缺陷测量仪

◆PLMapping测量◆多种激光器可选◆Mapping扫描速度：优于20点/秒◆空间分辨率：10um（物镜），50um（透镜）◆光谱分辨率：0.1nm@1200g/mm◆Mapping结果以3D方式显示◆最大8吋的样品测量◆晶片精确定位◆样品真空吸附◆可做低温测量◆膜厚测量测试原理：PL是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下，电子吸收激发光子的能量，向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态，会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁，这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部，一定的电子能级跃迁的机制，也反映了材料的性能及其缺陷。操作简便、全电脑控制PMEye-3000系列PL Mapping测量仪，是一款适合于半导体晶片和LED外延片科研、生产和质量控制环节的仪器；采用整机设计，用户只需要根据需要放置合适的检测样品，无需进行复杂的光路调整，操作简便；所有控制操作均通过计算机来控制实现。全新的样品台设计，采用真空吸附方式对样品进行固定，防止对样品的损伤；可对常规尺寸的晶圆样品进行精确定位，提高测量重复性。系统采用直流和交流两种测量模式，直流模式用于常规检测，交流模式用于微弱荧光检测。荧光测量一般的PL测量仪只是测量荧光的波长和强度。PMEye-3000系列增加对激光强度的监控，并根据监控结果来对荧光测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差，也使测量结果有可比性。Mapping功能PMEye-3000系列配置200X200mm的X-Y电控位移台，最大可测量8英寸的晶圆样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域及空间分辨率，扫描速度优于每秒20个点，空间分辨率可达10um（物镜），50um（透镜）。扫描结果以3D方式显示，以不同的颜色来表示不同的荧光强度。激光器PMEye-3000系列有多种高稳定性的激光器可选，系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器，标配为1个激光器。用户可以根据测量对象来配置不同的激光器，使PL检测更加灵活。PMEye-3000系列可内置的激光器波长有：266nm，405nm，442nm，532nm、785nm等，外置激光器波长有：325nm，632.8nm等。功能强大的软件我们具有多年的测量仪器操作软件的开发经验，熟悉用户的操作习惯，这使我们开发的这套PMEye-3000系列操作软件功能强大且操作简便。PMEye-3000系列操作软件提供单点PL光谱测量及显示，单波长的X-Y Mapping测量及显示，mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下，将呈现不同的荧光效果，这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示，从图中我们可以发现在室温时，GaN薄膜的发光波长几乎含盖整个可见光范围，且强度的最高峰出现在580nm附近，但整体而言其强度并不强；随着温度的降低，发光强度开始慢慢的增加，直到110K时，我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现，且当温度越降越低，这个小峰强度的增加也越显著，一直到最低温25K时，基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm，而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值，因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去，则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV，即特征波长为357.1nm，非常靠近实验所得的356.6nm，因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。性能及功能扫描模式单波长mapping摄谱模式峰值波长mapping；给定波长范围的积分光源405nm激光（标配）150W溴钨灯（可选，用于膜厚测量）光源调制斩波器光谱仪三光栅DSP扫描光谱仪光谱仪焦距500mm（标配）波长准确度± 0.2nm（1200g/mm，300nm）± 0.6nm（600g/mm，500nm）± 0.8nm（300g/mm，1250nm）探测器Si探测器，波长范围：200～1100nm （标配）数据采集设备带前置放大器的数字采集器DCS300PA锁相放大器SR830二维位移平台行程200*200mm，重复定位精度3&mu m样品台具有真空吸附功能，对主流的3&rsquo &rsquo ,4&rsquo &rsquo ,5&rsquo &rsquo ,6&rsquo &rsquo ，8&rsquo &rsquo 的晶片可进行精确定位Mapping扫描速度优于20点/秒Mapping位移步长最小可到1um空间分辨率10um（物镜方式），50um（透镜方式）重复定位精度3&mu m探测器选择探测器类型光谱响应范围R1527光电倍增管200～680nmCR131光电倍增管200～900nmDSi300硅光电探测器200～1100nmDInGaAs1700常温型铟镓砷探测器800～1700nmDInGaAs1900制冷型铟镓砷探测器800～1900nmDinGaAs2200制冷型铟镓砷探测器800～2200nmDinGaAs2600制冷型铟镓砷探测器800～2600nm

4D InSpec 便携式表面缺陷测量仪是世界上第一款手持式、非接触、瞬时测量表面特征和缺陷的精密仪器。特点瞬时3D表面形貌测量量化测量5微米至2.5微米深的缺陷和特征轻松测量复杂的几何形状手持式，工作站或配合机器人

精确、快速、便携应用领域：金属，复合材料，织物等材质表面的划痕，裂纹，磨损，刮擦、凹坑、凿击、腐蚀等表面缺陷的现场检测和分析；铆接，焊接，接缝等阶差和凹凸量的三维检测；三维面粗糙度测量分析；划窝孔，槽深，圆弧，倒角等几何尺寸测量； 测量原理：德国GFM公司基于激光条纹相位投影技术和DSP高速图像处理芯片研制的便携式三维光学表面划痕测量仪，用于现场表面质量特性的检测，具有测量速度快，测量准确，便携性等优点。 仪器特点：便携式现场检测大型零件表面划痕缺陷,阶差等表面几何特性参数；三维测量表面划痕缺陷，通过拓扑色差图直观检测出划痕缺陷最深的部位；专业的划痕测量分析软件，多种滤波方式：包含了多项式滤波，高斯滤波，均值滤波等，有效消除曲面轮廓，倾斜，噪音信号，毛刺，灰尘等因素对测量结果的影响；大倾角光路设计，以及蓝光LED光源，测量不受高反光曲面的影响；SDK软件包，开放仪器接口，可二次开发；仪器附件 测量范围X/Y/Z：13X8X5 mm测量示值误差： (2+L/1000)μm L单位μm深度方向分辨力：1um聚焦距离： 107mm测量扫描时间: 3秒；扫描点云：36万点/幅使用环境温度：5-40°C符合国标校准规范的计量校准溯源

杰泰 手持式测量型视频内窥镜 可精确测量缺陷大小简述：TS系列是杰泰科技自主研发的一款手持式测量型内窥镜，该产品采用5.5寸高清触摸屏，有效还原真实图像效果，使检测图像更清晰。它搭载三维立体工业摄像头，兼容1.8mm-8.0mm管径，适用于狭小空间内部检查及精准测量。功能特点：1、手持一体设计，智能化界面，操作简单2、多种三维测量模式选择3、微调导航键，辅助标记测量点4、任意涂鸦，文字编辑，标记缺陷5、负片功能，提高检测图像对比度6、主机和管线手柄一键分离，兼容多种管径

