压电物镜

1.标准显微物镜 注意：标准显微物镜的螺纹为4/5英寸，在卓立产品中可以配套显微物镜的产品为OMMBWJ-1AT，空间滤波器APSF13-1AT，APFP-W-XY等。显微物镜参数:参数单位消色差显微物镜放大倍率 4X10X20X(S)40X(S)60X(S)100X(S)数值孔径 0.10.250.40.650.851.25有效工作距离mm37.56.54410.650.1850.198共轭距离mm195195195195195195齐焦距离mm454545454545盖玻片厚度mm0.170.170.170.170.170.17备注：有效工作距离是指最前端透镜顶部至盖波片上表面沿轴向距离2.长工作距离物镜（进口）特点: 1.同焦距离（P.D.）分别为45 mm 和95 mm； 2.全视场像面平坦，具有非常好的消色差性能； 3.用于可见波长（400～700 nm） 长工作距离显微物镜选型表:P.D. = 45mm型号放大倍数开口数N.A工作距离（mm）焦距（mm）使用&Phi 24目镜时视场范围（mm）焦点深度（&mu m）EPL-5× 50.1311.640ø 4.8± 16.3EPL-10× 100.36.420ø 2.4± 3.1EPLE-20× 200.411.110ø 1.2± 1.7EPLE-50× 500.558.24ø 0.48± 0.9EPLE-100× 1000.822ø 0.24± 0.4P.D. = 95mm型号放大倍数开口数N.A工作距离（mm）焦距（mm）使用&Phi 24目镜时视场范围（mm）焦点深度（&mu m）SPAL-2× 50.05534.4100ø 12± 100SPAHL-5× 100.134540ø 4.8± 40SPAL-10× 200.283420ø 2.4± 20SPAHL-20× 500.293110ø 1.2± 10SPAHL-50× 1000.4220.54ø 0.48± 43.紫外/红外用物镜（进口）说明： 1.近紫外用物镜可用于YAG（3）355nm 波长； 2.近红外用物镜可用于飞秒（770～790 nm）波长； 3.为方便同轴观察以及光轴调整，在450～700 nm波 长，近紫外用物镜和近红外用物镜都有很好的透过率； 紫外/红外用显微物镜（SIGMA）选型表:型号放大倍数开口数N.A.工作距离（mm）焦距（mm）使用波长（nm）视场（mm）PAL-20-NUV× 200.41710350~700± 16.3PAL-50-NUV× 500.73.54350~700± 3.1LMPAL-20-NIR× 200.4517.210450~790± 1.7LMPAL-50-NIR× 500.83.84450~790± 0.94.反射式物镜（进口）说明： 1.反射式物镜是把一面凹面镜和一面凸面镜组合而 成的反射物镜，是利用光的反射原理而设计的聚 光光学系统； 2.可以用于350 nm～7µ m 的波长； 3.遮光率：约36% 4.反射膜为Al+MgF2 反射式物镜（SIGMA）选型表型号放大倍数开口数N.A.工作距离（mm）焦距（mm）使用波长（nm）视场（mm）OBLR-10× 100.21619.9350~7000ø 1.0OBL-20A× 200.35710350~7000ø 0.5OBL-30× 300.4156.7350~7000ø 0.34OBLR-40A× 400.493.55350~7000ø 0.25

压电 ⼤ 范围扫描运动 — Carrier.S100-OB.Z室温 压电运动⽅ 案 —“Carrier. 系列“ ⼤ ⾏ 程扫描载物台 — 精密光学，半导体表征Carrier.S100-OB.Z 物镜⾃ 动对焦扫描台产品特⾊ &bull 两维度XY 扫描运动 200 um × 200 um；&bull 闭环定位精度优于 1nm；&bull 最⼤ 负载 500 g；&bull 针对光学显微镜-超分辨定制化解决⽅ 案；&bull ⽀ 持⽆ 磁( .NM)和⾼ 真空( .UHV)选件升级Carrier.S100-OB.Z 物镜⾃ 动对焦扫描台 — 技术参数可选版本 ⇨ 正常版本.NM 绝对⽆ 磁版本；.HV， ⾼ 真空版本 .UHV ，超⾼ 真空版本；1运动⽅ 向Z 轴2⾏ 程100 um3线性度0.02%4摇摆 / 俯仰30 urad5内置传感器电容式传感6传感器噪⾳ 0.3 nm7Z ⽅ 向分辨率，开环0.1 nm8稳定时间 (90%位置到达)15 ms0.4 N/um9刚性10共振频率(⽆ 负载)650 Hz11共振频率( 150 g 负载)275 Hz12整体重量270 g13不锈钢304 ，铝合⾦

标准显微物镜标准显微物镜的工作距离： 195消色差显微物镜相关参数： 参数单位消色差显微物镜型号X4 X10 X20 X40 X60 X100 放大倍率4 10 20(S) 40(S) 60(S) 100(S)(OIL) 数值孔径(N.A) 0.1 0.25 0.4 0.65 0.85 1.25 工作距离(W.D.) mm 37.5 2.043 2.0 0.6 0.185 0.195 共轭距离mm 195 195 195 195 195 195 齐焦距离mm 45 45 45 45 45 45 盖玻片厚度mm 0.17 0.17 0.17 0.17 0.17 0.17 注1：标准显微物镜的螺纹为4/5英寸注2：S--弹簧物镜 OIL--油浸物镜

有标准显微物镜安装螺纹，可固定显微物镜。其上的燕尾槽可与调整架上的燕尾座配合，装卸方便。

日本西格玛长工作距离显微物镜可以使用于同轴观察系统或激光导入光学系统等，是无限共轭的长工作距离物镜。可用于显微镜观察，也可用于可见激光的会聚。?可见谱区（400?00nm）内校正色差。?EPL/EPLE物镜结构轻巧，用于自动对焦等，能够提高物镜驱动机构（SFS-OBL/SFAI-OBL）的响应速度。注意：?将物镜使用于激光加工时，请将入射光束直径（1/e2）扩展到瞳径的一半左右时使用。入射光束过细时，不能得到很小的聚光光斑，而且激光的能量密度会变高，还有可能损伤物镜。?使用物镜进行激光加工时，加工溅出的粉末可能会弄脏物镜的镜面。请确保充分的工作距离（WD）或插入薄的保护镜片，不要弄脏物镜。?倍率为使用f＝200mm成像镜时的数值。使用其他厂商的成像镜时，倍率有可能不同。首先要确认使用成像镜的焦距，从成像镜焦距和物镜焦距的比例来求出实际倍率。外形图技术指标透过率波长特性（参考数据）

压电物镜定位器OPP120SM采用了 CEDRAT标准放大压电致动器和一个用于保持物镜垂直方向精确运动的导座组成。APA实现了行程和硬度之间的平衡，因此非常适用于快速共焦显微镜。与物镜之间的接口可以根据要求定制，并可配备涡流传感器。参数单位OPP120SM型号V- OPPSM120备注-传感器SG,ECS主动轴TZ最大空载位移[Tz]um140最大转动[Rx, Ry]urad25电压范围V-20…150分辨率nm14硬度N/um0.71高度(Z 轴)mm50.0尺寸mm65*40质量g180空载共振频率(在致动方向)负载=50gHz600负载响应时间ms1.14电容 (每个电气接口)uF3.15机械接口(有效负载)物镜接口 M25 *0.75(指定)机械接口(框架)显微镜接口(最大 M25 *0.75)电气接口1RG 178B/U 同轴电缆

P73系列压电物镜定位器是专门为物镜聚焦显微而设计的，采用无回差柔性铰链并联导向机构设计，物镜补偿量较小，具有高聚焦稳定性，物镜定位器装入显微检测/测量或者观测装置可以带动物镜头聚焦提高精度，可与多种高分辨率的显微镜配合使用。P73.Z500系列压电物镜定位器为大行程压电物镜定位器，Z轴直线运动范围可达550μm，采用柔性铰链设计机构，无摩擦，运动直线性好且闭环型号定位精度高。分离式螺纹适配器设计，可适配多种型号的显微镜，广泛应用于大范围显微成像、双光子显微镜等领域。P73物镜定位器与物镜之间通过适配器连接，将物镜快速锁定在预期位置。多种螺纹牙可选，如M27×0.75、M26×0.75、M26×1/36"、M25×0.75、W0.8×1/36"等，也可定制，便于与显微镜集成安装。P73压电物镜定位器可匹配蔡司、尼康、奥林巴斯、徕卡 等多种标准镜头。它也可以通过适配器与手动调节台相结合 使用。 特性 • Z向运动，行程550μm • 承载0.4kg • 毫秒级响应时间 • 闭环重复定位精度高 • 聚焦稳定性好

