扫描功率计

到梅特勒托利多公司官网详细了解 Flash DSC 2+闪速差示扫描量热仪Flash DSC 2+ 是完全创新型的超高速扫描量热仪(中文名称为闪速DSC)，是对传统 DSC 的完美补充，是目前世界上扫描速率最快的商品化DSC扫描量热仪，升温速率达到2,400,000K/min，降温速率达到240,000K/min。该仪器能分析之前无法测量的结构重组过程。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料，例如在注塑过程中快速冷却时出现的结构；极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。Flash DSC扫描量热仪也是研究结晶过程动力学的理想工具，不同的降温速率的应用可影响试样的结晶行为和结构。Flash DSC2+扫描量热仪的心脏是基于MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems微机电系统)技术的芯片传感器(UFS1)。MEMS芯片传感器安置于稳固的有电路连接端口的陶瓷基座上。全量程UFS1传感器有16对热电偶，试样面和参比面各8对。Flash DSC扫描量热仪基于功率补偿测试原理，专利注册的动态功率补偿电路可使超高升降温速率下的测试噪声最小化。传感器的试样和参比面各有热阻加热块，一起生成需要的温度程序。加热块由动态功率补偿控制。热流由排列于样品面和参比面的热电偶测量。 Flash DSC 2+扫描量热仪为快速扫描 DSC 带来了变化。 该仪器可分析以前无法测量的结构重组过程。 Flash DSC 2+ 扫描量热仪是对传统 DSC 的完美补充。 现在，升温速率范围已超过 7 个数量级。它的升温与降温速率极高，为研究热物理转变（如聚合物的结晶与结构重组）和化学过程提供全新的视角。超高降温速率 &mdash 可以制备特定结构的的材料超高升温速率 缩短测量时间、抑制重排过程温度范围宽 可在 -95 至 1000℃ 的范围内测量 扫描量热仪技术参数：温度范围： -95～1000℃升温速率：30～2,400,000℃/min降温速率：6～240,000℃/min最大热流信号： 20mW热流信号噪声： 0. 5&mu W扫描量热仪主要特点：极快的降温速率&ndash 可制备明确定义的结构性能的材料超高的升温速率&ndash 缩短测量时间、防止结构改变极速响应的传感器&ndash 可研究极快反应或结晶过程的动力学超高灵敏度&ndash 可使用低升温速率，测量范围与常规DSC交迭温度范围宽&ndash &ndash 95至450 ° C友好的人体工程学设计和功能&ndash 试样制备快速、容易扫描量热仪应用领域:聚合物等物质的结构形成过程的详细分析、测量快速结晶过程、测定快速反应的反应动力学、研究接近生产条件下的添加剂机理等。扫描量热仪主要型号:Flash DSC 2+到梅特勒托利多公司官网详细了解 Flash DSC 2+闪速差示扫描量热仪查看更多信息 咨询电话：4008-878-788

CTI和GSI合并以来，依靠各自的传统优势技术，联合提供最优配置组合的激光扫描头子系统，包含Lighting和ProSeries两个系列的7mm，10mm，14mm的标准产品，同时也提供20mm和25mm大孔径系列，是OEM和最终用户的最佳选择。高速激光扫描头主要应用：· 高速打标· 二维码和条形码打标· 网格制造· 打孔· 激光消融和切除· 飞行打标· 雕刻· 表面处理· 快速成型类型LightingXP数字扫描头Lighting数字扫描头ProSeriesII数字扫描头ProSeries数字扫描头特点· 采用CTI高性能振镜· 最高速度· 全数字化· 自动调节· 采用CTI高性能振镜· 高速· 数字伺服· TuneMasterc· 采用CTI高性能振镜· 最高精度· 低抖动· 低零漂· 采用CTI高性能振镜· 经济型· 灵活的模块化设计· 最紧凑型设计输入孔径71014710147101471014最大激光功率WYAG100150250100150250100150250100150250CO250100200501002005010020050100200刻字速度cps*13009006001300900600800600350900650

Tangor, Amplitude Systems, 飞秒激光器, 超快激光器, 飞秒振荡器, 超快振荡器, 超快飞秒激光器, 超快飞秒振荡器, 高功率, 高平均功率, 高能量, 高脉冲能量, 高频率, 高重复频率,Mango,光参量放大器,光学参量放大器,OPA, 工业设计, 紧凑型, 高可靠性, 高稳定性, 眼科, 微加工, 维纳加工, 微细加工, 精细加工,光谱,太赫兹,THz,拉曼光谱,相干,拉曼散射,振镜扫描,SCANLS-SCAN：高精度、高速度、高加速度扫描振镜LASEA扫描振镜：LS-SCAN— 高速度、高加速度扫描振镜LS-SCAN是LASEA独有的高速度、高加速度扫描振镜，采用专利技术，专业用于激光微纳加工和高精度打标等应用。传统标刻应用需要高扫描速度，同时需要精度在30μm左右，微纳加工需要高扫描速度以防止热量累积，但是精度更为重要，而且，加工图案通常有更多的细节，需要不断的加速。LS-Scan振镜技术，基于平动线圈马达，不同于传统的移动磁铁技术。动圈设计比移动磁铁更轻，且动圈的耗电量比移动磁铁的少5倍，LS-Scan振镜利用此技术大大降低了热漂移，且加速斜坡比传统使用移动磁铁技术的振镜小20%。正是由于这些优异的性能，才可以使用更高的激光功率而不会降低加工精度，同时也大大提高加工效率。LS-Scan镜所有的主要电子控制部件都集成在LASEA的控制机架，进一步增加了LS-Scan的热稳定性。振镜马达很容易地连接到机架上，机架通过以太网接口连接到电脑。所有输入和输出很容易从机架后面板访问。整个过程是由LASEA的KYLA&trade 软件驱动的，这是一个完整的微纳加工软件，能够与多个平台、CCD和激光器通信。每个LS-Scan马达都与可固定在导轨上的控制卡连接，控制卡通过以太网接口连接电脑。工艺过程通过KYLA软件控制，KYLA软件是一个全功能微纳加工软件，可以同时实现振镜、多个平台、影像系统(相机)和激光器之间的通讯。另外，使用标准的XY2-100协议可以兼容外部的控制卡和软件。主要特点：- 高加速度- 高精度- 低热漂移- 可选3D功能- 易于连接的KYLA微纳加工软件- XY2-100协议兼容主要规格振镜尺寸聚擘国际贸易 (上海) 有限公司聚 嵘 科 技 股 份 有 限 公 司聚擘国际贸易 (上海) 有限公司／聚嵘科技股份有限公司，专业从事半导体封装及测试、LED封装测试、太阳能、SMT、飞秒/皮秒/纳秒激光等定制设备/子系统的开发、销售及售后服务。公司总部位于上海，在深圳、北京、西安设有办事处。公司在台北市设有专业的飞秒精密微纳加工实验室 — FemtoFocus，合作伙伴有法国Amplitude公司 、 比利时NextScan Technology公司 、 法国ALPhANOV光学与激光技术中心、比利时LASEA公司、法国NOVAE公司、德国Pulsar Photonics公司。实验室拥有专业的前沿激光微纳加工应用开发及技术支持团队，提供超短脉冲 (小于500fs) 和极短脉冲 (小于100fs) 激光技术相关测试及高速加工 (多光点、转镜) 等高度可扩充的高弹性集成方案。聚擘国际贸易 (上海) 有限公司聚嵘科技股份有限公司| 电子 | 半导体 | 飞秒激光 | 微加工 | 科研 |

激光振镜扫描场分析仪ScanFieldMonitor SFM 是专业为振镜加工领域设计的一款光束品质测试仪器，结构紧凑，特别适合于3D打印行业的狭小空间。SFM可以测量光束品质M2因子、焦点位置、光斑大小、振镜扫描速度、扫描矢量属性（方向、长度和绝对位置）等。产品特点：适用于3D增材制造，可放置在工作平台任意位置进行光斑测试响应激光波长 1.0 – 1.1 μm可测光斑大小 50 - 500μm功率密度可达 100MW/cm2功能强大的专业测评软件主要应用：测量振镜扫描速度、扫描矢量属性（方向、长度和绝对位置）测量聚焦光斑的直径、位置、M2光束传播因子测量与记录3D打印激光系统聚焦区的光斑质量与长期稳定性在3D打印激光系统有故障时查找与确认故障原因，无需逐个更换光学器件测量与记录激光加工过程中的激光参数参数：

