图像型探测器

DPe系列为常温型热释电探测器，适合经济型的测量，专门用于红外波段的光谱测量。热电元件由独特的薄膜热释电PZT材料组成，允许红外辐射被有源区域高效吸收。具有更高的灵敏度、更低的噪声、更好的频率响应以及更好的温度稳定性。热释电探测器使用建议：DPe系列热释电探测器必须配合锁相放大器，推荐使用DCS500PA。DPe系列热释电探测器的响应率与调制频率成反比，最优工作频率在低频（10HZ左右）区域。DPe系列热释电探测器为全波段响应的探测器，实际工作波长受窗口材料限制，可根据实际需要来选择合适的窗口。 频率响应曲线： 窗口透过率曲线： 光谱响应曲线： 常温型热释电探测器型号列表及主要技术指标：型号/参数DPe16DPe22工作区域面积（㎜2）1.65×1.651.65×1.65光敏面直径尺寸（㎜2）3.73.7窗口材料类型A4A3波长范围（μm）2-162-22信号输出模式电压电压响应率（V/W）12.75×1052.75×105典型值D* [cmHz1/2W-1] 14.32×1084.32×108NEP（W/Hz1/2）13.82×10-103.82×10-10反馈电阻（GOhm）1010反馈电容（fF）200±50 200±50 工作电压（V）±2.2～±8±2.2～±8环境温度（℃）-10～+50-10～+50输出信号极性正（P）正（P）备注125℃，10Hz，带宽1Hz黑体T = 500K；E = 38 W / m2不含窗口材料

仪器简介：DSR100系列探测器光谱响应度测量系统，是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。它结合了北京卓立汉光仪器有限公司给多家科研单位定制的探测器光谱响应测量系统的特点和经验，采用国家标准计量方法进行测试，是光电探测器、器件、光电转换材料科研和检验的必备工具。技术参数：型号 DSR100UV-A DSR100UV-B DSR100IR-A DSR100IR-B波长范围 200~2500nm 1~14&mu m测试光斑\光斑模式 均匀平行光斑 汇聚光斑 均匀平行光斑 汇聚光斑尺寸 Ф2~20mm Ф0.3~3mm Ф2~20mm Ф0.3~3mm 光源 光源 氘灯/溴钨灯复合光源 溴钨灯/碳化硅复合光源光强稳定性 &le 0.8% &le 2%光源切换方式 软件自动切换 软件自动切换三光栅单色仪 光 谱分辨率 ＜0.1nm（435.8nm@1200g/mm光栅） ＜2.5nm (2615nm@75g/mm光栅)扫描间隔 最小可至0.005nm输出波长带宽 ＜5nm ＜10nm多级光谱滤除装置 根据波长自动选择滤光片，消除多级光谱杂散光 　光调制频率 4~400Hz数据采集装置灵敏度 锁相放大器 2nV；直流数据采集可选标准探测器 标准硅探测器 （标定200~1100nm） 标准热释电探测器（标定1~14mm）光谱响应度测量重复性* &le ± 1.5% &le ± 5%光路中心高 305mm仪器尺寸 1500mm× 1200mm× 560mm控制机柜 标准4U控制柜，含计算机主要特点：◆ 宽光谱范围（200~2500nm或1~14&mu m可选），适用面广宽光谱范围意味着适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器、响应在可见光的太阳能电池、响应在近红外的光纤传感器、响应在中远红外的红外光电传感器，都可以在DSR100上测量光谱响应度。◆ 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单系统采用替代法的测量原理，设计成开机即用的turnkey模式，用户不需要在实验前对系统进行复杂的调试，日常维护也十分简单。◆ 调制法测量技术，提升测量结果信噪比DSR100系统采用调制法测量技术。调制法是目前国家计量单位采用的标准方法，通过选频放大的技术，可以大幅度抑制杂散光或环境噪声对测量精度带来的负面影响。DSR100系统针对弱信号采集专门设计了独特的前置放大电路，同时采用高性能的锁相放大器进行调制法测量。锁相放大器测量灵敏度达到2nV，动态范围达到100dB。通过提高测量灵敏度并且抑制噪声，DSR100系统可以从背景噪声中提取非常微弱的光电探测器响应信号。◆ 全反射光路设计，优化光斑质量由于各种光电探测器的光谱响应范围不同，因此好的探测器光谱响应度测量系统应该是宽光谱范围的，这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中，采用反射式的光路设计要比透射式得到更高品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中，影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差，色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。而在反射式的光学系统中，由于根本不涉及折射，所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路，成像质量大大优于透射式光路，从而可以得到更高均匀度的平行光斑，或者更小尺寸的汇聚光斑。◆ 高稳定性光源，降低背景噪声影响尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响，但光源本身的波动依然无法消除。因此，在采用调制法的系统中，光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。DSR100采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。右图是典型的光源相对强度的稳定度测量数据。◆ 全自动测量流程1)自动化测量流程得到高重复性样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性，电动平移台重复定位精度10um，远远高于手动样品定位2)自动化测量流程降低了操作人员的要求按软件文字提示即可正确操作系统进行测量，不需要对操作人员进行复杂的培训，特别适合工业客户做检测用3)自动化测量流程提高时间利用率系统在预设方案后即自动运行测量流程，可提高操作人员时间利用率◆ 大空间样品仓，四壁可拆卸，方便系统调试特别设计的四壁方便拆卸的样品仓，给实验人员足够大的空间进行样品安装和调试。同时，也能容纳一些特殊体积的探测器，比如液氮制冷的探测器、条纹变相管等。实验人员的可操作性大大增强。◆ 激光监视光路选项，CCD图像监控，可对极小面积的光电探测器进行精确定位◆ 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件DSR100系统的软件保存所有测试第一手原始数据，可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档，以便后期分析处理。

主要特点：◆ InGaAs有效象元数256和512可选◆ 象元尺寸：50µ m× 500µ m◆ 象元间距：50µ m◆ 芯片采用TE制冷方式◆ 制冷温度：5℃（在24℃室温环境下）◆ 14bit USB传输接口或12bit PCI卡传输接口◆ 坏点校正功能◆ 可提供控制软件及二次开发控件包◆ 可提供LabView驱动 InGaAs线阵探测器主要技术规格表　IRA- 256IRA- 512光谱响应范围(nm)800-1700800-1700象元尺寸(&mu m)50× 50050× 500阵列长度(mm)12.825.6坏点无6 (无相邻坏点)　高灵敏度模式高动态范围模式高灵敏度模式高动态范围模式满阱容量(e, 典型值)5× 106130× 1065× 106130× 106读出噪声(e, rms, 典型值)80010k80010k动态范围6.25× 10313× 1036.25× 10313× 103暗信号(e/s, rms, 典型值）190k182.2k190k182.2k1s暗噪声(e, rms, 典型值）436426436426积分时间(s)0.01-100.01-10模拟输出信号范围(V)0-100-10芯片工作温度(℃，室温下)＋5＋5实时模式采谱速度(spectra/s) 20 20A/D转换USB 14 bit, PCI 12 bitUSB 14 bit, PCI 12 bit InGaAs线阵探测器选型表InGaAs线阵探测器　256象元数512象元数　光谱适用范围800-1700nm800-1700nmIRA-USBUSB 14bitD7282D7286IRA-PCIPCI 12bitD7283D7287【配置说明】：配置中已包含制冷型线阵探测器，数据线，温控器，电源以及 D7401 SpectraArray基本版软件软件选项D7404SpectraSolveAdvanced spectroscopic applications software for WindowsD7421OEM Developers kitWith C++ and VC++ examplesD7422LabView driversWith Vis (virtual instruments) for LabView Version 5 or laterInGaAs线阵探测器尺寸图

全景无线长形平板探测器 长形探测器,长度107X430mm 探测器类别 非晶硅 闪烁体 GOS图像尺寸 107×43 cm像素矩阵 7680×3072像素间距 描述 A/D 转换 16 bit最小探测剂量 20nGy最大线性剂量(RQA5).150uGy调制传递函数 @ 1.0 LP/mm0.51/0.56/-调制传递函数 @ 2.0 LP/mm0.22/0.24/-调制传递函数 @ 3.0 LP/mm0.09/0.11/-量子探测效率 @ 0.0 LP/mm(2.5uGy)0.36/0.38/-量子探测效率 @ 1.0 LP/mm(2.5uGy)0.30/0.32/-量子探测效率@ 2.0 LP/mm(2.5uGy)0.16/0.18/-量子探测效率 @ 3.0 LP/mm(2.5uGy)0.07/0.08/-残影 (%, 300uGy, 60s)0.5空间分辨率 3.6 LP/mm图像采集时间 (有线)3S图像采集时间 (无线)-/5/7S无线电池待机时间 10HX-射线工作范围 40-150 KV数据接口 GigE, Wifi功率 20 W适配器输入电压 AC 100-240V,50-60Hz适配器输出电压 DC 24V,60W探测器尺寸 111.5x 47.1 x 1.5cm探测器重量(无线含电池/有 线)10kg/9.6kg探测器外壳材料 Carbon, Al Alloy防水等级 IPX3工作环境 5-35º C,10-75% RH

SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是测试VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器（或相机机芯）而开发的测试系统，能够测量光谱范围从400nm到2200nm的VIS-SWIR成像探测器（硅、黑硅、InGaAs）的辐射参数和光谱参数。可以测量以下参数：相对光谱灵敏度、响应度、噪声等效照度、D*（比探测率）和空间噪声。SIT测试系统是两个主要模块的总和：波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统（PC、图像采集卡、软件）。被测探测器位于SITO光源的输出端，传感器受到所需波长和辐照度的光的均匀照射，被测探测器生产标准格式的图像，通过IPS系统采集并分析图像，确定VIS-SWIR成像探测器的重要参数。 产品参数一般参数工作温度范围+5oC到+35oC储存温度范围-5oC 到+55oC湿度范围高90**（无冷凝）重量58kg尺寸173 x 43 x 28 cm

3543数字DR成像系统 3543数字DR成像系统，用于X-RAY成像；尺寸可选. 技术参数描述 GOS CsI 探测器类别 非晶硅 非晶硅 闪烁体 GOS CsI 图像尺寸 (mm) 350×427.28 350×427.28 像素矩阵 2560×3072 (14×17 in) 2560×3072 (14×17 in) 像素间距 (um) 139 139 A/D转换 (bits) 16 16 探测剂量 (nGy) 20 14 灵敏度 (LSB/uGy, RQA5) 375/395/415 525/553/581 线性剂量 (uGy, RQA5). 150 110 动态范围 (dB) 80/83.5/- 80/83.5/- 调制传递函数 @ 1.0 LP/mm 0.51/0.56/- 0.60/0.63/- 调制传递函数 @ 2.0 LP/mm 0.22/0.24/- 0.30/0.32/- 调制传递函数 @ 3.0 LP/mm 0.09/0.11/- 0.18/0.20/- 残影 (%, 300uGy, 60s) -/0.10/0.25 -/0.10/0.25 量子探测效率 @ 0.0 LP/mm (2.5uGy) 0.48/0.50/ - 0.70/0.72/- 量子探测效率 @ 1.0 LP/mm (2.5uGy) 0.30/0.32/ - 0.43/0.46/- 量子探测效率 @ 3.0 LP/mm (2.5uGy) 0.04/0.05/- 0.08/0.10/- 空间分辨率 (LP/mm) 3.6/3.6/- 3.6/3.6/- 采集时间 (s，有线) 1.0 1.0 采集时间 (s，无线) -/2.0/6.0 -/2.0/6.0 图像处理时间 (s，有线) 2.0 2.0 图像处理时间 (s，无线) -/2.3/6.3 -/2.3/6.3 X-射线工作范围 (kV) 40/-/150 40/-/150 平板存图 (幅) 20 20 电池待机时间(h，无线) 11.5/12.1/- 11.5/12.1/- 数据接口 千兆以太网/802.11n 千兆以太网/802.11n 功率 (W) 20 20 交流电源 (V) 100/-/240 AC 100/-/240 AC 交流电源频率 (Hz) 50/-/60 50/-/60 适配器输出电压 (V) 24 DC 24 DC 探测器尺寸 (mm) 383.0×460.0×15.0 383.0×460.0×15.0 探测器重量 (kg,不含线缆) 3.7±0.1 3.7±0.1 探测器外壳材料 碳板,铝合金 碳板,铝合金 探测器线缆长度 (m) 标准1m(最长8m) 标准1m(最长8m) 防水等级 IPX3 IPX3 存储温度 (º C) -20/-/55 -20/-/55 工作温度 (º C) 5/-/35 5/-/35 存储和运输湿度 (%RH) 10/-/75 10/-/75 工作湿度 (%RH) 10/-/75 10/-/75 承重(kg，均匀分布表面) 150 150 承重(kg，分布在4厘米直径的圆盘) 100 100

SOL型VIS-SWIR 成像探测器测试系统是一个用于测试在VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器（硅/黑硅/InGaAs）的测试系统。从设计的角度看，SOL测试系统是一种能够进行光谱带宽阶跃调节、光强连续调节的标定光源，对被测成像探测器和图像处理系统进行照射，进而分析被测成像探测器（摄像机芯）产生的图像。阶跃光谱滤波是用一组窄带滤波片来实现的。光源可在VIS-SWIR范围内（400-2500nm或更窄的波段）产生16个不同光谱波段的光。SOL可以测量一系列辐射、光度和光谱参数。辐射参数有：噪声等效照度、响应函数（响应度、线性度、动态范围）、D*（比探测率）、量子效率、空间噪声。光度参数有：噪声等效照度、响应函数。SOL光源提供的任何窄带都可以测量辐射参数。这样也可以测量被测成像探测器的相对光谱灵敏度。 产品参数一般参数温度范围（工作/储存）+5oC到+35oC / -5oC到+55oC尺寸119x40x24cm重量29.2kg

火焰探测器 UVTRON是一款紫外ON/OFF传感器管，利用了金属的光电效应和气体放电的电流倍增效应。它具有从185nm到300nm的极窄的灵敏度宽度，并且对可见光完全不敏感。因为利用了放电现象，它可以获得很高的灵敏度和足够大的输出，从而通过简单的电路就可以实现高灵敏度和快速响应的紫外探测。UVTRON能可靠地探测火焰的微弱紫外发光，从而可以将其理想地应用在火灾报警器，纵火监视，燃烧器的燃烧监控设备中。UVTRON还能用于探测诸如高压输电线路的放电等现象中。产品实例：产品图像产品型号产品名称短波限长波限 R2868火焰探测器(UVTRON)185 nm260 nm R9454火焰探测器(UVTRON)185 nm260 nm R9533火焰探测器(UVTRON)185 nm260 nmR2868参数：详细参数 短波限 185 nm 长波限 260 nm 电极材料 Ni 重量 约1.5 g [最大速率]供给电压(直流) 400 V [最大速率]平均放电电流 1 mA [最大速率]峰值电流 30 mA [最大速率]工作环境温度 -0.333333333 ℃ 开始放电电压(直流) 280 V 连续放电电压(直流) 240 V 灵敏度(典型值) 5000 min-1 背景值(最大值) 10 min-1 平均寿命 10000 h [推荐工作参数]供给电压(直流) 325 +/- 25 V [推荐工作参数]平均放电电流 0.3 mA [推荐工作参数]灭弧时间(最小值) 2 ms

1080长度X43mm，是一款高性能的动态平板探测器，具有高图像质量、高动态范围、高帧率等好品质。 探测器包含多种binning和FOV的工作模式选择。探测器可以满足多种应用场合的要求，包括CBCT、胃肠造影、工业探伤等。提供完善同步信号和SDK，方便和高压发生器等X光系统内的其他部件集成。

VIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs 成像探测器的测试系统，支持成像探测器所有重要参数的测试。VIT测试系统是一个模块化的测试系统，由以下五个部分组成：双图像投影通道，一组图像采集卡，极端及，测试软件和可选的测试原始芯片用的CON控制模块。双图像投影通道是VIT测试系统的核心模块，包括辐射通道和成像通道。VIT测试系统提供了一组传统参数的测量，这些参数通常用于表征红外焦平面/热成像核心的性能。另外也提供成像传感器和相机的EMVA1288标准推荐的性能参数测试。 一般测试功能：1. 辐射参数：相对光谱灵敏度、比探测率D*、量子效率QE、灵敏度、动态范围、线性度、NEI、FPN固定图形噪声、非均匀性、信噪比、坏像素数、3D噪声。可以测量16个不同波长下的情况。2. 成像参数：调制传递函数MTF、分辨率、**小可分辨对比度、串扰、高光溢出Blooming、视场。EMVA1288测试功能：量子效率，增益，时间暗噪声，DSNU1288，大信噪比，PRNU1288，LE非线性，灵敏度阈值，饱和容量，动态范围，暗电流，相对光谱灵敏度。产品参数表1 用于定义VIT测试系统版本的两位数编号编号A列：已封装传感器B列：电子控制模块支持的被测件1VIS-NIR传感器相机核心2InGaAs传感器相机核心和**多两个原始传感器3VIS-NIR传感器和InGaAs 传感器相机芯和多个原始传感器表2 产品详细参数电源230/110 VAC 50/60 Hz 功率＜800W工作温度10°C to 40°C尺寸约163x63x73 cm重量约91kg（不包括PC）

