2016国产磁测量好仪器系列之一：软磁材料基本磁滞回线测量仪FE-2100SD原创：朱永红 工程师，湖南永逸科技有限公司推荐：陆俊 工程师，中科院物理所磁学室2016年7月13日一句话推荐理由：在直面测量难题创新实践过程中催生出一款不输日本与德国同类产品的国产好仪器。一、引言磁性材料是二战后对科技进步和社会发展贡献仅次于半导体材料的功能材料，是磁性材料工业的重要组成部分。软磁材料磁性能测量的准确性是指导研究、发展新型材料和使用其制成产品保证质量的关键。磁性材料最基本的参数大都定义在磁滞回线上，所以通常的磁性测量就是磁滞回线的测绘。目前软磁材料直流磁特性的测绘国外设备通常采用磁场扫描法。即被测样品(通常是一个环形样品)上绕制励磁和测量两个线圈，其中一个通入励磁电流产生扫描磁场H(t)，称为励磁线圈，另一个对引起样品感应电压进行积分运算获得相应的磁感应强度响应函数B(t)，称为测量线圈，其B(t)与H(t)的函数关系即为磁滞回线。二、背景软磁磁滞回线测量中的一个技术难题来源于样品在磁化过程中涡流对磁化测量的影响，测量到的磁滞回线受到磁化频率和磁场波形(谐波)的影响，而产生畸变，从而使测量结果失去唯一性，所以尽管这种方法很普遍、很简单，但实际上操作性不强，因为扫描法所得到的参数受测试材料的厚度t、电导率σ和磁场变化速度dB/dt等因素的影响从而导致磁性材料测量结果与材料本征性质之间的可比性和准确度变差。针对这一难题，1990年前后，我国磁测量专家尝试采用模拟冲击法对软磁材料直流磁性能进行测量(参考中国计量科学院的《磁性材料测量》讲义)，而且中国计量科学院和湖南省娄底市电子研究所合作开发出具有模拟冲击法和扫描法的测量装置，明确扫描法只运用于对材料进行快速判断测量，测试有一定的局限性。后期湖南省的三家企业在相关方面的做了一些改善，满足行业用户的需要。2015年12月，国内最早提出采用模拟冲击法测试软磁材料直流磁性能的瞿清昌老师提出测试材料“基本磁滞回线”的设想，即控制冲击波形函数、冲击周期保证所测试的磁滞回线是材料唯一的(即软磁材料的基本磁滞回线)，并基于该回线获取基本磁性参数，包括基本磁滞回线簇顶点连成的基本磁化曲线和定义在这些曲线上的磁性参数。特别是将这个磁滞回线的面积，定义为基本磁化能Pu(J/m³)，作为评价材料磁化损耗的基础。促进软磁材料直流磁特性及其参数测量的可溯源性。在协助实施“基本磁滞回线”的设想过程中，湖南省永逸科技有限公司使用自适应仪器技术产生、控制，并记忆针对不同产品的冲击(激励)波形函数，实现模拟冲击法的基本条件是两个测量点的“准静态”，即dH/dt=0、dB/dt=0，同时兼顾测量效率。永逸公司在发展与验证该测量技术的同时对自己的传统软磁材料测量仪进行了大幅度改进，并推出了FE-2100SD型软磁材料基本磁滞回线测量仪，仪器外观如图1所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607211908_601417_1611921_3.png图1 FE-2100SD型软磁材料基本磁滞回线测量仪外观照片三、简介FE-2100SD型软磁材料基本磁滞回线测量装置由计算机、打印机、AD/DA数据采集和控制卡、程控励磁电源、积分器和被测试样品组成，设计原理框图如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607211908_601418_1611921_3.gif图2 FE-2100SD型软磁材料基本磁滞回线测量仪原理框图电脑主机作为整个装置的中心，通过键盘和鼠标选择被测试样品的类型、形状、输入样品的尺寸。并通过D/A转换器控制冲击波形的信号发生，经过励磁电源的功率放大模块，达到对该材料最适合的波形函数I(t)产生，通过对串联在被测试样品初级绕组精密电阻的采样获得对应的H(t)，次级通过对感应电压的积分获得B(t)。该测试装置区别于现有装置主要表现为：测量过程采用冲击测量模式，测量点从一个准静态点出发，到达另一个准静态点，装置测量每一次冲击过程起始前和结束后磁场与磁感的变化量(ΔH和ΔB)。微机通过测试软件的编程控制，已经成为一台能自学习的控制中心，能针对不同的测试样品，自己学习和自己编程获得适合该材料的测试函数波形，并程控励磁电源，对采样数据进行自我判断，最终获得代表材料直流磁性能唯一性的基本磁滞回线。四、验证1、参比材料参加比对的材料基本涵盖了所有工业软磁材料，包括：纳米晶1K107带材，DT4电工纯铁，MnZn铁氧体，FB45铁氧体，无取向硅钢，取向硅钢23Z110，铁粉芯GS106060，叠片1J22，1J79坡莫合金带材，1J50圆环，共计十种。2、比对仪器参加比对的仪器及测量单位列如表1，包括中国计量大学与浙江省计量科学院的两台德国C-750、浙江工业大学的日本SK1100与永逸科技大FE-2010SD(含标准的扫描法与独创的模拟冲击法两种测量模式)表1 参与比对的单位及其测试设备http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607211908_601419_1611921_3.png3、比对方法将参比材料绕制成不同规格的如图3所示的标准的四端磁环变压器器件，在几台设备之间传递测试，获得结果并进行分析出结论。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607211908_601420_1611921_3.png图3 用于比对的测量器件照片4、结果及分析十种参加比对的材料在4台仪器上的测量结果分别列于表2至表11.