射线谱仪

5月30日，浙江省计量院“锗γ射线谱仪校准装置”顺利通过现场考核，后续将开展相关设备的量值溯源工作。锗γ谱仪是常用的辐射环境监测仪器，广泛应用在放射性环境检测、核应急和核事故处理中，其计量性能直接影响监测结果的准确可靠，关乎核电安全、生态环境安全和公众健康，所以迫切需要建立相应的标准装置来对锗γ射线谱仪进行量值传递和质量控制。该标准的建立，不仅可以满足辐射环境监测设备的量值溯源工作，同时可以为保护核电安全和生态环境安全提供有力的技术支撑。

p　　美国国家标准技术研究院(NIST)利用其开发的最新先进机器形成并精确测量了X射线频谱。该设备开发与制造费时20年，将帮助科学家制造世界上最精确的材料，可应用在基础设施和药物上，同时也确保世界上不同实验室之间材料测量的可靠性，新的专业精密仪器需要大量的机械创新和理论建模。/pp　　NIST新设备形成的X射线——铜K-α线与无数其它X射线没有本质区别，是通过铜靶发射电子产生，但不同的是，经过多年的工程和计算已经构建一个可以非常精确地扫描样品周边整体的工具。此外，该设备还配备了一个X射线摄像机，提供比传统检测仪器更加丰富的信息，并提供样本一致性对标自检测，减少系统的不确定性。该机器在地下实验室中制造，具有严格控制的稳定，能开展极端精确的测量。该仪器最大的成就之一是功能强大的测角仪。/pp　　新机器将使研究人员可以将晶格间距的测量与国际单位制中的计量仪定义相关联，与国际单位制计量仪之间的比较，使得质量保证在最小和最精确的水平上。研究人员的测量与过去40年的结果一致，并且获得了X射线谱的新细节。除了晶格间距外，所有进行测量的元件都可以完全溯源到国际单位制，这也保证了测量的精确性和可靠性。X射线经常与医疗相关联，但X光仪器也广泛应用于商业活动，因为它们能够帮助确定和表征日常物质，包括水泥、金属、陶瓷、电子和药物。在医疗和工业应用中，X射线为科学家提供了一种观察物质内部的方法。/p

项目编号：HCZB-2022-ZB0536项目名称：高精度软X射线分析仪预算金额：780.0000000 万元（人民币）采购需求：设备名称数量（套）简要规格/要求交货期交货地点备注高精度软X射线分析仪1软X射线谱仪1套：场发射主机系统1套；主机配备的必要的稳压电源、降压变压器1套 电制冷能谱仪1套 波谱 4道 扫描系统1套 原厂高真镀膜仪1套 标准样品1套 循环水冷系统1套 长期使用的备品备件、消耗品完整1套等。各系统及配套装置详细技术指标见第四章采购需求。合同签订之日起12个月内全部到货。中国地质科学院地质力学研究所接受进口设备投标合同履行期限：自合同签订生效后开始至双方合同义务完全履行后截止。本项目( 不接受 )联合体投标。

通过开发一系列X射线光子计数型HPC探测器，来自捷克的ADVACAM团队积累了大量科研及工业领域的应用经验。探索的脚步从未停止，通过不断开发新的成像解决方案，ADVACAM探测器的能力得到不断提升。例如，WidePIX系列探测器就很好的展现了团队的创新能力。新一代的widepix探测器可广泛用于各行各业，包括矿物分析、临床前医学测试、安检、食品检测、艺术品检测等。WidePIX F：世界上最快的高分辨率工业相机基于光子计数技术，WidePIX F光谱相机拥有颠覆性的X射线成像技术，是目前处于世界领先级别的高性能工业相机。它进一步优化、提升了快速移动物体的扫描能力，是进行矿物分析，矿石分选到食品检测，临床前医学，安检或任何带有传送带系统应用的理想工具。分辨率：55微米-比目前采矿作业中常规使用的系统高20倍。探测速度：高达5米/秒 -食品检查的标准速度约为20厘米/秒，这意味着在同样的时间内，WidePIX F可以比常规方案多扫描25倍的材料。颜色/材料灵敏度：提高灵敏度对于矿石分选至关重要，请参考以下应用。MinningWidePIX可直接观察到矿石的内部结构并区分有价值的矿石和废石。使用WidePIX高分辨成像探测器，矿石通常呈现出微粒或脉络状的典型结构。由于该探测器具有多光谱高灵敏度的特性，可以通过图像中采集到的不同颜色来区分各类矿石。欧洲X-MINE项目Advacam为欧洲采矿项目X-MINE定制光子计数型X射线探测器WidePIX 1X30的结果表明，WidePIX探测器甚至可以分选铜矿石，这是传统的成像系统无法实现的。MedicineWidePIX L探测器还可用于非侵入式医学成像。例如，我们可以制作活体小老鼠的实时X射线影像，观察心跳，所有行为不会对小动物造成任何伤害。Others超快WidePIX探测器，可以在设备保持高速运行的同时（例如发动机，涡轮机等），对快速移动的物体进行X射线检测。Advacam可提供不同规格尺寸的光子计数型X射线探测器，其产品线包括WidePIX系列、MiniPIX系列及AdvaPIX系列，除标准尺寸外也可根据需求定制。相关产品阅读：最新到货—超高性价比教育版辐射粒子探测器MiniPIX EDU来咯！Advacam新品|Widepix 2(1)x10-MPX3探测器：双读出网口，170帧/sADVACAM再添新成员，MiniPIX TPIX3即将面世！ADVACAM辐射检测相机 -应用于粒子追迹Advacam同NASA（美国航空航天局）及ESA（欧洲航空航天局）保持很好的项目合作关系， 其产品及方案也应用于航空航天领域。目前Advacam已将其探测器应用到了多个项目中。相关应用案例：探寻宇宙奥秘的脚步从未停歇，ADVACAM参与研发项目合辑 关于Advacam公司最新合作项目：搭载Minipix探测器，可搜寻辐射的辐射探测无人机使用Widepix 1x5 MPX3 CdTe探测器进行X射线谱学成像Minipix探测器用于NASA未来项目辐射剂量监测