EIGER2 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： EIGER2 R CdTe 1M X 射线探测器将混合像素光子计数探测器的最新发展和碲化镉感光像素的高量子效率集合在一起。对于使用高能量 X 射线源或需要双阈值设置时， EIGER2 R CdTe 1M 是最优的选择。 DECTRIS 公司的专利即时触发技术使他们具有前所未有的高计数率能力，可以更精确地测量实验室X射线源 所能达到的最高强度。DECTRIS 公司的即时触发专利技术使 EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有前所未有的高计 数率能力，可以更精确地测量实验室 X 射线光源所能达到的最高强度。EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有两个能 量阈值，所以与上一代探测器相比，它在环境背景下拥有更低的暗电流和背景噪音。这大大提高了弱信号和长 时间曝光的信噪比，使得它在更短的测量时间下就能获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术 相结合，克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外，感光像素直接将X射线转化为电信号 配合小到 75μm 的像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。2、核心优势： – 最高的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据 – 即时触发技术使得计数率大幅度提高 – 双能阈值，可用于低背景和高背景的抑制 – 无读出噪音和暗电流，确保了最佳的信噪比 – 计数器具有同时读/写功能，确保了高动态范围和无饱和的图像3、应用领域： - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - μCT； - 其它； 4、技术参数：EIGER2 R CdTe500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.1 x 38.477.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2能量范围[KeV]8-24.2阈值范围[KeV]4-30最大计数率（cps/mm2）9.8×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 水冷尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 242235 x 237 x 372重量 [kg]3.73.915

红外探测器 探测灵敏度在高于1μm波长的探测器。认真选择材料组合，可以实现多种类型，涵盖宽光谱范围。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！热电堆探测器 为了满足多种应用的需求，我们的产品涵盖了单象元型、多象元型以及线阵、面阵型等多种类型。硫化铅光导探测器 硫化铅光导探测器是一种光谱响应范围在1到3.2 um波段的红外探测器。这种探测器可以在室温下应用于多种领域，比如辐射热度计和火焰监控器硒化铅光导探测器 硒化铅光导探测器光导探测器是一种光谱范围在1.5到5.2 um的红外探测器。这种探测器在室温下具有高灵敏度和高速响应特性。我公司还提供制冷类型，具有更高的信噪比，广泛应用于分析仪器、辐射热计和其他精密光度测定产品中。砷化铟光伏探测器 砷化铟光伏探测器是一种高速、低噪声的红外探测器，可以探测波长达约3.5 um的红外光。铟砷锑光伏探测器 铟砷锑光伏探测器使用了我公司独特的晶体生长技术，在 5 um波段具有高灵敏度。锑化铟光导探测器 热电制冷锑化铟光导探测器能够高灵敏、高速探测6 um左右的红外光。锑化铟光伏探测器 锑化铟光伏探测器是一种高度、低噪声红外探测器，在 3 um和5 um大气窗口波段具有高灵敏度。它可以在以峰值灵敏度和高速响应探测 5 um波段红外光。有两种制冷类型：液氮金属杜瓦型制冷和无需液氮的斯特林制冷型。碲镉汞光导探测器 碲镉汞光导探测器是一种在红外光照射下电阻变小的传感器，光谱范围分散在2到22 um之间。碲镉汞光伏探测器 碲镉汞光伏探测器在红外光找射线会产生光电流。宽光谱（双色）探测器 这种探测器将两种不同光传感器结合使用，沿着统一光轴，一个传感器安装在另一个传感器上方。该种探测器光谱范围宽，为两个光传感器所涵盖的光谱范围。光子牵引探测器 由于其在10.6um波段的灵敏性，光子牵引探测器是探测CO2激光的理想选择。铟镓砷探测器 铟镓砷光电二极管在宽光谱范围上都具有灵敏度，可制成图像传感器、线阵面阵以及光电二极管—放大器组合器件等。

3543平板探测器【1417英寸】 3543是一款高性能、片盒大小的无线平板探测器。可以续航不低于10小时，无线传输技术，可以在3秒完成一副全分辨率的图像传输，即使在很糟糕的情况下也不会超过5秒。与此同时，探测器具有高DQE，高分辨率等好品质。探测器具备高度灵敏和支持自动曝光测试功能，可以方便的与所有高压发生器连接并同步。

2529动态平板探测器，具有图像清晰、高DQE、高分辨率等优点，可以实现全分辨率14帧/秒，2x2 binning 30帧/秒，4x4 binning 60帧/秒，适用于X射线实时成像应用描述 规格(GOS) 规格(CsI) 探测器类别 非晶硅 非晶硅 闪烁体 GOS CsI 图像尺寸 250.88×286.72mm 250.88×286.72 mm 像素矩阵 2048×1792 2048×1792 像素间距 140 um 140 um A/D转换 16bit 16 bit 探测剂量 20nGy 14nGy 大线性剂量(uGy, RQA5) 150 110 帧速率(1x1, 140um, 2048×1792) 14 14 帧速率(2x2, 280um, 1024x896) 30 30 帧速率(4x4, 560um, 512x448, Under Development) 60 60 MTF @ 1.0 LP/mm 0.51/0.56/- 0.60/0.65/- MTF @ 2.0 LP/mm 0.22/0.24/- 0.30/0.33/- MTF @ 3.0 LP/mm 0.09/0.11/- 0.15/0.18/- DQE @ 0.0 LP/mm (2.5uGy) 0.48/0.50/ - 0.58/0.60/- DQE @ 1.0 LP/mm (2.5uGy) 0.30/0.32/ - 0.43/0.45/- DQE@ 2.0 LP/mm (2.5uGy) 0.14/0.15/- 0.30/0.32/- DQE @ 3.0 LP/mm (2.5uGy) 0.04/0.05/- 0.13/0.15/- 残影(%, 300uGy, 60s) 0.25 0.25 空间分辨率 3.6 LP/mm 3.6 LP/mm X-射线电压范围 40-150 KV 40-150 KV 数据接口 GigE/802.11ac GigE /802.11ac 功率 20 W 20 W 适配器输入电压 AC 100-240V,50-60Hz AC 100-240V,50-60Hz 适配器输出电压 DC 24V,60W DC 24V,60W 探测器尺寸 278.16×315×18.05mm 278.16×315×18.05mm 探测器重量 4.3 kg 4.3 kg 探测器外壳材料 Carbon, Al Alloy Carbon, Al Alloy 防水等级 IPX3 IPX3 工作环境 5-35º C,10-75% RH 5-35º C,10-75% RH

?X射线探测器X射线探测器由CCD或者光电二极管阵列光学耦合在闪烁体上组成。产品图像产品型号产品名称图像尺寸像素尺寸像素间距总像素数封装闪烁体类型帧率（典型值） S8658-01CCD面阵图像传感器73.728 x 6.144 nm73.728 x 6.144 nm48 μm4608×128陶瓷CsI (+FOP)15 frames/s S8658-01FCCD面阵图像传感器73.728 x 6.144 nm48 x 48 μm48 μm4608×128陶瓷无15 frames/sS8658-01 CCD面阵图像传感器：用于X射线成像的长窄型感光面图像传感器（FOP型）S8658-01是一款FFT-CCD面阵图像传感器，专为X射线成像而设计。由于芯片上安装了FOS（带闪烁体的光纤平板）将X射线转换为可见光，捕获的X射线图像有很高的细节。三个CCD芯片线性放置，彼此紧靠形成了长窄型传感器形式。每个感光面的有效像素是73.728 (H) × 6.144 (V) mm^2，因此总的像素长度为220mm。每个CCD芯片有1536×128个像素，像素尺寸是48×48μm。这款CCD传感器的特色是可以在TDI模式下操作，可以捕获运动物体的X射线图像。因此次传感器是传送带上无损检测的理想选择。特色-1536×128（×3个芯片）-3个CCD芯片排在一起，形成220mm的图像-TDI操作-100%填充因子-宽动态范围-低暗电流-MPP操作详细参数 图像尺寸 73.728 x 6.144 nm 像素尺寸 73.728 x 6.144 nm 像素间距 48 μm 总像素数 4608×128 封装 陶瓷 闪烁体类型 CsI (+FOP) 帧率（典型值） 15 frames/sS8658-01F CCD面阵图像传感器：用于X射线成像的长窄型感光面图像传感器（FOP型，不带闪烁体）特色-1536×128（×3个芯片）-3个CCD芯片排在一起，形成220mm的图像-TDI操作-100%填充因子-宽动态范围-低暗电流-MPP操作注意：在使用该产品做X射线探测时，使用者需要将磷板等黏贴到FOP上。详细参数 图像尺寸 73.728 x 6.144 nm 像素尺寸 48 x 48 μm 像素间距 48 μm 总像素数 4608×128 封装 陶瓷 闪烁体类型 无 帧率（典型值） 15 frames/s

