高光谱测量仪

仪器信息网高光谱测量仪专题为您提供2024年最新高光谱测量仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括高光谱测量仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的高光谱测量仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合高光谱测量仪相关的耗材配件、试剂标物,还有高光谱测量仪相关的最新资讯、资料,以及高光谱测量仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

高光谱测量仪相关的厂商

  • 400-860-5168转3496
    江苏双利合谱科技有限公司是一家集光学、精密机械、电子、计算机技术于一体的高新技术企业, 聚焦机械推扫式高光谱测量技术,为广大客户提供门类齐全的高光谱系统解决方案。主要的产品包括:Gaiasky机载高光谱成像系统、Gaiafield地面野外高光谱成像系统、GaiaSorter室内暗箱系列高光谱以及GaiaMicro显微高光谱等4大系列产品。公司的相关产品,在国内高光谱应用市场,已经成功服务于农业遥感、工业分选、刑侦物证鉴定、环境保护、地质勘探、考古研究、食品检测等领域。公司始终坚持优质高效为客户开发产品及提供技术支持的营运宗旨,为用户提供及时周到的销售与技术服务。公司真诚地希望与国内外客户携手合作,为进一步拓展高光谱测量系统在科研及工业生产领域的迅猛发展继续做出贡献。
    留言咨询
  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
    留言咨询
  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
    留言咨询

高光谱测量仪相关的仪器

  • GaiaChem近红外高光谱分析仪整合了近红外成像光谱仪和高分辨率近红外光谱相机,采用推扫成像技术,可同时对大量的样品进行光谱和影像的测 量,也可对不同形状的样品进行光谱和影像的测量,提供待测样品的详细的光谱及影像信息以供研究人员进行化学成分、成分品质等的分析。 GaiaChem近红外高光谱分析仪是一个完整的影像光谱工作站,使用者只需要将待检样品放置在标准的样品台上,通过ChemaDAQ软件进行扫描控制,即可实时的进行光谱和影像信息的获取和保存。 GaiaChem近红外高光谱分析仪提供测试的样品的大小从10mm到100mm,可获得30&mu m-300&mu m的空间分辨率;光谱测量范围为:970nm-2500nm(900nm-1700nm),光谱分辨率可达10nm(6nm)。主要应用领域:◆ 农业科学研究,食品品质分析◆ 生命科学研究,脂肪含量分析◆ 医药科学研究,药品品质分析◆ 物质成分鉴别 主要技术规格参数表 GaiaChem-SWIRGaiaChem-NIR操作模式高速推扫型高光谱仪光谱范围(nm)970-2500900-1700光谱分辨率(nm)106光谱通道数256空间像素数(pixels/line)320空间分辨率(&mu m)30-300扫描范围(mm)10-100最大样品尺寸(mm)100× 100× 40(W× L× T)样品扫描速度100 hyperspectral line images/ s (max), corresponding to -3 mm/s with 30 micron pixel -30 mm/s with 300 micron pixel 样品扫描时间(s, 典型)3-10(@320× 320空间像素,256个光谱通道)光源 SPECIM&rsquo s diffused line illumination unit 数据格式 BIL file format, Evince and ENVI compatible 仪器校正光谱校正在出厂时已完成;反射光谱强度校正在每次样品测量时自动完成(比照仪器内部的标准反射板)应用实例:◆ 药品高光谱分析 通过GaiaChem测量得到的不同原料配比的药片的高光谱影像及光谱信息如下图所示,光谱范围为:1000-2500nm,伪彩表示了不同成分的影像信息,可获得256个通道的光谱信息,空间影像信息覆盖了320*430像素,整个采样时间仅需要6秒。 ◆ 农产品高光谱分析 通过GaiaChem测量得到的种子的高光谱影像及光谱信息如下图所示,光谱范围为:1000-2500nm,整个采样时间仅需要11秒。 由于农产品通常都有一定水分含量,在1000-2500nm范围内光源的热效应会造成水分的丢失,所以在这个范围内进行光谱测量时,测量时间显得尤为重要,必须要在尽可能短的时间内进行。GaiaChem在设计上充分考虑到这个因素的影响,通常一个样品的测试时间为十几秒,甚至几秒钟内即可完成,大大降低了光源烘干效应对样品的影响。 GaiaChem近红外高光谱分析仪信号采集及分析软件 ChemaDAQ软件为GaiaChem近红外高光谱分析仪标准的信号采集软件,可进行高光谱影像及光谱数据的采集和简单处理,数据存储格式可被多种第三方专业的数据分析软件调用,如ENVI和Evince数据分析软件,可进行3D图像分析等。
    留言咨询
  • ArtScanner-系列高光谱成像仪,采用颜色识别方法,主要应用于艺术品鉴定方面,如艺术品真伪鉴定、文物修复等。通常光谱范围选定在:400-800nm(400-1000nm)。 颜色识别方法,是通过对样品进行反射光谱测量,获得样品上任意区域或点的色参数,通过与标准色参数比对进行鉴别,以判定对象的真伪或匹配性。 ArtScanner-系列高光谱成像仪,既可提供小面积样品(如字画、古董等)的影像光谱测量,也可提供大面积(如壁画、楼宇等)的影响光谱测量,并可根据实际对象的差异进行系统的定制化服务。详情请与我公司销售部门联系。应用:◆ 艺术品真伪鉴定◆ 文物修复◆ 壁画修复◆ 产品包装真伪鉴定◆ 印刷品颜料配比、颜色识别
    留言咨询
  • iTracer-高光谱成像仪,主要应用于刑侦鉴定方面,如指纹识别分析、笔迹鉴定、血迹鉴定等。 iTracer-高光谱成像仪,可采用透射光谱、反射光谱、荧光光谱、拉曼光谱等各种光谱测量手段,高光谱成像仪结合推扫成像技术,可有效、快速进行指纹识别分析、笔迹鉴定、血迹鉴定等各项刑侦鉴定工作。 光谱范围:200-400nm,380-800nm,400-1000nm,900-1700nm,1000-2500nn
    留言咨询

