涂镀层厚量仪

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）

概述云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪主要功能● 可使用各种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)进行测量；● 三种校准方法：一点校准、二点校准、基本校准；● 显示分辨率：0.1μm (1250um以下，1250um以上是1um)； ● 最小测量面积：最小测量面积：10*8mm；● 最小曲率：凸5mm，凹25mm；● 设有四个统计功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、测量次数（No）● 设五个统计量，存储800个数据。技术参数项目LT100-3使用环境温度0～40℃电源5V电池外型尺寸150×80×30mm重量300g测量范围F1、N1、F1/90F1、N1,0-1250μm。F1/90,0-1250umF400、N4000-400umF3/N30-3000umF100-10000um测量误差F1、N1、F1/90（2%H+1）二点校准精度1％F400、N400（2%H+0.7）二点校准精度1％F10（2%H+10）二点校准精度1％标准配置1、主机 1台2、探头（F1或N1） 1支3、基体 1块4、标准片 5片5、5V碱性电池 2节6、使用说明书 1本可选配1、其他型号探头 选配2、打印机 1台3、通讯电缆 1条4、软件光碟 1张探头参数探头F400F1F1/90F10N400N1测量原理磁性涡流测量范围（μm）0～4000～15000～12500～10mm0～4000～1500测量精度μm一点校准±（1～3％H+0.7）±（3％H+1）±（3％H+10）±（3％H+1）±（3％H+1.5）二点校准±（1～3％H+0.7）±（1～3％H+1）±（1～3％H+10）±（1～3％H+1）±（1～3％H+1.5）低限分辨率0.10.110.10.1最小曲率半径(mm)(凸)11.5平直101.53最小面积直径(mm)¢ 3¢ 7¢ 40¢ 4¢ 5基本临界厚度(mm)0.20.520.30.3探头选择参考基体与覆盖层有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m磁性金属如 铁、钢 等被测面积的直径大于30mmF400 型测头 0～400µ mF1 型测头 0～1500µ mF1 型测头 0～1500µ mF10 型测头 0～10mmF400 型测头 0～400µ mF1 型测头 0～1500µ mF1 型测头 0～1500µ mF10 型测头 0～10mm被测面积的直径小于30mmF400 型测头 0～400µ mF400 型测头 0～400µ mF1 型测头 0～1500µ mF400 型测头 0～400µ mF400 型测头 0～400µ mF1 型测头 0～1500µ m有色金属如铜 、铝 、黄铜 、锌 、锡 等被测面积的直径大于5mmN1 型测头 0～1500µ m仅用于铜上镀铬N1 型测头 0～40µ m非金属基体塑料、印刷线路被测面积的直径大于7mm--CN02 型测头10～200µ m

磁性涂镀层测厚仪采用磁性测量方法，可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。主要功能● 具有两种测量方式：连续测量和单次测量方式；● 具有两种工作方式：直接和成组方式；● 具有自动统计功能：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；● 存储功能：可存4 个校正工件可保存。分2类工件，每类26组，每组15个，共1560个测值；● 删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的数据，以便进行新的测量；● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警；● 具有电源欠压指示功能，操作过程有蜂鸣声提示，自动关机方式。● 金属外壳：机身材质是航空铝金属外壳，防干扰磨损低。技术参数项目Leeb 230测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AA型碱性电池1.5V两节外形尺寸130×70×25mm（主机）重量350g外壳材质金属外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、探头选配标准试片、探头、pc通讯符合标准1、GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度测量 磁性方法2、GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量 涡流方法3、JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪4、JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》5、JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》技术参数项目Leeb 230测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AA型碱性电池1.5V两节外形尺寸130×70×25mm（主机）重量350g外壳材质金属外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、探头选配标准试片、探头、pc通讯

概述　　双用涂镀层测厚仪采用磁性和电涡流两种测量方法，可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。　　涂层测厚仪应用在电镀、防腐、航天、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。它是检测行业重要的仪器。　　双用涂镀层测厚仪主要功能　　● 具有两种测量方式：连续测量和单次测量方式 　　● 具有两种工作方式：直接和成组方式 　　● 具有自动统计功能：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV) 　　● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 　　● 存储功能：可存4 个校正工件可保存。分2类工件，每类26组，每组15个，共1560个测值 　　● 删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的数据，以便进行新的测量 　　● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警 　　● 具有电源欠压指示功能，操作过程有蜂鸣声提示，自动关机方式。

