全损测试仪

介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 主要技术特性 :Q 值测量范围 2 ～ 1023 量程分档 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档固有误差≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）工作误差≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围1 ～ 200pF 主电容调节范围18 ～ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 ％ 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ）100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz, 10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz频率指示误差3 × 10 -5 ± 1 个字 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用 概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 BD916介质损耗测试装置技术特性 ：平板电容器极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选 极片间距可调范围≥15mm 夹具插头间距25mm±0.01mm 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 测微杆分辨率0.001mm 电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8 400KHz138 11.4 4.87mH7400KHz 202 16 0.99mH6 1MHz 196 13 252μH5 2MHz198 8.7 49.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 1936.9 2.49μH212MHz2296.40.508μH 125MHz，50MHz233，211 0.9 0.125μH 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项技术：A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪BDJC系列电压介电强度试验仪器BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪BEST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪BDH 耐漏电起痕试验仪BDH-B耐电弧试验仪

介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪主要技术特性 Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档 固有误差 5 ％工作误差 2％ 电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围 1 ～ 200pF 主电容调节范围 18 ～ 220pF 主电容调节准确度 1pF 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ） 100 kHz ～ 160MHz 频率指示误差 1 个字 介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪电感： 线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125&mu H 介电常数介质损耗测试仪技术特性 平板电容器： 极片尺寸： 50mm/ 38mm 可选 　　　　　 极片间距可调范围： 15mm 2. 夹具插头间距：25mm 0.01mm 3. 夹具损耗正切值 10-4 （1MHz） 4．测微杆分辨率：0.001mm 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用介电常数介质损耗测试仪售后服务承诺： 售后服务及保修承诺：多年来，我公司一直生产研究电气试验设备，经研究、摸索、总结出一套完整的产品服务保障体系，向用户提供优质及时的售前、售中、售后服务为创造名牌，提高企业知名度，树立企业形象，我们本着“一切追求高质量，用户满意为宗旨”的精神，以“ 优惠的价格、 周到的服务、 可靠的产品质量”的原则向您郑重承诺： 一、产品质量承诺：1、我公司保证向需方提供的设备是原厂生产的，并且出厂资料配件齐全。为保持合同设备的正常运行和维护，我公司保证提供的技术资料和图纸是完整、清楚和正确的。2、产品的制造和检测均有质量记录和检测资料。3、对产品性能的检测，我们诚请用户亲临对产品进行全过程、全性能检查，待产品被确认合格后再装箱发货。 二、产品价格承诺：1、为了保证产品的高可靠性，系统的选材均选用国内或国际优质名牌产品。2、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以 优惠的价格提供给贵方。三：安装调试及验收承诺：1、协助设备的安装，负责设备的运输、调试。2、设备按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行，对用户提供的试样进行试验，并提供测试报告。3、安装调试同时，在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名，该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工，培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用，使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析，同时能进行基本的维护。四、保修承诺：1、设备保修二年，终身服务，二年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行 免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 五、保修： 1、设备保修两年，终身售后服务，一年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 六、售后管理： 我公司实现计算机化管理，实行客户定期电话回访制度，定期复查设备的工作情况，定期电话指导用户对设备进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有的工程师为您解决您的疑问！！ 标签：百度 介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 介质损耗因数测试仪

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪：GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 二、介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目 GDAT-A频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。电感测量范围介电常数介质损耗试验仪电容测量14.5nH~8.14H1~ 460 项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围30～500pF，精准度150pF以上±1％ 150pF以下±1.5pF； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围项 目 GDAT-A： 频率范围10kHz～50MHz频率分段(虚拟)10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。Q表正常工作条件环境温度：0℃～+40℃； 相对湿度80％电源220V±22V，50Hz±2.5Hz。消耗功率约25W；净重约7kg外型尺寸(l×b×h)mm：380×132×280 8．产品配置：a. 测试主机一台；b. 电感9只；c. 夹具一套 电感：线圈号 Q 值 测试频率 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8400KHz 13811.4 4.87mH7 400KHz 20216 0.99mH61MHz 196 13252μH52MHz 198 8.749.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 312MHz 1936.9 2.49μH2 12MHz 229 6.4 0.508μH1 25MHz，50MHz233，2110.9 0.125μH 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的详细资料： 一、 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 ， 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司

一、概述： ZJD-C型介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.ZJD-C介电常数测试仪采用了多项领先技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性：*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能*6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% 9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm14. 介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪电感组LKI-1：分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置：主机 一台电感 九支夹具 一套液体杯 一套随机文件一套

ZJD-87高压自动抗干扰精密型介电常数介质损耗测试仪一、符合标准：GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 二、产品概述： ZJD-87高压自动抗干扰精密型介电常数介损测试仪是一款专为实验室研制的高精度高压电桥，突破了传统的电桥测量方式，采用变频电源技术，利用单片机和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算；达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；电源采用大功率开关电源，输出45Hz和55Hz纯正弦波，自动加压，可提供最高10千伏的电压。所有接插件均为屏蔽接插口，有效的提高了仪器的测量精度，是专为实验室测试研制的新型介电常数介损测试仪测试仪，广泛的应用到绝缘材料的介质损耗和介电常数的测试。可以在加压，加温，真空条件下，在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数，相对介电常数测量。在外接电流互感器（量程扩展器）1000/1=1000倍的情况下，可以测试大电流高压电器的介损值。三、技术指标准确度：Cx:±（读数×0.5%+0.5pF）；tgδ:±（读数×0.5%+0.00005）；电容量范围：内施高压：3pF～60000pF/10kV；60pF～1μF/0.5kV；外施高压：3pF～1.5μF/10kV；60pF～30μF/0.5kV；*分辨率：最高0.001pF，4位有效数字；*介电常数ε测试范围：0-200；*介电常数ε准确度：0.5%*介质损耗tgδ测试范围：不限，*介质损耗tgδ分辨率：0.000001，电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围：5μA～5A；*内施高压：设定电压范围：0.5～10kV ；最大输出电流：200mA；*升降压方式：电压随意设置。比如5123V。试验频率： 40-70Hz单频随意设置。比如48.7Hz.频率精度：±0.01Hz外施高压：接线时最大试验电流5A，工频或变频40-70Hz测量时间：约30s，与测量方式有关；高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积： ￠50 mm(19.63cm2)电极材料：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面：精面面磨电极间距：不大于5 mm电极加热功率： 2*500W电极最高温度：180°加热时间：30分钟电极压力：0~1.0Mpa连续可调最大测量电压：2000V，50Hz真空度 ：电极可抽真空至3*10-2 Mpa输入电源：180V～270VAC，50Hz±1%，市电或发电机供电*计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)。打印机：微型热敏打印机 环境温度：-10℃～50℃ 相对湿度：90%主机外形尺寸：490*520*360（长宽高mm） 电极尺寸：400*300*400（长宽高mm）仪器重量：35kg四、产品优势：*抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；*在测试绝缘材料时可以直接显示相对介电常数ε和介质损耗tgδ；*50±0.1Hz到50±10Hz自动双变频随意设置；*60±0.1Hz到60±10Hz自动双变频随意设置；*外接线路时可以连接量程扩展器，电流可达几千安培；*可以在加压，加温，真空条件下测试；*计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)。五、产品特点：1、仪器采用傅立叶变换数字滤波技术，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。2、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。3、使用全触摸超大液晶显示器，操作简单。全触摸液晶显示屏，超大全图形操作界面，每过程都非常清晰明了，操作人员不需要额外的专业培训就能使用。轻轻触摸就能完成整个过程的测量。4、存储数据：内部配备有日历芯片和大容量存储器，能将检测结果随时保存，随时可以查看历史记录，并可以打印输出。当前时间和存储时间都能随时显示和打印。5、科学先进的数据管理：仪器数据可以通过U盘导出，可在任意一台PC机上通过专用软件，查看和管理数据。6、仪器操作简便，测量过程由微处理器控制，只要选择好合适的测量方式，数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。7、一体化机型，内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。8、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。也可配备专用电极来测试固体绝缘材料的介损值和介电常数。9、能够识别外接高压电源频率40Hz~70Hz，允许用工频电源或串连谐振电源做大容量高电压介损试验。10、自带热敏打印机可打印输出，带日历时钟,方便用户出测试报告, 带有U盘输出。11、接地保护功能，当仪器不接地线或接地不良时，仪器不进入正常程序，不输出高压。过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。 六、设备成套性配置：序号项目数量/单位1主机1/台2控温仪1/台3高温电极1/台4测试线1/套5电源线1/套

介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法介电常数介质损耗测试仪概述 GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到的160MHz。 主要技术特性 Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档 固有误差 &le 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， &le 6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） 工作误差 &le 7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， &le 8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） 电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围 1 ～ 200pF 主电容调节范围 18 ～ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％ 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz 频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用 gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具。 介电常数介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tan&delta 及介电常数(&epsilon )，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。 概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。BD916介质损耗测试装置是BD916 914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据正确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。 BH916测试装置 GDAT高频Q表 平板电容极片 Φ50mm/Φ38mm 可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz 间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字 夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500/18-220pF 测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差1%或1pF 夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023 电感： 线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125&mu H 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 BEST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法。产品保修售后服务承诺： 售后服务及保修承诺：多年来，我公司一直生产研究电气试验设备，经研究、摸索、总结出一套完整的产品服务保障体系，向用户提供优质及时的售前、售中、售后服务为创造名牌，提高企业知名度，树立企业形象，我们本着“一切追求高质量，用户满意为宗旨”的精神，以“ 优惠的价格、 周到的服务、 可靠的产品质量”的原则向您郑重承诺： 一、产品质量承诺：1、我公司保证向需方提供的设备是原厂生产的，并且出厂资料配件齐全。为保持合同设备的正常运行和维护，我公司保证提供的技术资料和图纸是完整、清楚和正确的。2、产品的制造和检测均有质量记录和检测资料。3、对产品性能的检测，我们诚请用户亲临对产品进行全过程、全性能检查，待产品被确认合格后再装箱发货。 二、产品价格承诺：1、为了保证产品的高可靠性，系统的选材均选用国内或国际优质名牌产品。2、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以 优惠的价格提供给贵方。三：安装调试及验收承诺：1、协助设备的安装，负责设备的运输、调试。2、设备按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行，对用户提供的试样进行试验，并提供测试报告。3、安装调试同时，在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名，该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工，培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用，使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析，同时能进行基本的维护。四、保修承诺：1、设备保修二年，终身服务，二年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行 免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 五、保修： 1、设备保修两年，终身售后服务，一年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 六、售后管理： 我公司实现计算机化管理，实行客户定期电话回访制度，定期复查设备的工作情况，定期电话指导用户对设备进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护

LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪一、概述：LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪是我公司 研制生产的产品，自该产品实现销售后，我公司工程师就一直持续不断对产品改进升级；特别是在软件上不断地加以完善，改进了早期产品存在的不足之处，提高了测试精度，并增加新的功能。但近期我公司发现，一些没有研发能力的不良公司，盗版了我公司早期产品的软件，仿制假冒我公司的产品进行销售，给不了解情况的客户将带来损失。因为这些产品的软件存在不足之处，（如在主电容调节至80pf左右时，电容指示值会出现跳变，出现180pf左右的指示值；在介质损耗测试时，当材料的损耗较大时，介质损耗值会出现错误。）但又无法得到升级完善，产品没有新增的功能。因此请广大用户注意识别。二、技术参数：信号源频率范围： DDS数字合成 10KHz-70MHz Q测量范围： 1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比： 6000:1 Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度： 3×10-5 ±1个字,6位有效数 Q测量工作误差： 5%电感测量范围： 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH 调谐电容： 主电容30-500PF电感测量误差： 5%调谐电容误差和分辨率： ±1.5P或1%标准测量频点： 全波段任意频率下均可测试 Q合格预置范围： 5-1000声光提示谐振点搜索： 自动扫描 Q量程切换： 自动/手动谐振指针： LCD显示 LCD显示参数： F,L,C,Q,波段等三、夹具工作特性1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm四、配置：主机一台电感九支夹具一套随机文件一套

Rotameter 转圈测试仪TSE转圈测试仪时一个计算机控制的系统，设计用于分析啮齿类动物单侧脑损伤导致的转圈行为。动物连接到一个旋转传感器上，可以在一个特制单元内无限制的移动。此传感器监测顺时针和逆时针旋转，具有1/250圈的分辨率，并且记录方向的改变。TSE转圈测试仪的Windows软件根据用户的特殊需要允许调整过滤器设置，以改变检测灵敏度。 所有连在一起的转圈测试仪中每一个的实验都可以独立的启动和停止。软件提供实验数据图形和数值的评价，并且输出文件用于进一步统计。&bull 可选不同尺寸的动物外套&bull 碗笼状或圆柱状单元，由透明的丙烯酸酯制成，具有最佳能见度&bull 根据需求圆柱测试笼可以由不透明塑料制作&bull 同时或交错启动----从距离计算机的一段距离远程控制启动测量&bull 以高分辨率（1.44 ° ）监测顺时针和逆时针旋转&bull 易于使用的USB连接TSE的转圈测试仪

介质损耗因数测试仪检测试验机技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有介质损耗因数测试仪检测试验机自动扣除功能大电容值直接测量显示功能： 测量值可达25nF介质损耗系数： 精度 万分之一 / LCD直接显示介电常数： 精度 千分之一 / LCD直接显示材料测试厚度： 0.1mm-10mm独有技术：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。参照国标GB/T 1693-2007介质损耗因数测试仪检测试验机产品特点：　　1、双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。　　2、双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。　　3、双数码化调谐-数码化频率调谐，数码化电容调谐。　　4、自动化测量技术-对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。　　5、全参数液晶显示–数字显示主调电容、电感、Q 值、信号源频率、谐振指针。数字直接合成的信号源-确保信源的准确，频率的高精度、幅度的高稳定。　　7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路残余电感减至低值，解决了Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。　　8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能，提高了在电感值测量时的精度。　　9、新增功能：大电容值直接测量显示功能。大电容值测量一个按键搞定。介质损耗因数测试仪检测试验机采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感降低，并保留了自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为准确。介质损耗因数测试仪检测试验机在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

Q-SUN日晒色牢度测试仪 Q-SUN Xe-日晒色牢度测试仪能重现由全光谱太阳光和环境造成的对材料的老化。该产品专为染料、纺织品、汽车内饰的日晒测试标准而设计。Q-SUN使用*的技术,提供了关键测试参数的精确控制,这些参数包括光谱、辐照度、相对湿度、箱内温度和黑板温度。● 非常友好的人机交互界面● 内置以太网连接,方便数据记录● 综合的自我诊断警告和提醒服务● 获得专利的AUTOCAL系统使校准快速且容易快速得到结果将产品置于户外进行曝晒测试时,每天只可接受几个小时的*光照强度的照射。Q-SUN Xe-2日晒机可以使样品每天接受24个小时相当于正午阳光强度的照射,以加速实验测试结果。总之,样品的老化可以被高度加速。可以负担得起的Q-SUN Xe-2日晒色牢度测试仪是一款可以负担得起的转鼓式氙灯试验箱。现在即使小型实验室,也可以支付并运行转鼓式氙灯耐候和光稳定性测试。型 号● Q-SUN Xe-2-H: 全光谱太阳光,转鼓样品架,具备湿度控制功能● Q-SUN Xe-2-HS: 全光谱太阳光,转鼓样品架,具备湿度控制和水喷淋功能全光谱氙灯灯管Q-SUN Xe-2日晒机的氙灯灯管可以再现真实的全光谱太阳光,包括紫外线、可见光和红外线。对于曝晒在全光谱下的某些材料,特别对于纺织品的色变和光稳定性测试,提供的模拟光谱是非常重要的。Q-SUN Xe-2日晒机使用了单只1800W的风冷氙灯灯管。相对水冷灯管,风冷灯管意味着可以降低运行和维护成本。在正常运行的条件下,灯管的寿命在1500小时左右。为Xe-2更换灯管非常快速和便捷-可在机器的顶端操作。更换灯管仅需要用户打开通道门,拧下螺丝,搬开扣扳机,这样灯管就可以被轻松的安装和替换。太阳眼辐照度控制太阳眼辐照度控制系统通过对灯管输出不间断的监视和控制,来确保精确的曝光量和测试结果的*重复性和再现性。过滤片Q-SUN Xe-2日晒色牢度测试仪的过滤片经过特殊设计,可以产生多数国际耐候和光稳定性测试标准所要求的光谱。这些标准适用于多种户外应用工业及室内应用工业。对于不同的应用,氙灯需要通过不同的过滤片来输出正确的光谱。光谱的不同会影响老化的速度和类型。Q-SUN Xe-2日晒色牢度测试仪的optical lanterns由外部硼硅酸盐或石英玻璃圆柱和两套内部过滤片组成。这一设计可以满足各种不同国际氙灯标准的要求,包括ISO、ASTM、AATCC和汽车OEM工厂。Q-SUN Xe-2可以模拟直射太阳光或透过窗玻璃的太阳光。温度监控和控制温度控制是非常重要的,因为他影响了老化的速度。Q-SUN Xe-2日晒色牢度测试仪通过黑板和箱体温度传感器精确地控制了样品的曝晒温度。根据黑板是否被隔绝,辐照度水平,过滤片种类,箱体空气温度和实验室环境温度等因素,黑板温度可以设置在35oC 至 105oC之间。湿度控制Q-SUN Xe-2日晒机的相对湿度(RH)控制是标准的。它允许用户同时控制和显示相对湿度,黑板温度和箱体空气温度。请注意,Xe-2试验箱的相对湿度系统的正常运行要求使用纯水。可选择水喷淋功能Xe-2日晒机的水喷淋功能可以模拟户外湿气的袭击。水喷淋管口置于箱体的顶端,可在黑暗循环和光照循环运行。Xe-2试验箱的水喷淋功能和相对湿度系统的正常运行要求使用纯水。控制和选择性软件出于功能性和操作便捷的考虑,Q-SUN Xe-2控制器支持五种语言(英文、法文、西班牙文、意大利文或德文),并且配有自我诊断和纠错功能。控制器连续不断地监控时时情况并控制所有系统。他同时显示简单的警示信息,常规的服务提醒或根据需要安全关机。每台Q-SUN Xe-2日晒机配有以太网连接,用于出具测试条件证明文件。“虚拟条形图表”电脑软件帮助用户通过电脑来自动记录Q-SUN日晒色牢度试验机的曝晒条件和转换数据,也可以直接通过邮件将这些数据发送给Q-Lab的技术支持部门,用于问题的排查和诊断。简便的校准确保其精确性Q-SUN Xe-2黑板温度传感器要求客户进行定期校准,这样可以保证精确和连续的测试结果。使用CT202校准温度计对Xe-2的黑板温度传感器进行校准,仅需几分钟。需要注意的是,CT202校准温度计需要配有非绝缘黑板(CT202/BP)传感器或绝缘黑板(CT202/IBP) 传感器。必须确保的是此传感器与Xe-2试验机的传感器相匹配。低成本,相对湿度/箱体空气温度的结合,可以使用户每年更换,无需重新校准。用户需要每年将CT202温度计返回Q-Lab进行一次低费用的校准。我们的校准实验室是经过美国实验室资格认定协会 ISO 17025认可的。校准起源于美国标准技术研究所(NIST)。大容量样品架Q-SUN Xe-2日晒机有大容量样品架,可以容纳尺寸为46 mm x 122 mm的31个样品。它的样品架非常易于安装和拆卸。对于普通的纺织品测试,Xe-2可对ISO和AATCC要求的口罩,相片框等进行测试。 测试标准AATCC TM 16、AATCC TM 169、ISO 105 B02、ISO 105 B04、ISO 105 B06、ISO 11341、ISO 4892-1&2、ASTM G151、ASTM G155、ASTM D4355、PV 1303、IEC 68-2-5、GB/T 8427、GB/T 8430、GB/T 14576、JIS L0843、JASO M346、Marks & Spencer C9&C9A、SAE J2412、SAE J2527、GMW 3930、GMW 14867、PV 3929、PV 3930、VDA 675242等。

无损密封性测试仪口服固体制剂目前常用固体制剂瓶进行包装，虽然口服固体制剂并不像无菌注射剂那样对包装密封性要求那么高，但是对于包装容器密封性国家药包材标准也是有明确的要求。我们翻看2015版国家药包材标准，其中对于“密封性”试验方法项目描述：取本品适量，于每个瓶内装入适量的玻璃球（模拟药品填充体积），盖紧瓶盖（带有螺旋盖的试瓶用测力扳手将瓶与盖旋紧），置于带抽气装置的容器中，用水侵没，抽真空至真空度27Kpa，维持2min，瓶内不得有进水或者冒泡现象。其实在USP1207包装完整性泄漏测试技术的液下气泡法也提到，采用ASTM D3078中，将样品侵没在水或者其他适合的液体中，在预定的时间内达到真空度。从泄漏部位有连续的气泡流动。制备好的样品，Sumspring三泉中石采用MFY-05S密封性测试仪进行密封性测试，药厂有的采用传统的真空干燥箱虽然也可设定真空度进行实验，但是第一观察气泡的产生并不容易，在2min的时间内也很难保持恒定的27Kpa的真空度，也无法记录和打印数据。MFY-05S密封性测试仪不但能实时检测真空度的变化，也可自动补压，保证测试过程的恒压。另外专为制药企业设置的测试程序，可以有效记录测试信息，可查看打印，满足药厂需求。 技术参数 测量范围 0～0.6MPa测量精度 ±1%保压时间 1-9999s 气源接口 Ф8mm聚氨酯管机器尺寸 430mm×330×170mm(长宽高)重 量 8Kg气源压力 0.4MPa～0.9MPa （气源用户自备）工作温度 15℃-50℃相对湿度 80%,无凝露电 源 220V 50Hz 产品配置 标准配置：主机、密封桶、微型打印机、触摸屏选 购 件：耐压桶、测试架、软管封闭性测试装置、通畅性试验装置无损密封性测试仪此为广告

