投量二次量仪

仪器信息网讯 2023年12月6日，全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会分析仪器分技术委员会（SAC/TC124/SC6）四届二次会议暨标准送审稿审查会议在海口市召开。海口市市场监督管理局标准化科科长邓仲肖、SAC/TC124/SC6秘书处挂靠单位-中国仪器仪表行业协会秘书长& SAC/TC124/SC6副主任委员李跃光，SAC/TC124/SC6副主任委员金春法、李志刚，以及秘书长马雅娟，SAC/TC124/SC6委员及委员代表、标准主要起草人等100余人出席本次会议。本次会议由海南小而美电商科技有限公司承办，广州禾信仪器股份有限公司、广州科鉴检测工程技术有限公司协办。会议现场科学仪器是科学家的“眼睛”，是高端制造业皇冠上的明珠，其技术发展对科技发展具有重要的战略意义。而仪器标准是评价仪器产品质量的重要依据，对提升产品质量发挥着重要的作用。SAC/TC124/SC6是由国家标准化管理委员会正式批准成立的全国分析仪器专业标准化组织，主要负责物质成分、化学结构和物理特性的分析测量仪器及仪器的测量技术的标准化工作，包括在线分析仪器、便携式分析仪器、实验室用分析仪器及移动式分析仪器等产品的标准化工作。会议开幕式由SAC/TC124/SC6秘书处挂靠单位-中国仪器仪表行业协会秘书长& SAC/TC124/SC6副主任委员李跃光主持。SAC/TC124/SC6副主任委员金春法、李志刚，海口市市场监督管理局标准化科科长邓仲肖等分别致辞。中国仪器仪表行业协会秘书长& SAC/TC124/SC6副主任委员 李跃光致辞并主持会议上海仪电科学仪器股份有限公司、SAC/TC124/SC6副主任委员 金春法致辞汉威科技集团股份有限公司、SAC/TC124/SC6副主任委员 李志刚致辞SAC/TC124/SC6领导在致辞中表示，标准审查任务重，感谢标委会委员们以及秘书处的积极工作！委员的积极参与是标准工作顺利开展的基础，希望未来一如既往支持。海口市市场监督管理局标准化科 科长邓仲肖致辞海口市积极贯彻落实《国家标准化发展纲要》有关部署，结合海口市的经济发展实际情况，切实满足企业需求，跨部门联合，积极推进标准化建设。中国仪器仪表行业协会、SAC/TC124/SC6秘书闫海荣汇报SC6工作情况闫海荣代表SCA/TC124/SC6秘书处向大会汇报了2023年度工作总结，且提出了下一步的工作计划。2023年度SC6标准相关工作进展：共有国家标准制定项目3项，目前处于会审阶段；共有行业标准制修订项目6项，其中计划报批2项、准备送审1项、计划完成征求意见稿3项；申报国家标准7项、行业标准4项；完成与分析仪器相关的团体标准9项；对口IEC/SC65B/WG14，推动由聚光科技代表中国起草的国际标准“IEC TS 63165 光度法工业水质分析系统规范”。2023年，SC6对委员进行调整，增补委员12人，因工作变动或退休免去委员7人，调整后SC6委员人数为125人。2024年度 SC6工作重点包含按计划完成国家标准和行业标准制修订项目共7项、完善本标准委标准体系表、做好2024年度国家标准和行业标准的制修订项目申报工作、加强开展标准的培训和宣贯工作、保持与IEC国际化标准组织的联络、完成上级TC交给的工作任务等。新委员风采本次增补的新委员纷纷表示，非常高兴加入到SC6这个专业又有“温度”的大家庭，接下来将积极参与活动，发光发热，为国家标准化建设贡献力量；并发挥自身的作用助力标准成果转化，帮助国产分析仪器高质量发展。响应国家产业政策，适应分析仪器技术发展，标准化工作也在寻求转变，正从单一产品标准向基础通用深入。 因此，本次会议上也特别安排了两个相关主题的报告。报告题目：国产质谱产业化思考报告人：广州禾信康源医疗科技有限公司 刘平报告题目：质量强国与国产化-可靠性需求报告人：广州科鉴检测工程技术有限公司 文武本次会议对“安全仪表系统 过程分析技术系统”、“液体荧光氧分析仪 性能表示”、“分析仪器系统维护管理”三项国家标准，以及机械行业标准“荧光光度计”送审稿及其相关文件进行了会议审查。SC6副主任委员金春法、李志刚分别主持该环节。会议现场委员们针对编制说明、标准正文逐一仔细审查，展开了激烈讨论，并给出修改建议。经过深入探讨后，参会委员和委员代表们一致表示同意通过本次会议提交的三个国家标准和一个行业标准的审定，标准牵头单位主要起草人按上述修改建议意见进行补充和修改，使标准中文字更严谨，内容更精练，同意起草工作组根据本次会议的意见修改完善后启动行业标准报批程序。

p style="text-indent: 2em text-align: justify "双球差校正透射电镜用于材料科学进行快速、精确的形貌观察和微区的晶体结构和定量表征。用于金属、半导体、电介质、多层膜结构、稀土材料等材料的形貌、晶格、缺陷或界面原子结构的表征；提供材料的化学成分信息、轻重原子分布、电子结构、缺陷及成键信息、静电和磁场信息等。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify "近日，郑州大学材料科学与工程学院发布关于“郑州大学材料科学与工程学院300KV双球差校正透射电镜STEM采购”项目的二次招标通知，拟以3500万元预算金额采购300KV双球差校正透射电镜STEM设备，允许设备进口。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify "河南行正招标服务有限公司受郑州大学委托，就郑州大学材料科学与工程学院300KV双球差校正透射电镜STEM采购项目进行招标采购，现欢迎符合相关条件的供应商参加投标。/ppbr style="text-indent: 2em text-align: left "//pp style="text-indent: 2em text-align: left "项目名称：郑州大学材料科学与工程学院300KV双球差校正透射电镜STEM采购项目/pp style="text-indent: 2em text-align: left "项目编号：豫财招标采购-2019-20号CZ/pp style="text-indent: 2em text-align: left "开标时间：2019年2月21日 10:30（北京时间）/pp style="text-indent: 2em text-align: left "投标截止时间：2019年2月21日10:30（北京时间）/pp style="text-indent: 2em text-align: left "采购预算：3500万元br style="text-indent: 2em text-align: left "//pp style="text-indent: 2em text-align: left "联系人：朱老师 /pp style="text-indent: 2em text-align: left "电话：13783617417/ppbr style="text-indent: 2em text-align: left "//pp style="text-align:center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201902/uepic/e9035067-4a65-417c-a82d-46fb23d8d71f.jpg" title="屏幕快照 2019-02-19 上午7.33.21.png" alt="屏幕快照 2019-02-19 上午7.33.21.png" width="513" height="173" style="width: 513px height: 173px "//ppbr style="text-indent: 2em text-align: left "//p

阿美特克子公司CAMECA发布两款新型超高灵敏度二次离子质谱仪，两款仪器均为满足环境和地质学家的分析需求而设计，满足其对小粒子、同位素等分析的高精度和高通量要求。　　IMS 1300-HR3是CAMECA最新一代的大型磁质谱二次离子质谱仪，可以同时保证高重现性、高空间分辨率、高质量分辨率。KLEORA是在IMS 1300-HR3的基础上改进并同期推出的一款产品，主要是优化了离子探针而适用于地质学定年。　　“我们非常自豪可以同时推出这两款新型的二次离子质谱仪，我们相信这两款仪器均代表了微量分析技术的重大进步。”CAMECA副总裁和业务部经理Jean-Charles Chen，“在引进独特的、创新的特点的同时，这两款仪器也继承了以前CAMECA大型磁质谱二次离子质谱仪产品的优点，这些产品曾被世界上顶级的实验室所选用。”　　重大的突破使IMS 1300-HR3和KLEORA成为市场上最强大和灵活的离子探针，使其应用范围更加广泛，如地质年代学、细胞生物学和材料科学。　　CAMECA超高灵敏度二次离子质谱仪优势明显：超大尺寸的设计保证了高质量分辨率条件下的最优敏感度，灵活多用的多接受系统保证了高准确度的同位素测量，高分辨磁场控制保证了高质量分辨率条件下的高重现性，可以实现较好的离子成像功能。除此之外，CAMECA还可以提供全球的上门售后支持。　　IMS 1300-HR3和KLEORA均配有自动样品室，可实现无人值守状态下的多样品分析，使用更加方便。新的紫外灯光学系统提高了光学成像，提高了样品定位的准确度和降低了样品移动的难度。　　除此之外，CAMECA在这两款仪器上实现了空间分辨率和数据重现性的较大提高，还有一大突破是使用了高亮度的射频离子源。　　由于这些改进，IMS 1300-HR3可以应用于更多的分析，如硫化物中36S/32S的比率，复杂结构的高空间分辨率离子成像，复杂地质样品中低浓度微量元素的检测等。　　KLEORA配有高通量、方便使用的离子探针，此离子探针专为地质年代学家而设计，为高空间分辨率和高质量分辨率的铀-钍-铅同位素分析提供了高基线敏感度。来源于希腊语的Key和Hour，KLEORA的名字代表了可以帮助科学家追踪地球的历史。　　通过在高空间分辨率和高质量分辨率的前提下实现高重现性，IMS 1300-HR3和KLEORA离子探针帮助环境、地质和同位素研究者进行更多的研究。

二次供水水质在线监测系统将开启“互联网+”时代，未来手机上就能了解所在小区水质实时情况。12月18日，中科院上海微系统所-能讯传感技术联合实验室在上海发布二次供水水质在线监测系统，可实现24小时水质在线监测，明年3月正式投入上海市场。　　水质监测设备进口替代空间大　　2015 新环保法新增加了环境污染公共监测预警机制，对环境监测提出了更高要求。目前，二次供水陷入“最后一公里”水质监控困局。此次发布系统的前端无线传感监测系统外置水箱采样，无采集污染，自动实时监测包括浊度、余氯、ph、溶解氧等主要自来水水质指标，采用的自主研发的光学探头可使用8至10年左右。“在成本方面我们比国外公司大约节约了三分之一。”能讯环保董事长蒋洪明说。　　长期以来，我国环境水质监测仪器主要依赖进口，国产水设备市场占有率不足10%，进口替代空间大。　　前期投入后续收取服务费　　这次中科院能讯联合实验室选择二次供水作为突破口，解决了二次饮用水在线监测系统的一些饮用水安全问题，还有报警功能。公司正在将水质监测做成app或者微信服务，届时人们打开手机就能了解所在小区的实时水质，就像现在了解天气和空气质量。　　管理平台还可实现数据汇聚和共享。负责人金庆辉博士说，“目前有很多家庭安装了净水器，有了在线水质监测和大数据分析，就可以知道某个地区甚至某个小区水质到底如何，是否需要净化，重点从哪方面进行净化，净水器厂家甚至保健品厂商也可以根据不同地区的特点开发出更有针对性的产品。”　　该系统已受到资本市场青睐。据透露，目前有五家投资机构进入了能讯环保公司，洽谈b轮融资。能讯环保也在积极筹备挂牌，可能先登录新三板，随后争取转到新兴战略板上市。蒋洪明表示，将努力在未来五年内建立地方性水污染数据库以及地方水污染应急响应机制，覆盖包括饮用水、地表水、地下水在内的立体水质在线监测网络，成为中国最大的第三方环境监测服务供应商。