表2 纳米晶1K107带材比对测量结果(其中黄色高亮表示异常结果，Le=35.72mm, Ae=3.913mm², Ve=0.1398cm³, 锁定Hs=80A/m)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607211908_601421_1611921_3.png表3 DT4的比对测量结果(Le=112.2mm, Ae=19.92mm², Ve=2.234cm³, 锁定Hs=10000A/m)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607211908_601422_1611921_3.png表4 MnZn铁氧体的比对测量结果(其中黄色高亮表示异常结果，Le=60.18mm, Ae=48.93mm², Ve=2.944cm³, 锁定Hs=600A/m)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607211909_601423_1611921_3.png表5 叠片1J22(厚度0.5mm)的比对结果(其中黄色高亮表示异常结果，Le=178.3mm, Ae=22.05 mm², Ve=3.931cm³, 锁定Hs=4000A/m)http
TD8900电容积分型磁通计是一款高精度的磁通测量仪器，采用高速微处理器和低漂移的数字积分器设计而成，可使用多种类型的线圈测量空间磁场的磁通量[b] [/b]Φ。该仪器可广泛应用于永磁、软磁等材料的研究及分析，或零部件的质量控制及筛选。主要功能特点● 测量范围宽广：0 ～ 2 Wb；且测量准确度高达 ± 0.5% ( ± 0.2% 可选 )。● 具有自动一键调零漂功能，且零点漂移量极小，每分钟 1 μWb。● 磁通量多种单位切换：可选择 Wb、mWb、Vs、mVs 等磁通单位。● 设置线圈面积和匝数等参数，可自动计算磁通密度，并可切换单位 T 和 G。● 高清液晶屏显示，四位半显示，显示分辨率高，最小分辨力低至 0.1 μWb。● 可设置上限及下限值，超出设置范围可报警，并具有最大值显示功能。主要技术指标[img=,554,164]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/11/201811230955364969_6575_3483812_3.png!w554x164.jpg[/img]一般技术规格● 工作电源：AC ( 220 ± 22 ) V , 50Hz ～ 60Hz● 工作环境：0℃ ～ 40℃；40%RH ～ 85%RH● 储藏环境：-20℃ ～ 70℃， 95%RH，不结露● 装置尺寸：230 mm × 200 mm × 90 mm ( L × W × H )● 装置重量：约 3 kg● 通讯接口：线圈输入、RS232
测量软磁材料种类：铁氧体、纯铁、硅钢、镍铁 / 钴铁合金、非晶 / 纳米晶合金等。[b]TD81系列 [/b]软磁交流测试系统是专用于检测软磁材料[b]交流磁特性[/b]的装置，可在 [b]40 Hz [color=#0d0d0d]～[/color] 3 MHz[/b] 的频率范围内自动测量软磁环形试样的交流磁特性参数，并绘制相关的磁特性曲线。被测的磁参量：比总损耗[b] Ps[/b]、振幅磁导率[b] μa[/b]、磁通密度[b] Bm[/b]、磁场强度[b] Hm[/b]、损耗角[b] δ[/b] 等。[img=,579,419]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/12/201812121547361093_7370_3123500_3.png!w579x419.jpg[/img][b]TD8220（/TD8210）[/b] 是一套专用于检测软磁材料[b]直流磁特性[/b]的装置，由直流磁化电源及精密磁测量装置、系统级软件组成。该装置可直接绕线测量软磁环样或其他闭磁路样品的直流磁特性参量，也可选配磁导计 / 螺线管测量开磁路样品，并绘制相关的磁特性曲线。被测的磁参量：饱和磁通密度[b] Bs[/b] 、剩磁[b] Br[/b] 、矫顽力[b] Hc[/b]、起始磁导率 [b]μi [/b]、最大磁导率 [b]μm[/b] 等。[img=,584,733]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/12/201812121551512613_8235_3123500_3.png!w584x733.jpg[/img][b]TD8160[/b] 单片非晶测量系统专用于[b]测量非晶或纳米晶薄片 (带) 交流磁特性[/b]的装置，由励磁及精密测量装置、单片磁导计、全自动测量软件组成测量频率（[b] 40 Hz [color=#0d0d0d]～[/color]65 Hz[/b]，可定制至 [b]400 Hz[/b]）。使用该装置可在能耗、效率、材料均匀性/一致性、可靠性、整个生命周期的成本等方面全面优化您的产品。测量磁性参量：磁通密度[b] B[/b]、磁场强度[b] H[/b]、磁极化强度[b] J[/b]、比总损耗[b] Ps[/b]、比视在功率[b] Ss、[/b]饱和磁通密度[b] Bs[/b]、矫顽力[b] Hc[/b]、磁导率、波形因数等。
哪位前辈知道什么地方有卖磁致伸缩测量仪和磁各向异性测量仪的吗？？主要是能测非晶薄带的！！谢谢了！！[em61]
哪位大侠知道什么地方有卖 磁致伸缩系数测量仪 和 磁各向异性参数测量仪 的吗？？主要是能测非晶薄带的！！谢谢了！！[em61] [em61]
