反射式超仪

请问反射式衍射光栅的色散原理是什么？谢谢

反射式X射线管（侧窗型）又采用正高压工作，也有采用负高压工作，这两种方式各有什么利弊？其阳极倾斜的角度好像有一个范围，是多少？为什么要限制在此范围内？

[font=Calibri]PIN[font=宋体]二极管开关是最常用的开关二极管，通常由三个引脚组成，其中两个引脚用于控制电流开关，另一个引脚用作电路的接地装置。[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关的优点在于其速度快、低阻抗、灵敏度高等优点，可以在高频下快速控制电路，从而使[/font][/font][font=宋体]电源[/font][font=Calibri][font=宋体]电路的响应速度更快。[/font][/font][font=Calibri][font=宋体]反射型[/font]PIN[font=宋体]二极管开关是指具有至少一个反射表面的[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关。光学设备中的[/font][/font][url=https://www.leadwaytk.com/article/5271.html]MITEQ[/url][font=Calibri][font=宋体]反射式[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关具有转向光路、缩减仪器体积、改变图像的正反关系等等。[/font][/font]

各位老师，这种类型的光路有见过吗？全反射类型。[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201831308676_2882_4104625_3.png[/img]

如题，在线检测的采集器精确固定在样品上方，距离样品1-2厘米的位置。被测样品会平稳的运动，一分钟在10米到1000米之间的速度运动。采集的样品是直径为4厘米左右的圆形区域。光源呈45度照射到样品。反射光0度从光纤准直镜接收到光谱仪。高速取样在电脑显示色彩空间数据。样品不动的情况下保证数值的重复性误差很精确原理只能是这样来采集光谱。其他的办法实在是找不到了。看起来这种方法好实现。但是会存在很多很多问题。1.光源，传统的卤素灯光源能量很稳定，但是用在非接触测量时候会出现能量不够，长时间工作灯的寿命降低。一般都是几千个小时。在线检测用一般一开都是N月。2.校正，校正的前提是保证光源在绝对稳定状态下才能有效的校正白板反射数值。卤素灯排除后就实在没办法让光谱仪长时间使用而校正的问题。3.色彩数据，这个数据一般不会和实验室做对比，但是用什么方法来准确反映出颜色偏向也是个难题如果用闪光式的脉冲氙灯来做光源的话。由于氙灯的特性。每次闪光的能量又不能控制。实在是找不到别的有效的办法来代替光源。如果使用氙灯的话。能量值能稳定的控制在很精确。伴随光谱仪还有采集时间和时序的问题。种种问题。实在得不到有效解决。但是也真实的见过真有这种类型的测色仪。他们是如何做到的

各种介质对声波的传播都呈现一定的阻抗，声阻抗与介质的密度及弹性有关，一般液体的声阻抗比空气的大两千多倍，金属的声阻抗比水的又大十多倍到几十倍。 声波作用到两种介质的分界面上时，如果这两种介质的声阻抗相差很大，就会从分界面上反射回来，只剩一小部分能透过分界面继续传播。如果用代表透射系数，用β代表反射系数，它们和两种介质的声阻抗之比，m存在下列关系: 无论声波是从阻抗高的介质向阻抗低的介质传送，或按相反方向传送，a和β的关系式都一样.只有m=1时，即在两种声阻抗相等的介质之间，相互传播才能完全透过.这种情况下a=100%，β=0. 利用这一规律可构成两类液位传感器，即透射式和反射式，下面将分别列举典型产品以说明其工作原理。 无论透射式或反射式，产生超声波的换能器和接收超声波的换能器都是利用压电元件构成的，压电元件几乎全采用错钦酸铅(即 PZT)压电陶瓷.发射超声波时利用逆压电效应.接收超声波时利用正压电效应.发射和接收这两个换能器的构造是一样的，只是工作任务不同。 超声换能器的设计属于专门问题，在此不可能深人探讨，只从物位检测方面的应用介绍工作原理及特点。