二次电子(SE)和背散射电子(BSE)是扫描电镜(SEM)中最基本、最常用的两种信号，对于很多扫描电镜使用者而言，二次电子可以用来表征形貌，背散射电子可以进行原子序数表征已经是基本的常识。然而，二次电子、背散射电子与衬度的关系并非如此简单。今天，我们就来深入的了解一下SE、BSE的细分类型，各自的特点，以及它们和衬度之间的关系。二次电子 二次电子是入射电子与试样中弱束缚价电子产生非弹性散射而发射的电子，一般能量小于50eV，产生深度在试样表面10nm以内。二次电子的产额在很大程度上取决于试样的表面形貌，因此这也是为什么在很多情况下大家把SE图像等同于形貌像。然而，这种说法并不严谨。二次电子（SE）和其它衬度的关系 二次电子的产额其实和成分也有很大的关系，尤其是在低原子序数(Z20)时，二次电子也能够清晰的反映出成分之间的差异。图1中显示的就是SE产额随原子序数Z的关系。 图1 SE产额随原子序数Z的关系 这类实际例子非常多，如图2中的碳银混合材料，SE像不但可以区分出碳和银的成分差异，而且相对BSE图像来说具有更多的形貌细节。图2 碳银混合材料的SE、BSE图像以及碳、银电子产额 所以，如果对于低原子序数试样，或者原子序数差异非常大时，若要反映成分衬度，并不一定非要用BSE像，SE像有时也可获得上佳的效果。 除了成分衬度外，SE还具有较好的电位衬度，在正电位区域SE因为收到吸引而使得产额降低，图像偏暗，反之负电位区域SE像就会偏亮。而BSE因为本身能量高，所以产额受电位影响小，因此BSE像的电位衬度要比SE小的多。图3 另外，如果遇上试样的导电性不好，出现荷电效应或者是局部荷电，这也可以看成是一种电位衬度。这也是当出现荷电现象的情况下，相对SE图像受到的影响大，BSE图像受影响则比较小。这也是为什么在发生荷电现象的情况下，有时可以用BSE像代替SE像来进行观察。 至于通道衬度，一般来说因为需要将样品进行抛光，表面非常平整，这类样品基本上没有太多的形貌衬度。SE虽然也能看出不同的取向，但是相比BSE来说则要弱很多，所以一般我们都是用BSE图像来进行通道衬度的观察。图4 SE和衬度的关系，总结来说就是SE的产额以形貌为主，成分为辅，容易受到电位的影响，取向带来的差异远不及BSE。在考虑具体使用哪种信号观察样品的时候，可以参考表1，SE和BSE特点刚好互补，并没有孰优孰劣之分，需要根据实际关注点来选择正确的信号进行成像。 表1SEBSE能量低高空间分辨率高低表面灵敏度高低形貌衬度为主兼有成分衬度稍有为主阴影衬度弱强电位衬度强弱抗荷电弱强 二次电子的分类 刚才简单介绍了SE和衬度的一些基本关系，接下来我们细谈一下SE的分类。因为不同类型的二次电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，使得不同SE探测器采集的SE像会有非常大的差异。因此，为了能在电镜拍摄中获得最佳的效果，我们有必要对SE的类别进行详细的了解。 如果按照国家标准来进行分类的话，SE主要分为四类，分别是：SE1：由入射电子在试样中激发的二次电子；SE2：由试样中背散射电子激发的二次电子；SE3：由试样的背散射电子在远离电子束入射点产生的二次电子；SE4：由入射束的电子在电子光学镜筒内激发的二次电子。 国标这样定义完全正确，然而这样的分类对于在实际电镜操作中并没有太多指导意义。为什么呢？因为不管是什么类别的SE都是属于低能电子，探测器在采集的时候往往也不能对其加以区分。那么，我们现在可以换个思路来理解一下这几种二次电子。由于SE4对成像不起作用，我们在此不进行讨论。A. SE1： 由原始电子束激发，因此其作用深度最浅，对表面最为敏感，我们知道SE本身也有成分衬度，所以SE1也非常能体现出极表层的成分差异。 其次，正因为SE1信号来自于样品的极表面，作用体积小，所以其出射角度应该相对比较高。因此，SE1的分辨率应该是所有类型中最好的。 再者，正是因为SE1的出射高度都是高角，所以其产额不易受到试样表面凹凸不平的影响，因而其分辨率虽好，但是立体感则相对比较弱。B. SE2和SE3： 由BSE激发产生的SE。因为BSE本身作用区域较大，所以在回到试样表面再次产生的SE的作用范围要比SE1大的多，正因如此， SE2和SE3的分辨率也弱于SE1。 其次，SE2和SE3是被位于试样深处的BSE激发，它们的产额在很大程度上取决于试样深处的BSE，而且它们作用区域较深，也更能体现出试样深处的成分信息。 再者，SE2和SE3由不同方向的BSE产生，因此其出射角度相对也较为广泛，从高角到低角均有分布。C. 另外，我们需要再考虑到荷电因素，荷电本身的负电位会将产生的SE尽量推向高出射角方向出射，所以受到荷电影响的电子也一般分布于较高的出射角。 SE1分布在高角、SE2和SE3分布在各个角度，荷电SE分布在高角。这样一来，我们把SE1、SE2、SE3原来按产生的类型分类转化为更加实用的按照出射角度进行分类。即：高角电子以“SE1+荷电SE”为主，低角电子以“SE2+SE3”为主。不同出射角度的SE有着截然不同的特点，我们分别来看一下。A. 轴向SE： 轴向SE是以接近90° 出射的二次电子，其中以SE1所占比例最高。由于作用体积最小，分辨率相应也是最高，且具有最高的表面敏感度，因此可以分辨极表面的成分差异，但是同时对一些并不希望看见的表面沉积污染或者氧化等，也会一览无遗。同时，因为轴向SE中所含的荷电SE也相应最多，所以，一方面对电位衬度最为敏感，另一方面受到荷电的影响也最为严重。B. 高角SE 高角SE是以较高角度出射的二次电子，也是以SE1为主，不过相对轴向SE中所含SE1而言数量稍低。高角SE的分辨率、表面灵敏度、电位衬度相对轴向SE而言也有所降低，不过由于荷电SE占比减少，所以和轴向SE相比，高角SE受到的荷电现象影响较小。高角SE和轴向SE都是向上出射，所以图像的立体感都比较差。C. 低角SE 低角SE是以较低角度出射的二次电子，其中SE2、SE3占有较高比例。所以低角SE反映的是试样较为深层的信息，表面灵敏度低，作用体积大，分辨率也不及高角SE和轴向SE。不过低角SE的图像立体感很好，抗荷电能力也比前两者强。 不同类型二次电子的特点 这样，我们就将原来只能从定义的角度进行区分的SE1、SE2、SE3，转变成出射角度不同的轴向SE、高角SE和低角SE。而按照角度进行分类之后，在实际探测信号时是完全可以对其进行区分的，我们会在之后的篇幅中对其进行详细的介绍。这样，我们现在可以总结一下几种类型SE的特点，如表2。表2轴向高角低角出射角度接近90°大角度小角度凹坑处的观察有信号有信号信号弱分辨率最好很好一般表面灵敏度最好很好较弱立体感差差很好成分衬度极表面成分表面成分较为深处电位衬度强强弱抗荷电能力弱较弱强 很多人都用过场发射扫描电镜，对样品室内SE探测器得到的低角SE2信号，与镜筒内SE探测器得到的高位SE1信号的图像对比会深有感触，很明显两者的立体感相差很大，见图5。图5 低角SE图像（左）和高角SE图像（右） 但是对镜筒内的SE信号再次拆解为高角SE和轴向SE可能会觉得很陌生，虽然前面我们已经对二者进行了介绍，但是毕竟不够直观。我们不妨看看图6，两张图都是使用镜筒内探测器获得，分辨率和立体感都很类似，总体效果非常接近，但是轴向SE（左图）受到小窗口聚焦碳沉积的影响，而同时获得的高角SE（右图）的碳沉积影响则轻微很多。 图6 轴向SE图像（左）和高角SE图像（右） 图7的样品为硅片上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，轴向SE的灵敏度明显高于高角SE。图7 硅片上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右）图8的样品为绝缘基底上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，可以看到轴向SE受到荷电的影响也要高于高角SE。图8 绝缘基底上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右） 总结一下，我们将二次电子拆解成轴向、高角和低角三个不同的类型，它们没有优劣之分，均有自己的特点，有优点也有缺点。我们只有在实际操作时发挥出每种信号的优势，才能获得最适合的图像。 好了，关于SE的分类相对比较简单，相信您已经完全理解，我们将在下一篇中详细说一下BSE。 为了更好的理解这篇的内容，让我们通过几张SE图像来实际感受一下不同类型SE之间的差异吧！ 您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？我们将会在下一期文章中公布答案哦！0102030405

上一章（电镜学堂 |细谈二次电子和背散射电子（一））中我们详细的介绍了不同类型的二次电子的特点以及它们与衬度的关系，今天让我们来认识一下扫描电镜中另一个极其重要的信号----背散射电子（BSE）。背散射电子 背散射电子是入射电子在试样中受到原子核的卢瑟福散射而形成的大角度散射后，重新逸出试样表面的高能电子。由于背散射电子的能量相对较高，其在试样中的作用深度也远深于二次电子，通常而言是在0.1-1μm左右。在很多情况下，大家把BSE像简单的认为是试样的成分衬度，但是这种说法并不完全正确。背散射电子（BSE）和衬度之间有些什么关系？A. BSE的成分衬度 背散射电子的产额和成分之间的确存在非常紧密的关系，在整个原子序数范围内，BSE的产额都是随原子序数的增大而提高，而且差异性高于SE（见图1）。所以，这也是大家都用BSE图像来进行成分观察的最主要原因。图1 铜包铝导线截面的SE、BSE像和铝、铜电子产额 不过，这并不意味着BSE的产额仅仅就取决于原子序数，它和试样的表面形貌、晶体取向等都有很大的关系，甚至在部分情况下，BSE在形貌立体感的表现上还要更优于二次电子。B. BSE的形貌衬度 试样表面形貌的起伏同样会影响BSE的产额，只不过BSE产生的深度相对SE更深，所以对表面的细节表现程度不如二次电子。不过，如果对表面形貌不是特别关注的情况下，可以尝试使用BSE图像来进行形貌表征。特别是在存在荷电现象的时候，由于BSE不易受到荷电的干扰，较SE像会有更好的效果（见图2）。在前一章的SE章节中，我们已经介绍过这部分内容，这里不再赘述。图2（左图）5kV， SE图像 （右图）15kV，BSE图像C. BSE的阴影衬度 在进行形貌观察的时候，有时候需要的是图像的立体感。立体感主要来源于在一个凹坑或者凸起处，对其阴阳面的进行判断。在这方面，大角度的SE和BSE因为对称性的关系，在阴阳面的产额及实际探测到的信号量完全一样，所以体现立体感的能力相对较弱。低角SE2信号反而可以较好的体现图像的立体感，处于样品室侧方的ETD探测器在采集低角SE信号时，朝向探测器的阳面信号不受阻碍，背向探测器的阴面的上部分的SE可以绕行后被探测器接收，而下部分则由于无法绕行从而产额降低，此时阴阳面原本产额相同的低角SE信号，在实际采集的过程中发生了接收数量的不一致，从而在图像上表现出阴阳面的亮度不同，我们把这种现象称之为阴影效应。图3 ETD的阴影效应当凸起区域比较高时，阴影效应会显得比较明显，而随着凸起区域高度的逐步降低，当处于阴面的低角SE能够完全绕行时，此时阴影效应就会变得非常微弱。而基于BSE不能绕行的特点，在这种情况下则可以增强阴影效应。BSE产生后基本沿着出射方向传播，不易受到其它探测器的影响。阴阳面的实际BSE产额是相同的，但是如果探测器不采集所有方向的BSE，而是只采集一侧的BSE，阴阳面收集到信号的差异就会变得非常大，而且由于BSE不能像SE那样会产生绕行，所以这种差异要远高于SE。换句话说，利用非对称的BSE得到的阴影效应要强于ETD的低角SE。图4 不同方向接收到的BSE强度及叠加算法除了形貌衬度之外，我们已经在上一章节已经介绍过。对于电位衬度，SE要强于BSE；对于通道衬度，BSE则要优于SE。我们现在再回到SE和BSE的关系上，简单总结一下，BSE以成分为主，兼有一定的形貌衬度，电位衬度较弱，不过通道衬度较强，抗荷电以及阴影衬度也都强于SE，详见表1。表1BSESE能量高低空间分辨率低高表面灵敏度低高形貌衬度兼有为主成分衬度强弱阴影衬度非对称很强低角有电位衬度弱强抗荷电强弱图5 断口材料的SE和BSE图像及衬度对比背散射电子如何分类？在明确了BSE和衬度之间的关系以及与SE的对比之后，接下来介绍一下BSE的分类。不同类型的背散射电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，为了能在以后电镜观察中获得最适合的条件，我们也要对BSE细致的分类，并对其各自的特点进行详细的了解。 BSE有弹性散射和非弹性散射之分，弹性散射的BSE能量接近入射电子的能量，非弹性散射的BSE能量要稍低一些，从200eV到接近入射电子能量均有分布。从发射角度来说，从很低的角度到很高的角度也都有分布。无论是能量分布上，还是空间分布上，BSE都表现出不同的特点，在此进行逐一说明。A. 高角BSE： 高角BSE是以接近90° 出射的背散射电子。此类BSE属于卢瑟福散射中直接被反射的情况，经过样品原子散射碰撞的次数也少，且和原子序数衬度也存在最密切的关系。高角BSE相对所包含的原子序数衬度最高，相对作用深度也较小，且和形貌关系较小。因此，高角BSE可以体现最纯的成分衬度。另外，当试样表面有不同取向时，不同取向的原子密度不同，也会影响直接弹性散射的概率。所以，高角BSE也能够很好的体现通道衬度。 因而，在多相的情况下，高角BSE可以表现出最强烈的没有其它衬度干扰的成分衬度；在试样抛光平整的情况下，高角BSE也可表现出对表面很敏感的通道衬度。 不过由于高角BSE的出射角的角度要求很高，因此其立体角很小，所以在所有BSE中相对来说占比也较少，信号相对偏弱。B. 中角BSE： 中角BSE是指那些能进入到镜筒内但达不到高角角度的BSE，角度一般不低于60°。中角BSE由于出射角度降低，因此在其中混有的非弹性散射BSE相对高角BSE而言有所提高，在试样表面的作用深度有所增加，其产额随形貌不同开始受到较大的影响。 中角BSE已经开始兼具成分和形貌衬度，不过由于出射角度依然比较大，作用深度也并不深，分辨率也没有受到太大的影响，依然可以维持在较高水平。而且，由于BSE的抗荷电能力要明显强于高角SE和轴向SE，因此，中角BSE可以作为它们的一个很好的补充。不过中角BSE和高角SE、轴向SE存在一个共同的问题，就是立体感同样不如低角信号。C. 低角BSE 低角BSE是以较低角度出射的背散射电子，通常在20°～60°之间。低角BSE的出射角度进一步降低，因此非弹性散射的电子所占比例也进一步提高，作用深度有了较为明显的加深。相应的，低角BSE的成分衬度较之前二者有了一定的弱化，而对形貌衬度的体现则会进一步的加强。 因此，低角BSE是属于兼具成分和形貌衬度，但是相对能够体现的表面细节不多，且图像分辨率有所降低。不过其抗荷电能力却有了进一步的提高，因此在荷电效应很强时，也可以作为形貌像的重要补充。 以上是按照BSE的出射角度来进行分类，我们把这三种BSE先简单的总结一下，如表2。表2低角中角高角形貌衬度降低成分衬度提高表面灵敏度提高立体感降低抗荷电降低分辨率提高信号强度降低图6 不同角度BSE的衬度对比 前面我们都是按出射角度来进行区分BSE，接下来，我们再看两种比较特别的类型。D. Topo-BSE Topo-BSE是指非对称的低角BSE，具有较为强烈的阴影衬度。由于低角BSE在所有角度BSE中对形貌最为敏感，再根据前面提到的BSE的阴影衬度，将两者结合起来，便可产生强烈的阴影衬度。 例如，对于试样上的一个凸起来说，各个方向产生的BSE信号是对称的，但是低角BSE产额和其形貌有关。如果只采集特定方向的低角BSE，那么朝向这个特定方向的信号量接收就要偏多，而背向这个方向的信号就明显偏少，反映在图像上就会出现明显的阴阳面，从而提高了图像的立体感。 Topo-BSE因为不会像SE那样产生绕行，所以其立体感要优于低角SE。而且，因为Topo-BSE比SE更不容易受到荷电影响，所以对于导电性差的试样，往往会有非常好的效果，如图7。图7 黄铁矿样品（左图）没有荷电，立体感强；(右图)立体感稍弱，且有一定的荷电 试样本身并不会产生这种不对称性，这种不对称性主要是人为故意造成，常用的方法有双晶体或五分割等不对称的BSE探测器的算法、对称BSE探测器的Topo模式采集、试样台的倾斜、以及其它的一些特殊技术。这部分内容将在以后的章节中再为大家详细介绍。E. Low-Loss BSE出射角度不同外，BSE的能量分布也大相径庭，从比较低的能量到接近原始电子束的能量范围内均有分布，如图8。图8 BSE的能量分布其中相对比较特殊的就是非常接近原始电子束能量的弹性散射电子。这些能量非常接近原始电子束的背散射电子，因为几乎都是弹性散射，没有受到能量损失，所以它们最大的特点就是作用深度很浅。因为只有作用深度浅，它们才有较大的概率不受到试样原子的非弹性散射。 所以，我们将这类背散射电子称之为Low-LossBSE，能够反映非常表面的成分的变化，而且出射角度相对较高，因而不容易受到形貌的影响。图9 3kV、2kV和1kV电子束在硅基底内的穿透深度BSE的作用深度要比SE深的多，所以BSE信号对试样表面的灵敏度远不及SE。若要提高BSE的灵敏度，通常需要降低加速电压。以Si基底样品为例，使用的加速电压从3kV降到2kV、1kV，其作用深度分别为80nm、35nm和15nm，如图9。虽然表面灵敏度得到了提高，但是依然无法和SE相提并论，而且加速电压的下降导致了BSE信号的急剧下降。此时，让我们来看Low-Loss电子的作用深度，当加速电压为3kV的电子打到Si基底试样上，如果不进行能量过滤，作用深度在80nm；而能量在2.9keV-3keV的BSE电子，即能量损失在100eV以内的Low-Loss BSE电子，作用深度仅为5nm；如果能量在2.95keV-3keV，即能量损失在50eV以内的Low-Loss BSE电子，作用深度仅为2-3nm，见图10。这样的表面敏感度已经堪比二次电子。图10 3kV入射到硅基底上，不同能量的BSE的作用深度所以Low-Loss BSE是对表面极为敏感的背散射电子，有着和SE相当的表面敏感度。对于那些非常关注表面灵敏度的应用需求上，Low-Loss BSE可以起到极其重要的作用。让我们来看一个实例，二维材料中的石墨烯的观察。众所周知石墨烯的厚度非常薄，如果作用深度比较大的话衬度就会变得很弱，所以我们通常都是用低电压的SE来进行成像。如图11中的低角SE和高角SE图，一般很少有人会选择BSE来对二维材料进行成像，因为常规BSE作用深度较深，衬度非常弱。图11 二维材料，（左图）低角SE图，（中图）高角SE图，（右图）常规BSE图然而，试一下用Low-Loss BSE成像，却得到了出乎意料的效果。使用Low-Loss BSE成像，相当于用极浅的信号将非常薄的石墨烯和基底区分开，此时体现出了极佳的衬度。Low-Loss BSE表面灵敏度远优于常规BSE和低角SE，几乎和高角SE的成像效果不相上下。 图12 二维材料,Low-Loss BSE不同类型背散射电子有些什么特点？我们将通常大家并不注意区分的BSE信号，也根据出射角度的不同，将其分成高角BSE、中角BSE和低角BSE，根据低角BSE接收时的对称性分出Topo-BSE，再根据BSE的能量分布分出对表面极为敏感的Low-Loss BSE。这五类BSE信号会有不同的办法加以区分和接收，这将在以后的章节中为大家说明。我们把这五种BSE的特点，归纳如表3。表3高角BSE中角BSE低角BSETopoBSELow-LossBSE形貌衬度弱中强很强弱成分衬度强中中弱强通道衬度中中强弱弱表面敏感度高中低低很高立体感很低中中高很低阴影衬度无无部分条件有强无抗荷电中中很强很强强分辨率很高高低低中信号强度弱中强强弱好了，今天的介绍就到此为止，同样留下几个小问题，答案将留待下一章揭晓！问题：以下是不同类型背散射电子图片，你能说出分别是由哪种BSE成像吗？ 010203上一期答案问题：您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？01低角SE 分辨率的不同 高角SE02低角SE 立体感的不同 高角SE03高角SE 荷电的不同 低角SE04高角SE 对表面灵敏度或深度信息的不同 低角SE05低角SE 受到电位影响电位衬度的不同 高角SE

