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地理面量仪

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  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 叶面积测量仪测量范围是多少

    叶面积测量仪测量范围是多少

    [size=16px]  叶面积测量仪测量范围是多少  叶面积测量仪的测量范围取决于具体的仪器型号和制造商,不同型号的叶面积测量仪可能有不同的测量能力和规格。一般来说,叶面积测量仪的测量范围通常包括以下方面:  叶片面积:叶面积测量仪主要用于测量植物叶片的表面积,其范围可以从小型植物的小叶片到大型树木的大叶片。测量范围通常以平方厘米(cm2)或平方米(m2)为单位。  叶片数量:一些叶面积测量仪具有多个测量通道,可以同时测量多片叶子的面积。这对于效率和大规模叶面积测量非常有用。  叶片形状和尺寸:测量仪通常能够适应不同形状和尺寸的叶片,包括圆形、椭圆形、线性和复杂的形状。  叶片厚度:有些叶面积测量仪还可以估算叶片的厚度,从而提供更详细的叶片特征信息。  具体的测量范围将根据仪器的设计和规格而异,所以在选择叶面积测量仪时,您应该查看仪器的技术规格和制造商提供的信息,以确保它满足您的测量需求。如果需要测量较大范围的叶面积,可能需要考虑使用专业的大型叶面积测量仪或使用多次测量的方法来覆盖整个叶片。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309151025162609_7338_6098850_3.png!w690x690.jpg[/img][/size]

  • 叶面积测量仪怎么测量植物的叶长有多少

    [size=16px]  叶面积测量仪通常用来测量植物的叶片表面积,而不是叶片的长度。如果您想测量植物叶片的长度,您可以考虑使用一个普通的尺子或者显微镜测量。以下是如何使用叶面积测量仪来测量叶片表面积的步骤:  准备工作: 确保您有一台叶面积测量仪,通常它由一个扫描仪和适用于测量的软件组成。您还需要植物的叶片样本。  准备叶片样本: 从植物中选择您想要测量的叶片样本。尽量选择完整、健康的叶片,并在测量前将其清洁干净。  扫描叶片: 将叶片放在叶面积测量仪的扫描台上。根据仪器的使用说明,启动扫描仪,它将会自动扫描叶片的表面。  分析数据: 扫描仪将生成一个叶片的图像,并提供叶片的表面积数据。您可以使用附带的软件或其他图像处理软件来测量叶片的总表面积。通常,这涉及在图像上勾画叶片的边界,然后软件会计算出所勾画区域的面积。  保存结果: 一旦测量完成,您可以将测量结果保存下来,以备将来参考或记录。  需要注意的是,叶面积测量仪测量的是叶片的二维表面积,而不考虑其长度、宽度和形状等其他参数。如果您对测量叶片的长度感兴趣,云唐建议您可能需要使用传统的测量工具,如尺子、标定尺或显微镜来进行测量。[/size]

  • 叶面积测量仪测量植物的平均叶面积有多少

    [size=16px]  叶面积测量仪是用来测量植物叶片表面积的设备。植物叶片的形状和大小因植物种类、生长状态以及环境条件而异,因此平均叶面积会根据这些因素而有所不同。  要测量植物的平均叶面积,通常需要采取一定数量的叶片样本,并使用叶面积测量仪测量每片叶片的表面积,然后计算这些样本叶片的平均值。平均叶面积的单位通常是平方厘米(cm2)或平方米(m2),取决于叶面积测量仪的精度和所使用的单位制。  由于不同植物之间存在巨大的变异性,无法提供一个通用的平均叶面积数值。如果您想要测量特定植物的平均叶面积,云唐建议您需要在具体的实验或调查中使用叶面积测量仪进行测量。记住,同一植物在不同生长阶段、生长条件下的叶面积也会有很大的变化。[/size]

