三维变形测量,同时支持单相机二维测量。l ※实时计算:采集图像的同时,可以实时进行三维全场应变计算,具备在线和离线两种计算处理模式。l 计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式。l 测量结果:全场三维坐标、位移、应变数据等动态变形数据,应变模式有工程应变、格林应变、真实应变等三种。l 多个检测工程:系统软件支持多个检测工程的计算、显示及分析。l ※支持系统:支持32位、64位windows操作系统,具备64位计算和多线程加速计算功能。(2)分析报告功能l ※18种变形应变计算功能:X、Y、Z、E三维位移;Z值投影;径向距离、径向距离差;径向角、径向角差;应变X、应变Y和应变XY;最大主应变;最小主应变;厚度减薄量;Mises应变;Tresca应变;剪切角。l ※坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能。l ※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥。l ※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角。l 数据平滑功能:均值,中值,高斯滤波等多种平滑功能。l 数据插值功能:自动和手动两种数据插值模式。l 材料性能分析:自动计算材料的弹性模量和泊松比等参数。l 三维截线功能:可对三维测量结果进行直线或圆形截线分析。l 曲线绘制功能:所有测量结果均可以绘制成曲线图。l 成形极限分析功能:可绘制和编辑FLD成形极限曲线。l 视频创建功能:可将测量过程二维图像或者三维测量结果制作成视频并输出保存。l 数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出。(3)采集控制功能l ※采集控制箱可以实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。l 相机同步控制:多相机外同步触发信号。l ※外部采集通讯接口:支持外部载荷如微电子万能试验机等外部载荷联机采集通讯接口,通过串口通讯或者模拟量实时采集外部的加载力、位移等信号,并与三维全场应变测量数据实现同步,实现应力和应变数据的融合和统一。l 光源控制:可以实现测量过程中不同补光需要的LED光源控制。(4)预留扩展接口:l ※多测头同步检测接口:可以支持1~8个测头的多相机组同步测量,相机数目任意扩展,可以同步测量多个区域的变形应变,适用于不同实验条件需求下的变形应变测量。l ※显微应变测量:配合双目体式显微镜,系统可以实现微小视场的三维全场变形应变检测,并可支持扫描电镜、原子显微镜等显微图像的应变数据计算。l ※大尺寸全方位变形接口:支持摄影测量静态变形系统,实现全方位变形和局部全场应变检测数据的融合和统一。1.3 技术指标 指标名称技术指标1. ※核心技术多相机柔性标定、数字图像相关法2. 测量结果三维坐标、全场位移及应变,可视化显示及测量过程的视频录制输出,测量结果及数据输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出。3. ※测量幅面支持1mm-4m范围的测量幅面,并配备相应编码型标定板标定架,可定制更多测量幅面。4. ※测量相机支持百万至千万像素相机,支持低速到高速相机,支持千兆网和Camera Link等多种相机接口,控制软件最大支持采集帧率10万 fps)5. 相机标定简单快捷,需要可支持任意数目相机的同时标定,支持外部图像标定6. ※位移测量精度0.005像素7. ※应变测量范围0.01%-1000%8. ※应变测量精度0.001%9. 测量模式三维变形测量,可兼容二维测量10. ※实时测量计算采集图像的同时,实时进行全场应变计算11. ※系统控制2采集控制箱可以实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。2相机同步控制:多相机外同步触发信号。2外部采

高三维测试仪相关的耗材

  • 三维位移台
    该电动三维位移台是一款无刷直线伺服电机驱动的电动直线位移台,融合了高速高精度的特点,具有亚微米的定位精度,三维位移平台可以为用户带来高工作量/吞吐量,最大负载高达50kg,最高速度高达3m/s.主要特色:三维位移台精确导向系统为高速度长行程提供稳定的定向和导向保障 三维位移台强大的直线电机提供高负载能量和大驱动力;三维移动台高分辨率直线编码器(光栅尺)提供精确的定位反馈和闭环数字伺服控制;三维移动台具有美国制造的坚固耐用特性,高可靠性,长期工作。产品特色:这款三维位移平台采用直接驱动的直线电机用于位移台的定位。这种技术与传统的导螺杆驱动的位移台相比,具有明显的优势:三维位移平台没有螺杆驱动系统中出现的弹性形变问题,可保障更为复杂而精密的定位轨迹,更短的设置和行进时间,更高的重复精度,更快的伺服反应。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台这种技术没有旋转惯性,可获得更高的加速度和行进速度。