透过率光谱仪

AODE-305费氏粒度仪参数 一、仪器简介及应用范围 AODE-305系列为第四代透过法粒度测定仪法（平均粒度仪），是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂计算，测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“空气透过法”，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89 /GB 3249-82/GBT 11107-2018/GB3249-2009和国际标准：ISO10070-91.仪器带有快速计算板，无须复杂计算，可直接读出粒径值，使用操作非常方便。二、技术参数1、粒度测量范围：0.2μm(微米)─50μm(微米) 2、孔隙度范围：0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95 3、精度：3％ 4、工作环境：相对湿度不大于80％，温度：25±10℃ 5、电源：∽220±22v50-60Hz 6、功率：2w 7、重量：12kg8、外型尺寸：755*400*260三、工作原理及结构 本仪器是基于稳定空气流动下，气体透过粉末压缩床，气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时，就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。

PSI-4型测定仪使用说明书 一、仪器简介及应用范围PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪，是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂计算，测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“张瑞福法”，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89和国际标准：ISO10070-91，荣获国家发明奖。PSI-4A型带快速计算板，无须复杂计算，可直接读出粒径值，使用操作非常方便。PSI-4B型带有游标卡尺，可精确测量粉末床的厚度及水柱高度，大大提高了测量范围和精度。本仪器由张瑞福先生亲自监制。 二、技术性能PSI-4APSI-4B仪器设计精度0.010.01粒度测量精度0.030.02粒度测量范围Dk0.1~100μm0.02~120μmDv0.02~1μm0.002~0.5μm比表面积测量Sk0.06~60(m2/g)0.05~300(m2/g)Sv6~300(m2/g)12~3000(m2/g)Sw2~150(m2/g)0.2~1.5×103(m2/g)注：Dk为包络比表面粒度，也称粘性流透过粒度；Dv为全比表面粒度；Sw为质量全比表面积 Sk为粉末包络比表面积； Sv为粉末全比表面积，也称粉末吸附全比表面积。工作环境： 干燥，无腐蚀，温度25±12℃，相对湿度＜80%电 源： 220ACV，50Hz，20W外型尺寸： 755×400×260 mm3净 重： 12 kg三、工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下，气体透过粉末压缩床，气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时，就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。仪器的气流及测压系统。

CVT-721石英比色皿比色皿（又名：吸收池、样品池）主要用于液体样品测量（吸光度/荧光/透过率/吸收）时使用。配套在光谱分析仪器上，如分光光度计，血红蛋白分析仪，粒度分析仪等，对物质进行定量，定性分析，广泛应用于化工，冶金，医疗，医药，食品，环保，电厂，水厂，石油等行业，部门和大专院校，科研单位测试，化验使用。CVT-721系列石英比色皿，是两面全通型比色皿。选用最优质的远紫外石英玻璃（JGS1）加工而成。λ/4 @632.8nm的面型，＋0.0/-0.1mm的外形公差，配对误差＜0.5%。本产品所用原材料均为进口优质光学玻璃，属精密科学仪器，我们在生产，检验过程中，严格按照国家标准，确保产品100%的合格率。产品特点? 两面通型比色皿? 远紫外石英玻璃（JGS1）? 面型良好：λ/4 @632.8nm? 外形公差极小：＋0.0/-0.1mm? 精准的配对误差：＜0.5%? 光程10mm 规格型号CVT-721通光方向 两面通光材质JGS1尺寸（mm）H×W×D45×12.5×12.5光程（mm）10适用光谱范围200~2500nm容量3.5ml 使用注意比色皿为长方体，其底及两侧为磨毛玻璃,另两面为光学玻璃制成的透光面采用熔融一体。所以使用时应注意以下几方面：1、 凡含有腐蚀玻璃的物质的溶液(特别是碱性物质)不得长期盛放在比色皿中。2、 拿取比色皿时,只能用手指接触两侧的毛玻璃,避免接触光学面。同时注意轻拿轻放，防止外力对比色皿的影响，产生应力后破损。3、 不能将比色皿放在火焰或电炉上进行加热或干燥箱内烘烤。4、 当发现比色皿里面被污染后，应用无水乙醇清洗，及时擦拭干净。5、 不得将比色皿的透光面与硬物或脏物接触。盛装溶液时,高度为比色皿的2/3处即可,光学面如有残液可先用滤纸轻轻吸附，然后再用镜头纸或丝绸擦拭。 清洗方法1、 比如测定溶液是酸，如果不干净，就用弱碱溶液洗，要是测定溶液是碱，如果不干净，就用弱酸溶液洗，要是测定溶液是有机物质，如果不干净，就用有机溶剂，比如酒精等溶液洗。2、 选择比色皿洗涤液的原则是去污效果好，不损坏比色皿，同时又不影响测定。3、 分析常用的铬酸洗液不宜用于洗涤比色皿，这是因为带水的比色皿在该洗液中有时会局部发热，致使比色皿胶接面裂开而损坏。同时经洗液洗涤后的比色皿还很可能残存微量铬，其在紫外区有吸收，因此会影响铬及其他有关元素的测定。一般主张使用硝酸和过氧化氢(5：1)的混合溶液泡洗，然后用水冲洗干净。

