射线谱仪

岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的完美结合 “The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ，最高水准的EPMA诞生！ [性能特点]● 卓越的空间分辨率电子探针可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm（加速电压30kV），分析条件下No.1的二次电子分辨率。（加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）● 大束流超高灵敏度分析实现3.0μA（加速电压30kV）的最大束流。可超高灵敏度进行超微量元素的面分析。并且全束流范围无需更换物镜光阑。● 高性能X射线谱仪秉承岛津电子探针颇具优势的52.5°X射线取出角。采用4英寸罗兰圆半径的分光晶体兼顾高灵敏度与高分辨率。可同时搭载5通道高性能X射线谱仪。分析性能更胜一筹。● 全部分析操作简单易懂全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式，自动指引直至生成报告。 ◎实现微区超高灵敏度分析的先进技术 1　高亮度肖特基发射体岛津场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大，输出更高。即可以保持其高亮度，还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。 2　 EPMA专用电子光学系统电子光学系统，聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧，交叉点不是靠聚光透镜形成，而是由安装在与物镜光阑相同位置上，具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构，既能获得大束流，同时全部电流条件下设定最合适的打开角度，将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3　超高真空排气系统电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔（orifice）间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小，以控制流入中间室的气体，使电子枪室始终保持着超高真空，确保发射体稳定工作。4　高灵敏度X射线谱仪岛津场发射电子探针最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时，又可减小样品对X射线的吸收，实现高灵敏度的分析。 [应用举例] 1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测：无铅焊锡焊料中Ag与Cu的分布对无铅焊锡焊料中大量含有Ag的区域进行面分析的数据。（加速电压：10kV；照射电流：20nA）Ag的X射线像中颗粒形状与BSE像（COMPO）的颗粒形状一致。直径约0.1μm的Ag颗粒也清晰可辨（红色虚线圈出）。同时可确认Cu颗粒的存在（黄色虚线圈出）。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据 2. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测：生物体组织中的金属元素 以下数据为EPMA捕捉到的肿瘤细胞中铂（Pt）元素图像，通过靶向给药将抗肿瘤药物卡铂（铂络合物）导入小鼠头颈部肿瘤组织中后进行分析检测。卡铂通过与癌细胞内的遗传因子DNA链结合，阻碍DNA的分裂（复制）以杀灭癌细胞，我们可以通过元素图像了解抗癌药物以何种形态进入癌细胞内。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

Octane SDD系列探测器能够以前所未有的速度采集高质量EDS数据。以前，由于高计数率会带来数据质量的损失，SDD技术的速度优势一直没有得到充分实现。现在，由于Octane系列的面世，用户可以高速采集高质量数据，最大限度地发挥他们的材料分析能力。????Octane SDD探测器型号Octane系列包括四个型号以满足显微分析的不同应用需求。Octane Pro — 最适合氧化物、半导体和B-N-C的分析，这些材料需要优秀的分辨率来定量分析轻元素和识别低能X-射线谱线。Octane Plus — 为广泛的应用提供卓越的性能和价值，包括材料科学、金属、聚合物，EDS-EBSD同步分析和3-D EDS。Octane Super — 最适合对空间分辨率具有超高要求的纳米分析和X-射线产生有限的生物材料和其它材料。Octane Ultra — 用于4-D分析，例如原位检测和反应特性，此类应用需要最大化X射线的收集。特点和好处先进的内置FET谱仪设计Mn能量分辨率可达121 eV高速采集时仍能保持优秀的能量分辨率所有计数率下保证数据质量在面分布图速度高达200,000 cps时仍能进行高分辨率的定量分析最先进的脉冲处理器最高的输入计数到存储数据转换效率。以极短时间采集面分布图，提高用户工作效率。TEAM™ 智能软件最优化用户分析时间，获得最佳的样品数据智能诊断和智能采集最优化采集和分析条件。智能脉冲堆积校正最大限度地减少了高计数率采集的影响，使SDD技术得到最大限度的应用。??结论Octane系列充分实现了SDD技术的承诺 — 高计数率下的高质量EDS分析。它具有业界最稳定的分辨率，针对不同的应用进行设计，使用户可以有更多的时间探索材料，更好地认知材料????

??EDAX, X射线能谱仪,能量仪, EDS,扫描电镜,扫描电子显微镜,SEM,透射电镜, 透射电子显微镜, TEM, TEAM, SDD, 硅漂移探测器,Octane SDD, Octane Pro, Octane Plus,Octane Super, Octane Ultra, Apollo XLT SDDDAX是创新材料表征系统的领先供应商，提供能量仪（EDS），电子背散射衍射仪（EBSD），波谱仪（WDS），集成系统（EDS-EBSD，EDS-WDS，和EDS-EBSD-WDS），和微束X射线荧光能谱仪（Micro-XRF）。X射线能谱仪(EDS)——扫描电镜(SEM)用Octane SDD系列探测器能够以前所未有的速度采集高质量EDS(X射线能谱仪)数据。以前，由于高计数率会带来数据质量的损失，SDD(硅漂移探测器, Silicon Drift Detector)技术的速度优势一直没有得到充分实现。现在，由于Octane系列的面世，用户可以高速采集高质量数据，最大限度地发挥他们的材料分析能力。Octane SDD探测器型号Octane系列包括四个型号以满足显微分析的不同应用需求。 Octane Pro: 最适合氧化物、半导体和B-N-C的分析，这些材料需要优秀的分辨率来定量分析轻元素和识别低能X-射线谱线。 Octane Plus: 为广泛的应用提供卓越的性能和价值，包括材料科学、金属、聚合物，EDS-EBSD同步分析和3-D EDS。 Octane Super: 最适合对空间分辨率具有超高要求的纳米分析和X-射线产生有限的生物材料和其它材料。 Octane Ultra: 用于4-D分析，例如原位检测和反应特性，此类应用需要最大化X射线的收集。特点和好处先进的内置FET谱仪设计 Mn能量分辨率可达121 eV高速采集时仍能保持优秀的能量分辨率 所有计数率下保证数据质量 在面分布图速度高达200,000 cps时仍能进行高分辨率的定量分析最先进的脉冲处理器 最高的输入计数到存储数据转换效率。 以极短时间采集面分布图，提高用户工作效率。 TEAM™ 智能软件最优化用户分析时间，获得最佳的样品数据 智能诊断和智能采集最优化采集和分析条件。 智能脉冲堆积校正最大限度地减少了高计数率采集的影响，使SDD技术得到最大限度的应用。结论Octane系列充分实现了SDD技术的承诺 — 高计数率下的高质量EDS分析。它具有业界最稳定的分辨率，针对不同的应用进行设计，使用户可以有更多的时间探索材料，更好地认知材料。 X射线能谱仪(EDS)——透射电镜(TEM)用TEAM™ 透射电镜能谱仪配备了Apollo XLT SDD系列探测器，为透射电镜(TEM)提供终极的分析方案。Apollo XLT SDD系列探测器包括超薄窗口（SUTW）和无窗口（XLTW）两种型号。由于可以完整地传输低能X射线，Apollo XLTW可以为用户提供最佳的轻元素性能。与SUTW探头相比，其轻元素的测量灵敏度提高了500%，重元素的计数率增加了30%，从而大大提高了元素面分布的采集速度，增强了低含量轻元素的检测。特点和好处 所有电子部件均集成在探测器内，方便安装、服务、校准和远程访问 自动校准程序实现快速、可重复、准确设置，校准数据驻留于探测器上，远程访问时无需重新校准 紧凑型的探测器提供了安装的灵活性，适合于各种TEM(透射电镜) 30 mm2 SDD芯片技术，优化了立体角 超薄窗口型和无窗口型探测器均有优秀的轻元素测试性能，C分辨率均优于59 eV Mn的分辨率优于129 eV 直到100 kcps，分辨率稳定性都小于1 eV 峰位偏移直至250 kcps都小于1 eV 放大器时间常数从120 ns到7.65 s可选，便于获得最佳采集效果 高速以太网通信 当背散射电子过量时由马达控制自动缩回 针对TEM薄样品的定量算法Apollo XLT SDD系列探头将数据采集、电子信号处理集成在探头内，取消了单独的数据采集机箱，简化了设备安装。集成的探测器有简洁的外观设计，提高了性能，方便了远程访问，用户可以通过以太网线接入，消除了由传统电缆长度所导致的信号失真和损失。计算机可设置于探测器之外远达100米之处而不影响仪器的性能。智能化是TEAM™ TEM能谱仪的核心。智能化已经植入探测器，为探测器提供最好的保护，防止探测器在有害的条件下工作。当发现高能电子时，探头能够自动缩回至一个安全的位置，而无需用户人工干预，从而确保了探测器的安全运行。当需要进行维护的时候，通过远程登录的能力可实现优越的远程支持。记录在探测器中的工作历史记录也可以远程访问，以便进行快速、准确的评估。TEAM™ 能谱仪具有许多智能功能和现代化的用户界面，可自动简化分析并快速获得结果。不管操作者的技能如何，每次测试均可高效获得一致且准确的测量结果。TEAM™ 能谱仪也可以自动确定样品所含的元素，监视计数率、放大倍率、采集时间以及许多其它用于优化系统性能的工作参数。而交互式审查允许用户在完成分析之前以独特的方式预览结果。结论Apollo XLT SDD系列探测器完全集成了数据采集和电子信号处理设备，采用了TEAM™ 智能软件，是TEM上最直观、最易用的分析工具。该系列的无窗口型产品，进一步提升了采集效率和轻元素分析性能。TEAM™ 智能软件自动化的工作流程，革命性地改变了能谱仪的分析方式。无论使用者的技能水平如何，TEAM™ 每次都能提供卓越的测试结果。Apollo XLT SDD系列探测器结合TEAM™ 智能软件，为用户提供了最先进的TEM能谱仪系统。