FMP10—FMP40 系列手持式涂镀层厚度测量设备可提供精确的测量结果，多种测量技术使其具有高度的灵活性。包括采用磁感应测量 (DELTASCOPE)、电涡流测量 (ISOSCOPE) 或同时结合两种方法 (DUALSCOPE) 的多种型号。通过为这些仪器配备不同的探头，您可以为几乎所有测量任务快速创建相应的解决方案。特性：可更换的探头可为各种测量任务提供灵活选择高效的测量；充足的内存，可用于数千个应用，以及多种统计与显示功能测量符合标准，具有适用于 IMO PSPC、SSPC-PA2、QUALANOD 或 QUALICOAT 的特殊模式应用：DELTASCOPE 用于钢和铁上的涂镀层ISOSCOPE 用于铝和其他非铁磁性金属上的涂镀层DUALSCOPE 具有自动底材识别并兼具两种测量方法（磁感应和涡流）；DUALSCOPE 可测量铁/钢或非铁磁性金属以及非导电底材上的多种涂镀层非铁磁性金属、铁或钢上的微米级涂镀层使用非铁磁性金属制成的厚涂层或钢上的保护涂镀层

HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪 快速、准确地分析纳米级镀层FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。FT160 的多毛细管光学元件可以测量小于 50 μm 的特征上的纳米级镀层，先进的检测器技术可为您提供高精度，同时保持较短的测量时间。其他功能，例如大样品台、宽样品舱门、高清样品摄像头和坚固的观察窗，可以轻松装载不同尺寸的物品并在大型基板上找到感兴趣的区域。该分析仪易于使用，与您的 QA / QC 流程无缝集成，在问题危机发生前提醒您。HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪产品亮点FT160 的光学和检测器技术专为微光斑和超薄镀层分析而设计，针对细小的特征进行了优化。用于从安全距离查看分析的大观察窗测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测用于快速样品设置的自动特征定位为您的应用优化的分析仪配置选择在小于 50 μm 的特征上测量纳米级镀层将传统仪器的分析通量提高一倍可容纳各种形状的大型样品专为长期生产使用的耐用设计HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪产品对比FT160FT160LFT160S元素范围Al – UAl – UAl – U探测器硅漂移探测器 (SDD)硅漂移探测器 (SDD)硅漂移探测器 (SDD)X射线管阳极W 或 MoW 或 MoW 或 Mo光圈多毛细管聚焦多毛细管聚焦多毛细管聚焦孔径大小30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）XY轴样品台行程400 x 300 mm300 x 300 mm300 x 260 mm样品尺寸上限400 x 300 x 100 mm600 x 600 x 20 mm300 x 245 x 80 mm样品聚焦聚焦激光和自动聚焦聚焦激光和自动聚焦聚焦激光和自动聚焦测试点识别???软件XRF ControllerXRF ControllerXRF Controller

功能特点：◆用途广泛的镀层厚度测量仪，包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。◆通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50nmAu或100μmSn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.◆配有的微聚焦管，可以测量100μm大小的微小测量点。◆比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率。◆从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。◆底部C型开槽的大容量测量舱。典型应用领域：◆测量线路板工业中Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB中的镀层◆电子行业中接插件和触点上的镀层◆装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS◆电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe◆珠宝和钟表工业。◆测量电镀液中金属成分含量，例如金层测厚、银层测厚。

FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层产品介绍： FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层在涂层厚度测量方面获得最大的灵活性，同时满足最高的精度和准确度要求：它们将磁感应测量法和涡流测试法结合在一个仪器中，所以你可以在不更换仪器的情况下测量钢铁和有色金属上的涂层厚度。DUALSCOPE H FMP150还有磁性方法，这允许你测量有色金属或绝缘体上的镀镍厚度。 FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层是质量保证中zuixian进的测厚仪。例如，您可以使用这些手持仪器来测量漆膜厚度。您甚至可以轻松而精确地测量CDC涂层。这些仪器配有触摸屏和Windows&trade CE操作系统，操作速度快且直观。由于内存大，它们可以处理数千个测量任务的数千个测量值。 各种统计和分析函数可用于评价测量结果。它们的另一个优势是我们的专li工厂诊断图(FDD)，该评估选项使过程可视化，并提供了生产变量(如厚度)分布的图形概述。产品特征：探头种类很多，包括许多特殊的探头，用于精确执行各种厚度测量任务根据DIN EN ISO 2178的磁感应测量方法和根据DIN EN ISO 2360的涡流测量方法，具有最大的灵活性；DUALSCOPE H FMP150还有磁性测量方法涂层厚度测量规范包括 IMO PSPC, SSPC-PA2, QUALANOD或QUALICOAT自动识别探头和基材在高分辨率的图形触摸屏上详细显示测量模式和检验计划广泛的评估和统计功能，支持图形显示选项大内存，可用于数千个不同校准的测量应用程序Windows CE操作系统通过图形用户界面和用户定义的文件和文件夹结构，用户可以直观地操作可选：Fischer数据中心软件可创建单独的检验计划USB接口可连接PC和打印机产品应用：应用磁性钢铁上的非磁性涂镀层 非磁性金属上的绝缘涂层钢铁上的双涂层(油漆/热浸镀锌涂层)(重防腐行业，Zn70微米)，其中油漆和锌层是同时测量和分别显示的DUALSCOPE H FMP150：钢铁表面的厚金属镀层和保护性涂层；有色金属或绝缘材料上的镀镍层技术参数：DUALSCOPE FMP100非铁金属上的油漆、阳极氧化层、瓷漆或塑料涂层铝上的阳极氧化层钢或铁上的仪器、 瓷漆或塑料涂层钢或铁上的非铁金属镀层数据储存统计计算打印口/RS232 接口USB interface无线传输可更换插入式智慧型探头测量范围（μm） [mils]FD10双功能探头测量参数：磁感应：测量范围：0～1500μΜ（0～60 mils）测量精度：0～50 μΜ：0.2 μΜ 50～1500μΜ： 1 ％。涡 流：测量范围：0～1200μΜ（0～48 mils）测量精度：0～100 μΜ：0.5 μΜ，100～1200μΜ： 0.5 ％电源：交流电或电池重量[g]：395规格:（170 x 89 x 40）

金属镀层测厚仪镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。本产品适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。 技术特征 微电脑控制、LCD液晶显示、PVC操作面板，方便用户快速、直观的查看检测数据和结果 配置微型打印机，快速打印方块电阻值、厚度值、均匀度 数据实时显示电阻值、厚度值 试验结果记忆功能,方便用户查询 温度显示功能 高精度接触式测量 试验步骤1.将金属镀层测量仪与试样放置在GB2918规定的23±2℃.，45%-55%RH环境中放置4h后测量。2.每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。3.将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。4.每次测量前仪器必须校零。5.测量试样的电阻值。测试的实验结果自动显示打印金属镀层的方块电阻、金属镀层厚度和均匀度。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T 15717 产品配置 主机、微型打印机金属镀层测厚仪 此为广告

涂镀层测厚仪 TM-3基本介绍 TM-3涂镀层测厚仪 是使用涡流法来实现涂镀层的厚度测量。该设备主要用于局部测量电镀涂层的厚度，例如钢上的锌，镉或铬，以及钛等上的银或铜等。该设备具有10000点的测量记录点，用于连接PC的USB接口，结果的选择平均模式以及从设备的键盘和个人计算机编程多达25个近似标度的可能性。此外，该涂镀层测厚仪还提供专门的转换器，可以测量一般测厚仪难以测量的物件（测量孔，管等）。 性能特点 能够记录多达25个近似标度；可调节屏幕背光；选择性平均模式自动报警信号系统（ASB）；电源：内置电池；自动关闭模式；订购不同配置的转换器的可能性；技术参数测量厚度范围：　从0到100um（铁磁或非铁磁基底上，取决于型号）读数精度： 1，0.1,0.01 - 在编程时设置测量误差：　在读数的3％以内屏幕类型：　图形LCD，可调节背光和对比度屏幕尺寸（高x宽）： 21 x 56mm记忆结果: 10,000个结果与PC通信: USB接口电源： 内置电池2000 mAh，2.4V工作时间：　不少于15个小时自动关机：　在90秒内工作温度范围：从-10 C到+50 C.电子单元的尺寸（高x宽x高）： 170mm x 80mm x 40mm转换器的尺寸（长x高）: 11mm x 60mm　重量: 230g 我司为俄罗斯KROPUS的所有产品在大中华地区的总代理。