DSC系列差示扫描量热仪/差热分析仪1、仪器简介 差示扫描量热法（DSC）这项技术一直被广泛应用。差示扫描量热仪既是一种例行的质量测试工具，也是一个研究工具。测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系。我公司的仪器为热流型差示扫描量热仪，具有重复性好、准确度高的特点，特别适合用于比热的精确测量。该设备易于校准，使用难度低，快速可靠，应用范围非常广，特别是在材料的研发、性能检测与质量控制上。材料的特性，如玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等，都是差示扫描量热仪的研究领域。我公司有多种类型差示扫描量热仪，客户根据实验参数以及实验需求选择不同的型号。 差示扫描量热仪应用范围有: 高分子材料的固化反应温度和热效应、物质相变温度及其热效应测定、高聚物材料的结晶、熔融温度及其热效应测定、高聚物材料的玻璃化转变温度等。不同型号的仪器，测试不同的指标。2、产品特点：2.1全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性仪器主控芯片；2.2仪器可采用双向控制（主机控制、软件控制），界面友好，操作简便；2.3采用 Cortex-M3 内核 ARM 控制器，运算处理速度更快，温度控制更加精准；2.4采用 USB 双向通讯，操作更便捷,采用 7 寸 24bit 色全彩 LCD 触摸屏，界面更友好；2.5采用专业合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化；2.6支持中/英文切换。2.7原始数据保存，分析，分析之后数据保存。2.8超高灵敏度，源自于更平的基线和更好的信噪比.2.9支持温度校准，调入基线，多点校准.2.10试验进行中，可查看实时数据。2.11支持时间/温度，(热流率 dH/dt)/温度切换。2.12智能软件可自动记录 DSC 曲线进行数据处理、打印实验报表.2.13数据支持导出 txt,excel,bmp 图片格式2.14支持曲线分析，平滑，放大，缩放功能。2.15支持多曲线打开，便于实验的重复性比较。3、仪器参数：3.1 全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及基线稳定性；3.2 仪器下位机数据实时传输，界面友好，操作简便。DSCDSC-214DSC-204DSC-404DSC-214HDSC-404HDSC量程0～±600mW温度范围RT~600℃-40℃~-600℃-150℃~-600℃RT~600℃（带降温扫描）-150℃~600℃（带降温扫描）升温速率0.1~100℃/min温度精确度±0.01℃温度准确度0.001℃温度波动±0.01℃温度重复性±0.1℃DSC精确度0.001mWDSC解析度0.001mW工作电源AC220V/50Hz或定制控温方式升温、恒温、降温（全程序自动控制）程序控制可实现六段升温恒温控制，特殊参数可定制曲线扫描升温扫描、降温扫描、曲线扫描气氛控制两路自动切换（仪器自动切换）气体流量0-300mL/min（可定制其它量程）气体压力≤0.55MPa显示方式24bit色7寸LCD触摸屏显示数据接口标准USB接口参数标准配有标准物质（锡），用户可自行矫正温度和热焓仪器热电偶三组热电偶，一组测试样品温度，一组测试内部环境温度，一组炉体过热自检传感器软 件带有温度多点校正功能设备尺寸500*500*300（mm）（长宽高）备注所有技术指标可根据用户需求调整GB/T19466.1-2004塑料差示扫描量热法(DSC)第1部分:通则 警示一使用本标准的这部分时，可能会涉及有危险的材料，操作和设备，本标准不涉及与使用有关的所有安全问题的解决方法，本标准的使用者有责任在使用前规定适当的保障人身安全的措施并演定这些规章制度的适用性。1、范围GB/T19466本部分规定了使用差示扫描量热法(DSC)对热塑性塑料和热固性塑料包括模塑材料和复合材料等聚合物进行热分析的方法通则。本都分适用于GB/T19466第2至第7部分所叙述的应用差示扫描量热法对聚合物进行各种测定的方法。2、规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T19466本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不注日期的引用文件，其新版本适用于本部分。GB/T2918-1998塑料试样状态调节和试验的标准环境(idtISO291:1997)术语和定义3、下列术语和定义适用于GB/T19466的本部分。3.1差示扫描量热法(DSC)Differentialscanningcalorimetry(DSC)在程序温度控制下，测定输入到试样和参比样的热流速率(热功率)差对温度和/或时间关系的技术。通常，每次测量记录一条以温度或时间为X轴，热流速率差或热功率差为Y轴的曲线。3.2参比样referencespecimen在一定温度和时间范围内，具有热稳定性的已知样品。注：通常，使用和装试样的样品皿相同的空皿作为参比样。3.3标准样品standardreferencematerial具有一种或多种足够均匀且确定的热性能材料。该材料能用于DSC仪器校准、测量方法的评价及材料的评估。3.4热流速率；热功率heatflux thermalpower:单位时间的传热量(dQ/dr)注：总传热量Q等于热流速率对时间的积分，见式(1)，单位为J/kg或J/g。GB/T19466.1-2004/ISO11357-1:1997……………………………（1）式中：Q—总传热量，单位为焦耳每千克(J/kg)；焦耳每克(J/g)。3.5焓变H:changeinenthalpy在恒定压力下，试样因化学、物理或温度变化而吸收(△H为正)或放出(△H为负)的热量，见式(2)，单位为J/kg或J/g。……………（2）式中：△H——焓变，单位为焦耳每千克(J/kg)；焦耳每克(J/g)。3.6恒压比热容cp:specificcapacityatconstantpressure在恒定压力及其他参数恒定下，单位质量材料温度升高1℃所需要的热量，见式(3)。……………(3)式中：aQ——在恒定压力下，使质量为m的材料升高aT℃所需要的热量，单位为焦耳(J)；cp——恒压比热容，单位为焦耳每千克摄氏度J/(kgC)]或焦耳每克摄氏度[J/(g℃)]。分析聚合物时应小心，以保证测得的比热容不包含任何因化学或物理变化而产生的热量变化。3.7基线baselineDSC曲线上位于反应或转变区域以外，但与该区域相邻的部分。在该部分中，热流速率(热功率)差近于恒定。3.8准基线virtualbaseline假定反应热和/或转变热为零时，通过反应和/或转变区域所拟合出的基线。通常采用内插或外推方法在所记录的基线上画出。一般在DSC曲线上标示(见图1)。3.9峰peakDSC曲线上，偏离基线达到最大值然后又返回到基线的那部分曲线。注：峰的开始对应于反应或转变的开始。3.9.1吸热峰endothermicpeak输入到试样的能量大于相应准基线能量的峰。3.9.2放热峰exothermicpeak输入到试样的能量小于相应准基线能量的峰。注：根据热力学的惯例，当反应或转变是放热时，含变为负。吸热时，含变为正。吸热或放热的方向，通常在DSC曲线上表示。3.9.3峰高：peakheight峰最高点与准基线间的距离，用mW表示。峰高与试样质量不成比例关系。3.10特征温度characteristictemperatureDSC曲线上的特征温度如下：——起始温度Ti ——外推起始温度Tei ——峰温度Tp；——外推终止温度Tef ——终止温度Tf。4、原理在规定的气氛及程度温度控制下，测量输入到试样和参比样的热流速率差随温度和/或时间变化的关系。注：可使用功率补偿型和热流型两种类型的DSC仪进行试验。这两种方法所使用的测量仪器设计区分如下：a)功率补偿型DSC；保持试样和参比样的温度相同，当试样的温度改变时，测量输入到试样和参比样之间的热流速率差随温度或时间的变化。b)热流型DSC：按控制程序改变试样的温度时，测量由试样和参比样之间的温度差而产生的热流速率差随温度或时间的变化。这种测量，试样和参比样之间的温度差与热流速率差成比例。5、仪器和材料5.1差示扫描量热仪，主要性能如下：a)能以0.5℃/min～20℃/min的速率，等速升温或降温；b)能保持试验温度恒定在土0.5℃内至少60min；c)能够进行分段程序升温或其他模式的升温；d)气体流动速率范围在10mL/min～50mL/min，偏差控制在±10%范围内；e)温度信号分辨能力在0.1℃内，噪音低于0.5℃；f)为便于校准和使用，试样量最小应为1mg(特殊情况下，试样量可以更小)；GB/T19466.1—2004/ISO11357-1:1997g)仪器能够自动记录DSC曲线，并能对曲线和准基线间的面积进行积分，偏差小于2%；h）配有一个或多个样品支持器的样品架组件。5.2样品皿 用来装试样和参比样，由相同质量的同种材料制成。在测量条件下，样品皿不与试样和气氛发生物理或化学变化样品皿应具有良好的导热性能，能够加盖和密封，并能承受在测量过程中产生的过压。5.3天平：称量准确度为士0.01mg。5.4标准样品：参见附录A。5.5气源：分析级6、试样 试样可以是固态或液态。固态试样可为粉末、颗粒、细粒或从样品上切成的碎片状。试样应能代表受试样品，并小心制备和处理。如果是从样片上切取试样时应小心，以防止聚合物受热重新取向或其他可能改变其性能的现象发生。应避免研磨等类似操作，以防止受热或重新取向和改变试样的热历史。对粒料或粉料样品，应取两个或更多的试样。取样的方法和试样的制备应在试验报告中说明。注：不正确的试样制备会影响待测聚合物的性能。其他有关资料，见附录B。7、试验条件和试样的状态调节7.1试验条件试验前，接通仪器电源至少1h，以便电器元件温度平衡。仪器的维护和操作应在GB/T2918-1998规定的环境下进行。注：建议仪器不要放在风口处，并防止阳光直接照射。测量时，应避免环境温度、气压或电源电压别烈被动。7.2试样的状态调节测定前，应按材料相关标准规定或供需双方商定的方法对试样进行状态调节。注1：除非规定了其他条件，建议按照GB/T2918-1998的规定对试样进行状态调节。注2：DSC得到的结果受状态调节影响很大。8、校准8.1总则至少应按照仪器生产厂的建议校准量热仪的能量和温度测量装置。注1：由于校正函数K(T)(见8.3)随温度而变化，所以不能表示为简单的比例系数。因此，对每一个参数，即温度或能量，有必要至少用两种标准样品进行校准。在附录A中给出的大多数标准样品，都能用于温度和能量两个参数的校准。注2：影响校准的因素：—-DSC量热计类型；----气体及其流速；——样品皿类型，尺寸及其在样品支持架上的位置；——试样的质量：——升温和降温速率；——冷却系统的类型。建议尽可能精确地确定实际测定条件，并用相同的条件进行校准。DSC仪器附带的计算机系统可能会自动校准某些参数。注3：建议定期用熔点接近于待测材料测试温度范围的标准样品对温度和能量测量装置进行校准。8.2温度校准进行温度校准的步骤如下：——选择至少两种转变温度处于或接近待测温度范围的标准样品；——用与测定试样相同的条件测定标准样品的转变温度。标准样品转变温度的定义为：在峰的前沿最大斜率点的切线与外推基线的交点(即：外推起始温度)；一通过比较标准样品的标准值和记录值确定温度校正系数，除非计算机系统能根据标准值与记录值进行比较自动得到。注：在升温方式下，正确地校准仪器可给出一致的结果，但在降温方式下却不一定(因为过冷)。因为没有用于降温方式的标准样品，可只对升温方式进行温度校准。每次改变试验条件，都应进行温度校正。如果需要，也可按有关要求经常进行温度校准。温度校准的重复性应优于2%。8.3能量或热功率的校准DSC仪器能量(以J为单位)或热功率(以W为单位)的校准，就是测定校准函数K(T)或仪器灵敏度与温度的关系。灵敏度单位为mW/mV，它表示仪器指示的电信号E(T)与在温度T时传递给试样的功率P(T)的关系，如式(4)所示：P(T)=K(T)×E(T)………………（4）或用积分式，如式(5)所示……………(5)式中：P(T)——温度为T时DSC仪传递给试样的功率，单位为毫瓦(mW)；K(T)——校准函数或仪器灵敏度，单位为毫瓦每毫伏(mW/mV)；E(T)——仪器指示的电信号，单位为毫瓦(mW)。根据DSC仪的类型和待测的温度范围，可用仪器直接校准或用标准样品的熔融或热容的测试值与它们的标准值比较来进行校准。注：在选择校准方法时，建议参照仪器制造商的有关资料。按下述步骤进行校准：——选择两种或多种标准样品，其热容和熔点处于或接近待测的温度范围；——用与测定试样相同的条件测定标准样品；——记录转变热或热容的电信号E与温度的关系图；一通过比较标准值与记录值，确定能量或热功率校正函数。除非计算机系统能根据标准值与记录值比较自动地得到校正函数。能量校准应定期进行。这种校正的重复性应优于2%。9、操作步骤9.1仪器准备9.1.1试验前，接通仪器电源至少1h，使电器元件温度平衡。9.1.2将具有相同质量的两个空样品皿放置在样品支持器上，调节到实际测量的条件。在要求的温度范围内，DSC曲线应是一条直线。当得不到一条直线时，在确认重复性后记录DSC曲线。9.2将试样放在样品皿内9.2.1选择容积适当的样品皿，并保证其清洁；9.2.2用两个相同的样品皿，一个作试样皿，另一个作参比1(可用空样品皿或不空的样品皿)；9.2.3称量样品皿及盖，精确到0.01mg 9.2.4将试样放在样品皿内；9.2.5如果需要，用盖将样品皿密封；9.2.6再次称量试样皿。9.3把样品皿放入仪器内用镊子或其他合适的工具将样品皿放入样品支持器中，确保试样和皿之间、皿和支持器之间接触良好。盖上样品支持器的盖。9.4温度扫描测量9.4.1设置仪器的程序，以进行需要的热循环。可使用两种类型的程序：连续或分步。9.4.2开始测量。测量期间所需的控制操作取决于测量类型和仪器相联的计算机的功能，参考仪器制造商的资料。9.4.3把样品支持器组件冷却到室温，取出试样皿，检验试样皿是否变形及或试样是否溢出。若试样溢出污染样品支持器，则按照制造商说明书进行清洗。四9.4.4称量试样皿，如果有质量损失，则可能发生另外的熔变。9.4.5如果怀疑有化学变化，打开试样血并检查试样。被损坏的皿不能再次用于测量。9.4.6按仪器制造商的说明书处理数据。聚合物DSC测定结果受样品和试样的热历史和形态的影响很大。建议进行两次测定，第二次测定在按规定的降温速率冷却以后进行，以确保试验结果的一致。有关资料见附录B。9.5等温测量注：根据所用仪器的类型，有两种不同的恒温步骤：即将试样在室温下装入样品支持器或在规定的测量温度下装入样品支持器。9.5.1在室温下放入试样9.5.1.1将样品皿放入样品支持器中。设置仪器的程序，使其以快速扫描速率达到预定温度。9.5.1.2当得到稳定的基线后，尽快使仪器达到规定温度。9.5.1.3恒温，记录以时间为横坐标的DSC曲线。9.5.1.4当吸热/放热反应或转变完成以后，仪器试验条件不变继续运行，直到再次得到稳定的基线。注：运行5min是合适的。9.5.1.5测试结束后，冷却仪器，取出样品皿。9.5.1.6称量装有试样的皿。9.5.1.7按仪器制造商的说明处理数据。注：当材料在室温和测量温度下没有发生反应或转变时，可将仪器温度直接升高到规定的测量温度。在这种情况下，基线是在室温下得到的。9.5.2在测量温度下放入试样9.5.2.1设置仪器的程序，仪器升温达到规定的测量温度。9.5.2.2让仪器温度达到稳定状态条件。9.5.2.3在此温度下将试样皿和参比皿放入样品支持器中，记录以时间为横坐标的DSC曲线。9.5.2.4当吸热/放热反应或转变完成以后，仪器试验条件不变继续运行，直到再次得到稳定的基线。注：运行5min是合适的。9.5.2.5测试结束后，冷却仪器，取出样品皿。9.5.2.6称量装有试样的皿。9.5.2.7按仪器制造商的说明处理数据。9.5.2.8如果在试验过程中有试样溢出，应清理样品支持器。清理按照仪器制造商的说明书进行，并用至少一种标准样品进行温度和能量的校准，确认仪器有效。10、试验报告试验报告应包括以下内容：a)注明参照本标准；b)标明受试材料的全部资料信息；c)所用DSC仪器类型；d)所用样品皿类型；e)每次使用的标准样品，特征值及用量；f)样品支持器组件中所用的气体及流速；g)取样、试样制备及试样状态调节的详细情况；h)试样质量；i)样品和试样在试验前的热历史；j)程序温度参数，应包括起始温度，升温速率，最终温度以及降温速率；k)试样质量的变化；1)试验结果；m)试验日期。试验报告应附DSC曲线。附录A(资料性附录)标准样品表A.1各种标准样品的转变或熔触温度及熔融焙附录B(资料性附录)一般建议 GB/T19466.1差示扫描量热仪适用于聚合物材料的比较测试。然而，使用本方法的测试结果常常受系统误差的影响，例如：不正确的校准、基线校准或试样制备等因素。建议用聚合物来做标准样品(同常规分析材料相似)用于待测材料的分析。这样有利于对不同仪器、时间和试样制备方法测得的数据进行比较。 GB/T19466.1差示扫描量热仪建议测试温度不要超出聚合物样品的分解温度。样品分解会导致样品从不带盖的样品皿中溢出或从密封的试样皿挤出而污染样品架组件。温度过高或温度扫描范围太大，会引起校准曲线线性的变化，导致结果不准确。 GB/T19466.1差示扫描量热仪当一条多峰的DSC曲线中的各个峰是可分开的，则对各峰的说明是相当确定的(参见本系列标准的第3部分中的3.7)。但更多的情况，DSC曲线中的峰是分不开的。这些类型的曲线是由于几个反应和/或转化同时发生的结果。在这种情况下，测得的热性能只能是：总、第一个反应或转变的起始温度和外推起始温度、最后一个反应或转变的外推终止温度和终止温度、以及几个峰温。仅用DSC曲线，不可能完全识别这些单个反应或转变。在某些情况下，调节升温或降温速率可能会有助于分离多峰现象。但是，降温速率对降温后升温扫描测得的特征温度有很大影响，应小心操作。 GB/T19466.1差示扫描量热仪DSC曲线在第一次升温扫描中有几个峰，而在第二次升温扫描时只有一个峰的现象，对聚合物来说是典型的。第二次升温扫描通常是随着一个准确迅速均匀的冷却过程后进行的。第一次升温扫描获得的信息可以说明聚合物经受的预热过程(如加工和试样制备)。因此，分析聚合物时，建议分三步进行DSC操作；第一次升温、然后降温和第二次升温。用上述步骤进行测试，记录试样皿中聚合物的初始质量及第二次升温前后的质量，可有助于识别各个不同的峰。要想得到不受热历史影响的样品材料的热性能信息，应使用第二次扫描的结果。

