高分辨衍射仪

X'Pert 平台在马尔文帕纳科 X 射线衍射系统的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 高分辨衍射仪平台具有新型机载控制电子装置，符合X 射线和运动安全规范，且具有环保和可靠性能，已准备好迎接未来的挑战。X'Pert3 MRD 系列新增功能具体包括：&bull 全新高分辨率测角仪，它使用 Heidenhain 编码器，因而准确性更高且定位反馈时间更短&bull 无需使用工具即可快速将光管位置从点焦斑更改为线焦斑&bull 得益于气动快门和光束衰减器，系统正常运行时间满足过程控制要求&bull CRISP*（包括无铅光管塔）确保入射光路组件的寿命更长&bull 第二代 PreFIX，确保实现更准确的光学器件定位&bull 面向未来的单板计算机控制器，确保更好的连接性和更出色的远程支持*CRISP 指的是耐腐蚀智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。该技术使仪器运行更可靠，避免额外的维护工作。

Thermo Scientific ARL EQUINOX 100是一款配有独特EQUINOX弧形探测器的便携台式衍射仪，可在宽角度范围内同时测量所有的衍射峰。因此EQUINOX 100比其它衍射仪具有更快的测试速度。不论您对分辨率如何要求,仅需几分钟即可完成对大多数样品的完整分析。 ARL EQUINOX 100仪器的小体积优势得益于水冷系统完全集成在设备内部。它的卓越性能完全满足实验室对于简单又功能强大的衍射仪需求。仪器配有多种样品架，如：6位自动进样器、粉末透射样品架及薄膜样品附件。 实时采集操作方便无需校准非常可靠超高分辨率无需维护

布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪，材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。主要应用：高分辨XRD(HRXRD)外延多层膜厚度晶胞参数晶格错配组份应变及弛豫过程横向结构镶嵌度X射线反射率(XRR)薄膜厚度组份粗造度密度孔隙度倒易空间图谱(RSM)晶胞参数晶格错配组份取向弛豫横向结构面内掠入射衍射 (in-plane GID)掠入射小角X射线散射(GISAXS)晶胞参数晶格错配横向关联性取向物相组成孔隙度应力和织构分析取向分布取向定量应变外延关联硬度物相鉴定(Phase ID)物相组成d值确定择优取向晶格对称性晶粒大小应用实例：HRXRD 硬件设置 LEPTOS(布鲁克公司高分辨数据分析软件)分析多层膜数据

QC3 高分辨率X射线衍射仪简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的zui新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势• 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。• 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。• 降低了设备及附件的购置和维护成本。• 更低的运行成本。• XRGProtect™ 可以有效延长X射线光管的使用寿命。• 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。• 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。• 操作简便，无需专业人才操作。• 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化• 工业界ling先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。• 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。• 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

DX-2800高分辨衍射仪　　组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。　　高分辨X射线衍射仪为精准研究材料结构而设计,能对样品衍射角度进行最精确测量，为得到准确的、可信赖的相分析及结构解析结果奠定坚实的基础。　　高分辨X射线衍射仪配置高稳定性X射线源、高性能半导体阵列计数器，可以在相对短的时间内获取最准确的的衍射谱图。　　样品衍射角度由绝对增量式224位线光栅直接获取，能避免测角仪其它部件对衍射角度的影响，确保仪器在使用寿命内始终获得准确的峰位置。　　国际标准样品（Si、Al2O3）全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。　　X射线衍射谱图提供有关样品不同晶相的晶体结构等重要信息。这些信息包括点阵常数、点阵类型、原子替位、晶粒大小和非均匀应力，晶体结构能够逐步通过样品衍射谱图解析。

简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势&bull 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。&bull 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。&bull 降低了设备及附件的购置和维护成本。&bull 更低的运行成本。&bull XRGProtect&trade 可以有效延长X射线光管的使用寿命。&bull 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。&bull 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。&bull 操作简便，无需专业人才操作。&bull 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化&bull 工业界领先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。&bull 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。&bull 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

产品简介原子分辨率300 kV透射电子显微镜在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体，先进材料的研发领域，原子分辨率电子显微镜正在成为日益重要的，不可或缺的工具。为了满足这种高端需求，日立高新技术公司研发出了 H-9500透射电子显微镜，此款高分辨透射电子显微镜不仅具备实地验证过的各种优秀性能，而且配置了很多满足客户多种需求的独特功能，并采用了数字技术，便于用户及时快速获取原子水平的样品结构信息。用户友好型的操作系统和Windows兼容的图形用户界面设计快速的样品分析，1分钟换样，5分钟内升高压至(300 kV)高稳定性，高分辨率透射电子显微镜点分辨率为0.18 nm，晶格分辨率为0.1 nm稳定可靠的5轴优中心测角台性能优异，可靠性高性能优异，可靠性高得到市场验证的10级加速器电子枪设计阻抗式高压电缆设计高档可选附件高档可选附件通用样品杆，在日立公司的TEM, FIB 和 STEM系统均可使用可为原子分辨率的动态研究提供加热，冷却和气体注入等多种样品杆备注：FPD(平板显示器)上的图像为模拟图像。规格项目说明分辨率0.10nm(晶格分辨率)0.18nm(点分辨率)加速电压300kV、200kV*1、100kV*1放大倍率连续放大模式1,000～1,500,000×选区模式4,000～500,000×低倍模式200～500×电子枪灯丝LaB6(六硼化镧灯丝，直流加热)灯丝交换自动升降式电子枪高压电缆阻抗电缆照射系统透镜四级透镜聚光镜光阑4孔可变探针尺寸微米束模式：0.05 - 0.2 μm(4级)纳米束模式：1 - 10 nm(4级)电子束倾斜±3°成像系统透镜五级透镜聚焦图像摇摆调整利用像散监视器进行正焦补偿聚焦优化物镜光阑4孔可变光阑选区光阑4孔可变光阑电子衍射选区电子衍射纳米探针电子衍射会聚束电子衍射相机长度250 - 3,000 mm样品室样品台5轴优中心海帕测角台样品尺寸3mmΦ样品位置追踪X/Y = ±1mm, Z = ±0.3 mm通过CPU控制马达驱动样品位置显示自动驱动，自动跟踪样品倾斜α = ±15°, β = ±15°(日立双倾样品台*2)防污染冷阱烘烤功能中温烘烤功能观察室荧光屏主屏：110 mmΦ 聚焦屏：30 mmΦ目镜7.5×照相室区域选择整张照相/半张曝光胶片25张(2套胶片盒)图形用户界面操作系统Windows XP显示器19英寸显示器功能数据库，测量，图像处理数码CCD 相机*3相机耦合透镜耦合有效像素1,024 × 1,024 像素A/D 分辨率12位真空系统电子枪离子泵：60 L/s镜筒涡轮分子泵：260 L/s观察室/照相室扩散泵：280 L/s前级泵：135 L/min × 3台 *1：放大倍率校准为可选项*2：可选件*3：本规格适用于可选的1,024 × 1,024像素的数码CCD相机以上规格是在加速电压为300 kV时的承诺