ATDS-3430型二次（冷阱）热解吸仪新品上市一、仪器简介ATDS-3430型热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便。 二、仪器特点和主要功能1、 采用半导体制冷，节约使用成本，电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；2、样品传输管线全部采用进口高惰性脱活管路，无残留，无交叉污染，保证样品进样的重复性和准确性；3、 微机程序控制，主要功能有： ⑴ 方法参数设置、实时动画显示工作状态、运行时间； ⑵ 解吸区、进样阀、样品传输管和二次解吸区，四路均单独加热控温； ⑶ 设定好分析程序，按下运行键自动完成样品分析； ⑷ 可以根据用户需求配置为常温二次解吸仪或低温二次解吸仪； ⑸ 可同步启动GC、色谱数据处理工作站，也可用外来程序启动本装置；4、本机自带标样模拟采样的功能，可以更方便的通过热解吸仪制作工作曲线；5、采用高温六通阀，最高使用温度可达240℃；6、通过时间编程，自动实现解吸、吹扫吸附、再解吸、进样、反吹清洗等功能；7、采用电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；8、样品传输管和进样阀有自动反吹功能，避免了不同样品的交叉污染；9、为了配套进口气相色谱仪使用起来更方便精确，本仪器还配有针对各种进口仪器的专用接口，连接方便；10、六通阀与传输管线的连接点处于加热保温箱内，无传输冷点，保证了样品的完整性；11、进样针头更换方便，可连接国内外所有型号的GC进样口；12、一体化设计，整机结构紧凑；微电脑控制，全中文7寸液晶显示，操作简单、方便。13、二次解析升温速率＞3000℃/min，峰宽＜3s 三、仪器主要技术参数1、解吸1温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；2、阀进样系统温度控制范围：室温—2600℃，以增量1℃任设；3、样品传送管线温度控制范围：室温—260℃，以增量1℃任设，采用24V低压供电；4、解吸2温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；升温速率〉3000℃/min；5、冷阱温度控制范围：-35℃—室温，以增量1℃任设，采用最先进的电子制冷装置；6、温度控制精度： ±0.5℃ ；7、解吸回收率：〉99%（和组分有关）；8、反吹清洗流量：0～100ml/min （连续可调）；9、模拟采样流量：0～160ml/min（连续可调）；10、RSD：≤2.5%（0.05μg甲醇中苯）；11、富集时间：0～60min；12、进样时间：0～60min； 13、样品位：1位；14、采样管规格：直径≤6.5mm，长度≥150mm；15、进样方式：六通阀电机驱动；16、仪器尺寸：长×宽×高=380mm×220mm×410mm3；17、仪器重量：约15kg；18、功率：500W 四、仪器应用范围：1、《HJ/644-2013环境空气 挥发性有机物的测定 吸附管采样-热脱附气相色谱-质谱法》；2、《HJ/T400-2007车内挥发性有机物和醛酮类物质采样测定方法》；3、《GB/T18883-2002室内空气质量标准》；4、《HJ/583-2010环境空气苯系物的测定固体吸附/热脱附-气相色谱》；5、《GB/50325-2010民用建筑工程室内环境污染控制规范》等。6、《HJ734-2014固定污染源废弃 挥发性有机物的测定 固相吸附/热脱附-气相色谱》等。　　北京北分三谱仪器有限责任公司是一家集研发、生产、销售和服务于一体的专业分析仪器生产厂家。主要生产:气相色谱仪、顶空进样器、热解析仪、解析管老化仪、电子皂膜流量计、氢气发生器、空气发生器、氮气发生器等产品。公司拥有一批长期从事色谱仪开发及分析应用、维修经验丰富的工程师，在色谱类仪器的维护、维修、和调试等方面的技术力量雄厚。近年来，我们已为国内著名高等院校、科研单位、生产企业及检验检测机构提供了大量先进的分析仪器和设备及完整的系统解决方案。正是因为高品质的产品、专业的应用及完善的售前售后服务，我们赢得了广大用户的支持与信赖，具有良好的声誉。 北京北分三谱仪器有限责任公司技术部 创新点：ATDS-3430型热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便。北分三谱二次（冷阱）热解吸仪

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随着科技的发展，热分析仪在材料科学、化学、物理等领域的应用日益广泛，其对于物质性能的准确测量以及工艺优化的重要性愈发凸显。东华大学作为国内知名的高等学府，一直致力于热分析仪的研发与升级，近期，和晟仪器有幸参与了东华大学的热分析仪二次改造升级项目。东华大学东华大学近年采购我司的热分析仪和差示扫描量热仪在性能和精度上已不能满足现阶段科研的需求。为此，和晟仪器凭借其在热分析领域的深厚技术积累和丰富经验，为东华大学提供了全面的二次改造升级方案。该方案不仅提高了热分析仪的性能和精度，还优化了其操作流程，使得科研人员能够更便捷、准确地获得实验数据。在改造升级过程中，和晟仪器团队首先对原设备进行了深入的检测和分析，找出了存在的问题和需要改进的地方。接着，根据东华大学的实际需求，团队制定了详细的改造计划，并严格按照计划进行实施。改造升级后的热分析仪在测量范围、精度、稳定性等方面都有了显著的提升。此次改造升级的成功，不仅提高了东华大学科研工作的效率和质量，也进一步巩固了和晟仪器在热分析领域的领先地位。我们期待未来能有更多的机会与东华大学等高等学府合作，共同推动科研事业的发展。文章到此结束，感谢阅读。如果您对热分析仪的改造升级有更多的关注或疑问，欢迎随时联系我们。和晟仪器将始终致力于为您提供优质的服务。

产品名称：几何尺寸测量仪产品品牌：EVM-G系列产品简介：本系列是一款高精度影像测量仪，结合传统光学与影像技术并配备功能完备的2.5D测量软件。可将以往用肉眼在传统显微镜下观察到的影像传输到电脑中作各种量测，并将测量结果存入电脑中以便日后存档或发送电子邮件。其操作简单、性价比高、精确度高、测量方便、功能齐全、稳定可靠。适用于产品检测、工程开发、品质管理。在机械加工、精密电子、模具制造、塑料橡胶、五金零件等行业都有广泛使用。产品参数：u 变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7X~4.5X，视频总放大倍率40X~400X连续可调，物方视场：10.6-1.6mm，按客户要求选配不同倍率物镜。u 摄像机：配备低照度SONY机芯1/3′彩色CCD摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′CMOS130万像素摄像机。u 底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。u 光栅尺：仪器平台带有高精度光栅尺（X,Y,Z三轴），解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。u 光源：采用长寿命LED环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。u 导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高，移动平稳轻松。u 丝杆：X,Y轴工作台均使用无牙光杆摩擦传动，避免了丝杆传动的间隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动，提高工作效率。 工作台仪器型号EVM-1510GEVM-2010GEVM-2515GEVM-3020GEVM-4030G金属台尺寸(mm)354×228404×228450×280500×330606×466玻璃台尺寸(mm)210×160260×160306×196350×280450×350运动行程(mm)150×100200×100250×150300×200400×300仪器重量(kg)100110120140240外型尺寸L*W*H756×540×860670×660×950720×950×1020 影像测量仪是建立在CCD数位影像的基础上，依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上专用控制与图形测量软件后，变成了具有软件灵魂的测量大脑，是整个设备的主体。它能快速读取光学尺的位移数值，通过建立在空间几何基础上的软件模块运算，瞬间得出所要的结果；并在屏幕上产生图形，供操作员进行图影对照，从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。影像测量仪是一种由高解析度CCD彩色镜头、连续变倍物镜、彩色显示器、视频十字线显示器、精密光栅尺、多功能数据处理器、数据测量软件与高精密工作台结构组成的高精度光学影像测量仪器。仪器特点采用彩色CCD摄像机；变焦距物镜与十字线发生器作为测量瞄准系统；由二维平面工作台、光栅尺与数据箱组成数字测量及数据处理系统；仪器具有多种数据处理、显示、输入、输出功能，特别是工件摆正功能非常实用；与电脑连接后，采用专门测量软件可对测量图形进行处理。仪器适用于以二维平面测量为目的的一切应用领域。这些领域有：机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器，磁性材料、精密五金、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、计算机（电脑）、液晶电视(LCD)、印刷电路板（线路板、PCB）、汽车、医疗器械、钟表、螺丝、弹簧、仪器仪表、齿轮、凸轮、螺纹、半径样板、螺纹样板、电线电缆、刀具、轴承、筛网、试验筛、水泥筛、网板（钢网、SMT模板）等。ISO国际标准编辑影响影像测量仪精度的因素主要有精度指示、结构原理、测量方法、日常不注意维护等。 中国1994年实行了国际《坐标测量的验收检测和复检测量》的实施。具体内容如下：第1部分：测量线性尺寸的坐标测量机 第2部分：配置转台轴线为第四轴的坐标测量机 第3部分：扫描测量型坐标测量机 第4部分：多探针探测系统的坐标测量机 第5部分：计算高斯辅助要素的误差评定。 在测量空间的任意7种不同的方位，测量一组5种尺寸的量块，每种量块长度分别测量3次所有测量结果必须在规定的MPEE值范围内。允许探测误差(MPEP)：25点测量精密标准球，探测点分布均匀。允许探测误差MPEP值为所有测量半径的值。ISO 10360-3 (2000) “配置转台轴线为第四轴的坐标测量机” ：对于配备了转台的测量机来说，测量机的测量误差在这部分进行了定义。主要包含三个指标：径向四轴误差(FR)、切向四轴误差(FT)、轴向四轴误差(FA)。ISO 10360-4 (2003) “扫描测量型坐标测量机” ：这个部分适用于具有连续扫描功能的坐标测量机。它描述了在扫描模式下的测量误差。大多数测量机制造商定义了"在THP情况下的空间扫描探测误差"。在THP之外，标准还定义了在THN、TLP和TLN情况下的扫描探测误差。 沿标准球上4条确定的路径进行扫描。允许扫描探测误差MPETHP值为所有扫描半径的差值。THP说明了沿已知路径在密度的点上的扫描特性。注：THP的说明必须包括总的测量时间，例如：THP = 1.5um (扫描时间是72 秒)。ISO 10360-4 进一步说明了以下各项定义：TLP: 沿已知路径，以低密度点的方式扫描。THN: 沿未知路径，以高密度点的方式扫描。TLN: 沿未知路径，以低密度点的方式扫描。几何尺寸测量仪工作原理影像测量仪是基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术，具有点哪走哪自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量的功能，影像地图目标指引，全视场鹰眼放大等优异的功能。同时，基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程，可以满足清晰影像下辅助测量需要，亦可加入触点测头完成坐标测量。支持空间坐标旋转的优异软件性能，可在工件随意放置或使用夹具的情况下进行批量测量与SPC结果分类。全自动影像测量仪编辑全自动影像测量仪，是在数字化影像测量仪(又名CNC影像仪)基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器。其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能，融合机器视觉软件的设计灵性，属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标扫描测量与SPC结果分类，满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求：更高速、更便捷、更的测量需要，解决制造业发展中又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点，具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位，频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来，成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式，并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图，实现点哪走哪的全屏目标牵引，测量结果生成图形与影像地图图影同步，可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差，并对其进行标定，从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪有着友好的人机界面，支持多重选择和学习修正。全自动影像测量仪性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。选购方法编辑有许多客户都在为如何挑选影像测量仪的型号品牌所困扰，其实最担心就是影像测量仪的质量和售后。国内影像测量仪的生产商大部分都集中在广东地区，研发的软件功能大部分相似，客户可以不用担心，挑选一款能够满足需要测量的产品行程就行了。根据需要来选择要不要自动或者手动，手动的就比较便宜，全自动的大概要比手动贵一倍左右。挑选影像测量仪最重要看显像是不是清晰，以及精度是否达标(一般精度选择标准为公差带全距的1/3~1/8)。将所能捕捉到的图象通过数据线传输到电脑的数据采集卡中，之后由软件在电脑显示器上成像，由操作人员用鼠标在电脑上进行快速的测量。有的生产商为了节约成本可能会采用国产的，造价比较低，效果就稍微差点。常见故障及原因编辑故障1)蓝屏；2)主机和光栅尺、数据转换盒接触不良造成无数据显示；3)透射、表面光源不亮；4)二次元打不开；5)全自动影像测量仪开机找不到原点或无法运动。原因由于返厂维修周期长，价格昂贵，最重要的是耽误了客户的正常的工作。造成问题出现的原因很多，但无外乎以下原因：1)操作软件文件丢失或CCD视频线接触不良；2)光栅尺或数据转换盒损坏；3)电源板损坏；4)加密狗损坏或影像测量仪软件操作系统崩溃。以上问题可能是只出现一个，也有可能几个问题一起出现。软件种类编辑二次元测量仪软件在国内市场中种类比较多，从功能上划分主要有以下两种：　　二次元测量仪测量软件与基本影像仪测量软件类似，其功能特点主要以十字线感应取点，功能比较简单，对一般简单的产品二维尺寸测量都可以满足，无需进行像素校正即可直接进行检测，但对使用人员的操作上要求比较高，认为判断误差影响比较大，在早期二次元测量软件中使用广泛。　　2.5D影像测量仪在影像测量领域我们经常可以听到二次元、2.5次元、三次元等各种不同的概念，所谓的二次元即为二维尺寸检测仪器，2.5次元在影像测量领域中是在二维与三维之间的一种测量解决方案，定义是在二次元影像测量仪的基础上多加光学影像和接触探针测量功能，在测量二维平面长宽角度等尺寸外如果需要进行光学辅助测高的话提供了一个比较好的解决方案。仪器优点编辑1、装配2个可调的光源系统，不仅观测到工件轮廓，而且对于不透明的工件的表面形状也可以测量。2、使用冷光源系统，可以避免容易变形的工件在测量是因为热而变形所产生的误差。3、工件可以随意放置。4、仪器操作容易掌握。5、测量方便，只需要用鼠标操作。6、Z轴方向加探针传感器后可以做2.5D的测量。测量功能编辑1、多点测量点、线、圆、孤、椭圆、矩形，提高测量精度；2、组合测量、中心点构造、交点构造，线构造、圆构造、角度构造；3、坐标平移和坐标摆正，提高测量效率；4、聚集指令，同一种工件批量测量更加方便快捷，提高测量效率；5、测量数据直接输入到AutoCAD中，成为完整的工程图；6、测量数据可输入到Excel或Word中，进行统计分析，可割出简单的Xbar-S管制图，求出Ca等各种参数；7、多种语言界面切换；8、记录用户程序、编辑指令、教导执行；9、大地图导航功能、刀模具专用立体旋转灯、3D扫描系统、快速自动对焦、自动变倍镜头；10、可选购接触式探针测量,软件可以自由实现探针/影像相互转换，用于接触式测量不规则的产品,如椭圆、弧度 、平面度等尺寸；也可以直接用探针打点然后导入到逆向工程软件做进一步处理！11、影像测量仪还可以检测圆形物体的圆度、直线度、以及弧度；12、平面度检测：通过激光测头来检测工件平面度；13、针对齿轮的专业测量功能14、针对全国各大计量院所用试验筛的专项测量功能15、图纸与实测数据的比对功能维护保养编辑1、仪器应放在清洁干燥的室内（室温20℃±5℃，湿度低于60%），避免光学零件表面污损、金属零件生锈、尘埃杂物落入运动导轨，影响仪器性能。2、仪器使用完毕，工作面应随时擦干净，再罩上防尘套。3、仪器的传动机构及运动导轨应定期上润滑油，使机构运动顺畅，保持良好的使用状态。4、工作台玻璃及油漆表面脏了，可以用中性清洁剂与清水擦干净。绝不能用有机溶剂擦拭油漆表面，否则，会使油漆表面失去光泽。5、仪器LED光源使用寿命很长，但当有灯泡烧坏时，请通知厂商，由专业人员为您更换。6、仪器精密部件，如影像系统、工作台、光学尺以及Z轴传动机构等均需精密调校，所有调节螺丝与紧固螺丝均已固定，客户请勿自行拆卸，如有问题请通知厂商解决。7、软件已对工作台与光学尺的误差进行了精确补偿，请勿自行更改。否则，会产生错误的测量结果。8、仪器所有电气接插件、一般不要拔下，如已拔掉，则必须按标记正确插回并拧紧螺丝。不正确的接插、轻则影响仪器功能，重则可能损坏系统。测量方式编辑1、物件被测面的垂直测量2、压线相切测量3、高精度大倍率测量4、轮廓影像柔和光测量5、圆及圆弧均匀取点测量精密影像测绘仪测量软件简介：绘图功能：可绘制点、线、圆、弧、样条曲线、垂直线、平行线等，并将图形输入到AutoCAD中，实现逆向工程得到1:1的工程图。自动测绘：可自动测绘如：圆、椭圆、直线、弧等图形。具有自动寻边、自动捕捉、自动成图、自动去毛边等功能，减少了人为误差。测量标注：可测量工件表面的任意几何尺寸，不同高度的角度、宽度、直径、半径、圆心距等尺寸，并可在实时影像中标注尺寸。SPC统计分析软件：提供了一系列的管制图及多种类型的图表表示方法,使品管工作更方便，大大提升了品质管理的效率。报表功能：用户可轻易地将测量结果输出至WORD、EXCEL中去，自动生成检测报告，超差数值自动改变颜色，特别适合批量检测。鸟瞰功能：可察看工件的整体图形及每个尺寸对应的编号，直观的反应出当前的绘图位置，并可任意移动、缩放工件图。实时对比：可把标准的DXF工程图调入测量软件中与工件对比，从而快速检测出工程图和实际工件的差距，适合检测比较复杂的工件。拍照功能：可将当前影像及所标注尺寸同时以JPEG或BMP格式拍照存档，并可调入到测量软件中与实际工件做对比。光学玻璃：光学玻璃为国家计量局检验通过之标准件，可检验X、Y轴向的垂直度，设定比例尺，使测量数据与实际相符合。客户坐标：测量时无需摆正工件或夹具定位，用户可根据自己的需要设置客户坐标（工件坐标），方便、省时提高了工作效率。精密影像测绘仪仪器特点：经济型影像式精密测绘仪VMS系列结合传统光学与数字科技，具有强大的软件功能，可将以往用肉眼在传统显微镜下所观察到的影像将其数字化，并将其储存入计算机中作各式量测、绘图再可将所得之资料储存于计算机中，以便日后存盘或电子邮件的发送。该仪器适用于以二座标测量为目的一切应用领域如：品质检测、工程开发、绘图等用途。在机械、模具、刀具、塑胶、电子、仪表等行业广泛使用。变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7X～4.5X，视频总放大倍率：40X～400X，可按客户要求选配不同倍率物镜。摄像机：配备低照度SONY机芯1/3”彩色CCD摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。光栅尺：仪器平台带有高精密光栅尺（X、Y、Z三轴）,解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。光源：采用长寿命LED环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高、移动平稳轻松。丝杆：X、Y轴工作台均使用无牙光杆磨擦传动，避免了丝杆传动的背隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动提高工作效率。

