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剖面荧光仪

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剖面荧光仪相关的论坛

  • 土壤剖面中金属迁移受那些因素影响?

    想做个冶炼企业土壤剖面重金属调查项目,请问:1.大家土壤(剖面)中金属的迁移受那些因素影响?2.采集土壤样时,现场应了解那些参数? 3.顺便请大家推荐这方面的实战专家,给我们做顾问。

  • 【转帖】土壤剖面观察及土体构造评价

    一、目的要求观察土壤剖面能了解土壤内在物质的转化,是研究土壤形成、识别和评价土壤的重要方法之一。掌握土壤剖面观察方法和技术,就能准确地鉴别土壤类型,找出土壤性状对农业生产的有利与不利因素,为制定合理的利用改良土壤提供依据。 通过实验,基本掌握土壤剖面坑的撤职、挖掘和观察记载的一般技术。要求学会分析土壤剖面的形态与土壤发生发展的关系及对农业生产的影响,能依据观察分析结果对土壤构造进行评价,提出土壤的利用和改良措施。二、仪器试剂铁锹、土铲、锄头、剖面刀、放大镜、铅笔、钢卷尺、小刀、橡皮擦、白瓷比色板、土壤剖面记载表、10%盐酸、酸碱混合指示剂、赤血盐三、操作步骤(一)土壤剖面的设置与挖掘1、土壤剖面的调协 剖面位置的选择一定要有代表性。对某类土壤来说,只有在地形、母质、植被等成土因素一致的地段上设置剖面点,才能准确的反映土壤的各种形状。除此之外,避免在路旁、田边、沟渠边及新垦搬运过的地块上设坑。2、土壤剖面的设置 在选好剖面坑点的位置后,现在坑点上划出剖面的轮廓,然后挖土。剖面观察坑的规格一般为长15m,宽08m,深15m.深度不足1m这,挖之母雁、历史曾获地下水面位置。观察面要垂直向阳,其上方要禁止对土和踩踏。观察面的对面要挖成阶梯状,以便于观察是上下和减少挖土量。索瓦出的土,要将表土和底土分别对在土坑的俩册,一边观察面能看到龙杯、垄沟的表层变化。在作物生长节,要尽量保护作物。 剖面挖掘后,将剖面的观察面分成两半,一半用土壤剖面刀子上而下地整理成毛面,一半用铁铲削成光面,以便观察时相互进行比较。(二)土壤剖面形态的观察与记载1. 剖面层次的划分 自然土壤剖面层次的划分,是按发生层次划分土层,一般把它划分为枯枝落叶层、腐殖质层、淋溶层、底土层等层次。耕层土壤层次分为耕作层、犁底层、心土层、底土层。2. 土壤剖面形态的观察与记载(1)土壤颜色土壤颜色有黑、白、红、黄四种颜色,但实际出现的往往是复色。观察时,先确定主色,后确定次色,次色即在前面,主色即在后面,确定颜色时,旱土以干状态为准,水田土色以观察时土壤所处状态为准。(2)土壤质地 野外测定土壤质地,一般用手测法,其中有干测法和湿测法两种,可相互补充,一般以湿测法为主。(3)土壤结构观察土壤结构的方法,是用挖土工具把土挖出,让其自然落地散碎或用手轻捏,使土块分散,然后观察被分散开的个体形态的大小、硬度、内外颜色及有无胶膜、锈纹、锈斑等,最后确定结构类型。(4)松紧度 野外鉴定土壤松紧的方法是根据小刀插入土体的深浅和阻力大小来判断。① 松:小刀随意插入,深度大于10cm;② 散:稍加力,小刀可插入土体7~10cm;③ 紧:用较大的力,小刀才能插入土体4~7cm;④ 紧实:用大力,小刀才能插入土体2~4cm;⑤ 坚实:用很大力,小刀才能插入土体1~2cm;(5)土壤干湿度 按各土层的自然含水状态升级,其标准如下:① 干:土壤呈干土块,手试无凉感,嘴吹时有尘土扬起。② 润:手试有凉感,嘴吹无尘土扬起。③ 湿润:手试有潮湿感,可捏成土团,但自然落地即散开,放在纸上能使纸变湿。③ 紧:用较大的力,小刀才能插入土体4~7cm;④ 潮湿:放在手上使手湿润,能握成土团,但无水流出(6)新生体新生体不是母质所固有的,是在土壤形成过程中产生的物质,如铁子、铁猛结核、石灰结核等等,它们反映土壤形成过程中物质的转化情况。(7)侵入体原不是母质固有的,也不是土壤形成过程中的产物,是外界侵入土壤中的物体,如瓦片,砖渣、炭屑等。它们的存在,与土壤形成过程无关。(8)根系 反映作物根系分布状况,其分级标准为:① 多量:每平方厘米有10条根以上的。② 中量:每平方厘米有5~10条根。③ 少量:每平方厘米有2条根左右。④ 无根:见不到根痕。(9)石灰质反应 用10%稀盐酸,直接滴在土壤上,观察气泡产生状况,估计其石灰含量。① 无石灰质:无气泡、无声音,估计含量为0。② 少石灰质:徐徐产生小气泡,可听到响声,估计含量为1%以下。③ 中量石灰质:明显产生大气泡,但很快消失,估计含量为1%~5%。④ 多石灰质:发生剧烈沸腾现象,产生大气泡,响声大,历时较久,估计含量为5%以上。(10)亚铁反应 用赤血盐直接滴加测定。(11)土壤酸碱度 土壤酸碱度测定中的混合指示剂法。(12)土壤地下水位 地下水位是指出现地下连续水面与地表的距离。各种作物对地下水为的要求不同,其高低分级如下,仅供参考:① 高位:地下水位小于30cm.。② 中位;地下水位为30~60cm。③ 低位:地下水位大于60cm。

  • 【实战宝典】如何开展土壤三普的剖面土壤调查与采样?

