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燃气二次仪

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燃气二次仪相关的论坛

  • 从一次曲线看二次曲线

    从理论上,一次曲线应该是一条直线,R=1,但实际上不是,为什么呢?人工或仪器的操作误差使然。这样的误差一般都是随机的,偶然的,不可预测和重复的。这样的误差自然在做二次曲线时也同样是存在的。由于某种原因,二次方程的相关性比一次的好,但是这个好是真的都是好吗?我现在充满了疑惑。欢迎讨论,欢迎拍砖

  • 一次线性拟合与二次曲线拟合

    在[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]法测定某些元素时,如果高点发生弯曲,一次线性拟合不佳,r少于三个999时,而采用二次曲线拟合,r0.999,可不可以采用二次曲线?二次曲线拟合的可靠性如何?与一次线性相比,结果的准确度更可靠吗?

  • 【讨论】如何保证二次供水水质?

    实际上,我们现在饮用的自来水大多属二次供水。所谓二次供水,是指单位或个人将城市公共供水或自建设施供水经储存、加压,通过管道再供用户或自用的形式,二次供水是目前高层供水的惟一选择方式。二次供水设施是否按规定建设、设计及建设的优劣直接关系到二次供水水质、水压和供水安全,与人民群众正常稳定的生活密切相关。二次供水设施主要为弥补市政供水管线压力不足,保证居住、生活在高层人群用水而设立的。相比原水供水,二次供水的水质更容易被污染,二次供水的安全性和可靠性一直都受到市民的广泛关注。二次供水水质污染的直接结果是影响用户感官、使饮用者感到恶心、呕吐、腹胀、腹泻,严重的甚至发病,或由于掉入二次供水设备的虫子、老鼠等携带的病菌入侵,使二次供水水质污染,可导致二次供水系统用户发生集体性腹泻,严重危害人体健康和扰乱居民生活秩序。 因为二次供水涉及到产权问题,给充分保证其水质带来了难度,大家都是怎么做的啊?

  • 二次热解析的疑问

    [color=#444444]请教各位老师,TVOC检测要求二次热解吸,请教二次热解吸是怎么一个过程?和常规热解吸有何区别?[/color]

  • FIB二次离子成像

    各位朋友好,最近在学习FIB的时候遇到一个疑问:当使用离子束的时候,离子束和样品相互作用,产生了许多信号,收集其中的二次电子和二次离子的信号可以用于成像。对于其中的二次离子成像不是很理解,为什么二次离子可以用来成像呢?二次离子反映的也是形貌信息吗?

  • 二次元影像测量仪与投影仪有哪些区别?

    最近几十年不仅仅是我们,乃至全世界都能感受到中国制造的产品质量与效率都有质的飞跃。产品质量和效率的提升离不开生产设备和生产规范的高效管理,在管理过程中,对半成品、成品的合格率检测是必不可少的,以机械零件加工为例,在加工完一个机械零件后,我们对该机械零件的二维尺寸参数并不是很确定。这时,我们就需要通过检测手段,来获取机械零件的二维尺寸参数。传统的检测手段有投影仪、卡尺等,随着技术的进步,最新的二次元影像测量仪逐步替代传统检测手段,成为新的首选测量解决方案。今天我们就来分析一下[b]VX3000系列[color=#333333]二次元影像测量仪[/color][/b]与投影仪的区别。[align=center] [img]http://www.chotest.com/Upload/2019/6/201906149843071.jpg[/img][/align][align=center] [/align][b][color=#e01e2b]1.测量精度:[/color][/b]  投影仪检测工件的精度一般在45μm左右,在现代化的生产加工过程中,已经不能满足生产者的精度需求。二次元影像测量仪的测量精度普遍在±2μm左右,最高可达1μm,是完全可以满足生产者对精度的要求的。[b][color=#e01e2b]2.测量效率:[/color][/b]  用投影仪检测工件单次只可检测一个工件,并且需要在操作软件上定位原点,再进行一定编程工作,才可以测得一个工件的尺寸数据。二次元影像测量仪单次可以测量多个工件,小微型工件甚至可以测量几十个,只要在视场范围内,一次测多少个操作员说了算,二次元影像测量仪不需要定位原点,也不需要进行复杂的编程。只需在测量第一个工件时建立模板,此后测量相同的工件只需按一键测量按钮,即可得出工件的二维尺寸参数,批量测量最多可同时测量512个部位,大大提升了工作效率![b][color=#e01e2b]3.仪器体积:[/color][/b]  投影仪都是比较笨重的仪器,外形体积硕大,重达五六百千克,不方便搬运到不同车间进行检测作业。VX3000系列二次元影像测量仪的体积轻便,重量在30-40千克之间,单人即可搬运到不同的车间生产线上进行测量工作,省时省力省空间。