2011年6月21日，由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”(编号：2006BAK03A21)在京顺利通过验收。课题验收会由“十一五”国家科技支撑计划重点项目“科学仪器设备研制与开发”的组织部门——国家质检总局科技司主持召开，来自科技部、质检总局、北京市、教育部、中科院、总装备部和国土资源部等部门的20名专家、领导出席了会议。验收专家组审阅了课题组提供的验收资料和测试专家组提供的测试报告，听取了课题执行情况自评价报告和课题研究等报告，经质询和讨论，专家组一致同意项目通过验收。　　课题形成了有关SIMS和TOF串联质谱的新技术、新产品、新装置和计算机软件等共19项成果，其中5项已在相关领域成功应用，冷阴极双等离子气体源工艺研究等具有创新性。申请国内发明专利24项、国际发明专利6项。发表论文29篇，其中国际刊物发表5篇。　　通过该课题的实施，新建和完善了5个质谱仪器关键部件研发基地和10多个研究试验平台，培养了一批优秀的质谱仪器研发人员，凝聚和造就了一支研发队伍，为今后大型高端质谱仪器的自主研发奠定了基础。　　地质所北京离子探针中心在课题中完成了任务书规定的大型质谱仪器研发综合平台、离子源研发试验平台和自动换样及三维微聚焦系统试验平台的搭建，一次气体离子源、自动换样系统和三维微聚焦系统以及相应的供电和自动控制系统的研发。中心主持了整个课题的实施，很好地协调了各参加单位的任务分工，圆满地完成了任务，受到了专家领导的一致好评。　　延伸阅读：访“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”课题负责人——北京离子探针中心主任刘敦一研究员

全国食品安全整顿工作办公会1月30日召开，全国食品安全整顿工作办公室主任、卫生部部长陈竺指出，在整顿高压态势下，仍有个别企业和个人置人民群众生命安全和身体健康于不顾，利欲熏心、顶风作案。2009年以来，一些地方查处了上海熊猫炼乳、陕西金桥乳粉、山东“绿赛尔”纯牛奶、辽宁“五洲大冰棍”雪糕、河北“香蕉果园棒冰”等多起乳品三聚氰胺超标案件。这些案件都是使用了2008年未被销毁的问题奶粉作为原料，生产乳制品，性质非常恶劣。　　打量“彻查并坚决销毁2008年问题奶粉”透露出的峻厉语气，可以想见职能部门打击问题的雷霆决心，但当触及“2008年问题奶粉”的字样时，则不免让人嗅出其中的黑色幽默意味，岁月流转，时间的刻度已经指向了2010年，但2008年的问题奶粉还在苟延残喘，这是问题奶粉太狡猾还是相关部门太无能?　　有一种痛叫时时隐痛，有一种伤叫伤疤未好再添新伤。三聚氰胺重出江湖无疑再次灼痛了世道人心，也许每个人都忘记不了2008年被曝出的三聚氰胺事件，该事件危害之惨烈、损失之严重、教训之深刻，无不让人倍感沉重。然而，事情让人感到惊骇之处正在于悲剧被复制。　　众所周知，《食品安全召回规定》第三十一条明确规定：“应当销毁的食品，应当及时予以销毁” 第三十二条明确规定：“市级以上质监部门对召回食品的后处理过程进行监督”。可见法规对于召回食品如何处理，如何保证处理执行到位，都给了明确的说法。试问，2008年的问题奶粉为何时至今日仍未销毁?　　将目光拉回到现场，2008年10月14日，国家工商行政管理总局等九局(部)下发《关于不合格奶制品退货退款和召回、销毁有关问题的紧急通知》，要求工商、质检、商务、工业主管、财政、公安、环保、卫生、食品药品监督管理等部门协作，制定切实可行的工作方案，严格监督检查生产者、销售者，做好不合格奶制品退货退款和召回、销毁等工作。显然，通知虽好，但只是纸上富贵而已，中看不中用，徒具形式而无执行。　　法条被废置，通知成废纸，问题出在哪里?正如业内人士所称，“这说明在2008年三聚氰胺事件之后，对于一大批流通在市场上的问题产品的监控仍存在空白。”政府有关部门对于一批当时处于生产与终端之间的中间领域的问题奶粉并没有给予足够的监管，包括问题产品从企业售出后，卖给了谁，并没有真正跟进。也许正因为存在监管空白、跟进空白和落实空白，才直接导致此后上海熊猫炼乳、陕西金桥乳粉等多起乳品三聚氰胺超标案件的发生。　　其实悲剧早已埋下。据《21世纪经济报道》1月5日报道，在2008年的三聚氰胺事件中，曾被公众所质疑的一个地方在于，回收的近万吨的三鹿奶粉如何销毁、销毁途径，大部分没有完全公开的信息。也有多位网友发帖询问，三鹿之外的涉嫌三聚氰胺的乳品企业，为何听到的是召回信息，却惟独没有销毁公告。的确，只见楼梯响未见人下来，只见召回信息，未见销毁公告，遑论销毁现场。这委实是吊诡的“杯具”，他们假装销毁，公众不明真相，而时间又是最残酷的老人，它让我们在疲于奔命中忘记了追问。　　尤其值得一提的是，这些问题奶粉并没有被“束之高阁”，而是流入市场。日前参加了食品安全专项整治紧急会议的广东副省长雷于蓝透露，2月1日起，开展为期10天的乳品和乳制品专项整治，“因为2008年还有一批含三聚氰胺的乳制品没被销毁，现在有的又流到市场上去了。”但是，具体数量和具体流向我们并不知道，这又是“杯具”。　　孩童的孱弱身躯禁不住三聚氰胺的一再侵袭，这些流入市场的问题奶粉二次作恶，真是情何以堪?谁在纵容三聚氰胺二次作恶?难道仅是问题企业无良吗?难道仅是监管之失吗?缺乏制度设计、缺乏执行力、缺乏对生命的起码尊重，悲剧便必然一再复制。一言以蔽之，不死的三聚氰胺的背后，映衬的是不作为的权力。权力不作为就导致三聚氰胺不死。

p　　2018年3月7日，北京市人民政府组织召开北京市第二次全国污染源普查启动会议，发布《北京市第二次全国污染源普查实施方案》，明确了普查时点、对象、范围和内容，并部署安排下一步工作，这标志着我市第二次全国污染源普查工作全面启动。/pp　　会上，北京市第二次全国污染源普查领导小组组长、北京市副市长杨斌强调，一要提高政治站位，深刻认识污染源普查工作的重要意义。深入学习贯彻党的十九大精神，以习近平新时代中国特色社会主义思想为指引，牢牢把握新时代特征，全面准确统计污染源普查数据，为打赢污染防治攻坚战奠定基础。二要严肃落实责任，建立健全污染源普查的工作体系。各区、各部门要严格按照污染源普查实施方案要求，充分发挥各方优势，有序、有力、有效做好各项工作。三要严明普查要求，确保污染源普查数据真实准确。坚持依法依纪普查，严格工作标准，做好补充专项调查。四要着眼长效机制，扎实做好污染源普查后续工作。坚持系统的思维、发展的眼光，来认识、推进污染源普查后续工作，强化成果运用。/pp　　环境保护部第二次全国污染源普查工作办公室主任洪亚雄参加会议并讲话，对北京市第二次全国污染源普查前期准备工作表示肯定并对下一步普查工作提出明确要求。他表示北京地位重要，工作有指向性，污染源普查前期工作扎实，成效突出。北京是继内蒙、江西之后全国第三个召开工作启动会的省份，会议自上而下，直接部署到全市街乡镇层面，责任层层落实到位，效果非常好。希望能够保持良好势头，按照国务院统一部署，进一步统一思想，提高认识，突出抓好重点工作任务，全面落实普查工作要求，确保普查工作有序推进，继续发挥牵头带动作用。/pp　　全国污染源普查每十年一次。此次普查将全面、系统、准确地掌握本市各类污染源的数量、结构和分布状况，掌握区域、流域、行业污染物产生、排放和处理情况，建立健全重点污染源档案、污染源信息数据库和环境统计平台，为改善本市环境质量、防控环境风险、决胜全面建成小康社会和建设国际一流和谐宜居之都提供依据和支撑。/pp　　此次普查标准时点为2017年12月31日，时期资料为2017年度资料。普查对象为本市行政区域内有污染源的单位和个体经营户。普查范围包括工业污染源，农业污染源，生活污染源，集中式污染治理设施，移动源及其他产生、排放污染物的设施。基于我市以环境质量改善为目标的城市管理和污染防治需要，结合北京实际，在国家普查内容的基础上增加相关专项补充调查。我市污染源普查工作分为“前期准备、清查建库、全面普查、总结发布”四个阶段，宣传动员、质量保证贯穿实施全过程。2017年开展前期准备等工作，2018年完成前期准备、清查建库和深入开展普查工作，2019年完成工作总结并发布普查结果。/pp　　按照“国家统一部署，市、区分级负责，部门分工协作，街乡镇组织实施，各方共同参与”的基本原则，普查质量管理覆盖普查全过程。各行业主管部门要按照各自环境保护工作职责做好污染源普查工作，各级政府要对各自辖区内污染源普查质量和结果负责，多方配合，分级负责，实现本市污染源普查工作的精细化、全面化和高效化管理。/p