    【实战宝典】如何开展土壤三普的剖面土壤调查与采样?

    [font=黑体]解答:[/font][font=宋体]剖面样由预设样点的外业定位核查结果确认采样位置,同时剖面位置所处田块、样区、景观单元中应具有最大代表性。[/font][font=宋体]如果人为影响在该地区处于主导地位,选择位置应体现人为过程影响的强度;如果人为影响较少,选择位置应尽量避开居民点、交通道路、沟渠等易受人为干扰的地段。[/font][font=宋体]剖面挖掘应遵循以下原则:(1)基于若干观察剖面反复核查而确认的剖面挖掘地点,应该在景观部位、土壤类型、土地利用方面具有代表性;(2)观察面应向着阳光照射的方向,避免出现阴影遮挡;(3)观察面上部严禁人员走动或堆置物品,以防止土壤压实或土壤物质发生位移而干扰观察和采样;(4)挖出的表土和心底土应分开堆放于土坑的左右两侧,观察完成后按土层原次序回填,以保持表层的地力。[/font][font=宋体]在相对平整的平原、微起伏的缓岗、梯田、园地,剖面尺度见图[/font]6-1[font=宋体],需要注意观测面深的挖掘过程中,如遇岩石,则挖到岩石面以下[/font]10 cm [font=宋体]处。[/font][font=宋体]受地形和林灌植被的影响,在无法选取相对平缓、植被少遮挡的样地挖掘剖面时,可以选择裸露的断面或坡面作为剖面挖掘的点位,但是为了保证剖面的完整性和样品免受污染,自然断面或坡面上修葺的剖面,应尽可能向坡面或断面内部[/font][font=宋体]延伸[/font] 20[font=宋体]~[/font]40cm[font=宋体],直至裸露出新鲜、原状土壤。[/font][img=,608,252]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303241331231547_9181_3389662_3.jpg!w583x257.jpg[/img][align=center][font=黑体]图[/font]6-1[font=黑体]土壤三浦标准土壤剖面示意图[/font][/align][font=宋体]观察剖面的过程需要对剖面拍照,标准剖面照作为土壤单个土体的[/font]“[font=宋体]身份证件照[/font]”[font=宋体],直观地反映了土壤的发生层及其形态学特征,是野外认识和理解土壤发生过程和土壤类型的直接证据。因此,标准剖面照应当清晰、真实、完整地呈现土壤形态学描述特征,并做到描述记录与之相对应。[/font][font=宋体]标准剖面照的具体要求如下:[/font][font=宋体]剖面挖掘完成后,由左边[/font] 1/3[font=宋体]~[/font]1/4 [font=宋体]宽度用剖面刀自上而下修成自然结构面,右边的部分保留为光滑面。凹凸不平的自然面,直观反映了土壤不同的发育阶段形成的土壤结构、[/font][font=宋体]质地、新生体类型及其差异,以及根系丰度、孔隙状况、土壤动物痕迹等;相对应而言,右边光滑面更加清晰地反映了土壤发生层厚度、边界过渡特征、颜色差异、紧实状况等特征。[/font][align=center][img=,377,333]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303241331291712_1183_3389662_3.jpg!w438x352.jpg[/img][/align][align=center][font=黑体]图[/font]6-2[font=黑体]土壤剖面照片示意图[/font][/align][font=宋体]拍摄时,应自上而下垂直放置和固定好帆布标尺,剖面摄影时镜头尽可能与观察面垂直。摄影者可能需要趴在地面进行拍摄,保持镜头视角与剖面方向水平、居中。拍摄的照片包括全剖面照片(如图6-2)和各个发生层照片、局部新生体特写照片、侵入体或土壤动物活动痕迹照片等(如图 6-3)。晴天拍摄要注意遮住观察面的阳光,避免曝光过强,影 响画质,并避免出现部分阴影。 剖面照片建议用专业相机拍摄,如果用手机拍摄,必须 用外业 App 集成的摄影模块,避免出现颜色失真。[/font][align=center][img=,498,372]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303241331345041_2722_3389662_3.jpg!w475x356.jpg[/img][/align][align=center][font=黑体]图[/font]6-3[font=黑体]新生体照片示例[/font][/align]

