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光电子能谱（XPS）深度剖析

主讲人：吴正龙(北京师范大学) 上传时间：2022/10/12 11:39
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课程详情

概述XPS深度剖析通常应用的离子溅射深度剖析、无损伤深度剖析技术及原理。结合实际工作经验通过实例讲述XPS深度剖析在覆盖层超薄材料、多层材料分析中的应用、使用技巧、数据处理等。

讲师简介：

在北京师范大学分析测试中心长期从事电子能谱、荧光和拉曼光谱分析测试、教学及实验室管理工作。熟悉表面分析和光谱分析技术，积累了丰富实验测试经验。主要从事薄膜材料、稀土发光材料研究及石墨烯材料表征技术、表面增强拉曼光谱技术的研究，在国内外期刊发标多篇学术论文。现任全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析技术委员会副主任委员，主持和参与多项电子能谱分析方法标准。近年来，在多场国内电子能谱应用技术交流培训会上担任主讲人。

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