涂层镀层检测仪 天研 电泳层膜厚仪是一款测量磁性金属材料表面涂镀层覆盖层物体厚度的专业无损检测仪器。采用磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如：钢、铁)上非磁性覆层的厚度(镀锌、铬、锢、珐琅、橡胶、粉末、油漆、电泳、搪瓷、喷塑、涂料、防腐防火涂层等)，本仪器结构精密牢固，重复性好，性能犹佳，使用简单，携带便捷。　　应用领域:广泛地应用于涂装行业、制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。　　涂层镀层检测仪 天研 电泳层膜厚仪仪器特点　　l 操作简单，测试速度快，灵敏度好，测量精度高　　l 采用合金探头，坚硬耐用，精准　　l 具有两种测量方式：连续测量和单次测量　　l 设有四个统计功能：最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)　　l 大容量存储，可分10组存储，每组200个，共可存贮2000个数据　　l 存储数据存看删除功能　　l 三种校准方式：零点校准、两点校准、多点校准　　l 上下限报警功能(单次测量模式下可设置)　　l 操作过程有蜂鸣声标示(单次测量模式下)　　l 自动识别铁基和非铁基底材　　l 公英制转换μm/Mil　　l 阳光模式(强光下使用)　　l 中英文双语言版本　　l 2.3寸大彩屏大字号显示　　l 手动/自动关机功能　　技术参数　　A、测量范围：0-6000μm　　B、使用环境：温度：0℃-60℃,湿度：20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用　　C、最薄基体：0.4mm　　D、测量精度：±3%H+2μm　　E、分辨率：0.1μm /1μm(100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm)　　F、最小基体面积Φ16mm　　G、最小曲率：凸5mm 凹25mm　　H、外形尺寸：130mm*70mm*24mm　　I、重量：100g　　J、电源：三节(7号)碱性电池

菲希尔金镍测厚仪，无损多层镀层测厚仪金镍测厚仪用途 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，最多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 金镍测厚仪特点：1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。