  • 【原创】线束端子压接剖面分析仪-端子分析显微镜

    【原创】线束端子压接剖面分析仪-端子分析显微镜

    线束端子压接剖面分析仪-端子分析显微镜线束端子快速检测分析仪,主要用于线束生产过程中对线束进行抽样检测。在电缆线束生产线上,品质的可靠性及生产速度非常重要,可以说在生产过程中采用连续的质量分析已成为市场竞争的重要因素。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/03/201103030830_280482_2232901_3.jpg端子压接剖面分析仪,可以对压接工序端子内部质量进行分析,对端子进行剖面,检查端子剖面后压接密度:线芯是否变形、压接毛刺是否合格,导体中所有单线的断面应呈不规则多边形,导体与端子相接部位、单线与单线之间应无明显缝隙,端子压接部位应包住全部导体。端子压接的卷曲部分必须相接,且对称。端子压接卷曲部分端部距底部的距离不小于单线标称直径的1/2横断面底部两侧的毛刺高应不超过端子压接后的厚度g,毛刺宽度应不超过g的1/2。整车线束应符合:QC/T29106-2004 汽车低压电线束技术条件。 (1)规定了检验线束尺寸的标准。 (2)规定了电线束中所用材料和零部件所符合的性能要求。(3)规定了端子与线束的连接方法及连接后应符合的要求。 (4) 规定了端子与线束连接点应符合的要求。 (5)密封塞在压接时不应损伤。电线与密封塞之间、密封塞与护套之间不应有目视可见的间隙。 (6)电线束包扎时,应紧密、均匀,不应松散。采用保护套管时,无位移和影响电线束弯曲现象。 (7)电线束中电线及零部件应正确装配,不应有错位现象,端子在护套中不应脱出。(8)电线束中线路导通率为100%,无短路、错路现象。 (9)电线束需要进行耐高、低温、湿度循环变化性能试验;耐振动性能试验;耐盐雾性能试验;耐工业溶剂性能试验等。

  • 【转帖】浅谈土壤剖面水分仪的开发意义与应用

    一、土壤含水量测试方法概述:土壤水分贮存量及其变化规律的监测是农业气象、生态环境及水文环境监测的基础性工作之掌握土壤水分变化规律,对农业生产、墒情监测预测和其化相关生态环境监测预测服务和理论都具有重要意义。二、目前国内主要使用的测定水分的方法:1、 传统的土钻取样然后烘干称重法(重量比):虽然能够较准确地度量土壤水分含量,但工作量大,耗时耗力,特别是当天气条件恶劣时,农业工作人员将付出更大的工作量。另外取样会破坏土壤,深层取样困难,定点测量时不可避免由取样换位而带来误差,在很多情况下不可能长期定点监测,受土壤空间变异性影响也比较大。2、 FDR单点采集法(容积比):利用FDR的原理来测定土壤的容积含水量,测试精确度与以上第一种有所差距,但是快速简便,但只能一定测定一个点。3、 TDR单点采集法(容积比):利用TDR的原理来测定土壤的容积含水量,测试精确度与以上第一种有所差距,但是比第二种的稳定性要好一些。三、国内墒情与旱情的概念与监测的特点:1、 长期性:单一的探头测量可称作是土壤容积含水量,而长期的土壤水分的动态监测存储一段时间以来的水分变化被水利及气象部门称为土壤的墒情。也就是说有意义的墒情监测是长期的,动态的。2、 多点性:对于植物生长来说,真正测量土壤表面的水分是不够的,正常的植物都需要深一度的水分值才能表明他是否可以吸收,在水利国家标准里要求,实验站必须要长期监测多层多点水分,有些地区要求为分布于地面10 cm,20 cm,40 cm,60 cm,80cm,100 cm处的水分的长期动态的监测,以了解墒情与旱情的情况 四、现在国内快速土壤水分仪器的情况:在我国的农田指导水利灌溉方面,FDR和TDR容积法快速水分仪很受欢迎,因为这两种水分仪可以长期将传感器埋于地下,实现长期监测。不受实验条件的影响,而精度也达到了指导农业生产的作用,对作业人员素质无任何要求,属于非常适用于进行田间推广的一种便携式快速仪器(具体参见http://www.top17.net/product/2029.html )。优点:快速,也可长期监测,将数据保存缺点:单点采集,如需多点就必须要将土壤切开,在剖面10 cm,20 cm,40 cm,60 cm,80cm,100 cm上多插几个探头。费力费时,前期工作量大。由以上分析看来,在墒情监测方面国内需求的要点是:携带方便;精确度高;插入方便,无需大量前期工作的仪器。但这种仪器只在国外有做,国内所有生产的企业都没有做出能满足以上所有要求的土壤水分速测仪现浙江托普仪器有限公司也开发出一种剖面水分仪,这个产品市场前景很好,这就是我们要强调的重点,也是我们以后推广的重点。现在我们要对这款仪器有所了解:土壤剖面水分测定仪用途:可用来测量土壤等被测物的不同深度剖面含水量。原理:利用FDR原理(Frequency Domain Reflectometry),根据探测器发出的电磁波在不同介电常数物质中的反射不同。计算出被测物含水量。功能特点:l 完全遵循ISO9001质量体系标准要求进行产品设计、开发、生产和服务;l 在硬件元器件方面以最大限度的延长产品寿命和和稳定性为前提,充分考虑降额和冗余设计;l 在电源和通讯接口加装防雷和电涌保护设备;l 软件设计充分考虑界面操作的友好性、系统的兼容性、容错性和健壮性,具有数据自动补抄、自动上传功能;l 生产使用的元器件全部进行环境应力老炼、筛选;l 出厂设备根据需要要进行环境防护三防(防潮湿、防盐雾和防霉菌)设计,并进行温度、冲击和振动试验。组成:探头:圆柱式土壤水分探头(标配为4或6个点位),这些点位可以自由定位用户想测的深度,自由固定操作软件:Windows友好操作界面,用于数据的存储和下载预埋探管:由PVC材质制成,重量轻,抗腐蚀,除标配长度外,还可选长度0.9米、1.2米、1.5米 基本技术指标:传感器测量原理 高频电容 测量范围 0~100%Vol(土壤体积含水量) 准确度 +2%土壤体积含水量 分辨率 0.1%体积含水量 输出选项 RS232和RS485 电流消耗 400uA 静态100mA 采样 校准时的精度 R2 = 0.992 精度 +/- 2.5% 有效温度 +/-3% ,5-35℃ 工作温度 0~75℃ 感应范围 99%是从管子外部10cm以内的范围读取 采集数据 1000组 传感器直径 50.5毫米 管道直径 56.5毫米 仪器组成图: 五、我们的土壤剖面水分仪与国外土壤剖面水分仪对比的优势 国内产品 国外产品 价格 价格合理 价格奇高 专业性 有专业的人员进行指导 国内没有特别熟悉的技术人员进行指导 适用性 全中文软件,适用性广 全英文软件,不适用于基层人员操作 合理性 探头点位可按自己的要求定位,可以随意改动,线长可按客户要求定做 探头点位距离固定化,不能改动,线长不能定做 精度 出厂前进行标定,精度高。也可以按客户提供的土壤进行重新标定 国外土质与国内不太一样,所以出厂前标定不适用于中国,精度会有影响

