片上光谱仪

一体化设计、全密封结构，集成了防潮型 ZnSe 分束器和高灵敏度的检测器。宽敞的样品仓可与用户的红外透射池/ATR 附件/漫反射池完美匹配。即使实验中涉及的原位漫反射附件，如温控仪、管线等辅助设备都可以合理放置，不占用实验室有限的空间资源，使得整个原位红外装置简洁紧凑。FI-RXF100-R 额外配置了外置式可调节的高精度光圈，用户可以根据样品的特性（如厚度、颜色等）随时调节光圈大小，而无需在软件中进行选择，这样的设计配合不同档位的增益功能，可以让用户实时、快速地看到样品最大的红外光通量，获取最佳的信噪比。FI-RXF100-R 还可以安装其他各类原位红外漫反射附件或者原位吡啶吸附池等与催化剂表征相关的的红外装置。会按照您不同的科研项目，实现您个性化的实验需求。硬件特点干涉仪：具有优异的性能、良好的可靠性、完美的稳定性和极强的抗干扰性能；提供 10年期的质量担保光学系统：全部使用金反射镜，反射率比铝镜高 5 %以上；抗氧化性强，光学性能更稳定检测器：可选高灵敏度 DLaTGS、电子制冷 MCT、液氮制冷 MCT 等固态激光器：性能稳定，使用寿命达 10 年以上光源：高性能，使用寿命长FI-RXF100-R傅里叶变换红外光谱仪的应用领域：红外光谱仪可以采用不同的红外测量模式，比如固体透射、ATR 反射、漫反射等。固体透射： 各种固体粉末的压片； 薄膜材料的定性分析； 热压成膜定量分析； 可透红外光的材料，如各类玻璃、翡翠、晶体材料、功能改性材料等；固体 ATR 测量： 各类粉末样品，无需压片，直接测量； 不规则形状的样品，测后不破坏样品； 各类聚合物、纤维、薄膜等高聚物样品； 各种O 型圈、橡胶类样品； 其他透射难以测量的样品；液体透射： 密封液体池定量测量有机溶液、易挥发溶剂； 拆卸液体池，可改变光程，定量分析； 各类润滑油的定量分析； 在红外窗片上形成液膜进行定性分析；气体测量： 直通式气体池，玻璃或不锈钢材质，可选温控，光程可选 1.5 厘米、3 厘米、5 厘米、7 厘米等， 适合用户测量高浓度气体； 多次反射式气体池：不锈钢材质，可选温控，光程可选 50 厘米、100 厘米、5 米、定制光程等， 适合用户测量低浓度气体； 防腐气体池：可为用户定制特种材质的气体池，比如 热红联用、腐蚀性气体的测量；原位红外原理红外光谱的采集需要首先测量背景光谱，然后再采集样品谱图，系统会自动计算得到样品的透过光谱或者吸收光谱，这两种谱图形式可以相互转化。因此，如果用户想获得催化剂本身的谱图，那么就需要以氮气为背景测量空白光路，然后再测量催化剂的薄片即可。如果用户研究催化剂的吸附/脱附性能，那么我们可以直接以催化剂样品作为背景来测量，然后再通入探针分子进行吸附/脱附，这样获得的就是探针分子在催化剂表面的红外吸收。FI-RXF100-R 定制红外具备宽敞的样品空间，可以实现原位透射测量，也可以进行原位漫反射测量。下图为原位漫反射测量的示意图，配置有冷却水循环系统和高精度温控系统。FI-RXF100-R 在催化剂表征中的应用在催化研究领域，傅里叶变换红外光谱仪的应用越来越受到研究人员的重视。一方面，红外表征催化剂的方法简单，速度快，而且几乎没有任何耗材（正常的液氮消耗除外）；另一方面，红外表征催化剂的方法很成熟，已经被众多研究者所认可。目前，市场上使用红外法来研究催化剂的方式主要有：原位红外漫反射和原位红外透射。这两种方法可以为用户提供以下信息： 研究催化剂的化学反应动力学 用于在线研究催化剂在高温或高压或高真空环境下的催化性能 获得催化反应的反应机理和反应过程 通过对探针气体分子与催化剂在不同温度下的吸附和脱附实验，可以了解催化剂表面的吸附活性位和吸附性能 对催化剂的酸碱性能进行有效表征 为制备新型的催化剂提供实验数据 实现对催化剂样品的成分鉴定和结构分析 FI-RXF100-R其它相关应用领域 可加热的原位透射池 高温原位漫反射红外池 材料的绝对透过率（平行光入射） 材料漫透射测量（积分球附件） 材料的反射率测量（反射角度 10°、30°、45°、80°及变角附件等） ATR 测量（晶体可选：金刚石、硒化锌、锗晶体等） 常规固体、液体、气体样品的透射表征 特别适用于： 定制化附件的应用 条件苛刻的测试环境主要技术性能光谱仪参数干涉仪：立体角镜迈克耳逊干涉仪，能适应各类现场分束器：硒化锌防潮分束器及防潮窗片红外光源：空冷陶瓷光源，1550K检测器：高灵敏度DLaTGS 检测器、或者可选液氮冷却 MCT 检测器光谱范围：8000~350cm-1/5000～500cm-1光谱分辨率：优于0 . 5 cm-1波数精度：优于 0.01 cm-1尺寸（长宽高）：685 mm X 415 mm X 223mm重量：25kg原位漫反射系统反应池采用耐化学腐蚀的不锈钢制成，搭配可拆卸的不锈钢圆顶，圆顶带有两个 BaF2 红外透射窗一个蓝宝石测量窗口，可通过第三窗口引入触发光进行光化学、光催化原位表征。反应池运行温度和压力范围宽，温度范围室温 C -800°C，压力范围 133 kPa (1 ktorr) -0.133 mPa (10-6 torr)，含水冷快速接头，两路K 型热电偶，三路反应气接口，可通过卡套、快插、KF 真空接头等方式与真空、配气系统相连接，兼容拉曼和红外漫反射测量。