小型平板探测器:AZ1719技术参数 1719动态平板探测器，图像清晣、曝光时间短、成像速度快和读出速度高等优点，可以实现1x1原图30fps帧速率，2x2 binning60fps帧速率，同时提供适用于X射线实时成像应用。

一, 单光子探测器阵列SPAD23单光子探测器阵列SPAD23技术源于代尔夫特理工大学和洛桑联邦理工学院 7 年的研究工作和 6 项独te技术。它是由23个六角形封装的单光子雪崩二极管组成的探测器阵列(SPADs)，具有更高的灵敏度和更低的噪声。 这款单光子探测器阵列SPAD23在其宽探测谱段内拥有50%的探测效率，100cps的暗计数水平，且因其独te的半导体工艺及设计实现了非常的填充因子＞80%。这款带有时间标记功能（Time Tagging）的SPAD23整体尺寸只有信用ka大小，是荧光显微和量子信息领域的理想探测工具单光子探测器阵列SPAD23,单光子探测器阵列SPAD23通用参数单光子探测器阵列SPAD23技术源于代尔夫特理工大学和洛桑联邦理工学院 7 年的研究工作和 6 项独te技术。它是由23个六角形封装的单光子雪崩二极管组成的探测器阵列(SPADs)，具有更高的灵敏度和更低的噪声。 这款单光子探测器阵列SPAD23在其宽探测谱段内拥有50%的探测效率，100cps的暗计数水平，且因其独te的半导体工艺及设计实现了非常的填充因子＞80%。这款带有时间标记功能（Time Tagging）的SPAD23整体尺寸只有信用ka大小，是荧光显微和量子信息领域的理想探测工具SPAD23集成性强，操作时，只需要两个插头，一个5 V电源和一个USB3连接。软件程序支持二次开发，系统软件支持光子计数和时间标记，可以通过TCP/IP访问，以便轻松集成到LabVIEW、MATLAB或Python中。推荐操作条件 SPAD high-voltage 工作电压: VOP:26-32 V环境温度:-55 to 35 °C典型技术参数参数条件TYPPeak detection probability峰值检测概率VOP= 32 v55%@520 nmWavelength window with PDP 35%PDP35%的波长窗口VOP= 32v440-660 nmFill factor填充因子Collimated light准直光源80%Dark count rate暗计数率VOP= 32 vT = 20°℃100 cpsNumber of noisy pixels with DCR1kcpsDCR1kcps的噪声像素数VOP= 32v1Dead time停滞时间VOP= 32vV= 0.8v50 nsTiming jitter定时抖动Vop= 32v120 psAfterpulsing逆转VOP= 32vV=0.8 v0.1%Crosstalk串扰VOP= 32v0.14%Maximum count rate per pixel每像素最大计数率7.8 McpsTime-tagging resolution时间标记分辨率20 ps在共焦荧光显微中的应用：图像扫描显微镜(ISM)量子ISM (Q-ISM)荧光寿命成像荧光相关光谱法(FCS)、受激发射耗尽显微镜(STED)优势:SPAD阵列增加了光的收集，使共聚焦扫描显微镜领域的创新成为可能。这一创新蕞终导致了清晰和明亮的图像与潜在的分子功能，相互作用和环境的功能信息。单光子探测器阵列SPAD23能使标准的共聚焦显微镜实现超分辨率，增加光线收集，提高成像速度，降低背景噪声共焦显微镜图像 显微镜图像在量子信息中的应用： 反聚束与符合相关，量子随机数生成 优势： 时间光子相关性和光子数解析(PNR)使探测光的量子特性成为可能。我们的探测器具有极低的串扰，因此能够可靠地测量二阶和三阶光子相关性，以及不可破解的加密量子随机数生成。 单光子探测器阵列SPAD23相当于简化了的多通道单光子探测器，通过检测器并行化提高数据速率，光子数分辨(PNR)检测二, AD200单光子探测器 400-1100nm 光敏面直径500umRedwave Labs AD200是一种紧凑且经济的单光子探测器模块，基于可靠的硅雪崩光电二极管敏感的可见光谱范围。AD200的探测器在近可见区域（约650 nm）具有较高的效率。AD200的特点是主动淬火和全数字温度控制的APD。提供单独的电源。AD200单光子探测器 400-1100nm 光敏面直径500um,AD200单光子探测器 400-1100nm 光敏面直径500um通用参数产品特点：在650 nm处的量子效率为70%在800 nm处的量子效率为55%二极管的温度可调包括软件产品应用：时间相关的单光子计数单光子探测激光扫描显微镜粒子物理学分光光度学技术参数：型号AD200电源单相, +12 V，2x 3A，来自PCIe扩展电源光电二极管波长：400 – 1100 n击穿电压：125V@25C有效光敏面直径：500μm单光子探测率At 650nm - 70,At 800nm - 55%暗计数率25@-20C，典型值停滞时间40 ns输出脉冲40 ns连接器电源：Molex 2 PIN输出：SMB USB:USB TYPEB定时门(Timing Gate )：SMB尺寸（宽x高x深）重量120 x 92 x 30 mm350克存储温度工作温度-55至100℃-40至85℃绝对最大值参数符号参数数值单位Vdd电源电压+12VoltTop工作温度-40 to 85Deg CTst存储温度-55 to 100Deg C 机械尺寸：参数数值单位长度5.004 (127.1)Inch (mm)宽度3.000 (76.2)Inch (mm)高度1.325 (33.65)Inch (mm)重量350gram

DR是Digital Radiograph（便携式DR成像系统）的缩写。由平板探测器、X射线机、X射线机同步控制单元、控制模块、交流电缆线、数据线、接口盒、便携式电脑和软件等组成。平板探测器主要特点： 1、采用优质高效的HSG+闪烁体材料，闪烁体层厚度按照工业使用需求专门设计，使得探测器具有更好的光子捕获能力，获得更高的信噪比。2、优异的成像质量：选用成像质量稳定的DDA非晶硅成像板，采用140μm像素TFT工艺，使得空间分辨率和光子俘获效率均达到了最适合工业使用的均衡。3、成像板具有低散射及高灵敏度的特点，使成像系统具有高成像解析度及信噪比，16bit高动态范围图像灰度值范围大、厚度宽容度高、层次丰富、便于调节观看。4、超薄设计：特殊设计的超薄平板探测器厚度，可以插入排管缝隙、墙边管线等狭小空间，超窄边框成像盲区小于3mm，使管道弯头焊缝等位置也可以布置拍摄。5、远程操作：探测器内置无线模块的同时也配置有外部快装式高性能天线，无需外部放大模块就能满足大于100米的野外使用距离，现场使用更具便携性。6、在没有交流电源的野外，平板探测器可以采用内置电池供电，单电池工作时间持续6小时以上（标配两块电池）7、在固定场所作业时，可通过DC端口持续供电，免于频繁充电和更换电池。8、存储：探测器内部含有存储单元，可脱离工作站独立工作，可存储图像不少于200幅。9、校正：探测器内置校正文件，可便于现场校正使用。10、预览方式：无需专用软件即可通过手机、平板电脑的通用网络浏览器预览并共享图像。11、防护等级：可达IP67（提供第三方测试报告）12、图像软件可一键自动控制标配射线机与平板探测器的同步工作，可匹配主流品牌型号的脉冲射线机和高频恒压射线机，手动控制曝光。13、同时具备有线与无线通讯功能，成像板可由用户任意选择无线或有线连接电脑。14、具有多次曝光叠加降噪功能，叠加合成图片，消除随机噪声，提高图像信噪比 。15、具有能量融合、局部增强、腐蚀测量、多档灰度对比度预置一键调整图像等优化功能。16、软件支持用户二次开发不同应用。平板探测器技术参数：图片 型号PIXX3543N传感器非晶硅闪烁体硫氧化钆 GOS像素矩阵2560*3072像素区域350mm*427mm像素间距140μm能量范围40-300kvp动态范围16bit触发方式软件触发、AED自动触发、连续触发图像捕获时间3-5秒数据传输时间小于1秒尺寸420.5 x 461 x 15mm重量≤4.2kg外壳碳纤维/铝合金供电锂离子聚合物电池、DC直流防护等级IP67 rated无线标准Gigatit WIFI 802.11AC有线标准千兆以太网、RJ45端口便携移动双侧把手位应用：电力耐张线夹检测，电力GIS设备检测，无损检测，安检排爆，考古等领域。