1.北京中瑞体式涂镀层测厚仪Z28334产品介绍Z28334体式涂镀层测厚仪采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)。 Z28334体式涂镀层测厚仪广泛应用于机械、汽车、船、石油、化、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。Z28334体式涂镀层测厚仪产品概述： Z28334体式涂镀层测厚仪采用内置探头体化设计、抗干扰术、数字显示，具备机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点；且具有自动关机、欠电示、统计、系统/零点/两点校准能。它能快速、无损伤、密地行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于程现场。该仪器广泛应用于机械、汽车、船、石油、化、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。 Z28334体式涂镀层测厚仪测量原理：Z28334型涂（镀）层测厚仪采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)。 ◆磁性法(内置F型测头)：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可确测量出覆盖层的厚度。 符合标准：GB/T 4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法JB/T 8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889─95《磁阻法测厚仪》 Z28334体式涂镀层测厚仪产品特点：◆产品设计：内置探头的体化设计，重量仅为98g，真正意义的便携◆显示方式：4位液晶数字显示◆统计能：设有三个统计量（平均值、大值、小值◆校准能：可行零点校准、两点校准及系统校准◆电量提醒：具有欠压显示能（右上角显示＂ ＂） ◆蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示 ◆关机方式：具有自动关机和手动关机两种方式 术参数 量范围： 0~1250um测量误差： ±［(1～3)%H+1］小示值： 1um电源： 两节1.5v电池耗： 大耗98mw基体小厚度： 0.5mm 基体小平面的直径： 7mm小曲率半径： 凸:1.5mm凹:6mm外形尺寸： 114mm*44mm*24mm重量： 98g（含电池）使用环境： 温度0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90% 2.脉冲限幅器 型号；Z21220 ．概述 Z21220脉冲限幅器是为EMC测试中连接于人电源网络与频谱接收机之间而设计的保护装置，可有效的抑制率信号入测量设备前级烧毁敏感器件。 2．性能标2.1 作频率：9kHz～1GHz；2.2 输入率：30dBm；2.3 插入损耗：10dB±0.5dB2.4 限幅电平：13dBm；2.5 端口驻波：1.4；2.6 外形结构：IN N(F)，OUT N(M) 3.便携式环境级x、γ辐射剂量率仪 型号：Z29036简介Z29036是监测各种放射性作场所х、γ辐射源产生的环境水平比释动能（吸收剂量）率的辐射探测仪器。它兼顾灵敏度和量程辐射探测的需求，采用大体积NaI探测器和能量补偿型GM探测器。仪器采用主机和探头分体设计，主机和探头之间支持有线和无线连接，主机可以立使用并可以连接多种辐射探头，满足各种复杂的环境需求。仪器采用容量内置锂电池，让用户不担心仪器供电问题。应用场合 可应用于：环保环境辐射本底检测、放射性疗设备射线检测、无损探伤设备射线检测、核电站外围环境本底测量、辐照设备周边环境射线检测、出入境检验检疫、辐射安检查及核反恐等场合；能特点1. 采用双探测器，兼具灵敏度和大量程特性。2. 本底自动扣除术，开机自动更新本底。3. 支持谱分析能。 4. 传感器支持自动刻度，自动标定能。 5. 峰值捕捉能，自动捕捉辐射峰值发生的时间，并能将次发生时间以快照形式展现于主机显示屏上。6. 实时辐射剂量率显示，自动累积剂量存储。 7. 报警阀值可意调整，支持剂量率报警、累积剂量报警。 8. 实时测量值与报警阈值在同坐标图表中显示，直观易读。 9. 报警方式：声、光、振动，且可以意组合。 10. 报警类型：支持阈值报警、探测器阻塞报警、探测器失效报警、人核素报警、电池欠压报警。11. 低耗设计，整机支持次充满电后，72小时连续使用。 12. 可查看报警记录，且掉电不丢失。 13. 点阵式液晶显示，操作界面简洁直观。 14. 自动背光能，随着环境光减弱，自动增强显示背光。 15. 仪器内置大容量存储器，可以用于存储测量记录、报警记录，且掉电不丢失。 16. 仪器内置立的日历时间，仪器掉电时间可正常运行。 17. 主机和探头可分别立运行。 18. 