产品概述ARTUS 8是阿朗科技推出的高性能台式CCD火花直读全谱光谱仪，凭借着更高的分辨率和光效率使它在130nm~700nm的光谱覆盖范围内有一个更高的精度。ARTUS 8可适用于所有种类金属生产和加工行业，同时也满足企业研究和学术研究等实验室级别的检测要求。性能优势优异的全谱分析性能双光室设计，分别采用两套光学系统对元素进行分析，紫外波段元素（C,N,P,S）的分析性能大大提升高性能CCD传感器将130-700nm波段内的光谱信息全采集，高拓展性增加分析元素、基体，只增加分析程序软件即可长焦距帕型-龙格结构光学系统，有效谱线数量更多，获得的光谱分辨率更佳，给使用者带来更优的分析精度及检出限冲氩光室保证光室内外气压保持最少的压力差，避免了抽真空造成光室形变 更高的系统稳定性恒温控制系统，温控精度±0.1℃，是行业温控精度的2倍以上光室恒压装置即便环境变化也能保证光学部件的受力稳定，从而获得更稳定的分析结果实时校正功能避免温度的变化导致光谱位置发生飘移，使仪器高温差情况下依然稳定工作高能预热脉冲合成全数字光源，每个电源的输出脉冲可以单独控制，可针对不同基体、元素匹配最佳激发参数可靠的检测精准度新光源特殊设计工艺，使元素的检测限更低，检测精度更高，可完成ppm级元素含量的测量优化多元曲线回归（OMVR），大大增强仪器的精密度和准确度ASR （Aberrant Spark Removed ） 技术，剥离异常火花，提升分析精度高效易用的使用体验精心设计的样品激发台散热性好，清理方便开发式火花台，重力驱动式样品压杆。火花台承重32KG以上，再大的工件也可以轻松分析 一键激发停止按钮，一旦发生误操作，可以立即停止工作，保证人员和仪器的安全 智能全面的软件系统全部图形化显示，2小时即可熟练操作软件自动判定分析结果是否合格自动判定任意未知样品所属牌号（iAPS系统），十分适用未知样品的检测可选配带SQL数据库的Mini-LIMS软件具有远程网络服务功能技术参数应用领域铸造冶金金属机加工机械制造

SL-F630海上光伏检测无人船（具体船型以发货为准）产品简介SL-F630海上光伏检测无人船是一种专门为海上光伏电站检测而设计的智能船舶。它采用了先进的无人驾驶技术，可以自主完成海上光伏板的检测、数据采集和传输等工作。具有高效、可靠、灵活、安全等多种优势，大大提高了检测和维护工作的效率和质量，降低了成本，并促进了光伏发电的可持续发展。主要应用广泛应用于海上光伏板的检测、数据采集和传输等工作。技术特点1、高效性。传统的检测方法需要人工巡检，而无人船则可以自动巡航，快速准确地检测光伏板表面情况，大大提高了检测效率，减少了人力成本；2、可靠性。由于其采用先进的传感器和数据处理技术，可以准确捕捉到光伏板的表面情况，以及周围的环境状况。通过数据分析和比对，可以及时发现光伏板存在的问题，以及预测可能出现的问题，从而为电站维护提供了更加精准的数据支持；3、灵活性。它可以在海上快速移动，适应不同的海域和天气条件，方便地对不同区域进行检测和维护；4、安全性。船只采用了先进的安全保障系统，可以保证在各种复杂环境下都能够安全航行，并且可以在发生故障时自动采取应急措施，保障安全。　5、 环保性。海上光伏检测无人船采用了环保材料和设备，可以减少对海洋环境的污染和破坏。6、多功能性。海上光伏检测无人船不仅可以进行监测和维护，还可以搭载多种不同的传感器和设备，实现多种功能，例如水质检测、海洋气象监测等。工作示意图性能指标均可定制，欢迎咨询。

千呼万唤始出来：为教育而生，MiniPIX EDU掌上光子计数X射线探测器 产品介绍：MiniPIX EDU是一款以教育教学为使用目的而设计定价的小型X射线探测器。它把现代的辐射成像技术带进课堂，让学生可以探索围绕在我们身边却看不见的电离辐射世界，可以了解不同类型辐射的来源，观察这些放射性同位素是如何在自然界和建筑、城市、工业等人造环境中移动。美国宇航局（NASA）在太空中也使用了同样的技术来监测宇航员受到的太空辐射。MiniPIX-EDU可记录非常低的放射性强度，这种强度无处不在。学生可以记录到许多普通材料物体上的放射性强度，例如吸尘器里或口罩上的一点点花岗岩、灰尘或纸袋碎片；可以在白天观察空气中放射性物质的移动；寻找宇宙μ子并查看他们的方向；看看海拔高度如何影响辐射类型的存在；可以尝试搭配豁免源，并对其发出的辐射进行屏蔽；可以检查放射性衰变的规律；可以直接观察不同的辐射类型是如何与物质相互作用的，以及随后会发生什么。将MiniPIX EDU设备插入PC的USB端口，启动软件就可以开始使用了。也可搭配专为教学应用而研发的的RadView辐射可视化软件，迷人的电离粒子图像将立刻呈现在你面前。主要特点:专为教育教学设计，与传统的X射线探测器相比，具有更高的性价比 体积小巧，形似U盘 通过USB接口连接，笔记本电脑即可运行（支持Windows，MacOS or Linux） 人性化软件操作界面 主要参数:读出芯片Timepix像素大小55x55μm传感器分辨率256x256pixels一帧动态范围11082暗电流none接口USB2.0最大帧频55fps尺寸88.9x21x10mm重量30g工作模式:类型模式精度描述帧率（读取所有像素）Event13bit/frame 1 output image: Number of Events per pixel ToT13bit/frame 1 output image: Sum of all Energies deposited in given pixel (Time Over Threshold) ToA13bit/frame 1 output image: Time of arrival of first event in given pixel 典型应用:教育：运用现代辐射成像技术的课堂每种被探测到粒子的类型都以放大的形式被呈现。可以将最感兴趣的粒子轨迹保存到日志文件中，以供之后分析。在上图中我们可以看到，在过去几天的历史图表中显示了四个类型粒子的计数。不同类型的粒子会呈现不一样的神秘图案α粒子会产生较大的圆形斑点；β射线显示为狭窄的波浪线，像“蠕虫”；γ射线会产生小点或斑点；宇宙μ子观察到为长直线。你甚至可以观察到一些更为罕见的现象:δ电子，α和β粒子序列形成的抽象花，高能质子的轨迹… 技术平台:源自捷克技术大学实验及应用物理研究所的Advacam S.R.O.，致力于在多学科交叉业务领域提供硅传感器制造、微电子封装、辐射成像探测器和X射线成像解决方案。Advacam核心的技术特点是其X射线探测器（应用Timepix芯片）没有缝隙(No Gap)，因此在无损检测、生物医学、地质采矿、艺术及中子成像方面有极其突出的表现。Advacam同NASA（美国航空航天局）及ESA（欧洲航空航天局）保持很好的项目合作关系，其产品及方案也应用于航空航天领域。北京众星联恒科技有限公司为advacam公司在中国的独家授权代理，现可提供MiniPIX样机免费试用，如有需要，请联系我司工作人员预约时间。