分光计是用来把光源激发出来的复合光展开成光谱的一种仪器，这种仪器的主要作用使复合光色散。使之成为各种不同波长的光叫做光的色散或叫分光。有棱镜和光栅二种，以棱镜为色散元件做成的分光仪，有水晶、玻璃、萤石等多种分光仪。以光栅为色散元件的分光仪又有平面衍射光栅或凹面衍射光栅分光仪之分。由于光栅刻划技术和复制技术进一步的提高，光栅已广泛应用于光电直读光谱仪中。光栅与棱镜比较具有一系列优点。首先棱镜的工作光谱区受到材料透过率的限制；在小于120nm真空紫外区和大于50微米的远红外区是不能采用的，而光栅不受材料透过率的限制，它可以在整个光谱区中应用。 光栅的角色率几乎与波长无关，光栅角色散在第一级光谱中比棱镜大，不过在紫外250nm时石英角色散比光栅角色率大。光栅的分辨率比棱镜大；由于光栅具有上述优点将更进一步得到应用。

中国科技网讯 据物理学家组织网近日报道，电脑芯片利用光来移动数据将更加节能，甚至可比现今使用的芯片速度更快。而实现这点的困难之一就是光穿过电磁波导时不发生逆向反射以干扰之后的传输，甚至中断激光的工作。 现今的光纤网络通常使用光电隔离器来阻止光的逆向反射。这种装置一般由钇铟柘榴石等特殊材料制成，同时只能在磁场的作用下开展工作，这使得它的体积十分庞大。另外，由于隔离器会吸收光子以避免它们发生反向散射，其同样会削弱向前移动的光学信号。 而麻省理工学院等校的科研人员描述了一种新型超材料，能够保持光子只沿一个方向移动，使游荡的光子改道，而不仅仅是吸收它们。研究人员表示，这十分重要，因为光子的损失会限制他们所能集成的设备数量，因而制约大规模集成光学器件的发展。虽然实验所用的原型很大，但却不需要另外施加磁场，因此其原则上能够生产出比当前的光电隔离器更小的光学元件。此外，构建芯片级别的超材料不需要比生成微处理器更特殊的金属，从而能够降低制造的成本。相关研究报告发表在本周出版的美国《国家科学院学报》上。 赋予新材料光聚集特性的正是成排嵌入的金属天线，它们看起来很像垂直和水平交错的小型螺旋桨。每根天线由电路与位于材料底部表面的反方向的天线相连，通过电路的电流方向则决定了电磁波的传播方向。 虽然科学家正尝试以诸多不同的途径获取芯片级别的波导，但新型超材料提供的光学波导对于制造能够控制光学信号的芯片上设备十分有用。在芯片生产中，这些天线能被轻易地嵌入硅中。但天线的小型化并非支持超材料在可见光甚至近红外频率中工作的主要障碍，工作频率同样会受到电流中晶体管转换速度的限制，目前还没有哪个晶体管的设计能够迎合可见光较高的转换速度，而这正是研究人员正在努力的方向。（张巍巍） 《科技日报》（2012-08-21 二版）

使用紫外分光光度计测量玻璃的透过率和反射率，发现特定波长下的透过率加反射率100%，请教高手解释，万分感谢：）

来自奥地利、美国和瑞士的科学家组成的国际科研团队，研制出了首个中红外波长范围超级反射镜，有望用于测量微量温室气体或用于切割和焊接的工业激光器等领域。研究论文发表于最新一期《自然通讯》杂志。在可见光波长范围内，现有金属反射镜的反射率为99%。在近红外范围，专用反射镜涂层的反射率高达99.9997%；但迄今最好的中红外反射镜的反射率为99.99%，光子丢失率是近红外超反射镜的33倍。人们一直希望将超反射镜技术扩展到中红外领域，以促进很多领域取得重大进展，如测量与气候变化有关的微量气体、分析生物燃料，以及提升广泛应用于工业和医疗领域的切割激光器和激光手术刀的性能等。此次，研究团队研制出的中红外超反射镜的反射率高达99.99923%。为制造出中红外超级反射镜，研究团队结合传统薄膜涂层技术与新型半导体材料和方法，开发出一种新涂层工艺。为此，他们先研制出直径为25毫米的硅基板，然后让高反射半导体晶体结构在10厘米的砷化镓晶片上生长，接着将其分成更小的圆形反射镜，再将这些反射镜安装到硅基板上，得到了超级反射镜并证明了其性能。[b]研究人员指出，这款新型超反射镜的一个直接应用是显著提高中红外气体分析光学设备的灵敏度，可准确计量微量环境标志物，如一氧化碳等。[/b][来源：科技日报]