主机和探头可以支持有线和无线连接。 19. 仪器采用Micro-USB接口，兼容安手机充电器，充电资源随手可得。 20. 硅胶物理按键，手感舒适，触感良好。 21. 数据导出：支持USB数据导出。 22. 网络接口：支持以太网数据接口。 4.海水比色计/21色水色计/色度计 型号:Z26470该海水比色计适用于水质检测的科学调查中，它与透明度盘起使用可以快速定性的读出检测水层的水质情况及所在位置大致水深。 深术标：海水水色计共分为21种标准水色，可涵盖多数水质的颜色特征透明度盘分为三种颜色，分别为红、蓝、白。 5.亮点闪烁仪 闪烁仪 闪光融合频率计 型号：Z23632个频率较低的闪光刺激所产生的忽明忽暗的感觉为光的闪烁，随着闪光频率的不断增加，闪烁感觉逐渐消失，演变成个稳定的光。我们称，闪烁的频 率或形成稳定光的低频率为闪烁临界频率（融合临界频率）临界频率的低目前已成为检测人的注意程度及疲劳等的主要标，HAD-EP403亮点闪烁仪就是根据该 原理所设计的实验仪器它能确直观地测出临界频率。1、闪烁频率可调范围8.0HZ－60.0HZ2、闪烁频率显示度≤±0.1HZ3、亮点颜色选择三种红，绿，黄4、电源220V≤22VAC50HZ5、耗小于5W6、环境温度0－40℃7、仪器尺寸8cm×宽20cm×深17cm遮光罩6cm×15cm×20cm（观察窗）8、质量1kg组成分：慢可调频率发生器；亮点颜色选择和遮光观察窗；频率显示分取样速度1次/S 6.注意力集中能力测定仪 型号；Z23207注意力集中是注意能较长时间集中于定的对象，而没有松驰或分散的现象。本仪器可测定被试的注意集中能力，并可作为视觉—动觉协调能力的测试与训练仪器。 仪器由个可换不同测试板的转盘及控制、记时、记数系统组成。转盘转动使测试板透明图案产生运动光斑，用测试棒追踪光斑，注意力集中能力的不同量将反应在追踪正确的时间及出错次数上。主要术标： 1. 定时时间：1～9999秒； 2. 正确、失败时间：范围 0～9999.999秒，度 1 ms 3. 大失败次数：999次 4. 测试盘转速：10，20，30，40，50，60，70，80，90转/分 九档 5. 测试盘转向：顺时针或逆时针 6. 测试棒：Ｌ形，光接收型 7. 测试板：3块可方便调换，图案为圆点、等腰三角形、正方形 8. 干扰源：喇叭或耳机噪音，音量可调 9. 箱内光源：环形日光灯，22W 10. 外形尺寸：320×320×140 mm 11. 选购微型打印机：输出实验数据，可打印实验条件，正确、失败时间(0.001秒位)，失败次数。 7.粉末冶金密度天平 粉末冶金密度测试仪 型号：Z28821 Z28821适用于粉末冶金行业 齿轮件 异形件 生胚 熟胚 不规格的零件都可以快速测量 以下两款粉末冶金密度天平 属于快速测量粉末冶金零件密度天平 只需要几秒钟就可以测量出产品密度 测量产品重量建议5克以上 如果轻 请购买度的产品也可以测量粉末冶金含油率Z28821原理：根据ASTM B311、B328；MPIF Standard 42、57；JIS Z2505、 Z2506；GB/T5163可适用于封蜡法、真空饱和法量测，采用阿基米德原理浮力法，准确直读量测数值。 Z28821术参数：秤重范围： 0.005g~ 300g比重度： 0.001 g/cm3测量时间： 约10秒测量能： 视密度 体积密度 含油率Z28821备注：如果有需要更大量程，我司提供1kg、2kg、3kg… 10kg。标配水槽尺寸：22*18*14cm，可定制更大测量尺寸。Z28821能特点及装置：1、无需何人计算，自动测量数据。 操作方面简单； 2、支持键自动清零、扣除辅助配件重量的操作；3、台设可以成7种数据测量4、采用镀金陶瓷传感器，具有耐腐蚀 寿命长 故障率低等特点5、采用体成形的透明测量水槽，体成型水槽尺寸:(165*115*856)mm6、采用轻质、细条、不锈钢吊栏线设计，可大降低因吊栏线浮力所成的误差；7、设备外观尺寸 (27*27*27)mm 净重 4.5kg8、具有RS-232标准接口，可轻易的将本比重计与电脑和打印机相连接①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤说明书、⑥砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件套、⑨测浮体配件套、⑩电源变压器个 含油率体积密度测量步骤： ①将未含油产品品放入测量台，测空气中重量，按M键记忆。②将产品拿到真空机含油，测含油零件空气中重量，，按M键记忆。③将含油样品放入介质中，按M键记忆，直接显示含油率及体积密度值。 生胚密度测量步骤：①将样品放入测量台，测空气中重量，按M键记忆。②将样品浸入介质中，测介质中重量，按M键记忆，直接显示密度值。 8.数字照度计 型号：Z29237 Z29237产品介绍Z29237照度计是种专门测量光度、亮度的仪器仪表。应用于电光源、科研教学、冶金建筑、业检测，以及农业科研、光照控制等域。 Z29237产品概况产品详情产品配件 数字显示，无读数误差。 