地质/环保伽马射线分析仪简介：RT-40代表了便携式伽玛射线谱仪的重大进步，为地球物理和环境应用提供了许多新特性。紧凑的，单手持拿与集成的GPS给用户非常愉快的现场操作体验。高灵敏度探测器与复杂的数学方法相结合，实时提供准确可靠的结果。GT-40和GT-40-S除了探测器的类型外，其他都是相同的。GT-40具有3 × 3”的NaI(Tl)探测器，灵敏度高，分辨率好，可在大多数现场应用中使用。GT-40-S具有2x2“带铅屏蔽的BGO探测器，应用于聚焦测量岩心或地层测量。GT-40可通过内部标定常数计算出K（%）、U（ppm）和Th（ppm）的浓度。测量结束后立即显示结果。它们可以存储在仪器中或通过蓝牙或Wi-Fi发送到外部设备。高灵敏度的集成GPS接收器，可以自动记录位置并存储在每一次测量的数据中。测量也可以通过语音标签记录。存储的语音信息可以通过内置扬声器重复。GT-40由内置充电器的高能可充电锂电池组供电。这允许实际的测量时间高达15小时多功能GeoView软件包提供所有必要的数据下载到电脑里，基于日历的测试结果，频谱视图，数据显示和将测量结果导出到地图软件上（例如谷歌地图）。特点：● 高灵敏度 使用 3”x 3” NaI(Tl)或 2”x 2” 屏蔽的BGO 探测器● 先进的数字信号处理器光谱仪● 自然本底下自动稳定● 大尺寸可读彩色显示器● 直观的用户导航操纵杆● 通过Wi- Fi或蓝牙进行无线通信● 集成GPS和语音记录的实时结果● 坚固的手持式设计应用：● 探测矿物● 油气探测● 地质探测● 地理测绘● K , U, Th 和 Cs--‐137 分析● 探测铀矿● 岩心录井● 环境监测方便携带：技术参数：探测器：GT-40：NaI(Tl), 体积345 cm3, 直径76 x 76 mm (3” x 3”), 双碱 PMTGT-40-S：BGO, 体积104 cm3, 直径51 x 51 mm (2” x 2”), 双碱 PMT，25 mm 厚度的铅屏蔽光谱仪：1024道, 40 MHz DSP，线性能量校正堆积排除器, 200 ns 分辨率显示器：彩色，穿透式, 360 x 240 dots, 72 x 54 mm (3.5”), 太阳下可读控制器：5点式带照明的导航杆声音部件：内置36 mm麦克风数据存储：最少2000个带全光谱，数据位置和语音信息的样本GPS：导航到 –162 dBm and –148 dBm 冷启动通信：数据传输、遥控装置通过： USB 2.0，1.2Class2 ，Wi-Fi 802.11n电源：7.2V/6600 mAh可充电锂电池(松下 CGR18650CG/2S3P) 最少可以操作20小时。外部交流适配器(12V/1A)充电。尺寸：直径120 mm x 420 mm重量：GT-40: 4 kg (8.8 lb)，GT-40-S:9 kg (19.8 lb)标准配置：GT-40 (GT-40-S) 谱 用户手册 交流电源适配器 1.5 米 USB 线 Geoview软件包 (CD) 坚固的Pelican牌储存和运输箱环境：操作温度范围 -10oC to +50oC ，IP-65 级防水防尘 RFI/EMF屏蔽符合FCC(47 CFR part 15)的A级CE认证

PI的X射线相机使用科学级，二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路，多读出口，多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直，聚焦，高速采集等操作；低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。我们的X射线相机具备16位的数模转换电路，工业标准的接口，方便搭建实践平台和OEM扩展。 PIXIS-XB 直接探测型X射线相机低通量的直接探测型X射线相机PIXIS-XB是一款热点制冷，直接探测型X摄像相机。非常适用于~30 eV and ~20 KeV 能量范围的X射线成像成谱。 这系列的相机采用的深耗尽背照式CCD，有1340x400 和 1024x1024格式。 同时也可选前照式，后照式的1340x1300分辨率。一块很薄的铍窗在CCD前保护被密封起来，工作时深度制冷的CCD，同时减少背景中的低能量X射线。 PIXIS-XB相机提供以下优势: • 可探测范围：~3 keV to ~20 keV• 铍窗设计的真空窗口• 灵活的双读出放大器• 高速USB2.0接口• LightField可实现全面的控制 产品综述低通量X射线的高性能相机 全球重要的X射线实验室在他们的实验中都会使用普林斯顿仪器的产品。这款产品适用：低通量X射线成像成谱， X射线光子计数， X射线衍射， X射线谱仪， X射线波动谱仪（XIFS）， X射线光子相干谱仪（XPCS）， X射线刻蚀技术。High resolution 3D image of GaN particle created using coherent x-ray diffraction imaging. Image courtesy of Dr. Kianwei Mia, University of California, Los Angeles. 产品特点可探测范围：~3 keV to ~20 keV: 适合各类应用真空铍窗设计:灵活应用于各类实验环境无需维护灵活的双读出放大器:灵活设置，优化实验最低的读出噪声最高的动态范围最好的线性度高速USB2.0数据接口:任何电脑课直接连接，无需额外硬件即插即用真正的16位数据传输能力，最高可达2MHz读出速度LightField的64-位操作平台:直观易上手的用户界面设计自动背景扣除，平场纠正和误差检测PICAM（64）位通用程序语言，方便的程序修改与编译与LabVIEW，MATLAB，EPICS等第三方软件无缝对接 型号规格PIXIS-XB Direct Detection X-Ray相机型号比较和数据表 ModelImaging ArrayPixel SizeImaging Area (mm)Energy RangePeak AbsorptionLowest CCD Temp400BR 1340 x 40020 x 20 μm26.8 x 8.0~3 keV-20keV75%-90° C1024BR 1024 x 102413 x 13 μm13.31 x 13.31~3 keV-20keV75%-90° C1300R/BR 1340 x 130020 x 20 μm26.8 x 26.0~3 keV-20keV75%-70° C产品应用 Coherent X-Ray DiffractionX-ray diffraction is a technique for studying the characteristics of matter such as macromolecules, crystals, powders, polymers, and fibers.