  • 触针式表面粗糙度测量仪的原理

    目前,检测表面粗糙度比较常用的方法是比较法、光切法、干涉法、触针法和印模法等,而其中触针法因其测量迅速方便、测量精度高、使用成本较低等良好特性而得到广泛使用。当采用触针法对加工工件表面进行表面粗糙度测量时,探测头上的触针在被测表面轻轻划过。由于存在轮廓峰谷的起伏,所以触针将在垂直与被测轮廓表面方向上产生上下起伏的移动。这种移动量虽然非常微细,但足以被敏感的电子装置捕捉并加以放大。放大之后的信息则通过指示表或其他输出装置以数据或图形的方式输出。这就是触针式表面粗糙度测量仪的工作方式。其中,按其传感器类型可以分:电感式、压电式、光电式等;按其指示方式又可分为:积分式、连续移动式。触针式表面粗糙度测量仪由传感器、驱动箱、指示表、记录器和工作台等主要部件组织。其中电感传感器的工作原理为:传感器测杆一端装有触针(由于金刚石耐磨、硬度高的特点,触针多选用金刚石材质),触针的尖端要求曲率半径很小,以便于全面的反映表面情况。测量时将触针尖端搭在加工工件的被测表面上,并使针尖与被测面保持垂直接触,利用驱动装置以缓慢、均匀的速度拖动,当触针在被测表面拖动滑行时,将随着被测面的轮廓峰谷表面作反向上下运动,并将运动幅度放大,从而使包围在磁芯外面的两个差动电感线圈的电感量发生变化,并将触针微笑的垂直位移转化为同步成比例的电信号。

  • 增加电工仪器版面----电子测量仪的分类

    ”电工仪器“小版面的增加是为了更好地充实仪器信息全面性,争取能有个积极的、发展的作用。1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求,分类不同,如按其功能,可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器: 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如:电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器: 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如:微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器: 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如:频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品,电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性,耐压特性,频率特性,增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如:漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等

  • 【求助】德国FRT纳米表面测量仪

    【求助】德国FRT纳米表面测量仪

    请问谁知道那个测试中心或者高校有下面网址展示的仪器 - 德国FRT 纳米表面测量仪http://www.beijingoec.cn/beijingoec_Product_23528.htmlhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/files/2012/09/201209171426_391456_1747015_3.JPG谢谢!有消息请联系我。

  • 【分享】5个细节可保面积测量仪的寿命与精度

    土地面积测量是工农业生产经常碰到的问题。尽管数学上提供了很多计算平面图形面积的方法,如割补法、积分法等,在进行土地面积的测量过程中,即使是对于数学中的多个方法进行结合使用,但是在使用的过程中依旧是存在很多的问题。而如今市场上有一种GPS面积测量仪,在操作的过程中能够做到测量面积快速、方便。它是全球定位技术、电子技术与数学技术结合的产物。在进行测定的过程中适用范围比较的广泛,主要包括农机作业收费、农田承包测量、企业用地征税、林业湖泊等规则或不规则地域的面积测量。在使用面积测量仪的过程中有一定的注意事项,主要是以下的5各方面:  1、长时间不用仪器应该将电池取出,放置于干燥安全的地方,避免电池长期放置预期其中对于测亩仪的损坏;  2、保持仪器干燥。不要湿手接触仪器,水可能造成仪器损坏,直接影响到测量的精度以及使用的寿命;  3、仪器是复杂的电子设备,防止仪器受到撞击或粗暴的使用,以免造成严重损坏;  4、遇到恶劣天气时,请适当使用仪器;如遇雷雨天气,最好不要使用仪器,以免对仪器造成损坏;    5、尽量避免在高大建筑物下或信号强干扰地使用仪器,这样会影响仪器搜索卫星并造成测量结果不精准;在进行测定的过程中,先对测量的信号进行查看以及分析以此来了解测量的准确度。