CIF扫描电镜等离子清洗机CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程、原位双等离子清洗源设计，并可自动切换，一机多用。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 高效低损伤技术参数产品型号CIF-SEM法兰接口KF40工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-100W可调，自动匹配器气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min 质量保证二年质保，终身维护

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CIF扫描电镜等离子清洗机CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程、原位双等离子清洗源设计，并可自动切换清洗源，一机多用。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗功能。主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 高效低损伤技术参数产品型号CIF-SEM法兰接口KF40（CF40)工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-150W可调，远程等离子源，自动匹配器气体控制标配单路质量流量计（MFC)可选双路。50毫分/分，自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制皮拉尼真空计，测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min 质量保证二年质保，终身维护

高精度便携式激光扫描系统非接触式测量Cobra™ 2D是一款便携式激光扫描仪，Cobra使用低功率高精度激光，可提供高分辨率的线性轮廓测量，因此非常适合具有关键表面轮廓尺寸测量要求的易碎或柔韧零件可的现场测量。Cobra速度快，可以轻松测量高度、长度、坡度和半径。精确的表面轮廓Cobra™ 使用低功率激光扫描零件表面并提供精确的表面高度信息。可选激光传感器DRS™ 激光器提供可选用的一系列分辨率和距离，以满足各种应用。实时成像可选摄像头，用于对被测部件进行轴上成像。在测量时查看激光光斑在零件表面路径。15×放大倍率下的同轴LED表面照明，可实现完美的图像对比度，并可通过Scan-X软件进行调节。技术参数扫描长度和Z轴调整范围标准扫描长度-X轴NA，Y轴50毫米Z轴调整范围-50毫米激光扫描分辨率标准0.125μm扫描速度标准5毫米/秒。在30μm间距的镜面软件Scan-X® 传感器和附件激光传感器DRSLasers