维权声明：本文为qingqing0212005原创作品，本作者与仪器信息网是该作品合法使用者，该作品暂不对外授权转载。其他任何网站、组织、单位或个人等将该作品在本站以外的任何媒体任何形式出现均属侵权违法行为，我们将追究法律责任。摘要：建立了一种反射仪-试纸法快速检测肉类制品中的亚硝酸盐含量的新方法，该方法操作简单、使用方便，与试纸条目视比色相比，准确度高；与国标方法相比，简便快捷，且亚硝酸盐的测值与其有很好的线性相关性和一致性。该方法的线性范围为：1.0-40mg/L，样品回收率在90%～110%之间，结果令人满意。关键词：反射仪-试纸法法；亚硝酸盐；肉类制品亚硝酸盐是国家列入允许使用的食品添加剂，肉类制品中用的发色剂主要是亚硝酸盐和硝酸盐，使得火腿、香肠、腊肉等肉类食品在亚硝酸盐作用下，肉品能保持鲜艳的亮红色，具有独特风味，同时还具有较强的抑菌作用。但高岐等研究表明，亚硝酸盐是一种潜在的致癌物质，它可诱发人体胃癌、肠癌、食道癌等疾病过量食用会对人的身体造成危害。我国对亚硝酸盐的添加量也有严格的规定，规定肉制品中亚硝酸盐的质量分数必须≤3O mg.kg-1 。常用的亚硝酸盐测定方法有重氮偶合比色法、催化动力学法 和氧化还原比色法，但这些方法检测过程都需要较长时间，所以发展一套快速、简便、经济、适用的亚硝酸盐检测方法是一种趋势，而试纸条-反射仪法则能满足此要求，能够很好的应用于基层测试和食品准入市场的筛选。1 试验部分1.1 主要仪器与试剂YN-FS反射式测定仪（河南农大迅捷测试技术有限公司）；研钵。亚硝酸盐试纸条（吉林省伊尔康医疗器械有限公司）；亚硝酸钠标准储备液（100 mg.L-1）；盐酸（2+98）；氨水（5+95）；0.1%溴甲酚紫指示剂；饱和硫酸铝钾。1.2 反射仪工作原理试纸条-反射仪法测定亚硝酸盐含量，所用仪器及试验器材主要包括试纸条和反射仪主机及电源、数据线等配件。试纸条显色反应是根据偶氮反应原理，即NO2-与试纸条显色板上的显色剂发生显色反应生成红色的偶氮染料，然后通过反射仪的光漫反射原理可以检测出亚硝酸盐的含量。反射仪工作原理是依据光照射到粗糙的显色板表面时产生漫反射，在一定条件下，漫反射光的强度与试纸颜色的深浅（或参与显色的待测物质的浓度）有关，根据发射光和漫反射光强度的不同可以定量测定待测物质的浓度。 仪器采用LED作为光源，其发射的525nm的绿光与试纸条显色生成的红色有很好的互补性，当光线到达试纸条后，一部分漫反射光照射到光电池，再经过光电转换器件将光信号转化为电信号，最后转化为浓度单位后直接显示在液晶显示器上。

最近纠结漫反射的问题，查了好些资料，昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍，个人觉得不错，就把其中的一些知识誊抄上来，希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理：当光线照射到样品上，一部分光在样品表面产生镜面反射，另一部分光经折射进入样品内部，在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象，最后光线由样品表面辐射出来，辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用，因此漫反射光将载有样品分子的结构信息，这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点：漫反射与镜面反射共存；漫反射光强度弱；漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量：漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备，由于上述优点，在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象，从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等，比例在1：20至1：10之间。漫反射的定量分析：利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究，具体公式为：f(R∞)=（1-R∞）2/2R∞=K/S；R∞代表样品层无限厚时的反射率（实际上几个毫米就能满足），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数，由于K与粉末样品浓度C呈正比，由此有f(R∞)与C呈正比，可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法，此处为什么不用Beer-Lamber定律，他们有何关联呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif

ICP工作时反射功率，您注意过吗？一般像我们选择ICP功率在1200W,那么此时仪器存在反射功率，那么反射功率多大了，大了小了影响怎么样？为什么有存在反射功率说法？

请问反射仪和光泽仪有什么不同。光泽仪是以折射率为1.567的黑玻璃定义为各种测试角度光泽100，带测试样品的反射光光强和标准的比值即为光泽测定结果。测试角有20度、60度、85度。反射仪是以光谱漫反射比均为100%的理想表面的白度定义为反射率100，光谱漫反射比为零的绝对黑表面定义为反射率零，也是计算待测样品和标准的比值来表示反射测量结果。测试角一般为45度。那这样且不是可以这样理解：反射仪就是一种有着特殊标准板、特殊测试角度的光泽仪？如果能这样理解，且不是反射仪可以用光泽仪来替代？学得很肤浅，请大家不吝赐教！

人工界面改写光反射和折射定律光的折射和反射定律是几何光学的基础。但是美国哈佛大学物理学家用一系列实验演示了光线的传播可以不遵从这些经典定律。这意味着，或许有一天当你用一块平面镜端详自己容貌时，看到的却是哈哈镜的变形效果。光在不同介质中的传播速度不一样。当一束光从空气中斜射向水中，光束的传播方向会发生改变，这就是所谓的折射现象。它的准确表述即折射定律是很多年前由物理学家斯涅尔、数学家笛卡尔以及费马确立的。这一定律表明，光线在界面的折射角仅由光在两种物质中的传播速度决定。而早在古希腊时期由欧几里德发现的反射定律更简单：光的反射角等于入射角。经典的反射和折射定律都很自然地认为一个界面仅仅是区分两种物质的理想边界，换句话说，是两种介质而不是它们的截面影响了光的传播。哈佛大学研究人员的创新在于意识到界面可以成为决定光的传播的因素。他们的实验表明，精巧设计的界面能够干预光的传播。研究人员利用硅片和空气界面处一层薄薄的金属阵列来演示一系列违背经典反射和折射定律的现象。这个阵列中的每个组成单元都类似微小的英文字母“V”，其大小和间距都远小于光的波长以及入射光束横截面的尺寸。这些“V”字形的单元的大小、夹角和朝向都不同，这样设计是为了控制光波和不同单元的相互作用时间：每个金属“V”都类似一个光的陷阱，能够将光波“囚禁”一段时间再释放出来。阵列的设计使得这个“囚禁”时间沿界面从右向左线性增加，这样即使垂直入射，光束不同部分经历不同的时间延迟，透射以及反射光束就不再沿着垂直于界面的方向传播了。而当光以倾斜的角度入射，按不同的“界面”设计，反射和折射光可以被操纵朝向任何方向。反射角不一定等于入射角，反射光甚至可以被“反弹”回光源方向，而不是像一般情况那样折向远离光源方向。这就是平面镜可以有哈哈镜的效果的原因。这项成果9月2日发表在美国新一期《科学》杂志上，第一作者虞南方目前在哈佛大学工程和应用科学学院做博士后研究，虞南方2004年本科毕业于北京大学电子学系，2009年在哈佛大学获博士学位。利用界面来控制光束不同部分的时延是一个具有革新意义的概念。虞南方告诉新华社记者，他们已用这种人工界面产生了“光涡旋”，这种奇异的光束在空间里螺旋前进，因而可以用来操纵旋转微小的悬浮颗粒。他预计，这一概念将衍生出一系列有用的光学元件，比如可以纠正相差的超薄平面聚焦镜片、可以采集大范围入射阳光的太阳能汇聚装置。哈佛大学目前已就这一成果提出专利申请。（来源：新华网 任海军）

各位老师，我把固体粉末抹在BaSO4白板上做紫外漫反射光谱时，发现固体粉末的漫反射谱在近红外区的反射率竟然达到130％！！而在可见区和紫外区却是正常的低于100％，而我事先已经用BaSO4白板做了基线校正，BaSO4白板的反射率为100％。而且我做其它样品时都是正常的，为什么做这个样品却在近红外的反射率达到130％？？急盼各位老师给我指点迷津！！万分感谢！！