产品描述PFB-050U/100U是重载设计直接驱动型的压电陶瓷物镜聚焦平台，是专门用于显微镜物镜的精确定位设计。典型应用为半导体晶圆切割领域，它设计行程为50/100μm的两种规格。便于用户选择适合的产品。PFB-050U/100U的应用范围包括：Z向移动，3D成像，自动对焦或与我们提供的XY纳米位移台设备一起使用。PFC-050U/100U本体由铝，钢和黄铜制成，闭环配有稳定性的传感器采用全闭环配置。黄铜安装环可以轻松更换，以使每个物镜都适合PFC纳米定位器。可用的标准产品包括RMS、M25、M26、M27、M32、M38等，也可以按需定制。本系列产品可匹配蔡司、尼康、奥林巴斯、徕卡等多种标准镜头。零间隙，高精度柔性铰链导向系统可实现更好的聚焦稳定性。它们的刚性可实现高负载能力，可带动较大物镜的高动态定位和扫描。可选的应变测量反馈闭环操作版本，采用高分辨率应变测量位置传感器，具有高精度和可重复的运动，也补偿压电陶瓷的蠕变特性，闭环装置可以用于开环或闭环控制。产品特性—位移：50μm/100μm（闭环）—螺纹尺寸：W0.8x1 / 36“至M38x0.75—适用于质量达1Kg专用物镜—高重载型应用设计—高动态应用选配功能—可定制转接装置及固定方式—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可选择定制其它螺纹规格应用领域—半导体晶元切割、半导体测试、生物技术—自动聚焦系统、测量技术—干涉测量、筛选—3D成像、共聚焦显微镜—光学圆盘显微镜、超分辨率显微镜 结构原理 响应特性 典型应用PFB-050U/100U系列技术参数

产品描述PFC-030U是重载设计的压电陶瓷物镜聚焦平台，是专门用于显微镜物镜的精确定位设计。典型应用为半导体晶圆切割领域，它设计为30μm的行程。PFC-030U的应用范围包括：Z向移动，3D成像，自动对焦或与我们提供的XY纳米位移台设备一起使用。PFC-050U/100U本体由铝，钢和黄铜制成，闭环配有稳定性的传感器采用全闭环配置。。黄铜安装环可以轻松更换，以使每个物镜都适合PFC纳米定位器。可用的标准产品包括RMS，M25，M26，M27、M32、M38等，也可以按需定制。本系列产品可匹配蔡司、尼康、奥林巴斯、徕卡等多种标准镜头。零间隙，高精度柔性铰链导向系统可实现更好的聚焦稳定性。它们的刚性可实现高负载能力，可带动较大物镜的高动态定位和扫描。可选的应变测量反馈闭环操作版本，采用高分辨率应变测量位置传感器，具有高精度和可重复的运动，也补偿压电陶瓷的蠕变特性，闭环装置可以用于开环或闭环控制。产品特性—位移：30μm（闭环）—螺纹尺寸：W0.8x1/36“至M32x0.75—适用于质量达1Kg专用物镜—超紧凑型设计高谐振频率选配功能—可定制转接装置及固定方式—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可选择定制其它螺纹规格应用领域—倒置/正立显微镜—表面扫描和分析、AFM显微镜—生物技术（例如细胞扫描）—光束聚焦用于印刷过程—半导体测试设备 结构原理 响应时间 典型应用PFC-030U系列技术参数

产品描述PFV-600U/800U是长行程压电陶瓷物镜聚焦平台，是专门用于显微镜物镜的精确定位及有长距离定位操作而设计的产品。PFV-600U/800U的应用范围包括：Z向移动，3D成像，自动对焦或与我们提供的XY纳米位移台设备一起使用。PFV-600U/800U本体由铝，钢和黄铜制成，闭环配有稳定性的传感器采用全闭环配置。转接环可以轻松更换，以使每个物镜都适合PFV-600U/800U纳米定位器。可用的标准产品包括RMS，M25，M26，M27、M32等，也可以按需定制。本系列产品可匹配蔡司、尼康、奥林巴斯、徕卡等多种标准镜头。零间隙，高精度柔性铰链导向系统可实现更好的聚焦稳定性。它们的刚性可实现高负载能力，可带动较大物镜的高动态定位和扫描。可选的应变测量反馈闭环操作版本，采用高分辨率应变测量位置传感器，具有高精度和可重复的运动，也补偿压电陶瓷的蠕变特性，闭环装置可以用于开环或闭环控制。可选附件转接环，方便用户安装到指定设备中。产品特性—位移：600~1100μm—螺纹尺寸：W0.8x1/36“至M32x0.75—适用于质量达300g物镜—超紧凑型长行程设计—高精度柔性铰链机械结构选配功能—可定制转接装置及固定方式—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可选择定制其它螺纹规格应用领域—倒置/正立显微镜—表面扫描和分析、AFM显微镜—生物技术（例如细胞扫描）—光束聚焦用于印刷过程—半导体测试设备 结构原理 叠堆形式 典型应用PFV-600U/800U系列技术参数

产品描述PFV-080U压电物镜定位系统是为微调微物镜而开发的，运动为110 μm（开环）。PFV-080U的分辨率非常高，实际上仅受电源电压噪声的限制。非常适合高精度定位及具有纳米分辨率的应用。蔡司，徕卡，尼康，奥林巴斯等的所有标准螺纹都可用于PFV-080U的显微镜侧或物镜侧。采用分离式螺纹适配器，将PFV-080U系统安装到显微镜上非常容易，将显微镜侧螺纹环拧入显微镜，并用螺钉将镜头定位系统安装在该环上，由于其尺寸紧凑较小，因此非常集成在系统设备中。PFV-080U压电物镜定位系统采用压电陶瓷驱动，采用零间隙，高精度柔性铰链导向系统使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用高精度位移传感器闭环，具有更高的精度、线性度，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。为了避免漂移和迟滞现象，PFV-080U还提供了集成的应变仪测量系统(SGS)。特殊的集成式预载设计具有很小的角度偏差、高度平行的大运动范围、高共振频率等特点。产品描述了避免漂移和迟滞现象，PFV-080U还提供了集成的应变仪测量系统(SGS)。特殊的集成式预载设计具有很小的角度偏差、高度平行的大运动范围、高共振频率等特点。产品特性—位移：80μm（闭环）—螺纹尺寸：W0.8x1/36“至M27x0.75—适用于质量达300 g的微型物镜—超紧凑型设计—高谐振频率选配功能—可定制转接装置及固定方式—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可选择定制其它螺纹规格应用领域—倒置/正立显微镜—表面扫描和分析、AFM显微镜—生物技术（例如细胞扫描）—光束聚焦用于印刷过程—半导体测试设备、白光干涉 结构原理 步长图像 典型应用PFV-080U系列技术参数

压电大范围扫描运动 Carrier.OB100HL.C➡ 针对显微物镜的大负载、高动态、紧凑型解决方案，用于显微成像、自动对焦等应用&bull Z 方向运动范围 100 um；&bull 最快稳定时间(90%位置稳定)10 ms以内；&bull 闭环定位精度优于 1 nm；&bull 最大负载 2 kg；&bull 控制器兼容多场科技MC-Archimedes Series；&bull ⽀ 持无磁 (.NM) , 高真空 (.HV) 和超高真空(.UHV)选件升级；压电扫描台，物镜型高负载，兼容无磁高真空——详细参数：压电扫描台，物镜型高负载，兼容无磁高真空——尺寸图：多场科技“压电扫描台物镜型"解决方案Carrier.OB.系列主要针对精密光学，半导体表征等应用场景，核心特点包括：&bull Z方向单一运动方向，行程覆盖50, 100 & 400 um&bull 快速运动稳定，10 ms内完成&bull 支持高负载物镜选项；提供多种物镜转接接口&bull 支持第三方软、硬件控制，实现自动对焦&bull 支持电容(.C) 位置传感&bull 最高分辨率达到0.2 nm&bull 支持无磁 (.NM), 高真空 (.HV) 和超高真空 (.UHV) 选件升级&bull 控制器兼容多场科技 Motion Controller - Archimedes Series