  • 线束剖面分析的使用过程和图像分析

    [color=#2f2f2f]来源:http://www.dg[/color][url=https://links.jianshu.com/go?to=http%3A%2F%2Fbbs.elecfans.com%2Fzhuti_715_1.html]ti[/url][color=#2f2f2f]anze.com 作者:天泽精密仪器[/color] 对于人们来说,日常购买东西时,最重要的就是商品的质量,往往人们选择超市购物就是因为超市里的商品都通过了严格的质检,有着优秀的品质,购买大品牌的产品也是同样出于对质量的考虑,可是厂家在生产的时候,如何确定自己的产品质量达到标准了呢?这就是[url=http://www.dgtianze.com/]线束剖面分析仪[/url]的作用了。很多对于自己的品牌和质量有着高标准严要求的厂家,对于自身的产品质量追求也非常的严格,在每个批次的产品出厂前,都要对产品做抽样质检,这时候就需要用到线束剖面分析仪。首先要将需要做检验的线束切割成相应的端子样本,用来方便分析仪使用,接着就要打开线束剖面分析仪,待智能系统启动后,将相应的端子样本放到分析仪的端子夹上,分析仪就会通过全方位的扫描及图像精度放大来自动分析端子样本的组成成份、结构、图案规则等等数据,操作人员只需要根据不同的操作步骤对端子样本进行一些简单的操作,配合分析仪的预设程序就可以,像是将样本放到腐蚀性能试验的专用小槽里,或是将做完检验的无用样本取出,清洁好分析仪等等,大部分的分析工作,都可以由分析仪自动完成。线束剖面分析仪在使用中会自动提示进入下一个阶段,操作人员只需要按着提示进行操作就可以,分析仪对端子样本的分析包涵了多个方面,包括承压力、拉力、韧性、强度、抗腐蚀性、耐氧化度等等,因此对于产品的性能检验是非常综合而且多方面的。[img]http://www.dgtianze.com/uploads/allimg/190810/1-1ZQ00R053920.png[/img]线束剖面分析仪是我们在工业生产中必不可少的检测工具,如果检测结果并不是如此精确,就有可能使得不合格的产品随着厂家流入市场,所造成的安全隐患、经济效益损失是不可估量的,最重要的是会影响到厂商的信誉问题,所以说,经过更新以后的线束剖面分析仪,不管是在操作方面、图形清晰程度还是数据读取分析对比上,都比过去得到了一个更明显的提升,有效的解决客户的困扰。在样品的截取、切割打磨的这一系列过程中,就使用了新技术的支持和进口产品的运用,让端子样品的横截面更平滑细腻,这样就便于下一步的图像采集,使得图像更清晰,减少误差和失误。在图片采集方面,线束剖面分析仪采用超高清的摄像头进行拍摄,所以图像的成像效果非常好,还原真实程度也很高,想要观察到更清晰的样本,还可以在显示屏上直接对图像进行放大,范围从四十五倍到两百五十倍不等,非常方便使用者进行使用和观察,这些都依托了摄像头所拍摄的超高清图像。观察图像的设备则采用最新技术支持,具有很强的可信性和立体感。从寻找数据、研究数据、分析数据到得出结果仅仅需要短短几分钟。在分析数据和所得出的报告来看,不仅是速度较以往有了很大的提高,整个测量的过程也更完整更细致,包含多个步骤全部由系统自动完成。

  • 【求助】土壤纵剖面如何分样

    如题,第一次做土壤实验,还请高手指教!采集的是一个湖泊沉积剖面,这是我导师以前采好的,马上要开始做实验了,现在要写实验大纲,却无从下手,拜求各位高手指教!急............

  • 观察金属上微孔剖面形貌,该如何制样?

    现有铜、铁、铝等材质,表面肉眼可见极小孔洞,在SEM下观察洞口表面,洞口直径约几十个μm到一百个μm左右,现在想观察这些微孔剖面的形状,尽量能在对半处剖开,不知道有没有合适的制样方法???别告诉我镶嵌再磨抛啊,这么小实在困难,谢谢!

