日本电子场发射透射电镜JEM-F200是目前市面上唯一一款具有自动进出样品杆功能的透射电镜，其操作界面类似智能手机，操作过程非常简便。这些自动化、智能化的设计极大降低了用户的使用门槛，提高了安全系数和实验效率。此外，F200具有优秀的分辨率，轻松实现表征各种类型纳米材料的功能。针对近些年兴起的多孔材料，尤其是电子束敏感材料，F200也能得到原子尺度的表征结果。优秀的分辨率配合装配的大口径、高灵敏度的能谱探测器，F200还可获得优秀的能谱数据。