DST-17型高分辨X射线应力测定仪 为新材料研究及关键零部件的可靠性等提供可靠检测手段,可对多领域的材料结构、不规则形状的零部件进行残余应力分析、残余奥氏体含量及织构精确测量。 仪器的特点是大功率、高分辨、测量结果准确。　　高精度的衍射角测量装置，2θ角分辨率达到0.0001°，2θ衍射角重复精度小于0.003°，可获取最准确的2θ角；　　选择使用同倾法、侧倾法残余应力测量应力测量；　　测定同一点X、Y方向应力测量自动转换，实现切应力测量；　　任意设定样品测量点数，自动顺序完成残余应力测量，绘制应力分布图；高分辨率SDD探测器，靶材固定时，可实现对多种材料及零部件的残余应力测量； 配置Si漂移线阵探测器，快速（1分钟内1点）完成残余应力测量；2θ角测量范围大45-170°，可实现奥氏体含量精确测量；Ψ角摆动范围±8°，实现对大晶格材料应力准确测量；α角（侧倾法测量时Ψ角）转动范围大，实现侧倾法应力测量，极图测量；激光测位移传感器，实现样品全自动定位，重复精度小于3μm；4维样品台，手动、自动控制，人工定位更轻松。适合大工件应力测量，360°精密转台，实现极图测量；卓越性能实现对镍基发动机叶片应力测试；仪器测量结果准确度小于±5MPa。全封闭铅玻璃防护罩，提供符合ANSI N43.2等标准的辐射安全保护。标准的铅玻璃防护罩尺寸为：1.4×1.2×1.6m，防护罩尺寸可根据用户的要求订制。软件功能描述:专业的残余应力测量及分析软件，峰形拟合函数包括高斯、洛伦兹、皮尔森峰形拟合、抛物线等。检测测试结果除了正应力值、峰强、积分宽度、半高宽等重要信息。极图绘制、镍基单晶应力计算。产品符合ASTM E915-2010、及EN 15305-2008及GB7704-2016残余应力分析检测标准，生产过程符合ISO 9001质量管理体系的要求。

BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器 加拿大KA Imaging推出了其专有的无定形硒（a-Se,非晶硒）BrillianSe&trade X射线探测器，用于高亮度成像。这款混合a-Se/CMOS的探测器采用具有高固有空间分辨率的a-Se光导体，可直接将X射线光子转换为电荷。然后，低噪声CMOS有源像素传感器（APS）读取电子信号。无需首先将X射线光子转换为可见光（这在间接闪烁体方法中是必需的），因此不需要减薄转换层以减少光学散射。BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器提供了一种独特的组合，使用8微米像素实现高空间分辨率，以及具有高达120 keV的能量的高探测量子效率（DQE）。这种组合可实现在低通量和高能量条件下进行高效成像，并可进行基于传播的（无光栅）相位对比增强，以提高低密度材料成像时的灵敏度。BrillianSe&trade X射线检测器具有1600万的像素（16M）。主要应用✔ 低密度材料相差对比边缘增强✔ 单光子灵敏度(50 keV)✔ 同步加速器、微纳CT等X射线探测系统，替换其原有探测器或搭建系统✔ 高能量(50 keV)布拉格相干衍射成像 技术介绍BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器直接转换技术允许使用厚转换层，并以100%填充因子运行，以获得高 DQE。在60kVp（2mm铝滤波）下，BrillianSe&trade 具有市场领先的高 DQE（10 cycles/mm时为36%）和小点扩散函数（PSF）（1.1 像素）的组合。这有助于低通量应用成像，例如X射线衍射、剂量敏感的蛋白晶体学以及对有和无相位对比的材料进行受通量限制的成像。在63keV 时，MTF在 Nyquist（奈奎斯特）频率下为10%。此外，在低能量（21 keV）下，使用透射条形靶标样可展示8微米的分辨率。JIMA空间分辨率标样(21kev)的BrillianSe图像。数字表示以微米为单位的条宽。左侧为横截面8μm的图案应用案例BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器具有16M像素，采用直接转换专有技术，对样品进行“吸收衬度+相位衬度”成像，大幅度提高样品中的低密度成分成像时的灵敏度，可用于硬x射线包括同步加速器线束。探测样品案例，如：芳纶等复合材料（Kevlar）、脑支架、硅通孔(TSV)、牙签、甜椒种子、药物胶囊、轻质骨料（混凝土）等。甜椒种子有相衬成像和无相衬成像（仅吸收衬度，无相位衬度）之对比采用BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器的X射线探测系统应用场景举例✔ 表征材料微观结构✔ 对现有零件几何形状进行逆向工程✔ 验证或校准仿真工作流✔ 应用到NDT(无损检测)和GD&T(几何尺寸和公差)检验方案✔ 监控生产过程✔ 确定问题的根本原因

