快速测厚仪

仪器信息网快速测厚仪专题为您提供2024年最新快速测厚仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括快速测厚仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的快速测厚仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合快速测厚仪相关的耗材配件、试剂标物,还有快速测厚仪相关的最新资讯、资料,以及快速测厚仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

快速测厚仪相关的厂商

  • 厚谱科仪于2020这个特殊的庚子年“诞生”在我国北方明珠、浪漫之都—大连,是分析仪器行业升起的一颗新星。公司凝聚了一个朝气蓬勃、才华横溢、勇于创新的一流团队。公司始终聚焦广大客户客户的需求,在“严谨的态度、创新的理念及务实的精神”指引下,并凭借自身超强的研发力量,志在为广大客户提供有着准确、稳定、可靠、高效、安全、便捷服务的高新技术产品及技术服务。 厚谱科仪产品涵盖了水质实验室分析仪器、油品实验室分析仪器及水质在线分析仪器在内的众多门类,公司能为电力、石化、化工、钢铁、环保、高校以及质检等行业的广大客户提供便捷优质的产品服务。公司的全面详细的售前支持、安全信赖的产品设计及优质快速的售后服务定能为您提供焕然一新的使用体验。 厚谱科仪志在吸纳更多的有志于献身于分析仪器行业的新秀,公司竭尽全力的为他们的快速健康成长保驾护航,愿他们能在公司这片沃土里茁壮成长,最终成为行业翘楚。 厚谱科仪全体人员:怀着“厚德载物,佳谱传世;崇尚科学,智造精仪”的初心,用最“新”的技术,用最“心”的服务,用最“辛”的努力,智造让客户满意的产品,提供让客户满意的服务。公司努力向前,最终实现“始于大连、立足祖国、放眼世界”的这一宏伟目标!
    留言咨询
  • 深圳市厚物科技有限公司立足中国深圳,持续专注于PXIe PXI CPCI VPX模块化仪器测控系统平台的研发与生产,提供便携式、车载式、台式、手持式、机架式五大系列MCS测控系统平台,包括外场便携式测试设备、加固机架式测试设备、手持式仪器、车载式设备等,多款创新型设备已列装到国防科技、航空航天、兵器电子、船舶舰载等装备保障领域,是专业的测控系统平台服务商。厚物科技是国际PXISA正式成员,持续开发严格满足行业需求的、安全可靠的、易于管理的测量测试测控设备及仪器,在国防科技、航空航天、兵器电子、船舶舰载、智能航电、核电工程、轨道交通、智慧互联等行业积累了十几年产品开发经验,对仪器设备、总线标准、产品设计及开发有深入研究,具有专业的PXIe PXI CPCI VPX模块化仪器技术研发团队,来自国内外测控仪器行业头部企业,团队带头人有海外留学及在国外头部技术公司工作的背景。厚物科技量身定制,快速响应,坚持用先进的技术为行业用户提供一揽子解决方案,持续为各行业用户提供专业完善的一站式交钥匙ODM定制服务,交付严格符合用户要求的全生命周期的产品及技术解决方案。厚物科技既服务于重要基础行业,也服务于国防科技领域。自强不息、厚德载物,是厚物科技的企业文化;作为中国的民族企业,厚物科技将牢记使命,为科技的进步和民族的复兴贡献所有力量。
    留言咨询
