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EMMI缺陷定位方法在芯片失效分析中的应用

主讲人：崔风洲(深圳市美信检测技术股份有限公司) 上传时间：2022/10/13 11:25
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EMMI缺陷定位方法在芯片失效分析中的应用

讲师简介：

崔风洲，美信检测半导体事业部总经理。工学硕士，毕业于哈尔滨工业大学材料物理与化学专业；全国半导体器件标准化技术委员会委员、IPC620专家组成员 、首席IC故障分析专家 、中国机械工程学会失效分析分会失效分析专家。具有15年以上的规模集成电路分析经验，先后在多家跨国公司从事与IC设计、封装生成、成品组装后失效分析和技术管理工作，尤其擅长芯片功能失效的定位，故障激发方法的设计，对各种失效模式和机理有其深刻的见解。

相关领域：

(食品/饮料/烟草)-(焙烤食品及糕点食品)

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