Film Sense FS-1&trade 多波长椭偏仪 型号：Film Sense FS-1&trade Film Sense FS-1&trade 多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就 可以获得非常精密和准确的数据。 Film Sense FS-1&trade 多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就 可以获得非常精密和准确的数据。还可以测量大多数样品的光学常 数和其他薄膜特性。Film Sense FS-1&trade 多波长椭偏仪 这款功能强大的多波长椭偏仪，售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。FS-1 可应用于研究实验室，超净间，原位工艺腔体以及工业质量控制等诸多领域 主要特点n 4 个 LED 光源：蓝色（465nm），绿色（525nm）， 黄色（580nm），红色（635nm）n 椭偏仪探测器中无可移动部件n 膜厚精密性，大多数样品精密度优于 0.001nm（1 秒获取数据），对于亚单原子薄膜精密度等于0.001nmn 集成计算机，可实现对设备控制和数据分析，自带 浏览器界面，可兼容任何现代计算机，笔记本或平 板电脑 优势n 寿命长（长达 50,000 小时），更换 LED 灯便宜，校准时 间短或无需 PM 程序n 快速测量（10ms 内获得多波长数据）和长期性能稳定n 测量准确，只有椭偏仪可以实现n 软件设置和维护简单标准 FS-1 配置n 65°入射角n 手动放置样品和调节高度n 样品尺寸zui大直径 200mm 和厚度 23mmn 样品偏转范围+/-20n 样品上光束尺寸 5 x 12 mmn 结构紧凑(180 x 400 mm) 和轻巧(4.8 kg)性能FS-1 多波长椭偏仪擅长测量膜厚范围 0-1000nm 的透明单一薄 膜的厚度和折射率。下表列出的是针对各种不同样品，包括多 层膜样品，FS-1 获得的标准测量精密度和准确性数据。 应用领域n 半导体行业：二氧化硅和氮化物，高介电和低介电 材料，非晶和多晶材料，硅薄膜，光刻胶n 光学薄膜行业：高和低指数薄膜，如 SiO2, TiO2, Ta2O5, MgF2 等n 显示屏行业：TCO（如 ITO），非晶硅薄膜，有机薄 膜（OLED 技术）n 数据存储行业：宝石，如碳膜n 工艺研发：原位表征薄膜沉积（速率和光学常数） VS 工艺条件，可兼容 MBE, MOCVD, ALD 和磁控溅射 等设备n 化学和生物：在液体细胞实验中探测亚单原子层材 料吸附n 工业：在线监测和控制膜厚 In Situ 在线测量功能n 亚单原子膜厚精密度n 多工艺条件下测定薄膜光学常数 n&k 和沉积速率，不 会破坏真空n 监测和控制多层膜结构沉积n FS-API 界面，外置软件控制（兼容 LabVIEW&trade ）n 兼容大多数薄膜沉积技术：磁控溅射，ALD，MBE，MOCVD，电子束蒸发等In Situ 在线测量 产品包括 FS-1&trade 多波长椭偏仪，带紧凑自动 mapping 样品 台，可以实现快速，准确和可靠的薄膜均匀性测量。特点和参数n 4 段波长的椭偏数据（465, 525, 580, 635 nm），寿命长 的 LED 光源，探测器内无可移动部件n 可对 0-1000nm 透明薄膜进行准确的厚度测量n 标准浓厚重复性 0.015 nmn 集成聚焦探针，标准光斑尺寸 0.8 x 1.9 mm （其他尺寸 可选）n 电动 Z 轴样品台自动准直n 灵活扫描图案编辑器n 测量参数等值线绘制聚焦光束选件 样品上光束尺寸减小到 0.8 x 1.9 mm 或 0.3 x 0.7 mm 聚焦光束检测聚焦光束检测系统包括一个 FS-1 多波长椭偏仪，带光束聚焦光学器件和一个手动位移台。该系统 非常适合用于手动检测和在图案化半导体晶圆上 进行质量控制测量。 可进行科研测量，带小尺寸光斑和相机成像功能 手动位移台，可容纳 4’，5’，6’晶圆 样品上光束尺寸 0.3 x 0.7 mm 样品上光束位置视频图像 FS-XY150n 标准晶圆 map 时间：60s（150mm 晶圆上取 49 个点）n 结构紧凑：600x600 mm, 16 kgn 样品台行程（X,Y）：150 x 150 mm, 精度：5 μmFS-RT300n 标准晶圆 map 时间：90s（300mm 晶圆上取 49 个点）n 结构紧凑：400x500 mm, 22 kgn 样品台行程：R (线性) ：150 mm, 精度：12 μmn 角度（旋转）360°，精度：0.1°

荧光滤光片（Fluorescence Filters），一般用于各种显微镜中，使人们能够更方便的观测各种荧光现象。滤光片通常用到的显微镜有荧光显微镜、激光，扫描共聚焦荧光显微镜（LSCM）、共聚焦显微镜、和全内反射荧光显微镜（TIRFM）；主要用于生命科学和生物医学领域，主要作用是在生物医学荧光检验分析系统中分离和选择物质的激发光与发射荧光的特征波段光谱。好的滤光片的特征：1. 和燃料的激发峰、发射峰匹配，且交叠小2. 截止深度深3. 自发荧光小4. 透镜面形好，利于荧光成像的提取。如果透镜表面的平整度不好，则会产生波前扭矩或楔角，波前扭矩会改变聚焦或成像位置，一般透射波前扭矩（TWD）比反射波前扭矩（RWD）对成像的影响更加直接，也会有更严格的要求。滤光片的原理：荧光滤光片一般采用单片无色透明的玻璃作为基底，在玻璃的两个表面镀膜。增反膜的厚度会选择为半波长的整数倍，此时反射叠加增强；增透膜的厚度为1/4 波长的倍数，此时投射叠加增强。滤光片组和滤光片盒子（Filter sets）滤光片在实际中一般都是以滤光片组的形式来使用的。荧光滤光片组一般由三个透镜组成：激发滤光片（EX）、二向色镜和发射滤光片(EM)，他们都至于滤光片盒中（Cube），具体结构如图所示激光滤光片的作用是使激发光能够有效的通过，而避免外界荧光波段的光线进入滤光片盒，二向色镜的作用主要是分光，反射激光使其照射样品，同时又能够让样品产生的荧光通过，达到发射滤光片，发射滤光片的作用是进一步滤掉激发光和其它杂散光，使系统得到比较纯粹的荧光信号。一）国产滤光片我司可根据客户波段需求，定制匹配相应波段参数的荧光激发块，采用国产荧光滤光片，性价比非常高。二）进口滤光——OMEGA/CHROMA显微镜荧光滤光片美国Omega 光学公司是设计及生产高性能荧光显微学用光学干涉滤光片的专业厂家，具有广泛的、为特定荧光染料专用的滤光片组合，适用于单个和多个标识显微学应用，包括GFP、FRET、多光子、量子点、Pinkel、对比影像和其它技术。我们提供用于光谱测定的频带滤光片，和用于荧光发射、电视和摄影的颜色分离的长/短通道滤光片，到应用于荧光显微镜上光谱特定区域上最佳反射和另一区域最佳透射的二向色分光镜，激光滤光片，解析滤光片；其荧光显微镜的滤光片可装配到NIKON（尼康），OLYMPUS（奥林巴斯），LEICA（徕卡），ZEISS（蔡司）等。另有多款专业摄像装置、电动载物台、荧光灯泡、图像分析软件等显微镜相关附件 ，敬请查询。

