晶面机

《材料结构的电子显微分析》刘文西 黄孝瑛 陈如玉 天津大学出版社P213页“如果事先对孪晶的参数一无所知，则需要通过下一章介绍的迹线分析，对孪晶面的指数作具体的测定”P258页 特征平面指数的测定 1.垂直面衍射法 “因此使用此种方法的先决条件是要求通过某些标志能够清楚判断平面是否处于竖立的位置。例如，有两条清晰的迹线；.................这样，当处于垂直位置时，上述各种像形成一条直线。这种迹线分析方法的操作步骤如图9-23，分为四步：（1）倾斜试样，使特征面处于竖立的位置，这时在电镜下观察，惯习面呈一直线；（2）拍摄照片，记录迹线的方位；（3）拍该视场选区的电子衍射照片........在衍射谱的照片上，通过透射斑画出迹线的平行线AB；（4）自透射斑点因出AB的垂线，垂线对应的倒易矢指数，即特征平面的晶面指数。我现在做的是镁合金样品（六方），需要对孪晶进行标定。我对上面的论述有几点不理解，请高人指点：（1）根据我看到的文献，对于六方晶系孪晶的标定一般都是通过迹线来确定孪晶面，可是我在电镜下观察只看到孪晶界，一条直线，没看到两条“迹线”啊，是不是我的判断和观察不够仔细？是不是要把孪晶带的两条晶界线当做两条“迹线”，旋转双倾台使这两条线平行于电子束的方向？（2）拍到迹线后，再拍选区电子衍射照片，在这个过程中需要旋转双倾台吗，转到什么位置？电镜照片见附件根据文献，上面的倒易矢量g是通过迹线来确定的，可是怎么判断两条迹线（看不到？）平行于电子束的入射方向？还有，对于较复杂的衍射谱如何判断是否有两套斑点，有什么简单易行的方法么？ 请高人指点一二，如果我的理解有错误，请指教。谢谢！ [em09] [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/03/200603060856_14540_1850921_3.gif[/img]

这里提到的高指数晶面是由低指数晶面组成的台阶组成的，但看了几篇文献，感觉标定这些晶面并非矢量加和那么方便，请问有人知道什么经典文献对此做过相对解释的吗？谢谢！

请问各位大佬一个基础一点的问题，铝的111晶面和222晶面应该是等价的吧，为什么铝的XRD衍射会同时出现111和222这两个晶面的信息呢？222的强度相比于111好像还有10.4%（有文献好像说是二级衍射？不大明白）222晶面又可以反映什么信息呢？[img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em44.gif[/img]PDF#97-004-3492: 质标=计算值 d=计算值 I=(未知)AluminumAl 射线=CuKa1 波长=1.5406 滤波法=校准= 2θ=38.377-180.000 I/Ic(K值)=4.192θ d(埃) I(f) ( h k l ) θ 1/(2d) 2π/d n^238.377 2.3436 100.0 ( 1 1 1) 19.189 0.2133 2.6810 344.609 2.0296 49.4 ( 2 0 0) 22.304 0.2464 3.0957 464.923 1.4352 33.1 ( 2 2 0) 32.461 0.3484 4.3780 878.008 1.2239 36.9 ( 3 1 1) 39.004 0.4085 5.1337 1182.197 1.1718 10.4 ( 2 2 2) 41.099 0.4267 5.3620 1298.761 1.0148 4.2 ( 4 0 0) 49.381 0.4927 6.1915 16111.616 0.9313 11.1 ( 3 3 1) 55.808 0.5369 6.7470 19116.129 0.9077 9.8 ( 4 2 0) 58.065 0.5509 6.9223 20136.759 0.8286 6.0 ( 4 2 2) 68.379 0.6034 7.5830 24160.828 0.7812 5.8 ( 5 1 1) 80.414 0.6400 8.0430 27

由TEM高分辩相可以知道晶面，说是根据晶面间距可以知道，那请问，如图的晶面上有很多条纹，根据这些条纹的距离确定的是垂直于看到的这个面的的晶面（因为说的是晶面间的距离），还是确定的就是看到的这个晶面？谢谢

请问，在同一单晶中不同的位置打出的衍射花样相同，是否能肯定两个选区处于同一个晶面？求大侠指教！

比如说我现在认为某单晶衍射斑点可能是六方晶系的104晶面簇的1个面，那么它可能的晶面指数有哪些呢？请各位不吝赐教！

高指数的晶面族与低指数的晶面族相比,对于同级衍射,哪种晶面族衍射光弱?为什么?