2轴激光扫描振镜Novanta公司旗下的英国Cambridge Technology的提供高精度激光振镜扫描头，其2D系列振镜包含三个系列：-MOVIA紧凑型振镜扫描头-Versia 2D高级多用途振镜扫描头- Lightning II 2D旗舰高精度高速振镜扫描头1. MOVIA紧凑型振镜扫描头MOVIA紧凑型振镜扫描头突出优点是经济，稳定和高效，其紧凑型的结构非常适合于诸如激光打标，激光微加工等多种应用规格MOVIA-2D-10 mm 镜片通光孔径 10mm 扫描类型 矢量扫描 扫描角度 ±20° 光束位移 12.05 mm 步进响应时间(全角度1%) 210μs 常规打标速度 3m/s （使用160mm F-Theta镜头） 常规定位速度 16m/s 重复精度 3.5 μrad 跟随误差 130μs 线性度 99.9%（在20°扫描范围内） 波长选项+最大功率 CO₂ 激光 :9.2-10.6μm最高125W；光纤激光：1040-1090nm最高125W 绿光：532nm|请与厂家确认 紫外：353-357nm|请与厂家确认 增益误差 5 mrad 零点漂移 5 mrad 长时间漂移 100 μrad 长时间比例漂移 150 ppm （30分钟预热后，24小时运行，单轴） 温度偏差漂移 20 urad/*c 温度比例漂移 20 ppm/℃ 指令比特率 16位 通信接口 XY2-100 IP等级 IP50 电源需求 ±15V,3A RMS 工作温度 15°℃-35*℃ 重量(近似值) 1.5kg 尺 寸 ( L x W x H） 114mmx94mmx86mm2. Versia 2D高级多用途振镜扫描头Versia高级多用途振扫描头采用了双向通信协议，可适配模拟控制卡或数字式控制卡，可适配更大孔径，更高激光功率，可对指定应用单独优化。规格Versia-2D-14 mm 镜片通光孔径 14mm 扫描类型 矢量扫描 扫描角度 ±21° 重复精度 2 μrad 长时间漂移 25 μrad 长时间比例漂移 40 ppm （30分钟预热后，24小时运行，单轴） 温度偏差漂移 10 urad//℃ 温度比例漂移 10 ppm/℃ 波长选项+最大功率 CO₂ 激光 :9.2-10.6μm最高200W；光纤激光：1040-1090nm最高200W绿光：532nm|请与厂家确认 紫外：353-357nm|请与厂家确认指令比特率16 bit(XY2-100) 20 bit (NVL-100) 通信接口XY2-100； NVL-100 IP 等级 IP54 电源需求 48V,5A RMS 工作温度 15°℃-40 ℃ 重量(近似值) 2.12kg 尺 寸 ( L x W x H） 99mmx99mmx132.20mm 优化举例 激光微加工-OLED面板 步进响应时间(全角度1%) 400μs 最大速度 80rad/s 循迹误差 230μs3. Lightning II 2D旗舰高精度高速振镜扫描头Lightning II即“闪电2代”是我们的旗舰数字驱动激光扫描头，同时具备快速，高精度和长时间稳定工作的优点。是钻通孔，增材制造，微加工等应用的理想工具。Lightning II参数指标：型号:Lightning II 2D14 mm20 mm25 mm30 mm镜片通光孔径14 mm20 mm25 mm30 mm扫描角度±22°±20°±17°±20°步进响应时间0.36 ms0.37 ms0.36 ms0.55 ms常规工作速度50 rad/s50 rad/s50 rad/s50 rad/s波长选项355nm/532nm/1030-1080nm/9.4-10.6μm 宽带:350nm-12μm重复性1 μrad抖动1 μrad长时间漂移10 μrad温度漂移2 μrad/℃线性度99.9%定位分辨率24-bit数字通讯接口GSBus or XY2-100状态信号反馈Status Signals Position Acknowledge,System Ready指令分辨率24-bit(GSB)or 16-bit(XY2-100)水冷温度20.0 ℃±2.5℃冷却水需求蒸馏水，含缓蚀剂，如Optishield Plus或同等产品电源需求+15V to +48V DC,3A RMS each,6A peak工作温度15°℃ to 35℃增材制造 激光微加工

激光扫描共聚焦成像模块 CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块的创新之处主要体现在两点： 1）与市场同类产品相比，CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块具有更简洁的光路设计。通过光路的重新设计优化，减少了光学元件的使用数量和信号传递的步骤。信号传递环节的减少，使荧光信号的损失降到ZD，进而提高了模块的检测灵敏度。简洁的光路同时提高了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本； 2）与市场同类产品相比，CSIM 110共聚焦扫描成像模块优化了信号的探测类型，获得更为高效的信号采集。自主开发的信号采集电路，重新设计了信号的探测频次和和方式，显著提升了信号增益，以更低的照明强度获得了更好的信噪比和动态范围。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块，是桑尼基于多年高速光学扫描振镜和激光打标系统的开发经验，全新自主研发的产品。用户可将其搭配在原有的倒置荧光显微镜上，即可方便、快速地把倒置荧光显微镜升级为激光扫描（单点）共聚焦显微镜，获取高质量的共聚焦图像。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块通用性好，适配各品牌显微镜使用标准C型接口，无需额外配件即可与显微镜连接，搭建单点扫描共聚焦成像系统。使用进口配件 保障成像质量配置高性能Semrock滤光片、Coherent长寿命固态激光器、滨松多碱PMT，获取高分辨率图像。可定制升级 加载各种功能模块如：CCD/SCOMS相机接口、电动Z轴扫描模块、DIC（微分干涉）模块、适用于活细胞成像的超高灵敏度探测器等。光路设计简洁用最少的光学元件实现共聚焦成像功能，既减少了荧光信号的损失，提高了模块的检测灵敏度，又增强了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本。信号采集稳定自主设计开发的信号采集电路，优化了信号增益，提高了图像的信噪比和动态范围。激光器直调 超长使用寿命使用COHERENT OBIS 固体或半导体激光器，通过外部调节激光器功率和开关，延长激光器使用寿命，有效降低售后成本。激光器稳定性好，8小时功率变化＜2%。即开即用，操作方便，可同时搭载4个激光器。高灵敏度PMT标配Hamamatsu新一代高性能多碱PMT，量子效率超过25%，相比国外前代共聚焦产品，灵敏度提高超过一倍。可升级为磷砷化镓（GaAsP），进一步提高图像的信噪比： GaAsP 的量子效率可达45%。Sunny XY描振镜高速扫镜使用本公司生产制造的XY高速扫描振镜，响应速度快、重复精度高、发热量低、温度漂移小。其他配件：共聚焦/宽场切换接口接口可同时连接共聚焦和相机，可自由选择共聚焦成像或相机成像。电动Z轴马达使手动显微镜实现自动调焦功能，实现XYZ三维扫描。 DIC功能可定制升级，加载DIC（微分干涉）模块。软件功能全中文界面，简单易用全软件控制完成多维图像采集，实现多通道扫描、时间序列和Z轴序列成像多色荧光、DIC图像叠加，添加标尺全软件控制数据记录，支持成像参数管理导出支持多种图像输出格式

SC-30 共振高频扫描镜SC-30共振高频扫描镜是一款体积小，工作寿命长，性能可靠的电磁驱动动反射镜设备。其以极好的精密度，准确度和出色的重复性快速地生成光像。SC-30类型的扫描频率为200HZ到16KHZ范围内的某一固定频率，在该固定频率下的扫描幅值可以被调制。共振扫描镜具有几乎无限的工作寿命，并有多年持续工作的记录证明。高设备Q值确保了频率稳定性以及较低的驱动电功率。而高弹性刚度则提供了良好的抗震和防抖性能以及扫描重复性。固有频率共振又使该扫描镜成为多种需实现最小畸变成像且长时间运行功能的最佳选择。 高度成功的SC-30的共振扫描仪被证明是OEM创新型企业成长的重要组成以及成像技术的研发和系统集成产业的理想选择。特点：☆低热消散☆重量轻☆低功率驱动☆结实、无易损部件☆无需维护，无需润滑☆高可靠性☆真空模式☆良好的抗震及防抖能力☆无相位噪声☆无电磁辐射干涉☆提供反射镜位置☆玻璃镜面标配，铍/金属镜，棱镜以及透镜可选产品SC-30图片应用激光扫描，影像，动画，高分辨率打印，晶片检测，数据识别系统，视网膜图像采集，医用数字X射线，分拣，机器视觉，机器人技术，无损检测，存储刻录，眼科检测，DNA排序，共聚焦显微镜，生物医学成像，光学相干断层扫描OCT，质量检测系统，智能交通系统和生物，医学和材料研究。SC-30 共振高频光学扫描镜系列（200Hz到20KHz）SC-30 扫描角 （光学P-P）镜尺寸 (mm)频率 （Hz）30°25×25 到 10×10200-75020°10×10 到 8×9751-400016°8×9 到 7×84001-600012°7×8 到 5×66001-800012°5×6 到 4×58001-100006°4×5 到 3×410001-159005°3×416000上海瞬渺光电技术有限公司Rayscience Optoelectronic Innovation上海市闵行区都会路2338号总部一号21号5楼Tel: Fax: Website:

Moewe多面镜超高速激光扫描头PM600（转镜系统）超快激光多面镜高速扫描头（转镜系统）Moewe PM系列多面镜扫描头MOEWE多面镜扫描头(PM系列)设计用于高功率超快激光加工。该系统为二维光束偏转单元，可进行2D、2.5D和3D加工。MOEWE高端PM系列扫描头具有30毫米的通光孔径和实时机载数据处理功能，可以在前所未有的高吞吐量上实现最高精度的宏观与微观加工。多面镜扫描头(Polygon Mirror Scanner)在半导体行业的应用主要特点高达30=mm的入光孔径适用于功率高达5kW的连续激光在整个扫描范围内都可以实现超高的扫描速度 (无加速度损耗)全数字、FPGA板载数据处理适用于Bitmaps、矢量图形、STL文件实时激光控制，可实现最高的精度主要优势二维光束偏转装置，可以单独使用或与设备集成 (实现轴、卷对卷等加工)多个数字和模拟I/OI接口、以太网通信、编码和过程控制应用：激光标刻、微纳结构、表面清洁、打孔、切割、表面结构 (2.5D)、点焊、增材制造 (3D)等选配项目物镜可拆卸及更换物镜 (标准或定制物镜)167、255、420 mm等规格平场透镜硬件通过AOM实现连续激光的10 MHz的频率调制多个扫描头的同步固定重复频率的激光器的相位校正软件参数设定、bitmap和矢量图形模式8位灰度图像处理，用于2.5D雕刻3D实施分层 (STL文件)扫描头和外部平移台的同步通用参数光学参数输入输出实时FPGA处理可点击图片放大聚擘国际贸易 (上海) 有限公司聚 嵘 科 技 股 份 有 限 公 司聚擘国际贸易 (上海) 有限公司／聚嵘科技股份有限公司，专业从事半导体封装及测试、LED封装测试、太阳能、SMT、飞秒/皮秒/纳秒激光等定制设备/子系统的开发、销售及售后服务。公司总部位于上海，在深圳、北京、西安设有办事处。公司在设有专业的飞秒精密微纳加工实验室 — FemtoFocus Lab及MiniProduction Lab，合作伙伴有法国Amplitude公司 、 德国Moewe公司 、 法国ALPhANOV光学与激光技术中心、比利时LASEA公司、法国NOVAE公司、德国Pulsar Photonics公司。实验室拥有专业的前沿激光微纳加工应用开发及技术支持团队，提供超短脉冲 (小于500fs) 和极短脉冲 (小于100fs) 激光技术相关测试及高速加工 (多光点、转镜) 等高度可扩充的高弹性集成方案。聚擘国际贸易(上海)有限公司| 电子 | 半导体 | 飞秒激光 | 微加工 | 科研 |

超声波扫描显微镜品牌：JIONSUN型号：UTScan400产品简介：扫描显微镜是一种利用传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查元器件、材料、晶圆等样品内部的分层、空洞、裂缝等缺陷。超声波扫描显微镜是一种实用性极强的无损检测工具。该产品主要利用高频的超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能。因此，被广泛应用于半导体器件及封装检测、材料检测、IGBT功率模组产品检测等场合。应用领域：■ 半导体器件及封装检测：分立器件（IGBT/SiC）、陶瓷基板、塑封IC、光电器件、微波功率器件、MEMS器件、倒装芯片、堆叠Stacked Die、MCM多芯片模块等。■ 材料检测：陶瓷、玻璃、金属、塑料、焊接件、水冷散热器等。■ IGBT功率模组产品检测：实现 IGBT 模块内部界面和结构缺陷的无损检测，在进行功率循环后，通过SAM测试，准确找到 IGBT 模块材料、焊料层，打线等工艺中出现的问题，筛选不合格产品，并促进 IGBT 模块的封装质量提升。

产品概述：BFS-MSCAN200高通量数字切片扫描仪搭载磁悬浮电动扫描平台使用LogiScanner扫描软件，可以灵活控制扫描模式、拼图模式、对焦模式等的设置，拥有更高的扫描效率，一次全自动扫描200张玻片，可连续加样，同时具有防碎片功能。搭载优异的光学系统，可获得出色的图像质量。可应用于科研院所、大型医院及第三方检测机构。 出色的图像质量为了生成高品质的载玻片图像，BFS-MSCAN200系统采用能够同时实现更高数值孔径、色差校正和平场性的高性能物镜，最终获得具有更宽视场的更平滑图像，并且图像边缘不存在亮度下降问题。为了进一步提高图像质量，系统光程进行优化，与高性能物镜配合使用，能实现更均匀的照明。这些增强功能所实现的出色图像质量让使用测量或共定位的量化技术科获得理想的精确性。 实现精确色彩还原的明亮LED和均匀照明该系统透射照明用真色彩LED具有与卤素灯相同的光谱特性和功率。因此多种染色均可正确显示成像和渲染。配有匀光板的照明系统让光线在整个视场均匀分布，从而获得明亮均匀的图像。 高通量、高效率的扫描系统上片机最多可容纳50个载玻片托盘，200个76.2*25.4mm载玻片。采用载玻片托盘整体上片模式和防碎片功能，确保在扫描过程中不会因为停电或仪器故障等意外事故造成碎片。可实现每片预览，并识别一维码或二维码。便捷的软件功能可以灵活控制所有的扫描设置，当玻片盘上无玻片，扫描可以自行跳过。 便捷的数据管理在默认的ScanResult浏览系统中，可轻松找到扫描的切片，只需检索相应信息，可获得玻片的全部信息。 技术参数 装载容量：200片单片扫描时间：≤45秒（扫描范围15mm*15mm，20x物镜） 项目参数装载容量200片物镜孔位3物镜4X，10X，20X扫描专用物镜物镜转器全电动单片扫描时间≤45秒（扫描范围15mm*15mm，20x物镜） 分辨率≤0.29μm/pixel电源功率160VA重量～40kg

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

产品概述：BFS-MSCAN200高通量数字切片扫描仪搭载磁悬浮电动扫描平台使用LogiScanner扫描软件，可以灵活控制扫描模式、拼图模式、对焦模式等的设置，拥有更高的扫描效率，一次全自动扫描200张玻片，可连续加样，同时具有防碎片功能。搭载优异的光学系统，可获得出色的图像质量。可应用于科研院所、大型医院及第三方检测机构。 出色的图像质量为了生成高品质的载玻片图像，BFS-MSCAN200系统采用能够同时实现更高数值孔径、色差校正和平场性的高性能物镜，终获得具有更宽视场的更平滑图像，并且图像边缘不存在亮度下降问题。为了进一步提高图像质量，系统光程进行优化，与高性能物镜配合使用，能实现更均匀的照明。这些增强功能所实现的出色图像质量让使用测量或共定位的量化技术科获得理想的精确性。实现精确色彩还原的明亮LED和均匀照明该系统透射照明用真色彩LED具有与卤素灯相同的光谱特性和功率。因此多种染色均可正确显示成像和渲染。配有匀光板的照明系统让光线在整个视场均匀分布，从而获得明亮均匀的图像。高通量、高效率的扫描系统上片机多可容纳50个载玻片托盘，200个76.2*25.4mm载玻片。采用载玻片托盘整体上片模式和防碎片功能，确保在扫描过程中不会因为停电或仪器故障等意外事故造成碎片。可实现每片预览，并识别一维码或二维码。便捷的软件功能可以灵活控制所有的扫描设置，当玻片盘上无玻片，扫描可以自行跳过。便捷的数据管理在默认的ScanResult浏览系统中，可轻松找到扫描的切片，只需检索相应信息，可获得玻片的全部信息。技术参数装载容量：200片单片扫描时间：≤45（扫描范围15mm*15mm，20x物镜） 项目参数装载容量200片物镜孔位3物镜4X，10X，20X扫描用物镜物镜转器全电动单片扫描时间≤45（扫描范围15mm*15mm，20x物镜）分辨率≤0.29μm/pixel电源功率160VA重量～40kg

高精度3D小型激光扫描系统Cobra™ 3D可提供小面积分析从而获取零件的更多信息。Cobra3D可测量X轴和Z轴的轮廓，激光扫描分辨率可达0.125微米。Cobra3D用途广泛，可置于台面或安装在定制系统上。精确的表面轮廓Cobra™ 使用低功率激光扫描零件表面并提供精确的表面高度信息。可选激光传感器DRS™ 激光器提供可选用的一系列分辨率和距离，以满足各种应用。实时成像可选摄像头，用于对被测部件进行轴上成像。在测量时查看激光光斑在零件表面路径。15×放大倍率下的同轴LED表面照明，可实现完美的图像对比度，并可通过Scan-X软件进行调节。技术参数扫描长度和Z轴调整范围标准扫描长度–X轴100毫米，Y轴50毫米Z轴调整范围–50毫米激光扫描分辨率标准0.125μm扫描速度标准5毫米/秒。在30μm间距的镜面软件Scan-X® 传感器和附件激光传感器DRSLasers