  • 全面解读卤素水分测量仪的应用真相

    全面解读卤素水分测量仪的应用真相

    卤素水分测量仪是一种携带比较方便的仪器,可以随时对需要了解其水分含量的物品进行实际测量,并且给出的数据十分准确,让人容易了解,并进行进一步判断。卤素水分测定仪可以对各种卤素所含的水分含量进行测量,而且数据精确,得出数据的时间用的少。比如测定食品,医药,塑胶粮食,饲料等等,都可以进行快速测量。它与大多数现行的烘箱加热法相比,具有明显的快速、准确的特点。卤素灯加热可以在高温下将样品均匀地快速干燥,样品表面不易受损,其检测结果与常用的烘箱法具有非常好的一致性,且检测效率远远高于烘箱法。此外,卤素水分测量仪操作简单,数据十分详细并且可靠,而且危险系数极小,适合普遍人群。测量步骤归结起来只有以下简单几步: 1、首先,第一次用卤素水分测定仪的时候,按下去皮键,使得水分测定仪上面的天平显示的数值返回到零值,这样就可以方便准确的进行下一步测量。接下来,打开加热的按钮,这样子,然后把需要测量前水分多少的样品放在天平的小秤盘上面,过几分钟后,再关闭加热开关。就可以进行下一步操作了。 2、接下来,看着显示荧屏上的数字会不断的在滚动,这便是卤素水分测定仪在工作了,用不了大概几分钟的时间,就可以在显示屏幕上看到这份样品的含水量了。与此同时,显示屏幕上还会显示这个时候加热仓的温度系数,和经过的加热时间,这样就可以减小误差,而且,样品的含水量并没有固定不变,而是不断地在变化。并且,测量之前要按照相关的说明书配置好含量,不能随意配置,这样卤素水分测定仪才能好好的工作。否则,就不能实质性的产生我们需要的数据了。卤素加热快速水份测定仪:环状的卤素灯确保样品得到均匀加热,操作简便、测量准确。水分测定仪在测量样品重量的同时,仪器采用环形管卤素加热方式,快速干燥样品,在干燥过程中,水分仪持续测量并即时显示样品丢失的水分含量%,干燥程序完成后,最终测定的水分含量值被锁定显示。与国际烘箱加热法相比,卤素加热可以在高温下将样品均匀地快速干燥,样品表面不易受损,其检测结果与国标烘箱法具有良好的一致性,具有可替代性,且检测效率远远高于烘箱法。一般样品只需几分钟即可完成测定。该仪器操作简单,测试准确,显示部分采用红色数码管,示值清晰可见,分别可显示水分值,样品初值,终值,测定时间,温度初值,最终值等数据,并具有与计算机,打印机连接功能。因此卤素水分测量仪可广泛应用于一切需要快速测定水分的行业,如医药,粮食、饲料、种子,菜籽,脱水蔬菜、烟草,化工,茶叶,食品、肉类以及纺织,农林、造纸、橡胶、塑胶、纺织等行业中的实验室与生产过程中。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310151604_471053_2803766_3.jpg

  • 叶面积测量仪怎么测量植物的叶面积有多少

    [size=16px]  叶面积测量仪是用于测量植物叶片表面积的工具。它可以通过不同的方法来估算叶片的表面积,其中一些常见的方法包括:  直接测量法: 这种方法涉及将叶片放在一块已知面积的测量板上,然后使用划分网格或数字图像处理来测量叶片的轮廓。然后可以使用这些测量值来计算叶片的总表面积。  扫描法: 这种方法使用数码扫描仪或图像扫描仪来扫描叶片的图像。扫描后,使用图像处理软件测量叶片的轮廓,并计算出叶片的表面积。  影像分析法: 使用数字相机或移动设备拍摄叶片的图像,然后使用专业的图像分析软件来处理图像,提取叶片的轮廓并测量表面积。  数学模型法: 通过测量叶片的长度、宽度和其他几何特征,然后应用数学模型(如椭圆形、矩形等)来估算叶片的表面积。  叶片分段法: 对于大型或不规则形状的叶片,可以将其分成几个较小的部分,测量每个部分的面积,然后将这些面积相加以得到总表面积。  无论使用哪种方法,都需要确保测量精确度和可靠性。在使用叶面积测量仪进行测量时,云唐建议遵循制造商提供的操作说明,并根据需要进行校准,以确保获得准确的叶面积数据。另外,不同类型的植物可能需要针对其特定叶片形状和大小的方法进行微调。[/size]