PI的X射线相机使用科学级，二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路，多读出口，多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直，聚焦，高速采集等操作；低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。我们的X射线相机具备16位的数模转换电路，工业标准的接口，方便搭建实践平台和OEM扩展。 PIXIS-XO 软X射线相机适用于紫外，深紫外的X射线相机高敏感度，热电制冷的PIXIS-XO相机有多款不同的深耗尽式和背照式CCD芯片，用于直接探测 ~30 eV and ~20 KeV 能量范围的X射线。 可旋转型的ConFlat 法兰的高真空设计，可软件选择的增益和读出速度，使得这款相机非常适合各种高真空的应用。 PIXIS-XO具有以下优点:• 多样的芯片选择（1340 x 100 to 2048 x 2048 pixel arrays 13 x 13 μm to 20 x 20 μm pixel sizes）• 可探测范围：30 eV to ~20 keV• 可旋转的CF法兰接口• 灵活的双读出放大器• 高速USB2.0接口• LightField可实现全面的控制 产品综述探测到更多的X射线光子! PIXIS-XO相机致力于提供非常高的直接探测性能，广泛用于X射线谱仪，X射线成像，X射线显微镜，X射线等离子诊断，深紫外刻蚀技术。 伴随着众多可选的CCD格式，100%覆盖率，低噪声电子电路，-70℃ 到 -90℃的热电制冷等，PIXIS-XO为用户提供了方便快捷的实验操作和OEM条件。 产品特点可探测范围：30 eV to ~20 keV适合各类应用 高速USB2.0数据接口:任何电脑直接连接，无需额外硬件即插即用真正的16位数据传输能力，最高可达2MHz读出速度 可旋转的CF法兰盘: 方便准直X射线光路，提高成像和成谱质量。灵活的双读出放大器:灵活设置，优化实验高敏度ADC提供最低的读出噪声大容量ADC提供最高的动态范围最好的线性度 LightField的64-位操作平台:直观易上手的用户界面设计自动背景扣除，平场纠正和误差检测PICAM（64）位通用程序语言，方便的程序修改与编译 型号规格PIXIS-XO Direct Detection X-Ray相机型号比较和数据表ModelImaging ArrayPixel SizeSensor Type100B 1340 x 10020 x 20 μmback-illuminated100BR 1340 x 10020 x 20 μmback-illuminated, deep-depletion400B 1340 x 40020 x 20 μmback-illuminated400BR 1340 x 40020 x 20 μmback-illuminated, deep-depletion1024B 1024 x 102413 x 13 μmback-illuminated1024BR 1024 x 102413 x 13 μmback-illuminated, deep-depletion1300B 1340 x 130020 x 20 μmback-illuminated2KB 2048 x 51213.5 x 13.5 μmback-illuminated2048B 2048 x 204813.5 x 13.5 μmback-illuminatedQuantum Efficiency of PIXIS-XO direct detection cameras* *Please refer to datasheets for available CCD types in each model. 产品应用X-Ray Plasma DiagnosticsHot and dense plasmas are of enormous interest in basic physics research because of the multitude of interesting phenomena that arise from them. Soft X-Ray MicroscopySoft X-ray Microscopy is used for imaging and researching the elemental composition and structure of biological samples and more. EUV LithographyEUV lithography is gaining popularity because it retains the look and feel of the traditional optical lithography process (i.e., utilizes the 13.5 nm wavelength) and uses the same basic design tools. X-Ray SpectroscopyX-ray absorption spectroscopy is an element-specific probe of the local structure of elements in a material.

AZtecWave结合了波谱仪解析X射线谱峰灵敏性、微量及痕量元素准确性以及能谱仪检测元素时的高速及高灵活性的优势。发挥波谱仪高X射线分辨率的特点，能够在更低的检测限下解析复杂的谱峰重叠。作为在高计数率下也可实现高准确定量分析的EDS探测器，Ultim Max与Wave结合，是一款出色的基于SEM下的元素显微分析系统。具有罗兰圆几何和弯曲晶体的全聚焦波谱仪出色的能量分辨率，可完全解析高密度的X射线谱线较高的峰背比意味着检测限低于100ppm电动入射狭缝可优化分辨率和峰背比倾斜几何结构实现快速分析，可重复性高及样品定位更容易推荐耗材Zeiss蔡司扫描电镜SEM专用全套耗材包 AGG3939，双面碳导电胶带8mm×20m MAC 能谱标样55种标样6mm×32mm SEM及能谱多功能标样8mm×32mm

仪器简介：BH1324B型微机多道X谱仪，是以BH1224型多道分析器卡为基础而改进 的新产品。它集高压、放大器和多道分析器卡为一体，通过RS-232串口电缆 与计算机连接，多道分析器本身受计算机制约的因素减少，为用户选择各种档 次、不同机型的计算机提供方便。配套的PHA18采集软件，在Win98操作系统 下运行。 　　该谱仪可测量X射线，供从事有关放射元素工作单位进行安全监督检查分 析。被测得的X射线以谱的形式在计算机上显示出来，通过软件进行分析。 　　该产品严格按照ISO9001质量体系进行质量控制。技术参数：1、系统的能量分辨率：＜65%（对239Pu） 2、系统的能量线性：≤±1%（60Kev～2.0Mev） 3、系统稳定性：≤±1%（8h）主要特点：工作环境 1、环境温度：+5℃～+35℃ 2、环境湿度：≤80%（30℃） 3、电源：交流220V±22V，50Hz±1Hz 成套设备 1、一体化多道分析器（含高压、放大器） 2、φ40×1mmX射线探头 3、通用γ谱仿真软件（PHA18） 4、计算机：当前市场的流行配置，标准配置为联想开天4600系列（可按户要求更换） 5、打印机：喷墨打印机Canon S100SP（可按用户要求更换）

产品简介　　法国Damavan imaging提出时间成像是伽马射线成像的新概念，它利用每个闪烁事件的光和时间分布来精确定位空间（X，Y，Z），时间（T）中的每个闪烁事件以及它的能量（E）。　　这种新的成像概念可以使每个体素大小（1x1x2mm）的闪烁事件提高一个数量级。　　Temporalδ伽马射线成像谱仪是率先使用这个新概念的设备。这款便携式版本的伽马射线成像谱仪带有一个CeBr3头，伽玛射线和可见光成像和主动温度控制。这个版本是专门用于能源300KeV- 2mev探测。Temporalδ伽马射线成像谱仪拥有市面上出色的角度分辨率(6°)和时间分辨率(300ps)。它也非常敏感，可以对自然的无线电元素成像并可以对扩展源进行良好的成像。　 性能特点　　Temporal δ伽马射线成像谱仪由便携式单元包括一个处理单元和一个探测器单元，可选配CZT配件。 　　-检测效率高, 1个校准过的探测器模块，由两个32x32毫米的CeBr3晶体组成 　　-成像能量动态范围宽，探测能量范围可达50KeV - 3MeV，能量分辨率1.5% 　　-高时间分辨率，时间巧合小于300ps 　　-高准确度，角分辨率可达1度 　　-低噪音水平 　　-高灵敏度　应用领域 　　-核废料管理 　　-核设施退役 　　-放射性化学 　　-医院的放射性安全 　　-环境监测、核查和预警 　　-剂量监测和预警 　　-安防、安保、海关、警察　技术参数光学成像视场78×104°degres flat field角分辨率10 degrees(full spectrum)6 degrees (energy gated)灵敏度0.03μR/h in 1hour1kBq @1m in 2 hours3μR/h 1mn闪烁晶体CeBr3时间分辨率300 ps @ 511keV能量分辨率7% @ 662keV能量范围100 keV—3 MeV(能谱分析)400keV-3MeV(辐射成像)电池续航4小时外置电池（重1.2kg）计数率限制1 mSv/h重量3.9kg尺寸21x29x16 cm电源110-220V (mains)工作温度-20°C ~ +50°C通讯方式Ethernet to laptopWifi in 2019　　图3 Temporal δ参数 *不含CZT配件下的参数　应用案例　　Temporalδ提供了一个电子准直的选项，它允许“关闭”一个强光源，只保留图像上的其他光源，因此，即使在强光源附近，也能拍出弱光源的清晰图像。　　下面的图片上,你可以看到一个桶的X射线图像和由Temporal δ对相同的桶进行伽马射线成像效果。　　1332 KeV (60Co)在X光图像上，你可以看到有两个桶，一个小桶在大桶里面。　　在伽玛图像上，所有能量都有3 +1个区域：　　-A中正在扩散的强烈放射源；　　-B处的轮廓揭示了中小桶结构的扩散；　　-C微弱的扩散区域，可能对应于小桶上的玻璃棉（在X射线图像上也可见）；　　-D高能光子散布在环境中的密集部分上　　基于能量1332 KeV的伽马图像显示，右下角（区域A）的强光源对应于60Co。同时也可以在此伽马图像中看到小桶的轮廓，这是在小桶实体上散射了光子。