  • 三元正极材料一次颗粒孔洞现象--颗粒剖面SEM图

    三元正极材料一次颗粒孔洞现象--颗粒剖面SEM图

    有没做锂电材料的大侠啊,以下是三元正极材料颗粒的剖面图,经过离子研磨加工的。第二张图一次颗粒上的孔洞是什么原因造成的?另想请教:这个一次颗粒是否就是晶粒?http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016112216360039_01_1932082_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611221637_01_1932082_3.jpg1

  • 【网络会议】:2015年03月26日 14:00 YSI 浮标和剖面式水质自动监测站

    【网络会议】:赛莱默分析仪器浮标和剖面式水质自动监测站【讲座时间】:2015年03月26日 14:00【主讲人】:陈占仓(赛莱默分析仪器中国应用技术专家、产品经理。)【会议介绍】 Xylem分析仪器旗下的YSI公司以其传感器技术为核心、以开发、生产和应用经验为基础,在这种监测需求下,研发出一套以YSI久经考验的水质多参数仪为核心,以经实践检验的高分子材料作为搭载仪器的平台、用可编程自动控制和采集器按需要定时启动水质测量工作,运用通信网络完成数据传输的具有高集成度的、独立的、可整体移动的、配套了供电、安全警示等配套的直接抛放在需要监测的水体里的浮标式水质自动监测系统。它具有投资较小、建设快、充分考虑到水质的时间和空间上的不均匀不一致等特点,数据完好率好、数据准确可靠、核心监测仪器防玷污、方法成熟、系统稳定、具有完整的管理经验等特点的水质自动监测系统。它具有监测温度,电导,溶解氧,pH值,浊度,叶绿素、蓝绿藻、荧光溶解有机物等十多个水质参数的功能。除对这些参数的监测能力外,浮标监测系统还具有搭载其他传感器和仪器的能力,诸如气象传感器、测流仪、营养盐监测仪器、辐射监测仪、光谱式COD仪等等。 浮标式水质自动监测系统可对水质进行自动、连续监测,数据远程自动传输,随时查询所设站点数据等特点。利用水质在线监测系统,能够及时准确地了解水质的基本状况、了解突发性水环境污染事故的情况,为水体水质的分类服务、为可能的污染提供预警服务,为有关部门的决策服务。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2015年03月26日 13:304、报名参会:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/13805、报名及参会咨询:QQ群—379196738

  • BD2326L50150AHF超小型低剖面巴伦变压器Anaren

    [font=Calibri]Anaren[font=宋体]的[/font][/font][url=https://www.leadwaytk.com/article/5397.html]BD2326L50150AHF[/url][font=Calibri][font=宋体]是一款超小型低剖面平衡至不平衡变压器,专为新一代无线网络芯片上差分输入和输出区域的需求而设计。[/font][font=Calibri]BD2326L50150AHF[/font][font=宋体]是大规模生产的最佳选择,其性能参数优于传统陶瓷巴伦。[/font][font=Calibri]BD2326L50150AHF[/font][font=宋体]非平衡接口的特性阻抗为[/font][font=Calibri]50[/font][font=宋体],平衡接口的特性阻抗为[/font][font=Calibri]150[/font][font=宋体]。这种转换使单端信号能够用于现代集成芯片上的差分接口。输出端口具有相同的幅度([/font][font=Calibri]3dB[/font][font=宋体])和[/font][font=Calibri]180[/font][font=宋体]度的相位差。[/font][font=Calibri]BD2326L50150AHF[/font][font=宋体]适用于磁带和卷轴的大规模采购安装和制造。[/font][/font][font=宋体]特征:[/font][font=宋体][font=宋体]?[/font][font=Calibri]2300[/font][font=宋体]–[/font][font=Calibri]2600 MHz[/font][/font][font=宋体][font=宋体]?[/font][font=Calibri]0.7mm[/font][font=宋体]高剖面[/font][/font][font=宋体][font=宋体]?[/font][font=Calibri]50[/font][font=宋体]Ω至[/font][font=Calibri]2 x 75[/font][font=宋体]Ω[/font][/font][font=宋体]?低插入损耗[/font][font=宋体][font=宋体]?输入[/font][font=Calibri]-[/font][font=宋体]输出直流电隔离[/font][/font][font=宋体]?可表面贴装[/font][font=宋体]?磁带和卷轴[/font][font=宋体]?非导电表层[/font][font=宋体][font=宋体]?满足[/font][font=Calibri]RoHS[/font][/font][font=宋体]?无卤阻燃[/font][font=宋体]深圳市立维创展科技是[/font][font=Calibri]Anaren[/font][font=宋体]品牌的经销商,主要提供贴片混合耦合器、巴伦变压器、延迟线、定向耦合器、[/font][font=Calibri]Doherty[/font][font=宋体]合路器、功分器、微蜂窝型耦合器、[/font][font=Calibri] RF Crossovers[/font][font=宋体]产品,产品原装库存,极具价格优势,欢迎咨询。[/font]