压电大范围扫描运动 Carrier.OBxxx.C➡ 针对显微物镜的大负载、高动态、紧凑型解决方案，用于显微成像、自动对焦等应用&bull Z 方向运动范围 50-400 um；&bull 最快稳定时间(90%位置稳定)10 ms以内；&bull 闭环定位精度优于 1 nm；&bull 控制器兼容多场科技MC-Archimedes Series；&bull ⽀ 持无磁 (.NM) , 高真空 (.HV) 和超高真空(.UHV)选件升级；压电扫描台，物镜型高负载，兼容无磁高真空——详细参数：压电扫描台，物镜型高负载，兼容无磁高真空——尺寸图：Carrier.OB.050CCarrier.OB.100CCarrier.OB.200CCarrier.OB.400C多场科技“压电扫描台物镜型"解决方案Carrier.OB.系列主要针对精密光学，半导体表征等应用场景，核心特点包括：&bull Z方向单一运动方向，行程覆盖50, 100, 200 & 400 um&bull 快速运动稳定，10 ms内完成&bull 支持高负载物镜选项；提供多种物镜转接接口&bull 支持第三方软、硬件控制，实现自动对焦&bull 支持电容(.C) 位置传感&bull 最高分辨率达到0.2 nm&bull 支持无磁 (.NM), 高真空 (.HV) 和超高真空 (.UHV) 选件升级&bull 控制器兼容多场科技 Motion Controller - Archimedes Series

显微镜物镜扫描仪高精度亚纳米物镜扫描台/定位台！上海昊量推出的物镜扫描台采用压电陶瓷直推，以柔性铰链为导向使物镜扫描台具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点，采用硅位移传感器，物镜扫描台相比于传统的电容式位移传感器，物镜扫描台硅传感器使平移台拥有更高的精度和线性度以及较低的底噪。物镜扫描台的精度可以达到亚纳米，底噪低至10pm。上海昊量光电设备有限公司推出的压电平移台旨在满足超精密定位应用的需求。该平移台采用压电陶瓷驱动，以柔性铰链为导向使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用硅高精度位移传感器，与电容位移传感器相比拥有更高的精度、线性度和低底噪。由于其具有较高的精度、线性度和较低的底噪等优点，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。AU-FOCHS采用管状设计，专门用于显微镜物镜快速高精度定位。该物镜扫描台可提供行程可达到100μm，精度可达到0.1 nm，谐振频率可达到1175Hz。它由铝、钢和黄铜构成，配备硅传感器，可提供皮米级的稳定性。以上优点使其拥有广泛的应用，例如，激光加工、显微成像、体容积成像，等还可以与相机系统结合使用实现自动对焦。AU-FOC是一款专门用于显微镜物镜准确定位的设备。该物镜扫描台可提供100/200/300/500μm不同行程。该物镜扫描台由铝和黄铜构成，结合硅传感器可提供皮米量级的稳定性。以上两款物镜扫描台的黄铜安装环可以轻松更换，因此几乎所有的物镜都可以与这两款物镜扫描台结合使用。可用的物镜大小有RMS, M25, M26, M27 和 M32.显微镜物镜扫描台产品特点：l 高分辨率（0.01nm）l 高速度，谐振频率可达1175Hzl 采用硅传感技术l 超低底噪l 柔性铰链导向显微镜物镜扫描台主要应用：l 自动聚焦系统l 共焦显微镜l 3D成像l 超分辨显微镜l 半导体计量学 显微镜物镜扫描台产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

显微镜载物台（电动/压电）姓名：李工(William)电话：（微信同号）邮箱：昊量光电设备有限公司推出的平台专业设计普遍适用于市面上大部分的正置/倒置显微镜。可以供手动平台、电动平台、压电与步进电机混合运动平台、手动与压电集成平台。平台每个轴都采用闭环反馈控制，可以提供更高的分辨率和可重复性。Z轴采用压电陶瓷平台，可提供纳米级的定位精度，行程从150μm-500μm可选。昊量光电设备有限公司可适用于显微镜的平台主要有以下几种产品。1）倒置显微镜平台以下列表中的平台适用于市面绝大部分的显微镜平台，可兼容的显微镜型号如下：Leica – DMI3000, DMI4000, DMI5000, DMI6000, DMIRB, DMIRBE, DMIRE, DMIRE2Nikon – Diaphot Eclipse TE2000, Eclipse TiOlympus – BX50WI, BX51WI, BX61WI, IX70, IX71, IX81Zeiss – Axiovert 200, Axio Observer产品图片描述行程AU-MS-2000FT是一款提供XY方向精确定位的载物台。该平台经过特殊设计，利用十字滚珠滑块，高精度丝杠和零间隙微型齿轮直流伺服电机驱动可提供高分辨率和重复精度的平稳运动。并且该平台可与ASI的任何Z轴平台匹配使用提供X,Y,Z的精确定位。X轴 120mm Y轴75mm详细参数见数据单1AU-MS-2000 XY平台是专用于显微镜平台的XY轴定位的平台，该平台采用闭环反馈直流伺服电机驱动，可提供高分辨率和和高重复精度的定位，并可以与任何ASI的Z轴平台组成三维定位系统X轴 120mm Y轴110mm详细参数见数据单2AU-MS-2500XY是一款大行程、超薄的 XY定位平台，X轴运动行程可达250mm，X轴和Y轴采用闭环直流伺服电机驱动，并带有手动操纵杆进行大范围移动，并可以ASI的Z轴产品配合使用。控制灵活可以通过USB和RS-232串口控制该平台，并提供软件包X-Y轴 250mmx75mm详细参数见数据单3 AU-PZM-2000 是一款在Z轴提供精确定位的平台。可以直接配合显微镜上原始的OEM手动平台使用，可提供100-500μm不同的行程。载物台的顶板可以接受适用于任何样品的标准K尺寸载玻片插件，即载玻片，皮氏培养皿，多孔板等。Z：150μm 300μm 500μm详细参数见数据单4AU-PZ-2000 XYZ是一款提供X,Y,Z三维定位的平台，其中X,Y方向采用闭环反馈的直流伺服电机驱动，Z轴采用压电平台提供纳米级别分辨率，行程150μm；300μm；500μm可选。X-Y轴120mmx110mmZ：150；300；500μm详细参数见数据单5AU-PZ-2000FT是一款平顶三维定位平移台，三个维度都采用闭环反馈，可实现高分辨率和和重复定位精度。Z轴采用压电平移台，可实现纳米分辨率定位，载物台的顶板可以接受适用于任何样品的标准K尺寸载玻片插件，即载玻片，皮氏培养皿，多孔板等X-Y轴120mmx110mmZ：150；300；500μm详细参数见数据单6AU-US-2000是一款经过特殊设计的可实现高稳定、高分辨率及可重复性，应用于超分辨显微镜。该平台可适配ASI任何Z轴定位的平台。如果对定位精度要求较高，平台和可匹配压电平台用于Z轴聚焦。X-Y轴 50x50mm 至120mmx75mmZ轴 150；300；500μm详细参数见数据单72）正置显微镜平台以下平台包含不同维度的平台，及压电与步进电机结合的平台，并匹配市面上的立式显微镜，主要型号如下：Leica – Aristoplan, DM4000, DM4500, DM5000, DM6000, DMLB, DMRB, DMRP, DMRXPNikon – Eclipse 80i, Eclipse 90i, Eclipse 800, Eclipse 1000Olympus – AX70, BX41, BX50, BX51, BX60, BX61Zeiss – AxioImager, Axiolab, Axioplan, Axioplan II, Axiophot I, Axiophot II, Axioskop, Axioskop II, Axioskop FS II产品图片描述行程AU-FPT-2000聚焦平台是一款经过特殊设计是用来提供高分辨率和重复精度的X,Y,Z三个维度的定位， 该平台采用闭环反馈避免由改变方向和多次步进造成的空回和丢步。X-Y轴120mmx75mmZ轴12mm or 25mm详细参数见数据单8AU-MS-2000是一款质量较轻的平台。经过专项设计，在保证平台精度的前提下质量只有常规平台的3/4，可更快达到热平衡。通过高精度旋转编码器闭环反馈。 可通过操作杆或者通过USB或RS-232串口通过控制器控制平台移动。此外该平台可适配ASI任何Z轴平台，组成三维定位系统。X-Y轴100mm x 100mm详细参数见数据单9MS-2000S小型位移平台可提供X和Y两个方向的精确定位，分别可提供100x100mm的行程，但平台尺寸仅为20x23x162.5px，采用闭环反馈设计，分辨率可达到亚微米。 X-Y轴100mm x 100mm详细参数见数据单10AU-MS-4400是专门为大型立式显微镜设计的一款三维精密定位位移平台。可适用于Leica DMR-series, the Nikon Eclipse 80i, the Olympus BX series, and the Zeiss Axioplan, Axioskop 2, and Axio Imager等显微镜。该平台采用闭环设计，配备手动操纵杆，可轻松操纵平台移动。并可匹配ASI推出的所有Z轴平台。X-Y轴100mm x 100mmZ轴12mm or 25mm详细参数见数据单11AU-MS-9500是一款225mmx125mm大行程的位移平台，可一次扫描八个25x75mm的载玻片，同时可提供较高的分辨率和可重复精度。X-Y轴225mm x 125mm详细参数见数据单12 AU-PZMU-2000是精确的Z轴压电定位平台，AU-PZMU-2000包括ASI经过验证的压电Z顶板，该顶板安装在独立的外壳中。 该系统可以安装在任何水平表面上，或直接安装在立式显微镜的手动XY平台上。AU-PZMU-2000接受适用于任何样品的标准K尺寸载玻片，例如载玻片，皮氏培养皿，多孔板等Z轴150μm，300μm，500μm详细参数见数据单13AU-PZU-2000是一款步进电机与压电平台结合的精密定位系统，其中XY轴采用闭环反馈伺服电机精确控制，Z轴为压电平台，可提供纳米级的分辨率，已经不同行程可选。X-Y轴120mm x 110mmZ轴150μm，300μm，500μm详细参数见数据单143）Z轴压电平移台产品图片描述行程IPZ-3000FT系列平台是压电定位平台，提供Z方向精确定位，适用于大多数具有标准的K-尺寸（110x160mm）开口的显微镜载物台。IPZ-3000FT可用于安装多种样品架，用于固定小碗、载玻片、小腔体等。Z轴150μm，300μm，500μm详细参数见数据单15Z-INSERT的优点在于可以适用于任何标准K型框架的大多数的电动载物台，该平台提供了一个127.5x85mm的通光孔，可以接受任何具有SBS标准尺寸的微孔板。该平台与以下类型平台兼容：ASI – MS-2000 Flat Top XY/XYZ motorized stage (a special version is needed for non-flat top stage)Marzhauzer – Scanning Stage SCAN IM 120×80Prior – K type FrameLudl – BioPrecison2Zeiss – K type FrameNikon – Ti XY motorized stage (requires the Nikon Adapter plate, in order to reduce the aperture)Olympus – IX3-SSU (requires the Olympus adapter plate, in order to reduce the aperture)Leica – Regular 3-plate stageZ轴100μm；200μm；300μm；500μm详细参数见数据单16Z-INSERT K-TYPE是Z-INSERT的精简版本，平台的长和宽与K型样品架（160x110mm）完全相同，平台拥有83.6x54mm的开口，可以与大多数拥有K型框架的倒置、正置显微镜兼容。Z轴100μm；200μm；300μm详细参数见数据单17Z-INSERT-INC是Z-INSERT的特殊版本，带有嵌入式的环境腔，为满足长时间的活细胞成像提供适宜的环境，CO2输入可以连接各种调节器（例如Okolab, Tokai Hit, Pecon），并可以灵活拆卸腔体盖。Z-INSERT-INC位移台具有Z-INSERT的所有优点，这意味着它可以直接安装在第三方制造商提供的大多数电动位移台上Z轴100μm；200μm；300μm；500μm详细参数见数据单18Z-INSERT NIKON 是Z-INSERT的特殊版本，它可以直接用在NIKON Ti XY电动平台上，它提供标准的K型开口（160x110mm），并与我们提供的K型样品架相匹配。Z轴100μm；200μm；300μm；500μm详细参数见数据单194）物镜扫描台产品图片描述行程F-POM是一款压电驱动的物镜扫描台，可提供500μm行程。Z轴150μm；300μm；500μm详细参数见数据单20FOCHS.100 是一款专用于显微镜物镜高速定位的压电平台，其采用管状设计，可提供100微米行程，被广泛用于Z轴聚焦、激光加工和自动聚焦等。平台安装环可以简单更换，可适配：RMS、M25, M26, M27 和 M32 的物镜Z轴100μm详细参数见数据单21FOC是专用于显微镜精密定位的平台，可提供100,200,300μm不同行程，采用硅闭环反馈，可提供皮米量级分辨率。其安装环易更换可匹配不同类型物镜，Z轴100μm；200μm；300μm详细参数见数据单225）大型位移平台除了标准的用于生物学的位移平台外，ASI公司也推出来一些特殊领域使用的大型位移平台，和龙门自动平台，例如：用于工业检测的大型显微镜Nikon L200 / 300系列或Olympus MX51 / 61系列产品图片描述行程AU-M系列是大行程二维位移平台，满足半导体检测及其它需要大型程平台的应用。该平台可提供150mm；200mm；250mm；300mm不同的行程。X-Y轴150mmx150mm；200mmx200mm；250mmx250mm；300mmx300mm详细参数见数据单23GTS系列龙门位移平台提供三维闭环平台，可提供不同行程，标准品XY方向可提供380mm，Z轴可提供100mm，并可以根据应用选择不同行程的平台。X-Y轴380 mm x 380 mmZ轴100mm详细参数见数据单24MS-8000是与大型工业检查显微镜配合使用的。例如Nikon L200 / 300系列或Olympus MX51 / 61系列。平台中空设计允许底光照明，平台可提供玻璃盖板或者其它材质载物台，包含用于检测的镜片真空吸盘。详细参数见数据单256）精密旋转平台PRS-1000是一款可提供连续旋转的平台，超薄的设计可以使该平台集成到MS-2000系列XY平台上，组成多维运动平台。标准版本具有直径为95mm的通孔，可以使用任何ASI的C大小的插件。该平台也可用于真空应用。详细参数见数据单267）手动平台MIC-2500是一款为匹配压电扫描平台而设计的手动平台，该平台配置千分尺手动旋钮，可提供25mm的行程，并可安装XYZ三轴压电平移台。详细参数见数据单278）手动压电混合定位平台（压电平台型号选择与配置请联系工程师）压电平台可以与配套的手动位移平台使用，也可以提供完全的混合集成定位平台用于倒置光学显微镜（蔡司，奥林巴斯，尼康，徕卡），混合定位系统，由手动位移平台和压电平台组成，其中手动位移平台通常适配市面上大部分的光学显微镜，可提供X，Y两个维度的移动，行程可达到25mm，可进行位移粗调，压电平台进行亚纳米分辨率的精确定位与扫描。