X射线平板探测器 X线平板探测器（X-ray Flat Panel Sensor）是一种新发展的数字化X线图像传感器，它适用于要求高灵敏度和高图像质量的X线无损检测、数字化X光照相术、以及其他实时X线图像应用等领域。平板探测器是由一块传感器板和一块电路控制板组成，其特点是结构紧凑、重量轻、集成度高。 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看更加详细信息！ X射线平板探测器将世界上最大的CMOS图像传感器与一个FOS（带闪烁体的光纤板）结合起来，它与使用无定形材料的平板相比，具有更高的信噪比，更高的速度以及更宽的动态范围。放射线用 专为数字放射照相与衍射等应用而优化的平板探测器。无损检测用 X射线数字成像器件具有先进的特性，例如高速、高分辨率、宽动态范围、小尺寸以及无畸变。相关配件 我公司提供图像采集卡用的电缆作为平板探测器的相关配件。 采用平行视频输出的平板探测器需要一款图像采集卡电缆，用来将数字图像数据传输到安装在PC上的图像采集卡。

浙江奥力星电子有限公司是一家专业从事进出口仪器仪表的销售商与系统集成服务商。如需更多咨询，请致电：费经理 (微信同号）、0573-82651819我们将以饱满的热情，真诚为您提供优质的产品和服务！ 红紫复合火焰探测器产地：韩国 品牌：Rezontech 型号：RFD-2FTN韩国雷尊泰克株式会社是国际尖端火灾探测领域的高新技术企业，通过公司强大的技术力量，成功研发了红紫复合，三频红外火焰探测设备，智能图像识别火灾系统等多种专利产品。主要应用于监测无烟液体和气体火灾以及产生明火和容易爆燃的场所。例如：飞机制造厂、造船厂、化工厂、钢铁制造企业、公路隧道、易燃易爆品仓库、喷漆车间、石油化工企业、天然气勘探生产企业、制药企业、发电站、印刷企业、仓库、文物、广播通信设备等场合。红紫复合火焰探测器认证：型式认证 KFI(韩国) ,CCCF(中国)防爆认证 KGS(韩国) , ATEX, NEPSI Ex d IIC T6防护等级 IP67红紫复合火焰探测器应用场所： &bull 飞机库&bull 汽车制造、喷漆房&bull 化学品制造，储存运输行业&bull 炸药和军需品的储存和运输&bull 石油天然气勘探、生产、储存各环节&bull 海上石油平台&bull 油漆生产，储存和运输&bull 石化产品 的生产、储存和运输&bull 制药行业&bull 发电厂 – 泵区、机房、无人职守区&bull 印刷厂 – 溶剂处理、压平、和干燥工艺&bull 油罐区 – 浮动、固定式油库灌区&bull 危险品仓库 – 易燃品的储存&bull 废品处理厂– 易燃品加工、焚烧和储存红紫复合火焰探测器技术规格传感器类型：红紫复合（UV/IR 型），户外型，防爆型探测距离：30米探测角度：100度 圆锥形响应时间：3秒使用温度：-40~+85摄氏度储存温度：-50~+90度储存湿度 ：0~95%防爆等级：Ex d IIC T6输出信号- 报警继电器 ：5A(250VAC, 30VDC)- 4~20mA- RS485其他功能- 四级灵敏度调整功能- 自检功能工作电压：24VDC(17V~30V)最大功耗：4.8W材质：铝合金表面处理：阳极氧化颜色：银白色重量：0.53公斤外型尺寸：64mm x 64mm x 75mm，四角形浙江奥力星电子有限公司是一家专业从事进出口仪器仪表的销售商与系统集成服务商。如需更多咨询，请致电： 、我们将以饱满的热情，真诚为您提供优质的产品和服务！

一, 单光子探测器阵列SPAD23单光子探测器阵列SPAD23技术源于代尔夫特理工大学和洛桑联邦理工学院 7 年的研究工作和 6 项独te技术。它是由23个六角形封装的单光子雪崩二极管组成的探测器阵列(SPADs)，具有更高的灵敏度和更低的噪声。 这款单光子探测器阵列SPAD23在其宽探测谱段内拥有50%的探测效率，100cps的暗计数水平，且因其独te的半导体工艺及设计实现了非常的填充因子＞80%。这款带有时间标记功能（Time Tagging）的SPAD23整体尺寸只有信用ka大小，是荧光显微和量子信息领域的理想探测工具单光子探测器阵列SPAD23,单光子探测器阵列SPAD23通用参数单光子探测器阵列SPAD23技术源于代尔夫特理工大学和洛桑联邦理工学院 7 年的研究工作和 6 项独te技术。它是由23个六角形封装的单光子雪崩二极管组成的探测器阵列(SPADs)，具有更高的灵敏度和更低的噪声。 这款单光子探测器阵列SPAD23在其宽探测谱段内拥有50%的探测效率，100cps的暗计数水平，且因其独te的半导体工艺及设计实现了非常的填充因子＞80%。这款带有时间标记功能（Time Tagging）的SPAD23整体尺寸只有信用ka大小，是荧光显微和量子信息领域的理想探测工具SPAD23集成性强，操作时，只需要两个插头，一个5 V电源和一个USB3连接。软件程序支持二次开发，系统软件支持光子计数和时间标记，可以通过TCP/IP访问，以便轻松集成到LabVIEW、MATLAB或Python中。推荐操作条件 SPAD high-voltage 工作电压: VOP:26-32 V环境温度:-55 to 35 °C典型技术参数参数条件TYPPeak detection probability峰值检测概率VOP= 32 v55%@520 nmWavelength window with PDP 35%PDP35%的波长窗口VOP= 32v440-660 nmFill factor填充因子Collimated light准直光源80%Dark count rate暗计数率VOP= 32 vT = 20°℃100 cpsNumber of noisy pixels with DCR1kcpsDCR1kcps的噪声像素数VOP= 32v1Dead time停滞时间VOP= 32vV= 0.8v50 nsTiming jitter定时抖动Vop= 32v120 psAfterpulsing逆转VOP= 32vV=0.8 v0.1%Crosstalk串扰VOP= 32v0.14%Maximum count rate per pixel每像素最大计数率7.8 McpsTime-tagging resolution时间标记分辨率20 ps在共焦荧光显微中的应用：图像扫描显微镜(ISM)量子ISM (Q-ISM)荧光寿命成像荧光相关光谱法(FCS)、受激发射耗尽显微镜(STED)优势:SPAD阵列增加了光的收集，使共聚焦扫描显微镜领域的创新成为可能。这一创新蕞终导致了清晰和明亮的图像与潜在的分子功能，相互作用和环境的功能信息。单光子探测器阵列SPAD23能使标准的共聚焦显微镜实现超分辨率，增加光线收集，提高成像速度，降低背景噪声共焦显微镜图像 显微镜图像在量子信息中的应用： 反聚束与符合相关，量子随机数生成 优势： 时间光子相关性和光子数解析(PNR)使探测光的量子特性成为可能。我们的探测器具有急低的串扰，因此能够可靠地测量二阶和三阶光子相关性，以及不可破解的加密量子随机数生成。 单光子探测器阵列SPAD23相当于简化了的多通道单光子探测器，通过检测器并行化提高数据速率，光子数分辨(PNR)检测光子探测概率。二, InGaAs单光子阵列探测器组件 950～1650nmMP6514S型探测器组件由4x4阵列规格InGaAs单光子雪崩光电二极管(SPAD)芯片、CMOS主被动淬灭电路芯片倒焊互连而成的探测器模块与电压逆变模块、制冷模块、信号控制模块组成。在盖革工作模式下，探测器组件各像元独立、自由运行，探测0.95 ~ 1.65 μ m的近红外波段范围内微弱光信号，实时输出TTL电信号。InGaAs单光子阵列探测器组件 950～1650nm,InGaAs单光子阵列探测器组件 950～1650nm产品特点●光谱响应波段0.95 ~ 1.65μm ●采用金属封装，器件质轻灵巧 ●像元独立、自由运行 ●像元可探测弱光子信号 ●死时间、盖革雪崩信号检测阈值可调 产品应用●透雾、霾、烟尘等测距●近红外激光告警●远距离激光测距●远距离空间激光通信通用参数封装外形结构与尺寸(单位: mm )电学接口●电源输入: +5V●数据输出类型: TTL●控制命令接口: J63A-31●电源输入接口类型: J30J●数据输出接口类型: J63A-31●外触发接口: SSMA接口编号功能1SSMA-1:内同步信号输出2SSMA-2:外同步信号输入3J63A-31:输出信号端口及探测器工作设置输入信号端口4J30J: +5V单电源供电技术参数探测器面阵规格性能描述器件类型InGaAs APD阵列规模4x4像元大小100μm x 100μm光敏面大小[1]85μm x 85μm光窗石英光窗感光靶面至光窗外表面间距4mm (光窗厚度为1mm )注[1]:单片集成微透镜焦距150μm。主要性能指标(Tc=22+3℃)特性参数参数指标工作波长[1]0.95 ~ 1.65μm探测效率≥10% ( 1.57 +0.05μm)暗计数率≤10KHz时间抖动≤500ps死时间100 ~ 1000ns可调有效像元率100%注[1]:在工作波长范围内选配标准窄带滤光片。绝对最大额定值参数额定值单位工作温度范围Tc-40～+55°C贮存温度范围TSTG-40～+70°C最大功耗P15W输入偏置范围VR4.9～5.5V静电放电敏感度ESD1000～2000V质量可靠性保证● 产品执行GJB8121-2013《半导体光电组件通用规范》相关要求。三, AD200单光子探测器 400-1100nm 光敏面直径500umRedwave Labs AD200是一种紧凑且经济的单光子探测器模块，基于可靠的硅雪崩光电二极管敏感的可见光谱范围。AD200的探测器在近可见区域（约650 nm）具有较高的效率。AD200的特点是主动淬火和全数字温度控制的APD。提供单独的电源。AD200单光子探测器 400-1100nm 光敏面直径500um,AD200单光子探测器 400-1100nm 光敏面直径500um通用参数产品特点：在650 nm处的量子效率为70%在800 nm处的量子效率为55%二极管的温度可调包括软件产品应用：时间相关的单光子计数单光子探测激光扫描显微镜粒子物理学分光光度学技术参数：型号AD200电源单相, +12 V，2x 3A，来自PCIe扩展电源光电二极管波长：400 – 1100 n击穿电压：125V@25C有效光敏面直径：500μm单光子探测率At 650nm - 70,At 800nm - 55%暗计数率25@-20C，典型值停滞时间40 ns输出脉冲40 ns连接器电源：Molex 2 PIN输出：SMB USB:USB TYPEB定时门(Timing Gate )：SMB尺寸（宽x高x深）重量120 x 92 x 30 mm350克存储温度工作温度-55至100℃-40至85℃绝对最大值参数符号参数数值单位Vdd电源电压+12VoltTop工作温度-40 to 85Deg CTst存储温度-55 to 100Deg C 机械尺寸：参数数值单位长度5.004 (127.1)Inch (mm)宽度3.000 (76.2)Inch (mm)高度1.325 (33.65)Inch (mm)重量350gram