X射线系统的OEM解决方案X射线荧光分析变得容易兼容 RoHS/WEEE标准的理想探测器Amptek提供了一条OEM探测器、前置放大器（前放）、数字处理器和电源的完整生产线。Amptek接受用户定制仪器。请联系Amptek公司以获取更多信息。 台式设备上的应用： 手持式设备上的应用：OEM产品能满足快速投放市场的需要。 多种完整的OEM系统：1. XR-100系列探测器：小型化的X射线或者伽马射线探测器（Si-PIN、SDD或CdTe）；2. PA210型或其他前放：提供标准或者用户定制的前放；3. DP5型数字脉冲处理器：最先进的，高性能低功率数字脉冲处理器 数字化的前放输出信号，取代了传统的模拟光谱系统中的成形放大器和多道分析器；4. PC5型电源：用于XR100系列探测器和 DP5数字处理器的低功率、高性能电源；5. X-123型集成化X射线谱仪：包括探测器（Si-PIN、SDD或CdTe）、前放、DP5和PC5，它们都封装在同一小金属盒内。 应选用哪个系统？ 根据你们公司在 X射线荧光分析系统硬件和软件方面的能力，在探测器和电子设备上有下面几种选项。下面的选项1和选项2是比较容易实现的。选项3、4、5和6按顺序可实现的难度越来越大，这几种选项比较适合于那些在 X射线荧光分析能提供硬件和软件方面技术支持的专家。Amptek探测器有多种选择，而Amptek全系列探测器(Si-PIN, SDD, or CdTe)都应用于如下各选项中，具体可参照探测器选购指南。6mm2/500µ m, 13mm2/500µ m以及 25mm2/500µ m的探测器非常适于RoHS/WEEE标准应用。Amptek还提供了可选的XRF-FP定量分析软件。请看以下不同选项的流程图。每种选项在下面都有详细的描述。注意：1. 所有Amptek探测器都可以用在以下任何的选项中，这包括 Si-PIN、SDD或CdTe。2. Amptek公司提供了数字处理器所使用的软件开发套装（Software Developers&rsquo Kit, SDK），这使得OEM产品组件可很容易集成到任何相关系统上。请点击这里进入软件下载页。选项1：X-123或X-123SDD OEM应用中，X-123和X-123SDD均为独立完整系统，是满足快速进入市场需要的理想选择。这些系统中各组件均封装于同一外壳内，仅需一个+5V的直流供电和到计算机的USB或RS232通信连接。其中X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器，而X-123充分反映了该宗旨&mdash &mdash 该系统将 XR100型X射线探测器和电荷敏感型前放，以及DP5 型数字脉冲处理器和带有PC5型电源的多道分析器集成在一个构造简单的金属盒内。包含：1. X射线探测器（Si-PIN、SDD或CdTe）和前放；2. 数字脉冲处理器和多道分析器；3. 电源。X-123产品特性：1. 易操作；2. 低功率（1.2W）；3. 体积小；4. 重量轻：180克（6.3盎司）；5. USB和RS232通讯支持；6. 跟所有类型的Amptek探测器匹配。图1a. 2.7 x 3.9 x 1英寸(7 x 10 x 2.5 厘米)。图1b. X-123和Mini-X型X射线管，以及一个手持的 PDA。Amptek公司为方便用户集成提供一个Window CE/Pocket PC的API接口。注意：Amptek不提供PDA。 图1c. 在典型的XRF 配置中的 X-123SDD 和 Mini-X x射线管。 点击这里进入OEM X射线管页面 选项2：XR-100和PX5 在高端台面型的 XRF分析仪的OEM应用中，XR-100CR或XR-100SDD与PX5的组合是功能最强大且最通用的选择。虽然相对而言该配置体积最大，但性能仍是最好的。XR100CR和PX5均为完整封装，且配备标准接头。 图2. XR100CR和PX5。图3. XR-100SDD硅漂移探测器和PX5。选项3：XR-100，DP5和PC5 对于部分用户来说，他们可能需要自行组装配件或根据实际需求定制配件，XR-100CR或XR-100SDD和DP5、PC5的组合是一个不错的选择。图4. 组装在一起的标准XR100探测器及DP5、PC5。 选项4：AXR探测器（Si-PIN、SDD或CdTe），PA-210/230型前放，DP5，PC5 图5,7所示的AXR/PA210/DP5/PC5套装可认为是没有封装的X-123。用户需要自行装配系统，其中需要设计安装足够的热沉以解决散热问题，另外还需设计安装外壳以避免电子学干扰。 图5. 组装在一起的DP5/PC5，PA-230型前放和探测器。 它们通过一个软排线连接，该排线同时供电和传输信号。 图6. 组装在一起的DP5和PC5，3.5英寸 x 2.5英寸 x 0.9英寸。 图7. 组装好的DP5/PC5（正面）。图8. 组装好的DP5/PC5（侧面）。图9. 连接到DP5和PC5的 PA-210/ PA-230.图10. 全套X射线荧光谱仪OEM系统。 包括探测器，前放，数字处理器，电源，X射线管，以及用于显示和控制的手持PDA。Amptek为Windows CE/Pocket PC设备提供一个完整的接口。 注意：Amptek不提供PDA 设备。 图11. 集成的全套X射线荧光谱仪OEM系统。 这些组件可以很容易集成到手持式X射线荧光谱仪设备中。 注意：Amptek不提供PDA 设备。点击这里进入OEM X射线管页面选项5A：XR100 单盒装XR100特别适合X射线领域的专家和有经验的工程师的应用。它只包含探测器（Si-PIN、SDD或CdTe）和前放，用户需自行提供电源、整型放大器和多道分析器或数字处理器，以及跟主机的通讯模块。图12. XR100盒体，只包括探测器和前放。 选项5B：AXR/PA-210或AXR/PA-230 AXR/PA210或AXR/PA-230特别适合X射线领域的专家和有经验的工程师的应用。Amptek任何探测器(Si-PIN, SDD, 或 CdTe)均可应用在该选项中，且该选项有多种配置，如下图所示。用户可自行为AXR探测器定制热沉或直接选购下面的某个配置，另外用户还要自行提供电源、整型放大器和多道分析器或数字处理器，以及跟主机的通讯模块。PA-210 图13. PA-210型前放，直径18mm，长40mm。图14. PA-210型前放封装。 可直接订购带有完整电屏蔽、热沉和装配孔的PA-210型前放。而该可选的封装可以节约OEM厂家自行设计和加工外壳的时间。PA-230 图15. PA-230型可弯曲前放及探测器，热沉和装配孔。图16. PA-230型前放封装。 可直接订购带有完整电屏蔽、热沉和装配孔的PA-230型前放。而该可选的封装可以节约OEM厂家自行设计和加工外壳的时间。带有1.5英寸加长管的PA-210/230 图17. 有1.5英寸加长管的AXR型探测器及PA-230型前放。图18. 有1.5英寸加长管的AXR型探测器及PA-210型前放。选项6：配合PA210/230型前放的改版X-123或X-123SDD 该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123（仅包含电子学部分），而所需连接通过软排线来完成，这样可通过改版的X-123电子学部分远程操控探测器。任何 Amptek探测器都可应用该选项：包括 Si-PIN、SDD或 CdTe。图19. 封装好的PA-230前放和改版X-123（已通过软排线连接）。 定制的探测器/前放： 在需要更小体积的探测器/前放应用中，可定制小型化的XR-100系列探测器（Si-PIN、SDD或CdTe）。Amptek公司可根据OEM需求生产定制前放。标准的 XR-100前放 图20. 标准的XR-100前放，长60mm，宽30mm。真空应用：图21. XR100、X123、9英寸加长管和CP75真空馈通连接器。点击这里获得更多真空条件下使用的信息。更多信息请关注AMPTEK英文官方网站：。

