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曲面测厚仪

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曲面测厚仪相关的耗材

  • PosiTest DFT 测厚仪
    PosiTest DFT 测厚仪以下行业使用效果理想粉末涂料涂装员涂层检测员涂装承包商汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材)Combo(复合型针对所有金属基材)就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号PosiTest DFT Ferrous:测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层PosiTest DFT Combo:测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜,铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点测量快速,重复性好大部分材料上无需校准调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上无法调零时可使用方便的重启功能坚固耐磨损的红宝石探头测量时听觉和视觉的双重指示探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面密尔 / 微米单位转换每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格测量范围0 - 40 mils0 - 1000 um精 度± ( 0.1mils + 3%)± ( 2um + 3%)尺 寸4 × 1.5 × 0.9 in100 × 38 × 23mm重 量2.5 oz70 g 仪器包括内置探头,标准塑料片,坚固的存放盒,1 x AAA 电池,说明书 和 一年质保符合以下标准: ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。
  • 铁基涂层测厚仪,非铁基涂层测厚仪CM-8822
    铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能:测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率:0.1/1 5、测量面积不小于:6mm 6、基底不小于:0.3mm 7、自动关机 8、使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH 9、准确度:±(1~3%n)或±2um 10、电源:4节5号电池 11、电池电压指示:低电压提示 12、外形尺寸:161×69×32mm 13、重量:210g(不含电池) 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器)可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822
  • 彩涂湿膜测厚仪234型 -德国仪力信
    彩涂湿膜测厚仪234型 -德国仪力信简单介绍大量应用与彩涂及胶水行业油漆湿膜的测量234型湿膜测厚仪是德国Erichsen(仪力信)漆膜测厚仪,包含型号:234R/I,234R/II,234R/III,234R/IV,234R/V,234R/VI,234R/VII,234R/VIII。仪器由两个经硬化和研磨的钢轮及其中间的一个偏心轮盘组成.把仪器在湿膜上滚动,然后从偏心轮沾有油漆的部份读得漆膜的厚度.可测量0-1500微米的厚度,共有8个测量范围.234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信)的详细介绍234型湿膜测厚仪符合DIN,EN ISO,ISO,ASTM,BS,NF.标准。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 特点膜厚测量在油漆和涂料的使用和检测中起一个重要的作用。在决定外观、保护性能和持久性能时,膜厚是一个决定性的因素。涂膜太薄不能提供足够的保护并减少遮盖力。因此,必须执行技术规格所规定的最小厚度并确保这些值的一致性。另一方面,过厚的涂层是使用了太多涂料的结果,相应地增加了成本。而且,较厚的涂层并不总是意味着性能提高,如它们在干燥时间方面会有一个负面的影响。涂层的物理和机械性能取决于漆膜的厚度。如果要执行的是有意义的测试,膜厚必须均匀。湿膜测厚仪用于检查刚刚涂上的涂料,也可用于计算干膜厚度结果。如果测量与指定值有误差,必须立即采取措施改正。机械式测厚仪有一系列优点:便携、操作简单、非技术人员也可使用。结构坚固,读数一目了然。测量可在任何表面上进行。因为全部机械式,故可适用于玻璃、木材、金属或塑料基材。与其它类型的测厚仪比较,机械式测厚仪具有更好的价格。应用用于所有的平面或均匀曲面 ( 凹面和凸面 )测试原理碟形测量仪器(图 1 )在湿膜表面滚动。在此过程中两个滚花,对中轮缘( 1 )在基材上滚过,当轮缘到凸轮的距离等于被测湿膜厚度时偏心凸轮( 2 )则会粘上涂料。设计和功能加硬、精确磨制的不锈钢测量盘直径为 50 mm ,厚 11 mm 。它包含一个铝制自由旋转滚轮使仪器能在表面滚动。 共有 8 种不同型号和测量范围 ( 见订货信息 ) 。读数刻度刻在盘的一侧,每一个仪器配一个盒子。测量程序测量 1用姆指与食指捏住仪器的导向滚轴 , 将仪器放在测试表面上,使接触点与零线相反。轻压滚动,使仪器向零线滚动,再提起。测量 2 (验证)仪器放置位置如 1 ,但以相反的方向旋转,直到它达到零线。湿膜厚度以湿膜记号出现处读出,并与相对的一侧比较,求出平均值。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 订货信息订货号型号测量范围读数精度0071.01.31234 R/I0~25 μm1 μm0071.02.31234 R/II0~50 μm2 μm0071.03.31234 R/III0~125 μm5 μm0071.04.31234 R/IV0~250 μm10 μm0071.05.31234 R/V0~500 μm20 μm0071.06.31234 R/VI500~1000 μm20 μm0071.07.31234 R/VII0~1000 μm50 μm0071.08.31234 R/VIII0~1500 μm50 μm