德国Sentech光伏测量仪MDPmap，灵活的自动扫描系统离线工具MDPmap是专为半导体晶片或部分工艺过的晶片的多功能、非接触和少子寿命测量而设计的。MDPmap能够连续地改变激发脉冲宽度，从非常短的脉冲(100ns)到稳态测量(几ms)，研究不同深度的缺陷动力学和少子寿命特性。直观的绘图软件适用于有效的常规测量以及复杂的研发应用。 MDPmap设计用于离线生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数的小型台式无触点电特性测量仪器，在稳态或短脉冲激励下(μ-PCD)下工作。自动的样品识别和参数设置允许在从原始生长晶片到高达95%金属化晶片的各种工艺阶段之后，容易地应用于包括外延层的各种不同样品。 MDPmap的主要优点是灵活性高。例如，它允许集成多达四个激光器，用于从超低注入到高注入的与注入水平相关的寿命测量，或者通过使用不同的激光波长提取深度信息。包括偏光设施，以及μ-PCD或稳态注入条件的选择。可以使用不同的测量图形进行客户定义的计算，以及导出用于进一步评估的主要数据。对于标准测量，预定义的标准仅通过按一个按钮即可实现常规测量。 优势。在几乎任何生产阶段，电活性缺陷或材料性能的可视化实现了工艺优化和设备的性能预测。。极其通用的测量方法可实现特殊测量以及国际标准的可追溯性。。小型紧凑的台式工具，具有很高的测量灵敏度，便于快速常规测量。

作为一家专注于接触角测量仪的制造商，东莞科众公司在技术创新和产品质量方面秉持着高标准。您的团队致力于开发和生产先进的接触角测量仪，以满足客户在表面科学和材料研究领域的需求。在接触角领域，东莞科众公司的产品备受赞誉。接触角测量仪不仅具有高精度和可靠性，还提供了广泛的功能和应用。接触角测量仪器可用于测量不同液体在固体表面上的接触角，帮助研究人员了解材料的润湿性能和表面特性。不论是在学术研究领域，还是在工业应用中，东莞科众精密的接触角测量仪都能为客户提供可靠的测量结果。值得一提的是，东莞科众公司一直走研发、生产制造的路线。团队不断投入资源和精力进行创新，不断改进和提升产品性能。科众全自动接触角测量仪，使用水和乙二醇测量薄膜材料的解决方案。接触角测量仪通过不同液体（水，乙二醇）滴在薄膜材料上，测量材料的润湿性能针对使用水和乙二醇测量薄膜材料的接触角测量仪，可以提供以下解决方案：仪器选择： 选择一台全自动接触角测量仪，确保其具备高精度、稳定性和可靠性。该仪器应具备液滴放置、图像采集和接触角计算等功能，以便进行测量和分析。样品准备： 准备薄膜材料样品，并确保其表面光滑且无明显缺陷。样品尺寸应足够大以容纳液滴，并确保样品固定在测量仪的样品台上，以避免移动或扭曲。液体选择： 使用水和乙二醇作为测试液体。水广泛应用于测量一般表面润湿性能，而乙二醇常用于评估高亲油性或有机溶剂相关的表面性质。选择纯度高、质量稳定的水和乙二醇。测量步骤： a. 在仪器的液滴控制系统中设置合适的液滴体积，并将水滴和乙二醇滴在薄膜材料表面上。 b. 通过仪器的图像采集系统记录滴在薄膜材料上的液滴形态。 c. 利用仪器提供的接触角计算功能，对图像进行分析，测量和记录水滴和乙二醇滴的接触角。数据分析： 根据接触角测量结果，可以评估薄膜材料的润湿性能。较小的接触角表示材料具有较好的润湿性，而较大的接触角则表明材料较不易润湿。实验条件控制： 为了获得准确可靠的测量结果，应控制实验条件的一致性。包括温度、湿度和压力等因素的稳定性对于接触角测量的准确性至关重要。请注意，在使用全自动接触角测量仪进行实验时，应遵循仪器的操作指南，并确保安全操作，以防止任何可能的危险或伤害。

自动冲击试样缺口测量仪全自动冲击缺口测量仪，是根据广大用户的实际需求，根据GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分：试验方法》、ASTM E23，新研发的专用V2型U2型缺口加工检验的设备“自动冲击缺口测量仪”。利用特有光学图像技术将被测冲击试样缺口V2型U2型缺口图像采集，通过专用测量软件SMTMeasSystem_IG自动捕捉、自动判定，精确测量摆锤冲击V2、2U型缺口尺寸。设备特点1、 快速测量：一键测量，准确测量缺口角度、缺口深度、缺口底部半径、缺口底部高度、缺口对称面-试样纵轴夹角角度、冲击试样韧带宽度、试样宽度测量、试样长度测量、试样缺口对称面-端部测量、试样缺口对称面-试样纵轴测量、膨胀量测量、布氏压痕测量等；每分钟可测量80-180根试样；2、 采集光学系统：专用的光学采集系统，高精度识别能力；3、 自动判定自动捕捉边缘，自动测量，自动进行判定，显示误差值，判定依据可以根据GB、ISO、ASTM、企业标准或自动判断条件来对测量结果自动判定4、 报告格式可导入图片进行二次测量，用于仲裁或具有纷争的结果查询、二次测量；

北京华欧供应轴承磨削烧伤测量仪可检测轴承、齿轮、曲轴、凸轮轴、喷油嘴等零部件在磨削或热处理过程中造成的表面烧伤及缺陷，且全程采用物理学原理，对工件无损伤，完全替代传统的酸洗法。北京华欧供应轴承磨削烧伤测量仪优越性：磁弹方法, 无损检验简便快捷, 6–8 秒/桃面单通道/多通道，可同时检测多个桃面定位和量化缺陷(烧伤)可设置报警临界点在线检验, 检测优化工艺参数Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产便携式X射线应力分析仪和各类磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

英国真尚有_内径测量仪|内孔检测|内径测量系统|ZID100ZID内径测量仪是属于客户定制型的产品，可根据客户实际项目需求定制相应产品。该系统是专门为非接触式测量管道内径而设计的，能精准、快速、无损伤检测管道内部几何数据。ZID内径测量仪可用于非接触式测量长管、圆柱管、锥形管、涡轮钻等的内径和内轮廓。ZSY提供基于2种工作原理的系统：通过集成多个激光位移传感器测量内径或通过旋转激光传感器进行内表面激光扫描。内径测量仪可实现检测管道的内径、圆度、圆柱度、平行度、锥度、直线度、锥角、同心度、表面缺陷三维轮廓等的参数。ZID内径测量仪可提供设备：由静止或者可旋转的探头、可在管道内进行移动测量的平移机构（自驱动和牵引两种可选）、测量软件和校准环组成。其他可选项包括保持测量模块对齐管道轴线的固定支架、管道直线度测量模块、视频检视模块、Wi-Fi模块。主要特点：（1）、可根据具体需求定制系统，更符合项目或产线要求；（2）、最高可达微米级精度；（3）、最小可测内径9mm（9mm为目前成熟产品，支持更小内径测量仪定制）；（4）、空间分辨率可至3200点/周转；（5）、可选探头或成套系统、多个可选组件；（6）、可检测管道内多种参数如直径、圆度、锥度和内轮廓等。应用领域： 可用于非接触测量内表面各种数据测量（内径、圆度、圆柱度、平行度、锥度、直线度、锥角、同心度、表面缺陷三维轮廓等的参数），比如圆管、圆柱和圆锥管、渐进式泵的定子、涡轮钻具等多种管材、工件。部分定制系统一览：

