涂层发射量仪

产品详情Optosol R1 涂层吸收率发射率检测仪 详细介绍Emissiometer R用于测量管状或平面太阳能吸收涂层的定向热发射度，其基础是测量来自扩展热源的红外辐射的反射率操作温度:70 - 90°C-到样品的平均距离:50mm-测量区域直径:可达30mm再现性: 2%精度小于3% Emissiometer Rfor measurements of the directional thermal emittance of tubular or planar solar absorber coatings based on the measurement of the reflectance of the infrared radiation from an extended heat sourceOperating temperature: 70-90°CAverage distance to the sample: 50mmDiameter of the measured area: up to 30mmReproducibility: 2%- Accuracy 3%

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

便携式红外发射率测量仪ET100介绍 发射率测量仪ET100采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场金确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。 应用领域 n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制 主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）

YT-210涂层测厚仪概述无接口磁性探头，检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-210涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。技术参数项目Leeb210测头类型F1 （不可拔插）工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量150g标准配置主机、标准试片、基体、F1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头工作原理● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法，可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。A、磁性法(F型测头)：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。磁性法基本工作原理测量步骤A）将测头置于开放空间，按一下开机键开机,检查电池电压。说明1：当电池符号满格显示，表示电池电压正常；电池电量小于2格时，请立即更换电池，以保证测量的准确性。 2：长期不用时应将电池取出。开机时正常情况下，开机显示界面如下图所示： “铁基体"——F型测头，测试对象为铁性基体 “A"——上次关机前的最后一次测量模式 “数值"——上次关机前的最后一次测量值B）选择适当的校准方法进行标准仪器。C）测量方法：握住滑套将测头与测试面垂直地接触，随着一声蜂鸣声，屏幕显示测量值，提起侧头可进行下次测量。D)关机：按开关机键，或者大约5分钟后仪器自动关机。 注：如果开机仪器自动测试，请按‘校零’键.并进行五试片校准。说明: 1. 如果在测量中测头没有与待测面垂直接触，可能会显示一个误差较大的测值，可以按清除键清除该值； 2.测量三次或多次后，仪器可自动对测量数据进行统计即：平均值、偏差、测量次数、最大测量值、最小测量值。产品展示