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪TT30超声波测厚仪超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • PosiTector 6000型测厚仪
    PosiTector 6000型 测厚仪,适用于金属基材大型易读液晶显示,菜单式使用者界面即时自动设定3键式操作自动关机,连体探头式,还可自动开机平均置零,利于在粗糙面上置零重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态仪器背面有简要说明耐 用耐磨的蓝宝石探头耐酸、耐油、耐溶剂、 防尘、防水读数不受振动影响一年保修期精 确每台仪器都有校准证书,符合NIST标准可达到极高的精度(请参阅背页的订货指面)可提供校准程序和标准板符合美国和国际标准性能卓越密耳/微米/毫米(Mils/Microns/mm)单位转换易于调整到任意已知厚度多种探头多国显示语文: 英文、西班牙文、法文、德文、葡萄牙文、意大利文、日文、中文背景发亮的显示屏,在黑暗的环境使用更觉方便灯光提示:便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果。反转显示:独有的反转显示,无论手持测厚仪还是放置在工作台上,阅读都很方便。连体探头:便于单手操作标准型(1)具有左边所列的所有特点。统计型(2)具有标准型所有功能,且读数超出设定范围时有声光提示。测量时不断更新和显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数HI-RES模式:高精度测量时可增加读数分辨率可设定内部自动关机时间储存多至250个读数内置红外线界面,可打印至廉价的无线红外打印机分离探头各款探头可互,提供更多样化的测试。标准版可在多种不同厚度上验证仪器出自NIST的标准包含有校准证书配备安全、方便的贮存袋记 忆远红外打印机和PosiSoft软件只在记忆型中可用。建立/注释/编辑分组、零件、操作者、应用名称等可存入仪器记忆中。存贮达16000个数据,可分为最多1000组配备RS-232连线可将数据输入Windows平台的电脑,串行打印机或数据收集仪等。奉送PosiSoft分析软件,在Windows平台的电脑上运行。内置式远红外打印接口接打印机。PosiSoft 软件-在 Windows 上运行,功能强大,易学易用。当选择记忆型时,软件无需额外费用,随机奉送。从PosiTector 100型读取数据容易。用该仪器及可修改电脑用户、零件分组及建立说明、解释等。显示、资料、图形数据等可达5层膜厚。图表可表示单个涂层也可显示总厚度。可打印基本图表及柱形图。提供数据和时间资料。使用一般格式如ASCⅡ可将数据存入电脑。理想的涂层厚度监控及分析应用软件。记忆型 (3) 具有 (1) 和 (2) 型功能,且储存10000个读数,可分成200组SSPC PA-2功能,计算一组平均读数的平均值读数可即时输出,也可先行储存待日后处理提供用于Windows环境的PosiSoft统计分析软件提供RS-232串行线,用于向个人电脑、串行打印机或数据采集器输送数据可储存多种不同较准数据以配合测量各款不同基材储存在记忆里的各组读数,可再分细组、查阅、更新或删除 ]内置时钟,每个储存的读数均加上日期和时间标签PosiSoft for Windows功能强大 使用简单订购记忆型(3)随机附送易于从仪器收集数据可输入提示说明显示和打印图表使用通用格式储存数据如ASCII码方便监视和分析膜层厚度支援多种语文分离探头各款分离探头可互换每个分离探头均附可追溯至NIST的证书镀金的耐用带锁接头适用于工业环境优质柔性防破损连线加长线(可达75米)便于远程测量所有标准探头均可在水下使用所有恒压探头均采用V型槽和倒角定位便于测量管子里外微型探头(铁性基材或有色金属)用于细小及难到达的表面,有0o 、45° o、90° o三种配置各种不同的探头可适用极广的应用范围° 可拆卸的辅助器微型探头转换为恒压° 可将0探头,测量细小的平面或曲面无线打印机(2) 型或 (3) 型机无须接头或连线便可将数据传递给红外线打印机 ( 电池驱动 / 谦价的选购件 )独特的复合型(FN)探头不须更换探头可测量所有金属表面自动识别铁/有色金属表面减少误操作影响可测量钢上的镀锌层,铝上的氧化膜,金属上的涂层、钢上的铬层等等。特有的&ldquo N-LOCK&rdquo 功能可测量略带磁性基材,如镀镍的铜基材镀金层上的透明涂层提供连体探头和分离探头配置测量粉末涂层的理想之选记忆型(3)仪器,在分组模式下的显示样本测量读数可分 ( 至 200) 组Batch1 Cal n5021.00x3.61 &sigma 42.0x20.1 &darr F 20.1显示 铁/有色金属基材多用途:从微小元件的薄镀层、、、、到大尺寸的厚涂膜探头/ 部件固定基座、、、确保测试零部件时,可准确的重覆定位 双重用途探头盖连体探头型号的探头保护盖带有 V 型槽 , 在敞开时使仪器测量时更为稳定。&larr 多个基材较准资料&larr 即时统计资料&larr 字体大,醒目的测量读数 订货指南探头(每个仪器仅带一个探头,需要额外探头需另行购买)大量程 NHS 大量程 FHS所有仪器包括 :有皮带扣的、标准塑料片、3节AAA电池、使用说明书、手带(只限连体探头型号)、证书(NIST)、一年期保修。 记忆型( 3)还包括 :用于Windows平台的统计及分析软件PosiSoft,RS-232接线及携带箱。加长线(可达 75m/250ft )适于水下或远程测量,请在订货时注明。 尺寸 :147x61x5mm(5.8x2.4x1寸)重量 (不带电池):170g(6盎士) 符合以下标准 :ISO 2178 /2360 / 2808 prEN ISO 19840, ASTM B499 /D1186 /D1400 BS3900 Part C5 SSPC-PA2及其他.