  • 【资料】 X射线荧光分析野外工作方法和应用

    无论国内外,X射线荧光分析方法最先得到重视和应用的都是地质行业。这主要是因为野外工作环境比较恶劣的地质勘查和矿产资源评价工作,需要一种轻便、机动而又能及时取得元素成分和含量数据的手段。X射线荧光分析方法基本满足了这一要求。因此,X射线荧光分析方法的研究和推广应用受到第一线地质工作者的关注。从20世纪70年代开始,便携式X射线荧光仪在地质行业就得到较为广泛的应用,并取得很好的成果。 使用便携式X射线荧光仪,在野外一般不需要特别加工样品就能直接对岩石露头、探槽、浅井、剥土、采矿工作面、刻槽取样线、钻孔岩心等地质工程取样点直接测量目标元素的X射线荧光强度,对目标元素进行定性、定量或半定量分析,从而及时发现和验证异常,评定岩矿品位、矿化地段、矿层厚度,划分矿化异常与非异常的界线、划分矿区与非矿区的界线,为进一步指导找矿勘探和矿产的资源评价提供有力的支撑资料。 便携式X射线荧光仪进行野外找矿方法可以分为直接找矿和间接找矿。所谓直接找矿就是使用便携式X射线荧光仪在野外现场直接测量目标元素(目标矿种)的X射线荧光强度,来确定目标元素的矿化异常的方法。所谓间接找矿就是因为受到X射线荧光仪自身探测线和激发源的能量所影响,不能对目标元素直接测量,而是通过测量与目标元素有共生关系的其他元素或者元素组合的X射线荧光强度来间接寻找目标元素(目标矿种)的方法。例如:我们最常用的X射线荧光找金矿方法,由于金元素的克拉克值丰度远远小于X射线荧光仪自身探测线,加之金元素的K系特征X射线Kα1的能量为68.79kev,而我们目前使用的激发源的能量-( Pu能量为11.6KeV--21.7KeV, Am能量为59.5KeV和26.4KeV)远小于68.79kev,它不能激发金元素的K系特征X射线。所以我们只能根据金元素在元素周期表上属于IB族,在这一族中铜、银。按其地球化学特性分类,金属于亲铜元素组和亲银元素组。相应的元素有铜、锌、铅、砷、硒、铋、汞、银、锡、锑、碲、镉、铟等。由于金与亲铜元素组和亲银元素组的地球化学性质相近,在自然界中常以硫化物或复杂硫化物的形式存在,与亲铜元素和亲银元素共生或伴生一起。在金矿床的地球化学晕中,基本上都会有铜、砷、银等亲铜元素和亲银元素的异常晕出现。所以,可以将它们作为勘察金矿床的良好指示。我们可以单独测量一种元素或测量多种元素组合的特征X射线强度来矿化圈定异常,从而达到间接找寻金矿床的目的。有关便用携式X射线荧光仪间接找寻金矿床的应用实例在相关文献中也多有报道。 近年来,随着测量技术和研究水平的不断提高,人们已经注意和初步掌握了利用元素共生关系和共生元素含量比值的变化规律。对野外X射线荧光测量结果的利用不但可以根据不同元素的共生关系来圈定矿化异常,而且可以根据多元素之间的比例关系及其变化特点,结合其他地质条件来判断矿化异常的在平面和剖面范围内的变化趋势,来提高事半功倍的野外找矿效果。要完成这些任务就需要X射线荧光分析工作者、物探工作者和地质工作者的相互结合和共同努力,才能使X射线荧光分析方法的应用和研究水平达到一个新的高度。 野外工作方法 1.在进行野外现场X射线荧光分析工作之前,首先要对测区的基本地质情况有一个基本的了解(包括基本岩石类型及其分布情况、地质构造的发育及分布、矿化蚀变类型、不同元素及元素组合分布特点等等)。在此基础上,再根据地质学基础理论知识,并结合已经掌握的基本地质情况综合考虑,来确定野外现场X射线荧光分析元素及元素组合的种类。 2.仪器工作性能检查和工作状态的调节荧光仪工作性能的好坏,将直接决定最终工作的成败。所以开展工作前,必须保证所使用的X射线荧光仪工作性能稳定正常。并按仪器操作说明书完成测试参数的设置准备工作(完成各种目标元素微分谱的测量、并根据所测目标元素的微分谱来对目标元素的测量道址进行设置等)。 3.工作区测网的布置 与其他物化探方法一样,X射线荧光现场测量也按一定的网度进行工作。由于X射线荧光方法具有现场快速、低成本和X射线穿透深度和作用范围较小的特点,一般都要求加密测网。按常用的计算方法,以成图比例尺分母的1/100(单位是米)为线距的基础上再加密一倍。例如作1 :10000的测量,一般线距为100米,而X射线荧光方法取线距为50米。点距在外围找矿时取5米,异常点加密到1米。详查工作取线距5米—10米,点距0.2米—0.5米.在需要作圈定矿化边界和元素定量(或近似定量)测定时,常采用加密测量,取点距5-10厘米。必要时作多线测量,取线距10厘米。类似于刻槽取样。 具体的测网密度布置,在不同的地质找矿、地质勘探阶段,在不同地区,不同的地质条件下可以不同。均可以按照放射性物探方法或其他物化探方法测网布置要求的基础上进行必要的加密即可。 4.测点上X射线荧光的测量工作 为了保证测量数据的可靠性,所选测点应具有一定的代表性,在测点上除了完成必须的地质工作和其他的测量方法所需的工作外。X射线荧光测量方法有两种:一是直接在所选测点上将探测器放置平稳后进行直接测量,但测量前必须对测量位置的岩石表面进行必要的清理,保证测点表面是新鲜的和较为平整的。以保证整个测量过程中探测器的源样距的一致性。二是用随仪器配置的碎样加工工具,采集有代表性的测点样品进行粉碎到一定粒度后,将样品放在样品杯中放置于探测器的探测窗口上进行测量。这种方法可以提高被测样品的测量精度和数据的可信度。 5.测量数据的整理和相应图件的编制 为了保证测量数据的精确度和准确度,减少统计误差带来的影响。和其他物化探分析方法、放射性测量方法一样必须对测量所获取数据资料进行审核以减少测量误差,保证数据的可信度。提高地质异常解释评价的质量。 根据不同的工作目的,和其他物化探方法、放射性测量方法一样,X射线荧光测量数据可以编绘成各种相应的地质图件。如X射线荧光测量等值线图、X射线荧光强度频率分布直方图、各种勘探工程的X射线荧光测量剖面图等等。野外X射线荧光测量数据的分析和处理方法根据野外地质找矿工作的不同勘查阶段的应用可有所不同,使用便携式X射线荧光仪,基本上可以完成元素的定性、半定量、准定量工作。 X射线荧光分析方法是一种轻便、快速、低成本的分析方法。它可以现场、短期内取得大量分析数据,其成果也具有更好的代表性。虽然测量数据有一定的误差(受野外现场测量条件的影响),只能达到半定量、近似定量(准定量)分析的水平,但是大量测量数据及其分布特点却能真实地反映测量对象在平面或剖面的图像和变化细节,结合其它工作方法进行综合分析,能大幅度提高研究工作的速度和加快地质勘查工作的进程发挥更好的作用。