电磁流量计虽然是老式流量计，但他却有新式流量计无可比拟的优越性： 随着科学技术的发展，新型的流量仪表在不断的涌现，品种繁多，性能各异，其使用条件及技术参数也各不相同，我们根据以往所使用的各种流量仪表的实际应用情况、存在的问题、安装难度、性能价格比等问题认真地进行了分析比较和论证，认为电磁流量计具有反应灵敏、线性好、精确度高、在测量过程中，不受被测介质的温度、黏度等因素影响的优点 。 1、电磁流量计精度高，线性好，运行稳定，提高了计量的准确性和数据的可信度，克服了有些仪表运行不太稳定，由此而造成了测量数据不可信的问题。经过多次现场比对，误差均在控制范围之内，增强了对仪表的信任程度，结束了按水泵的性能曲线计算水量的不科学计量方法，切实做到以仪表采集数据为准，避免了人为因素。 2、电磁流量计结构简单，传感器没有可动部件，不存在因机械运动磨损或杂质缠绕而产生的测量误差或仪表故障，因此故障率很低，维修量大大减少，从而节约了大量人力物力。 3、电磁流量计具有多种接口电路，可以很方便的与数据采集终端或计算机联接，实现数据采集、分析、管理自动化。 电磁流量计的管理 1、建立电磁流量计运行档案，内容包括流量计的生产厂家、型号、生产日期、安装地点、管径、标定时间等，以便于对仪表进行维护管理。 2、加强巡视检查工作，定期进行测试标定。我们主要采用两种方法，一是用一台精度相对高的便携流量计与电磁流量计进行测量比对;二是用一台流量仪表校验器，对流量转换器进行校验，检查各项技术指标是否正确，并将测试数据存档。 3、将测试数据与以往的测试结果进行比较，对于出现的可疑数据认真进行分析研究，查找可能产生的原因，及时处理解决，并作出流量计运行情况分析报告。
随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。
AEC-100电子式气动量仪是以微处理器为基础的。它有一个三色光柱用于定性显示，它的测量立柱由101个三色LED组成，可以根据设置的公差带、预警公差带自动变色，显示方便，便于监视。每个LED对应的分辨率有0.1μm、0.2μm、0.5μm、1μm四种档位可供选择。同时它还有一个8位数显的数字显示框，同时显示测量结果的绝对数值，用于定量显示。 不过气动量仪由于其本身具备很多优点，所以在机械制造行业得到了广泛的应用。 其优点如下： 1、电子式气动量仪测量项目多，如长度、形状和位置误差等，特别对某些用机械量具和量仪难以解决的测量，例如：测深孔内径、小孔内径、窄槽宽度等，用气动测量比较容易实现。 2、量仪的放大倍数较高，人为误差较小，不会影响测量精度;工作时无机械摩擦，所以没有回程误差。 3、电子式气动量仪操作方法简单，读数容易，能够进行连续测量，很容易看出各尺寸是否合格。 4、实现测量头与被测表面不直接接触，减少测量力对测量结果的影响，同时避免划伤被测件表面，对薄壁零件和软金属零件的测量尤为适用。 5、由于非接触测量，测量头可以减少磨损，延长使用期限。气动量仪主体和测量头之间采用软管连接，可实现远距离测量。 6、电子式气动量仪结构简单，工作可靠，调整、使用和维修都十分方便。
[font=微软雅黑]光学测量仪器的正确使用和良好的维护保养，是保证仪器处于良好运行状态、保持其固有准确度、延长使用寿命的最有效措施。仪器的维护保养，除了避免机械撞击、误操作和保持仪器外表的清洁之外，主要是金属裸露表面的防锈和光学系统的光学元件的防霉、防雾维护。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑][b]因此应注意以下几点：[/b][/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]1.首先，光学测量仪器应放在清洁干燥的室内，要尽量避免光学零件表面污损、金属零件生锈、尘埃杂物落入运动导轨，因为这样会影响仪器的性能。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]2.在使用完毕后，工作面应随时擦拭干净，最好再罩上防尘套。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]3.光学测量仪器的传动机构及运动导轨、应定期涂润滑油，使机构运动顺畅，保持良好的使用状态。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]4.工作台玻璃及油漆表面脏了，可以用中性清洁剂与清水擦拭干净。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]5.光学测量仪器的所有电气接插件、一般不要拔下，如果已经拔掉了，我们就必须按标记正确插回并拧紧螺。 [/font][b][font=微软雅黑] [/font][/b]
[font=微软雅黑]光学测量仪器的正确使用和良好的维护保养，是保证仪器处于良好运行状态、保持其固有准确度、延长使用寿命的最有效措施。仪器的维护保养，除了避免机械撞击、误操作和保持仪器外表的清洁之外，主要是金属裸露表面的防锈和光学系统的光学元件的防霉、防雾维护。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑][b]因此应注意以下几点：[/b][/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]1.首先，光学测量仪器应放在清洁干燥的室内，要尽量避免光学零件表面污损、金属零件生锈、尘埃杂物落入运动导轨，因为这样会影响仪器的性能。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]2.在使用完毕后，工作面应随时擦拭干净，最好再罩上防尘套。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]3.光学测量仪器的传动机构及运动导轨、应定期涂润滑油，使机构运动顺畅，保持良好的使用状态。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]4.工作台玻璃及油漆表面脏了，可以用中性清洁剂与清水擦拭干净。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]5.光学测量仪器的所有电气接插件、一般不要拔下，如果已经拔掉了，我们就必须按标记正确插回并拧紧螺。[/font]