GDAT-C介电常数测试仪A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。介电常数c类数显Q表工作频率范围是10kHz～60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以专用夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗（tan&delta ）和介电常数(&epsilon )，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等进行测试。本Q表依照国家计量检定规程：&ldquo JJF1073-2000高频Q表校准规范&rdquo 执行。 1 特点：◎ 创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ 数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。 2 主要技术指标：2.1 测试信号频率范围：1kHz～70MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，五位有效数显。2.2 Q值测量范围：1～1000四位数显，分辨率0.1Q。分100、316、999三档，量程可自动切换。2.3 Q值固有误差：± 5%± 3% 满刻度值。2.4 有效电感测量范围：0.1µ H～1000mH。2.5 电感测量误差：&le 5%± 0.02µ H2.6 调谐电容特性：2.6.1可调电容范围：40pF～500 pF。2.6.2 精确度：± 1% 或0.5pF。2.6.3微调电容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF2.6.4残余电感值：约30nH。2.7 Q预置功能：Q预置范围：1～1000均可。被测件达到预置值后有&ldquo GO&rdquo 显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示&ldquo NO GO&rdquo 。2.8 外形尺寸及重量：415× 180× 170（mm）,6.5kg。BH916 介质损耗测试装置（数显） BH916D介质损耗测试装置与C类Q表及电感器配用，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tan&delta )和介电常数(&epsilon )的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 本测试装置是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。1工作特性1.1 平板电容器：1.1.1 极片尺寸： c类-38：&Phi 38mm. c类-50：&Phi 50mm. 1.1.2 极片间距可调范围和分辨率： &ge 8mm， ± 0.002mm1.2 夹具插头间距： 25mm± 1mm1.3夹具损耗角正切值 &le 2.5× 10-4附表二,LKI-1电感组典型测试数据线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125&mu H北广部分产品一览表 产品名称产品型号备注电压击穿试验仪BDJC-10-100KV计算机控制/自动体积表面电阻率测试仪BEST-121液晶显示滑动摩擦磨损试验机M-200橡胶塑料，复合材料万能拉力试验机WDW金属，非金属材料介电常数介质损耗测试仪GDAT-A固体液体材料热变形维卡温度仪BWK-300计算机/液晶塑料球压痕硬度计BQY-96液晶熔体流动速率测定仪BRT-400A计算机海绵泡沫压陷硬度测定仪HMYX-2000计算机/液晶海绵泡沫落球回弹仪HMLQ-500液晶海绵泡沫疲劳冲击测定仪HMPL-2000液晶海绵拉伸强度试验机HMLS-1000液晶海绵压缩永久变形试验机HMYS-200自动海绵泡沫切割机HMQG-100自动水平垂直燃烧试验仪BRS-A自动耐电弧试验仪BDH-20KV计算机漏电起痕试验仪BLD-A高压，低压灼热丝试验仪BZR-A自动橡胶塑料低温脆性冲击试验机BCX-A 单式样，多试样万能制样机BWN-A橡胶塑料缺口制样机BQK-A机械哑铃制样机BYL-A自动氧指数仪BYZ-3自动导热系数仪BJB计算机 北广电性能及橡胶塑料常用仪器 万能材料试验机（电子万能，金属材料，非金属材料，管材，高低温，液压伺服万能试验机）电压击穿试验仪（介电击穿强度，固体绝缘材料电气介电强度试验机）体积表面电阻率测定仪（可测试固体液体膏体粉末材料） 碳素材料电阻率测试仪 电线电缆导体半导体材料电阻率测试仪 橡胶塑料滑动摩擦试验机（国标，非国标，可定制） 介电常数介质损耗测试仪（可测试固体液体） 学校专用介电常数介质损耗测试仪 高频介电常数介质损耗测试仪 工频介电常数介质损耗测试仪 绝缘材料耐电弧性能试验仪 液显热变形维卡软化点温度测定仪 计算机控制热变形维卡温度试验机 塑料球压痕硬度计 熔体流动速率测定仪/熔融指数仪 计算机控制马丁耐热试验仪 海绵泡沫检测仪器 海绵泡沫压陷硬度测定仪 海绵泡沫落球回弹仪 海绵泡沫疲劳冲击测定仪 海绵拉伸强度试验机 海绵压缩永久变形试验机 海绵泡沫切割机 海绵密度测定仪 氧指数测定仪 海绵泡沫阻燃性能试验箱 产品保修承诺： 1、设备保修两年，终身服务，两年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 最迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。

多试件摩擦磨损测试仪仪器简介：多试件摩擦磨损测试仪是一台多功能的摩擦磨损测试仪，具有多种样品适配器，可完成20多种不同几何形状试件样品的测试，可广泛应用于评估原料、涂层、润滑油和PV等原料并决定其动态和静态的摩擦系数。测试参数和数据可通过数字控制系统实时观察和打印。通过不同的试件类型和接触方式 ，测试材料，测试速度、测试负荷和马达，来符合各种商用和军用标准，具有广泛的用途。在各种技术刊物测试结果与实际的工况具有极好的相关性标准方法：ASTM D 2266-01 润滑脂耐磨特性的标准试验方法(四球法)ASTM D 3702-94 用推力垫圈试验机测定自润滑磨擦接触中材料磨损速率和摩擦系数的标准试验方法ASTM D 4172-94 润滑液防磨损特性的标准试验方法(四球法)ASTM G 99-04 用针盘仪进行磨损检测的标准试验方法技术参数：速度与转速十种转速控制，双速度范围60-900，100-3600PRM，可选速度范围10-25，80-1800，0-450和150-7200RPM，精度全量程的0.5%，另外，可选低传动齿轮控制速度在0.1RPM负荷：具有2:1和10:1双范围杠杆控制和固定负荷，压重砝码重量0-80lb，测试负荷0~807.5lb，可选气动负荷通过微处理器控制系统和数据查询控制系统来控制，控制范围30~800lbs，精度为满量程2%或5-60lbs，气动负荷需要80psi的压缩空气和80lb固定负荷，也可选择5~60lbs的低负载选件可配合自动控制系统和数据查询系统自动显示负载温度控制：随机配置包括热电偶，数字温度显示，自动调节设定温度，自动设定起始加热，温度范围可从室温至150℃，可选制冷控制系统，温度范围可从室温至-30℃实验运行环境：润滑或无润滑，可选湿度控制选件，压力仓及循环系统马达：2 HP,可变速DC马达，单向或任意振动，具有高低两种速度低速：每分钟20~600循环，振动角度0~90高速 ：见下表摆动角度 可设定扭矩数字控制的测矩单元可直接打印，自动切断。磨损连续指针显示，可进行磨损率和总磨损测量，由杠杆比例来决定磨损单位间隔0.02或0.002，可选电子磨损测量系统配和数据记录和查询系统测试时间数字计时控制，面板有计数器可设置循环计数摩擦测量扭矩传感器通过降低轴传动信号检测扭矩，根据扭矩值换算磨擦系数标准（摩擦方式）面：Thrust Washer（推力垫圈）线：Vane-on-Disk （旋叶片与盘）点： Pin-on-Disk （试验销与盘）可选配置Sheet Metal Forming Test Adapter （金属构成的测试转换器）Rolling Four Ball （旋转四球法）Small Thrust Washer （小型推力垫圈）Single Ball-on-Disk （单球与盘）主要特点：标准（摩擦方式）面：Thrust Washer（推力垫圈）线：Vane-on-Disk （旋叶片与盘）点： Pin-on-Disk （试验销与盘）

陶瓷介质损耗因数测试仪变频法a. 按直读法“a-d”进行，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0；改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次 频率读数差值Δf陶瓷介质损耗因数测试仪注：Δf是频率偏调数，Q1为谐振时Q表读数，Q2是偏调后Q表读数。1. 高频线圈电感值的测量a. 将被测线圈接在“Lx”接线柱上，接触要良好；b. 根据线圈大约电感值，按所需选一个合适的频率以保证能谐振；如要得到真实电感数（LT），必须先测得电感分布电容量C0，如分布电容较小的话，在调到谐振点后，记下主调电容C1，然后再将主调电容量调在“C1+C0”值上，这时度盘的电感读数乘以对应的倍数，就是所求真实电感读数陶瓷介质损耗因数测试仪自然频率法（此法可获得较准确的结果） a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上；b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到最大电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1；d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点；f. 将被测线圈接在“Cx”两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些；g. 再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振；重复步骤“f”、“g”直到某一频率，被测线圈接上“Cx”两端和不接上均不改变谐振点，这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2陶瓷介质损耗因数测试仪1. 电容器容量的测量A. 在测量范围内的小于主调电容量的电容器的测量a. 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；b. 将调谐电容器调到最大值附近，令这个电容是C1，如未知电容是小数值的，C1应调到较小电容值附近，以便达到尽可能高的分辨率；c. 调讯号源的频率，使测试回路谐振，令谐振器Q的读数为Q1；d. 将被测电容接在“Cx”两端，调节调谐电容器，使测试电路再谐振，令新的调谐电容值为C2和指示Q值为Q2。陶瓷介质损耗因数测试仪技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205主电容调节范围：18～220pF准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。1 测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.00012 电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。在下面的计算公式中，用户可根据实际使用情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx) 式中：Ｕ为测量电压 伏特（Ｖ）ω为角频率 2pf=314(50Hz) Ｃｎ标准电容器容量 皮法（pＦ） Ｉｇ通用指另仪的电流5X10-10 安培（Ａ） Ｒｇ平衡指另仪内阻约1500 欧姆（W） Ｒ４桥臂R4电阻值3183 欧姆（W） Ｃｘ被测试品电容值 皮法（ｐF）3 电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tgdx±1×10-44 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db

介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器， 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5）宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