GEOTADIS RT-50 实验室伽马射线能谱仪钢铁放射性钴60伽马能谱仪 ——单次测量时间小于5 分钟，测量精度优于0.02Bq/gRT-50实验室伽玛射线能谱分析仪是专门设计用于监测和检测各种金属材料、建筑材料、金属制品、地质样品、环境采样样品及食品中可能存在的放射性辐射。例如：钢铁厂内钢、尘、渣的快速辐射分析。测定建筑材料和岩石中钾、铀和钍的浓度。测量食品、动物饲料和环境样品中可能存在的放射性辐射。RT-50采用落地式设计，操作方便快捷。在拥有极高的检测灵敏度的同时，操作者可以在5分钟内快速完成一个完整的分析，实时的能量频谱显示功能让你轻松了解整个检测过程，最终的测量精度可达到0.02 Bq/g (60Co)，自动分析数据不仅实时显示在设备信息显示屏上方便快速浏览、打印，同时设备会自动保存包括所有样品信息和完整的日志，操作者可以轻松下载所有已保存的数据至电脑终端以进行进一步的分析、统计。借助高性能的RT-50伽玛射线光谱仪，操作者就可以轻松的在实验室完整的分析测量样品，获得高质量、可靠性的测量数据。通过使用高容量闪烁探测器并在其上添加大量屏蔽，可以大幅度缩短测量时间和减少被测样品量，实现了极高的灵敏度。LabCenter的核心是一种独特而新颖的测量伽马射线谱活性的方法，可以精确测量含有不同放射性同位素的混合样品的活性。RT-50是一个1024通道的伽玛谱仪，带有一个圆柱形碘化钠闪烁探测器(直径3英寸x 3英寸)，封装在厚铅屏蔽中，最小壁厚为3.5英寸(9厘米)。特别设计的盖子，便于样品的装载和拆卸。高压电源，放大器，模拟-数字转换器都集成在该分析仪上。RT-50谱仪通过USB在计算机的控制下工作。RT-50系统组成1、多通道γ-射线光谱分析器（MCA）,置于一个高密度屏蔽落地柜中 多通道γ-射线光谱分析器（MCA）是该系统心脏，它是一个高度可靠、自包含1024个通道的脉冲幅度分析器，分析器内部核心是一个高性能的碘化钠(thallium doted)NaI（TI）闪烁晶体。内部数字化处理器进行实时能量线性化，并提供一个完整的线性频谱。RT-50前端是一个复杂、厚重的高屏蔽的滑动式盖板，但是打开却非常轻松，操作者可以非常方便的对样品容器进行清洁。RT-50的机柜采用坚固的箱体设计，内部集成超厚铅或者钢（可选）屏蔽层，以最大限度的提高灵敏度和抗干扰性能。2、 LabCentre专用PC端数据分析软件 多通道γ-射线光谱分析器（MCA）是由安装在电脑上的Lab Centre软件控制，Lab Centre是一个多平台的程序（支持Windows、Linux）,软件可实现包括校准、样品的测量和结果归档等多种功能。开源的SQL数据库设计可以让操作者将测量数据方便的集成到自己的系统中。Lab Centre简化了用户输入样品描述和输出协议，操作者可以在简单的总计数模式、背景计数比较模式、复杂的多组分分析模式中选择不同的评估模式3、一组标准校准数据，支持自定义扩展。 优化的校准功能和内部数据库预先测量标准可以免除通常校准程序的费时、烦锁。 特 点：l 高灵敏性，可以快速、精确的测量一个给定样本的放射性，测量灵敏度可达0.02 Bq/gl 内部集成一个高灵敏度NaI(TI)闪烁晶体，自包含1024个通道的脉冲幅度分析器l 检测速度快,全样本分析只需5分钟l 易于使用，图形菜单驱动界面，快速、高效地输入样品数据和得到测量结果，操作者无需复杂的使用训练l 易于校准，优化的校准功能消除常规校准的烦锁l 强大的数据处理功能，跨平台的开源SQL数据库，操作者可以方便的将存储数据集成到自己的系统中l 完善的数据分析，可以快速、方便的查看、打印、存储数据，或者将数据发布到网络 典型应用：l 快速监测金属、炉渣、灰尘等的放射性污染l 适应于炼钢、废钢回收和其它金属处理行业l 适应于地质和地球物理领域中对天然放射性核素浓度的测量l 环境放射性安全监测l 食品和食品生产行业放射性安全监测 技术参数探测器: NaI(TI) 体积0.35l ，76 x 76 mm (3"×3") PMT,分辨率：优于7.5%@662 keV.高压电源: 500 - 1000V DC能量范围：20keV-3.0MeV输出: NaI(TI) 0.35 ，76 x 76 mm (3"×3") bi-alkali PMT 正脉冲，上升时间优于0.5μS 最大振幅线性范围+2.5V 双极整形，时间常数1μs 增益粗调高压可控 增益细调+/-3%（在1000 gain steps）谱仪稳定性:两点偏移和增益校正，662 keV typ. at ch. 220.精度 +/- 0.1 ch.ADC:近似值，双缓冲，高速高线性 转换时间1.5μs 1024通道 down sampled from 65535 数位可调 ADC zero +/- 80 mV 数位可调 LLD 范围从第2到第30通道 自动死时间校正 ，精度优于0.25%非线性:在95%范围内的全比例积分上限为0.1% 在95%范围内的最大差值为全尺寸差值的3%通信接口:USB参考源:137Cs - 9 kBq (0.25μCi)功耗:100mA操作环境:操作温度范围：0℃- 40℃ 储存温度范围：-20℃-70℃尺寸和重量:HxWxD 770mm×360mm×620mm 重量410 kg (如果选用铅防护盖580 kg)软件要求:操作系统 Windows 2K ，XP ，Vista ，Windows 7 或Linux with Kernel 2.6 FirebirdSQL 2.0标准测量室：铝空心圆柱体,壁厚1.5mm，直径150mm、高度150mm的铝空心圆柱体。标准的测量室可以被马林杯（Marinelli Beaker）中的一个被允许测量的小室所取代，这个测量室可以达到700ml，适用于直径为3英寸的探测器。

X射线荧光光谱仪FEDX-M810：一、技术规格：1.分析元素范围：Na(11)-U(92)2.含量分析范围：1ppm-99.999% 3.样品种类：颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度：标准偏差≤0.1%（国标标样）5.X射线源靶材：Ag靶6.滤光系统：6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统：配置真空系统，优化样品分析环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观：台机结构；内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置；坚固耐用；确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护：符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置：1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS）X射线衍射仪行业领军品牌仪器功能：X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。核心优势：最高光通量产品：光子通量高于1000000光子/秒/ev，采谱效率数倍于其他产品，获得和同步辐射一样的数据质量；优异的稳定性：光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移50meV1%探测极限： 高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量1%时依旧获得高质量EXAFS数据产品应用：新能源：燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等， 以及含量极低的元素的近邻结构。材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究， 放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学：广泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析；动植物组织等样品分析；重金属污染检测等。

EPMA-8050G 场发射电子探针从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪，将分析性能发挥至极。 范围 硬度标尺 ：4Be~92U 发射源：搭载高亮度肖特基发射体 二次电子图像分辨率：3nm（加速电压30kV） X射线取出角角度：52.5°，大限度减少X射线被吸收 分光晶体：全聚焦型 X射线谱仪：高灵敏度、高分辨率型优点1、高亮度肖特基发射体 场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大，输出更高。即可以保持其高亮度，还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。2、 EPMA专用电子光学系统 电子光学系统，聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧，交叉点不是靠聚光透镜形成，而是由安装在与物镜光阑相同位置上，具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点。简单的透镜结构，既能获得大束流，同时全部电流条件下设定最合适的打开角度，将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3、超高真空排气系统 电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔（orifice）间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小，以控制流入中间室的气体，使电子枪室始终保持着超高真空，确保发射体稳定工作。4、高灵敏度X射线谱仪 最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时，又可减小样品对X射线的吸收，实现高灵敏度的分析。

产品简介单次测量能谱可覆盖2到4kev用于在线光束表征的背散射模式研究材料样品的X射线发射谱能量分辨率为0.3eV设备结构紧凑且可移动TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断规格参数Topology/类型von Hamos能量范围2-4keV光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 真空兼容度10-6mbar (UHV version available)晶体定位闭环电控台滤光片插入单元可选数据接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制能力可根据需求定制应用 高次谐波光源的光子诊断，x射线自由电子激光，桌面x射线激光原位X射线发射谱测量