传感器与显示表分离，便于使用。 多种单位测量：Lux 和 FC。 性能可靠，持久耐用。 具有大值保持能。 具有低电池电压示能。 采用经久耐用的优选电子元件，外壳采用重量轻而坚硬的 ABS 塑料。 结构紧凑，便于携带。 应用范围广。可广泛用于农业、业、建筑、环卫、科研等域。 Z29237术参数 显示器 4 位 10 mm 液晶显示屏 测量单位 勒克斯（Lux） 尺烛光（FC） 测量范围 0 ~ 50,000 Lux，3 量程 0 ~ 5,000 FC 大值保持能 电池电压示 低电压提示 作条件 温度：0 ~ 50 °C（32 ~ 122 °F） 湿度： 80 %RH 电源 4 节 7 号电池 尺寸 主机尺寸：132 x 64 x 30 mm 传感器尺寸：96 x 58 x 16 mm 重量 280 g （包括电池） 范围 分辨率 准确度（23 ± 5 °C） 0 ~ 1,999 Lux 1 Lux ± ( 5% n + 5 d ) 2,000 ~ 19,000 Lux 10 Lux ± ( 5% n + 5 d ) 20,000 ~ 50,000 Lux 100 Lux ± ( 5% n + 5 d ) 0 ~ 5,000 FC 1 FC ± ( 5% n + 5 d ) 9.PH计/PH分析仪 型号：Z9626 能特点：　　外箱设计，防水及防酸气效果佳，防日晒透明前盖，方便读值；二组 ON/OFF 控制， STDBY 能键，方便校正及保养，避免控制误动作；可配合 PH-300T 传送器使用，做低阻抗信号传送，具低干扰及长距离信号传输能；适合恶劣环境、现场制程、废水处理及酦酵槽使用。术参数：测试范围： 0.00~14.00 pH 、 ±1999 mV 。 确 度： 0.01 pH ±1 digit 、 0.1% ±1 digit 。温度补偿： 固定电阻或 NTC 温度探棒自动补偿。显 示 幕： 0.8 吋大型液晶显示，具能显示。校　　正： 二点校正。控制方式： Hi / Lo 。信号输出： 隔离式 DC 4~20 mA 输出，大负载 500Ω 。电压输出： DC ±12 V 输出，提供 PH-300T 传送器电源使用。电　　源： 110 / 220 VAC ±15 % ， 50/60 Hz 。挖孔尺寸： 135(H) x 135(W) x 195(D) mm 。 10.皮脂厚度计/皮褶厚度计 型号:Z23660 人体的脂肪大约有2/3贮存在皮下组织，通过测量皮下脂肪的厚度，不仅可以了解皮下脂肪的厚度，判断人的肥瘦情况，而且还可以用所测得的皮脂肪厚度推测身的脂肪的数量，来评价人身组成的比例。这是评定人身组成简便的方法。 现将仿日本荣研式改良型产皮下脂肪测量计 肥胖，对人体有百害而无益，如何掌握肥胖与否？以前，有人认为体重是判定肥瘦标准。不然，更重要的是测定体内脂肪含量，即看脂肪点体重的百分比。测定脂肪含量的方法很多，但至今内尚无规范的测量仪器。“皮脂厚度计”的推出，理想地解决了这难题。利用该仪器对人体活体测量所得的各种数据，直接代入计算公式，而轻而易举的推算出人体密度，体脂百分比和体脂重量，从而正确地确定肥胖与瘦，为调整体质提供科学合理的依据。人体的脂肪大约有2/3贮存在皮下组织，通过测量皮下脂肪的厚度，不仅然可以了解、皮下脂肪的厚度，判断人的肥瘦情况，而且还可以用所没、测得的皮脂厚度推测身的脂肪的数量，来评价人身组成的比例。这是评定人身组成简便的方法。现将产皮下脂肪测量计算方法介绍如下：、产皮脂厚度计各名称。二、仪器的调整--使用前须将圆盘内针调整到刻度表上的“0”位。调整方法：用手转动调整“0”位盘即可将针对准到“0”位。三、校正压力--针调到“0”位后，须将皮脂厚度计两个接点间的压力调节到际规定的10g/mm2的范围。左手持皮脂厚度计呈水平位置，在皮脂计的下方测试臂端的小孔上挂200g重量的砝码。再将皮脂下主弓形臂的根与该臂端的接点呈水平线，此时观察圆盘内针偏离情况。如针处在15-25mm范围内说明两接点的压力符合10g/mm2的要求，无须调节旋扭。如果针出25mm以上，说明压力接点压力不足。须通过向左侧方向转动旋扭增加压力，直接针调到15-25mm范围内为止。反之，则调节旋扭向右转动减少压力调节到针在规定范围内。针的±5mm的差异不会影响测定结果。四、测试程序：1、受试者应着背心裤衩或短裤。2、实验者右手握皮脂计使两半形测试臂张开。左手拇和食将受试都所测位的皮肤捏紧提起。拇食捏起时，拇食间应保持适当的距离，这样捏紧提起皮肤既包括皮下组织，但要防止将所在位的肌肉也、提起。为检查是否将肌肉提起可令受试者主动收缩该位肌肉。止时肌肉即滑脱。 然后将张开的皮脂计距离手捏起位1cm处钳入。右手将皮脂计的把柄放开，读出针的数值并记录下来。每个位应重复测量两次，二者所测的数值误差不应过5%。3、测定位：上臂--右臂肩峰至桡骨头连线之中点，即肱三头肌肌腹位。背--右肩胛角下方。 腹--右腹脐旁1cm。除上述位外，根据研究需要还可以测颈、胸、腰、大腿前后侧和小腿腓肠肌位。应当出：用皮脂计所测的皮下脂肪厚度是皮肤和皮下脂肪组织双倍的和。