漆膜介电常数介质损耗因数测试仪δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等漆膜介电常数介质损耗因数测试仪结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。玻璃的损耗复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。陶瓷材料的损耗漆膜介电常数介质损耗因数测试仪介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失漆膜介电常数介质损耗因数测试仪若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准确。B．自然频率法（此法可获得较准确的结果） a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上；b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到最大电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1；d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点；f. 将被测线圈接在“Cx”两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些；g. 再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振；漆膜介电常数介质损耗因数测试仪a．选择要求的测试频率；b. 用一只合格元件或一只辅助线圈调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例150，按一下Q值设置键，使显示屏第三行显示“COMP OK”，同时仪器发出鸣叫声，Q值大于150值，液晶屏第三行显示“COMP 150”；再调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例170，再按一下Q值设置键，液晶屏第三行显示“COMP 170150”，此时Q合格范围预置功能的设置就结束了；产品的交收检验1. 检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃，相对湿度50％； b．供电电源：220V±10V，50Hz±1Hz； c．被检设备要预热30分钟以上。2. 检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3. Q值指示检验a. 检验设备：BQG-2标准线圈一套；b. 把标准Q值线圈接入A/C表电感接线柱上； c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．A/C Q表的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条中的固有误差之规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源；b. 设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；1. 谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a. 把元件接以接线柱上；b. 主调电容调到约中间位上；c. 按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“SWEEP””，仪器就进入搜索状态。仪器从最低工作频率一直搜索到最高工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。 8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振 点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上； b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，仪器从最小电容一直搜索到最大电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。a. 频率计数器技术要求测量范围：10Hz-1000MHz； 测量误差：1×10-6；测量灵敏度：30mV。d. 测试线要求：高频电缆SYV-50-3；9．频率调谐开关的使用。A/C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／ 档)。在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快，当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。 因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度，当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。

介电常数仪介质损耗测试仪HRJD-A极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选 极片间距可调范围：≥15mm 介电常数仪介质损耗测试仪HRJD-A夹具插头间距：25mm±0.01mm 介电常数仪介质损耗测试仪HRJD-A夹具损耗正切值≤4×10－4（1MHz） 信号源频率范围： DDS数字合成10KHz-70MHz 介电常数仪介质损耗测试仪HRJD-AQ测量范围： 1-1000自动/手动量程 信号源频率覆盖比： 6000:1 Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1 信号源频率精度： 3×10-5±1个字,6位有效数 Q测量工作误差： 5% 电感测量范围： 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH 调谐电容： 主电容30-500PF 电感测量误差： 5% 调谐电容误差和分辨率：±1.5P或1% 介电常数仪介质损耗测试仪HRJD-A标准测量频点： 全波段任意频率下均可测试 Q合格预置范围： 5-1000声光提示 谐振点搜索： 自动扫描 Q量程切换： 自动/手动

片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C一、产品概述：片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京中航时代检测仪器是代替进口设备的北京中航时代仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京中航时代检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京中航时代仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京中航时代检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京中航时代检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京中航时代检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京中航时代检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京中航时代检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京中航时代检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机

介电常数测试仪/介质损耗因数和电容率测试仪的详细描述：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、概述A型高频Q表和C型高频Q表主要区别 AC测试频率范围25kHz～60MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器步进马达电容搜索无有 A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差 A频率范围25kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围A14.5nH～8.14H3．电容测量 A直接测量范围1～460p主电容调节范围40～500pF准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4．信号源频率覆盖范围 A频率范围10kHz～60MHzCH110～99.9999kHzCH2100～999.999kHzCH31～9.99999MHzCH410～60MHz频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。三、使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）四、维修1．新购仪器的检查新购的仪器最好能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是专供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 附表二 各Q值均值回路指示值 和测试回路平均残量修正系数表线圈号测试频率C修正系数1100kHz114 2400kHz135136131MHz134128.50.9642MHz154 4.5MHz1831931.0554.5MHz170 12MHz237236.21612MHz234 25MHz3052810.92725MHz2181700.7850MHz2572520.98Qe：标准有效Q值A型Q表在测试Q值时，已对测试回路的残量作了修正，故不再需要对Q值进行均值修正。◇主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 ◇主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。五、仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：5～999。 b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。c．标称误差频率范围：25kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；频率范围：10MHz～50MHz； 固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：0.1μH～1H。b．分 档：分七个量程。0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；b．电容量调节范围主调电容器：40～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；微调电容量：－3pF～0～＋3pF； 准 确 度：±0.2pF。☆振荡频率：a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；b．频率分档25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。c．频率误差：2×10-4±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆试样尺寸圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε30时）☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。六、仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。介电常数介质损耗测试仪电感器：按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。高频介质样品（选购件）：在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。 介电常数介质损耗测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

概述：ZJD-B介质损耗因数测试仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至0低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 ZJD-B介质损耗因数测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。适用领域： ZJD-B介质损耗因数测试仪器可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试；同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。技术参数：信号源频率范围：DDS数字合成 10KHz-70MHzQ测量范围：1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比：6000:1Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度：3×10-5 ±1个字,6位有效数Q测量工作误差：5%电感测量范围：15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH调谐电容：主电容30-500PF电感测量误差：5%调谐电容误差和分辨率：±1.5P或1%标准测量频点：全波段任意频率下均可测试Q合格预置范围：5-1000声光提示谐振点搜索：自动扫描Q量程切换：自动/手动谐振指针：LCD显示LCD显示参数：F,L,C,Q,波段等夹具工作特性1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm介电常数与耗散因数间的关系 介电常数又称电容率或相对电容率， 是表征电介质或绝缘材料电 性能的一个重要数据，常用 ε 表示。 介质在外加电场时会产生感应 电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介 电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力， 例如一个电 容板中充入介电常数为 ε 的物质后可使其电容变大 ε 倍。介电常数愈 小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中， 场的强度会在 电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度， 宏观 的介电常数的大小， 反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极 化现象比较弱，各种气体的相对介电常数都接近1 ，液体、固体的介 电常数则各不相同，而且介电常数还与温度、电源频率有关有些物质介电常数具有复数形式， 其实部即为介电常数， 虚数部 分常称为耗散因数。通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切， 其可表示材料 与微波的耦合能力， 耗散角正切值越大， 材料与微波的耦合能力就越 强。例如当电磁波穿过电解质时，波的速度被减小，波长也变短了。介质损耗是指置于交流电场中的介质， 以内部发热的形式表现出 来的能量损耗。介质损耗角是指对介质施加交流电压时， 介质内部流 过的电流相量与电压向量之间的夹角的余角。介质损耗角正切是对电 介质施加正弦波电压时， 外施电压与相同频率的电流之间相角的余角 δ 的正切值--tg δ. 其物理意义是：每个周期内介质损耗的能量//每个周期内介质存储的能量。介电损耗角正切常用来表征介质的介电损耗。介电损耗是指电 介质在交变电场中, 由于消耗部分电能而使电介质本身发热的现象。 原因是电介质中含有能导电的载流子,在外加电场作用下,产生导电电 流,消耗掉一部分电能,转为热能。任何电介质在电场作用下都有能量损耗，包括由电导引起的损耗和由某些极化过程引起的损耗。用 tg δ作为综合反应介质损耗特性优劣的指标， 其是一个仅仅取 决于材料本身的损耗特征而与其他因素无关的物理量， tgδ的增大意 味着介质绝缘性能变差， 实践中通常通过测量 tgδ来判断设备绝缘性 能的好坏。由于介电损耗的作用电解质在交变电场作用下将长生热量， 这些 热会使电介质升温并可能引起热击穿， 因此， 在绝缘技术中， 特别是 当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合，应尽量采用介质损耗因 数， 即电介质损耗角正切 tgδ较低的材料。但是， 电介质损耗也可用 作一种电加热手段，即利用高频电场（一般为0.3--300兆赫兹）对介 电常数大的材料（如木材、纸张、陶瓷等） 进行加热。这种加热由于 热量产生在介质内部， 比外部加热速度更快、热效率更高， 而且热均 匀。频率高于300兆赫时，达到微波波段，即为微波加热（家用微波 炉即据此原理）。在绝缘设计时， 必须注意材料的 tgδ值。若 tgδ过大则会引起严 重发热，使绝缘材料加速老化，甚至导致热击穿。一下例举一些材料的 ε 值：石英-----3.8绝缘陶瓷-----6.0纸------70有机玻璃------2.63 PE-------2.3PVC--------3.8高分子材料的 ε 由主链中的键的性能和排列决定分子结构极性越强， ε 和 tg δ越大。非极性材料的极化程度较小， ε 和 tg δ都较小。当电介质用在不同场合时对介电常数与耗散因素的大小有不同 的要求。做电容介质时 ε 大、 tg δ小；对航空航天材料而言， ε 要小 tg δ要大。另外要注意材料的极性越强受湿度的影响越明显。主要原因是高 湿的作用使水分子扩散到高分子的分子之间， 使其极性增强； 同时潮 湿的空气作用于塑料表面， 几乎在几分钟内就使介质的表面形成一层 水膜， 它具有离子性质， 能增加表面电导， 因此使材料的介电常数和 介质损耗角正切 tgδ都随之增大。故在具体应用时应注意电介质的周 围环境。电介质在现代生活中经常被用到， 而介电常数与耗散因素是电介 质的两个重要参数， 根据不同的要求， 应当选用具有不用介电常数与 耗散因数的材料， 以达到最佳的效果。同时还应当注意外界因素对介 电常数与耗散因数的影响。

GDAT-C介电常数测试仪简介满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT）、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的最佳解决方案。 1、《BH916介质损耗装置》（测试夹具）是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε），把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT），实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q）的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表BH916测试装置 介电常数测试仪GDAT高频Q表 平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz）Q测试范围2～1023 介电常数测试仪附表二,LKI-1电感组典型测试数据 线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH介电常数介质损耗（介质损耗角）测试仪 型号：GDAT-C一.介电常数测试仪主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（ 小于 10 mil） 量测值偏低,。 二.介电常数测试仪主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。三.介电常数测试仪仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围：20kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％； 频率范围：10MHz～60MHz； 固有误差：≤6％±满度值的2％；工作误差：≤8％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：14.5nH~8.14H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）；b．电容量调节范围 主调电容器：30～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则☆振荡频率：a．振荡频率范围：10kHz～50MHz；b．频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHzc．频率误差：3×10-5±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～1000。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。四、介电常数测试仪主要配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套附表 电感组典型测试数据五.介电常数测试仪仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。 介电常数测试仪介绍：一、 概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。二、介电常数测试仪技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目GDAT-A频率范围20kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2％工作误差≤7％±满度值的2％频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2％工作误差≤8％±满度值的2％ 2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量：1~ 460项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围准确度30～500pF150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％ 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．信号源频率覆盖范围项 目GDAT-A频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。8．产品配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套 附表 电感组典型测试数据线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH 产品名称：工频介电常数介质损耗测试仪型号：BDAT-B一、主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。二、主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（ tg）和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起，所以本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tg）及介电常数（ε）。 桥体本身带有5Kv/100pF标准电容,测量材料介损更为方便。桥体内附电位跟踪器及指另仪，外围接线及少。 桥体采用了多样化的介损测量线路。三、技术指标测量范围及误差 在Cn＝100pF R4＝3183.2（?）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tg? 0～1 ±1.5％tg?x±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（?）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tg? 0～0.1 ±1.5％tg?x±0.0001Ｃｘ＝Ｒ４×Ｃｎ／Ｒ３tg?＝ω?Ｒ４?Ｃ４电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tg?x±1×10-4高压电源技术特性电压输出：0～5000V/50Hz高压电流输出：0～10mA内置标准电容器 电容量为100pFtg小于5X10-5 QS37 型高压电桥1.概述：QS37 型西林电桥,主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tg） 和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、电位跟踪器组成，本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（）及介电常数（ε）。2.技术指标：2.1 测量范围及误差本电桥的环境温度为 20±5℃，相对湿度为 30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在 Cn＝100pFR4＝3183.2（）（即 10K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tg0～1±1.5％tg x士0.0001 在 Cn＝100pF R4＝318.3（）（即 1K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±3pF介质损耗tg0～0.1±1.5％tg x士0.0001