伽马射线成像谱仪产品介绍： 伽马射线成像谱仪是一款快速，便捷，易用的成像谱仪，可用于核电站常规检测及维护，退役反应堆的检测 紧急情况、突发事故和停机期的检测，还可用于环保领域的核源检测等。光谱性能可与低温冷却检测仪相媲美，实现同位素成像。产品特点：快速，便捷，易用的成像谱仪：快速识别和定位主要同位素 实时能谱、识别和成像 在662keV半高宽能量分辨率优于1%能量量程高达3MeV ,涵盖主要同位素使用像素化CZT探测器，成像效率业界领头准确叠加伽马线成像和光学成像点源和分布源成像从开机到使用2分钟20秒内从天然本底中探测并识別同位素轻巧便捷集成测距仪功能气密防水，易于清洁实时剂量计自动生成检测、成像报告附送年检和软件升级技术参数：尺寸24cmx9cmxl8cm(加支架尺寸：37.5cmxl2cmx21cm)重量3.5kg(加支架重量：5kg)电池使用时间 6小时（23°C的环境下） 3小时（在低于一20°C或高于S0°C的环境下）工作电源100—240V , 47-63HZ工作温度一20°C-S0°C储存温度一20oC-60oC异物防护等级IP6S (更换风扇IP67 )三脚架W _20(加强螺纹）3/8" -16 (仅用支架）冷却系统专用外置散热片和风扇能量分辨率Sl.l% FWHM ( 662 keV的半高宽时）光学成像视扬162°横向，122°纵向辐射成像视扬4ti ( 360。）角度精度全4ti角±1°源定位精度（实时处理）角度分辨率~30°FWHM全4n角（实时处理）-2CTFWHM全4n角（后期处理）成像灵敏度探测，R/hrl37Cs用时少于16秒（能谱）定位~3MR/hrl37Cs用时少于90秒能量量程50keV - 3MeV (能谱）250keV-3MeV (成像）探测器晶体体积19.4cm3 CZT ( CdZnTe )最大计数率自然环境下为〇.5rem/hr ( 5mSv/h「）同位素库3573ENDF同位素库启动时间2分钟显示7” 1280x800HD平板电脑通讯连接通过WiFi ,蓝牙或有线连接其他连接以太网RJ45端口TCP/IP 视图能谱、伽马成像、光学成像、复合成像

石油录井放射性伽马能谱仪简介：RT-40代表了便携式伽玛射线谱仪的重大进步，为地球物理和环境应用提供了许多新特性。紧凑的，单手持拿与集成的GPS给用户非常愉快的现场操作体验。高灵敏度探测器与复杂的数学方法相结合，实时提供准确可靠的结果。GT-40和GT-40-S除了探测器的类型外，其他都是相同的。GT-40具有3 × 3”的NaI(Tl)探测器，灵敏度高，分辨率好，可在大多数现场应用中使用。GT-40-S具有2x2“带铅屏蔽的BGO探测器，应用于聚焦测量岩心或地层测量。GT-40可通过内部标定常数计算出K（%）、U（ppm）和Th（ppm）的浓度。测量结束后立即显示结果。它们可以存储在仪器中或通过蓝牙或Wi-Fi发送到外部设备。高灵敏度的集成GPS接收器，可以自动记录位置并存储在每一次测量的数据中。测量也可以通过语音标签记录。存储的语音信息可以通过内置扬声器重复。GT-40由内置充电器的高能可充电锂电池组供电。这允许实际的测量时间高达15小时多功能GeoView软件包提供所有必要的数据下载到电脑里，基于日历的测试结果，频谱视图，数据显示和将测量结果导出到地图软件上（例如谷歌地图）。特点：● 高灵敏度 使用 3”x 3” NaI(Tl)或 2”x 2” 屏蔽的BGO 探测器● 先进的数字信号处理器光谱仪● 自然本底下自动稳定● 大尺寸可读彩色显示器● 直观的用户导航操纵杆● 通过Wi- Fi或蓝牙进行无线通信● 集成GPS和语音记录的实时结果● 坚固的手持式设计应用：● 探测矿物● 油气探测● 地质探测● 地理测绘● K , U, Th 和 Cs--‐137 分析● 探测铀矿● 岩心录井● 环境监测方便携带：技术参数：探测器：GT-40：NaI(Tl), 体积345 cm3, 直径76 x 76 mm (3” x 3”), 双碱 PMTGT-40-S：BGO, 体积104 cm3, 直径51 x 51 mm (2” x 2”), 双碱 PMT，25 mm 厚度的铅屏蔽光谱仪：1024道, 40 MHz DSP，线性能量校正堆积排除器, 200 ns 分辨率显示器：彩色，穿透式, 360 x 240 dots, 72 x 54 mm (3.5”), 太阳下可读控制器：5点式带照明的导航杆声音部件：内置36 mm麦克风数据存储：最少2000个带全光谱，数据位置和语音信息的样本GPS：导航到 –162 dBm and –148 dBm 冷启动通信：数据传输、遥控装置通过： USB 2.0，1.2Class2 ，Wi-Fi 802.11n电源：7.2V/6600 mAh可充电锂电池(松下 CGR18650CG/2S3P) 最少可以操作20小时。外部交流适配器(12V/1A)充电。尺寸：直径120 mm x 420 mm重量：GT-40: 4 kg (8.8 lb)，GT-40-S:9 kg (19.8 lb)标准配置：GT-40 (GT-40-S) 谱 用户手册 交流电源适配器 1.5 米 USB 线 Geoview软件包 (CD) 坚固的Pelican牌储存和运输箱环境：操作温度范围 -10oC to +50oC ，IP-65 级防水防尘 RFI/EMF屏蔽符合FCC(47 CFR part 15)的A级CE认证