PG2000 高速光谱仪1ms 高速光谱传输 / 最高 0.08nm 光学分辨率 / 消除高阶衍射 CCD PG2000 高速光谱仪 是一款既具有高速技术又具有精细光谱分辨能力的光谱仪，采用了高分辨光学平台、标志位技术和高速控制技术，适用于既要求高速传输又要求精细光谱分辨的场合。 高分辨光学平台 可提供最高 0.13nm 的光学分辨率，光学性能稳定，保证高速测量的情况下，进一步提升测量精度； 全谱段技术 使用线性渐变消高阶滤光片和可变闪耀光栅，解决了宽谱段效率均衡和高阶干扰的问题，最宽谱段覆盖范围达 200~1100nm； 高速控制技术 能在 1ms 内设定新的积分时间，节省用于光谱仪控制的时间； PG2000 高速高分辨光谱仪同时支持标志位技术和底层调用技术，支持系统集成开发，方便用户更快速地开发光谱仪应用程序，可搭建个性化的光谱测量设备.

DST-17型X射线应力分析仪，为材料及其制品研究提供最可靠检测手段。可对多领域的材料结构、不规则形状的部件进行残余应力、织构精确测量。　　仪器的特点是大功率、高分辨、测量结果准确。性能描述　　高精度的衍射角测量装置，获取最准确的2θ角；　　实现同倾、侧倾法残余应力测量；　　测定同一点X、Y方向应力测量自动转换，无需操作样品；　　同一平面内任意设定样品测量点数，自动顺序完成残余应力测量；　　高分辨率SDD探测器，靶材固定时，可实现对各种材料残余应力测量；　　同时配置Si漂移线阵探测器，快速完成残余应力测量；　　α转动范围大，实现侧倾法应力测量，极图测量；　　内置激光测距定位器，实现样品全自动定位，重复精度小于3μm；　　CCD摄像头和激光辅助定位系统，样品人工定位更轻松；　　　　完整的数据处理软件，可编辑密勒指数、杨氏模量泊松比计算参数，实现对残余应力、半峰宽、奥氏体含量等准确计算。专业软件完成织构计算、绘制极图。技术参数　　2θ角度范围：110°—170°、Ψ角范围：0—60°、Ф角范围：0—360°、α角范围：0—70°。2θ角分辨率最小至0.01°，重复精度0.0001°；　　X射线发射器管电压：10—60kV、管电流：5—50mA；稳定度：小于0.005%。　　金属陶瓷X射线管：Cu、Cr、Fe、Ti、V、Co、Mn等各种靶材，入射线圆形光斑：0.2、0.5、1、2mm；矩形光斑：0.5×3、0.5×5、1×3、1×5、2×3、2×5mm等。　　产品符合ASTM E915-2010、及EN 15305-2008及GB7704-2008残余应力分析检测标准，生产过程符合ISO 9001质量管理体系的要求。

此款相机的有效范围50mm×40mm有效范围，分辨率600像素。配有特制的闪烁体，使运行范围从100eV提升至100KeV。现可提供高解析度（280万—600万有效像素）或较小尺寸（8.8mm×6.6mm）产品。X射线FDS LA系列在满像素时，帧率1.5fps，2×2合并像素时，帧率6fps，已确保实时监测。快速快门，曝光时间短至微秒级。采用“面扫描”或“线扫描”时，也可保证帧率10fps。可通过远程GUI界面，实现高分辨率的图像分析。可配14-bit采集模式和18-bit可扩展动态范围模式。应用领域X射线镜像校准X射线菲涅耳波带板校准X射线多层光学X射线成像粉末衍射无损检测相衬成像X射线源鉴定X射线相干衍射成像特点输入：1：1光纤耦合，2.5：1和4：1光纤耦合快速预览@24MHz，低噪声数字化@12MHzGdOS: Tb闪烁计数器支持5-55keV的运行空间，最小物体识别小于10微米。其他CsI闪烁计数器和单体闪烁计数器可按顾客需求订做实时同步整合，100%占空比采集读取。OEM版可以适用技术参数参数PSL FDS1,41_MPSL FDS2,83_MPSL FDS6,02_M分辨率1360×10401940×14602750×2200像素尺寸（微米）6.45×6.4514.38×14.3823.01×23.014.54×4.5411.35×11.3518.16×18.16有效面积&锥度比8.77×6.71 & 1:119.56 x 14.96 & 2.23:131.29 x 23.93 & 3.56:18.81 x 6.63 & 1:122.05 x 16.57 & 2.5:135.24 x 26.52 & 4:112.50 x 10.00 & 1:131.25 x 25.00 & 2.5:150.00 x 40.00 & 4:1帧率@ 25MHz2×2像素合并25fps13.5fps6fps帧率@12.5MHz7fps3.4fps1.5fps满阱容量（电子数）22,000e18,000e初始读出噪声rms(带降噪) @ 25MHz5-6electrons(3-4electrons)5-6electrons(3-4electrons）暗电流（e/pixel/sec）0.015e/p/s0.0018e/p/s传感器运行在-20摄氏度数字化14-bitQE61%77%曝光5微秒-35分钟可扩展动态范围18-bit 数字化18-bit 数字化可扩展满阱容量352,000electrons288,000electrons接口Gigabit Ethernet

简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势&bull 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。&bull 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。&bull 降低了设备及附件的购置和维护成本。&bull 更低的运行成本。&bull XRGProtect&trade 可以有效延长X射线光管的使用寿命。&bull 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。&bull 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。&bull 操作简便，无需专业人才操作。&bull 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化&bull 工业界领先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。&bull 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。&bull 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