西林瓶壁厚底厚测量仪医药、生物制品和其他相关行业中，西林瓶（也叫作注射剂瓶）是一种广泛使用的包装容器。西林瓶的壁厚和底厚是确保其强度和稳定性的重要参数，直接影响到产品的质量和安全性。然而，由于西林瓶形状的复杂性和尺寸的小型化，其壁厚和底厚的测量一直是一个技术难题。现在，西林瓶壁厚测厚仪的出现，为我们解决了这一难题。 该设备可以在不破坏西林瓶的情况下，快速、准确地测量其壁厚和底厚。这一仪器不仅提高了测量的精度，也极大地提高了测量的效率。同时，它还可以检测到西林瓶的生产过程中的各种缺陷，如厚度不均、气泡等，从而有效地保证了产品的质量。 该设备的设计充分考虑了生产环境的需求。具有易于操作的用户界面，可以快速简单地设定和调整测量参数。同时，它还具有高度的稳定性和可靠性，可以适应生产环境中的各种干扰和变化。此外，西林瓶壁厚测厚仪还配备了数据统计和分析功能，可以方便地追踪产品的质量变化，及时调整生产参数，优化生产过程。 总的来说，三泉中石西林瓶壁厚测厚仪的出现，无疑为我们提供了一个强大的工具，用于检测和优化西林瓶的质量。它的应用，不仅提高了产品的质量，也提升了生产效率，是推动西林瓶检测技术进步的重要力量。 技术参数 测量范围 0-12.5mm 分 度 值 0.001mm 样品直径 10-120mm （其他尺寸可定制） 样品高度 10-290mm（其他尺寸可定制） 外形尺寸 420×280×655（mm ） 重 量 25Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 最高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准西林瓶壁厚底厚测量仪 此为广告

【药瓶包装缺陷检测】基本说明　　药瓶包装外观缺陷检测系统主要针对口服液玻璃药瓶、塑料瓶及塑料容器进行快速、可靠的检测，项目有飞边、污渍、缺料、瓶口圆度、杂质物、孔洞、薄壁区域检测等，医药包装的检测方法除人工检测外便是更智能化自动化视觉检测设备，引用机器视觉检测，不仅可以提高药品的检测效率和准确性，更为企业降低了人工成本。药瓶机器视觉缺陷检测在制药过程中主要运用药品的生产、包装、封盒/封口、贴标、喷码、装箱等。　　【药瓶包装缺陷检测】产品功能　　不良处理缺陷检测、异物缺陷检测、瓶体尺寸缺陷检测、瓶液位判断、瓶身轧盖外观检、测贴标缺陷检测　　【药瓶包装缺陷检测】产品特点　　1.操作简单：快速建模，向导设置，直观的用户界面　　2.检测精度高：可针对不同区域设置不同的精度等X　　3.误报率低：检测误报率低　　4.检测速度：X快速度20000pcs/小时(检测不同的产品速度不同)　　5.不良存档：检测到的缺陷及不良图片存档到制定文件夹，可供操作人员针对不良追溯。　　【药瓶包装缺陷检测】适用范围　　药瓶包装外观缺陷检测系统可应用于口服液玻璃瓶体、塑料瓶及塑料容器、饮料瓶等瓶体外观缺陷在线检测。　　【药瓶包装缺陷检测】产品参数　　检测速度：250瓶/分钟--500瓶/分钟(可调)　　检测项目：(玻璃屑、金属屑、纤维、黑点、白点)、液位、轧盖、瓶盖表面印刷等　　电 压：AC3~380V 50HZ　　设备容量：14KW　　工作台高度：980mm　　适用范围：20ml~60ml口服液　　【药瓶包装缺陷检测】企业介绍　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省级重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

电池缺陷检测仪XG5000广泛应用电池行业检测电池的内部缺陷和实效分析。用户可以通过这款仪器获得高质量、高放大倍率、高分辨率的电池内部图像，对电池内部的正负极以及内部结构进行检测。电池缺陷检测仪XG5000具有标配超高性能90KV 的X射线管，可检测5微米的缺陷，最大几何放大倍率可达到48X.优质的优质的影像品质，高对比度，可检测到微小密度/灰度差异，便携式的操作方式更易于用户的行为。 电池缺陷检测仪XG5000所配备的软件功能 一 【测量功能】 1、直线距离、点线距离、圆直径、同心圆、点与圆心距离等测量 。 【图像浏览功能】2、可以调出原来的图片，进行比对，方便对异常现象的分析。3、选择任意图像，可以选择原先图片的检测设定条件，方便快速分析。 二 【步进功能】 载物台可以依设定好的程序，自动按照程序的功能，在检测量大形状单一的产品时有一定的优势。可以方便控制X光管和相机移动的方向和间隔时间，也可以设置不同检测点的X射线条件（电压，电流）进行不同效果检查。三【自动导航功能】 用鼠标点击导航图像任意一点，X光管和相机自动移动到想要被检测的地方。也可以回看上次保存的各个点位置和被测条件（如电流，电压等），被测图像在屏幕上可视化，操作简单，直观，定位准确.导航图像中有十字光标，便于操作人员识别。电池缺陷检测仪XG5000特色1、配置有免维护的密封管型微焦点X射线管。2、运动装置配备滚珠丝杆，同步轮步进驱动，使运动更加平滑，精度高，噪声小等优点。3、高压电源与光管是一体式的，工作更稳定、可靠。4、光管自动保护功能：无任何操作20min后自动断电进入保护状态。5、机器自动保护功能，任何一扇门开启，设备立刻进入停机保护状态，立刻停止发射X光。6、累计光管适用时间自动计时，角度倾斜及自动导航功能为选项。7、在软件操作界面上的X光&ldquo 开关&rdquo 按钮，可以用颜色来区分&ldquo 开&rdquo &ldquo 关&rdquo 。8、X光管使用时间的统计可以在菜单上显示。9、成像画面随鼠标指示位置移动，当鼠标点击成像画面某点位置时，某点位置移动到成像区域中央。10、鼠标点到之处，鼠标滚轮能实现成像图像的放大、缩小功能。11、软件加刻度或测量标尺。电池缺陷检测仪XG5000技术参数项目型号 XG5000光管X-Ray Tube光管类型/Tube style闭管，电源一体式光管电压/Tube voltage90kV光管电流/Tube current200&mu A（软件限值89&mu A）冷却方式/Cooling mode强制风冷几何放大倍率/Geometricmagnification time12-48 XX光管和图像增强/X-ray tube and intensifierX轴/Axis X16"(400mm)Y轴/Axis Y18"(450mm)X光管/X-ray tube Z轴/Axis Z6"(150mm)增强屏/Image intensifier视场/Field of view range2"/4"解析度/Analyse75/110 lp/cmX-Ray外壳尺寸/Dimension1028X1025X1840mm重量/Weight约760kg电源/Power供电方式/Power supply ACAC250 10A计算机Computer品牌/BrandHP 操作系统/Operation SystemWindows XP显示器/Display22"宽屏液晶显示器主机8200 Elite CMT/New core i3-2100(3.1G/3M/2)/2G(1*2G)DDR3 1333/500G(SATA)/DVD/No FDD//USB Keyboard/USB Optical Mouse/3-3-3/机箱智能电磁锁/Power Assistant辐射安全标准Radiation Safety Standard&le 1uSv/hr(国际安全辐射标准)&le 1uSv/hr(国际安全辐射标准)工作环境Working environment温度Safety Operating Temp.22± 3℃我司生产包括电池缺陷检测仪、离子污染测试仪等方面的仪器都有良好的保修制度。

PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的缺陷检测设备如WLP、PLP、晶圆制造前端工艺等，可实现从低分辨率到高分辨率的缺陷检测、分类、定位测量等功能。产品特点自主设计开发，拥有完全自主知识产权定位测量功能及缺陷检测功能高分辨率高数据率和高灵敏度图像处理系统高速并行的图像处理系统多功能可扩展的应用软件 产品参数