简单介绍采用光纤锥耦合X射线探测器，最大限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单X射线探测器 的详细介绍 高耦合效率，降低设备X光源的投入影像不失真，让系统软件变得更简单 采用光纤锥耦合的X射线探测器，最大限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单。此相机广泛的应用于工业无损检测，如铸件和焊接检测、PCB板检测、工业CT等。 BGA检查 IC焊脚检查 二极管质量检查 金线检查 产品规格： 标准产品有以下三个型号，根据X光源不同，要求分辨率以及目标物的厚度不同，有可能需要改变荧光屏材料和厚度。我们向您提供完美的解决方案。 产品型号HR-25-X-RayHR-40-X-RayHR-75-X-RayCCD芯片2/3’’芯片，752*5822/3’’芯片，1392*10401.2’’芯片，2048*2048像素尺寸11.6um*11.2um6.45um*6.45um7.4um*7.4um输出格式标准CCIR模拟型号输出8bit或12bit数字信号输出8bit或12bit数字信号输出帧速视频速度17帧或30帧15帧计算机接口无1394或以太网接口以太网接口视场20mm*15mm（其它可选）32mm*24mm（其它可选）45um*45um荧光屏镀膜P43(其它可选)P43(其它可选)P43(其它可选)X光响应范围20kev-100kev20kev-100kev20kev-100kev入射光窗0.5mm厚铝膜（其它可选）0.5mm厚铝膜（其它可选）0.5mm厚铝膜（其它可选）分辨率50um≤50um，10lp/mm≤50um,11 lp/mm HR-75-X-Ray400万像素高分辨率；选用75:25的光纤锥耦合，视野可达到45mm X 45mm. HR-40-X-Ray140万像素高分辨率；选用40:11的光纤锥耦合，视野可达到32mm X 24mm. HR-25-X-Ray体积小巧，直径仅55mm,长68mm,易于安装；分辨率高；动态范围好。 量子效率曲线图（P43荧光屏（25mg/cm2）, 厚度：55um） 定制产品： 我们可根据客户的需求定制X-Ray相机 荧光屏类型和厚度附加层（如Alu,ITO）输入窗口类型和厚度相机电子部分（如计算机接口）制冷（针对于部分型号）真空接口视野大小空间分辨率 应用领域 医学成像设备：牙科X光成像眼科成像X射线断层成像局部骨骼成像 工业检测设备：PCB或BGA 检查半导体缺陷检查食品安全检查X光光斑成像无损探伤电线检查 安防设备：紫外线导弹预警距离选通激光雷达夜视相机爆炸物探测指纹获取火灾探测

Incoatec 微型X射线探测器标定源 iXminiIncoatec推出了可用于探测器标定的便携式微型X射线源，iXmini，射线管阳极靶材为Fe或Cu。iXmini是探测器平场校准可信赖的光源，可完全替代实验室金属箔荧光和放射性同位素校准物。有了iXmini，即使没有其它可用x射线源时，如同步加速器停机期间，也可可随时校准探测器。iXmini是一种简单和易于使用的X射线源，也可用于辐射探测器系统定期检查。特点和功能l 非放射性校准物l 无放射源需要的特殊储存或处置许可l 操作简单和安全l 可用于低真空环境（低至10-2 – 10-3 mbar）l 占用空间小：103×120×89.5mm3l 集成高压发生器和安全联锁装置l 2组独立的安全线联锁系统l 最大功率100mW （4-10 kV，2-10 μA）l 4种可选预定义功率设置，控制旋钮选择iXmini阳极靶材为Fe（Kα= 6.4keV）或Cu（Kα= 8.04 keV），主要用于探测器刻度，无需放射性校准物或荧光金属箔。iXmini规格参数尺寸103×120×89.5mm3重量~ 1500g供电电压DC 24.0 ± 1 VX-射线管金属陶瓷，透射阳极靶材Fe或Cu（150nm铍窗）典型工作电压4.0 – 10 kV最大功率100 mW系统集成当2个安全联锁装置关闭时，只要接通24V电压，iXmini就放出X-射线。需求24V DC 1A外接电源，无需制冷功率设置iXmini有四种预定义功率设置，提供不同的X射线光强。从顶部旋钮选择。快门iXmini快门是手动的。在上电和关闭安全锁前手动打开，在关闭电源后手动关闭。指示灯iXmini有两个状态指示灯，X-RAY ON和BEAM ON。在X射线管功率上升期间，这两个指示灯会闪烁，达到设定功率后常亮。iXmini用于CMOS探测器平场刻度用于校正的图像：Cu靶，10kV 10μA，曝光1000s两幅1000s图像对比，和相应的强度分布，有平场校正（上）和无平场校正（下）。从分布图可以看出，应用平场校正可显著改善强度分布。此外，获取了一组曝光时间不同的图像，以确定要得到好的校正结果所需的最短曝光时间。结果表明，600s曝光就可以得到相当不错的校正结果。强度均匀性与所用平场校正图像的曝光时间之间的相关性。600s曝光时间足以得到很好的校正结果