ZJD-87自动高压介质损耗介电常数测试仪一、符合标准：GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 二、产品概述： ZJD-87高压自动抗干扰精密型介电常数介损测试仪是一款专为实验室研制的高精度高压电桥，突破了传统的电桥测量方式，采用变频电源技术，利用单片机和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算；达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；电源采用大功率开关电源，输出45Hz和55Hz纯正弦波，自动加压，可提供最高10千伏的电压。所有接插件均为屏蔽接插口，有效的提高了仪器的测量精度，是专为实验室测试研制的新型介电常数介损测试仪测试仪，广泛的应用到绝缘材料的介质损耗和介电常数的测试。可以在加压，加温，真空条件下，在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数，相对介电常数测量。在外接电流互感器（量程扩展器）1000/1=1000倍的情况下，可以测试大电流高压电器的介损值。三、技术指标准确度：Cx:±（读数×0.5%+0.5pF）；tgδ:±（读数×0.5%+0.00005）；电容量范围：内施高压：3pF～60000pF/10kV；60pF～1μF/0.5kV；外施高压：3pF～1.5μF/10kV；60pF～30μF/0.5kV；*分辨率：最高0.001pF，4位有效数字；*介电常数ε测试范围：0-200；*介电常数ε准确度：0.5%*介质损耗tgδ测试范围：不限，*介质损耗tgδ分辨率：0.000001，电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围：5μA～5A；*内施高压：设定电压范围：0.5～10kV ；最大输出电流：200mA；*升降压方式：电压随意设置。比如5123V。试验频率： 40-70Hz单频随意设置。比如48.7Hz.频率精度：±0.01Hz外施高压：接线时最大试验电流5A，工频或变频40-70Hz测量时间：约30s，与测量方式有关；高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积： ￠50 mm(19.63cm2)电极材料：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面：精面面磨电极间距：不大于5 mm电极加热功率： 2*500W电极最高温度：180°加热时间：30分钟电极压力：0~1.0Mpa连续可调最大测量电压：2000V，50Hz真空度 ：电极可抽真空至3*10-2 Mpa输入电源：180V～270VAC，50Hz±1%，市电或发电机供电*计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)。打印机：微型热敏打印机 环境温度：-10℃～50℃ 相对湿度：90%主机外形尺寸：490*520*360（长宽高mm） 电极尺寸：400*300*400（长宽高mm）仪器重量：35kg四、产品优势：*抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；*在测试绝缘材料时可以直接显示相对介电常数ε和介质损耗tgδ；*50±0.1Hz到50±10Hz自动双变频随意设置；*60±0.1Hz到60±10Hz自动双变频随意设置；*外接线路时可以连接量程扩展器，电流可达几千安培；*可以在加压，加温，真空条件下测试；*计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)。五、产品特点：1、仪器采用傅立叶变换数字滤波技术，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。2、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。3、使用全触摸超大液晶显示器，操作简单。全触摸液晶显示屏，超大全图形操作界面，每过程都非常清晰明了，操作人员不需要额外的专业培训就能使用。轻轻触摸就能完成整个过程的测量。4、存储数据：内部配备有日历芯片和大容量存储器，能将检测结果随时保存，随时可以查看历史记录，并可以打印输出。当前时间和存储时间都能随时显示和打印。5、科学先进的数据管理：仪器数据可以通过U盘导出，可在任意一台PC机上通过专用软件，查看和管理数据。6、仪器操作简便，测量过程由微处理器控制，只要选择好合适的测量方式，数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。7、一体化机型，内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。8、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。也可配备专用电极来测试固体绝缘材料的介损值和介电常数。9、能够识别外接高压电源频率40Hz~70Hz，允许用工频电源或串连谐振电源做大容量高电压介损试验。10、自带热敏打印机可打印输出，带日历时钟,方便用户出测试报告, 带有U盘输出。11、接地保护功能，当仪器不接地线或接地不良时，仪器不进入正常程序，不输出高压。过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。

高频介电常数介质损耗测试仪一、概述 LJD-C介质损耗及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。LJD-C介质损耗及介电常数测试仪是中航鼎力公司 研制的产品。它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达160MHz，信号源具有信号失真小，频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性，主电容调节用步进马达控制，频率和电容值可设置，电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示。在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明 4．信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz, 5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。 6．-B测试仪正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。 三、工作原理 1．“Q”的定义 LJD-C测试仪是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件(电感或电容)来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。 或 … … … … … … … … … … … (1) 图 一在图（一）所示的串联谐振电路中，所加的信号电压为Ui，频率为f，在发生谐振时： 或 … … … … … … … … … … … … (2) 回路中电流 … … … … … … … … … … … … … … … … … (3)故电容两端的电压 … … … … … … … … … … … … … (4) 即谐振时电容上的电压与输入电压之比为Q。 -B测试仪就是按上述原理设计的。 2．-B测试仪整机工作原理（见图二）图 二 LJD-C型测试仪的工作原理框图如图二所示。它以ATM128单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS数字直接合成信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心CPU去进行数据处理。调谐电容有步进马达带动，根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。 工作频率值、频段、主调电容器值、谐振电感值、Q值、Q值比较设置状态、Q值量程、手/自动状态、频率或电容搜索指示、Q值调谐指示带、，都显示液晶屏上，如图三所示。图 三整个显示屏共分为四行 行：左边 信号源频率指示，共6位 右边 信号源虚拟频段指示（1-4）第二行：左边 调谐电容指示值，4位 右边 电感指示值，4位第三行：左边 Q值指示值 右边 Q值合格比较状态 第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示右边上部 Q值量程范围指示 右边下部 Q值调谐光带指示 四、结构特性 LJD-C测试仪采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图四面板示意图。 A．前面板各功能键说明： 四 LJD-C测试仪前面板和外形示意图1．工作频段选择/1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 工作频段选择/2按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。3．Q值低一档量程选择（手动方式时有效）/3按键；先按12键后,再按此键，功能为数字键3。4．Q值高一档量程选择（手动方式时有效）/4按键；先按12键后,再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．谐振点电容搜索/6按键，按此键后，电容指示不断在变化、步进马达发出轻微的声响时仪器正工作在电容自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键6。7．Q值合格范围比较值设定/7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现D对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．数字键9，先按12键后有效。10．数字键0，先按12键后有效。11．小数点键, 先按12键后有效。12．复合键频率/电容按键， 次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键即可。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，要输入180.5P，输入1805，有效数后为0的，可以不输入0直接再按一下此键结束输入。13．频率调谐数码开关。14．电容调谐数码开关。15．电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱，AS28563A后边两个为电感接入端，前边两个为外接电容接入端。18．电感测试范围所对应频率范围表。B．后面板各功能键说明 图 五 LJD-C测试仪后面板示意图1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V。2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）。五、使用方法高频LJD-C测试仪是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使-B测试仪测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放。b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟。c．调节主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调。d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差。e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫。f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量(基本测量法) A．直接法 a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．选择适当的工作频段和工作频率； c．先调调谐电容器到谐振点，即LJD-C测试仪读数达 ，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值(Qt)，则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正： C1是调谐电容器谐振时读数，如谐振时C1的读数很大，C0只占很小比例，则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。当Q值量程选择自动切换时，在调谐时，如遇量程自动转换，应停顿一下，待Q值稳定后，根据读数值变大或变小，确定继续调电容的方向。B．变容法a．照直读法“a-d”进行，记下谐振时电容读数C1和Q1；b．调节主调电容数码开关，使Q值二次指示均为Q1的0.707时，记下此时两次电容读数的差数ΔC。 倘要得到精确结果，则线圈的分布电容应加在C1之内，并应使主调电容作多次偏调，然后取其平均读数。测Q值较高的线圈时，Q值下降到0.707 Q1时，电容偏调很小，读数误差较大，这时可将主电容作较大偏调(10％以内)，记下偏调数ΔC和偏调后的Q值读数Q2，这时Q值表达式为： C. 变频法a．按直读法“a-d”进行，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0。b．改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次频率读数差值Δf。这时回路的真实QT为： 考虑到线圈的分布电容时，线圈的有效Q值为： 变频法测量Q值一般表达式(未考虑分布电容)： 注：Δf是频率偏调数，Q1为谐振时-B测试仪读数，Q2是偏调后-B测试仪读数。3．高频线圈电感值的测量a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上，接触要良好；b．根据线圈大约电感值，按所需选一个合适的频率以保证能谐振；c．如要得到真实电感数(LT)，必须先测得电感分布电容量C0，如分布电容较小的话，在调到谐振点后，记下主调电容C1，然后再将主调电容量调在“C1+C0”值上，这时度盘的电感读数乘以对应的倍数，就是所求真实电感读数，也可按以下公式计算求得： f被测电感小于1μH时，按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身剩余电感“L0”(QBG-3D L0=26nH)。4．高频线圈分布电容C0的测量A．倍频率法如线圈的分布电容较大，可用此法作近似测试。将被测线圈按在“Lx”接线柱上，调调谐电容器到 电容数值，调讯号源频率到谐振，令谐振时频率和指示调谐电容分别是f1和C1。然后将讯号源频率调到f2(f2=n f1)，再调电容器度盘到谐振点，此时电容读数为C2，根据下式即可求出分布电容量(测量时微调电容到零)。 如取n=2，则为：C0=（C1－4C2）/ 3若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准确。 B．自然频率法(此法可获得较准确的结果) a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到 电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1； d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点； f．将被测线圈接在"Cx”两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些。 g．再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振； h．重复步骤“f”、“g”直到某一频率，被测线圈接上“Cx”两端和不接上均不改变谐振点，这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2，它的C0数值为：C0=C1 (f1／f2)2 注：测量中所需辅助线圈可由LKI-l电感组提供便利。 5．电容器容量的测量 A. 在测量范围内的小于主调电容量的电容器的测量a．选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；b．将调谐电容器调到 值附近，令这个电容是C1，如未知电容是小数值的，C1应调到较小电容值附近，以便达到尽可能高的分辨率；c．调讯号源的频率，使测试回路谐振，令谐振器Q的读数为Q1；d．将被测电容接在“Cx”两端，调节调谐电容器，使测试电路再谐振，令新的调谐电容值为C2和指示Q值为Q2。被测电容的有效电容为 Cx= C1－C2电容器损耗角正切为 电容器的有效并联电阻为 C0为回路谐振电感的自身电容。B．大于调谐电容量的电容器用可替代法测量a. 取一只适当容量的标准电容量，其容量为C3，将它接在“Cx”接线柱上。b．按5A／a-c各测试步骤；c．取下标准电容器，将被测电容接到"Cx”接线柱，调节调谐电容器到谐振，此时主调电容量读数为C2，则Cx可由下式得到： Cx=C3+ C1－C26．Q合格范围预置功能使用Q合格范围预置功能特别适用于工厂需大批量测试某同一规格元件的Q值，当该元件Q值超过某一给定值或在一定范围内即为合格，这时液晶显示屏显示“OK”，仪器同时呜叫提醒，这样可减轻工人视力疲劳，同时大大加快了测试速度。Q合格范围预置的步骤（例150-170）：a．选择要求的测试频率；b．用一只合格元件或一只辅助线圈调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例150，按一下Q值设置键，使显示屏第三行显示“COMP OK”，同时仪器发出呜叫声，Q值大于150值，液晶屏第三行显示“COMP 150”。 c．再调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例170，再按一下Q值设置键，液晶屏第三行显示“COMP 170150”，此时Q合格范围预置功能的设置就结束了。d．换上要测试的器件，微调谐振电容至谐振点，如果该器件的Q值在设定范围内（例150-170），Q合格指示“comp OK”，同时仪器发出呜叫。如果该器件的Q值设定超出该范围，Q合格指示“comp NO”，如需取消已设置的合格值，只要再按一下设置键即可。7．谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．主调电容调到约中间位上；c．按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“FSWEEP”，仪器就进入搜索状态。仪器从 工作频率一直搜索到 工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，显示屏左下部显示“CSWEEP”，仪器从最小电容一直搜索到 电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。9．频率调谐开关的使用。LJD-C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／档)，在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快。当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度。当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。六、维修1．新购仪器的检查新购的仪器 能先用LKI-2电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号，测试频率Q读数，电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-2电感组是供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频LJD-C测试仪是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。3．电感组 LKI-2电感组是供测试作辅助用的，它含有10个屏蔽罩屏蔽的电感。这些电感具有较高的Q值。各电感的电感量等数据如附表一。附表一 LKI-2电感组，LJD-C选配电感电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值10250mH±55015pF925mH±57010pF85mH±510010pF71mH±510014pF6250μH±51509pF550μH±515012pF410μH±51507pF32.5μH±51507pF20.5μH0.05μH2005pF10.1μH0.05μH1005pF配 七、产品的交收检验1．检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃ 相对湿度50％；b．供电电源：220V±10V 50Hz±1Hz；c．被检设备要预热30分钟以上。2．检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3．Q值指示检验a．检验设备：BQG-2标准线圈一套；b．把标准Q值线圈接入LJD-C测试仪电感接线柱上；c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．LJD-C测试仪的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条固有误差所规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源。 b．设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；图 六c．电容测试仪技术指标 测试范围：10-550pF、±5pF； 测试精度：10-550pF±0.1％、±5pF±0.05pF；d．调谐电容器刻度盘上指示值与电容测试仪指示值之间误差应符合二.3.条规定。5．频率指示误差检验a．设备连接如图七所示图 七b．从后面板的频率监测端用BNC电缆连至频率计数器输入端；c．频率计数器技术要求 测量范围：10Hz-1000MHz； 测量误差：1×10-6； 测量灵敏度：30mV；d．测试线要求：高频电缆$YV-50-3；e．-B测试仪频率指示值与频率计数器读数值间的误差应符合二.4.条规定。附：贴片元件测试夹具使用方法当采用我公司生产的QBG-3D/3E及LJD-C测试仪及配上相应的贴片元件测试夹具时可对贴片电容及贴片电感进行电容量、电感量及Q值、tgδ值的测量，测量时只要将测试夹具接入相应的Lx或Cx接线柱内，然后按说明书中“3”高频线圈电感值的测量及“5”电容器电容量的测量方法进行测量。注意：因贴片元件尺寸较小，规格又不尽相同，因此放入夹具时应保持尽量居中并保证接触良好。在测量小电感时，为了测试值的正确性，测得的读数应减去仪器的测试回路的剩余电感值，QBG-3D约27nH，QBG-3E约26nH，LJD-C约7nH（包括测试夹具）。