傅里叶原位红外光谱仪被广泛应用于化学科学、生命科学、材料科学、半导体、纳米技术等领域。该仪器不仅可用于测定样品或反应体系随时间、温度、压力及环境变化而变化的规律，而且能实现实时在线扫描分析，开展化学反应的机理研究。原位红外光谱仪硬件特点：干涉仪：特殊干涉仪技术保证长期检测的高稳定性和准确性，无光谱偏离和失真。良好的可靠性、好的稳定性和的抗干扰性能；光学系统：全部使用金反射镜，采用干燥密闭全合金光学台箱体，光路引出和引人口配备防雾化镀层的红外透射密封窗片，具有高稳固性和干燥防潮性能。光学台与样品仓采用独立分体设计， 超大样品仓可以扩展各种红外分析检测应用。检测器：可选高灵敏度DLATGS、电子制冷MCT、液氮制冷MCT等。固态激光器：性能稳定，使用寿命达10年以上光源：进口高性能，长寿命光源，光源具有自动休眠功能红外主机：主机所有腔体密封、干燥，全新的光路设计，可选防潮型 ZnSe分束器和采用新型密封设计，使仪器能够长时间保持内部环境干燥，减少更换干燥剂频率，尽量避免了关键核心部件受环境的影响；宽敞的样品仓可与用户的红外透射池/ATR附件/漫反射池等匹配。自动光谱质量检查、实验设置，以及遵循ASTM 标准和相关方法进行各项性能验证，包括：文档运行、检测附件与主机适配性确认、系统性能验证等，可实时显示系统当前所处的状态，给出主要元器件的电流、电压、温度值，指示出现故障原因及解决方法等多项功能检验，确保获得化质量谱图。

Film Sense FS-1&trade 多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就 可以获得非常精密和准确的数据。还可以测量大多数样品的光学常 数和其他薄膜特性。FS-1 这款功能强大的多波长椭偏仪，售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。FS-1 可应用于研究实验室，超净间，原位工艺腔体以及工业质量控制等诸多领域 主要特点? 4 个 LED 光源：蓝色（465nm），绿色（525nm）， 黄色（580nm），红色（635nm）? 椭偏仪探测器中无可移动部件? 膜厚精密性，大多数样品精密度优于 0.001nm（1 秒获取数据），对于亚单原子薄膜精密度等于0.001nm? 集成计算机，可实现对设备控制和数据分析，自带 浏览器界面，可兼容任何现代计算机，笔记本或平 板电脑优势? 寿命长（长达 50,000 小时），更换 LED 灯便宜，校准时 间短或无需 PM 程序? 快速测量（10ms 内获得多波长数据）和长期性能稳定? 测量准确，只有椭偏仪可以实现? 软件设置和维护简单标准 FS-1 配置? 65°入射角? 手动放置样品和调节高度? 样品尺寸最大直径 200mm 和厚度 23mm? 样品偏转范围+/-20? 样品上光束尺寸 5 x 12 mm? 结构紧凑(180 x 400 mm) 和轻巧(4.8 kg)性能FS-1 多波长椭偏仪擅长测量膜厚范围 0-1000nm 的透明单一薄 膜的厚度和折射率。下表列出的是针对各种不同样品，包括多 层膜样品，FS-1 获得的标准测量精密度和准确性数据。

Film Sense FS-1&trade 多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就 可以获得非常精密和准确的数据。还可以测量大多数样品的光学常 数和其他薄膜特性。FS-1 这款功能强大的多波长椭偏仪，售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。FS-1 可应用于研究实验室，超净间，原位工艺腔体以及工业质量控制等诸多领域 主要特点? 4 个 LED 光源：蓝色（465nm），绿色（525nm）， 黄色（580nm），红色（635nm）? 椭偏仪探测器中无可移动部件? 膜厚精密性，大多数样品精密度优于 0.001nm（1 秒获取数据），对于亚单原子薄膜精密度等于0.001nm? 集成计算机，可实现对设备控制和数据分析，自带 浏览器界面，可兼容任何现代计算机，笔记本或平 板电脑优势? 寿命长（长达 50,000 小时），更换 LED 灯便宜，校准时 间短或无需 PM 程序? 快速测量（10ms 内获得多波长数据）和长期性能稳定? 测量准确，只有椭偏仪可以实现? 软件设置和维护简单标准 FS-1 配置? 65°入射角? 手动放置样品和调节高度? 样品尺寸最大直径 200mm 和厚度 23mm? 样品偏转范围+/-20? 样品上光束尺寸 5 x 12 mm? 结构紧凑(180 x 400 mm) 和轻巧(4.8 kg)性能FS-1 多波长椭偏仪擅长测量膜厚范围 0-1000nm 的透明单一薄 膜的厚度和折射率。下表列出的是针对各种不同样品，包括多 层膜样品，FS-1 获得的标准测量精密度和准确性数据。

膜厚测试仪椭偏仪应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。 日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。根据应用不同，我们特别开发出5款不同的的膜厚测试仪/椭偏仪，每一款产品各具不同的特点。PHL紧凑型桌面式椭偏仪 SE-101型号SE-101重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度0.05秒/测量点光源636nm 半导体激光器测量点1mm入射角70度测量尺寸4英寸,仪器尺寸和重量250x175x218.3mm/4kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View凑型桌面式椭偏仪 SE-102型号SE-102重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度0.05秒/测量点光源636nm 半导体激光器测量点1mm入射角70度测量尺寸4英寸,1轴自动，2轴手动仪器尺寸和重量300x235x218.3mm/4kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View快速映射椭偏仪 ME-110型号ME-110重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度每分钟1000个点以上光源636nm 半导体激光器测量点0.5mm入射角70度测量尺寸6英寸仪器尺寸和重量650x650x1740mm/120kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View型号ME-110重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度每分钟1000个点以上光源636nm 半导体激光器测量点0.0055-0.5mm入射角70度测量尺寸6英寸仪器尺寸和重量650x650x1740mm/120kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View允许厚度分布的测量，例如，透明电极膜和取向膜与基底玻璃的透明基板型号ME-110-T重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度每分钟1000个点以上光源636nm 半导体激光器测量点0.5mm入射角70度测量尺寸6英寸仪器尺寸和重量650x650x1740mm/120kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View高速，高解析度的表面分布测量

用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测，填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平，确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。除传统的通过表征实验室为半导体行业提供支持的IMS Wf/SC Ultra和 SIMS 4550（四极杆 SIMS）系列外，AKONIS作为其 补充，可实现仪器设置和采集例程的完全自动化，从而可在分析灵敏度不受影响的情况下实现快速的厂内分析。AKONIS 受益于极低冲击能量（EXLIE）离子色谱柱技术（ 150 eV）的发展，与带高分辨率平台的整片晶圆处理系统相结合，可在最小 20 μm 的压焊点上进行测量。推动实现 N5 及后继制程的高产量SiGe 和 SiP 多层堆叠的高分辨率成分和快速掺杂物深度剖析无与伦比的最小 20 μm 在压焊点上的检测限将数据反馈到生产线的时间缩短了 97% 以上光片和图案化的整片晶圆测量图案识别引擎与高分辨率干涉测量平台相结合，可实现 2 μm 的位置精度基于独特材料数据库的直观recipe创建SEMI 认证（S2/S8、E4、E5、E39、E84...）低购置成本