压电 ⼤ 范围扫描运动 — Carrier.S100-OB.Z室温 压电运动⽅ 案 —“Carrier. 系列“ ⼤ ⾏ 程扫描载物台 — 精密光学，半导体表征Carrier.S100-OB.Z 物镜⾃ 动对焦扫描台产品特⾊ &bull 两维度XY 扫描运动 200 um × 200 um；&bull 闭环定位精度优于 1nm；&bull 最⼤ 负载 500 g；&bull 针对光学显微镜-超分辨定制化解决⽅ 案；&bull ⽀ 持⽆ 磁( .NM)和⾼ 真空( .UHV)选件升级Carrier.S100-OB.Z 物镜⾃ 动对焦扫描台 — 技术参数可选版本 ⇨ 正常版本.NM 绝对⽆ 磁版本；.HV， ⾼ 真空版本 .UHV ，超⾼ 真空版本；1运动⽅ 向Z 轴2⾏ 程100 um3线性度0.02%4摇摆 / 俯仰30 urad5内置传感器电容式传感6传感器噪⾳ 0.3 nm7Z ⽅ 向分辨率，开环0.1 nm8稳定时间 (90%位置到达)15 ms0.4 N/um9刚性10共振频率(⽆ 负载)650 Hz11共振频率( 150 g 负载)275 Hz12整体重量270 g13不锈钢304 ，铝合⾦

标准显微物镜标准显微物镜的工作距离： 195消色差显微物镜相关参数： 参数单位消色差显微物镜型号X4 X10 X20 X40 X60 X100 放大倍率4 10 20(S) 40(S) 60(S) 100(S)(OIL) 数值孔径(N.A) 0.1 0.25 0.4 0.65 0.85 1.25 工作距离(W.D.) mm 37.5 2.043 2.0 0.6 0.185 0.195 共轭距离mm 195 195 195 195 195 195 齐焦距离mm 45 45 45 45 45 45 盖玻片厚度mm 0.17 0.17 0.17 0.17 0.17 0.17 注1：标准显微物镜的螺纹为4/5英寸注2：S--弹簧物镜 OIL--油浸物镜

物镜西格玛的显微镜物镜符合JIS标准，且焦距短，具有高NA，能够用于把激光光束转换成发散光束。特点l 用于显微镜，在可见谱区（400?700nm）校正了色差。l OBL-40，OBL-60的透镜前端部分和玻片接触时，弹簧收缩，透镜前端可以缩回镜筒内。l OBL是有限共轭物镜。l 选用时，请使用160mm机械镜筒。l 从物镜安装面到像面的距离为150mm。其他信息?物镜(OBL)用于可以校正激光光束波面变形的空间滤波器（SFB）。?备有固定物镜用支架（LHO）。?备有适配器（TAT-180Ａ）可以安装到十字调节支架（TAT）。