PLT,96WL,UV,NT,NS,25/50透明，平底，紫外线可更好的透过。适用于蛋白和核酸定量。低背景，高一致性。无核酸酶。

产品介绍:泰思泰克透过材料接触传热性测试仪根据ISO12127-2007及EN702设计研发并制造；该仪器通过加热筒在一定载荷下接触试样及热量计，测定一定温度下试样的传热性能；该仪器操作简单，数据准确，安全可靠，广泛应用于消防防护服相关公司及检测部门； 产品型号：TTech-ISO12127符合标准：ISO12127-2007 EN702技术参数1、 该设备由控制箱及不锈钢试验架台构成；2、 试样架自动升降，升降时速度 5mm±0.2mm/s3、 K型铠装热电偶，直径2mm，测温精度0.1℃；4、 加热桶温度大于500℃ 试样接触表面直径25.2±0.05mm5、 加热桶载荷重量 49N，可调节；6、 计时器 计时范围9999s 计时精度0.1s 7、 热量计固定盘直径25mm,厚度5mm 并装配铂电阻温度传感器；8、 支撑架材料为尼龙66；直径40mm 高度50mm 9、 试样直径80mm 10、 PLC 及触摸屏智能控制系统；11、 升温PID智能控制，系统自动采集温度数据；12、 试验数据系统自动计算，自动存储；可自由打印；13、 试验台尺寸：650mm x 350 mm x 650mm14、 电源 220V 50/60Hz, 功率800w

高透射率激光窗口透过镀增透膜提高透射率。高表面质量，低散射的光学窗口，具有一个或两个防反射涂层，用于高功率应用和输出最大光束。光楔选项：10 arc sec或30±5 arc min。标准直径从12.7-101.6mm，标准厚度从1.0-12.7mm，均支持定制。波段：193nm-1550nm，有单面镀膜和双面镀膜两种型号。 镜片材料：UVFS，表面质量10-5，高损伤阈值，脉冲激光15 J/cm2, 20ns, 20Hz at 1064nm，连续激光1 MW/cm2 at 1064nm。尺寸、基底和镀膜均支持定制。

渗透率是薄膜类材料的重要特性，精确测量薄膜、纸张等的水分子渗透率对于评估其作为包装材料在不同水蒸汽分压环境下隔绝水分的功能有着重要的意义。 ProUmid公司生产的动态水分吸附仪可以选配一个渗透率组件，精确检测薄膜的渗透率。该渗透率组件有六个样品盘，可以同时测量5个薄膜（纸张）样品的渗透率，大大节省了试验时间。该仪器包括一个高灵敏度的天平和能够调节温湿度，气流循环的密闭空间。为渗透率的检测提供最理想的环境。 检测原理：将薄膜（纸张）覆盖在样品盘上，将盘内放置干燥剂、饱和食盐水溶液或水来制造一个与环境不同的水蒸汽分压，从而使水分子透过薄膜（纸张），迁移到达另一边。这种水分子的迁移可以通过称量样品盘的重量来检测。 这种方法结果非常准确，可以得到薄膜（纸张）材料的精确渗透率。特点：ProUmid公司生产的SPS和Vorp系列动态水分吸附仪能够精确的检测水蒸气透过薄膜的渗透率。仪器温湿度可调，可以模拟在范围非常广的环境条件下检测渗透率。仪器的称重精确度很高，可以检测低至0.05g/(m2 day)的渗透率。SPS和Vsorp系列动态水分吸附仪具备多样品高通量的特点，每次可同步检测5个样品，非常适合对比不同组成薄膜之间渗透性能的差异。