[font=微软雅黑]光学测量仪器的正确使用和良好的维护保养，是保证仪器处于良好运行状态、保持其固有准确度、延长使用寿命的最有效措施。仪器的维护保养，除了避免机械撞击、误操作和保持仪器外表的清洁之外，主要是金属裸露表面的防锈和光学系统的光学元件的防霉、防雾维护。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑][b]因此应注意以下几点：[/b][/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]1.首先，光学测量仪器应放在清洁干燥的室内，要尽量避免光学零件表面污损、金属零件生锈、尘埃杂物落入运动导轨，因为这样会影响仪器的性能。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]2.在使用完毕后，工作面应随时擦拭干净，最好再罩上防尘套。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]3.光学测量仪器的传动机构及运动导轨、应定期涂润滑油，使机构运动顺畅，保持良好的使用状态。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]4.工作台玻璃及油漆表面脏了，可以用中性清洁剂与清水擦拭干净。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]5.光学测量仪器的所有电气接插件、一般不要拔下，如果已经拔掉了，我们就必须按标记正确插回并拧紧螺。[/font]
最近几十年不仅仅是我们，乃至全世界都能感受到中国制造的产品质量与效率都有质的飞跃。产品质量和效率的提升离不开生产设备和生产规范的高效管理，在管理过程中，对半成品、成品的合格率检测是必不可少的，以机械零件加工为例，在加工完一个机械零件后，我们对该机械零件的二维尺寸参数并不是很确定。这时，我们就需要通过检测手段，来获取机械零件的二维尺寸参数。传统的检测手段有投影仪、卡尺等，随着技术的进步，最新的二次元影像测量仪逐步替代传统检测手段，成为新的首选测量解决方案。今天我们就来分析一下[b]VX3000系列[color=#333333]二次元影像测量仪[/color][/b]与投影仪的区别。[align=center] [img]http://www.chotest.com/Upload/2019/6/201906149843071.jpg[/img][/align][align=center] [/align][b][color=#e01e2b]1.测量精度：[/color][/b] 投影仪检测工件的精度一般在45μm左右，在现代化的生产加工过程中，已经不能满足生产者的精度需求。二次元影像测量仪的测量精度普遍在±2μm左右，最高可达1μm，是完全可以满足生产者对精度的要求的。[b][color=#e01e2b]2.测量效率：[/color][/b] 用投影仪检测工件单次只可检测一个工件，并且需要在操作软件上定位原点，再进行一定编程工作，才可以测得一个工件的尺寸数据。二次元影像测量仪单次可以测量多个工件，小微型工件甚至可以测量几十个，只要在视场范围内，一次测多少个操作员说了算，二次元影像测量仪不需要定位原点，也不需要进行复杂的编程。只需在测量第一个工件时建立模板，此后测量相同的工件只需按一键测量按钮，即可得出工件的二维尺寸参数，批量测量最多可同时测量512个部位，大大提升了工作效率！[b][color=#e01e2b]3.仪器体积：[/color][/b] 投影仪都是比较笨重的仪器，外形体积硕大，重达五六百千克，不方便搬运到不同车间进行检测作业。VX3000系列二次元影像测量仪的体积轻便，重量在30-40千克之间，单人即可搬运到不同的车间生产线上进行测量工作，省时省力省空间。
二次元影像测量仪在工业生产中，有着广泛的应用，对很多行业的工件都可以进行测量，同时，在影像测量仪的测量中，也有着许多的测量方式，通过这些方式，影像测量仪才能顺利的完成测量的任务。 以下介绍精密检测仪器二次元影像测量仪的两个测量方式，他们分别是轮廓测量和表面测量。 1、轮廓测量 顾名思义就是影像测量仪测量工件的轮廓边缘，一般采用底部的轮廓光源，需要时也可加表面光做辅助照明，让被测边线更加清晰，有利于测量。 2、表面测量 表面测量可以说是二次元影像测量仪的主要功能，凡是能看到的物体表面图形尺寸，在表面光源照明下，影像测量仪几乎全部能测量，电路板上的线路铜箔尺寸、IC电路等，当被测物件是黑色塑料、橡胶时，影像测量仪也能轻易测量尺寸。http://www.zhengyekeji.net/include/upload/ckeditor/images/1319709450197084656155029.jpg 二次元影像测量仪(又名影像式测绘仪)是建立在CCD数位影像的基础上,依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上专用控制与图形测量软件后,变成了具有软件灵魂的测量大脑,是整个PCB实验室解决方案设备的主体。
[font=微软雅黑]光学测量仪器的正确使用和良好的维护保养，是保证仪器处于良好运行状态、保持其固有准确度、延长使用寿命的最有效措施。仪器的维护保养，除了避免机械撞击、误操作和保持仪器外表的清洁之外，主要是金属裸露表面的防锈和光学系统的光学元件的防霉、防雾维护。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑][b]因此应注意以下几点：[/b][/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]1.首先，光学测量仪器应放在清洁干燥的室内，要尽量避免光学零件表面污损、金属零件生锈、尘埃杂物落入运动导轨，因为这样会影响仪器的性能。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]2.在使用完毕后，工作面应随时擦拭干净，最好再罩上防尘套。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]3.光学测量仪器的传动机构及运动导轨、应定期涂润滑油，使机构运动顺畅，保持良好的使用状态。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]4.工作台玻璃及油漆表面脏了，可以用中性清洁剂与清水擦拭干净。[/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑]5.光学测量仪器的所有电气接插件、一般不要拔下，如果已经拔掉了，我们就必须按标记正确插回并拧紧螺。[/font]