一个多功能平台，旨在结合围绕“摩擦学”耐磨性的各种沉积技术，其中包括类金刚石碳（DLC）等低摩擦涂层。这种DLC摩擦沉积系统还可以沉积CrN，TaC，TiC，TiN，MoS2和WC-C，这只是许多行业中用于功能性涂料的几种常见材料，包括航空航天，汽车，国防，医疗器械，发电，石油和天然气等。这种多用途设备可以提供的沉积技术包括：高功率脉冲磁控溅射 （HIPIMS）反应式磁控溅射电感耦合等离子体源 （ICP）等离子体增强化学气相沉积 （PECVD）高功率脉冲磁控溅射 （HIPIMS）高功率脉冲磁控溅射（HIPIMS）是一种技术，它允许电离一部分溅射靶材，并通过简单地添加HIPIMS电源来控制地增加电离物质的能量。这是通过在很短的时间内向磁控管施加极高的功率（数百千瓦到兆瓦）来实现的。以这种方式施加功率会产生极高的电子（等离子体）密度，在溅射物质离开靶材后将其电离。相比之下，当使用直流或脉冲直流溅射时，只有一小部分（5%）溅射靶材被电离。通过适当调整脉冲参数，可以实现 5 – 100% 的电离水平。铜等材料可以完全电离，甚至可以维持不使用氩气的“自溅射”状态。大多数其他材料仍然需要一些惰性的溅射气体来维持放电。在负溅射脉冲中添加相邻的正脉冲可以“调整”溅射离子加速向基板的能量。因此，可以轻松控制涂层特性，如密度、电阻率和应力。由于离子的能量可以直接从靶标控制，因此可以消除对底物偏置的需求。这为在低温下和非导电基材（如聚合物和玻璃）上创建致密、粘附良好的涂层打开了大门。此外，三维结构，如沟槽和柱子，可以保形涂层。HIPIMS电源可用于驱动此DLC摩擦学系统，使用小至2“圆形磁控管以及长达1m或更长的大型平面或可旋转磁控管。反应式磁控溅射反应磁控溅射是一种用于从金属靶材沉积材料的氧化物、氮化物和碳化物的工艺。传统上，陶瓷是用射频功率溅射的，这具有极低的沉积速率，并且需要在镀膜系统中“包含”射频功率。在某些情况下，陶瓷涂层可以用脉冲直流功率沉积，带有“中毒”靶材，其中反应气体与靶材表面反应以形成“中毒或陶瓷层”，但沉积速率也非常低，涂层性能可能不是最佳的。在反应溅射工艺中，反应气体分压的控制方式使靶材保持“半金属”状态，这允许高沉积速率，而基板上产生的涂层是化学计量陶瓷。对于反应溅射，控制系统中反应气体的分压是关键。这可以通过间接测量、目标电压/电流或光学发射光谱法或直接通过分压测量来实现。然而，哪种技术最合适，产生最稳定和可重复的工艺取决于要沉积的材料和系统设计。例如，如果要将SiO2沉积到聚合物网上，可以使用电压/电流或直接光发射进行控制。但是，如果要将TiN沉积到批量涂布机行星夹具上的切削工具上，则无法进行电压/电流控制，远程光发射监测是最合适的。反应溅射目前应用广泛。它可以与HIPIMS技术结合使用，以拓宽金属氮化物和氧化物沉积的工艺窗口。光学和透明导电氧化物（TCO）涂层可以以高速率沉积。电感耦合等离子体源 （ICP）等离子体源已用于蚀刻、离子辅助沉积和等离子体增强化学气相沉积（PECVD）多年。但是，大多数来源适用于上述一个或两个过程，但不是所有上述过程。此外，传统源的可扩展性由于其操作和物理结构的物理特性而受到限制。已经开发出电感耦合等离子体（ICP）源技术，该技术克服了污染，中和器组件磨损和可扩展性等问题。此类光源有圆形、矩形和环形光源。它们可以在很宽的压力范围内（10e-4 至 10e-2 mbar）运行，并且可以在低能量 （15 eV） 或更高能量下运行，具体取决于工艺要求。由于它们基本上没有要“磨损”的内部部件，因此它们易于维护，并且对于长期生产活动非常坚固。由于ICP以相对较低的能量获得高等离子体密度，因此它们适用于温度感性基板（聚合物）的等离子体功能化以及“损坏”敏感基板或结构。介电材料可以高速率从气体前体沉积，用于光学镀膜（SiO2、TiO2）以及非晶硅和类金刚石碳（DLC）镀膜的沉积等应用。这些光源也适用于使用电子束蒸发或磁控溅射和金属氮化物/碳化物的光学镀膜的“离子辅助”沉积。氟、氯和硅烷等腐蚀性气体也与这些来源相容。圆形光源的直径从 4“ 到 12” 不等，矩形光源的长度可达 1.3 m。环形源的独特之处在于基板可以直接通过源。这允许在基材的两侧或外径上进行表面功能化或涂层。什么是DLC涂层？类金刚石碳涂层是地球上最坚韧的涂层之一。DLC是一类无定形碳涂层，可以具有钻石的硬度，但具有石墨的光滑度 - 两者都由碳制成。该涂层是纳米晶金刚石和纳米晶碳化硅层的基体，使金刚石沉积具有极高的硬度和摩擦磨损的长期耐久性。DLC涂层是一种环保工艺，可在极端条件下抵抗磨损，从高性能汽车和航空航天部件到手表，珠宝和厨具上的装饰涂层，将美观与耐腐蚀和耐刮擦性相结合。DLC的显微硬度和光滑度使其成为一种久经考验的生物相容性涂料，是各种医疗植入物应用的理想选择。沉积可以配置为改变电流，使其表现得像半导体或绝缘体，这为医疗技术的重要和令人兴奋的新进步做出了贡献。防止磨料磨损的出色摩擦学特性使其通常用于发动机凸轮和轴承、金属切割和钻孔设备以及剃须刀片等应用。DLC涂层设备是一项相对较新的技术，已迅速成为广泛用途的首选应用，为您提供了一个多功能的多用途平台，使您能够结合摩擦磨损性的各种沉积技术。我们是全球领先的电子、光学、太阳能、医疗、军事和相关高科技行业溅射设备供应商。