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

我只稍微了解“衰减全反射红外ATR－IR”的原理；而对于“反射红外”的理解是，做液体样品时，将液体滴到金属片（如金片）上，利用金属片为反射面，测得液体样品的红外信号。高手能否比较下两种方法的异同，特别是做水溶液样品，哪种效果会好些。还有，将液体直接滴到KBr片上做透射红外与上面两者比较呢？谢谢啦另外，什么叫“结帖”，怎么结帖啊，呵呵

反射率仪的测试波长是多少？ c84-III型反射率测试仪，天津世博伟业化玻仪器有限公司，射出的是绿光。谁知道测试波长是多少？请给出答案的出处，例：XX国家标准。谢谢！

各位老师好，小弟在网上看到这样一个光路，但是自己模拟一直实现不了，想问下哪位老师有见过这种，谢谢[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201800424515_4764_4104625_3.png[/img]

经常看到表征红外光学材料的光学性能的时候就会出现两张图：红外透过率和红外反射率。这个反射率就是常说的这个R，1=R+T+A。理论计算R=（1-n）^2 /(1+n)^2. 我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗？是反射角为多少的时候测量的？垂直入射的时候吗？看文献上从来都没有解释过。另外还有一个问题，反射光谱是怎么测量的，测得的数据就是反射率吗？补充一下测试的光学材料都是镜面抛光的。

我发生器功率选择１０００时，仪器稳定状态下反射功率是３０左右，我看书上写的是低于１０，reflected power高了会怎么样，我能不能理解成就是浪费点能源？对测量有影响吗？

在做微波合成时，当真空度大于约100帕时，反应瓶内出现白光，应该是微波反射，但是我里面又没有金属物质，而且当我不抽真空，在常压下反应时却又不发白光了。而且更奇怪的是，我今年上半年做时，并没发生这种情况，只是这一两个月才发生此情况，在此期间，微波仪坏过一次，但是只是门坏了啊，磁控管根本没碰过，请问这么怪异的事该如何解释呢？？？以前发射微波时，磁控管根本没声音，但是用了这大半年，每当发射微波时，总是听见呜呜的声响，一停止发射，也就没声了，请问这种情况的话，是正常的吗？

[font=宋体][font=宋体]漫反射测量，需要注意探测器和光源，一般采用[/font][font=Times New Roman]4[/font][/font][font='Times New Roman']5[/font][font=宋体]度角度的排列，在这种排列方式下，光源和探测器可以组合采集到较丰富的光谱信息；由于漫反射的光线散射特性，往往需要进行很多次的重复扫描以提高采样精度。[/font]

脉冲反射式超声波探伤仪是目前应用的最为广泛。一般在均匀的材料中，缺陷的存在将造成材料的不连续，这种不连续往往又造成声阻抗的不一致，由反射定理我们知道，超声波在两种不同声阻抗的介质的交界面上将会发生反射，反射回来的能量的大小与交界面两边介质声阻抗的差异和交界面的取向、大小有关。脉冲反射式超声波探伤仪就是根据这个原理设计的。 脉冲反射式超声波探伤仪大部分是A扫描方式的，所谓A扫描显示方式即显示器的横坐标是超声波在被检测材料中的传播时间或者传播距离，纵坐标是超声波反射波的幅值。譬如，在一个钢工件中存在一个缺陷，由于这个缺陷的存在，造成了缺陷和钢材料之间形成了一个不同介质之间的交界面，交界面之间的声阻抗不同，当发射的超声波遇到这个界面之后，就会发生反射，反射回来的能量又被探头接收到，在显示屏幕中横坐标的一定的位置就会显示出来一个反射波的波形，横坐标的这个位置就是缺陷在被检测材料中的深度。这个反射波的高度和形状因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性质。

我是新手，我做出的薄膜的反射谱为什么跟透射谱是一样的？连纵坐标的数值都是一样的，请问是什么原因？是设置的问题还是其它？麻烦哪位大虾告诉我一下，十分感谢。我的薄膜是在玻璃基片上，与玻璃基片一起测量。仪器型号是cintra 10e。是不是固体的反射必须用积分球才能测啊？

今天发现用光纤透反射模式下采集油的近红外光谱，所有样品的谱图（横坐标波数，纵坐标反射率），透反射率都出现了大于1的波段，各位遇到过没，不晓得怎么回事啊