ATDS-3440S 型二次全自动热解析进样仪 简 介 热解析进样是目前气相色谱（GC/MS）分 析中，优点最多、应用最广 的 样 品 前 处 理 进 样 方 法 之 一。 ATDS-3440S 型 二 次 全 自动热解析进样仪 是“北京华仪三谱仪器有 限责任公司”近 年来在样品热解析进样装置 研发、生产、 销售和服务的基础上创新、换代 的产品。 该新产品在研发时，充分考虑了新、旧 国标的实施，及现有客户的需求，在产品的功 能性和工作效率等方面有了很大的提 升。本 产品可与当前主流的进口及国产的 GC 及 GCMS 进行配套使用，有多种气路 及 电 路 的 接 入 方 案 供 用 户 选 择。 ATDS-3440S 型二次全自动热解析进样仪 含有多项自主研 发等技术。 ATDS-3440S 型二次全自动热解析进 样仪，不但适合科研院所高级实验室， 更 适 合那些专门领域（环境监测、食品饮料、 安全 和法医刑侦、化妆品、农业等）作为常规分析 或监测仪器的配套选用。同时也 获得高校有 相关分析的研究生、博士生完成论文实验 / 分析的青睐。 创新点： 1. 非旋转阀切换多维气路进样系统，彻底克服了国产六通阀、十通阀寿命短的不足。 2. 气路流程设计十分简洁、可靠、利于防漏，极大的提高工作效率。 3. 样品通过的气路以及样品阀均采用了惰性化处理技术。 4. 气路可选配（EPC 电子压力控制） ，数字化显示更直观。可实现自动气路系统检漏、故障报警。 5. 通过进样时间调节进样量，已针对不同浓度的样品分析。 6. 针对各种标准，最多可存储 10 个方法。 7. 全彩屏显示、界面友好、触摸操作，可快速轻松掌握，全程跟踪显示操作过程、设定的参数值和实时值等。 8. 扩展服务范围： ⑴ 可提供客户搭建色谱分析样品前处理相关项目实验装置方案、技术咨询或共建共享。 ⑵ 热解仪、功能模块 / 单元组合体以及相关零部件、配件等均可：买、租或以旧换新。 大致应用领域 1. 食品中的挥发性香味和风味化合物组成，而且可测定食品中的残留物和污染物。 2. 固体基质中可热降解的化合物组成，诸如聚合材料中的增塑剂，添加剂、单体等（这些样品降解产物经吸附热解吸 分析测定，有助于纵火案的侦破）。 3. 样品基质中不想要的组分，如：制药中的残存溶剂、聚合物中残存单体和其他的低聚物。 4. 有目的地收集样品基质中挥发性组分，如：污染的大气、盐和糖。目前典型应用是用吸附管采集空气中的挥发性有 机污染物（苯系物、VOCs）等用于监测环境。 5. 一次热解析，一般仅用于较低沸点温度组分（C2 ～ C13），无机和永久气体不易做。若用低温吸附阱（二次热解析） 可做到沸点＜C36 挥发性样品。 6. 也可以用于特殊固体、液体（如用棉花浸后放入管内）。 7. 二次吸附热解吸进样与 GC / MS 联用，具有更广泛应用范围，可解决复杂类型样品的分析测定，包括环境、材料、 燃料资源、食品、制药、聚合物和其他各种商品等等。 1. 一次解吸温度调节范围： 2. 二次解吸温度调节范围： 3. 聚焦冷阱温度调节范围： 4. 样品相关管路温度调节范围： 5. 六通阀温度调节范围： 6. 样品传送中的部位处理： 7. 外事可控数量： 8. 外事时间控范围： 9. 样品采集管材料和规格： 10. 捕集管材料和规格： 11. 一次热解析流量： 12. 气缸驱动气压力： 13. 气路及相关部件耐压： 14. 一批样品处理数量： 15. 分析精度： 16. 性能参数： 17. 仪器功率： 18. 联动信号输出开关时间： 19. 仪器外形尺寸： 20. 重量： 室温～380℃，精度±0.5℃增量1℃任设 室温～380℃，精度±0.5℃增量1℃任设 升温速率3000℃ / 分 室温～ -40℃（与室内温度有关） 精度 ±1℃ 增量 1℃任设 室温～ 260℃， 精度 ±1℃ 增量 1℃任设 室温～ 260℃， 精度 ±1℃ 增量 1℃任设 可选、可编程流量、温度与时间可调 （如： 反吹样品传送、采集管的活化 / 老化等） 15 个 0.1 ～ 99 分钟 定时误差：0.1% 不锈钢 、石英玻璃、规格 （可选） 不锈钢、石英玻璃、弹性石英毛细管等（可选） 0 ～ 100 ML/min 连续可调 ( 有指示） ＜ 0.4MPa（可调） 0.4MPa 30 个 RSD 2.5%（和 GC 性能和操作技术有关） 半峰宽 3S 解吸率 98%（甲苯 0.1ul 分流 10 ：1） ＜1000VA 2 秒 高 × 宽 × 长 500mm×485mm×450mm 约 40 Kg创新点：1. 食品中的挥发性香味和风味化合物组成，而且可测定食品中的残留物和污染物。2. 固体基质中可热降解的化合物组成，诸如聚合材料中的增塑剂，添加剂、单体等（这些样品降解产物经吸附热解吸分析测定，有助于纵火案的侦破）。 3. 样品基质中不想要的组分，如：制药中的残存溶剂、聚合物中残存单体和其他的低聚物。 4. 有目的地收集样品基质中挥发性组分，如：污染的大气、盐和糖。目前典型应用是用吸附管采集空气中的挥发性有机污染物（苯系物、VOCs）等用于监测环境。 5. 一次热解析，一般仅用于较低沸点温度组分（C2 ～ C13），无机和永久气体不易做。若用低温吸附阱（二次热解析）可做到沸点＜C36 挥发性样品。 6. 也可以用于特殊固体、液体（如用棉花浸后放入管内）。 7. 二次吸附热解吸进样与 GC / MS 联用，具有更广泛应用范围，可解决复杂类型样品的分析测定，包括环境、材料、燃料资源、食品、制药、聚合物和其他各种商品等等。全自动二次热解吸仪ATDS-3440S

项目概况聚焦离子束-电子束双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统采购项目的潜在投标人应在常州润邦招标代理有限公司前台获取招标文件，并于2022年2月18日14点00分（北京时间）前递交投标文件。一、项目基本情况1.项目编号：常润公2022-0001号2.项目名称：聚焦离子束-电子束双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统采购3.预算金额：人民币690万元4.最高限价：人民币690万元5.采购需求：本项目采购内容为聚焦离子束-电子束双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统采购，包括设备及系统的采购、供货、安装、调试、测试、售后服务、质保、技术培训等，直至通过采购人验收。具体参数详见采购需求。序号设备名称数量单位1聚焦离子束-电子束双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统1套7.合同履行期限：合同签订，免表办理好后6个月内完成供货、安装调试、经采购人验收合格并投入使用。8.本项目不接受联合体。9.本项目接受进口产品。二、申请人的资格要求1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定:(1)具有独立承担民事责任的能力；(2)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度；(3)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力；(4)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录；(5)参加政府采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录；(6)无其他法律、行政法规规定的禁止参与招投标或采购活动的行为，含下列情形：a.未被“信用中国”网站（www.creditchina.gov.cn）和 “中国政府采购网”网站（www.ccgp.gov.cn）列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重失信行为记录名单；b.单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同投标人,不得参加同一合同项下的政府采购活动。2.落实政府采购政策需满足的资格要求：无。3.本项目的特定资格要求：本项目接受进口产品投标，投标人所投设备为进口产品的，应提供以下之一的证明材料：（1）投标人为所投设备的授权经销（代理）商，必须提供生产（制造）商或上级经销（代理）商授权供应商的授权书,并提供逐级经销（代理）商的营业执照复印件。（2）投标人为本项目的授权投标人，必须提供生产（制造）商或授权经销（代理）商对本次招标的项目或所投产品的授权书,并提供逐级经销（代理）商的营业执照复印件。三、获取招标文件时间：2022年1月28日至2022年2月9日17：00时（北京时间，法定节假日除外）地点：常州市飞龙东路108号-304室（翠园世家商业街三楼）方式：（投标人可采取以下任一种方式获取招标文件）（1）线上申领：投标人在规定的时间内将相关材料扫描PDF文档发至本公司邮箱“2406652663@qq.com”并按邮箱回复要求交纳费用后，招标文件以邮件形式发送至投标人邮箱。报名咨询电话：0519-81882063。（2）现场申领：至常州润邦招标代理有限公司前台领取。（3）投标人获取招标文件时应提供如下材料：①招标文件获取申请表（格式见公告附件1）②投标人为企业的，提供企业营业执照（三证合一复印件加盖公章）；投标人为事业单位的，提供事业单位法人证书（三证合一复印件加盖公章）；投标人为自然人的，提供自然人身份证明文件（复印件及签名）。售价：人民币伍佰元/份。招标文件售后一概不退，未获取招标文件的投标人不得参与本项目投标。四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点截止时间：2022年2月18日14点00分（北京时间）地 点：常州润邦招标代理有限公司开标室（一）五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜1.本项目不组织现场踏勘。2.对招标文件需要进行澄清或有异议的投标人，均应在2022年2月10日12:00前按招标公告中的通讯地址，以书面形式（加盖公章）提交采购代理机构，否则视为无效澄清或异议。3.有关本次采购的事项若存在变动或修改，采购代理机构将通过补充或更正形式在相关网站上发布，因未能及时了解相关最新信息所引起的失误责任由投标人自负。4.费用缴纳账户信息如下（汇款请备注项目名称或编号）户名：常州润邦招标代理有限公司开户银行：江南农村商业银行龙虎塘支行账号：01080012010000003610财务电话（付款、开票咨询）：0519-81882063七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系1.采购人信息名称：常州大学地址：江苏省常州市武进区滆湖中路21号　联系方式：丁老师155012902882.采购代理机构信息名称：常州润邦招标代理有限公司地址：常州市飞龙东路108号-304室（翠园世家商业街三楼）联系方式：0519-818829933.项目联系方式项目联系人：周叶电话：0519-81882993网址：cg.czrbzb.com

82岁的刘敦一最近有了个新头衔——敦仪（北京）科技发展有限公司（以下简称“敦仪科技”）董事长兼总经理。此前，他担任国家科技基础条件平台北京离子探针中心主任多年，建设了以两台进口高灵敏度、高分辨率二次离子探针质谱（SHRIMP）为主体的大型科学仪器共享平台，极大推动了我国地球科学的发展。北京离子探针中心目前在运行的SHRIMP仪器这一次，从科研院所到公司，从研究人员到总经理，刘敦一在耄耋之年的转型是为了研发制造出我国自主知识产权的二次离子探针质谱仪。让刘敦一欣喜的是，这一项目在圈内的被重视程度超出预期。近日召开的中国制造高分辨率二次离子质谱发布会暨首台国产HR—SIMS研制项目启动会，竟吸引了11位两院院士，其中包括90岁的光学和仪器专家、中国工程院院士金国藩、89岁的地质学家、中国科学院院士李廷栋。到会的还有地球科学、核科学、生命科学等领域的著名专家20余名。他们都在关注，这一从澳大利亚落地到中国的大型仪器制造项目，能否成为推动中国高端质谱产业的契机。但让刘敦一发愁的是，即便备受关注，敦仪公司怎么解决场地、人员等实际困难，怎样扛起院士们的重托？澳方主动提出由中国团队接受据与会专家介绍，SHRIMP由澳大利亚国立大学的科学家于1980年研发成功，开创了微区原位精确同位素分析的新时代。近40年来，该仪器为地球科学的发展做出重大贡献，在核安全、环境科学和考古学方面也有重要应用。目前，全球SHRIMP保有量为19台，据不完全统计，科研人员运用SHRIMP取得的实验数据在国际学术期刊发表论文4472篇。“截至2018年底，我国两台SHRIMP完成了近34000件矿物微区原位年代学样品和1132件稳定同位素样品的分析测试，建立了锆石以外的含U矿物定年方法，开展了氧、碳、硫、硅、钛等同位素分析，开辟了许多新应用领域。 ”刘敦一说。由于该仪器的制造集中了离子光学系统、离子产出和收集、智能电控、电真空等方面最顶尖技术，难度大，成本高，至今全球只有澳大利亚ASI和法国CAMECA两家公司生产。“ASI是校办企业，由于体制等原因运行艰难，但为避免形成垄断局面，他们拒绝了CAMECA公司的收购。在澳大利亚一些科学家的促进下，澳大利亚国立大学和ASI公司提出，希望由运行SHRIMP最成功的中国团队接手。”刘敦一说，于是，他牵头成立了敦仪科技。场地、人员、资金 关关难过“澳大利亚公司同意将SHRIMP技术和销售权无偿转让给中国，确实是个难得机会。” 金国藩说，他参加过很多国产仪器鉴定会，但绝大部分仪器鉴定后就束之高阁，“SHRIMP项目无疑将带动我国高端质谱仪器研发和制造事业的发展，加快国产科学仪器进入国际市场的脚步，意义重大。”庆幸的是，敦仪科技成立之初就与中国科学院海洋研究所孙卫东研究员达成合作，参与其负责的山东省重大科技创新工程“深海资源保藏与开发平台”下设的“高精度大型二次离子质谱仪研制”项目的技术开发。“我们的预算有限，买不起CAMECA公司的仪器，敦仪科技的出现恰逢其时。”孙卫东说，该项目涉及新型磁分析器、一次离子源、新型多接收器等多个关键部件的研制，“其中不少零部件是买不来的，只能靠自己攻关。”即使刚成立就接到大单，但作为一个刚组建的从事大型科学仪器生产研发的企业，敦仪科技除了技术一无所有，“公司没有场地和基础设施，缺乏起码的流动资金，人员方面，除了我这个老头，主要依靠外国雇员，国内人员都是兼职。”刘敦一说。“高端二次离子质谱仪器的制造在我国仍为空白，不是我们做不了，而是缺少扶持。”中国科学院地质与地球物理研究所研究员、中国科学院院士朱日祥说，“像敦仪这样的企业，能不能有一些税收上的优惠，该怎么支持，我们要提出一些建议。”会上，院士和专家们提出要给有关部门递交一份书面建议书。到底需要哪些具体支持措施，建议书该提交哪些部门，怎样才能保证建议提交上去不会石沉大海… … 尽管比原定会议结束时间已晚很多，他们还在热烈讨论着。

“专精特新”小巨人企业中图仪器对资本市场发起冲刺。　　公开信息显示，10月21日，深圳市中图仪器股份有限公司（简称“中图仪器”）与中信建投（601066）签署上市辅导协议。成立于2005年的中图仪器致力于精密测量、计量检测等仪器设备的研发、生产和销售。去年国家工业和信息化部公示了第三批专精特新“小巨人”企业名单，中图仪器顺利入选。　　自2005年成立以来，中图仪器逐步聚集了来自清华、西安交大、哈工大等高校毕业生带头的工程师队伍，从小仪器到大品种，持续推动国内精密测量技术创新与进步。　　中图仪器重点发展高端精密、超精密几何量检测仪器，提供一维、二维、三维的尺寸测量产品。中图仪器在精密轮廓扫描技术、精密测量传感器、激光干涉测量、微纳米运动设计、显微三维形貌重建、大尺寸三维空间测量、智能机器视觉测量、精密光栅导轨测控等众多技术领域形成了独特的研发设计、制造优势，已具备从纳米到百米为用户提供专业的精密测量仪器和测量解决方案的能力，大部分产品达到国际先进水平。　　目前，中图仪器的产品已广泛应用于计量质量检测机构、汽车、航空航天、机械制造、半导体加工、3C电子等行业，部分产品达到国际先进水平，参与制定了多项国家标准。　　中图仪器在深圳市南山区智园科技园拥有现代化的办公场地，在深圳市宝安区创新新世界产业园拥有仪器设备精密加工、装配检测的专业生产制造基地。发展至今，中图仪器的销售和服务网点遍及三十多个省、市、自治区，海外市场快速成长，营销网络日逐完善。　　公开报道显示，多年来中图仪器的研发投入占销售额的25%以上，高于行业10%的平均水平。截至2021年10月31日，公司已拥有99项专利及软件著作权，参与制定3项ISO标准，主导或参与制定10余项国内或行业标准。　　辅导文件显示，马俊杰为中图仪器控股股东，直接及间接持有公司股权比例为36.28%。企查查显示，中图仪器自2016年起经历多轮融资，参投机构包括壹海汇资本、方广资本、架桥资本、海量资本和深创投等。　　据了解，在我国高端几何量仪器领域被蔡司、海克斯康、三丰、ZYGO等国际著名品牌全面占据的情况下，中图仪器研制的闪测仪、激光跟踪仪、激光干涉仪、光学3D表面轮廓仪、测长机等多款精密测量仪器逐步达到进口仪器性能水平，以较低成本较高性能服务于我国计量质量检测机构、汽车、航空航天、机械制造、半导体加工、3C电子等行业领域，推动行业国产替代，同时市场占有率攀升。