  • X4B20L1-5050G超小型低剖面巴伦变压器Anaren

    [font=宋体][font=Calibri]Anaren[/font][font=宋体]的[/font][/font][url=http://www.leadwaytk.com/article/4756.html]X4B20L1-5050G[/url][font=宋体][font=宋体]是款超小型低剖面平衡到不平衡变压器,致力于[/font][font=Calibri]5G[/font][font=宋体]应用领域差分输入输出需求设计。[/font][font=Calibri]X4B20L1-5050G[/font][font=宋体]是批量生产的最佳选择。[/font][font=Calibri]X4B20L1-5050G[/font][font=宋体]适用于磁带和卷轴,适用于大批量获取和存放生产制造。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]X4B20L1-5050G[/font][font=宋体]由陶瓷填充[/font][font=Calibri]PTFE[/font][font=宋体]复合材质制作而成,具有优良的电气和机械稳定性。所有器件都经过严苛的检测测试,[/font][font=Calibri]X4B20L1-5050G[/font][font=宋体]都经过[/font][font=Calibri]100%[/font][font=宋体]的射频测试。选用[/font][font=Calibri]ENIG[/font][font=宋体]终饰。[/font][/font][font=宋体]特征:[/font][font=宋体][font=宋体]?[/font][font=Calibri]1200-2700MHz[/font][/font][font=宋体][font=宋体]?[/font][font=Calibri]50[/font][font=宋体]Ω至[/font][font=Calibri]2x25[/font][font=宋体]Ω[/font][/font][font=宋体][font=宋体]?[/font][font=Calibri]5G[/font][font=宋体]技术应用[/font][/font][font=宋体]?损耗极低[/font][font=宋体]?紧密震幅平衡[/font][font=宋体]?有利于生产制造[/font][font=宋体]?磁带和卷轴[/font][font=宋体]?非导电表面层[/font][font=宋体][font=宋体]?满足[/font][font=Calibri]RoHS[/font][/font][font=宋体]?无卤素[/font][font=Calibri]Anaren[/font][font=宋体]是美国老牌的微波元件制造厂家,以大功率贴片式耦合器知名于行业。[/font][font=Calibri]Anaren[/font][font=宋体]子品牌[/font][font=Calibri]XINGER[/font][font=宋体]提供贴片混合耦合器、巴伦变压器、延迟线、定向耦合器、[/font][font=Calibri]Doherty[/font][font=宋体]合路器、功分器、微蜂窝型耦合器、[/font][font=Calibri] RF Crossovers[/font][font=宋体]产品。[/font][font=Calibri]Anaren[/font][font=宋体]全线产品拥有[/font][font=Calibri]REACH[/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]RoHS[/font][font=宋体]认证。[/font][font=Calibri]Anaren[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]XINGER[/font][font=宋体]品牌[/font][font=Calibri]90[/font][font=宋体]°混合耦合器,小贴片封装,满足高功率需求,同时具备超低的插损和优异的热稳定性。频率覆盖[/font][font=Calibri]225MHz~6GHz, [/font][font=宋体]功率可高达[/font][font=Calibri]500W[/font][font=宋体]。[/font][font=宋体]深圳市立维创展科技是[/font][font=Calibri]Anaren[/font][font=宋体]品牌的经销商,主要提供贴片混合耦合器、巴伦变压器、延迟线、定向耦合器、[/font][font=Calibri]Doherty[/font][font=宋体]合路器、功分器、微蜂窝型耦合器、[/font][font=Calibri] RF Crossovers[/font][font=宋体]产品,产品原装库存,极具价格优势,欢迎咨询。[/font][font=宋体]详情了解[/font][font=Calibri]Anaren[/font][font=宋体]请点击:[/font][url=http://www.leadwaytk.com/brand/11.html][font=Calibri]http://www.leadwaytk.com/brand/11.html[/font][/url]

  • 荧光版面好冷啊!

    今年经常来到荧光版面逛逛,发现该版面真的很冷清, 即罕见有新颖的原创帖子发表也没有及时回复的帖子。其实荧光光谱仪在仪器分析方面的应用面还是比较广的,该仪器有[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]和紫外等仪器不可取代的特点,所以活跃该版面还是一个任重而道远的工作啊!