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

分体式涂层测厚仪Leeb270 概述 该仪器采用磁性测量方法，可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等) 本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。 主要功能 ● 具有两种测量方式：连续测量和单次测量方式；● 具有两种工作方式：直接和成组方式；● 具有自动统计功能：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正； ● 存储功能：可存4 个校正工件可保存。分2类工件，每类26组，每组15个，共1560个测值；● 删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的数据，以便进行新的测量；● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警；● 具有电源欠压指示功能，操作过程有蜂鸣声提示，自动关机方式。 技术参数 项目Leeb 270测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源1.5V两节外形尺寸163×78×33mm（主机）重量200g外壳材质塑料外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、仪器箱、探头选配标准试片、基体、皮套、探头 符合标准 1、GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度测量 磁性方法2、GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量 涡流方法3、JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪4、JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》5、JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》 测量原理 ● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法，可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。A、 磁性法(F型测头)：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。 磁性法基本工作原理 测量步骤 A）将测头置于开放空间，按一下开机键开机,检查电池电压。说明1：当电池符号满格显示，表示电池电压正常；电池电量小于2格时，请立即更换电池，以保证测量的准确性。 2：长期不用时应将电池取出。开机时正常情况下，开机显示界面所示： “Fe”——F型测头，测试对象为铁性基体 “A”——上次关机前的最后一次测量模式 “数值”——上次关机前的最后一次测量值B）选择适当的校准方法进行标准仪器。C）测量方法：握住滑套将测头与测试面垂直地接触，随着一声蜂鸣声，屏幕显示测量值，提起侧头可进行下次测量。D)关机：按开关机键，或者大约5分钟后仪器自动关机。 注：如果开机仪器自动测试，请按‘校零’键.并进行五试片校准。说明: 1. 如果在测量中测头没有与待测面垂直接触，可能会显示一个误差较大的测值，可以按清除键清除该值； 2.测量三次或多次后，仪器可自动对测量数据进行统计即：平均值、偏差、测量次数、最大测量值、最小测量值。 保养和维修 1、环境要求严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。2、更换电池当屏幕上的电池电量在开机时显示小于2格，就表示应该更换电池。3、仪器维修出现故障时，请用户不要拆机自修。填妥保修卡后，请将仪器交我公司维修部门，执行保修条例。如果能将出现错误的情况简单描述一下，一同寄出，我们将会非常感谢您。 产品展示 证书展示 欧盟CE证书 美国FCC证书 ISO9001证书计量标准考核证书 检定证书1 检定证书2高新技术企业证书 展会 德国斯图加特国际质量控制与仪器仪表展（如上图） 国内展会（如上图） 仓库实力 &bull 公司名称：重庆里博仪器有限公司&bull 公司地址：重庆市北碚区蔡家岗镇嘉德大道99号16幢 &bull 公司简介：重庆里博仪器有限公司是一家集研发、生产销售和售后服务为一体的，从事检测仪器和计量器具的生产型企业。生产系列产品：硬度试验机系列（洛氏硬度计、布氏硬度计、维氏硬度计）、里氏硬度计、涂层测厚仪、超声波（钢板钢管）测厚仪、表面粗糙度仪、超声波（金属）探伤仪、射线探伤仪、磁粉探伤仪、钢丝绳探伤仪、电火花检测仪、巴氏硬度计、韦氏硬度计、邵氏硬度计等。 代理荷兰轶诺硬度计、德国里斯特涂层测厚仪、日立涂层测厚仪、日立光谱仪、美国混凝土防水涂料测厚仪等。

1. 测量原理：定向半球反射（DHR） , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段，3-5卩m & 8-12pm3. 重复性：＜ 0.014. 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好5.彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便6.数据存储：Micro SD卡，最大2048条记录，分8组，TXT文件格式，方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段 （3-5um和8-12um）发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品的技术与特点，具有携带方便、 操作简单、等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司联系方式：029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射（DHR）, 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒（每次测量进行2次数据采集）预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡（8Gbyte）,最大2048条记录，分8组数据下载Data Download下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池，18V3AH,持续工作时间＞3小时，可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm（测量头）重量Weight2.3Kg（测量头）整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm（包装箱含电池、充电器、标准片等）整体重量Total Weight6.4Kg（包装箱含电池、充电器、标准片等）销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司 联系方式：029-818700902\