现代化商用多晶X射线衍射仪具备无损、便捷、测量精度高等很多优点，同时配备有先进的陶瓷光管、高精度的测角仪、高灵敏度的探测器以及各种分析计算软件，因此它的应用范围是非常广泛的，不仅可以实现材料物相的定性表征，还可以对很多参数实现定量化的分析。常规的分析包括：材料的晶型结构分析、点阵参数的测定、物相定量、晶粒尺寸和结晶度计算等，还可以对材料的宏观微观应力以及取向织构进行测定；同时还包括诸如小角散射、薄膜衍射、反射率测定以及微区分析等新的技术。而在X射线衍射分析表征中，样品的制备过程、仪器参数设定以及数据分析这三个步骤往往决定了X射线衍射数据结果的质量。本文主要从这三方面进行阐述，与大家分享下多晶X射线衍射的应用要点。一、样品制备X射线衍射实验的准确性和实验得到的信息质量结果与样品的制备有很大关系，在进行材料的X射线衍射分析时应合理制备样品。样品制备主要分为粉末样品的制备和块状类样品的制备。1. 粉末样品首先要控制它的颗粒粒径，原则上要保证颗粒尺寸适中并且均匀，对于大多数样品来讲可以通过研磨加过筛的方式来实现；而对于受外力易产生晶体结构变化的样品而言，通常采用不研磨直接过筛的方式进行处理。在样品的整个研磨过程中要掌握研磨力度柔和均匀的原则，适中的粒度可以让样品中大部分或全部的晶粒参与衍射，从而可以获得反应样品真实晶体结构信息的实验数据；如果研磨不充分，会造成样品的粒度粗大，从而会引起参与衍射的晶粒数目减少，衍射强度降低，峰形变差，分辨率降低的情况；如果用力过度研磨，对材料的晶体结构会产生不同程度的破坏，衍射强度会降低，同时晶粒细化会带来衍射峰的宽化效应，不利于得到结构清晰的衍射谱图。至于研磨的程度，一般研磨到没有颗粒感，类似面粉的滑腻感即可，也不能研磨的过细。过筛这一步是为了保证样品粒径的均匀性，如果样品颗粒尺寸不够均匀，会产生一定的择优取向。图1是一个矿物样品的分析案例，红色谱图是未经研磨和未经过筛处理的样品，而黑色谱图是样品经过研磨和过筛处理的。从叠加图中可以明显看到：样品经过研磨过筛后，粒径尺寸适中且均匀，这就保证了参与衍射的晶粒数目。在X射线衍射谱结果中，经过处理的样品不论从衍射峰数目、强度、峰型和分辨率都要优于未处理的样品，从而确保了分析结果的真实性。图1 经过处理与未经过处理的矿物样品的叠加X射线衍射谱图在粉末样品的装填方面，需要准备的样品量一般在3g左右，最小不少于5mg。压片方法采用常规的正压法操作，在压片过程中让粉末样品最好能够铺满整个样品槽，关键要让粉末样品压平，如果样品表面不平整、存在凹凸起伏的情况，会导致出射的角度变大或变小，直接引起大角度的某些衍射峰偏移，还会造成入射X射线散射至任意方向，导致探测器接收到的峰值降低。这对于精修分析而言，会造成最终解析的晶体结构常数出现严重错误。压片过程中需要注意的是不要用力压太紧，否则容易影响样品的自由取向。2. 块状类样品从样品形态区分，常见的块状类样品有块状、板片状、圆柱状。在分析过程中需要把握样品的测试面面积、表面洁净度与表面平整程度。测试面的面积通常要大于1cm2，如果面积太小可以将几块样品粘贴在一起进行测试，同时样品的底面要与测试面相平行，从而保证衍射面的水平状态；在测试前，应该尽可能将测试面磨成平面，并进行简单的抛光，这样做不但可以去除金属表面的氧化膜，还可以消除表面的应变层，之后再用超声波清洗去除表面的杂质，保证测试面的平整光滑。二、仪器参数设置1. 扫描参数的设定X射线衍射的扫描方式主要分为步进扫描和连续扫描，步进扫描是将扫描范围按照一定的步进宽度（如常用的0.01度/步或0.02度/步）将整个扫描范围分成若干步，在每一步停留若干秒，并将这若干秒内记录到的总光强度作为该数据点处的强度，一般用于角度范围内的精细扫描，可以获得高质量的衍射数据结果，用于定量分析、线形分析以及精确测定点阵常数、Rietveld全谱拟合精修等应用；而连续扫描是测角仪从起始2θ角度到终止2θ角度进行的匀速扫描，其具备较高的扫描效率。这里面有两个关键参数——步长和扫描速度。步长一般是根据衍射峰的半高宽来决定，最好要小于全谱中最尖锐衍射峰半高宽的1/2。步进扫描的停留时间或者连续扫描的扫描速度要根据步长（数据点间隔）进行设定，要搭配合适，遵循步长小扫速慢，步长大扫速快的原则。否则，在图谱中会出现基线噪声过大和上下波动增大的情况，会把一些可能的弱峰掩盖掉。图2是一个陶瓷样品的分析案例，采用连续扫描模式、5度/分钟的扫描速度分别使用0.01度/步和0.02度/步的步长进行分析测试，可以看出快速扫描速度配合稍大步长的分析效果要好于小步长；下图按照步长小扫速慢，步长大扫速快的原则进行测试，都可以较为准确的表征出晶体的结构信息，特别是慢速扫描的数据质量更高。图2 不同扫描速度与步长匹配得出的X射线衍射谱图对于扫描范围而言，表1列举了一些常见材料的扫描角度范围，对于需要进行精修的衍射数据截止扫描角度一般要到100度或120度。表1 常见材料的扫描角度范围扫描总时间的计算对于衡量总体测试时间成本以及合理选取扫描参数是很有必要的。步进扫描和连续扫描的计算如式（1）、式（2）所示：如从3度到90度使用步进扫描模式采集某样品的衍射谱，步长设定为0.02度/步，停留时间为0.2秒/步，则通过计算可以得到测量总时间为14.5分钟。连续扫描的总测量时间根据式（2）计算，但是实际的总测试时长还需要包括光源移动到起始角度的时间。2. X射线光源的参数设置（1）X射线管的管电压和管电流X射线管的工作电压一般为靶材临界激发电压的3~5倍，以铜靶为例，它的Kα能量为8.04KeV，为了获得靶材的有效激发，电压通常设置为40kV，这里需要说明的是，电压一般不能低于20kV，否则就不能对Cu靶的特征X射线进行有效激发。选择管电流时功率不能超过X 射线管的额定功率，较低的管电流可以延长X 射线管的寿命。除非特殊要求，通常X射线管使用的负荷不超过最大允许负荷的80%左右。（2）靶材的选择依据样品元素成分来合理地选择工作靶的种类，应保证样品中最轻元素（原子序数小于等于20的元素除外）的原子序数比靶材元素的原子序数稍大或相等。如果靶材元素的原子序数比样品中的元素原子序数大2～4的话，那么X射线将被大量吸收因而产生严重的荧光现象，不利于衍射的分析效果（比如分析Fe试样，应该尽量使用Co靶或Fe靶，如果采用Ni靶，则背底噪音会很高）。如果采用不同的靶材对相同材料进行分析，所获得的谱图相同吗？使用不同的靶材，首先其特征X射线波长是不同的，而材料晶体结构的晶面间距值是其固有的。根据布拉格方程可知，样品衍射峰的角度决定于实验使用的波长，因此，采用不同靶材测试相同材料所得衍射图谱中衍射峰的位置是不相同的、呈规律性变化的，与靶材的种类是无关的。（3）狭缝的选择狭缝的大小主要依据材料的表征目的以及探测器的类型来进行选择，原则就是在保证强度的情况下提高分辨率。一般的衍射仪配置有三种可变的狭缝（发散狭缝、防散射狭缝和接收狭缝），另外两个索拉狭缝的层间距是固定的。发散狭缝越大，衍射强度越高，但峰型的宽化越明显；防散射狭缝用于限制由于不同原因产生的附加散射进入探测器，有助于降低背景；接收狭缝越小，分辨率越高，强度越低，反之。分析测试时尽量让发散狭缝和防散射狭缝保持一致，接收狭缝尽量小，这样可以提高衍射谱的分辨率和信噪比，从而获得高质量的衍射结果，还可以起到保护探测器的作用。（4）样品放置高度的控制样品的放置高度对于获得高准确度的数据结果是非常重要的，高度的略微偏移都会对实验结果产生影响，具体来讲就是会造成衍射峰的位移以及衍射峰强度的变化。通过图3可以看出：低于正确的高度，衍射峰向左偏移，同时峰强降低；如果是高于正确的高度，衍射峰向右偏移，样品表面与防散射刀片的间隙更小，衍射峰强明显降低。图3 样品的不同放置高度所得到的衍射谱图三、数据分析1．获取的数据信息和物相定性分析首先，从X 射线谱的峰型中可以得到包括峰位、峰强以及峰型轮廓宽度形状的这些信息，通过衍射峰的峰位和峰强可以对物相进行定性定量分析，同时还可以通过计算获得点阵常数和晶体结构的相关结果；通过峰型轮廓宽度形状可以得到样品峰型的展宽，进而可以计算出晶粒尺寸和微观应力。物相定性分析是X射线衍射分析的基础，最重要的环节就是将样品谱图与标准卡片进行比对，以确定样品的物相组成。比对的过程中要遵循以下4点原则：（1）计算材料的晶面间距d值，这是材料晶体结构所固有的；（2）材料低角度的衍射线与标准卡片的匹配情况；（3）重点关注谱图中的强衍射线；（4）要尤为重视特征线。2．衍射谱比对功能的运用将衍射谱进行叠加比对是衍射数据分析中较为常用的一个方法，比如鉴定药物晶型结构的一致性，通常就采用谱图比对的方法进行晶型分析。在《药典》中明确规定判断两个晶态药物晶型状态的一致性，应满足“衍射峰数量相同、衍射峰强弱顺序一致、衍射峰角度误差范围在±0.2°内以及相同角度衍射峰相对峰强度误差在±5%内”这四个条件。以一批送检的降糖药为例，判断其晶型状态的一致性。首先对两种药物进行谱图叠加比对，如图4所示，可知这两个样品满足“衍射峰数量相同和衍射峰强弱顺序一致”这两个条件。图4 药物X射线衍射谱叠加图而后对两个样品进行衍射峰峰位和强度的定量比对，通过计算可以得出：两个样品的峰位一致，符合“二者2θ值衍射峰位置误差范围在±0.2⁰内”的条件；同时相同位置衍射峰的相对峰强度存在偏差，有的甚至超过了15%，因此不符合“相同位置衍射峰的相对峰强度误差在±5%内”的条件。表2 样品衍射峰的峰位和强度比较通过谱图定性比较和衍射峰的定量计算，比对结果满足前三个条件，但是晶粒生长方向存在差异造成相同角度衍射峰相对峰强度的误差超出了《药典》中给定的范围。X射线衍射谱的比对法可以为挑选药物晶型和优化药物生产工艺参数提供帮助。在分析表征过程中，需要根据样品特性以及表征目的把握好样品制备、仪器参数设置以及数据分析这三方面的要点，以获得准确、高质量的X射线衍射数据，充分发挥出多晶X射线衍射的技术优势，为科学研究、技术创新以及材料评价等方面持续提供强有力的数据支撑。附：作者简介黎爽，高级工程师，2008年就职于北科院分析测试研究所至今，主要应用电子显微镜、X射线衍射仪等大型科学工具作为表征手段，从事材料的电子显微分析、晶体结构表征以及相关科研工作。针对新材料的研究表征，建立了多种特色分析技术，涵盖了材料制备和分析测试表征等方向。特色分析技术广泛应用于日常科研工作中，已通过专业领域内多项能力验证和国家司法鉴定能力验证项目考核。

p　　新型亚微米与纳米级XRM系统及新型microCT系统为失效分析提供了灵活选择,帮助客户加速技术发展,提高先进半导体封装的组装产量。/pp　　strong加州普莱斯顿与德国上科亨,2019年3月12日/strong--蔡司发布了一套新型高分辨率3D X射线成像解决方案,用于包括2.5/3D与扩散型晶圆级封装在内的先进半导体封装的失效分析(FA)。蔡司X射线显微系统包括:通过亚微米级和纳米级高分辨率成像对封装产品进行失效分析的a href="https://www.instrument.com.cn/news/20190124/479353.shtml" target="_blank" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strongspan style="color: rgb(0, 176, 240) "Xradia 600 Versa系列/span/strong/a和 Xradia 800 Ultra X射线显微镜(XRM),以及Xradia Context microCT。随着在现有产品基础上新设备的研发推出,现如今,蔡司可以为半导体行业提供一系列3D X射线成像技术辅助生产。/pp　　蔡司制程控制解决方案(PCS)部门与蔡司SMT部门总裁Raj Jammy博士介绍说:“在170年的历史中,蔡司始终致力于拓展科学研究的疆域,推动成像技术的发展,以实现新的工业应用和技术创新。在今天的半导体行业,封装尺寸与器件尺寸越做越小,因此我们比以往任何时候都更需要新型成像解决方案,用于快速排除故障,实现更高的封装产量。蔡司很荣幸宣布推出这一新型先进半导体封装3D X射线成像解决方案,为客户提供强大的高分辨率成像分析设备,以提高失效分析准确率。”/pp　　strong先进封装技术需要新型缺陷检测与失效分析的方法/strong/pp　　随着半导体产业面临CMOS微缩极限的挑战,人们需要通过半导体封装技术弥合性能上的差距。为了继续生产更小巧、更快速、更低功耗的器件,半导体行业正在通过芯片的3D堆叠和其他新型封装方式尝试封装创新。这些创新催生了日益复杂的封装架构,带来了新的制造挑战,同时也增加了封装故障的风险。此外,由于发生故障的位置往往隐藏于复杂的三维结构之中,传统的故障位置确认方法难以满足高效分析的需求。行业需要新型技术来有效地筛选和确定产生故障的根本原因。/pp　　为满足这一需求,蔡司开发出全新3D X射线成像解决方案,提供亚微米与纳米级3D图像,显示出隐藏于完整的封装3D结构中的特性与缺陷。将样品置于系统,样品在光路中旋转,从不同角度捕捉一系列2D X射线投影图像,然后使用复杂的数学模型和算法重建3D模型。新型解决方案可以从任意角度观察3D模型虚拟切片,从而在进行物理失效分析(PFA)之前对缺陷进行三维可视化。蔡司亚微米和纳米级XRM解决方案相结合,为客户提供独特的故障分析工作流程,有助于显著提高失效分析成功率。蔡司的新型Xradia Context microCT采用基于投影的几何放大技术,在大视场中实现高衬度和高分辨率成像,而且也可以全面升级至Xradia Versa X射线显微镜。/pp　strong　新型成像解决方案详解/strong/pp　　a href="https://www.instrument.com.cn/news/20190124/479353.shtml" target="_blank" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strongXradia 600 Versa/strong/span/a系列是新一代3D XRM,能够在完整的已封装半导体器件中对已定位的缺陷进行无损成像。在结构化分析和失效分析应用中,新型解决方案在制程开发、良率提升和工艺分析等方面表现出色。Xradia 600 Versa系列以屡获殊荣且具有大工作距离高分辨率(RAAD)特性的Versa X射线显微镜为基础,提供优异的成像性能,实现大工作距离下的大样品的高分辨率成像,用于为封装、电路板和300毫米晶圆生产确定产生缺陷与故障的原因。利用该解决方案,可以轻松看到与封装级故障相关的缺陷,例如凸块或微型凸块中的裂纹、焊料润湿或硅通孔(TSV)空隙。在进行物理失效分析之前对缺陷进行3D可视化处理,有助于减少伪影,提供横纵方向的虚拟切片效果,从而提高失效分析成功率。新型解决方案的主要特性包括:/pp　　◆最高空间分辨率0.5微米,最小体素40纳米/pp　　◆与Xradia 500 Versa系列相比, 工作效率提高了两倍,且在保证高分辨率的同时,在整个kV(电压)和功率范围内保持出色的X射线源焦点尺寸稳定性与热稳定性/pp　　◆更加简便易用,包括快速激活源/pp　　◆可靠性测试中可实现多个位点连续成像,并能观察封装结构内部亚微米结构变化/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/fcb3b14e-afb6-4859-b117-ade3ce9e1694.jpg" title="1.jpg" alt="1.jpg"//pp　　strongXradia 800 Ultra/strong将3D XRM提升至纳米级尺度,并在纳米尺寸下探索隐藏的特性,获得高空间分辨率图像的同时保持感兴趣区域的结构完整性。其应用包括超密间距覆晶与凸块连接的工艺分析、结构分析和缺陷分析,从而改进超密间距封装与后段制程(BEOL)互连的工艺改进。Xradia 800 Ultra能够对密间距铜柱微凸块中的金属间化合物所消耗焊料的结构和体积进行可视化。在成像过程中保留缺陷部位,有助于采用其他技术进行针对性的后期分析。还可以利用3D图像来表征盲孔组件(blind assemblies)的结构质量,例如晶圆对晶圆键合互连与直接混合键合等。该解决方案的主要特性包括:/pp　　◆空间分辨率150纳米与50纳米(需要制备样品)/pp　　◆选配皮秒激光样品制备工具,能够在一小时内提取完整体积(结构)样品(通常直径为100微米)/pp　　◆兼容多种后续分析方法,包括透射电子显微镜(TEM)、能量色散X射线谱(EDS)、原子力显微镜(AFM)、二次离子质谱(SIMS)和纳米探针/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/52ac92be-9189-4c80-bd09-b60d7bb9da1b.jpg" title="2.jpg" alt="2.jpg"//pp　　strongXradia Context microCT/strong是一种基于Versa平台的新型亚微米分辨率3D X射线microCT系统。该解决方案用于封装产品在小工作距离和高通量下进行高分辨率成像。主要特性包括:/pp　　◆在大视场下提供大样品的全视场成像(体积比Xradia Versa XRM系统大10倍)/pp　　◆小像素尺寸的高像素密度探测器(六百万像素)即使在观察视野较大的情况下也能确保较高分辨率/pp　　◆X射线microCT拥有空间分辨率0.95微米,最小体素0.5微米/pp　　◆出色的图像质量与衬度/pp　　◆可升级为Xradia Versa,实现RaaD功能,对完整大样品进行高分辨率成像/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/a444699e-2096-43cc-a3ed-3471855ecc79.jpg" title="3.jpg" alt="3.jpg"//pp　　上海新国际博览中心即将于3月20日至22日举办中国半导体展(SEMICON China),蔡司将在展会上展示最新显微镜产品和解决方案,包括新型Xradia 600 Versa系列、Xradia 800 Ultra和Xradia Context microCT系统。如有意了解详情,您可到N2展厅2619号展位参观蔡司展品。/pp　　strong关于蔡司/strong/pp　　蔡司是全球光学和光电领域的先锋。上个财年度,蔡司集团旗下四个部门的总收入超过58亿欧元,包括工业质量与研究、医疗技术、消费市场,以及半导体制造技术(截止:2018年9月30日)。/pp　　蔡司为客户开发、生产和分销用于工业测量与质量控制的创新解决方案,用于生命科学和材料研究的显微镜解决方案,以及用于眼科和显微外科诊断与治疗的医疗技术解决方案。在半导体行业,“蔡司”已成为世界优秀的光学光刻技术的代名词,该技术被芯片行业用于制造半导体元件。眼镜镜片、照相机镜片和双筒望远镜等引领行业潮流的蔡司产品正在全球市场热销。/pp　　凭借与数字化、医疗保健和智能生产等未来增长领域相结合的投资组合,以及强大的品牌,蔡司正在塑造光学和光电行业以外的未来。该公司在研发方面的重大、可持续投资为蔡司技术和市场成功保持领先地位和持续扩张奠定了基础。/pp　　蔡司拥有约30,000名员工,活跃于全球近50个国家,拥有约60家自有销售和服务公司、30多家生产基地和约25家开发基地。公司于1846年创办于耶拿(Jena),总部位于德国上科亨。卡尔· 蔡司基金会(Carl Zeiss Foundation)是德国最大的基金会之一,致力于促进科学发展,是控股公司卡尔· 蔡司股份公司的唯一所有者。/p