  • αβ表面污染测量仪LB124

    αβ表面污染测量仪LB124一、配置:1. 大面积表面污染探测器2. 活度窗二、技术要求:l 显示:单色LCD 192×64像素,电子荧光照明l 探测器:ZnS:Ag闪烁体探测器l 测量模式:α、β同时、分别测量l 探测器尺寸:118mm×145mml 灵敏域:170cm2l 入射窗:金属处理过的塑料、6μm(0.4mg/ cm2)l 保护栅格透射率:80%l 尺寸:240mm×140mm×110mml 重量(带电池):1300gl 数据记录:1000个测量值l 串行接口:RS232灵敏度l 效率(涉及的放射源面积100 cm2)C-14 11% β通道Cl-36 50% β通道Co-60 34% β通道Cs-137 49% β通道Pu-239 23% α通道Am-241 22% α通道l 本底: 约0.1 cps α通道 约15 cps β通道l γ灵敏度(外场Cs-137):1μSv/hl β通道:100cpsl 溢出:20% (Po-210) α→β2×10-5 (Sr-90) β→αl 测量范围:(死时间10%)0~5000cps(α通道)0~50000cps(β通道)环境条件l 工作温度:-20℃~+40℃l 储存温度:-40℃~+60℃l 相对湿度:0%~95% (无冷凝)l 防护等级:IP53校准依据ISO 7503-1 或 DIN 44801

  • 多点氡析出率仪|表面氡析出率测量仪

    多点氡析出率仪|表面氡析出率测量仪

    在地层深处含有铀、镭、钍的土壤、岩石中。人们可以发现高浓度的氡。这些氡可以通过地层断裂带,进入土壤和大气层。建筑物建在上面,氡就会沿着地的裂缝扩散到室内。从北京地区的地址断裂带上检测表明,三层以下住房室内氡含量较高。[img=多点氡析出率仪,660,550]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606061133_596105_3098478_3.jpg[/img]REM-IV多点[url=http://www.zgfangfuyuan.com/product/cdy/221.html]氡析出率测量仪[/url]是一种可携式表面氡析出率测量仪,由中国辐射防护研究院研发生产,其造型和结构具有典型的优越性,能“实时”“快速”测量介质表面氡的析出水平,可用于地下工程、矿山井下、旅游山洞、核设施场所、尾矿库以及建材、土壤、地面等表面氡析出率测量,是一种寻找氡的来源和氡治理的必备装置。适合于GB50325《民用建筑工程室内环境污染控制规范》要求的土壤表面氡析出率测定,也可在建筑施工或装修前就石材、水泥、涂料等建筑材料进行放射性检测与识别,指导选用优质建材。该仪器2004年已获国家实用新型专利,专利号:ZL200420096051.0。◆ 特点:1.主机、探头、衰变收集室等。2.智能化触摸屏手写与显示:微电脑控制,点阵式液晶显示,中文状态条提示操作及状态。3.可接4个衰变收集室。4.标准RS232/RS485接口:可将采集数据传送给上位机。5.日历时钟功能,工作电源:AC220V交流电源。 ◆ 外接氡析出收集衰变室技术参数:◇ 半导体探测器,灵敏度:1.1×cph/Bq/m3(氡)◇ 探测器前有靠静电作用收集218Po离子的铝膜,采用镶嵌铝膜结构,实现快速测量(高水平环境),普通环境不需要更换铝膜◇ 对239Pu α面源的探测效率:35%(2π)◇ 计数容量99999999,测量范围:5×10-5~102Bq/(m2s)◇ 测量时间:方式2为1~120分内据其氡析出率高低自行设置,方式1为连续测量,可保 存200个历史测量值◇ 具有可改变参数设置,自动显示,可即时给出测量结果等特点◇ 可不使用外置打印机,测量历史值按输出键即可查出◇ 环境温度:-5~40℃ 相对湿度:≤90%◇ 供电电源:AC220V-DC5V与外挂6V蓄电池,配有专门充电器。◇ 尺寸与重量:Ф200*140,1.5Kg更多信息请关注微信号:bjryton技术提供:中国辐射防护研究院联系人:张经理 13720045883来源: http://www.zgfangfuyuan.com/product/cdy/221.html