这里有人了解核磁共振测量仪的吗,有没有国产的?
非接触式应变位移视频测量仪在材料力学性能测试领域，对于一些特殊的实验，测量被测物体的变形和位移非常困难。比如： 测量断裂伸长（断裂会破坏传感器） 测量压缩模量 测量疲劳实验（引伸计可能会打滑，或者应变片自身会疲劳）采用非接触式的视频测量仪或许可以解决您的问题。技术参数：1. 测量精度：位移分辨率：0.05微米应变分辨率：5个微应变2.测量参数：应变、位移、泊松比、拉伸/压缩模量、应力-应变曲线等等3.标距可调：可以测量柔软、细小的材料
《计量资讯速递》消息 日前，由广东省计量科学研究院牵头起草的《超声波测厚仪》和《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项广东省地方标准获批准发布，从2014年3月6日开始实施。《超声波测厚仪》和《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项广东省地方标准的制订规范了磁性、电涡流式覆层厚度测量仪生产、检验过程，统一了我省超声波测厚仪及磁性和电涡流覆层厚度测量仪的型式评价和质量监督管理。 据了解，超声波测厚仪、磁性和电涡流覆层厚度测量仪是依法管理计量器具目录（型式批准部分）上的产品，此前尚没有关于磁性、电涡流式覆层厚度测量仪产品的检验规则以及产品的标志、包装、运输、贮存的国家及地方标准。来源：广东省计量协会
1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求，分类不同，如按其功能，可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器： 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如：电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器： 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如：微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器： 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如：频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品，电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性，耐压特性，频率特性，增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如：漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等。
TD8210 是专用于检测软磁材料直流磁特性的装置，由直流磁化电源及精密测量装置、系统级软件组成。该装置可直接绕线测量软磁环样或其他闭磁路样品的直流磁参量，并绘制相关的磁特性曲线，支持模拟冲击法和扫描法二种方式。参照标准：GB/T 13012-2008、SJ/T 1028191、IEC 60404-4、IEC 60404-7、及ASTM A341、A342 等。[color=#0d0d0d]主要应用[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测软磁种类：铁氧体、纯铁、硅钢、镍铁 (坡莫合金) / 钴铁合金、非晶 / 纳米晶合金等。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测样品形状：环形样品、E 型 / U 型铁芯等闭磁路样品。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]主要测量方法：支持模拟冲击法和扫描法二种测量方案。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测的磁参量：饱和磁通密度 Bs 、剩磁 Br 、矫顽力 Hc、起始磁导率 μi 、最大磁导率 μm 等。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]绘制磁性曲线：基本磁化曲线、磁滞回线等[color=#0d0d0d]功能特点[/color][color=#00b050] ● [/color][color=red]内置一套专用的校准程序，及校准接线端钮，可通过高等级的电流表、磁通校准仪对其进行校准。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=red]磁材的磁特性参数可溯源至电磁学基本量以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=red]标准样品仅用于测量数据比对，不得用于对本装置进行校准。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置内置先进的电子积分器取代传统的冲击检流计，以消除非瞬时性误差。