项目编号：ZX2022-07-93项目名称：X射线光电子能谱仪、X射线衍射仪采购项目采购方式：公开招标预算金额：6,100,000.00元采购需求：合同包1(X射线光电子能谱仪):合同包预算金额：4,500,000.00元合同包最高限价：4,450,000.00元品目号品目名称采购标的数量（单位）技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1其他分析仪器X射线光电子能谱仪1(台)详见采购文件4,500,000.004,450,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限：根据合同要求合同包2(X射线衍射仪):合同包预算金额：1,600,000.00元合同包最高限价：1,570,000.00元品目号品目名称采购标的数量（单位）技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)2-1其他分析仪器X-射线衍射仪1(台)详见采购文件1,600,000.001,570,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限：根据合同要求

手持式X射线荧光光谱仪是通过内部高压发生器产生X射线激发被测物体表面电子，电子在跃迁时发生能量释放从而获得各种元素的特征谱线。在设计手持式X射线荧光光谱仪时，优先考虑的就是使用安全。手持式X射线荧光光谱仪的辐射几乎可以忽略不计，只要操作得当，不会对人体造成伤害。尽管如此，我们在使用仪器时依然要注意安全，这样才能保证操作者和其周围人员的人身安全。辐射在我们的生活中无处不在数据显示，人类每时每刻都生活在各种辐射中。来自天然辐射的个人年有效剂量全球平均约为2.4毫西弗，其中，来自宇宙射线的为0.4毫西弗，来自地面γ射线的为0.5毫西弗，吸入（主要是室内氡）产生的为1.2毫西弗，食入为0.3毫西弗。人每年摄入的空气、食物、水中的辐射照射剂量约为0.25毫西弗。戴夜光表每年有0.02毫西弗；乘飞机旅行2000公里约0.01毫西弗；每天抽20支烟，一年有0.5至1毫西弗；一次X光检查0.02毫西弗。手持式X射线荧光光谱仪辐射安全常识在设计上，赛默飞世尔尼通手持式X射线荧光光谱仪在不进入测试界面测试时，不会发出任何电离辐射（即X射线）。对于一个给定的辐射源，三个因素决定了人体所接受的辐射剂量：1受照射时间受照射的时间越长，人体所接受的辐射剂量也就越大。辐射量与受照射时间成正比。2与辐射源的距离离辐射源越近，所受的辐射剂量就越大。所接受的辐射剂量与辐射源的距离的平方成反比。例如，距离辐射源1英尺所接受到的辐射量是距离辐射源3英尺所接受到的辐射量的9倍。因此，当仪器快门打开时，应保证手和身体的各个部位远离仪器的前端，以使所受的辐射量减至最小。3辐射屏蔽屏蔽指的是任何介于操作者和辐射源之间的材料。屏蔽材料越多，材质密度越大，所受到的辐射就越少。可选购测试架作为测试样品过程中一种附加的屏蔽装置，反向散射屏蔽附件也十分有效，对于某些应用特别适合。孕妇使用时应该注意：错误操作与使用会导致辐射暴露。操作人员对设备安全需负责：使用时，设备应该始终由受过正规培训的操作人员负责。不使用时，应放到安全地方存放。测量时，不要将手部接近设备头部。当检测窗口被物体覆盖时，安全指示灯亮。如果探测器未检测到物体时，不会产生出X射线。关于X射线设备仪器的辐射安全标准对人体伤害可以参照关于X射线设备仪器的辐射安全标准。在我国国家标准GB 15208。GB15208：1-2005《微剂量X射线安全检查设备第1部分：通用技术要求》中，对微剂量X射线安全检查设备提出的辐射安全指标是：设备的单次检查剂量不应大于5μGy；在距设备外表面5cm的任意处（包括设备的入口、出口处），X射线泄漏剂量率应小于5μGy/h。Gy（戈瑞）：吸收剂量，指人体受到电离辐射后吸收了多少能量。1千克被照射物吸收电离辐射的能量为1J（焦耳）时称为1Gy。即：1Gy=1J/kg。Sv（毫西弗）：有效剂量，是反映各种射线或粒子被吸收后引起的生物效应强弱的电离辐射量。它不仅与吸收剂量有关，而且与射线种类、能量有关。（1Sv=1J/kg，1mSv=10-3 Sv）首先设备本身应带有射线的屏蔽装置，比如说防护铅板和铅玻璃。其次，管头有光闸或者防护罩，主要照射面应该是密不透风的。至于漏散的部分，计量相对于要照射面更小，且波长变长，对人体的危害可以认为就更小了。X射线是直线不会拐弯。综上所述，只要正确操作手持式X射线荧光光谱仪，是不会对人体造成伤害的，手持式X射线荧光光谱仪的用户们可以放心地使用。操作手持式X射线荧光光谱仪注意事项扣动扳机之前请注意X射线穿越方位。检测过程中不要将身体任何部分接近检测区域，尤其是眼睛和手部。不要手拿样品至检测窗口进行测量分析，而是要将设备测试窗口抵住样品来进行测量。在检测小且薄的样品或低密度材料，例如：塑料，木材，纸或陶瓷时，请使用配选件安全遮挡或台式样品架进行检测。操作设备时，如果有需要，可以配备有正规机构认证的剂量计。

一、项目基本情况（一）项目编号：OITC-G230320045项目名称：中国科学技术大学X射线光电子能谱仪采购项目预算金额：550.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：550.000000 万元（人民币）采购需求：1、采购项目的名称、数量：包号货物名称数量（台/套）是否允许采购进口产品1X射线光电子能谱仪1是投标人须以包为单位对包中全部内容进行投标，不得拆分，评标、授标以包为单位。2、技术要求详见公告附件。合同履行期限：详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。（二）项目编号：OITC-G230322023项目名称：中国科学技术大学多功能原位X射线光电子能谱仪采购项目预算金额：750.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：750.000000 万元（人民币）采购需求：采购需求：1、采购项目的名称、数量：包号货物名称数量（台/套）是否允许采购进口产品1多功能原位X射线光电子能谱仪1是 投标人须以包为单位对包中全部内容进行投标，不得拆分，评标、授标以包为单位。2、技术要求详见公告附件。合同履行期限：详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间：2023年09月28日 至 2023年10月11日，每天上午9:00至11:00，下午13:00至17:00。（北京时间，法定节假日除外）地点：www.oitccas.com方式：登录东方招标平台www.oitccas.com注册并购买。售价：￥600.0 元，本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：中国科学技术大学　　　　　地址：安徽省合肥市金寨路96号 　　　　　　　　联系方式：0551-63602706　　　　　　2.采购代理机构信息名 称：东方国际招标有限责任公司　　　　　　　　　　　　地　址：（北京）：北京市海淀区丹棱街1号互联网金融中心20层、（合肥）：合肥市高新区创新大道2809号置地创新中心28层2815室　　　　　　　　　　　　联系方式：（北京）：窦志超、曹山、王琪 010-68290502、郑文彬、李文海0551-66030322　　　　　　　　　　　　3.项目联系方式项目联系人：窦志超、曹山、王琪、郑文彬、李文海电　话：　　010-68290502/0551-66030322

一般来讲仪器的电气参数随温度变化而漂移，致使测量结果会受到一定影响。尽管我们采用的是电制冷全数字脉冲型处理技术和用软件的办法来消除漂移，但其测量结果还是会受到一定的影响。接下来和一六仪器一起了解X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护。　　X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护：　　一、光管老化　　本公司采用业内一流的X射线光管，很少有坏的例子。但X射线光管的寿命不仅取决于光管的质量，而且很大程度上依靠使用者的保养和维护。光管的保护主要来自二个方面：　　1、当仪器在测量时，不要突然断电，应先关闭软件，再关闭光谱仪 　　2、光管老化。当仪器在初次使用或放置3天以上不用的情况下，测试前务必先做光管老化。光管老化工作由仪器根据设定的条件自动进行。　　二、清理样品室　　X射线荧光光谱仪是比较精密的仪器，不仅实验室要求保持干净，仪器内部也要求干净。特别是对于经常测量粉末压片样品的用户，要定期清洁载物台和样品室，保证样品和仪器内部不受污染，保证测试的数据准确可靠。样品室的清洁方法：　　1、打开样品腔的上盖，套上探测器保护盖。　　2、用吸尘器的吸管伸入样品腔吸取灰尘。　　3、保证吸尘器的吸管远离探测器的头部位置，以免损坏探测器端面的脆弱薄膜。　　三、开机和关机　　严格按《手册》要求的顺序开机和关机。在仪器开机后，预热5~10分钟后，使电路工作在稳定的状态后，才开始进行正常测试。如果短时间内不需测试时，不用关闭仪器。　　四、软件的日常维护　　将测试数据和测试用的相关文件定期备份，可备份到D盘或光盘。　　由于仪器配置的不同和软件版本的变化，X射线荧光光谱仪维护所提到的操作步骤可能会有一些变化。如果在仪器的使用过程中有任何不清楚的地方，请与仪器供应商或相关服务人员联系，我们将竭诚做好售后服务工作，保证您的光谱仪工作在最佳状态。　　以上就是一六整理分享的关于X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护，希望可以帮助到大家。想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。