UV-VIS高分辨率光谱仪 YSM-8102简介YSM-8102系列高分辨率光谱仪，采用高分辨率光机平台，仅有手掌大小的体积，却带来更高的分辨率。优化的光路设计使光学分辨率最高可至0.06nm。 用户通过选择不同的光栅配置可以获得不同的光学分辨率和光谱响应范围。 YSM-8102-02系列，采用滨松S11639线阵探测器，动态范围最大可至10000:1,积分时间最低可至0.5ms, 同时信噪比提高到600:1,适合于通用性光谱分析与检测，支持RS232/RS422通讯，增强了抗干扰性能，更适合应用于工业和科研领域。特点光学分辨率最高可至0.06nm手掌般大小的尺寸，操作简便交叉非对称C-T光路结构，干涉滤光片消二级衍射SMA905光纤接口，方便地通过光纤和其他设备连接可选择的波长范围和光学分辨率USB2.0数据传输和供电，支持RS232/RS422通信，支持多种触发方式软件功能强大，可自动计算峰值波长和带宽功能支持二次开发，支持OEM集成应用激光器中心波长、半高宽和稳定性测量LED测量LIBS应用太阳光谱测试荧光光谱测量颜色测量激光光谱测量典型数据标准汞灯光谱图（*不同光谱仪因为探测器和光学系统的差异，测量的汞灯光谱数据会有差异）技术参数

UV-VIS 4096像素高分辨率光谱仪 YSM-8102-06简介YSM-8102-06系列高分辨率光谱仪设计采用了滨松公司4096像素的S13496 CMOS探测器，相比S11639探测器，像元分辨率提高了1倍，极大地提升了光谱仪的测量精度，非常适合LIBS和其它激光光谱测量领域。特点极高的像元分辨率，像素多达4096采用交叉对称C-T光路结构采用线性渐变滤光片或者长波通滤光片消除二级和高级衍射光谱可定制的波长范围和光学分辨率USB2.0数据传输和供电支持USB2.0、RS232、RS485多种通讯方式支持二次开发和深度定制应用激光中心波长、半高宽和稳定性测量LIBS光谱多通道监测典型数据Xe灯谱线技术参数

应时代而生 TD-3700高分辨X射线衍射仪是TD系列迎来的新成员，搭载了高速一维阵列探测器（MYTHEN2R）或SDD探测器，将快速分析、便捷操作和用户安全融为一体，模块化的硬件体系结构和为客户量身定制的软件系统实现了完美结。传承TD-3700高分辨X射线衍射仪在拥有TD-3500型X射线衍射仪所有优势下，配置的是高性能阵列探测器。相对于闪烁探测器或者正比探测器，可以提高衍射计算强度几十倍以上,可以在较短的采样周期内获取完整的高灵敏度、高分辨率的衍射图谱和更高的计数强度。 新特性TD-3700高分辨X射线衍射仪除了支持常规衍射的数据扫描方式外,还可以支持透射的数据扫描方式。透射模式的分辨率远高于衍射模式,适合用于结构解析等领域,衍射模式衍射信号强,更适合实验室常规物相鉴定使用。另外透射模式时,粉末样品可以是微量的,适合样品量比较少,不满足衍射方式的样品制备要求的情况进行数据获取。 高性能一维阵列探测器一维阵列探测器充分运用了混合光子计数技术，无噪音，快速数据采集，超过闪烁探测器十几倍以上的速度，优异的能量分辨率，能有效的去除荧光效应。640通道的探测器具有较快的读出时间，形成较优的信噪比。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统，有效的完成系统的同步。仪器特点：具有自主知识产权，并获得国家发明专利的可编程序控制器(PLC)控制技术（专利号：ZL 2010 1 0177596.4，专利种类：发明专利）；操作方便，一键式采集系统 模块化设计，仪器配件即插即用，无需校准 采用触摸屏实时在线监测，显示仪器状态 电子铅门联锁装置，双重防护，确保使用者安全 高频高压X射线发生器，性能稳定可靠 先进的记录控制单元，抗干扰能力强。

用于工业集成和便携式开发的紧凑型光纤光谱仪高分辨紧凑型光纤光谱仪产品简介 ARIS 光谱仪是嵌入式光谱学未来的下一步，实验室级仪器，还满足便携式和工业应用的尺寸、jiage和可靠性要求。凭借其高通量光学设计，ARIS的灵敏度比同价位其他光谱仪高 2 至 4 倍。 杂散光抑制可以测量geng大的吸光度值。 ARIS 提供了ji高的灵活性，可以使光谱仪适应特定应用的要求。 高分辨紧凑型光纤光谱仪有五个标准波长范围，可以使用多种可用的衍射光栅进行定制。 默认的 20 μm 入口狭缝可由用户更换，并且可以轻松更换以获得geng好的灵敏度。 高分辨紧凑型光纤光谱仪标准配置包括两个图像传感器之一，并可根据要求提供更多选择。 功能强大的微控制器执行板载自动曝光、平均、缓冲和频谱处理。 此外，它还可以实施特定于应用的频谱评估。 高分辨紧凑型光纤光谱仪凭借其在恶劣条件下经过验证的可靠性和紧凑的尺寸，ARIS弥补了实验室和现场光谱仪之间的差距。高分辨紧凑型光纤光谱仪产品特点显著的高灵敏度卓越的杂散光性能gao分辨率小尺寸di成本高分辨紧凑型光纤光谱仪波长范围和分辨率： 配置 波长范围 光学分辨率FWMH 典型值 MAX Wide185 &minus 970 nm1.101.40 nmUV/VIS185 &minus 550 nm0.400.60 nmUV185 &minus 420 nm0.330.40 nmVIS350 &minus 840 nm0.650.80 nmVIS/NIR510 &minus 1020 nm0.801.00 nm高分辨紧凑型光纤光谱仪探测器参数：Toshiba TCD1304DGHamamatsu S11639-01像元数36482048积分时间3 μs &minus 35 min54 μs &minus 35 min信噪比*350600动态范围1900 : 15000 : 1像素读出速度1 MHz2 MHz紫外灵敏优良好 适应快速变化的信号能力普通非常好触发抖动≤1次曝光时间10 μs高分辨紧凑型光纤光谱仪主要应用：检测食品和饮料成分和生产年份检测假冒产品寻找爆炸物或du品等危险物质监控生产工厂的化学过程测量环境污染关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