德国BMT 在线粗糙度测量仪德国BMT 在线粗糙度测量仪，是世界上一款自动在线粗糙度测量系统。提供对工件100%的质量控制，并可降低多达80%的生产成本。 可配备多达9个MiniProfiler粗糙度测量头，每个测量头都可径向移动，贴在气缸内壁，对多个位置同时进行测量，测量结果和参数同时显示在操作电脑上。每个测量头下都有通风口，可排出加工碎屑。量身打造的标准工件用于对粗糙度测量头进行校准检查。 应用● 汽缸壁表面检测● 研磨结果的评估 特征● 无接触，快速，自动检测汽缸壁● 扫描及预览模式● 扫描仪的机动下降及定位● 适用于通用的气缸尺寸● 用于气孔好肥清洁区域定义的可选性软件评估及研磨 ● 结构评估● 数据以各种形式输出，例如 QDAS，Excel，ASCII 优点● 检测表面缺陷● 高质量图像记录，表面结构的节省● 设备被置于缸膛外侧，整个汽缸壁可以被扫描，而不会在气缸的上部存在盲区 技术参数●触头类型：智能小型无导头触头● 定位方向：任意● 范围[μm]：±500或定制● 分辨率 [bit]：18位● 测量不确定度 [%]： 0.5● 触针回缩：软件控制● 信号转换：光纤● 信号输出：数字● 内存信息存储：触头信息● 触针：可快速更换● 触针半径[μm] ：2/5● 触针角度 [°] ：90● 基准 ：精密平面● 评估长度 [mm] ：12.5/25● Rk及相关参数检测 为 GKNZ 定制的在线缸套粗糙度测量系统

产品概述GY3000是一款利用利用柱面物镜将激光扩散为线激光后投射在目标物表面形成漫反射，使反射光在CMOS上成像后通过检测位置和形状的变化测量位移和形状的一款测仪。 GY3000 3D轮廓测量仪主要由3D高精度相机、控制器、连接电缆及上位机软件搭建而成，核心器件采用精度高达3200points/profile的相机、高精度的XY移动平台，结合奥谱天成独有的算法技术，为用户提供的全新一代领先的3D线激光测量仪。工作原理：其核心零部件，激光传感器使用的是奥普天成自研的ATI3000系列。它利用激光发射器发出的激光束通过柱面物镜处理变成平行光，平行光垂直入射到被测物体表面产生漫反射，激光传感器就能根据漫反射回来的光在感光元件CMOS上形成图像，光点在在感光元件上的位置根据目标的距离而变化，系统自动把该变化转换为目标位置的测量结果。型号ATI3000-20ATI3000-50ATI3000-50ATI3000-50ATI3000-50ATI3000-50测量距离20mm5080200400800mm测量高度范围±2.2 mm（F.S.=4.4 mm）±7.3 mm（F.S.=14.6 mm）±20.5 mm（F.S.=41 mm）±34 mm（F.S.=68 mm）±60 mm（+95 ～ -220 mm *11 ）（F.S.=315 mm）±400 mm（F.S.=800 mm）产品特征l 超高精度的精细测量；l 可支持各种表面材质；l 软件界面直观，操作方便省时；l 支持客户软件二次开发功能；l 支持绘制样品2D/3D形状测量；l 历史数据存储，帮助用户更好掌握结果；l 设备小巧、便于携带；l 维护成本低，保养方便。产品应用领域：智能制造领域的3D检测对象主要是工业制造品为主，行业分类例如汽车、3C智能、焊接、家具等行业，具体检测对象例如手机壳、电路板、锂电池等一.汽车行业：轮胎的外型检测、车体的间隙段差检测、制动盘的碰痕检测；典型案例一：轮胎外轮廓，厚度，高度，深度，边沿，凹槽，角度，圆度，平整度，变形等典型应用二：车体的高度差/ 间隙测量，以微米为单位测量和管理间隙量、 高度差量。将传感器配备在多轴机器人上， 实现在线全数检测。典型应用三：制动盘的碰痕／OCR 检测，即使是表面状态粗糙的工件，也能稳定地进行碰痕的确认、OCR 检测。通过 3200 点 / 轮廓，实现微小的碰痕、 字符的全数检测。二.3C智能行业：手机装配精度检测、封装部件形状检测等典型案例一：智能手机的装配精度确认，玻璃和外壳各自的反射率不同的目标物也能同时测量。典型案例二：平整度检测，可去除因反射率、形状不同而发生的干扰部分。依据稳定的形状进行检测。典型案例三：封装部件的形状检测典型案例四：相机模块的装配精度检测三.家具行业：板材宽度和缺陷检查、木材的分级典型案例一：板材宽度测量和缺陷检查典型案例二：木材的分级四.其他行业：铸件表面的字符识别（OCR）电缆的凹凸检测包装完整性检测

Matesy-STT系列轴扭纹光学测量仪昊量光电全新推出的Matesy的STT系列是用于生产制造现场快速判定轴类零件有无扭纹测量仪器。通过相干照度在周期性微结构上生成圆锥形衍射图样，对衍射线图样进行目測或数显评估。光学衍射分析可以使螺纹结构的可视化幅度远低于表面粗糙度的幅度，便于生产过程中快速可靠地实现质量控制，优化制造过程，实现批量生产中99%质量控制。Matesy的 STT系列非常适合5-300mm的轴类零件和圆柱部件的质量控制，质量保证和制造优化，并且提供了STT R100 NO，STT R100 NK和STT R100 NV三种规格，客户可按需求选择：1.STT R100/R150 NO（简易式）-轴类零件回转密封面缺陷测量仪-轴类回转密封面螺纹检测测量仪STT NO分为两种STTR100NO和STTR150N，STT R100/150 NO 便携小巧，通过将STT直接放置在测试对象的表面上，即可快速轻松地查看扭纹结构。Matesy-STT系列轴扭纹光学测量仪产品优势：・ 手待设备，简单易用・ 用于测试轴类密封面螺纹结构・ 快速检测，适用于生产过程・ 集成放大镜・ 可重复性高下图显示了无螺纹结构（左）和有螺纹结构（右）所产生的衍射条纹2.STT R100/R150 NV（摄录式）-轴类扭曲纹理测试仪-轴类回转面扭曲缺陷测量仪STT NV也是两种R100和R150，STTR100/150 NV 主要用于制造过程中密封零件表面的99%扭纹检查，并连接到摄像机和屏幕。摄像机也可以通过标准视频调谐卡输出扭纹信息。在车床卡盘轴旋转时，可以将受干扰的衍射线图案压缩为直立线并分析是否有扭纹。Matesy-STT系列轴扭纹光学测量仪产品优势：・ 配备摄像机Watec WAT-231S2・ 实时模式可传输到屏幕・ 4倍放大图像解析长波螺纹结构(DP200μm)・ 集成放大镜・ 可重复性高3.STT R100/R150 NK（数码式）-轴类零件回转密封面螺旋线纹理测试仪-轴表面螺纹测量仪STT NK也分为R100H和R150两种，STT R100/150 NK设备可捕获并存储特征散射光图案，录制的照片可以通过USB连接传输到PC。所提供的软件可以将图片传输到检查表中。可以样品的密封表面（防漏，泄漏，限制案例）测量图片，作为质量检查的参考样品。Matesy-STT系列轴扭纹光学测量仪产品优势：・ 配备数码相机Olympus PEN・ 实时检查螺纹结构测量图片・ 像素数可达4096 X 3084・ 软件编制检查表・ 可显示到LCD显示器上・ 2 GB数据存储器Matesy-STT系列轴扭纹光学测量仪实际应用：・ 传动轴・ 涡轮・ 发动机主轴・ 燃料泵轴・ 动力操作系统・ ABS制动系统・ 火花塞・ 燃料喷射系统・ 扣件・ 发动机阀Matesy-STT系列轴扭纹光学测量仪配件：・ STT电池充电器・ 高品质通用充电器+两节电池・ 电压（电池）:6伏（锂离子电池）・ LED液晶显示器Matesy-STT系列轴扭纹光学测量仪技术规范：・ 测量范围：DP 20-500μm・ 扭曲深度：Dt=200nm*（信息取决于粗糙度和扭曲周期，允许的粗糙度：Ra0.1~0.5μm）。・ 轴向后焦距/接触面积的轴向长度：15mm・ 轴径：5-200mm （STT R150 N 300mm）・ 光源：2类激光二极管模块・ 电源要求：6V电池 ・ 重量：约600g表面磁性结构的直接可视化在一个大的传感器区域实现图像的高几何分辨率可以根据应用配备不同类型的传感器产品详细信息可联系我们或下载数据资料！更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。