关键特征● 关键部件均采用原装进口设备（包括：Nd: YAG激光器，前置放大器，光电倍增管，能量计等）；● 能够直观反映出光生电荷的分离方向、分离效率以及电荷寿命等动力学信息；● 研究纳秒尺度上光生电荷行为的一种有效手段，具有非接触，无损等优点；● 我公司与吉林大学王德军教授拥有着长期深入的合作，可提供仪器使用、谱图解析与数据分析等技瞬态表面光电压谱仪PL-TPV（物料表征设备）关键特征● 关键部件均采用原装进口设备（包括：Nd: YAG激光器，前置放大器，光电倍增管，能量计等）；● 能够直观反映出光生电荷的分离方向、分离效率以及电荷寿命等动力学信息；● 研究纳秒尺度上光生电荷行为的一种有效手段，具有非接触，无损等优点；● 我公司与吉林大学王德军教授拥有着长期深入的合作，可提供仪器使用、谱图解析与数据分析等技术服务。应用领域 ▲特别适用 ●较为适用 ○可以使用▲研究光生电荷分离的动力学信息● 光生电荷分离过程中的漂移● 光生电荷分离过程中的扩散▲ 研究光生电荷分离和复合过程信息● 速度快慢● 分离方向● 分离模式瞬态表面光电压谱仪PL-TPV（物料表征设备）

美国PI 公司作为科学级CCD 相机和光谱仪的领先者，经过数十载技术创新，推出世界首台全焦面零像差成像光谱仪Fergie。它采用内置高灵敏度科学级CCD 芯片的全集成式紧凑设计，最简化光谱实验硬件设置。零像差不仅最大化提高了光谱分辨率，也让成像和光谱的切换轻松自如。辅以Fergie CUBEs 模块化设计，无论是吸收、透射光谱，或是荧光、拉曼光谱，光路搭建都变得易如反掌。 LS Series棱镜型光谱仪高通量近红外光谱仪 Acton LS-785系列是棱镜型的光谱仪，光通量高，它具备f/2光学系统和抗反射镀膜棱镜，适合近红外波段的应用。f/2的入射孔径使得LS-785可以完美匹配数值孔径为0.22的光纤 （0.22 NA），其光通量是普通f/4反射型谱仪的4倍。 LS-785的棱镜系统使用了普林斯度仪器极高的抗反射膜，光栅使用了定制的金膜提高反射率，这使其成为市面上光通量非常高的近红外光谱仪。LS-785同样配置了光栅调节台，用户可以使用千分尺精准选择750-1100nm波段的频谱。 LS-785具有以下优点: 高通量f/2光学设计高透射率光学部件优秀的成像能力光栅控制台（千分尺控制）聚焦微调（千分尺控制）与普林斯顿仪器相机兼容强大的64位 LightField产品综述LS-785让用户可以缩短采集时间的同时，获得极高的光谱分辨率，适合性能指标高的拉曼光谱。结合普林斯顿仪器最新的深耗尽光谱相机，例如PIXIS或PyLoN系列，LS-785可以提供非常高的光通量和采集性能。 LS-785的常用应用包括 拉曼光谱近红外吸收谱，生物组织研究多通道谱仪显微光谱仪荧光光谱仪光致发光 Click to enlarge. Outstanding Spectral Resolution 5 cm-1 resolution accommodates a wide variety of NIR Raman applications型号规格Acton LS Series Lens Spectrographs产品参数与手册ModelFocal LengthAperture RatioResolutionDispersionGratingActon LS 785 85 mmf/2.05 cm-1with 25 μm fiber6.13 nm/mm @ 900 nmgold coated1200 g/mm

BPI光谱仪的波长范围从350nm到710nm，分辨率优于10nm。透射光谱结果可用于质量控制目的，例如比较有色镜片，以及提供有关需要添加何种色调才能与另一镜片或客户提供的样品光谱相匹配的信息。该装置是一个独立的光谱仪，带有光源，也可以通过计算机的 USB 端口连接到 PC。附带的软件需要 Microsoft Windows 操作系统。测试结果可保存到集成数据库中，也可打印到任何兼容的打印机上。BPI光谱仪还可用于检测镜片的透射特性是否符合美国和欧洲的交通信号能见度规定。设备的显示屏可显示左侧列出的所有信息。PC软件显示传输曲线，并允许将一条曲线叠加在另一条曲线上。BPI 光谱仪可提供被测材料的可见光透射率 (Tv) 和 UVA 透射率信息，以及数字颜色特性。(L*、a* 和 b*）。这为数值颜色描述提供了一种方法。L*、a* 和 b* 是我们熟悉的 CIELAB 坐标。L* 是亮度（或明度），范围从 0（黑色）到 100（白色）。a* 值从大约 -80（绿色）到 +100（红色），而 b* 值从大约 -80（蓝色）到 +100（黄色）。长度6.75 英寸宽度6.25 英寸高度5 英寸重量8.5 磅电气110 伏交流电，50/60 赫兹，1 安

智能引擎TM (SmartEngineTM, SE) 系列光谱仪 是由 CCD传感器 加上32bits RISC微控制器组成，拥有精简架构及优化之光谱分析核心。在光谱量测上，其光学架构能提供提供十分坚固及稳定的量测性能，尤其是在解析度及波长飘移上有优异的温湿度、震动、与撞击稳定性。微小化设计更是提供了各种系统整合之弹性。拉曼系统 / 环境检测 / 生医领域 之选择 :●优异的温湿度、震动、与撞击稳定性●「高速连续曝光」模式 (Continuous High-Speed Exposures)●「杂散光校正」算法（杂散光比例可达0.01％）●色温、演色性、色彩值...等参数直接算取(on-board CPU)●8种以上感测器、30种以上光栅供选择●「0」热膨胀系数光栅、双波长光栅供选择●可选择内建「Wi-Fi模组」成为无线光谱仪●全波段机种(180~1100 nm)已推出●低噪讯机种(SNR=500)已推出●短积分时间机种(0.2ms)已推出●超高分辨率机种(0.2nm)已推出●高画素分辨率机种(0.06nm/pixel)已推出●SMA905, FC/PC 接头可选配 SmartEngine (SE) 依组配 单价介于 RMB ¥ 11,600 ~ 34,900 请选择型号与数量后送出线上询价单，我们会尽快与您联系 !SE传感器选择 : 对应光谱仪机型传感器类别特性SE-3快速曝光CMOS短曝光时间之选择SE-4前照式CCD平价好品质SE-5近红外加强背照式CCD近红外表现優SE-7高画素CCD高画素分辨率SE-8快速曝光高分辨率CMOS高速曝光、高画素分辨率SE-9超高速曝光背照式CCD快速全波段SE-10超高感光背照式CCD快速传输高感光SE2xxx系列为新光学设计光谱仪，提供更高感度 :