单光子探测器阵列SPAD23单光子探测器阵列SPAD23：单光子探测器阵列SPAD23技术源于代尔夫特理工大学和洛桑联邦理工学院 7 年的研究工作和 6 项独特技术。它是由23个六角形封装的单光子雪崩二极管组成的探测器阵列(SPADs)，具有更高的灵敏度和更低的噪声。这款单光子探测器阵列SPAD23在其宽探测谱段内拥有50%的探测效率，100cps的暗计数水平，且因其独特的半导体工艺及设计实现了前所未有的填充因子＞80%。这款带有时间标记功能（Time Tagging）的SPAD23整体尺寸只有普通卡片大小，是荧光显微和量子信息领域的理想探测工具。单光子探测器阵列SPAD23-应用：共焦荧光显微：图像扫描显微镜(ISM)，量子ISM (Q-ISM)，荧光寿命成像荧光相关光谱法(FCS)、受激发射耗尽显微镜(STED)SPAD阵列增加了光的收集，使共聚焦扫描显微镜领域的创新成为可能。这一创新蕞终导致了清晰和明亮的图像与潜在的分子功能，相互作用和环境的功能信息。单光子探测器阵列SPAD23能使标准的共聚焦显微镜实现超分辨率，增加光线收集，提高成像速度，降低背景噪声单光子探测器阵列SPAD23-量子信息：反聚束与符合相关，量子随机数生成时间光子相关性和光子数解析(PNR)使探测光的量子特性成为可能。我们的探测器具有极低的串扰，因此能够可靠地测量二阶和三阶光子相关性，以及不可破解的加密量子随机数生成。单光子探测器阵列SPAD23相当于简化了的多通道单光子探测器，通过检测器并行化提高数据速率，光子数分辨(PNR)检测。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

仪器简介：DSR100系列探测器光谱响应度测量系统，是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。它结合了北京卓立汉光仪器有限公司给多家科研单位定制的探测器光谱响应测量系统的特点和经验，采用国家标准计量方法进行测试，是光电探测器、器件、光电转换材料科研和检验的必备工具。技术参数：型号 DSR100UV-A DSR100UV-B DSR100IR-A DSR100IR-B波长范围 200~2500nm 1~14&mu m测试光斑\光斑模式 均匀平行光斑 汇聚光斑 均匀平行光斑 汇聚光斑尺寸 Ф2~20mm Ф0.3~3mm Ф2~20mm Ф0.3~3mm 光源 光源 氘灯/溴钨灯复合光源 溴钨灯/碳化硅复合光源光强稳定性 &le 0.8% &le 2%光源切换方式 软件自动切换 软件自动切换三光栅单色仪 光 谱分辨率 ＜0.1nm（435.8nm@1200g/mm光栅） ＜2.5nm (2615nm@75g/mm光栅)扫描间隔 最小可至0.005nm输出波长带宽 ＜5nm ＜10nm多级光谱滤除装置 根据波长自动选择滤光片，消除多级光谱杂散光 　光调制频率 4~400Hz数据采集装置灵敏度 锁相放大器 2nV；直流数据采集可选标准探测器 标准硅探测器 （标定200~1100nm） 标准热释电探测器（标定1~14mm）光谱响应度测量重复性* &le ± 1.5% &le ± 5%光路中心高 305mm仪器尺寸 1500mm× 1200mm× 560mm控制机柜 标准4U控制柜，含计算机主要特点：◆ 宽光谱范围（200~2500nm或1~14&mu m可选），适用面广宽光谱范围意味着适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器、响应在可见光的太阳能电池、响应在近红外的光纤传感器、响应在中远红外的红外光电传感器，都可以在DSR100上测量光谱响应度。◆ 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单系统采用替代法的测量原理，设计成开机即用的turnkey模式，用户不需要在实验前对系统进行复杂的调试，日常维护也十分简单。◆ 调制法测量技术，提升测量结果信噪比DSR100系统采用调制法测量技术。调制法是目前国家计量单位采用的标准方法，通过选频放大的技术，可以大幅度抑制杂散光或环境噪声对测量精度带来的负面影响。DSR100系统针对弱信号采集专门设计了独特的前置放大电路，同时采用高性能的锁相放大器进行调制法测量。锁相放大器测量灵敏度达到2nV，动态范围达到100dB。通过提高测量灵敏度并且抑制噪声，DSR100系统可以从背景噪声中提取非常微弱的光电探测器响应信号。◆ 全反射光路设计，优化光斑质量由于各种光电探测器的光谱响应范围不同，因此好的探测器光谱响应度测量系统应该是宽光谱范围的，这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中，采用反射式的光路设计要比透射式得到更高品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中，影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差，色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。而在反射式的光学系统中，由于根本不涉及折射，所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路，成像质量大大优于透射式光路，从而可以得到更高均匀度的平行光斑，或者更小尺寸的汇聚光斑。◆ 高稳定性光源，降低背景噪声影响尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响，但光源本身的波动依然无法消除。因此，在采用调制法的系统中，光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。DSR100采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。右图是典型的光源相对强度的稳定度测量数据。◆ 全自动测量流程1)自动化测量流程得到高重复性样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性，电动平移台重复定位精度10um，远远高于手动样品定位2)自动化测量流程降低了操作人员的要求按软件文字提示即可正确操作系统进行测量，不需要对操作人员进行复杂的培训，特别适合工业客户做检测用3)自动化测量流程提高时间利用率系统在预设方案后即自动运行测量流程，可提高操作人员时间利用率◆ 大空间样品仓，四壁可拆卸，方便系统调试特别设计的四壁方便拆卸的样品仓，给实验人员足够大的空间进行样品安装和调试。同时，也能容纳一些特殊体积的探测器，比如液氮制冷的探测器、条纹变相管等。实验人员的可操作性大大增强。◆ 激光监视光路选项，CCD图像监控，可对极小面积的光电探测器进行精确定位◆ 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件DSR100系统的软件保存所有测试第一手原始数据，可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档，以便后期分析处理。

半人马座是一种闪烁型背散射电子（BSE）或阴极发光（CL）单色系探测器，可以生成合成（地质形貌信息）BSE图像，或快速更换前端探头，它可以转换为CL成像检测器，非常小的更改就能提供额外的功能。其使用钻石抛光的抛物面反射器探头，Deben探测器收集了比其他产品更多的信号。CL成像广泛应用于地质、矿物学、陶瓷材料研究和发光材料开发。半人马座能够产生发光材料的高分辨率的阴极发光（CL）图像。CL图像可以很容易地收集并反馈输入SEM视频输入。该光电倍增管也可以被交换，以选择一个特定的波长范围，灵敏度可从紫外到深红外在185nm到1200nm。BSE成像提供了图像对比度作为元素组成的功能，以及表面形貌的一个元素。背散射电子是由样品与入射电子束之间的弹性相互作用产生的。这些高能电子可以从比二次电子更深的地方逃逸，所以表面形貌不能像二次电子成像那样准确地解决。背向散射电子的产生效率与样品材料的平均原子序数成正比，这导致了图像对比度作为组成的函数，即在背向散射电子图像中，高原子序数材料比低原子序数材料更亮。n 可快速更换的BSE和CL前部探头n 高速视频速率成像n 手动伸缩 阴极荧光成像这些高能电子可以从比二次电子更深的地方逃逸，所以表面形貌不能像二次电子成像那样准确地解决。背向散射电子的产生效率与样品材料的平均原子序数成正比，这导致了图像对比度作为组成的函数，即在背向散射电子图像中，高原子序数材料比低原子序数材料更亮。应用包括：沉积岩胶结和消化过程的研究。沉积岩和中沉积岩中碎屑物质的产生。内脏内部结构的细节。火成岩和变质矿物的生长/溶解特征。变质岩中的变形机理。由于微量活化量的差异而对同一矿物的不同世代的鉴别。背散射成像背向散射电子探测器产生的图像与对比度（灰色水平）作为元素组成的函数。这对于识别样品中的不同元素特别有用。它们通常用于半导体工业中成像连接和寻找缺陷，在地质学中调查岩石成分，在建筑工业中用于监测混凝土成分。BSE探测器也是那些使用x射线微量分析的一个重要工具，通过帮助确定要分析的样本的特定区域。半人马座探测器将在从钨灯丝电镜到场发射电镜的所有类型的扫描电镜上取得良好的结果。应用案例一来自伦敦大学皇家霍洛威分校罗伯特霍尔教授领导着对东南亚和西太平洋地质学的实地研究。沉积岩样品被带回英国，在那里通过重、轻矿物分析以及铀-铅（U-Pb）锆英石地质年代学进行分析，用于种源研究和路径重建。阴极多发光（CL）成像是我们在U-Pb分析之前评估锆石内部结构的重要工具。它被用来选择激光光斑的位置，并允许我们专门针对锆石中感兴趣的区域。它还可以帮助检测可能的夹杂物或裂缝。在评论探测器的选择时，亨尼格博士说：“研究小组根据伯克贝克学院/伦敦大学学院的经验，从DEBEN选择了半人马座CL探测器。它提供了来自扫描电子显微镜（SEM）的非常好的扫描结果和高质量的图像。”锆石的CL图像显示振荡分区、复杂的内部结构和核心/边缘关系 应用案例二来自美国阿伯丁大学亚历克斯布拉齐尔博士是该中心的学术领导，也是阿伯丁大学的地质学的高级讲师。他使用电子显微镜进行学术研究和教学。布拉齐尔博士谈到了他对阴极发光探测器的使用，以及他为什么选择从DEBEN购买半人马座。阴极发光是一种常用于在碳酸盐岩上观察晶体生长历史的技术。使用电子显微镜的其他探测器，我可以看到今天出现的晶体的大小和形状。使用Deben CL探测器，图像是灰度的，但可以很容易地与同一样品的完全相同部分的反向散射电子图像和能量色散光谱（EDS）X射线元素图联系起来。我们尝试了一些由电子显微镜制造商提出的内部解决方案，但没有一种能产生令人满意的碳酸盐岩图像。我们知道其他的扫描电镜实验室也有一个德本半人马座CL探测器，所以我们送了一些标本去做测试，结果要好得多。不合适的探测器的问题通常是在图像上留下明亮的条纹。