在线X射线荧光膜厚测量仪厂家：k-Space Associates, Inc.型号：kSA XRF技术介绍对于膜层厚度太薄的金属薄膜和介电薄膜，光学方法测量其厚度显得不是很可靠。kSA XRF 系统的推出主要就是为了解决该问题，它可以在线测量许多不同材料基底（例如：玻璃和太阳能电池组件）上的薄膜厚度。设备详情配备保护性定制框架外壳，放置X射线源和探测器。该设备桥接了输送线，以便于设备安装和工厂用户对系统的访问。当 X 射线源正在使用时，会有警示灯闪烁提示。配备面板的前/后边缘光电检测器，用于触发设备自动启停。柜式控制器提供数据处理及存储功能。配备小型灯塔用于指示检测情况。产品优势某些薄的介电薄膜，光学方法难以测量其厚度，如低于100nm厚度薄膜；在这种情况下，kSA XRF可以很好地测量。可在多种基板上测量金属薄膜厚度。实时数据采集，检测薄膜厚度缺陷并进行在线反馈。软件功能可定制，用户可以依据特定要求设置。检测过程中可对质量控制进行验证，以确保涂层厚度在公差范围内。工厂集成功能：使工厂用户能够将计量整合到现有系统（工厂警报、PLC、电子邮件警报等）中。操作便捷，几乎不需要额外设置，只需操作员定期进行设备校准。工作原理 该系统由一个带有高压发生器的 X 射线管和一个 X 射线探测器系统组成。其 X 射线检测系统组合了固态探测器、放大器、脉冲高度分析仪和多通道分析仪。光谱仪能量校准后，系统自动识别 X 射线光谱峰值，并收集峰值强度以进行进一步处理。该工具可根据客户的薄膜配方和测量需求测量对应的原子种类。软件功能使用专有的 k-Space 软件测量，分析和存储数据。可与现有质量控制系统对接通讯。利用光电检测器的触发器启动和停止数据采集。专为典型的玻璃和太阳能电池板输送速度而设计。完全自动化，能够与工厂自动化通信对接。报警信号可便捷的自定义配置。单个检测头可以放置在面板宽度上的任何位置，并且可选配使用多个检测头。厚度测量范围为 0~500 nm±1 nm，灵敏度和测量不确定度取决于被测元素。软件截图

EQ15土壤水势测量仪名称：土壤水势测量仪 型号：EQ15 产地：德国用途：EQ15土壤水势测量仪是一种全新的土壤水势测量仪器。水势是在等温条件下，从土壤中提取单位水所需要的能量，单位是巴 (1 bar=100kPa)。在土壤中，水势是决定水流方向和速度的主要因素，它是判断土壤水分对植物有效性的标志。不同土壤的水势可以直接相互比较。准确测定水势，在研究土壤水分的流动，植物的抗旱生理，自动控制节水灌溉，土壤湿度监测等方面有十分重要的意义。原理：EQ15平衡式土壤水势传感器由两部分组成：平衡传感器和含水量测量器。平衡传感器由一种特殊材料组成，这种材料具有两个特点：很稳定的含水量和水势之间的关系，高度透水性。 良好的透水性保证其水势和被测量的土壤同步变化。含水量测量器随时测量平衡传感器中的含水量，因含水量和水势之间的关系已知，测得含水量即测得土壤水势。含水量测量器被固定在平衡传感器内，探头周围的环境量稳定不变，从而避免了测量含水量时常见的土壤密度，石头，根系的影响，保证水势测量的精确度。 与传统土壤水势测量仪的比较：目前市场上可见的测量水势的仪器和方法从精度，测量范围，稳定性方面都有不同缺陷，不能完全满足实地使用的要求。传统张力计测量范围小(0~-0.8bar)， 只可以在湿润土壤中使用，而且易损坏；干湿球湿度计受温度变化影响大，精度低，不宜户外使用；石膏块精度低，稳定性低，受土壤pH值影响大。 平衡式土壤水势张力仪具有不可替代的优点：测量范围大，包括了植物可生存的全部范围；精度高，误差小于5kPa；使用简单，无需任何保养和维修措施，完全适于户外长期使用；测量精度不受土壤理化性质的影响 (碱性土壤除外)；可用数采进行多探头连接。 技术规格：平衡式土壤水势传感器测量范围0~-1500 kPa（0~-15 bar）测量精度±10 kPa（0~-100 kPa），读数10%（-100~-1500 kPa）适用温度工作温度0~40℃，存放温度-30 ~ +70℃，可留置于冻土中适用土壤非盐性土壤（土壤溶液的电导率1 mS/cm）电源5~15VDC，每次测量消耗23mA×5秒输出模拟式输出100~800mV尺寸17×4×2厘米，其中须插入土壤的为前端的7.5厘米重量350克（不含电缆）手持读数表显示液晶显示屏上直接显示当前水势值键盘7个按键电源3节AA碱性电池供电工作温度-20~+70℃尺寸127×83×42毫米外壳材质ABS工程塑料 产地：德国点将科技-心系点滴，致力将来！ ： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

KLA Candela光学表面缺陷分析仪（OSA）可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板，又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测，成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光学表面分析（OSA）专用技术，可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移，为特征缺陷（DOI）进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。Candela系列拥有良好的灵敏度，使用于新产品开发和生产管控，是一套极具成本效益的解决方案。 二、 功能 主要功能 1. 缺陷检测与分类 2. 缺陷分析 3. 薄膜厚度测量 4. 表面粗糙度测量 5. 薄膜应力检测 技术特点 1. 单次扫描中结合四种光学检测方法的单机解决方案，可实现高效的自动化缺陷检测与分离； 2. 对LED材料的缺陷进行自动检测，从而增强衬底的质量管控，迅速确定造成缺陷的根本原因并改进MOCVD品质管控能力； 3. 满足多种工业要求，包括高亮度发光二极管（HBLED），高功率射频电子器件，透明玻璃基板等技术； 4. 在多个半导体材料系统中能更灵敏的检测影响产品良率的缺陷。 5. 自动缺陷分类功能(Auto Defect Classification)(Particle, Scratch, Pit, Bump, and Stain Detection) 6. 自动生成缺陷mapping。 技术能力 1. 检测缺陷尺寸0.3μm； 2. 大样品尺寸：8 inch Wafer； 3. 超过30种DOI的缺陷分类。 三、应用案例 1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控 3. PR膜厚均一性评价 4. Clean制程清洗效果评价 5. Wafer在CMP后表面缺陷分析