一、仪器概述ZJD-87型介电常数测定仪 介质损耗测试仪突破了传统的电桥测量方式，采用变频电源技术，利用单片机、和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算；达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；电源采用大功率开关电源，输出45Hz和55Hz纯正弦波，自动加压，可提供最高10千伏的电压。所有接插件均为屏蔽接插口，有效的提高了仪器的测量精度，是专为实验室测试研制的新型介损测试仪，最为广泛的应用到绝缘材料的介质损耗和介电常数的测试。在外接电流互感器（量程扩展器）1000/1=1000倍的情况下，可以测试大电流高压电器的介损值。二、安全措施1、使用本仪器前一定要认真阅读本手册。2、仪器的操作者应具备一般电气设备或仪器的使用常识。3、本仪器户内外均可使用，但应避开雨淋、腐蚀气体、尘埃过浓、高温、阳光直射等场所使用。4、仪表应避免剧烈振动。5、对仪器的维修、护理和调整应由专业人员进行。6、在任何接线之前必须用接地电缆把仪器接地端子与大地可靠连接起来。7、由于测试设备产生高电压，所以测试人员必须完全严格遵守安全操作规程，防止他人接触高压部件和电路。直接从事测试的人员必须完全了解高压测试线路，及仪器操作要点。非从事测试人员必须远离高压测试区，测试区必须用栅栏或绳索、警视牌等清楚表示出来。8、仪器的调整维修和维护，必须在不加电情况下进行，如果必须加电，则操作者必须非常熟悉本仪器高压危险部件。9、保险管损坏时，必须确保更换同样的保险，禁止更换不同型号保险或将保险直接短路使用。10、仪器出现故障时，关闭电源开关，等待一分钟之后再检查。三、性能特点1、仪器采用傅立叶变换数字滤波技术，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。2、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。3、使用全触摸超大液晶显示器，操作简单。全触摸液晶显示屏，超大全图形操作界面，每过程都非常清晰明了，操作人员不需要额外的专业培训就能使用。轻轻触摸就能完成整个过程的测量。4、存储数据：内部配备有日历芯片和大容量存储器，能将检测结果随时保存，随时可以查看历史记录，并可以打印输出。当前时间和存储时间都能随时显示和打印。5、科学先进的数据管理：仪器数据可以通过U盘导出，可在任意一台PC机上通过专用软件，查看和管理数据。6、仪器操作简便，测量过程由微处理器控制，只要选择好合适的测量方式，数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。7、一体化机型，内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。8、介电常数测定仪 介质损耗测试仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。也可配备专用电极来测试固体绝缘材料的介损值和介电常数。9、能够识别外接高压电源频率40Hz~70Hz，允许用工频电源或串连谐振电源做大容量高电压介损试验。10、自带热敏打印机可打印输出，带日历时钟,方便用户出测试报告, 带有U盘输出。11、接地保护功能，当仪器不接地线或接地不良时，仪器不进入正常程序，不输出高压。过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。四、技术指标1、准确度：Cx:±（读数×0.5%+0.5pF）；2、tgδ:±（读数×0.5%+0.00005）；3、电容量范围：内施高压：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV；4、外施高压：3pF～1.5μF/10kV60pF～30μF/0.5kV；5、分辨率：最高0.001pF，4位有效数字；6、在测试绝缘材料时可以直接显示相对介电常数ε；7、tgδ范围：不限，分辨率0.000001，电容、电感、电阻三种试品自动识别；8、试验电流范围：5μA～5A；9、内施高压：设定电压范围：0.5～10kV；10、最大输出电流：200mA；11、升降压方式：电压随意设置。比如5123V；12、试验频率： 40-70Hz单频随意设置。比如48.7Hz；13、50±0.1Hz到50±10Hz自动双变频随意设置；14、60±0.1Hz到60±10Hz自动双变频随意设置；15、频率精度：±0.01Hz；16、外施高压：接线时最大试验电流5A，工频或变频40-70Hz； 外接线路时可以连接量程扩展器，电流可达几千安培；17、测量时间：约40s，与测量方式有关；18、输入电源：180V～270VAC，50Hz±1%，市电或发电机供电；19、计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)；20、打印机：微型热敏打印机 环境温度：-10℃～50℃ 相对湿度：90%；21、外形尺寸：430*330*350mm 仪器重量：28kg。五、测量方式及原理本介电常数测定仪 介质损耗测试仪器为实验室正接法：在高压电源的10kV侧，高压分两路，一路给机内标准电容CN，此电容介损非常小，可以认为介损为零，即为纯容性电流，此电流ICN 可做为容性电流基准。在Cx试品一侧，试品电流Icx通过采样电阻R采入机内，此Icx可分解成水平分量和垂直分量见图二所示，通过计算水平分量与垂直分量的比值即可得到tgδ值。试品电流Icx从试品末端进入采样电阻R，得到全电流值。六、常见设备的接线方法1．介电常数测定仪 介质损耗测试仪器引出端子说明：HV —— 仪器的测量引线高压端（带危险电压） 。CX —— 正接线时试品电流输入端。 —— 仪器的接地端，使用时与大地可靠相接2.参考接线2.1正接线、内标准电容、内高压（常规正接线）：2.2正接线、外标准电容、外高压（高电压介损）：七、仪器功能简介1、U盘插口--用来导出仪器存储的数据。2、RS232接口--用来连接电脑，控制仪器，上传数据。3、CX插座--是试品信号的测量输入端4、彩色触屏显示器--640*480分辨率，控制并显示菜单和各种提示信息及测量结果。5、打印机--打印测量数据。6、CN插座--是外标准电容信号的测量输入端，使用内标准时此端空置。7、电源开关--整机电源的开启和关闭。8、高压开关--负责仪器内部高压电源的启动与关闭。只有使用外高压时关闭，其余时候均应处于打开状态。9、电源插座--交流220V±10%，50±1Hz电源输入口，带5A保险管。10、接地端子--为接地线接线端子。八、仪器操作步骤1、打开电源开关，仪器进行自检，若自检良好，液晶屏显示开机界面。2、测试参数选择解释1)测试频率：50.0±5.0Hz 代表使用45/55Hz双变频测试。当然也可选择别的。如果想单频比如50Hz测试，就可以选择为50.0±0.0Hz。此处频率数值在40-70Hz范围随意设置。2)测试模式：正接线3)测试电压：1000V （出厂设置为准，按客户配套测试电极为准，可自行调整） 代表测试电压数值。最小100V，最大10000V.此处电压值可以随意设置。4)高压选择：内高压 代表使用内部高压电源。一般测试时候必须设置为内高压5)标准选择：内标准 代表使用内部标准电容。一般测试时候必须设置为内标准。外标准只有在使用外接标准电容的时候才使用。注意：外标准，外高压都是在做大容量或高电压介损时候才使用。如若外接电流互感器，测试完毕后介损值直读，电容量为读数乘以外接互感器的变比值，固定线圈为1000匝，穿芯如果10匝的话就是1000/10=100倍的电容读数值。3、测试参数的修改与选择：注：测试固体绝缘材料时在界面先输入材料的厚度，单位mm，小数点后二位足够。仪器具有记忆功能，不改变厚度，下次测试为同一厚度。1）测试频率的修改，用触屏笔或手指点击“50.0±0.0Hz”的红字从小键盘上直接输入频率的数值XX，然后按OK 即可。如果修改“45.0±0.0Hz”的“±0.0”，就用触屏笔或手指点击红字0.0。出现小键盘，然后从小键盘上输入5.0，然后按OK 即可。2）测试电压的修改，和修改频率一样。用触屏笔或手指点击 “测试电压 1000 V”中的红字部分。屏幕会跳出小键盘。 从小键盘上直接输入测试电压的数值X?，然后按OK，小键盘消失。测试电压的数值就会变成您刚刚从小键盘输人的数值。所有的测试模式都在下拉菜单上，点击您想选择的模式即可。3）高压选择的修改，和修改测试模式一样。用触屏笔或手指点击 “内高压”,出现下拉菜单 内高压，外高压，点击您想选择的高压即可。4）标准选择的修改，和修改测试模式一样。用触屏笔或手指点击 “内标准”,出现下拉菜单 内标准，外标准，点击您想选择的标准即可。4、测量前准备：1）接地线一端接仪器的接地柱，另一端可靠接大地，保证仪器外壳处在地电位上。2）正接线时：将高压电缆插头插入后门HV插座中，将另一端街道被试品的高压输入端。将CX低压电缆插入CX插座中，另一端接入被试品的低压端（信号输出端）。5、测试过程：选择好测试项目，测试频率，测试电压等项目。确保接线正确之后，用触屏笔或手指点击“启动仪器测试”。仪器开始升压，测量。仪器采用双变频测试。6、测试完毕，事件处理1）测试完毕可以把测试数据存储起来。用触屏笔或手指点击“存储”按钮，出现下图数据存储界面用触屏笔或手指点击数据编号框内的数值“1”，会出现小键盘。如下图数据输入界面序号数据输入界面输入存储编号，然后按下OK。数据编号5就会出现在数据编号框内。按下存储，仪器会“嘟”响一声，然后返回到测试结果界面。表示存储完毕。2）测试数据打印。测试完毕之后，在测试结果界面下，用触屏笔或手指点击“打印”按 钮，会将测试数据打印出来。3）测试。打印数据或存储数据完毕，用触屏笔或手指点击“退出”按钮，仪器会返回初始开机界面。九、现场试验注意事项如果使用中出现测试数据明显不合理，请从以下方面查找原因：1、接地接触不良接地不良会引起仪器保护或数据严重波动。应刮净接地点上的油漆和锈蚀，务必保证0电阻接地！2、测试线由于长期使用，易造成测试线隐性断路，或芯线和屏蔽短路，或插头接触不良，用户应经常维护测试线。十、RY2A型固体材料测试电极使用说明：10.1概述本介电常数测定仪 介质损耗测试仪主要用于在工频50赫兹下测量固体绝缘材料的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ），如：高压极、云母片、绝缘漆（树脂、胶）的浸渍纤制品、塑料、橡胶、电缆料、薄膜等复合制品。本电极采用的是三电极式结构，能有效地消除表面漏电流的现象，使测量电极下的电场趋于均匀。10.2外形图10.3主要技术指标1、环境温度：20±5℃2、相对湿度：65±5％3、高低压极之间距离：0～5mm可调4、百分表示值误差：0.02㎜5、百分表电源：1.5V氧化银电池6、测量极直径：50±0.1㎜ 保护环内径54mm,外径74mm7、空极tgδ：≤3×10－５8、空极电容量：按实际高度计算9、最高测试电压：2000V，耐压2500V10、实验频率：50／60Hz11、体积：φ210mm H180 mm12、重量：6kg十一、RY2型固体绝缘材料测试电极使用说明：11.1概述RY2型固体绝缘材料测试电极制造成平板型带保护电极的三端式电容器，可以在加压，加温，真空条件下，配以高压电容电桥，在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数，相对介电常数测量。11.2结构特征与工作原理12.2.1结构特征 电极的高压极安装于有足够刚度的底盘上，带屏蔽的测量电极安装于液压缸的定杆上，可用压力调节旋钮自由升降，高压极和测量极内部安装有加热装置和测量传感器，并通过连接线和安装底盘相连，配套的测温控温仪控制所需的温度，电极还配有抽气接口，可通过真空泵对系统抽气，结构开头如图1所示，面板布置如图2所示。12.2.2工作原理电极设计为平板型带保护电极的三端式电容器，绝缘材料的介质损耗角δ是由该绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与流过该电容器的电流之间的相位差的余角。绝缘材料的介质损耗因数是介质损耗角δ的正切值tgδ当绝缘材料制成片状试样置于电极中间施加一定的压力后,可视作由该绝缘材料作为介质的电容器,电容呈和介质损耗因数的测量可在高压电容电桥上进行。12.3主要性能高压电极直径与表面积 ：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积：￠50 mm(19.6 3cm2)电极材料 ：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面 ：精面面磨电极间距：不大于5 mm电极加热功率： 2*500W电极最高温度： 180°加热时间： 30分钟电极压力： 0~1.0Mpa连续可调最大测量电压： 2000V，50Hz真空度： 电极可抽真空至3*10-2 Mpa尺寸重量： 长*宽*高 400 mm*300 mm*400 mm12.4故障分析与排除装 箱 单