由国检集团主要负责起草并推行的国际标准ISO 20343：2017《精细陶瓷（高性能陶瓷，高技术陶瓷）-《陶瓷厚涂层的高温弹性模量测试方法》Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -- Test method for determining elastic modulus of thick ceramiccoatings at elevated temperature,是国检集团成功发布的第六项国际新标准，由首席科学家包亦望带领中央研究院独立完成。　　陶瓷涂层，由于其良好的耐高温、耐摩擦磨损和抗化学腐蚀等特点，在许多领域的重要构件中都有使用。而对于在高温环境下使用的陶瓷涂层来说，由于难以搭建高温测试环境且涂层难以从基底上分离，准确的评价其高温力学性能一直是国际上要攻克的重要难题。　　2013年ISO 组织向全世界征求陶瓷涂层测试技术时,国检集团通过中国国标委将相对法提交到ISO/TC206与他国提案竞争，经过激烈的竞争和讨论后，由于中国提案的原创性和普适性，ISO 顾问委员会最终通过了该提案。　　该国际标准于2014年3月在ISO/TC 206正式立项，历时2年多，分别经过了NP、WD、CD、DIS、FDIS等多个阶段，其间国检集团建立了理论模型，经过了多次国际会议讨论，收到了大量来自国际行业专家及竞争对手的意见，对各种意见进行了细致的汇总、分析和计算，对各种测试因素的影响进行了大量实验验证，最终获得了国际专家的一致认可。　　ISO 20343建立了陶瓷厚涂层的高温弹性模量测试方法，其成功发布不仅准确评价了陶瓷涂层高温弹性模量，填补了国内外陶瓷涂层的技术空白，对于保障整个结构的安全性和可靠性，优化生产工艺，尤其对军工产品和国防建设有重要的意义；同时这也彰显了国检集团作为检验认证高技术服务业的创新能力和核心竞争力，未来国检集团将持续聚焦科研创新能力，为中国建材检测行业发展争取更多的国际话语权！ ISO 20343的测量原理上是建立基体、复合体和涂层三者性能之间弹性模量的数据关系，测出基体和复合体的弹性模量，从而计算出涂层的弹性模量。 基体和复合体的弹性模量可以用DST-V型固体材料弹性性能测试仪测量获得，从而间接获得涂层的弹性模量。本仪器可以准确测量大于30微米厚度的陶瓷涂层样品的弹性模量。

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

YT-211涂层测厚仪概述无接口涡流探头，检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-211涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。技术参数项目Leeb211测头类型N1 （不可拔插）工作原理涡流感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量150g标准配置主机、标准试片、基体、N1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头产品展示

里博涂层测厚仪 本仪器是磁性、涡流一体的便携式涂层测厚仪，它能快速、无损伤地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护重要的仪器。 本仪器符合以下标准 GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889-95 《磁阻法测厚仪》JJG 818-93《电涡流式测厚仪》 主要功能 ●采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。●具有两种测量方式:连续测量方式和单次测量方式●具有三种测量模式:高精度测量模式可对多次测量取平均，并对可疑数据进行自动过滤，可确保测量值更加准确、稳定 快速测量模式可实现实时扫描功能。●具有温度补偿功能:实时温度补偿技术可自动对环境温度及测头温度改变引起的测量误差进行补偿，使测量更准确。●设有五个统计量:平均值( MEAN)、 最大值( MAX)、最小值( MIN )测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV )。●可采用零点校准、单点校准或两点校准法对仪器进行校准并可用基本校准和温度系数校准法对测头的系统误差进行修正。●具有存储功能:最多可存储500个测量值。●具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的所有数据，以便进行新的测量。●可设置限界:对限界外的测量值自动报警。●具有电源电量指示功能。●操作过程有蜂鸣声提示。

氧化钡涂层圆盘阴极barium-oxide-coated-discs低光、低温发射电流密度高达 0.25 A/cm 2工作压力 10 -7 torr发射高达 3 mA3 种圆盘尺寸在 AEI 或紧凑型 CB-104/105 底座上