简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点；2.坡度通道用于凹坑、凸起；3.反射通道用于粗糙表面的颗粒；4.暗场通道用于微粒和划痕；二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量，比如硅、化合物半导体或金属基底；2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像；3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟，50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果；4.高抗震性能，系统不旋转，形状无关，可容纳非圆形和易碎的基底材料；5.高达300x300mm的扫描区域；可定位缺陷，以便进一步分析；技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域，如AR/VR、Glass、光掩模版、蓝宝石、Si wafer等

西林瓶底厚测量仪玻璃瓶瓶身测厚仪是检测玻璃瓶塑料瓶壁厚底厚的检测仪器，瓶子在生产的过程中外形和表面可以通过模具控制来保证*，瓶子的内表面是没法控制的。当前玻璃瓶轻量化趋势已经越来越明显，玻璃瓶过重过厚的缺陷使得它与塑料瓶竞争中丧失了机会，同时，对于厂家来说耗费更多的原材料也意味着成本的增加，因此，这几年玻璃瓶包装的轻量化、减重的呼声越来越高。玻璃瓶的瓶身测厚指标成为生产厂家关注的重点指标之一。 壁厚测厚仪技术指标1.拥有触摸显示屏，可实时显示测量点位置及厚度值 ；2.*用户分级权限管理功能，保证数据的完整性和规范性3.配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计zui大值、zui小值、平均值4. 可存储不少于100组数据，每组数据10个测量点5.试验空间可调，使用产品范围广6.系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务 是济南三泉中石实验仪器有限公司参照GGB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准研发生产的包装容器检测仪器。用于制药、食品、药品等行业，测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶 、西林瓶、矿泉水饮料瓶等产品 。 壁厚测厚仪技术特征 触摸显示屏， 可实时显示测量点位置及厚度值 用户分级权限管理功能， 保证数据的完整性和规范性 配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计最大值、最小值、平均值 仪器可存储不少于100组数据， 每组数据10个测量点 试验空间可调，使用产品范围广 系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务 技术参数 测量范围 0-12.5mm 分 度 值 0.001mm 样品直径 10-120mm （其他尺寸可定制） 样品高度 10-290mm（其他尺寸可定制） 外形尺寸 420×280×655（mm ） 重 量 25Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 最高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准西林瓶底厚测量仪此为广告

超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪是一款利用超声波测量原理，采用高速处理器、高集成芯片设计，实现便携式、无损、快速、精准地测量多种材料厚度及声速的高精度便携式测厚仪。能以恒定速度穿透物体且产生反射波的材料都可以使用。　　适用于各种材料的高精度厚度测量需求，可应用于各种金属(钢铁、不锈钢、铝、铜、等)石英、玻璃、塑料等材质的被测物体厚度测量。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上，既可以迅速准确测量出被测物体厚度。　　 超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪功能特征：　　几乎适合于所有材质的厚度测量,如：金属,玻璃,塑料等材料 　　仪器精美，小巧，直观，采用2.3寸大彩屏显示，手持式携带方便,适合现场检测　　两种测量模式：标准模式/穿透模式(穿透型专用)　　测量精度高，测量范围大，一个标准探头完成全量程　　中英文双语言版本　　蓝牙互联数据传输功能(适用于蓝牙版测厚仪)　　校准：探头标准块校准,声速校准，可通过已知厚度求声速, 通过方向键自由调整数值　　手动关机和自动关机两种，用户可随意选择 　　内置7种常用材料的声速，并可编辑，方便用户使用 　　人性化数据保存模式：大容量存储，并且可分组保存数据，可存储10组数据，每组可保存200个数据，可存储2000个数据，手动保存更有自主性，利于结果分析 　　大容量存储，查看，删除操作，方便简单　　多探头配合使用，高温环境测量可选配高温探头耐高温(300℃)

EL缺陷检测仪，全称为电致发光缺陷检测仪，是一种利用电致发光原理检测太阳能电池板内部缺陷的设备。它通过向太阳能电池板施加一定的电压，使电池板内部的缺陷区域产生发光现象，进而通过高清相机捕捉这些发光区域，实现对光伏板内部缺陷的精准定位和分析。产品简介：EL缺陷检测仪于光伏太阳能电池板的内部缺陷检测，可更好的帮助用户完成产品质量检测把控生产与安装风险，EL缺陷检测仪搭载2400万级红外相机可有效帮助用户发现光伏板内部直流质量问题，设备配套储能电源与Wi-Fi无线控制模块，现场的检测使用更为便捷快速。 应用场景：EL缺陷检测仪适用于光伏电站组件到货检与安装后支架上组件测试，以及仓库/实验室/工厂的组件质量检测。 可识别缺陷类型：隐裂破片碎片断栅黑心虚焊工艺污染低效率片黑边烧结过刻穿孔 产品特点优势：1、2400万级高清红外相机、EL画质更清晰2、全时自动对焦模块成像精度更高3、无线控制设备检测，快速成像4、程控恒流电源现场检测实现24小时不间断测试5、平板电脑无线检测图传查看无需相机查看检测图像6、储能电源现场检测无需任何准备即可测试7、2米碳纤维三脚架支架上组件多角度测试更便捷8、整机无线远程操作测试，一人即可完成整个项目9、三防拉杆箱携带运输轻便安全应用领域：场景工厂组件、仓库组件、电站现场组件测试、测试白天：户外防红外暗室测试；室内无太阳光环境测试夜晚：直接三脚架测试，灯光月光无影响对象晶硅组件、薄膜组件（可定制）数量单块组件成像检测 规格参数：模块配置规格相机模块像素2416万像素分辨率6000x4000芯片23.5x15.6mm、CMOS传感器红外芯片Lailx9s锗芯片 99.8%红外折射率精度1.0mm/pixel检测速度1～30s可调弱电流测试可在5A弱电流呈现清晰隐裂成像光屏蔽灯光、月光、星光、室内轻微太阳光、100辐照度以下太阳光对测试无影响检测面积4000mm*2000mm镜头18mm广角红外镜头对焦模式全时自动对焦电池980mah内存卡32GB数据线10cm电源模块容量10AH电芯高性能离锂电池输出电流8A电流精度0.1A输出电压70V电压精度0.1V负载功率100W～600W；上限不高于700W检测数量300～500块光伏板控制面板LED数显程控面板功能设置无线遥控上电断电节电模式上电10s后自动断电稳态模块恒定电源输出电流电压不受电量大小变化电路保护短路保护、断路保护、电流倒灌保护、过热保护、静电保护、电流电压自适应匹配光伏板上电线10cm交流三孔输入线直流线5m直流输出线、MC4端口对接组件电脑平板电脑华为平板 32GWi-Fi2.4G内置2.4GWi-Fi无线控制模块软件检测APP无线控制相机检测拍照，图传成像，动态视频取景定位，历史图片查看，图像下载等PC电脑软件检测自动检测，缺陷分类识别保存，文件夹日期管路，统计，增益，截图，相机参数调节，专业管理台式机软件支架系统检测支架1.5米铝合金支架检测云台支架一体式安装，360度旋转定位模块检测定位十字激光定位仪，快速定位支架上后组件位置，可提高数倍检测效率使用环境沙漠，高原，屋顶，丘陵，山坡，厂房，屋顶，雪地，大棚，农光互补，鱼光互补，风光互补，等各种环境质保售后2年质保、24H响应、72H故障解决方案、备品备件协调 配置清单：序号名称规格数量单位1EL相机2400万红外相机，全自动对焦1台2EL红外镜头18mm广角红外镜头；精度0.8mm1台3平板电脑华为荣耀 32G1台4Wi-Fi传输模块内置2.4G Wi-Fi模块1套5数据线/充电器标准1套6相机电池标准2套7检测支架2m碳纤维三脚架1套9检测云台720云台1台10EL-DC移动电源10AH储能，70V，700W，恒流恒压输出，遥控器无线控制，续航300～500块组件，10S自动断电1台11上电线5米1根12检测定位仪十字镭射激光定位，快速定位检测组件位置1套13设备拉杆箱专用三防仪器拉杆箱；1套14EL-APP检测软件无线操作相机检测，即时取景，图传查看，图片下载，历史图片查看1套15windows软件检测自动检测，缺陷分类识别保存，文件夹日期管路，统计，增益，截图，相机参数调节，专业管理台式机软件1套*适用场景光伏电站安装前测试；支架上组件测试*其他标准应用设备，市场主流产品。