Nikon CFI Plan Fluor物镜1）提供高对比度荧光观察方法2）是多显微技术的理想选择3）透射率高，从UV到IRNikon CFI Plan Fluor物镜从紫外到红外的透射率高，整个视野都有的平滑度。Nikon CFI Plan Fluor是亮视野、荧光、偏振或DIC显微镜等各种显微技术理想的多功能物镜。这些显微物镜适合高对比度的荧光观察或显微照相等应用。放大率数字孔径 NA工作距离 (mm) 产品号4X0.1317.2#88-37810X0.316#88-37920X0.52.1#88-38040X0.750.66#88-38160X0.850.3#88-382Nikon CFI Super Fluor物镜1）UV透射率2）高数值孔径设计3）采用低自体荧光材料Nikon CFI Super Fluor物镜可为低于340nm的紫外应用提供优异的透射率，包括用于荧光染料indo-1、fura-2和fluo-3或笼式化合物的光诱导激活。Nikon CFI Super Fluor物镜采用低自体荧光材料设计，配备高数值孔径，可保证清晰、明亮的荧光图像。这些显微物镜已针对短波进行了优化以改善信噪比放大率数字孔径 NA工作距离 (mm)产品号4X0.215.5#88-37410X0.51.2#88-37520X0.751#88-37640X0.90.3#88-377Nikon CFI60远场校正亮场镜头1）的颜色再现能力2）工作距离长，数值孔径值NA大3）High Contrast with Minimal Flare4）Strain FreeNikon CFI60无限远校正明场物镜符合的成像要求，是Nikon光学技术的之作。由于采用了60mm齐焦距以及较粗的直径，Nikon CFI60无限远校正明场物镜可提供更高的亮度，以及极限的工作距离和数值孔径NA（聚光能力）。这款物镜旨在校正整个视场上的横向和轴向色差，从而获得兼有高对比度和高分辨率的图像。Dimensions5X10X20X50X100XA29.0mm29.0mm29.0mm30.0mm30.0mmB36.3mm42.4mm40.9mm48.9mm55.4mmC20.0mm17.0mm22.5mm21.5mm21.5mm放大率数字孔径 NA焦距 FL (mm) 工作距离 (mm) 产品号5X0.154023.5#58-51510X0.32017.5#58-51620X0.41019#58-51750X0.6411#58-518100X0.824.5#58-519Nikon 干涉测量镜头1）适合非接触光学压型2）可选Michelson 和 Mirau 镜头3）200mm镜筒远场校正设计干涉测量镜头可用在非接触光学压型测量设备上，通过此镜头可得到表面位图和表面测量参数等。也可用来检测表面粗糙度，测量精度非常高，在一个波长之内。一束光通过分光镜，可将光直接射向样品表面和内置反光镜。从样品表面反射的光线通过再结合，就产生了干涉图案。与Mirau镜头比起来，Michelson镜头拥有更长的工作距离，更宽的视场和更大的焦深。Mirau镜头用在需要高倍率和/或大数值孔径的场合。采用Nikon 200mm镜筒(#58-520)的话可将镜头直接装配到C接口相机上。放大率数字孔径 NA焦距 FL (mm) 工作距离 (mm) 产品号2.5X0.0758010.3#59-3105X0.13409.3#59-31110X0.3207.4#59-31220X0.4104.7#59-31350X0.5543.4#59-314100X0.722#62-788

无限远校正平场消色差系列物镜, 适用于各种检测方法专业应用与其他系统配件不同，物镜的性能决定了显微镜的成像品质。无论观察组织样品、细胞样品或整个生物体，多种因素将共同决定哪种显微镜物镜是您的理想选择。蔡司拥有生产优质光学元件的丰富经验，能帮助您找到适合的物镜。具有出众的色彩修正能力和视场平滑度, 提供油浸选项.

有标准显微物镜安装螺纹，可固定显微物镜。其上的燕尾槽可与调整架上的燕尾座配合，装卸方便。

标准物镜还是订制开发型物镜？除了一流的标准应用物镜之外，徕卡显微系统还提供的更多的物镜选择，包括为特定应用优化特性的物镜。例如，用于活细胞成像的水镜和油浸渍物镜、用于多光子激发的色差校正物镜、用于透明化样本的物镜，以及从周围组织分离并获取单个细胞或染色体的激光显微切割用的物镜。物镜类别视场平坦度聚焦绝对值应用消色差物镜最大23毫米红色和蓝色波长之间（2 种颜色）≤ 2x 景深可见光谱范围内的标准应用半复消色差物镜最大25毫米红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）≤ 2x 景深可见光谱范围内较高需求的应用复消色差物镜最大25毫米红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）≤ 1x 景深可见光谱及更大范围内最高需求的应用徕卡复消色差物镜徕卡复消色差物镜适用于可见光谱及更大范围内最高规格的应用，提供最大25毫米的视场平坦度。红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）的聚焦差绝对值小于1.0x物镜景深。我们提供三类复消色差物镜：PL APOPL APO 物镜——最高级的专业等级物镜。这类物镜可提供传统物镜无法达到的成像质量。平场复消色差物镜为需要快速色度变化和结构共定位的应用提供完美的轴向和横向色度匹配。PL APO 物镜可提供最大25毫米的无瑕疵像场平坦度。极高的数值孔径确定了物理上可达到的极限分辨率。适用于多光子成像和 CARS 的 PL IRAPOPL APO 物镜在可见光波长范围内得到校正，现在，PL IRAPO 物镜是一套新的用于改进多光子成像（MP）的专用物镜。红外复消色差物镜在从至少700纳米到1300纳米的范围内得到色差校正，在可见光和红外波长范围内具有高透射率，470-1200纳米范围内的透射率大于85%。因此，这类物镜非常适合非线性成像，如多色多光子成像，包括OPO（光学参量振荡器）和 CARS（相干反斯托克斯拉曼散射光谱仪）激发。共聚焦扫描用的 PL APO CS 和 CS2在复消色差物镜产品类别中，徕卡提供专为匹配共聚焦扫描 (CS) 的最高规格而设计的 PL APO 物镜。最新的 PL APO CS2 系列在先前的 CS 系列基础上做了进一步的改进。新型徕卡 CS2 物镜能够在整个视场范围内进行完美的色差校正，可实现不同荧光团的精确共定位。此外，数值孔径和自由工作距离也达到新的极限。徕卡 CS2 物镜的设计随着徕卡 TCS SP8 和 STELLARIS 平台的创新紫外光学器件共同发展，以提供最稳定的紫外色差校正性能。为了在活细胞等含水样本中实现无像差成像，徕卡显微系统开发了一系列卓越的高分辨率水浸物镜。为了获得最佳成像结果，这些物镜需要配置一个校正环，使各光学器件适应不同的盖玻片厚度、温度变化和样本不均匀性。手动调节校正环需要一定的时间和经验，而且因其他设备而无法直接接触物镜时，手动调节有很大难度。徕卡 motCORRTM 物镜的电动校正功能简化了校正环的调节，并减少了相关培训工作量。徕卡 motCORRTM 物镜的遥控器可以快速调节光学器件，且不会干扰样本。了解更多Objective Finder(物镜搜索）

标准物镜还是订制开发型物镜？除了一流的标准应用物镜之外，徕卡显微系统还提供的更多的物镜选择，包括为特定应用优化特性的物镜。例如，用于活细胞成像的水镜和油浸渍物镜、用于多光子激发的色差校正物镜、用于透明化样本的物镜，以及从周围组织分离并获取单个细胞或染色体的激光显微切割用的物镜。物镜类别视场平坦度聚焦绝对值应用消色差物镜最大23毫米红色和蓝色波长之间（2 种颜色）≤ 2x 景深可见光谱范围内的标准应用半复消色差物镜最大25毫米红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）≤ 2x 景深可见光谱范围内较高需求的应用复消色差物镜最大25毫米红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）≤ 1x 景深可见光谱及更大范围内最高需求的应用徕卡消色差物镜徕卡消色差物镜是可见光谱范围内针对的标准应用高性能物镜，提供最大25毫米的视场平坦度 (OFN)。红色波长和蓝色波长（2 种颜色）之间的聚焦差绝对值小于2x物镜景深。HI PLANHI PLAN 物镜可在两个波长范围内提供出色的色差校正性能，并且确保整个视场的平坦度。甚至图像的边缘也很清晰，无需重新聚焦。HI PLAN 物镜的视场 (OFN) 可达到25毫米，并提供相差型号。徕卡 HI PLAN 物镜提供出色的校正性能，并且性价比非常高。N PLANN PLAN 物镜进一步加强了消色差，具有最大25毫米的出色视场平坦度。N PLAN 适用于透射光和 DIC 应用，N PLAN PH 用于相差显微镜。N PLAN EPI 物镜适合入射光应用，包括微分干涉对比应用 (DIC)。N PLAN EPI BD 型号也可以用作暗场物镜。N PLAN EPI 入射光物镜提供出色的图像对比度和安全的工作距离。FL PLANFL PLAN 物镜是新一代通用型物镜，具有出色的色差校正性能和最大25毫米的视场平坦度 (OFN) 。FL PLAN 物镜采用最先进的镀膜技术，针对荧光应用有很高的透射率。可实现所有的相差方法。FL PLAN 物镜针对荧光、相差和 微分干涉观察模式进行了优化。了解更多Objective Finder(物镜搜索）