  • 市面主要有那些 X射线荧光光谱仪的厂家

    最近领导安排我调研X射线荧光光谱仪,请问版里面的大侠有没有人比较了解目前市面上主要存在的“X射线荧光光谱仪的厂家”,和其对应的产品和型号和其的性能状况。国内和进口的各有那些厂家呢,希望知道的大侠帮帮我,答的好的我还会追加分数的。谢了

  • 荧光光谱分析仪在冶金方面的应用

    ⑴冶金分析的特点冶金分析是指冶金生产过程中各物料的化学组成及其含量的分析。它对原料的选择,在冶炼前的炉料计算,冶炼工艺流程的控制中,产品的检验,新产品的试制,以及冶金工厂中环保分析都是必不可少的。特点是:①在保证生产质量的前提下,分析速度要快,特别是分析;②冶金分析物料种类繁多,有固体、粉末和液体等,因此要求分析方法适应性强;③分析数量大,任务重,并且要求日夜连续不断进行。  X射线荧光分析技术正好能满足冶金分析的特殊要求,一台多道X射线荧光光谱仪能在一分钟之内分析20~30个元素,而其分析精密度完全可以和湿法化学分析相媲美,分析范围又很宽,从几个ppm到100%。这样可以节省大量人力,提高工作效率,它又很少使用酸和特种化学试剂,不会污染环境。  然而X射线光谱分析法并不是一种绝对法,而是依靠用标准试样相比较来作分析。以钢铁分析为例,标准试样国际的、国内的都有,但是如果对表面效应不重视,那末最好的标准试样,分析出来结果也会是错误的。金属试样一般可以直接从炉中取样冷凝而成,或者从大块金属或原料上切取试片,这样能用固体状态进行分析,有速度快、方法简便和分析精密度高的特点,缺点是不能加入内标或者进行稀释,在痕量元素分析时,又不能采用化学分离,不容易得到合适的标准试样,又很难人工合成。  ⑵固体样品的制备 一般切割或直接浇铸的试样表面比较粗糙,通常需要进一步研磨。磨可以在磨片机上研磨,也可以在磨床上加工光洁度较高的表面。通常使用的磨料有各种颗粒度的氧化铝(即刚玉)或碳化硅即(金钢砂)。一般不抛光或化学腐蚀等特殊处理,在测量短波谱线如钼、镍、铬等元素时,大约80~120粒度砂纸的光洁度即可满足要求,但测量长波谱线要求试样表面光洁度要高,特别重要的是分析试样和标准样品的表面一定要有一致的光洁度。  样品在测量时,最好能自转,以减少表面效应、颗粒度和不均匀性的影响。如果样品没有自转装置,则样品放置位置必须使样品的表面磨痕和入射、出射X射线所构成的平面平行,这样吸收最小,如果相互垂直时吸收最大。  样品在研磨过程中,有可能把样品中夹杂物磨掉,造成某些元素分析结果偏低,或者也可能发生表面沾污。分析低铝时,如果使用氧化铝作磨料,表面就可能被沾污,这时最好采用碳化硅磨料,反之如果分析低硅时,应采须知氧化铝佬磨料。对有色金属如铝合金、铜合金等,它们远比钢铁试样要软,不能用砂纸研磨,而应该用车床,以保证样品表面光洁度。  检验这种表面沾污的方法测量沾污元素谱线的强度比。对于原子序数60以下的元素,可测量其La1Ka强度比,对于原子序数60以上的重元素,应测量Ma/La1 强度比。试验可以用有沾污的样品和已知未沾污的同种合金样品作比较,甚至还可以作为一种消除沾污的检验方法。  ⑶生铁X射线荧光分析生铁中碳是以元素状态存在。灰口铁中的碳有的呈球状石墨,有的呈片状石墨,在研磨过程中表面上脱落的石墨孔也会引起其他分析元素的污染,造成分析错误。浇铸的试样是不均匀的,不适合作X射线荧光分析。而急冷试样的晶粒很细,分布,碳生成渗碳体(Fe3C),它是一种很脆而硬的中间化合物,表面可以利用研磨办法加工。  ⑷中低合金钢分析 用X射线荧光分析中低合金钢有足够灵敏度,多道X射线萤光光谱仪一般测量时间只需要20秒,最好用铑靶X射线管,监控试样测量为60秒,以提高分析精度,必要时要扣除重迭谱线,用标准钢样NBS116-1165,和BAS50-60,401-410,431-435,451-460。  ⑸不锈钢的分析 不锈钢X射线荧光分析是比较困难的,因为镍、铬、铁三者存在着严重的增强和吸收效应,必须采用数学分析,校正后铬、镍分析结果是非常令人满意的。  ⑹非金属材料分析 非金属材料分析包括炉渣、矿石等原材料分析。它的分析方法大致可分成二大类,一种是把试样振动磨粉碎,然后压制成直径为40毫米的圆片,直接放在X射线荧光光谱仪上分析。这样方法特点是速度快,一般五分钟左右就能报出结果,适合作快速分析,但是有“颗粒度效应”和“矿物效应”,所以一定要严格控制试样颗粒度大小。特别对轻元素分析,尤为严重,可以适当加入稀释剂、粘结剂、重吸收剂,如硼酸、淀粉、硫酸钒等,来减少基体效应并可压成圆片。另一种方法为熔融法,可以在试样中加入熔剂如四硼酸锂等,在高温下溶融成玻璃熔珠,熔融时间一般为10~20分钟,中间要摇动以除去气泡,对某些试剂还要加入氧化剂,如硝酸钠等,为了防止试片破裂,可适当加入溴化物使其容易脱模。如在铂-黄金(5%)坩埚中熔融,冷却脱模以后,试样就可以直接使用。这种方法准确度高,并且能消除“颗粒度效应”和“矿物效应”,但是分析速度慢,对某些元素灵敏度差。

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