当热量从器件发热点（源）向环境中传递过程中，偶尔会遇到一些热的阻碍物，通常这些热阻碍物会非常严重的影响器件的可靠性。通过直接观察热的产生和其传递的路径是发现这些缺陷症状的最有效方法。TIFAS IR是一个高度集成的桌面型红外热成像法失效分析仪，可应用于几乎所有材料的失效分析。通过观察电子器件、系统、复合物、多层聚合物或烧结零配件的全波段光谱来判断其综合结构，如杂质、缺陷以及形貌等。技术参数：测试时间：1-10 sIR相机像素：382*288px (可提供更宽范围)观测区域：95 mm x 123 mm(可提供更宽范围)…欢迎联系我司，索要样本。

中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理，用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）；SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。具有的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

如何使用影像亮度色度计进行 FPD 自动光学检测在产线上及产线的最终检测中，主要有三种方法可对高速生产过程中的平板显示屏 (FPD) 进行光学检测： 1) 人工检测 —— 轻松处理比较复杂的测试要求。但与电子测试方法相比，它相对缓慢，变化较大2) 基于机器视觉的检测 —— 非常快捷，测试简单。但很多测试不能反映出人的视觉体验3) 基于影像亮度色度计的检测 —— 在速度上介于上述两种方法之间。能够像人那样进行“目测”，而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件，可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度，并识别 FPD 上的缺陷，这种用途已经被广为接受。影像亮度色度计和机器视觉之间的基本差别在于：影像亮度色度计可以精确地匹配人类视觉感知，包括对光线和色彩均匀度 (以及不均匀性 )的感知。 在本文中，我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计，在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置，以及可以执行的测试范围 – 从简单的点缺陷检测到复杂的 Mura检测和评估。测量挑战影像亮度色度计系统是基于 CCD 的影像系统，经过校准之后，它对光线、亮度和色彩的反应与 CIE 模型定义的标准人工观察者相同。可精确地同时测量亮度、色彩及其空间关系。测试时，系统会生成数据，并可随时使用这些数据来确定显示屏均匀性和对比度性能。此外，还可对均匀度差异进行分析，以识别和定位潜在的显示屏缺陷。显示屏测量和分析面临的三大重要挑战是： 1) 识别与人类视觉感知具有高度关联性的缺陷2) 量化缺陷的严重程度3) 快速执行高重复度的分析 缺陷的分析和量化可以作为依据，帮助我们确定导致缺陷的显示屏组件，以及接下来采取的行动 – 例如废弃显示屏或返回进行修理 – 从而提高质量测试的效率，还可以降低成本。与人工视觉检测相比，使用影像亮度色度计的测试更加快捷和灵活，重复度更高，另外它在匹配人类视觉感知方面的精确度高于机器视觉。 影像亮度色度计可以精确地捕获 FPD 上的光线和色彩变化的空间关系，这一优点使得这种测试方法非常适用于评估视觉性能。测量组件和测试通过指定适当的自动测试序列，影像亮度色度计可用于获取广泛、精确的高分辨率数据，以描述特定显示屏的性能。对于典型测试序列，此类测量数据通常可在几秒钟至一分钟之内获取，具体时间取决于显示屏技术和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技术，这些影像可用于确定与物理原因直接相关的各种缺陷之间的细微差异。 要使用影像亮度色度计进行显示屏的自动测量和分析，需要使用组合测量控制和分析软件。我们针对此应用开发的系统整体结构如图 1 所示。该系统的主要组件包括：(1) 科研级影像亮度色度计系统；(2) 基于 PC 的测量控制软件，它不仅控制影像亮度色度计，还控制待测试设备上的测试影像显示；以及 (3) 一套能够运行各种测试的影响分析函数。因此，该系统可针对各种显示屏缺陷 (例如点缺陷、线缺陷和 Mura)提供量化自动检测。 实施的部分测试包括：图 1. FPD AOI 测试设置，影像亮度色度计处在自动软件控制下显示屏缺陷检测应用显示屏缺陷分为很多类型，例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵点 (例如脱层 )、屏幕损坏 (例如划痕 )、影像均匀度的疵点 (例如 Mura)。利用对视觉感知的最新研究，我们可以根据人工观察者发现这些缺陷的明显程度 (或者是否明显 )，通过数字方式对这些缺陷进行分类。这个分析过程速度很快，而且重复度很高。它适用于多种显示屏技术，包括液晶、等离子、OLED 和投影显示屏。 在本文中，我们通过分析多个显示屏，演示这些缺陷检测和分类方法。图 2 显示了存在行缺陷的显示屏的光学测量，分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 3 所示。行缺陷是一种比较容易确定根源的缺陷；其起因是液晶屏故障。 图 2.存在可视行缺陷的显示屏屏幕的光学测量。 图 3.行缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的；屏幕上为用户指明了缺陷位置。 图 4 显示了存在点缺陷的显示屏的光学测量；分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 5 所示。如果分析确定该故障的起因是液晶屏像素停滞，则可将点缺陷归类为像素故障。但是，从单个角度直视并不能区分死像素与显示屏玻璃背面微粒之间的差异。在此情况下，需要进行第二道检验以识别故障原因。 图 4.存在点缺陷的显示屏的光学测量 – 您能看到吗？ 图 5.点缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的，并在显示屏屏幕上标记，我们放大了该点，让它更容易看到。Mura的检测和分类可能比较复杂。 Mura通常是亮度和色彩的不均匀性，覆盖较大的不规则区域。如果发现亮度和色彩对比度超过了可感知的阈值，则表示检测出 Mura。但是，由于人工感知这些对比度取决于多个因素，包括视距、空间频率和方向，因此我们无法通过查看对比度的简单绝对值，来识别相关 Mura。 在对显示屏缺陷的人类视觉感知建模方面，我们最近取得了进展，这使我们能够从“最小可觉差”(JND)的角度来量化 Mura。基于人工观察员的采样，我们定义了 JND 标度，如果 JND 差异为 1，则从统计上无法察觉；在绝对标度上，JND 为 0，表示没有可视的空间对比度，JND 绝对值为 1，表示第一个可察觉空间对比度 – 这样就能针对各种显示屏技术对显示缺陷进行分级。因此，我们可以处理亮度和色彩的空间分配的影像亮度色度计测量，以创建影像的 JND 映射，其中 Mura缺陷在与人类视觉感知直接关联的前提下进行了分级。图 6 显示了存在 Mura缺陷的显示屏，经过分析后，我们在显示屏影像上识别了该缺陷，如图 7 所示。 图 6.对存在 Mura缺陷的显示屏进行影像亮度色度计测 量，您能够找到这个缺陷吗？图 7.该 Mura缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件在显示屏上识别的。它的范围与 JND 值一同显示。图 8 和图 9 显示了识别 Mura的步骤。作为中间步骤，它会生成一个差异影像，显示相对于参考影像的亮度偏差。然后计算显示屏的 JND 映射。请注意，图 7 所示的 Mura测试有意忽略了 JND 影像中的明显边缘效应。这些效应可以简单地单独识别和分类。识别 Mura缺陷并不是基于各区域之间的对比度计算的简单数学计算。首先， Mura区域的大小和形状各不相同。其次，人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制约 – 视频、空间频率和色彩。 图 8.差异图片显示了相对于计算参考影像的偏离。Mura的位置突出显示。图 9.显示了显示屏 JND 映射的“伪彩色图像”。显示屏边缘的漏光和明显 Mura缺陷标识为较大的 JND 值。基于影像亮度色度计的 AOI 测试系统可以快速可靠地识别和量化显示屏缺陷。为确定或分类缺陷根源，从而确定显示屏的状态，有时需要人工检测。很多情况下，例如图 3 所示的行缺陷，识别的缺陷及其起因之间存在一对一关系。在这些情况下，我们可以即时对缺陷进行分类，而且无需人工检测。而在其他一些情况下，例如某些 Mura缺陷，缺陷可能有多种原因，因此我们需要更多信息帮助进行分类。执行这种分类的一种高效方法是让人工操作员确定哪种原因是正确的。当需要人工分类时，为了提高效率，TrueTest 会向操作员指示需要进一步检验的缺陷的位置和详细信息。可以在人工判断基础上进行加速，例如专门针对需要分类的缺陷，以及提供适当的细节。 对于图 4 和 图 5 中所示的点缺陷，操作员可以知道暗点的准确位置和相关信息，从而快速确定该缺陷是死像素，还是显示屏玻璃背面的微粒。 总结本文档所述的影像亮度色度计 AOI 测试方法可以应用于多种显示屏技术， FPD(液晶、等离子、OLED)和投影显示屏均可使用。这些方法提供与人工视频感知相关的快速可重复测量，能够通过数字方式标识缺陷特征，因而不仅可以识别显示屏缺陷，还能够按原因对缺陷进行分类。这使我们能够在制造应用中对显示屏进行一致测量，并根据用户定义的标准，自动确定显示屏是否通过测试。更加重要的是，它还可以自动确定修补措施 (例如返工或废弃 )。