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • erichsen433湿膜测厚仪
    erichsen433湿膜测厚仪erichsen433湿膜测厚仪可在任何表面上进行。因为全部机械式,故可适用于玻璃、木材、金属或塑料基材。 433湿膜测厚仪每片有4种测量范围:5-100微米,100-300微米,300-700微米以及700-1500微米,不锈钢制造,精度高。 符合 ISO 2808,BS 3900:C5 标准。技术指标: 5~100 μm ( 分刻度 5 μm) 100~300 μm ( 分刻度 10 μm) 300~700 μm ( 分刻度 20 μm) 700~1500 μm ( 分刻度 40 μm)
  • 超声波测厚仪DM4
    超声波测厚仪DM4Krautkramer超声波测厚仪DM4系列,小巧轻便,操作简单,功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式,在被测物表面有油漆时,无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6~300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm;大于99.99mm时为0.1mm; 1000~9999m/s 标准4Hz,最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池,无背光时可使用200小时 -10~50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2~200mm 5MHz 12.1mm -20~60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0~300mm 2MHz 16.2mm -20~60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6~50mm 10MHz 7.5mm -20~60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7~12mm 10MHz 3.0mm -20~60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0~60mm 5MHz 16.2mm 10~600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0~254mm 5MHz 12.7mm 10~540℃ 50mm KBA535 注: 所示温度为厂家理想状态试验所得,实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
  • DM4超声波测厚仪
    德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍: 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列,小巧轻便,操作简单,功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式,在被测物表面有油漆时,无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品,质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数:   测量范围 0.6~300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm;大于99.99mm时为0.1mm; 声速 1000~9999m/s 声速 标准4Hz,最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池,无背光时可使用200小时 操作温度 -10~50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535
  • SKCH-1(A)精密测厚仪
    SKCH-1(A)精密测厚仪是一种结构简单、价格低廉、高精度的测量装置,主要用于各类材料厚度的精密测量,也可用于其它物品的高度与厚度测量。主要特点1、采用精密花岗岩工作平台,精度等级为“00”级。2、千分表精度等级为一级。技术参数测量精度:0.001mm产品规格尺寸:200mm×150mm×320mm
  • PosiTector 200型 测厚仪
    PosiTector 200型 测厚仪,适用于木材、混凝土、塑料等基材用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。高级型:最多测量3层并带有图形显示应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度,如混凝土、木材、复合材料等价格低廉使用简单非破坏性PosiTector 200 超声波测厚仪使用简单,价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材,混凝土及其它基材上涂层厚度。 简 单 直接测量,测量大多数涂层时无需调校菜单操作双色指示灯,适于嘈杂环境重置功能可以即时恢复出厂设置 耐 用 耐溶剂、酸、油、水和灰尘,防护等级满足或超出IP5X显示屏耐划伤/溶剂,适用于恶劣环境防震保护橡胶皮套,带皮带夹主机与探头两年保修 精 确 灵敏传感器,使测量迅速且准确(最多40个读数/分钟)成熟的无损超声波技术,符合ASTM D6132与ISO 2808标准校准证书可追溯NIST 多种功能 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数内部存储最多10000个数据,最多可分1000组内置时钟可对存储的结果标注时间、日期输出提供USB、红外和串行接口,可与打印机和电脑进行简单通讯背光显示,可用于阴暗环境英制/公制两种单位,可相互转换多种显示语文选择 可选配件 - 标准片&mdash &mdash 符合 ISO 和其它质量标准- PosiSoft 分析软件:可以输入注释可以打印和显示基本的数据分布图和直方图可以输出到一个文件或试算表中提供连接打印机和计算机的数据线红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据 整套包括 耐用的携带,3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书,保修一年。尺寸:146 x 64 x 31mm重量:105g(不含电池)1. 阅读容易,防划花,液晶显示2. 指示灯在噪音环境中,方便确认读数3. 红外线接口用于无线打印4. RS232 接口用于下载5. 坚固外壳,耐溶剂、酸、油、水和灰尘6. 压力恒定,探头测量面为塑料,不会划伤测量面7. 舒适把手,减少操作人员的疲劳8. 柔软连接线 技术参数 B/标准B/高级C/标准C/高级量 程13-1000um0.5-40mils 25-1000um分辨率 0.1mils2um精度 ± 0.1mils + 3% 读数± 2um +3% 读数测量速度 45 读数 / 分钟
  • 班通科技面桶标准片铜厚测试仪校准
    面铜测厚仪校准专用,CMI165 MM615 T60都适用
  • 瑞美RM300EC/瑞美RM310EC测厚仪X射线总成
    Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线总成,西安威思曼高压电源有限公司推出,欢迎垂询。“冷”端涂层重量测量仪(是安装在镀锌线的出口处)能够对钢带的金属涂层(涂层成分:锌,锌/镍,锌/铝,铝,锡,铅)重量进行精准、快速及无接触式地凸度测量。这类型的重量仪也可与“热”端涂层重量仪配合起来一起使用构成一个综合的自动控制系统。 有关威思曼及其更多高压产品的信息,请致电 086-029-33693480或访问其网站:www.wismanhv.com  威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证,公司拥有出色的高压电源研发团队,完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术,完善的零电流谐振技术,使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小,损耗小,效率高,长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力,是OEM应用的理想选择。  威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商,同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器,实验室以及海底光纤等设备。集设计,生产和服务为一体的工厂分布于美国,英国,及中国等地,并且我们销售中心遍布于欧洲,北美洲以及亚洲,我们将竭诚为您服务!