  • 【分享】电子式气动量仪的优点

    AEC-100电子式气动量仪是以微处理器为基础的。它有一个三色光柱用于定性显示,它的测量立柱由101个三色LED组成,可以根据设置的公差带、预警公差带自动变色,显示方便,便于监视。每个LED对应的分辨率有0.1μm、0.2μm、0.5μm、1μm四种档位可供选择。同时它还有一个8位数显的数字显示框,同时显示测量结果的绝对数值,用于定量显示。 不过气动量仪由于其本身具备很多优点,所以在机械制造行业得到了广泛的应用。 其优点如下:  1、电子式气动量仪测量项目多,如长度、形状和位置误差等,特别对某些用机械量具和量仪难以解决的测量,例如:测深孔内径、小孔内径、窄槽宽度等,用气动测量比较容易实现。  2、量仪的放大倍数较高,人为误差较小,不会影响测量精度;工作时无机械摩擦,所以没有回程误差。  3、电子式气动量仪操作方法简单,读数容易,能够进行连续测量,很容易看出各尺寸是否合格。  4、实现测量头与被测表面不直接接触,减少测量力对测量结果的影响,同时避免划伤被测件表面,对薄壁零件和软金属零件的测量尤为适用。  5、由于非接触测量,测量头可以减少磨损,延长使用期限。气动量仪主体和测量头之间采用软管连接,可实现远距离测量。  6、电子式气动量仪结构简单,工作可靠,调整、使用和维修都十分方便。

  • 分享影像测量仪的性能特点

    影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中,是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。  影像测量仪的性能:  1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能,能满足基本的二次元测量要求。  2、花岗石底座与立柱,机构稳定可靠  3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺,定位精确。  4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计,镜头上下升降受力均衡,确保精度。  5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。  6、激光定位指示器,精确制定当前测量位置,方便测量。  7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。  8、影像测量仪的镜头:3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头,影像放大倍率:28X-180X。

  • 各种光谱测量仪要如何区别

    目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 常用光学计量仪器分类

    [font=宋体]在实际应用中,尽管光学计量仪器多种多样,但它们的光学原理却[color=blue]都基于四种基本原[/color][/font][font=宋体][color=blue]理[/color][/font][font=宋体],它们是:[color=blue]望远光学原理、显微光学原理、投影光学原理、干涉光学原理。[/color][/font][font=宋体]基于应用不同的光学原理,光学计量仪器可分为[color=blue]:自准直类光学计量仪器、显微镜类光学计量仪器、投影类光学计量仪器、光干涉类光学计量仪器四大类。[/color][/font][font=宋体]望远系统主要性能是视角放大率,在观察时用来扩大眼睛对远处物体的视角,用以观察物体。在测量时常被用来产生平行光以进行各种用途的测量,应用此原理的光学计量仪器有:自准直光管、测角仪、立[/font]([font=宋体]卧[/font])[font=宋体]式光学计等。[/font][font=宋体]显微系统的主要性能是较高的放大率。它与放大镜相比,有较高的放大率和分辨本领。可清楚地观察和分辨微小物体和物体的细小部位。应用此原理的光学计量仪器有:工具显微镜、光学分度头、测长仪、测长机、双管显微镜等;[/font][font=宋体]投影系统的主要性能:是较高的、准确的横向放大率。[/font][font=宋体]被测量的形状复杂、细小的物体或物体表面缺陷等经强投射光或强反射光照射,再经投影物镜放大成像在影屏上后进行测量。应用此原理的光学计量仪器有:大、中、小型投影仪、专用的公差带投影仪等。[/font][font=宋体]光干涉系统主要性能是有很高的检测精度。它是以光波波长作:“尺子”,实现了对表面粗糙度、长度微小变化等几何量的高精度测量。应用此原理的光学计量仪器有平面平晶等厚干涉仪、接触式干涉仪、干涉显微镜等。[/font]

