脉搏测量仪

FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG MS-FROG 代表 Multi-Shot Frequency Resolved Optical Gating。FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG基于二次谐波发生，使其可靠且紧凑。它是专门为具有亚 nJ 脉冲能量的激光源开发的。它允许测量从 4 fs 到 80 ps 的脉冲。高扫描速度允许进行实时操作测量和优化。MS-FROG-SP 在精细扫描模式下的分辨率为 50 阿秒，因此可以测量超短脉冲和长脉冲。我们的 MS-FROG 集成了专门为 FROG 测量开发的内置光谱仪。它们保证了脉冲表征应用的高光谱分辨率和最佳性能。此外，它们完全可以根据您的激光规格进行配置。最重要的是我们的专有算法允许立即从每个记录的光谱中提取信息，从而实时重建您的脉冲！与所有Femto Easy产品一样，MS-FROG 易于安装和使用。产品特性用户友好界面：无需校准，也无需调整用途广泛：适用于不同波长范围脉冲测量脉冲宽度测量范围：4 fs到80 ps）高灵敏度（亚nJ脉冲）用户友好且功能强大的软件（STAR）精细扫描模式下的分辨率为 50as提供光纤连接头选项（FC / APC，FC / PC）FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG参数规格：MS-FROG型号MS-FROGMS-FROG-SPMS-FROG-LPMS-FROG-SLP脉冲宽度范围最小值 110 fs-50 fs4 fs20 fs4 fs最大值40 ps40 ps80 ps80 ps精细扫描模式范围不适用4至100 fs不适用4-100 fs可达光谱范围（nm）500-2000 2光谱窗口Δλ（nm）从200到700 2最小时间分辨率1fs标准：1 fs2 fs标准：2 fs精细扫描：0.05 fs精细扫描：0.05 fs扫描速度 65 ps /秒标准： 65 ps / s 130 ps /s标准： 130 ps / s精细扫描： 400 fs / s精细扫描：400 fs / s输入脉冲重复率100 Hz至GHz 3最小输入脉冲能量41 MHz50 pJ10 nJ50 pJ10 nJ100 MHz5 pJ1 nJ5 pJ1nJ输入偏振线性垂直侦测CMOS 12位-3 Mpx-72 dBPC接口USB 3.1光束高度（mm）69-148尺寸（毫米）326 x 194x 1291 根据所需的激光规格进行优化2 有效光谱带宽可根据客户要求定义在可需要的光谱范围内。可以提供额外的光谱仪来处理不同的光谱窗口。3 低重复率可供选择4 这些值给出了一个数量级。准确的灵敏度取决于许多参数（脉冲宽度、光束轮廓、波长...） 附加 MISS 光谱仪默认的 MS-FROG 配置包括一台成像光谱仪 MISS。为了扩展设备的波长范围，可以订购额外的即插即用 MISS 光谱仪并在系统内更换光纤输入连接器 可选项描述额外晶体默认的 MS-FROG 配置包括一个晶体。为了扩展设备的波长范围，可以在系统内切换额外的即插即用晶体 带光纤连接器的即插即用准直模块。可以安装在 MS-FROG 上，轻松将输入从自由空间切换到光纤。无需对齐。低能量内部模块可在激光功率过弱时提高 MS-FROG 的灵敏度低重复率激光重复率低时使用的同步模式。100 Hz 及以下强制，500 Hz 以下推荐相位匹配默认 MS-FROG 配置适用于给定的中心波长。相位匹配允许调谐 SHG 晶体以测量具有最佳 SNR 的不同中心波长 少周期扩展 将最小脉冲持续时间扩展到几个周期脉冲范围。MS-FROG 低至 10 fs，MS-FROG-SP 和 MS-FROG-SLP 低至 4 fs 软件界面FEMTOEASY超短脉冲测量仪MS-FROG软件特性:实时提取单次脉冲特性：时间分布强度和相位、基本频谱和相位、啁啾、三阶色散… … 多种算法（包括 Ptychographic 迭代引擎）相结合，以提高重建速度和质量增强的背景和热像素处理，以获得最佳动态和信噪比客户端/服务器接口，允许通过网络远程控制所有数据都可以导出为最常见的格式

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。