  • 测厚仪
    该仪器是用来利用测厚表对制备样品进行厚度测量,针通过刻度盘读数来确定目标数值,同时采用触针垂式测度,大理石的台面,手动测量表与电动测量表可选,上下位置可调。
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 防雷装置检测表面阻抗测试仪
    北京朋利驰科技有限公司生产产品:可燃气体测试仪,接地电阻测试仪,大地网测试仪,土壤电阻率测试仪,等电位测试仪,环路电阻测试仪,回路电阻测试仪,直流电阻测试仪,防雷元件测试仪,浪涌保护器安全巡检仪,智能高压绝缘电阻测试仪,压敏电阻测试仪 ,标准电阻,感烟探测器功能试验器,感温探测器功能试验器,数字照度计,线型光束感烟探测器滤光片,超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程:0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量,超声波3. 经纬仪√√量程:0-360°,分辨率:2″4. 拉力计√√量程:0-40kgf;指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体:可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流:20mA(正弦波),分辨率:0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流:3A,分辨率:0.001~99.999Ω,频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量,测试电流:20mA(正弦波)分辨率:0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A,四线法测试,分辨率:0.001Ω,具备大容量锂电池;10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率:0.001Ω,电流测量分辨率:1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件:MOV,具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围:103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围:±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量,分辨率:3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆,功率1/2w,线绕型18.钢卷尺√√分辨率:0.01m19.游标卡尺√√量程:0-150mm20.防雷检测仪器携带箱(选配)●●用于上述设备的存放和携带,内衬激光开模高倍海绵:对仪器提供坚实保护。
  • 校准级高精度非球面透镜
    校准级高精度非球面透镜1)非球面面形偏移RMS值可达0.25μm2)提供完整的计量数据3)提供0.66和0.50NA透镜我们的TECHSPEC® 校准级高精度非球面透镜提供现成经抛光非球面透镜的zui佳性能和精度。这些组件提供改善的非球面面形、表面质量及中心规范,优于我们的TECHSPEC® 标准高精度非球面透镜,是集成到研发及OEM应用等的理想之选。这些高数值孔径透镜在提高微光检测系统的效率,或需要紧凑的光路应用方面非常出色。每个透镜都编有序号,且提供一套完整的计量数据包。该测试数据包包括在我们的Taylor Hobson Talysurf Profilometer上运行的薄膜测厚仪,球面干涉图,以及直径、中心厚度和中心定位的测试值。有关定制设计的非球面透镜、镀膜要求或批量定价的详细信息,请联系我们的销售部门。Common Specifications涂层:Uncoated基底:L-BAL35直径容差 (mm):+0.0/-0.1中心厚度容差 (mm):±0.10表面质量:20-10中心偏(弧分):技术数据订购信息直径 (mm)有效焦距 EFL (mm)数字孔径 NA中心厚度 CT (mm)产品号2518.750.6610#69-14125250.57.5#69-1425037.50.6619.4#69-14350500.519.4#69-144
  • 北京时代超声波测厚仪TIME2132
    奥淇科化致力为科研单位打造一站式采购平台。在库品规三十余万种,含盖玻璃、试剂、仪器、耗材配件等。店铺未上架产品请联系客服。
  • 一六仪器 标准片 其他X射线仪配件
    校正片又称标准箔、膜厚片,通用于所有x射线镀层测厚仪,本公司标准片规格齐全,可送检第三方出具CNAS证书,为仪器精准测试保驾护航
  • GPC-50A精确磨抛控制仪