  • 深圳市安达仪器仪表有限公司主要经营各大品牌仪器仪表,适用于各大工厂和教育部门等使用,如PCB线路板厂,五金电镀厂,塑胶厂,五金首饰厂,半导体厂,玻璃厂等。我们拥有专业的服务团队,销售,安装,培训,售后服务,修理一条龙服务,使你买得放心,用得安心,无后顾之忧。一、测厚仪德国宏德X射线测厚仪,主要有型号:Compact eco , Compact 5 , Maxxi 4 , Maxxi 5,maxxi 5 pin等,配备DELL/联想电脑系统,HP打印机。韩国Micro Pioneer XRF-2000 X射线测厚仪,主要有型号:XRF-2000PCB,XRF-2000H,XRF-2000F等,配备DELL/联想电脑系统,HP打印机。俄罗斯孔铜测厚仪ITM-52(配备EP-30/EP-25/EP-20探头,探头连接线,校正器,标准片)手提式,经济实惠又方便美国进口KOCOUR品牌电解/库仑测厚仪(电位差测试仪)(model6000)及电解测试液和标准片美国进口START品牌铜箔测厚仪(SM6000)日本进口KETT品牌涂层测厚仪(LZ-990,;LE/LH/LZ-370等等型号涂层测厚仪)美国进口UPA品牌β射线涂镀层测厚仪(MP-700(已停产,服务仍在继续);MP-900(带霍尔效应功能)CMS(手持式);磁感应/电涡流涂层测厚仪(D-1500;D-3000;D-3000 PLUS);孔铜测厚仪/面铜测厚仪(CD-8);及各种涂镀层测厚仪标准片 二、水处理设备日本共立(KYORITSU)水质测试包/快速测试仪/污水测试包,各种元素齐全,如Cu离子,Fe离子,COD,PO4,NO3,NH4,Zn等。方便快捷,简单易学.一学即会。单项目水质计(DIGITAL PACK TEST )型号:DPM-简易水质测定组-铅 型号:SPK-Pb美国禾威(WALCHEM)水处理控制器:镀镍自动添加药水控制器(型号 WNI310 WNI410 WNI420) 镀铜/蚀铜自动添加药水控制器(型号 WCU310 WCU410 WCU420) PH/ORP传讯器 / 监控器备有W-130,W-230 ,WPH310 ,WPH320,WPH410,WPH420 电导率自动添加药水控制器WEC310,WEC410 锅炉水处理控制器。备有WBL300/310、WBL400/410、WCM300及WCM400/410。 Web Master ONE在线分析过程控制器 WEL探头电极等相关耗材配件 三、金相设备正置显微镜,倒置显微镜,配DELL/联想电脑系统,图像处理软件,进口CCD摄像头。美国EXTEC研磨抛光机(单盘,双盘),切割机美国EXTEC消耗品:抛光绒布,胶膜,砂纸,抛光膏,凝胶套件,切割液,切割碟等。 四、其它美国OMEGA SMD500,SMD600离子污染测试仪,(离子交换柱,校正液,LCD显示屏)。辐射表-美国进口Seintl(S.E.)品牌辐射测量表(MC1K,monitor4,inspector等)美国进口CalMetics品牌测厚仪标准片/校正片,标准片检定(含证书有效期一年).工业放大镜(台式,夹台式,落地式,折叠式,方形/圆形镜片)美国DICKSON温湿度记录仪/记录纸/记录笔美国进口Kwik-chek品牌孔径规(10A,20AM,30AM,40AM)美国KOCOUR品牌离心机,离心管,用于测定硫酸根离子美国ECI品牌电镀添加剂分析仪(QL-5E和QL-10E) 我们的服务宗旨是:客户至上,服务与质量并在,一起共创双赢.安达欢迎您来电咨询!
    留言咨询