  • 二次抽样的概念

    我们正在申请CNAS认证,其中ISO/IEC 17025中5.7涉及到抽样,我们不涉及一次抽样,咨询老师要求我们写二次抽样。可是我们化验室对二次抽样的理解都不同。请教大家对二次抽样如何理解?有什么好的简单易懂的定义?呵~我们相互讨论,相互学习,哈~

  • 关于二次抽样

    什么是二次抽样?什么情况下采用?根据CL10:2012,二次抽样作业指导书包括哪些内容呢?

  • 大家会用二次曲线定量吗?

    之前试过做大量的系列浓度标液,至描点不拟合,发现这些点在一起的形状类似一个被拉开的S型,即低浓度时缓慢上升,中间是线性上升,到高浓度又趋于平缓,这种情况下低浓度的点要线性拟合r会不好,这样去定量样品结果偏差很大,反而使用二次曲线拟合的r很好,只是之前都没试过用二次曲线定量,不知道结果如何,知道各有有没有试过二次曲线定量呢?

  • 关于SEM二次电子的问题

    各位大大,新人求教:1、SEM中形成图像的话电子枪是一次击打完毕还是多次击打?比如我要调整分倍率或者移动的时候电子枪还需不需要再发射电子一次呢?2、二次电子是否是有限的?是不是SEM照片只能拍有限次呢?3、拍SEM的话不导电物质可以拍么?不导电物质也应该存在二次电子吧、谢谢!

  • 有关二次电子像的问题

    我有两个问题想麻烦各位解答一下,1,为什么二次电子显微图像具有很好的立体感?2,为什么气孔边缘的二次电子产额比较大?谢谢大家!!

  • 温度二次仪表检定装置建标技术报告

    温度二次仪表检定装置建标技术报告[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=22344]温度二次仪表检定装置建标技术报告[/url]

  • 怎样区分二次衍射一次衍射斑点呢?

    怎样区分二次衍射一次衍射斑点呢?

    对镁铝合金样品做传统的电子衍射时,要获得取向关系时,就要设法拍摄同时含有基体和析出相的两套衍射普,这时候,可能由于析出相与基体的交互作用、样品厚度过厚、样品表面氧化等问题,往往伴随着二次衍射的发生,这对我正确标定衍射斑带来了一些问题。衍射普里面不仅有镁基体的一次衍射,析出相的一次衍射,也有以镁基体较强的一次衍射作为析出相的入射束而产生的二次衍射。造成衍射普异常复杂。 问题是,我们在对析出相进行标定的过程中,该如何去鉴别哪些是析出相的衍射斑点,哪些又是由于二次衍射而带来的斑点呢? 看过清华的张文征老师的文章讲到过关于二次衍射的模拟,进而对衍射普进行合理解释。如果要模拟的话,需不需要哪款软件来模拟呢?关于二次衍射模拟事例详情见下图。(取自张文征教授,Philosophical Magazine Letters,2013)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/01/201501122123_532042_2762168_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/01/201501122124_532043_2762168_3.png

  • 【求助】二次供水 检测

    各位老大: 预对一披二次供水水质进行检测,求教评价依据是哪个?《生活饮用水卫生规范》还是《二次供水设施卫生规范》GB17051-1997;还是这两个都有??急急急谢谢了

  • 关于二次衍射

    我想请问下,如图所示,我感觉D1的衍射束相当于就是第二相的透射束,然后发生二次衍射形成D3,所以D3的斑点应该是以D1斑点为中心,在D1斑点四周吧?怎么看图是以D2斑点为中心形成的二次衍射斑点呢?[img=,690,558]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/04/202104280948020285_6173_5253538_3.png[/img]