    GPC-50A精确磨抛控制仪简称磨抛控制仪,主要用来控制被研磨样品表面的平面度和平行度,使磨抛后的样品具有高的尺寸精度和质量优良的表面状态。磨抛控制仪采用质量优良的不锈钢材料制成,外形美观,制造工艺精湛,主要适用于UNIPOL-802研磨抛光机上。GPC-50A精密磨抛控制仪是工件进行磨抛时不可缺少的精密器具,尤其适用于对表面质量要求高的小尺寸薄片样品,磨抛控制仪专用载样块用螺纹与控制仪相连接,样品采用粘附的形式装卡在载样块上,载样块承载样件直径不大于50mm、厚度不大于10mm。可严格控制被磨样品表面的平行度和平面度,控制准确度高。研磨过程中可搭配数显测厚仪使用,随时观测样品磨削量,尤其适用于表面平行度和平面度及样品厚度要求高的样品研磨使用。产品名称GPC-50A精确磨抛控制仪产品型号GPC-50A安装条件1.本设备要求在海拔1000m以下,温度25℃±15℃,湿度55%Rh±10%Rh下使用。2.水:配水源。3.电:无。4.气:无。5.外形尺寸:φ89mm*154mm6.通风装置:需要。主要参数1、载样盘直径:Ø 52mm2、载样盘轴向行程:10mm(分度螺母移动一格,载样盘轴向移动0.025mm)3、数显表精度:0.001mm4、载样盘部分空载压力:500g5、承载样件尺寸:直径≤50mm、厚度≤8mm产品规格尺寸:外径89mm,高154mm标准配件配重砝码(共400g)可选配件配重块(25g、50g)
  • TYDEX-离轴抛物面镜
    TYDEX离轴抛物面镜抛物面反射镜是光学仪器中使用的最常见的非球面反射镜。 它们没有球面像差,因此将平行光束聚焦到点或点光源到无穷远。在许多光学系统中,不需要使用完全旋转对称的孔径。 另一方面,在一些应用中,镜子的中心部分遮住了光路,因此是一场灾难。 对于这种系统,离轴反射镜与传统的抛物面相比具有许多优点。离轴抛物面镜的主要应用如下:?目标模拟器?准直仪?MTF测量系统和其他光学测试设备?光谱和FTIR系统?辐射计?扩束器?激光发散测量系统离轴抛物面镜的主要优点使用离轴光学器件使得光学工程师可以实现以下优点:?最小化系统大小?最小化系统重量?“楔形”和等厚的镜片都可用?最小化系统成本所有这一切都使系统效率和市场性得到最da化。如何指定OAP镜像图1离轴抛物面镜。描述父焦距(PFL)是父抛物面的焦距。它将曲面的形状定义为Z = R ^ 2/4 * PFL,其中R是距顶点的径向距离,Z是曲面矢状面。倾斜焦距(SFL)是OAP机械中心与抛物线焦点之间的距离。这个值可以从PFL计算,反之亦然。光学中心线是平行于母抛物线光轴并通过OAP的机械中心的线。带状半径(ZR)是父抛物面光轴与OAP的光学中心线之间的距离。离轴距离(OAD)是从母抛物线光轴到OAP内边缘的距离。这个值可以从ZR计算,反之亦然。调整平面通常粘在OAP上。它垂直于父抛物面光轴(从而与OAP中心线垂直),并有助于大大调整光学系统中的OAP。要充分描述OAP,必须指定5个参数:?PFL(或SFL),?ZR(或OAD),?CA(清晰光圈),?SA(表面精度),?和SQ(表面质量)。辅助参数是:?优选的机械尺寸和厚度(如果没有指定,我们规定直径= CA + 10毫米,厚度=直径/ 8),?优选的材料(如果没有说明,我们采用LK-7光学玻璃- Pyrex的俄罗斯类似物),?镀膜类型(如果没有指定,我们采用受保护的铝)。我们生产的OAP镜子的关键数据?可根据要求提供典型材料:LK-7(Pyrex类似物),Supermax33(SHOTT),AstroSitall CO-115M(Zerodur类似物)和K8玻璃(类似于BK7)。?在633 nm PtV,1/40 RMS时,典型表面精度为1/8。可以根据要求制作更高精度的表面。?典型的镀膜为受保护的铝,其他金属(银或金)或多层电介质镀膜可根据要求提供。?离轴角度可达45度,典型值为5-30度。?焦距从150毫米到12米。典型值为0.5-2米。?直径达640毫米。典型值是100-400毫米。所有这些参数都不是独立的。例如,较长的焦距允许较好的SA和较长的ZR使得较低的SA。文档与每个镜片一起,我们提供证明SA,SQ,PFL和ZR的测量数据以及机械尺寸的证书。表面的干涉仪图表,计算的表面误差曲线和镀膜反射光谱附于本证书。样品干涉仪图形,表面误差曲线和镀膜光谱如下所示。这些是CA 8“ZR 7镜”和FL40。图2 OAP镜的典型干涉仪图。图3表面误差轮廓重建。波前分析测量变形的单位:微米波长:0.633μm参考面:球面减像差:带状误差形式 - Zernike多项式常规误差参数D = -0.000 Lx = 0.000 Ly = -0.000 C = 0.000 RMS(W)= 0.009A = 0.013 FIA = 41.300 PV = 0.025 RMS(W-A)= 0.007 FA = 0.361B0 = 0.007 PV = 0.011 RMS(W-Z)= 0.008 FZ = 0.137B2 = -0.043B4 = 0.043C = 0.020 FIC = 5.327 PV = 0.013 RMS(W-C)= 0.008 FC = 0.074局部误差PV = 0.037RMS(M) = 0.006Characteristics of wavefrontRMSMINMAXPVSTRLSTRH0.009-0.0230.0320.0550.9980.999图4受保护的铝(Al + SiO2)镀膜的典型反射光谱。技术简述和主要优势制造技术的开发是为了提供更便宜和更高容量的镜子,用于航空/国防应用。通常,OAP是通过抛光和切片大型轴上母体抛物面制成的。显然,这种“传统”的方法是相当昂贵的,特别是当只需要1-2个镜子时。这种较旧的方法也严重限制了焦距和轴外距离的可用组合范围。另一种“传统”方法是金刚石旋转。其主要缺点是对基材(金属)的限制,较低的表面粗糙度和精度。我们的OAP设备使用了一种精密的,计算机控制的点修正抛光工艺,而不是上述的OAPs生产方法。