电化学光伏电池是一种类型的光电化学电池，也称液结太阳能电池。它的辅助电极上发生的反应简单地说，就是半导体电极上光致过程的逆过程。理想情况下，通过此电池工作，光能转换为电能，溶液组成和电极材料不变，只在工作电极和辅助电极组成的回路中产生光电流。 仪器在传统电化学研究领域中，引入光谱因素，是薄膜太阳电池和染料敏化太阳电池在实验室阶段先期研究的重要设备。 产品特点高强度太阳模拟光源分光系统，消多级光谱，单色光纯度更高为光谱电化学设计全新光学系统电化学工作站与光谱分析仪器一体式结构整合，人性化设计。配备光功率计，可测单色光能量密度匹配光谱电化学研究的专用电解池及电极独立开发光谱电化学应用软件，操作更方便，功能更易扩展本仪器也可独立作为电化学工作站使用 测试项目：单色光照下的I / V曲线、I/T曲线、V/T曲线等连续光照下的光谱响应曲线技术指标：光源功率：500W光谱范围：200-1800nm（可选）波长准确度：0.2nm光强分辨率：10－5uW恒电位控制范围：± 10V恒电流控制范围：± 2.0A

关键特征● 研究纳秒尺度上光生电荷行为的一种有效手段，具有非接触，无损等优点；● 能够直观反映出光生电荷的分离方向、分离效率以及电荷寿命等动力学信息；● 我公司与吉林大学王德军教授拥有着长期深入的合作，可提供仪器使用、谱图解析与数据分析等技术服务。应用领域 ▲特别适用●较为适用 ○可以使用▲ 测量光电功能材料的表面光电压▲ 测量光电功能材料的表面光电流▲ 计算光电功能材料的光电转化效率▲ 研究开发光电气敏传感器▲ 研究光催化反应机理▲ 研究太阳能电池技术参数● 光电压测量：可测光电压＞ 100 nV 光谱波长范围：300~1000 nm 光谱分辨率：2 nm ● 光电压测量：可测光电流＞ 100 pA 光谱波长范围：300~1000 nm 光谱分辨率：2 nm ● 光伏相位谱：相检测范围：±180° 光谱波长范围：300~1000 nm ● 光电转化效率（IPCE):光谱波长范围：300~1000 nm 典型客户

BPI光谱仪的波长范围从350nm到710nm，分辨率优于10nm。透射光谱结果可用于质量控制目的，例如比较有色镜片，以及提供有关需要添加何种色调才能与另一镜片或客户提供的样品光谱相匹配的信息。该装置是一个独立的光谱仪，带有光源，也可以通过计算机的 USB 端口连接到 PC。附带的软件需要 Microsoft Windows 操作系统。测试结果可保存到集成数据库中，也可打印到任何兼容的打印机上。BPI光谱仪还可用于检测镜片的透射特性是否符合美国和欧洲的交通信号能见度规定。设备的显示屏可显示左侧列出的所有信息。PC软件显示传输曲线，并允许将一条曲线叠加在另一条曲线上。BPI 光谱仪可提供被测材料的可见光透射率 (Tv) 和 UVA 透射率信息，以及数字颜色特性。(L*、a* 和 b*）。这为数值颜色描述提供了一种方法。L*、a* 和 b* 是我们熟悉的 CIELAB 坐标。L* 是亮度（或明度），范围从 0（黑色）到 100（白色）。a* 值从大约 -80（绿色）到 +100（红色），而 b* 值从大约 -80（蓝色）到 +100（黄色）。长度6.75 英寸宽度6.25 英寸高度5 英寸重量8.5 磅电气110 伏交流电，50/60 赫兹，1 安

叶片光谱探测仪CI-710CI-700系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱；通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化；直观的光谱图像和现场数据存储,为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段。仪器特性◆非常便携，适合于室内或野外使用◆非破坏性精密地测量叶片在400~1000nm波长范围内的反射率、透射率和吸收率◆扫描速度快，灵敏度高◆USB接口连接UMPC数据处理终端◆样品类型，叶片或扁平的物体技术参数◆测量方式：非破坏性测量叶片◆测量光谱：叶片透射、吸收和反射光谱◆样品类型：叶片或扁平的物体◆检测器：CCD线性阵列探测器◆扫描波长范围：400～1000 nm ◆采样速度：3.8ms-10s◆光偏离：＜0.05%在600nm 0.10%在435nm◆分辨率：0.3～10.0nmFWHM◆采样直径：7.6 mm◆线性修正：99.8%◆*配有CI-700LP叶夹◆尺寸：89.1 x 63.3 x 34.4 cm◆*重量：290G仪器配置光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箱

关键特征● 关键部件均采用原装进口设备，包括Nd: YAG激光器、前置放大器、光电倍增管、能量计等；● 能够直观反映出光生电荷的分离方向、分离效率以及电荷寿命等动力学信息；● 研究纳秒尺度上光生电荷行为的一种有效手段，具有非接触，无损等优点；● 与吉林大学王德军教授拥有着长期深入的合作，可提供仪器使用、谱图解析与数据分析等技术服务。应用领域 ▲特别适用●较为适用 ○可以使用 ▲研究光生电荷分离的动力学信息 ● 光生电荷分离过程中的漂移 ● 光生电荷分离过程中的扩散▲ 研究光生电荷分离和复合过程信息 ● 速度快慢 ● 分离方向 ● 分离模式技术参数● Nd:YAG激光器：脉冲宽度:6~8 ns ；激光光斑尺寸:4.5 mm；激光输出能量:330 mJ@1064 nm, 160 mJ@532 nm, 60 mJ@355 nm；激光输出频率:≤20 Hz● 前置放大器：输入阻抗:100 MΩ ；输出阻抗:1 kΩ；频率:1 GHz● 数字示波器：带宽: 500 MHz；通道 :4，上升时间5 ns ● 能量计 ：范围: 10 μJ ~150 mJ