快速测厚仪相关的仪器

  • 孔铜测厚仪产品用途:手持式设备,用于非破坏性的测量多种基材上的,包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。孔铜测厚仪适用于测量:测量钢铁上的锌、铜或铝镀层(适合粗糙表面的探头ESD20ZN)钢制小部件上的锌镀层(用于较小测量面积的探头ESD2.4)钢铁上的电镀镍层(探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ)孔铜测厚仪产品特点:手持式仪器,根据相位敏感电涡流法快速、准确地测量镀层厚度,符合DIN EN ISO21968标准可测量印刷电路板上的铜厚度(频率为60KHZ或240KHZ的探头ESD20Cu)可测量印刷电路板中孔铜厚度(探头ESL080)可测量铁、非铁金属或非导电部件上金属涂层的厚度随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter,其拥有以下功能:传输保存测量值,全面的统计性和图形化评估,轻松生成并打印检验报告。孔铜测厚仪技术参数:涡流相位测厚仪 PHASCOPE PMP10手提式镀层测厚仪器,采用相位灵敏测试方法,3个可选择的测试频率特别适合于Cu/Iso 探头ESD20CuNi/Fe 探头 ESD20NiNFe/Fe 探头ESD20ZnZn/Fe 探头ESD2.4PCB通孔上的Cu 探头ESL080下拉式菜单和对话框简化操作大容量:100个应用程式,20,000个测量数据,4,000个数据组3级显示精度自动关机功能密码保护、按键锁定功能自动、连续、外部触发3种特殊测量模式科学、统计、上下限、模拟分析4种显示模式您可能对以下产品也感兴趣:X射线荧光测厚仪,涂层镀层测厚仪菲希尔测厚仪
    留言咨询
  • 西林瓶壁厚测厚仪 400-860-5168转3947
    西林瓶壁厚测厚仪医药、生物制品和其他相关行业中,西林瓶(也叫作注射剂瓶)是一种广泛使用的包装容器。西林瓶的壁厚和底厚是确保其强度和稳定性的重要参数,直接影响到产品的质量和安全性。然而,由于西林瓶形状的复杂性和尺寸的小型化,其壁厚和底厚的测量一直是一个技术难题。现在,西林瓶壁厚测厚仪的出现,为我们解决了这一难题。 该设备可以在不破坏西林瓶的情况下,快速、准确地测量其壁厚和底厚。这一仪器不仅提高了测量的精度,也极大地提高了测量的效率。同时,它还可以检测到西林瓶的生产过程中的各种缺陷,如厚度不均、气泡等,从而有效地保证了产品的质量。 该设备的设计充分考虑了生产环境的需求。具有易于操作的用户界面,可以快速简单地设定和调整测量参数。同时,它还具有高度的稳定性和可靠性,可以适应生产环境中的各种干扰和变化。此外,西林瓶壁厚测厚仪还配备了数据统计和分析功能,可以方便地追踪产品的质量变化,及时调整生产参数,优化生产过程。 总的来说,三泉中石西林瓶壁厚测厚仪的出现,无疑为我们提供了一个强大的工具,用于检测和优化西林瓶的质量。它的应用,不仅提高了产品的质量,也提升了生产效率,是推动西林瓶检测技术进步的重要力量。 技术参数 测量范围 0-12.5mm 分 度 值 0.001mm 样品直径 10-120mm (其他尺寸可定制) 样品高度 10-290mm(其他尺寸可定制) 外形尺寸 420×280×655(mm ) 重 量 25Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 最高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准 西林瓶壁厚测厚仪此为广告
    留言咨询
  • 薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,严格按照标准方法进行测量,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。◎ 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,截取一定尺寸的式样;通过控制面板按钮,调节测量头降落于式样之上;依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
    留言咨询