近日，中科院高能所自主研制的球面弯曲分析晶体取得突破性进展，助力高能同步辐射光源（HEPS）高能量分辨谱学线站建设。针对国内高压科学、能源材料等多学科的学科优势，为满足广大用户需求，HEPS高能量分辨谱学线站正在设计建造一台具有先进国际水平的X射线拉曼散射（XRS）谱仪—“乾坤”。其中，球面压弯分析晶体基于罗兰圆几何条件，将特定能量的X射线聚焦至探测器上，是XRS谱仪的核心光学部件。聚焦面形精度和高能量分辨是球面弯曲分析晶体的两项极为关键，又互相影响的技术指标，因而极具挑战性。“乾坤”谱仪采用6组模组化分析晶体阵列，由90余块半径1m的分析晶体构成，其晶体能量分辨的设计指标与电子-空穴态寿命展宽数量级相当，达到ΔE/E~10-5，球面弯曲面形精度满足1:1聚焦需求。在HEPS工程指挥部的部署下，HEPS高能量分辨谱学线站团队与光学设计、光学机械、光束线控制系统相关人员，联合多学科中心晶体实验室积极攻关。线站核心成员郭志英、多学科中心晶体实验室刁千顺，经过多年技术攻关和反复尝试，不断改进优化分析晶体制备工艺，最终探索出兼顾能量分辨与聚焦特性于一体的球面弯曲分析晶体制备方法。今年10月2日-5日，项目团队在北京同步辐射装置（BSRF）1W2B线站上，采用Si(111)双晶单色器Si(220)切槽单色器两次单色化、毛细管微聚焦的光学配置，利用自研三元谱仪样机，对谱仪单模组内15块分析晶体（图1），采用EPICS-Bluesky控制系统实现单色器联动扫描，开展了批量、高精度指标测试（装置见图2）。优化后入射能量带宽实现高分辨，达到半高全宽0.8eV@9.7keV，分析晶体自身能量分辨（图3）达到半高全宽~1eV@9.7keV，与理论预测值相当，聚焦特性得到充分验证(图3、图4)，各项指标全部满足工程设计需求。HEPS高能量分辨谱学线站是我国首条专注于硬X射线非弹性散射谱学实验的线站，聚焦核能级超精细结构、声子态密度、芯能级电子跃迁和价电子激发的探测，主要提供核共振散射（NRS）、XRS、共振非弹性散射（RIXS）等谱学方法，服务于量子科学、能源科学、材料科学、凝聚态物理、化学、生物化学、地学、高压科学、环境科学等多学科前沿研究。其中，XRS是一种基于X射线非弹性散射原理的先进谱学实验技术，欧洲ESRF （72块分析晶体）、美国APS（19块分析晶体）、日本SPring-8（12块分析晶体）、法国SOLEIL（40块分析晶体）、英国Diamond光源等光源已建成或规划建设XRS旗舰线站。由于非弹性散射截面极小，比X射线吸收截面小4~5个量级，XRS实验技术需要高亮度光源以增加入射光子通量，同时也需要大立体角谱仪提高探测效率，而大立体角探测需要多块发现晶体实现。首批分析晶体的指标通过在线测试，将满足大批量分析晶体加工的工程需求，对HEPS“乾坤”谱仪、高能量分辨谱学线站的实施都具有里程碑意义。值得一提的是，该类型分析晶体的工艺也已经用于多种类型谱仪分析晶体的研制。接下来，该团队将高质量完成其余模组分析晶体的批量加工，同时，将致力攻关无应力高能量分辨分析晶体的研制。晶体研发工作还获得先进光源技术研发与测试平台PAPS的支持，BSRF-1W2B、3W1、4W1A、4W1B线站提供机时。图1. HEPS自研分析晶体图2. 分析晶体测试装置，其中，左图给出了散射光和分析晶体分析光路示意图图3 分析晶体测试结果，左上为4#晶体能量分辨率实验结果和拟合曲线，左下为三块晶体在探测器上的聚焦光斑，右侧为分析晶体能量分辨率批量测试结果图4 扫描单色器能量时探测器上的光斑变化情况图5 测试人员合影

table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="113"p style="line-height: 1.75em "成果名称/p/tdtd width="535" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "微束X射线荧光谱仪/p/td/trtrtd width="113"p style="line-height: 1.75em "单位名称/p/tdtd width="535" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "北京师范大学/p/td/trtrtd width="113"p style="line-height: 1.75em "联系人/p/tdtd width="183"p style="line-height: 1.75em "程 琳/p/tdtd width="159"p style="line-height: 1.75em "联系邮箱/p/tdtd width="192"p style="line-height: 1.75em "Chenglin@bnu.edu.cn/p/td/trtrtd width="113"p style="line-height: 1.75em "成果成熟度/p/tdtd width="535" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "□正在研发 √已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产/p/td/trtrtd width="113"p style="line-height: 1.75em "合作方式/p/tdtd width="535" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "□技术转让 √技术入股 √合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong成果简介： /strongbr/ 利用毛细管X光透镜会聚X射线的特点，研发出毛细管X光透镜的微束X射线荧光谱仪。在计算机软件的控制下，实现样品微区的点、线和面扫描分析。根据实验的需求，可配备聚焦光斑直径从10-200微米的毛细管X光透镜。基本参数法的定量分析软件，可实现不同形状、不同基体的多种类样品的定量分析。在工业生产、科学研究和文物保护等领域有广泛的应用前景。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong应用前景： /strongbr/ 微区的X射线荧光分析，微区的光斑根据实验的需要从10微米－200微米之间选择，实现样品微区的点、线扫描和面扫描分析。适用于工业生产、科学研究、贵金属检测和文物保护等多领域，有广泛的市场前景。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong知识产权及项目获奖情况： /strongbr/ 拥有自己核心的技术和专利。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p

X射线荧光光谱仪在我们生产的各个领域都有广泛的应用，对于企业生产质量的保障都有重要作用。X射线荧光光谱仪也经历了长时间的发展过程，在发展的过程中不断突破技术瓶颈，变得越来越好。那关于X射线荧光光谱仪的发展历史，你了解多少呢?跟着X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器来了解一下吧。　　1895年德国物理学家伦琴发现X射线 　　1969年美国海军实验室研制出第一台EDXRF 　　1990年北京中产电子、上海硅酸盐研究所、成都地质学院、西安262厂、西安海通原子能研究所、重庆地质仪器厂研制EDXRF 　　1997年德国菲希尔在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2000年英国牛津仪器在定型自有FP算法 　　2001年英国牛津在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2003年德国费希尔仪器在定型自有FP算法 　　2005年日本精工仪器在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2009年国内仪器厂商海外购买FP算法推出EDXRF测厚仪 　　2017年一六仪器全新EFP算法成熟，推出新一代EDXRF测厚仪 　　一六仪器发展历程：　　2009年一六仪器团队成员根据多年的EDXRF研发及应用经验，重新搭建更新一代算法、结构、部件及控制总成系统。　　2012年算法模型和新型搭建成功，部件开始投入市场。　　2015年EFP核心算法的软件进行整机测试其最小测量面积、变焦、及复杂多层的能力。　　2017年12月正式发布新型测厚仪XTU系列及EFP算法软件。　　至今相继推出了XTU、XAU、XTD、XAD等系列的多种仪器型号，功能包括涂镀层分析、Rohs检测、地质地矿全元素分析、古董珠宝贵金属检测。　　以上就是X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容，如果大家想要了解更多关于X射线荧光光谱仪的内容，欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。

仪器信息网讯 2010年12月20日，内蒙古地矿局与帕纳科公司在呼和浩特市内蒙古地矿局会议室举行了“内蒙古自治区地质矿产勘查开发局购买帕纳科移动式X射线荧光光谱仪货物到货交付仪式”。内蒙古地矿局副局长郑翻身、内蒙古地质矿产(集团)公司副总经理张峰、副总工葛昌宝、生产技术部长赵士宝、计划财务处处长顾旭东，帕纳科亚太区执行总裁Anant Bhide先生、中国区总经理薛石雷等出席交付仪式。交付仪式现场　　交付仪式上，内蒙古地矿局副局长郑翻身、帕纳科亚太区执行总裁Anant Bhide先生分别代表仪器交付双方讲话。内蒙古地矿局副局长郑翻身　　郑翻身局长讲话中说道，随着国家、内蒙古自治区经济建设的快速发展，经过过去几十年的探测、开采，我国尤其内蒙古境内的地表矿产正在逐渐减少，地质勘查、矿业开发已经向深部找矿发展，深部找矿、探测工作迫在眉睫，是今后找矿新突破的重要方向。相应的对于高品质的测试设备的需求也在逐步增加。　　内蒙古地矿局始建于1956年，是自治区境内从事地质勘查、矿业开发、工程勘察施工以及岩矿化学分析与测试鉴定、国土资源测量、水文地质和环境地质勘察工作的一支最大的专业地质勘查队伍。但作为一个成立50多年的地质勘查单位，内蒙古地矿局的找矿、测试等仪器设备已经有些陈旧、落后。大规模更换矿产探测、检测仪器设备已经势在必行，所以从本世纪初开始，内蒙古地矿局开始逐步更换仪器设备，这次交付的12台帕纳科X射线光谱仪器就是其中的一部分。　　最后郑翻身局长说道，在内蒙古地矿局这次大规模采购探测、测试仪器设备过程中，帕纳科公司是第一个举办仪器到货交付仪式的公司，体现了帕纳科公司对这次合作的重视。郑翻身局长代表内蒙古地矿局对帕纳科公司表示感谢。并希望今天交接的12台帕纳科X射线光谱仪器运作良好，为内蒙古自治区的地矿事业做出贡献，也为帕纳科公司打开地矿行业市场。帕纳科亚太区执行总裁Anant Bhide先生　　Anant Bhide先生首先代表帕纳科公司向内蒙古地矿局对帕纳科公司给予的信任表示感谢，很高兴能和内蒙古地矿局合作。　　Anant Bhide先生讲话中说道，帕纳科公司是世界上最大的X-射线光谱仪和相关软件及服务的供应商之一，具有70多年的行业经验。这次内蒙古地矿局采购帕纳科12台移动式X射线荧光光谱仪Minipal 4，对于内蒙古地矿局来说可能只是一件小事情，但对于帕纳科公司来说确是迈出了一大步，地矿行业一次性购买这么大数量的帕纳科仪器，对于帕纳科公司来说还是第一次。　　Minipal的含义是“小朋友”，帕纳科希望这个“小朋友”能够帮助内蒙古地矿局找到想找的矿产，而帕纳科公司将全力负责让“小朋友”更好的运转。Anant Bhide先生将象征12台X射线荧光光谱仪的12把钥匙、仪器证明文件交付郑翻身局长双方开香槟庆祝交付完成　　据了解，内蒙古地矿局此次购买的帕纳科12台移动式X射线荧光光谱仪Minipal 4为台式能量色散式X射线荧光光谱仪。其外形小巧，并且光管的最大功率仅为9W；具有世界上无需液氮冷却且能量分辨率最高的探测器—硅漂移探测器；可对固体、液体、油漆类样品直接进行分析，12个样品自动进样系统，节省人力和时间，适合企业大批量样品分析。　　这12台移动式X射线荧光光谱仪将配备给内蒙古地矿局下属的矿产勘查单位，作为车载或移动实验室的检测仪器。

p style="text-indent: 2em text-align: left "近日，受天津工业大学委托，天津市教育委员会教学仪器设备供应中心将以公开招标方式,对X射线光子能谱仪项目实施政府采购。现欢迎合格的供应商参加投标。本次采购仪器设备为X射线光子能谱仪，预算金额530万元。/pp style="text-indent: 2em text-align: left "X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术。它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、 化学键方面的信息。它在分析电子材料时，不但可提供总体方面的化学信息，还能给出表面、微小区域和深度分布方面 的信息。 另外，因为 入射到样品表面的X射线束是一种光子束，所以对样品的破坏性非常小。这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。/pp详情如下：/pp项目名称：X射线光子能谱仪/pp项目编号：JG2019-006/pp采购预算：530万元/pp投标截止时间：2019-03-13 09:15/pp开标时间: 2019-03-13 09:15/pp联系人：邓国彬/pp联系方式：022-24710333/ptable style="border-collapse:collapse "tbodytr class="firstRow"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) word-break: break-all " width="145" valign="top" align="center"包号/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) word-break: break-all " width="145" valign="top" align="center"设备名称/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) word-break: break-all " width="145" valign="top" align="center"数量/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) word-break: break-all " width="145" valign="top" align="center"预算金额/td/trtrtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) word-break: break-all " width="145" valign="top" align="center"1/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) word-break: break-all " width="145" valign="top" align="center"X射线光子能谱仪/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) word-break: break-all " width="145" valign="top" align="center"1/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) word-break: break-all " width="145" valign="top" align="center"530万元/td/tr/tbody/tablep style="text-indent: 2em text-align: left "br//p