高光谱测量仪相关的资讯

  • Resonon野外高光谱测量系统简介
    Resonon野外高光谱测量系统可与Resonon的任何高光谱成像仪一起使用,涵盖紫外线、可见光和红外线光谱范围。 价格合理、结构紧凑、坚固耐用,图像质量卓越。
  • ​2023年高光谱测量技术及应用学术交流会(第一轮通知)
    2023年高光谱测量技术及应用学术交流会会议时间:2023年4月12日参会方式:北京承办单位:主办方:中国农业科学院作物科学研究所北京理加联合科技有限公司协办方:英国ASD公司美国Resonon公司01 背景进入21世纪以来,高光谱遥感已成为当前遥感研究的前沿领域。与传统的多光谱遥感相比,高光谱遥感可以检测到更多的波段数量和更窄的波段宽度,从而使其可以提供更丰富的数据集,并检测到多光谱技术不可见的光谱信息。目前高光谱遥感在农业遥感、环境遥感、林业监测、土壤遥感、水色遥感、大气科学、材料研究等众多领域的研究中均具有广泛的应用。为加强广大科研工作者对高光谱遥感技术及研究进展的了解,促进不同学科领域学者间的交流,拓宽高光谱遥感技术在不同研究领域的应用和发展。中国农业科学院作物科学研究所联合北京理加联合科技有限公司将于2023年4月12日在北京(线下)召开“2023年高光谱测量技术及应用学术交流会”。02 会议目的面向广大科研人员,开展以高光谱遥感基础理论、技术方法、数据分析和应用研究进展等多方面为主的技术交流和培训,以解决仪器使用过程中遇到的各种问题,提高仪器测量的精确度和准确度,促进和拓宽高光谱遥感技术在不同领域的应用。03 会议内容1)高光谱遥感技术前沿的科学问题2)高光谱技术的基础理论与方法3)高光谱技术的应用和最新研究进展4)高光谱和激光雷达相融合的最新技术及应用04 会议日程此次会议特邀专家报告信息,我们将于第二轮通知发布,请持续关注。05 会议时间、形式1.会议时间:2023年4月12日2.会议形式:线下(地点待定)06 注意事项本次研讨会不收取费用。07 报名方式关注“理加联合”微信公众号,回复“2023”08 联系我们BeijingLICA (工作人员微信号)请添加工作人员微信,邀请您进入此次会议交流群(请备注单位及姓名)
  • 2022年高光谱测量技术及应用学术交流会第一轮通知
    2022年高光谱测量技术及应用学术交流会会议时间:2022年5月下旬参会方式:网络线上直播承办单位:主办方:中国农业大学土地科学与技术学院协办方:北京理加联合科技有限公司英国ASD公司美国Resonon公司01 背景近年来,高光谱遥感作为当前遥感技术的前沿领域,已广泛应用于农业遥感、环境遥感、林业监测、土壤遥感、水色遥感、大气科学、材料研究等众多研究领域。其应用和发展为各学科、各领域带来了新的机遇,成为科学研究中必不可少的工具和手段。为加强广大科研工作者对高光谱遥感技术及研究进展的了解,促进不同学科领域学者间的交流,拓宽高光谱遥感技术在不同研究领域的应用和发展。北京理加联合科技有限公司于2022年5月下旬以网络会议的形式召开“2022年高光谱测量技术及应用学术交流会”。02 会议目的面向广大科研人员,开展以高光谱遥感基础理论、技术方法、数据分析和应用研究进展等多方面为主的技术交流和培训,以解决仪器使用过程中遇到的各种问题,提高仪器测量的精确度和准确度,促进和拓宽高光谱遥感技术在不同领域的应用。03 会议内容1. 高光谱遥感技术前沿的科学问题2. 高光谱技术的基础理论与方法3. 高光谱技术的应用和最新研究进展4. 高光谱和激光雷达相融合的最新技术及应用04 会议日程此次会议特邀专家报告信息,我们将于第二轮通知发布,请持续关注。05 会议时间、形式1.会议时间:2022年5月下旬2.会议形式:网络线上直播06 注意事项本次研讨会不收取费用。07 报名方式关注“理加联合”微信公众号,回复“报名”08 联系我们BeijingLICA (工作人员微信号)添加工作人员微信邀请您入群(请备注单位及姓名)