1、仪器简介差示扫描量热法（DSC）这项技术一直被广泛应用。差示扫描量热仪既是一种例行的质量测试工具，也是一个研究工具。测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系。我公司的仪器为热流型差示扫描量热仪，具有重复性好、准确度高的特点，特别适合用于比热的精确测量。该设备易于校准，使用难度低，快速可靠，应用范围非常广，特别是在材料的研发、性能检测与质量控制上。材料的特性，如玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等，都是差示扫描量热仪的研究领域。我公司有多种类型差示扫描量热仪，客户根据实验参数以及实验需求选择不同的型号。差示扫描量热仪应用范围有: 高分子材料的固化反应温度和热效应、物质相变温度及其热效应测定、高聚物材料的结晶、熔融温度及其热效应测定、高聚物材料的玻璃化转变温度等。不同型号的仪器，测试不同的指标。将试样和参比物分别放入坩埚，置于炉中进行程序加热，改变试样和参比物的温度。若参比物和试样的热容相同，试样又无热效应时，则二者的温差近乎为“零”，此时得到一条平滑的曲线。随着温度的增加，试样产生了热效应，而参比物未产生热效应，二者之间就产生了温差，在DSC曲线中表现为峰，温差越大，峰也越大，温差变化次数越多，峰的数目也越多。峰顶向上的峰称为放热峰，峰顶向下的峰称为吸热峰。下图为典型的DSC曲线，图中表现出四种类型的转变：Ⅰ为二级转变，是水平基线的改变Ⅱ为吸热峰，是由试样的熔融或熔化转变引起的Ⅲ为吸热峰，是由试样的分解或裂解反应引起的Ⅳ为放热峰，这是试样结晶相变的结果 2、仪器原理物质在物理变化和化学变化过程中往往会伴随着热效应，放热和吸热现象反映了物质热焓的变化。差示扫描量热仪就是测定在同一受热条件下，测量试样与参比物之间温差对温度或时间的函数关系。差示扫描量热法，是在程序控制温度的情况下，测量输出物质与参比物的功率差与温度关系的一种技术。我公司仪器为热流型差示扫描量热仪，纵坐标是试样与参比物的热流差，单位为mw。横坐标是时间（t）或者温度（T），自左向右为增长（不符合此规定应注明）。试样与参比物放入坩埚后，按一定的速率升温，如果参比物和试样热容大致相同，就能得到理想的扫描量热分析图。 图中T是由插在参比物上的热电偶所反映的温度曲线。AH线反应试样与参比物间的温差曲线。如果试样无热效应发生，那么试样与参比物间△T=0，则出现如曲线上AB、DE、GH那样平滑的基线。当有热效应发生而使试样的温度低于参比物，则出现如BCD顶峰向下的吸热峰。反之，则出现顶峰向上的EFG放热峰。图中峰的数目多少、位置、峰面积、方向、高度、宽度、对称性反映了试样在所测温度范围内所发生的物理变化和化学变化的次数、发生转变的温度范围、热效应的大小和正负。峰的高度、宽度、对称性除与测试条件有关外还与样品变化过程中的动学因素有关，所测得的结果比理想曲线复杂得多。3、仪器特点3.1 全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及基线稳定性；3.2 仪器下位机数据实时传输，界面友好，操作简便。DSCDSC-214DSC-204DSC-404DSC-214HDSC-404HDSC量程0～±600mW温度范围RT~600℃-40℃~-600℃-150℃~-600℃RT~600℃（带降温扫描）-150℃~600℃（带降温扫描）升温速率0.1~100℃/min温度精度0.001℃温度波动±0.01℃温度重复性±0.1℃DSC精确度0.001mWDSC解析度0.01uW工作电源AC220V/50Hz或定制控温方式升温、恒温、降温（全程序自动控制）程序控制可实现六段升温恒温控制，特殊参数可定制曲线扫描升温扫描、降温扫描气氛控制两路自动切换（仪器自动切换）气体流量0-300mL/min（可定制其它量程）气体压力≤0.55MPa显示方式24bit色7寸LCD触摸屏显示数据接口标准USB接口参数标准配有标准物质（锡），用户可自行矫正温度和热焓软 件带有温度多点校正功能备 注所有技术指标可根据用户需求调整4、仪器界面4.1“初始状态”键，用来查看环境温度、样品温度等信息。4.2“参数设置”键，用来设置实验参数，一般在软件上设置。4.3 “设备信息”键，显示设备信息。管理员通道内部人员校准温度用的。4.4“开始运行”键，在电脑软件上操作开始后，显示当前数据信息。

新型单点扫描激光测振仪意大利Julight新型单点扫描激光测振仪采用半导体作为激光源，以及基于蕞和新颖的自混合干涉技术方案将直接到激光头腔体里的散射光和标准激光源进行干涉处理，这样大大简化了激光头的设计，测量目标表面法向方向的位移量。在一些特殊情况下，比如被测物不能直接接触、被测物处于高温及危险环境中，或无法触及的地方，被测物在旋转中或样品需要大量的测试点（大于1000）时，非接触振动测量显得尤其重要。单点扫描式激光测振仪是由PC电脑通过专业软件遥控测试而成，可以通过软件来设置激光束的偏移角度，外加数据采集系统进行存储和分析振动数据。测试可以在粗糙和散射表面（比如未抛光的金属，塑料橡胶木质纤维等）。模拟量输出是被测物位移或速度的对应值，频率范围从 DC到 50KHZ（或只要加上作为选项的 -EXT，频率便能从 DC到 3MHZ,10MHZ甚至 35MHZ，工作距离 0.1-5m（蕞远可定制50米）。单点扫描式测振仪可在每个方向上±25°的扫描空间内测量高达1024个点/每轴。系统软件可实现：目标柔性测量网格的生成、已编程网格的自动化扫描、大量多种数据的分析和过滤选项、以及分析结果的3D动画和可视化显示。扫描范围进一步扩大，扫描角度可达±25°X±25°，扫描速率从0.5 P/s 到 50P/s,扫描点数为1024×1024点，一次扫描完成从尺寸几毫米小器件到十几米大的结构模态测量。扫描过程中 ,数采系统具有时域和频模块，所有点的振动以时域和频域方式逐点记录，数采的谱线可高达 25600点。数采系统用自动量程方式，可以根据测量值的大小调节量程，以求蕞大信噪比。新型单点扫描激光测振仪产品参数 新型单点扫描激光测振仪产品特点 1. 测点选择简单直观高清型摄像可以通过集成在激光头里面的摄像头观测到被测物。用户可以直接在被测物的图像上选择测点。用实时彩色96倍变焦成像系统(光学变焦为24倍，数字变焦为 4 倍，自动对焦)，变焦倍率可在软件上设置、自定义测量点和区域。 2. 多模式快速扫描3D扫描几何图形-通过集成在激光头部的3D扫描激光遥测仪获得被测物体的距 离和轮廓图，也可以提高对焦速度，提高非平面物体的扫描速率（采用可预见 或实时焦距调节模式）。一键式自动聚焦，一键自动扫描所有测试点，在扫描 过程中不需要再对光学头做移动。标准配置的扫描速率蕞大为50点/秒。根据客户需求，选择自动或手动两种模式，或自动与手动同时使用。控制软件 具有专门的窗口，用绿/黄/红三种颜色判断激光测振仪拾取的测点的信号好坏 （三种颜色对应好中差）。 3. 软件界面操作简单、直观Julight 单点扫描测振仪和配套的数据采集系统，使得模态测试变得很简单。软件包可提供大量的振动信息：各部位的振动状态，振幅大小及频率响应，频响函数等。同时厂家集成的数据采集系统所配的模态采集软件，具有模态频响函数品质判断功能，采用自定义的判断准则来确定所测点的频响函数的质量。如果该点的频响函数质量不好，将可以重新对该点进行测量。可显示任意频率下的频谱图，且能分析出共振点的位置，并将测量结果以图表、图形和动画的形式显示出来。新型单点扫描激光测振仪行业应用新型单点扫描激光测振仪适用于逐点测量许多点或一个面的振动稳态信号，如汽车中碟式刹车器、挡风玻璃、发动机和车体等部件的NVH 和ODS 测量；发动机涡轮叶片和机械结构的模态分析，应力应变场的测试和疲劳分析和寿命预估；扬声器、乐器和噪声源的定位和控制，军事上的地雷探测、噪声探测和飞机老化测试。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

激光束扫描组件 C10516型扫描组件是连接恒流扫描仪（galvano scanners）和远心f-θ (F-theta)透镜的光学积木，用于可见光波段的激光束扫描。将C10516和其它光学积木相耦合可以搭建测量系统，用于激光扫描荧光显微镜、反射型显微镜和共聚焦显微镜等。21.5mm直径的观测区域可以提供更宽范围的样品观测。将扫描组件粘接到商用显微镜的C-mount接口，就能通过光电倍增管能观测到高放大率图像。特性?通过两个恒流扫描仪（galvano scanners）的二维扫描?包含远心f-θ (Telecentric F-theta)透镜?21.5mm直径的宽观测区域?结合显微物镜的高放大率观测?覆盖较宽的谱域应用?激光扫面显微镜?共聚焦激光扫描显微镜（实例）生物显微镜、工业显微镜、DNA芯片和蛋白质芯片阅读器。 结构图外形尺寸(单位：mm)