仪器信息网讯 2012年5月9日-12日，由中国钢铁工业协会、中国铸造协会、中国国际贸易促进委员会冶金行业分会、中国机械工程学会工业炉分会、中国耐火材料行业协会、中展集团北京华港展览有限公司主办的第十三届中国国际冶金工业展览会、第十一届中国国际铸造博览会、第五届中国铸造零部件展览会、第九届中国国际耐火材料及工业陶瓷展览会、第十一届中国国际工业炉展览会同期在中国国际展览中心(北京顺义新馆)隆重举行。江苏天瑞仪器股份有限公司展位　　江苏天瑞仪器股份有限公司参加了本届展会，并在现场特别展出了Genius 5000 X射线荧光光谱仪、EDX4500 X射线荧光光谱仪。Genius 5000 X射线荧光光谱仪　　Genius 5000 X射线荧光光谱仪是天瑞于2011年7月推出的一款新产品，是天瑞手持式四代X荧光分析仪(该产品为“2011年科学仪器优秀新产品”获奖产品)系列产品之一。该仪器采用了小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器及微型数字信号多道处理器三大核心技术提升仪器性能。较三代手持式X荧光分析仪，增加了可充气系统，可采用常压充氦气系统对设备充气，从而实现检测从Mg开始的元素，大大扩展测试元素范围，满足特定客户轻元素检测需求。仪器自身具备防水防尘功能，并可在高温高湿环境下连续使用，其保护箱采用高强度军工用品，有良好的防潮防震防压三防功能。主要用于钢铁、废旧金属回收、机械制造与加工、锅炉压力容器等领域。

由国家地质实验测试中心牵头，钢研纳克检测技术有限公司等8家单位共同申报的2012年国家重大科学仪器设备开发专项项目“波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪的研发与产业化”已获科技部批准，项目实施周期为五年。　　X射线荧光光谱仪已成为国内、外各实验室必备的测试仪器，大功率(3KW)波长色散XRF分析仪的制造技术多年来被5家外国公司所垄断，国内年销量达200多台套。测试中心邓赛文研究员及其团队紧密结合国家中长期科学和技术发展规划，根据波长色散(WD)和能量色散(ED)的技术特点，提出将两种技术有机结合，自主研发高性能大功率(4KW)波谱/能谱一体化的(WED-XRF)分析仪器，并建立与之配套、实用的定性、定量以及元素分布分析专家系统和应用方法体系，有很好的应用前景。对促进X射线荧光分析技术的发展，打破国际制约，提高我国分析仪器技术装备制造水平，具有重要意义。

项目编号：11000022210200005753-XM001项目名称：核与辐射环境应急监测能力建设项目预算金额：343 万元（人民币）采购需求：序号标的名称数量交货地点简要技术需求或服务要求1伽马射线成像谱仪1套采购人指定地点分析特定区域辐射强度空间分布、快速确定放射性场所同位素种类及其热点所在方位。详见第四章采购需求书。2便携式特殊核（中子）材料甄别仪1套采购人指定地点对样品中的γ射线和中子进行测量，实现放射性预警的同时，通过后端算法分析进行特殊核材料及中子材料的甄别。详见第四章采购需求书。3低本底α、β测量仪1套采购人指定地点用于环境实验室、保健物理、放化实验室、工业安全、食品安全、核医学等领域的样品中α、β放射性测量。详见第四章采购需求书。4液氮回凝制冷系统2套采购人指定地点为顶部插拔式高纯锗探测器的工作提供高可靠的冷却系统。详见第四章采购需求书。5碘采样器2套采购人指定地点采集空气中气溶胶、微粒碘（或其它碘成份）等成分，详见第四章采购需求书。6应急移动单兵系统1套采购人指定地点用于采集核事故应急情况下单兵检测人员在应急现场的音/视频信息、核与辐射应急检测数据及GPS 定位信息，详见第四章采购需求书。7大流量气溶胶采样器1套采购人指定地点高效地收集室内外空气中的气溶胶成分。详见第四章采购需求书。8长杆γ剂量率仪1套采购人指定地点用于对难以接近区域或对热点作长距离测量γ剂量率。详见第四章采购需求书。9氚采样器1套采购人指定地点对环境中气态氚和气态氚水收集，详见第四章采购需求书。注：投标人必须针对本项目所有内容进行投标，不允许拆分投标。合同履行期限：合同签订后6个月内交货，并通过采购人验收。本项目不接受联合体投标。

一、项目基本情况1.项目编号：ZH2024020017、JG203223X92375项目名称：南京大学苏州校区科研仪器共享中心多功能X射线光电子能谱仪采购项目预算金额：750.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：750.000000 万元（人民币）采购需求：序号名称数量1多功能X射线光电子能谱仪1套具体需求详见招标文件。合同履行期限：2024年10月。本项目( 不接受 )联合体投标。2.项目编号：ZH2024020012、JG203224X90487项目名称：南京大学苏州校区科研仪器共享中心X射线衍射仪（基础版）采购项目预算金额：140.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：140.000000 万元（人民币）采购需求：序号名称数量1X射线衍射仪1套具体需求详见招标文件。合同履行期限：进口设备：免表办理完毕，8个月内；国产设备：合同签订后8个月内。本项目( 不接受 )联合体投标。3.项目编号：CH2023020262、JG203223X92376项目名称：南京大学苏州校区科研仪器共享中心波长色散型X射线荧光光谱仪设备采购项目采购方式：竞争性磋商预算金额：180.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：180.000000 万元（人民币）采购需求：序号名称数量1波长色散型X射线荧光光谱仪1套具体需求详见竞争性磋商文件。合同履行期限：进口设备：免表办理完毕，5个月内；国产设备：合同签订后5个月内。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取采购文件时间：2024年03月04日 至 2024年03月11日，每天上午8:30至11:30，下午13:30至17:30。（北京时间，法定节假日除外）地点：e交易平台（https://www.ejy365.com）方式：登录e交易平台下载电子磋商文件售价：￥500.0 元（人民币）三、凡对本次采购提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：南京大学　　　　　地址：南京市栖霞区仙林大道163号　　　　　　　　联系方式：王老师 025-89688959、0512-68768969　　　　　　2.采购代理机构信息名 称：江苏省设备成套股份有限公司　　　　　　　　　　　　地　址：苏州市工业园区苏虹西路99号微格科创园A区3楼312室　　　　　　　　　　　　联系方式：何悦、顾苹、徐鑫磊 025-86631836 83315832 13913931305　　　　　　　　　　　　3.项目联系方式项目联系人：何悦、顾苹、徐鑫磊电　话：　　025-86631836 83315832 13913931305

项目编号：CZB2022501H/RH采字［20221201］项目名称：长安大学X射线光电子能谱仪项目预算金额：480.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：480.0000000 万元（人民币）采购需求：长安大学X射线光电子能谱仪项目，1批合同履行期限：合同签订后的9个月内。投标人向采购人提供设备供货清单，由采购人确认。当货物到达采购人指定的交货地点后，买卖双方依据设备供货清单共同对设备进行开箱验收，并对设备的数量、品质进行逐项检查。本项目( 不接受 )联合体投标。

目前正环绕月球运行的嫦娥二号卫星，将在半年的既定时间内，完成四项科学目标：获取分辨率优于10米的月球表面三维影像、探测月球物质成分、探测月壤特性、探测地月与近月空间环境。这四大目标，将在嫦娥一号科学探测结果的基础上获得更加丰富、准确的探测数据，为后续月面软着陆及深空探测任务奠定重要的技术基础，深化人类对月球的科学认知。　　担负这四大科学重任的就是嫦娥二号卫星随身携带的有效载荷——执行探测任务的七种仪器装备：TDI—CCD立体相机、激光高度计、X射线谱仪、γ射线谱仪、微波探测器、太阳高能粒子探测器和太阳风离子探测器。　　TDI—CCD立体相机是新研制的，其余六种也都比嫦娥一号携带的有所改进。它们的“体重”加起来只有140公斤(卫星总“体重”为2480公斤，其中燃料为1310公斤)，经过重新设计和改进，武艺更加高强。　　立体相机、激光高度计 获取月球表面三维影像　　“嫦娥一号”携带的立体相机，是普通的CCD相机，中科院西安光机所经过重新研制后，这次携带的是TDI—CCD相机，它采用多条线阵CCD对同一目标多次曝光原理，可以满足分辨率提高对相机曝光控制的要求，是我国相关载荷研制技术的一个重要突破，也是国际上首次在月球探测中使用。嫦娥二号环月飞行时远月点高度为100公里、近月点高度最低只有15公里，加上重新研制后如虎添翼，TDI—CCD相机把图像分辨率从嫦娥一号的120米，提高到10米左右，在15公里轨道处甚至可以达到1米。　　于月球上既有数千米的高山，也有几千米的深谷，光用CCD立体相机还不能精确测量出高山和深谷的高度、深度，需要激光高度计助力。　　激光高度计相当于激光雷达，可以打一束激光到月球表面，并接受反射光。这样，通过计算激光返回时间，就可以获得卫星离月球表面的距离。嫦娥二号上的激光高度计经过改进，探测频度由嫦娥一号的1秒钟采一个点，增加到1秒钟采5个点，相当于卫星绕月球每飞300米就有一个探测点，密度增加了5倍。　　利用TDI—CCD立体相机可获取分辨率更高的月球表面三维影像，结合激光高度计获取的月表地形高程数据，可获取月球表面高精度地形数据，为后续着陆区优选提供依据 同时，也为划分月球表面的地貌单元精细结构、断裂和环形构造，提供原始资料。　　X射线谱仪、γ射线谱仪 探测月球物质成分　　看清楚月球的长相之后，下一步就要了解月球上分布着什么元素，物质的组成怎样。人眼利用可见光通过颜色去分辨物体，X射线、伽马射线的波长要比可见光短得多，利用这些射线可以用来分辨元素种类。　　这次γ射线谱仪的探测晶体由原来的碘化铯，改为新的材料——溴化镧，使探测灵敏度提高了1倍多 X射线谱仪的谱段，也由原来的10KeV—60KeV，缩小为25KeV—60KeV。这样，就可以更好地探测月球表面9种元素——硅、镁、铝、钙、钛、钾、钍、铀的含量与分布特征，获得更高空间分辨率和探测精度的元素分布图。　　微波探测器 探测月壤特性　　探测月壤特性、估算其厚度，原本可以用雷达。但雷达功耗大，占用卫星资源多，为此嫦娥一号和二号携带的都是微波探测仪。它实际上是只接收月面微波辐射的微波辐射计，所需能量虽小，却可以接收4个频段(3.0GHz、7.8GHz、19.35GHz、37GHz)的月面微波辐射，不同的微波频段，可以带来月表下不同深度的月壤或月岩信息。　　嫦娥二号的微波探测器没有做太大改动。但是由于嫦娥二号的飞行轨道比嫦娥一号低，因此微波探测器天线波束在月面的覆盖就会缩小，从而提高了探测的空间分辨率。这些新的数据，可以结合嫦娥一号微波探测器的数据进行联合分析，获得更准确的月壤信息。　　太阳高能粒子探测器、太阳风离子探测器 探测地月与近月空间环境　　任何一个航天器到了新的星球，必然要了解所处空间的未知环境，特别是太阳高能粒子和太阳风，来保护自己的安全。太阳爆发时发出的带电高能粒子和太阳风即太阳喷发出的带电低能量粒子流，都会导致卫星及其有效载荷失灵。　　嫦娥二号卫星在轨运行期间，正值太阳活动高峰年，是探测研究太阳高能粒子事件、CME(日冕物质抛射，即太阳日冕中的物质瞬时向外膨胀或向外喷射的现象)、太阳风，及它们对月球环境影响的最佳探测时期。利用太阳高能粒子探测器和太阳风离子探测器，可获取行星际太阳高能粒子与太阳风离子的通量、成分、能谱及其随时空变化的特征，用来研究太阳活动与地月空间及近月空间环境的相互作用。为后续探月工程提供环境科学数据。　　需要说明的是，在嫦娥二号卫星上，配合这七种有效载荷工作的还有一套管理系统，对这七台仪器进行指挥、控制、管理，并采集数据。其中的大容量存储器为这次新研制的设备，它的存储容量由嫦娥一号的48GB增加到128GB，而且吞吐速率更高，处理速度更快。这样，会使七种有效载荷的工作效率更高、数据更可靠。