它结合了传统抛光(光滑表面和使用普通玻璃的可能性)和金刚石旋转(可能产生OAP而不抛光全抛物面)的优点。在每次抛光后,我们使用大型干涉仪测量表面误差,精确地模拟了OAP镜的当前表面误差。然后将来自干涉仪的信息传送给抛光机的计算机控制器,计算机控制器计算紧凑的点抛光头的zui佳位置,轨迹和旋转速度。我们将这个过程命名为修饰。每个镜片通常经历大约10个周期的干涉测量循环,随后进行修饰。当然,对于zui先进的镜片,还需要更多的周期。这种独特的生产技术使我们能够以极具竞争力的价格提供精确的光学元件离轴抛物面镜的安装座镜片配有精密支架和支架,可以在设置或仪器中精确定位光学元件。每个支架都有手动和电动两种型号。改进的精密调节器和螺丝,以及锁,可根据客户要求提供。还可以提供安装座内的镜子组装和调节,带和不带安装的表面质量控制。根据光学元件的尺寸,可以提供各种支架类型。所有类型的支架和底座都有真空兼容的型号。镜面直径从50到152毫米,有水平和垂直调整的安装。 安装座由钢或铝合金制成,并有几个M6孔安装在光学平台上。 聚四氟乙烯衬垫和锁定螺钉防止在安装和操作期间损坏光学组件。光学元件直径,毫米50.876.2101.6152.4调整角度范围,°8654调整精度,arcsec6-3.45-2.34-1.83-1.5对于高达250毫米的反射镜,我们推荐带三个安装点的运动精密安装。方便定位的拇指螺丝允许镜片在水平和垂直平面上旋转。旋转范围±1.5°,灵敏度0.5 arcsec。导轨安装系统将光学元件安全地固定在适当的位置,并允许调节光轴高度。垂直旋转范围±1.52°,水平旋转范围±1.55°。 调整灵敏度为1.5 arcsec。为了容纳直径大于500毫米的大型镜片,我们开发了一种特殊的旋转支架。为了容纳直径大于500毫米的大型镜片,我们开发了一种特殊的旋转支架。 当锁定螺钉松动时,安装座允许反射镜围绕水平和垂直轴360°旋转。 转盘有一个精确的标度,以便于粗略定位。 旋转角度范围±4°,分辨率高达3 arcsec的高精度调整螺丝,精确调整。 安装系统减轻镜子的压力,保持反射波前不失真。 此支架也可用于直径达1000毫米的大尺寸天文光学和高功率激光光学元件。
  • 超厚双面碳导电胶片
    导电胶片的总厚度260um最高温度:60℃货号产品描述包装16084-20PELCO超厚双面碳导电胶片, 直径12mm100片/包
  • 超厚双面碳导电胶片
    导电胶片的总厚度260um最高温度:60℃货号产品描述包装16084-20PELCO超厚双面碳导电胶片, 直径12mm100片/包
  • GPC-100A精确磨抛控制仪
    GPC-100A精确磨抛控制仪简称磨抛控制仪,主要用来控制被研磨样品表面的平面度和平行度,使磨抛后的样品具有高的尺寸精度和质量优良的表面状态。磨抛控制仪采用质量优良的不锈钢材料制成,外形美观,制造工艺精湛,主要适用于UNIPOL-1202、UNIPOL-1502研磨抛光机上,是工件进行磨抛时不可缺少的精密磨抛器具,尤其适用于晶圆样品、表面平行度和平面度要求高的大的圆片状样品的研磨。GPC-100A精确磨抛控制仪专用载样块用螺纹与控制仪进行连接,试样装卡方式为真空吸附,并配有数显厚度测量仪,可实时监测样品减少的厚度,承载样件直径不大于103mm、厚度不大于13mm且具有工艺重复性高的优点。可严格控制被磨样品表面的平行度和平面度,控制准确度高。研磨过程中可搭配数显测厚仪使用,随时观测样品磨削量,尤其适用于表面平行度和平面度及样品厚度要求高的晶圆样品研磨使用。产品名称GPC-100A精确磨抛控制仪产品型号GPC-100A安装条件1.本设备要求在海拔1000m以下,温度25℃±15℃,湿度55%Rh±10%Rh下使用。2.水:配水源。3.电:无。4.气:真空泵(0— -0.1MPa)。5.外形尺寸:φ146mm*266mm6.通风装置:需要。主要参数1、载样盘直径:Ø 103mm2、载样盘轴向行程:12mm3、数显表精度:0.001mm4、载样盘可调加载压力:0.1kg-2.1kg5、压力确认仪有效量程:1g-5000g6、样品装卡方式:真空吸附7、承载样件尺寸:直径≤103mm、厚度≤12mm产品规格尺寸:外径146mm,高266mm标准配件1、真空泵2、过滤瓶3、底座4、玻璃片
  • GPC-80A精确磨抛控制仪
    GPC-80A精确磨抛控制仪简称磨抛控制仪,主要用来控制被研磨样品表面的平面度和平行度,使磨抛后的样品具有高的尺寸精度和质量优良的表面状态。磨抛控制仪采用质量优良的不锈钢材料制成,外形美观,制造工艺精湛,主要应用于UNIPOL-1202、和UNIPOL-802精密研磨抛光机上,是工件进行磨抛时不可缺少的精密器具,尤其适用于地质薄片样品的研磨与抛光。GPC-80A精确磨抛控制仪专用载样块用螺纹与控制仪相连接,样品采用粘附的形式装卡在载样块上,载样块承载样件直径不大于80mm、厚度不大于9mm且具有工艺重复性高的优点。可严格控制被磨样品表面的平行度和平面度,控制准确度高。研磨过程中可搭配数显测厚仪使用,随时观测样品磨削量,尤其适用于表面平行度和平面度及样品厚度要求高的地质薄片样品研磨使用。产品名称GPC-80A精确磨抛控制仪产品型号GPC-80A安装条件1.本设备要求在海拔1000m以下,温度25℃±15℃,湿度55%Rh±10%Rh下使用。2.水:配水源。3.电:无。4.气:无。5.外形尺寸:φ117mm*155mm6.通风装置:需要。主要参数1、载样盘直径:Ø 80mm2、载样盘轴向行程:9mm(分度螺母移动一格,载样盘轴向移动0.025mm)3、数显表精度:0.001mm4、载样盘部分空载压力:750g5、承载样件尺寸:直径≤80mm、厚度≤9mm产品规格尺寸:外径117mm,不带配重高155mm,带配重高204mm可选配件配重块(≥50g、≤200g)