漆膜介质损耗因数测试仪电感测量：a．测量范围：14.5nH~8.14H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。主要配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套漆膜介质损耗因数测试仪使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。高频电桥由于它不再是一个高压电桥，因此承受电压U1的臂能容易地引人可调元件 替代法在此适用 还应指出，带有分开的初级绕组的电桥允许电源和检测器互换位置。其平衡与在次级绕组中对应的安匝数的补偿相符.售后服务。1、保修期内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为4小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。2、提供实时的远程诊断和维护服务。3、每年进行客户回访。4、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后2天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。5、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。6、软件升级：终生免费提供新版本控制软件。7、安装及调试合格后，自客户签字认可之日起，我方对于提供的产品免费保修三年。保修期满后，我方将继续跟踪服务，客户享受终生维修，负责及时提供必要的售后服务、技术咨询。8、提供适用、详细、全面的中文产品说明书和维修手册。9、产品交货期：尽量按用户要求，若有特殊要求，需提前完工的，我公司可特别组织生产、安装，力争满足用户需求。10、响应时间：保修期内，产品若发生故障，在接到贵公司报修后，24小时内帮客户解决问题。 11、服务体系：作为设备供应商本公司对本次招标所提供的产品提供保障体系： 当设备出现故障，必要时将派指定的专业技术员在规定时间内上门维修或寄修，产生的运费由本公司承担。12、产品价格承诺 1、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以 优惠的价格提供给贵方。 2、在保修期内供方将免费维修和更换属质量原因造成的零部件损坏，保修期外零部件的损坏，提供的配件只收成本费，由需方人为因素造成的设备损坏，供方维修或提供的配件均按成本价计。 13、售后服务保证 公司实力保障：本公司有完善的售后服务体系 14、保修承诺：我司对本次协议供货有效期内所提供的所有产品保质期 ，有效期内所提供的产品，提供正常工作日全天侯服务，终身技术服务支持。 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。

MLT-V100 微泄漏无损密封测试仪微泄漏密封性测试仪 无损密封仪产品简介：MLT-V100 型微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无 损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准（软件或测试夹具）定制。产品特点：● 智能全自动、功能齐全、高精度、高效率 ● 可选配正、负压测试原理 ● 7寸触摸屏、友好人机工效 ● 符合“GMP”所有要求 ● 多种通讯模式，便于数据管理、导出● 自带打印机、结果长期保存● 可选两种抽真空原理方便用户选择● 支持功能扩展和非标夹具定制微泄漏密封性测试仪 无损密封仪应用领域：各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件执行标准：该产品符合多项国家和国际标准： 《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 、SP1207美国药典标准技术参数：测试方法：压差真空衰减测试系统：多传感器技术真空范围：0~-95.0KPA/0~-13.78PSI/0~-950MBAR测试精度：最小0.01CCM（直径约为1ΜM）测试单位：MBAR/PA/PSI测试时间：5-30S操作界面：7寸液晶触摸屏真空分辨率：1PA/0.01MBAR/0.0001PSI数据转移：USB/485通讯数据存储：EXCEL格式管理权限：三级管理权限安全密钥：有测试参数存储：超过600组数据真空来源：外置电动真空泵测试结果：通过/不通过自动判断测试标准：ASTM F2338外壳材质：工程塑料，不锈钢外形尺寸：320×510×320mm电源：100-240VAC宽电源气源接口：Φ6MM聚氨酯管采集频率：50HZ打印配置：微型打印机（针式/热敏可选），可转存打印A4报告仪器重量：约18kg夹具配置：手动夹具，自动夹具测试配置：实验室离线，抽样测试