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台台消除了旋转部件的磨损问题,具有更高的可靠性,更长的工作时间和寿命,更长的检修间隔时间,大大降低用户的使用成本。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台这种直接驱动的直线电机具有高分辨率的编码器,可以精确调节速度,这种直线电机和其它部件可经过特殊处理具有真空兼容性,用于真空环境。产品描述:这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台的所有结构材料都是高强度的铝合金材料,材料表面经过精密机械加工,并进行硬质阳极氧化镀膜(涂层)成浅灰色。电动直线位移台采用两个带有再循环线性轴承的精密方形导轨作为承载部件,它由预加载的滚珠器件精密导引,这种导向系统只需要标准的润滑服务,不需要其他维护。这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台尺寸紧凑,驱动电机不单独外悬,直线电机,编码器和电缆等驱动部件安装于位移台底座,这种设计从而避免了那些外悬电机等核心部件受冲击等损害,具有更为安全的结构。这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台采用再循环轴承系统并配带精密导轨支撑位移台高速度,高精度运动。三维位移台,三维移动台,三维位移平台使用的高强度铝合金材料,精密机械加工工艺把电动位移台的刚度和稳定性发挥到极致。三维位移台,三维移动台,三维位移平台对于铝材料的标准处理是阳极氧化硬质涂层,对于不修钢部件采用抛光处理,对于特殊要求,比如Teflon特氟隆浸渍硬质涂层,非阳极氧化处理,化学镀镍等都可为用户提供。产品应用:这个系列三维位移台,三维移动台,三维位移平台是无刷直线电机(Brushless linear motor)驱动的电动位移台, 即使在高负载情况下也有超高可靠性和精密定位能力,是高负载,高精度高可靠性的最佳电动直线位移台。三维位移台,三维移动台,三维位移平台具有超高加速能力和行进速度.这种电动直线位移台具有更小的惯性,比传统的罗杆驱动等机械传动的位移平台更适合应用.根据牛顿定律可知,负载的轻重直接影响到加速度,这款直线电动位移台,具有较高的加速度和运行速度, 能够帮助用户减少时间而提供工作量.直线电动位移台,电动直线位移台,电动位移台。产品规格和型号参数行程范围:125-750mm驱动系统:无刷直线电机最大加速度: 取决于负载最大速度:3米/秒(无负载时)最大峰值力:800N最大连续力:160N最大负荷:XY平台50Kg,Z轴25kg反馈系统:非接触式直线编码器系统TTL分辨率:5 μm, 1μm, 0.5μm,0.25μm, 0.2μm,100 nm & 50 nm重复精度:5x分辨率构造:铝合金主体,硬质灰色阳极镀膜型号LX-8125LX-8375LX-8500LX-8625LX-8750行程(mm)125375500625750精度Standard SP 标准型± 11μm± 12μm± 16 μm± 18μm± 22 μmHigh Precision HP高精度型± 5 .5μ± 7 μm± 8 μm± 10 μm± 11 μm平整度Standard SP标准型± 6 μm± 12 μm± 20 μm± 28 μm± 36 μmHigh Precision HP高精度型± 4 μm± 6 μm± 10 μm± 14 μm± 18 μmYaw/Pitch/RollStandard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-secHigh Precision HP10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec2 axis systemOrthogonalityStandard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-secHigh Precision HP5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-secExtra High Precision XHP3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec
  • 蔡司ZEISS标记点,GOM三维扫描仪标记点,GOM标记点,三维扫描仪标记点
    蔡司ZEISS标记点,GOM三维扫描仪标记点,GOM标记点,三维扫描仪标记点
  • 三维表面形貌仪配件
    三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维形貌仪配件参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面形貌仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度摩擦学研究,光谱分析磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制