  • 【原创】飞行时间-二次离子质谱仪基本知识

    飞行时间-二次离子质谱仪,TOF-SIMS, 是一种既能测试有机物,又能测试无机物的一种检测仪器,其质谱的基本原理:使用一次的离子源(Ga,Cs, O2, etc)轰击样品,产生二次离子,激发的二次离子被引入一个无场区(drift tube),自由飞行,飞行时间的长短,与离子的mass-to-charge ratio的二分之一此方成正比;也就是说,质量数越小的离子飞得越快,到达检测器的时间越短,反之,质量数越大的离子飞得越慢,到达检测器的时间越长,这样就可以实现质谱的分离。(未完待续)

  • DSC二次升温的程序设定

    我做了几个样品的二次升温,如下液氮降到-55℃-10K/min升温-70℃(保温5min)-10K/min降温至-55摄氏度。然后重新设定程序,-55℃-----10K/min升温至70℃结束。期间,我需要重新设定一次程序,因为如果单纯靠液氮降低到-55℃在升温好像控制的不好,这样手动重新开始,可控性强一些。不知道大家在做二次升温的时候,是一个程序,还是说像我这样的两个程序。关键就是液氮降低到指定温度的时候的控制。

  • 关于二次分包

    比如我是甲方,我有分包给1公司ABC三个业务,1公司做不了,把BC两个业务分给了2公司。我觉得这种就是二次分包。

  • 【讨论】一次粒径和二次粒径问题

    粒度测试有一个不太好定性的问题,那就是一次粒径和二次粒径问题。对于多数粉体颗粒,它有一定的大小,广义角度看单个颗粒是一个个体。但是从严谨角度说它依然是个可再分的由更小颗粒组成的群体。这时候问题就产生了,我们对颗粒进行粒度分析时,到底是希望测试粉体被分散到什么程度时的粒度分布呢?举个例子:某硫酸钡粉体,电镜拍摄的照片显示,单晶颗粒都在几百纳米级别,但是激光粒度仪测试结果微米级别的粒度分布,相差一个数量级。有些测试人员片面认为照片拍摄的东西绝对可靠,是粒度仪测试不准。这样判断过于主观了。这类问题晶粒如果处理后的样品体系中,超微粒子是均匀的,检测方法一般是一次粒度分析。如直观观测法,主要采用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、隧道扫描电镜(STM)、原子力显微(AFM)等手段观测单个颗粒的原始粒径及型貌。但如果处理后的样品微粒是不均匀的,且团聚体是不易分散体,此时电镜法得到的一次粒度分析结果一般很难代表实际样品颗粒的分布状态。因此,对处理后的物料体系必须作二次粒度统计分析。目前,较先进的3种典型方法按原理上可分为高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。 这个问题其实也是一个粉体分散问题,测试粒度分布时,到底使用什么手段分散?分散到什么程度才是正确的?希望各路高手一起探讨,也让小弟多开阔眼界。

  • 【原创】二次离子质谱分类

    [size=5][b] [/b][/size]  采用脉冲一次离子源(LMIG, Cs, C60,Au,O2+,Ar+)等轰击样品,然后收集从样品表面激发出来的二次离子,采用质谱检测器(飞行时间、四极杆、扇形磁过滤、离子阱等),来收集这些二次离子,并且根据他们的质荷比(m/z)将它们分离,据此来判断分析材料的成分。     二次离子质谱仪分为静态- 二次离子质谱仪(S-SIMS) 和动态二次离子质谱仪(D-SIMS) ,其区分的标准就是根据入射的一次离子的剂量一般10^12atoms/cm2,成为静态二次离子质谱仪,一般采用飞行时间检测器,主要用于生物医药的有机物分析,半导体材料的污染物分析,存储材料分析,可以坚定有机的分子碎片。在分析过程中,材料表面的吸附物质及化学状态,对谱峰影响巨大。这也就是二次离子质谱中的“基体效应”。静态-二次离子质谱是一种无破坏的表面分析方法。最常见的静态- 二次离子质谱仪是飞行时间二次离子质谱仪。飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)利用一次脉冲离子轰击样品,通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量(m/z 100,000),以分析样品的表面组成。  动态-二次离子质谱仪,入射的一次离子的剂量一般10^15atoms/cm2,对表面形成大量的溅射作用,是一种破坏性分析,主要用于地质研究,同位素定年分析,半导体掺杂的深度分析。主要采用的一次离子源为气体等离子源(Ar/O2)或Cs离子源,一般要求样品导电性要好。

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