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在地层深处含有铀、镭、钍的土壤、岩石中。人们可以发现高浓度的氡。这些氡可以通过地层断裂带,进入土壤和大气层。建筑物建在上面,氡就会沿着地的裂缝扩散到室内。从北京地区的地址断裂带上检测表明,三层以下住房室内氡含量较高。[img=多点氡析出率仪,660,550]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606061133_596105_3098478_3.jpg[/img]REM-IV多点[url=http://www.zgfangfuyuan.com/product/cdy/221.html]氡析出率测量仪[/url]是一种可携式表面氡析出率测量仪,由中国辐射防护研究院研发生产,其造型和结构具有典型的优越性,能“实时”“快速”测量介质表面氡的析出水平,可用于地下工程、矿山井下、旅游山洞、核设施场所、尾矿库以及建材、土壤、地面等表面氡析出率测量,是一种寻找氡的来源和氡治理的必备装置。适合于GB50325《民用建筑工程室内环境污染控制规范》要求的土壤表面氡析出率测定,也可在建筑施工或装修前就石材、水泥、涂料等建筑材料进行放射性检测与识别,指导选用优质建材。该仪器2004年已获国家实用新型专利,专利号:ZL200420096051.0。◆ 特点:1.主机、探头、衰变收集室等。2.智能化触摸屏手写与显示:微电脑控制,点阵式液晶显示,中文状态条提示操作及状态。3.可接4个衰变收集室。4.标准RS232/RS485接口:可将采集数据传送给上位机。5.日历时钟功能,工作电源:AC220V交流电源。 ◆ 外接氡析出收集衰变室技术参数:◇ 半导体探测器,灵敏度:1.1×cph/Bq/m3(氡)◇ 探测器前有靠静电作用收集218Po离子的铝膜,采用镶嵌铝膜结构,实现快速测量(高水平环境),普通环境不需要更换铝膜◇ 对239Pu α面源的探测效率:35%(2π)◇ 计数容量99999999,测量范围:5×10-5~102Bq/(m2s)◇ 测量时间:方式2为1~120分内据其氡析出率高低自行设置,方式1为连续测量,可保 存200个历史测量值◇ 具有可改变参数设置,自动显示,可即时给出测量结果等特点◇ 可不使用外置打印机,测量历史值按输出键即可查出◇ 环境温度:-5~40℃ 相对湿度:≤90%◇ 供电电源:AC220V-DC5V与外挂6V蓄电池,配有专门充电器。◇ 尺寸与重量:Ф200*140,1.5Kg更多信息请关注微信号:bjryton技术提供:中国辐射防护研究院联系人:张经理 13720045883来源: http://www.zgfangfuyuan.com/product/cdy/221.html
光学测量仪器的正确使用和良好的维护保养,是保证仪器处于良好运行状态、保持其固有准确度、延长使用寿命的最有效措施。仪器的维护保养,除了避免机械撞击、误操作和保持仪器外表的清洁之外,主要是金属裸露表面的防锈和光学系统的光学元件的防霉、防雾维护。因此应注意以下几点: 1.首先,光学测量仪器应放在清洁干燥的室内,要尽量避免光学零件表面污损、金属零件生锈、尘埃杂物落入运动导轨,因为这样会影响仪器的性能。 2.在使用完毕后,工作面应随时擦拭干净,最好再罩上防尘套。 3.光学测量仪器的传动机构及运动导轨、应定期涂润滑油,使机构运动顺畅,保持良好的使用状态。 4.工作台玻璃及油漆表面脏了,可以用中性清洁剂与清水擦拭干净。 5.光学测量仪器的所有电气接插件、一般不要拔下,如果已经拔掉了,我们就必须按标记正确插回并拧紧螺。
随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。