快速测厚仪相关的资讯

  • 发布欧屹球坑测厚仪新品
    产品简介:球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法,是镀层产品质量控制或研发检测不可或缺的小型装置,用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量,也可对小型的工件进行测量。球坑法球坑仪是实现球坑法测量技术的必要仪器。球磨后,在镀层样品上形成一球坑,通过正确的测量分析,可快速得出镀层的准确厚度。主要特点:球坑法可用于分析镀层厚度、单层厚度及复合厚度。此外,配合POD销盘磨损试验机,可快速准确地测量出镀层磨损率。采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作,使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层(1 μm)的厚度。技术参数:技术规格 参数膜厚测试范围 0.5-100 μm 膜厚测试精度 0.1μm 磨球 标配直径 GCr15 钢球30mm抛光介质 W1级金刚砂研磨膏转速 10~160rpm可调定时范围 1秒~99小时电源电压 220 V AC 50/60 Hz功耗 100 Watts Maximum工作温度 0~40oC外形尺寸 ~400×250×180 mm重量 ~10K g操作电脑 选配CCD数码显微镜 选配/500万像素CCD/20-100倍放大倍数/同轴光源球坑测量软件 选配/适用于32位Windows XP/Windows 7系统质量保证 一年免费/终身维护备注 以上所列技术规格与参数更新恕不另行通知,如有疑问请联系我们创新点:采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作,使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层(1 μ m)的厚度.欧屹球坑测厚仪
  • 全自动涂层测厚仪|涂魔师非接触无损测厚仪FLEX新功能介绍网络研讨会
    涂魔师全自动涂层测厚仪是一款非接触无损涂层测厚的仪器,采用先进的光热红外法(ATO)对涂层进行非接触测量,实时得出涂层厚度。在工艺早期在线测量涂层厚度是记录和监控涂装工艺的关键,不仅能起到节省涂装材料成本、提高产品质量,而且能减少滞后时间和降低废品率的作用。环境条件的变化容易影响涂装工艺,因此在工业环境中使用操作简易的测厚仪是至关重要的。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX采用的是非接触无损测厚专利技术,而不是基于磁感应或超声波原理。因此它能精准测量湿漆、固化前的粉末涂料来得出干膜厚度和直接测量固化后的涂层厚度,适合各种涂料类型和颜色(包括白色)。与电磁感应测厚设备相比,涂魔师能精准测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。与其他光热法、基于激光和超声波原理的设备不同的是,它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等优势。使用涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX有以下的优势:①节省10%-30%的涂料②减少测量湿膜涂层厚度的时间③操作简单,方便新员工学习④可以在生产线早期进行涂层厚度测量,降低成本和返工率⑤绿色环保⑥帮助企业建立工业4.0的标准⑦支持与企业ERP直连,数据实时传输2021年9月22号网络研讨会将由联合首席官Andor Bariska介绍涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX的详细产品信息和新功能,帮助企业优化喷涂工艺。马上发邮件到marketing@hjunkle.com申请网络研讨会视频和资料,邮件主题【9月22号涂魔师研讨会】我们将在研讨会结束后给您发送资料和视频。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX工作原理ATO光热红外法介绍涂魔师全自动涂层测厚系统使用光热红外法ATO原理,通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层,其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统,无需进行整合,操作方便,校准简单,无需严格控制测试距离和角度,无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量,能有效节省材料和避免涂层缺陷问题,十分适用于生产车间现场,且自动记录数据及生产全过程。翁开尔是涂魔师中国总代理,欢迎致电咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。
  • GE检测控制技术推出高性能新型测厚仪
    近日,GE检测控制技术推出的新型测厚仪DMS Go是一款高端测厚仪,既简单易用,又能在一系列可选择的格式下提供准确、全面的厚度检测数据。它具有创新的操纵杆控制技术、全方面的可见性、高分辨率的色彩显示功能。DMS Go 结构稳健、防水防尘、重量轻,可以被广泛用于厚度检测。并且,由于具有内置温度补偿算法,可以在600°F的高温下仍然保持测量稳定性。十分适用于石油、天然气和电力行业的腐蚀检测。  正如GE的产品经理 Francois de Fromont 所说,“ DMS Go代表了测厚仪器方面的重大进步,因为它不仅具备了我们的DMS2测厚仪所有的高级性能,还具有更强大的数据管理功能,新颖的人性化工程学设计,高性能、操作简单的优势。采用零交点波形测试,以确保较高的测量稳定性和可靠性,其自动获取控制功能确保了极佳的检测概率。这种新型仪器和我们便携式探伤仪USM Go 可以使用相同的操作平台,该平台已经被广泛应用,并得到广大用户认可。事实上,这种设计原理的一大好处是通过一次简单的软件升级,使测厚仪作为便携式探伤仪使用。”  DMS Go的数据记录和数据管理功能通常是由普遍使用的UltraMATE文档编制程序实现的,然而本仪器也可以使用GE软件开发工具包与第三方软件程序相对接。强大的机载数据记录器具有15万的读数容量,可以将A扫描、B扫描和微栅格(MicroGRID)作为厚度读数的附件进行存储。它还支持6种不同的文件格式,便于与用户数据管理和质量控制系统集成。通过高容量的可移动SD卡进行数据传送,使用USB端口与PC连接。通过可选的应用软件,包括TopCOAT技术和A-V测量模式,可以同时测量涂层和金属厚度,无需校准试块即可使用未知声速在部件上测量厚度。  新型测厚仪的软件可升级性,使得它还能用作便携式探伤仪,这给用户带来很重要的便利。现在无损检测人员只需携带一个仪器,用户只需购买一台仪器,就能进行准确、可靠的厚度测量和缺陷检测。这种多功能性也同样适用于USM Go探伤仪,现有用户可以很容易升级他们的设备,将高质量的厚度测量能力加到现有设备上。用户可以在启动仪器的时候选择仪器升级所需的操作方式,这种设计原理另一个优势就是可以显著减少对操作者培训次数。

快速测厚仪相关的方案

快速测厚仪相关的资料

快速测厚仪相关的试剂

快速测厚仪相关的论坛

  • 铁铝双用涂层测厚仪测厚仪CQ-X5(FN)