  • 平面窗口片
    北京飞凯曼科技有限公司提供立陶宛EKSMA OPTICS公司曲面窗口片(CURVED WINDOWS)和滤光片(Filters),曲面窗口片包括平凹窗口片(Plano-concave windows),平凸窗口片(Plano-convex windows),椭圆窗口片(ELLIPTICAL WINDOWS),平面窗口片(Flat WINDOWS)、圆形窗口片(Round Windows),薄圆形窗口片(Precision Thin Round Windows),矩形窗口片(Rectangular Windows)等。光学滤光片包括光学级紫外带通滤光片(Optical UV Band Pass Filters)、中密度吸收性带通滤光片(NEUTRAL DENSITY ABSORPTION TYPE FILTE RS AT 450-650 nm)、中密度反射式带通滤光片(NEUTRAL DENSITY REFLECTIVE TYPE FILTE RS AT 400-2000 nm)、彩色玻璃滤光片(COLO R GLASS FILTE RS)等。窗口片材料包括BK7和UV FS两种材料。平面窗口片技术规格MaterialBK7, UV FSSurface quality60-40 scratch & dig (MIL-PRF-13830B)Clear aperture80% of the diameterDiameter tolerance+0.00/ -0.5 mmThickness tolerance±0.2 mmFlatness1λper inch @ 633 nmParallelism2 arcmin平面窗口片示意图平面窗口片选型表BK7CodeMaterialDiameterThickness T210-0102EBK712.7 mm2 mm210-0102MBK712.5 mm2 mm210-0103EBK712.7 mm3 mm210-0103MBK712.5 mm3 mm210-0202EBK725.4 mm2 mm210-0202MBK725.0 mm2 mm210-0203EBK725.4 mm3 mm210-0203MBK725.0 mm3 mm210-0402EBK738.1 mm2 mm210-0402MBK740,0 mm2 mm210-0403EBK738.1 mm3 mm210-0403MBK740.0 mm3 mm210-0502EBK750.8 mm2 mm210-0502MBK750.0 mm2 mm210-0503EBK750.8 mm3 mm210-0503MBK750.0 mm3 mm210-0703EBK776.2 mm6.3 mm210-0703MBK775.0 mm6.3 mmUVFSCodeMaterialDiameterThickness T210-1102EUVFS12.7 mm2 mm210-1102MUVFS12.5 mm2 mm210-1103EUVFS12.7 mm3 mm210-1103MUVFS12.5 mm3 mm210-1202EUVFS25.4 mm2 mm210-1202MUVFS25.0 mm2 mm210-1203EUVFS25.4 mm3 mm210-1203MUVFS25.0 mm3 mm210-1402EUVFS38.1 mm2 mm210-1402MUVFS40.0 mm2 mm210-1403EUVFS38.1 mm3 mm210-1403MUVFS40.0 mm3 mm210-1502EUVFS50.8 mm2 mm210-1502MUVFS50.0 mm2 mm210-1503EUVFS50.8 mm3 mm210-1503MUVFS50.0 mm3 mm210-1703EUVFS76,2 mm6.3 mm210-1703MUVFS75.0 mm6.3 mmBK7CodeMaterialW, WidthL, LengthThickness, mm215-0122BK715 mm20 mm2 mm215-0222BK725,4 mm25,4 mm2 mm215-0232BK720 mm30 mm2 mm215-0252BK725,4 mm50,8 mm2 mm215-0552BK750,8 mm50,8 mm2 mm215-0556BK750,8 mm50,8 mm6.3 mmUVFSCodeMaterialW, WidthL, LengthThickness, mm215-1122UVFS15 mm20 mm2 mm215-1222UVFS25,4 mm25,4 mm2 mm215-1232UVFS20 mm30 mm2 mm215-1252UVFS25,4 mm50,8 mm2 mm215-1552UVFS50,8 mm50,8 mm2 mm215-1556UVFS50,8 mm50,8 mm6.3 mm
  • 防雷装置检测激光测距仪