便携式涂层测厚仪是一种广泛应用于工业领域的测量设备，用于测量材料表面涂层的厚度。这种仪器在许多行业中都发挥着重要的作用，如汽车制造、航空航天、船舶建造等。随着科技的不断进步，该仪器的性能和精度也在不断提高，为工业生产提供了更加可靠和高效的测量手段。　　在现代工业生产中，便携式涂层测厚仪的应用范围越来越广泛。例如，在汽车制造过程中，该仪器可以用于测量汽车车身涂层的厚度，以确保涂层的质量和均匀性。在航空航天领域，该仪器可以用于测量飞机和航天器的涂层厚度，以确保其防腐和耐久性。在船舶建造中，该仪器则可以用于测量船体涂层的厚度，以确保船体的防水和防腐性能。概述无接口磁性探头，检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。技术参数项目Leeb210测头类型F1 （不可拔插）工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量150g标准配置主机、标准试片、基体、F1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头工作原理● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法，可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。A、磁性法(F型测头)：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。测量步骤A）将测头置于开放空间，按一下开机键开机,检查电池电压。说明1：当电池符号满格显示，表示电池电压正常；电池电量小于2格时，请立即更换电池，以保证测量的准确性。 2：长期不用时应将电池取出。开机时正常情况下，开机显示界面如下图所示： “铁基体”——F型测头，测试对象为铁性基体 “A”——上次关机前的最后一次测量模式 “数值”——上次关机前的最后一次测量值B）选择适当的校准方法进行标准仪器。C）测量方法：握住滑套将测头与测试面垂直地接触，随着一声蜂鸣声，屏幕显示测量值，提起侧头可进行下次测量。D)关机：按开关机键，或者大约5分钟后仪器自动关机。 注：如果开机仪器自动测试，请按‘校零’键.并进行五试片校准。说明: 1. 如果在测量中测头没有与待测面垂直接触，可能会显示一个误差较大的测值，可以按清除键清除该值； 2.测量三次或多次后，仪器可自动对测量数据进行统计即：平均值、偏差、测量次数、最大测量值、最小测量值。

MC-3000S分体式涂层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。MC-3000S分体式涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。MC-3000S分体式涂层测厚仪符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

Acktar涂层Fractal Black产品型号：Fractal Black产品介绍Fractal Black经过测试，符合热循环、热真空循环、低温性能、脱气、空间原子氧、环境暴露后的反射率和粘附性。详细的BRDF数据可用于VIS。SWIR、MWIR和LWIR。分形黑在许多应用中广泛使用，如红外成像、被动热控制管理、仪器仪表和冷却红外探测器/传感器。性能特点l 宽带紫外-长波红外l 基本上为零放气l 真空和热真空循环合格l 工作温度范围：-269°C至450°Cl 无颗粒l 只有几微米厚l 几乎与所有基材兼容技术参数产地：以色列粘附：金属、玻璃、陶瓷、聚合物附着力试验（参考ECSS-Q-ST-70-13C）：涂层件可承受透明胶带测试（3M853 Crystal Clear胶带，每25mm强度为13N），无任何涂层去除迹象。CVCM排气量：0.001 %排气RML：0.2 %涂层化学成分：完全无机零件形状：3D耐湿性：MIL-C-48497A工作波长：VIS-FIR涂层厚度：5-14µ m发射率3-10µ m： 97发射率3-30µ m： 88工作温度：-269至380 °C4至653 °K涂层重量：1.6 - 3.2mg/cm² 产品应用空间、红外成像、无源热控制、仪器仪表、冷却红外探测器零件