一、产品概述：介电常数测试仪采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京航天纵横检测仪器是代替进口设备的北京航天纵横仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京航天纵横检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京航天纵横仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京航天纵横检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京航天纵横检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京航天纵横检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机一、介质损耗的基本概念1.介质损耗电介质在电场作用下(加电压后)，要发生极化过程和电导过程。有损极化过程有能量损耗；电导过程中，电学性泄漏电流流过绝缘电阻当然也有能量损耗。损耗程度一般用单位时间内损耗的能量，即损耗功率表示。这种电介质出现功率损耗的过程称为介质损耗。显然，介质损耗过程随极化过程和电导过程同时进行。介质损耗掉的能量(电能)变成了热能，使电介质温度升高。若介质损耗过大，则电介质温度将升得过高，这将加速电介质的热分解与老化，最终可能导致绝缘性能的完全失去，所以研究介质损耗有十分重要的意义。2.介质损耗的基本形式(1)电导损耗。电导损耗为电场作用下由泄漏电流引起的那部分损耗。泄漏电流与电场频率无关，故这部分损耗在直流交流下都存在。气体电介质以及绝缘良好的液、固体电介质，电导损耗都不大。液、固体电介质的电导损耗随温度升高而按指数规律增大。(2)极化损耗。极化损耗为偶极子与空间电荷极化引起的损耗。在直流电压作用下，由于极化过程仅在电压施加后很短时间内存在，与电导损耗相比可忽路。而在交流电压作用下，由于电介质随交流电压极性的周期性改变而作周期性的正向极化和反向极化，极化始终存在于整个加压过程之中。极化损耗在频率不太高时随频率升高而增大。但频率过高时，极化过程反而减弱，损耗减小。极化损耗与温度也有关，在某一温度下极化损耗达最大。(3)游离损耗，游离损耗主要是指气体间隙的电晕放电以及液、固体介质内部气泡中局部放电所造成的损耗。这是因为放电时，产生带电粒子需要游离能，放电时出现光、声、热、化学效应也要消耗能量。游离能随电场强度的增大而增大。二、介质损失角正切tanδ由上可见，在直流电压作用下，介质损耗主要为电导损耗，因此，电导率γ或电阻率ρ既表示介质电导的特性，同时也表征了介质损耗的特性。但在交流电压作用下，三种形式的损耗都存在，为此需引入一个新的物理量来表征介质损耗的特性，这个物理量就是tanδ。1.并联等值电路及损耗功率的计算公式电介质两端施加一交流电压时，就有电流流过介质。有三个电流分量组成式中 ——电导过程的电流，为阻性电流，与同相位；——无损极化和有损极化时的电流。对应的等值电路如图2-9(a)所示，此等值电路可进一步简化成如图2-9(b)所示的由R和Cp相并联的等值电路。此并联等值电路的相量图如图2-9(c)所示。我们定义功率因数角θ的余角为δ角。由相量图可见，介质损耗功率越大，IR越大，δ角也越大，因此δ角称为介质损失角。对此并联等值电路，可写出介质损耗功率P的计算公式当然，图2-9(b)的电路也可以简化成由r和Cs相串联的等值电路，可以证明当tanδ 很小时， Cs≈C对于串联等值电路，同样可以推出损耗功率的计算公式2.tanδ值的意义从介质损耗功率P的计算公式看，我们若用P来表征介质损耗的程度是不方便的，因为P值与试验电压U的高低、试验电压的角频率ω(ω=2Πf)、电介质等值电容量Cp (或Cs)以及tanδ值有关。而若在试验电压、频率、电介质尺寸一定的情况下，那么介质损耗功率仅取决于 tanδ，换句话说，也就是tanδ是与电压、频率、绝缘尺寸无关的量，它仪取决于电介质的损耗特性。所以 tanδ是表征介质损耗程度的物理量，与εr、γ相当。这样,我们可以通过试验测量电介质的tanδ值，并以此来判断介质损耗的程度。各种结构固体电介质的tanδ如表2-2所示。表2-2 各种结构固体电介质的tanδ值(1MHz，20℃时)电介质结构名称tanδ分子结构非极性分子石 蜡 聚苯乙烯 聚四氟乙烯小于0.0002极性分子纤维素 有机玻璃0.01~0.015离子结构晶格结构紧密岩 盐 刚 玉小于0.0002 小于0.0002晶格结构不紧密多铝红柱石0.015晶格畸变的晶体锆英石0.02无定形结构硅酸铅玻璃 硅碱玻璃0.001 0.01不均匀结构　绝缘子瓷 浸渍纸绝缘0.01 0.01三、影响 tanδ 的因素影响tanδ 值的因素主要有温度、频率和电压。1.温度对tanδ值的影响随电介质分子结构的不同有显著的差异中性或弱极性介质的损耗主要由电导引起，故温度对tanδ的影响与温度对电导的影响相似，即tanδ随温度的升高而按指数规律增大，且tanδ较小。极性介质中，极化损耗不能忽略，tanδ值与温度的关系如图2-10所示。当温度在t1时，由于温度较低，电导损耗与极化损耗都小，电导损耗随温度升高而略有增大，而极化损耗随温度升高也增大(黏滞性减小，偶极子转向容易)，所以tanδ随温度升高而增大。当温度在t1＜t＜t2时，温度已不太低，此时分子的热运动反而妨碍偶极子沿电场方向作有规则的排列，极化损耗随温度升高而降低，而且降低的程度又要超过电导损耗随温度升高的程度，因此tanδ随温度升高而减小。当温度在t＞t2时，温度已很高，电导损耗已占主导地位，tanδ又随温度升高而增大。2.频率对tanδ的影响主要体现于频率对极化损耗的影响tanδ与频率的关系如图2-11所示。在频率不太高的一定范围内，随频率的升高，偶极子往复转向频率加快，极化程度加强，介质损耗增大，tanδ值增大。当频率超过某一数值后，由于偶极子质量的惯性及相互间的摩擦作用，来不及随电压极性的改变而转向，极化作用减弱，极化损耗下降，tanδ值降低。3.电压对tanδ的影响主要表现为电场强度对tanδ值的影响在电场强度不很高的一定范围内，电场强度增大(由于电压升高)，介质损耗功率变大，但tanδ几乎不变。当电场强度达到某一较高数值时，随着介质内部不可避免存在的弱点或气泡发生局部放电，tanδ随电场强度升高而迅速增大。因此，在较高电压下测tanδ值，可以检查出介质中夹杂的气隙、分层、龟裂等缺陷来。此外，湿度对暴露于空气中电介质的tanδ影响也很大。介质受潮后，电导损耗增大，tanδ也增大，例如绝缘纸中水分含量从4%增加到10%，tanδ值可增大100倍。然而，假如tanδ值的测试是在温度低于0～5℃时进行，含水量增加tanδ反而不会增大，这是因为此时介质中的水分已凝结成冰，导电性又变差，电导损耗变小的缘故。为此，在进行绝缘试验时规定被试品温度不低于+5℃，这对tanδ的测试尤为重要，在工程实际中，通过tanδ以及tanδ=f(u)曲线的测量及判断，对监督绝缘的工作状况以及老化的进程有非常重要的意义。

工频介电常数及介质损耗测试仪1、可测量各种类型输电线路的正序和零序各种参量、电压有效值、电流有效值、有功功率、无功功率等参数。2、允许外接电压互感器和电流互感器进行扩展量程测量。3、电压、电流测量回路宽量限：电压最大可测量到750V，不用切换档位即可保证精度。不会因电压档位选错而对仪器本身有所损坏；电流可直通100A电流测试，超宽范围能保证各种长度线路的测试。4、大屏幕、高亮度的液晶显示，全汉字菜单及操作提示实现友好的人机对话，液晶带亮度调节，可适应冬夏各季；长寿命导电硅胶按键使操作更简便，手感更良好。5、用户可随时将测试的数据通过232接口外接微型打印机将结果打印出来（打印机为选配件）。6、为配高压测量车的用户保留了与计算机通讯的RS232串口，可扩充校验数据上传功能，实现数据的集中管理。工频介电常数及介质损耗测试仪1、输入特性 电压测量范围：0~750V 宽量限，一档可保证精度。 电流测量范围：0~100A，内部全部自动切换量程。2、准 确 度： 电压：±0.2% 电流：±0.5% 功率：±0.5%（CosΦ0.1），±1.0%（0.020.1） font="" 阻抗、容抗、感抗：0.5% 电阻、电容、电感、电导、电纳：0.5%3、工作温度：－10℃~ +40℃4、工作电源：交流85V~265V5、绝 缘：⑴、电压、电流输入端对机壳的绝缘电阻≥100MΩ 。 ⑵、工作电源输入端对外壳之间承受工频2KV（有效值），历时1分钟实验。工频介电常数及介质损耗测试仪项目参数1 电容量测量范围 0~0.1uF2 介损测量范围 -1.111~1.1113 电容量测试精度 小于0.0001 4 介损测试精度 0.2%rdg±1×10-5 5 电桥分辨率 0.000001 连接电脑可显示1×10-7 6 标准电容介损精度 小于1×10-5 7 标准电容测量误差 ±0.05% 8 高压电源范围 0~2500V 9 高压电源误差 小于±3%±3个字 10 高压电源输出波形 50Hz正弦波 11 电极材料及工作面 电极为三电极结构不锈钢材料1Cr13Ni9Ti 12 高压电极直径 ￠98mm 13 测量电极直径 ￠50 mm 14 电极间距 不小于6mm 15 电极加热功率 2*500瓦 16 电极zui.高温度 250℃ 17 电极压力 0~~1.0Mpa连续可调 18 电极最大测量电压 2000V 19 材料厚度测量 电极装有测厚用的百分表自动测量材料厚度 20 安全保护装置 电极装有高压安全保护装置 21 温控范围 温控测量范围：室温~250℃ 22 温控准确度 温控准确度±0.5℃ 23 接口及定制程序 带电脑接口及电脑分析软件 24 连接高阻计 可测量不同温度下的体积电阻 25 设备环境要求 使用环境条件 26 温度 5～40℃ 27 相对湿度 20~80 28 供电电源 220±10％ 29 电源频率范围 50/60±5％ 30 供电电源谐波失真 5%工频介电常数及介质损耗测试仪《JJG563-2004高压电容电桥检定规程》《JB1811-92压缩气体标准电容器》《GB1409-2016固体绝缘材料相对介电常数和介质损耗因数的试验方法》《ASTM D150固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法》《IEC 60250测定电气绝缘材料在工频、音频、射频(包括米波长)下电容率和电介质损耗因数的推荐方法》工频介电常数及介质损耗测试仪高压电容电桥检定规程1范围本规程适用于在50Hz电源条件下测量电容量和介质损耗因数的西林型、电流比较仪型以及电子式、数字式高压电容电桥的首次检定、后续检定和使用中的检验。基于高压电容电桥原理的高压介损仪的电桥部分按本规程检定，电桥部分与高压电容器组合后按规程附录F校准。本规程不适用于高压电容电桥附加作交流电桥使用的桥路部分的检定。2概述2.1高压电容电桥的工作原理高压电容电桥从工作原理上可以认为是一种测量工频电流比率的装置。当工频高压施加在高压标准电容器和被测设备上时，即产生与它们的电容量和介质损耗因数成比例的同相及正交工频电流分量，这两个工频电流分量经电桥作比例测量后，即可得到被测设备相对于高压标准电容器的电容量比值与介质损耗因数差值。2.2高压电容电桥的分类2.2.1西林型高压电容电桥电桥的电流比例臂由电阻器构成。流过参考电流的比例臂上并联有移相电容器。采用电势平衡指示。2.2.2电流比较仪型高压电容电桥电桥的电流比例臂由电流比较仪的比例绕组构成。流过参考电流的比例臂上附有移相电路，采用磁势平衡指示。按移相方式可以把这类电桥分为有源与无源两种。属于无源的一种用阻容电路直接移相 属于有源的一种用电子放大元件配合阻容元件正交移相。用磁势合成方法实现所需相移。2.2.3电子式高压电容电桥使用电子电路(包括模拟电路和数字电路)测量幅值比和相位差的高压电容电桥。2.2.4数字式高压电容电桥采用数字信号处理方法测量幅值比和相位差的高压电容电桥。2.3高压介损仪本规程涉及的高压介损仪是一种由高压电容电桥、高压试验电源和高压标准电容器组成的测量装置。高压试验电源通常不高于10kV，频率40Hz-70Hz。3计量性能要求3.1高压电容电桥的准确度等级3.1.1高压电容电桥的准确度按电容比率和介质损耗因数分别定级如下:电容比率测量准确度级别为0.001，0.002，0.005，0.01，0.02，0.05，0.1，0.2.