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置具有样品自动退磁功能；电子积分器零点漂移影响极小。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]软件功能强大，可自动保存数据，并可随时查看所有测试参数、曲线/回线及结果。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]在扫描法测量时，因电流的动态范围十分宽广 ( 如 1μA [color=#0d0d0d]～[/color]5 A )，传统设计采用继电器来切换量程以实现电流 (磁场强度H) 的准确测量，在电流扫描过程中触点抖动会引起磁场瞬变，而对磁测数据带来较大误差及磁滞回线不光滑的缺陷。[color=red]因此，我们对励磁部分进行独特而精巧的设计来克服这个缺点，实现了在不用继电器来切换量程的情况下确保超宽范围的电流连续稳定调节和电流量值的准确测量，使扫描法与冲击法的测量结果保持一致。[/color][color=#0d0d0d]系统应用框图[/color][color=#0d0d0d][img=,690,504]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807240958145993_6210_3123500_3.png!w690x504.jpg[/img][/color][color=#0d0d0d]典型磁参量测量的不确定度与重复性[/color][color=#0d0d0d]([/color][color=#0d0d0d]模拟冲击法测环样[/color][color=#0d0d0d])[/color][img=,690,188]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807240958370815_5028_3123500_3.png!w690x188.jpg[/img][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#1d1b11]测量条件：试样应为薄壁环，外径[/color][color=#1d1b11]/[/color][color=#1d1b11]内径[/color][color=#1d1b11] [/color][color=#1d1b11] 1.1[/color][color=#1d1b11]；环境温度：[/color][color=#1d1b11]( 23 ± 5 )[/color][color=#1d1b11]℃[/color][color=#0d0d0d]励磁与磁测量指标[/color][img=,690,231]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807240958583467_9747_3123500_3.png!w690x231.jpg[/img][color=#0d0d0d]一般技术规格[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]供电电源[color=#0d0d0d]：[/color][color=#0d0d0d]AC[/color][color=#0d0d0d] [/color]( 220 ± 22 )[color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]V[/color]，( 50 ± 2 ) Hz[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]工作环境[color=#0d0d0d]：[/color] 0 ℃ [color=#0d0d0d]～[/color]40 ℃，20% [color=#0d0d0d]～[/color]85% RH[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置尺寸：495 mm × 400 mm × 180 mm（长×宽×高）[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置重量：约 15 kg[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]通讯接口[color=#0d0d0d]：[/color]RS232
”电工仪器“小版面的增加是为了更好地充实仪器信息全面性，争取能有个积极的、发展的作用。1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求，分类不同，如按其功能，可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器： 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如：电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器： 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如：微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器： 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如：频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品，电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性，耐压特性，频率特性，增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如：漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等