这款台式X射线衍射仪是一种多用途多功能的实时测量的台式X射线衍射系统，特别为科研院校和企业应用而研发。这款实时台式X射线衍射仪与其它采用&ldquo 机械扫描测角仪器&rdquo 的X射线衍射仪不同，它采用独特的具有专利技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。台式X射线衍射系统具有多种样品测量模式和多用户分析技术，使用最新的垂直安装的弧型X-eye高灵敏度探测器，以低于2毫秒的速度测量整个2 theta的全部衍射类型。该台式X射线衍射仪具有的实时测量功能使得它非常适合所有类型的动力学实验以及快速传统的X射线衍射研究。台式X射线衍射仪具有独特的110度角范围和180度曲率半径的弧度探测器，具有无以伦比的可靠性，非常适合大量测量任务的需要。台式X射线衍射系统产品特色* 不需要日常维护，超长保质期，超低使用成本，* 操作简餐，非常可靠，* 摆脱了机械扫描式的测角仪器；* 高灵敏度弧型X射线探测器* 超高速度：2毫秒可测量2 theta；* 实时测量实时分析结果；* 超高分辨率：0.10FWHM 台式X射线衍射系统操作情况：不需要任何使用经验的工程师也可快速使用，非常可靠，不需要日常维护，高速高分辨率高安全性测量。台式X射线衍射仪使用成本：使用高灵敏度弧型X射线探测器替代了昂贵的测角仪，整套系统的价格更低，使用成本更低。先进的技术：测量速度更快，它可以同时测量所有衍射峰，完成一次对多个样品全分辨率的测量仅需要几秒时间，不需要等待。超大样品室：由于替代了测角仪，这个台式X射线衍射仪以较小尺寸提供超大样品室，可以容纳更为广泛的样品操作附件，包括8位自动采样器，可以自动分析样品而不需要操作人员。样品尺寸要求：可以测量任何尺寸的样品，而其他产品一般完成分析测量的样品最大不超过2.0mm. 100微米的样品可直接分析而不需要额外的X射线源。X射线安全性：对样品的尺寸无要求，因此X射线安全性显著提高，传统的X射线衍射仪对样品尺寸存在要求，因此需要厚厚的安全防护装置和X射线窗口，但是整体的安全性依然得不到严格保证。单晶/粉末衍射功能：这套台式X射线衍射系统还可添加附件，实现对粉末,单晶的X射衍射测量。X射线荧光测量功能：提供标准的X射荧光测量软件模块，支持特殊的X射线荧光和X射线衍射测量。矿产和冶金特殊应用： 该台式X射线衍射系统特别为地质矿产和冶金等应用而设计。它卓越的性能和操作的方便性非常适合材料科学的研究。台式X射线衍射仪技术参数： 分辨率： 0.10度 FWHM探测器曲率半径：180mm2 theta：110度X射线源: 50W , 60KV/3KW电源功率：最大50W重量： 200Kg尺寸： 95x650x150cm台式X射线衍射系统可选附件：拉曼探针，X射线荧光附件，样品操作附件，X射线管Cu,W,Co, Mo, 单晶安装架，自动采样器等。