  • 【云唐】atp测量仪是什么仪器

    [img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403070915305401_3453_5604214_3.jpg!w690x690.jpg[/img]  ATP测量仪是一种用于测量环境中ATP(三磷酸腺苷)浓度的仪器。ATP是生物体内能量转换的重要分子,广泛存在于各种生物体内,包括细菌、病毒、真菌等微生物。因此,ATP测量仪通常被用于环境监测、食品安全、医疗卫生等领域,以检测微生物的存在和数量。  ATP测量仪的工作原理是基于荧光素酶和荧光素的反应。荧光素酶能够催化ATP与荧光素发生反应,产生荧光信号。荧光信号的强度与ATP的浓度成正比,因此可以通过测量荧光信号的强度来推算ATP的浓度。  ATP测量仪具有快速、简便、灵敏度高、可重复性好等优点,因此在环境监测、食品安全、医疗卫生等领域得到了广泛应用。在环境监测方面,ATP测量仪可以用于检测水、土壤、空气等环境中的微生物污染情况,为环境保护提供科学依据。在食品安全方面,ATP测量仪可以用于检测食品中的微生物污染情况,保障食品的安全性和卫生质量。在医疗卫生方面,ATP测量仪可以用于检测医疗器械、手术室、病房等环境中的微生物污染情况,为医疗卫生提供有效的监测手段。  除了以上应用领域,ATP测量仪还可以用于其他领域,如生物研究、制药工业等。在生物研究方面,ATP测量仪可以用于研究细胞代谢、微生物生长等方面的问题。在制药工业方面,ATP测量仪可以用于检测药品生产过程中的微生物污染情况,确保药品的质量和安全性。  总之,ATP测量仪是一种重要的环境监测仪器,具有广泛的应用前景。随着科学技术的不断发展,ATP测量仪的性能和应用范围也将不断提高和扩大,为环境保护、食品安全、医疗卫生等领域的发展提供有力的支持。

  • 关于物位测量仪表的一些基础信息

    基本概念: 物位是指物料相对于某一基准的位量,是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量,其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计,测量液位的仪表称为液位计,测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况,液位测量占有相当大的比例,故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表,其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类:物位测量方法很多,测量范围较广,可从儿毫米到几十米,甚至更高,且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此,工业上所采用的物位测量仪友种类繁多,技其工作原理可分为:(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理,通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度,是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力,测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理,利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位,且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化,进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同,可分为电容式、电阻式和电感式3种,其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种,其中气介式可测液位和料位;液介式可测液位和液—液相界面;固介式只能测液位,比如:防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计,可测液位和料位,: (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时.被吸收而减弱,其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外,还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表,以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型,且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种.前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等,后者比较简单价廉,主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

  • 【资料】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 色彩测量仪器的校准

    市面上的色彩测量仪器众多,主要介绍一下分光光度计,印版测量仪的校准。前者自带校准白板,本身就是专业的[url=http://www.xrite.cn/categories/calibration-profiling/][color=#000000]校色仪[/color][/url],可以由仪器的配置选项进入校准界面,此外需要注意的是测量参数是否已选择正确,校准白板的清洁,这会直接影响校准结果的好坏。对于印版测量仪而言,它只能借助于附带的配套白板进行,仪器自身是没有内置校准板的,直接测量白板指定位置,根据与目标值的偏差决定是否需要校准仪器。