由于软磁材料具有较低的矫顽力，那软磁材料有没有磁畴啊？请问可以用磁力显微镜看磁畴吗？我看有的书上说好像很难的？ 我有个软磁材料，矫顽力很小，也就100 Oe左右，但饱和磁化强度很高。请问可以用MFM探测吗？各位大侠指点迷津！ 谢谢～！
各位老师：你们好！我正在学习砝码和机械天平规程，应该说该两规程在采用不确定度方面起了带头作用。这样能使我们消除过去的埋怨：不确定度不好学，又学而无用。但不知为什么？该两规程对于衡量仪器的平衡位置读数规定却让规程执行者犯愁：1、JJG99-2006《砝码》：摆动式衡量仪器：开启天平后，经过一个半周期之后，连续3次或4次回转点读数按公式I=（i1+2 i2+ i3）/4计算。2、JJG98-2006《机械天平》：无阻尼器普通标尺天平以连续3次回转点读数计算天平的平衡位置。用3次回转点读数计算天平平衡位置的公式为：I=（i1+2 i2+ i3）/4。前者说了开启天平后，经过一个半周期之后，连续3次回转点读数按公式I=（i1+2 i2+ i3）/4计算，但又来个“或4次”，让规程执行者怎样去执行这“或4次”；而后者说以连续3次回转点读数计算天平的平衡位置，但没有说明是以那连续3次回转点读数。 当然规程执行者可以不理睬该“或4次”，但作为计量工作的技术法规——国家计量检定规程，多余这“或4次”，自然要使作为技术法规的国家计量检定规程，在规程执行者心目中的形象受到损伤。对于后者是否也是按开启天平后，经过一个半周期之后的连续3次回转点读数？请指教！
火电厂的变压、出线电场强度和磁场强度推荐测量仪器有哪些？麻烦大家知道的推荐下。
各位老师：你们好！我正在学习砝码和机械天平规程，应该说该两规程在采用不确定度方面起了带头作用。这样能使我们消除过去的埋怨：不确定度不好学，又学而无用。但不知为什么？该两规程对于衡量仪器的平衡位置读数规定却让规程执行者犯愁：1、JJG99-2006《砝码》：摆动式衡量仪器：开启天平后，经过一个半周期之后，连续3次或4次回转点读数按公式I=（i1+2 i2+ i3）/4计算。2、JJG98-2006《机械天平》：无阻尼器普通标尺天平以连续3次回转点读数计算天平的平衡位置。用3次回转点读数计算天平平衡位置的公式为：I=（i1+2 i2+ i3）/4。前者说了开启天平后，经过一个半周期之后，连续3次回转点读数按公式I=（i1+2 i2+ i3）/4计算，但又来个“或4次”，让规程执行者怎样去执行这“或4次”；而后者说以连续3次回转点读数计算天平的平衡位置，但没有说明是以那连续3次回转点读数。 当然规程执行者可以不理睬该“或4次”，但作为计量工作的技术法规——国家计量检定规程，多余这“或4次”，自然要使作为技术法规的国家计量检定规程，在规程执行者心目中的形象受到损伤。对于后者是否也是按开启天平后，经过一个半周期之后的连续3次回转点读数？请指教！
我做的是块体软磁材料，电子束打在上面容易磁化，因此做TEM时很难消相散，照出来的显微照片比较模糊，并且操作时很容易损坏电镜。各位大侠，请问有什么解决办法啊？
2016国产磁测量好仪器系列之二：振动样品磁测量仪器JDAW-2000D原创：王家富 工程师，吉林大学材料学院张宇冬 工程师，长春市英普磁电技术开发有限公司推荐：陆俊 工程师，中科院物理所磁学室2016年8月15日一句话推荐理由：逆境中沿袭三十多年值得铭记的国产磁性材料开路测量好仪器。一、引言现代电器电子通讯工业中几乎所有涉及发电机、电动机、变压器、集成电感等零部件的地方都会用到磁性材料，其最基本的参数大都定义在磁滞回线、退磁曲线或变温磁化曲线上，所以通常的磁性测量就是磁滞回线、退磁曲线或变温磁化曲线的测绘。自从1956年第一台振动样品磁强计（Vibrating Sample Magnetometer, VSM）面世以来，人们对其进行了很多改进。由于其具有灵敏度高、测试样品小（一般为毫克级）、制作样品方便等特点，目前已广泛应用于包括永磁材料、软磁材料、磁记录材料、弱磁材料在内的很多磁性测量领域，测量的范围涵盖了直流磁性能的全部参数以及磁滞回线（loop）、磁化强度—温度曲线(M-T curve)等，用途广泛，为材料科学研究做出了杰出贡献。VSM测量的优势是可以测量非常少量的样品，并且对样品的形状没有严格要求，各种闭路方法无法测量的样品形状，只要进行适当的退磁因子修正，都能够有效测得样品的磁特性。振动样品磁强计是目前最为常见的磁性测量仪器之一。二、背景上世纪八十年代，吉林大学物理系教授张裕普先生（英普磁电创始人）研制成功中国第一台振动样品磁强计JDM－1，并获1985 年国家科技进步3 等奖。鉴于当时的条件，该设备为手动测量型，之后，由其学生吴汉华教授在JDM－1 基础上，研发出中国第一台由计算机自动控制的振动样品磁强计JDM－13。后经多次升级改进，英普磁电与吉林大学联合研制出智能化程度更高、性能更稳定、使用更方便的JDAW2000D 系列振动样品磁强计，其外观如图1所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/08/201608241551_606485_1611921_3.png图1 JDAW2000D 型振动样品磁强计几项前身版本举例--左上：内蒙古冶金研究所VSM130 型；右上：电子科技大学VSM220 型；左下：东北大学VSM300；右下：莫斯科国家科技大学(MISiS)VSM130 型三、简介JDAW-2000D 系列振动样品磁强计由主机、电磁铁、振动头、计算机和打印机等组成，根据需要还可添加高温附件、低温附件与低磁场附件等，其中主机由微处理器控制的电磁铁电源、振动源、磁矩和磁场的测量单元等组成。