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统 产 品 概 述Bruker’的 JV-QCVelox 是长期运行的 JV-QC 仪器中z新、z先进的 HRXRD。它是化合物半导体行业高分辨率 X 射线衍射的专用质量控制工具。 它适用于表征所有常见的半导体衬底，包括Si、GaAs、InP、GaN 等。测量可以部分或完全自动化运行，用户可自定义的脚本处理日常工作。 VeloMAX&trade 光学器件：通过 10 倍以上的强度改进实现高生产率 JV-QC-Velox 系统的入射光束包括许多标准功能以获得高强度。 晶体选择根据材料进行了优化：在不损失分辨率的情况下，提高了通量并提高了可重复性。在不降低分辨率的情况下，可以实现比以前更快的测量和更高的精度。 这是在 MQW 分析中保持准确的成分值的关键。多层反射镜作为所有 JV-QC-Velox 系统的标准配置对于高镶嵌样品，使用 25 英寸的调节晶体发散角来增强系统（标配）对于传统的 III-V 系统，可以提供更高分辨率的调节晶体 (10”) 来代替 25” 晶体（需要在采购订单上注明）系统的校准可以轻松安全地进行，机柜中没有开梁。检测器级包括许多标准功能，可以增强系统的能力EDRc（增强动态范围）检测器的动态范围 2x107自动衰减器，通过控制软件进行控制。这将系统动态范围增加到超过3x108三轴晶体是获得所需晶体的关键GaN测量的分辨率。电动探测器狭缝允许对系统进行控制分辨率，无需手动更换模块所有探测器级组件都是自动对齐的通过电脑 HRXRD 技术 材料：单晶衬底（例如 Si、GaAs、InP、GaN）和外延层，包括多层结构参数：层厚度、成分和松弛、应变、区域均匀性、失配、掺杂剂水平、错切、层倾斜。直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成自动样品校准、测量、分析和报告由 JV-RADS 软件执行的分析。化合物半导体衬底可实现对称、非对称和斜对称反射 VeloSWAP: 高级样品板运动学样品板：可以快速更换样品板——每个板都可以在几秒钟内移除/更换。 由于运动加载，安装后无需对齐板。 可以提供多个板并互换使用。31 x 2” 运动学样品板，用于大批量测量，以增加板重新加载之间的时间并提高生产力和工具效率。外部条码阅读器可以安装到工具或独立站。JV-QCVelox 配备机器人，可从晶圆盒进行全自动测量2” 至 200 毫米磁带自动检测晶圆盒尺寸任意数量插槽的任意配方组合提高更大晶圆尺寸的生产力无需人工处理晶圆，提高晶圆清洁度 bruker 布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD产品规格布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD ——X射线测量满足您的研发需求Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射线衍射仪器。 该系统具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装，可以在完全计算机/配方控制下在标准和高分辨率 X 射线衍射和 X 射线反射率模式之间切换，而无需手动更改配置。 这可确保每次使用佳工具配置，而无需专家设置工具以供使用。&bull 样品的自动校准、测量和分析&bull 测量的自动化程度由用户定义&bull 使用 300 毫米欧拉支架实现高精度样品定位和扫描&bull 全300mm 晶圆水平贴装和映射&bull 由于 100° 倾斜 (Chi) 和无限方位角旋转 (Phi)，可以进行极点图和残余应力测量&bull 根据请求的测量进行智能自动工具对齐和重新配置&bull 行业领先的设备控制和分析软件&bull 使用高分辨率测角仪进行准确和精确的测量&bull 高强度光源和光学元件可实现快速测量&bull 可用的技术和参数范围广泛&bull 由拥有 30 多年经验和庞大的全球安装基础的高分辨率 X 射线衍射领域的专家打造 自动源和检测器阶段&bull 光源光学器件的开发考虑到了易用性和佳性能。 所有系统均标配平行光束多层反射镜，可提供适用于 XRR 和 XRD 测量的高强度光束。&bull 为了启用HRXRD，可以安装一系列晶体光学器件，以涵盖从8” (Ge 004) 到 40” (Ge 111) 的分辨率。 可根据要求提供定制晶体。&bull 它们会自动切换进出光束路径，以便能够在同一自动测量批次中覆盖适用于不同基板类型和不同技术的光束配置。 与其他系统不同，无需手动从系统中移除镜子或晶体，以确保它们不会损坏或错位。 高分辨衍射仪 & X 射线反射率高分辨率 XRD 是第一原理测量，可以确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切&bull 直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成&bull 在需要时将三轴分析仪晶体自动插入和对齐到光束中&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 倒数空间图在几分钟内完成并使用PeakSplit 进行分析&bull 可以使用模拟双轴和三轴衍射扫描&bull JV-RADS分析软件X 射线反射率 (XRR) 是第一原理测量，可以确定薄膜的厚度、密度和粗糙度&bull 第一原理，无损测量&bull XRR 对材料质量不敏感，因此层可以是非晶、多晶或外延层&bull 金属、氮化物、氧化物、有机物、聚合物……&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 厚度范围从 1nm 到 1μm，取决于吸收 分析软件JV-DX 系统上使用的分析软件套件以 30 年的 X 射线表征和薄膜计量经验为基础。 基于在 Bede Scientific 的分析软件套件中，JV-DX 分析包包括行业领先的高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD)、X 射线反射率 (XRR) 和 XRD 软件模拟软件。 bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD规格售后服务保修期：

近年来，新的荧光探针不断涌现，光学衍射极限不断被突破，研究者开发了多种超高分辨率成像方法, 主要包括：光激活定位显微技术(photoactivated localization microscopy, PALM)、随机光学重构显微技术(stochastic optical reconstruction microscopy, STORM)、受激发射损耗显微技术(stimulated emission depletion, STED)和结构光照明显微技术(structure illumination microscopy, SIM)。2006年底，STORM技术由华裔科学家庄小威首次提出，庄小威研究组发现应用特定波长的激光来激活探针，用另一束波长激光来观察，通过高斯拟合的方式定位漂白荧光分子，反复循环后可得到内源蛋白的高分辨成像，命名为随机光学重构显微技术(STORM)。此项技术在2014年荣获诺贝尔化学奖。 这项2014年诺贝尔化学奖的发现已在国内实现产业化。依托复旦大学的自动控制、新一代信息技术及香港科技大学的生物、光学、图像处理等的技术，拥有光学、生物、自控、机械、信息技术等多领域交叉学科技术团队，力显智能科技将2014年诺贝尔化学奖技术产业化，推出了超高分辨率显微产品。采用3D随机光学重构技术、高精度细胞实时锁定技术、多通道同时成像技术等，以纳米级观测精度、高稳定性、广泛环境适用、快速成像、简易操作等优异特性，获得了超过50家科研小组和100多位科研人员的高度认可。 力显智能科技的iSTORM采用同步多通道成像技术，同时提供多个目标的超分辨率图像，将数据采集时间缩短到其他商业产品的 1/3。它最大限度地减少了在多个通道的连续超分辨率成像中严重的光漂白。 并自主开发了双相机模式的主动锁定系统，以纠正数据采集期间实时漂移的样品。样品可以用纳米精度"锁定"，无需采集后校正，保证了可靠的结果，节省了用户在每次样品加载后等待系统稳定和热平衡的时间。力显智能科技的培训团队专家来自不同领域，提供全面的培训和长期的技术咨询，可以使用户更全面的掌握使用技巧和背后原理，真正能够掌握超高分辨成像技术。力显智能科技将自身积累的样本制备经验及成像参数基本模板与客户分享。帮助客户尽快获得理想的超高分辨率图片。力显智能科技不仅提供仪器的维护，也通过线上、线下为用户提供全面的超高分辨率成像科研咨询和服务，包括原理性知识咨询、实验经验传授，成像数据分析建模，假设验证等。力显的Serendipty成像软件能够同步实现超高拍摄期间的实时重构，为用户轻松捕获优质的超分辨率成像。