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

YT-220涂层测厚仪概述分体F1型探头，检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-220涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。主机参数表项目Leeb220测头类型F1工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量200g标准配置主机、标准试片、基体、F1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头产品展示

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

多功能涂镀层测厚仪FischerScope MMSFISCHERSCOPE-MMS PC2 台式涂镀层测厚仪|德国菲希尔fischer台式涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE MMS PC2简介:高级台式设备，用于通用的涂层厚度测量和材料测试，具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口典型应用领域:电镀层以及钢铁上的涂料制造。 铝上的阳极氧化膜（PERMASCOPE模块）纳米涂层（防指纹）、太阳能电池涂层（玻璃上的CdTe镀层）、接插件上的金镀层、焊盘上的铅锡合金镀层以及、光阻层、油和蜡涂层（BETASCOPE模块）测量线路板上的面铜和孔铜（SIGMASCOPE模块）测量薄板或多层线路板表面铜层厚度，不会受反面铜层影响（SR-SCOPE模块）印刷线路板生产中铜上的阻焊层厚度（PERMASCOPE模块）汽车工业中活塞表面的石墨涂层或制动盘上的防腐涂层（PERMASCOPE模块）汽车行业中活塞表面的含铁涂层（NICKELSCOPE模块）奥氏体钢或双相钢中的铁素体含量（PERMASCOPE模块）非铁磁性金属，如铜、铝、钛的电导率（SIGMASCOPE模块）特点:只需使用一台仪器就可以完成涂镀层厚度测量以及材料测试！坚实且极为通用的台式多功能测量系统，具有保存数据和处理测量数据的功能.便于用户操作的宽大高分辨率 LCD 触摸屏，基于Windows CE设计。.众多不同的嵌入式测量模块，可进行大量不同的设备配置以满足客户要求。 模块化设计允许在任何时候进行仪器升级。根据应用可以安装相似或不同的测量模块嵌入式模块 BETASCOPE SIGMASCOPE PHASCOPE DUPLEX NICKELSCOPE SR-SCOPE 和 PERMASCOPE采用了各种物理测试原理，详情参见产品说明.可连接多达八个测量探头各种不同的探头，用于被测样品不同的几何形状和厚度范围随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter，其拥有以下功能：传输保存测量值，全面的统计性和图形化评估，轻松生成并打印检验报告无锡骏展仪器有限责任公司为客户提供方守合同、快速售前(演示设备、引进更新技术)销售(选购、满足客户对客户的要求)、售后服务、设备维修、维修问题等)当客户需要时，我们专业的工作人员可以到客户现场，提供急需的服务。

CEM DT-157/157H集磁性和非磁性自动转换测量于一体，是CEM设计、研发和推出的高精度、快速反应、多功能的涂镀层测厚仪，带蓝牙和智能APP，准确、快速等测量质量。

YT-211涂层测厚仪概述无接口涡流探头，检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-211涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。技术参数项目Leeb211测头类型N1 （不可拔插）工作原理涡流感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量150g标准配置主机、标准试片、基体、N1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头产品展示

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

仪器简介：适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于：单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度 和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标，用于快速产品选择。完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数：1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从上至下；3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.标准视准器组：圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm；5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门；7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件；8.电机驱动的144mm（5.7〞）X-射线头部（X-射线管，比例接收器及视准器）的Z轴运行；9.试件查看用彩色摄像机10.测量开始/结束按钮，X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点：FISCHERSCOPE XDLM-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题XDLM的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。与WinFTM V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分， 完美地适用于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

用途： 测量印制电路板上镀层厚度及成分分析的入门级、耐用型测量仪。 典型的应用领域有：1、样品定位简单：① XDLM-PCB 200型：首先PCB板将在仪器集成 的激光点的协助下准确放置于样品台上，然后将样品台如抽屉般推入仪器内部； ②XDLM-PCB210和220：仪器配备了高精度、可编程的XY平台并带有弹出功能；激光点作为辅助定位，能帮助快速对准测量位置； 2、高分辨彩色摄像头，使得对准测量位置的过程更加准确、简便； 3、通过强大且界面友好的WINFTM软件，可在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有 的相关信息的显示等； 4、符合DIN ISO 3497和ASTM B568标准。

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2. 涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3. 厚度检出限：0.005μm4. 成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6. 对焦距离：0-30mm7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9. 仪器重量：45KG10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11. XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

科电检测仪器公司成立于2002年，属于国家认证批准的高新技术企业，是中国铃先的检测仪器生产制造商。公司集研发、生产、销售和服务为一体，专业提供上等的检测仪器与全面的技术解决方案。总部坐落于山东省济宁市，公司厂区占地面积18800多平方米。公司技术力量雄厚，拥有完善的生产工艺、精湛的技术开发及生产实力。科电公司多年来始终坚持“用心制造、成就精品”的产品开发目标，秉承“科学管理、精心制造、优质服务、追求卓越”的质量方针，全面建立质量管理体系，经过10年的不懈努力，目前已发展壮大成为资产过亿、员工上百，并拥有3家控股公司及多家办事处的企业，产品涉及超声检测、涂装检测、埋地管线检测、红外检测、气体检测等多个领域的高科技产业型经济实体。公司目前生产产品有：HCH系列超声波测厚仪、MC系列涂镀层测厚仪、MCW涡流测厚仪、FJ系列埋地管线检测仪、DJ系列电火花检漏仪、TM系列红外线测温仪、YD系列里氏硬度计等。“科技成就未来、用心制造精品”，科电公司将与时俱进，为民族工业品牌走向世界而不懈奋斗！