线宽检测仪，PCB线宽检测仪，FPC线宽检测仪，PCB线宽线距测量仪，ASIDA线宽测量仪线宽量测仪用途：爱思达线宽检测仪适用于检测PCB内、外层蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度，也可检测线间距离、孔到边线距离，以及圆孔、盲孔和弧的直径等。并适用于IC晶片、薄膜和LCD等线宽线距的测量。PCB线宽量测仪特点：1、精准：采用可精密调焦装置，以及图像处理、自动寻边和亚像素算法等技术；2、高效： ①红光LED定位； ②自动寻边技术； ③具备SPC统计分析功能。 FPC线宽量测仪技术参数：精准①测量精度：±1μm②分辨率：XK16/XK22为0.70～5.20μm/pixel；XK23为0.4～2.6μm/pixel③总放大倍率：70～450X④光学放大倍率：1.4～9×连续可调对象①板宽：≤760mm②视野范围：0.53×0.4～3.4mm×2.5mm③线宽：≥20μm仪器外形尺寸（不含电脑）XK16XK22XK23135*135*310mm960*700*1280mm960*780*1280mm重量1.52Kg145Kg190Kg为什么选择正业科技线宽检测仪：1、正业科技仪器著名商标，爱思达。2、国精密检测仪器设备领导品牌——爱思达3、荣获75项国家、省市级资质荣誉奖项，108件国家专利技术。4、连续三届获评“中国电子电路行业优秀民族品牌企业”5、连续两届获评”中国锂电产业好产品”荣誉6、西安交通大学、华中科技大学、电子科技大学和广东工业大学等国内著名科研院所开展战略合作。

高速智能验布系统主要面向纺织行业，采用基于深度学习的人工智能算法，机器视觉技术检测织物表面缺陷。只要是不正常的纹理，均可实现实时在线检出，检出率95%以上。 适用于：各种静色化纤织物，如坯布、被单、衣料、家用织物、工业织物、轮胎、成品布、染后织品、牛仔布等自动检测上。功能： 1、送卷、自动验布和收卷，实现疵点图像实时显示、自动疵点分类、位置记录、发现重大缺陷或连续性缺陷停机和报表统计等功能。 2、可按照需求对布面缺陷进行记录或标记；并能够精准定位疵点位置坐标。 3、对不同种类疵点能够按照客户标准进行评级和评分，从而自动形成整卷布评级结果，例如一等品，合格品，等外品等级。 4、布长度测量，采用分辨率1mm的独立布长度测量装置，用来标记疵点的实际位置和长度。 5、实时在线检测经密、纬密、纬斜量、实际长度、幅宽、速度等参数。特点： 1、检测速度：120m/min。 2、分辨率：径向：0.18mm，纬向：0.15mm。 3、检测幅宽：1.2~2.8m。 4、24小时工作制。 5、环境温度：0℃-40℃。

中图仪器SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪以白光干涉技术为原理，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪非接触式高精密测量，不会划伤甚至破坏工件：【测量小尺寸样品时】可以测到12mm，也可以测到更小的尺寸，XY载物台标准行程为140*110mm，局部位移精度可达亚微米级别，Z向扫描电机可扫描10mm范围，可测非常微小尺寸的器件；【测量大尺寸样品时】支持拼接功能，将测量的每一个小区域整合拼接成完整的图像，拼接精度在横向上和载物台横向位移精度一致；SuperViewW白光干涉仪具有测量精度高、功能全面、操作便捷、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精密器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。其特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：粗糙度测量案例硅晶圆粗糙度测量晶圆IC减薄后的粗糙度检测蓝宝石粗糙度测量部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

【金属表面检测系统功能】1.操作便捷操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。2.稳定性高可连续工作在极端温度和厂房环境中。3.高精度检测方案可检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷,满足客户的不断提升的产品品质要求。4.远程数据库可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计,详细的缺陷记录(大小和位置)和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便 离线分析,用于后续分切和质量管理,可有效保证产品质量。5.定位标识功能每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。6.输入输出报警当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。7.报表统计及打印报表统计及打印EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。