校准滤光器组：用作二次标准，用于验证可见光吸收光谱仪的透射率和吸光度。Kron / Cousins UBVRI过滤器：用于滤除和测量由天文物体发射的特定光谱带。有Johnson/Bessel 和Kron/Cousins 两种类型，前者适用于光电倍增管，后者适用于硅CCD。校准滤光器组AC-930衰减片：三片衰减片透过率分别为10%、20%、30%AC-930衰减片：三片衰减片透过率分别为1%、3%、50%。拥有校准证明。

带通光学滤光片消杂滤光片滤波片双光子荧光显微 上海屹持光电推出专用带通光学滤光片，性能好、性价比高，可根据用户需求定制。可用于双光子显微成像、荧光显微镜、拉曼光谱仪和激光系统等。 双光子荧光显微镜是结合了激光扫描共聚焦显微镜和双光子激发技术的一种新技术，能记录组织深层最细微的内部结构。双光子显微系统中，由于激发光和发射荧光波段不同，且在双光子成像时有杂散光干扰，所以需要双光子显微专用滤光片选择合适的透过波段成像，反射不需要光波段。参考型号尺寸 性能参数主要功能EBPF-40/68-L36W25T0125mmx36mmx1mm透射400~680nm90%反射710~1500nm90%反射红外激光，透过可见光EBPF-75/160-L36W25T0125mmx36mmx1mm反射350~720nm98%透射750~1600nm90%反射可见光，透过红外激光EBPF-39/55-L36W25T0125mmx36mmx1mm 透射390~555nm=90%反射575~1000nm90%将可见光分成绿色通道和红色通道EBPF-39/69-D25T01D25mm x1mm透射390~690nm=95%截止波段730~1100nmod值=6~8滤除红外激光 配备屹持光电双光子显微镜专用滤光片后，双光子下的花粉颗粒成像图。

带通滤光片通过在传输波段提供高透过率，在其两侧包括长波长和短波长端提供高光谱能量抑制，进而从全光谱中隔离出一段波长。我们提供 200 nm 到16 微米范围内的标准和定制带通滤光片，带宽范围覆盖从UV/VIS波段的 0.3 nm 到IR波段宽至 4 微米。查看所有产品：https://www.newport.com.cn/c/optical-filters

单通光学滤光片：范围：224nm-1622nm透过率：40%-70%FWHM：9.4nm-32nm不等圆形和方型可选直径：5-25mm 边长：5-25mm美国Semrock公司专业生产滤光片，具有大量设计专利和技术，已经成为生命科学行业的滤光片的标准，是目前市场上先进的光谱滤光器生产公司。 主要应用于DNA测序、荧光显微镜和成像、高通量筛选、点护理诊断、拉曼和FTIR光谱、光学断层相干扫描等。

美国 Chroma滤光片Chroma专门从事高精度光学镀膜，致力于生产精确波谱控制，高信噪比，陡斜率的滤光片，波谱范围从紫外到近红外包括带通，多波段带通，长通，短通，陷波，二向色镜等。目前是Nikon, Zeiss, Leica和Olympus的主要供货商，同时也是许多其他生物类仪器，医疗仪器，药物研究，机器视觉，天文和激光类仪器厂家的供货商。滤光片分类1）激发滤光片 (Excitation Filter)2）发射滤光片 (EmissionFilter)3）二向色镜 (DichroicMirror)应用1、荧光应用Chroma磁控溅射镀膜滤光片具有高透过高阻挡，零漂移的特点。能够得到准确真实的图像。磁控溅射镀膜 VS 软镀膜Chroma FISH滤光片根据不同染料谱图进行优化，实现最佳的对比度这度，颜色区分和图像配准。2、激光应用Chroma用于TIRF的UltraFlat™ 向色镜(厚度≥2mm)，结合Chroma专利产品TIRF滤块盒，能够保证产生理想的渐逝场，不会激发渐逝场外之外的荧光分子。Chroma的UltraFlat™ 二向色镜能够最小化激光经反射后产生的波前扭曲。3、拉曼应用 RET532/4x (EX) 、RT532rdc (BS)、RET537lp (EM)● 窄带激发片● 斜率更陡的二向色镜● 斜率更陡的长通发射滤光● 低波数Raman信号检测(110-170 cm~1) UV, 488 nm, 532 nm, 785 nm等激光。4、机器视觉● 磁控溅射镀膜● 高透过(≥95%)● 高阻当(OD6)● 陡斜率● 尺寸：2-200 mm 圆形，方形及不规则尺寸 ● 波谱范围 (200-3500mm)● 接受客户定制