  • 【转帖】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 【分享】如何选配测量仪器

    [size=4][B][color=#DC143C]如何选配测量仪器[/color][/B][/size][center]重庆市计量测试学会主任 周兆丰[/center] 各单位在科研、生产、试验投入和提供用户服务前,依据需要对购入测量仪器进行策划和采购。目前,大多数单位购置测量仪器都严格遵守标准测量器具和被测量器具准确度比列关系(即三分之一原则),但在科研、生产和试验检测中使用的测量仪器大多数未进行测量、技术和经济特性评定,特别是有的单位仅仅满足测量仪器有无的问题,至于测量仪器是否满足预期使用要求,(如准确度、稳定性、量程和分辨力等)进行确认。因此,掌握测量仪器的选配原则、相关要求及评定方法是很有必要的,对确保测量质量、降低成本和提高效率都有好处。[B]一、测量仪器的选配原则[/B]选配时应坚持与本单位科研、生产、试验和经营相适应的原则,即要考虑仪器的先进性又不盲目追求高技术指标,还要注意经济实用,以达到“满足预期使用要求的目的”。选配决策时,应综合考虑企业、事业单位的规模、产品类型或服务对象、技术指标、工艺流程等特点。其具体原则是: 1.实用原则。坚持按被测对象的实际需要选配测量仪器,如:产品的结构、批量、技术性能参数;生产工艺过程中需要测量和监督的有关参数;化学分析中需要检测、控制和调节的参数;进料、出库、投入以及经销方面测量需要;能源计量、安全与环境监测的需要;建立计量标准开展量值传递的需要等进行配备。 2.选配测量仪器应从测量、技术、经济特性综合考虑。 (1) 测量特性 明确测量仪器的计量特性以及为确保计量特性的必要条件是: 1﹥测量仪器应具有预期使用要求的测量特性,包括准确度、稳定性、测量范围、分辨力和灵敏度等,保证测量结果可靠是首要条件。 2﹥测量仪器应能实现量值传递和量值溯源要求。测量仪器的检定或校准能符合现行有效检定规程或校准技术规范的要求。 3﹥接受检定或校准方法和对测量对象进行测量的方法要科学、合理、可行、简便。 4﹥具有合理的检定周期(或确认间隔)。 5﹥能对测量结果进行评价。

  • 【分享】刀具测量仪的特征及功能简介

    刀具测量仪器具有水平及垂直两种光学测量系统,可以在一台仪器上实现刀具的全部测量,是测量复杂刀具的理想工具。刀具测量仪是由花岗石台面作为底座和立柱、精密滚珠丝杆传动、精密线性导轨导向等部件组成,采用独立的工程学设计工作台,配有完整的配电箱,可有效降低温度变化对测量仪器的影响。 刀具测量仪具有使用简捷,高度精确的优点,整个对刀过程不需要在CNC机床上进行,有效避免对工件的损坏以及机订对刀的困难和危险,仪器采用稳定的整体式花岗岩制造,气浮导轨,坚实、抗振动的花岗岩结构和集成的温度补偿器使测量结果能保持可靠的长期稳定性。刀具测量仪采用高分辨率CCD B/W相机,能够用于对刀具边缘进行无接触表面光及透射光测量,和对刀头几何图形进行表面光测量,采用CNC导轨控制以及4个控制轴。确保了仪器完整的精度,确保了刀具测件能够快速、准确的定位。 刀具测量仪主要适用于测量数控机床、加工中心和柔性制造单元上所使用的镗铣类刀具切削刃的精确坐标位置,并能检查刀尖的角度,圆角及刃口精况。刀具测量仪还可用于钻孔、铣削刀具或是极度复杂的切削刀具以及切削钢的制造或精磨。

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