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

1920x1152高分辨率液晶空间光调制器(衍射效率：88%！)所属类别： 调制器--空间光调制器 所属品牌：美国Meadowlark optics公司 产品简介1920 x 1152高分辨率液晶空间光调制器！ 1920 x 1152高分辨率纯相位液晶空间光调制器！ 1920x1152高分辨率液晶空间光调制器（LC_SLM）是美国Meadowlark Optics公司2016年推出的一款产品。该款空间光调制器（SLM）具有分辨率高、大面阵（17.7x10.6 mm）、高填充因子（95.7%）、高衍射效率（88%）、高刷新速率（868Hz）、相位调制稳定性好（1%）等特点。 空间光调制器、纯相位空间光调制器、SLM、液晶空间光调制器、反射式空间光调制器、空间光调制器价格、调制器、相位调制器 液晶空间光调制器的英文名称是Spatial light modulator,即SLM，是一类能将信息加载于一维或两维的光学数据场上，可利用光的固有速度、并行性和互连能力的器件，SLM能够实时对二维空间的像素点进行单独的的位相、光强进行调制。 1920x1152高分辨率液晶空间光调制器（LC_SLM）是美国Meadowlark Optics公司2016年推出的一款高分辨相位调制型SLM产品。这款空间光调制器是基于LCOS（Liquid Crystal on Silicon）技术的反射型光调制器。LCOS技术通过精确的控制电压信号控制液晶的旋转角度及旋转的速度，最终可以实现位相的精确调制。1920x1152高分辨率液晶空间光调制器采用扭曲向列液晶材料，利用扭曲向列液晶的双折射效应，实现了对光束的波前调制。Meadowlark Optics调制器具备多项专利设计，在光能利用率、像素串扰、位相调制的线性度等方面的技术都处于世界领先行列，可实现纯位相调制、位相振幅混合调制。光路搭建方便！ 图1. 液晶取向与加载电压示意图 图2. Meadowlark空间光调制器光路图 主要特点：? 空间分辨率高（1920 x 1152）? 大面阵（17.7x10.6 mm）? 高填充因子（95.7%）? 高衍射效率（88%）? 高刷新速率（868Hz）? 相位调制稳定性好（ 0.1%）? 400-1620nm宽波段选择 图3. Meadowlark SLM 与其他品牌SLM位相纹波比较 主要应用领域： 光学操纵激?? 显微成像? 成像&投影? 光束分束? 相位调制? 光学镊子? 全息投影等 产品主要参数： 相关产品 超高速DMD数字微镜阵列 PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器 ALPAO 可变形镜 1um 中高功率飞秒激光器（20~400mW）

Thermo Scientific ARL EQUINOX 3000 型粉末X射线衍射仪配备独有的弧形探测器，可同时测量所有角度的衍射峰，因此相比其它衍射仪测试速度更快。这种实时采集方式，十分适用于动态研究。ARL EQUINOX 3000是一款具有超高分辨率的研究型衍射仪，为用户提供更高分辨率探测器、更大样品仓以及多种X射线光源的选择。非常大的样品腔室可用空间能够容纳各种实际样品及各种样品处理装置，包括：加热炉、自动进样器及其它大型附件等。实时采集操作方便无需校准非常可靠超高分辨率无需维护

hermo Scientific ARL EQUINOX 3000 型粉末X射线衍射仪配备独有的弧形探测器，可同时测量所有角度的衍射峰，因此相比其它衍射仪测试速度更快。这种实时采集方式，十分适用于动态研究。ARL EQUINOX 3000是一款具有超高分辨率的研究型衍射仪，为用户提供更高分辨率探测器、更大样品仓以及多种X射线光源的选择。非常大的样品腔室可用空间能够容纳各种实际样品及各种样品处理装置，包括：加热炉、自动进样器及其它大型附件等。实时采集操作方便无需校准非常可靠超高分辨率无需维护

高分辨微焦点X射线成像分析仪一、概述X-viewer 作为平生公司一款科研级微焦点X射线数字成像产品，以其优异的硬件性能精湛的图像算法和成熟的处理软件，满足了各个高端科研领域用户对于非破坏结构成像的多样化需求，丰富的档位兼顾了空间分辨率和更宽广的观测视野需求。设备融入了公司十余年来在分子影像设备研发和应用上的宝贵经验，面世以来收获了广泛的认可和高度评价。X-viewer 具有快速成像特点，分辨率高、信息量大、目标辐射损伤小、运行及维护成本低、安全性高等一系列优点。在生命科学领域，可以快速观察动植物体内的组织和结构，快速诊断或评价；也可作为Micro CT预实验、快速筛查等的补充设备，可列装于各大高分辨无损结构成像的实验室。全屏蔽设计的机身已通过出厂安规检测，搭配可移动承重平台，使用更安全，操作更简便。二、应用领域• 小动物活体成像：大小鼠/啮齿类小动物研究（骨骼、骨质、钙化点、关节炎症、肺部病变、肿瘤、心脑组织及血管的造影）。• 离体组织成像：颅脑、口腔、齿科研究，离体骨骼或组织造影观测。• 水生生物（包括海洋生物）的研究：鱼类、两栖类水生生物表型研究，水产养殖过程中的个体差异性研究等• 植物及农业学：种子筛选及评估，研究病虫害或其他外力损伤对种子萌发的影响；提供中草药品质品性的图像甄别依据；为部分研究农业昆虫的用户提供高分辨昆虫内部结构图像。• 验室无损检测：在体生物材料成像、珠宝杂质测、医疗器械检测、PCB失效性检测等。• 已装有Micro-CT的用户，可搭配X-viewer使用，为Micro-CT提供预实验，提高效率。三、产品特点• 2-15秒，实现快速拍摄、即时出图极短的拍摄时间，尽量降低对实验动物的曝光剂量，实现真正无损、快速成像。• 超高分辨，展现更多结构细节采用微焦点X射线源，搭配高清平板探测器，1-40倍多级放大设计，实现微米级的图像分辨率，展现更加丰富的细节。• 更大的成像视野选用大尺寸平板探测器，可以对兔子、猫等活体小动物全身成像。• 强大便利的图像软件自识别目标档位，测量参数自动匹配，多种测量、标注、图像处理功能，应用于不同目标物体（如小动物、离体标本、水生生物、植物农业、珠宝、电子器件等）的多种场景拍摄。提供多种图像处理效果，操作结果可实时保存并导出，保障数据可靠性。• 使用安全和便利性设备曝光工作时，任意表面辐射剂量1μSv/h——达到本底辐射水平。操作人员无需专业的X射线知识，简单培训即可使用设备。• 产品稳定、维护简单产品设计优良、性能稳定，维护成本低；同时，厂家具备完善的售后服务体系。?四、图像案例1.小动物活体成像 2.组织与离体标本 ?3.水生生物学研究 4.农业与植物学 5.其他无损检测五、售服平生医疗科技（昆山）有限公司（简称“平生”）是国内临床前分子影像科研设备的领航开发制造商，也是国内在生命科学领域生产并推广高分辨全景X射线成像分析仪的厂家。平生旗下的临床前分子影像产品自推出市场以来，已有诸多成功装机客户，设备的性能和可靠性得到了客户的认可。同时，平生总部在昆山、子公司在上海，全国七大中心城市设有办事处，拥有自己的售服工程师团队，能为客户提供及时有效的售后响应。高效的售服保障、良好的性价比以及产品的性能可满足客户实验要求：• 重要指标如空间分辨率达到国际同类产品的前沿水准• 与进口同类产品相比，售服响应更有保障、服务质量更有优势• 厂商可提供定制化服务，发挥了国产制造商的优势• 售价合理，并能公开透明设备的维修零部件价