透射比曲线图表:显示透射比分布曲线(280~780nm)图表分度线:显示垂直水平分度线快速对比波段透射比:垂直分度线可显示当前波段对应透射比数值数据对比:1号2号3号镜片数据保存、调用、对比 镜片透射比互差^p%采样间隔:可设置1nm或5nm波长间隔采样样品和检测信息:样品测试机构和样品信息录入测试报告:测试报告pdf直接保存或预览打印(选配接触镜)数厠誚缳绍据頎对保存:透射比原始txt格式数据存档、调用偏光测试:无需调整角度直接获取偏光平均值(空气校准)偏光效率P%测试:可连续测试查找最大最小偏振方向透射比(起偏器校准)颜色测试:CIE色坐标(XY)，Lab色彩,“E色差计算机配置要求:Windows7/8/10/11波长范围:280nm~780nm显示精度:0.01%(透射比)，0.001(Q因子、CE色极限)紫外光源:长效氘灯(2500小时)可见光源:光谱分析卤素灯(15000小时)测试环境:开放性测试仓透射比积分球:PTFE材料(长效高性能漫反射)光谐分辨率:5nm(可选1nm)波长准确度:±0.5nm透射比示值误差:≤+2%(符合JF1106计量精度要求)透射比测量重复性:≤±1.5%(符合JF1106计量精度要求Q因子示值误差:≤±0.02(符合JF1106计量精度要求)光斑直径:5MM屈光度镜片:≤±4D(中心)测试样品类型:未切削境片，成品眼镜，一体式眼镜，防护镜电压功率:AC210~240V 50/60Hz 8OVA设备尺寸:165W*400H*235D(mm)其他推荐产品

产品简介：光谱椭偏仪SE-Glass 是一款针对玻璃盖板行业定制的专用型光谱椭偏仪，针对玻璃盖板光学镀膜行业通过集成微光斑+可视化调平系统仪消除透明基底背反测量定制开发，快速实现玻璃盖板上多层薄膜物性表征分析。光谱椭偏仪SE-Glass 广泛应用于玻璃基底山减反膜、调光膜、导电膜等薄膜的膜厚，光学常数测量，完美适用于玻璃盖板、光学薄膜等镀膜检测应用。 产品型号SE-Glass光谱椭偏仪主要特点1、针对手机玻璃盖板光学镀膜工艺定制开发专用光谱椭偏仪2、行业领先的旋转补偿器测量技术和光学建模技术3、微光斑集成设计消除玻璃/膜片基底背反影响4、可视化样品台调平模块解决3D玻璃测量定位问题5、业内独创膜片镀膜处理算法直接测量PET膜片镀膜技术参数1、自动化程度：支持自动化方案定制2、应用定位：玻璃专用型3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S等光谱4、分析光谱：380-1000nm,支持按需定制化5、单次测量时间：0.5-5s6、重复性测量精度：0.01nm

蜂鸟TM (HummingBirdTM, HB) 光谱仪 是由 CCD传感器 加上32bits RISC微控制器组成的可手持光谱仪，精密的光学架构使体积得以小型化。光谱仪收光口专利设计，可切换光纤SMA905收光或开放式收光口供客户自行设计。在光谱量测上，其光学架构传承以往系列光谱仪，并新增散热设计，能提供十分坚固及稳定的量测性能，灵活的系统孔设计更是提供了各种设备系统整合之弹性。控制电路板可视客户使用环境调整为外置加强散热。拉曼量测 / 空气检测 / 水质分析 / 工业4.0制造 - 超越智能、完美蜕变、次世代主流光谱仪:●光机小型化，可以手持进行高分辨率光学量测●包含主板体积 83mm(长) x 75.5mm(宽) x 26.75mm(高)●传承SE系列多方面的优异表现●体积重量輕化，系统整合之选择●主打机种 : 短积分时间机种(0.2ms)_蜂鸟3号 与 低噪讯机种(SNR=500)_蜂鸟5号●3种以上传感器、20种以上光栅，传感器与光栅数持续增加中●可选择搭载不同材质之光栅，如「0」热膨胀系数光栅●SMA905, FC/PC 接头可选配 HummingBird (HB) 依组配 单价介于 RMB ¥ 18,300 ~ 34,900请选择型号与数量后送出线上询价单，我们会尽快与您联系 !HB传感器选择 : 对应光谱仪机型传感器类别特性HB-3快速曝光CMOS短曝光时间之选择HB-5近红外加强背照式CCD近红外表现优HB-9超高速曝光背照式CCD快速全波段?波形比较

产品简介：SE-Mapping光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。SE-Mapping光谱椭偏仪广泛应用OLED，LED，光伏，集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。 产品型号SE-Mapping光谱椭偏仪主要特点1、全基片椭偏绘制化测量解决方案2、支持产品设计以及功能模块定制化，一键绘制测量3、配置Mapping模块，全基片自定义多点定位测量能力4、丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力5、采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)6、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集7、具备全基片自定义多点自动定位测量能力，提供全面膜厚检测分析报告8、数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料技术参数1、自动化程度：固定角+ mapping2、应用定位：检測型3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S、R等光谱4、分析光谱：380-1000nm(可扩至193-2500nm)5、单次测量时间：0.5-5s6、重复性测量精度：0.01nm7、光斑大小：大光斑2-3mm,微光斑200um8、入射角调节方式：固定角9、入射角范围：65°10、找焦方式：手动找焦11、Mapping1程：300x300mm12、支持样件尺寸：最大至300mm可选配件3真空泵4透射吸附组件

产品概述ARTUS 8是阿朗科技推出的高性能台式CCD火花直读全谱光谱仪，凭借着更高的分辨率和光效率使它在130nm~700nm的光谱覆盖范围内有一个更高的精度。ARTUS 8可适用于所有种类金属生产和加工行业，同时也满足企业研究和学术研究等实验室级别的检测要求。性能优势优异的全谱分析性能双光室设计，分别采用两套光学系统对元素进行分析，紫外波段元素（C,N,P,S）的分析性能大大提升高性能CCD传感器将130-700nm波段内的光谱信息全采集，高拓展性增加分析元素、基体，只增加分析程序软件即可长焦距帕型-龙格结构光学系统，有效谱线数量更多，获得的光谱分辨率更佳，给使用者带来更优的分析精度及检出限冲氩光室保证光室内外气压保持最少的压力差，避免了抽真空造成光室形变 更高的系统稳定性恒温控制系统，温控精度±0.1℃，是行业温控精度的2倍以上光室恒压装置即便环境变化也能保证光学部件的受力稳定，从而获得更稳定的分析结果实时校正功能避免温度的变化导致光谱位置发生飘移，使仪器高温差情况下依然稳定工作高能预热脉冲合成全数字光源，每个电源的输出脉冲可以单独控制，可针对不同基体、元素匹配最佳激发参数可靠的检测精准度新光源特殊设计工艺，使元素的检测限更低，检测精度更高，可完成ppm级元素含量的测量优化多元曲线回归（OMVR），大大增强仪器的精密度和准确度ASR （Aberrant Spark Removed ） 技术，剥离异常火花，提升分析精度高效易用的使用体验精心设计的样品激发台散热性好，清理方便开发式火花台，重力驱动式样品压杆。火花台承重32KG以上，再大的工件也可以轻松分析 一键激发停止按钮，一旦发生误操作，可以立即停止工作，保证人员和仪器的安全 智能全面的软件系统全部图形化显示，2小时即可熟练操作软件自动判定分析结果是否合格自动判定任意未知样品所属牌号（iAPS系统），十分适用未知样品的检测可选配带SQL数据库的Mini-LIMS软件具有远程网络服务功能技术参数应用领域铸造冶金金属机加工机械制造