    铁铝双用涂层测厚仪测厚仪CQ-X5(FN)双功能技术的测厚仪, 完成磁感应和电涡流测量自动转换 http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906153790149014.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906153710011001.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/2013090615270230230.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906152722842284.jpg 产品简介CQ-X5(FN)涂层测厚仪采用了双功能测量技术即磁性和涡流测厚方法,能够自动识别磁性或非磁性底材,然后采用相应的测试方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。该产品已经通过华南国家计量测试中心、广东省计量科学研究院验证,并荣获相关证书,深受各大厂家青睐。 适用范围: CQ-x5(FN)涂层测厚仪是铁铝基材双用的测厚仪,可以测量包括铝或铜底材上的特富龙、珐琅、瓷釉、环氧树脂、阳极氧化层或涂料的厚度测量。测厚仪磁感应测试方法应用的涂镀层包括锌、镉、涂料或粉末喷涂。 测试特点:精度高、稳定性好 铁基和非铁基底材自动识别、仪表能自动识别基材种类 切换LCD会显示“NFe”或“Fe 无需校准、一键操作 一体化探头、小巧实用、测量快速精确 自动开、关机以延长电池使用时间技术参数 测量厚度及精度 0-1999μm ± (3.0%+2μm) 0-40mil ± (3.0%+0.1mil) 公英制转换 μm/mil 双显 数据存储 10组数据 技术优势 零点校准 自动开机 内置防腐探头 LCD180度反转显示 电源 1.5V电池(AAA)×1 机身重 70g 机身尺寸 108mm×46mm×23mm产品结构图 http://www.szjmyiqi.com/up/image/201310/20131002161424492449.jpg CQ-X5(FN)涂层测厚仪面板图 CQ-X5(FN)测厚仪标准清单:CQ-x5(fn)涂层测厚仪主机 * 1台保证卡 * 1本说明书 * 1本[color=#000

  • 高精度测厚仪哪个好

    在选择高精度测厚仪这样大型的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密高精度测厚仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,得到了得到了消费者的大力认可,下面我们就来介绍一下,它好在哪些方面吧:   1、操作简单方便  简单方便的设备仪器不管是谁,都会非常喜欢的。如果设备仪器的操作比较繁琐或是需要专业人员来操作。厂家就会考虑很多方面,一来操作繁琐要对工作人员进行一系列的培训,二来请来的专业人员所需要的成本就会有所上升,利益就会相应减少。高精度测厚仪操作十分简单方便,这是厂家选择他们的其中一个理由。  2、能连接数据进行打印  测厚仪有电脑连接接口,在使用的时候可以购买相关软件,从而实现对测两次数据的储存打印,而且相关的软件还能够对测量数据进行统一,用专业的方式显示出来,从而让我们更加简单的了解测量数据机器所具有的特点。  http://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a0aa23fb3.jpg  3、采用国外进口的优质元件  专业的测厚仪传感器部件通常采用的都是国外进口的优质元件,这些优质传感器元件能够让测厚仪的测厚分辨率比普通测厚仪增加很多,这种仪器对于零点一微米的距离都能精准的测量。然而测厚仪里面的优质传动元件也是确保测厚仪工作稳定性和准确性的重要因素。  激光测厚仪是近年来开发出的高科技实用型设备,是用于热轧生产线上实时在线式连续测量成材厚度的非接触式测量设备。它有效地改善了工作环境,具有测量准确、精度高、实用性好、安全可靠、无辐射、非接触式测量等人工测量及其它测量方法无法比拟的优点,并为轧制钢材厚度控制提供了准确的信息,从而提高了生产效率和产品质量,降低了劳动强度。  使用大成精密激光测厚仪以来,具不完全统计,因板厚误差造成的废品率下降了50%以上,创经济效益近千万元,受到各级部门和工作人员的肯定与赞赏。

快速测厚仪相关的耗材

  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪TT30超声波测厚仪超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • PosiTest DFT 测厚仪
    PosiTest DFT 测厚仪以下行业使用效果理想粉末涂料涂装员涂层检测员涂装承包商汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材)Combo(复合型针对所有金属基材)就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号PosiTest DFT Ferrous:测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层PosiTest DFT Combo:测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜,铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点测量快速,重复性好大部分材料上无需校准调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上无法调零时可使用方便的重启功能坚固耐磨损的红宝石探头测量时听觉和视觉的双重指示探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面密尔 / 微米单位转换每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格测量范围0 - 40 mils0 - 1000 um精 度± ( 0.1mils + 3%)± ( 2um + 3%)尺 寸4 × 1.5 × 0.9 in100 × 38 × 23mm重 量2.5 oz70 g 仪器包括内置探头,标准塑料片,坚固的存放盒,1 x AAA 电池,说明书 和 一年质保符合以下标准: ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制