1、项目编号：HBCZ-20120026-2218032、采购计划备案号：420000-2022-129853、项目名称：X射线光电子能谱仪采购4、采购方式：公开招标5、预算金额：700(万元)6、最高限价：700(万元)7、采购需求：武汉纺织大学X射线光电子能谱仪采购项目。具体技术及商务要求详见本项目招标文件第三章内容。8、合同履行期限：交货期：合同签订后，8个月（日历天）内；9、本项目（是/否）接受联合体投标：否10、是否可采购进口产品：是11、本项目（是/否）接受合同分包：否12、本项目（是/否）专门面向中小微企业：否13、符合条件的小微企业价格扣除优惠为：10%

从即日开始至2015年9月30日止，日本电子针对旧机型老客户,Elementeye将提供特殊优惠价格。优惠机型为日本电子最新X射线荧光光谱仪JSX-1000S，具有易操作、高灵敏度及高通量、解决方案丰富等特点。更多仪器详细信息，请浏览JEOL官方网站：http://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSX-1000S.html

毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪及其应用研究邵金发，侯禹存，程琳*（北京师范大学核科学与技术学院，射线束技术教育部重点实验室 100875）摘要随着科技的发展，人们对物质的分析慢慢深入到微区领域。而微束能量色散X射线荧光作为一种高灵敏、高精度的元素分析技术，已然成为物质微区分析的有利工具。本实验室将毛细管X射线聚焦技术与能量色散X射线荧光分析技术相结合，自行设计研发了一种新型毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪。该谱仪在利用毛细管X光透镜的特点将X射线源发出的X射线束会聚到微米量级的同时，基于激光位移传感器开发了自动调整样品测量点到透镜出口端距离的闭环控制系统，有效的减少由于样品表面不平整或弧度带来的测量误差，弥补了现有微束Ｘ射线荧光谱仪在此方面的不足。因此，该微束Ｘ射线荧光谱仪为表面不平整文物样品的无损微区元素分析提供了解决方案。1. 引言微束能量色散X射线荧光光谱（Micro-energy dispersive X-ray fluorescence， µ-EDXRF）分析技术因其快速、准确、无损分析等优点，被广泛应用在考古、地质、环境、材料、生物等科学领域[1-8]。目前，基于实验室光源以获得微束入射X射线的方法主要有准直器限束和X射线光学器件聚焦两种。通过准直器限束获得微束入射X射线是最早在微束X射线荧光谱仪中使用的方法，具体为采用准直狭缝或小孔作为光阑放置在入射光路上，用以减小入射X射线的发散度。但与此同时，入射光束的强度会因为物理阻挡而降低，从而导致获得的特征X射线信息减弱。而多毛细管X光透镜利用X射线全反射原理，可将在空心毛细管内表面上的多次全反射的X射线会聚于焦点。因此可以实现以较大的角度收集从X射线源产生的X射线，且会聚后X射线的束斑大小可低至几十微米。同时，毛细管X光透镜对Cu-Kα的能量有高达2-3个数量级的放大倍数[9]，且具有低的发散度。同时，可以将基于毛细管聚焦的微束能量色散X射线荧光分析技术与大面积扫描相结合，实现微米级表面结构和元素分布的分析测定。目前国内外存在部分商业化的微束X射线荧光谱仪，其中美国EDAX公司生产的Orbis系列微束X射线荧光谱仪，适用于部分地质和考古样品测试的[10]；德国Bruker公司生产的M4 Tornado可移动式微束X射线荧光谱仪，适用于实验室或博物馆内各类样品的研究[11]。但由于部分文物样品表面并不平整或存在较大的弧度，若不对相对位置进行修正，这将使得样品测量点与毛细管Ｘ光透镜出口端的距离在测量过程中发生改变，从而影响测量结果的准确性和元素区域扫描的分辨率[12]。为解决上述问题，本实验室自行设计和开发一种新型的微束X射线荧光谱仪以及相应的计算机控制程序，并且开展了相关分析方法学的研究。2. 仪器组成本实验室设计的毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪结构示意图如图1所示，其主要由微焦斑X射线管（Mo靶，焦斑大小50μm×50μm，德国Röntgen公司）、毛细管X光透镜（Mo-Kα能量处束斑大小为31µm）、SDD X射线探测器（5.9keV时能量分辨率为145eV，铍窗有效面积25mm2）和PX5多道分析器、精度为20µm的激光位移传感器、激光笔、具有20倍放大功能的1400万像素固定焦距CCD摄像头、高精度XYZ三维样品台，以及在LabVIEW语言环境下开发的仪器控制程序等部分组成。仪器控制软件主要包括探测系统控制界面、X射线源高压控制界面、机械运动系统控制界面、CCD图像采集控制界面和氦气控制界面构成。其中主界面包含了各个控制功能系统的一些主要控制命令及输出，如图2所示。谱图显示区域在探测过程中实时显示X射线探测器探测到的谱图。此外，该仪器使用的高精度自动化三维运动平台可以满足微区的二维μ-EDXRFF分析的需求，以便实现对感兴趣区域内元素分布的分析。图1 微束X射线荧光谱仪的结构示意图图2 微束X射线荧光谱仪控制程序主界面3. 实验分析3.1 清代红绿彩瓷的分析为了评估本仪器对样品微区进行元素二维扫描分析的能力，选取一片清代红绿彩瓷的残片作为研究对象（图3）。选取图3中A（白釉）、B（红彩）、C（绿彩）进行微区的元素组成分析。实验测量时，X射线管电压40 kV，电流0.6 mA，探测活时间300 s。样品A（白釉）、B（红彩）、C（绿彩）三点的微束X射线荧光分析的能谱如图4所示，彩料中各元素化学成分采用基本参数法进行定量分析，所得的数据如表1所示。图3 清代红绿彩瓷残片与感兴趣区域图片图4 红绿彩中白釉、红彩和绿彩的μ-EDXRF光谱表1 白釉、红彩和绿彩的化学成分（质量分数，%）此外，选择如图3中2mm×2mm的感兴趣区域，使用微束X射线荧光谱仪进行µ-EDXRF二维扫描分析。进行µ-EDXRF二维扫描分析时，X射线管电压为40 kV，电流为0.6 mA，扫描步距为30 µm，每个点探测时间为1.5 s，扫描数据经软件处理得到如图5所示的元素分布图。图5 扫描区域内Pb、K、Fe、Ca、Cu、Al、Mn、Si元素的分布3.2 吉州窑古陶瓷的分析为评估本仪器对表面存在大弧度的样品进行微区元素二维扫描分析的能力，选取一片吉州窑古陶瓷的残片作为研究对象（图6）。实验开始前调节平移台使样品表面感兴趣区域清晰呈现在CCD图像中，并通过鼠标在控制界面的CCD视野中选择具体的目标扫描区域。选取图6中大小为10mm×10mm的区域进行元素二维扫描分析。µ-EDXRF二维扫描分析的测量条件与上文相同。同时，为验证本仪器“源-样”距离自动控制系统对测量结果的影响，分别在开启和关闭“源-样”距离自动控制系统的条件下进行元素二维扫描分析，扫描数据经软件处理得到如图7所示的元素分布图。图6 吉州窑古陶瓷样品与扫描区域图片图7 扫描区域内K、Ca、Zn、Fe元素分布图。a）关闭“源-样”距离自动控制系统，b）开启“源-样”距离自动控制系统通过图7与图6的比较可知，在关闭“源-样”距离自动控制系统的情况下进行µ-EDXRF二维扫描时，由于样品表面的弯曲，样品测量点与毛细管X光透镜出口端之间的距离发生变化，使得X射线光束的焦点无法与样品测量点重合。这导致测得元素分布图空间分辨率变差，同时生成的图像发生了扭曲。相反，当打开“源-样”距离自动控制系统进行测量时，由于该系统可实时调整平移台使X射线束准确照射在样品测量点上，显著降低由于样品表面弯曲带来的偏差。极大的改善了测量结果，表明该仪器在不平整样品的µ-EDXRF二维扫描中具有重要的应用价值。4. 结论本实验室将毛细管X射线聚焦技术与能量色散X射线荧光分析技术相结合，设计和研发了一种新型毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪。该微束X射线荧光谱仪在具备无损分析微小样品和样品微区的元素分布能力的同时，其基于激光位移传感器开发的“源-样”距离自动控制系统可实时调整样品测量点到透镜出口端距离，显著降低了由样品表面不平整或弧度带来的测量偏差，弥补了现有微束Ｘ射线荧光谱仪在此方面的不足。因此，其在材料科学、地球科学和文物保护等领域有着广泛的应用前景。参考文献[1] 戴珏,吴奕阳,张元璋,等.能量色散X射线荧光光谱法在检测仿真饰品中有害元素的应用[J].上海计量测试,2018,45(04):34-35.[2] 陈吉文,倪子月,程大伟,等.基于EDXRF的土壤中痕量镉的快速检测方法研究[J].光谱学与光谱分析,2018,38(08):2600-2605.[3] 陈曦,周明慧,伍燕湘,等.能量色散X射线荧光光谱仪在稻米中镉含量测定的应用研究[J].食品安全质量检测学报,2018,9(10):2331-2338.[4] 蒯丽君. 化学前处理—能量色散X射线荧光光谱法应用于矿石及水体现场分析[D].中国地质科学院,2013.[5] Rathod T, Tiwari M, Maity S , et al. Multi-element detection in sea water using preconcentration procedure and EDXRF technique [J]. Applied Radiation & Isotopes, 2018, 135.[6] Figueiredo E, M F, Araújo, Silva R J C, et al. Characterisation of Late Bronze Age large size shield nails by EDXRF, micro-EDXRF and X-ray digital radiography [J]. Applied Radiation & Isotopes Including Data Instrumentation & Methods for Use in Agriculture Industry & Medicine, 2011, 69(9):1205-1211.[7] Natarajan V, Porwal N K, Babu Y, et al. Direct determination of metallic impurities in graphite by EDXRF. [J]. Appl Radiat Isot, 2010, 68(6):1128-1131.[8] Li L, Huang Y, Sun H Y, et al. Study on the property of the production for Fengdongyan kiln in Early Ming dynasty by INAA and EDXRF [J]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2016, 381:52-57.[9] Bonfigli, Francesca, Hampai, et al. 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项目编号：清设招第20221431号（2241STC74189）项目名称：清华大学硬x射线光电子能谱仪预算金额：850.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：850.0000000 万元（人民币）采购需求：包号标的名称数量（套）简要技术需求或服务要求01清华大学硬x射线光电子能谱仪11.总体性能指标：最佳能量分辨率：对Ag3d5/2峰，半峰宽（FWHM）：≤0.50eV；空间分辨率：≤30μm；2.真空系统：分析室真空度：≤1.0X10-7Pa；设备用途介绍：分析表面的元素成分、元素化学态。用于分析无机化合物、合金、聚合物，能源电池等。为材料、物理、化学、化工、机械、电子、集成电路、环境、航天等院系的科研工作提供技术支撑。注：投标人必须针对本项目所有内容进行投标，不允许拆分投标。合同履行期限：合同签订后 240 日内前货到现场完成安装调试，并通过采购人验收。本项目( 不接受 )联合体投标。

