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微区X荧光分析技术实践

主讲人:郭威(国家地质实验测试中心) 上传时间:2022/11/15 17:04
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课程详情

介绍国家地质实验测试中心的M4微区X荧光光谱仪的技术特点,展望该设备在地质分析、考古研究、刑侦物证分析、环境监测以及一些特殊领域的应用潜力。结合已有的工作基础,介绍该设备在地质样本、古陶瓷碎片样本元素分布特征分析中的一些应用案例。

讲师简介:

郭威 1977年1月生,2000年本科毕业于大连理工大学化工学院高分子化工专业。2000年参军入伍到解放军总装备部防化研究院第四研究所工作。2003年考入北京大学化学与分子工程学院,2010年博士毕业。2010年到国家纳米科学中心博士后工作站工作。2011年到国家地质实验测试中心工作。本人长期从事纳米材料的制备与表征研究工作,拥有丰富的纳米材料表征技术经验。现在主要从事M4微区X荧光光谱仪分析技术在岩石矿物样本、古陶瓷碎片、植物组织、生物组织切片等样品元素分布特征分析中的应用实践研究。

相关领域:

(纺织/印染/服装/皮革)-(轨道运输)

相关仪器:

()-(防护用品)-()

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