是综合评价被膜性能的性价比很高的测定机薄膜剥落和破损测量　使用一个特殊的针，测量单层和多层涂层的抗剥离性，以及各层之间或基材和涂层之间涂层的断裂力。　还可以收集关于分层和薄膜破裂状态的可视化数据。 一根针被放在薄膜的横截面上，并在一条直线上滑动。　通过移动薄膜并测量薄膜的剥离和断裂应力，将应力施加到薄膜的表面。 在多层膜的情况下，针被放置在靠近表面层的地方。　即使它们被放置在靠近zui低强度层的地方，也会从zui低强度层的附近发生分层。静态/动态摩擦系数测量　表面摩擦力必须作为一个涂层特性来评估。 使用填充仪，可以获得10微米到1毫米/秒的速度范围。　通过在极低的速度下进行测量，可以测量出从静止开始滑动时发生的试样的弹性变形，而　滑动过程中的跳跃现象可以降到zui低。 使用中的摩擦测量装置刮擦强度测量　刮擦强度评估是通过使用锥形刮针在规定的垂直载荷下进行线性滑动来进行的，每个试样上产生的刮擦宽度用来评估试样的刮擦强度。　刮擦强度可以表示为：。 此外，由于在测量划痕强度时，阻力也可以作为数据被捕获，所以垂直载荷可以用划痕强度来表示。　刮擦开始的垂直负荷也可以通过测量负荷的阶梯式变化来确定。 使用中的划痕强度测量单元薄膜剥落和断裂测量的例子 释放和分解测量状态 聚酯基的涂层剥落 热固性涂料的断裂状态主要规格

产品描述手持式涂层测厚仪（PAC mobile）是利用光热法测量涂层厚度的一种非破环性、非接触型的测量仪器。符合欧洲标准 DIN EN 15042-2。它适用于测量干、湿膜及粉末的涂层，例如多种基质（金属，橡胶或陶瓷）上的有机溶剂涂料、水性涂料、粉末涂料和釉料等。通过手持式的测量探头（符合人体工程学），手持式涂层测厚仪（PCA mobile）可以在潮湿或干燥等不同的复杂现场环境条件下，通过便携式终端内置的涂层工作曲线快速精确地测量涂层厚度，并且可以在同一位置多次重复测量。使用光热测量技术可以在涂层固化前（自然干燥或烘烤）检测涂层厚度是否准确，通过这个技术可以增加生产效率和提高最终产品的质量。手持式测厚仪（PCAmobile）由手持传感器和便携式终端构成，可以在现场直接得到测量结果。手持式涂层测厚仪的特点1：操作便捷，直观菜单导航；2：无限的灵活性，可测量结构复杂的样品；3：测量范围大,涂层可达300μm（基于不同的涂层/基体，必须校准工作曲线）；4：适用范围大 （涂层：干、湿、粉末及薄膜的涂层，基体：金属/非金属基体）；5：无损/非接触，对待测样品不产生任何磨损和破坏；6: 续航时间长（使用可充电4节锂电池，连续测量可达10个小时）；7：设备安全可靠，对眼睛无伤害；装箱单 • 工具箱• 便携式终端• 手持激光探头• 4 节锂电池• 外部电池充电器• 说明书可选附件• 固定垫片• 可调节高度的测量支架• 简易调节高度的测量支架• 订制校准曲线• 可扩展的软件包涂层厚度范围:1 - 300μm*角度公差:±15°接口:USB测量光斑大小:?= 1mm重复率:最大1 Hz *测量时间:32-2048ms*测量精度:约 3%的测量值*危险等级:1分辨率：约 1%的测量值*探头尺寸:L = 160 mm, B = 50 mm电源:4 节锂离子电池探头重量:200 g电池寿命:10小时连续使用便携式终端尺寸:80 x 180 x 42.5 mm测量距离:≈35mm设备重量:750g*基于涂层/测量范围/基体

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500-°K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点n 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数n 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectancen 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能n 液晶触摸屏PDA图文操作界面n 可同时提供十种设备运行信息n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便应 用n 为红外相机提供发射率参数n 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体（黑体）的辐射出射度的比值，体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率，适合太阳能电池组件，建筑隔热涂料，热控涂层等材料开发，工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元，光源，数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05～0.95检测器波长范围 0.6～42μm（300K理论黑体总放射能量的95%）测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1～3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K（Sheldahl制）电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分：W145×D82×H32 (mm)测定部分：W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分：约200g测定部分：约700g储存环境 温度：10～45℃湿度：50%RH附件 使用手册CD（驱动程序）USB数据线 (Type A－Type B)电源线