多带通滤光片提供双带通、三带通、多带通滤光片。波长376nm-1550nm带宽10nm、20nm、40nm等 透过率90%标准尺寸 25 mm x 5.0 mm支持定制，尺寸5mm - 50.8mm

可调带通滤光片 波长：378nm-900nm 透过率：70% 到90%不等 出射角：0°和60° 带宽：15nm 标准尺寸：25.2 mm x 35.6 mm x 2.0 mm支持定制：5mm-50.8mm

高通边缘滤光片波长：224nm-1580nm，平均透过率：90% 通过带宽：200nm左右 标准尺寸：25mmX3.5mm 支持定制：5mm-50.8mmSemrock通过硬涂层能极大地提高滤光片的光学损伤阈值。常规滤光片在8 W /cm2连续曝光一天，传输下降了42％。相比之下，Semrock 的不变。在以1W / cm 2的强度照射，常规镜片在300小时后出现故障，无法滤光。即使经过超过1000小时的曝光，Semrock滤光片也不会改变。

Andover拥有定制的、最先进的设备，包括自动化涂层，玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛，包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪，用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层，包括医疗仪器仪表，荧光研究，机器视觉，农业成像，地面和天文观测，电信，军事和民用监视系统以及防御瞄准系统 带通滤光片Andover提供不同类型的带通滤光片，包括标准带通滤光片、高透过率带通滤波片、定制带通滤光片、硬涂层窄带滤光片和硬涂层宽带滤光片。 标准带通滤光片波长范围从194nm-2400，覆盖范围从紫外到红外。 标准带通滤光片通过带宽从1.5nm-300nm，滤波等级OD4，镜片标准尺寸12.5mm、25mm和50mm。

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

偏振带通滤光片波长：353nm-1059nm，平均透过率：95%通过带宽：10nm-43nm左右偏振比：1000000:1标准尺寸：25.2 mm x 35.6 mm x2.0mm、 25mmX2.0mm支持定制：5mm-25.4mm

PerkinElmer红色滤光器02901518我司是美国PerkinElmer授权代理商，所有产品都含有防伪标签，扫码可查询真伪。红色滤光器钾、锂、铷、铯线性化工作曲线时使用。火焰法测试铷和铯时推荐使用红色滤光器。该滤光器仅可透过650nm以上的光。产品描述 部件编号红色滤光器 02901518 02901518AAMinor AccessoryRed 305 Long Pass Filter

PerkinElmer红色滤光器02901518我司是美国PerkinElmer授权代理商，所有产品都含有防伪标签，扫码可查询真伪。红色滤光器钾、锂、铷、铯线性化工作曲线时使用。火焰法测试铷和铯时推荐使用红色滤光器。该滤光器仅可透过650nm以上的光。产品描述 部件编号红色滤光器 02901518 02901518AAMinor AccessoryRed 305 Long Pass Filter

THz高透膜层 众所周知，由于高反射损耗，晶体材料的THZ波投射率不高（HRFZ-Si的透过率只有54%，石英晶体的THZ波段透过率约70%）。而THZ高反膜可以用来降低反射损耗。 我们提供聚乙烯（polyethylene）和聚对二甲苯（parylene）材料的膜层。我们提供针对平面镀的聚乙烯膜技术，通常只是用在窗口镜上。 平面的聚对二甲苯（parylene）膜层在微电子领域是比较知名的。我们的聚对二甲苯（parylene）可以镀在平面或者球面上，因此，该技术可以用在窗口和透镜上。 高透波段可以根据客户需要定制。我们定制从60μm到1300 μm.的高透膜。 我们提供以下高透膜: 1.两面高透 通常用在窗口镜或者半月透镜上。 下面的波段可以提供： - 聚乙烯膜层 - 60-80 μm, 110-160 μm, 160-220 μm, 320-430 μm, 375-510 μm, 480-650 μm, 535-725 μm, 645-870 μm, 695-940 μm, and 965-1305 μm- 聚对二甲苯膜层 99-125 μm. HRFZ-Si 可以镀聚乙烯膜层和聚对二甲苯膜层，而石英晶体只能镀聚对二甲苯膜层。 镀了高透膜以后，上面提到的波长可达到≥90% 的透过率。 镀聚乙烯膜层和没镀膜的HRFZ-Si 窗口镜，镀聚对二甲苯膜层和没镀膜的石英晶体窗口镜的透过率如下图： 镀聚乙烯膜层和没镀膜的HRFZ-Si 窗口镜. 高透膜是160-220 μm. 镀聚对二甲苯膜层和没镀膜的石英晶体. 高透膜是99-125 μm. 2. 单面高透膜 通常用在半球透镜上，平面不镀膜，该透镜通常用在THZ-TDS系统或者超导热辐射系统中光电导天线的THZ耦合中。99 um到125 um的高透膜一般是针对一些特殊应用的。高透膜可提高半球透镜30%透过率。测量半球透镜的透过率是很困难的，我们的透过率曲线是模拟出来的。 模拟的单面镀聚对二甲苯膜层和没镀膜的石英晶体. 高透膜是99-125 μm. 我们的一个客户通过实验证实了镀膜后透过率的提高，111um的功率提高了30-50%。 未镀膜的HRFZ-Si半球透过率只有6%。这个是由内反射决定的，最大的内反射角大约是17度。由于硅材料的高折射率，球透镜的通光口径只有40%。聚乙烯高透膜以及聚对二甲苯膜的高透波段是不一样的。