p　　作为一种快速、准无损的分析技术——a href="http://www.instrument.com.cn/zc/75.html" target="_self" title=""strongX射线荧光光谱(XRF)/strong/a得到了广泛的应用。为了了解当前XRF的使用范围和新领域的增长潜力，我们请一些专家对于XRF的最重要的应用领域、以及面临的挑战、与其他技术的竞争优势等问题进行了评论。/pp　　XRF在地质相关领域的应用不断在增长，“地质学家、地质工程师、实验室技术人员、钻井地质学家、钻井液录入工和地球化学家都使用XRF，”陶氏化学的研究科学家Lora Brehm指出。例如，使用便携XRF系统配合井下采矿和能源勘探，以及化学地层研究是进行核心扫描。“由于电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES)和原子吸收光谱(AAS)需要使用酸分解样品，以至于不适于现场分析，但XRF完全可以，特别是小型化的仪器。”/pp　　芝加哥洛约拉大学副教授Martina Schmeling也表达了同样的意见，“便携性和现场易用性显然是XRF的发展趋势，”并称XRF在天然气勘探等领域也可以应用，而且该方法具有非常出色的稳定性和易用性。“与质谱(MS)方法相比，XRF有很多优势，其中最主要的一点是不需要载气和其他消耗品，”她说到。“需要重点记住的一件事是，火星上有XRF，而没有ICP-MS。”/pp　　华盛顿州立大学的分析化学助理教授Ursula Fittschen，从更广泛的角度看待XRF与其他技术的竞争。他指出，XRF的使用取决于分析物的含量水平和其他因素。“传统XRF仪器最具吸引力的是在耐火材料分析等应用中具有ppm级水平，”但是，她指出，对于ppb级的微量元素分析， ICP-OES是主力，只要样品量不受限制、消解又很简单。对于有限的样本，微观分析工具如全反射XRF或石墨炉原子吸收光谱可能是一个更好的选择。“对于ppt水平的检测，需要ICP-MS，”她补充道。/pp　　几个专家都提到了如钢铁行业的质量控制过程中的应用，“钢铁产品的精度非常高，波散XRF是必要的，”京都大学教授Jun Kawai说，“一台有40块晶体的XRF仪器能够同时测量40个元素。”/pp　　XRF在工业领域的应用不只是用于质量控制，CTL集团的首席科学家Don Broton指出。“物相鉴定和无标分析的XRF增强了制造工厂迅速评估替代材料和配方的能力，以及不同制造过程的副产品，”他说。“更好地表征这些‘废品’使其能够得到更多的循环使用，会加快带来一个绿色的未来。”/pp　　维也纳大学教授Christina Streli表示，“未来，XRF在文物、环境、医学和其他领域的应用价值，将会被越来越多的人看到。”/pp　　洛萨拉摩斯国家实验室的George Havrilla同意这一观点，并称，在文物研究领域XRF已经证明了它的价值。“micro XRF对艺术品的快速成像分析将给艺术起源带来新见解，”他说。“这些技术揭示了色素是在不断降解的，使我们明白，我们今天看到的一些艺术品的颜色与当初艺术家画上去时是不一样的。”/pp　　Havrilla还指出，光学镊子的最新进展使得用XRF能够检测到单个细胞的“mechanical manipulation”，进而使活体细胞内容物的元素成像成为可能，这可以让我们对生物机制有新的理解。/pp　　日本筑波国家材料科学研究所教授、团体领袖Kenji Sakurai，也看到了XRF进行化学状态分析的进展，包括X射线吸收精细结构(XAFS)和X射线近边吸收(XANES) 技术的XRF检测在同步加速器中应用取得的重要成就。“我相信，在科学和许多工程领域XRF化学状态分析将带来新的机遇。”/pp style="text-align: right "编译：刘丰秋/pp　　span style="color: rgb(0, 0, 0) "strong更多X射线荧光光谱(XRF)仪器，请见仪器信息网仪器专场：/strong/span/ppspan style="color: rgb(192, 0, 0) "strong　　/strong/spana href="http://www.instrument.com.cn/zc/75.html" target="_blank" title="" style="color: rgb(192, 0, 0) text-decoration: underline "span style="color: rgb(192, 0, 0) "strongX荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)/strong/span/a/ppbr//p

一、项目基本情况1.项目编号：1069-234Z20234352（项目编号：招设2023A00172）项目名称：上海交通大学500兆核磁共振波谱仪采购项目预算金额：630.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：599.000000 万元（人民币）采购需求：序号货物名称数量简要技术规格交货期1500兆核磁共振波谱仪1套超导磁体装置1.具有低液氦与液氮消耗、高稳定性、高均匀性、抗干扰超超屏蔽超导磁体。2．磁场强度：≥11.74特斯拉合同生效后10个月内合同履行期限：合同生效后10个月内本项目( 不接受 )联合体投标。2.项目编号：1639-234122240463项目名称：上海交通大学400兆核磁共振波谱仪预算金额：290.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：290.000000 万元（人民币）采购需求：序号/ No.货物名称/Name of the goods数量/Quantity简要技术规格或用途/Main Technical Data交货期/ Delivery schedule1400兆核磁共振波谱仪1套液氦维持时间≥365天 签订合同后9个月内交货。/CIP Shanghai Jiao Tong University within 9 months after signing the contract合同履行期限：签订合同后9个月内交货。本项目( 不接受 )联合体投标。3.项目编号：0705-234006001051/招设2023A00173项目名称：上海交通大学X射线衍射仪预算金额：160.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：160.000000 万元（人民币）采购需求：序号货物名称简要技术规格数量交货期1X射线衍射仪1) X射线发生器部分：最大输出功率：不小于3kW；2) 二维阵列探测器，子探测器不少于15×190个，单个探测器的像素不大于75µm.有效探测面积不小于14mm×16mm；3) 光路部分系统需兼容满足五轴尤拉环样品台薄膜测试功能要求（薄膜光路另配）和常规粉末样品测试；4) 其他技术要求详见第八章第二部分《技术规格》。1套签订合同后6个月内合同履行期限：签订合同后6个月内交货本项目( 不接受 )联合体投标。4.项目编号：0773-2341SHHW0106/校内编号：招设2023A00176项目名称：上海交通大学红外光谱仪预算金额：130.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：130.000000 万元（人民币）采购需求：项目概况上海交通大学红外光谱仪，红外光谱仪主要用于进行化合物的鉴定，通过分析化合物的结构，可以确定其分子式、结构、组成和性质等信息，从而进行化合物的鉴别。采购需求：序号设备名称数量简要技术参数交货期交货地点1红外光谱仪 1套2.1 红外主机：镀金光学系统。光学台可以同时安装3个检测器、3个分束器；可以同时安装中红外光源、可见/近红外光源、拉曼光源和外光源4种光源。所有的检测器、分束器和光源都可以自动切换、自动准直；现场升级。其余详见“第八章 货物需求一览表及技术规格”签订合同后6 个月内上海交通大学用户指定地点合同履行期限：签订合同后 6 个月内本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间：2023年11月22日 至 2023年11月29日，每天上午9:00至11:30，下午13:30至16:00。（北京时间，法定节假日除外）地点：上海市长寿路285号恒达大厦16楼方式：提供开票信息（公司名称、税号、地址电话、开户行及账号）及项目联系人的联系方式（姓名、手机及邮箱），写明申请购买项目的名称发送至邮箱13795281643@163.com，完整填写《购标书登记表》；电汇缴纳标书款；邮件领取招标文件等资料。售价：￥500.0 元，本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：上海交通大学　　　　　地址：中国上海市东川路800号　　　　　　　　联系方式：王老师/021-54747300　　　　　　2.采购代理机构信息名 称：上海中世建设咨询有限公司　　　　　　　　　　　　地　址：上海市曹杨路528弄35号　　　　　　　　　　　　联系方式：沈思骏 陈沁雯 陈奕远 021-52555817　　　　　　　　　　　　3.项目联系方式项目联系人：沈思骏 陈沁雯 陈奕远电　话：　　021-52555817

近日，由中国科学院上海天文台研究员郑振亚带领的早期宇宙与高红移星系团组牵头，联合中国科学院大学、中国科学技术大学、美国宇航局戈达德太空飞行中心、加拿大曼尼托巴大学等国内外研究单位，基于目前最大的绿豌豆（Green Pea，GP）星系光谱搜寻样本，在近1550例绿豌豆星系中发现了5例具有双峰窄线的特殊星系，进一步分析表明这类特殊天体可能起源于活动星系核（Active Galactic Nuclei，AGN）的合并。这一成果有望揭示绿豌豆星系这一类特殊星系中的大质量星系和超大质量黑洞的联合演化特征。7月19日，相关研究成果发表在《皇家天文学会月刊》（MNRAS）上。绿豌豆星系，因呈现为绿色、致密的光学形态而得名，具有极强的发射线，特别是电离氧[OIII]发射线。绿豌豆星系通常是质量较小、贫金属丰度、恒星形成活动活跃的低红移星系，被认为是早期星系在近邻宇宙中的对应体。部分绿豌豆星系中显示出活动星系核的活动迹象，体现了核区超大质量黑洞活动的特征。因此，系统地搜寻研究绿豌豆星系，能够帮助天文学家更深入地探讨早期星系的形成与演化。同时，研究绿豌豆星系的AGN样本为开展早期超大质量黑洞与寄主星系的联合演化的研究带来启示。联合研究团队，基于郭守敬望远镜（LAMOST）河外巡天项目的绿豌豆星系样本，对LAMOST光谱发射线轮廓进行了分析（如图）。LAMOST河外巡天项目的绿豌豆星系样本是目前最大的豌豆星系光谱搜寻样本，囊括近1550例豌豆星系光谱，比此前的斯隆数字巡天（SDSS）光谱证认的豌豆星系样本数目提升了一倍以上。研究发现，在近1550例豌豆星系光谱中，仅有5例具有明显双峰窄线的绿豌豆星系，根据X射线、中红外、射电等多波段测光和光谱数据，利用能谱拟合和光学谱线诊断的方法高度可信地认证了该样本中的AGN活动。结合发射线轮廓以及光学形态，研究表明，这些星系的双峰轮廓的物理来源更可能是双AGN合并而不是外流或气体盘。上海天文台博士研究生林如秋表示，这五例绿豌豆星系的双峰发射线的成分非常窄，形态致密无法分辨盘结构而且没有明显倾斜角度，因此双峰源于外流或者气体盘的可能性低。郑振亚表示，这5例绿豌豆星系比一般2型AGN中的双峰发射线星系有更强的[OIII]的等值宽度（等值宽度定义为线强与连续谱的比值），而导致这个现象的原因可能与早期宇宙中星系并合相关，即将进行的LAMOST绿豌豆星系新一期巡天项目将有望为我们提供更多此类特殊星系样本，进一步揭示大质量星系和超大质量黑洞的联合演化情况。研究工作得到国家自然科学基金、中智天文研究合作项目，中国巡天空间望远镜（CSST）一期科学项目、上海天文台培育项目和上海市自然科学基金的支持。左列为五个双峰窄线豌豆星系的Pan-STARR光学gri三色伪彩图。图片尺寸为10角秒×10角秒。右列为光谱发射线拟合结果。黑线为观测光谱、蓝线为拟合成分、红线为模型光谱。