高光谱测量仪相关的方案

高光谱测量仪相关的资料

高光谱测量仪相关的试剂

高光谱测量仪相关的论坛

  • 【孙素琴专家系列讲座】:6月3日 红外光谱测量仪器

    【专家讲座】:红外光谱测量仪器【讲座时间】:2015年06月03日 10:00【主讲人】:孙素琴 (现任清华大学分析中心研究员。从事红外光谱分析工作30年。借助于化学计量学创建了复杂体系的多级红外光谱宏观指纹分析法。)【会议简介】第三讲:红外光谱测量仪器内容提要:红外光谱仪的发展历史,傅里叶变换红外光谱仪的原理与优势,迈克尔逊干涉仪的基本结构与工作原理,傅里叶变换计算方法,红外光谱仪的光源与检测器,红外光谱仪的性能指标评价,便携式与在线式红外光谱仪。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名截止时间:2015年06月03日 9:303、报名参会: http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/14594、报名及参会咨询:QQ群—379196738

  • 各种光谱测量仪要如何区别

    目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 求助:何谓高光谱?

    看资料时遇到hyperspectral这个英文单词,我想应该翻译成高光谱,不知是否合适?如果是高光谱,那么什么叫“高光谱”?请大虾们帮着解答一下吧

高光谱测量仪相关的耗材

  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米;波长范围:200-1100nm精度:0.5%分辨率:0.02nm光源:使用显微镜光源光斑大小:由显微镜物镜决定计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:120x120x120mm重量:1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量
  • 高光谱成像仪配件
    1.0 二级光谱滤光片由于光栅本身的分光特性,在宽光谱范围分光时,会产生多级光谱,主要是二级光谱,会对光谱测量产生干扰,为了消除这种干扰,需要在光谱仪内部安装适合的高通滤光片,用来消除多级光谱的影响。根据不同的光谱范围,需要选择不同截至波长的的滤光片;N17E型无需选择和安装此种滤光片。滤光片需要根据下表对应选择,并被安装在光谱仪内。滤光片型号截至波长(nm)适用的光谱相机型号OBF450450V8EOBF570570V10EOBF14001400N25E2.0 成像镜头成像镜头是高光谱成像分析系统不可或缺的部分,它被用来将被测物的反射或透射光搜集进入高光谱仪。◆ 适合400-1000nm波段的镜头焦距可选:8,9,17,18.5,23,35,50,140mm◆ 适合900-2500nm波段的镜头焦距可选:15,22.5,30,56mm◆ 所有镜头均为消像差设计,孔径与光谱仪孔径相匹配。3.0 X-Z位移平台 X-Z位移平台主要用于样品的位置调节和扫描,其中Z轴位移台为手动,用于样品的位置微调,X轴位移台为电动,用于测试过程中的样品扫描。另可提供多种规格电控旋转平台,详情请咨询。◆ Z轴调整范围:± 60mm(型号:TSMV120-1S),手动调节◆ X轴行程:300mm(型号:PSA300-X)◆ 台面尺寸:200mm× 200mm◆ 可选产品型号规格列表型号产品描述行程范围(mm)TSMV60-1SZ轴升降台,手动± 30TSMV120-1SZ轴升降台,手动± 60PSA200-XX轴平移台,电控200PSA300-XX轴平移台,电控300PSA400-XX轴平移台,电控400PSA500-XX轴平移台,电控500PSA1000-XX轴平移台,电控10004.0 校正白板校正白板主要用于白平衡校正,为进口聚四氟乙烯漫反射材料。白板型号规格(mm× mm× mm)CAL-tile200200× 25× 105.0 高光谱仪软件(SpectraSENS)SpectraSENS高光谱仪软件为随机配套的光谱及图像采集软件。◆ 可进行光谱相机扫描参数设定◆ 可实时获取样品光谱及影像信息◆ 可存储扫描结果为图像(图片格式)◆ 可存储扫描结果为光谱曲线(xls、txt等格式)◆ 可存储全部原始数据(raw格式),并可用ENVI等第三方分析软件调用6.0 光源可提供针对不同应用需要的漫射型光源、线光源、强紫外光源等。详情请咨询。
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制