独特的电场，磁场测量仪 众所周知，电子产品的辐射源将呈现电场和磁场两种特性，这主要是由于不同的电路和布局引起的.如数字和模拟、大功率和小功率、高频和低频、以及电缆、散热片等等都可能引起不同的辐射特性。而工程师往往无法判断自己的产品是电场辐射还是磁场辐射。另外发热问题也经常困扰工程调试，而所有这些都将由本设备轻松解决！XYZ三维全向测量仪 由于电子系统的复杂性，平板扫描已经无法满足实际需要了，如ＰＣＢ板上器件高度不同，机箱的不规则外形，复杂的电缆，尤其是机箱内多个ＰＣＢ板之间的互相干扰问题，只有三维的扫描系统才可以完全的反应出真实的系统内部电磁兼容问题。樶准确的定位测量仪 购买测量仪目的就是为了定位出辐射源的位置（电场或者磁场），毫无疑问，定位精度是测量仪的樶主要关键指标之一！我们采用了多种定位手段和技术，小于１毫米（樶好达0.2毫米）的定位精度是其它平板式测量仪永远无法比拟和超越的指标。速度樶好的动态跟踪测量仪 电子产品中的辐射源往往只有一个或者几个，而如何对这些辐射源快速实时跟踪和记录是工程调试的关键！因为它们很可能随着产品功能的变化而出现辐射的波动。我们的快速测量仪将以毫秒量级进行快速扫描跟踪，并绘制实时跟踪曲线图，让用户一目了然看到动态过程。独特的温度分布测量功能 电子产品的温度设计是否合理也是至关重要的，如器件布局、风扇大小、通风口、散热片等等。我们的测量仪另一个重要功能就是以红环热成像原理清晰扫描出电子产品的热分布情况。分辨率达±0.3度，尤其是它还可以跟踪记录您的产品通电工作后的温升过程。EMC-Scanner---樶准确的电磁辐射测量仪 1：可以对PCB板、电缆、元器件、整机进行测量；2：三维运动机构，可进行X、Y、Z中任意一面测量；3：测量结果以文档形式保存,可用二维或三维方式显示电磁辐射及热辐射状况，使电磁场“可视化”；4：可看到元器件级的电磁辐射，降低工程技术人员对高频电磁场、电磁兼容及热辐射方面经验的要求；5：自动完成扫描测量，节省了大量的时间；6：通过对比测量，以文档形式记录设计改进前后的电磁辐射效果，有利于设计的改进；7：在设计阶段早期发现潜在的电磁辐射干扰问题，缩短研制周期；8：对生产线产品进行测量，并与合格样品进行比较，确保产品合格率；9：没有环境要求，不需要暗室；10：通过设置扫描探头在X、Y、Z面上的扫描运动，可以将探头伸入机箱机柜内部，测量其内部各点的电磁场分布情况，方便地进行机箱、机柜的测量；11：系统本身没有频率限制，方便扩展测试的频宽，低至9KHZ甚至20HZ，高至18GHZ甚至更高；12：近场探头及频谱分析仪的配置对用户开放，用户可以根据自己的实际情况进行相应的配置；13：测量精度樶小1mm，樶小定位精度为0.2mm；14：可以准确地捕捉各点电磁场的樶恶劣变化；15：探头对扫描环境的影响小；16：升级和维护成本低；技术数据 电磁兼容诊断系统 型号 RSE321 RSE642 RSE644 XYZ轴的移动距离 300×200×100 mm 600×400×200 mm 600×400×400 mm 尺寸 620×400×550 mm 920×600×750 mm 920×600×950 mm 重量 20kg 27kg 35kg 精度 +/- 0.3 mm 樶小步距 1 mm 线性电压 230V, -15%，+10% 线性频率 50Hz, +/- 2Hz 功率损耗 25VA 静态功率损耗 20VA 温度范围 0-150 °C 分辨率 +/- 0.3 °C 测量点 在距离200mm时为一个直径6mm的光斑 响应时间 500ms

一、产品简介CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程等离子清洗源设计，清洗快速、高效、低轰击损伤，主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。二、产品特点1. 远程等离子清洗源2. 清洗快速、高效3. 低轰击损伤三、技术参数产品型号CIF-SEM法兰接口KF40（CF40）工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-150W可调，远程等离子源，自动匹配器气体控制标配单路质量流量计（MFC）可选双路。50毫升/分，自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制皮拉尼真空计，测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min 质量保证二年质保，终身维护

仪器简介：基本模式：吸光值，透射和浓度测量 还可选择其它单位：ug/ml,mg/L,g/L,ppm,%,I.U.,mM/L,M/L 定量：新建或使用储存标定曲线测量未知浓度 可使用多达10种标准液建立校正程序曲线，方法包括；线性 ， 二次拟合，三次拟合等 ,校正方法包括单波长法, ISO吸收法(双波长法)和三点法 波长扫描：可选择在任意波长范围内用不同速率和波长间隔扫描 扫描间隔：0.1/0.2/0.5/1/2/5nm 扫描速率：100到1000nm,高/中/低速 动力学测量：长达12小时测量吸收率随时间变化，结果在屏幕上实时显示，间隔可选择0.5/1/2/5/10/30秒和1分钟。后续处理包括回调，曲线追踪，选择曲线段进行速率计算等。 DNA/蛋白测量：包括浓度测量和纯度测量，不同波长下比值等30种方法。 包括260/280nm和260/230nm 吸光比。 多波长测量：可输入多达10个波长，进行同样品多波长下的测量 GLP 报告：用于GLP认证实验室 数据储存200点,包括吸光值和比值,样品数,稀释度,日期和时间等参数 机器开机自校，标准为656.1nm 波长精度可使用内置WL Validity 程序检测 吸收精度可使用内置Accu Validity 程序检测技术参数：波长：190---1100nm 带宽：4nm 波长精度：0.8nm 波长分辨率：0.1nm 波长重现性：0.5nm 光度仪范围：0--200% T -3.0---3.0A 0----9999Conc 光度仪精度：+/-0.5%T 光度仪重复性：好于0.3%T 散射：小于0.15%T 基线平整度：+/-0.004A 稳定性：0.002A/h@500nm 扫描速度：100---1000nm/min,高，中，低 光源：氘灯，卤素灯 显示：图表LCD（320X240点） 控制面板：29键薄膜键盘 输出：RS-232C 4位手动样品池，10mm比色皿 样品容量；最大100mm比色皿（需另配样品池） 建议配套打印机：惠普，爱普生

单片数字切片全景扫描仪 型 号：BFS-STD1 产品概述 BFS-STD1单片数字切片全景扫描仪使用LogiScanner扫描软件，可实现一键式操作，自动对焦、自动扫描，图像质量优异。可应用于形态学教学、临床诊断、远程病理、科学研究及AI人工智能领域等。 应用领域可用于染色体、血细胞、精子质量分析、尿沉渣、便常规、前列腺、免疫组化、妇科白带、穿刺细胞、胸腹水、脑髓液等所有科研与临床标本的形态学分析、病理分析，及微生物、动植物观察与研究。 系统参数物镜 20X图像分辨率 0.29 um / pixel扫描时间 120 秒 (15 mm * 15 mm)对焦方式 自动 / 手工扫描模式 标准 / Z-Stack预览相机 200万像素扫描相机 230万像素光源 3W / 10W LED 推荐电脑配置CPU Intel Core i7内存 DDR4 16G硬盘 7200rpm 1TB显示器 24寸 研究级数字切片全景扫描仪 型 号： BFS-PRO4 产品概述 BFS-PRO4研究级数字切片全景扫描仪搭载磁悬浮电动扫描平台，使用LogiScanner扫描软件，可实现一键式操作，自动对焦、自动扫描，图像质量优异。BFS-PRO4具有每批次全自动扫描多片组织切片的功能可应用于形态学教学、临床诊断、科学研究及AI人工智能领域等。 应用领域可用于染色体、血细胞、精子质量分析、尿沉渣、便常规、前列腺、免疫组化、妇科白带、穿刺细胞、胸腹水、脑髓液等所有科研与临床标本的形态学分析、病理分析，及微生物、动植物观察与研究。 系统参数物镜：APO 20X / 0.75图像分辨率：0.27 um / pixel扫描时间：≤50 秒 (15 mm * 15 mm)对焦方式：自动 / 手动扫描模式：标准 / Z-Stack预览相机：200万像素扫描相机：500万像素光源：大功率LED 推荐电脑配置CPU：Intel Core i7内存：DDR4 16G硬盘：7200rpm 1TB显示器：24寸

安赛斯（中国）有限公司---国际先进检测设备优质供应商。 我司的水浸超声C扫描系统，根据用途不同，有中小型实验室水浸超声系统和大型工业用水槽系统，满足复合材料研究、靶材生产、航空航天零部件探伤等各种需求，全套系统原装美国进口，是美国军方及波音公司指定超声无损检测产品。 如需索取产品资料及报价，请登录我司官网，并联系我司工作人员。本公司拥有独立的无损检测实验室，可提供测试服务。如需了解产品的详细参数及实时的产品报价，您可以登录安赛斯（中国）有限公司官网400 8816 976产品介绍：名称：水浸式超声C扫描系统型号：UPK-T10，UPK-T24，UPK-T36，UPK-T48，UPK-T60，UPK-T72等。产地：美国应用：进行高分子材料、复合材料、构件内部分层、脱粘、夹杂等缺陷的无损检测和评价。 应用： 水浸超声C扫描系统，是新一代数字化、模块化、计算机插卡式的超声探伤及A/B/C扫描成像系统。具有高速、高精度、高清晰图像分辨率及大频宽等特性。主要用于高分子材料、飞机用纤维复合材料、构件等的内部分层、脱粘、夹杂、空洞、孔洞等缺陷的无损检测和评价。可用于实验室研究，又可用于生产过程的质量检验及零部件探伤。 特点：l 集超声脉冲发射/接收与数据采集为一体的高精度、高性能超声脉冲发射采集卡（可达30MHz带宽，12位精度）。l 具有位置编码器的多轴（4-8轴）运动控制卡及功率放大器。l 由高性能数控电机驱动的多轴、多自由度、高速（可达500mm/s）、高精度（可达0.025mm位置精度）水槽或桁架式扫查系统。l 便携式或工业计算机系统及功能齐全的集多维轮廓与曲面跟踪扫查、探伤、分析、成像及评估于一体的窗式软件。 应用实例：u 航空航天零部件扫查系统u 大尺寸薄板水侵式超声扫查系统u 带驱动转盘的轴、盘、柱类零部件扫查系统u 带驱动滚轴的轴、管类零部件扫查系统u 大型板材生产线高速并行板刷探头超声波质量控制u 导弹类柱状零件喷水式超声扫查系统u 大型桁架结构曲面跟踪超声扫查系统u 自动上下料的炮弹壳底座自动超声质量检测系统更多型号的超声C扫描测试系统产品，请登录安赛斯（中国）有限公司官网查看，或咨询我司工作人员，我司可提供免费样品测试。您还可能感兴趣的产品有：德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah

卓越的速度、精度、分辨率及动态响应范围线激光扫描是一种非接触式、无损测量技术，它使用3D光学传感器以数字方式捕获扑捉线激光照射后的物体大小和形状。这与使用点激光传感器的OGP激光扫描技术完全不同。这两种技术都可以从物体表面创建数据“点云”，但线激光扫描仪的速度要快得多，并且通常具有更高的点密度。传统点激光扫描需要大量时间在物体表面往复移动获得物体表面的数据。然而，使用线激光扫描仪，一次就可以获得整条线的坐标点数据，通过激光线的移动，就可以将多条激光线的坐标点数据整合为物体表面点云。所有ShapeGrabber3D激光扫描仪均需要选择满足测量需求的合适扫描头。

型号SC-2SC-3SC-5SC-10SC-20SC-21SC-25SC-30镜面尺寸6mm，7x6mm ，10x6mm5mm dia.,7mm dia.8x7mm12x7mm6mm dia,6x6mm,7x7mm10x10mm6mm dia,6x6mm,7x7mm10x10mm7x7mm,8x8mm,10x10mm,20x20mm25x25mm8x8mm,10x10mm,12x12mm,15x15mm,20x20mm30x30mm6x6mm,8x8mm,10x10mm,12x12mm,20x20mm30x30mm3x4mm,4x5mm,5x6mm,7x8mm,8x9mm,10x10mm25x25mm扫描角度20°-50°可选20°-50°可选25-60°可选10-60°可选10-60°可选24-70°可选24-60°可选5-30°可选频率125Hz-800Hz 可选110Hz -1860Hz 可选100Hz to 2200Hz 可选100Hz to 3000Hz 可选10Hz to 1500Hz 可选15Hz to 2000Hz 可选15Hz to 2000Hz 可选200Hz to 16KHz 可选EOPC扫描振镜产品应用：微型激光扫描仪3D激光成像激光雷达生物医学成像共聚焦显微镜机器视觉及机器人智能交通系统共振扫描振器特别适用于专用的大批量OEM工业应用，这些应用可以轻松集成到小型手持式和便携式仪器，子系统和系统中。扫描仪用于连续检测系统，以执行 100% 检测，以使用一台扫描仪或多线扫描检测缺陷。对于大批量 OEM 制造，我们会考虑提供免费信息来构建驱动程序，将其整合到现有或新的驱动电子设备中，或将其构建为所需的尺寸。我们提供标准和定制的扫描系统：– 光学扫描仪相位锁定到稳定的外部时钟信号– 扫描系统，将两个相同频率的扫描仪锁定在主/从模式下以生成重复图案（例如：圆形或椭圆）– X，Y 扫描系统将两个扫描仪锁定为主/从模式以生成重复图案（例如： 光栅扫描或李萨如图案）– 由共振扫描仪和振镜扫描仪生成的X，Y光栅（面积）扫描系统光学扫描和偏转系统EOPC扫描振镜SC-SYS-1S 型号PLD-1S驱动器相位将任何共振扫描器（SC型，超小型扫描器除外）锁定到外部时钟信号，以提供稳定的扫描频率[子]系统。该系统可以在实验室中用作“独立”单元，也可以集成到更大的仪器/系统中。扫描仪是一个固定频率，从 5 Hz 到 16 kHz 范围内选择。您需要指定确切的时钟频率（精确到小数点后 4 位）。不建议在温度敏感应用中使用此系统。请参阅：http://eopc.com/sys_pld1s_extern.html http://eopc.com/driver_pld1s_cad.htmlhttp://www.eopc.com/driver_pld1s.htmlhttp://www.eopc.com/sys_pld1s_extern.html http://eopc.com/PLD-1S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜型号SC-SYS-2SSC-SYS-2S扫描系统由两个相同的共振光学扫描仪（SC型）组成，扫描仪“A”和扫描仪“B”，在MASTER/SLAVE模式下锁定，以生成圆形或椭圆或锁定两个扫描仪相位或0度或180度。该系统可以用作实验室中的“独立”单元或便携式仪器，或集成到更大的仪器/系统中。两个相同的扫描仪各有一个固定频率，从10 Hz到16 kHz的范围内选择。它们是体积小、重量轻、成本低、寿命长的设备。它们需要低功耗驱动电子设备，并且不会辐射任何电磁干扰（EMI）。扫描仪具有高振幅稳定性和非常低的振幅抖动 摆动小于 1 弧秒。扫描仪具有红外、可见光、紫外和高真空功能。提供参考信号和位置输出。请参阅：http://www.eopc.com/sys_pld2s_master.htmlhttp://eopc.com/driver_pld2s_cad.htmlhttp://eopc.com/driver_pld2s.htmlhttp://eopc.com/PLD-2S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜型号SC-SYS-2SXYSC-SYS-2SXY扫描系统由两个不同频率的共振光学扫描仪（SC型，超小型扫描仪除外）组成，锁定在MASTER/SLAVE模式下以产生重复图案，例如：光栅扫描或李萨如图案。扫描仪“X”是高频，扫描仪“Y”是低频。两个扫描仪各有一个固定频率，从 5 Hz 到 16 kHz 范围内选择。它们是体积小、重量轻、成本低、寿命长的设备。它们需要低功耗驱动电子设备，并且不会辐射任何电磁干扰（EMI）。扫描仪具有高振幅稳定性和非常低的振幅抖动 摆动小于1弧秒，该系统可用作实验室中的“独立”单元或便携式仪器，或集成到更大的仪器/系统中。扫描仪具有红外、可见光、紫外和高真空功能。提供参考信号和位置输出。X，Y扫描系统为涉及光束偏转的应用提供廉价的高性能：电视，HDTV，用于2D和3D扫描对象，用于分色，生成存储在计算机内存中的图像并将其投影到屏幕上，生成数据和/或将数据直接传输到生产单元（CAD / CAM）以及检测系统等等。扫描系统用于机器人、医疗非侵入性研究和测试、运输、非冲击打印和激光扫描、检查系统以及高速、高分辨率显示系统和机器视觉。参见：http://www.eopc.com//sys_pld2sxy_raster.htmlhttp://www.eopc.com/driver_pld2sxy.htmlhttp://eopc.com/PLD-2S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜模型SC-SYS-XYGSC-SYS-XYG 扫描系统锁定共振光学扫描仪（SC 型），用振镜锁定共振扫描仪以生成 X，Y 光栅扫描。 PLD-XYG 驱动器将谐振扫描振（固定高频，“X”）与振镜（线性扫描仪，“Y”）锁定，以生成光栅扫描（X 和 Y，如电视屏幕）。您可以使用我们制造的任何“X”方向共振扫描振器，但最常选择8 KHz和16 KHz的SC-30型高频共振扫描振器。SC-30型高速共振扫描器具有连续的正弦波运动。扫描仪的谐振频率由每帧所需的线数乘以所需的帧速率决定。振镜扫描仪的频率（Y 轴的帧速率）由共振扫描仪生成。它是一种具有快速飞返的波浪形式（恒定速度）的斜坡类型。我们提供的基本光栅扫描系统包括以下内容：-共振扫描器-振镜-两个扫描器的支架-带电源的PLD-XYG驱动器盒-附加功能是可选的。PLD-XYG驱动器与前面板扫描角度控制完全集成（遥控器是可选的）。驱动器以自振荡模式操作谐振扫描器（X轴，高频），以扫描器的谐振频率，并且还产生Y信号以驱动振镜扫描器（Y轴，低频）。PLD-XYG 驱动器具有用于 X 和 Y 扫描仪的模拟位置输出，并且可选配远程扫描角度（振幅）控制。无需外部函数发生器即可操作XYG系统。对于 OEM 制造，我们可能会考虑提供免费信息来构建驱动程序，以便您可以将其整合到您的驱动电子设备中或将其构建为所需的尺寸。要构建XYG扫描系统，我们需要知道：-每帧的行数-对于（X）共振扫描器：扫描角度[度，PTP光学]光束尺寸，所需的镜子尺寸[mm]波长和激光功率（源）频率[Hz]固定频率共振扫描镜：增强型铝保护涂层镜是我们的标准镜子镀金（保护）和镀银（保护）镜子，铍/金属镜，是可选的或客户提供的。-对于（Y）振镜扫描仪：帧速率（扫描仪X的频率与扫描仪Y的频率之比）。振镜：银镜是标准配置。-对于激光（源）：光束尺寸[毫米] 光束功率 波长[nm]参见：http://eopc.com/sys_pldxyg_raster.htmlhttp://eopc.com/driver_pldxyg_cad.htmlhttp://eopc.com/SC-SYS-XYG%20SCANNING%20SYSTEM%20data%20sheet.pdf http://eopc.com/PLD-XYG%20DRIVER%20data%20sheet.pdfPLD-XYG 驱动器具有用于 X 和 Y 扫描仪的模拟位置输出，并具有可选的远程扫描角度（振幅）控制。它与前面板扫描角度控制完全集成，遥控器是可选的。驱动器以自振荡模式操作谐振扫描器（X轴，高频），以扫描器的谐振频率，并在锁相模式下生成Y信号形式以驱动振镜扫描仪（Y轴，低频）。无需外部函数发生器即可操作系统。应用：扫描系统为无限应用提供廉价的高性能：HDTV，2D和3D成像，光刻，颜色分离，高分辨率显示系统，激光扫描，生成存储在计算机内存中的图像并将其投影到屏幕上，生成数据和/或将数据直接传输到生产单元（CAD / CAM）和检测系统。高速、高分辨率显示系统和机器视觉。许多应用是在红外和紫外波长，高真空或低温条件下。系统可以安装在移动的车辆、检测系统的移动臂或机器人上。 扫描系统用于机器人、医疗非侵入性研究和测试、运输、非冲击打印和激光扫描、检查系统和机器视觉。许多航空航天和军事应用都是在红外和紫外线波长，高真空或低温条件下。