我们提供进口高质量荧光滤波片,窄带滤光片,干涉滤光片用于波长选择，波长范围高达250-2500nm。荧光滤波片,窄带滤光片,干涉滤光片广泛用于天体物理，临床化学，材料分析，质量控制，以及其他各种实验室用途。 我们还提供荧光滤波片，具有超高斜效率,深度过滤,最小光谱串扰,高透过率和广泛环境承受能力等优点。更多荧光滤波片,窄带滤光片,干涉滤光片请浏览网页： 荧光滤波片,窄带滤光片,干涉滤光片参数 Bandwidth Tolerance +/- 20％ maximal Blocking 0.01％ Mount Diameter 25,4 mm Clear Aperture 18mm Temperature Limits -50oC to 80oC荧光滤波片,窄带滤光片,干涉滤光片询问服务：请填写如下表格，然后复制后发送email给我公司，您会收到及时的报价服务。 Central Wavelengthnm ShapeRectangularRound Dimensionsmm Full Width-Half Maximum (FWHM)nm Peak Transmitance% Comments Quantity

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消色差透镜用于在图像平面的同一点聚焦两个或多个波长。 减少球面像差和彗形像差。非常适合宽带应用，如天文望远镜，等离子光谱，生物医学仪器和激光束转向。由于其性能远远优于简单的单透镜，也能理想应用于单波长条件。能最大限度地减少球面像差和彗形像差。波段：400nm-700nm，透镜材料：N-BK4或SF10等玻璃材料。通光孔径大于90%，表面质量20-10/60-20（根据型号），透过率大于99.5%。

北京龙天韬略科技有限公司现货供应，订货货期短，到货快，原装货品，欢迎国内外人士来电来函洽谈指导。红色滤光器钾、锂、铷、铯线性化工作曲线时使用。火焰法测试铷和铯时推荐使用红色滤光器。该滤光器仅可透过650nm以上的光。产品描述部件编号红色滤光器02901518

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。 太赫兹这增透镀膜 THz AR Coatings 众所周知高阻硅的透过率只有54%，石英晶体的透过率在50%左右，他们的反射损失都很大。为了减少反射损失，可以镀一层增透膜。 我们能提供聚乙烯和聚对二甲苯AR膜。聚乙烯膜只能用于窗片。聚对二甲苯适用于窗片，也适用于透镜。 AR膜的波长由客户决定，我们能提供60-1300μm。1. 两面镀膜两面镀膜适用于窗片和月牙透镜。镀膜的波长范围如下：聚乙烯： - 60-80 &mu m, 110-160 &mu m, 160-220 &mu m, 320-430 &mu m, 375-510 &mu m, 480-650 &mu m, 535-725 &mu m, 645-870 &mu m, 695-940 &mu m, and 965-1305 &mu m 聚对二甲苯：99-125 &mu m.聚乙烯和聚对二甲苯都能用于高阻硅，但是石英晶体只能镀聚对二甲苯。下图是高阻硅镀聚乙烯和没镀膜的透过率曲线图Fig. 1.高阻硅镀聚乙烯和没镀膜的透过率曲线图 镀膜波长范围160-220μmFig. 2. 石英窗片双面镀聚对二甲苯和没有镀膜的透过率曲线图 镀膜波长范围99-125μm2. 一面镀膜朝半头透镜只能做一面镀膜。镀膜的波长范围是99-125μm。透过率可以增加30%左右。镀膜是镀在球面上不是平面上。Fig.3. 超半球透镜球面镀膜的模拟传播光路。镀膜波长99-125μm