全自动型低本底多道γ能谱仪捷克GEORADIS RT-50 实验室伽马射线能谱仪——单次测量时间小于5 分钟，测量精度优于0.02Bq/gRT-50实验室伽玛射线能谱分析仪是专门设计用于监测和检测各种金属材料、建筑材料、金属制品、地质样品、环境采样样品及食品中可能存在的放射性辐射。例如：钢铁厂内钢、尘、渣的快速辐射分析。测定建筑材料和岩石中钾、铀和钍的浓度。测量食品、动物饲料和环境样品中可能存在的放射性辐射。RT-50采用落地式设计，操作方便快捷。在拥有极高的检测灵敏度的同时，操作者可以在5分钟内快速完成一个完整的分析，实时的能量频谱显示功能让你轻松了解整个检测过程，最终的测量精度可达到0.02 Bq/g (60Co)，自动分析数据不仅实时显示在设备信息显示屏上方便快速浏览、打印，同时设备会自动保存包括所有样品信息和完整的日志，操作者可以轻松下载所有已保存的数据至电脑终端以进行进一步的分析、统计。借助高性能的RT-50伽玛射线光谱仪，操作者就可以轻松的在实验室完整的分析测量样品，获得高质量、可靠性的测量数据。通过使用高容量闪烁探测器并在其上添加大量屏蔽，可以大幅度缩短测量时间和减少被测样品量，实现了极高的灵敏度。LabCenter的核心是一种独特而新颖的测量伽马射线谱活性的方法，可以精确测量含有不同放射性同位素的混合样品的活性。RT-50是一个1024通道的伽玛谱仪，带有一个圆柱形碘化钠闪烁探测器(直径3英寸x 3英寸)，封装在厚铅屏蔽中，最小壁厚为3.5英寸(9厘米)。特别设计的盖子，便于样品的装载和拆卸。高压电源，放大器，模拟-数字转换器都集成在该分析仪上。RT-50谱仪通过USB在计算机的控制下工作。RT-50系统组成1、多通道γ-射线光谱分析器（MCA）,置于一个高密度屏蔽落地柜中 多通道γ-射线光谱分析器（MCA）是该系统心脏，它是一个高度可靠、自包含1024个通道的脉冲幅度分析器，分析器内部核心是一个高性能的碘化钠(thallium doted)NaI（TI）闪烁晶体。内部数字化处理器进行实时能量线性化，并提供一个完整的线性频谱。RT-50前端是一个复杂、厚重的高屏蔽的滑动式盖板，但是打开却非常轻松，操作者可以非常方便的对样品容器进行清洁。RT-50的机柜采用坚固的箱体设计，内部集成超厚铅或者钢（可选）屏蔽层，以最大限度的提高灵敏度和抗干扰性能。2、 LabCentre专用PC端数据分析软件 多通道γ-射线光谱分析器（MCA）是由安装在电脑上的Lab Centre软件控制，Lab Centre是一个多平台的程序（支持Windows、Linux）,软件可实现包括校准、样品的测量和结果归档等多种功能。开源的SQL数据库设计可以让操作者将测量数据方便的集成到自己的系统中。Lab Centre简化了用户输入样品描述和输出协议，操作者可以在简单的总计数模式、背景计数比较模式、复杂的多组分分析模式中选择不同的评估模式3、一组标准校准数据，支持自定义扩展。 优化的校准功能和内部数据库预先测量标准可以免除通常校准程序的费时、烦锁。特 点：l 高灵敏性，可以快速、精确的测量一个给定样本的放射性，测量灵敏度可达0.02 Bq/gl 内部集成一个高灵敏度NaI(TI)闪烁晶体，自包含1024个通道的脉冲幅度分析器l 检测速度快,全样本分析只需5分钟l 易于使用，图形菜单驱动界面，快速、高效地输入样品数据和得到测量结果，操作者无需复杂的使用训练l 易于校准，优化的校准功能消除常规校准的烦锁l 强大的数据处理功能，跨平台的开源SQL数据库，操作者可以方便的将存储数据集成到自己的系统中l 完善的数据分析，可以快速、方便的查看、打印、存储数据，或者将数据发布到网络典型应用：l 快速监测金属、炉渣、灰尘等的放射性污染l 适应于炼钢、废钢回收和其它金属处理行业l 适应于地质和地球物理领域中对天然放射性核素浓度的测量l 环境放射性安全监测l 食品和食品生产行业放射性安全监测技术参数探测器: NaI(TI) 体积0.35l ，76 x 76 mm (3"×3") PMT,分辨率：优于7.5%@662 keV.高压电源: 500 - 1000V DC能量范围：20keV-3.0MeV输出: NaI(TI) 0.35 ，76 x 76 mm (3"×3") bi-alkali PMT 正脉冲，上升时间优于0.5μS 最大振幅线性范围+2.5V 双极整形，时间常数1μs 增益粗调高压可控 增益细调+/-3%（在1000 gain steps）谱仪稳定性:两点偏移和增益校正，662 keV typ. at ch. 220.精度 +/- 0.1 ch.ADC:近似值，双缓冲，高速高线性 转换时间1.5μs 1024通道 down sampled from 65535 数位可调 ADC zero +/- 80 mV 数位可调 LLD 范围从第2到第30通道 自动死时间校正 ，精度优于0.25%非线性:在95%范围内的全比例积分上限为0.1% 在95%范围内的最大差值为全尺寸差值的3%通信接口:USB参考源:137Cs - 9 kBq (0.25μCi)功耗:100mA操作环境:操作温度范围：0℃- 40℃ 储存温度范围：-20℃-70℃尺寸和重量:HxWxD 770mm×360mm×620mm 重量410 kg (如果选用铅防护盖580 kg)软件要求:操作系统 Windows 2K ，XP ，Vista ，Windows 7 或Linux with Kernel 2.6 FirebirdSQL 2.0标准测量室：铝空心圆柱体,壁厚1.5mm，直径150mm、高度150mm的铝空心圆柱体。标准的测量室可以被马林杯（Marinelli Beaker）中的一个被允许测量的小室所取代，这个测量室可以达到700ml，适用于直径为3英寸的探测器。

产品简介hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。主要参数核心元件X射线光管光源von Hamos HAPG 光谱仪光子计数，像素化X射线探测器能量范围5-12keV样品浓度低至 数个质量百分比样品安装多样品转轮占地尺寸2.0m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能EXAFS 模式XANES 模式光谱分辨能力1800*4000*（*整个能量范围内不变）能量带宽1000eV300eV采集时间3分**8分钟**（**归一化分析物浓度）主要应用化学形态分析和浓度比复合物研究催化剂分析短程有序和键长确定测量结果Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

仪器简介：PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

仪器简介：软X射线光栅光谱仪 该系列的软X射线光栅光谱仪是McPherson公司最富盛名的产品，此类产品在全世界同步加速器以及核聚变研究方面的应用，已经成就了光谱测试领域的传奇，获得了一流科研院所用户的一致认可。 在这些光谱仪中，主要采用了掠入射光路设计，部分型号为经典的平场光谱仪。除主机外，还提供实验所需的周边附件，从而可以根据不同的实验需求，构成完整的测量系统。技术参数：波长范围光谱分辨率焦距长度 产品型号扫描功能多道检测功能光路设计1nm to 310nm0.018nm 1000mm248/310G有 有Grazing Incidence1nm to 90nm0.015nm1500mm 252/315有 有Grazing Incidence 1nm to 254nm 0.008nm2200mm247有 有Grazing Incidence1nm to 240nm 0.006nm3000mm249 有 有 Grazing Incidence1nm to 70nm0.002nm 10600mm 262无 有 Grazing Incidence1nm to 15nm0.007nm 70000mm 264有 无Grazing Incidence10nm to 170nm 0.05nm292mm251无有Flat Field Toroidal 1nm to 20nm0.02nm5649mm251MX无有Flat Field50nm to 320nm 0.1nm320mm343有 无 Toroidal