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

产品详情 Optosol Absorber Control K1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪一、测量原理说明Alphameter 吸收 测量了相当精确的太阳能吸收的测试结果。Alphameter是基于一个具有光谱性窄带光源的积分球。这些参考标准或样本进行测量 是在一个球面上孔的位置。对面是两个平行样品检测器。当其中一个光源照亮球体， 探测器测量样本光的反射。从这个反射信号，检测反射或吸收率值。为了获得必要的光谱信息，4 个发光二极管，蓝色，绿色，红色和红外波长照亮球体。 反射发光二极管信号使用硅探测器测量。钨卤素超亮电灯结合一个最大灵敏度在1.3μm 的过滤锗探测器使用。 5个不同的光源，alphameter是一种非常稳定但分辨率底的光谱仪类型。它非常适合测 出缓坡谱线，比如典型的太阳能选择性吸收层谱线。Emissiometer K1 发射 emissiometer包括一个积分球，作为热源的发热条和 敏感度在波长范围8μm到14μm的 探测器。从发热条发射出来的辐射是单一分布的积分球，作为一个散辐射源。探测器安 装在一个度角为10°的样品表面。辐射是样本反射测量。2个样本被测信号进行测量校准 在已知的发射率值波长范围内：：一个如玻璃的高发射率样本与一个低发射率样本或接 近样品的发射率进行测量。此仪器为目前全球具有权威测量仪

涂层介电常数测定仪Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。涂层介电常数测定仪本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。涂层介电常数测定仪仪器的技术指标1．Q值测量范围：2～10232．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。4．电容直接测量范围：1～460pF 5．主电容调节范围： 30～500pF 6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 涂层介电常数测定仪性能特点：1. 平板电容器极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极涂层介电常数测定仪维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

全自动涂层测厚仪（PaintChecker automation）是利用光热法测量涂层厚度的一种非破环性、非接触型的测量仪器。符合欧洲标准 DIN EN 15042-2。它适用于测量干、湿膜及粉末的涂层，例如多种基质（如：金属，橡胶或陶瓷）上的有机溶剂涂料、水性涂料、粉末涂料和釉料等。轻巧便捷的手持式探头使从生产源头直接测量成为可能。光学结构设计，允许涂镀生产的现场环境中。附带的工作站软件使用简洁方便，并具有数据储存和报表输出功能。配置清单• 手持激光测量头(包括连接电缆)• 数据处理终端• 电源线和网线• 探头架• 软件(光盘)• 用户手册• 激光参考标准可选附件• 距离限制帽-方便固定• 可调节高度的测量支架• 订制校准曲线• 编程接口进一步产品对于在自动化生产中的应用, 我们建议使用工业型-涂层测厚仪。它装备了功能强大的数据处理终端和工业标准的接口。此外，它拥有一个极至的光学传感器，通过标准化夹具可以将它很容易的集成到生产线上。 测量探头手持式的铝制测量激光探头内含对人眼安全的激光和数据采集装置；它同数据处理终端间由 2 米长的数据传输电缆连接。 测量厚度范围0- 300μm(金属基体)*测量光斑大小?= 0.5mm0- 60μm(非金属基体)*重复率最大 1 Hz *测量时间8 - 512 ms *激光等级1M激光功率最大 0,5 W激光模式脉冲分辨率约 3%的实际测量**准确度约 5%的实际测量**测量距离16 毫米距离公差±1 毫米角度公差±15°尺寸L = 110 毫米,?= 25 毫米重量约 100 克(*)取决于涂层厚度/参数集(* *)取决于涂层/基体 数据处理终端数据处理终端包含铝制的外壳、测量探头控制及数据评估处理软件单元和数据存储单元。数据处理终端与电脑进行通讯连接，通过电脑的预置软件可以全程控制测量并查阅和存储测量数据。 电压/功率230V AC, 50Hz, max.40W接口以太网 10 兆位/秒 (RJ45)维长x宽x高 = 227 x 267 x 100 mm重量2.2kg