离轴抛物镜(Off-axis parabolic mirror)产品简介尖丰光电提供各种规格的离轴抛物镜l 采用铝膜基片反射镜l 备有15°、30°、45°、60°或90°的离轴可选l 可选择铝膜和金膜与标准抛物反射镜的不同之处在于，离轴抛物金属膜反射镜可在特定角度下直射并聚焦入射平行光，并且支持无限远焦点。这些反射镜普遍应用为Schlieren和MTF系统的平行光管，而镀金膜离轴抛物反射镜则用于FLIR测试系统。注意：由于表面粗糙度为175?，因此这种反射镜不适用于需要低散射的可见光和紫外应用。规格参数：离轴角度15°、30°、45°、60°、90°直径 mm1' ' 、2' ' 、3' ' 、4' ' 直径公差 mm+0.00/-0.38焦距公差 %±1表面形貌 RMS1λ父焦距 PFL mm0.5' ' 、1' ' 、1.5' ' 、2' ' 、3' ' 、4' ' 有效焦距 EFL mm1' ' 、2' ' 、3' ' 、4' ' 、5' ' 、6' ' 、7' ' 、8' ' 表面粗糙程度 (Angstroms)175 RMS衬底铝 6061-T6镀膜保护金膜/铝膜波长范围 um0.7 - 2波长范围 um700 - 2000

标准物镜还是订制开发型物镜？除了一流的标准应用物镜之外，徕卡显微系统还提供的更多的物镜选择，包括为特定应用优化特性的物镜。例如，用于活细胞成像的水镜和油浸渍物镜、用于多光子激发的色差校正物镜、用于透明化样本的物镜，以及从周围组织分离并获取单个细胞或染色体的激光显微切割用的物镜。物镜类别视场平坦度聚焦绝对值应用消色差物镜最大23毫米红色和蓝色波长之间（2 种颜色）≤ 2x 景深可见光谱范围内的标准应用半复消色差物镜最大25毫米红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）≤ 2x 景深可见光谱范围内较高需求的应用复消色差物镜最大25毫米红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）≤ 1x 景深可见光谱及更大范围内最高需求的应用徕卡消色差物镜徕卡消色差物镜是可见光谱范围内针对的标准应用高性能物镜，提供最大25毫米的视场平坦度 (OFN)。红色波长和蓝色波长（2 种颜色）之间的聚焦差绝对值小于2x物镜景深。HI PLANHI PLAN 物镜可在两个波长范围内提供出色的色差校正性能，并且确保整个视场的平坦度。甚至图像的边缘也很清晰，无需重新聚焦。HI PLAN 物镜的视场 (OFN) 可达到25毫米，并提供相差型号。徕卡 HI PLAN 物镜提供出色的校正性能，并且性价比非常高。N PLANN PLAN 物镜进一步加强了消色差，具有最大25毫米的出色视场平坦度。N PLAN 适用于透射光和 DIC 应用，N PLAN PH 用于相差显微镜。N PLAN EPI 物镜适合入射光应用，包括微分干涉对比应用 (DIC)。N PLAN EPI BD 型号也可以用作暗场物镜。N PLAN EPI 入射光物镜提供出色的图像对比度和安全的工作距离。FL PLANFL PLAN 物镜是新一代通用型物镜，具有出色的色差校正性能和最大25毫米的视场平坦度 (OFN) 。FL PLAN 物镜采用最先进的镀膜技术，针对荧光应用有很高的透射率。可实现所有的相差方法。FL PLAN 物镜针对荧光、相差和 微分干涉观察模式进行了优化。徕卡半复消色差物镜徕卡半复消色差物镜适用于较高需求的可见光谱范围应用，提供最大25毫米的视场平坦度。红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）的聚焦差绝对值小于 2.5x物镜景深。徕卡半复消色差物镜标有 FLUOTAR标签：PL FLUOTAR (PL-FL)PL FLUOTAR 是性能强大的通用物镜，至少在三种波长范围内具有出色的色差校正性能，适用于荧光成像。计算25毫米视场的视场平坦度 (PL)。这类物镜采用特种玻璃制成，可实现最大透射率。因而成为荧光显微镜中性能强大的光子收集器。徕卡 FLUOTAR 系列配有各种应用优化的校正环 (CORR)，可以补偿外部影响，如温度、盖玻片厚度和浸渍介质。徕卡复消色差物镜徕卡复消色差物镜适用于可见光谱及更大范围内最高规格的应用，提供最大25毫米的视场平坦度。红色波长和蓝色到绿色波长（3 种颜色）的聚焦差绝对值小于1.0x物镜景深。我们提供三类复消色差物镜：PL APOPL APO 物镜——最高级的专业等级物镜。这类物镜可提供传统物镜无法达到的成像质量。平场复消色差物镜为需要快速色度变化和结构共定位的应用提供完美的轴向和横向色度匹配。PL APO 物镜可提供最大25毫米的无瑕疵像场平坦度。极高的数值孔径确定了物理上可达到的极限分辨率。适用于多光子成像和 CARS 的 PL IRAPOPL APO 物镜在可见光波长范围内得到校正，现在，PL IRAPO 物镜是一套新的用于改进多光子成像（MP）的专用物镜。红外复消色差物镜在从至少700纳米到1300纳米的范围内得到色差校正，在可见光和红外波长范围内具有高透射率，470-1200纳米范围内的透射率大于85%。因此，这类物镜非常适合非线性成像，如多色多光子成像，包括OPO（光学参量振荡器）和 CARS（相干反斯托克斯拉曼散射光谱仪）激发。共聚焦扫描用的 PL APO CS 和 CS2在复消色差物镜产品类别中，徕卡提供专为匹配共聚焦扫描 (CS) 的最高规格而设计的 PL APO 物镜。最新的 PL APO CS2 系列在先前的 CS 系列基础上做了进一步的改进。新型徕卡 CS2 物镜能够在整个视场范围内进行完美的色差校正，可实现不同荧光团的精确共定位。此外，数值孔径和自由工作距离也达到新的极限。徕卡 CS2 物镜的设计随着徕卡 TCS SP8 和 STELLARIS 平台的创新紫外光学器件共同发展，以提供最稳定的紫外色差校正性能。为了在活细胞等含水样本中实现无像差成像，徕卡显微系统开发了一系列卓越的高分辨率水浸物镜。为了获得最佳成像结果，这些物镜需要配置一个校正环，使各光学器件适应不同的盖玻片厚度、温度变化和样本不均匀性。手动调节校正环需要一定的时间和经验，而且因其他设备而无法直接接触物镜时，手动调节有很大难度。徕卡 motCORRTM 物镜的电动校正功能简化了校正环的调节，并减少了相关培训工作量。徕卡 motCORRTM 物镜的遥控器可以快速调节光学器件，且不会干扰样本。专用物镜针对某些特殊样品的观察，对显微镜头的技术要求很高，通常需要使用专门优化的物镜。徕卡显微系统针对这类应用提供广泛的专用物镜选择。例如：高数值孔径的 TIRF 全内反射物镜适用于激光显微切割的紫外 350 纳米高透射率物镜适用于重要脑切片膜片钳应用的专用物镜，能够通过惰性材料浸渍物镜测量单个离子通道用于（活体）组织深层神经元组织切片生物学结构可视化的红外优化多光子物镜色差校正性能得到改进优化后可同时使用 405 纳米和可见光到深红波长激发的物镜。与 DLS TwinFlect 反射镜盖兼容，适用于数字光片 (DLS) 检测的物镜。适用于纳米显微镜的 STED WHITE 专用物镜：这些专用物镜具有出色的色差校正性能，可确保整个可见光谱范围内激发和 STED PSF 的最佳叠加。具有合适的样本介质折射率的水、甘油和多浸渍物镜，可用于较厚样本的无像差成像徕卡自动水镜加水器可在实验过程中自动提供水浸了解更多Objective Finder(物镜搜索）