RT-50食品、钢铁放射性元素伽马分析仪 georadis RT-50 实验室伽马射线能谱仪——单次测量时间小于5 分钟，测量精度优于0.02Bq/gRT-50实验室伽玛射线能谱分析仪是专门设计用于监测和检测各种金属材料、建筑材料、金属制品、地质样品、环境采样样品及食品中可能存在的放射性辐射。例如：钢铁厂内钢、尘、渣的快速辐射分析。测定建筑材料和岩石中钾、铀和钍的浓度。测量食品、动物饲料和环境样品中可能存在的放射性辐射。RT-50采用落地式设计，操作方便快捷。在拥有极高的检测灵敏度的同时，操作者可以在5分钟内快速完成一个完整的分析，实时的能量频谱显示功能让你轻松了解整个检测过程，最终的测量精度可达到0.02 Bq/g (60Co)，自动分析数据不仅实时显示在设备信息显示屏上方便快速浏览、打印，同时设备会自动保存包括所有样品信息和完整的日志，操作者可以轻松下载所有已保存的数据至电脑终端以进行进一步的分析、统计。借助高性能的RT-50伽玛射线光谱仪，操作者就可以轻松的在实验室完整的分析测量样品，获得高质量、可靠性的测量数据。通过使用高容量闪烁探测器并在其上添加大量屏蔽，可以大幅度缩短测量时间和减少被测样品量，实现了极高的灵敏度。LabCenter的核心是一种独特而新颖的测量伽马射线谱活性的方法，可以精确测量含有不同放射性同位素的混合样品的活性。RT-50是一个1024通道的伽玛谱仪，带有一个圆柱形碘化钠闪烁探测器(直径3英寸x 3英寸)，封装在厚铅屏蔽中，最小壁厚为3.5英寸(9厘米)。特别设计的盖子，便于样品的装载和拆卸。高压电源，放大器，模拟-数字转换器都集成在该分析仪上。RT-50谱仪通过USB在计算机的控制下工作。RT-50系统组成1、多通道γ-射线光谱分析器（MCA）,置于一个高密度屏蔽落地柜中 多通道γ-射线光谱分析器（MCA）是该系统心脏，它是一个高度可靠、自包含1024个通道的脉冲幅度分析器，分析器内部核心是一个高性能的碘化钠(thallium doted)NaI（TI）闪烁晶体。内部数字化处理器进行实时能量线性化，并提供一个完整的线性频谱。RT-50前端是一个复杂、厚重的高屏蔽的滑动式盖板，但是打开却非常轻松，操作者可以非常方便的对样品容器进行清洁。RT-50的机柜采用坚固的箱体设计，内部集成超厚铅或者钢（可选）屏蔽层，以最大限度的提高灵敏度和抗干扰性能。2、 LabCentre专用PC端数据分析软件 多通道γ-射线光谱分析器（MCA）是由安装在电脑上的Lab Centre软件控制，Lab Centre是一个多平台的程序（支持Windows、Linux）,软件可实现包括校准、样品的测量和结果归档等多种功能。开源的SQL数据库设计可以让操作者将测量数据方便的集成到自己的系统中。Lab Centre简化了用户输入样品描述和输出协议，操作者可以在简单的总计数模式、背景计数比较模式、复杂的多组分分析模式中选择不同的评估模式3、一组标准校准数据，支持自定义扩展。 优化的校准功能和内部数据库预先测量标准可以免除通常校准程序的费时、烦锁。特 点：l 高灵敏性，可以快速、精确的测量一个给定样本的放射性，测量灵敏度可达0.02 Bq/gl 内部集成一个高灵敏度NaI(TI)闪烁晶体，自包含1024个通道的脉冲幅度分析器l 检测速度快,全样本分析只需5分钟l 易于使用，图形菜单驱动界面，快速、高效地输入样品数据和得到测量结果，操作者无需复杂的使用训练l 易于校准，优化的校准功能消除常规校准的烦锁l 强大的数据处理功能，跨平台的开源SQL数据库，操作者可以方便的将存储数据集成到自己的系统中l 完善的数据分析，可以快速、方便的查看、打印、存储数据，或者将数据发布到网络典型应用：l 快速监测金属、炉渣、灰尘等的放射性污染l 适应于炼钢、废钢回收和其它金属处理行业l 适应于地质和地球物理领域中对天然放射性核素浓度的测量l 环境放射性安全监测l 食品和食品生产行业放射性安全监测技术参数探测器: NaI(TI) 体积0.35l ，76 x 76 mm (3"×3") PMT,分辨率：优于7.5%@662 keV.高压电源: 500 - 1000V DC能量范围：20keV-3.0MeV输出: NaI(TI) 0.35 ，76 x 76 mm (3"×3") bi-alkali PMT 正脉冲，上升时间优于0.5μS 最大振幅线性范围+2.5V 双极整形，时间常数1μs 增益粗调高压可控 增益细调+/-3%（在1000 gain steps）谱仪稳定性:两点偏移和增益校正，662 keV typ. at ch. 220.精度 +/- 0.1 ch.ADC:近似值，双缓冲，高速高线性 转换时间1.5μs 1024通道 down sampled from 65535 数位可调 ADC zero +/- 80 mV 数位可调 LLD 范围从第2到第30通道 自动死时间校正 ，精度优于0.25%非线性:在95%范围内的全比例积分上限为0.1% 在95%范围内的最大差值为全尺寸差值的3%通信接口:USB参考源:137Cs - 9 kBq (0.25μCi)功耗:100mA操作环境:操作温度范围：0℃- 40℃ 储存温度范围：-20℃-70℃尺寸和重量:HxWxD 770mm×360mm×620mm 重量410 kg (如果选用铅防护盖580 kg)软件要求:操作系统 Windows 2K ，XP ，Vista ，Windows 7 或Linux with Kernel 2.6 FirebirdSQL 2.0标准测量室：铝空心圆柱体,壁厚1.5mm，直径150mm、高度150mm的铝空心圆柱体。标准的测量室可以被马林杯（Marinelli Beaker）中的一个被允许测量的小室所取代，这个测量室可以达到700ml，适用于直径为3英寸的探测器。

布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪（XRF）以来，已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司（前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部）一直坚持专业化的道路，领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解，围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面，把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年，第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技术，保证从铍（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测，第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路，阳极—样品—探测器之间距离短，信号损失少，保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.00005%，可靠性好。S8 TIGER 1kW，激发电流50mA，激发电压50kV，同级别中强度高。配有内部水冷机，不需要外部水冷机，插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW，激发电流150mA，激发电压60kV，强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW，激发电流170mA，激发电压60kV，市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管，设计功率4200W，设计电压75kV，设计电流200mA。独特的双路水冷系统，除阳极冷却外，光管头部增加特殊冷却回路，避免光管头部热量对样品的影响，提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板，避免蒸镀现象，光管强度不衰减。标配75 μm铍窗，HighSense光管50μm铍窗，强度提高15%，HighSense光管28μm铍窗，超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层，耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，其中：XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百；XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百；XS-C显著地降低了背景，提高信噪比30%；XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上；XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同，但是灵敏度提高了35%；XS-CEM人工多层膜晶体，测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性，没有PET晶体的潮解现象，没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象，没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体；XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%，提高S灵敏度20%以上；XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器，极快的死时间校正，即刻显示PHA扫描图，数字信号传输，线性范围高达4Mcps（线性偏差≤1%）。动态匹配TM功能，软件自动降低电流，使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制，测量更准确，低含量元素自动在满功率条件下测量，使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术，第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟，转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能，四重保护，保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护，使仪器的故障率低，维护成本少两个污染防护屏，分别保护光管和光谱室粉尘接收盘，收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗，保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样，转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题，光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度，这时就需要维修，或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积，增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中，光管的高压关闭，是完全没有X射线的。在执行这些操作时，光管的灯丝加热电流一直是通的，维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样，机械结构简单，零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动，避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单，不需要打开仪器，易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等，仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜，仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”，是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏，操作简单，无需 培训，仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件，在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器，可识别样品类型2.60位大样品杯进样器，适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器，机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于：高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下，根据元素的含量不同，每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3)，从放入样品到显示结果不超过2分钟，分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美，而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能，运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的，支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能，用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能，如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统，确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出，引导用户一步步完成，从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正（变动“理论α系数法”，计算每一个样品的校正系数），也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式，非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器，满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化，所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级，可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析，也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求，QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式，也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能，自动执行基体校正及不同类型样品（薄膜、无限厚或非无限厚样品）的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起，进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中，采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分，作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，您可以将整个状态存盘，发送给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件：采用先进的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。可分析多达15层（每层16个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件，可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析，以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件，是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案，采用熔片法制样，可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件，基于数百个国际参考样品建立的校准曲线，测量地质样品中微量、痕量元素，是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件，采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件，金属材料的解决方案，可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件，用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件，可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×355 × 265mm（L×W×H）重量18KG核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪，可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别，实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器(SDD) 结合在一起，能够为客户提供各种质量检验应用。借助 X-MET8000，您可在数秒内得到实验室质检结果，并降低检测成本，缩短检测时间。结构旨在经久耐用X-MET8000 具备 IP54 防护等级（相当于 NEMA3），有着卓越的防尘和防水性能。X-MET8000 具有耐冲击外壳，且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶，可有效防止受到撞击。采用大面积散热器，即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口（Expert 及 Optimum 型号的选购件）和高强度厚 Kapton 窗口（Smart 型号）可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。强大的数据管理功能可存储多达十万个检测结果，包括光谱谱图和样品图像（若配备相机）结果和报告可直接下载到 U 盘，或通过 USB 数据线传到PC 上，也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享；可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式，以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告（无需安装任何软件）。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用，您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。全面的、可自定义的牌号库X-MET8000 内含有最全面的牌号库：预安装的、用户可选的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改，添加新牌号（例如某个厂商或者产地特定牌号），或者创建自己的牌号库（例如特定的焊接材料牌号库）。预装牌号库包括：| 镍合金。| 不锈钢。| 铜合金。| 铝合金。| 钴合金。| 低合金钢。| 工具钢。| 钛合金。| 锆合金。

K-Alpha X 射线光电子能谱仪Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪 (XPS)系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使 XPS 操作简单直观，而不会牺牲性能或功能。K-Alpha XPS系统是一种完全集成式单色小光斑XPS系统，具备深度剖析能力。 更先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量，使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。K-Alpha XPS系统性能数据分析仪类型 180°双聚焦半球分析仪， 128通道探测器X 射线源类型单色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射线源 X 射线光斑尺寸50-400 µ m（以 5µ m 为单位可调）深度剖析EX06 离子源样品最大面积60x60 mm样品最大厚度20 mm真空系统两个涡轮分子泵，配有自动钛升华泵和机械泵 可选配件ADXPS 样品 支架， 工作 功能 样品 支架， 手套 箱