SES水上光学测量系统是一款水色遥感表观光学特性测量系统。该系统为高精确的高光谱分析应用提供极大的方便，可在UV、VIS 和UV/VIS 范围测量辐照度、辐亮度以及光合有效辐射PAR，并可通过软件直接计算得到离水辐亮度、遥感反射率等，为水体生物光学模型提供关键参数，通过水色要素反演，可得到水体叶绿素、悬浮物质、有色溶解有机物CDOM 浓度。此外，还可用来估算浮游植物的丰度和初级海洋生产力，检测赤潮，验证卫星水色观测数据等。系统可将采集到的表观光谱信息，记录在电脑或数据存储单元上。系统配置l 光谱传感器l SES 水上测量支架l 通信线缆l 集成控制箱l 数据分析软件 控制器具备4 个RS232 和RS485 的传感器接口，并同时兼容如Modbus RTC 的各种接口协议。内置电磁阀，支持传感器的自动高压气清洗系统功能，此外，还提供网络TCP/IP 和WLAN 功能，USB 接口和6 个模拟输出通道（4~20 mA 和0~5 Vdc 输出）。内置继电器可用于超标报警和外接控制功能。低功耗、高强度外壳设计和宽度友好的界面保证系统适应于各种环境监测、饮用水监测、污水监测等各种应用场合。具备数据、图像、内部设置等各种用户需求的显示，且即插即显示，无需另外设置。IPS控制器IPS控制器有四个传感器接口，可将仪器与电脑连接起来，利用电脑作为一个控制单位来对仪器进行操作，实现在线监测。IPS每个通道可连接一个传感器并进行同步测量，同时可连接电源对仪器供电。应用领域l 离水辐亮度测量、遥感反射率测量l 水色要素反演——叶绿素、蓝藻、CDOM、悬浮物质等l 海色卫星数据印证l 湖泊、海洋水色遥感研究l 藻类水华研究、海洋生产力估算l 气候学——大气研究l 极地生物、海岸带研究l 遥感反演模型的建立

产品简介：SE-L光谱椭偏仪是一款全自动高精度光谱椭偏仪，集众多科技专利技术，采用行业前沿创新技术，配置全自动测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析。SE-L光谱椭偏仪广泛应用于半导体薄膜结构：介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜，激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件、平板显示、光伏太阳能、功能性涂料、生物和化学工程、块状材料分析等领域。 产品型号SE-L光谱椭偏仪主要特点1、高精度自动测量光学椭偏测量解决方案2、全自动变角、调焦等控制平台，一键快速测量3、软件交互式界面配合辅助向导式设计，易上手、操作便捷4、丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力5、采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)6、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集7、全自动椭偏测量技术，基于行业领先电机控制技术，全自动调整测量角度，高精度控制样件台，实现样件快速自动对准找焦8、颐光专利技术确保在宽光谱范围内，提供优质稳定的各波段光谱9、数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料技术参数1、自动化程度：自动变角2、应用定位：自动型3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S、R/T等光谱4、分析光谱：380-1000nm(可扩至193-2500nm)5、单次测量时间：0.5-5s6、重复性测量精度：0.01nm7、光斑大小：大光斑2-3mm,微光斑200um8、入射角调节方式：自动变角9、入射角范围：45-90°10、找焦方式：自动找焦11、Mapping行程：支持100x100mm(可选配)12、支持样件尺寸：最大至200mm可选配置波段选择V:380-1000nmUV:245-1000nmXN:210-1650nmDN+:193-2500nm角度选择自动:45-90°其他选择Mapping选择:100×100mm(供参考,按需定制)温控台:室温一600℃(供参考,按需定制)可选配件1温控台2Mapping扩展模块3真空泵4透射吸附组件

1产品简介Spider2000+便携式二维拉曼成像光谱仪采用如海光电自主研发的科研级微型共焦拉曼光谱仪RMS2000作为拉曼内芯，从而使得它拥有高灵敏度、高分辨率、强穿透能力以及较好的抑制荧光干扰能力。优化的光路设计可使得拉曼激光光束在通过长焦显微物镜后最小光斑可达到微米级别，可精确采集微米级样品的拉曼光谱。此外，仪器采用高精度二维自动化移动平台，可实现自动扫描mapping成像功能。Spider2000+便携式二维显微拉曼成像光谱仪配备专门为拉曼系统设计的长焦显微物镜，Spider2000+增加上光源反射式照明成像，可通过CCD相机获得样品清晰的显微明场成像，激光经过物镜后光斑接近衍射极限，克服了普通拉曼系统中收集拉曼信号的焦面稍高于或稍低于实际最佳焦面的问题，并且独特的共焦式设计使得样品荧光信号得到有效抑制，从而提高拉曼光谱质量。2产品特点高灵敏度：最低可检测到0.3%浓度无水乙醇特征峰。高分辨率：6cm-1@25μm狭缝。强大软件功能：支持mapping自动扫描、数据库识别等功能。高品质物镜，光斑可达微米级。高精度二维自动化平台。3应用领域4产品规格5应用场景试纸条扫描范围：1.5mm×30mm扫描点数：3×10采集条件：激光功率:50mW；积分时间500ms药品粉末扫描范围：11mm×11mm扫描点数：25×25采集条件：激光功率:500mW；积分时间500ms6典型图谱

型号：加热器YHP-10供应商：北京领宇天际科技有限责任公司用途：用来加热铁谱谱片,配有无级温控调节，可根据用户需要调节加热器温度。材质：不锈钢 304 材质，耐酸碱、高温。显示方式：数显恒温，调温范围:40°C~500°C 安全配备：防止超温自停器: 520°C以上自动断电。加热速率:约8分钟达 500°C时间控制：0-999分钟设置电源：220VAC,50HZ

产品简介：SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度，微光斑，可视化调平系统等高兼容性灵活配置，多功能模块定制化设计。高精度椭偏测量解决方案；超高精度、快速无损测量；支持多角度、微光斑、可视化调平系统功能模块灵活定制；丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力。广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析。 产品型号SE-VM光谱椭偏仪主要特点1、采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (380-1000nm)2、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集3、支持系列配置灵活，可根据不同应用场景支持多功能模块化定制4、数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料技术参数1、自动化程度：手动变角2、应用定位：通用型3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S、R/T等光谱4、分析光谱380-1000nm(可扩至210-1650nm)5、单次测量时间：0.5-5s6、重复性測量精度：0.01nm7、光斑大小：大光斑2-3mm,微光斑200μm8、入射角调节方式：手动变角9、入射角范围：55-75°(5°步进),90°10、找焦方式：手动找焦11、Mapping行程：不支持12、支持样件尺寸：最大至180mm可选配件1温控台2Mapping扩展模块3真空泵4透射吸附组件