货号：KM0051供应商：广州科适特科学仪器有限公司现货状态：5只保修期：1年数量：不限规格：UPLFLN10，20X,40X，60X，UPLSAPO100XO一直以来，奥林巴斯高性能萤石物镜，油浸物镜具有兼容性强，光学性能优异，高荧光通光率，超高分辨率，匹配各种光学系统的特点，为广大用户推崇和认可。可称为显微成像的利器。这些物镜具有40倍、60倍或100倍的放大倍率。在整个可见光谱内，这些物镜都能平场成像。由于具有高数值孔径和高分辨率。RMS40X-PFO，RMS50X-PFOD，RMS100X-PFO和RMS100X-POFD为平场萤石设计，而RMS100X-O为平场消色差设计。主要特点如下：1.油浸物镜，用于近红外和可见光2.无限远校正平场萤石或平场消色差设计3.RMS60X-PFOD和RMS100X-PFOD上有可变光圈，用于暗场显微4.RMS（0.800"-36）螺纹5.设计用于套管透镜的焦距为180 mm6. 45.06 mm齐焦距离

产品描述PFR150系列超薄型XY（Z）多轴纳米定位压电平台，可用于与倒置显微镜的标准大范围纳米定位压电平台集成在一起。载物台具有较大的孔径，可容纳行业标准的样品架/微孔板、便于进行进行活细胞研究。PFR150系列为研究人员提供了对Z轴的快速，高精度控制，是反卷积，3D重建和共聚焦显微镜的理想选择；尤其适用于需要活细胞的应用。与其他仅移动一个物镜的压电聚焦设备不同，PFR150可以在载物框架位置使用，从而确保不失去共焦性。PFR150系列的闭环行程为80~200 μm，可与蔡司、尼康、奥林巴斯、莱卡等显微镜配合使用。其中压电平台，压电控制器和专接板均单独出售。可选的应变测量反馈闭环操作版本，采用高分辨率应变测量位置传感器，具有高精度和可重复的运动，也补偿压电陶瓷的蠕变特性，闭环装置可以用于开环或闭环控制。可选附件转接环，方便用户安装到指定设备中。产品特性—位移：80μm/150μm（闭环）—中空尺寸：83×93 mm—适用于质量达1000g样品扫描—嵌入型设计—并联结构设计具有高谐振频率选配功能—可定制转接装置—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可选择定制其它固定方式及培养皿支架应用领域—超分辨率显微镜—表面扫描和分析、测量技术—筛选、生物技术—自动聚焦系统—共聚焦显微镜 结构原理 响应特性 典型应用PFR150-XYZ100U/200U系列技术参数

单物镜相位扫描三维立体测量工业内窥镜随着内窥检测技术的发展，人们已经不再满足于将“观察图像、定性分析”作为检查的唯一内容，如何用准确的数据描述发现的缺陷，成为人们输出高质量检测结论的必要条件。于是在观察、拍照的基础上，缺陷测量功能逐渐丰富起来，比较测量、阴影测量、双物镜测量都是曾经辅助检查人员进行量化分析的测量技术，本文为您介绍更为先进的、搭载了单物镜相位扫描三维立体测量技术的韦林内窥镜 Everest Mentor Visual iQ，该测量型内窥镜不仅具有CCD成像的清晰画质，而且从测量效率和准确性方面都更上了一个台阶。单物镜相位扫描三维立体测量技术简介：一、原理：利用结构光对被检测区域表面进行主动扫描，通过反射光携带的相位信息，对被检测对象的表面轮廓进行三维立体建模，利用3D点云成像使缺陷的轮廓特征更加清晰。二、优势：&bull 更准确。通过三维立体建模构建的3D点云图，可多角度旋转观看，实时检查测量选点，提高测量精度，减少不必要的停机时间、降低成本，提高运行安全性；&bull 更快捷。用一个镜头即可完成观察和测量，无需更换镜头和重新定位缺陷，节省工作时间，提高检测效；&bull 更丰富。测量模式多样化，在传统长度、面积、多线段长度、点到线距离、深度等测量模式的基础上，新增了区域深度剖面测量、测量平面、涡轮叶片与机匣间隙自动测量等测量模式。对于每种模式的说明请参见下文。单物镜相位扫描三维立体测量技术的多种测量模式：&bull 长度测量：测量选定的光标点之间的直线距离；&bull 面积测量：测量同一平面上多个光标围成区域的面积；&bull 多线段长度测量：沿曲线或锯齿状路径放置多个光标，测量总长度；&bull 点到线距离测量：先由两点确定一条直线，再选择一个点，测量该点到直线的垂直距离；&bull 深度测量：先由三点定义一个参考平面，第四个点置于平面上方或下方，测量点到参考平面之间的距离；&bull 深度剖面测量：从任意视角，通过参考平面上沿两点确定一个剖面，并自动识别zui深点或zui高点；&bull 区域深度剖面测量(选装)：扫描一个区域内，一系列由三个光标确定的深度剖面的剖面，并确定剖面的最高点或最低点；&bull 测量平面(选装)：测量平面与其他测量方式结合使用，例如，结合面积测量判断叶片边缘缺失大小，结合点到线测量判断叶片边缘损伤，结合深度剖面测量光标点无法在参考平面定位的区域；&bull 涡轮叶片与机闸间隙自动测量(选装)：可自动测量涡轮叶片机闸之间的间隙，并自动识别最大，最小间隙；&bull 自动重复测量：使用同一测量模式测量不同零件时选择此功能，则可在完成一次测量后，直接按相同测量模式开始测量。单物镜相位扫描三维立体测量技术的现场检测实拍图：当测量已经成为工业内窥镜检测的一项重要内容时，很多传统的测量技术有时可能已无法满足检测的需求，更快捷、更准确的三维立体测量技术才能实现测量的真实价值，用可靠的测量数据，让检测不仅“可视化”，而且“数量化”、“准确化”。韦林单物镜相位扫描三维立体测量工业内窥镜 Everest Mentor Visual iQ，带您享受真正的三维立体测量带来的检测优势。