图2给出了其原理框图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/08/201608241552_606486_1611921_3.png 图2 JDAW-2000D 系列振动样品磁强计的总体原理框图JDAW-2000D 系列振动样品磁强计的主机与计算机之间采用标准的RS-232 串行口进行通信，提高了整机的成套性和硬件的可操作性，专用配套软件可设置系统参数，操作功能强大、使用方便。数字磁矩单元的量程、时间常数、目标磁场、数据点数等均由计算机软件控制，测量自动完成并自动保存相关测试数据。自动保存的磁滞回线、磁化曲线、热磁曲线和设定温度下的MH 曲线等数据曲线可由计算机屏幕显示或由打印机打印输出，也可使用Excel或Origin 等软件直接进行数据处理、绘图。配套软件可同时计算出国际单位制和高斯单位制下的曲线参数（饱和磁矩/饱和磁化强度/比饱和磁化强度，剩余磁矩/剩余磁化强度，矫顽力，内禀矫顽力，矩形系数，最大磁能积，回线面积）。JDAW-2000D 系列振动样品磁强计可测量磁性材料的基本磁性能（如磁化曲线，磁滞回线，热磁曲线等），得到相应的各种磁学参数（如饱和磁化强度，剩余磁化强度，矫顽力，最大磁能积，居里温度，磁导率等）；可测量粉末、颗粒、薄膜、块状等形状磁性材料；可原位测量磁性材料从液氮温区到400K、从室温到500℃温区的磁性能随温度变化曲线。（取决于所选购的附件）。其主要技术指标如下：1、磁矩量程分300emu、150emu、80emu、40emu、30emu、15emu、8emu、4emu、3emu、1.5emu、800memu、400memu、300memu、150memu、80memu、40memu、30memu 和15memu（即0.015emu）共18 档,磁矩测量范围（磁极间距40mm 时）10-3emu—300emu（最高灵敏度：5×10-5emu）2、相对精度（量程3emu 时）：优于±1%3、重复性（量程3emu 时）：优于±1%4、稳定性（量程3emu 时）：预热半小时，连续4 小时工作优于1%5、温度范围：室温到500 摄氏度以及室温到液氮温区（取决于所选购的附件）6、最高磁场强度：0.8T—3.2T 之间（取决于所选购具体型号）四、验证关于振动样品磁强计的国际间比对已经有IEC-TC68（磁合金与磁钢委员会）进行过，比对结果表明当前国际范围内使用振动样品磁强计测量磁性材料具备较良好的复现性，这里不再赘述。本文仅讨论JDAW2000D系列振动样品磁强计本身的技术性能。振动样品磁强计一般使用四线圈结构的探测线圈测量样品的磁矩，而探测线圈的灵敏度系数与样品在探测线圈中的位置有关，当样品处于探测线圈的几何中心（鞍部区）时，样品位置和体积对灵敏度系数的影响最小。振动样品磁强计通常将直径为几毫米的纯镍球体做标准， 测试样品之前先用纯镍球进行定标。因此VSM一般主要考察重复性、稳定性与相对精度等指标。1. 重复性：对同一样品进行重复测量，对所测数据进行比较。测试条件：样品为纯镍球，室温28℃，相对湿度小于60%，除湿机连续工作。重复性测量数据来源于井冈山大学JDAW2000D-VSM250。通过该样品5 次比饱和磁化强度的测量(第一次与第五次结果分别如图3、图4所示)，总结比较结果可得出最大相对偏差约为万分之四，如表1 所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/08/201608241552_606487_1611921_3.png图3 第一次测量的磁化曲线http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/08/201608241552_606488_1611921_3.png[align=ce
[font=宋体]在实际应用中，尽管光学计量仪器多种多样，但它们的光学原理却[color=blue]都基于四种基本原[/color][/font][font=宋体][color=blue]理[/color][/font][font=宋体]，它们是：[color=blue]望远光学原理、显微光学原理、投影光学原理、干涉光学原理。[/color][/font][font=宋体]基于应用不同的光学原理，光学计量仪器可分为[color=blue]：自准直类光学计量仪器、显微镜类光学计量仪器、投影类光学计量仪器、光干涉类光学计量仪器四大类。[/color][/font][font=宋体]望远系统主要性能是视角放大率，在观察时用来扩大眼睛对远处物体的视角，用以观察物体。在测量时常被用来产生平行光以进行各种用途的测量，应用此原理的光学计量仪器有：自准直光管、测角仪、立[/font]([font=宋体]卧[/font])[font=宋体]式光学计等。[/font][font=宋体]显微系统的主要性能是较高的放大率。它与放大镜相比，有较高的放大率和分辨本领。可清楚地观察和分辨微小物体和物体的细小部位。应用此原理的光学计量仪器有：工具显微镜、光学分度头、测长仪、测长机、双管显微镜等；[/font][font=宋体]投影系统的主要性能：是较高的、准确的横向放大率。[/font][font=宋体]被测量的形状复杂、细小的物体或物体表面缺陷等经强投射光或强反射光照射，再经投影物镜放大成像在影屏上后进行测量。应用此原理的光学计量仪器有：大、中、小型投影仪、专用的公差带投影仪等。[/font][font=宋体]光干涉系统主要性能是有很高的检测精度。它是以光波波长作：“尺子”，实现了对表面粗糙度、长度微小变化等几何量的高精度测量。应用此原理的光学计量仪器有平面平晶等厚干涉仪、接触式干涉仪、干涉显微镜等。[/font]
[color=#333333]HS编码与CIQ代码对照查询：机械分析仪与电子分析仪，电子分析仪与电子测量仪，机械分析仪与机械测量仪，之间的区别？[/color]
目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=24488]标志[/url]计量仪器常用的标志
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