第六届“科学仪器优秀新产品”评选活动于2011年3月份开始筹备，截止到2012年2月10日，共有257家国内外仪器厂商申报了533台2011年度上市的仪器新品。经仪器信息网编辑初审、2012中国科学仪器发展年会新品组委会初评，在所有申报的仪器中约有三分之一进入了入围名单。　　本届新品评审专业委员会邀请了超过60位业内资深专家按照严格的评审程序，对入围的新品进行网上评议。最终获奖的仪器将在“2012年中国科学仪器发展年会”上颁发证书，并在多家专业媒体上公布结果。　　2011年度共申报了43台光谱类仪器，其中23台入围；2011年度共申报了17台X射线类仪器，其中10台入围；2011年度共申报了4台波谱仪器，其中3台入围。现公布“光谱、X射线、波谱类”仪器入围名单，排名不分先后。仪器名称型号创新点上市时间公司名称PerkinElmer等离子体发射仪Optima 8000查看2011年3月珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-5000查看2011年12月聚光科技（杭州）股份有限公司电感耦合等离子体扫描型发射光谱仪ICP-2011查看2011年10月北京东西分析仪器有限公司安捷伦 4100 微波等离子体原子发射光谱仪MP-AES 4100查看2011年9月安捷伦科技有限公司火花直读光谱仪1000型查看2011年1月北京纳克分析仪器有限公司台式直读光谱仪FOUNDRY-MASTER Xpert查看2011年9月牛津仪器（上海）有限公司新一代火花直读光谱仪SPECTROLABSPECTROLAB查看2011年6月德国斯派克分析仪器公司金属原位分析仪OPA-200查看2011年11月北京纳克分析仪器有限公司PerkinElmer 原子吸收光谱仪PinAAcle 900查看2011年3月珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）铅镉测试专用仪SP-3882AAS查看2011年10月上海光谱仪器有限公司PerkinElmer 红外光谱仪Frontier查看2011年3月珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）WQF-520A傅立叶变换红外光谱仪WQF-520A查看2011年8月北京北分瑞利分析仪器（集团）公司Cary630傅里叶变换红外光谱仪Cary 630查看2011年9月安捷伦科技有限公司Agilent 手持式红外分析系统-4100 EXCOSCAN手持式现场测量傅里叶变换红外光谱仪4100查看2011年9月安捷伦科技有限公司紫外可见分光光度计UV-2600/2700UV-2600/2700查看2011年10月岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司Eppendorf BioSpectrometer紫外/可见光分光光度计BioSpectrometer查看2011年11月艾本德中国有限公司紫外-可见分光光度计Ultra-6000查看2011年6月北京普源精电科技有限公司超微量紫外可见分光光度计B-500查看2011年12月上海元析仪器有限公司Aqualog吸收和三维荧光扫描光谱仪Aqualog查看2011年10月法国HORIBA JobinYvon S.A.S(HORIBA Scientific)宝石专用拉曼光谱仪Gem Ram查看2011年7月必达泰克光电科技（上海）有限公司STSSTS查看2011年7月海洋光学亚洲分公司超高灵敏度的光纤光谱仪AvaSpec-ULS2048x16查看2011年1月北京爱万提斯科技有限公司高性能影像校正光谱仪 OmniEvo“谱王”OmniEvo查看2011年5月北京卓立汉光仪器有限公司1000W波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）1000W查看2011年10月深圳市华唯计量技术开发有限公司波长色散X射线荧光光谱仪XF-8100型查看2011年1月北京东西分析仪器有限公司SUPER XRF 2400SUPER XRF 2400查看2011年1月江苏天瑞仪器股份有限公司E 3Epsilon3查看2011年3月荷兰帕纳科公司Ux-230 XRF(能量色散X荧光光谱仪)Ux-230查看2011年6月深圳市华唯计量技术开发有限公司第二代手持式X荧光光谱仪-xSORT 环境重金属监测SPECTRO xSORT 环境重金属监测查看2011年10月德国斯派克分析仪器公司用于检测大米中的镉　X射线荧光检测仪器SEA1300VX查看2011年7月精工盈司电子科技（上海）有限公司Niton FXL X射线现场实验室Niton FXL查看2011年4月赛默飞世尔科技便携式元素分析仪（东莞代表处）手持式四代X荧光分析仪系列Genius XRF查看2011年7月江苏天瑞仪器股份有限公司D8 Venture X射线单晶衍射仪D8 Venture查看2011年8月德国布鲁克AXS北京代表处（BRUKER AXS GMBH）picoSpin核磁共振波谱仪picoSpin查看2011年3月北京中科科尔仪器有限公司含天然气水合沉积物核磁共振测试系统miniMR60查看2011年11月上海纽迈电子科技有限公司微型电子自旋共振波谱仪Micro-ESR查看2011年5月上海加美华科贸有限公司　　本次新品申报得到广大仪器厂商的积极响应，申报仪器数量较去年大幅增加。需要特别指出的是，有些厂商虽然在网上进行了申报，但在规定时间内没有能够提供详细、具体的仪器创新点，有说服力的证明材料以及详细的仪器样本，因此这次没有列入入围名单。另外，由于本次参与申报的厂家较多，产品涉及门类也较多，对组织认定工作提出了很高的要求，因此不排除有些专业性很强的仪器没有被纳入进来。　　所有入围新品的详细资料都可以在新品栏目进行查阅，如果您发现入围仪器填写的资料与实际情况并不相符，或并非2011年上市的仪器新品，请您于2012年3月5日前向“年会新品评审组”举报和反映情况，一经核实，新品评审组将取消其入围资格。　　传真：010-82051730　　Email：xinpin@instrument.com.cn　　点击查看所有仪器新品

一、项目基本情况 1.项目编号：HZNU-2023189 项目名称：X射线光电子能谱仪及能谱仪 预算金额（元）：7300000 最高限价（元）：7300000 采购需求： 标项名称: X射线光电子能谱仪及能谱仪 数量: 1 预算金额（元）: 7300000 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途：X射线光电子能谱仪及能谱仪主要内容：具体以招标文件第三部分采购需求为准，供应商可点击本公告下方“浏览采购文件”查看采购需求。 备注： 合同履约期限：标项 1，1.X射线光电子能谱仪及能谱仪：合同签订后12个月内完成设备供货、安装、调试，试运行一个月后采购人组织验收。2.能谱仪：合同签订后3个月内完成设备供货、安装、调试，试运行一个月后采购人组织验收。 本项目（是）接受联合体投标。2.项目编号：HZNU-2023151 项目名称：杭州师范大学2023年高通量分子相互作用分析和120KV透射电子显微镜 预算金额（元）：7500000 最高限价（元）：3000000,4500000 采购需求： 标项一 标项名称: 高通量分子相互作用分析 数量: 1 预算金额（元）: 3000000 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途：高通量分子相互作用分析，广泛应用于生物、化学、材料等领域的高科技分析仪器。主要用于定量检测不同分子间结合的特异性，结合的强弱（亲和力），结合的快慢和所形成复合物的稳定性（动力学），能够筛选、寻找和鉴定生物分子的结合过程中的协同者和参与者，从而有助于揭示表型背后更深层次的分子机制，具体以招标文件第三部分采购需求为准，供应商可点击本公告下方“浏览采购文件”查看采购需求。 备注：允许进口 标项二 标项名称: 120KV透射电子显微镜 数量: 1 预算金额（元）: 4500000 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途：120KV透射电子显微镜，是对生物微结构、各种无机物的材料、金属材料、有机高分子和等进行显微观察和定量分析最强有力的工具，可进行微观结构的形态和观察，晶格像及晶体缺陷的分析，具体以招标文件第三部分采购需求为准，供应商可点击本公告下方“浏览采购文件”查看采购需求。 备注：允许进口 合同履约期限：标项 1，自合同签订之日且免税表下达之日起，120日历天内供货到位。 标项 2，自合同签订之日起，365 个日历日内完成运输、安装、调试、培训，达到验收标准。 本项目（是）接受联合体投标。3.项目编号：HZNU-2023185 项目名称：杭州师范大学流式分选仪、流式分析仪（高配）采购项目 预算金额（元）：6500000 最高限价（元）：3500000,3000000 采购需求： 标项一 标项名称: 流式分选仪 数量: 1 预算金额（元）: 3500000 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途：分子相互作用分析系统采购项目主要内容：具体以招标文件第三部分采购需求为准，供应商可点击本公告下方“浏览采购文件”查看采购需求。 备注： 标项二 标项名称: 流式分析仪（高配） 数量: 1 预算金额（元）: 3000000 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途：分子相互作用分析系统采购项目主要内容：具体以招标文件第三部分采购需求为准，供应商可点击本公告下方“浏览采购文件”查看采购需求。 备注： 合同履约期限：标项 1、2，自合同签订之日起，90个日历日内供货到位。 本项目（是）接受联合体投标。二、获取招标文件 时间：/至2023年06月29日 ，每天上午00:00至12:00 ，下午12:00至23:59（北京时间，线上获取法定节假日均可，线下获取文件法定节假日除外） 地点（网址）：政采云平台（https://www.zcygov.cn/） 方式：供应商登录政采云平台https://www.zcygov.cn/在线申请获取采购文件（进入“项目采购”应用，在获取采购文件菜单中选择项目，申请获取采购文件） 售价（元）：0 三、对本次采购提出询问、质疑、投诉，请按以下方式联系 1.采购人信息 名 称：杭州师范大学 地 址：浙江省杭州市余杭区仓前街道余杭塘路2318号 传 真：/ 项目联系人（询问）：汪老师 项目联系方式（询问）：0571-28868713 质疑联系人：沈老师 质疑联系方式：0571-28868092 2.采购代理机构信息 名 称：浙江求是招标代理有限公司 地 址：杭州市西湖区玉古路173号中田大厦21楼 传 真：/ 项目联系人（询问）：林心怡 项目联系方式（询问）：0571-87666117 质疑联系人：刘璐 质疑联系方式：0571-81110356 　　　　　　 3.同级政府采购监督管理部门 名 称：杭州市财政局政府采购监管处 /浙江省政府采购行政裁决服务中心（杭州） 地 址：杭州市上城区四季青街道新业路市民之家G03办公室 传 真：/ 联 系 人：朱女士/王女士 监督投诉电话：0571-85252453