目前，测量金属基材的涂层厚度是比较容易实现的，通常采用磁感应、涡流法等传统接触式测厚方法，但对测量精度和测试部位具有较高要求的行业是有局限性的，如边缘或曲面会造成磁感应线变形，导致测量数据不准确；而对于非金属基材涂层厚度测量，如玻璃、碳纤维、橡胶等，则需要采用超声波、β射线、显微镜等测厚方法，但这些方法部分具有需要更换测试探头、测试时间长、存在辐射危害、测试成本高等缺点。其中，非接触测量玻璃上的涂层厚度逐渐成为了众多前沿领域的重点推进方向，如汽车整车及零部件、食品包装、航天航空、新能源等行业。涂魔师在线/离线无接触无损涂层测厚仪利用基材与涂层之间的储热系数，能精准非接触测量玻璃基材上喷涂的涂层厚度，在涂层未烘干的湿膜状态下即可实时得出干膜厚度，为操作人员精确控制膜厚提供可靠的数据支撑，使工件在进入烘箱前就能快速监测真实膜厚，通过及时调整设备参数使膜厚达到合格范围，高效缩短工艺时间和降低返工率。对比过往玻璃基材涂层厚度测量方法的不足之处，涂魔师在线/离线无接触无损涂层测厚仪具有以下优势：1. 采用非接触和无损测厚方式；2. 测试操作简单，测试时间只需0.5秒；3. 除了玻璃基材外，适用于所有基材材质（金属、碳纤维、木材、橡胶等）和涂层类型（粉末涂料、油漆、达克罗涂层等），无需更换测量探头，一机通用；4. 无须严格要求测量工件形状、涂层颜色、测量角度和距离，对于边缘、曲面等部位也能精准测厚；5. 提供便携手持式和在线式多款机型，满足在生产线上不间断测厚，数据实时存档与反馈，有利于提高产品喷涂质量；6. 采用氙灯安全光源，对工件和操作人员不存在任何安全危害；涂魔师在线/离线无接触无损涂层测厚仪应用玻璃酒瓶上水性涂料膜厚测量，验证测量重复性；测量数据：测量前使用10微米真实膜厚对涂魔师进行校正；A.白色水性涂料B.红色水性涂料 综述， 涂魔师能精准无损测量玻璃基材上的涂层厚度，为生产厂家提供可靠详细的膜厚测量数据，生产厂家通过对膜厚数据进行采集与分析异常膜厚数据，快速判断是原料还是喷涂设备出现问题，可以对生产线进行闭环或开环控制，从而提高喷涂工艺稳定性，有效减少产品质量缺陷，最终协助厂家进行来料检验、对比产品质差异等重点环节 。翁开尔是涂魔师中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询更多关于涂魔师在线/离线非接触无损测厚仪产品信息、技术应用和客户案例。

产品概念：TC-4509直角探头涂层测厚仪是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。本仪器符合以下标准：GB/T 4956─2003 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式。应用范围：TC-4509直角探头涂层测厚仪本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。功能特点：●采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 ●可使用多种测头(F1、F1/90°F10、N1) ●具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B) ●设有五个统计量:平均值 (MEAN)、最大值 (MAX)、最小值 (MIN)、测试次数(NO.)标准偏差(S.DEV) ●可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 ●具有存贮功能:可存贮 500 个测量值 ●具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；●可设置限界:对限界外的测量值能自动报警 ●具有电源欠压指示功能；●操作过程有蜂鸣声提示；●具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；●设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式 技术参数：技术参数产品型号TC4501TC4502TC4506TC4509TC4510测头型号F1N1FN1F1/90F10工作原理磁感应涡流磁感应+涡流磁感应磁感应基体磁性金属非磁性金属F:磁性金属 N:非磁性金属磁性金属磁性金属覆盖层非磁性非导电覆盖层F:非磁性 N:非导电覆盖层非磁性非磁性测量范围（μm）0-12500-1250F:0-1250 N:0-12500-12500-10000低限分辨率（μm）0.10.10.10.110示值误差 （μm）一点校准±(3%H+1)±(3%H+1.5)±(3%H+1.5)±(3%H+1)±(3%H+10)二点校准±((1～3)% H+1)±((1～3)% H+1.5)±((1～3)% H+1.5)±((1～3)% H+1)±((1～3)% H+10)测试条件 （mm）最小曲率半径1.531.51.5/平直10最小面积直径Φ7Φ5Φ5Φ7Φ40基体临界厚度0.50.3F:0.5 N:0.30.52标准配置主机,探头，基体，标准片，2节5号电池、仪器箱、说明书、质保卡和合格证。