下面这个帖子，遇到了类似问题，能不能在SEM上标出晶轴，或者晶面？http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20070820/949821/谢谢各位大虾！

小女子在实验中遇到了很重要的问题，多方查阅仍未找到答案，恳请各位路过的大侠给点提示，万分感谢！首先由几点疑惑：1.XRD峰对应的晶面与HRTEM条纹间距对应的晶面理论上是一一对应的关系吗？2.在HRTEM上通常看不到一些XRD中的峰对应的晶面，而只是看到某些特定的晶面，仅仅是范围小的原因吗？3.通常有些晶面在HRTEM上特别容易找到，比如Pt的（111）晶面，是这些晶面比例高还是拍摄角度问题？然后我现在遇到的问题是：我想将二氧化钛前驱体放入碳材料孔中，然后煅烧，得到锐钛矿，XRD上看，是得到了。有的样碳材料表面的二氧化钛前驱体没有洗净，这时候煅烧后HRTEM上看到的都是（101）晶面。但是洗干净的，HRTEM上看起来像是在孔内的条纹对应的基本没有（101）晶面的，多是（004）或（200）的。那么问题来了：这个现象能不能说明二氧化钛进入孔内，由于空间原因不能暴露较稳定的（101）晶面呢？ 先谢了，拜托拜托！

请问单斜结构的晶面指数h k l位置可以互换吗？同一族都有哪几个？

我们的样品为聚合物薄膜，聚合物分子由结晶段(聚己内酯，PCL）和非晶段组成。样品在没有倾转时得到的是PCL的六个衍射斑。我们困惑的是薄膜在倾转45度后只观察到两个衍射点，单纯从晶面间距很难区分是（110）晶面还是（004）晶面。请各位帮我看下实验结果，谢谢！已知PCL晶体只有一种晶型：正交，其晶胞参数为：a=7.48A; b=4.98A;c=17.26A.各晶面的结构强度因子如附件文档P4606,表1所示。测试是在JEOL JEM-1010上完成的，高压：100KEV, 相机：80cm.

比如说晶面指数为（1，1，0），可以简化标识为（110）。但是有大于9的晶面指数（1，1，10），如何简化标识呢？谢谢！

ζ g = πV c/λF g 看到这么一个简化公式，那么Vc和Fg是怎么得到的？Vc是不是说单胞的体积？Fg呢？晶面间距吗？另外，如果晶体沿某个晶面延伸的厚度小于消光距离，是不是本来消光的面就会出现呢？谢谢！

请教用什么仪器测定晶体的晶面既方便又准确，谢谢！[em64]

晶带轴是[0 1 -1 1]，求与之垂直的晶面的指数？想了半天，都没求出来哪位大虾帮我算一下，不胜感激！

各位前辈，大家好。我对已利用XRD确定了物相组成的薄膜样品做HRTEM测试，并希望能利用条纹像来进一步指认晶面。对于只显示一维条纹的情况，所测得晶面间距的误差大约在0.0几埃。当当对具有一定夹角的二维条纹像进行标定时，在晶面夹角满足预测的情况下发现面间距与相应的粉末衍射数据的误差达到0.1-0.2埃。不知这样的误差是否正常？另外，还想向各位请教一下有那些因素可能导致测量值与理想值之间产生较大的偏差？

各位大神，本人刚开始入门透射电镜，有个小问题：在SAD分析的时候，立方格子的二面角计算是不是可以根据立方相的实空间晶面和倒空间同名晶向相同，进而直接通过倒空间中矢量的夹角公式求解实空间中的二面角呢？如果是的话为什么在六方晶系中不行呢？求大神解释

请问如何将三个晶面指数转化成四个的晶面指数,在二元化合物中的电子衍射一般是四个晶面指数,而PDF卡中给出的是三个呀

请教各位高手，通过倒易法怎样计算晶面法线。列如 ZnO （112）面的法线具体是哪个方向，谢谢！

液晶面板基于以下理由可以理解为物品:1、液晶属于物体不可分离的部分；2、液晶面板的功能就是显示图象，并非靠液晶这种配制品从物体中转移来实现；3、液晶如果与物体（玻璃板等）分离，整个物体将失去原有的功能，不能再作显示用途；4、液晶面板通常与其中的液晶一起报废。问题是有意释放，当液晶面板在正常使用时，液晶是不会从中释放的，但如果液晶面板摔破之后，液晶从面板中会释放出来，此情况属于“有意释放”？是否可以理解为可以预见的条件下的“有意释放”？觉得应该翻译成“意图释放”更合理些，也好理解。

假设晶体如果在（002）晶面有择优取向生长，那么是否沿（004）晶面也有择优取向生长？换句话说也就所有（00n）面都择优生长？另外如何判断一个晶体会有择优取向呢？谢谢

ZnO 的（002），（100），（101）,(110),(103)等晶面的晶面能如何计算呢？其数值多少呢，有人看到此方面的报道么？特此请大虾请教。谢谢！