尽管质谱仪更多的应用于生命科学相关领域，但是还是有一些质谱(MS)技术是专门用于表面科学研究。其中最突出的是二次离子质谱(SIMS)。像大多数涉及电子或离子光学的表面科学技术一样，二次离子质谱是在真空条件下进行。二次离子质谱用一次离子束轰击表面，将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子，这些二次离子利用质谱分析器进行分析，得到样品的元素组成数据。可用的质量分析器包括单四极、飞行时间和磁分析器等。离子束是扫描过样品，得到一个样品表面的二维图像。离子束还可以逐层溅射样品，进行深度剖面分析。2012年二次离子质谱行业市场需求分布　　二次离子质谱广泛应用于分析半导体等材料、数据存储等电子产品，二次离子质谱对表面非常灵敏，使其可以分析沉积在这些材料上的薄膜；二次离子质谱也被用于科研单位及政府机构的实验室；虽然材料分析是二次离子质谱比较常见的，但也可以用于环境领域空气中颗粒物分析。2012年，二次离子质谱的市场总需求不到1亿美元。　　上述数据摘录于2013年10月SDi发布的市场分析和预测报告&ldquo Mass Spectrometry: Limitless Innovation in Analytical Science&rdquo 。编译：刘丰秋

由上海科创色谱仪器有限公司**开发的该装置可以与*通用型气相色谱仪器相联，不仅可以解吸活性炭吸附管中苯系物，通过二次热解吸及直接进样方式，很方便地*分析空气中苯，还可以解吸Tenax吸附管中TVOC，通过一次热解吸或二次热解吸直接进样方式，很方便地*分析空气中TVOC，更完善更合理地**标准GB11737、GB50325、GB/T18883中需要解决的分析问题。不仅操作方便，被测组份分离度提高，而且方法检测灵敏度和定量分析*度也大大提高，价格大大低于目前市场上的*二次热解吸仪。填补了国内空白。（*号：2005200454443）本网站耗材配件栏目中有该设备的图片或到上海科创公司网站查看www.shupkc.com *来电咨询:021-69982681,66529903,66529206,66529775,66529781

仪器信息网讯 近日，国家药典委员会发布氨基酸分析指导原则公示稿，这是该指导原则的第二次公示，公示为期1个月。复方氨基酸制剂、多肽类药物、蛋白质类药物、含氨基酸/多肽/蛋白质的组织提取物类药物和中药等药品中氨基酸的组成或含量的检测，需通过氨基酸分析方法来实现。现行版欧洲药典、英国药典、美国药典及日本药典中均收载了氨基酸分析指导原则，但中国药典通则中尚未收载。2020年版中国药典收载了5种复方氨基酸注射液、9种多肽类药物及1种中药品种，均需要采用氨基酸分析方法测定药品中氨基酸含量或氨基酸组成，由于氨基酸分析方法种类较多，各品种的质量标准中仅要求按适宜的氨基酸分析方法测定，为了指导药典标准执行过程中如何选择适宜的方法，国家药典委员会委托中检院牵头承担完成了“药品中氨基酸分析法的建立课题”，拟定了中国药典氨基酸分析指导原则。此前，按照国家药典会标准提高课题任务要求，根据对企业和药检机构常用氨基酸分析方法的调研结果，参照国外药典收载的氨基酸分析方法，确定了国内常用的较为成熟的6种药品中氨基酸分析方法及其起草复核单位，分贝问并开展了药检机构的协作研究。氨基酸分析方法起草复核单位方法起草单位复核单位PITC柱前衍生的RP-HPLC法中检院浙江院、天津所、湖北院、辽宁院、河南所AQC柱前衍生的RP-HPLC法江苏院浙江院、湖北院天津所、广东所OPA&FMOC柱前衍生的RP-HPLC法上海所北京所、广州所、中检院DNFB柱前衍生的RP-HPLC法天津所河南所、湖北院、辽宁院氨基酸分析仪法茚三酮柱后衍生法——钠系统河南所浙江所、山东院中检院茚三酮柱后衍生法——锂系统上海所 此前，完成的中国药典“氨基酸分析指导原则（草案）”曾于2020年9月在国家药典委员会网站首次公示，面向社会各界公开征求意见。而针对首次公开征集意见收到的反馈，在本次公示中均给予了反馈，同时根据反馈意见和建议，国家药典委员会组织召开了相关专业委员会进行研讨，按照反馈意见和专委会审核意见，在公示稿的基础上增补了部分内容，并进行了部分文字修改与规范。主要修改的部分为：在前言部分增加了游离氨基酸测定的主要方法；在基本要求部分增加了内标物使用目的的描述，对方法验证的要求细化说明，删去水解管的清洗与要求；在蛋白质和多肽样品的水解部分增加了使用水解管的要求；对氨基酸测定法引言、各测定法及数据处理等部分内容进行了文字修改、调序、精简与规范。更多关于氨基酸分析指导原则草案公示稿（第二次）的详细内容，请点击附件查看。公告原文如下：我委拟制定氨基酸分析指导原则，为确保标准的科学性、合理性和适用性，现将拟制定的氨基酸分析指导原则第二次公示征求社会各界意见（详见附件）。公示期自发布之日起1个月。请认真研核，若有异议，请及时来函提交反馈意见，并附相关说明、实验数据和联系方式。相关单位来函需加盖公章，个人来函需本人签名，同时将电子版发送至指定邮箱。联系人：徐昕怡、尚悦电话：010-67079522、67079578电子邮箱：xuxinyi@chp.org.cn通信地址：北京市东城区法华南里11号楼 国家药典委员会办公室邮编：100061国家药典委员会2022年03月09日氨基酸分析指导原则起草说明氨基酸分析指导原则草案公示稿（第二次）

p　　2017年12月11日，IDEX Health & Science, LLC 宣布收购thinXXS Microtechnology，该举动将促进其在微流控业务上的大幅增长。/pp　　thinXXS Microtechnology 位于德国茨魏布吕肯市，是一家开发和生产塑料微流控耗材产品的领先企业，并服务于生命科学、床边诊断以及兽医领域。此次收购将为IDEX Health & Science奠定了在微流控领域的领导地位，并且更将致力于发展光学流体控制子系统、零部件以及为目标领域提供高精尖的解决方案。/pp　　谈及此次收购行动，IDEX Health & Science 总裁Gus Salem 说道：“thinXXS是我们第二次收购微流控资产，意味着为我们的微流控技术平台增加了一个模块。”Salem 继续说：“该公司引领市场的技术和产品组合是与我们的微流控发展战略非常契合，为我们的核心生命科学仪器市场提供更多的渠道，并为床边诊断和兽医市场创造新的增长机会。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201712/insimg/27c0bc09-5827-478a-b7d0-13ba61bac61d.jpg" title="640_副本.jpg"//pp　　strong关于IDEX Health & Science LLC/strong/pp　　IDEX Health & Science 是在生命科学领域里流控和光学方面的权威专家。我们赋予客户三重优势，即借助我们的产品、人员和工程专业知识为您的光学和流路系统带来新的活力。IDEX Health & Science 提供完整的生命科学仪器研发的革新技术，用于分析仪器、临床诊断以及生物技术的应用。凭借行业内全面且先进的产品系列和工程能力，IDEX Health & Science 参与到客户的需求中，提供最具生命力的解决方案，逐步成为光学及流控专家。可提供的产品有：连接件、阀门、泵、脱气机、空柱管、多岐管板、耗材、集成的流控组件、滤镜、镜头、快门，激光源，光引擎以及集成的光学组件。/p

ATDS-3430型二次（冷阱）热解吸仪一、仪器简介ATDS-3430型热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便。 二、仪器特点和主要功能1、 采用半导体制冷，节约使用成本，电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；2、样品传输管线全部采用进口高惰性脱活管路，无残留，无交叉污染，保证样品进样的重复性和准确性；3、 微机程序控制，主要功能有： ⑴ 方法参数设置、实时动画显示工作状态、运行时间； ⑵ 解吸区、进样阀、样品传输管和二次解吸区，四路均单独加热控温； ⑶ 设定好分析程序，按下运行键自动完成样品分析； ⑷ 可以根据用户需求配置为常温二次解吸仪或低温二次解吸仪； ⑸ 可同步启动GC、色谱数据处理工作站，也可用外来程序启动本装置；4、本机自带标样模拟采样的功能，可以更方便的通过热解吸仪制作工作曲线；5、采用高温六通阀，最高使用温度可达240℃；6、通过时间编程，自动实现解吸、吹扫吸附、再解吸、进样、反吹清洗等功能；7、采用电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；8、样品传输管和进样阀有自动反吹功能，避免了不同样品的交叉污染；9、为了配套进口气相色谱仪使用起来更方便精确，本仪器还配有针对各种进口仪器的专用接口，连接方便；10、六通阀与传输管线的连接点处于加热保温箱内，无传输冷点，保证了样品的完整性；11、进样针头更换方便，可连接国内外所有型号的GC进样口；12、一体化设计，整机结构紧凑；微电脑控制，全中文7寸液晶显示，操作简单、方便。13、二次解析升温速率＞3000℃/min，峰宽＜3s 三、仪器主要技术参数1、解吸1温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；2、阀进样系统温度控制范围：室温—2600℃，以增量1℃任设；3、样品传送管线温度控制范围：室温—260℃，以增量1℃任设，采用24V低压供电；4、解吸2温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；升温速率〉3000℃/min；5、冷阱温度控制范围：-35℃—室温，以增量1℃任设，采用最先进的电子制冷装置；6、温度控制精度： ±0.5℃ ；7、解吸回收率：〉99%（和组分有关）；8、反吹清洗流量：0～100ml/min （连续可调）；9、模拟采样流量：0～160ml/min（连续可调）；10、RSD：≤2.5%（0.05μg甲醇中苯）；11、富集时间：0～60min；12、进样时间：0～60min； 13、样品位：1位；14、采样管规格：直径≤6.5mm，长度≥150mm；15、进样方式：六通阀电机驱动；16、仪器尺寸：长×宽×高=380mm×220mm×410mm3；17、仪器重量：约15kg；18、功率：500W 四、仪器应用范围：1、《HJ/644-2013环境空气 挥发性有机物的测定 吸附管采样-热脱附气相色谱-质谱法》；2、《HJ/T400-2007车内挥发性有机物和醛酮类物质采样测定方法》；3、《GB/T18883-2002室内空气质量标准》；4、《HJ/583-2010环境空气苯系物的测定固体吸附/热脱附-气相色谱》；5、《GB/50325-2010民用建筑工程室内环境污染控制规范》等。6、《HJ734-2014固定污染源废弃 挥发性有机物的测定 固相吸附/热脱附-气相色谱》等。　　北京北分三谱仪器有限责任公司是一家集研发、生产、销售和服务于一体的专业分析仪器生产厂家。主要生产:气相色谱仪、顶空进样器、热解析仪、解析管老化仪、电子皂膜流量计、氢气发生器、空气发生器、氮气发生器等产品。公司拥有一批长期从事色谱仪开发及分析应用、维修经验丰富的工程师，在色谱类仪器的维护、维修、和调试等方面的技术力量雄厚。近年来，我们已为国内著名高等院校、科研单位、生产企业及检验检测机构提供了大量先进的分析仪器和设备及完整的系统解决方案。正是因为高品质的产品、专业的应用及完善的售前售后服务，我们赢得了广大用户的支持与信赖，具有良好的声誉。 北京北分三谱仪器有限责任公司技术部 创新点：ATDS-3430型热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便。北分三谱ATDS-3430二次（冷阱）热解吸仪新品上市

二次离子质谱（简称：SIMS）分化为静态二次离子质谱（S-SIMS）、动态二次离子质谱（D-SIMS）两种，通过扫描，可以得到化学成像、成分定性鉴定。二次离子质谱技术具有非常高的分辨率以及灵敏度，可对有机物进行元素的面分布，深度分布分析，所以被广泛地运用在生物医学的领域当中。SIMS是利用具有一定能量的初级离子束轰击固体材料表面，再通过质谱分析检测被初级离子束溅射出的二次离子的质荷比，从而得到样品信息。如今应用在SIMS中最广泛的质谱检测器是飞行时间质谱仪（TOF），TOF-SIMS的分辨率可以达到5-10nm，微区分辨率达到100nm2，深度分辨率达到0.1-1nm，二次离子浓度灵敏度达到ppm级别。TOF-SIMS以其各种优异的性能和特点被广泛地用于半导体行业，随着半导体硅晶片制程越来越小，SIMS逐渐成为分析半导体器件表面污染缺陷、研究元素掺杂等不可替代的手段。除此之外，SIMS的应用近年来也不断发展到生物医学、材料、化学等领域。 其中在生物医药领域，利用TOF-SIMS技术对生物细胞进行化学成像分析受到越来越多的研究人员关注，例如使用TOF-SIMS研究生物组织或生物薄膜上蛋白质等分子行为、细胞界面特性、药物作用、疾病诊断等。和MALDI-TOF-MS、ESI-MS等质谱相比，TOF-SIMS的灵敏度更高且可以进行二维或三维化学成像。 下图为分别使用SSIMS和DSIMS对冠状动脉支架中的药物进行分析的案例。其中的质谱图就是通过SSIMS得到样品表面化学信息，下方的化学成像则是通过DSIMS层层剥离，得到的不同深度下的药物分布图。