BIRD 210测试平台包括能够提供极低噪声的电子控制单元，其中含有时序脉冲发生器、偏置电压单元和高频模数转换单元。光学平台上配有均匀且稳定的红外参考源，可用于噪声、非均匀性校正和盲元检测；光学测试所需的精准的光源信号可用于高光谱分辨率的光谱响应测试，配备无像差针孔或细狭缝源以及光学镜头后可用于串音及调制传递函数的测试 。产品特点1、友好的时序脉冲界面设计，像元显示重排序，偏置电压设定和探测器模数转换参数定义以及将参数信号发送给探测器2、设置测试函数参数，如噪声测试和非均匀性校正测试中的温度值，盲元检测和定位的标准（最多可选6项标准），用于分析光谱响应的光谱范围等3、根据特定的功能以及相应的设置对光学平台上的光学机械组件（导轨、黑 体、单色仪等）自动控制4、探测器图像采集和数据处理，包括独有的用于噪声及响应率优化的偏置电压扫描功能

Unity BEX成像探测器为什么BEX技术正在重新定义成像标准？Unity BEX成像系统提供了快速、准确、高分辨率的彩色成像技术解决方案。Unity探测器融背散射电子与X射线传感器于一体，整体位于极靴正下方。这种独特的设计使BSE及X射线成像得以同步进行，自此BEX成像诞生了。BEX技术消除了常规EDS分析中令人困扰的阴影效应，为成像质量提供了有力保障。高通量、高质量成像Unity探测器的问世为现有成像系统设定了全新的评价标准。在实际测试中，Unity使SEM的生产力放大了高达100倍。对于任意类型的分析，Unity都能够显著提高分析效率和设备使用率。此外，已购置的SEM均可升级为BEX成像系统，以提高生产力、灵活性、或延长设备的使用寿命。Unity成像简单而精彩近日，牛津仪器发布了Unity探测器，一种扫描电子显微镜下全新的成像技术就此诞生。Unity是同时集成背射电子和X射线（BEX）传感器的商用成像系统。Unity的全新设计实现了背散射图像与元素面分布图的同步高效采集，为样品导航提供了高分辨率全彩成像技术解决方案。Unity采用了革 命性的设计理念，在电镜极靴下完美融合了背射电子和X射线传感器。通过优化传感器设计与布局，大幅提升了可用信号量，确保在常规SEM分析条件下也能获得高质量、高通量和高分辨率的BEX成像效果。Unity革新了SEM下的成像和样品导航方式，让成像变得简单而精彩。为什么选择Unity?全新设计Unity在极靴下工作，该硬件设计为成像速度和质量带来了巨大优势。双传感器布局Unity完美集成了背散射电子（BSE）和X射线传感器。Unity的BSE传感器与常规BSE探测器相似，成像区域中更亮的部分拥有更高的密度或平均原子序数。与传统成像探头不同，X-ray传感器采集来自样品的特征X射线并转化为成分信息，使得Unity系统可快速生成彩色图片。随即，来自这两个传感器的信号可智能叠加，获得易于解释的样品形貌图。通过瞬时获得样品图像，消除了样品分析过程中的主观臆断和不确定性，是操作人员更有信心的进行样品检索，极大提高分析效率。专为日常使用设计Unity BEX成像系统操作简单便捷，能够轻松应对各种分析条件的挑战。✔ ️ 无阴影无遮挡Unity的双X射线传感器设计消除了样品表面起伏造成的阴影效应，即使在深槽、断面等难做样品上也能获得足够信号量。此外，双BSE传感器可用于Z衬度和形貌衬度成像，两种模式一键即可切换。✔ ️ 成像视野大Unity探测器前端设计了大尺寸光阑，电子束能够通过，即使在鱼眼模式下也无视野遮挡，有利于全景模式成像和高分辨率精细分析。✔ ️ 适配低真空模式应对导电性差的样品，Unity可一键由高真空切换至低真空工作模式，无惧荷电影响。✔ ️ 高性能BSE传感器Unity的BSE传感器采用定制的几何外形和帕尔贴制冷技术，拥有更高的信号量和探测灵敏度。结果可靠稳定Unity BEX成像系统继承了牛津仪器在先进X射线检测技术方面几十年的经验和优势，现已完美集成于AZtec软件平台。在Tru-Q算法引擎、高通量X4脉冲处理器和AZtecLive实时化学成像技术的共同赋能下，样品台稍作停留即可获得准确可靠的高分辨率BEX成像结果。工作位置Unity探测器在极靴下方工作，有效提升了X射线的接收范围，在常用BSE成像条件下（较低束流和较短驻留时间）也能获得足够信号量。

高灵敏度中子ICCD 和中子sCMOS探测器PSEL制冷型中子探测器系列采用LiF：ZnS：Ag闪烁体荧光屏，由极低噪声、高灵敏度ICCD或sCMOS芯片读出。中子成像应用方面使用10cm×10cm至43cm×43cm有效区域的高分辨率闪烁体，并结合具有低噪声、快速读出4096×4096分辨率的sCMOS相机。衍射和小角散射应用使用26cm×20cm有效区域的高效闪烁体，并结合1306×1040分辨率的超低噪声ICCD相机，可实现单量子探测功能。通过将多个相机拼接在一起可以实现更大区域的探测。快中子系列不仅可以用于实验室密封源研究，也可用于研究反应堆设施。高灵敏度中子ICCD探测器主要特点：16-bit数字图像实时采集单中子等效读出噪声可达20000:1的高动态范围标准相机与计算机接口 芯片阵列可多路采集高灵敏度中子ICCD探测器 应用： 中子成像/断层扫描 中子衍射 小角中子散射 蛋白质晶体学 中子反射技术指标：参数中子ICCD中子sCMOS闪烁体LiF：ZnS：Ag有效像元尺寸200μm105 μm有效探测尺寸20cm×26cm43cm×43cm帧速0.6 fps5 fps动态范围10000:120000:1读出噪声3 e-4e-增益1000:1N/A门控宽度1 ms @ 1kHzN/A芯片制冷温度-20 ℃曝光时间(单帧)最长可达30分钟最长可达1分钟相机接口千兆以太网Li-6荧光屏来自于scintacor特征物理性质屏幕类型ND磷光体类型混合颗粒发光颜色蓝色峰值波长450nm衰减10%3.5μs余辉拖尾低阶X射线吸收极低紫外光吸收宽带

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915