Mitutoyo 远场校正长工作距离物镜工作距离长，100倍时6mm复消色差光学设计整个像场平场结构通用规格兼容的管透镜 :Focal Length: 200mm生产商:Mitutoyo安装螺纹:M26 x 36 TPI波长范围 (nm):435 - 655Mitutoyo 的物镜世界，它制订了长工作距离的显微镜光学的行业标准。其使用了一种新的方法解决了工作距离和光学参数的矛盾，而这种方法是其他同行所想不出来的。设计一个更大更长的显微物镜（95mm共扼距）可以使得设计简单，为了尽可能保持较高的NA值和对比度，镜片全部设计成平场复消色差结构。复消色差物镜是要对红光、蓝光和黄光进行矫正，而普通的消色差镜头只对红光和蓝光进行矫正，平场复消色差镜头的价格不菲，但是如果大批量生产的话，成本会降的几乎比消色差物镜的价格还低。而且所有的镜片都是去过应力的。优化过的亮场（平行照明到同轴光照明），这些镜头是线形照明的理想选择。对于一个无限远矫正系统，需要有第二个镜头。所有状态的放大倍率是基于一个焦距为200mm的接口，安装螺纹：M26 x 0.706 pitch (36 TPI)。M PLAN APO SL系列超长工作距离，可用于亮场检测100X时工作距离为13mm平场复消色差设计整个视场像面平坦颜色再现性优良转接镜头附件转接镜头附件和C接口螺纹适配器可将Mitutoyo 物镜固定在其它机械结构上。爱特梦特光学至今仍为Mitutoyo物镜的主要来源，如有需要高水准的产品，请与我们联系。产品信息放大率NAFL (mm)WD (mm)产品编码1X0.025200.0011.0#58-2352X0.055100.0034.0#46-1425X0.1440.0034.0#46-1435X0.2140.0025.5#34-2477.5X0.2126.6735.0#66-38310X0.2820.0034.0#46-14410X0.4220.0015.0#58-23620X0.2810.0030.5#46-39820X0.4210.0020.0#46-14550X0.424.0020.5#46-39950X0.554.0013.0#46-14650X0.754.005.2#58-237100X0.552.0013.0#46-401100X0.702.006.0#46-147100X0.902.001.3#58-238技术信息Stock No.M Plan ApoABCDEFW.D.#58-2351X84.0-38.0-41.034.011.0#46-1422X61.01.427.524.732.234.034.0#46-1435X61.01.625.023.032.234.034.0#66-3837.5X60.0-25.024.032.234.035.0#46-14410X61.02.028.2-32.234.034.0#46-14520X75.01.529.2-32.234.020.0#46-14650X82.01.529.2-32.234.013.0#46-147100X89.04.729.217.832.234.06.0Stock No.M Plan Apo HRABCDEFW.D.#34-2475X HR69.53.724.8-32.234.025.5#58-23610X HR80.07.529.026.037.039.015.0#58-23750X HR89.82.028.2-32.234.05.2#58-238100X HR93.72.028.2-32.234.01.3Stock No.M Plan APO SLABCDEFW.D.#46-39820X SL64.51.524.824.032.234.030.5#46-39950X SL74.53.925.223.532.234.020.5#46-401100X SL82.01.423.922.032.234.013.0Mitutoyo NIR,NUV,和UV 远场校正物镜全新设计的M Plan NIR HR 和 M Plan UV镜头M Plan NIR HR 镜头提高了分辨率M Plan UV 镜头 在266nm 和550nm 进行优化通用规格生产商:Mitutoyo安装螺纹:M26 x 36 TPI工作温度 (°C):-5 to +45Mitutoyo的物镜世界，它制订了长工作距离的显微镜光学的行业标准。其使用了一种新的方法解决了工作距离和光学参数的矛盾，避免使用过时的同行仍在使用的方法。设计一个更大更长的显微物镜（95mm齐焦）使得设计简单化。对于一个远场校正系统，需要使用二级转接镜头（或转接管）。所有标称的放大倍率是基于焦距为200mm的转接镜头。可选6个系列：M Plan Apo(单独列出)，M Plan Apo HR，M Plan Apo SL，M Plan NIR，M Plan NIR HR，M Plan NUV，以及M Plan UV。Mitutoyo的NIR，NUV，以及远场校正长工作距镜头结合了标准M Plan Apo和M PLAN APO SL系列的优点，并扩展了光谱范围。NIR物镜的校正范围从480nm到1800nm,可用在半导体和电信方面，以及激光切割和普通的Nd:YAG激光。HR系列提高了数值孔径NA，分辨率也有了进一步的提高。可与7X NIR精密变焦镜头和NIR相机配套使用。NUV和UV系列的镜头用在倍频，三倍频，四倍频Nd:YAG性能优良。M PLAN NIR 系列校正了红外辐射可用于从可见光到近红外光谱工作距离长，可用于亮场检测从480nm到1800nm校正了色差，在焦深范围内可对焦可用于激光打标和激光切割电路板M PLAN NIR HR 系列在标准M PLAN NIR物镜的基础上提高了分辨率比NIR HR 50X亮度提高了2.4X， 比NIR HR 100X亮度提高了2X比NIR HR 50X分辨率提高了155%，比NIR HR 100X分辨率提高140%不属于常规产品，无固定交货时间M Plan Apo NIR B 系列更优异的光学性能，可在420至1100nm的范围中清晰观测532nm和1064nm的YAG激光波长高透射率25.5mm的超长工作距离，为NIR系列中最长的工作距离，能够显著改善操作性M PLAN NUV 系列校正近紫外辐射可用在从近紫外到可见光谱工作距离长，可用在亮场检测上从355nm到620nm经过色差校正，焦深范围可调M PLAN UV系列在266nm和500nm 波长处校正可用在亮场检测，倍频，4倍频Nd:YAG激光切割与Mitutoyo FS70L4显微镜或MT-L4 Tube Lens配套使用不属于常规产品，无固定交货时间更多详情请与我们联系附带转接镜转接镜和C接口适配器可用来与Mitutoyo物镜配套使用爱特蒙特仍旧是MITUTOYO物镜的生产商，由于本产品需求量很大，若您有需要，请尽快与我们联系。产品信息放大率NAFL(mm)WD(mm)波长波长范围(nm)产品编码5X0.1440.0037.5532, 1064nm480 - 1800#46-40220X0.4010.0019.98532, 1064nm480 - 1800#37-55010X0.2620.0030.5532, 1064nm480 - 1800#46-40320X0.4010.0020.0532, 1064nm480 - 1800#46-40450X0.424.0017.0532, 1064nm480 - 1800#46-405100X0.502.0012.0532, 1064nm480 - 1800#46-40650X0.654.0010.0532, 1064nm480 - 1800#56-98220X0.4010.0025.5532, 1064nm420 - 1064#89-35050X0.424.0025.5532, 1064nm420 - 1064#89-351100X0.702.0010.0532, 1064nm480 - 1800#56-98310X0.2820.0030.5355, 532nm355 - 620#86-17620X0.4010.0017.0355, 532nm355 - 620#46-40750X0.424.0015.0355, 532nm355 - 620#46-408100X0.502.0011.0355, 532nm355 - 620#46-40950X0.654.0010.0355, 532nm355 - 620#86-17710X0.2520.0020.0266, 355, 532nm-#86-17520X0.3610.0015.0266, 532nm-#56-32050X0.404.0012.0266, 532nm-#56-32180X0.552.5010.0266, 532nm-#56-322技术信息Stock No.M Plan NIRABCDEFW.D.#46-4025X NIR57.50-23.8023.0032.2034.0037.50#46-40310X NIR64.501.0025.2024.8032.2034.0030.50#46-40420X NIR75.00---32.2034.0020.00#46-40550X NIR78.00-24.4024.0032.2034.0017.00#46-406100X NIR83.00-25.0024.6032.2034.0012.00#56-98250X NIR HR85.00---37.0039.0010.00#56-983100X NIR HR85.00-28.0027.0037.0039.0010.00#89-35020X NIR B69.50---37.0037.0025.50#89-35150X NIR B69.50---37.0037.0025.50#37-550*20X NIR LCD75.02---32.2034.0020.35Stock No.M Plan NUVABCDEFW.D.#86-17610X NUV64.50-25.2024.8032.2034.0030.50#46-40720X NUV78.00---32.2034.0017.00#46-40850X NUV80.00---32.2034.0015.00#46-409100X NUV84.001.8025.0024.0032.2034.0011.00#86-17750X NUV HR85.00---37.0039.0010.00Stock No.M Plan UVABCDEFW.D.#86-17510X UV75.00---32.2034.0020.00#56-32020X UV80.00---32.2034.0015.00#56-32150X UV83.00---32.2034.0012.00#56-32280X UV85.00-22.70-32.2034.0010.00*LCD 20X parfocal length is 95.37Mitutoyo玻璃厚度补偿远场校正物镜1）远场校正、平场复消色差的设计2）能透过3.5mm厚的玻璃来观看目标3）超长工作距离Mitutoyo玻璃厚度补偿远场校正物镜非常适用于通过玻璃为一系列广泛的亮场检测显微镜应用进行成像，包括用于检测LCD、半导体、平面电视屏幕，以及在真空中成像的应用。这些G Plan APO物镜可用于一系列广泛的生命科学应用，如透过盖玻片或琼脂、水和养分等介质所进行的成像。Mitutoyo玻璃厚度补偿远场校正物镜具有的色彩重现性，并可确保在整个视场范围内提供平面的像面。数字孔径 NA焦距 FL (mm)工作距离 (mm)产品号0.281029.42#58-1750.5413.89#87-217Mitutoyo视频显微镜设备(VMU)#86-799 + 物镜1）设计用于M26 x 0.706远场校正物镜2）2/3"传感器尺寸3）线内照明接口Mitutoyo视频显微镜设备(VMU)用于将/microscopy/infinity-corrected-objectives/远场校正物镜连接至C接口相机，以快速轻松地完成高功率显微镜系统设置。Mitutoyo视频显微镜设备(VMU)提供1X放大倍率，而其具有的线内照明接口可程度地提高对比度，以及产生比落射照明还要简单的照明。此外，VMU为可见光谱到NIR光谱的范围优化，因此也非常适合与可调光圈搭配使用，以在无需调整相机快门或增益的情况下控制光通量。标题产品编码Mitutoyo 手动转台#86-589VIS-近红外线 三丰立式视频显微镜#86-799VIS-近红外线 三丰横式视频显微镜#89-621Video Microscope Unit VMU-V Widefield#34-547Nd:YAG 线激光，垂直Mitutoyo视频显微镜#89-622

日本西格玛长工作距离显微物镜可以使用于同轴观察系统或激光导入光学系统等，是无限共轭的长工作距离物镜。可用于显微镜观察，也可用于可见激光的会聚。?可见谱区（400?00nm）内校正色差。?EPL/EPLE物镜结构轻巧，用于自动对焦等，能够提高物镜驱动机构（SFS-OBL/SFAI-OBL）的响应速度。注意：?将物镜使用于激光加工时，请将入射光束直径（1/e2）扩展到瞳径的一半左右时使用。入射光束过细时，不能得到很小的聚光光斑，而且激光的能量密度会变高，还有可能损伤物镜。?使用物镜进行激光加工时，加工溅出的粉末可能会弄脏物镜的镜面。请确保充分的工作距离（WD）或插入薄的保护镜片，不要弄脏物镜。?倍率为使用f＝200mm成像镜时的数值。使用其他厂商的成像镜时，倍率有可能不同。首先要确认使用成像镜的焦距，从成像镜焦距和物镜焦距的比例来求出实际倍率。外形图技术指标透过率波长特性（参考数据）