第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所(地址详见附件)举行。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台，推动二次离子质谱的发展，促进二次离子质谱技术在各领域的应用。会议热诚邀请中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质谱相关工作的同仁相聚美丽海滨城市大连，展示最新的研究成果，共同推动我国二次离子质谱的发展。会议热诚欢迎国内外相关厂商参展。　　一、发起单位和承办、协办单位　　1.发起单位：中国质谱学会　　2.承办单位：中国科学院大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室　　3.协办单位：清华大学分析中心、国家科技基础条件平台北京离子探针中心、中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室、中国科学院半导体研究所半导体照明联合创新国家重点实验室、中国矿业大学煤炭资源与安全开采国家重点实验室、中国科学院广州地球化学研究所同位素地球化学国家重点实验室、中国科学院活体分析化学重点实验室、中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室　　二、会议组织机构　　1. 大会主席　　李海洋、凌永健　　2.学术委员会　　主任：凌永健、汪福意　　委员：查良镇、刘敦一、周新华、李金英、翁禄涛、麦富德、赵永刚、陈焕文、梁汉东、　　李海洋、曹永明、马农农、韦刚健、朱梓华、李献华　　3.组织委员会　　主任：李海洋　　委员：杨蔚、张玉海、李展平、赵丽霞、李秋立、张磊、夏小平、肖国平、文彦杰、杨莉、侯可勇，王卫国　　4.会务组　　组长：花磊、王爱博　　成员：陈平、谢园园、陈创、黄卫、李金旭、鞠帮玉　　联系人：王爱博、谢园园　　电话：0411-84379510 0411-84379517　　传真：0411-84379517　　E-mail：sims_china@163.com　　三、 研讨专题征集　　四、会议组织方式　　会议由会前课程短训、大会特邀报告、专题研讨和离子探针实验室考察参观等4部分内容组成。时间安排如下：　　10月8日：会前课程短训报到　　10月9日：会前课程短训 & 会议注册报到　　10月10日上午：开幕式和大会报告　　10月10日下午-11日上午：专题研讨、展板交流　　10月11日下午：大连化物所实验室考察与交流　　特别说明： 10月8日、10月9日报到地点为国航酒店一楼大厅　　10月10日、10月11日会议期间提供午餐　　10月10日组织欢迎晚宴　　1. 会前课程短训　　地点：大连化物所-礼堂(详细地址请参考附件1)　　学术委员会和组织委员会邀请安排二次离子质谱领域的专家教授，为研究生和青年科研人员举行1天的二次离子质谱基础、仪器和分析应用的会前课程短训(中文授课)。　　2. 会议报告　　地点：大连化物所-礼堂(详细地址请参考附件1)　　包括大会特邀报告和专题研讨。会议将邀请国内外知名学者做大会特邀报告。专题研讨包括口头报告和展板交流两部分，由组织委员会负责组织和安排。　　已确认大会特邀报告如下：　　Prof. Ian Gilmore FInstP, NPL Head of Science National Physical Laboratory, UK　　个人简介：http://www.npl.co.uk/people/ian-gilmore　　Prof. Andrew Ewing, Department of Chemistry and Molecular Biology, University of Gothenburg, Gothenburg, Sweden　　个人简介：http://www2.chem.gu.se/ac/ewing/people/andy.html　　Prof. David G. Castner, Director, Departments of Bioengineering & Chemical Engineering, University of Washington, USA　　个人简介：https://www.cheme.washington.edu/facresearch/faculty/castner.html　　Prof. Jiro Matsuo, Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Japan　　个人简介：http://www.ne.t.kyoto-u.ac.jp/en/information/laboratory/person/matsuojiro-fold　　Prof. Zihua Zhu, Environmental Molecular Sciences Laboratory, Pacific Northwest National　　Laboratory, USA　　个人简介：https://www.emsl.pnl.gov/emslweb/people/zihua-zhu　　Prof. Xiaoying Yu, Atmospheric Sciences and Global Climate Change Division, Pacific Northwest National Laboratory, USA　　个人简介：http://www.pnnl.gov/science/staff/staff_info.asp?staff_num=5711　　薛景中，研究员，台湾中央研究院，应用科学研究中心，台湾　　个人简介：http://www.rcas.sinica.edu.tw/faculty/shyue.html　　3. 会后实验室考察参观　　组织委员会拟安排与会代表参观中国科学院大连化学物理研究所清洁能源国家实验室分析平台、催化基础国家重点实验室、分子反应动力学国家重点实验室、大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室和化物所科技园等。　　五、会议报名与注册　　会议注册费金额：1200元/人，学生700元/人(2016年9月25日前)　　1400元/人，学生900元/人(2016年9月25日后)　　注册费缴纳方式：汇款或会议报到时缴纳现金(采用汇款方式可在报到时领取发票，采用现金付款方式将在会议结束后，两周内统一邮寄发票)　　汇款账户：单位名称--中国科学院大连化学物理研究所，账号--3400200309014415739，开户行--中国工商银行大连市分行青泥洼桥支行，汇款后请将汇款底单以及开具发票信息发送至会议邮箱sims_china@163.com，汇款时请备注：二次离子质谱，102组。　　可开具会议费发票，开具发票单位：中国科学院大连化学物理研究所　　六、会议住宿安排　　会务组可帮忙预定住宿酒店，合作酒店：大连国航酒店，协议价格：318-368 元/间 　　酒店地址及电话：沙河口区中山路578号国航大厦，0411-84801188，步行至化物所约10分钟。　　请拟参加会议人员填写“第六届中国二次离子质谱学会议回执”(附件)，用电子邮件方式提交给会务组 (sims_china@163.com)。　　中国质谱学会　　2016年9月6日附：中国科学院大连化学物理研究所地址及参会回执.doc

项目编号：JXXMYT2022-03-C11425-1项目名称：鹰潭市综合检验检测中心涉粮检验仪器设备采购（第二次）采购方式：公开招标预算金额：2100000.00 元最高限价：2037000.00采购需求：采购条目编号采购条目名称数量单位采购预算（人民币）技术需求或服务要求鹰购2022F000572005旋转蒸发仪2套200000.00元详见公告附件鹰购2022F000572007气相色谱仪1台600000.00元详见公告附件鹰购2022F000572006气相色谱-质谱联用仪1台800000.00元详见公告附件鹰购2022F000572008液相色谱原子荧光联用仪1台500000.00元详见公告附件合同履行期限：中标人须在成交通知书发出之日起7个工作日内与招标人签订采购合同，合同生效之日起45天内到货安装、调试完毕并验收合格交付使用。本项目不接受联合体投标。

随着质谱技术以及色谱与质谱联用技术的快速发展，蛋白质组学分析技术在未知蛋白质的鉴定、蛋白质结构的解析、靶向蛋白质定量、以及生物技术药物研发、质量控制和体内药代动力学研究方面应用越来越广泛。药典委拟制定《中国药典》蛋白质组学分析方法及应用指导原则，并于2024年2月20日发布第一版公示稿并征求意见。为确保标准的科学性、合理性和适用性，现将拟增订的蛋白质组学分析方法及应用指导原则（第二次）公示征求社会各界意见（详见附件）。公示期自发布之日起一个月。蛋白质组学分析方法及应用指导原则公示稿（第二次）.pdf蛋白质组学分析基本流程主要包括：1. 蛋白样品的提取，变性还原，酶解与多肽分离富集；2. 多肽的分析与鉴定；3. 数据分析。在分离和富集中采用凝胶电泳和色谱技术，分析与鉴定中采用质谱、二维凝胶电泳、X射线分析、核磁共振波谱和透射电子显微镜技术。蛋白质组学分析方法及应用指导原则第二次公示稿修改说明 根据 2024 年 2 月蛋白质组学分析方法及应用指导原则第一次公示稿的反馈意见和建议，国家药典委员会相关专业委员会进行了研讨，在第一次公示稿的基础上修订了部分内容，主要为：一、适用范围1. 将文中“蛋白”修改为“蛋白质”。二、蛋白质组学的分析策略 1. 将“通过质谱分析技术检测到肽指纹图谱进行多肽的鉴定和定量分析”修改为“通过质谱分析技术检测肽段一级与二级谱图进行多肽的鉴定和定量分析”。2. 将文中“图谱”修改为“谱图”。三、蛋白质组学分析方法 1.“2.1 质谱技术”增加其他质谱碎裂技术，修订为：“蛋白质组样品经过提取、分离富集或者进一步变性还原、酶切、多肽分离富集处理后，选择适宜的分离系统导入离子源离子化，电离生成带电荷离子，离子通过碰撞诱导解离（Collision induced dissociation, CID）、高能碰撞诱导解离 High energy collision dissociation, HCD）、电子活化解离（Electron activated dissociation，EAD）或其它适宜的解离技术进行碎片化，后在加速电场的作用下形成离子束进入质量分析器，通过质量分析器分离和过滤不同质核比的离子，过滤后的离子最终经检测系统转换为可测量的信号，从而得到质谱图，以获得蛋白质的相关信息”。 2. 将文中“质核比”修改为“质荷比”。 3. 将“数据库检索对肽段碎裂质谱谱图和数据库中的理论序列谱图进行匹配，实现肽段鉴定”修改为“质谱数据文件的数据库检索对肽段碎裂质谱谱图和数据库中的蛋白质计算机模拟消化肽段碎裂模式进行匹配，以进行肽段鉴定”。4. 将“肽谱图匹配（peptide spectrum matching，PSM）”，“肽谱图匹配（peptide-spectrum matches，PSM）”，统一为“肽段谱图匹配 (peptide-spectrum matches, PSMs)”。 5. 将“统计学分析（如 p 值）”修改为“统计学指标（如 p 值）”。 2024 年 6 月 与第一次公示稿比较，修改处加橙色标记 四、蛋白质组学分析的质量控制 1. 在表 1 中增加样品处理中酶解漏切率、酶解位点特异性等 QC 评价指标及描述；增加色谱分析中峰宽和半峰宽等 QC 评价指标及描述；增加质谱分析中TIC 图等 QC 指标及描述。2. 调整仪器性能参数的描述顺序。将“建议结合仪器的性能进行设置，例如可将两个参数均设置为 20ppm，也可以将母离子质量误差设置为 10ppm，子离子质量误差设置为 0.02Da”修改为“建议结合仪器的性能设置质量误差，如将母离子质量误差设置为 10 ppm，子离子质量误差设置为 0.02 Da，也可将两个参数均设置为 20 ppm”。3. 将“鉴定的蛋白质应具有至少 70%的覆盖率，即被鉴定的多肽的氨基酸序列覆盖蛋白质氨基酸序列的百分比，70%的蛋白覆盖率可提高鉴定结果的可信度和全面性”修改为“蛋白质覆盖率是指被鉴定的多肽的氨基酸序列覆盖蛋白质氨基酸序列的百分比，70%及以上的蛋白质覆盖率可提高鉴定结果的可信度和全面性”。