    北京朋利驰科技有限公司生产产品:可燃气体测试仪,接地电阻测试仪,大地网测试仪,土壤电阻率测试仪,等电位测试仪,环路电阻测试仪,回路电阻测试仪,直流电阻测试仪,防雷元件测试仪,浪涌保护器安全巡检仪,智能高压绝缘电阻测试仪,压敏电阻测试仪,标准电阻,感烟探测器功能试验器,感温探测器功能试验器,数字照度计,线型光束感烟探测器滤光片,超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程:0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量,超声波3. 经纬仪√√量程:0-360°,分辨率:2″4. 拉力计√√量程:0-40kgf;指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体:可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流:20mA(正弦波),分辨率:0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流:3A,分辨率:0.001~99.999Ω,频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量,测试电流:20mA(正弦波)分辨率:0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A,四线法测试,分辨率:0.001Ω,具备大容量锂电池;10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率:0.001Ω,电流测量分辨率:1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件:MOV,具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围:103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围:±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量,分辨率:3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆,功率1/2w,线绕型18.钢卷尺√√分辨率:0.01m19.游标卡尺√√量程:0-150mm20.防雷检测仪器携带箱(选配)●●用于上述设备的存放和携带,内衬激光开模高倍海绵:对仪器提供坚实保护。
  • 防雷装置检测静电电位测试仪
    北京朋利驰科技有限公司生产产品:可燃气体测试仪,接地电阻测试仪,大地网测试仪,土壤电阻率测试仪,等电位测试仪,环路电阻测试仪,回路电阻测试仪,直流电阻测试仪,防雷元件测试仪,浪涌保护器安全巡检仪,智能高压绝缘电阻测试仪,压敏电阻测试仪,标准电阻,感烟探测器功能试验器,感温探测器功能试验器,数字照度计,线型光束感烟探测器滤光片,超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程:0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量,超声波3. 经纬仪√√量程:0-360°,分辨率:2″4. 拉力计√√量程:0-40kgf;指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体:可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流:20mA(正弦波),分辨率:0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流:3A,分辨率:0.001~99.999Ω,频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量,测试电流:20mA(正弦波)分辨率:0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A,四线法测试,分辨率:0.001Ω,具备大容量锂电池;10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率:0.001Ω,电流测量分辨率:1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件:MOV,具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围:103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围:±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量,分辨率:3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆,功率1/2w,线绕型18.钢卷尺√√分辨率:0.01m19.游标卡尺√√量程:0-150mm20.防雷检测仪器携带箱(选配)●●用于上述设备的存放和携带,内衬激光开模高倍海绵:对仪器提供坚实保护。
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