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

产品详情德国Eulitha高分辨紫外光刻机PhableR 100 科研/生产兼用 简介： PhableR 100 紫外光刻机是一套低成本的光学曝光系统，但却能获得高分辨率的周期性结构。同传统的紫外曝光机类似，涂覆了光刻胶的晶片以接近方式放置在掩膜版下面，被紫外光束照射。由于Eulitha公司拥有突破性的PHABLE 曝光技术，在"PHABLE"模式下，分辨率不再受到衍射的限制，从而曝光出亚微米的线性光栅和二维光栅（六角形和正方形），且曝光结果非常均匀，质量很 好；在"mask aligner"模式下，能非常轻松地获得微米尺寸的图形。 特点： 高效的大面积亚微米-纳米图形化设备 操作简单、工作稳定，兼容科研及批量生产 纳米周期性图案解决方案 优势： 大面积图形化设备：适用4、6、8寸衬底 高曝光效率：非步进式曝光，无拼接，单次全场曝光实现整片图形化 高精度：光学衍射自成像原理，突破传统曝光精度极限 非接触式曝光 设备没有景深限制，曝光过程无需对焦 双工作模式（UV375机型）：高分辨模式（周期性纳米-微米结构），一般紫外光刻模式（非周期结构） 设备采用通用的商业光刻胶，根据客户的图形，提供工艺技术支持。 技术指标： 光源 UV375nm DUV266nm DUV193nm分辨率 125nm 75nm 62nm周期范围 250-3000nm 150-2500nm 125-2000nm操作方式 手动装片-自动曝光 参数设置 触摸屏基片尺寸 最大4、6、8英寸（尺寸向下兼容） PhableR 100 晶圆级光子学结构的曝光工具 应用： 图形化蓝宝石衬底（PSS） DFB布拉格光栅 减反层图形 显示滤光片Color Filter 线栅偏振Wire Grid Polarizer（WGP） 光子晶体 磁性纳米结构 太阳能光伏 生物传感器 AR、VR技术

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。应用范围：定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）薄膜分析X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。应力和织构（择优取向）分析。材料研究XRD可研究材料的结构和物理特性，是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术的组件，可为您带来优异的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：定性相分析和结构测定微米应变和微晶尺寸分析应力和织构分析粒度和粒度分布测定使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析倒易空间扫描筛选和大区域扫描涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER是优异解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类优异：孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）对最/大300 mm的样品进行扫描安装和扫描重量不超过5kg的样品自动化接口微焦源IμS配备了MONTEL光学器件的IμS微焦源可提供高/强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。毫米大小的光束：高亮度和低背景绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。UMC样品台D8 DISCOVER提供了许多UMC平台，具有全新的样品扫描和重量容纳能力：可对重达5 kg的样品进行扫描大区域映射：最/大300mm的样品支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，最多支持三个孔板。考虑到其高度的模块化性能，该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。多模EIGER2 R检测器EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。先进的传感器设计，包括第二代性的EIGER：最/大尺寸为75 x 75mm2的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。全景光学器件和附件，视野开阔。0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或高级扫描模式。可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics获得的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何用于毛细管，GID和XRR分析的高/强度平行光束Kα1,2几何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：电动狭缝：用于高通量测量分光晶体：用于高分辨率测量使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。

Thermo Scientific ARL EQUINOX 100是一款配有独特EQUINOX弧形探测器的便携台式衍射仪，可在宽角度范围内同时测量所有的衍射峰。因此EQUINOX 100比其它衍射仪具有更快的测试速度。不论您对分辨率如何要求,仅需几分钟即可完成对大多数样品的完整分析。 ARL EQUINOX 100仪器的小体积优势得益于水冷系统完全集成在设备内部。它的卓越性能完全满足实验室对于简单又功能强大的衍射仪需求。仪器配有多种样品架，如：6位自动进样器、粉末透射样品架及薄膜样品附件。 实时采集操作方便无需校准非常可靠超高分辨率无需维护