p style="text-align: justify text-indent: 2em "【作者按】上一篇详细介绍了物质的组成以及高能电子束轰击样品产生二次电子和背散射电子的过程。并对与扫描电镜成像有关的各种衬度信息做了较为详细的阐述。【span style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strong延伸阅读：/strong/spana href="https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong二次电子和背散射电子的疑问（上）/strongstrong/strong/span/a】/pp style="text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子都呈现出怎样的样品信息？如何利用这些信息对样品进行分析？在表面形貌像的形成过程中起怎样的作用？对表面形貌像的细节分辨有何影响？是否存在假象？这些问题都将在本文加以详细的探讨。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong二次电子与背散射电子成像/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统观点认为：二次电子带有样品的表面形貌信息，形成样品的表面形貌像；背散射电子给出样品的成分信息，是形成样品成分像的主要信号源。这种观点是否片面？会不会产生假象？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面将围绕这些问题展开讨论。/pp style="text-align: center text-indent: 2em "strong一、二次电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子源自高能电子束对样品原子核外的介电子激发。能量低（ 50ev）、溢出深度浅（ 10nm）、溢出样品表面的分布不均。与样品表面夹角较大的二次电子（高角度二次电子），在样品中行走的自由程较短，溢出几率高，溢出量也较多。与样品表面夹角较小的二次电子（低角度二次电子），由于在样品中的自由程较长，因此损耗大、溢出几率较低、溢出量也较少。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/408e3c43-65b2-463f-9615-0a91b6981fd2.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "一直以来对于二次电子的认识存在很多问题，下面将选取以下几个问题来进行详细的探讨：二次电子主要来自核外的那一层电子激发？是形成表面形貌像的最佳选择吗？为啥易受荷电影响？会产生假象吗？有无Z衬度信息？SE1\SE2\SE3\SE4指的是啥？电位衬度和二次电子有什么关联？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.1二次电子主要来自原子核外那一层？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统观念认为介电子（最外层）最容易被激发，所以二次电子主要来自最外层。那么一个疑问是：如果最外层电子是二次电子的主要来源，那么大量的特征X射线来自那里？ /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "我们先看一个加速电压的变化对能谱谱线强度影响的实例。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/599eb752-6862-4d29-b3ad-0000bf07d804.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "能谱谱线的峰位对应着电子结合能，结合能对应电子层。那一层电子激发多，对应峰位的谱峰就高。从上面两张谱图可以看到，加速电压的增加，铜和锌的K线占比也增大。这说明加速电压增加，结合能高的K层电子，激发量的占比也增加。 因此从能谱看，似乎二次电子主要源于核外那一层电子并不固定，而是与加速电压和轨道电子激发能（结合能）的比值（过压比）有关。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "但是有充分的事例表明，特征X射线与二次电子在激发量上存在巨大的差距，这意味着内层电子的激发量极少。因此推测内层电子的激发与最外层电子的溢出可能并不是一个体系，即与特征X射线激发有关的内层电子，是以光电子形式溢出样品。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "故二次电子可能只能来自最外层轨道也就是介电子层。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "所谓光电子就是指由光电效应产生的电子。即轨道电子全面接收入射电子的能量，克服轨道结合能的影响而溢出。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "光电子的最大初动能与光的频率（能量）有关。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongEk=hv-A h是普朗克常数，v是频率，A是逸出功/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "主流观念认为内层电子的激发在过压比为3-4时达最佳。个人观点：不同元素这个值也不同，10左右都存在最佳激发的可能。充分认识到这一点，将有利于能谱测试时，对加速电压的选择。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2二次电子是否是形成样品表面形貌像的最佳信息源？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统理念认为二次电子是形成样品表面形貌像信息源的最佳选择。这个观点基于以下两点：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 二次电子能量弱，在样品中自由程短，浅表层溢出，横向扩散极小，因此对表面细节的影响小，含有表面信息多。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. 二次电子的溢出量随平面斜率变化较大，边缘处溢出最多，由此形成二次电子衬度及边缘效应。样品的表面形貌可看成不同斜率的平面组合，因此二次电子衬度就带有大量形貌信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/9bc7d100-8ccc-4ea6-bceb-992f0df9311d.jpg" title="3.png" alt="3.png"/br//pp style="text-indent: 2em text-align: justify "二次电子衬度是否是形成样品表面形貌像的主导因素？二次电子形成的表面形貌像细节是否就一定最丰富？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.1 样品表面形貌像是否取决于二次电子衬度？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "先看一个实例：用日立regulus8230的样品仓探头（L）和镜筒内探头（U）分别对硅片上刻蚀的倒金字塔图形进行观察。由于EXB系统的分离，使探头（U）接收的信息为较纯的二次电子。样品仓探头（L）因位置原因含有大量背散射电子。结果如下：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/171072a0-5b72-45d7-9e7b-562a06ac0a5a.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "由上例可见，图像中二次电子衬度充足但表面形貌像并不好， 形貌衬度（参见上篇）充足形成表面形貌像才十分的优异。因此形貌衬度才是形成形貌像的基础。形貌衬度的主要形成因素，依所观察样品的特性及所需获取的样品信息不同，分为两个层面：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "层面一：样品做低倍观察或样品表面起伏较大。探头、样品、电子束三者夹角将是影响形貌衬度的主导因素。大工作距离下使用侧向的样品仓探头获得表面形貌像，细节更丰富。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/dadb4366-061a-4b04-939b-6071ade9322b.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "层面二：高倍观察样品的几纳米细节。这些细节起伏小，采用不同角度的电子信息形成的形貌衬度即满足要求。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "小工作距离下选择镜筒探头从顶部获取较多的二次电子信息，减少信息扩散对细节的影响，是形成形貌像的关键。此时测试条件的选择，应当以尽可能多的获取低角度信息为目标。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/024fc5d0-42ae-4342-9376-1f2c0d6614cc.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "镜筒探头（U），利用不同角度的信息形成形貌衬度，只能面向起伏较小的样品细节，对较大细节的观察效果差。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/4b96227b-8219-4354-9919-c6063716e8dc.jpg" title="3.png" alt="3.png"//pp style="text-indent: 2em "strong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "探头（U）位于顶部，造成形貌衬度不足，无法分辨亮、暗衬度的空间形态。探头接收的二次电子占主导地位，二次电子衬度的影响使得斜面与平面有明显的亮、暗差异。亮部易被误认为是另一种物质所形成的Z衬度。采用探头（L）进行观察，情况刚好相反，故真实的孔洞信息表现充分。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strongB)二次电子的边缘效应也会对某些样品的细节分辨提供帮助/strong/pp style="text-align: center text-indent: 0em "两张不同材料的多层膜照片，各膜层的材料相近，Z衬度较差。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/30cfea12-6d69-4487-b960-7ebe49305d3a.jpg" title="4.png" alt="4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上几个实例表明：形成样品表面形貌像的基础是形貌衬度，而非二次电子衬度。二次电子衬度会带来形貌假象，但也会帮助我们观察并区分一些特殊的样品信息。不同的样品信息适合用不同的衬度信息来表现，故辩证的关系无处不在。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.2二次电子对图像细节分辨能力的影响/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "形貌衬度是形成扫描电镜表面形貌像的基础，其他的各种衬度信息叠加在形貌衬度上，才能形成完整的表面形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "无论表面形貌像是如何构成的，信息源都是二次电子和背散射电子。其在样品表面的溢出区大小，必然会对表面形貌像的细节分辨产生影响。电子信息的能量越大、影响也越大。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子能量弱，对样品表面细节影响小，是对松散样品（如介孔、气凝胶）的几纳米细节观察的首选信息。它的含量越大这类信息表现得就越充分。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/31aa0262-e51d-443f-a364-08789d18ec66.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "低倍下，观察细节受信号扩散的影响减弱，充足的形貌衬度将成为主体。此时选择样品仓探头从侧面观察，结果更佳。/pp style="text-align:center"span style="text-indent: 2em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/a3eed5c6-6b8c-406f-841c-5d6e833fe40b.jpg" title="6.png" alt="6.png"//span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上多个实例表明，形成样品表面形貌像的基础在于形貌衬度。其余的各种衬度信息叠加在形貌衬度之上共同形成完整的表面形貌像。不同的信息需求必须采用不同的应对方案，才能获取最佳的测试结果，这是一个辨证的关系。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3 荷电现象与二次电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品表面因电荷累积形成静电场，影响电场及周边电子信息的正常溢出，产生所谓的荷电现象（这一现象今后将有专文探讨）。二次电子由于能量弱因此更容易被该静电场所影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/spanbr//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/f0392819-a938-40e5-8c23-1632be9b39e1.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "荷电场对高角度二次电子的溢出影响更为明显，因此样品信息中高角度二次电子含量越多，图像的荷电现象会更严重。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面以介孔硅KIT-6图像为例来说明。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/e8c31c1e-1dfe-47c7-9c45-6cbc63323c92.jpg" title="7.png" alt="7.png"//pp style="text-indent: 2em "采用样品仓探头接收样品信息，工作距离也会影响荷电现象。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/3ee8d1e3-a752-4eb9-ab69-a1abc9e4de99.jpg" title="8.png" alt="8.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.4二次电子是否拥有Z衬度信息？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "同一个加速电压下，样品的不同密度及原子序数，二次电子的激发量还是存在衬度差异，但该衬度差异不如背散射电子强烈。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/ade275e0-9420-49b5-8370-039102e48b70.jpg" title="9.png" alt="9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.5 SE1\SE2\SE3\SE4指的是啥？对测试结果有啥影响？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "依据目前各电镜厂家的描述：SE1指的是电子束直接激发并溢出样品表面的二次电子，SE2是样品内部各种散射电子激发并溢出样品表面的二次电子，SE3\SE4是散射电子、入射电子所激发的样品仓内的各种二次电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE1是形成高分辨表面形貌像的关键信息。其扩散范围小，基本在电子束直径的周边，对样品表面形貌细节影响也最小。同等条件下该信息含量越充足，图像清晰度及细节分辨力越优异。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE2离散度较高，加速电压越高其产额和离散度也会越大。当SE2成为样品表面形貌像的主导信息时，表面形貌像的图像分辨力会大大降低。这是过高加速电压图像分辨能力差的主要缘由。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE3\SE4是杂散信息，产额越多对结果影响越大。电镜厂家在镜筒设计过程中都会将这一因素的影响压倒最低。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "选择加速电压时要充分考虑其对SE1\SE2产额的影响。在满足测试所需的电子束发射亮度的情况下，加速电压越低越好。要获得这样的结果，扫描电镜的本证亮度就要大。（可参看经验谈1）/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.6二次电子与电位衬度/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品表面的少量静电场会引发该处信号异常溢出，当静电场弱小到不对图像的形态产生影响时，就形成了所谓的电位衬度。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电位衬度主要影响的是能量较弱的二次电子，对背散射电子的溢出量影响较小。电位衬度可以在材料缺陷的分析上提供帮助。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面是我在为某单位进行样品测试时遇到的两个实例。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/4ac1d2e5-0460-4c65-8665-53c12c818eeb.jpg" title="10.png" alt="10.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从左至右，探头选择依次是U\UL\L，背散射电子含量依次增多。但图像Z衬度却反常的依次减弱，直至消失。因此考虑这是否是少量有机物形成轻微荷电场所产生的电位衬度，并不是我们日常所见到的Z衬度信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "放大后看到有亮点经电子束轰击后消失，图像缩小可看到明显碳污染的存在，故可判断该现象是有机物污染所形成。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/1b672cd4-42ee-463f-83bd-eba4761cab2f.jpg" title="11.png" alt="11.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上述现象如同上例所存在的探头切换时Z衬度的异常变化，只是高倍轰击并没有出现碳沉积现象。说明此处异常亮并非有机物附着形成，可能已经被有机物氧化，能谱分析此处氧含量偏多。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "用户对设备清洗后这些现象都消失。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong二、背散射电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "与入射电子束方向相反的散射电子，称为背散射电子。其能量与入射电子相当，在样品中扩散范围较大，加速电压越大扩散体也越大，对图像细节影响也越大。背散射电子在样品表面溢出范围也不均衡。由于高角度背散射电子形成几率小，因此溢出量少，低角度背散射电子产生的几率较高，因此溢出量较多。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/dd47d4a8-592f-477d-8a4c-2dec993cd022.jpg" title="12.png" alt="12.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子图像拥有如下特点：Z衬度与晶粒取向衬度好、受荷电影响小、信号扩散区大、极表层信息缺乏、电位衬度较差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.1背散射电子和二次电子的图像对比：/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/c95317fd-f9ce-4958-8c78-563d172684fa.jpg" title="13.png" alt="13.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.2背散射电子进行的晶粒结构及取向分析/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/7aeb4551-2ef4-47d5-91fb-99fc1df796e7.jpg" title="14.png" alt="14.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子的溢出量不仅受到样品原子序数及密度的影响，晶体材料的晶体结构及取向也会对背散射电子的溢出量及溢出方向产生影响，形成的晶粒取向衬度（电子通道衬度）更明析。但是要形成足够的衬度差异，需要晶粒存在较大的取向差、足够的体积、密度及整体平整度。要获取该种类的样品信息，样品平整度处理十分重要。切割、抛光处理是常备的制样方式。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "利用背散射电子衍射（EBSD）所形成的菊池花样对晶粒取向及构造进行分析，所获得的取向精度得到极大的提升，达到0.1° ，分析内容也更为充分。是目前利用扫描电镜进行晶粒结构和取向分析最权威、最充分且是最常用的技术手段。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/5e34d2af-f814-40d7-9c7a-b8be561439d8.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "无论是直接利用背散射电子获取晶粒取向衬度还是通过EBSD来对晶粒进行观察和分析，信息源都是背散射电子。离开背散射电子，扫描电镜将无法充分的进行晶体材料结构及取向分析。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.3背散射电子图像的分辨力/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压、样品特性、信息需求、探头的性能和位置都影响着背散射电子图像的分辨力。在谈论图像分辨力时不能脱离条件的限制。比如观察样品的Z衬度信息，背散射电子形成的图像比二次电子形成的图像拥有更好的细节分辨；要观察样品内部的信息，加速电压低了是无法观察到的； YAG材质的探头比半导体材质的探头更适合低加速电压观察，样品表面信息分辨好。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "但总体来说背散射电子在样品中的扩散比二次电子来的大。对样品表面形貌像的细节干扰较强、较为明显。背散射电子含量越大，高倍率图像的清晰度也越差。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong三、结束语/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子是扫描电镜形成样品表面形貌像的两个重要信息源。但形成表面形貌像的基础却是探头所获取的样品表面各种信息的衬度，而不是选用了那个信息源。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如同用不同颜色的光去观察一个物体。无伦选用哪种颜色的光，形成物体图像形态的关键都是对物体的观察角度。不同的观察角度，图像的形态不同。而不同颜色的光只是给这个物体染上了颜色。不同亮度的光可以在一定程度上影响物体图像细节的辨晰度，却无法影响物体图像的形态。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 图像上的明、暗差异被称为图像衬度，是形成图像的基础。噪点及亮度、对比度的调整也会对其产生影响，但与成像有关的是各种信息衬度。图像的衬度主要由各种信息的衬度所形成。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度（电子通道衬度）、二次电子衬度、边缘效应、电位衬度是形成扫描电镜图像的几个主要衬度信息。其中形貌衬度是基础，其余的衬度信息叠加在该衬度之上，共同形成扫描电镜的各种图像。不同的样品表面信息需要用不同的衬度信息来表现，才能获得最佳的效果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 样品表面形貌的高低位置差异形成扫描电镜图像的形貌衬度。形貌衬度主要受探头接收样品信息的角度影响。对形貌衬度产生主要影响的因素分为两个层次：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.倍率越低，形貌的高低位置差异越大，要求的形貌衬度较大，探头、样品和电子束三者间形成一定的夹角才能满足形貌衬度的形成需求。此时这个夹角就是关键因素，对样品仓探头的充分运用才能保证我们获取更为丰富的表面形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.高倍下形貌高低位置差异减少。对形貌衬度的要求较小，样品信息的溢出角度所形成的形貌衬度即满足形貌像的需求，此时信息扩散对细节的影响成为主导因素。采用小工作距离、镜筒探头这一组合观察时，接收的二次电子较多，对形貌细节的影响较少，此时形成形貌衬度的主导因素是样品的低角度电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子做为形成样品表面形貌像的信息源，必然会对表面形貌像形成影响，其影响主要表现在信号扩散对细节的掩盖，相对来说二次电子对样品表面细节的影响较小。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子形成的各种衬度信息（Z衬度、晶粒取向衬度、边缘效应、二次电子衬度电位衬度等）是我们进行样品表面形貌观察及分析的重要依托。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子有利于减少信号扩散的影响，其电位衬度、边缘效应、二次电子衬度极为充分，利于展示样品的某些特殊信息，但这些衬度也会带来一些假象。必须辩证的认识，合理的使用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子的溢出量容易受到样品表面荷电场的影响，形成样品表面的荷电现象。高角度二次电子更加容易受到荷电场的影响，它的含量越大，样品表面的荷电现象越严重。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子有利于表现Z衬度、晶粒取向衬度等信息。因其本身能量较大，溢出量不易受样品表面荷电场的影响，被视为应对样品荷电现象的有效方法之一。但也正是因为能量较大，在样品中扩散范围也相对较大，使得高倍时图像清晰度较差，不利于低于20纳米的样品细节的展现。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "我们在运用二次电子和背散射电子作为信号源来形成样品表面形貌像时，应当依据样品特性以及所需获取的信息特性，对症下药用辩证的思维方式来指导我们选择合适的测试条件。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "华南理工出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "中科大出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "人民出版社 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 清华大学出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 北京天美高新科学仪器有限公司 高敞 2013年6月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong 作者简介：/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 100px height: 154px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/057cf6d3-2db1-4141-b27e-367cdc453e09.jpg" title="林中清.jpg" alt="林中清.jpg" width="100" height="154" border="0" vspace="0"/林中清，87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。/ppbr//p

会议时间：2016 年10 月 8-11 日　　会议地点：大连，中国科学院大连化学物理研究所　　第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所(地址详见附件1)举行。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台，推动二次离子质谱的发展，促进二次离子质谱技术在各领域的应用。会议热诚邀请中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质谱相关工作的同仁相聚美丽海滨城市大连，展示最新的研究成果，共同推动我国二次离子质谱的发展。会议热诚欢迎国内外相关厂商参展。　　一、发起单位和承办、协办单位　　1.发起单位：中国质谱学会　　2.承办单位：中国科学院大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室　　3.协办单位：清华大学分析中心、国家科技基础条件平台北京离子探针中心、中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室、中国科学院半导体研究所半导体照明联合创新国家重点实验室、中国矿业大学煤炭资源与安全开采国家重点实验室、中国科学院广州地球化学研究所同位素地球化学国家重点实验室、中国科学院活体分析化学重点实验室、中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室　　二、会议组织机构　　1. 大会主席　　李海洋、凌永健　　2.学术委员会　　主任：凌永健、汪福意　　委员：查良镇、刘敦一、周新华、李金英、翁禄涛、麦富德、赵永刚、陈焕文、梁汉东、　　李海洋、曹永明、马农农、韦刚健、朱梓华、李献华　　3.组织委员会　　主任：李海洋　　委员：张玉海、李展平、赵丽霞、李秋立、张磊、夏小平、肖国平、文彦杰、杨莉、杨蔚、　　侯可勇、王卫国　　4.会务组　　组长：花磊、王爱博　　成员：陈平、谢园园、陈创、黄卫、李金旭、鞠帮玉　　联系人：王爱博、谢园园　　电话：0411-84379510 0411-84379517　　传真：0411-84379517　　E-mail：sims_china@163.com　　三、研讨专题征集　　1. 二次离子质谱仪器和理论 　　2. 地球科学中的元素与同位素分析 　　3. 核科学中的微区分析和同位素分析　　4. 材料的微区分析、表面分析和3D分析　　5. 半导体/微电子科学中的表面分析 　　6. 生命科学和临床医学中质谱原位分析、质谱成像和单细胞质谱分析 　　7. 环境科学中的微区和原位分析　　8. 微纳尺度样品的质谱分析　　9. 二次离子质谱的样品前处理方法和复杂样品分析　　10.原子探针/质谱原位分析新技术　　11.新型离子源(纳米/团簇)和后电离技术 　　12.质谱成像数据分析、数据处理、数据融合和识别方法　　注：论文摘要截止日期：2016年9月15日　　四、会议组织方式　　会议由会前课程短训、大会特邀报告、专题研讨和离子探针实验室考察参观等4部分内容组成。时间安排如下：　　10月8日：会前课程短训报道　　10月9日：会前课程短训 & 会议注册报到　　10月10日上午：开幕式和大会报告　　10月10日上午-11日上午：专题研讨、展板交流　　10月11日下午：大连化物所实验室考察与交流　　1. 会前课程短训　　学术委员会和组织委员会邀请安排二次离子质谱领域的专家教授，为研究生和青年科研人员举行1天的二次离子质谱基础、仪器和分析应用的会前课程短训(中文授课)。　　注：短训课程免费，会议为参加短训课程的成员提供免费午餐。　　2. 会议报告　　包括大会特邀报告和专题研讨。会议将邀请国内外知名学者做大会特邀报告。专题研讨包括口头报告和展板交流两部分，由组织委员会负责组织和安排。　　3. 会后实验室考察参观　　组织委员会拟安排与会代表参观中国科学院大连化学物理研究所清洁能源国家实验室分析平台、催化基础国家重点实验室、分子反应动力学国家重点实验室、大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室和化物所科技园等。　　五、会议报名与注册　　请拟参加会议人员填写“第六届中国二次离子质谱学会议回执”(附件2)，用电子邮件方式提交给会务组 (sims_china@163.com)。　　会议注册费及其缴纳方式将在第二轮通知中说明。　　中国质谱学会　　2016年3月30日　　附件1：　　中国科学院大连化学物理研究所坐落在星海湾附近，依山傍海，东邻著名的国际会展中心，西近美丽的星海公园，交通十分便利。此外，毗邻大连市高新技术园区及大连理工大学，大连海事大学，大连医科大学，东北财经大学等高等院校。这一带是大连市的一个科研、教育中心。　　附件2：　　第六届 中国二次离子质谱学会议——参会回执　　姓名: 性别:　　职称(或研究生):　　单位：　　地址：　　邮编:　　电话:　　Email：　　是否参加会前课程培训： □ 参加会前课程短训 □ 不参加会前课程短训　　是否提交论文： □ 参会但不提交论文 □ 参会并提交论文　　拟提交的论文题目:　　______________________________________________________________ ___　　参会形式： □口头报告 □ 展板交流　　请将本回执email到第六届中国二次离子质谱学会议会务组:　　Email: sims_china@163.com